JP2005116095A - 光ディスク装置及び光ディスクの欠陥検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】
光ディスク装置において、正確に光ディスクの欠陥検出を行える技術を提供する。
【解決手段】
ＲＦ信号のエンベロープからボトムエンベロープ信号を検出し、該ボトムエンベロープ信号の所定レベル以上にレベル低下した部分を検出するとともに、上記総和信号のエンベロープから、データ情報とは異なるフォーマットで記録されたＰＩＤ部などの情報部分を検出し、上記ボトムエンベロープ信号の上記低下部を検出した信号から、上記ＰＩＤ部などの情報部分の期間と重なる部分を除き、残りの信号部分から欠陥検出信号を形成する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、光ディスク装置における光ディスク面上の欠陥検出技術に関する。

本発明に関連した従来技術としては、例えば、特開平７−１４１７０２号公報（特許文献１）、特開平８−９６３６１号公報（特許文献２）及びＣＤ用ＲＦ信号処理サーボアンプＬＳＩＣＸ１９９２ＡＲ仕様書（ＳＯＮＹ社）Ｐ．１３０−１３１（非特許文献１）に記載されたものがある。特開平７−１４１７０２号公報には、光ディスク検査装置として、光ディスクの微細欠陥の検出を安定的に行うために、受光素子光量信号に対し、プリフーマットレベルに対応した変動明スライスレベルと変動暗スライスレベルとを設ける技術が記載され、特開平８−９６３６１号公報には、ＲＦ信号にＤＣ変動が生じた場合でも、光ディスク上の傷を正確に検出し、ゴミや結晶欠陥によるＲＦ信号のレベル変動に基づくトラッキングサーボなどの誤動作を防止する光ディスク装置の傷検出回路として、ＲＦ信号のピークエンベロープとボトムエンベロープの差分値を検出し、該差分値とピークホールドした検出レベルとを比較し傷検出信号を出力するとした構成が記載され、また、ＣＤ用ＲＦ信号処理サーボアンプＬＳＩＣＸ１９９２ＡＲ仕様書（ＳＯＮＹ社）には、ＲＦ信号のボトムエンベロープとピークエンベロープの差分の変化から光ディスクの記録面の欠陥を検出し、該検出信号に基づき再生信号処理及びサーボ処理を行う構成が記載されている。

特開平７−１４１７０２号公報

特開平８−９６３６１号公報 ＣＤ用ＲＦ信号処理サーボアンプＬＳＩＣＸ１９９２ＡＲ仕様書（ＳＯＮＹ社）Ｐ．１３０−１３１

例えばＤＶＤ−ＲＡＭの光ディスクの場合、アドレス情報などが予め記憶されているプリピット領域（以下、ＰＩＤ部という）では、データ領域（データ部）に比べ反射光量が多くなる。このため、上記従来技術では、いずれにおいても、上記ＰＩＤ部が、記録欠落部や金属粉付着部などの欠陥部として誤検出されてしまうおそれがある。
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置の欠陥検出技術において、上記ＰＩＤ部のような領域は欠陥として検出せず、欠陥をこれと区別して正確に検出できるようにすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決できる技術の提供にある。

上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置における光ディスクの欠陥検出技術として、光ディスクから読み出される総和信号（ＲＦ信号）のエンベロープから、ボトムエンベロープ信号を検出し、該ボトムエンベロープ信号の所定レベル以上にレベル低下した部分を検出するとともに、上記総和信号のエンベロープから、データ情報とは異なるフォーマットで記録されたＰＩＤ部などの情報部分を検出して、上記ボトムエンベロープ信号の上記低下部を検出した信号から、上記ＰＩＤ部などの情報部分の期間と重なる部分を除き、残りの信号部分に基づき欠陥検出信号を形成する。

本発明によれば、ＤＶＤ−ＲＡＭなどデータ部以外の領域を有する光ディスクの場合も、該領域の影響を受けずに正確な欠陥検出を行うことができる。

以下、本発明を実施するための最良の形態につき、図面を用いて説明する。
図１〜図３は、本発明の一実施形態の説明図である。図１は、本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の光ディスク装置における欠陥検出部の構成例図、図３は、図２の欠陥検出部の信号波形の説明図である。本実施形態では、光ディスクとしてはＤＶＤ−ＲＡＭを用いるとする。

図１において、１は光ディスク、２は、光ディスク１に対しレーザ光を照射し、該光ディスク１に情報を記録したり、記録された情報を読出したりする光ヘッド、４は光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ、３は、光ヘッド２やスピンドルモータ３などのサーボ制御を行うサーボ制御回路、５は、光ヘッド２が光ディスク１から読み出した信号を再生する再生回路、７は再生信号を復調する復調回路、８は、マイコン等で構成され、装置全体の制御を行う制御回路、９は、記録信号を変調する変調回路、１０は、記録信号に基づき光ヘッド内のレーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路、６は、光ディスクから出力される総和信号のエンベロープから、第１の信号としてのボトムエンベロープ信号を検出する第１の手段としてのボトム検出回路、１１は、ボトム検出回路６よりも放電時定数の長いエンベロープ検出を行い、ボトムエンベロープ信号をボトムホールドするボトムホールド回路、１２は、ボトムエンベロープ信号とボトムホールド回路１１からの出力信号とが入力され、両信号に基づき、ボトムエンベロープ信号の所定レベル以上にレベル低下した部分をホールドし第２の信号としての明信号検出信号（明るい反射光に基づく検出信号）を形成して出力する比較回路、１３は、上記総和信号のエンベロープから、データ情報とは異なるフォーマットでディスクに記録された情報部分としてのＰＩＤ部を検出し、第３の信号としてのＰＩＤ部検出信号を形成して出力する第３の手段としてのＰＩＤ部検出回路、１４は、上記比較回路１２からの明信号検出信号（第２の信号）と上記ＰＩＤ部検出回路１３の出力信号（第３の信号）とが入力され、該比較回路１２からの明信号検出信号（第２の信号）の、該ＰＩＤ部検出回路１３の出力信号すなわちＰＩＤ部検出信号（第３の信号）の期間と重なる部分を除いた信号部分をホールドし対応した信号（第４の信号）を形成して出力する第４の手段としてのホールド信号生成回路、２０は、上記ボトム検出回路６、上記ボトムホールド回路１１、上記比較回路１２、上記ＰＩＤ部検出回路１３及び上記ホールド信号生成回路１４を含んで成る欠陥検出部である。ボトムホールド回路１１と比較回路１２が、第２の信号としての明信号検出信号を形成して出力する第２の手段に該当する。

上記構成において、光ディスク１から光ヘッド２で読み出された総和信号（ＲＦ信号）のエンベロープから、ボトム検出回路６でボトムエンベロープを検出し第１の信号としてのボトムエンベロープ信号を形成し、ボトムホールド回路１１に入力する。ボトムホールド回路１１と比較回路１２では、入力されたボトムエンベロープ信号の所定レベル以上にレベル低下した部分を第２の信号としての明信号検出信号を形成して出力する。上記総和信号のエンベロープからはＰＩＤ部検出回路でＰＩＤ部を検出し対応した第３の信号としてのＰＩＤ部検出信号を形成して出力する。比較回路１２からの明信号検出信号（第２の信号）及びＰＩＤ部検出回路１３からのＰＩＤ部検出信号（第３の信号）は、ホールド信号生成回路１４に入力され、該ホールド信号生成回路１４では、明信号検出信号からＰＩＤ部検出信号と重なる期間の部分を除いた信号を欠陥検出信号として形成し出力する。該欠陥検出信号は、再生回路５や、復調回路７や、サーボ制御回路３に入力され、再生信号処理制御やサーボ制御を行う。

図２は、図１の光ディスク装置における欠陥検出部２０の構成例図である。
図２において、６はボトム検出回路、１１はボトムホールド回路、１２ａはレベルシフト回路、１２ｂは比較器、３０は反転回路、１４はホールド信号生成回路である。光ヘッド２（図１）で読み出された総和信号（ＲＦ信号）がボトム検出回路６に入力されると、該ボトム検出回路６ではボトムエンベロープを検出しボトムエンベロープ信号を形成して出力する。ボトムエンベロープ信号がボトムホールド回路１１に入力されると、該ボトムホールド回路１１では、ボトムエンベロープ信号のボトムホールドを行い、ボトムホールド信号（信号ｂ）を形成して出力する。ボトムホールド信号はレベルシフト回路１２ａでレベルシフトされ（信号ｃ）、比較器１２ｂに入力される。該比較器１２ｂには、ボトムホールド回路１１からのボトムエンベロープ信号（信号ａ）も入力される。比較器１２ｂでは、該ボトムエンベロープ信号（信号ａ）が信号ｃのレベルでホールドされ、明信号検出信号が形成される。該形成されたミラー信号はホールド信号生成回路１４に入力される。一方、ＰＩＤ部検出回路１３で形成されたＰＩＤ部検出信号は、反転回路３０で極性反転されてホールド信号生成回路１４に入力される。ホールド信号生成回路１４では、明信号検出信号からＰＩＤ部検出信号と重なる期間の部分を除いた信号を欠陥検出信号として形成し出力する。該欠陥検出信号にはＰＩＤ部検出信号期間の信号が含まれないため、ＰＩＤ部が欠陥として検出されることはない。

図３は、図２の欠陥検出部２０の信号波形の説明図である。
図３において、（ａ）はＲＦ信号波形、（ｂ）はボトムエンベロープ信号波形、（ｃ）は明信号検出信号波形、（ｄ）はＰＩＤ部検出信号波形、（ｅ）は欠陥検出信号波形である。（ａ）中、（Ａ）、（Ｂ）は記録膜不良の欠陥部（記録膜不良部）、（Ｃ）はスリット状の異物が付着している欠陥部（スリット状異物付着部）である。また、（ｂ）中、ａはボトムエンベロープ信号、ｂは、ボトムホールド回路１１（図２）の出力であってボトムホールドされた信号、ｃは、レベルシフト回路１２ａ（図２）の出力であって信号ｂがレベルシフトされた信号である。（ｂ）のボトムエンベロープ信号（信号ａ）が信号ｃによりホールドされ、（ｃ）の明信号検出信号が形成される。（ｃ）の明信号検出信号から、（ｄ）のＰＩＤ部検出信号（＝ＰＩＤ部期間に相当する信号）と重なる期間の信号部分が除かれ、該明信号検出信号の残りの信号部分が、（ｅ）の欠陥検出信号となる。

上記実施形態によれば、欠陥検出信号には、ＰＩＤ部検出信号期間（＝ＰＩＤ部期間）の信号が含まれないため、ＰＩＤ部が欠陥として検出されることはない。このため、ＰＩＤ部による誤検出をなくすことができ、データ部における正確かつ迅速な欠陥検出、特に、記録欠落部や金属粉付着部など反射率が高くなる欠陥部（明欠陥部）の正確かつ迅速な検出が可能となり、安定してデータ情報の再生を行うことができる。ＰＩＤ部の良好な再生も可能となる。

なお、上記欠陥検出信号は、光ディスクに記録された情報を再生する場合に、再生信号処理制御やサーボ制御を行うものであるが、上記実施形態を含め本発明では、光ディスクを光ディスク装置に装着後、安定に情報を再生できる状態になるまでは、該欠陥検出信号による再生信号処理制御やサーボ制御は行わない構成とする。これは、例えば、装着された光ディスクがＤＶＤ−ＲＡＭの場合には、ＰＩＤ部を再生して光ディスクの所定位置にアクセスするが、該アクセス直後は、ＰＩＤ部検出回路が安定に動作していない場合もあり、欠陥検出信号による制御が誤った部分で動作してしまい、ＰＩＤ部の情報を読みにくくするおそれがあるため、これを回避するためのものである。ＰＩＤ部の検出方法としては、トラッキングエラー信号を積分し、上下に変化する部位をＰＩＤ部として認識する方法や、ＰＩＤ部の情報を読み取ったときにＷｏｂｂｌｅ信号の数をカウントして、次のＰＩＤ部を認識する方法などがある。
上記実施形態では光ディスクがＤＶＤ−ＲＡＭである場合であって、ＰＩＤ部を欠陥として誤検出しない構成につき述べたが、本発明はこれに限定されない。

本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図である。 図１の光ディスク装置における欠陥検出部の構成例図である。 図２の欠陥検出部の信号波形の説明図である。

符号の説明

１…光ディスク、
２…光ヘッド、
３…サーボ制御回路、
４…スピンドルモータ、
５…再生回路、
６…ボトム検出回路、
７…復調回路、
８…制御回路、
９…変調回路、
１０…レーザ駆動回路、
１１…ボトムホールド回路、
１２…比較回路、
１２ａ…レベルシフト回路、
１２ｂ…比較器、
１３…ＰＩＤ部検出回路、
１４…ホールド信号生成回路、
２０…欠陥検出部。

Claims (5)

1. 光ディスクに対し情報を記録、再生のいずれか一方または両方を行う光ディスク装置であって、
   上記光ディスクから読み出されるディスク記録情報の総和信号のエンベロープからボトムエンベロープを検出しボトムエンベロープ信号を第１の信号として形成する第１の手段と、
   上記ボトムエンベロープ信号から所定レベル以上にレベル低下した部分を検出し対応した第２の信号を形成する第２の手段と、
   上記総和信号のエンベロープから、データ情報とは異なるフォーマットでディスクに記録された情報部分を検出し対応した第３の信号を形成する第３の手段と、
   上記第２の信号のうち上記第３の信号の期間と重なる部分を除いた信号部分に基づき対応した第４の信号を形成する第４の手段と、
   を備え、上記第４の信号を上記光ディスクの記録面の欠陥検出信号として、再生信号処理制御及びサーボ制御を行うことを特徴とする光ディスク装置。
2. 上記光ディスクはＤＶＤ−ＲＡＭであり、上記第３の手段は、ＰＩＤ部を検出して上記第３の信号を形成する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 上記第２の手段は、上記ボトムエンベロープ信号と、ボトムエンベロープより放電時定数の長いエンベロープ検出で該ボトムエンベロープ信号のボトムエンベロープを検出した信号をレベルシフトした信号とを比較して、上記第２の信号を形成し出力する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 上記光ディスクに記録された信号を再生する場合に、上記第４の信号に基づき、上記再生信号処理制御及び上記サーボ制御を行う請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 光ディスク装置において光ディスクの欠陥を検出する欠陥検出方法であって、
   光ディスクから読み出されるディスク記録情報の総和信号のエンベロープからボトムエンベロープを検出しボトムエンベロープ信号を形成する第１のステップと、
   上記ボトムエンベロープ信号から所定レベル以上にレベル低下した部分を検出し対応した信号を形成する第２のステップと、
   上記総和信号のエンベロープから、データ情報とは異なるフォーマットでディスクに記録された情報部分を検出し対応した信号を形成する第３のステップと、
   上記第２のステップで形成した信号の、上記第３のステップで形成した信号の期間と重なる部分を除いた信号部分に基づき欠陥検出信号を形成する第４のステップと、
   を経て、光ディスクの欠陥を検出することを特徴とする光ディスクの欠陥検出方法。

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