JP2005114708A - Optical displacement meter and method for measuring applied cross section area of viscous fluid using same - Google Patents

Optical displacement meter and method for measuring applied cross section area of viscous fluid using same Download PDF

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Yuuji Akishiba
雄二 秋柴
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To measure a relatively accurate applied cross section area even if displacement data can not be accurately obtained near a slope in a rising part when an optical displacement meter measures the applied cross section area of a viscous fluid. <P>SOLUTION: A light is focused by an objective lens 15 and projected to a measured object 16. The reflected light is received through the objective lens 15 and a pinhole 17a. While the objective lens 15 is vibrated in the optical axis direction and its location is detected, a displacement of the surface of the measured object 16 is measured on the basis of the location information of the objective lens 15 having the maximum quantity of the received light. An optical displacement meter is provided with a displacement data storage 41 for storing the displacement data of the surface of the measured object 16 obtained while the measured object 16 is moved relative to the optical axis of the objective lens 15 by the predetermined distance, a height/width calculating part 42 for calculating a height and a width corresponding to the maximum rising part defined by the displacement data, and a cross section calculating part 43 for calculating the cross section of the rising part on the basis of the height and the width. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、測定対象物に光を投射し、その反射光を受光して測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計と、それを用いてシール剤等の粘性液体の塗布量を測定する方法に関する。   The present invention is an optical displacement meter that projects light onto a measurement object, receives the reflected light and measures the displacement of the surface of the measurement object, and uses it to determine the amount of viscous liquid such as a sealant applied. It relates to a measuring method.

光学式変位計として、特許文献1に記載されているような合焦点検出型非接触変位計が実用化されている。この光学式変位計は、レーザ光を用いて測定対象物の表面の高さの変化(変位)をミクロンオーダで測定することができる。以下に、その構成を簡単に説明する。   As an optical displacement meter, a focus detection type non-contact displacement meter as described in Patent Document 1 has been put into practical use. This optical displacement meter can measure a change (displacement) in the height of the surface of a measurement object on the order of microns using a laser beam. The configuration will be briefly described below.

図1は、従来の光学式変位計の構成を示すブロック図である。レーザパワー制御回路11で駆動されるレーザダイオード12から出射したレーザ光は、ビームスプリッタ13、コリメータレンズ14、及び対物レンズ15を順次通過し、測定対象物16に投射される。測定対象物16からの反射光は、対物レンズ15及びコリメータレンズ14を通ってビームスプリッタ13で反射し、光絞り部17のピンホール17aを通ってフォトダイオード18に入射する。フォトダイオード18が光電変換して得られた受光量に対応する電気信号は、増幅器19で増幅された後に演算部20へ入力される。   FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a conventional optical displacement meter. The laser light emitted from the laser diode 12 driven by the laser power control circuit 11 sequentially passes through the beam splitter 13, the collimator lens 14, and the objective lens 15 and is projected onto the measurement object 16. The reflected light from the measurement object 16 is reflected by the beam splitter 13 through the objective lens 15 and the collimator lens 14, and enters the photodiode 18 through the pinhole 17 a of the optical diaphragm 17. An electric signal corresponding to the amount of received light obtained by photoelectric conversion by the photodiode 18 is amplified by the amplifier 19 and then input to the arithmetic unit 20.

対物レンズ15は、U字状の音叉21に取り付けられ、音叉21が振動すると対物レンズ15が光軸方向に振動するようになっている。音叉21は、音叉振幅制御回路25によって励磁されるソレノイド24によって一定の周波数及び振幅(例えば800Hz,±0.3mm)で振動させられる。音叉21の先端部側方には音叉振幅検出器22が配置され、その検出信号(正弦波信号)が増幅器23を通って演算部20にフィードバックされている。   The objective lens 15 is attached to a U-shaped tuning fork 21. When the tuning fork 21 vibrates, the objective lens 15 vibrates in the optical axis direction. The tuning fork 21 is vibrated at a constant frequency and amplitude (for example, 800 Hz, ± 0.3 mm) by a solenoid 24 excited by a tuning fork amplitude control circuit 25. A tuning fork amplitude detector 22 is arranged on the side of the tip of the tuning fork 21, and the detection signal (sine wave signal) is fed back to the arithmetic unit 20 through the amplifier 23.

音叉振幅制御回路25によってソレノイド24が励磁され、音叉21の振動によって対物レンズ15が光軸方向に振動すると、レーザダイオード12からビームスプリッタ13、コリメータレンズ14、及び対物レンズ15を通って測定対象物16に投射されるレーザ光の集束点(すなわち対物レンズ15の焦点)が光軸方向に振動する。その結果、測定対象物16の表面で反射し、対物レンズ15及びコリメータレンズ14を通り、ビームスプリッタ13で反射し、光絞り部17のピンホール17aを通ってフォトダイオード18に入射するレーザ光の光量が変化する。   When the solenoid 24 is excited by the tuning fork amplitude control circuit 25 and the objective lens 15 vibrates in the optical axis direction due to the vibration of the tuning fork 21, the measurement object passes from the laser diode 12 through the beam splitter 13, the collimator lens 14, and the objective lens 15. The focal point of the laser beam projected onto 16 (that is, the focal point of the objective lens 15) vibrates in the optical axis direction. As a result, the laser beam reflected on the surface of the measurement object 16, passes through the objective lens 15 and the collimator lens 14, is reflected by the beam splitter 13, passes through the pinhole 17 a of the optical diaphragm 17, and enters the photodiode 18. The amount of light changes.

つまり、測定対象物16に投射されるレーザ光の集束点が測定対象物16の表面にあるとき(合焦点状態)に、その反射光のうち光絞り部17に到達した光のほとんどがピンホール17aを通過し、フォトダイオード18に入射するレーザ光の受光量が最も多くなる。これに対して、レーザ光の集束点が測定対象物16の表面からずれると、光絞り部17に到達した反射光の一部のみがピンホール17aを通過し残りはカットされる。その結果、フォトダイオード18の受光量が急激に減少する。   That is, when the focal point of the laser beam projected onto the measurement object 16 is on the surface of the measurement object 16 (in a focused state), most of the reflected light reaching the optical aperture 17 is a pinhole. The amount of received laser light that passes through 17a and enters the photodiode 18 is maximized. On the other hand, when the focal point of the laser beam deviates from the surface of the measuring object 16, only a part of the reflected light that has reached the optical aperture 17 passes through the pinhole 17a and the rest is cut. As a result, the amount of light received by the photodiode 18 is rapidly reduced.

したがって、演算部20において、フォトダイオード18の受光量が最大になるときの音叉振幅検出器22からの正弦波信号から、対物レンズ15の位置信号を得、この位置信号を距離変換部26で距離に変換することにより、測定対象物16の表面の変位を得ることができる。なお、演算部20の具体的な回路構成とその動作については特許文献1に詳しく開示されている。   Therefore, in the arithmetic unit 20, the position signal of the objective lens 15 is obtained from the sine wave signal from the tuning fork amplitude detector 22 when the amount of light received by the photodiode 18 becomes maximum, and this position signal is obtained by the distance conversion unit 26. By converting to, the displacement of the surface of the measurement object 16 can be obtained. The specific circuit configuration and operation of the arithmetic unit 20 are disclosed in detail in Patent Document 1.

上記のような光学式変位計を用いた測定の一例として、ガラス基板等に塗布されたシール剤のような粘性液体の塗布断面積の測定を挙げることができる。例えば液晶表示器の製造工程において、スペーサを介して所定の間隔で平行に対向する2枚のガラス基板の周囲をシール剤で封止する必要がある。一方のガラス板の周辺部に沿ってシール剤を塗布した後に、他方のガラス板を重ねて押さえることにより、2枚のガラス基板がスペーサの大きさで決まる間隔を隔てて周辺部で固定され、封止される。   As an example of the measurement using the optical displacement meter as described above, measurement of the application cross-sectional area of a viscous liquid such as a sealing agent applied to a glass substrate or the like can be mentioned. For example, in the manufacturing process of a liquid crystal display, it is necessary to seal the periphery of two glass substrates facing in parallel at a predetermined interval via a spacer with a sealant. After applying the sealing agent along the peripheral part of one glass plate, the other glass plate is stacked and pressed to fix the two glass substrates at the peripheral part with an interval determined by the size of the spacer, Sealed.

この際、シール剤の塗布量が少なすぎると封止(密封)が不完全になるおそれがあり、多すぎると余分なシール剤が2枚のガラス基板の周辺部からはみ出すことがある。そこで、シール剤の塗布量、すなわち塗布断面積を厳密に管理する必要があり、その管理のために塗布断面積の測定が行われる。このような粘性液体の塗布断面積の測定方法の従来例として特許文献2に開示された方法がある。この測定方法では、撮像手段で得られた画像の処理によって塗布断面の輪郭(高さの分布)を求め、積分処理によって断面積を求めている。   At this time, if the application amount of the sealing agent is too small, sealing (sealing) may be incomplete, and if it is too much, excess sealing agent may protrude from the peripheral portions of the two glass substrates. Therefore, it is necessary to strictly manage the coating amount of the sealing agent, that is, the coating cross-sectional area, and the coating cross-sectional area is measured for the management. There is a method disclosed in Patent Document 2 as a conventional example of a method for measuring the application cross-sectional area of such a viscous liquid. In this measurement method, the contour (height distribution) of the application cross section is obtained by processing the image obtained by the imaging means, and the cross sectional area is obtained by integration processing.

特許文献1に記載されているような光学式変位計を用いて粘性液体の塗布断面積の測定を行う場合は、光学式変位計から得られる変位(表面高さ)の分布を求めることにより、同様にしてシール剤の塗布断面積を求めることができる。つまり、図2に示すようにガラス基板30の上にシール剤31が直線状に塗布されているとすれば、シール剤31の塗布方向D1に略垂直な方向(幅方向)D2に光軸を移動させながら変位(表面高さ)の分布を求めればよい。光軸をD2方向に移動させる手段は図1に示されていないが、例えば公知のX−Yテーブルを用いて、測定対象物16(ガラス基板30及びシール剤31)を光軸に対して移動させればよい。あるいは、測定対象物16の載置台は固定して、対物レンズ15を水平方向に移動させる機構を設けてもよい。対物レンズ15を水平方向に移動させることにより、直線状に塗布されたシール剤31を横切る方向(幅方向)に光軸を高速移動させることができる。   When measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid using an optical displacement meter as described in Patent Document 1, by obtaining the distribution of the displacement (surface height) obtained from the optical displacement meter, Similarly, the application cross-sectional area of the sealing agent can be obtained. That is, if the sealing agent 31 is applied linearly on the glass substrate 30 as shown in FIG. 2, the optical axis is set in a direction (width direction) D2 substantially perpendicular to the application direction D1 of the sealing agent 31. What is necessary is just to obtain | require distribution of displacement (surface height), moving. The means for moving the optical axis in the direction D2 is not shown in FIG. 1, but the measurement object 16 (the glass substrate 30 and the sealing agent 31) is moved with respect to the optical axis using, for example, a known XY table. You can do it. Alternatively, a mechanism for moving the objective lens 15 in the horizontal direction while fixing the mounting table of the measurement object 16 may be provided. By moving the objective lens 15 in the horizontal direction, the optical axis can be moved at high speed in a direction (width direction) across the sealing agent 31 applied in a straight line.

このようにして求めた高さ分布のグラフの一例を図3に示す。図3において、黒色の太線のグラフ33が高さ分布を示しており、これに重ねて示された灰色のグラフ34は受光量の分布(参考)である。このような高さ分布のグラフ33を得ることができれば、その盛り上がり部分の面積、すなわち塗布断面積を積分演算によって求めることは容易である。例えば、盛り上がり部分の幅W(図示の例では360μm程度)をサンプリングごとに分割し(単位幅ΔW)、各サンプリング点における変位(高さ)データとΔWとの積を加算すれば塗布断面積が得られる。
特許第3300803号 特開2003−28616号公報
An example of the graph of the height distribution thus obtained is shown in FIG. In FIG. 3, a black thick line graph 33 indicates the height distribution, and a gray graph 34 superimposed on the graph 33 is a distribution (reference) of the received light amount. If such a height distribution graph 33 can be obtained, it is easy to obtain the area of the raised portion, that is, the coating cross-sectional area by integration calculation. For example, if the width W (about 360 μm in the illustrated example) of the swelled part is divided for each sampling (unit width ΔW), and the product of the displacement (height) data at each sampling point and ΔW is added, the coating cross-sectional area is can get.
Patent No. 3300803 JP 2003-28616 A

しかしながら、実際には図3に示したような比較的きれいな高さ分布のグラフ33が得られるとは限らない。すなわち、図4に示すように、高さ分布のグラフ35の盛り上がり部分の斜面、すなわち立ち上がり35a及び立下り35bの部分で測定値の変動が大きくなり(不正確になり)、グラフが乱れる現象が起こりやすいことが分かった。この現象は、液体(シール剤)の粘土が高く、盛り上がり部分の斜面の傾きが大きいほど顕著に発生する。これは、受光量の分布を示すグラフ36から分かるように、盛り上がり部分の斜面で反射してフォトダイオード18に至る光が少なくなり、この部分36a及び36bでの受光量が不十分になることが一因であると考えられる。   However, in practice, a relatively clean graph 33 of the height distribution as shown in FIG. 3 is not always obtained. That is, as shown in FIG. 4, the measured value fluctuates greatly (inaccurate) on the slope of the rising portion of the height distribution graph 35, that is, the rising portion 35 a and the falling portion 35 b, and the graph is disturbed. I found it easy to happen. This phenomenon is more prominent as the liquid (sealant) clay is higher and the slope of the bulge is larger. As can be seen from the graph 36 showing the distribution of the amount of received light, the amount of light reflected on the slope of the rising portion and reaching the photodiode 18 decreases, and the amount of received light at these portions 36a and 36b becomes insufficient. This is considered to be a cause.

このように、高さ分布のグラフ35の盛り上がり部分の斜面での変位データの変動が激しい場合は、上記のような積分(各サンプリング点における変位データとΔWとの積の加算)演算によって塗布断面積を求めた場合の誤差が非常に大きくなり、実用上問題が生ずる。   As described above, when the variation of the displacement data on the slope of the swelled portion of the height distribution graph 35 is severe, the application interruption is performed by the above-described integration (addition of the product of displacement data and ΔW at each sampling point). When the area is obtained, the error becomes very large, causing a practical problem.

本発明は、上記のような課題に鑑み、シール剤のような粘性液体の塗布断面積を光学式変位計で測定する際に、盛り上がり部分の斜面付近で変位データが正確に得られない場合でも、比較的正確な塗布断面積を測定できるようにすることを目的とする。   In the present invention, in view of the above-described problems, when measuring the application cross-sectional area of a viscous liquid such as a sealant with an optical displacement meter, even when displacement data cannot be obtained accurately near the slope of the swelled portion. An object of the present invention is to make it possible to measure a relatively accurate coating cross-sectional area.

本発明による光学式変位計の第1の構成は、対物レンズで集束した光を測定対象物に投射し、前記測定対象物からの反射光を前記対物レンズ及びピンホールを通して受光し、前記対物レンズを光軸方向に振動させることによりその位置を検出し、受光量が最大となるときの前記対物レンズの位置情報から前記測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計において、前記対物レンズの光軸と前記測定対象物とを相対的に所定量ずつ移動させながら取得した測定対象物の表面の変位データを記憶する変位データ記憶部と、前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さと幅を算出する高さ・幅算出部と、前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さと幅から前記盛り上がり部分の断面積を算出する断面積算出部と、前記変位データによって規定される盛り上がり部分を含む測定対象物の表面の断面輪郭及び前記断面積算出部によって算出された断面積を表示する表示部とを備えていることを特徴とする。   A first configuration of an optical displacement meter according to the present invention projects light focused by an objective lens onto a measurement object, receives reflected light from the measurement object through the objective lens and a pinhole, and the objective lens In the optical displacement meter that detects the position of the object to be measured from the position information of the objective lens when the amount of received light is maximized. A displacement data storage unit for storing displacement data of the surface of the measurement object acquired while moving the optical axis of the measurement object relative to the measurement object by a predetermined amount, and a maximum value of a raised portion defined by the displacement data A height / width calculation unit for calculating the height and width corresponding to the cross section, and a cross section for calculating the cross-sectional area of the raised part from the height and width of the raised part obtained by the height / width calculating unit A calculation unit and a display unit for displaying a cross-sectional contour of a surface of a measurement object including a raised portion defined by the displacement data and a cross-sectional area calculated by the cross-sectional area calculation unit are provided. .

本発明による光学式変位計の第2の構成は、第1の構成と同様の光学式変位計において、前記対物レンズの光軸と前記測定対象物とを相対的に所定量ずつ移動させながら取得した測定対象物の表面の変位データを記憶する変位データ記憶部と、同じく受光量データを記憶する受光量データ記憶部と、前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さを算出すると共に、前記盛り上がり部分における前記受光量データから前記盛り上がり部分の幅を算出する高さ・幅算出部と、前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さと幅から盛り上がり部分の断面積を算出する断面積算出部と、前記変位データによって規定される盛り上がり部分を含む測定対象物の表面の断面輪郭及び前記断面積算出部によって算出された断面積を表示する表示部とを備えていることを特徴とする光学式変位計。   The second configuration of the optical displacement meter according to the present invention is obtained by moving the optical axis of the objective lens and the measurement object relative to each other by a predetermined amount in the same optical displacement meter as the first configuration. A displacement data storage unit that stores displacement data of the surface of the measured object, a received light amount data storage unit that similarly stores received light amount data, and a height corresponding to the maximum value of the raised portion defined by the displacement data. A height / width calculator that calculates the width of the raised portion from the received light amount data in the raised portion, and the height and width of the raised portion determined by the height / width calculator. Calculated by the cross-sectional area calculation unit for calculating the cross-sectional area, the cross-sectional contour of the surface of the measurement object including the raised portion defined by the displacement data, and the cross-sectional area calculation unit Optical displacement meter, characterized in that it comprises a display unit for displaying the cross-sectional area that is.

本発明による光学式変位計の第3の構成は、第1又は第2の構成において、前記断面積算出部は、前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さと幅と所定の係数とを乗じて得られた積に所定のオフセットを加えて得られた値を前記断面積として算出し、前記断面積算出部に対して前記係数及び前記オフセットを設定する係数・オフセット設定部を更に備えていることを特徴とする。   According to a third configuration of the optical displacement meter of the present invention, in the first or second configuration, the cross-sectional area calculation unit has a predetermined height and width of a raised portion determined by the height / width calculation unit, and a predetermined value. A value obtained by adding a predetermined offset to the product obtained by multiplying by a coefficient is calculated as the cross-sectional area, and a coefficient / offset setting unit for setting the coefficient and the offset to the cross-sectional area calculation unit; Furthermore, it is characterized by providing.

本発明による光学式変位計の第4の構成は、第3の構成において、前記係数・オフセット設定部は、前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さ及び幅と、別の手段で測定され入力された前記盛り上がり部分の断面積の真値とのセット2組から前記係数及び前記オフセットを算出し設定することを特徴とする。   According to a fourth configuration of the optical displacement meter of the present invention, in the third configuration, the coefficient / offset setting unit is different from the height and width of the raised portion obtained by the height / width calculation unit. The coefficient and the offset are calculated and set from two sets of sets of the cross-sectional area of the raised portion measured and inputted by the means.

また、本発明による粘性液体の塗布断面積の測定方法の第1の構成は、対物レンズで集束した光を測定対象物に投射し、前記測定対象物からの反射光を前記対物レンズ及びピンホールを通して受光し、前記対物レンズを光軸方向に振動させることによりその位置を検出し、受光量が最大となるときの前記対物レンズの位置情報から前記測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計を用いて、基板上に線状に塗布された粘性液体の塗布断面積を測定する方法であって、(a)前記粘性液体の塗布方向に直角な方向に前記対物レンズの光軸を相対的に移動させながら前記粘性液体が塗布された盛り上がり部分の表面の変位データを取得して記憶するステップと、(b)前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さと幅を算出するステップと、(c)前記盛り上がり部分の高さと幅から前記盛り上がり部分の断面積を算出するステップとを実行することを特徴とする。   The first configuration of the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention projects the light focused by the objective lens onto the measurement object, and reflects the reflected light from the measurement object as the objective lens and the pinhole. An optical system that detects the position of the object to be measured from the position information of the objective lens when the amount of received light is maximized by detecting the position by vibrating the objective lens in the optical axis direction. A method of measuring the application cross-sectional area of a viscous liquid applied linearly on a substrate using a displacement meter, wherein (a) the optical axis of the objective lens is set in a direction perpendicular to the application direction of the viscous liquid. Acquiring and storing displacement data of the surface of the raised portion to which the viscous liquid has been applied while being relatively moved; and (b) a height corresponding to the maximum value of the raised portion defined by the displacement data. Calculating a width, and executes the step of calculating the cross-sectional area of said raised portion from the height and width of the (c) said raised portion.

本発明による粘性液体の塗布断面積の測定方法の第2の構成は、第1の構成と同様の方法において、(a)前記粘性液体の塗布方向に直角な方向に前記対物レンズの光軸を相対的に移動させながら前記粘性液体が塗布された盛り上がり部分の表面の変位データ及び受光量データを取得して記憶するステップと、(b)前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さを算出すると共に、前記盛り上がり部分における前記受光量データから前記盛り上がり部分の幅を算出するステップと、(c)前記盛り上がり部分の最大値に対応する高さと幅から前記盛り上がり部分の断面積を算出するステップとを実行することを特徴とする。   A second configuration of the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention is the same as the first configuration, in which (a) the optical axis of the objective lens is set in a direction perpendicular to the application direction of the viscous liquid. Acquiring and storing displacement data and received light amount data of the surface of the raised portion to which the viscous liquid has been applied while relatively moving, and (b) corresponding to the maximum value of the raised portion defined by the displacement data And calculating a width of the raised portion from the received light amount data in the raised portion, and (c) a sectional area of the raised portion from the height and width corresponding to the maximum value of the raised portion. The step of calculating is performed.

本発明による粘性液体の塗布断面積の測定方法の第3の構成は、第1又は第2の構成の前記ステップ(c)において、前記盛り上がり部分の高さと幅と所定の係数とを乗じて得られた積に所定のオフセットを加えて得られた値を前記断面積として算出することを特徴とする。   The third configuration of the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention is obtained by multiplying the height and width of the raised portion by a predetermined coefficient in the step (c) of the first or second configuration. A value obtained by adding a predetermined offset to the obtained product is calculated as the cross-sectional area.

本発明による粘性液体の塗布断面積の測定方法の第4の構成は、第3の構成の前記ステップ(b)において求められた盛り上がり部分の高さ及び幅と、別の手段で測定され入力された前記盛り上がり部分の断面積の真値とのセット2組から前記係数及び前記オフセットを算出し設定するステップを前記ステップ(c)の前に実行することを特徴とする。   The fourth configuration of the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention is measured and input by another means with the height and width of the raised portion obtained in step (b) of the third configuration. In addition, the step of calculating and setting the coefficient and the offset from two sets with the true value of the cross-sectional area of the raised portion is executed before the step (c).

本発明による粘性液体の塗布断面積の測定方法の第5及び第6の構成は、上記第1及び第2のそれぞれの構成のステップ(a)において、粘性液体の塗布方向に対して対物レンズの光軸を相対的に移動させる方向を直角方向ではなく斜めの方向とすることを特徴とする。   The fifth and sixth configurations of the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention include the objective lens in the step (a) of the first and second configurations, respectively, with respect to the application direction of the viscous liquid. The direction in which the optical axis is relatively moved is not a right angle direction but an oblique direction.

本発明による粘性液体の塗布断面積の測定方法の第7の構成は、上記第5及又は第6の構成において、前記光学式変位計は前記対物レンズで集束した光スポットを光軸に略垂直な直線方向に走査する光軸走査機構を有するものを使用し、互いに異なる方向に延びる複数の直線状に塗布された粘性液体の塗布断面積を、前記複数の直線を代表する複数箇所で測定するに際して、前記対物レンズを含む前記光学式変位計のヘッド部と前記測定対象物とを相対回転させることなく前記複数箇所で前記光軸走査機構を用いて各直線に対して斜めの方向に前記対物レンズの光軸を相対的に移動させて前記ステップ(a)から(c)を複数回繰り返すことを特徴とする。   According to a seventh configuration of the method for measuring the cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention, in the fifth and sixth configurations, the optical displacement meter has a light spot focused by the objective lens substantially perpendicular to the optical axis. Using a device having an optical axis scanning mechanism that scans in a straight line direction, the application cross-sectional areas of a plurality of linearly applied viscous liquids extending in different directions are measured at a plurality of locations that represent the plurality of straight lines. In this case, the objective in a direction oblique to each straight line using the optical axis scanning mechanism at the plurality of locations without causing relative rotation between the head portion of the optical displacement meter including the objective lens and the measurement object. The steps (a) to (c) are repeated a plurality of times by relatively moving the optical axis of the lens.

本発明の光学式変位計及びそれを用いた粘性液体の塗布断面積の測定方法の第1の構成によれば、シール剤のような粘性液体の塗布断面積を光学式変位計で測定する際に、盛り上がり部分の斜面付近で変位データが正確に得られない場合でも、比較的高い測定精度が得られる盛り上がり部分の高さと幅とに基づいて塗布断面積をほぼ正確に求めることができる。すなわち、シール剤のような粘性液体を基板に直線状に塗布した場合、その盛り上がり部分の断面は一般に、中央部が高い放物線のような形状になる。そこで、斜面の部分の不正確な変位(高さ)データを使用しないで、中央部(ピーク)の変位(高さ)データと盛り上がり部分の幅とから塗布断面積を求めるようにすれば、ほぼ正確な塗布断面積を安定的に得ることができる。   According to the first configuration of the optical displacement meter of the present invention and the method for measuring the application cross-sectional area of a viscous liquid using the same, when measuring the application cross-sectional area of a viscous liquid such as a sealant with the optical displacement meter, In addition, even when displacement data cannot be accurately obtained near the slope of the bulging portion, the coating cross-sectional area can be obtained almost accurately based on the height and width of the bulging portion that can obtain relatively high measurement accuracy. That is, when a viscous liquid such as a sealant is applied to a substrate in a straight line, the cross section of the raised portion is generally shaped like a parabola with a high central part. Therefore, without using inaccurate displacement (height) data of the slope part, if the application cross-sectional area is obtained from the displacement (height) data of the central part (peak) and the width of the raised part, it is almost An accurate application cross-sectional area can be stably obtained.

また、本発明の光学式変位計及びそれを用いた粘性液体の塗布断面積の測定方法の第2の構成によれば、第1の構成では変位データから盛り上がり部分の幅を正確に求めることが困難な場合であっても、受光量データから幅をほぼ正確に求めることができる。基板表面が露出している部分と粘性液体が塗布された部分との境界で受光量が急激に変化するので、受光量データから両側の境界を検出し、両者間の幅を求めることは容易である。その結果、盛り上がり部分の高さと幅とに基づいて塗布断面積をほぼ正確に求めることができる。   According to the second configuration of the optical displacement meter of the present invention and the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid using the same, in the first configuration, the width of the raised portion can be accurately obtained from the displacement data. Even in a difficult case, the width can be obtained almost accurately from the received light amount data. Since the amount of light received changes abruptly at the boundary between the part where the substrate surface is exposed and the part where the viscous liquid is applied, it is easy to detect the boundary on both sides from the amount of light received and determine the width between them. is there. As a result, the coating cross-sectional area can be obtained almost accurately based on the height and width of the raised portion.

また、本発明の光学式変位計及びそれを用いた粘性液体の塗布断面積の測定方法の第3の構成によれば、高さと幅と所定の係数とを乗じて得られた積に所定のオフセットを加えて得られた値を断面積として算出するので、塗布断面積を高速で求めることができる。盛り上がり部分の高さと幅とに基づいて塗布断面積を求める別の方法として、例えば頂点と両側の境界点を通る放物線(二次曲線)を求め、その放物線と基板表面に対応する直線とで囲まれた部分の面積を従来技術の説明で述べた方法によって求めることも可能である。しかしながら、この場合は、単位幅ΔWごとに分割された長方形の面積(ΔW×高さ)を求め、加算する演算(積分演算)が必要であり、処理時間が長くなる。処理能力の低いマイクロプロセッサでは、そのような処理の負担が無視できなくなると共に処理に時間が掛かる。これに対して本発明の第3の構成では、高さと幅と所定の係数とを乗じて得られた積に所定のオフセットを加えるといった簡単な処理で塗布断面積を求めることができるので、処理時間が短く早く処理が完了する。   Further, according to the third configuration of the optical displacement meter of the present invention and the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid using the same, the product obtained by multiplying the height, the width, and the predetermined coefficient is a predetermined value. Since the value obtained by adding the offset is calculated as the cross-sectional area, the coating cross-sectional area can be obtained at high speed. As another method for obtaining the coating cross-sectional area based on the height and width of the raised portion, for example, a parabola (secondary curve) passing through the apex and the boundary point on both sides is obtained and surrounded by the parabola and a straight line corresponding to the substrate surface. It is also possible to obtain the area of the formed portion by the method described in the description of the prior art. However, in this case, an operation (integration operation) for obtaining and adding the area (ΔW × height) of the rectangle divided for each unit width ΔW is required, which increases the processing time. In a microprocessor having a low processing capability, such a processing burden cannot be ignored and processing takes time. On the other hand, in the third configuration of the present invention, the coating cross-sectional area can be obtained by a simple process such as adding a predetermined offset to the product obtained by multiplying the height, width, and a predetermined coefficient. Processing is completed in a short time.

更に、本発明の光学式変位計及びそれを用いた粘性液体の塗布断面積の測定方法の第4の構成によれば、別の手段で測定した盛り上がり部分の断面積の真値と、それぞれに対応して求められた盛り上がり部分の高さ及び幅の計2組のデータから係数及びオフセットを算出し設定することができる。別の手段として、例えば、粘性液体が液晶パネルのシール剤の場合は、2枚のガラス基板の間に塗布されたシール剤がスペーサによって規定された厚みまで押し潰されたときに、そのシール剤の幅と2枚のガラス基板の間隔との積として断面積を容易に求めることができる。あるいは、2枚のガラス基板を重ね合わせる前に、一方のガラス基板の上に塗布されたシール剤の盛り上がり部分の断面積を別の測定器を用いて測定してもよい。   Further, according to the fourth configuration of the optical displacement meter of the present invention and the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid using the same, the true value of the cross-sectional area of the swelled portion measured by another means, respectively, Coefficients and offsets can be calculated and set from a total of two sets of data of the height and width of the raised portion correspondingly obtained. As another means, for example, when the viscous liquid is a sealant for a liquid crystal panel, when the sealant applied between two glass substrates is crushed to the thickness defined by the spacer, the sealant The cross-sectional area can be easily obtained as the product of the width of and the distance between the two glass substrates. Or before superimposing two glass substrates, you may measure the cross-sectional area of the swelling part of the sealing compound apply | coated on one glass substrate using another measuring device.

また、本発明の粘性液体の塗布断面積の測定方法の第5及び第6の構成によれば、例えば粘性液体が長方形の枠に沿って塗布され、隣り合う2辺をそれぞれ代表する2箇所で塗布断面積を測定する作業を効率的に行うことができる。つまり、互いに直角方向に延びる2辺を一直線で斜めに(例えば共に45度で)横切る方向に光軸を相対移動させればよいので、隣り合う2辺をそれぞれ直角に横切る方向に光軸を相対移動させる場合比べて、効率的な測定が可能となり、測定全体に要する時間を短縮することができる。   Further, according to the fifth and sixth configurations of the method for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid according to the present invention, for example, the viscous liquid is applied along a rectangular frame, and is represented at two locations that respectively represent two adjacent sides. The operation | work which measures a coating cross-sectional area can be performed efficiently. In other words, it is only necessary to relatively move the optical axis in a direction that crosses two sides extending in a direction perpendicular to each other in a straight line and obliquely (for example, both at 45 degrees). Compared with the case of moving, efficient measurement is possible, and the time required for the entire measurement can be shortened.

この場合、斜め(角度θ)に横切った場合の幅にcosθを掛ければ直角に横切った場合の幅に換算できることは明らかである。但し、前述のように幅と高さに所定の係数を掛けて最終的に求める塗布断面積を得る場合は、その係数に上記cosθを含めることができる。したがって、斜めに横切る場合も直角に横切る場合と同じ演算手順で塗布断面積を求めることができる。   In this case, it is clear that if the width when crossing obliquely (angle θ) is multiplied by cos θ, it can be converted to the width when crossing at right angles. However, when the coating cross-sectional area to be finally obtained is obtained by multiplying the width and height by a predetermined coefficient as described above, the above-mentioned cos θ can be included in the coefficient. Therefore, the cross-sectional area of application can be obtained by the same calculation procedure as when crossing diagonally.

また、本発明の粘性液体の塗布断面積の測定方法の第7の構成では、対物レンズで集束した光スポットを光軸に略垂直な直線方向に走査する光軸走査機構を有する光学式変位計を用いて、互いに異なる方向に延びる複数の直線状に塗布された粘性液体の塗布断面積を、複数の直線を代表する複数箇所で測定する場合に、上記の第5又は第6の構成のように各直線に対して斜めの方向に対物レンズの光軸を相対的に移動させて上記のような塗布断面積を求める処理を複数箇所で繰り返す。この場合、光学式変位計のヘッド部と測定対象物とを相対回転させる動作を伴わないので、回転機構が不要になる。また、塗布断面積を求めるべき複数箇所に複数のヘッド部をセットする必要もなく、1台のヘッド部で効率的な測定が可能となる。   In the seventh configuration of the viscous liquid application cross-sectional area measuring method according to the present invention, an optical displacement meter having an optical axis scanning mechanism that scans a light spot focused by the objective lens in a linear direction substantially perpendicular to the optical axis. When measuring the application cross-sectional area of a plurality of linearly applied viscous liquids extending in different directions using a plurality of locations representing a plurality of straight lines, as in the fifth or sixth configuration described above In addition, the processing for obtaining the coating cross-sectional area as described above by relatively moving the optical axis of the objective lens in an oblique direction with respect to each straight line is repeated at a plurality of locations. In this case, since there is no operation of rotating the head part of the optical displacement meter and the measurement object relative to each other, no rotation mechanism is required. Further, it is not necessary to set a plurality of head portions at a plurality of locations where the application cross-sectional area should be obtained, and efficient measurement can be performed with one head portion.

以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図5は、本発明の実施例1に係る光学式変位計の構成を示すブロック図である。この光学式変位計は、変位測定部10、変位データ記憶部41、高さ・幅算出部42、断面積算出部43、表示部44、及び係数・オフセット設定部45を備えている。   FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration of the optical displacement meter according to the first embodiment of the present invention. The optical displacement meter includes a displacement measuring unit 10, a displacement data storage unit 41, a height / width calculation unit 42, a cross-sectional area calculation unit 43, a display unit 44, and a coefficient / offset setting unit 45.

変位測定部10は、図1を参照して説明した従来の光学式変位計と同じ構成であり、変位測定部10の各構成要素の参照番号は図1と同じ番号を付している。従来例の説明で述べた各構成要素の詳細な動作についての重複説明をできるだけ避けながら、動作の概略について以下に説明する。   The displacement measuring unit 10 has the same configuration as the conventional optical displacement meter described with reference to FIG. 1, and the reference numbers of the respective components of the displacement measuring unit 10 are the same as those in FIG. 1. The outline of the operation will be described below while avoiding the redundant description of the detailed operation of each component described in the description of the conventional example as much as possible.

レーザパワー制御回路11で駆動されるレーザダイオード12から出射したレーザ光がビームスプリッタ13及びコリメータレンズ14を通過した後、対物レンズ15で集束されて測定対象物16に投射される。測定対象物16からの反射光は対物レンズ15及びコリメータレンズ14を通ってビームスプリッタ13で反射し(光路を曲げられ)、光絞り部17のピンホール17aを通ってフォトダイオード18で受光される。フォトダイオード18の受光量に対応する電気信号は増幅器19で増幅された後に演算部20へ入力される。   The laser light emitted from the laser diode 12 driven by the laser power control circuit 11 passes through the beam splitter 13 and the collimator lens 14, is then focused by the objective lens 15, and is projected onto the measurement object 16. The reflected light from the measurement object 16 passes through the objective lens 15 and the collimator lens 14, is reflected by the beam splitter 13 (the optical path is bent), and is received by the photodiode 18 through the pinhole 17 a of the optical diaphragm 17. . An electric signal corresponding to the amount of light received by the photodiode 18 is amplified by the amplifier 19 and then input to the arithmetic unit 20.

対物レンズ15は、音叉振幅制御回路25によって励磁されるソレノイド24によって一定の周波数及び振幅(例えば800Hz,±0.3mm)で光軸方向に振動させられる。その振動位置は、音叉振幅検出器22によって検出される。つまり、音叉振幅検出器22から出力される正弦波信号が増幅器23を通って演算部20に入力されている。演算部20は、フォトダイオード18の受光量が最大になるときの音叉振幅検出器22からの正弦波信号から、対物レンズ15の位置情報を得る。そして、この位置情報が距離変換部26で距離に変換されることにより、測定対象物16の表面の変位が得られる。   The objective lens 15 is vibrated in the optical axis direction at a constant frequency and amplitude (for example, 800 Hz, ± 0.3 mm) by a solenoid 24 excited by a tuning fork amplitude control circuit 25. The vibration position is detected by the tuning fork amplitude detector 22. That is, the sine wave signal output from the tuning fork amplitude detector 22 is input to the arithmetic unit 20 through the amplifier 23. The computing unit 20 obtains position information of the objective lens 15 from the sine wave signal from the tuning fork amplitude detector 22 when the amount of light received by the photodiode 18 is maximized. Then, the position information is converted into a distance by the distance converter 26, whereby the displacement of the surface of the measurement object 16 is obtained.

より具体的には、演算部20内に設定される振幅の基準点と音叉振幅検出器22から出力される正弦波信号により、演算部20によって、この正弦波と振幅基準点とが交差するゼロクロス点を見つける。これによって正弦波の位相を検出し、フォトダイオード18の受光量が最大となる、つまり焦点が合っている時の音叉振幅検出器22からの正弦波信号から、上記ゼロクロス点からの変位を測定している。   More specifically, the zero cross where the sine wave and the amplitude reference point are crossed by the calculation unit 20 based on the amplitude reference point set in the calculation unit 20 and the sine wave signal output from the tuning fork amplitude detector 22. Find a spot. Thus, the phase of the sine wave is detected, and the displacement from the zero cross point is measured from the sine wave signal from the tuning fork amplitude detector 22 when the amount of light received by the photodiode 18 is maximized, that is, in focus. ing.

図2に示したように、ガラス基板30の上に直線状に塗布されたシール剤(粘性液体)31の塗布断面積を測定する際の動作について、図6のフローチャートに沿って説明する。図6は、実施例1の光学式変位計を用いて粘性液体の塗布断面積を測定する処理の概略を示すフローチャートである。   As shown in FIG. 2, the operation for measuring the application cross-sectional area of the sealing agent (viscous liquid) 31 applied linearly on the glass substrate 30 will be described along the flowchart of FIG. FIG. 6 is a flowchart showing an outline of a process for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid using the optical displacement meter of the first embodiment.

ステップ#11において、対物レンズ15の光軸と測定対象物16とを相対的に所定量ずつ移動させながら(スキャンしながら)測定対象物16の表面の変位データを取得する。つまり、図2において、シール剤31の塗布方向D1に略垂直な方向(幅方向)D2に光軸を移動させながら変位データY[i]を取得する。所得された変位データY[i]は、変位データ記憶部41に記憶される。この際、幅方向位置X[i]も取得され記憶される。対物レンズ15の光軸と測定対象物16とを相対的に所定量ずつ移動させる手段として、測定対象物16が載置されるテーブルを所定ピッチで移動させてもよいし、逆に光学式変位計のヘッド部を所定ピッチで移動させてもよい。   In step # 11, displacement data of the surface of the measurement object 16 is acquired while relatively moving the optical axis of the objective lens 15 and the measurement object 16 by a predetermined amount (while scanning). That is, in FIG. 2, displacement data Y [i] is acquired while moving the optical axis in a direction (width direction) D2 substantially perpendicular to the application direction D1 of the sealant 31. The obtained displacement data Y [i] is stored in the displacement data storage unit 41. At this time, the width direction position X [i] is also acquired and stored. As a means for moving the optical axis of the objective lens 15 and the measurement object 16 relatively by a predetermined amount, the table on which the measurement object 16 is placed may be moved at a predetermined pitch, or conversely optical displacement. The head portion of the meter may be moved at a predetermined pitch.

次のステップ#12において、幅方向位置X[i]及び変位データY[i]からシール剤による盛り上がり部分の最大値に対応する高さHと盛り上がり部分の幅Wとを算出する処理を高さ・幅算出部42が実行する。この算出処理の詳細については後述する。   In the next step # 12, a process of calculating the height H corresponding to the maximum value of the bulging portion by the sealant and the width W of the bulging portion from the width direction position X [i] and the displacement data Y [i]. The width calculation unit 42 executes. Details of this calculation process will be described later.

次のステップ#13において、高さH及び幅Wから断面積(シール剤31の塗布断面積)を算出する処理を断面積算出部43が実行する。断面積算出の第1の方法としては、図7に示すように、高さH及び幅Wで規定される放物線48を求め、この放物線48と基板表面に対応する直線49とで囲まれた部分の面積Sを求める。すなわち、単位幅ΔWごとに分割された各長方形48aの面積(ΔW×高さ)を求め、それらを加算する演算(積分演算)によって断面積Sを求める。   In the next step # 13, the cross-sectional area calculation unit 43 executes a process of calculating a cross-sectional area (application cross-sectional area of the sealant 31) from the height H and the width W. As a first method for calculating the cross-sectional area, as shown in FIG. 7, a parabola 48 defined by a height H and a width W is obtained, and a part surrounded by the parabola 48 and a straight line 49 corresponding to the substrate surface. Is obtained. That is, the area (ΔW × height) of each rectangle 48a divided for each unit width ΔW is obtained, and the cross-sectional area S is obtained by an operation (integration operation) of adding them.

第2の方法としては、高さHと幅Wとの積に所定の係数Kを乗じ、さらにオフセット(ゼロを含む)Cを加えることによって断面積Sを求める。すなわち、S=H×W×K+Cなる演算によって断面積Sを求める。仮にオフセットC=0とした場合、係数K=1は断面形状が長方形であることを意味し、係数K=0.5は断面形状が長方形であることを意味する。したがって、実際の塗布断面形状の場合は、0.5<K<1となる。   As a second method, the cross-sectional area S is obtained by multiplying the product of the height H and the width W by a predetermined coefficient K and adding an offset (including zero) C. That is, the cross-sectional area S is obtained by the calculation of S = H × W × K + C. If the offset C = 0, the coefficient K = 1 means that the cross-sectional shape is a rectangle, and the coefficient K = 0.5 means that the cross-sectional shape is a rectangle. Therefore, in the case of an actual application cross-sectional shape, 0.5 <K <1.

この係数K及びオフセットCは、係数・オフセット設定部45によって設定される。係数・オフセット設定部45は、2組の高さH、幅W、及び断面積Sの真値から係数K及びオフセットCを求める。すなわち、2組の式S1=H1×W1×K+C、及び、S2=H2×W2×K+CからK=(S1−S2)/(H1×W1−H2×W2)が求まり、更に、C=S1−H1×W1×Kが求まる。   The coefficient K and the offset C are set by the coefficient / offset setting unit 45. The coefficient / offset setting unit 45 obtains the coefficient K and the offset C from the true values of the two sets of height H, width W, and cross-sectional area S. That is, K = (S1−S2) / (H1 × W1−H2 × W2) is obtained from two sets of formulas S1 = H1 × W1 × K + C and S2 = H2 × W2 × K + C, and C = S1− H1 × W1 × K is obtained.

この際、断面積Sの真値については別の手段で測定して係数・オフセット設定部45に入力する必要がある。液晶パネルのシール剤の場合は、2枚のガラス基板の間に塗布されたシール剤がスペーサによって規定された厚みまで押し潰されたときに、そのシール剤の幅と2枚のガラス基板の間隔との積として断面積を簡易的に求めることができるので、これを断面積の真値として入力すればよい。但し、この方法に限らず、別の測定器を用いて測定した断面積の真値を入力してもよい。あるいは、係数K及びオフセットCの値を直接入力して設定するようにしてもよい。   At this time, the true value of the cross-sectional area S needs to be measured by another means and input to the coefficient / offset setting unit 45. In the case of a sealant for a liquid crystal panel, when the sealant applied between two glass substrates is crushed to the thickness specified by the spacer, the width of the sealant and the distance between the two glass substrates Since the cross-sectional area can be easily obtained as the product of, this can be input as the true value of the cross-sectional area. However, the present invention is not limited to this method, and the true value of the cross-sectional area measured using another measuring device may be input. Alternatively, the values of the coefficient K and the offset C may be directly input and set.

上記のように、本実施例の光学式変位計では、断面積算出の方法として2通りの方法が用意されており、ユーザが第1又は第2の方法のいずれかを選択することができるようになっている。いずれか1つの方法のみを使用するように断面積算出部43を構成してもよい。   As described above, in the optical displacement meter of the present embodiment, there are two methods for calculating the cross-sectional area, and the user can select either the first method or the second method. It has become. The cross-sectional area calculation unit 43 may be configured to use only one of the methods.

図6のフローチャートに戻り、最後のステップ#14において、表示部44による表示又は外部出力が実行される。図8に表示部44による表示例を模式的に示す。上記のようにして求められた盛り上がり部分の断面積(シール剤の塗布断面積)が画面左上の表示枠51に表示され、測定の対象となった断面の変位データ(高さ)のグラフが画面中央部の表示枠52に表示されている。この表示枠52には、受光量(光量)のグラフも表示されている。なお、この図では高さ及び光量のグラフを簡素化して描いているが、実際には前述の図3又は図4に示したようなグラフになる。外部出力は、断面積と高さ及び光量のグラフの表示内容をアナログ信号として出力することができる。あるいは、シリアルインターフェイス等を介して接続されたパーソナルコンピュータにディジタル信号として出力することができる。   Returning to the flowchart of FIG. 6, in the last step # 14, display by the display unit 44 or external output is executed. FIG. 8 schematically shows a display example by the display unit 44. The cross-sectional area of the swelled portion (sealing agent application cross-sectional area) obtained as described above is displayed in the display frame 51 at the upper left of the screen, and a graph of the displacement data (height) of the cross-section to be measured is displayed on the screen. It is displayed in the display frame 52 at the center. In the display frame 52, a graph of the amount of received light (light quantity) is also displayed. In this figure, the graph of height and light quantity is simplified, but in reality, the graph is as shown in FIG. 3 or FIG. The external output can output the display content of the graph of the cross-sectional area, height, and light quantity as an analog signal. Alternatively, it can be output as a digital signal to a personal computer connected via a serial interface or the like.

次に、高さ・幅算出部42が実行する高さ及び幅を求める処理について図9から図11を参照しながら説明を加える。図9及び図10は、実施例1の光学式変位計において断面積の算出に使用される高さ及び幅を求める処理のフローチャートである。また、図11は、変位データから盛り上がり部分の幅を求める処理の原理を示す図である。   Next, processing for obtaining the height and width executed by the height / width calculation unit 42 will be described with reference to FIGS. 9 to 11. 9 and 10 are flowcharts of processing for obtaining the height and width used for calculating the cross-sectional area in the optical displacement meter of the first embodiment. FIG. 11 is a diagram showing the principle of processing for obtaining the width of the rising portion from the displacement data.

図9のフローチャートにおけるステップ#101からステップ#109までは高さHを求める処理である。ステップ#101での変数i及びYmaxの初期化処理に続いて、ステップ#102で幅方向のスキャン開始点における変位データY[0]を取得し、基板高さとして記憶する。なお、1点のみの変位データを基板高さとするのではなく、盛り上がり部分以外の複数点における変位データY[i](i=0,1,2,…)の平均値を求めて基板高さとしてもよい。   Steps # 101 to # 109 in the flowchart of FIG. 9 are processes for obtaining the height H. Subsequent to the initialization processing of the variables i and Ymax in step # 101, displacement data Y [0] at the scan start point in the width direction is acquired and stored as the substrate height in step # 102. In addition, the displacement data of only one point is not set as the substrate height, but the average value of the displacement data Y [i] (i = 0, 1, 2,...) At a plurality of points other than the raised portion is obtained to obtain the substrate height. It is good.

ステップ#103で変数iをインクリメントし、ステップ#104で幅方向にΔXだけ移動した後、ステップ#105で変位データY[i]を取得する。次のステップ#106で変位データY[i]と変数Ymaxとを比較し、Y[i]がYmaxより大きい場合は、続くステップ#107でY[i]をYmaxに代入する。Y[i]がYmax以下である場合は、そのままステップ#108へ移行する。   In step # 103, the variable i is incremented, and after moving by ΔX in the width direction in step # 104, displacement data Y [i] is acquired in step # 105. In the next step # 106, the displacement data Y [i] is compared with the variable Ymax. If Y [i] is larger than Ymax, Y [i] is substituted for Ymax in the subsequent step # 107. If Y [i] is less than or equal to Ymax, the process proceeds to step # 108.

ステップ#108ではiがあらかじめ定めた最大値Nより小さいか(スキャン終了点に達していないか)否かをチェックし、小さければステップ#103に戻る。iがNに達するまで(スキャン終了点に達するまで)ステップ#103からステップ#108の処理が繰り返され、Nに達した時点では変数YmaxにはY[i]の最大値が記憶されていることになる。次のステップ#109で最大値Ymaxから基板高さY[0]を減ずることにより、高さHを得る。   In step # 108, it is checked whether i is smaller than a predetermined maximum value N (whether the scan end point has not been reached). If smaller, the process returns to step # 103. Until i reaches N (until the scan end point is reached), the processing from step # 103 to step # 108 is repeated, and when it reaches N, the maximum value of Y [i] is stored in the variable Ymax. become. In the next step # 109, the height H is obtained by subtracting the substrate height Y [0] from the maximum value Ymax.

図10のフローチャートにおけるステップ#111からステップ#123までは幅Wを求める処理である。このうち、ステップ#111からステップ#116までは盛り上がり部分の左端を検出する処理である。ステップ#111で変数iを最小値0に初期化すると共に、盛り上がり部分の左端を判定するためのしきい値Ythを設定する。すなわち、盛り上がり部分より左側の基板高さY[0]にしきい値の差分ΔYthを加えた値をしきい値Ythとする。次のステップ#112で変数iをインクリメントし、ステップ#113で幅方向にΔXだけ移動した後、ステップ#114で変位データY[i]を取得する。   Steps # 111 to # 123 in the flowchart of FIG. 10 are processes for obtaining the width W. Among these, steps # 111 to # 116 are processes for detecting the left end of the swelled portion. In step # 111, the variable i is initialized to the minimum value 0, and a threshold value Yth for determining the left end of the rising portion is set. That is, the threshold value Yth is a value obtained by adding the threshold difference ΔYth to the substrate height Y [0] on the left side of the rising portion. In the next step # 112, the variable i is incremented, and after moving by ΔX in the width direction in step # 113, displacement data Y [i] is acquired in step # 114.

次のステップ#115でY[i]としきい値Ythとを比較し、Y[i]がYth以下であればステップ#112に戻る。Y[i]がYthより大きくなるまでステップ#112からステップ#115の処理が繰り返され、Y[i]がYthより大きくなった時点で、そのときの幅方向位置X[i]が左端位置Xleftに代入される(ステップ#116)。   In the next step # 115, Y [i] is compared with the threshold value Yth. If Y [i] is equal to or less than Yth, the process returns to step # 112. Steps # 112 to # 115 are repeated until Y [i] becomes larger than Yth, and when Y [i] becomes larger than Yth, the width direction position X [i] at that time is the left end position Xleft. (Step # 116).

ステップ#117からステップ#122までは、盛り上がり部分の右端を検出する処理である。ステップ#117で変数iを最大値Nに初期化すると共に、盛り上がり部分の右端を判定するためのしきい値Ythを設定する。すなわち、盛り上がり部分より右側の基板高さY[N]にしきい値の差分ΔYthを加えた値をしきい値Ythとする。次のステップ#118で変数iをデクリメントし、ステップ#119で幅方向に−ΔXだけ移動した後、ステップ#120で変位データY[i]を取得する。   Steps # 117 to # 122 are processes for detecting the right end of the rising portion. In step # 117, the variable i is initialized to the maximum value N, and a threshold value Yth for determining the right end of the rising portion is set. That is, a value obtained by adding the threshold difference ΔYth to the substrate height Y [N] on the right side of the rising portion is set as the threshold Yth. In the next step # 118, the variable i is decremented. In step # 119, the variable i is moved by −ΔX, and then displacement data Y [i] is acquired in step # 120.

次のステップ#121でY[i]としきい値Ythとを比較し、Y[i]がYth以下であればステップ#118に戻る。Y[i]がYthより大きくなるまでステップ#118からステップ#121の処理が繰り返され、Y[i]がYthより大きくなった時点で、そのときの幅方向位置X[i]が右端位置Xrightに代入される(ステップ#122)。   In the next step # 121, Y [i] is compared with the threshold value Yth. If Y [i] is equal to or less than Yth, the process returns to step # 118. Steps # 118 to # 121 are repeated until Y [i] becomes larger than Yth. When Y [i] becomes larger than Yth, the width direction position X [i] at that time is the right end position Xright. (Step # 122).

最後のステップ#123において、上記のようにして求めた右端位置Xrightと左端位置Xleftとの差を求め、これを幅Wとする。   In the last step # 123, the difference between the right end position Xright and the left end position Xleft obtained as described above is obtained, and this is set as the width W.

以上に説明した実施例1の光学式変位計では、変位データから盛り上がり部分の高さ及び幅を算出し、断面積を算出している。しかし、変位データによっては、盛り上がり部分の左端及び右端を前述のようなしきい値との比較によって検出することが難しい場合がある。そこで、実施例2の光学式変位計では、受光量データを用いて盛り上がり部分の幅を算出する。基板表面が露出している部分とシール剤が塗布された部分との境界で受光量が急激に変化するので、変位データよりも光量データを用いたほうが盛り上がり部分の左端及び右端の検出が容易な場合が多い。   In the optical displacement meter of Example 1 described above, the height and width of the raised portion are calculated from the displacement data, and the cross-sectional area is calculated. However, depending on the displacement data, it may be difficult to detect the left end and the right end of the raised portion by comparison with the threshold value as described above. Therefore, in the optical displacement meter of Example 2, the width of the raised portion is calculated using the received light amount data. Since the amount of light received changes abruptly at the boundary between the part where the substrate surface is exposed and the part where the sealant is applied, it is easier to detect the left and right edges of the swelled part using the light intensity data than the displacement data. There are many cases.

図5に示した光学式変位計の構成は、本実施例でもほぼ同じである。但し、変位データ記憶部41は、変位データ(及び幅方向位置データ)だけでなく、光量データも記憶する。つまり、光量データ記憶部を兼ねている。また、高さ・幅算出部42は、シール剤による盛り上がり部分の幅Wを光量データに基づいて算出する。   The configuration of the optical displacement meter shown in FIG. 5 is substantially the same in this embodiment. However, the displacement data storage unit 41 stores not only displacement data (and width direction position data) but also light amount data. That is, it also serves as a light quantity data storage unit. Further, the height / width calculation unit 42 calculates the width W of the swelled portion by the sealant based on the light amount data.

図12は、実施例2の光学式変位計を用いて粘性液体の塗布断面積を測定する処理の概略を示すフローチャートである。図6に示した実施例1の光学式変位計の場合との相違点のみを説明すると、ステップ#21では、幅方向位置データX[i]及び変位データY[i]に加えて受光量データL[i]も取得され、記憶される。次のステップ#22で変位データY[i]からシール剤による盛り上がり部分の最大値に対応する高さHが算出され、続くステップ#23で幅方向位置X[i]及び受光量データL[i]からシール剤による盛り上がり部分の幅Wが算出される。ステップ#24及びステップ#25の処理は、図6におけるステップ#13及びステップ#14とそれぞれ同じである。   FIG. 12 is a flowchart showing an outline of a process for measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid using the optical displacement meter of the second embodiment. Only the difference from the optical displacement meter of the first embodiment shown in FIG. 6 will be described. In step # 21, the received light amount data in addition to the width direction position data X [i] and the displacement data Y [i]. L [i] is also acquired and stored. In the next step # 22, the height H corresponding to the maximum value of the bulging portion due to the sealant is calculated from the displacement data Y [i], and in the subsequent step # 23, the width direction position X [i] and the received light amount data L [i]. ], The width W of the raised portion due to the sealant is calculated. Steps # 24 and # 25 are the same as steps # 13 and # 14 in FIG.

次に、高さ・幅算出部42が実行する受光量データから盛り上がり部分の幅を求める処理について図13及び図14を参照しながら説明を加える。図13は、実施例2の光学式変位計において盛り上がり部分の幅を求める処理のフローチャートである。また、図14は、受光量データから盛り上がり部分の幅を求める処理の原理を示す図である。なお、図13のフローチャートは実施例1における図10のフローチャートに相当するものである。盛り上がり部分の高さを求める処理については実施例1の図9を用いて説明した処理と同じである。   Next, a process for calculating the width of the rising portion from the received light amount data executed by the height / width calculation unit 42 will be described with reference to FIGS. 13 and 14. FIG. 13 is a flowchart of processing for obtaining the width of the raised portion in the optical displacement meter of the second embodiment. FIG. 14 is a diagram illustrating the principle of processing for obtaining the width of the rising portion from the received light amount data. The flowchart in FIG. 13 corresponds to the flowchart in FIG. 10 in the first embodiment. The processing for obtaining the height of the raised portion is the same as the processing described with reference to FIG.

図13のフローチャートにおいて、ステップ#211からステップ#216までは盛り上がり部分の左端を検出する処理である。ステップ#211での変数iを最小値0に初期化すると共に、盛り上がり部分の左端を判定するためのしきい値Lthを設定する。すなわち、盛り上がり部分より左側の基板面における受光量L[0]からしきい値の差分ΔLthを減じた値を受光量のしきい値Lthとする。次のステップ#212で変数iをインクリメントし、ステップ#213で幅方向にΔXだけ移動した後、ステップ#214で受光量データL[i]を取得する。   In the flowchart of FIG. 13, steps # 211 to # 216 are processing for detecting the left end of the swelled portion. The variable i in step # 211 is initialized to the minimum value 0, and a threshold value Lth for determining the left end of the rising portion is set. That is, a value obtained by subtracting the threshold difference ΔLth from the received light amount L [0] on the substrate surface on the left side of the rising portion is set as the received light amount threshold value Lth. In the next step # 212, the variable i is incremented, and after moving by ΔX in the width direction in step # 213, the received light amount data L [i] is acquired in step # 214.

次のステップ#215でL[i]としきい値Lthとを比較し、L[i]がLth以上であればステップ#212に戻る。L[i]がLthより小さくなるまでステップ#212からステップ#215の処理が繰り返され、L[i]がLthより小さくなった時点で、そのときの幅方向位置X[i]が左端位置Xleftに代入される(ステップ#216)。   In the next step # 215, L [i] is compared with the threshold value Lth. If L [i] is equal to or greater than Lth, the process returns to step # 212. Steps # 212 to # 215 are repeated until L [i] becomes smaller than Lth. When L [i] becomes smaller than Lth, the width direction position X [i] at that time is the left end position Xleft. (Step # 216).

ステップ#217からステップ#222までは、盛り上がり部分の右端を検出する処理である。ステップ#217で変数iを最大値Nに初期化すると共に、盛り上がり部分の右端を判定するためのしきい値Lthを設定する。すなわち、盛り上がり部分より右側の基板面における受光量L[N]からしきい値の差分ΔLthを減じた値をしきい値Lthとする。次のステップ#218で変数iをデクリメントし、ステップ#219で幅方向に−ΔXだけ移動した後、ステップ#220で受光量データL[i]を取得する。   Steps # 217 to # 222 are processes for detecting the right end of the rising portion. In step # 217, the variable i is initialized to the maximum value N, and a threshold value Lth for determining the right end of the rising portion is set. That is, a value obtained by subtracting the threshold difference ΔLth from the amount of light received L [N] on the substrate surface on the right side of the rising portion is set as the threshold value Lth. In the next step # 218, the variable i is decremented. In step # 219, the variable i is moved by −ΔX, and then the received light amount data L [i] is acquired in step # 220.

次のステップ#221でL[i]としきい値Lthとを比較し、L[i]がLth以上であればステップ#218に戻る。L[i]がLthより小さくなるまでステップ#218からステップ#221の処理が繰り返され、L[i]がLthより小さくなった時点で、そのときの幅方向位置X[i]が右端位置Xrightに代入される(ステップ#222)。   In the next step # 221, L [i] is compared with the threshold value Lth. If L [i] is equal to or greater than Lth, the process returns to step # 218. Steps # 218 to # 221 are repeated until L [i] becomes smaller than Lth. When L [i] becomes smaller than Lth, the width direction position X [i] at that time is the right end position Xright. (Step # 222).

最後のステップ#223において、上記のようにして求めた右端位置Xrightと左端位置Xleftとの差を求め、これを幅Wとする。   In the last step # 223, the difference between the right end position Xright and the left end position Xleft obtained as described above is obtained, and this is set as the width W.

図15は、本発明の実施例3に係る光学式変位計の構成を示すブロック図である。但し、図5に示した実施例1の光学式変位計の構成のうちの変位測定部10のみを示しており、既に説明した粘性液体の断面を高さ及び幅から算出する構成ブロックについては同様であるので図示を省略している。   FIG. 15 is a block diagram illustrating a configuration of an optical displacement meter according to the third embodiment of the present invention. However, only the displacement measuring unit 10 in the configuration of the optical displacement meter of the first embodiment shown in FIG. 5 is shown, and the same applies to the configuration block for calculating the already-described section of the viscous liquid from the height and width. Therefore, illustration is abbreviate | omitted.

本実施例の光学式変位計は、対物レンズ15で集束した光スポットを光軸に略垂直な直線方向に走査する光軸走査機構28を有する。対物レンズ15で集束した光スポットを測定対象の表面で移動させる手段、つまり、対物レンズ15の光軸と測定対象物16とを相対的に移動させる手段は、前述のように測定対象物16が載置されるテーブルを移動させる手段でもよいし、逆に光学式変位計のヘッド部を移動させる手段でもよい。本実施例の光学式変位計が有する光軸走査機構28は、光学式変位計のヘッド部全体を移動させるのではなく、対物レンズ15とその周辺部のみを光軸に略垂直な直線方向に振動させることによって光スポットを光軸に略垂直な直線方向に走査する。   The optical displacement meter of the present embodiment has an optical axis scanning mechanism 28 that scans a light spot focused by the objective lens 15 in a linear direction substantially perpendicular to the optical axis. The means for moving the light spot focused by the objective lens 15 on the surface of the measurement object, that is, the means for moving the optical axis of the objective lens 15 and the measurement object 16 relative to each other is as described above. A means for moving the table to be placed may be used, or a means for moving the head portion of the optical displacement meter may be used. The optical axis scanning mechanism 28 of the optical displacement meter of this embodiment does not move the entire head portion of the optical displacement meter, but only the objective lens 15 and its peripheral portion in a linear direction substantially perpendicular to the optical axis. By vibrating, the light spot is scanned in a linear direction substantially perpendicular to the optical axis.

図15において、破線で囲まれたブロックは対物レンズ15、音叉21、ソレノイド24及び振幅検出器22を含む対物レンズユニット27を構成している。この対物レンズユニット27は、対物レンズ15の光軸に平行な支軸27Xを中心に狭い角度内で揺動自在に構成されている。所定の周期で対物レンズユニット27を揺動させる手段として、対物レンズユニット27側にマグネットが設けられ、固定枠側に電磁コイルが設けられている。図15では、電磁コイルとその駆動制御回路を含む光軸走査機構28が示されている。また、対物レンズユニット27の揺動位置、すなわち光軸の走査位置を検出する走査位置検出器29が設けられ、その出力信号が光軸走査機構28へフィードバックされている。光軸走査機構28は、演算部20から与えられる走査位置制御信号と走査位置検出器29からフィードバックされる走査位置信号とに基づいて、対物レンズユニット27の揺動、すなわち光軸の走査を制御する。   In FIG. 15, a block surrounded by a broken line constitutes an objective lens unit 27 including the objective lens 15, tuning fork 21, solenoid 24, and amplitude detector 22. The objective lens unit 27 is configured to be swingable within a narrow angle around a support shaft 27X parallel to the optical axis of the objective lens 15. As means for swinging the objective lens unit 27 at a predetermined cycle, a magnet is provided on the objective lens unit 27 side, and an electromagnetic coil is provided on the fixed frame side. In FIG. 15, an optical axis scanning mechanism 28 including an electromagnetic coil and its drive control circuit is shown. Further, a scanning position detector 29 for detecting the swing position of the objective lens unit 27, that is, the scanning position of the optical axis, is provided, and the output signal is fed back to the optical axis scanning mechanism 28. The optical axis scanning mechanism 28 controls the swing of the objective lens unit 27, that is, scanning of the optical axis, based on the scanning position control signal given from the calculation unit 20 and the scanning position signal fed back from the scanning position detector 29. To do.

図16は、本実施例の光学式変位計を用いた第1の測定方法を示す図である。この例は、液晶表示器の製造工程において、液晶表示器を構成するガラス基板61の四辺に沿って粘性液体であるシール剤62を塗布し、その塗布断面積を測定する様子を示している。光学式変位計のヘッド部63の先端からシール剤62に向けて照射されたレーザ光が上記の光軸走査機構28によって走査された様子を光軸軌跡面64で示している。この測定方法では、シール剤62が塗布された略矩形の隣り合う2辺65及び66について塗布断面積を測定している。この場合、光学式変位計のヘッド部63を2台用いて、それぞれの辺における適当な箇所にそれぞれのヘッド部63をセットしている。   FIG. 16 is a diagram illustrating a first measurement method using the optical displacement meter of the present embodiment. This example shows a state in which a sealing agent 62, which is a viscous liquid, is applied along the four sides of the glass substrate 61 constituting the liquid crystal display and its application cross-sectional area is measured in the manufacturing process of the liquid crystal display. An optical axis locus surface 64 shows a state in which the laser beam irradiated from the tip of the head portion 63 of the optical displacement meter toward the sealant 62 is scanned by the optical axis scanning mechanism 28 described above. In this measurement method, the application cross-sectional area is measured for two sides 65 and 66 of a substantially rectangular shape to which the sealing agent 62 is applied. In this case, two head units 63 of the optical displacement meter are used, and each head unit 63 is set at an appropriate location on each side.

各ヘッド部63から照射されたレーザ光の走査方向(光軸軌跡面64)は辺(塗布方向)に直角な方向である。したがって、辺65におけるレーザ光の走査方向(光軸軌跡面64)と辺66におけるレーザ光の走査方向(光軸軌跡面64)は90度異なっている。光学式変位計のヘッド部63を2台セットせずに、1台のヘッド部63で上記2箇所の塗布断面積を測定しようとすれば、例えば辺65における測定を終えて次に辺66における測定を開始する際に、ヘッド部63を90度回転させる必要がある。あるいは、ガラス基板61が載置されたテーブルを90度回転させる必要がある。いずれにしても、回転機構が用意されていない場合は1台のヘッド部63で上記2箇所の塗布断面積を測定することができない。   The scanning direction (optical axis locus surface 64) of the laser light emitted from each head portion 63 is a direction perpendicular to the side (coating direction). Therefore, the scanning direction of the laser beam (optical axis locus surface 64) on the side 65 is different from the scanning direction of the laser beam (optical axis locus surface 64) on the side 66 by 90 degrees. If it is attempted to measure the coating cross-sectional areas at the two locations with one head unit 63 without setting two head units 63 of the optical displacement meter, for example, the measurement at the side 65 is finished and then the side 66 is When starting the measurement, it is necessary to rotate the head portion 63 by 90 degrees. Alternatively, it is necessary to rotate the table on which the glass substrate 61 is placed by 90 degrees. In any case, when the rotation mechanism is not prepared, the two application cross-sectional areas cannot be measured with one head unit 63.

図17は、本実施例の光学式変位計を用いた第2の測定方法を示す図である。この測定方法は上記第1の測定方法と異なり、光学式変位計のヘッド部63を1台だけ用いて、しかもヘッド部63又はガラス基板61が載置されたテーブルを回転させずに、塗布方向の異なる2辺における塗布断面積を測定する。図17に示すように、隣り合う2辺65及び66に対してレーザ光の走査方向(光軸軌跡面64)が斜め(例えば共に45度)となるように、光学式変位計のヘッド部63とガラス基板61との関係をセットしている。つまり、断面積を測定するシール剤62の塗布方向(辺)に対して直角に光軸を移動させるのではなく、斜めに(例えば45度の方向に)光軸を移動させる。   FIG. 17 is a diagram showing a second measurement method using the optical displacement meter of this example. Unlike the first measurement method, this measurement method uses only one head portion 63 of the optical displacement meter, and without rotating the table on which the head portion 63 or the glass substrate 61 is placed, the application direction Measure the cross-sectional area of coating on two different sides. As shown in FIG. 17, the head portion 63 of the optical displacement meter is set so that the scanning direction of the laser light (optical axis locus surface 64) is oblique (for example, both 45 degrees) with respect to the two adjacent sides 65 and 66. And the glass substrate 61 are set. That is, the optical axis is not moved at right angles to the application direction (side) of the sealant 62 for measuring the cross-sectional area, but is moved obliquely (for example, in the direction of 45 degrees).

この場合、塗布断面の高さについては光軸を直角に移動させる第1の測定方法と同等の測定結果が得られるはずであるが、幅については斜めに横切るために第1の測定方法の測定結果より長くなる。レーザ光の走査方向が塗布方向(辺)に対して角度θを成す場合は、得られた幅にcosθを掛ければ、第1の測定方法の測定結果(真の幅)に換算できることになる。例えば45度である場合は、2の平方根(約1.414)で割る計算を行えばよい。しかし実際には、前述のように測定結果である高さ及び幅に係数Kを掛けて(必要な場合は更にオフセットCを加えて)断面積を求める演算を行うので、この係数に上記のcosθを含ませることにより演算回数を減らすことができる。   In this case, a measurement result equivalent to the first measurement method of moving the optical axis at a right angle should be obtained for the height of the coating cross section, but the measurement of the first measurement method is performed because the width crosses diagonally. Longer than the result. When the scanning direction of the laser beam makes an angle θ with respect to the coating direction (side), the obtained width can be converted to the measurement result (true width) by multiplying the obtained width by cos θ. For example, when the angle is 45 degrees, the calculation may be performed by dividing by the square root of 2 (about 1.414). However, in actuality, as described above, the height and width, which are measurement results, are multiplied by a coefficient K (adding an offset C if necessary) to obtain a cross-sectional area, and the above-described cos θ The number of operations can be reduced by including.

この測定方法によれば、例えば辺65における測定を終えて次に辺66における測定を開始する際に、ヘッド部63(又はガラス基板61が載置されたテーブル)を破線の矢印で示すように平行移動させるだけでよく、両者を相対的に回転させる必要はない。なお、互いに直角な方向に延びる2辺65及び66において共にレーザ光の走査方向が辺に対して45度となるようにする必要は必ずしも無い。例えば一方の辺に対して30度、他方の辺に対して60度となるようにしてもよい。なお、レーザ光の走査方向が塗布方向(辺)に対して45度以外の角度θとなる場合は、前述のようにcosθ又はそれを含む係数Kを位置情報(ヘッド部63と測定対象物(ガラス基板61)との相対位置を表す情報)から求めることが必要となる。例えば、あらかじめ記憶したテーブルを参照することによって位置情報からcosθ又はそれを含む係数Kを求めるようにすればよい。ハードウェア構成として、そのようなテーブルを構成するデータを入力し記憶する手段、ヘッド部63と測定対象物(ガラス基板61)との相対位置を変化させる駆動手段、現在の相対位置である位置情報を検出する手段、及び、その位置情報に対応するcosθ又はそれを含む係数Kをテーブル参照によって求める手段を備えておけばよい。また、シール剤62の塗布方向(辺)に対して斜めに光軸を移動させる測定方法の前提条件として、少なくとも塗布方向を斜めに横切る範囲内で、塗布断面の幅が大きく変動していないこと(幅の変動が無視できること)が必要である。   According to this measuring method, for example, when the measurement at the side 65 is finished and then the measurement at the side 66 is started, the head portion 63 (or the table on which the glass substrate 61 is placed) is indicated by a broken-line arrow. It is only necessary to translate them, and there is no need to rotate them relatively. It should be noted that it is not always necessary for the two sides 65 and 66 extending in the direction perpendicular to each other so that the scanning direction of the laser light is 45 degrees with respect to the sides. For example, the angle may be 30 degrees with respect to one side and 60 degrees with respect to the other side. When the scanning direction of the laser beam is an angle θ other than 45 degrees with respect to the coating direction (side), as described above, cos θ or a coefficient K including the same is used as the position information (head unit 63 and measurement object ( It is necessary to obtain it from information representing a relative position with respect to the glass substrate 61). For example, cos θ or a coefficient K including the same may be obtained from the position information by referring to a previously stored table. As a hardware configuration, means for inputting and storing data constituting such a table, driving means for changing the relative position between the head portion 63 and the measurement object (glass substrate 61), position information which is the current relative position And a means for obtaining cos θ corresponding to the position information or a coefficient K including the same by referring to the table. In addition, as a precondition for the measurement method in which the optical axis is moved obliquely with respect to the application direction (side) of the sealant 62, the width of the application cross section does not vary greatly at least within a range that obliquely crosses the application direction. (Variation in width should be negligible).

以上、本発明の実施例を適宜変形例に言及しながら説明したが、本発明はこれらの実施例及び変形例を更に改変した形態で実施してもよい。また、上記実施例では音叉の振動によって対物レンズを光軸方向に振動させているが、圧電素子のような他の公知手段を用いて対物レンズを光軸方向に振動させてもよい。   As mentioned above, although the Example of this invention was described referring the modification suitably, this invention may be implemented with the form which further modified these Example and the modification. In the above embodiment, the objective lens is vibrated in the optical axis direction by the vibration of the tuning fork, but the objective lens may be vibrated in the optical axis direction using other known means such as a piezoelectric element.

従来の光学式変位計の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional optical displacement meter. 光学式変位計による測定の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the measurement by an optical displacement meter. 図2の測定結果の例を示すグラフである。It is a graph which shows the example of the measurement result of FIG. 図2の測定結果の別の例を示すグラフである。It is a graph which shows another example of the measurement result of FIG. 本発明の実施例1に係る光学式変位計の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the optical displacement meter which concerns on Example 1 of this invention. 実施例1の光学式変位計を用いて粘性液体の塗布断面積を測定する処理の概略を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing an outline of a process for measuring the application cross-sectional area of a viscous liquid using the optical displacement meter of Example 1. 断面積算出の第1の方法を示す図である。It is a figure which shows the 1st method of cross-sectional area calculation. 表示部による表示例を模式的に示す図である。It is a figure which shows the example of a display by a display part typically. 実施例1の光学式変位計において断面積の算出に使用される高さ及び幅を求める処理の前半のフローチャートである。3 is a flowchart of the first half of a process for obtaining a height and a width used for calculating a cross-sectional area in the optical displacement meter of Example 1. FIG. 実施例1の光学式変位計において断面積の算出に使用される高さ及び幅を求める処理の後半のフローチャートである。6 is a flowchart of the latter half of the process for obtaining the height and width used for calculating the cross-sectional area in the optical displacement meter of Example 1. FIG. 変位データから盛り上がり部分の幅を求める処理の原理を示す図である。It is a figure which shows the principle of the process which calculates | requires the width | variety of a rising part from displacement data. 実施例2の光学式変位計を用いて粘性液体の塗布断面積を測定する処理の概略を示すフローチャートである。6 is a flowchart showing an outline of a process for measuring the application cross-sectional area of a viscous liquid using the optical displacement meter of Example 2. 実施例2の光学式変位計において盛り上がり部分の幅を求める処理のフローチャートである。10 is a flowchart of processing for obtaining a width of a raised portion in the optical displacement meter of Example 2. 受光量データから盛り上がり部分の幅を求める処理の原理を示す図である。It is a figure which shows the principle of the process which calculates | requires the width | variety of a rising part from received light amount data. 本発明の実施例3に係る光学式変位計の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the optical displacement meter which concerns on Example 3 of this invention. 実施例3の光学式変位計を用いた第1の測定方法を示す図である。6 is a diagram illustrating a first measurement method using the optical displacement meter of Example 3. FIG. 実施例3の光学式変位計を用いた第2の測定方法を示す図である。6 is a diagram illustrating a second measurement method using the optical displacement meter of Example 3. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

15 対物レンズ
16 測定対象物
17a ピンホール
41 変位データ記憶部(兼受光量データ記憶部)
42 高さ・幅算出部
43 断面積算出部
44 表示部
45 係数・オフセット設定部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Objective lens 16 Measurement object 17a Pinhole 41 Displacement data storage part (also received light amount data storage part)
42 Height / Width Calculation Unit 43 Cross Section Area Calculation Unit 44 Display Unit 45 Coefficient / Offset Setting Unit

Claims (11)

対物レンズで集束した光を測定対象物に投射し、前記測定対象物からの反射光を前記対物レンズ及びピンホールを通して受光し、前記対物レンズを光軸方向に振動させることによりその位置を検出し、受光量が最大となるときの前記対物レンズの位置情報から前記測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計であって、
前記対物レンズの光軸と前記測定対象物とを相対的に所定量ずつ移動させながら取得した測定対象物の表面の変位データを記憶する変位データ記憶部と、
前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さと幅を算出する高さ・幅算出部と、
前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さと幅から前記盛り上がり部分の断面積を算出する断面積算出部と、
前記変位データによって規定される盛り上がり部分を含む測定対象物の表面の断面輪郭及び前記断面積算出部によって算出された断面積を表示する表示部と
を備えていることを特徴とする光学式変位計。
The light focused by the objective lens is projected onto the measurement object, the reflected light from the measurement object is received through the objective lens and the pinhole, and the position is detected by vibrating the objective lens in the optical axis direction. An optical displacement meter that measures the displacement of the surface of the measurement object from the position information of the objective lens when the amount of received light is maximized,
A displacement data storage unit for storing displacement data of the surface of the measurement object acquired while relatively moving the optical axis of the objective lens and the measurement object by a predetermined amount;
A height / width calculator for calculating a height and a width corresponding to the maximum value of the raised portion defined by the displacement data;
A cross-sectional area calculating unit that calculates a cross-sectional area of the raised part from the height and width of the raised part obtained by the height / width calculating part;
An optical displacement meter, comprising: a display section that displays a cross-sectional contour of a surface of a measurement object including a raised portion defined by the displacement data and a cross-sectional area calculated by the cross-sectional area calculation section. .
対物レンズで集束した光を測定対象物に投射し、前記測定対象物からの反射光を前記対物レンズ及びピンホールを通して受光し、前記対物レンズを光軸方向に振動させることによりその位置を検出し、受光量が最大となるときの前記対物レンズの位置情報から前記測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計であって、
前記対物レンズの光軸と前記測定対象物とを相対的に所定量ずつ移動させながら取得した測定対象物の表面の変位データを記憶する変位データ記憶部と、同じく受光量データを記憶する受光量データ記憶部と、
前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さを算出すると共に、前記盛り上がり部分における前記受光量データから前記盛り上がり部分の幅を算出する高さ・幅算出部と、
前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さと幅から盛り上がり部分の断面積を算出する断面積算出部と、
前記変位データによって規定される盛り上がり部分を含む測定対象物の表面の断面輪郭及び前記断面積算出部によって算出された断面積を表示する表示部と
を備えていることを特徴とする光学式変位計。
The light focused by the objective lens is projected onto the measurement object, the reflected light from the measurement object is received through the objective lens and the pinhole, and the position is detected by vibrating the objective lens in the optical axis direction. An optical displacement meter that measures the displacement of the surface of the measurement object from the position information of the objective lens when the amount of received light is maximized,
A displacement data storage unit that stores displacement data of the surface of the measurement object acquired while moving the optical axis of the objective lens and the measurement object relatively by a predetermined amount, and a received light amount that also stores received light amount data A data storage unit;
Calculating a height corresponding to the maximum value of the swelled portion defined by the displacement data, and a height / width calculating unit for calculating a width of the swelled portion from the received light amount data in the swelled portion;
A cross-sectional area calculating unit that calculates a cross-sectional area of the raised part from the height and width of the raised part obtained by the height / width calculating part;
An optical displacement meter, comprising: a display section that displays a cross-sectional contour of a surface of a measurement object including a raised portion defined by the displacement data and a cross-sectional area calculated by the cross-sectional area calculation section. .
前記断面積算出部は、前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さと幅と所定の係数とを乗じて得られた積に所定のオフセットを加えて得られた値を前記断面積として算出し、前記断面積算出部に対して前記係数及び前記オフセットを設定する係数・オフセット設定部を更に備えていることを特徴とする
請求項1又は2記載の光学式変位計。
The cross-sectional area calculation unit adds a predetermined offset to a product obtained by multiplying the height and width of the raised portion obtained by the height / width calculation unit and a predetermined coefficient, and calculates a value obtained by adding the predetermined offset. The optical displacement meter according to claim 1, further comprising a coefficient / offset setting unit that calculates an area and sets the coefficient and the offset with respect to the cross-sectional area calculation unit.
前記係数・オフセット設定部は、前記高さ・幅算出部で求められた盛り上がり部分の高さ及び幅と、別の手段で測定され入力された前記盛り上がり部分の断面積の真値とのセット2組から前記係数及び前記オフセットを算出し設定することを特徴とする
請求項3記載の光学式変位計。
The coefficient / offset setting unit is a set 2 of the height and width of the raised portion obtained by the height / width calculating unit and the true value of the cross-sectional area of the raised portion measured and input by another means. The optical displacement meter according to claim 3, wherein the coefficient and the offset are calculated and set from a set.
対物レンズで集束した光を測定対象物に投射し、前記測定対象物からの反射光を前記対物レンズ及びピンホールを通して受光し、前記対物レンズを光軸方向に振動させることによりその位置を検出し、受光量が最大となるときの前記対物レンズの位置情報から前記測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計を用いて、基板上に線状に塗布された粘性液体の塗布断面積を測定する方法であって、
(a)前記粘性液体の塗布方向に直角な方向に前記対物レンズの光軸を相対的に移動させながら前記粘性液体が塗布された盛り上がり部分の表面の変位データを取得して記憶するステップと、
(b)前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さと幅を算出するステップと、
(c)前記盛り上がり部分の高さと幅から前記盛り上がり部分の断面積を算出するステップと
を実行することを特徴とする粘性液体の塗布断面積の測定方法。
The light focused by the objective lens is projected onto the measurement object, the reflected light from the measurement object is received through the objective lens and the pinhole, and the position is detected by vibrating the objective lens in the optical axis direction. The application cross-section of the viscous liquid applied linearly on the substrate using an optical displacement meter that measures the displacement of the surface of the object to be measured from the position information of the objective lens when the amount of received light is maximized A method of measuring
(A) acquiring and storing displacement data of the surface of the raised portion to which the viscous liquid has been applied while relatively moving the optical axis of the objective lens in a direction perpendicular to the application direction of the viscous liquid;
(B) calculating a height and a width corresponding to a maximum value of a raised portion defined by the displacement data;
(C) The step of calculating the cross-sectional area of the raised part from the height and width of the raised part is executed.
対物レンズで集束した光を測定対象物に投射し、前記測定対象物からの反射光を前記対物レンズ及びピンホールを通して受光し、前記対物レンズを光軸方向に振動させることによりその位置を検出し、受光量が最大となるときの前記対物レンズの位置情報から前記測定対象物の表面の変位を測定する光学式変位計を用いて、基板上に線状に塗布された粘性液体の塗布断面積を測定する方法であって、
(a)前記粘性液体の塗布方向に直角な方向に前記対物レンズの光軸を相対的に移動させながら前記粘性液体が塗布された盛り上がり部分の表面の変位データ及び受光量データを取得して記憶するステップと、
(b)前記変位データによって規定される盛り上がり部分の最大値に対応する高さを算出すると共に、前記盛り上がり部分における前記受光量データから前記盛り上がり部分の幅を算出するステップと、
(c)前記盛り上がり部分の最大値に対応する高さと幅から前記盛り上がり部分の断面積を算出するステップと
を実行することを特徴とする粘性液体の塗布断面積の測定方法。
The light focused by the objective lens is projected onto the measurement object, the reflected light from the measurement object is received through the objective lens and the pinhole, and the position is detected by vibrating the objective lens in the optical axis direction. The application cross-section of the viscous liquid applied linearly on the substrate using an optical displacement meter that measures the displacement of the surface of the object to be measured from the position information of the objective lens when the amount of received light is maximized A method of measuring
(A) Acquiring and storing displacement data and received light amount data of the surface of the raised portion coated with the viscous liquid while relatively moving the optical axis of the objective lens in a direction perpendicular to the application direction of the viscous liquid. And steps to
(B) calculating a height corresponding to a maximum value of the raised portion defined by the displacement data, and calculating a width of the raised portion from the received light amount data in the raised portion;
(C) calculating the cross-sectional area of the raised portion from the height and the width corresponding to the maximum value of the raised portion.
前記ステップ(c)において、前記盛り上がり部分の高さと幅と所定の係数とを乗じて得られた積に所定のオフセットを加えて得られた値を前記断面積として算出することを特徴とする
請求項5又は6記載の粘性液体の塗布断面積の測定方法。
In the step (c), a value obtained by adding a predetermined offset to a product obtained by multiplying the height and width of the raised portion by a predetermined coefficient is calculated as the cross-sectional area. Item 7. The method for measuring the cross-sectional area of the viscous liquid according to item 5 or 6.
前記ステップ(b)において求められた盛り上がり部分の高さ及び幅と、別の手段で測定され入力された前記盛り上がり部分の断面積の真値とのセット2組から前記係数及び前記オフセットを算出し設定するステップを前記ステップ(c)の前に実行することを特徴とする
請求項7記載の粘性液体の塗布断面積の測定方法。
The coefficient and the offset are calculated from two sets of the height and width of the raised portion obtained in step (b) and the true value of the cross-sectional area of the raised portion measured and input by another means. The method for measuring the cross-sectional area of the viscous liquid according to claim 7, wherein the setting step is performed before the step (c).
前記ステップ(a)において、前記粘性液体の塗布方向に対して前記対物レンズの光軸を相対的に移動させる方向を直角方向ではなく斜めの方向とすることを特徴とする
請求項5記載の粘性液体の塗布断面積の測定方法。
6. The viscosity according to claim 5, wherein in the step (a), the direction in which the optical axis of the objective lens is moved relative to the application direction of the viscous liquid is not a right angle direction but an oblique direction. A method for measuring the cross-sectional area of liquid applied.
前記ステップ(a)において、前記粘性液体の塗布方向に対して前記対物レンズの光軸を相対的に移動させる方向を直角方向ではなく斜めの方向とすることを特徴とする
請求項6記載の粘性液体の塗布断面積の測定方法。
The viscosity according to claim 6, wherein, in the step (a), the direction in which the optical axis of the objective lens is moved relative to the application direction of the viscous liquid is not a right angle direction but an oblique direction. A method for measuring the cross-sectional area of liquid applied.
前記光学式変位計は前記対物レンズで集束した光スポットを光軸に略垂直な直線方向に走査する光軸走査機構を有するものを使用し、互いに異なる方向に延びる複数の直線状に塗布された粘性液体の塗布断面積を前記複数の直線を代表する複数箇所で測定するに際して、前記対物レンズを含む前記光学式変位計のヘッド部と前記測定対象物とを相対回転させることなく前記複数箇所で前記光軸走査機構を用いて各直線に対して斜めの方向に前記対物レンズの光軸を相対的に移動させて前記ステップ(a)から(c)を複数回繰り返すことを特徴とする
請求項9又は10記載の粘性液体の塗布断面積の測定方法。
The optical displacement meter uses an optical axis scanning mechanism that scans a light spot focused by the objective lens in a linear direction substantially perpendicular to the optical axis, and is applied in a plurality of linear shapes extending in different directions. When measuring the application cross-sectional area of the viscous liquid at a plurality of locations representing the plurality of straight lines, the head portion of the optical displacement meter including the objective lens and the measurement object are not rotated relative to each other at the plurality of locations. The steps (a) to (c) are repeated a plurality of times by relatively moving the optical axis of the objective lens in an oblique direction with respect to each straight line using the optical axis scanning mechanism. The measuring method of the application cross-sectional area of the viscous liquid of 9 or 10.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006105702A (en) * 2004-10-01 2006-04-20 Keyence Corp Optical displacement gauge, method for measuring application cross-sectional area of viscous liquid using this gauge, program of measuring optical displacement gauge and recording medium readable by computer
JP2007125552A (en) * 2005-10-31 2007-05-24 Top Engineering Co Ltd Head unit for paste dispenser

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06213625A (en) * 1992-11-20 1994-08-05 Nordson Corp Method for monitoring and/or distributing material on substrate
JPH07218234A (en) * 1994-02-04 1995-08-18 Citizen Watch Co Ltd Size measuring method for fine pattern
JPH07275770A (en) * 1994-04-06 1995-10-24 Hitachi Techno Eng Co Ltd Paste applicator
JPH0968830A (en) * 1995-09-01 1997-03-11 Fuji Xerox Co Ltd Method and device for evaluating image and image forming device using the same
JPH1090606A (en) * 1996-05-31 1998-04-10 Kovex Corp Scanning type confocal microscope
JPH1137724A (en) * 1997-07-18 1999-02-12 Daihatsu Motor Co Ltd Method for detecting applied state of sealant
JP2001137756A (en) * 1999-11-10 2001-05-22 Musashi Eng Co Ltd Method for applying liquid and device for applying liquid

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06213625A (en) * 1992-11-20 1994-08-05 Nordson Corp Method for monitoring and/or distributing material on substrate
JPH07218234A (en) * 1994-02-04 1995-08-18 Citizen Watch Co Ltd Size measuring method for fine pattern
JPH07275770A (en) * 1994-04-06 1995-10-24 Hitachi Techno Eng Co Ltd Paste applicator
JPH0968830A (en) * 1995-09-01 1997-03-11 Fuji Xerox Co Ltd Method and device for evaluating image and image forming device using the same
JPH1090606A (en) * 1996-05-31 1998-04-10 Kovex Corp Scanning type confocal microscope
JPH1137724A (en) * 1997-07-18 1999-02-12 Daihatsu Motor Co Ltd Method for detecting applied state of sealant
JP2001137756A (en) * 1999-11-10 2001-05-22 Musashi Eng Co Ltd Method for applying liquid and device for applying liquid

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006105702A (en) * 2004-10-01 2006-04-20 Keyence Corp Optical displacement gauge, method for measuring application cross-sectional area of viscous liquid using this gauge, program of measuring optical displacement gauge and recording medium readable by computer
JP2007125552A (en) * 2005-10-31 2007-05-24 Top Engineering Co Ltd Head unit for paste dispenser

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