JP2005109044A - Expansion method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an adhesive sheet expanding method by which a diced wafer can be transported together with a frame without producing chips nor micro-cracks in the edges of adjacent chips, by preventing the edges of the chips from coming into contact due to vibrations during the transportation of the wafer. <P>SOLUTION: In the adhesive sheet expanding method by which the intervals among individual chips T are expanded by expanding an adhesive sheet S after dicing the wafer, a plate-like thing W and the frame F are relatively separated from each other in the vertical direction, and at the same time, the adhesive sheet S is expanded by imparting a horizontal force to the sheet S. Then the adhesive sheet S is maintained in an expanded state, in which the intervals among the individual chips are expanded by sticking the annular frame F to the expanded adhesive sheet S and cutting the sheet S in the vicinity of the outer periphery of the frame F. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、粘着シートのエキスパンド方法に関し、特に粘着シートを介してリング状のフレームにマウントされ、個々のチップにダイシング加工された板状物に対し、ダイシング加工後に、粘着シートをエキスパンドして個々のチップ間の間隔を拡大するエキスパンド方法に関する。   The present invention relates to a method for expanding a pressure-sensitive adhesive sheet, and in particular to a plate-like product mounted on a ring-shaped frame via a pressure-sensitive adhesive sheet and diced into individual chips, the pressure-sensitive adhesive sheet is expanded and individually processed after dicing. The present invention relates to an expanding method for expanding the interval between chips.

半導体製造工程等において、表面に半導体装置や電子部品等が形成された板状物であるウェーハは、プロービング工程で電気試験が行われた後、ダイシング工程で個々のチップ(ダイ、又はペレットとも言われる)に分割され、次に個々のチップはダイボンディング工程で部品基台にダイボンディングされる。ダイボンディングされた後、樹脂モールドされ、半導体装置や電子部品等の完成品となる。   In semiconductor manufacturing processes, etc., wafers that are plate-like products with semiconductor devices or electronic parts formed on their surfaces are subjected to electrical tests in the probing process, and then in the dicing process, individual chips (also referred to as dies or pellets). The individual chips are then die bonded to the component base in a die bonding process. After die bonding, resin molding is performed to complete a finished product such as a semiconductor device or an electronic component.

プロービング工程の後ウェーハは、図5に示すように、片面に粘着層が形成された厚さ100μm程度の粘着シート(ダイシングシート又はダイシングテープとも呼ばれる)Sに裏面を貼り付けられ、剛性のあるリング状のフレームFにマウントされる。ウェーハWはこの状態でダイシング工程内、ダイシング工程ダイボンディング工程間、及びダイボンディング工程内を搬送される。   After the probing process, as shown in FIG. 5, the back surface of the wafer is attached to an adhesive sheet S (also called a dicing sheet or dicing tape) S having a thickness of about 100 μm with an adhesive layer formed on one side, and a rigid ring. Is mounted on a frame F. In this state, the wafer W is conveyed in the dicing process, between the dicing process and the die bonding process, and in the die bonding process.

ダイシング工程では、ダイシングブレードと呼ばれる薄型砥石でウェーハWに研削溝を入れてウェーハをカットするダイシング装置が用いられている。ダイシングブレードは、微細なダイヤモンド砥粒をNiで電着したもので、厚さ10μm〜30μm程度の極薄のものが用いられる。   In the dicing process, a dicing apparatus that cuts the wafer by inserting grinding grooves into the wafer W with a thin grindstone called a dicing blade is used. The dicing blade is obtained by electrodepositing fine diamond abrasive grains with Ni, and an extremely thin one having a thickness of about 10 μm to 30 μm is used.

このダイシングブレードを30,000〜60,000rpmで高速回転させてウェーハWに切込み、ウェーハWを完全切断(フルカット)する。このときウェーハWの裏面に貼られた粘着シートSは、表面から10μm程度しか切り込まれていないので、ウェーハWは個々のチップTに切断されてはいるものの、個々のチップTがバラバラにはならず、チップT同士の配列が崩れていないので全体としてウェーハ状態が保たれている。   The dicing blade is rotated at a high speed of 30,000 to 60,000 rpm and cut into the wafer W to completely cut the wafer W (full cut). At this time, since the adhesive sheet S stuck on the back surface of the wafer W is cut only about 10 μm from the front surface, the wafer W is cut into individual chips T, but the individual chips T are separated. In other words, since the arrangement of the chips T is not collapsed, the wafer state is maintained as a whole.

また、ダイシングブレードを用いずに、ウェーハWの内部に集光点を合わせたレーザー光を照射し、ウェーハ内部に多光子吸収現象による改質領域を形成させ、この改質領域を起点としてウェーハWを割断するレーザーダイシング加工が提案されている。このレーザーダイシング加工の場合も、ウェーハWは図5に示すような状態でダイシングされるので、チップT同士の配列が崩れず、全体としてウェーハ状態が保たれている。   Further, without using a dicing blade, a laser beam having a focused point is irradiated inside the wafer W to form a modified region due to a multiphoton absorption phenomenon inside the wafer, and the wafer W is started from this modified region. Laser dicing has been proposed to cleave. Also in this laser dicing process, the wafer W is diced as shown in FIG. 5, so that the arrangement of the chips T does not collapse and the wafer state is maintained as a whole.

ここでは、このようにダイシング加工されて個々のチップTに分割された後であっても、チップT同士の配列が崩れていないこのチップTの集合体をも便宜上ウェーハWと呼ぶこととする。   Here, even after dicing and dividing into individual chips T in this way, an assembly of the chips T in which the arrangement of the chips T is not broken is also referred to as a wafer W for convenience.

この後ウェーハWはダイボンディング工程に送られる。ダイボンディング工程ではダイボンダが用いられる。ダイボンダではウェーハWは先ずエキスパンドステージに載置され、次に粘着シートSがエキスパンドされて、チップT同士の間隔が広げられチップTをピックアップし易くしている。   Thereafter, the wafer W is sent to a die bonding process. A die bonder is used in the die bonding process. In the die bonder, the wafer W is first placed on the expansion stage, and then the adhesive sheet S is expanded, so that the interval between the chips T is widened so that the chips T can be easily picked up.

次に、下方からチップTをプッシャで突上げるとともに上方からコレットでチップTをピックアップし、基台の所定位置にチップTをボンディングする。   Next, the chip T is pushed up with a pusher from below, and the chip T is picked up with a collet from above, and the chip T is bonded to a predetermined position of the base.

このように、ダイボンダの中に、粘着シートSを押し広げてチップT同士の間隔を広げるエキスパンド装置を組込むことは、従来から行われていた。また、このエキスパンド装置の種々の改良発明も行われている(例えば、特許文献1、及び特許文献2参照。)。
特開平7−231003号公報 特開平7−321070号公報
As described above, it has been conventionally performed to incorporate an expanding apparatus in the die bonder that widens the adhesive sheet S and widens the distance between the chips T. Various improved inventions of this expanding apparatus have also been made (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
JP 7-23003 A JP 7-321070 A

前述の従来技術では、粘着シートSを介してフレームFにマウントされたウェーハWは、ダイシングブレードで個々のチップTに切断された後、ダイシング装置内をそのままの状態で搬送されて洗浄等が行われ、次にダイボンダまで搬送され、ダイボンダ内もその状態のままで搬送が行われていた。   In the above-described conventional technology, the wafer W mounted on the frame F through the adhesive sheet S is cut into individual chips T by a dicing blade, and then conveyed in the dicing apparatus as it is to be cleaned. Then, it was transported to the die bonder, and the inside of the die bonder was transported as it was.

ところが、近年IC等の半導体装置ではウェーハW1枚当たりのチップ形成数を増加させるため、ダイシング加工の為の加工領域(ストリートとも呼ばれる)の幅が極度に狭くなってきている。そのため、ダイシング工程では厚さ10μm〜15μm程度の極薄のダイシングブレードが使用されるようになってきた。   However, in recent years, in a semiconductor device such as an IC, in order to increase the number of chips formed per wafer W, the width of a processing region (also called a street) for dicing processing has become extremely narrow. Therefore, an extremely thin dicing blade having a thickness of about 10 μm to 15 μm has been used in the dicing process.

このような極薄のダイシングブレードでダイシングされたウェーハWや、前述のレーザーダイシングされたウェーハWでは、チップT同士の間隔が極度に狭いため、従来のように粘着シートSを介してフレームFにマウントされた状態のままで搬送した場合、搬送中の振動によって隣同士のチップTのエッジとエッジとが接触し、エッジ部に欠けやマイクロクラックが生じ、良品チップTを不良にしたり、完成後の製品の信頼性を損なうという問題が生じていた。   In the wafer W diced by such an extremely thin dicing blade and the wafer W diced by the above-mentioned laser dicing, the distance between the chips T is extremely narrow. When transported in a mounted state, the edges of adjacent chips T come into contact with each other due to vibration during transportation, and the edge portion is chipped or microcracked. The problem of compromising the product's reliability occurred.

このため、ダイシング装置内でダイシング後直ちにエキスパンドし、チップT同士の間隔を広げて搬送することが要求されるようになってきた。ところが、従来行われていたエキスパンド方法や、前述の特許文献1、及び特許文献2に記載されたエキスパンド方法をダイシング装置内で行ったとしても、粘着シートSへの張力付与を解除するとエキスパンドされた粘着シートSが又元通りに縮んでしまうため、ウェーハWをフレームFごと搬送することができなかった。   For this reason, it has been required to expand immediately after dicing in a dicing apparatus and to convey the chips T with a wider interval. However, even when the conventional expanding method and the expanding method described in Patent Document 1 and Patent Document 2 described above were performed in the dicing apparatus, the expansion was performed when the application of tension to the pressure-sensitive adhesive sheet S was canceled. Since the pressure-sensitive adhesive sheet S contracted again, the wafer W could not be transferred together with the frame F.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ダイシング後のチップ同士の間隔が極度に狭いウェーハであっても、搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触してエッジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することなしに、フレームごと搬送することのできる粘着シートのエキスパンド方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and even when a wafer having an extremely narrow distance between chips after dicing is used, the edges of adjacent chips are brought into contact with each other due to vibration during conveyance. An object of the present invention is to provide a method for expanding a pressure-sensitive adhesive sheet that can be transported frame by frame without occurrence of chipping, microcracks, or the like in an edge portion.

本発明は前記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、粘着シートに貼着されて該粘着シートを介してリング状の第1のフレームにマウントされ、個々のチップにダイシング加工された板状物に対し、ダイシング加工後に、前記粘着シートをエキスパンドして前記個々のチップの間隔を拡大するエキスパンド方法において、前記板状物と前記第1のフレームとを上下方向に相対的に離間させるとともに前記粘着シートに横方向の力を付与して、前記粘着シートをエキスパンドし、前記エキスパンドされた粘着シートにリング状の第2のフレームを貼着し、該第2のフレームの外周近傍で前記粘着シート切断することによって、前記個々のチップ間隔が拡大されたエキスパンド状態を保持することを特徴とする。   In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 1 is attached to an adhesive sheet, mounted on a ring-shaped first frame via the adhesive sheet, and diced into individual chips. In the expanding method in which the adhesive sheet is expanded after the dicing process to expand the interval between the individual chips, the plate-like object and the first frame are relatively moved in the vertical direction. A lateral force is applied to the pressure-sensitive adhesive sheet, the pressure-sensitive adhesive sheet is expanded, a ring-shaped second frame is attached to the expanded pressure-sensitive adhesive sheet, and the vicinity of the outer periphery of the second frame The expanded state in which the individual chip intervals are expanded is maintained by cutting the adhesive sheet.

請求項1の発明によれば、エキスパンドされた粘着シートにリング状の第2のフレームを貼着し、第2のフレームの外周近傍で前記粘着シート切断して粘着シートのエキスパンド状態を保持するので、チップ間の間隔を維持したまま板状物をフレーム毎搬送することができる。そのため、チップ同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触してエッジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することがない。   According to the first aspect of the present invention, the ring-shaped second frame is attached to the expanded adhesive sheet, and the adhesive sheet is cut in the vicinity of the outer periphery of the second frame to maintain the expanded state of the adhesive sheet. The plate-like object can be transported frame by frame while maintaining the distance between the chips. Therefore, even if the distance between chips is extremely narrow, the edges of adjacent chips do not come into contact with each other due to vibration during conveyance, and the edge portion will not be chipped or microcracked. .

また、請求項2に記載の発明は、請求項1の発明において、前記粘着シートに付与する横方向の力は、エアーバッグを膨張させることによって付与することを特徴とする。   The invention according to claim 2 is characterized in that, in the invention according to claim 1, the lateral force applied to the pressure-sensitive adhesive sheet is applied by inflating an air bag.

請求項2の発明によれば、エアーバッグを用いて粘着シートを横方向に押し広げるので、複雑なエキスパンド形状であっても容易にエキスパンドすることができる。   According to the invention of claim 2, since the pressure-sensitive adhesive sheet is spread in the lateral direction using the air bag, it can be easily expanded even in a complicated expanded shape.

請求項3に記載の発明は、請求項1又は請求項2の発明において、前記第1のフレームと第2のフレームとが同種のフレームであることを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the invention, the first frame and the second frame are the same type of frame.

請求項3の発明によれば、粘着シートを介して板状物がマウントされたフレームと、エキスパンドされた粘着シートのエキスパンド状態を保持するフレームとが同種のフレームであるため、フレームを共用することができ装置構成を簡略化できるとともに、以降の工程における搬送手段の変更を必要としない。   According to the invention of claim 3, since the frame in which the plate-like object is mounted via the adhesive sheet and the frame that holds the expanded state of the expanded adhesive sheet are the same type of frame, the frame is shared. In addition to simplifying the apparatus configuration, it is not necessary to change the conveying means in the subsequent steps.

以上説明したように本発明のエキスパンド方法によれば、エキスパンドされた粘着シートにリング状の第2のフレームを貼着し、第2のフレームの外周近傍で前記粘着シート切断して粘着シートのエキスパンド状態を保持するので、チップ間の間隔を維持したまま板状物をフレーム毎搬送することができる。そのため、チップ同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触してエッジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することがない。   As described above, according to the expanding method of the present invention, the ring-shaped second frame is attached to the expanded adhesive sheet, and the adhesive sheet is cut in the vicinity of the outer periphery of the second frame to expand the adhesive sheet. Since the state is maintained, the plate-like object can be conveyed for each frame while maintaining the distance between the chips. Therefore, even if the distance between chips is extremely narrow, the edges of adjacent chips do not come into contact with each other due to vibration during conveyance, and the edge portion will not be chipped or microcracked. .

以下添付図面に従って本発明に係るエキスパンド方法の好ましい実施の形態について詳説する。尚、各図において同一部材には同一の番号または記号を付している。   Hereinafter, preferred embodiments of the expanding method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In each figure, the same number or symbol is attached to the same member.

図1は、本発明の実施の形態に係るエキスパンド方法に用いるエキスパンド装置を表わしている。エキスパンド装置10は、ベース11、ベース11に載置されたウェーハステージ12とフレームチャック13、ウェーハステージ12の鍔部12A上に設けられたエアーバッグ14、フレームチャック13の上方に配置されたフレームホルダ15、粘着シートSを切断するカッタ16等を有している。   FIG. 1 shows an expanding apparatus used in the expanding method according to the embodiment of the present invention. The expanding apparatus 10 includes a base 11, a wafer stage 12 and a frame chuck 13 mounted on the base 11, an air bag 14 provided on the flange 12 </ b> A of the wafer stage 12, and a frame holder disposed above the frame chuck 13. 15. A cutter 16 for cutting the adhesive sheet S is provided.

ウェーハステージ12は、図示しない駆動手段によって上下に伸縮移動され、板状部材であるウェーハWを粘着シートSごと上下に移動させる。また、フレームチャック13は円筒形状で、フレームチャック13の上面には多孔質部材13Aが埋設され、多孔質部材13Aは図示しない真空源に接続され、第1のフレームであるフレームFを粘着シートSごと吸着保持するようになっている。   The wafer stage 12 is moved up and down by a drive unit (not shown) to move the wafer W, which is a plate-like member, together with the adhesive sheet S up and down. The frame chuck 13 has a cylindrical shape, and a porous member 13A is embedded in the upper surface of the frame chuck 13. The porous member 13A is connected to a vacuum source (not shown), and the frame F, which is the first frame, is attached to the adhesive sheet S. Each is held by suction.

ウェーハステージ12の鍔部12A上に設けられたエアーバッグ14は、ゴム系弾性部材からなるチューブ形状で、図示しない圧縮エアー源に接続され、圧縮エアーの力で主に横方向に伸縮するようになっている。   The air bag 14 provided on the flange 12A of the wafer stage 12 has a tube shape made of a rubber-based elastic member and is connected to a compressed air source (not shown) so as to expand and contract mainly in the lateral direction by the force of the compressed air. It has become.

フレームチャック13の上方に配置されたフレームホルダ15は、図示しない駆動手段によって上下に伸縮移動されるとともに、図示しない真空源に接続され、第2のフレームである新フレームFを吸着保持するようになっている。第2のフレームである新フレームFは第1のフレームであるフレームFと同じものが用いられている。   A frame holder 15 disposed above the frame chuck 13 is vertically expanded and contracted by a driving means (not shown) and connected to a vacuum source (not shown) so as to suck and hold the new frame F as a second frame. It has become. The new frame F that is the second frame is the same as the frame F that is the first frame.

フレームホルダ15の近傍には、フレームホルダ15と一緒に上下に移動されるとともに、新フレームFの外周部に向けて前進、及び後退し、更に新フレームFの外周に沿って回転移動して粘着シートSを切り離すカッタ16が設けられている。   In the vicinity of the frame holder 15, it is moved up and down together with the frame holder 15, moved forward and backward toward the outer periphery of the new frame F, and further rotated and moved along the outer periphery of the new frame F. A cutter 16 for separating the sheet S is provided.

次に、図2のフローチャートに基いて本発明に係るエキスパンド方法の実施の形態を説明する。本発明に係るエキスパンド方法に用いるエキスパンド装置10では、ウェーハWは図5に示すように、粘着シートSに貼付され、粘着シートSを介して第1のフレームであるリング状のフレームFにマウントされた状態で投入される。   Next, an embodiment of the expanding method according to the present invention will be described based on the flowchart of FIG. In the expanding apparatus 10 used for the expanding method according to the present invention, the wafer W is attached to the adhesive sheet S and mounted on the ring-shaped frame F as the first frame via the adhesive sheet S as shown in FIG. It is thrown in the state.

このウェーハWを粘着シートSを介してウェーハステージ12に載置するとともにフレームFをフレームチャック13に載置する(ステップS11)。ここではウェーハWは既にダイシングされて個々のチップTに分割されている。   The wafer W is placed on the wafer stage 12 via the adhesive sheet S, and the frame F is placed on the frame chuck 13 (step S11). Here, the wafer W has already been diced and divided into individual chips T.

この状態でフレームFをフレームチャック13に吸着固定する(ステップS13)。図1はこの状態を表わしている。   In this state, the frame F is attracted and fixed to the frame chuck 13 (step S13). FIG. 1 shows this state.

次に、ウェーハステージ12を上方に伸ばしウェーハWの貼付されている部分の粘着シートSを上方に持ち上げる。これとともに、エアーバッグ14に圧縮エアーを供給してエアーバッグ14を横方向に膨張させる。   Next, the wafer stage 12 is extended upward, and the part of the adhesive sheet S to which the wafer W is adhered is lifted upward. At the same time, compressed air is supplied to the airbag 14 to inflate the airbag 14 in the lateral direction.

これにより粘着シートSが引き伸ばされて個々のチップT間の間隔が拡大されてゆく。図3はこの途中状態を表わしている。ウェーハステージ12の上昇とエアーバッグ14の膨張とを更に続け、図4に示す状態まで粘着シートSをエキスパンドする(ステップS15)。   As a result, the adhesive sheet S is stretched and the interval between the individual chips T is expanded. FIG. 3 shows this intermediate state. The rising of the wafer stage 12 and the expansion of the air bag 14 are further continued, and the adhesive sheet S is expanded to the state shown in FIG. 4 (step S15).

これとともに、フレームホルダ15に第2のフレームである新フレームFを吸着固定して下降させ(ステップS17)、新フレームFをエキスパンドされた粘着シートSに貼付する(ステップS19)。図4はこの状態を表わしている。この状態で、新フレームFの内側部分の粘着シートSのエキスパンド状態が保持される。   At the same time, the new frame F, which is the second frame, is attracted and fixed to the frame holder 15 and lowered (step S17), and the new frame F is attached to the expanded adhesive sheet S (step S19). FIG. 4 shows this state. In this state, the expanded state of the adhesive sheet S in the inner portion of the new frame F is maintained.

次にエアーバッグ14に供給していた圧縮エアーの供給を停止するとともに、連通路を大気に開放してエアーバッグ14を収縮させる(ステップS21)。   Next, the supply of compressed air that has been supplied to the airbag 14 is stopped, and the communication path is opened to the atmosphere to contract the airbag 14 (step S21).

次に、カッタ16を新フレームFの外周部に向けて下降させ、粘着シートSに切り込み(ステップS23)、次いでカッタ16を新フレームFの外周に沿って1周させて、新フレームFの外周外側部の粘着シートSを切り離す(ステップS25)。   Next, the cutter 16 is lowered toward the outer periphery of the new frame F, cut into the adhesive sheet S (step S23), and then the cutter 16 is rotated once along the outer periphery of the new frame F, so that the outer periphery of the new frame F is recovered. The adhesive sheet S on the outer side is cut off (step S25).

次に、カッタ16を後退させ(ステップS27)、フレームホルダ15による新フレームFの吸着を解除する。   Next, the cutter 16 is moved backward (step S27), and the suction of the new frame F by the frame holder 15 is released.

このようにエキスパンドされた粘着シートSのエキスパンド状態が保持され、個々のチップT間の間隔が拡大されているので、個々のチップT同士の接触が防止され、ウェーハWは新フレームFごと容易に搬送することができる。     Since the expanded state of the adhesive sheet S thus expanded is maintained and the interval between the individual chips T is expanded, the contact between the individual chips T is prevented, and the wafer W can be easily moved together with the new frame F. Can be transported.

一方、フレームチャック13に吸着保持されていたフレームFは、吸着を解除して取出す。フレームFに貼付されている粘着シートSの粘着材が紫外線硬化型接着剤の場合は、紫外線を照射して粘着力を弱めた後、粘着シートSを取り除く。また、粘着シートSの粘着材が熱硬化型接着剤の場合は、加熱して粘着力を弱める。   On the other hand, the frame F that has been sucked and held by the frame chuck 13 is released after being sucked. When the adhesive material of the adhesive sheet S attached to the frame F is an ultraviolet curable adhesive, the adhesive sheet S is removed after the adhesive force is weakened by irradiating ultraviolet rays. Moreover, when the adhesive material of the adhesive sheet S is a thermosetting adhesive, the adhesive strength is weakened by heating.

第1のフレームであるフレームFと第2のフレームである新フレームFとは同種の物を用いているので、粘着シートSを取り除いた第1のフレームであるフレームFは次の新フレームFとして用いる。   Since the first frame F and the second frame F are of the same type, the first frame F from which the adhesive sheet S has been removed is used as the next new frame F. Use.

なお、本実施の形態ではフレームFを一定位置に固定し、ウェーハWを上方に移動するとともに、エアーバッグ14を膨張させて粘着シートSをエキスパンドしたが、本発明はこれに限らず、ウェーハWを一定位置に固定し、フレームFを下方に押し下げるとともに、エアーバッグ14を膨張させて粘着シートSをエキスパンドしてもよく、また、ウェーハWとフレームFとを相対的に所定量離間させた後にエアーバッグ14を膨張させてもよい。   In this embodiment, the frame F is fixed at a fixed position, the wafer W is moved upward, and the air bag 14 is inflated to expand the adhesive sheet S. However, the present invention is not limited to this, and the wafer W May be fixed at a fixed position, the frame F may be pushed downward, the airbag 14 may be inflated to expand the adhesive sheet S, and the wafer W and the frame F may be relatively spaced apart by a predetermined amount. The airbag 14 may be inflated.

また、粘着シートSを横方向に引き伸ばす手段としてエアーバッグ14を用いたが、エアーバッグ14に限らず、他の種々のメカニカル手段を用いて粘着シートSに横方向の力を付与してもよい。   Moreover, although the airbag 14 was used as a means to stretch the adhesive sheet S in the horizontal direction, the lateral force may be applied to the adhesive sheet S using not only the airbag 14 but also other various mechanical means. .

本発明の実施の形態に係るエキスパンド方法に用いるエキスパンド装置を表わす側断面図Side sectional view showing the expanding apparatus used for the expanding method concerning embodiment of this invention 本発明の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートThe flowchart explaining the expanding method which concerns on embodiment of this invention エキスパンド動作を表わす側断面図1Side sectional view showing expanding operation 1 エキスパンド動作を表わす側断面図2Side sectional view 2 showing expansion operation フレームにマウントされたウェーハを表わす斜視図Perspective view showing wafer mounted on frame

符号の説明Explanation of symbols

10…エキスパンド装置、12…ウェーハステージ、13…フレームチャック、14…エアーバッグ、15…フレームホルダ、16…カッタ、F…フレーム(第1のフレーム)、新フレーム(第2のフレーム)、S…粘着シート、T…チップ、W…ウェーハ(板状物)   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Expand apparatus, 12 ... Wafer stage, 13 ... Frame chuck, 14 ... Air bag, 15 ... Frame holder, 16 ... Cutter, F ... Frame (first frame), New frame (second frame), S ... Adhesive sheet, T ... chip, W ... wafer (plate)

Claims (3)

粘着シートに貼着されて該粘着シートを介してリング状の第1のフレームにマウントされ、個々のチップにダイシング加工された板状物に対し、ダイシング加工後に、前記粘着シートをエキスパンドして前記個々のチップの間隔を拡大するエキスパンド方法において、
前記板状物と前記第1のフレームとを上下方向に相対的に離間させるとともに、前記粘着シートに横方向の力を付与して前記粘着シートをエキスパンドし、
前記エキスパンドされた粘着シートにリング状の第2のフレームを貼着し、
該第2のフレームの外周近傍で前記粘着シート切断することによって、前記個々のチップ間隔が拡大されたエキスパンド状態を保持することを特徴とするエキスパンド方法。
For the plate-like material that is attached to the pressure-sensitive adhesive sheet and mounted on the ring-shaped first frame through the pressure-sensitive adhesive sheet, and diced into individual chips, the pressure-sensitive adhesive sheet is expanded after dicing, In the expanding method of expanding the interval between individual chips,
The plate-like object and the first frame are relatively spaced apart in the vertical direction, and a lateral force is applied to the pressure-sensitive adhesive sheet to expand the pressure-sensitive adhesive sheet,
Adhering a ring-shaped second frame to the expanded adhesive sheet,
An expanding method in which the expanded state in which the interval between the individual chips is expanded is maintained by cutting the adhesive sheet in the vicinity of the outer periphery of the second frame.
前記粘着シートに付与する横方向の力は、エアーバッグを膨張させることによって付与することを特徴とする、請求項1に記載のエキスパンド方法。   The expanding method according to claim 1, wherein the lateral force applied to the pressure-sensitive adhesive sheet is applied by inflating an airbag. 前記第1のフレームと第2のフレームとが同種のフレームであることを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載のエキスパンド方法。   The expanding method according to claim 1, wherein the first frame and the second frame are the same type of frame.
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