JP2005107289A - Image forming apparatus - Google Patents

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Katsushi Saiki
勝志 斎木
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image forming apparatus in which even when an uninspected substrate or a substrate rejected in inspection is mixed, such a substrate can surely be identified in the course of the assembly of the apparatus. <P>SOLUTION: The image forming apparatus having the plurality of substrates on which circuit parts are mounted includes: a nonvolatile storage means provided on at least one of the substrates in order to store the history of the inspection of the substrate itself; and a determining means by which, when the image forming apparatus is assembled, whether the substrate corresponding to the history of the inspection is abnormal or not is determined based upon the history of the inspection stored in the storage means on the substrate mounted on the apparatus. The apparatus is provided with an alerting means for alerting a user to the abnormal state when the determining means determines that the substrate is abnormal. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、プリンタ、ファクシミリ、複写機やこれらの複合機等の画像形成装置に関し、特に、画像形成装置の検査技術に関する。   The present invention relates to an image forming apparatus such as a printer, a facsimile machine, a copying machine, or a multifunction machine of these, and more particularly to an inspection technique for the image forming apparatus.

電子機器は、通常、ガラスエポキシ等からなる基板上に回路部品等を実装した回路基板を備えている。このような基板は、機器の小型化や製造歩留まり向上の観点から、例えば、機能ごとに分離された複数の回路基板で構成されており、機器の組立工程において、この複数の基板が電子機器に組み込まれて接続されるようになっている。   An electronic device usually includes a circuit board in which circuit components and the like are mounted on a board made of glass epoxy or the like. Such a board is composed of, for example, a plurality of circuit boards separated for each function from the viewpoint of downsizing of the equipment and improvement of manufacturing yield, and the plurality of boards are used as electronic equipment in the assembly process of the equipment. Built-in and connected.

複写機や複合機等の画像形成装置も、例えば、画像読取部、画像形成部、用紙搬送部等の機構部の駆動制御を行う制御基板と、各制御基板に指令を出力して装置全体の動作を制御するメイン基板とに分離された複数の回路基板を有している。   An image forming apparatus such as a copying machine or a multi-function peripheral also has, for example, a control board that performs drive control of a mechanism unit such as an image reading unit, an image forming unit, and a paper transport unit, and outputs a command to each control board. It has a plurality of circuit boards separated from the main board for controlling the operation.

これらの回路基板は、回路部品の実装及び実装済基板の検査が基板の種類ごとに行われ、この検査に合格した基板が画像形成装置の組立に使用される。   For these circuit boards, mounting of circuit components and inspection of mounted boards are performed for each type of board, and a board that passes this inspection is used for assembling the image forming apparatus.

上記検査において不合格となった基板であっても、基板上に実装された回路部品の交換や調整により修復が可能な場合は人手により修復が行われる。そして、再検査に合格した基板は、合格基板として組立に使用される。   Even if a board fails the above inspection, it can be repaired manually if it can be repaired by replacing or adjusting the circuit components mounted on the board. And the board | substrate which passed the re-inspection is used for an assembly as a passing board | substrate.

一方、上記機構部の各制御基板は、例えば、通紙タイミングデータ、画像調整データ、その他メンテナンスデータ等の個々の画像形成装置に固有の調整データが格納される不揮発性メモリを備えている。これらの調整データは、画像形成装置を適切に動作させるために使用されるデータであり、装置組立後に行われる調整工程で画像形成装置ごとに決定され、上記不揮発性メモリに記録される。   On the other hand, each control board of the mechanism section includes a non-volatile memory in which adjustment data unique to each image forming apparatus, such as sheet passing timing data, image adjustment data, and other maintenance data, is stored. These adjustment data are data used for properly operating the image forming apparatus, are determined for each image forming apparatus in an adjustment process performed after the apparatus is assembled, and are recorded in the nonvolatile memory.

なお、本発明に類似する技術として、後掲の特許文献1には、記憶手段に記録された使用環境及び使用履歴に基づいて、構成部品の回収時に有効な再使用方法・再使用ルートを判断する電子機器が開示されている。
特開2002−6694号公報
In addition, as a technique similar to the present invention, Patent Document 1 listed below determines an effective reuse method / reuse route when collecting components based on the use environment and use history recorded in the storage means. An electronic device is disclosed.
JP 2002-6694 A

しかしながら、上記組立の段階で、何等かの理由、例えば、上述の修復した基板が未検査のまま使用されたり、不合格基板が使用されたりする等の人為的ミスにより、本来は検査で不合格となるべき基板が混入する可能性が考えられる。   However, due to human error such as the above repaired board being used uninspected or rejected board being used at the stage of assembly, the inspection originally failed. There is a possibility that a substrate to be mixed is mixed.

このように、未検査基板や不合格基板が混入して装置の組立に使用された場合、このような基板を外観で識別することは不可能であり、上記調整工程で装置の動作不良が確認された場合に、はじめて不合格基板の混入が発覚することになる。このように調整工程で不具合が確認されたときには、不合格基板が原因で他の正常な基板や機構部が破損される可能性がある上、同時期に組み立てられた装置の基板を全て再検査する必要があり、生産効率を著しく低下させる。   In this way, when an untested board or a failed board is mixed and used in the assembly of the device, it is impossible to identify such a substrate by appearance, and the malfunction of the device is confirmed in the above adjustment process. In such a case, it will be detected for the first time that the board is rejected. In this way, when a malfunction is confirmed in the adjustment process, other normal boards and mechanisms may be damaged due to the failed board, and all the boards of the device assembled at the same time are re-inspected. It is necessary to significantly reduce the production efficiency.

また、検査で不合格となる原因が、回路部品の半田接続不良等の一見正常に動作する不具合である場合には、調整工程においても確認されず、そのまま市場に流出して市場事故を引き起こす可能性もある。   Also, if the cause of failure in the inspection is a malfunction that seems to work normally, such as poor solder connection of circuit components, it will not be confirmed even in the adjustment process, and it may flow out to the market and cause a market accident There is also sex.

本発明は、上記従来の事情に基づいて提案されたものであって、未検査基板、不合格基板が混入した場合であっても、装置組立の段階でこのような基板を確実に識別できる画像形成装置を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed on the basis of the above-described conventional circumstances, and even when untested substrates and unacceptable substrates are mixed, an image that can reliably identify such substrates at the stage of device assembly. An object is to provide a forming apparatus.

本発明は、上記目的を達成するために以下の手段を採用している。すなわち、本発明は、回路部品が実装された複数の基板を有する画像形成装置において、少なくとも1つの上記基板に備えた、当該基板自身の検査の履歴を記憶する不揮発性の記憶手段と、画像形成装置の組立時に、当該装置に搭載した基板の上記記憶手段に記憶された検査履歴に基づいて、当該検査履歴に対応する基板の異常の有無を判定する判定手段とを備える構成としている。   The present invention employs the following means in order to achieve the above object. That is, according to the present invention, in an image forming apparatus having a plurality of substrates on which circuit components are mounted, at least one of the substrates, a nonvolatile storage means for storing the inspection history of the substrate itself, and image formation At the time of assembling the apparatus, the apparatus includes a determination unit that determines whether there is an abnormality in the substrate corresponding to the inspection history based on the inspection history stored in the storage unit of the substrate mounted on the apparatus.

上記構成によれば、例えば、検査種類、検査回数、検査結果、修復記録等の基板の検査履歴を当該基板上にある記憶手段に記憶し、画像形成装置に備えた判定手段が当該検査履歴に基づいて当該基板の異常の有無を判定するので、画像形成装置の組立段階で、未検査基板及び不合格基板の混入を確実に検知することができる。このため、生産効率の低下を避けることができると共に、市場事故を防止することができる。   According to the above configuration, for example, the inspection history of the substrate such as the inspection type, the number of inspections, the inspection result, and the repair record is stored in the storage unit on the substrate, and the determination unit provided in the image forming apparatus includes the inspection history Based on this, it is determined whether or not there is an abnormality in the substrate, so that it is possible to reliably detect mixing of untested substrates and unacceptable substrates at the assembly stage of the image forming apparatus. For this reason, a decline in production efficiency can be avoided and a market accident can be prevented.

特に、上記記憶手段として、本来は、上記調整データの格納等の別用途で使用するために基板上に配置されている記憶手段を流用する構成とすれば、検査装置が出力する検査結果を、上記記憶手段に検査履歴として格納するための書込手段を従来の製造工程に追加するだけで実現できるため低コストである。   In particular, if the storage means is configured to divert the storage means that is originally arranged on the substrate for use in another application such as storage of the adjustment data, the inspection result output by the inspection apparatus is Since the writing means for storing the inspection history in the storage means can be realized simply by adding to the conventional manufacturing process, the cost is low.

また、上記判定手段が異常と判定したときに、異常を報知する報知手段を備える構成を採用すれば、未検査基板及び不合格基板の混入をより確実に検知することができる。特に、この報知手段として、装置に搭載した基板への電源供給を遮断する電源遮断手段を採用すれば、混入した不合格基板が原因で、他の正常な基板や機構部が破損されることを確実に防止することができる。   Further, when a configuration including a notifying unit that notifies an abnormality when the determining unit determines that an abnormality has occurred, it is possible to more reliably detect mixing of uninspected substrates and unacceptable substrates. In particular, if the power shut-off means for shutting off the power supply to the board mounted on the device is adopted as the notification means, other normal boards and mechanism parts may be damaged due to the mixed reject board. It can be surely prevented.

本発明によれば、例えば、検査の種類、検査回数、検査結果、修復記録等の基板の検査履歴を検査対象の基板上にある記憶手段に記憶し、画像形成装置に備えた判定手段が当該検査履歴に基づいて基板の異常の有無を判定するので、画像形成装置の組立の段階で、未検査基板及び不合格基板の混入を確実に検知することが可能となる。このため、生産効率の低下を避けることができると共に、基板の不具合による市場事故の発生を防止することができる。   According to the present invention, for example, the inspection history of the substrate such as the type of inspection, the number of inspections, the inspection result, and the repair record is stored in the storage means on the inspection target substrate, and the determination means provided in the image forming apparatus Since the presence / absence of the abnormality of the substrate is determined based on the inspection history, it is possible to reliably detect the mixing of the uninspected substrate and the unacceptable substrate at the stage of assembling the image forming apparatus. For this reason, it is possible to avoid a decrease in production efficiency and to prevent occurrence of a market accident due to a substrate defect.

また、上記記憶手段として、本来は、上記調整データの格納等の別用途で使用するために基板上に配置されている記憶手段を流用する構成とすれば、基板レイアウトの変更が不要である上、上記記憶手段に検査装置が出力する検査結果を検査履歴として格納するための書込手段を従来の製造工程に追加するだけであるため、低コストで本構成を実現することができる。   In addition, if the storage means is configured to divert the storage means originally disposed on the substrate for use in another purpose such as storage of the adjustment data, it is not necessary to change the substrate layout. Since the writing means for storing the inspection result output from the inspection apparatus in the storage means is only added to the conventional manufacturing process, this configuration can be realized at low cost.

さらに、判定手段が異常と判定したときに、異常を報知する報知手段として、装置に搭載した基板への電源の供給を遮断する電源遮断手段を採用すれば、混入した不合格基板が原因で他の正常な基板や機構部が破損されることを防止することができる。   Furthermore, if the power shut-off means for shutting off the supply of power to the board mounted on the apparatus is adopted as a notifying means for notifying the abnormality when the judging means judges that it is abnormal, it may be caused by the rejected board that is mixed. It is possible to prevent the normal substrate and the mechanism portion from being damaged.

以下、本発明の実施の形態を図面にしたがって詳細に説明する。なお、図1は、画像形成装置の本発明に係る部分を示す概略図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view showing a part of the image forming apparatus according to the present invention.

画像形成装置1は、従来からある画像形成装置と同様に、例えば、画像データをスキャンして読み取る画像読取部や画像データを用紙上に印字する画像形成部等の機構部2を有しており、この各機構部2の動作が、それぞれの機構部2に接続された制御基板3aによって制御されるようになっている。   The image forming apparatus 1 includes a mechanism unit 2 such as an image reading unit that scans and reads image data and an image forming unit that prints image data on a sheet, as in a conventional image forming apparatus. The operation of each mechanism unit 2 is controlled by a control board 3 a connected to each mechanism unit 2.

また、各制御基板3aは、装置全体の動作を制御するメイン基板3bに接続されており、メイン基板3b上に備えたCPU4が出力する信号に基づいて動作している。なお、上記制御基板3a及びメイン基板3b(以下では、制御基板3aとメイン基板3bとを区別しない場合、両基板を合わせて基板3と記述する。)や機構部2は、画像形成装置1内に適宜配置されるものであるが、本発明は配置と無関係であるため、ここでは詳述しない。   Each control board 3a is connected to a main board 3b that controls the operation of the entire apparatus, and operates based on a signal output from a CPU 4 provided on the main board 3b. The control board 3a and the main board 3b (hereinafter, when the control board 3a and the main board 3b are not distinguished from each other will be described as the board 3) and the mechanism unit 2 are included in the image forming apparatus 1. However, since the present invention is irrelevant to the arrangement, it will not be described in detail here.

上記基板3は、金属配線を形成したガラスエポキシ等からなる基板上に、自動実装機等を用いて各種回路部品が実装されたものである。この回路部品の実装工程で、一部の種類の基板3上には、上記背景技術で説明した調整データを格納するためのEEPROM、フラッシュメモリ等の不揮発性の記憶手段5が実装される。例えば、画像形成部の制御基板3aには、画像調整データを格納する記憶手段5が実装され、用紙搬送部の制御基板3aには、通紙タイミングデータを記憶する記憶手段5が実装されている。   The substrate 3 is obtained by mounting various circuit components on a substrate made of glass epoxy or the like on which metal wiring is formed using an automatic mounting machine or the like. In this circuit component mounting process, non-volatile storage means 5 such as an EEPROM or a flash memory for storing the adjustment data described in the background art is mounted on some types of substrates 3. For example, a storage unit 5 that stores image adjustment data is mounted on the control board 3a of the image forming unit, and a storage unit 5 that stores sheet passing timing data is mounted on the control board 3a of the paper transport unit. .

上記回路部品の実装が完了すると、各基板3に対して、例えば、回路部品の実装不良等の有無を検査するインサーキットテストや、基板に検査信号を入力して回路が正常に動作しているか否かを検査するファンクションテスト等の検査が行われる。   When the mounting of the circuit components is completed, for example, an in-circuit test for inspecting each substrate 3 for the presence or absence of mounting failure of the circuit components, or whether the circuit is operating normally by inputting an inspection signal to the substrate. Inspections such as a function test for inspecting whether or not are performed.

この検査には、例えば、電流電圧測定器、信号発生器、信号検出器等の測定器を備えた基板検査装置10が使用される。この基板検査装置10は、上記検査における各検査項目で指定されている基板3上の電極に、プローブ(検査ピン)を接触させる等により上記測定器と基板3とを電気的に接続して各検査項目に対応する測定を行う。そして、当該測定結果に基づいて基板3が合格基板であるか不合格基板であるかを判定する。   For this inspection, for example, a substrate inspection apparatus 10 including measuring devices such as a current-voltage measuring device, a signal generator, and a signal detector is used. The substrate inspection apparatus 10 electrically connects the measuring device and the substrate 3 by bringing a probe (inspection pin) into contact with an electrode on the substrate 3 designated by each inspection item in the inspection. Perform the measurement corresponding to the inspection item. And based on the said measurement result, it is determined whether the board | substrate 3 is an acceptance board | substrate or a rejection board | substrate.

また、上記基板検査装置10は、図2に示すように、1つの基板3に対する検査が完了すると、当該基板3の検査情報を書込手段6に出力する。そして、検査情報が入力された書込手段6は、当該基板3上の記憶手段5のデータ入力線であるデータバス7に接触している上記プローブを介して当該検査情報を書込むようになっている。   Further, as shown in FIG. 2, when the inspection for one substrate 3 is completed, the substrate inspection apparatus 10 outputs inspection information of the substrate 3 to the writing means 6. The writing means 6 to which the inspection information is input writes the inspection information via the probe that is in contact with the data bus 7 that is a data input line of the storage means 5 on the substrate 3. ing.

なお、図2では、検査時及び検査情報書込時に、データバス7に接触させた同一のプローブを使用する場合を示しており、検査時には当該電極と測定器とを電気的に接続し、検査情報書込時には、当該電極と書込手段6とを電気的に接続する切換スイッチ8を備える構成としている。また、基板検査装置10に接続されるデータバス7以外の配線は本願に関与しないため省略している。   FIG. 2 shows a case where the same probe brought into contact with the data bus 7 is used at the time of inspection and at the time of inspection information writing. At the time of inspection, the electrode and the measuring instrument are electrically connected to each other. At the time of information writing, a changeover switch 8 for electrically connecting the electrode and the writing means 6 is provided. Further, wiring other than the data bus 7 connected to the board inspection apparatus 10 is omitted because it is not related to the present application.

これにより、基板3の記憶手段5には、当該基板3自身の検査履歴が記憶されることになる。ここで、上記検査情報とは、例えば、検査の種類、検査の回数、検査結果(不合格であるときは、不良モード)等のデータである。   Thereby, the inspection history of the substrate 3 itself is stored in the storage means 5 of the substrate 3. Here, the inspection information is, for example, data such as the type of inspection, the number of inspections, and the inspection result (a failure mode when failing).

また、上記書込手段6は、記憶手段5にデータを書込む機能を有していればよく、例えば、パーソナルコンピュータ上で実行されるソフトウエア等を使用することができる。また、書込手段6を、基板検査装置10が備える装置制御用のコンピュータ上で実行されるソフトウエアとすれば構成が容易となる。   The writing means 6 only needs to have a function of writing data to the storage means 5, and for example, software executed on a personal computer can be used. Further, if the writing means 6 is software executed on a computer for controlling the apparatus provided in the board inspection apparatus 10, the configuration becomes easy.

ここで、上記検査を実行したときに基板3上の記憶手段5に記憶される検査情報について説明する。   Here, the inspection information stored in the storage means 5 on the substrate 3 when the above inspection is executed will be described.

例えば、インサーキットテストに合格した基板3上の記憶手段5には、検査の種類がインサーキットテストであることを示す「I」と、1回目のインサーキットテストの結果であることを示す「1」と、インサーキットテストにおける全検査項目に合格したことを示す「0」が、「I、1、0」として記憶される。   For example, in the storage means 5 on the substrate 3 that has passed the in-circuit test, “I” indicating that the type of inspection is the in-circuit test and “1” indicating the result of the first in-circuit test. ”And“ 0 ”indicating that all inspection items in the in-circuit test are passed are stored as“ I, 1, 0 ”.

また、不合格であった基板3の記憶手段5には、上記の合格したことを示す「0」に代えて、不合格であったことを示す「1」及び不合格となった検査項目の番号(ここでは、検査項目番号5番の項目が不合格であった場合を示している。)を示す「5」が、「I、1、1、5」として記憶される。   In addition, in the storage means 5 of the board 3 that has been rejected, instead of “0” indicating that it has passed, “1” indicating that it has failed and inspection items that have failed. “5” indicating the number (in this case, the case where the item of the inspection item number 5 is rejected) is stored as “I, 1, 1, 5”.

上述のように、検査で不合格となった基板3は人手により修復されるが、この修復作業を行う際に、修復する基板3に記憶されている上記不合格となった検査項目番号を読み出して参照するようにすれば、交換の必要のある回路部品を間違うことなく容易に確定することができる。なお、修復を完了した際に、修復した基板3上の記憶手段5に、修復作業で交換した回路部品を示す番号等の修復内容を記憶するようにしてもよい。   As described above, the board 3 that has failed the inspection is manually repaired, but when performing this repairing operation, the inspection item number that has been stored in the board 3 to be repaired is read out. Thus, it is possible to easily determine the circuit parts that need to be replaced without making a mistake. When the repair is completed, the storage means 5 on the repaired substrate 3 may store the repair contents such as the numbers indicating the circuit parts replaced in the repair work.

そして、修復が完了した基板3に対して再度インサーキットテストを実行し、再検査に合格した基板3の記憶手段5には、2回目のインサーキットテストで合格したことを示す、「I、2、0」が追記憶されることになる。   Then, the in-circuit test is performed again on the substrate 3 that has been repaired, and the storage means 5 of the substrate 3 that has passed the re-inspection indicates that it has passed the second in-circuit test. , 0 "is additionally stored.

ところで、上記検査に合格した基板3は、画像形成装置1の組立工程において、装置本体に搭載され、メイン基板3bと各制御基板3aとが配線ケーブル等により電気的に接続される。   By the way, in the assembly process of the image forming apparatus 1, the board 3 that has passed the above inspection is mounted on the apparatus main body, and the main board 3b and each control board 3a are electrically connected by a wiring cable or the like.

この状態で電源が投入された場合、メイン基板3b上のCPU4は、メイン基板3b上の記憶手段5に格納されている基板診断プログラムを自動的に起動する。図3は、この回路診断プログラムの処理を示すフロー図であり、以下では、この図3に基づいて基板診断プログラムの処理について説明する。   When the power is turned on in this state, the CPU 4 on the main board 3b automatically starts up the board diagnosis program stored in the storage means 5 on the main board 3b. FIG. 3 is a flowchart showing the process of the circuit diagnostic program. Hereinafter, the process of the board diagnostic program will be described with reference to FIG.

この基板診断プログラムが起動されると、CPU4は、基板診断プログラムで指定されている順番の1番目にある制御基板3aの記憶手段5にアクセスし、当該記憶手段5に記憶されている上記検査情報を読み出す(S1)。   When this board diagnostic program is activated, the CPU 4 accesses the storage means 5 of the control board 3a in the first order specified by the board diagnostic program, and the inspection information stored in the storage means 5 is accessed. Is read (S1).

そして、読み出した検査情報に基づいて、その制御基板3aが正常(制御基板3aに対して行われているべき各検査の全てに合格している)であるか否かの判定を行う(S2)。   Then, based on the read inspection information, it is determined whether or not the control board 3a is normal (passes all inspections to be performed on the control board 3a) (S2). .

正常と判定された場合には、基板診断プログラムで指定されている順番に従って次の制御基板3aの記憶手段5にアクセスし、検査情報を読み出す(S3→S1、図1に破線で示す。)。   If it is determined to be normal, the storage means 5 of the next control board 3a is accessed according to the order specified in the board diagnosis program, and the inspection information is read (S3 → S1, indicated by a broken line in FIG. 1).

画像形成装置1に搭載した全ての制御基板3aに対して上記判定を繰り返して行い、全ての制御基板3aが正常である場合には、CPU4は基板診断プログラムを終了する。   The above determination is repeated for all the control boards 3a mounted on the image forming apparatus 1, and when all the control boards 3a are normal, the CPU 4 ends the board diagnosis program.

このように、全ての制御基板が正常と判定された場合、以降の電源投入によって基板診断プログラムは起動される必要がない。このため、基板診断プログラムが正常に終了するときに、以降の電源投入で基板診断プログラムが起動されないよう設定変更するようにしている(S4)。   As described above, when all the control boards are determined to be normal, the board diagnosis program does not need to be activated by the subsequent power-on. For this reason, when the board diagnostic program ends normally, the setting is changed so that the board diagnostic program is not started by the subsequent power-on (S4).

一方、判断ステップS2において異常と判定された場合、CPU4は画像形成装置1に備えた報知手段9である表示手段(図1に示す。)に、異常と判定された制御基板3aの名称や番号等の制御基板3aを特定するための情報と、異常と判定された内容を表示することで異常を報知し(S5)、基板診断プログラムを停止する(S6)。   On the other hand, when it is determined that there is an abnormality in the determination step S2, the CPU 4 displays the name or number of the control board 3a determined to be abnormal on the display unit (shown in FIG. 1) which is the notification unit 9 provided in the image forming apparatus 1. By displaying information for specifying the control board 3a and the like and the contents determined to be abnormal, the abnormality is notified (S5), and the board diagnosis program is stopped (S6).

このように制御基板3aの異常が報知された場合、作業者は、上記表示手段で報知された内容を確認した上で電源を遮断した後、異常と判定された制御基板3aを、同種の他の制御基板に交換する。そして、電源を再投入することで、再度、上記基板診断プログラムが起動され、交換した制御基板を含めた全制御基板の異常判定を行うことができる。   In this way, when the abnormality of the control board 3a is notified, the operator checks the content notified by the display means and then shuts off the power supply. Replace the control board. Then, by turning on the power again, the board diagnostic program is started again, and it is possible to determine the abnormality of all the control boards including the replaced control board.

このようにすれば、画像形成装置の組立の段階で、未検査基板及び不合格基板の混入を確実に検知することが可能となる。このため、生産効率の低下を避けることができると共に、基板の不具合による市場事故の発生を防止することができる。   In this way, it is possible to reliably detect mixing of uninspected substrates and unacceptable substrates at the stage of assembling the image forming apparatus. For this reason, it is possible to avoid a decrease in production efficiency and to prevent occurrence of a market accident due to a substrate defect.

また、上記構成では、検査履歴を記憶する記憶手段5として、調整データを格納するために制御基板上に配置されている記憶手段5を利用しているので、基板レイアウトを変更する必要がない上、従来の装置に書込手段6を付加するだけでよいため、低コストで本構成を実現することができる。   Further, in the above configuration, since the storage means 5 arranged on the control board is used for storing the adjustment data as the storage means 5 for storing the inspection history, it is not necessary to change the board layout. Since only the writing means 6 need be added to the conventional apparatus, this configuration can be realized at low cost.

なお、上記では、表示手段により異常を報知する構成としたが、表示手段に代えて、あるいは加えて、装置に搭載した制御基板への電源の供給を遮断する電源遮断スイッチを各制御基板の電源ラインに備える構成とすれば、混入した不合格基板が原因で他の正常な制御基板や機構部が破損されることを防止することができる。   In the above description, the abnormality is notified by the display means. However, instead of or in addition to the display means, a power cut-off switch for cutting off the power supply to the control board mounted on the apparatus is provided. If it is set as the structure with which a line is provided, it can prevent that another normal control board and a mechanism part are damaged by the cause of the mixed board | substrate which rejected.

また、上記では、基板診断プログラムが正常に終了するときに、以降の電源投入で基板診断プログラムが起動されないよう設定変更するようにしているが、何らかの要因で基板交換が発生した場合に備え、基板診断プログラムを再起動する手段を備える構成としても良い。   In the above, when the board diagnosis program ends normally, the setting is changed so that the board diagnosis program will not be started when the power is turned on thereafter. It is good also as a structure provided with the means to restart a diagnostic program.

また、上記では検査履歴を記憶する記憶手段として、他の目的で制御基板に設置されている記憶手段を流用する構成としたが、全制御基板に検査履歴を記憶する専用の記憶手段を備える構成としてもよいことは勿論である。   Further, in the above description, the storage means installed on the control board is used for other purposes as the storage means for storing the inspection history, but the configuration includes a dedicated storage means for storing the inspection history on all the control boards. Of course, it is also possible.

本発明は、検査の未実施基板、不合格基板を組立工程で確実に識別できるため、生産効率を低下させないという効果を有し、画像形成装置等の検査に有用である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can reliably identify substrates that have not been inspected and substrates that have not been inspected in the assembly process, and therefore has the effect of not reducing production efficiency, and is useful for inspection of image forming apparatuses and the like.

本発明の画像形成装置の概略機能ブロック図。1 is a schematic functional block diagram of an image forming apparatus of the present invention. 本発明の検査履歴の記憶を説明する説明図。Explanatory drawing explaining the memory | storage of the test | inspection log | history of this invention. 本発明の基板診断処理を示すフロー図。The flowchart which shows the board | substrate diagnostic process of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 画像形成装置
2 機構部
3a 制御基板
3b メイン基板
4 CPU(判定手段)
5 記憶手段
6 書込手段
9 報知手段
10 基板測定装置

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Image forming apparatus 2 Mechanism part 3a Control board 3b Main board 4 CPU (determination means)
5 storage means 6 writing means 9 notifying means 10 substrate measuring apparatus

Claims (3)

回路部品が実装された複数の基板を有する画像形成装置において、
少なくとも1つの上記基板に備えた、当該基板自身の検査の履歴を記憶する不揮発性の記憶手段と、
画像形成装置の組立時に、当該装置に搭載した基板の上記記憶手段に記憶された検査履歴に基づいて、当該検査履歴に対応する基板の異常の有無を判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置。
In an image forming apparatus having a plurality of substrates on which circuit components are mounted,
Non-volatile storage means for storing the inspection history of the substrate itself, provided in at least one of the substrates;
Determining means for determining whether there is an abnormality in the substrate corresponding to the inspection history based on the inspection history stored in the storage means of the substrate mounted on the apparatus at the time of assembling the image forming apparatus;
An image forming apparatus comprising:
上記判定手段が異常ありと判定したときに、異常を報知する報知手段を備えた請求項1に記載の画像形成装置。 The image forming apparatus according to claim 1, further comprising a notifying unit that notifies the abnormality when the determining unit determines that there is an abnormality. 上記報知手段が、装置に搭載した基板への電源の供給を遮断する電源遮断手段である請求項2に記載の画像形成装置。

The image forming apparatus according to claim 2, wherein the notification unit is a power cutoff unit that cuts off power supply to a substrate mounted on the apparatus.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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