JP4621825B2 - Circuit device with CPU - Google Patents
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Description
本発明は、CPUを搭載した回路装置に関するものであって、特に、その回路装置において自己診断機能を備えたものに関する。 The present invention relates to a circuit device equipped with a CPU, and more particularly to a circuit device provided with a self-diagnosis function.
従来より、例えばカードリーダなど、CPUを搭載した回路が組み込まれた製品を市場に出荷する際には、不良品が市場に流出するのを防ぐため、予め検査が行われている。この検査では、まず、CPUを搭載した回路は、検査装置に接続され、その検査プログラムに従って、例えばカードを搬送するモータ,シャッタを開閉するアクチュエータなどの複数の外部デバイスに対し、CPUから制御信号を送信して正常に動作するか(例えば、カードが所望方向に搬送されるか、シャッタが所望タイミングで開閉されるか)否かを判断する。 Conventionally, when a product incorporating a circuit incorporating a CPU, such as a card reader, is shipped to the market, an inspection is performed in advance to prevent a defective product from flowing into the market. In this inspection, first, a circuit equipped with a CPU is connected to an inspection apparatus, and in accordance with the inspection program, for example, a control signal is sent from the CPU to a plurality of external devices such as a motor for carrying a card and an actuator for opening and closing a shutter. It is determined whether it is transmitted and operates normally (for example, whether the card is conveyed in a desired direction or whether the shutter is opened and closed at a desired timing).
このように、CPUを搭載した回路が組み込まれた製品が市場に出荷される際には、その検査プログラムに従って、各部が正常に作動するか否かが検査される。 Thus, when a product incorporating a circuit incorporating a CPU is shipped to the market, it is inspected whether each part operates normally according to the inspection program.
しかしながら、上述した従来の検査においては、CPUおよびこれとアドレスバスで接続されたROMやRAM等のCPU周辺デバイスが正常に作動することを前提としており、CPUおよびCPU周辺デバイスが正常に動作しない場合には検査プログラムが正しく動作できず検査をすることが不可能となっていた。また、CPUおよびCPU周辺デバイスの異常箇所やその原因を特定するのに時間がかかっていた。 However, in the conventional inspection described above, it is assumed that the CPU and CPU peripheral devices such as ROM and RAM connected to the CPU and the address bus normally operate, and the CPU and CPU peripheral devices do not operate normally. In this case, the inspection program cannot operate correctly and it is impossible to perform the inspection. In addition, it takes time to identify abnormal locations and causes of the CPU and the CPU peripheral devices.
すなわち、CPUおよびCPU周辺デバイスが正常に動作しない場合には、回路中の各接点にテスターを当てたりして、例えば回路中のどこか(CPUのピンを含む)に半田付け不良が生じていないか等、不具合箇所を特定するのに時間がかかっていた。また、回路配線が微細又は複雑な場合には、回路中の所望の接点にテスターを当てるのも難しく、不具合箇所を特定するのが困難であった。 That is, when the CPU and the CPU peripheral device do not operate normally, a tester is applied to each contact in the circuit, for example, there is no soldering failure anywhere in the circuit (including the CPU pin). It took a long time to identify the problem part. In addition, when the circuit wiring is fine or complicated, it is difficult to apply a tester to a desired contact in the circuit, and it is difficult to identify a defective part.
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、CPUが搭載された回路のCPUおよびCPU周辺デバイスのアドレス異常箇所を検出して、CPU周辺の異常箇所やその原因を容易に特定することが可能な自己診断機能を備えた回路装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of such a point, and an object of the present invention is to detect an abnormal position of the CPU and a peripheral device of the CPU in the circuit on which the CPU is mounted, and an abnormal position around the CPU and its cause. It is an object of the present invention to provide a circuit device having a self-diagnosis function that can easily specify the above.
以上のような課題を解決するために、本発明は、CPUから出力されるアドレスをデコードする一方で、CPUから出力されるチップセレクト信号に基づいて比較アドレスを設定し、この比較アドレスとデコードされたデコード値とを比較することを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, the present invention decodes an address output from the CPU, and sets a comparison address based on a chip select signal output from the CPU. The decoded value is compared.
より詳細には、本発明は、以下のものを提供する。 More specifically, the present invention provides the following.
(1) CPUと、前記CPUから出力されるアドレスをデコードするアドレスデコード部と、前記CPUから出力されるチップセレクト信号に基づいて比較アドレスを設定する比較アドレス設定部と、前記比較アドレスと前記アドレスデコード部の出力とが一致するか否かを比較する比較部と、前記比較アドレスと前記アドレスデコード部の出力とが一致していない旨の情報が入力されることを契機としてエラー通知を行うと共に、前記比較部で不一致とされたアドレスビットを表示するエラー通知部と、を有することを特徴とする回路装置。 (1) a CPU, an address decoding unit for decoding an address output from the CPU, a comparison address setting unit for setting a comparison address based on a chip select signal output from the CPU, the comparison address and the address a comparator for comparing whether the output of the decoding unit are matched, along with information indicating that said comparison address and an output of said address decoder unit do not match performs error notification triggered by input And an error notification unit for displaying the address bits which are not matched by the comparison unit .
本発明によれば、CPU(本明細書ではMPUを含む趣旨である)から出力されるアドレスをデコードするアドレスデコード部(例えばアドレスデコーダ)と、CPUから出力されるチップセレクト信号(例えばRAMチップセレクト信号やROMチップセレクト信号など)に基づいて比較アドレスを設定する比較アドレス設定部と、その比較アドレスとアドレスデコード部の出力とが一致するか否かを比較する比較部と、を回路装置に設けることとしたので、CPUおよびその周辺デバイスのアドレスを用いてCPUが搭載された回路の異常箇所を容易に特定することができる。 According to the present invention, an address decoding unit (for example, an address decoder) that decodes an address output from a CPU (in this specification, including an MPU), and a chip select signal (for example, a RAM chip select) output from the CPU. The circuit device includes a comparison address setting unit that sets a comparison address based on a signal, a ROM chip select signal, and the like, and a comparison unit that compares whether or not the comparison address matches the output of the address decoding unit. As a result, it is possible to easily identify the abnormal part of the circuit on which the CPU is mounted using the addresses of the CPU and its peripheral devices.
すなわち、比較アドレス設定部によって設定された比較アドレスと、アドレスデコード部からの出力とが一致していた場合には、CPUから出力されたアドレスに対応するアドレスビットは正常であることが分かる一方で、これらが一致していない場合には、CPUから出力されたアドレスに対応するアドレスビットは異常であることが分かる。 That is, when the comparison address set by the comparison address setting unit matches the output from the address decoding unit, it can be seen that the address bits corresponding to the address output from the CPU are normal. If they do not match, it can be seen that the address bits corresponding to the address output from the CPU are abnormal.
ここで、本発明は、回路検査するに当たって、CPUから出力されるアドレスをデコードしたデコード値を利用するだけでなく、CPU内で生成され、アクティブ状態にすべきチップを選択するためのチップセレクト信号に対応して設定される比較アドレスを利用するものである。チップセレクト信号は、CPUと周辺デバイス(ROMやRAM等)とを接続する1本の信号線により伝達される信頼性の高い信号であることから、CPU周辺のアドレス異常箇所を精度良く特定することができる。なお、「チップセレクト信号」とは、複数のRAMや複数のROM等をそれぞれ活性化(アクティブ状態に)するための各信号をいう。 Here, the present invention uses a chip select signal for selecting a chip to be generated in the CPU and to be activated in addition to using a decode value obtained by decoding an address output from the CPU for circuit inspection. The comparison address set corresponding to is used. Since the chip select signal is a highly reliable signal transmitted through a single signal line connecting the CPU and peripheral devices (ROM, RAM, etc.), it is possible to accurately identify an abnormal address area around the CPU. Can do. The “chip select signal” refers to each signal for activating (activating) a plurality of RAMs, a plurality of ROMs, and the like.
本発明によれば、上述した回路装置に、上述した比較アドレスとアドレスデコード部の出力とが一致していない旨の情報が入力されたとき、エラー通知を行うエラー通知部を設けることとしたので、検査者は、CPU周辺のアドレスに異常が起きたことが分かる。 According to the present invention, when the information indicating that the comparison address and the output of the address decoding unit do not match is input to the circuit device described above, the error notification unit that performs error notification is provided. The examiner knows that an abnormality has occurred in the addresses around the CPU.
(2) 前記エラー通知部は、LEDを用いてなることを特徴とする(1)記載の回路装置。 ( 2 ) The circuit device according to ( 1 ), wherein the error notification unit includes an LED.
本発明によれば、上述したエラー通知部は、LEDを用いてなることとしたので、検査者は、LEDの発光を視覚的に確認することで、CPU周辺のアドレスに異常が起きたことが分かる。 According to the present invention, since the error notification unit described above is configured by using an LED, the inspector has confirmed that an abnormality has occurred in the address around the CPU by visually confirming the light emission of the LED. I understand.
(3) 前記回路装置は、カードに対してデータの読み出し及び書き込みを行うカードリーダを駆動する駆動回路装置に内蔵されることを特徴とする(1)又は(2)記載の回路装置。 ( 3 ) The circuit device according to (1) or (2) , wherein the circuit device is built in a drive circuit device that drives a card reader that reads and writes data from and to a card.
本発明によれば、上述した回路装置は、磁気カードやICカードに対してデータの読み出しおよび書き込みを行う、カードリーダ(本明細書ではカードリーダライタを含む趣旨である)を駆動する、CPUを搭載した駆動回路装置に内蔵される自己診断回路として用いられることとしたので、カードリーダが市場に出荷される際、CPU周辺のアドレス異常により検査プログラムが正常に動作しない場合に、CPU周辺のアドレスの異常箇所を容易に特定することができる。 According to the present invention, the circuit device described above includes a CPU that drives a card reader (which includes a card reader / writer in this specification) that reads and writes data from and to a magnetic card or IC card. Because it is used as a self-diagnosis circuit built in the mounted drive circuit device, when the card reader is shipped to the market, if the inspection program does not operate normally due to an abnormal address around the CPU, the CPU peripheral address Can be easily identified.
(4) CPUを備える回路装置であって、前記CPUから出力されるチップセレクト信号に基づいて比較アドレスを設定する比較アドレス設定部と、前記比較アドレスと前記CPUから出力される実体アドレスとが一致するか否かを比較する比較部と、前記比較アドレスと前記実体アドレスとが一致していない旨の情報が入力されることを契機としてエラー通知を行うと共に、前記比較部で不一致とされたアドレスビットを表示するエラー通知部と、を含む自己検査回路を備えることを特徴とする回路装置。 (4) A circuit device including a CPU, wherein a comparison address setting unit that sets a comparison address based on a chip select signal output from the CPU, and the comparison address and an actual address output from the CPU match A comparison unit for comparing whether or not to perform an error notification triggered by input of information indicating that the comparison address and the entity address do not match, and an address that is not matched by the comparison unit A circuit device comprising a self-inspection circuit including an error notification unit for displaying a bit .
本発明によれば、CPUを備える回路装置に、CPUから出力されるチップセレクト信号に基づいて比較アドレスを設定するとともに、その比較アドレスと、CPUから出力される実体アドレスとが一致するか否かを比較する自己検査回路を設けることとしたので、CPUから出力される実体アドレスにおいて異常となったアドレスビットをダイレクトに特定することが可能となる。 According to the present invention, a comparison address is set in a circuit device including a CPU based on a chip select signal output from the CPU, and whether or not the comparison address matches an actual address output from the CPU. Since the self-inspection circuit for comparing the two is provided, it becomes possible to directly specify the address bit that is abnormal in the actual address output from the CPU.
ここで、「実体アドレス」とは、CPUから出力される実際のアドレス線の状況を表わすアドレスをいう。例えば、アドレス線が半田付け不良等により異常となった場合は、その状況を反映した異常状態のアドレスとなる。 Here, the “substance address” refers to an address representing the actual status of the address line output from the CPU. For example, when an address line becomes abnormal due to a soldering failure or the like, the address is in an abnormal state reflecting the situation.
本発明によれば、上述した回路装置に、比較アドレスと実体アドレスとが一致していない旨の情報が入力されることを契機としてエラー通知を行うエラー通知部を設けることとしたので、検査者は、CPUから出力される実体アドレスにおいて、どのアドレスビットが異常になったかを直接的かつ容易に特定することができる。 According to the present invention, the above-described circuit device is provided with the error notification unit that performs error notification when the information indicating that the comparison address does not match the actual address is input. Can directly and easily specify which address bit is abnormal in the actual address output from the CPU.
前記エラー通知部は、前記実体アドレスと前記比較アドレスとが不一致となった場合に、前記比較部で不一致とされたアドレスビットを表示する表示部を備えることを特徴とする。
Before Symbol error notification unit, when said physical block address and the comparison address is not matched, you further comprising a display unit for displaying the address bits inconsistent with the comparison unit.
本発明によれば、上述したエラー通知部に、実体アドレスと比較アドレスとが不一致となった場合に、比較部で不一致とされたアドレスビットを表示する表示部を設けることとしたので、検査者は、その表示を視認することによって、どのアドレスビットが異常になったかを直接的かつ視覚的に特定することができる。 According to the present invention, the error notification unit described above is provided with a display unit that displays the address bits that are not matched by the comparison unit when the entity address and the comparison address do not match. By visually recognizing the display, it is possible to directly and visually specify which address bit has become abnormal.
本発明に係る回路装置によれば、例えばCPU周辺回路中(CPUおよびこれとアドレスバスで接続されたROMやRAM等のCPU周辺デバイス)のアドレス(CPUのピンを含む)に半田付け不良等が生じていた場合であっても、アドレス異常箇所を容易に特定することができる According to the circuit device of the present invention, for example, there is a soldering failure or the like in an address (including a CPU pin) in a CPU peripheral circuit (CPU and a CPU peripheral device such as ROM and RAM connected to the CPU and an address bus). Even if it has occurred, it is possible to easily identify the address abnormality location
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。 The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施の形態に係る回路装置1の概要を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an outline of a
図1(a)において、回路装置1には、総合的な制御中枢となるCPU10と、CPU10のワーキングエリアとして機能するRAM11(例えばDRAMやSRAMなど)と、各種プログラムや変数などを格納するROM12(例えばフラッシュメモリやEPROM、EEPROMなど)と、CPU10から出力されるアドレスをデコードするアドレスデコーダ13と、RAMCS(RAMチップセレクト)信号やROMCS(ROMチップセレクト)信号が入力される比較アドレス設定部14と、アドレスデコーダ13の出力とチップセレクト信号に基づき設定された比較アドレスとを比較する比較部15と、比較部15による比較結果に基づきエラー通知を行うエラー通知部16と、の各要素によって構成されている。
1A, a
CPUから出力され、情報の書き込みや読み込み等の制御を行う対象(RAM11やROM12にあっては、メモリセルにおける物理的な列と行を指す場合がある)を特定するためのアドレスは、アドレスバス101を介してRAM11,ROM12,及びアドレスデコーダ13に送信される。なお、図1(a)では、アドレスバス101は1本の線になっているが、実際は、例えばn+1ビットのアドレスA0−Anから構成される。また、ここではバスとしてアドレスバス101のみを考えたが、他のバスとして、データバス等を考えてもよい。
An address output from the CPU and used to specify a target to control information writing or reading (in the case of the
CPUから出力され、アクティブ状態にすべき複数のチップ(DSPやメモリなど)のいずれかを選択するためのチップセレクト信号のうち、RAMCS信号は、RAMCS線102を介してRAM11及び比較アドレス設定部14に送信され、ROMCS信号は、ROMCS線103を介してROM12及び比較アドレス設定部14に送信される。すなわち、RAM11は、RAMCS信号がアクティブ(例えばLレベルの信号)となると、有効化されてアクティブ状態となり、読み出し及び書き込み可能な状態となる。また、ROM12は、ROMCS信号がアクティブ(例えばLレベルの信号)となると、有効化されてアクティブ状態となり、読み出し可能な状態となる。
Of the chip select signals output from the CPU and used to select one of a plurality of chips (DSP, memory, etc.) to be activated, the RAMCS signal is supplied to the
アドレスデコーダ13は、一般的にロジックICにより構成され、より具体的にはAND回路とNOT回路の組合せからなるものである。ただし、本発明はこれに限られず、例えばフリップフロップをAND回路及びNOT回路と組み合わせることによって構成することとしてもよい。このようにアドレスデコーダ13を使った場合は比較部に入力される信号を少なくできるため(アドレスデコーダの出力は、その出力に応じてROMやRAM等の周辺デバイスが特定するもので、アドレスビット毎の信号がデコードされた出力なので)、比較部の回路が簡易となり基板の省スペース化と部品コスト低減となる。
The
比較アドレス設定部14は、RAMCS信号とROMCS信号により、その内部に予め記憶された比較アドレスを選択する。ここで、比較アドレス設定部14は、例えば図1(b)に示すように、RAMCSやROMCSをデコードするデコーダ(以下、「DEC」と略す)と、RAMに対応するRAMアドレス及びROMに対応するROMアドレスをあらかじめ記憶し、DECの出力に基づいてRAMアドレス又はROMアドレスのいずれかを比較アドレスとして出力するセレクタ(以下、「SEL」と略す)と、から構成されている。なお、SELとしては、例えば2個のAND回路と、それらのAND回路の2出力を2入力とするOR回路と、を組み合わせた論理回路によって実現することができる。
The comparison
ここで、比較アドレス設定部14にあらかじめ記憶されている比較アドレス(RAMアドレスやROMアドレス)の形式は、アドレスデコーダ13の出力(デコード値)と同様の形式として、比較部15での比較を可能としている。
Here, the comparison address (RAM address or ROM address) stored in the comparison
比較部15も論理回路を組み合わせることによって実現でき、比較アドレス設定部14の出力(比較アドレス)と、アドレスデコーダ13の出力(デコード値)とが一致しない場合には、エラー通知部16にエラー通知を行うものである。なお、エラー通知部16としては、例えばLED等の発光素子を用いることができる。
The
図2は、本発明の実施の形態に係る回路装置1の情報処理の流れを示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a flow of information processing of the
図2において、まず、CPU10は、検査対象とするRAMやROM等のチップ(又はデバイス)を選択する(ステップS1)。その後、CPU10よりアドレスが出力され(ステップS2)、そのアドレスは、アドレスデコーダ13に送信される。次いで、アドレスデコーダ13において、アドレスがデコードされ(ステップS3)、そのデコード値が比較部15へ入力される(ステップS4)。
In FIG. 2, first, the
一方で、CPU10からは、チップ(ROMやRAM)を選択して活性化するチップセレクト信号が比較アドレス設定部14へ出力される(ステップS5)。次いで、比較アドレス設定部14は、CPU10からのチップセレクト信号に対応して検査対象とする比較アドレスを切り替える(ステップS6)。そして、RAM又はROMのいずれかに対応するアドレスを比較アドレスとして比較部15へ出力する(ステップS7)。
On the other hand, the
次いで、比較部15において、比較処理が行われる(ステップS8)。このとき、ステップ4において入力されたデコード値と、ステップS7において入力された比較アドレスとが一致するか否かが判断され(ステップS9)、一致する場合には、正常表示(或いは特に処理を行わない)がなされ(ステップS10)、一致しない場合には、異常表示(例えばエラー通知部16に対してエラー通知を行い、LEDを光らせるような処理)がなされる(ステップS11)。そして、他にも検査すべきチップがあるか否か、すなわち一連の処理を終了するか否かが判断され(ステップS12)、検査すべきチップが終了するまで、一連の処理がチップ(又はデバイス)ごとに順次繰り返される。
Next, a comparison process is performed in the comparison unit 15 (step S8). At this time, it is determined whether or not the decoded value input in step 4 matches the comparison address input in step S7 (step S9). If they match, normal display (or special processing is performed). If there is no coincidence (step S10), an error display (for example, a process of notifying the
以上説明したように、本発明に係る回路装置1によれば、比較アドレス設定部14によって設定された比較アドレスと、アドレスデコーダ13から出力されるデコード値とが一致していない場合には、エラー通知部16においてLEDが点灯し、CPUから出力されたアドレスに対応するアドレスビットは異常であることが分かるので、結果として、CPU10の周辺回路中(CPUおよびこれとアドレスバスで接続されたROMやRAM等のCPU周辺デバイス)のアドレス(CPUのピンを含む)に半田付け不良等が生じていた場合等の不良箇所を容易に特定することが可能になる。
As described above, according to the
このように、本実施の形態によれば、CPUを搭載した回路が組み込まれた製品を市場に出荷する際の検査において、効率的に不良品検査ができることは勿論であるが、製品を市場に出荷した後であっても、その製品に不具合が生じたときの不具合箇所を容易に特定することができる。 As described above, according to the present embodiment, it is possible to efficiently inspect a defective product in an inspection when a product incorporating a circuit incorporating a CPU is shipped to the market. Even after the shipment, it is possible to easily identify a defective part when a defect occurs in the product.
なお、アドレスデコーダ13によってデコードするアドレスは、使用するアドレスビット全てをデコードしてもよいし、或いは、回路規模が大きくなるのを防ぐため、上位アドレスのみをデコードしてもよい。また、FPGA等のプログラマブルデバイスを持つ基板においては、アドレスデコーダ13,比較アドレス設定部14,比較部15,及びエラー通知部16等は、そのFPGA内に搭載されていてもよい。
As the address decoded by the
[変形例]
上述の実施の形態では、アドレスデコーダ13を用いて、比較部15の回路の簡易化、基板の省スペース化を図ったが、このアドレスデコーダ13を省略する構成とすることもできる。次のその実施の形態を説明する。
[Modification]
In the above-described embodiment, the
アドレスデコーダ13を用いない場合は、CPU10から出力される実体アドレスと比較アドレスを比較することとなる。この場合、比較アドレスは、実体アドレスとの比較が可能な形式とし、あらかじめ比較アドレス設定部14に記憶させておく。このような構成により、CPU10から出力される実体アドレスにおいて異常となったアドレスビットを直接に特定することが可能となる。
When the
更に、エラー通知部16には、アドレスビットのビット異常箇所を表示する表示部として、7セグメントディスプレイや液晶ディスプレー等を接続してもよい。
Further, a 7-segment display, a liquid crystal display, or the like may be connected to the
上述の実施の形態における処理フローにおいて、図2において異なる点は、ステップS2でCPU10より出力されるアドレス出力(実体アドレス)とステップS7で出力される比較アドレスをステップS8で直接に比較することである。即ち、図2のステップS3及びS4が省略されることとなる。このとき比較部での比較処理により、どのアドレスビットが異常となったかの特定がビット単位で可能となる。
In the processing flow in the above-described embodiment, the difference in FIG. 2 is that the address output (substance address) output from the
本発明に係る回路装置は、CPUを搭載した回路のCPU周辺のアドレス異常箇所を容易に特定することが可能なものとして有用である。 The circuit device according to the present invention is useful as one that can easily identify an abnormal address portion around the CPU of a circuit on which the CPU is mounted.
1 回路装置
10 CPU
11 RAM
12 ROM
13 アドレスデコーダ
14 比較アドレス設定部
15 比較部
16 エラー通知部
1
11 RAM
12 ROM
13
Claims (4)
前記CPUから出力されるアドレスをデコードするアドレスデコード部と、
前記CPUから出力されるチップセレクト信号に基づいて比較アドレスを設定する比較アドレス設定部と、
前記比較アドレスと前記アドレスデコード部の出力とが一致するか否かを比較する比較部と、
前記比較アドレスと前記アドレスデコード部の出力とが一致していない旨の情報が入力されることを契機としてエラー通知を行うと共に、前記比較部で不一致とされたアドレスビットを表示するエラー通知部と、を有することを特徴とする回路装置。 CPU,
An address decoding unit for decoding an address output from the CPU;
A comparison address setting unit for setting a comparison address based on a chip select signal output from the CPU;
A comparison unit for comparing whether or not the comparison address matches the output of the address decoding unit;
An error notification unit that performs error notification triggered by input of information indicating that the comparison address and the output of the address decoding unit do not match, and displays an address bit that is not matched by the comparison unit; And a circuit device.
前記CPUから出力されるチップセレクト信号に基づいて比較アドレスを設定する比較アドレス設定部と、
前記比較アドレスと前記CPUから出力される実体アドレスとが一致するか否かを比較する比較部と、
前記比較アドレスと前記実体アドレスとが一致していない旨の情報が入力されることを契機としてエラー通知を行うと共に、前記比較部で不一致とされたアドレスビットを表示するエラー通知部と、を含む自己検査回路を備えることを特徴とする回路装置。 A circuit device comprising a CPU,
A comparison address setting unit for setting a comparison address based on a chip select signal output from the CPU;
A comparison unit for comparing whether or not the comparison address and the actual address output from the CPU match;
An error notification unit for notifying an error when information indicating that the comparison address and the entity address do not match is input, and displaying an address bit that is not matched by the comparison unit. A circuit device comprising a self-test circuit.
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JP2004272555A (en) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Seiko Epson Corp | Program runaway detecting circuit, and recorder |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071026 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090422 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090428 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090628 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100326 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100625 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100702 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100809 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131112 Year of fee payment: 3 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |