JPH10207733A - Electronic equipment - Google Patents
Electronic equipmentInfo
- Publication number
- JPH10207733A JPH10207733A JP9011280A JP1128097A JPH10207733A JP H10207733 A JPH10207733 A JP H10207733A JP 9011280 A JP9011280 A JP 9011280A JP 1128097 A JP1128097 A JP 1128097A JP H10207733 A JPH10207733 A JP H10207733A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- self
- supply voltage
- voltage
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 12
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 4
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000010485 coping Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、CPU(中央処理
装置)及びIC(集積回路)等で構成された制御部を内
蔵し、これらのCPU及びICの劣化を自動的に検出す
る機能を有した電子装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention incorporates a control unit comprising a CPU (Central Processing Unit) and an IC (Integrated Circuit) and has a function of automatically detecting deterioration of the CPU and the IC. The present invention relates to an electronic device.
【0002】[0002]
【従来の技術】最近では、例えば端末装置等に代表され
るように、大半の電子装置にCPU、LSI、及びIC
等を使用した制御部が内蔵されている。これらの電子装
置は、製造工場における出荷検査において、機能、動
作、場合によっては各種のマージン試験が行なわれた後
にユーザに出荷されるので、ユーザに着いてから動作し
ないということは殆どない。ところが、制御部に使用さ
れているIC等の中に、時間が経過するにつれて少しず
つ劣化が進行するものが混入していると、かなり長い時
間、例えば1年乃至2年経過してから急に該制御部内の
IC等の出力信号の電圧が低下するような動作不良を起
こすことがある。これは、ICの内部におけるマイグレ
ーション(結晶が成長する)の発生として知られてい
る。又、希には、ボンディングの部分の接合不良によっ
て接触抵抗が少しずつ増加し、遂に動作不良になること
もある。一般の出荷検査工程では、前記電子装置は正常
であるため、これらの動作不良を未然に発見することが
できなかった。そのため、使用するICの選別を厳重に
行うことにより、この問題を回避していた。即ち、例え
ば全てのICに対し、エージングを掛けた後にファンク
ションテストを行う。或いは、ICの抜き取り検査にお
いて、長時間の加速試験、温度及び湿度のサイクル試験
やエージング試験を行った後に該ICを分解し、内部に
マイグレーションの兆候があるか否かを電子顕微鏡でチ
ェックする等の工程が必要であった。一般の電子装置に
対してこのようなチェックを行うと多大の時間を消費す
るので、実施されないことが多い。又、場合によって
は、ICメーカーにおいて製造行程の管理の改善を積極
的に行うことにより、前記動作不良を未然に防ぐように
対策を行ってきた。2. Description of the Related Art Recently, most electronic devices, such as terminal devices, have CPUs, LSIs, and ICs.
A control unit using such as is built-in. These electronic devices are shipped to a user after performing a function, an operation, and, in some cases, various margin tests in a shipping inspection at a manufacturing factory, so that the electronic device hardly does not operate after arriving at the user. However, if some of the ICs and the like used in the control unit gradually deteriorate as time passes, a suddenly long time, for example, one or two years, elapses. An operation failure such as a decrease in the voltage of an output signal of an IC or the like in the control unit may occur. This is known as the occurrence of migration (crystal growth) inside the IC. In rare cases, the contact resistance may gradually increase due to the bonding failure at the bonding portion, and eventually the operation may fail. In a general shipping inspection process, since the electronic device is normal, these operation failures could not be found beforehand. Therefore, this problem has been avoided by strictly selecting ICs to be used. That is, for example, a function test is performed on all ICs after aging. Alternatively, in a sampling inspection of an IC, the IC is disassembled after performing a long-term acceleration test, a cycle test of temperature and humidity, and an aging test, and an electron microscope is used to check whether there is any sign of migration inside. Was required. Performing such a check on a general electronic device consumes a great deal of time, and is often not performed. In some cases, measures have been taken to prevent the above-mentioned malfunctions by proactively improving the management of the manufacturing process in IC manufacturers.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上述
べたいずれの検査においても、次のような課題(1)〜
(3)があった。 (1) ICの選別を厳重に行ったとしても、経年変化
で動作不良になるものが或る確率で発生し、動作不良を
完全に零にすることはできなかった。そのため、ICの
分野では、AQL(Acceptable Quality Level)等という
不良発生確率が定義されている。 (2) ICの出荷検査において加速試験を行って選別
する方法もあるが、これは試験時間が増大すると共に、
正常な部品までも劣化させてしまう危険性があった。 (3) 稼働中の電子装置に対してサービスマンが定期
的に電源部の出力電圧を変動させて該電子装置の動作を
確認し、ICの電源電圧の動作マージンを確認する方法
がある。ところが、最近の低価格指向のパーソナルコン
ピュータに代表されるように、電源部は出力電圧を可変
できないようになっているものが多く、この方法が取れ
ない場合もある。However, in any of the inspections described above, the following problems (1) to (1) are to be solved.
There was (3). (1) Even if ICs are strictly selected, there is a certain probability that malfunction occurs due to aging, and the malfunction cannot be completely eliminated. Therefore, in the field of IC, a defect occurrence probability such as AQL (Acceptable Quality Level) is defined. (2) There is also a method of performing an accelerated test in the IC shipping inspection for selection, but this increases the test time,
There was a risk that even normal parts would be degraded. (3) There is a method in which a serviceman periodically changes the output voltage of a power supply unit for an operating electronic device to check the operation of the electronic device, and checks the operation margin of the power supply voltage of the IC. However, as typified by recent low-priced personal computers, many power supply units cannot change the output voltage, and this method may not be adopted.
【0004】以上述べたように、いずれの方法であって
も、ICの経年変化による急激な劣化を未然に発見して
対応できるような電子装置は実現できなかったので、フ
ィールド故障実績によっては、電子装置を2重化すると
いった大掛かりな方法が採用されることもあったが、価
格面で高価になり、満足できるものではなかった。その
ため、電子装置のICの劣化に対して未然に低価格で対
応できる方法はなく、ICの突然の動作不良により、電
子装置に重大な障害を与えてしまうことがあった。[0004] As described above, none of the methods has realized an electronic device capable of detecting and responding to sudden deterioration due to aging of the IC beforehand. Although a large-scale method such as duplication of an electronic device was sometimes adopted, it was expensive in terms of price and was not satisfactory. For this reason, there is no method capable of coping with the deterioration of the IC of the electronic device at a low price beforehand, and a sudden malfunction of the IC may seriously damage the electronic device.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、電子装置において、所定の値の第1の電
源電圧を出力する電源部と、自己診断命令が非活性を示
す場合に前記第1の電源電圧を出力し、該自己診断命令
が活性を示す場合に前記第1の電源電圧を所望の量低下
させて第2の電源電圧を出力する電圧可変部と、中央処
理装置及び集積回路を有し、常軌使用状態の場合に前記
自己診断命令に非活性を示すことによって前記電圧可変
部から前記第1の電源電圧を受けて動作する機能と、点
検状態の場合に前記自己診断命令に活性を示すことによ
って前記電圧可変部から前記第2の電源電圧を受けて動
作し、該点検状態で該中央処理装置のプログラムに基づ
いて該中央処理装置及び該集積回路が正常な動作をした
か否かを確認する自己診断を行う機能とを有する制御部
と、前記自己診断の結果を表示すると共に保持する障害
発生記録手段とを、備えている。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a power supply unit for outputting a first power supply voltage having a predetermined value and a self-diagnosis instruction indicating inactivity in an electronic device. A voltage variable unit that outputs the first power supply voltage to the first power supply voltage, and when the self-diagnosis command indicates activation, reduces the first power supply voltage by a desired amount and outputs a second power supply voltage; And a function of receiving the first power supply voltage from the voltage variable unit by indicating inactivity to the self-diagnosis command in the normal use state, and the self-diagnosis command in the check state. The central processing unit and the integrated circuit operate in response to the second power supply voltage from the voltage variable unit by indicating the activation of the diagnostic instruction based on the program of the central processing unit in the inspection state. Check if you have done Yourself and a control unit having a function of performing diagnosis, the failure record means for holding and displays the results of the self-diagnosis includes.
【0006】本発明によれば、以上のように電子装置を
構成したので、常軌使用状態の場合、制御部は自己診断
命令に非活性を示すことによって電圧可変部から電源部
の第1の電源電圧が供給されて動作する。そして、例え
ば業務終了時のような常軌使用状態が終了した後に電子
装置は点検状態になり、電源がオフ状態にされる前に電
圧マージンの自己診断モードに入る。この自己診断モー
ドでは、制御部は自己診断命令に活性を示すことによっ
て電圧可変部から第2の電源電圧が供給され、中央処理
装置及び集積回路の正常な動作を確認するための自己診
断を行う。この自己診断の結果、正常であることが確認
された場合はそのまま終了する。一方、集積回路等がマ
イグレーション等のために劣化している場合、自己診断
の結果、異常であることが確認される。この場合、障害
発生記録手段によって自己診断の結果が表示されると共
に保持される。保守担当者は、この結果に基づいて劣化
している部品の交換を行い、電子装置の故障を未然に防
止する。従って、前記課題を解決できるのである。According to the present invention, since the electronic apparatus is configured as described above, in the normal track use state, the control section indicates the inactivity of the self-diagnosis command to change the voltage from the voltage variable section to the first power supply of the power supply section. It operates with the supply of voltage. Then, the electronic device enters the inspection state after the normal use condition such as at the end of work, for example, and enters a voltage margin self-diagnosis mode before the power is turned off. In the self-diagnosis mode, the control unit is supplied with the second power supply voltage from the voltage variable unit by indicating the activation of the self-diagnosis command, and performs self-diagnosis for confirming the normal operation of the central processing unit and the integrated circuit. . As a result of the self-diagnosis, if it is confirmed that the operation is normal, the process is terminated. On the other hand, if the integrated circuit or the like has deteriorated due to migration or the like, it is confirmed as a result of the self-diagnosis that it is abnormal. In this case, the self-diagnosis result is displayed and held by the fault occurrence recording means. The maintenance technician replaces the deteriorated parts based on the result, and prevents the failure of the electronic device. Therefore, the above problem can be solved.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施形態を示す
電子装置の概略の構成図である。この電子装置10は、
電源部11と、制御部12と、電圧可変部13と、障害
発生記録手段である障害発生記録部14とを備えてい
る。電圧可変部13は、制御部12に内蔵されている。
電源部11の入力側は、商用電源Aに接続されている。
この電源部11には電圧可変機能はなく、所定の値の第
1の電源電圧v11を出力する機能を有している。電源
部11の出力側は、電圧可変部13の入力側に接続され
ている。電圧可変部13は、常軌使用状態の場合に電源
部11の電源電圧v11を制御部12へ供給し、点検状
態の場合に該制御部12の指令によって該電源電圧v1
1を所望の量低下させて第2の電源電圧として制御部1
2へ供給する機能を有している。制御部12は、CPU
及びICを有し、常軌使用状態の場合に自己診断命令に
非活性を示すことによって電圧可変部13から電源電圧
v11が供給されて動作する。又、制御部12は、点検
状態の場合に前記自己診断命令に活性を示すことによっ
て電圧可変部13から前記第2の電源電圧が供給された
状態でCPUのプログラムに基づいて該CPU及びIC
の正常な動作を確認するための自己診断を行う機能を有
している。制御部12は、障害発生記録部14に接続さ
れている。障害発生記録部14は、制御部12の自己診
断の結果を表示すると共に記録して保持する機能を有し
ている。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an electronic device showing an embodiment of the present invention. This electronic device 10
It includes a power supply section 11, a control section 12, a voltage variable section 13, and a failure occurrence recording section 14 as failure occurrence recording means. The voltage variable unit 13 is built in the control unit 12.
The input side of the power supply unit 11 is connected to the commercial power supply A.
The power supply unit 11 does not have a voltage variable function, but has a function of outputting a first power supply voltage v11 having a predetermined value. The output side of the power supply unit 11 is connected to the input side of the voltage variable unit 13. The voltage variable unit 13 supplies the power supply voltage v11 of the power supply unit 11 to the control unit 12 in the normal track use state, and supplies the power supply voltage v1 according to a command of the control unit 12 in the check state.
1 is reduced by a desired amount and the control unit 1
2 is provided. The control unit 12 includes a CPU
In the case of the normal use state, the power supply voltage v11 is supplied from the voltage variable unit 13 by deactivating the self-diagnosis command in the normal use state. The control unit 12 activates the self-diagnosis command in the inspection state, so that the CPU and the IC based on the program of the CPU in a state where the second power supply voltage is supplied from the voltage variable unit 13.
Has a function of performing a self-diagnosis for confirming a normal operation of. The control unit 12 is connected to the failure occurrence recording unit 14. The failure occurrence recording unit 14 has a function of displaying, recording, and holding the result of the self-diagnosis of the control unit 12.
【0008】図2は、図1中の制御部12の一例を示す
概略の構成図である。この制御部12は、CPU12
a、ROM(Read Only Memory)12b、RAM(Rand
am Access Memory)12c、I/Oポート12d、及び
図示しないIC等を備えている。I/Oポート12dは
CPU12aの命令によって任意の入出力信号S12d
を入力又は出力し、外部回路を制御する機能を有してい
る。又、制御部12には、電圧可変部13が内蔵されて
いる。図3は、図1中の電圧可変部13の一例を示す概
略の構成図である。この電圧可変部13は、入力端子1
3aと、リレー13b,13c,13dと、出力端子1
3eと、リレードライバ13f,13g,13hと、抵
抗13i,13jとを備えている。FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an example of the control unit 12 in FIG. The control unit 12 includes a CPU 12
a, ROM (Read Only Memory) 12b, RAM (Rand
am Access Memory) 12c, an I / O port 12d, and an IC (not shown). The I / O port 12d receives an arbitrary input / output signal S12d in accordance with a command from the CPU 12a.
Has a function of controlling an external circuit by inputting or outputting the same. Further, the control unit 12 includes a voltage variable unit 13. FIG. 3 is a schematic configuration diagram illustrating an example of the voltage variable unit 13 in FIG. The voltage variable unit 13 is connected to the input terminal 1
3a, relays 13b, 13c, 13d, and output terminal 1
3e, relay drivers 13f, 13g, 13h, and resistors 13i, 13j.
【0009】電源部11から供給される電源電圧を入力
する入力端子13aは、リレー13bの接点を介して出
力端子13eに接続されている。リレー13bのコイル
は、リレードライバ13fに接続されている。リレード
ライバ13fには、図2中のI/Oポート12dの出力
信号S12dが入力されるようになっている。このリレ
ードライバ13fはトランジスタ等で構成され、出力信
号S12dに基づいてリレー13bのコイルをドライブ
する機能を有している。又、入力端子13aはリレー1
3cの接点の一方の端子に接続され、該リレー13cの
接点の他方の端子が抵抗13iを介して出力端子13e
に接続されている。リレー13cのコイルは、リレード
ライバ13gに接続されている。リレードライバ13g
には、I/Oポート12dの出力信号S12dが入力さ
れるようになっている。更に、入力端子13aはリレー
13dの接点の一方の端子に接続され、該リレー13d
の接点の他方の端子が抵抗13jを介して出力端子13
eに接続されている。リレー13dのコイルは、リレー
ドライバ13hに接続されている。リレードライバ13
hには、I/Oポート12dの出力信号S12dが入力
されるようになっている。尚、リレードライバ13g,
13hも、リレードライバ13fと同様の構成になって
いる。An input terminal 13a for inputting a power supply voltage supplied from the power supply section 11 is connected to an output terminal 13e via a contact point of a relay 13b. The coil of the relay 13b is connected to the relay driver 13f. The output signal S12d of the I / O port 12d in FIG. 2 is input to the relay driver 13f. The relay driver 13f is configured by a transistor or the like, and has a function of driving the coil of the relay 13b based on the output signal S12d. The input terminal 13a is connected to the relay 1
3c is connected to one terminal of the contact, and the other terminal of the contact of the relay 13c is connected to an output terminal 13e via a resistor 13i.
It is connected to the. The coil of the relay 13c is connected to the relay driver 13g. Relay driver 13g
Is supplied with an output signal S12d of the I / O port 12d. Further, the input terminal 13a is connected to one terminal of the contact of the relay 13d,
Is connected to the output terminal 13 via the resistor 13j.
e. The coil of the relay 13d is connected to the relay driver 13h. Relay driver 13
The output signal S12d of the I / O port 12d is input to h. In addition, the relay driver 13g,
13h has the same configuration as the relay driver 13f.
【0010】この電圧可変部13では、I/Oポート1
2dの出力信号S12dに基づいてリレードライバ13
f,13g,13hのうちのいずれか1つが動作し、接
続されているリレーがドライブされる。そして、リレー
13bの接点がオン状態の時は、電源部11の電源電圧
v11はそのまま制御部12に供給される。そして、制
御部12は、正規の電圧で動作することになる。一方、
リレー13cの接点がオン状態になると、電源電圧v1
1は抵抗13iで降下し、制御部12に供給される。そ
のため、制御部12は正規の電圧よりも低い電圧で動作
することになる。又、リレー13dの接点がオン状態に
なると、電源電圧v11は抵抗13jで降下し、制御部
12に供給される。この抵抗13jを抵抗13iよりも
大きい値に選定しておけば、制御部12はリレー13c
の接点がオン状態になった場合よりも更に低い電圧で動
作することになる。尚、抵抗によって電源電圧v11を
降下させる場合、流れる電流によって電圧可変部13の
出力電圧が多少変動するが、実際には、制御部12の電
源電圧入力端子に容量の大きい電界コンデンサ等が電源
電圧の変動緩和のために接続されているので、制御部1
2内のIC等の動作マージンの確認では特に問題になら
ない。又、通常の使用状態では、電子装置10の電源を
オン状態にした時、無条件でリレー13bのみがオン状
態になるようになっている。In the voltage variable section 13, the I / O port 1
The relay driver 13 based on the 2d output signal S12d
Any one of f, 13g, and 13h operates, and the connected relay is driven. When the contact of the relay 13b is on, the power supply voltage v11 of the power supply unit 11 is supplied to the control unit 12 as it is. Then, the control unit 12 operates at the normal voltage. on the other hand,
When the contact of the relay 13c is turned on, the power supply voltage v1
1 drops by the resistance 13i and is supplied to the control unit 12. Therefore, the control unit 12 operates at a voltage lower than the normal voltage. Further, when the contact of the relay 13d is turned on, the power supply voltage v11 drops by the resistor 13j and is supplied to the control unit 12. If the resistance 13j is set to a value larger than the resistance 13i, the controller 12
Will operate at a lower voltage than when the contact is turned on. When the power supply voltage v11 is dropped by a resistor, the output voltage of the voltage variable unit 13 fluctuates slightly depending on the flowing current. In practice, however, a large-capacity electric field capacitor or the like is connected to the power supply voltage input terminal of the control unit 12. Is connected to alleviate the fluctuation of
There is no particular problem in confirming the operation margin of the IC or the like in 2. In a normal use state, when the power supply of the electronic device 10 is turned on, only the relay 13b is unconditionally turned on.
【0011】図4は、図1中の障害発生記録部14の一
例を示す概略の構成図である。この障害発生記録部14
は、リレー14a,14bと、リレードライバ14c
と、抵抗14dと、発光ダイオード14eとを備えてい
る。リレー14aのコイルは、リレードライバ14cに
接続されている。リレードライバ14cには、図2中の
I/Oポート12dの出力信号S12dが入力されるよ
うになっている。リレー14aの接点の一方の端子は電
源電圧Vccに接続され、該リレー14aの接点の他方
の端子がリレー14bのコイルを介して0Vに接続され
ている。リレー14bの第1の接点の一方の端子は電源
電圧Vccに接続され、該リレー14bの第1の接点の
他方の端子がリレー14aの接点の他方の端子に接続さ
れている。リレー14bの第2の接点の一方の端子は電
源電圧Vccに接続され、該リレー14bの第2の接点
の他方の端子が抵抗14dを介して発光ダイオード14
eのアノードに接続されると共に、図2中のI/Oポー
ト12dに接続されている。発光ダイオード14eのカ
ソードは、0Vに接続されている。FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing an example of the failure occurrence recording section 14 in FIG. This failure occurrence recording unit 14
Are relays 14a and 14b and a relay driver 14c
, A resistor 14d, and a light emitting diode 14e. The coil of the relay 14a is connected to the relay driver 14c. The output signal S12d of the I / O port 12d in FIG. 2 is input to the relay driver 14c. One terminal of the contact of the relay 14a is connected to the power supply voltage Vcc, and the other terminal of the contact of the relay 14a is connected to 0V via the coil of the relay 14b. One terminal of a first contact of the relay 14b is connected to the power supply voltage Vcc, and the other terminal of the first contact of the relay 14b is connected to the other terminal of the contact of the relay 14a. One terminal of a second contact of the relay 14b is connected to the power supply voltage Vcc, and the other terminal of the second contact of the relay 14b is connected to the light emitting diode 14 via a resistor 14d.
e, and to the I / O port 12d in FIG. The cathode of the light emitting diode 14e is connected to 0V.
【0012】この障害発生記録部14では、I/Oポー
ト12dの出力信号S12dに基づいてリレードライバ
14cが動作し、リレー14aがドライブされる。リレ
ー14aの接点がオン状態になるとリレー14bがオン
状態になり、リレー14bの第1及び第2の接点がオン
状態になる。そのため、リレー14bのオン状態が保持
されると共に、発光ダイオード14eが発光する。同時
に、発光ダイオード14eが発光したことを示す出力信
号S12dが、I/Oポート12dに送出される。次
に、図1の動作を説明する。電子装置10は、通常の使
用状態では電圧可変部13から電源部11の電源電圧v
11が供給されて動作する。そして、例えば毎日の業務
終了時のような通常の使用状態が終了した後、電子装置
10は電源がオフ状態にされる前に電圧マージンの自己
診断モードに入る。このモードでは、I/Oポート12
dから、電源電圧v11を低下させる自己診断命令が出
力される。この場合、例えばリレー13cがオン状態に
なり、制御部12に供給される電源電圧は出力電圧v1
1よりも低下したものになる。その後、CPU12aの
プログラムに基づき、制御部12内のROM12bのハ
ッシュトータルチェックやRAM12cのリード/ライ
トコンペア試験等の自己診断を行い、正常であることが
確認された場合はそのまま終了し、電源が自動的にオフ
状態になる。In the fault occurrence recording unit 14, the relay driver 14c operates based on the output signal S12d of the I / O port 12d, and the relay 14a is driven. When the contact of the relay 14a is turned on, the relay 14b is turned on, and the first and second contacts of the relay 14b are turned on. Therefore, the ON state of the relay 14b is maintained, and the light emitting diode 14e emits light. At the same time, an output signal S12d indicating that the light emitting diode 14e has emitted light is sent to the I / O port 12d. Next, the operation of FIG. 1 will be described. In the normal use state, the electronic device 10 transmits the power supply voltage v of the power supply unit 11 from the voltage variable unit 13.
11 is supplied to operate. Then, after a normal use state such as at the end of daily work is completed, the electronic device 10 enters a voltage margin self-diagnosis mode before the power is turned off. In this mode, the I / O port 12
From d, a self-diagnosis command for lowering the power supply voltage v11 is output. In this case, for example, the relay 13c is turned on, and the power supply voltage supplied to the control unit 12 is the output voltage v1.
It will be lower than 1. After that, based on the program of the CPU 12a, self-diagnosis such as a hash total check of the ROM 12b in the control unit 12 and a read / write compare test of the RAM 12c is performed. Is turned off.
【0013】一方、制御部12に供給される電源電圧が
低下した時に自己診断エラーが発生した場合、CPU1
2aの命令によってリレー14aがオン状態になる。す
ると、リレー14bがオン状態に保持され、発光ダイオ
ード14eが発光して電源電圧の低下によって自己診断
エラーが発生したことが表示される。その後、リレー1
3bをオン状態にし、かつリレー13cをオフ状態に戻
すことにより、制御部12に供給される電源電圧が正規
の電圧(即ち、電源部11の出力電圧v11)に復帰す
る。この時、CPU12aは、発光ダイオード14eが
発光した情報をI/Oポート12dから読み出すことに
より、知ることができる。その結果、CPU12aは、
オペレータに対してアラーム音やメッセージ等により、
制御部12内のIC等の動作マージンが低下しているこ
とを知らせることができる。この後、オペレータは、近
日中に制御部12の故障を予防するための保全交換依頼
を行う。又、電子装置10の出荷検査において、自己診
断モードによる試験を実施する場合、簡単な操作で出荷
時の評価が行うことができる。この時、不良になってい
るIC等が容易に検出される。そのため、出荷検査時間
が大幅に削減されると共に、出荷検査済みの電子装置の
品質も向上する。On the other hand, if a self-diagnosis error occurs when the power supply voltage supplied to the control
The command of 2a turns on the relay 14a. Then, the relay 14b is held in the ON state, the light emitting diode 14e emits light, and it is displayed that a self-diagnosis error has occurred due to a decrease in the power supply voltage. Then relay 1
By turning on the 3b and turning off the relay 13c, the power supply voltage supplied to the control unit 12 returns to the normal voltage (that is, the output voltage v11 of the power supply unit 11). At this time, the CPU 12a can know the information emitted by the light emitting diode 14e by reading the information from the I / O port 12d. As a result, the CPU 12a
Alarm sounds and messages to the operator
It is possible to notify that the operation margin of the IC or the like in the control unit 12 is lowered. Thereafter, the operator will request a maintenance replacement in order to prevent a failure of the control unit 12 in the near future. In addition, when performing a test in the self-diagnosis mode in the shipment inspection of the electronic device 10, the evaluation at the time of shipment can be performed by a simple operation. At this time, a defective IC or the like is easily detected. Therefore, the shipping inspection time is greatly reduced, and the quality of the shipping-tested electronic device is also improved.
【0014】以上のように、本実施形態では、業務終了
時のような通常の使用状態が終了した後、制御部12に
供給される電源電圧を低下させてチェックできるので、
突然のシステムダウンになる前に制御部12内のIC等
のマイグレーション等による劣化を検出できる。そのた
め、システムダウンに対して未然に対策を取ることがで
き、電子装置の稼働率及び信頼性が向上する。更に、電
源部11は出力電圧v11が固定の一般的な低価格のも
のを採用できるので、出力電圧を可変できるような特殊
な電源は不要である。その上、業務終了のタイミングで
試験を実施するので、業務に対する影響が殆ど無い。
又、メンテナンス時のマージンテストが全く不要になる
ので、メンテナンスの工数を低減できる。又、定格電圧
では辛うじて正常に動作しているような不安定な状態で
あっても、電圧を可変することによってエラーを検出で
きるので、制御部の交換等の対処ができ、被害を最小限
にくいとめることができる。As described above, in the present embodiment, after the normal use state such as the end of the work is completed, the power supply voltage supplied to the control unit 12 can be reduced and checked.
Before the system suddenly goes down, it is possible to detect the deterioration of the IC or the like in the control unit 12 due to migration or the like. Therefore, it is possible to take a measure against a system down beforehand, and the operation rate and reliability of the electronic device are improved. Further, since the power supply unit 11 can adopt a general low-priced power supply having a fixed output voltage v11, a special power supply capable of changing the output voltage is not required. In addition, since the test is performed at the end of the operation, there is almost no effect on the operation.
In addition, since no margin test is required at the time of maintenance, the number of maintenance steps can be reduced. In addition, even in an unstable state where the power supply is operating normally at the rated voltage, an error can be detected by changing the voltage. I can stop it.
【0015】尚、本発明は上記実施形態に限定されず、
種々の変形が可能である。その変形例としては、例えば
次のようなものがある。 (a) 電圧可変部13の構成は、電源部11の出力電
圧v11を可変できるものであれば他の構成でも良い。 (b) 障害発生記録部14の構成は、同様の機能を有
するものであれば他の構成でも良い。The present invention is not limited to the above embodiment,
Various modifications are possible. For example, there are the following modifications. (A) The configuration of the voltage variable unit 13 may be another configuration as long as the output voltage v11 of the power supply unit 11 can be varied. (B) The configuration of the failure occurrence recording unit 14 may be another configuration as long as it has the same function.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、電子装置の制御部において、業務終了等の通常の
使用状態が終了した時点で電源部の出力電圧を制御部に
よって変動させ、自己の診断プログラムに基づいて内部
のIC等の電圧マージン試験を自動的に実行し、その結
果を障害発生記録部に保持するようにしたので、制御部
を構成しているIC等の経年変化による劣化を未然に検
出でき、電子装置の信頼性を向上させることができる。As described above in detail, according to the present invention, in the control unit of the electronic device, the output voltage of the power supply unit is changed by the control unit when the normal use state such as the end of work is completed. Since the voltage margin test of the internal IC and the like is automatically executed based on the self-diagnosis program and the result is stored in the failure occurrence recording unit, the aging of the IC and the like constituting the control unit is changed. Degradation can be detected beforehand, and the reliability of the electronic device can be improved.
【図1】本発明の実施形態の電子装置の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an electronic device according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1中の制御部の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of a control unit in FIG. 1;
【図3】図1中の電圧可変部の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of a voltage variable unit in FIG. 1;
【図4】図1中の障害発生記録部の構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a failure occurrence recording unit in FIG. 1;
10 電子装置 11 電源部 12 制御部 13 電圧可変部 14 障害発生記録部(障害
発生記録手段)Reference Signs List 10 electronic device 11 power supply unit 12 control unit 13 voltage variable unit 14 failure occurrence recording unit (failure occurrence recording means)
Claims (1)
源部と、 自己診断命令が非活性を示す場合に前記第1の電源電圧
を出力し、該自己診断命令が活性を示す場合に前記第1
の電源電圧を所望の量低下させて第2の電源電圧を出力
する電圧可変部と、 中央処理装置及び集積回路を有し、常軌使用状態の場合
に前記自己診断命令に非活性を示すことによって前記電
圧可変部から前記第1の電源電圧を受けて動作する機能
と、点検状態の場合に前記自己診断命令に活性を示すこ
とによって前記電圧可変部から前記第2の電源電圧を受
けて動作し、該点検状態で該中央処理装置のプログラム
に基づいて該中央処理装置及び該集積回路が正常な動作
をしたか否かを確認する自己診断を行う機能とを有する
制御部と、 前記自己診断の結果を表示すると共に保持する障害発生
記録手段とを、 備えたことを特徴とする電子装置。1. A power supply unit for outputting a first power supply voltage having a predetermined value, and outputting the first power supply voltage when a self-diagnosis instruction indicates inactivity, and when the self-diagnosis instruction indicates activation. The first
A voltage variable unit for lowering the power supply voltage by a desired amount to output a second power supply voltage, a central processing unit and an integrated circuit, and by deactivating the self-diagnosis command in a normal use state, A function that operates by receiving the first power supply voltage from the voltage variable unit, and operates by receiving the second power supply voltage from the voltage variable unit by indicating activation in the self-diagnosis command in the case of an inspection state. A control unit having a function of performing a self-diagnosis in the inspection state based on a program of the central processing unit based on a program of the central processing unit and whether or not the integrated circuit operates normally; An electronic device, comprising: a failure occurrence recording unit that displays and holds a result.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9011280A JPH10207733A (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Electronic equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9011280A JPH10207733A (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Electronic equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10207733A true JPH10207733A (en) | 1998-08-07 |
Family
ID=11773591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9011280A Withdrawn JPH10207733A (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Electronic equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10207733A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7345501B2 (en) | 2004-07-23 | 2008-03-18 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure |
KR100899582B1 (en) * | 2006-09-27 | 2009-05-27 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | Information processing apparatus, control apparatus therefor, control method therefor and control program |
-
1997
- 1997-01-24 JP JP9011280A patent/JPH10207733A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7345501B2 (en) | 2004-07-23 | 2008-03-18 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure |
KR100899582B1 (en) * | 2006-09-27 | 2009-05-27 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | Information processing apparatus, control apparatus therefor, control method therefor and control program |
US7716526B2 (en) | 2006-09-27 | 2010-05-11 | Fujitsu Limited | Information processing apparatus, control apparatus therefor, and control method therefor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR0158132B1 (en) | Self-diagnosing system and method for engine electronic controller | |
JP3063708B2 (en) | Non-stop power supply system, backup target device used therefor, and recording medium recording program for operating computer as backup target device | |
US20070094487A1 (en) | Automatic resetting system and method | |
JPH10207733A (en) | Electronic equipment | |
US6363493B1 (en) | Method and apparatus for automatically reintegrating a module into a computer system | |
KR100406331B1 (en) | Integrated semiconductor circuit and method for operation of the same | |
JPH1091538A (en) | Method and device for detecting life of backup battery | |
CN110778514B (en) | Fan control system | |
JP2002002419A (en) | Electronic control unit for vehicle | |
JP3664466B2 (en) | Memory check test execution method and storage medium | |
JP2003228419A (en) | Detection method for failed part | |
CN113393891B (en) | Detection method and device of nonvolatile memory and electric automobile | |
KR100501277B1 (en) | Method of erasing a failed code of electronic control unit for vehicle | |
JP3371382B2 (en) | Electronics | |
JP2010080094A (en) | Relay inspection device | |
KR100347227B1 (en) | Method of supplying process gas for manufacturing semiconductor | |
JPH06186281A (en) | Reliability evaluating board and burn-in device | |
JPH0797438B2 (en) | Centralized gas meter reading device | |
JP3284738B2 (en) | Printing equipment | |
JPH03260576A (en) | Controller for refrigerator | |
JP2002062928A (en) | Method and device for detecting abnormal state | |
KR100197621B1 (en) | Apparatus and method for checking the disorder of electronic device | |
JP2024077290A (en) | Measuring device | |
KR20010044350A (en) | Integrated circuit burn-in test apparatus having connection fail check mode, probing board and method for checking connection fail | |
JPH03282270A (en) | Apparatus for testing semiconductor integrated circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040406 |