JP2005099339A - 感光性樹脂組成物及びそれを用いた感光性樹脂積層体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 (a)カルボキシル基含有量が酸当量で100以上600以下であり、かつ、重量平均分子量が2万以上50万以下の線状重合体からなるバインダー用樹脂、(b)分岐型アルキル基と、少なくともエチレングリコール鎖を含有する光重合可能な不飽和化合物、及び(c)光重合開始剤を含む感光性樹脂組成物を作製し、その感光性樹脂組成物を用いて、プリント配線板、リードフレーム、半導体パッケージ等を製造する。
【選択図】 選択図なし
Description
DFRは、一般に支持層上に感光性樹脂組成物を積層し、多くの場合、さらに感光性樹脂組成物上に保護層を積層することにより作製される。ここで用いられる感光性樹脂組成物としては、現在、現像液として弱アルカリ水溶液を用いるアルカリ現像型が一般的である。
DFRを用いてプリント配線板を作製するには、まず保護層を剥離した後、銅張積層板等の永久回路作製用基板上に、ラミネーター等を用いて、DFRを積層し、配線パターンマスクフィルム等を通し露光を行う。次に、必要に応じて支持層を剥離し、現像液により未露光部分の感光性樹脂組成物を溶解、もしくは分散除去して現像し、基板上に硬化レジストパターンを形成させる。
特に最近は工程の簡便さから、貫通孔(スルーホール)を硬化膜で覆い、その後エッチングするいわゆるテンティング法が多用されている。エッチング工程には、塩化第二銅、塩化第二鉄、銅アンモニア錯体溶液等が用いられる。
近年のプリント配線板微細化に伴い、用いるDFRには、高解像性が要求されている。また、大きな基板では面内において現像時間にバラツキが生じるため、オーバー現像時の高密着性も必要とされる。
エッチング工程では、硬化膜の密着性とエッチング液に対する耐性が必要であり、さらにテンティング法では、スルーホールを覆う硬化膜が強靭で、膜破れがないこと、即ち良好なテンティング性が要求される。
当技術分野において、エチレングリコール鎖又はプロピレングリコール鎖を含む光重合性モノマーを用いた感光性樹脂組成物(例えば、特許文献1又は特許文献2参照)が知られているが、前述した解像度、密着性、現像液中での分散安定性、テンティング性、めっき性などの要望には十分に応えられていないのが現状である。
1) (a)カルボキシル基含有量が酸当量で100以上600以下、重量平均分子量が2万以上50万以下の線状重合体を含むバインダー用樹脂:20質量%以上90質量%以下、(b)下記一般式(I)で表される光重合可能な不飽和化合物:3質量%以上70質量%以下、ならびに(c)光重合開始剤:0.1質量%以上20質量%以下、を含有する感光性樹脂組成物。
5) 4)記載の感光性樹脂積層体を用いて、基板上に感光性樹脂層を形成し、露光し、現像する事を特徴とするレジストパターンの形成方法。
6) 5)記載の方法によりレジストパターンを形成し、次いで基板をエッチングまたはめっきし、レジストパターンを除去することを特徴とする導体パターンの製造方法。
本発明に用いられる(a)バインダー用樹脂を構成する線状重合体に含まれるカルボキシル基の量は、酸当量で100以上600以下であり、好ましくは300以上400以下である。酸当量とは、その中に1当量のカルボキシル基を有する線状重合体の質量を言う。
線状重合体中のカルボキシル基は、感光性樹脂層にアルカリ水溶液に対する現像性や剥離性を与えるために必要である。現像耐性が向上し、解像度及び密着性が向上する点から100以上であり、現像性及び剥離性が向上する点から600以下である。
なお、酸当量の測定は、平沼産業(株)製平沼自動滴定装置(COM−555)を使用し、0.1mol/Lの水酸化ナトリウムを用いて電位差滴定法により行われる。
分子量は、日本分光(株)製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)(ポンプ:Gulliver、PU−1580型、カラム:昭和電工(株)製Shodex(登録商標)(KF−807、KF−806M、KF−806M、KF−802.5)4本直列、移動層溶媒:テトラヒドロフラン、ポリスチレン標準サンプルによる検量線使用)により重量平均分子量(ポリスチレン換算)として求められる。
第一の単量体は、分子中に重合性不飽和基を一個有するカルボン酸又は酸無水物である。例えば、(メタ)アクリル酸、フマル酸、ケイ皮酸、クロトン酸、イタコン酸、マレイン酸無水物、マレイン酸半エステル等が挙げられる。
第二の単量体は、非酸性で、分子中に重合性不飽和基を一個有し、感光性樹脂層の現像性、エッチング性及びめっき工程での耐性、硬化膜の可とう性等の種々の特性を保持するように選ばれる。このようなものとしては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート等のアルキル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロニトリル等が挙げられる。また、高解像度の点でフェニル基を有するビニル化合物(例えば、スチレン)を用いることは本発明の好ましい実施態様である。
本発明に用いられる(a)バインダー用樹脂の感光性樹脂組成物全体に対する割合は、20質量%以上90質量%以下であり、30質量%以上70質量%以下がより好ましい。テンティング膜強度が向上し、エッジフューズが抑制される点から20質量%以上であり、現像性やめっき性が向上する点から90質量%以下である。
(b)光重合可能な不飽和化合物の、感光性樹脂組成物全体に対する割合は、3質量%以上70質量%以下が好ましい。感度が向上する点から3質量%以上であり、エッジフューズが抑制される点から70質量%以下である。好ましくは3質量%以上50質量%以下、より好ましくは3質量%以上30質量%以下である。
2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体には、例えば、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ビス−(m−メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等があるが、特に、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体が解像度、密着性の観点から好ましい。
また、上記で示された化合物以外に、他の光重合開始剤との併用も可能である。ここでの光重合開始剤とは、各種の活性光線、例えば、紫外線等により活性化され、重合を開始する化合物である。
また、例えば、チオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン等のチオキサントン類と、ジメチルアミノ安息香酸アルキルエステル化合物等の三級アミン化合物との組み合わせもある。
また、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−o−ベンゾイルオキシム、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム等のオキシムエステル類等がある。
本発明の感光性樹脂組成物には、染料、顔料等の着色物質を含有させることもできる。用いられる着色物質としては、例えば、フクシン、フタロシアニングリーン、オーラミン塩基、カルコキシドグリーンS、パラマジエンタ、クリスタルバイオレット、メチルオレンジ、ナイルブルー2B、ビクトリアブルー、マラカイトグリーン、(保土ヶ谷化学(株)製 アイゼン(登録商標) MALACHITE GREEN)、ベイシックブルー20、ダイアモンドグリーン(保土ヶ谷化学(株)製 アイゼン(登録商標) DIAMOND GREEN GH)等が挙げられる。
ロイコ染料としては、例えば、トリス(4−ジメチルアミノ−2−メチルフェニル)メタン[ロイコクリスタルバイオレット]、トリス(4−ジメチルアミノ−2−メチルフェニル)メタン[ロイコマラカイトグリーン]等が挙げられる。
ハロゲン化合物としては、臭化アミル、臭化イソアミル、臭化イソブチレン、臭化エチレン、臭化ジフェニルメチル、臭化ベンザル、臭化メチレン、トリブロモメチルフェニルスルフォン、四臭化炭素、トリス(2,3−ジブロモプロピル)ホスフェート、トリクロロアセトアミド、ヨウ化アミル、ヨウ化イソブチル、1,1,1−トリクロロ−2,2−ビス(p−クロロフェニル)エタン、ヘキサクロロエタン、トリアジン化合物等が挙げられる。
トリアジン化合物としては、2,4,6−トリス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2−(4−メトキシフェニル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジンが挙げられる。
本発明の感光性樹脂組成物の熱安定性、保存安定性を向上させるために、感光性樹脂組成物にラジカル重合禁止剤を含有させることは好ましいことである。
このようなラジカル重合禁止剤としては、例えば、p−メトキシフェノール、ハイドロキノン、ピロガロール、ナフチルアミン、tert−ブチルカテコール、塩化第一銅、2,6−ジ−tert−ブチル−p−クレゾール、2,2′−メチレンビス(4−エチル−6−tert−ブチルフェノール)、2,2′−メチレンビス(4−メチル−6−tert−ブチルフェノール)、ジフェニルニトロソアミン等が挙げられる。
DFR用の感光性樹脂積層体とする場合には、上記感光性樹脂組成物を支持層上に塗工する。ここで用いられる支持層としては、活性光を透過する透明なものが望ましい。活性光を透過する支持層としては、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリビニルアルコールフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、塩化ビニリデン共重合体フィルム、ポリメタクリル酸メチル共重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリアクリロニトリルフィルム、スチレン共重合体フィルム、ポリアミドフィルム、セルロース誘導体フィルム等が挙げられる。これらのフィルムとしては、必要に応じて延伸されたものも使用可能である。
感光性樹脂積層体において、支持層面とは反対側の感光性樹脂層表面に、必要に応じて保護層を積層する。支持層よりも保護層の方が感光性樹脂層との密着力が十分小さく、容易に剥離できることがこの保護層としての重要な特性である。このような保護層としては、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム等が挙げられる。
感光性樹脂層の厚みは、用途において異なるが、プリント配線板作製用には5μm以上100μm以下、好ましくは5μm以上50μm以下であり、感光性樹脂層が薄いほど解像力は向上する。また、感光性樹脂層が厚いほど膜強度が向上する。
保護層がある場合は、まず保護層を剥離した後、感光性樹脂層を基板、つまり、プリント配線板用基板の金属表面に加熱圧着し積層する。この時の加熱温度は、一般的に、40℃以上160℃以下である。
次に、必要ならば支持層を剥離し、マスクフィルムを通して活性光により画像露光する。
次いで、感光性樹脂上に支持層がある場合には、必要に応じてこれを除き、続いてアルカリ水溶液を用いて感光性樹脂層の未露光部を現像除去する。アルカリ水溶液としては、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム等の水溶液を用いる。これらのアルカリ水溶液は感光性樹脂層の特性に合わせて選択されるが、一般的に0.4質量%以上3質量%以下の炭酸ナトリウム水溶液が用いられる。
その後、一般的に現像で用いたアルカリ水溶液よりも更に強いアルカリ性の水溶液により硬化レジストパターンを剥離する。剥離用のアルカリ水溶液についても特に制限はないが、1質量%以上5質量%以下の水酸化ナトリウム、水酸化カリウムの水溶液が一般的に用いられる。セミアディティブ工法等めっき工程を設けた場合には、レジストパターンを剥離後に、レジストパターンの下に現れた銅面をエッチングする場合もある。
また、上記プリント配線板の作製方法と同様に、本発明のレジストパターンの形成方法を用いてリードフレーム、半導体パッケージ等を製造することもできる。
(実施例1〜3、比較例1〜3)
<感光性樹脂組成物>
実施例及び比較例において用いた感光性樹脂組成物の組成を後記する表1に示す。なお、表1における略号(P−1〜D−2)で表わした感光性樹脂組成物中の成分の材料を表2、表3に示す。
以下に、実施例及び比較例の評価用サンプルの作製方法並びに得られたサンプルについての評価方法及び評価結果について示す。
・ 評価用サンプルの作製
実施例及び比較例における感光性樹脂積層体は次の様にして作製した。
<感光性樹脂積層体の作製>
表1に示す組成の感光性樹脂組成物をよく攪拌、混合し、支持層として19μm厚のポリエチレンテレフタレートフィルムの表面にバーコーターを用いて均一に塗布し、95℃の乾燥機中で4分間乾燥して感光性樹脂層を形成した。感光性樹脂層の厚みは40μmであった。
次いで、感光性樹脂層のポリエチレンテレフタレートフィルムを積層していない表面上に、保護層として23μm厚のポリエチレンフィルムを張り合わせて感光性樹脂積層体を得た。
解像度性及び密着性評価用基板は、35μm圧延銅箔を積層した1.6mm厚の銅張積層板を用い、表面を湿式バフロール研磨(スリーエム(株)製、スコッチブライト(登録商標)HD#600、2回通し)した。
テンティング性評価用基板は、35μm圧延銅箔を両面に積層した1.6mm厚の銅張積層板に直径6mmのスルーホールが多数開いているものを用い、上記の湿式バフロール研磨を両面に施した。
めっき性評価用基板は、35μm圧延銅箔を積層した1.6mm厚の銅張積層板表面を湿式バフロール研磨(スリーエム(株)製、スコッチブライト(登録商標)HD#600、2回通し)した後、(A)スプレー圧0.20MPaでジェットスクラブ研磨(日本カーリット(株)製、サクランダムR(登録商標)#220)したものを用意した。
<ラミネート>
感光性樹脂積層体のポリエチレンフィルムを剥がしながら、整面して60℃に予熱した銅張積層板にホットロールラミネーター(旭化成(株)社製、AL−70)により、ロール温度105℃でラミネートした。エアー圧力は0.35MPaとし、ラミネート速度は1.5m/minとした。テンティング性評価用基板については、基板の両面にラミネートを行った。
感光性樹脂層に評価に必要なマスクフィルムを支持層であるポリエチレンテレフタレートフィルム上におき、超高圧水銀ランプ(オーク製作所製、HMW−201KB)により80mJ/cm2の露光量で露光した。
<現像>
ポリエチレンテレフタレートフィルムを剥離した後、30℃の1質量%Na2CO3水溶液を所定時間スプレーし、感光性樹脂層の未露光部分を溶解除去した。この際、未露光部分の感光性樹脂層が完全に溶解するのに要する最も少ない時間を最小現像時間とした。
<めっき前処理>
現像後の耐めっき性評価基板を、酸性脱脂FRX(10%水溶液、アトテックジャパン(株)製)浴に、40℃で4分浸せきした。水洗後、APS水溶液(過硫酸アンモニウム水溶液、濃度200g/L)に、室温下1分間浸漬した。更に水洗後10%硫酸水溶液に室温下2分浸せきした。
<硫酸銅めっき>
めっき前処理後の耐めっき性評価基板を、硫酸銅コンク(メルテックス(株)製)を19wt%硫酸で3.6倍に希釈しためっき液中で1.7A/dm2の電流密度で室温下30分間めっきを行った。
<はんだめっき>
硫酸銅めっき済みの耐めっき性評価基板を、半田めっき液(錫/鉛=6/4重量比、メルテックス(株)製)で1.0A/dm2の電流密度で室温下8分間浸せきし、半田めっきを行った。
(1)感度評価
ラミネート後15分経過した感度評価用基板を、透明から黒色に21段階に明度が変化しているストーファー製21段ステップタブレットを用いて露光した。露光後、最小現像時間の1.5倍の現像時間で現像し、レジスト膜が完全に残存しているステップタブレット段数が8である露光量により、次の様にランク分けした。
◎:露光量が80mJ/cm2以下。
○:露光量が80mJ/cm2を超え、100mJ/cm2以下。
△:露光量が100mJ/cm2を超え、120mJ/cm2以下。
×:露光量が120mJ/cm2を超える。
ラミネート後15分経過した解像度評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:1の比率のラインパターンマスクを通して露光した。最小現像時間の1.5倍の現像時間で現像し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小マスク幅を解像度の値とした。
◎:解像度の値が40μm以下。
○:解像度の値が40μmを超え、50μm以下。
△:解像度の値が50μmを超える。
ラミネート後15分経過した密着性評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:100の比率のラインパターンマスクを通して露光した。最小現像時間の1.5倍の現像時間で現像し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小マスク幅を密着性の値とした。
◎:密着性の値が30μm以下。
○:密着性の値が30μmを超え、40μm以下。
△:密着性の値が40μmを超える。
ラミネート後15分経過した密着性評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:100の比率のラインパターンマスクを通して露光した。最小現像時間の3倍の現像時間で現像し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小マスク幅を密着性の値とした。
◎:密着性の値が45μm以下。
○:密着性の値が45μmを超え、55μm以下。
△:密着性の値が55μmを超える。
ラミネート後15分経過したテンティング性評価用基板の両面に全面露光を施した。最小現像時間の3倍の現像時間で現像し、破れを生じることなく残っているスルーホールの数(x)を測定した。全スルーホール数(y)に対するxの割合をテント膜保持率(x/y)として百分率で算出した。このテント膜保持率により下記のようにテンティング性をランク分けした。
テント膜保持率が100%:◎
テント膜保持率が90%以上100%未満:○
テント膜保持率が90%未満:△
ラミネート後15分経過した耐めっき性評価用基板に、ライン/スペースが75μm/75μmの回路パターンが描画されたマスクフィルムを通して露光した。最小現像時間の1.5倍の現像時間で現像した後、硫酸銅めっき及び半田めっきを行い、さらに硬化レジストを剥離した。レジスト剥離後の硫酸銅めっきラインを光学顕微鏡で観察し、耐めっき性を以下のようにランク付けした。
○:硫酸銅めっき及び半田めっきのもぐりがなく良好なめっきラインを形成している。
△:硫酸銅めっき及び半田めっきのもぐり幅がライン片側で5μm未満である。
×:硫酸銅めっき及び半田めっきのもぐり幅がライン片側で5μm以上ある。
××:完全に硫酸銅めっき及び半田めっきのもぐりが起こり、ラインが形成されない。
30℃の1質量%Na2CO3水溶液に、0.75m2/Lの未露光の感光性樹脂層を溶解させ、溶液200mLを0.2MPaの圧力でスプレーしながら、溶液循環を3時間行った。その後、槽内の凝集物(スカム)発生の状態を目視で判定し、下記のようにランク付けした。
○:液面に浮遊物がなく、溶液を除去後の槽底にも全く凝集物(スカム)の発生がない。
△:液面や槽底に、ごくわずかに固形状の凝集物(スカム)発生が認められる。
×:液面や槽底に、多量の固形状の凝集物(スカム)発生が認められる。
実施例及び比較例の評価結果を表1に示す。
Claims (6)
- 支持層上に請求項1、2又は3記載の感光性樹脂組成物からなる層を設けた感光性樹脂積層体。
- 請求項4記載の感光性樹脂積層体を用いて、基板上に感光性樹脂層を形成し、露光し、現像する事を特徴とするレジストパターンの形成方法。
- 請求項5記載の方法によりレジストパターンを形成し、次いで基板をエッチングまたはめっきし、レジストパターンを除去することを特徴とする導体パターンの製造方法。
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