JP2005098785A

JP2005098785A - Method and system for detecting short circuiting for multipole terminal

Info

Publication number: JP2005098785A
Application number: JP2003331532A
Authority: JP
Inventors: Takashi Osawa; 高志大澤
Original assignee: Toyota Motor Corp
Current assignee: Toyota Motor Corp
Priority date: 2003-09-24
Filing date: 2003-09-24
Publication date: 2005-04-14
Anticipated expiration: 2023-09-24
Also published as: JP4810058B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of detecting a short circuiting, capable of detecting the short circuit in a short time, and a system for the same. <P>SOLUTION: Voltage-impressed terminals and voltage unimpressed terminals of the multipole terminals are determined by obtaining the specific voltage impressed pattern, and the voltage nonimpressed terminals are short-circuited, grounded and made to keep the voltage at almost a constant level. The voltage impressed terminals are impressed with the voltage, the voltage of the voltage unimpressed terminals is measured, and the measured voltage is compared with the prescribed threshold. This process is repeated by the number of patterns of the voltage-impressed patterns determined by the voltage impressed pattern group, based on the terminal arrangement of the multipole terminals. The patterns of the voltage-impressed pattern group are determined so as to detect all short circuits constituting the multipole terminals with the minimum number of patterns by impressing and measuring voltages for each pattern. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、多極端子間のショートを検出する多極端子の高速ショート検出方法及びそのための検出システムに関する。 The present invention relates to a multi-pole terminal high-speed short detection method for detecting a short-circuit between multi-pole terminals and a detection system therefor.

従来、端子間のショートを検出する方法として、二端子間の抵抗値を測定して、該抵抗値が予め設定された閾値と比較することにより、ショートの有無を検出する抵抗測定法が一般的である。
例えば、半導体集積回路の入力端子、出力端子、入出力端子などの外部端子と電源端子とのショートの有無を検出するには、ショート検出対象となる全ての二端子間の抵抗値を測定して検査しなければならない。また、回路基板などに半導体集積回路を搭載してモジュール化された段階でショートの検出を行う場合でも、同様にショート検出対象となる全ての二端子間の抵抗値を測定して検査する必要がある。 Conventionally, as a method for detecting a short circuit between terminals, a resistance measurement method for detecting the presence or absence of a short circuit by measuring a resistance value between two terminals and comparing the resistance value with a preset threshold value is generally used. It is.
For example, in order to detect the presence or absence of a short circuit between an external terminal such as an input terminal, output terminal, and input / output terminal of a semiconductor integrated circuit and a power supply terminal, measure the resistance value between all two terminals subject to short circuit detection. Must be inspected. In addition, even when a short circuit is detected when a semiconductor integrated circuit is mounted on a circuit board or the like and modularized, it is necessary to similarly measure and inspect the resistance values between all two terminals to be detected as a short circuit. is there.

また、特許文献１に記載の技術では、正常時の端子電圧からのずれ量を計測して、計測値が予め設定しておいた一定値以上ずれていれば、ショートと判定する端子のショート検出方法が提案されている。この方法は、初期状態からの電圧値の変化を検出して、この変化量に応じて、ショートの有無を判定する方法である。 Further, in the technique described in Patent Document 1, the amount of deviation from the normal terminal voltage is measured, and if the measured value is deviated by a predetermined value or more, the terminal is detected as short-circuited. A method has been proposed. In this method, a change in voltage value from the initial state is detected, and the presence or absence of a short circuit is determined according to the amount of change.

特開平９−１１３５６９号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-113569

上記のような抵抗測定法においては、ショート検出対象となる全ての二端子間の抵抗をくまなく測定する必要があるため、特に、端子の数が多い多極端子板等においては検査に時間と手間を要していた。
また、上記特許文献１に記載のショート検出方法では、ショートの判定基準とする閾値が、正常時の電圧値に基づいて決定されるため、初期段階においてショート不良が存在している場合は、これを検出することができないという不具合がある。 In the resistance measurement method as described above, since it is necessary to measure all the resistance between all two terminals to be short-circuited, especially in the case of a multi-pole terminal board having a large number of terminals, it takes time. It took time and effort.
Further, in the short detection method described in Patent Document 1, since the threshold value used as the short determination criterion is determined based on the voltage value at the normal time, if there is a short defect in the initial stage, There is a problem that cannot be detected.

上記従来技術に鑑み、本発明においては、多極端子において、ショート検出にかかる時間と手間を、従来の手法と比較して大幅に削減し、また、多極端子を備えた製品の製造ラインにおいてもショート検出を行うことのできる、ショート検出方法及びショート検出システムを提案する。 In view of the above prior art, in the present invention, in the multipolar terminal, the time and labor required for short-circuit detection are greatly reduced as compared with the conventional method, and in the production line of the product equipped with the multipolar terminal. Proposes a short detection method and a short detection system capable of performing short detection.

本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。 The problems to be solved by the present invention are as described above. Next, means for solving the problems will be described.

即ち、請求項１においては、多極端子の端子配列パターンに基づいて決定される所定の電圧印加パターンを取得して多極端子における電圧印加端子及び電圧非印加端子を設定する工程と、電圧印加端子に電圧を印加する工程と、電圧非印加端子を短絡させるとともに地絡させ電圧値を略一定レベルとする工程と、電圧非印加端子の電圧値を計測する工程と、計測された電圧値と所定の閾値とを比較してショートの有無を判定する工程とを、備える多極端子のショート検出方法である。 That is, according to claim 1, a step of obtaining a predetermined voltage application pattern determined based on the terminal arrangement pattern of the multipolar terminal and setting the voltage application terminal and the voltage non-application terminal in the multipolar terminal; A step of applying a voltage to the terminal, a step of short-circuiting the voltage non-application terminal and grounding to set the voltage value to a substantially constant level, a step of measuring the voltage value of the voltage non-application terminal, and the measured voltage value A method of detecting a short circuit of a multipolar terminal, comprising: comparing a predetermined threshold value to determine the presence or absence of a short circuit.

請求項２においては、前記電圧印加パターンは、前記ショート検出方法の各工程を、複数の異なる電圧印加パターンのそれぞれについて実行すれば、最小パターン数にて多極端子を構成する端子間全てのショートを検出可能となるように決定するものである。 According to a second aspect of the present invention, in the voltage application pattern, if each step of the short detection method is executed for each of a plurality of different voltage application patterns, all the shorts between the terminals constituting the multipolar terminal with the minimum number of patterns. Is determined to be detectable.

請求項３においては、多極端子に電圧を印加可能な電力供給手段と、多極端子のうち任意の端子に任意のタイミングで電圧印加可能とする電圧印加回路スイッチング手段と、多極端子のうち任意の端子を任意のタイミングで短絡して電圧値を一定とする電圧計測回路スイッチング手段及び抵抗手段と、端子の電圧を計測する電圧計測手段と、所定のパターンを取得して電圧印加端子及び電圧非印加端子を設定し、電圧印加端子への電圧の印加を指令するともに、電圧計測手段にて得られた電圧非印加端子の電圧値を取得して、所定の値と比較演算処理することによりショートの有無を判定する演算処理手段とを、備える多極端子のショート検出システムである。 In claim 3, among the power supply means capable of applying a voltage to the multipolar terminal, the voltage application circuit switching means capable of applying a voltage to any terminal among the multipolar terminals, and the multipolar terminal Voltage measurement circuit switching means and resistance means for short-circuiting an arbitrary terminal at an arbitrary timing to make the voltage value constant, voltage measurement means for measuring the voltage of the terminal, voltage application terminal and voltage by acquiring a predetermined pattern By setting the non-application terminal and instructing the application of voltage to the voltage application terminal, obtaining the voltage value of the voltage non-application terminal obtained by the voltage measuring means, and performing a comparison operation with a predetermined value A short-circuit detection system for a multipolar terminal, comprising arithmetic processing means for determining the presence or absence of a short circuit.

本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。 As effects of the present invention, the following effects can be obtained.

請求項１においては、端子配列に応じた所定パターンでの同時電圧印加及び電圧非印加端子の電圧測定を繰り返すことにより、多極端子を構成する端子間全てのショートの検出を行うことができ、ショート検査に要する時間の低減を図ることができる。 In claim 1, it is possible to detect all shorts between terminals constituting the multipolar terminal by repeating the simultaneous voltage application and voltage measurement of the voltage non-application terminal in a predetermined pattern according to the terminal arrangement, The time required for the short inspection can be reduced.

請求項２においては、最小の電圧印加及び電圧測定回数で、ショートの検出を行うことができるので、ショート検出にかかる時間や手間を削減することができ、また、製造ラインにおけるショート検出の実施を容易とすることができる。 In claim 2, since the short circuit can be detected with the minimum voltage application and the number of times of voltage measurement, the time and labor required for the short circuit detection can be reduced, and the short circuit can be detected in the production line. Can be easy.

請求項３においては、端子配列に応じた所定パターンでの同時電圧印加及び電圧非印加端子の電圧測定を繰り返すことにより、多極端子を構成する端子間全てのショートの検出を行うことができ、ショート検査に要する時間の低減を図ることができる。 In claim 3, by repeating the simultaneous voltage application and voltage measurement of the voltage non-application terminal in a predetermined pattern according to the terminal arrangement, it is possible to detect all shorts between the terminals constituting the multipolar terminal, The time required for the short inspection can be reduced.

次に、発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明の実施例に係るショート検出システムの概略図、図２は制御装置の構成を示す概略図、図３はショート検査回路の一例を示す図、図４はショート検出処理の流れを示す図である。
図５は端子配列パターンと電圧印加パターン群の一例を示す図、図６は端子配列パターンと電圧印加パターン群の一例を示す図である。 Next, embodiments of the invention will be described.
1 is a schematic diagram of a short detection system according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a control device, FIG. 3 is a diagram showing an example of a short inspection circuit, and FIG. 4 is a flow of a short detection process. FIG.
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a terminal array pattern and a voltage application pattern group, and FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a terminal array pattern and a voltage application pattern group.

本発明に係る多極端子のショート検出方法及びショート検出システムは、ある製品に具備される多極端子の全てにおいて、ショートの有無を判断するためのものである。
従って、本発明に係る検出方法にて、まず、ショートが存在する製品を抽出し、さらに、抽出した製品において、いずれの端子間がショートしているのかを検出する検査を行うことが好ましい。
なお、ショートが存在する製品はわずかであるため、すべての製品においてどこの端子間にショートが存在しているかを検出するよりも、第一段階として、製品のショートの存在の有無を判断し、次に、ショートが存在するとされた製品のみ抽出してどこの端子間がショートしているのかを検出する作業を行ってショート箇所を検出する方が、時間及び労力を削減することができると考えることができる。
また、製品の製造ラインに本発明に係るショート検出システムを備えることにより、製造ラインにおいてショートの有無を判断することが容易となる。ショート検出システムは比較的簡易な構造であり、また、ショート検出に要する時間も、各端子間を個々に検査するときと比較して短いため、製造ラインにおいてショート検出を行ったとしても製造ラインの流れを阻害することなく、また、自動的にショートの有無を検出することができるため好ましい。 The multipolar terminal short detection method and short detection system according to the present invention are for determining the presence or absence of a short circuit in all of the multipolar terminals included in a certain product.
Therefore, in the detection method according to the present invention, it is preferable to first extract a product having a short circuit, and further perform an inspection to detect which terminals are short-circuited in the extracted product.
Since there are only a few products with shorts, rather than detecting which terminals are shorted across all products, the first step is to determine the presence or absence of product shorts, Next, it is considered that it is possible to reduce time and labor by extracting only the products that are considered to be short-circuited and performing an operation of detecting which terminal is short-circuited to detect the short-circuited portion. be able to.
In addition, by providing the product production line with the short detection system according to the present invention, it becomes easy to determine the presence or absence of a short circuit in the production line. The short detection system has a relatively simple structure, and the time required for short detection is shorter than when individual terminals are inspected. Therefore, even if short detection is performed on the production line, This is preferable because the presence or absence of a short circuit can be automatically detected without inhibiting the flow.

本発明に係るショート検出方法は、ショート検出システム１０によりショート検出プログラムが実行されることによって行われる。本実施例において、ショート検出対象は、電子基板に具備される多極端子であり、これらの多極端子全体においてショートの有無を判定する。
但し、ショート検出対象は、電子基板に具備される多極端子に限定されるものではなく、多極端子を備えた製品とすることができ、本発明を採用することによって、従来と比較して高速に、製品に備えられる端子間にショートが有るか否かを判定することができ、製造ラインにおいて多極端子のショートの自動検出を行うことが可能となる。 The short detection method according to the present invention is performed by executing a short detection program by the short detection system 10. In this embodiment, the short detection target is a multipolar terminal provided on the electronic substrate, and the presence or absence of a short circuit is determined in the entire multipolar terminal.
However, the short detection target is not limited to the multipolar terminal provided in the electronic substrate, and can be a product provided with the multipolar terminal, and by adopting the present invention, compared with the conventional case. It is possible to determine at high speed whether or not there is a short circuit between terminals provided in the product, and it is possible to automatically detect a short circuit of a multipolar terminal in a production line.

図１は本発明の実施例に係るショート検出システム１０の概略図である。
本ショート検出システム１０は、演算処理手段として機能する制御装置１１と、警報出力手段として機能する警報装置１２と、電圧計測手段として機能する電圧計測装置１３と、電力供給手段として機能する電源装置１６と、電圧印加回路スイッチング手段として機能する電圧印加用リレー１４と、電圧計測回路スイッチング手段として機能する電圧計測用リレー１５とを備えている。 FIG. 1 is a schematic diagram of a short detection system 10 according to an embodiment of the present invention.
The short detection system 10 includes a control device 11 that functions as arithmetic processing means, an alarm device 12 that functions as alarm output means, a voltage measurement device 13 that functions as voltage measurement means, and a power supply device 16 that functions as power supply means. And a voltage application relay 14 that functions as voltage application circuit switching means, and a voltage measurement relay 15 that functions as voltage measurement circuit switching means.

そして、警報装置１２と、電圧計測装置１３と、電圧印加用リレー１４と、電圧計測用リレー１５とは、いずれも制御装置１１に通信回線にて接続され、制御装置１１にて制御されている。但し、警報装置１２と、電圧計測装置１３とを、それぞれコンピュータ等を備えた独立した装置とし、これらの装置を通信回線にて制御装置１１に接続することにより、双方向通信を可能として、制御装置１１にてこれらの装置を制御するように構成することもできる。 The alarm device 12, the voltage measurement device 13, the voltage application relay 14, and the voltage measurement relay 15 are all connected to the control device 11 via a communication line and controlled by the control device 11. . However, the alarm device 12 and the voltage measuring device 13 are independent devices each equipped with a computer or the like, and these devices are connected to the control device 11 via a communication line, thereby enabling bidirectional communication and control. The apparatus 11 can be configured to control these apparatuses.

図２に示す如く、前記制御装置１１にはコンピュータが備えられており、演算処理手段２１と、入力手段２２と、出力手段２３と、通信制御手段２４と、記憶手段２５等で構成され、これらの各手段はバスを介して接続され、入力手段２２、出力手段２３、通信制御手段２４及び記憶手段２５は、演算処理手段２１により制御されている。制御装置１１に備えられるコンピュータは汎用的なコンピュータを利用することができ、詳細なハードウエアの説明は省略する。 As shown in FIG. 2, the control device 11 is provided with a computer, and includes an arithmetic processing means 21, an input means 22, an output means 23, a communication control means 24, a storage means 25, and the like. These means are connected via a bus, and the input means 22, output means 23, communication control means 24, and storage means 25 are controlled by the arithmetic processing means 21. The computer provided in the control device 11 can use a general-purpose computer, and detailed description of hardware is omitted.

前記演算処理手段２１は、ＣＰＵ（中央処理装置）であって、演算処理及び制御装置１１の実行制御を行うとともに、周辺機器の制御を実行する機能を果たす手段である。
前記入力手段２２は、例えば、キーボードやポインティングデバイス等であり、演算処理手段２１に対して情報を入力したり、記憶手段２５に情報を入力したりする機能を果たす手段である。
前記出力手段２３は、例えば、ディスプレイや印字プリンタ等であって、演算処理手段２１において、算出された結果を表示出力する機能を果たす手段である。また、ユーザに対して、入力を必要とする情報の表示等を行うための機能を果たす手段である。
前記通信制御手段２４は、警報装置１２や電圧計測装置１３や電圧印加用リレー１４や電圧計測用リレー１５等の制御装置１１に接続された装置等との情報（信号）の出入力を可能とし、情報（信号）の伝達を制御する機能を果たす手段である。 The arithmetic processing means 21 is a CPU (central processing unit), and performs arithmetic processing and execution control of the control device 11, and also functions to execute control of peripheral devices.
The input unit 22 is, for example, a keyboard or a pointing device, and is a unit that performs a function of inputting information to the arithmetic processing unit 21 or inputting information to the storage unit 25.
The output unit 23 is, for example, a display, a printer, or the like, and is a unit that performs a function of displaying and outputting the calculated result in the arithmetic processing unit 21. Further, it is a means for performing a function for displaying information requiring input to the user.
The communication control means 24 enables input / output of information (signals) to / from devices connected to the control device 11 such as the alarm device 12, the voltage measurement device 13, the voltage application relay 14, and the voltage measurement relay 15. , Means for controlling the transmission of information (signal).

記憶手段２５には、ショート検出システム１０を運用する際に必要な各種データがデータベースとして登録されており、さらに、入力手段２２にて入力された各種データを取得して蓄積可能であるとともに、適宜蓄積データを出力することが可能とされている。記憶手段２５は、データの書き込みと読み出しとを行うことができる記憶媒体であれば良く、ハードディスクドライブやＲＡＭやＲＯＭ等の種々の媒体を使用可能である。
記憶手段２５には、ショート検出プログラム５１等の制御装置１１にてショート検出処理を実行する際に必要なプログラムや、電圧印加パターン群５３と多極端子配列パターン５４とが関連付けて格納されたデータベース５２等が、蓄積されている。そして、制御装置１１の演算処理手段２１により適宜これらの情報が読み出され、実行される。 In the storage unit 25, various data necessary for operating the short detection system 10 are registered as a database. Further, various data input by the input unit 22 can be acquired and stored, and as appropriate. It is possible to output accumulated data. The storage means 25 may be any storage medium that can write and read data, and various media such as a hard disk drive, RAM, and ROM can be used.
The storage means 25 is a database in which a program necessary for executing the short detection process in the control device 11 such as the short detection program 51, and the voltage application pattern group 53 and the multipolar terminal array pattern 54 are stored in association with each other. 52 etc. are accumulated. Then, these pieces of information are appropriately read out and executed by the arithmetic processing means 21 of the control device 11.

そして、ショート検出システム１０では制御装置１１の演算処理手段２１が出力する制御信号によって制御され、また、演算処理手段２１に対してデータが出力される。すなわち、制御装置１１はＲＯＭやＲＡＭと共にプログラム実行環境を形成しており、制御装置１１がショート検出プログラム５１を実行しつつ、演算処理手段２１が該ショート検出プログラム５１に従って所定の演算処理を実行することにより、ショート検出処理が行われ、処理中に必要なデータが記憶手段２５に対して出入力され、また、通信手段を介して外部へ出入力可能に構成されている。 The short detection system 10 is controlled by a control signal output from the arithmetic processing means 21 of the control device 11, and data is output to the arithmetic processing means 21. That is, the control device 11 forms a program execution environment together with the ROM and the RAM, and the arithmetic processing means 21 executes predetermined arithmetic processing according to the short detection program 51 while the control device 11 executes the short detection program 51. Thus, a short detection process is performed, and necessary data is input / output to / from the storage means 25 during the process, and can be input / output to / from the outside via the communication means.

図３は、ショート検査回路の一例を示す図である。
同図において、製品１８（例えば、多数のコネクタピン有するＥＣＵ等）の端子１９・１９・・・がショートの被検出対象である。
各端子１９・１９・・・には、電源装置１６の正極ライン１６ａが、それぞれ電圧印加用リレー１４・１４・・・を介して接続されており、該電圧印加用リレー１４を開閉することで、各端子１９・１９・・・への電源電圧の印加および非印加を切り換え可能としている。
なお、電圧印加用リレー１４・１４・・・の電気接点の開閉は、制御装置１１より送信される信号に基づいて制御される。これにより、任意の端子１９・１９・・・に、任意のタイミングで同時に電圧を印加することができるように構成されている。 FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a short inspection circuit.
In this figure, terminals 19, 19,... Of a product 18 (for example, an ECU having a large number of connector pins) are short-circuit detection targets.
The positive lines 16a of the power supply device 16 are connected to the terminals 19, 19... Via the voltage application relays 14, 14,. , Application and non-application of the power supply voltage to each terminal 19, 19... Can be switched.
The opening and closing of the electrical contacts of the voltage application relays 14, 14... Are controlled based on a signal transmitted from the control device 11. Thereby, it is comprised so that a voltage can be simultaneously applied to arbitrary terminals 19 * 19 ... at arbitrary timings.

また、各端子１９・１９・・・には、電圧計測装置１３が、それぞれ電圧計測用リレー１５を介して接続され、該端子１９・１９・・・の電圧値を計測できるように構成されている。つまり、電圧計測用リレー１５・１５・・・を開閉することにより電圧計測装置１３の各端子１９・１９・・・への接続・非接続を切り換えることが可能となっており、電圧計測用リレー１５を閉じた任意の端子１９・１９・・・の電圧値を計測できるように構成されている。
また、各端子１９・１９・・・は、電圧計測用リレー１５・１５・・・及び地絡用抵抗１７を介して電源装置１６の負極ライン１６ｂと接続されており、電圧計測用リレー１５・１５・・・を閉じることにより、任意の端子１９・１９・・・間を短絡して、電圧レベルを略一定にできるように構成されている。
前記電圧計測用リレー１５・１５・・・の電気接点の開閉は、制御装置１１より送信される信号に基づいて制御される。 Further, the voltage measuring device 13 is connected to each of the terminals 19, 19... Via the voltage measuring relay 15 so that the voltage value of the terminals 19, 19. Yes. In other words, it is possible to switch connection / disconnection to the terminals 19, 19... Of the voltage measurement device 13 by opening / closing the voltage measurement relays 15, 15. .. Are configured to be able to measure voltage values at arbitrary terminals 19, 19.
.. Are connected to the negative electrode line 16b of the power supply device 16 through the voltage measuring relays 15, 15... .. Are short-circuited between arbitrary terminals 19, 19... So that the voltage level can be made substantially constant.
The electrical contacts of the voltage measuring relays 15, 15... Are controlled based on a signal transmitted from the control device 11.

これにより、任意の端子１９・１９・・・に接続された回路２０・２０・・・を、任意のタイミングで同時に短絡させるとともに、短絡させた回路に接続された端子１９・１９・・・の電圧値を計測することができるように構成されている。 As a result, the circuits 20, 20... Connected to the arbitrary terminals 19, 19... Are simultaneously short-circuited at arbitrary timing, and the terminals 19, 19. The voltage value can be measured.

上述のショート検査回路では、電圧印加処理及び電圧計測処理において、予め設定された電圧印加パターン応じて各端子の電圧の印加・非印加が決定され、電圧を印加すると決定された端子１９・１９・・・に同時に電圧が印加され、電圧を印加しない端子の電圧が電圧計測装置１３にて測定される。 In the above-described short inspection circuit, in the voltage application process and the voltage measurement process, the application / non-application of the voltage of each terminal is determined according to a preset voltage application pattern, and the terminals 19, 19. At the same time, a voltage is applied, and the voltage of the terminal to which no voltage is applied is measured by the voltage measuring device 13.

本発明において、ショート検出はショート検出システム１０にて実行され、その処理手順は図４に示す流れ図に従う。
すなわち、制御装置１１にてショート検出プログラム５１が実行されると、まず、ステップＳ３１において、データベースに蓄積されている情報から、非検査対象の多極端子配列パターンに適した電圧印加パターン群の読み出しが行われる。電圧印加パターン群には複数の電圧印加パターンが具備されており、これらのパターンに応じて、パターンの数だけ電圧印加及び電圧計測を行うことによって、非検査対象である多極端子のショートの検出を行うことができる。 In the present invention, short detection is performed by the short detection system 10, and the processing procedure follows the flowchart shown in FIG.
That is, when the short detection program 51 is executed in the control device 11, first, in step S31, the voltage application pattern group suitable for the non-inspected multipolar terminal array pattern is read from the information stored in the database. Is done. The voltage application pattern group includes a plurality of voltage application patterns, and according to these patterns, the short-circuit of the non-inspected multipolar terminal is detected by performing voltage application and voltage measurement for the number of patterns. It can be performed.

記憶手段２５のデータベースには、一つの多極端子配列パターンに対して、複数の電圧印加パターンからなる電圧印加パターン群が関連付けられて登録されており、多極端子配列パターンより一義的に適した電圧印加パターン群を読み出すことができるようにされている。また、電圧印加パターン群に具備される電圧印加パターンは、第一パターンから、第Ｘパターンまで存在し、Ｘの数は多極端子配列パターンに応じて異なる。また、電圧印加パターンも多極端子配列パターンに応じて異なる。
電圧印加パターン群の詳細については後述する。 In the database of the storage means 25, a voltage application pattern group consisting of a plurality of voltage application patterns is registered in association with one multipolar terminal arrangement pattern, which is uniquely suitable for the multipolar terminal arrangement pattern. The voltage application pattern group can be read out. In addition, the voltage application patterns included in the voltage application pattern group exist from the first pattern to the Xth pattern, and the number of X differs depending on the multipolar terminal arrangement pattern. Also, the voltage application pattern varies depending on the multipolar terminal arrangement pattern.
Details of the voltage application pattern group will be described later.

そして、ステップＳ３２において、上述の電圧印加パターン群から最初の電圧印加パターンとして、第一パターンが選択され、この電圧印加パターンが第ｎパターンとして認識される。
ステップＳ３３において、第ｎパターンに応じた電圧印加を行うように電圧印加用リレーのＯＮ信号が送信される。
続いて、ステップＳ３４において、第ｎパターンに応じた電圧計測を行うように、電圧計測用リレー１５・１５・・・のＯＮ信号が送信され、電圧計測装置１３にて、電圧の計測が行われる。電圧の計測は、ステップＳ３３にて電圧が印加されていない端子群１９・１９・・・（電圧計測用リレー１５・１５・・・がＯＮして閉じられた端子群１９・１９・・・）について行われる。 In step S32, the first pattern is selected as the first voltage application pattern from the above-described voltage application pattern group, and this voltage application pattern is recognized as the nth pattern.
In step S33, an ON signal of a voltage application relay is transmitted so as to apply a voltage according to the nth pattern.
Subsequently, in step S34, an ON signal of the voltage measurement relays 15, 15... Is transmitted so as to perform voltage measurement according to the nth pattern, and the voltage measurement device 13 measures the voltage. . In step S33, the voltage is measured in the terminal group 19/19... (The voltage measurement relays 15/15... Are turned on and closed). Done about.

電圧計測装置１３にて計測された電圧の値（電圧計測値α）は、制御装置１１に取得され（Ｓ３５）、比較演算処理が行われる（Ｓ３６）。
比較演算処理では、電圧計測値αが、閾値βより小さな値であるかが判断され、閾値βより小さな値でなければ第ｎパターンにおいて「不良」と判定され（Ｓ４２）、閾値βより小さな値であれば第ｎパターンにおいて「良」と判断される（Ｓ３７）。
すなわち、電圧が印加されている端子群１９・１９・・・と電圧が印加されていない端子群１９・１９・・・との間で、全くショートが発生していなければ、電圧が印加されていない端子群１９・１９・・・の計測電圧値は電源電圧値よりも低くなるため、この場合は「良」と判断している。
逆に、電圧が印加されている端子群１９・１９・・・と電圧が印加されていない端子群１９・１９・・・との間で一箇所でもショートが発生していれば、電圧が印加されていない端子群１９・１９・・・の電圧値も、電圧が印加されている端子群１９・１９・・・と同等レベルの電圧値となるため、この場合は「不良」と判断している。
なお、閾値βは、電源電圧値に基づいて決定される値である。電源電圧値は予め入力されるか、若しくは、電源に備えられる電圧計より得られる計測値を電源電圧値とする。 The voltage value (voltage measurement value α) measured by the voltage measurement device 13 is acquired by the control device 11 (S35), and a comparison calculation process is performed (S36).
In the comparison calculation process, it is determined whether the voltage measurement value α is a value smaller than the threshold value β. If it is not smaller than the threshold value β, it is determined as “bad” in the nth pattern (S42), and a value smaller than the threshold value β. If so, it is determined as “good” in the nth pattern (S37).
That is, if no short circuit occurs between the terminal group 19, 19 ... to which the voltage is applied and the terminal group 19, 19 ... to which the voltage is not applied, the voltage is applied. The measured voltage value of the non-terminal groups 19, 19... Is lower than the power supply voltage value.
Conversely, if a short circuit has occurred between the terminal group 19, 19... To which voltage is applied and the terminal group 19, 19. The voltage values of the terminal groups 19, 19... That are not applied are also equal to the voltage values of the terminal groups 19, 19. Yes.
The threshold value β is a value determined based on the power supply voltage value. The power supply voltage value is input in advance, or a measurement value obtained from a voltmeter provided in the power supply is used as the power supply voltage value.

条件分岐Ｓ３６において、「良」と判断されれば（Ｓ３７）、条件分岐Ｓ３８において、実行されている第ｎパターンが、パターン群の最終電圧印加パターンである第Ｘパターンであるか（ｎ＝Ｘ？）が判断される。
条件分岐Ｓ３８において、第Ｘパターンであれば、パターン群に具備される電圧印加パターンにおいて電圧計測が行われたものと判断されて、現検査対象が「ショート無し」と判断され（Ｓ３９）、この情報が記憶手段２５に記録されて（Ｓ４０）、現検査対象に対するショート検出処理が終了する。 If it is determined as “good” in the conditional branch S36 (S37), is the nth pattern being executed in the conditional branch S38 the Xth pattern that is the final voltage application pattern of the pattern group (n = X)? ?) Is judged.
In the conditional branch S38, if it is the Xth pattern, it is determined that voltage measurement has been performed in the voltage application pattern included in the pattern group, and the current inspection target is determined to be “no short” (S39). Information is recorded in the storage means 25 (S40), and the short detection process for the current inspection object ends.

また、条件分岐Ｓ３８において、第Ｘパターンでなければ、次の電圧印加パターンに関するルーチンが開始される。まず、第（ｎ＋１）電圧印加パターンが選択されて、新たに、第ｎパターンとして認識され（Ｓ４１）、ステップＳ３３に戻って、電圧印加処理→電圧計測処理→比較演算処理からなるルーチンが繰り返される。 In the conditional branch S38, if it is not the Xth pattern, a routine regarding the next voltage application pattern is started. First, the (n + 1) th voltage application pattern is selected and newly recognized as the nth pattern (S41), and the routine returns to step S33 to repeat a routine consisting of voltage application processing → voltage measurement processing → comparison calculation processing. .

一方、条件分岐Ｓ３６において、「不良」と判断されれば（Ｓ４２）、現検査対象が「ショート有り」であると判断されて（Ｓ４３）、警報装置１２に信号が送信され（Ｓ４４）、警報信号を受けた警報装置１２において警報が出力される。そして、「ショート有り」と判断された検査対象の情報が記憶手段２５に記録され（Ｓ４５）、現検査対象に対するショート検出処理が終了する。 On the other hand, if it is determined as “defective” in the conditional branch S36 (S42), it is determined that the current inspection target is “with short circuit” (S43), and a signal is transmitted to the alarm device 12 (S44). The alarm device 12 that receives the signal outputs an alarm. Then, the information on the inspection object determined to be “with short” is recorded in the storage means 25 (S45), and the short detection process for the current inspection object is completed.

なお、前記警報装置１２にブザーやランプ、ディスプレイ等の出力手段を備えて、該警報装置１２に出力される警報を、ブザーの発信やランプの点灯等としたり、或いは、ディスプレイに不良情報を表示させるものとしたりすることができる。 The alarm device 12 is provided with output means such as a buzzer, a lamp, a display, etc., and the alarm output to the alarm device 12 is transmitted as a buzzer, the lamp is lit, or the like, or defective information is displayed on the display. It can be made to be.

ここで、前記電圧印加パターン群について説明する。
電圧印加パターン群は、非検査対象である多極端子の端子配列パターンによって決定され、ある端子配列パターンに対して、最も電圧印加回数が少なくなるように、すなわち、パターン群に具備される電圧印加パターンの数が最も少なくなるように、各電圧印加パターンが決定される。
以下に、端子配列パターンとそれに対応する電圧印加パターン群について、二つの例を示す。 Here, the voltage application pattern group will be described.
The voltage application pattern group is determined by the terminal arrangement pattern of the multipolar terminals to be non-inspected, and the voltage application included in the pattern group is minimized so that the number of times of voltage application is reduced with respect to a certain terminal arrangement pattern. Each voltage application pattern is determined so that the number of patterns is minimized.
Hereinafter, two examples of the terminal arrangement pattern and the corresponding voltage application pattern group are shown.

図５では、端子配列パターン（端子配列パターンＡ）と、この端子配列パターンＡに対応する電圧印加パターン群の一例を示している。
図５（ａ）に示す端子配列パターンＡは、五列三行に端子が格子状に整列配置されたパターンである。この非検査対象となる端子配列パターンＡに対しては、図５（ｂ）に示す第一パターンと、図５（ｃ）に示す第二パターンとからなる、電圧印加パターン群が決定される。
なお、図５（ｂ）及び図５（ｃ）において、黒丸で示す端子は電圧印加用リレーをＯＮとして電圧を印加する端子であり、白丸で示す端子は電圧計測用リレーをＯＮとして電圧を計測する端子であり、さらに、端子を結ぶ線は、各図に示す電圧印加パターンで電圧印加及び電圧測定を行うことによりショートを検出可能な回路を示している。 FIG. 5 shows an example of a terminal arrangement pattern (terminal arrangement pattern A) and a voltage application pattern group corresponding to the terminal arrangement pattern A.
A terminal arrangement pattern A shown in FIG. 5A is a pattern in which terminals are arranged in a grid in five columns and three rows. For the terminal arrangement pattern A to be non-inspected, a voltage application pattern group consisting of a first pattern shown in FIG. 5B and a second pattern shown in FIG. 5C is determined.
In FIGS. 5B and 5C, the terminals indicated by black circles are terminals for applying voltage with the voltage application relay ON, and the terminals indicated by white circles are for measuring voltage with the voltage measurement relay ON. Further, a line connecting the terminals indicates a circuit capable of detecting a short circuit by performing voltage application and voltage measurement with the voltage application pattern shown in each drawing.

前記第一パターンは、二列及び四列の全行と、一列及び三列及び五列の二行とにある端子を、電圧を印加する端子とし、残りの端子を、電圧を計測する端子とするパターンである。
また、前記第二パターンは、一列及び三列及び五列の全行と、二列及び四列の一行及び三行とにある端子を、電圧を印加する端子とし、残りの端子を、電圧を計測する端子とするパターンである。
前記第一パターンと、第二パターンとにおいて、電圧の印加と電圧非印加端子の電圧測定とを行うことにより、図５（ａ）に示す端子配列パターンＡにて端子同士を繋ぐ実線で示す回路全てのショートの検出を行うことができる。すなわち、図５（ａ）に示す端子配列パターンＡでは、電圧の印加と電圧の測定を、二回行うことで製品のショートを検出することができるのである。 In the first pattern, terminals in all rows in two columns and four columns, and two rows in one column, three columns, and five columns are terminals for applying voltage, and the remaining terminals are terminals for measuring voltage. Pattern.
In the second pattern, terminals in all rows of one column, three columns and five columns, and one row and three rows of two columns and four columns are terminals to which a voltage is applied, and the remaining terminals are connected to a voltage. This is a pattern for a terminal to be measured.
In the first pattern and the second pattern, a circuit indicated by a solid line that connects terminals in the terminal arrangement pattern A shown in FIG. 5A by applying a voltage and measuring a voltage of a voltage non-application terminal. All shorts can be detected. That is, in the terminal arrangement pattern A shown in FIG. 5A, it is possible to detect a product short circuit by performing voltage application and voltage measurement twice.

また、図６では、端子配列パターン（端子配列パターンＢ）と、この端子配列パターンＢに対応する電圧印加パターン群の一例を示している。
図６（ａ）に示す端子配列パターンＢは、五列の端子を備えた行が四行あり、各端子が千鳥格子状に配置されたパターンである。この被検査対象となる端子配列パターンＢに対しては、図６（ｂ）に示す第一パターンと、図６（ｃ）に示す第二パターンと、図６（ｄ）に示す第三パターンとからなる、電圧印加パターン群が決定される。
なお、図６（ｂ）、図６（ｃ）及び図６（ｄ）において、黒丸で示す端子は電圧印加用リレーをＯＮとして電圧を印加する端子であり、白丸で示す端子は電圧計測用リレーをＯＮとして電圧を計測する端子であり、さらに、端子を結ぶ線は、各図に示す電圧印加パターンで電圧印加及び電圧測定を行うことによりショートを検出可能な回路を示している。 FIG. 6 shows an example of a terminal arrangement pattern (terminal arrangement pattern B) and a voltage application pattern group corresponding to the terminal arrangement pattern B.
The terminal arrangement pattern B shown in FIG. 6A is a pattern in which there are four rows each having five columns of terminals, and each terminal is arranged in a staggered pattern. For the terminal arrangement pattern B to be inspected, a first pattern shown in FIG. 6B, a second pattern shown in FIG. 6C, and a third pattern shown in FIG. A voltage application pattern group consisting of:
6 (b), 6 (c), and 6 (d), terminals indicated by black circles are terminals for applying voltage with the voltage application relay turned ON, and terminals indicated by white circles are voltage measurement relays. Is a terminal that measures voltage by turning ON, and a line connecting the terminals indicates a circuit that can detect a short circuit by performing voltage application and voltage measurement with the voltage application pattern shown in each figure.

前記第一パターンは、二行及び三行に存在する端子を、電圧を印加する端子とし、残りの端子を電圧を計測する端子とするパターンである。
また、前記第二パターンは、各行において二列と四列にある端子を、電圧を印加する端子とし、残りの端子を電圧を計測する端子とするパターンである。
また、前記第三パターンは、一行及び三行に存在する端子を、電圧を印加する端子とし、残りの端子を電圧を計測する端子とするパターンである。
前記第一パターンと、第二パターンと、第三パターンと、において、電圧の印加と電圧非印加端子の電圧測定とを行うことにより、図６（ａ）に示す端子配列パターンＢにて端子同士を繋ぐ実線で示す回路全てのショートの検出を行うことができる。すなわち、図６（ａ）に示す端子配列パターンＢでは、電圧の印加と電圧の測定を、三回行うことで製品のショートを検出することができるのである。 The first pattern is a pattern in which terminals existing in two rows and three rows are terminals to which a voltage is applied, and the remaining terminals are terminals to measure a voltage.
The second pattern is a pattern in which terminals in two columns and four columns in each row are terminals to which a voltage is applied, and the remaining terminals are terminals to measure a voltage.
The third pattern is a pattern in which terminals existing in one row and three rows are terminals to which a voltage is applied, and the remaining terminals are terminals to measure a voltage.
In the first pattern, the second pattern, and the third pattern, by applying a voltage and measuring a voltage at a voltage non-application terminal, terminals are arranged in a terminal arrangement pattern B shown in FIG. It is possible to detect a short circuit of all the circuits indicated by the solid line connecting the two. That is, in the terminal arrangement pattern B shown in FIG. 6A, a product short circuit can be detected by performing voltage application and voltage measurement three times.

上述の如く、端子配列パターンに応じたパターン群に具備される各電圧印加パターンで、同時電圧印加と電圧非印加端子の電圧測定とを繰り返すことにより、従来の二端子ごとにショート確認するショート検出方法と比較して、電圧印加と電圧測定の回数が低減されるため、ショート検査にかかる時間を大幅に削減することができる。 As described above, the conventional short detection for confirming a short circuit for every two terminals by repeating the simultaneous voltage application and the voltage measurement of the voltage non-application terminal in each voltage application pattern provided in the pattern group corresponding to the terminal arrangement pattern. Compared with the method, the number of times of voltage application and voltage measurement is reduced, so that the time required for the short inspection can be greatly reduced.

本発明の実施例に係るショート検出システムの概略図。1 is a schematic diagram of a short detection system according to an embodiment of the present invention. 制御装置の構成を示す概略図。Schematic which shows the structure of a control apparatus. ショート検査回路の一例を示す図。The figure which shows an example of a short test | inspection circuit. ショート検出処理の流れを示す図。The figure which shows the flow of a short detection process. 端子配列パターンと電圧印加パターン群の一例を示す図。The figure which shows an example of a terminal arrangement pattern and a voltage application pattern group. 端子配列パターンと電圧印加パターン群の一例を示す図。The figure which shows an example of a terminal arrangement pattern and a voltage application pattern group.

Explanation of symbols

１０ショート検出システム
１１制御装置
１２警報装置
１３電圧計測装置
１４電圧印加用リレー
１５電圧計測用リレー
１６電源装置
１７地絡用抵抗
１９端子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Short detection system 11 Control apparatus 12 Alarm apparatus 13 Voltage measurement apparatus 14 Voltage application relay 15 Voltage measurement relay 16 Power supply apparatus 17 Ground fault resistance 19 Terminal

Claims

Obtaining a predetermined voltage application pattern determined based on the terminal arrangement pattern of the multipolar terminal and setting the voltage application terminal and the voltage non-application terminal in the multipolar terminal;
Applying a voltage to the voltage application terminal;
A step of short-circuiting the voltage non-application terminal and grounding the voltage value to a substantially constant level;
Measuring the voltage value of the voltage non-application terminal;
Comparing the measured voltage value with a predetermined threshold to determine the presence or absence of a short circuit,
A short-circuit detection method for a multi-pole terminal, comprising:

The voltage application pattern can detect all shorts between terminals constituting a multipolar terminal with the minimum number of patterns by performing each step of the short detection method for each of a plurality of different voltage application patterns. The method for detecting a short circuit of a multipolar terminal according to claim 1, wherein:

Power supply means capable of applying a voltage to the multipolar terminal;
Voltage application circuit switching means that allows voltage application to an arbitrary terminal among multipolar terminals at an arbitrary timing;
Voltage measuring circuit switching means and resistance means for short-circuiting any terminal of the multipolar terminals at an arbitrary timing to make the voltage value constant,
Voltage measuring means for measuring the voltage of the terminal;
Obtains a predetermined pattern, sets the voltage application terminal and voltage non-application terminal, commands the application of voltage to the voltage application terminal, and obtains the voltage value of the voltage non-application terminal obtained by the voltage measuring means. Arithmetic processing means for determining the presence or absence of a short by performing a comparative arithmetic processing with a predetermined value,
A multi-pole terminal short detection system comprising: