JP2005092406A - 歩留改善情報の提供システムおよび歩留改善方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 歩留りに影響する2種以上の要因を含み各々の要因についてパラメータを設定し得る製造工程を異なるパラメータの組合せにより実施した際の前記パラメータの組合せと歩留り情報の入力を許容する手段と、前記パラメータの組合せと歩留り情報の関係から、各々の要因の各パラメータに関するデータを抽出・統合して、各パラメータ毎の歩留り情報を算出する手段と、算出された歩留り情報の大小に従ってパラメータを順序付けする手段とを備える歩留改善情報の提供システム。
【選択図】図1
Description
以下、本発明の他の実施形態について説明する。
対象外数=s−n および対象外不良数=S−Nとなり、
対象不良率= N/n …(a)、対象外不良率=(S−N)/(s−n)…(b)
ここで、対象不良率の算出では、総数sは反映されないが、対象外の不良率では総数および不良総数Sが反映される。また、対象不良率と対象外不良率の差(a)−(b)は
(a)−(b)=(N/n)−{(S−N)/(s−n)}
=(sN−nS)/{n(S−n)}
と表される。
(1)当事者である企業の収益体質の改善に役立つばかりでなく、
(2)不良品の低減または絶無化が図られ、廃棄物の急激な減少が行なわれ、地球環境にやさしい、エコロジーが実行できる。
(3)また、良品率または歩留の高い製品は、欠陥に結びつくことが少ないため、高信頼性を得ることができ、顧客にとっても故障率が少ないという利益を得ることができ、
(4)顧客満足度の向上が図られることから、再購買(リピーター)を獲得でき、企業のシェアアップにも貢献できる。
Claims (5)
- 歩留りに影響する2種以上の要因を含み各々の要因についてパラメータを設定し得る製造工程を異なるパラメータの組合せにより実施した際の前記パラメータの組合せと歩留り情報の入力を許容する手段と、
前記パラメータの組合せと歩留り情報の関係から、各々の要因の各パラメータに関するデータを抽出・統合して、各パラメータ毎の歩留り情報を算出する手段と、
算出された歩留り情報の大小に従ってパラメータを順序付けする手段とを備える歩留改善情報の提供システム。 - 前記各パラメータ毎の歩留り情報を算出する際に、対象となるパラメータを採用する場合のデータを抽出・統合して採用時歩留り情報を算出すると共に、対象となるパラメータを採用しない場合のデータを抽出・統合して不採用時歩留り情報を算出して、前記採用時歩留り情報と前記不採用時歩留り情報との関係から各パラメータ毎の歩留り情報を算出する請求項1記載の歩留改善情報の提供システム。
- 前記パラメータの組合せと歩留り情報に加えて製品の特性情報の入力を許容し、各パラメータ毎の歩留り情報に加えて各パラメータ毎の製品の特性情報を算出し、前記パラメータを順序付けする際に各パラメータと対応する歩留り情報と製品の特性情報とを含むデータテーブルを作成する請求項1又は2に記載の歩留改善情報の提供システム。
- 歩留りに影響する2種以上の要因を含み各々の要因についてパラメータを設定し得る製造工程を異なるパラメータの組合せにより実施して、各々の実施の歩留りを評価する工程と、
その際の前記パラメータの組合せと歩留り情報の関係から各々の要因の各パラメータに関するデータを抽出・統合して、各パラメータ毎の歩留り情報を算出する工程と、
算出された歩留り情報の大小に従ってパラメータを順序付けする工程と、
歩留り情報が相対的に悪いパラメータについて改善を加える工程とを含む歩留改善方法。 - 歩留りに影響する2種以上の要因を含み各々の要因についてパラメータを設定し得る製造工程を異なるパラメータの組合せにより実施した際の前記パラメータの組合せと歩留り情報を入力するステップと、
前記パラメータの組合せと歩留り情報の関係から、各々の要因の各パラメータに関するデータを抽出・統合して、各パラメータ毎の歩留り情報を算出するステップと、
算出された歩留り情報の大小に従ってパラメータを順序付けするステップとを備える歩留改善情報の提供プログラム。
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JPH09330970A (ja) * | 1996-06-10 | 1997-12-22 | Hitachi Ltd | 半導体素子の製造方法 |
JP2000198051A (ja) * | 1998-12-29 | 2000-07-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 設備フロ―の異常抽出装置、設備フロ―の異常抽出方法、及び設備フロ―の異常抽出プログラムを記録した記憶媒体 |
JP2002323924A (ja) * | 2001-02-21 | 2002-11-08 | Toshiba Corp | 不良装置検出方法、不良装置検出装置、プログラム及び製品の製造方法 |
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