JP2005072408A - Thin film manufacturing apparatus and method therefor - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To stably form a thin film having an excellent film thickness distribution on a flexible substrate. <P>SOLUTION: A thin film manufacturing apparatus 1 is adapted such that one end of the flexible substrate 20 in the widthwise direction of the same is held with a first holding mechanism 30 on the opposite sides of the flexible substrate 20 in a carrying direction of the same in a plasma CVD chamber 2, the other end of the flexible substrate 20 in the widthwise direction of the same is held with a second holding mechanism 40, and the other end held with the second holding mechanism part 40 is pulled by a tension mechanism 50 in the widthwise direction of the flexible substrate 20. Consequently, the corrugation of the flexible substrate 20 is elongated to improve its flatness and hence to stably form the thin film having an excellent film thickness distribution. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は薄膜製造装置に関し、特に薄膜光電変換素子のような可撓性基板上に複数の薄膜の層を有する薄膜素子を製造するための薄膜製造装置および薄膜製造方法に関する。   The present invention relates to a thin film manufacturing apparatus, and more particularly to a thin film manufacturing apparatus and a thin film manufacturing method for manufacturing a thin film element having a plurality of thin film layers on a flexible substrate such as a thin film photoelectric conversion element.

薄膜光電変換素子の製造において、例えばアモルファスシリコン(a−Si)を主原料とする光電変換層を、長尺の高分子材料あるいはステンレス鋼などの金属からなる可撓性基板上に形成することは生産性の点で優れている。このような光電変換層をはじめとして薄膜光電変換素子には複数の層が形成される。長尺の可撓性基板上に複数層を形成するための薄膜製造装置には、主にロールツーロール方式のものとステッピングロール方式のものとがある。ロールツーロール方式は、成膜室を連続的に移動していく可撓性基板上に連続的に成膜していく方式であり、ステッピングロール方式は、成膜室内で可撓性基板を一旦停止させて成膜した後、成膜の終わった可撓性基板部分をその成膜室から次の成膜室へと送り出す方式である。   In the manufacture of thin film photoelectric conversion elements, for example, it is possible to form a photoelectric conversion layer mainly made of amorphous silicon (a-Si) on a flexible substrate made of a long polymer material or a metal such as stainless steel. Excellent in terms of productivity. A plurality of layers are formed in the thin film photoelectric conversion element including such a photoelectric conversion layer. Thin film manufacturing apparatuses for forming a plurality of layers on a long flexible substrate mainly include a roll-to-roll system and a stepping roll system. The roll-to-roll method is a method in which a film is continuously formed on a flexible substrate that moves continuously in the film formation chamber, and the stepping roll method is a method in which a flexible substrate is temporarily placed in the film formation chamber. After the film formation is stopped, the flexible substrate portion after film formation is sent from the film formation chamber to the next film formation chamber.

成膜にはプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法が広く用いられており、プラズマCVD法を用いたステッピングロール方式の場合、成膜室開放−基板の1フレーム移動−成膜室封止−原料ガス導入−圧力制御−放電開始−放電終了−原料ガス停止−ガス引き−成膜室開放、の一連の操作が繰り返される。ステッピングロール方式の成膜は、ロールツーロール方式の成膜に比べ、隣接する成膜室とのガス相互拡散がない、装置がコンパクトになる、といった点で優れている。   Plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) is widely used for film formation, and in the case of a stepping roll method using plasma CVD, the film formation chamber is opened-the substrate is moved by one frame-the film formation chamber is sealed-source gas A series of operations of introduction, pressure control, discharge start, discharge end, source gas stop, gas drawing, and film formation chamber open are repeated. The stepping roll type film formation is superior to the roll-to-roll type film formation in that there is no gas mutual diffusion between adjacent film forming chambers and the apparatus is compact.

図10はステッピングロール方式の成膜室開放時の断面図、図11はステッピングロール方式の成膜室封止時の断面図である。
図10に示すように、成膜室100は、断続的に搬送されてくる可撓性基板200の上面側および下面側に函状の上部成膜室壁体101と下部成膜室壁体102が対向配置されている。下部成膜室には電源103に接続された高電圧電極104が、上部成膜室にはヒータ105を内蔵した接地電極106が設けられている。成膜時には、図11に示すように、上部成膜室壁体101が下部成膜室壁体102側へ下降し、可撓性基板200が接地電極106に押えられて下部成膜室壁体102の開口側の端面に取り付けられたシール材102aに接触する。これにより、下部成膜室壁体102と可撓性基板200によって排気管107に連通する気密に密閉された成膜空間108が形成される。高電圧電極104に高周波電圧が印加されると、成膜空間108にプラズマが発生し、図示しない導入管から導入された原料ガスが分解され、可撓性基板200にa−Si膜などが形成される。
10 is a cross-sectional view of the stepping roll type film formation chamber when opened, and FIG. 11 is a cross-sectional view of the stepping roll type film formation chamber sealed.
As shown in FIG. 10, the film forming chamber 100 includes a box-shaped upper film forming chamber wall 101 and a lower film forming chamber wall 102 on the upper surface side and the lower surface side of the flexible substrate 200 that are intermittently transferred. Are arranged opposite to each other. A high voltage electrode 104 connected to a power source 103 is provided in the lower film forming chamber, and a ground electrode 106 having a heater 105 is provided in the upper film forming chamber. At the time of film formation, as shown in FIG. 11, the upper film formation chamber wall body 101 is lowered toward the lower film formation chamber wall body 102, and the flexible substrate 200 is pressed by the ground electrode 106, thereby lower film formation chamber wall body. It contacts the sealing material 102a attached to the end face of the opening side of 102. As a result, an airtightly sealed film forming space 108 communicating with the exhaust pipe 107 is formed by the lower film forming chamber wall 102 and the flexible substrate 200. When a high frequency voltage is applied to the high voltage electrode 104, plasma is generated in the film formation space 108, the source gas introduced from an introduction pipe (not shown) is decomposed, and an a-Si film or the like is formed on the flexible substrate 200. Is done.

なお、薄膜太陽電池の分野では、例えば特許第2755281号公報に開示されているように、基板の一面上に形成された薄膜光電変換素子の透明電極層と他面上に形成された金属電極層とを、基板に開けられた貫通孔を通る導体を介して接続する構造が開発されている。これにより、電流がシート抵抗の高い透明電極層を流れる距離が短くなるようにしている。このような薄膜光電変換素子の形成を成膜室100内で行う場合は、可撓性基板200に形成された貫通孔を介して、上部成膜室壁体101と可撓性基板200によって囲まれた非成膜空間109が成膜空間108に連通することになる。そのため、成膜空間108と共に非成膜空間109も真空気密に保つ必要がでてくる。このような場合には、成膜室100に次の図12に示すようなシール構造を設けることにより、非成膜空間109をも真空に保つことができるようになる。   In the field of thin film solar cells, for example, as disclosed in Japanese Patent No. 2755281, a transparent electrode layer of a thin film photoelectric conversion element formed on one surface of a substrate and a metal electrode layer formed on the other surface of the substrate. Has been developed through a conductor passing through a through hole formed in the substrate. Thereby, the distance through which the current flows through the transparent electrode layer having a high sheet resistance is shortened. When such a thin film photoelectric conversion element is formed in the film formation chamber 100, it is surrounded by the upper film formation chamber wall 101 and the flexible substrate 200 through a through hole formed in the flexible substrate 200. The non-film formation space 109 thus communicated with the film formation space 108. Therefore, it is necessary to keep the film formation space 108 and the non-film formation space 109 vacuum-tight. In such a case, the non-deposition space 109 can be kept in a vacuum by providing a seal structure as shown in FIG.

図12は成膜室のシール構造の要部断面図である。ただし、図12では、図10および図11に示した要素と同一の要素については同一の符号を付し、その説明の詳細は省略する。   FIG. 12 is a cross-sectional view of the main part of the seal structure of the film forming chamber. However, in FIG. 12, the same elements as those shown in FIGS. 10 and 11 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

上部成膜室壁体101の端面には2つの帯状端板101b,101cが、下部成膜室壁体102の端面には2つの帯状端板102b,102cが、それぞれねじ止めされ、その間に形成されるあり溝にシール材101a,102aを脱落しないように保持している。成膜時には、可撓性基板200を上部成膜室側の帯状端板101b,101c表面およびその間のシール材101aと、可撓性基板200を下部成膜室側の帯状端板102b,102c表面およびその間のシール材102aとで挟む。それにより、図11に示した上部成膜室および下部成膜室の成膜空間108および非成膜空間109が真空に保たれる。   Two band-shaped end plates 101b and 101c are screwed to the end face of the upper film forming chamber wall 101, and two band-shaped end plates 102b and 102c are screwed to the end face of the lower film forming chamber wall body 102, respectively. The sealing materials 101a and 102a are held in the dovetail groove so as not to drop off. At the time of film formation, the flexible substrate 200 has the surface of the strip-shaped end plates 101b, 101c on the upper film-forming chamber side and the sealing material 101a therebetween, and the flexible substrate 200 has the surface of the strip-shaped end plates 102b, 102c on the lower film-forming chamber side And the sealing material 102a between them. Thereby, the film formation space 108 and the non-film formation space 109 in the upper film formation chamber and the lower film formation chamber shown in FIG. 11 are kept in vacuum.

ところで、例えば可撓性基板200に耐熱性のある1m幅のポリイミドフィルムを用い、その幅方向に直交する搬送方向に200N程度の張力を加え、ヒータ105を温度250℃に加熱して接地電極106を可撓性基板200に接触させると、その張力と熱により、可撓性基板200の搬送方向に1m当たり4mm程度の伸びが生じ、幅方向は2mm程度収縮する。この幅方向の収縮により、可撓性基板200にはその搬送方向にウェーブ状の皺(ウェーブ高さ約2mm〜3mm)が発生するようになる。皺が発生したままの可撓性基板200を上部成膜室と下部成膜室の間に挟み、真空保持して成膜すると、可撓性基板200の位置に依って高電圧電極104との距離が異なってくるため、形成されるa−Si膜などの薄膜の膜厚分布が不均一になる。その結果、薄膜特性が著しく低下したり、色むらが生じて外観上の商品価値が低下したりするといった問題が生じる。   By the way, for example, a heat-resistant 1 m wide polyimide film is used for the flexible substrate 200, a tension of about 200 N is applied in the transport direction orthogonal to the width direction, and the heater 105 is heated to a temperature of 250 ° C. Is brought into contact with the flexible substrate 200, the tension and heat cause an elongation of about 4 mm per meter in the conveying direction of the flexible substrate 200, and a contraction of about 2 mm in the width direction. Due to the shrinkage in the width direction, wavy wrinkles (wave height of about 2 mm to 3 mm) are generated in the conveyance direction of the flexible substrate 200. When the flexible substrate 200 in which wrinkles are generated is sandwiched between the upper film formation chamber and the lower film formation chamber and held in a vacuum, the film is connected to the high voltage electrode 104 depending on the position of the flexible substrate 200. Since the distances are different, the film thickness distribution of a thin film such as an a-Si film to be formed becomes non-uniform. As a result, there arises a problem that the thin film characteristics are remarkably deteriorated, or color unevenness occurs and the commercial value of the appearance is deteriorated.

従来、このような問題を解決するため、例えば、可撓性基板縁部に、弾性のある唇状体の先端を押し当て、可撓性基板を接地電極で成膜室内に押し込む際に、唇状体の先端を可撓性基板外方に向けて滑らせることによって、唇状体の摩擦力で可撓性基板を外方へ放射状に伸ばし、可撓性基板にできた皺を伸ばした状態で薄膜を形成する方法が提案されている(特許文献1参照)。
特開平8−250431号公報(段落番号[0009]〜[0010],図1,図4〜図9)
Conventionally, in order to solve such a problem, for example, when the tip of an elastic lip is pressed against the edge of the flexible substrate and the flexible substrate is pushed into the film formation chamber with the ground electrode, By sliding the tip of the rod-shaped body toward the outside of the flexible substrate, the flexible substrate is radially extended outward by the frictional force of the lip-shaped body, and the wrinkles formed on the flexible substrate are stretched Has proposed a method of forming a thin film (see Patent Document 1).
JP-A-8-250431 (paragraph numbers [0009] to [0010], FIG. 1, FIG. 4 to FIG. 9)

しかしながら、可撓性基板に生じる皺を唇状体で伸ばした上で薄膜を形成する方法の場合、唇状体の先端を摩擦力によって滑らせるため、用いる材質によっては唇状体が磨耗し、その際発生する塵が可撓性基板上に堆積して、薄膜特性の低下や不安定化を招く可能性がある。さらに、量産時には、繰り返し動作による磨耗や加熱によって唇状体が劣化してしまう場合があり、プロセス途中からその皺伸ばし効果が小さくなったりあるいはなくなったりする恐れもある。このような唇状体の交換には手間がかかりメンテナンス性が悪い。また、可撓性基板にはその幅方向にシール材よりも外側にはみ出す余分な寸法が必要になるので、可撓性基板の利用効率が低下するといった問題もある。   However, in the case of the method of forming a thin film after extending the wrinkles generated on the flexible substrate with the lip-like body, the lip-like body is worn depending on the material used because the tip of the lip-like body is slid by the frictional force. Dust generated at this time may accumulate on the flexible substrate, leading to deterioration of thin film characteristics and instability. Furthermore, in mass production, the lips may be deteriorated by wear or heating due to repeated operations, and the effect of stretching the heel may be reduced or eliminated during the process. Replacing such lips is troublesome and poor in maintenance. In addition, since the flexible substrate needs an extra dimension that protrudes outward from the sealing material in the width direction, there is a problem that the utilization efficiency of the flexible substrate is lowered.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、可撓性基板の皺の発生を抑えた状態で薄膜を形成することができ、薄膜を長期に安定して均一性良く形成することのできる薄膜製造装置および薄膜製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and can form a thin film in a state in which generation of wrinkles on a flexible substrate is suppressed, and can form a thin film stably over a long period with good uniformity. An object of the present invention is to provide a thin film manufacturing apparatus and a thin film manufacturing method.

本発明では上記問題を解決するために、成膜室に搬送される可撓性基板上に薄膜を形成する薄膜製造装置において、前記成膜室の前記可撓性基板搬送方向両側に固定配置されて前記可撓性基板搬送方向に直交する前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の一端部を挟持する第1保持機構部と、前記第1保持機構部に対向配置されて前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の他端部を挟持する第2保持機構部と、前記第2保持機構部を前記第1保持機構部との距離を広げる方向へ移動させて前記他端部を前記可撓性基板幅方向へ引っ張る引張機構部と、を有することを特徴とする薄膜製造装置が提供される。   In the present invention, in order to solve the above problem, in a thin film manufacturing apparatus for forming a thin film on a flexible substrate transported to a film forming chamber, the film forming chamber is fixedly disposed on both sides of the flexible substrate transport direction. A first holding mechanism that sandwiches one end of the flexible substrate in the flexible substrate width direction perpendicular to the flexible substrate transport direction, and the first holding mechanism that is disposed opposite the first holding mechanism. The second holding mechanism portion that holds the other end portion of the flexible substrate in the flexible substrate width direction, and the second holding mechanism portion is moved in a direction to increase the distance between the first holding mechanism portion and the other. There is provided a thin film manufacturing apparatus comprising: a pulling mechanism portion that pulls an end portion in the width direction of the flexible substrate.

このような薄膜製造装置によれば、成膜室の可撓性基板搬送方向両側で、第1保持機構部が可撓性基板の幅方向における一端部を挟持し、第2保持機構部が可撓性基板の幅方向における他端部を挟持し、引張機構部が第2保持機構部を第1保持機構部から離れる方向へ移動させることによって、第2保持機構部で挟持された他端部を可撓性基板の幅方向へと引っ張る。これにより、可撓性基板に発生する皺が伸ばされるようになる。   According to such a thin film manufacturing apparatus, the first holding mechanism portion sandwiches one end portion in the width direction of the flexible substrate on both sides of the film forming chamber in the flexible substrate transport direction, and the second holding mechanism portion is possible. The other end of the flexible substrate is clamped by the second holding mechanism by holding the other end of the flexible substrate in the width direction and moving the second holding mechanism in a direction away from the first holding mechanism. Is pulled in the width direction of the flexible substrate. Thereby, the wrinkles generated in the flexible substrate are extended.

また、本発明では、成膜室に搬送される可撓性基板上に薄膜を形成する薄膜製造装置において、前記成膜室の前記可撓性基板搬送方向に直交する前記可撓性基板幅方向の外側に固定配置され、前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の一端部であって前記成膜室と同幅または長尺幅の前記一端部を挟持する第1保持機構部と、前記成膜室を挟んで前記第1保持機構部に対向配置され、前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の他端部であって前記成膜室と同幅または長尺幅の前記他端部を挟持する第2保持機構部と、前記第2保持機構部を前記第1保持機構部との距離を広げる方向へ移動させて前記他端部を前記可撓性基板幅方向へ引っ張る引張機構部と、を有することを特徴とする薄膜製造装置が提供される。   In the present invention, in the thin film manufacturing apparatus for forming a thin film on the flexible substrate transported to the film forming chamber, the flexible substrate width direction orthogonal to the flexible substrate transport direction of the film forming chamber. A first holding mechanism portion that is fixedly disposed outside the flexible substrate and sandwiches the one end portion of the flexible substrate in the width direction of the flexible substrate and having the same width as the film forming chamber or the long width. The other end portion of the flexible substrate in the flexible substrate width direction, which is opposite to the first holding mechanism portion across the film formation chamber, and has the same width as the film formation chamber or a long width. And moving the second holding mechanism portion in a direction to increase the distance between the second holding mechanism portion and the first holding mechanism portion, and the other end portion is moved in the flexible substrate width direction. There is provided a thin film manufacturing apparatus characterized by having a pulling mechanism part that pulls to the side.

このような薄膜製造装置によれば、搬送される可撓性基板に対し、第1保持機構部が成膜室と同幅または長尺幅の一端部を挟持し、第2保持機構部が成膜室と同幅または長尺幅の他端部を挟持し、引張機構部が第2保持機構部を第1保持機構部との距離を広げる方向へ移動させることによって、第2保持機構部で挟持された他端部を可撓性基板の幅方向へと引っ張る。これにより、可撓性基板に発生する皺が伸ばされるようになる。   According to such a thin film manufacturing apparatus, the first holding mechanism portion sandwiches one end portion having the same width or a long width as the film forming chamber, and the second holding mechanism portion is formed on the flexible substrate to be transported. By holding the other end of the same width or long width as the membrane chamber, the pulling mechanism moves the second holding mechanism in the direction of increasing the distance from the first holding mechanism, thereby the second holding mechanism The other end thus sandwiched is pulled in the width direction of the flexible substrate. Thereby, the wrinkles generated in the flexible substrate are extended.

また、本発明では、成膜室に搬送される可撓性基板上に薄膜を形成する薄膜製造方法において、前記可撓性基板搬送方向に直交する前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の一端部および他端部を挟持し、前記他端部を前記可撓性基板幅方向へ引っ張り前記可撓性基板上に前記薄膜を形成することを特徴とする薄膜製造方法が提供される。   According to the present invention, in the thin film manufacturing method for forming a thin film on a flexible substrate transported to the film forming chamber, the flexibility in the flexible substrate width direction orthogonal to the flexible substrate transport direction. There is provided a thin film manufacturing method characterized in that one end and the other end of a substrate are sandwiched and the other end is pulled in the width direction of the flexible substrate to form the thin film on the flexible substrate. .

このような薄膜製造方法によれば、可撓性基板に発生する皺が伸ばされた状態で可撓性基板に薄膜が形成されるようになる。   According to such a thin film manufacturing method, a thin film is formed on a flexible substrate in a state where wrinkles generated on the flexible substrate are stretched.

本発明の薄膜製造装置は、可撓性基板をその幅方向に引っ張り、皺を伸ばした状態で薄膜を形成するようにしたので、可撓性基板上に形成される薄膜の膜厚分布の均一性が向上し、特性の良い薄膜を形成することができ、外観上の色むらもなくすことができる。また、本発明の薄膜製造装置では、量産時における繰り返し動作による性能低下がなく、長期に安定して均一性の良い薄膜を形成することができ、さらに、メンテナンス性の良い皺伸ばし機構を実現できる。これにより、高特性、高品質の薄膜光電変換素子を形成することができる。   In the thin film manufacturing apparatus of the present invention, the thin film is formed in a state where the flexible substrate is pulled in the width direction and the ridges are stretched, so that the film thickness distribution of the thin film formed on the flexible substrate is uniform. Thus, a thin film with good characteristics can be formed, and color unevenness in appearance can be eliminated. In addition, the thin film manufacturing apparatus of the present invention can form a thin film with good uniformity and stability over a long period of time without any performance degradation due to repetitive operations during mass production. . Thereby, a thin film photoelectric conversion element having high characteristics and high quality can be formed.

以下、本発明を実施するための最良の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1は薄膜製造装置の平面図、図2は薄膜製造装置の断面図である。
薄膜製造装置1は、可撓性基板20にa−Siなどの薄膜を形成するための成膜室として、真空容器1a内に複数のプラズマCVD室2を有している。さらに、薄膜製造装置1は、可撓性基板20の送りロール3および巻取りロール4を有しており、可撓性基板20は、送りロール3から送り出されて各プラズマCVD室2を通って所定の成膜処理が施され、巻取りロール4に巻き取られていくようになっている。搬送される可撓性基板20の下面側と上面側には、下部成膜室壁体5と上部成膜室壁体6が対向して設けられている。下部成膜室壁体5の内側に形成される下部成膜室には、電源7に接続された高電圧電極8が配置され、上部成膜室壁体6の内側に形成される上部成膜室には、ヒータ9を内蔵した接地電極10が配置されている。成膜時には、上部成膜室壁体6が下部成膜室壁体5側へ下降し、接地電極10が可撓性基板20を上面側から押え、可撓性基板20は、下部成膜室壁体5の開口側の端面に取り付けられたシール材5aに接触する。これにより、下部成膜室壁体5と可撓性基板20により、排気管11に連通する気密に密閉された成膜空間が形成される。高電圧電極8への高周波電圧の印加により、成膜空間にはプラズマが発生し、図示しない導入管から導入された原料ガスが分解され、可撓性基板20にa−Siなどの薄膜が形成されるようになっている。
The best mode for carrying out the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view of the thin film manufacturing apparatus, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the thin film manufacturing apparatus.
The thin film manufacturing apparatus 1 has a plurality of plasma CVD chambers 2 in a vacuum container 1a as a film forming chamber for forming a thin film such as a-Si on a flexible substrate 20. Furthermore, the thin film manufacturing apparatus 1 includes a feed roll 3 and a take-up roll 4 for the flexible substrate 20, and the flexible substrate 20 is fed from the feed roll 3 and passes through each plasma CVD chamber 2. A predetermined film forming process is performed, and the film is wound around the winding roll 4. A lower film forming chamber wall 5 and an upper film forming chamber wall 6 are provided to face each other on the lower surface side and the upper surface side of the flexible substrate 20 to be conveyed. In the lower film formation chamber formed inside the lower film formation chamber wall 5, a high voltage electrode 8 connected to the power source 7 is arranged, and the upper film formation formed inside the upper film formation chamber wall 6. A ground electrode 10 with a built-in heater 9 is disposed in the chamber. At the time of film formation, the upper film formation chamber wall 6 is lowered toward the lower film formation chamber wall 5, the ground electrode 10 presses the flexible substrate 20 from the upper surface side, and the flexible substrate 20 is in the lower film formation chamber. It contacts the sealing material 5a attached to the end surface of the wall 5 on the opening side. Thus, an airtightly sealed film forming space communicating with the exhaust pipe 11 is formed by the lower film forming chamber wall 5 and the flexible substrate 20. By applying a high frequency voltage to the high voltage electrode 8, plasma is generated in the film forming space, the source gas introduced from the introduction tube (not shown) is decomposed, and a thin film such as a-Si is formed on the flexible substrate 20. It has come to be.

なお、成膜時には、各プラズマCVD室2内に、上部成膜室壁体6と可撓性基板20によって囲まれた非成膜空間が形成される。薄膜光電変換素子の中には、可撓性基板20の一面上に形成された透明電極層と他面上に形成された金属電極層とを可撓性基板20に形成した貫通孔を介して接続し、電流がシート抵抗の高い透明電極層を流れる距離を短くするようにした構造のものがある。このような構造の薄膜光電変換素子について、その薄膜形成をこの薄膜製造装置1で行う場合、可撓性基板20に形成された貫通孔を介して、成膜空間および非成膜空間が連通することになる。したがって、このような場合には、薄膜製造装置1は、従来同様、下部成膜室壁体5および上部成膜室壁体6の端面にそれぞれねじ止めした2つの帯状端板の間に形成されるあり溝に脱落しないように保持されたシール材で可撓性基板20を挟むように構成する。それにより、成膜空間および非成膜空間が気密に保たれるようになる。   At the time of film formation, a non-film formation space surrounded by the upper film formation chamber wall 6 and the flexible substrate 20 is formed in each plasma CVD chamber 2. In the thin film photoelectric conversion element, a transparent electrode layer formed on one surface of the flexible substrate 20 and a metal electrode layer formed on the other surface are connected through a through hole formed in the flexible substrate 20. There is a structure in which the distance through which the current flows through the transparent electrode layer having a high sheet resistance is shortened. When the thin film photoelectric conversion element having such a structure is formed with the thin film manufacturing apparatus 1, the film formation space and the non-film formation space communicate with each other through the through-hole formed in the flexible substrate 20. It will be. Therefore, in such a case, the thin film manufacturing apparatus 1 is formed between two strip-shaped end plates that are screwed to the end surfaces of the lower film formation chamber wall body 5 and the upper film formation chamber wall body 6 as in the prior art. The flexible substrate 20 is configured to be sandwiched by a sealing material held so as not to drop off in the groove. Thereby, the film formation space and the non-film formation space are kept airtight.

また、この薄膜製造装置1は、プラズマCVD室2の可撓性基板20の搬送方向両側に、その搬送方向に直交する可撓性基板20の幅方向における一端部を挟持する第1保持機構部30と、この第1保持機構部30に対向する可撓性基板20の他端側に、可撓性基板20の幅方向における他端部を挟持する第2保持機構部40とを有している。さらに、薄膜製造装置1は、可撓性基板20の第2保持機構部40で挟持された端部を、可撓性基板20の幅方向に引っ張る引張機構部50を有している。   Further, the thin film manufacturing apparatus 1 includes a first holding mechanism unit that sandwiches one end portion in the width direction of the flexible substrate 20 orthogonal to the conveyance direction on both sides of the plasma CVD chamber 2 in the conveyance direction of the flexible substrate 20. 30 and a second holding mechanism portion 40 that sandwiches the other end portion of the flexible substrate 20 in the width direction on the other end side of the flexible substrate 20 facing the first holding mechanism portion 30. Yes. Furthermore, the thin film manufacturing apparatus 1 includes a tension mechanism unit 50 that pulls an end portion sandwiched by the second holding mechanism unit 40 of the flexible substrate 20 in the width direction of the flexible substrate 20.

図3は可撓性基板を挟持する前の状態を示す図、図4は可撓性基板を挟持した状態を示す図である。
第1保持機構部30は、ベース31に固定されたボディ32を有し、このボディ32にはスプール33が内蔵されている。スプール33は、例えばフッ素ゴム製のOリングである第1シール34aおよび第2シール34bによって気密を保持してボディ32内を摺動するようになっている。ここではスプール33の駆動源にはコンプレッサが用いられ、圧力調整弁によって圧力制御されたエアが第1チューブ35aおよび第2チューブ35bからボディ32内に導入され、第1シール34aで気密を保ち、エア圧に応じてスプール33が移動するようになっている。第2シール34bは、ボディ32内部とボディ32外部(図1および図2に示した真空容器1a内)との気密を保持するようになっている。
FIG. 3 is a diagram illustrating a state before the flexible substrate is sandwiched, and FIG. 4 is a diagram illustrating a state in which the flexible substrate is sandwiched.
The first holding mechanism 30 has a body 32 fixed to a base 31, and a spool 33 is built in the body 32. The spool 33 is configured to slide in the body 32 while being kept airtight by a first seal 34a and a second seal 34b which are O-rings made of, for example, fluorine rubber. Here, a compressor is used as a driving source of the spool 33, and air whose pressure is controlled by a pressure regulating valve is introduced into the body 32 from the first tube 35a and the second tube 35b, and is kept airtight by the first seal 34a. The spool 33 moves according to the air pressure. The second seal 34b keeps the airtightness between the inside of the body 32 and the outside of the body 32 (inside the vacuum vessel 1a shown in FIGS. 1 and 2).

第1保持機構部30のスプール33の先端部には、弾力性のあるフッ素ゴム製の平面状の第1パッド36aがパッド受け36bに焼き付け固定されており、パッド受け36bは、スプール33の先端にねじ固定されている。第1パッド36aに対向するベース31上には、この第1パッド36aと同寸法でフッ素ゴム製の平面状の第2パッド36cが焼き付け固定されている。   A flat first pad 36 a made of elastic fluororubber is baked and fixed to the pad receiver 36 b at the tip of the spool 33 of the first holding mechanism 30. The pad receiver 36 b is fixed to the tip of the spool 33. It is fixed to the screw. On the base 31 facing the first pad 36a, a flat second pad 36c made of fluororubber having the same dimensions as the first pad 36a is baked and fixed.

第1保持機構部30は、ベース31を図1および図2に示した真空容器1aに固定され、それによってその全体が固定されている。この第1保持機構部30に可撓性基板20が搬送されてきたときには、第1保持機構部30は、スプール33を図3に示した初期の位置から図4に示した位置へ移動させ、可撓性基板20の一端部を第1パッド36aと第2パッド36cとの間に挟持するようになっている。ここでは、第1パッド36aおよび第2パッド36cを耐熱性ゴムであるフッ素ゴムで形成し、第1パッド36aおよび第2パッド36cが可撓性基板20を高いグリップ力で挟持するようにしている。そのため、第1パッド36aと第2パッド36cの間で可撓性基板20が滑ってしまうのが防止され、また、耐熱性を有するため、第1パッド36aと第2パッド36cは、ヒータ9で加熱された可撓性基板20に接触しても劣化しにくい構成になっている。   The first holding mechanism unit 30 has a base 31 fixed to the vacuum vessel 1a shown in FIGS. 1 and 2, and the whole thereof is fixed thereby. When the flexible substrate 20 is conveyed to the first holding mechanism unit 30, the first holding mechanism unit 30 moves the spool 33 from the initial position shown in FIG. 3 to the position shown in FIG. One end of the flexible substrate 20 is sandwiched between the first pad 36a and the second pad 36c. Here, the first pad 36a and the second pad 36c are made of fluororubber, which is a heat-resistant rubber, and the first pad 36a and the second pad 36c sandwich the flexible substrate 20 with a high grip force. . Therefore, the flexible substrate 20 is prevented from slipping between the first pad 36a and the second pad 36c, and has heat resistance. Therefore, the first pad 36a and the second pad 36c are connected by the heater 9. Even if it contacts the heated flexible substrate 20, it has the structure which is hard to deteriorate.

第2保持機構部40は、連結ブロック41に固定されたボディ42を有し、このボディ42にはスプール43が内蔵されている。スプール43は、例えばフッ素ゴム製のOリングである第1シール44aおよび第2シール44bによって気密を保持してボディ42内を摺動するようになっている。スプール43は、圧力制御されたエアが第1チューブ45aおよび第2チューブ45bからボディ42内に導入され、第1シール44aで気密を保ち、エア圧に応じて移動するようになっている。第2シール44bは、ボディ42内外の気密を保持するようになっている。   The second holding mechanism 40 has a body 42 fixed to the connecting block 41, and a spool 43 is built in the body 42. The spool 43 slides in the body 42 while maintaining airtightness by a first seal 44a and a second seal 44b, which are O-rings made of, for example, fluorine rubber. The spool 43 is configured such that pressure-controlled air is introduced into the body 42 from the first tube 45a and the second tube 45b, is kept airtight by the first seal 44a, and moves according to the air pressure. The second seal 44b is adapted to keep the inside and outside of the body 42 airtight.

第2保持機構部40のスプール43の先端部には、弾力性のあるフッ素ゴム製の平面状の第1パッド46aが、スプール43の先端にねじ固定されたパッド受け46bに焼き付け固定されている。第1パッド46aに対向する連結ブロック41には、第1パッド46aと同寸法でフッ素ゴム製の平面状の第2パッド46cが焼き付け固定されている。   At the tip of the spool 43 of the second holding mechanism 40, a flat first pad 46a made of elastic fluoro rubber is baked and fixed to a pad receiver 46b screwed to the tip of the spool 43. . A flat second pad 46c made of fluororubber having the same dimensions as the first pad 46a is baked and fixed to the connecting block 41 facing the first pad 46a.

第2保持機構部40は、可撓性基板20が搬送されてきたときには、スプール43を図3に示した初期の位置から図4に示した位置へ移動させ、可撓性基板20の第1保持機構部30に挟持される側と反対側の端部を第1パッド46aと第2パッド46cとの間に挟持するようになっている。ここでは、第1保持機構部30と同様、第1パッド46aおよび第2パッド46cをフッ素ゴムで形成して可撓性基板20を高いグリップ力で挟持するようにしているので、第1パッド46aと第2パッド46cの間での可撓性基板20の滑りが防止され、また、第1パッド46aと第2パッド46cは、耐熱性を有することで熱劣化しにくい構成になっている。   When the flexible substrate 20 is conveyed, the second holding mechanism unit 40 moves the spool 43 from the initial position shown in FIG. 3 to the position shown in FIG. The end opposite to the side sandwiched by the holding mechanism 30 is sandwiched between the first pad 46a and the second pad 46c. Here, as with the first holding mechanism section 30, the first pad 46a and the second pad 46c are formed of fluororubber so as to sandwich the flexible substrate 20 with a high gripping force. The flexible substrate 20 is prevented from slipping between the first pad 46c and the second pad 46c, and the first pad 46a and the second pad 46c have heat resistance so that they are not easily deteriorated by heat.

引張機構部50は、プレート51に固定されたボディ52を有し、このボディ52にはスプール53が内蔵されている。スプール53は、例えばフッ素ゴム製のOリングである第1シール54aおよび第2シール54bによって気密を保持してボディ52内を摺動するようになっている。スプール53は、圧力制御されたエアが第1チューブ55aおよび第2チューブ55bからボディ52内に導入され、第1シール54aで気密を保ち、エア圧に応じて移動するようになっている。第2シール54bは、ボディ52内外の気密を保持するようになっている。   The tension mechanism unit 50 has a body 52 fixed to a plate 51, and a spool 53 is built in the body 52. The spool 53 slides in the body 52 while maintaining airtightness by a first seal 54a and a second seal 54b, which are O-rings made of, for example, fluorine rubber. The spool 53 is configured such that pressure-controlled air is introduced into the body 52 from the first tube 55a and the second tube 55b, is kept airtight by the first seal 54a, and moves according to the air pressure. The second seal 54b is adapted to maintain airtightness inside and outside the body 52.

引張機構部50のスプール53の先端は、第2保持機構部40の連結ブロック41に接続されている。また、引張機構部50のプレート51は図1および図2に示した真空容器1aに固定され、このプレート51には直線ガイド51aが設けられている。第2保持機構部40の連結ブロック41は、引張機構部50のスプール53の移動に伴って直線ガイド51aに案内され、それにより、第2保持機構部40が第1保持機構部30に対して近付いたり離れたりする方向に移動できるようになっている。   The tip of the spool 53 of the tension mechanism unit 50 is connected to the connection block 41 of the second holding mechanism unit 40. Further, the plate 51 of the tension mechanism section 50 is fixed to the vacuum vessel 1a shown in FIGS. 1 and 2, and the plate 51 is provided with a linear guide 51a. The connection block 41 of the second holding mechanism unit 40 is guided by the linear guide 51 a as the spool 53 of the pulling mechanism unit 50 moves, so that the second holding mechanism unit 40 moves relative to the first holding mechanism unit 30. It can move in the direction of approaching or leaving.

可撓性基板20は、搬送されて所定の成膜位置(プラズマCVD室2)で停止され、温度200℃〜250℃に加熱されたヒータ9の輻射熱によって温められ、さらに接地電極10の接触によってヒータ9と同等の温度まで加熱される。可撓性基板20に耐熱性のある1m幅のポリイミドフィルムを用い、搬送方向に200N程度の張力を加えると、可撓性基板20の搬送方向に1m当たり4mm程度伸びが生じ、幅方向は2mm程度収縮する。この幅方向の収縮により、可撓性基板20にはウェーブ状の皺(ウェーブ高さ約2mm〜3mm)が発生する。   The flexible substrate 20 is transported and stopped at a predetermined film formation position (plasma CVD chamber 2), heated by the radiant heat of the heater 9 heated to a temperature of 200 ° C. to 250 ° C., and further contacted with the ground electrode 10. Heated to a temperature equivalent to that of the heater 9. When a heat-resistant 1 m wide polyimide film is used for the flexible substrate 20 and a tension of about 200 N is applied in the transport direction, the flexible substrate 20 is stretched by about 4 mm per meter in the transport direction, and the width direction is 2 mm. Shrink to some extent. Due to the contraction in the width direction, wavy wrinkles (wave height of about 2 mm to 3 mm) are generated on the flexible substrate 20.

上記構成の薄膜製造装置1では、まず、第1保持機構部30で第1チューブ35aから圧力制御されたエアがボディ32内に導入され、それに伴ってボディ32内の残存エアの一部が第2チューブ35bから抜け、スプール33が図3に示した初期位置から可撓性基板20側へ移動する。これにより、図4に示したように、可撓性基板20は、その一端部を第1パッド36aと第2パッド36cとに挟持される。   In the thin film manufacturing apparatus 1 configured as described above, first, air whose pressure is controlled from the first tube 35a by the first holding mechanism unit 30 is introduced into the body 32, and accordingly, a part of the remaining air in the body 32 is first. 2 Pull out from the tube 35b, and the spool 33 moves from the initial position shown in FIG. 3 to the flexible substrate 20 side. Thereby, as shown in FIG. 4, the flexible substrate 20 is sandwiched between the first pad 36a and the second pad 36c.

一方、第2保持機構部40では、第1チューブ45aからボディ42内にエアが導入され、それに伴ってボディ42内の残存エアの一部が第2チューブ45bから抜け、スプール43が図3に示した初期位置から可撓性基板20側へ移動する。これにより、図4に示したように、可撓性基板20は、第1保持機構部30で挟持されている一端部と反対の他端部を第1パッド46aと第2パッド46cとに挟持される。   On the other hand, in the second holding mechanism 40, air is introduced into the body 42 from the first tube 45a, and part of the remaining air in the body 42 is withdrawn from the second tube 45b, and the spool 43 is shown in FIG. It moves from the initial position shown to the flexible substrate 20 side. As a result, as shown in FIG. 4, the flexible substrate 20 holds the other end opposite to the one held by the first holding mechanism 30 between the first pad 46a and the second pad 46c. Is done.

その後、引張機構部50で第1チューブ55aからボディ52内にエアが導入され、ボディ52内の残存エアの一部が第2チューブ55bから抜け、スプール53が図3に示した初期位置から第2保持機構部40側へ移動する。これにより、第2保持機構部40の連結ブロック41が引張機構部50のプレート51の直線ガイド51aに案内されながら押され、第1保持機構部30と第2保持機構部40との間の距離が広がるようになる。可撓性基板20は、その一端部を第1保持機構部30にて挟持され、その他端部を第2保持機構部40にて挟持された状態で、さらに引張機構部50によって可撓性基板20の幅方向に引き伸ばされ、図3に示したように可撓性基板20に生じていた皺が、図4に示したように伸ばされるようになる。   Thereafter, air is introduced from the first tube 55a into the body 52 by the tension mechanism 50, and a part of the remaining air in the body 52 is removed from the second tube 55b, and the spool 53 is moved from the initial position shown in FIG. 2 Move to the holding mechanism 40 side. As a result, the connecting block 41 of the second holding mechanism unit 40 is pushed while being guided by the linear guide 51 a of the plate 51 of the tension mechanism unit 50, and the distance between the first holding mechanism unit 30 and the second holding mechanism unit 40. Will spread. The flexible substrate 20 is clamped by the first holding mechanism 30 and the other end is clamped by the second holding mechanism 40 while the flexible substrate 20 is further clamped by the tension mechanism 50. The wrinkles stretched in the width direction 20 and generated on the flexible substrate 20 as shown in FIG. 3 are stretched as shown in FIG.

成膜終了後に可撓性基板20を搬送する際には、第1保持機構部30、第2保持機構部40および引張機構部50において、それぞれ第2チューブ35b,45b,55bからボディ32,42,52内にエアを導入し、ボディ32,42,52内の残存エアの一部を第1チューブ35a,45a,55aから抜く。これにより、引張機構部50のスプール53が図3の初期位置に戻って第1,第2保持機構部30,40間の距離が初期の状態に戻るとともに、第1,第2保持機構部30,40のスプール33,43がそれぞれ可撓性基板20から離れる方向へ移動して可撓性基板20の挟持が解除され、可撓性基板20を搬送することができるようになる。   When the flexible substrate 20 is transported after film formation, the first holding mechanism 30, the second holding mechanism 40, and the pulling mechanism 50 are respectively connected to the bodies 32, 42 from the second tubes 35b, 45b, 55b. , 52 is introduced into air, and a part of the remaining air in the bodies 32, 42, 52 is extracted from the first tubes 35a, 45a, 55a. As a result, the spool 53 of the tension mechanism unit 50 returns to the initial position in FIG. 3 so that the distance between the first and second holding mechanism units 30 and 40 returns to the initial state, and the first and second holding mechanism units 30. , 40 are moved away from the flexible substrate 20 to release the holding of the flexible substrate 20, and the flexible substrate 20 can be transported.

ここで、第1保持機構部30における第1パッド36aと第2パッド36cによる可撓性基板20の挟持は、50N〜100N程度の力で行われるようにエア圧を制御し、第2保持機構部40における第1パッド46aと第2パッド46cによる可撓性基板20の挟持は、50N〜100N程度の力で行われるようにエア圧を制御するようにする。可撓性基板20を挟持する力が50Nを下回る場合には、たとえ第1パッド36a,46aと第2パッド36c,46cにフッ素ゴムなどを用いていても、可撓性基板20が確実に挟持されずに皺を伸ばす効果が小さくなってしまう可能性がある。また、可撓性基板20を挟持するためには、その挟持する力は100N程度あれば十分と考えられる。   Here, the air pressure is controlled so that the holding of the flexible substrate 20 by the first pad 36a and the second pad 36c in the first holding mechanism 30 is performed with a force of about 50N to 100N, and the second holding mechanism The air pressure is controlled so that the flexible substrate 20 is sandwiched between the first pad 46a and the second pad 46c in the portion 40 with a force of about 50N to 100N. When the force for sandwiching the flexible substrate 20 is less than 50 N, the flexible substrate 20 is securely sandwiched even if fluorine rubber or the like is used for the first pads 36a, 46a and the second pads 36c, 46c. Otherwise, the effect of stretching the heels may be reduced. Moreover, in order to clamp the flexible substrate 20, it is considered that a clamping force of about 100 N is sufficient.

引張機構部50による可撓性基板20の引っ張り力は、例えば搬送張力と同等の200N程度の力になるようにエア圧を制御する。このように、可撓性基板20の引っ張り力は、その搬送張力に応じて設定する。引っ張り力が搬送張力に対して小さすぎると可撓性基板20の皺を伸ばす効果が小さくなってしまい、一方、引っ張り力が搬送張力に対して大きすぎると幅方向に引っ張ることによって可撓性基板20に新たな皺が発生してしまうようになるためである。   The air pressure is controlled so that the pulling force of the flexible substrate 20 by the pulling mechanism unit 50 becomes, for example, a force of about 200 N, which is equivalent to the transport tension. Thus, the pulling force of the flexible substrate 20 is set according to the transport tension. If the pulling force is too small with respect to the transport tension, the effect of extending the wrinkles of the flexible substrate 20 becomes small. On the other hand, if the pulling force is too large with respect to the transport tension, the flexible substrate is pulled in the width direction. This is because a new wrinkle is generated at 20.

また、第1保持機構部30、第2保持機構部40および引張機構部50は、上記のエアのような気体やあるいは液体を用いてその流体圧力によって駆動制御されるように構成することが好ましい。それにより、成膜条件としてヒータ9の温度を変更して可撓性基板20の収縮量が変化しても、制御された一定の張力で可撓性基板20をその幅方向に引っ張ることが可能になる。   In addition, the first holding mechanism unit 30, the second holding mechanism unit 40, and the tension mechanism unit 50 are preferably configured to be driven and controlled by the fluid pressure using a gas or liquid such as the air described above. . Thereby, even if the temperature of the heater 9 is changed as a film forming condition and the contraction amount of the flexible substrate 20 is changed, the flexible substrate 20 can be pulled in the width direction with a controlled constant tension. become.

図5はa−Si膜の膜厚分布図である。この図5において、横軸は可撓性基板の幅方向の位置(mm)を表し、縦軸は形成されたa−Si膜厚(μm)を表している。また、図5において、実線は上記薄膜製造装置1を用いてa−Si膜を形成したときの結果を示しており、点線は第1保持機構部30、第2保持機構部40および引張機構部50を有しない薄膜製造装置を用いてa−Si膜を形成したときの結果を示している。   FIG. 5 is a film thickness distribution diagram of the a-Si film. In FIG. 5, the horizontal axis represents the position (mm) in the width direction of the flexible substrate, and the vertical axis represents the formed a-Si film thickness (μm). In FIG. 5, the solid line indicates the result when the a-Si film is formed using the thin film manufacturing apparatus 1, and the dotted line indicates the first holding mechanism part 30, the second holding mechanism part 40, and the tension mechanism part. The result when forming an a-Si film using the thin film manufacturing apparatus which does not have 50 is shown.

図5に示すように、上記薄膜製造装置1を用いた場合には、a−Si膜の膜厚分布の均一性は良好であり、可撓性基板20の幅方向にほぼ一定の膜厚でa−Si膜が形成されている。薄膜製造装置1の第1保持機構部30、第2保持機構部40および引張機構部50により、可撓性基板20に生じる皺が伸ばされて可撓性基板20が平坦化され、可撓性基板20と高電圧電極8との間の距離が可撓性基板20上の位置に依らず均一化されているといえる。これに対し、第1保持機構部30、第2保持機構部40および引張機構部50を有しない薄膜製造装置を用いた場合には、可撓性基板20に皺が残っているため可撓性基板20と高電圧電極8との間の距離が不均一になり、可撓性基板20上の位置によってa−Si膜の膜厚が変化してしまっていることがわかる。   As shown in FIG. 5, when the thin film manufacturing apparatus 1 is used, the uniformity of the film thickness distribution of the a-Si film is good, and the film thickness is almost constant in the width direction of the flexible substrate 20. An a-Si film is formed. The first holding mechanism 30, the second holding mechanism 40, and the pulling mechanism 50 of the thin film manufacturing apparatus 1 stretch the wrinkles that are generated on the flexible substrate 20, thereby flattening the flexible substrate 20. It can be said that the distance between the substrate 20 and the high voltage electrode 8 is made uniform regardless of the position on the flexible substrate 20. On the other hand, when a thin film manufacturing apparatus that does not include the first holding mechanism portion 30, the second holding mechanism portion 40, and the pulling mechanism portion 50 is used, since the wrinkles remain on the flexible substrate 20, the flexibility It can be seen that the distance between the substrate 20 and the high voltage electrode 8 becomes non-uniform, and the film thickness of the a-Si film changes depending on the position on the flexible substrate 20.

また、第1保持機構部30および第2保持機構部40における第1パッド36a,46aおよび第2パッド36c,46cは、上記のような弾力性があって高グリップ力のフッ素ゴムなどのほか、ステンレスやアルミニウムなどの金属またはアルミナなどのセラミック材料を用いて形成することもできる。その場合、第1パッド36a,46aおよび第2パッド36c,46cと可撓性基板20との接触面積を高め、かつ、可撓性基板20の保持力を高めるために、可撓性基板20を挟持する部分となる第1パッド36a,46aおよび第2パッド36c,46cを、例えば以下の図6〜図8に示すような凹凸面を有する形状とすることができる。ここで、図6は第1パッドおよび第2パッドが断面矩形状で形成されている場合を示す図、図7は第1パッドおよび第2パッドが断面三角形状で形成されている場合を示す図、図8は第1パッドおよび第2パッドが断面円弧状で形成されている場合を示す図である。なお、図6〜図8には、それぞれ可撓性基板20が挟持された状態を示している。   In addition, the first pads 36a, 46a and the second pads 36c, 46c in the first holding mechanism 30 and the second holding mechanism 40 are elastic and have high grip force, such as fluoro rubber, It can also be formed using a metal such as stainless steel or aluminum or a ceramic material such as alumina. In that case, in order to increase the contact area between the first pads 36 a and 46 a and the second pads 36 c and 46 c and the flexible substrate 20 and to increase the holding force of the flexible substrate 20, the flexible substrate 20 is provided. For example, the first pads 36a and 46a and the second pads 36c and 46c to be sandwiched can be formed into a shape having an uneven surface as shown in FIGS. Here, FIG. 6 is a diagram showing a case where the first pad and the second pad are formed with a rectangular cross section, and FIG. 7 is a diagram showing a case where the first pad and the second pad are formed with a triangular cross section. FIG. 8 is a diagram showing a case where the first pad and the second pad are formed in a circular arc shape in cross section. 6 to 8 show a state in which the flexible substrate 20 is sandwiched, respectively.

例えば図6に示すように、スプール33(43)の先端に固定されたパッド受け36b(46b)に、断面矩形状の凹凸面を有する第1パッド36a(46a)を固定し、これに対向するベース31(連結ブロック41)上に、第1パッド36a(46a)の凹凸面に噛み合う断面矩形状の凹凸面を有する第2パッド36c(46c)を固定する。可撓性基板20は、断面矩形状の第1パッド36a(46a)と第2パッド36c(46c)に挟持されながら幅方向に引っ張られ、皺が伸ばされるようになる。   For example, as shown in FIG. 6, a first pad 36a (46a) having an uneven surface with a rectangular cross section is fixed to a pad receiver 36b (46b) fixed to the tip of a spool 33 (43) and faces this. On the base 31 (connection block 41), the second pad 36c (46c) having an uneven surface with a rectangular cross section that meshes with the uneven surface of the first pad 36a (46a) is fixed. The flexible substrate 20 is pulled in the width direction while being sandwiched between the first pad 36a (46a) and the second pad 36c (46c) having a rectangular cross section so that the heel is extended.

また、図7に示すように、スプール33(43)の先端に固定されたパッド受け36b(46b)に、断面三角形状の凹凸面を有する第1パッド36a(46a)を固定し、これに対向するベース31(連結ブロック41)上に、第1パッド36a(46a)の凹凸面に噛み合う断面三角形状の凹凸面を有する第2パッド36c(46c)を固定しても同様の効果が得られる。   Further, as shown in FIG. 7, a first pad 36a (46a) having a concavo-convex surface having a triangular cross section is fixed to a pad receiver 36b (46b) fixed to the tip of the spool 33 (43), and is opposed to this. The same effect can be obtained by fixing the second pad 36c (46c) having a concavo-convex surface having a triangular cross section that meshes with the concavo-convex surface of the first pad 36a (46a) on the base 31 (connecting block 41).

さらに、図8に示すように、スプール33(43)の先端に固定されたパッド受け36b(46b)に、断面円弧状の凹凸面を有する第1パッド36a(46a)を固定し、これに対向するベース31(連結ブロック41)上に、第1パッド36a(46a)の凹凸面に噛み合う断面円弧状の凹凸面を有する第2パッド36c(46c)を固定するようにしてもよい。特に、第1パッド36a,46aおよび第2パッド36c,46cの凹凸面をこのような断面円弧状とした場合には、パッド面内にはエッジ部分がないため、挟持した可撓性基板20に損傷を与える可能性がほとんどない。   Further, as shown in FIG. 8, a first pad 36a (46a) having an uneven surface with an arcuate cross section is fixed to a pad receiver 36b (46b) fixed to the tip of the spool 33 (43), and is opposed to this. The second pad 36c (46c) having a concavo-convex surface having an arcuate cross section that meshes with the concavo-convex surface of the first pad 36a (46a) may be fixed on the base 31 (connection block 41). In particular, when the concave and convex surfaces of the first pads 36a and 46a and the second pads 36c and 46c have such a cross-sectional arc shape, since there is no edge portion in the pad surface, the sandwiched flexible substrate 20 has There is little potential for damage.

以上説明したように、薄膜製造装置1のプラズマCVD室2の可撓性基板20搬送方向両側に、第1保持機構部30、第2保持機構部40および引張機構部50を設け、可撓性基板20の皺を伸ばした状態でa−Si膜などの薄膜を形成するようにした。これにより、可撓性基板20上に膜厚分布の良好な薄膜を形成することができるようになり、薄膜特性を向上させ、外観上の色むらもなくなるので商品価値も向上させることができるようになる。薄膜製造装置1を薄膜光電変換素子の製造に用いることにより、その発電効率が向上するようになり、また、外観上の商品価値も向上するようになるので、高特性、高品質の薄膜光電変換素子を実現できるようになる。   As described above, the first holding mechanism unit 30, the second holding mechanism unit 40, and the pulling mechanism unit 50 are provided on both sides of the plasma CVD chamber 2 of the thin film manufacturing apparatus 1 in the conveyance direction of the flexible substrate 20, and are flexible. A thin film such as an a-Si film was formed with the ridges of the substrate 20 stretched. As a result, a thin film having a good film thickness distribution can be formed on the flexible substrate 20, the thin film characteristics can be improved, and the color unevenness in appearance can be eliminated, so that the commercial value can be improved. become. By using the thin film manufacturing apparatus 1 for manufacturing a thin film photoelectric conversion element, the power generation efficiency is improved and the commercial value of the appearance is also improved. Therefore, the thin film photoelectric conversion with high characteristics and high quality is achieved. An element can be realized.

また、以上の説明では、プラズマCVD室2の可撓性基板20搬送方向両側において、第1保持機構部30および第2保持機構部40によって可撓性基板20の一端部および他端部を挟持するようにしたが、可撓性基板20の縁部の広い領域を挟持して皺を伸ばすような構成とすることもできる。   In the above description, one end and the other end of the flexible substrate 20 are sandwiched by the first holding mechanism 30 and the second holding mechanism 40 on both sides of the plasma CVD chamber 2 in the direction of transporting the flexible substrate 20. However, it is also possible to adopt a configuration in which a wide region of the edge portion of the flexible substrate 20 is sandwiched to extend the ridge.

図9は別の構成の薄膜製造装置の平面図である。ただし、図9では、図1に示した要素と同一の要素については同一の符号を付し、その説明の詳細は省略する。
図9に示す薄膜製造装置60には、送りロール3から巻取りロール4へ巻き取られて搬送される可撓性基板20幅方向の各プラズマCVD室2の外側に、プラズマCVD室2外にはみ出した可撓性基板20の対向位置の端部を挟持する第1保持機構部30aおよび第2保持機構部40aが配置されている。この薄膜製造装置60における第1,第2保持機構部30a,40aは、上記薄膜製造装置1における場合と同様に、可撓性基板20を流体圧力などによって駆動制御されるパッドで挟めるように構成されている。図9に示したように、第1,第2保持機構部30a,40aは、各プラズマCVD室2と同幅または長尺幅の広い領域の端部を挟持できる構成になっている。
FIG. 9 is a plan view of a thin film manufacturing apparatus having another configuration. However, in FIG. 9, the same elements as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
In the thin film manufacturing apparatus 60 shown in FIG. 9, outside the plasma CVD chamber 2 outside the plasma CVD chamber 2 in the width direction of the flexible substrate 20 wound and transported from the feed roll 3 to the take-up roll 4. A first holding mechanism portion 30a and a second holding mechanism portion 40a that sandwich the end portion of the protruding flexible substrate 20 facing each other are disposed. The first and second holding mechanism sections 30a and 40a in the thin film manufacturing apparatus 60 are configured to sandwich the flexible substrate 20 with pads that are driven and controlled by fluid pressure or the like, as in the thin film manufacturing apparatus 1. Has been. As shown in FIG. 9, the first and second holding mechanism portions 30 a and 40 a are configured to be able to sandwich the end portion of a region having the same width or a long width as each plasma CVD chamber 2.

また、薄膜製造装置60は、可撓性基板20の一端部を挟持した第2保持機構部40aを他端部を挟持した第1保持機構部30aから離れる方向へ移動させ、一方の縁部を可撓性基板20幅方向に引っ張る引張機構部50aを有している。引張機構部50aは、上記薄膜製造装置1における場合と同様の構成で同様にして駆動制御することができる。また、第2保持機構部40aを第1保持機構部30aから引き離すことのできる構成であれば、引張機構部50aは、その他の構成を有していても構わない。   Further, the thin film manufacturing apparatus 60 moves the second holding mechanism portion 40a holding one end portion of the flexible substrate 20 in a direction away from the first holding mechanism portion 30a holding the other end portion, and moves one edge portion. The flexible substrate 20 has a pulling mechanism 50a that pulls in the width direction. The pulling mechanism 50a can be driven and controlled in the same manner as in the thin film manufacturing apparatus 1 with the same configuration. Further, the tension mechanism unit 50a may have other configurations as long as the second holding mechanism unit 40a can be separated from the first holding mechanism unit 30a.

このような構成を有する薄膜製造装置60を用いても、薄膜形成の際に可撓性基板20の皺を伸ばすことができるので、可撓性基板20上に膜厚分布の良好な薄膜を形成することができる。薄膜製造装置60は、特にプラズマCVD室2の幅よりも大きな幅の可撓性基板20を用いることができる場合などに有効となる。   Even if the thin film manufacturing apparatus 60 having such a configuration is used, it is possible to stretch the wrinkles of the flexible substrate 20 when forming the thin film, so that a thin film having a good film thickness distribution is formed on the flexible substrate 20. can do. The thin film manufacturing apparatus 60 is particularly effective when a flexible substrate 20 having a width larger than the width of the plasma CVD chamber 2 can be used.

なお、薄膜製造装置60においては、上記薄膜製造装置1と同様、第1,第2保持機構部30a,40aの可撓性基板20を挟持するパッド部分に、フッ素ゴムなどの耐熱性ゴム、金属、セラミックなどの材料を用いることができる。さらに、そのパッド部分に、互いに噛み合う凹凸面を形成し、その凹凸面の間に可撓性基板20を挟持するようにしてもよい。   In the thin film manufacturing apparatus 60, as in the thin film manufacturing apparatus 1, a heat-resistant rubber such as fluororubber or a metal is attached to a pad portion that sandwiches the flexible substrate 20 of the first and second holding mechanism portions 30a and 40a. A material such as ceramic can be used. Further, an uneven surface that meshes with each other may be formed in the pad portion, and the flexible substrate 20 may be sandwiched between the uneven surfaces.

本発明の薄膜製造装置は、薄膜光電変換素子の形成に好適に用いることができ、一般に可撓性基板上に複数層が形成される薄膜素子の製造に広く用いることができる。   The thin film manufacturing apparatus of the present invention can be suitably used for forming a thin film photoelectric conversion element, and can be widely used for manufacturing a thin film element in which a plurality of layers are generally formed on a flexible substrate.

薄膜製造装置の平面図である。It is a top view of a thin film manufacturing apparatus. 薄膜製造装置の断面図である。It is sectional drawing of a thin film manufacturing apparatus. 可撓性基板を挟持する前の状態を示す図である。It is a figure which shows the state before clamping a flexible substrate. 可撓性基板を挟持した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which clamped the flexible substrate. a−Si膜の膜厚分布図である。It is a film thickness distribution map of an a-Si film. 第1パッドおよび第2パッドが断面矩形状で形成されている場合を示す図である。It is a figure which shows the case where the 1st pad and the 2nd pad are formed in cross-sectional rectangular shape. 第1パッドおよび第2パッドが断面三角形状で形成されている場合を示す図である。It is a figure which shows the case where the 1st pad and the 2nd pad are formed in the cross-sectional triangle shape. 第1パッドおよび第2パッドが断面円弧状で形成されている場合を示す図である。It is a figure which shows the case where the 1st pad and the 2nd pad are formed in cross-sectional arc shape. 別の構成の薄膜製造装置の平面図である。It is a top view of the thin film manufacturing apparatus of another structure. ステッピングロール方式の成膜室開放時の断面図である。It is sectional drawing at the time of the film-forming chamber of a stepping roll system. ステッピングロール方式の成膜室封止時の断面図である。It is sectional drawing at the time of film-forming chamber sealing of a stepping roll system. 成膜室のシール構造の要部断面図である。It is principal part sectional drawing of the seal structure of a film-forming chamber.

符号の説明Explanation of symbols

1,60 薄膜製造装置
1a 真空容器
2 プラズマCVD室
3 送りロール
4 巻取りロール
5 下部成膜室壁体
5a シール材
6 上部成膜室壁体
7 電源
8 高電圧電極
9 ヒータ
10 接地電極
11 排気管
20 可撓性基板
30,30a 第1保持機構部
31 ベース
32,42,52 ボディ
33,43,53 スプール
34a,44a,54a 第1シール
34b,44b,54b 第2シール
35a,45a,55a 第1チューブ
35b,45b,55b 第2チューブ
36a,46a 第1パッド
36b,46b パッド受け
36c,46c 第2パッド
40,40a 第2保持機構部
41 連結ブロック
50,50a 引張機構部
51 プレート
51a 直線ガイド
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,60 Thin film manufacturing apparatus 1a Vacuum container 2 Plasma CVD chamber 3 Feeding roll 4 Winding roll 5 Lower film-forming chamber wall 5a Sealing material 6 Upper film-forming chamber wall 7 Power source 8 High voltage electrode 9 Heater 10 Ground electrode 11 Exhaust Tube 20 Flexible substrate 30, 30a First holding mechanism 31 Base 32, 42, 52 Body 33, 43, 53 Spool 34a, 44a, 54a First seal 34b, 44b, 54b Second seal 35a, 45a, 55a First 1 tube 35b, 45b, 55b 2nd tube 36a, 46a 1st pad 36b, 46b pad receiving 36c, 46c 2nd pad 40, 40a 2nd holding mechanism part 41 connection block 50, 50a tension mechanism part 51 plate 51a linear guide

Claims (7)

成膜室に搬送される可撓性基板上に薄膜を形成する薄膜製造装置において、
前記成膜室の前記可撓性基板搬送方向両側に固定配置されて前記可撓性基板搬送方向に直交する前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の一端部を挟持する第1保持機構部と、
前記第1保持機構部に対向配置されて前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の他端部を挟持する第2保持機構部と、
前記第2保持機構部を前記第1保持機構部との距離を広げる方向へ移動させて前記他端部を前記可撓性基板幅方向へ引っ張る引張機構部と、
を有することを特徴とする薄膜製造装置。
In a thin film manufacturing apparatus for forming a thin film on a flexible substrate conveyed to a film forming chamber,
A first holding which is fixedly disposed on both sides of the film forming chamber in the flexible substrate transport direction and sandwiches one end of the flexible substrate in the flexible substrate width direction perpendicular to the flexible substrate transport direction. A mechanism part;
A second holding mechanism portion disposed opposite to the first holding mechanism portion and sandwiching the other end portion of the flexible substrate in the flexible substrate width direction;
A pulling mechanism that moves the second holding mechanism in a direction that increases the distance from the first holding mechanism and pulls the other end in the width direction of the flexible substrate;
A thin film manufacturing apparatus comprising:
前記第1保持機構部、前記第2保持機構部および前記引張機構部は、前記可撓性基板を挟持するときまたは前記他端部を引っ張るときに、流体圧力によって駆動制御されるようにしたことを特徴とする請求項1記載の薄膜製造装置。   The first holding mechanism portion, the second holding mechanism portion, and the tension mechanism portion are driven and controlled by fluid pressure when the flexible substrate is sandwiched or when the other end portion is pulled. The thin film manufacturing apparatus according to claim 1. 前記第1保持機構部および前記第2保持機構部は、前記可撓性基板を挟持する部分が耐熱性ゴムを用いて形成されていることを特徴とする請求項1記載の薄膜製造装置。   2. The thin film manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the first holding mechanism section and the second holding mechanism section are formed using a heat-resistant rubber at a portion that sandwiches the flexible substrate. 前記第1保持機構部および前記第2保持機構部は、前記可撓性基板を挟持する部分が金属またはセラミックを用いて形成されていることを特徴とする請求項1記載の薄膜製造装置。   2. The thin film manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the first holding mechanism section and the second holding mechanism section are formed by using a metal or ceramic at a portion for holding the flexible substrate. 前記第1保持機構部および前記第2保持機構部は、前記可撓性基板を挟持する部分に互いに噛み合う凹凸面が形成されて前記凹凸面の間に前記可撓性基板を挟持することを特徴とする請求項1記載の薄膜製造装置。   The first holding mechanism part and the second holding mechanism part are characterized in that an uneven surface that meshes with each other is formed in a portion that holds the flexible substrate, and the flexible substrate is held between the uneven surfaces. The thin film manufacturing apparatus according to claim 1. 成膜室に搬送される可撓性基板上に薄膜を形成する薄膜製造装置において、
前記成膜室の前記可撓性基板搬送方向に直交する前記可撓性基板幅方向の外側に固定配置され、前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の一端部であって前記成膜室と同幅または長尺幅の前記一端部を挟持する第1保持機構部と、
前記成膜室を挟んで前記第1保持機構部に対向配置され、前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の他端部であって前記成膜室と同幅または長尺幅の前記他端部を挟持する第2保持機構部と、
前記第2保持機構部を前記第1保持機構部との距離を広げる方向へ移動させて前記他端部を前記可撓性基板幅方向へ引っ張る引張機構部と、
を有することを特徴とする薄膜製造装置。
In a thin film manufacturing apparatus for forming a thin film on a flexible substrate conveyed to a film forming chamber,
The film forming chamber is fixedly disposed outside the flexible substrate width direction orthogonal to the flexible substrate transport direction, and is one end of the flexible substrate in the flexible substrate width direction, A first holding mechanism portion for sandwiching the one end portion having the same width or a long width as the membrane chamber;
The other end of the flexible substrate in the width direction of the flexible substrate, which is opposite to the first holding mechanism portion across the film formation chamber and has the same width or a long width as the film formation chamber A second holding mechanism for sandwiching the other end;
A pulling mechanism that moves the second holding mechanism in a direction that increases the distance from the first holding mechanism and pulls the other end in the width direction of the flexible substrate;
A thin film manufacturing apparatus comprising:
成膜室に搬送される可撓性基板上に薄膜を形成する薄膜製造方法において、
前記可撓性基板搬送方向に直交する前記可撓性基板幅方向における前記可撓性基板の一端部および他端部を挟持し、
前記他端部を前記可撓性基板幅方向へ引っ張り前記可撓性基板上に前記薄膜を形成することを特徴とする薄膜製造方法。
In a thin film manufacturing method for forming a thin film on a flexible substrate conveyed to a film forming chamber,
Sandwiching one end and the other end of the flexible substrate in the flexible substrate width direction perpendicular to the flexible substrate transport direction;
The thin film is formed by pulling the other end in the width direction of the flexible substrate to form the thin film on the flexible substrate.
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