JP2005063613A - 光ディスク傾き検出装置および光ディスクドライブ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 １方向のチルトセンサ１つによって、２方向のチルトを検出可能にする。
【解決手段】 積分回路３５は、Ｔａｎ（タンジェンシャル）チルトセンサ１７が出力したＴａｎチルト検出信号を、スピンドルモータ２が出力する回転信号を基に、回転角で積分してＲａｄチルト演算信号を生成する。Ｒａｄコマ収差制御手段３６は前記Ｒａｄチルト演算信号に基づきＲａｄコマ収差変更手段を制御し、Ｔａｎコマ収差制御手段３７は前記Ｔａｎチルト検出信号に基づきＴａｎコマ収差変更手段を制御する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、光ディスクの傾き（チルト）変化を検出する光ディスク傾き検出装置、および、その光ディスク傾き検出装置を搭載して、光ディスクに対して記録または再生を行う光ディスクドライブ装置に関するものである。

光ディスクの高密度化に伴い、より高精度なチルト補正の必要性が増している。補正対象を、従来行われていたラジアル（以下、Ｒａｄと記す）チルトの光ディスク半径による変動だけではなく、光ディスクの１周内の変動まで拡大し、更にＲａｄ方向だけでなくタンジェンシャル（以下、Ｔａｎと記す）方向の変動も補正対象とすることにより、チルト補正を高精度化する手法が提案されている。

Ｒａｄ，Ｔａｎ両方向のチルトを補正するためには両方向のチルトを検出する必要があり、最も簡易な方法としては、Ｒａｄチルトを検出するセンサとＴａｎチルトを検出するセンサの２個を設置することが挙げられるが、センサを２個設置するため、その分、設置スペースが増えること、設置場所が異なるために検出位置も異なり誤差が生じること、部品点数の増加に伴うコスト高、および配線の増加などの不具合が生じる。

これらの不具合を解消するために、１つのセンサによりＲａｄ，Ｔａｎ両方向を検出するようにした発明が特許文献１，２などで提案されている。
特開平０８−１３８２５７号公報 特開平１０−３２０８０４号公報

しかしながら、特許文献１，２に記載された発明は２つのセンサを一体化したにすぎず、根本的には前記従来技術の不具合を発生させるという問題を少なからず抱えているといえる。

本発明の目的は、前記従来の課題を解決し、１方向のチルトセンサ１つによって、２方向のチルトを検出可能にする光ディスク傾き検出装置および光ディスクドライブ装置を提供することにある。

前記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、回転する光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに対して記録または再生を行う光ディスクドライブ装置に搭載される光ディスク傾き検出装置であって、光ディスクの半径方向または円周接線方向のいずれか一方の方向における傾き変化を、光ディスクの１回転内の変動を含めて検出する傾き検出手段と、該傾き検出手段の検出値変化を基に、他方の方向における傾き変化を算出する傾き演算手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、一方向の傾き変化を検出して直交する他方向の傾き変化を演算するため、傾き検出器を増やすことなく２方向の傾きが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項２に記載の発明は、請求項１記載の光ディスク傾き検出装置において、傾き検出手段は光ディスクの円周接線方向のＴａｎチルト変化を検出し、傾き演算手段は検出されたＴａｎチルト変化を光ディスクの回転角で積分して、光ディスクの半径方向のＲａｄチルト変化を算出することを特徴とし、この構成によって、Ｔａｎ方向のチルト変化を検出してＲａｄ方向のチルト変化を演算するため、チルトセンサを増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項３に記載の発明は、請求項１記載の光ディスク傾き検出装置において、傾き検出手段は光ディスクのＲａｄチルト変化を検出し、傾き演算手段は検出されたＲａｄチルト変化を光ディスクの回転角で微分して、光ディスクのＴａｎチルト変化を算出することを特徴とし、この構成によって、Ｒａｄ方向の傾き変化を検出してＴａｎ方向の傾き変化を演算するため、チルトセンサを増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項４に記載の発明は、回転する光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに対して記録または再生を行う記録／再生部と、光ディスクの傾き変化を検出する光ディスク傾き検出部とを備えた光ディスクドライブ装置において、前記光ディスク傾き検出部として、請求項１〜３いずれか１項に記載の傾き検出手段と傾き演算手段とを具備した光ディスク傾き検出装置を搭載したことを特徴とし、この構成によって、前記のように部品点数あるいは配線本数を削減した光ディスク傾き検出装置を用いることにより、光ディスクドライブ装置の構成の簡素化を図ることができる。

請求項５に記載の発明は、請求項４記載の光ディスクドライブ装置において、請求項１〜３いずれか１項に記載の光ディスク傾き検出装置における傾き検出手段の検出値と傾き演算手段の演算値との二乗平均を基に、光ディスクに照射する光ビームの光量を制御する出射光量制御手段を備えたことを特徴とし、この構成によって、２方向の傾きベクトル量から求めた傾きスカラー量を基に出射光量を制御するため、チルトに伴う光ディスクの盤面における実行パワーの低下を抑制することができる。

請求項６に記載の発明は、請求項４記載の光ディスクドライブ装置において、光ディスクの法線と光ビームの光軸とのずれ、または該ずれに起因して光スポットに生じる収差を変更するチルト変更手段と、傾き演算手段の算出結果を基にチルト変更手段を制御するチルト制御手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、チルト演算結果を基にチルト変更手段の駆動量を制御するため、チルトに伴うスポット劣化を低減することができる。

請求項７に記載の発明は、請求項４記載の光ディスクドライブ装置において、Ｒａｄチルトに起因して生じる光ディスクの法線と光ビームの光軸とのずれ、または該ずれに起因して光スポットに生じる収差を変更するＲａｄチルト変更手段と、Ｔａｎチルトに起因して生じる光ディスクの法線と光ビームの光軸とのずれ、または該ずれに起因して光スポットに生じる収差を変更するＴａｎチルト変更手段と、Ｒａｄチルト演算値を基に前記Ｒａｄチルト変更手段を制御するＲａｄチルト制御手段と、Ｔａｎチルト検出値を基に前記Ｔａｎチルト変更手段を制御するＴａｎチルト制御手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、Ｒａｄチルト演算結果を基にＲａｄチルト変更手段の駆動量を制御し、Ｔａｎチルト検出値を基にＴａｎチルト変更手段の駆動量を制御するため、チルトに伴うスポット劣化を低減することができる。

請求項８に記載の発明は、回転する光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに対して記録または再生を行う記録／再生部と、光ディスクの傾き変化を検出する光ディスク傾き検出部とを備えた光ディスクドライブ装置において、前記光ディスク傾き検出部として、請求項２に記載の光ディスク傾き検出装置を搭載し、かつ光ディスクに設けられた情報トラックと光ディスクを照射している光スポットとのずれを検出するトラックエラー検出手段と、請求項２に記載の傾き演算手段が求めたＲａｄチルト変化を基に光ディスクのＲａｄチルトに起因する前記トラックエラー検出手段の検出誤差を補正するトラックエラー信号補正手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、Ｒａｄチルト演算結果を基にトラックエラー信号を補正するため、Ｒａｄチルトに伴うトラック制御オフセットを低減することができる。

請求項９に記載の発明は、光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスクへ記録／再生のために光ビームを照射する光ピックアップとを備えた光ディスクドライブ装置において、光ディスクのＲａｄチルトとＴａｎチルトとのいずれか一方を選択したときに、一方のチルトによって光ディスクを照射する光スポットに生じるコマ収差と相殺可能な逆コマ収差を前記光ビームに付加するコマ収差付加手段と、一方のチルトによって前記光スポットに生じるコマ収差を検出するコマ収差検出手段と、該コマ収差検出手段の出力がコマ収差無しの値に近づくように前記コマ収差付加手段を駆動制御するコマ収差制御手段と、該コマ収差制御手段の駆動量変化を基に他方のチルトによるコマ収差変化を算出するコマ収差演算手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、一方向のコマ収差検出手段の検出値を基にフィードバック制御されたコマ収差変更手段の駆動信号を基にして、他方向のチルト変化を演算するため、傾き検出手段やコマ収差検出手段を増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項１０に記載の発明は、請求項９記載の光ディスクドライブ装置において、一方のチルトはＴａｎチルトであり、コマ収差演算手段はコマ収差制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で積分してＲａｄチルト変化によるコマ収差変化を算出することを特徴とし、この構成によって、Ｔａｎ方向のコマ収差検出手段の検出値を基にフィードバック制御されたＴａｎコマ収差変更手段の駆動信号を基にして、Ｒａｄ方向のチルト変化を演算するため、Ｒａｄ傾き検出手段あるいはＲａｄコマ収差検出手段を増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項１１に記載の発明は、請求項９記載の光ディスクドライブ装置において、一方のチルトはＲａｄチルトであり、コマ収差演算手段はコマ収差制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で微分してＴａｎチルト変化によるコマ収差変化を算出することを特徴とし、この構成によって、Ｒａｄ方向のコマ収差検出手段の検出値を基にフィードバック制御されたＲａｄコマ収差変更手段の駆動信号を基にして、Ｔａｎ方向のチルト変化を演算するため、Ｔａｎ傾き検出手段あるいはＴａｎコマ収差検出手段を増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項１２に記載の発明は、請求項９，１０または１１記載の光ディスクドライブ装置において、他方のチルトに係るチルト変更手段と、コマ収差演算手段の算出結果を基に前記チルト変更手段を駆動制御する第２のコマ収差制御手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、Ｔａｎ（Ｒａｄ）コマ収差検出手段の検出値を基にＴａｎ（Ｒａｄ）コマ収差変更手段をフィードバック制御すると共にＲａｄ（Ｔａｎ）チルト演算結果を基にＲａｄ（Ｔａｎ）チルト変更手段の駆動量を制御するので、チルトに伴うスポット劣化を低減することができる。

請求項１３に記載の発明は、光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスク上へ記録／再生のために光ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズを含み光ディスクへ前記光ビームを照射する光ピックアップとを備えた光ディスクドライブにおいて、光ディスクにおける前記光ビームが照射されている領域近傍と前記対物レンズの光軸に垂直な面との相対角のうち光ディスクのＴａｎ方向成分を検出するＴａｎ相対チルト検出手段と、前記対物レンズを光ディスクのラジアル方向と平行な軸周りに傾斜する対物レンズＴａｎ方向傾斜手段と、前記Ｔａｎ相対チルト検出手段の出力がＴａｎ相対角無しの値へ近づくように前記対物レンズＴａｎ方向傾斜手段を駆動制御するＴａｎ相対チルト制御手段と、該Ｔａｎ相対チルト制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で積分してＲａｄチルト変化を算出するＲａｄチルト演算手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、光ディスクと対物レンズとのＴａｎ方向の相対角が０になるようにフィードバック制御しているシステムにおいて、駆動信号を基にＲａｄ方向のチルト変化を演算するため、Ｒａｄ傾き検出手段あるいはＲａｄコマ収差検出手段を増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

請求項１４に記載の発明は、光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスク上へ記録／再生のために光ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズを含み光ディスクに前記光ビームを照射する光ピックアップとを備えた光ディスクドライブにおいて、光ディスクにおける前記光ビームが照射されている領域近傍と前記対物レンズの光軸に垂直な面との相対角のうち光ディスクのＲａｄ方向成分を検出するＲａｄ相対チルト検出手段と、前記対物レンズを光ディスクのＴａｎ方向と平行な軸周りに傾斜する対物レンズＲａｄ方向傾斜手段と、前記Ｒａｄ相対チルト検出手段の出力がＲａｄ相対角無しの値に近づくように前記対物レンズＲａｄ方向傾斜手段を駆動制御するＲａｄ相対チルト制御手段と、該Ｒａｄ相対チルト制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で微分してＴａｎチルト変化を算出するＴａｎチルト演算手段とを備えたことを特徴とし、この構成によって、光ディスクと対物レンズとのＲａｄ方向の相対角が０になるようにフィードバック制御しているシステムにおいて、駆動信号を基にＴａｎ方向のチルト変化を演算するため、Ｔａｎ傾き検出手段あるいはＴａｎコマ収差検出手段を増やすことなく２方向のチルトが求まり、部品点数あるいは配線本数を削減することができる。

本発明に係る光ディスク傾き検出装置および光ディスクドライブ装置によれば、光ディスクの半径方向または円周接線方向のいずれか一方の方向における傾き変化を、光ディスクの１回転内の変動を含めて検出する傾き検出手段と、該傾き検出手段の検出値変化を基に、他方の方向における傾き変化を算出する傾き演算手段とを備えたことによって、一方向の傾き変化（ＲａｄチルトあるいはＴａｎチルト）を検出して直交する他方向の傾き変化（ＴａｎチルトあるいはＲａｄチルト）を演算するため、傾き検出器（チルトセンサ）を増やすことなく２方向の傾きが求まり、１方向のチルトセンサ１つによって、２方向のチルトを検出することが可能になり、部品点数あるいは配線本数を削減することができ、構成の簡素化が図ることができる。

まず、本発明に係るチルト演算原理について説明する。

一般的な樹脂製の光ディスクは射出成形によって製造され、光ディスクは、ディスク材料をディスクセンタ孔から外周に向けて射出することによって成形される。この製造方法のため、光ディスク１の歪みは、図１２に示すように、概ね回転方向に向かってひだ状に波打つ形状となる。この形状は（数１）の式にて略近似することができる。

ｆｚ［θ，ｒ］はデイスク面に垂直な座標であり、半径座標（ｒ）と角座標（θ）とを合わせてディスクの形状を表している。ｆａ［ｒ］は半径（ｒ）の関数であり、５次までの関数で略表すことができる。なお、（数１）の式において、その他の英大文字は定数である。

この関数はディスク１回転における０から４周期波打つ成分まで表している。ひだ状の歪と近似できるのは数周期程度までである。高周波の成分は、くぼみ状の歪となり、この関数には乗らない。しかし、高周波になる程、歪は小さくなり、４周期程度まで近似できれば十分な精度である。

前記Ｆｚ［θ，ｒ］を微分すると、（数２）の式に示すように、Ｒａｄ方向傾き（ёｒ）とＴａｎ方向傾き（ёθ）のベクトル関数が導き出せる。ここで（ёｒ）と（ёθ）は、それぞれＲａｄ方向傾きとＴａｎ方向傾きの単位ベクトルである。

（数２）の式に（数１）の式を代入すると、Ｒａｄチルト（Ｒｔ）とＴａｎチルト（Ｔｔ）は、（数３），（数４）に示す式となる。

（数３）の式における第１項（ｆａ’［ｒ］）は回転角（θ）によって変化することのないＤＣ成分である。

（数３）の式と（数４）の式とを比較すると、Ｒａｄチルトの大きさ（Ｒｔ／ёｒ）とＴａｎチルトの大きさ（Ｔｔ／ёθ）には、（数５）の式のような関係があることが判る。

すなわち、（数５）の上式のように、Ｔａｎチルトを検出すればその変化波形を回転角（θ）で積分して、Ｒａｄチルトのディスク回転による変化波形を求めることができ、また、（数５）の下式のように、Ｒａｄチルトを検出すればその変化波形を回転角（θ）で微分して、Ｔａｎチルトのディスク回転による変化波形を求めることができる。

図１３は実際のディスクにおけるＲａｄチルトとＴａｎチルトを測定したデータを示す図である。このディスクにおけるＴａｎチルトは（数６）の式で略近似することができる。

（数４）の式と異なり、ディスク１回転で２周期する成分をｓｉｎ波とｃｏｓ波とに分けて位相差（Ｅ）を設けていないが、合成すれば位相差（Ｅ）のある１つのｃｏｓ波となって等価である。

（数６）の式を積分した波形は（数７）の式となり、Ｒａｄチルトの測定値と略一致する。

また、このディスクにおけるＲａｎチルトは（数８）の式で略近似することができる。

（数３）の式と異なり、ディスク１回転で２周期する成分をｓｉｎ波とｃｏｓ波とに分けて位相差（Ｅ）を設けていないが、合成すれば位相差（Ｅ）のある１つのｓｉｎ波となって等価である。

（数８）の式を積分した波形は（数９）の式となり、Ｔａｎチルトの測定値と略一致する。

なお、ここで説明したチルト（Ｒｔ／ёｒ），（Ｔｔ／ёθ）は正確にはチルト角の正接（ｔａｎ）であるが、チルト角は微少なため、逆正接を演算しなくても、演算してもよい。

以下、本発明の好適な実施形態を図面を参照して説明する。

図１は本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例１の構成を説明するための平面図、図２は実施例１の正面構成と制御系とを示す正面図である。

まず、図１，図２を参照して各実施例の共通構成を説明する。

なお、図１において、光ディスク１と、光ディスク１を保持するクランパ４は省略して記載しており、図２において、光ディスク１とクランパ４は断面を記載しており、またステム１２と磁石１０は省略して記載している。

光ディスク１は、ターンテーブル３とクランパ４により挟持させられ、スピンドルモータ２により回転させられる。ピックアップ（ＰＵ）ハウジング５は、シークシャフト１３により光ディスク１の半径方向へ移動自在に支持されており、リードスクリュー１４を介してシークモータ１５により駆動させられる。

ＰＵハウジング５には、図３（ａ）に示すように、光検出器を含む光源２４と、コリメートレンズ２３と、液晶コマ収差補正素子２１，２２と、立上げミラー２５と、対物レンズ６からなる光学系が搭載されており、光源２４から出射された光ビームは対物レンズ６により光ディスク１へ集光させられ、光ディスク１を反射した光ビームは対物レンズ６を透過して光源２４における光検出器へ入射するようになっている。

対物レンズ６とフォーカシング用のＦｏコイル８とトラッキング用のＴｒコイル９とが固定されているレンズホルダ７は、支持ワイヤ１１によりステム１２に可動に接続されている。ステム１２および磁石１０はＰＵハウジング５に固定されている。レンズホルダ７は、支持ワイヤ１１が撓むことにより対物レンズ６の光軸方向および光ディスク１の半径方向へ移動自在となっており、Ｆｏコイル８に電流を流すことにより、対物レンズ６の光軸方向へ移動させられ、Ｔｒコイル９に電流を流すことにより、光ディスク１の半径方向へ移動させられる。

図２において、Ｆｏエラー検出手段３０は前記光源２４における光検出器からの出力を基に光ディスク１に照射している光スポットの焦点ズレ量を求め、Ｆｏ制御手段３１はＦｏエラー検出手段３０の出力を基にＦｏコイル８を駆動して光ディスク１を照射している光スポットを合焦状態に保つ。

Ｔｒエラー検出手段３２は、前記光検出器からの出力を基に光ディスク１に刻設された情報トラックに対する光スポットの半径方向のズレ量を検出し、Ｔｒエラー信号補正手段３３は後述する方法にてＴｒエラー検出手段３２の出力を補正する。Ｔｒ制御手段３４は、Ｔｒエラー信号補正手段３３の出力を基にＴｒコイル９を駆動して、光ディスク１を照射している光スポットが情報トラック上に位置するように保つ。

以上が各実施例の共通構成である。

図１，図２に示す実施例１において、Ｔａｎチルトセンサ１７はＰＵハウジング５上に固定されており、ＰＵハウジング５と光ディスク１とのＴａｎ方向の相対傾斜角を検出する。

図４（ａ），（ｂ）はＴａｎチルトセンサ１７の説明図であり、図４（ａ）において、Ｔａｎチルトセンサ１７は、光源４１と２分割受光素子４２とを内蔵している。２分割受光素子４２は、Ｔａｎ方向と直交する線分により２分割されている。光源４１から出射された発散光は、レンズ４３により平行光に変換され光ディスク１へ出射する。光ディスク１を照射した光は反射して、逆の光路を辿り、レンズ４３により２分割受光素子４２の分割線上へ集光させられる。

図４（ｂ）に示すように、光ディスク１がＴａｎ方向へ傾くと、光ディスク１での反射角が変わり、２分割受光素子４２上の集光点がＴａｎ方向へ移動する。２分割受光素子４２の各領域からの出力の差を求めることにより、光ディスク１とＴａｎチルトセンサ１７との相対角を検出することができる。

図２において、積分回路３５は、Ｔａｎチルトセンサ１７が出力したＴａｎチルト検出信号を、スピンドルモータ２が出力する回転信号を基に回転角で積分してＲａｄチルト演算信号を生成する。Ｔｒエラー検出手段３２が出力するＴｒエラー信号には、Ｒａｄチルトによりオフセットが生じる。そのためＴｒエラー信号補正手段３３は、積分回路３５が出力した前記Ｒａｄチルト演算信号を基にＴｒエラー信号からオフセット量を除去して補正Ｔｒエラー信号を生成する。Ｔｒ制御手段３４は、補正Ｔｒエラー信号を基にＴｒコイル９をフィードバック制御して、オフセットの低減されたＴｒサーボを行う。

Ｒａｄコマ収差制御手段３６は、積分回路３５が出力したＲａｄチルト演算信号を基にＲａｄコマ収差変更手段をオープンループ制御する。このＲａｄコマ収差変更手段としては、図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２、あるいは図５（ａ）に示すように、支持ワイヤ１１によりステム１２に可動に支持されているレンズホルダ７を、支持ワイヤ１１を捻るようにして、Ｒａｄ方向に駆動可能なＲａｄ傾斜アクチュエータなどがある。

液晶コマ収差補正素子２１，２２は、光ディスク１を照射する光ビームの光路中に配置させられおり、図３（ｂ）における領域Ａおよびｂと、領域Ｂおよびａとの間にチルトに応じた位相差を生じさせ、通過する光ビームにチルトによって生じる収差と逆の収差を付加する。これにより光ディスク１上の集光点では収差がキャンセルされ、このため良好な光スポットが得られる。

液晶コマ収差補正素子２１，２２を、図３（ａ）に示す液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２の位置のような方向に設置すればＲａｄコマ収差を操作可能であり、また液晶Ｔａｎコマ収差補正素子２１の位置のような方向に設置すれば、Ｔａｎコマ収差を操作可能である。

図５（ａ），（ｂ）に示す傾斜アクチュエータは、対物レンズ６を傾斜させて光ディスク１上の光スポットにコマ収差を付加するものである。対物レンズ６を光ディスク１に平行になるように傾斜させることにより、ディスク傾斜によって光スポットに生じるコマ収差と逆で同量のコマ収差を付加することができ、コマ収差をキャンセルさせることができる。図５（ａ）のようにＲａｄ方向へ傾斜可能に構成すればＲａｄコマ収差を調節することが可能であり、図５（ｂ）のようにＴａｎ方向へ傾斜可能に構成すればＴａｎコマ収差を調節することが可能である。

図２において、Ｔａｎコマ収差制御手段３７は、Ｔａｎチルトセンサ１７が出力したＴａｎチルト検出信号を基にＴａｎコマ収差変更手段をオープンループ制御する。このＴａｎコマ収差変更手段としては、図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｔａｎコマ収差補正素子２１、あるいは図５（ｂ）に示すようなＴａｎ傾斜アクチュエータなどがある。

また、二乗平均演算回路３８は、積分回路３５が出力したＲａｄチルト演算信号とＴａｎチルトセンサ１７が出力したＴａｎチルト検出信号とを二乗平均してチルトスカラー量演算信号を生成する。

光ディスク１にチルトが生じるとディスク盤面の実行パワーが低下してしまう。このことは、特に記録時において障害が大きい。レーザ制御手段３９は、二乗平均演算回路３８が出力したチルトスカラー量演算信号を基にして、レーザ発光源が設置された光源２４の出射出力を増加させ、チルトによる実行パワーの低下を補う。

図６は本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例２の正面構成と制御系とを示す正面図である。

なお、以下の説明において、既に説明した部材に対応する部材には同一符号を付して詳しい説明は省略する。

実施例２が実施例１と異なる点は、Ｔａｎチルトセンサ１７の代わりにＴａｎコマ収差検出手段４５を光ピックアップ（ＰＵ）４６に設置した構成である。

図７は実施例２におけるＴａｎコマ収差検出手段の構成図、図８は図７のＴａｎコマ収差検出手段における要部の説明図であり、光ＰＵ４６では、光源４４から出射され光ディスク１で反射した光を、行きの光路から分離して光検出器４７で検出している。光分岐手段としては、図８に示すホログラム素子４８を用いている。

ホログラム素子４８は領域分割されており、各領域ごとに別々の方向へ透過光を分岐して、光検出器４７の分割された各領域へ別々に光を導く。ホログラム素子４８を、図８に示すように領域分割して領域Ａ，ａ，Ｂ，ｂを光検出器４７の別々の受光領域で受光する。光ディスク１の集光点にコマ収差が生じると、反射光の強度分布が変化する。これにより、ホログラム素子４８の各領域の強度信号をＡ，ａ，Ｂ，ｂとしたとき、（Ａ＋ｂ）−（Ｂ＋ａ）の演算により検出方向のコマ収差量を検出することができる。そして、図８における検出方向矢印をＲａｄ方向へ設定すればＲａｄコマ収差が検出でき、Ｔａｎ方向へ設置すればＴａｎコマ収差が検出できる。

コマ収差検出手段の出力は光ディスク１上の集光点のコマ収差量に応じて変化するので、図３（ａ），（ｂ）、あるいは図５（ａ），（ｂ）にて説明したコマ収差変更手段のコマ収差操作量も反映されて検出される。

図６において、Ｔａｎコマ収差制御手段５０は、Ｔａｎコマ収差検出手段４５が出力したＴａｎコマ収差検出信号を基にＴａｎコマ収差変更手段をフィードバック制御する。このＴａｎコマ収差変更手段としては、実施例１と同様に図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｔａｎコマ収差補正素子２１、あるいは図５（ｂ）に示すようなＴａｎ傾斜アクチュエータを採用することができる。

積分回路５１は、Ｔａｎコマ収差制御手段５０が前記Ｔａｎコマ収差変更手段を制御しているＴａｎコマ収差駆動信号をスピンドルモータ２が出力する回転信号を基に、回転角で積分してＲａｄチルト演算信号を生成する。

Ｔｒエラー検出手段３２が出力するＴｒエラー信号にはＲａｄチルトによりオフセットが生じる。Ｔｒエラー信号補正手段３３は、積分回路５１が出力したＲａｄチルト演算信号を基にＴｒエラー信号からオフセット量を除去して、補正Ｔｒエラー信号を生成する。Ｔｒ制御手段３４は、補正Ｔｒエラー信号を基にＴｒコイル９をフィードバック制御して、オフセットの低減されたＴｒサーボを行う。

Ｒａｄコマ収差制御手段３６は、積分回路５１が出力したＲａｄチルト演算信号を基に、前記Ｒａｄコマ収差変更手段をオープンループ制御する。

Ｒａｄコマ収差変更手段としては、実施例１と同様に図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２、あるいは図５（ｂ）に示すようなＲａｄ傾斜アクチュエータを採用することができる。

二乗平均演算回路５２は、Ｔａｎコマ収差制御手段５０が前記Ｔａｎコマ収差変更手段を制御しているＴａｎコマ収差駆動信号と、積分回路５１が出力したＲａｄチルト演算信号とを二乗平均してチルトスカラー量演算信号を生成する。

光ディスク１にチルトが生じると光ディスクの盤面における実行パワーが低下してしまう。このことは、特に記録時において障害が大きい。レーザ制御手段３９は、二乗平均演算回路５２が出力したチルトスカラー量演算信号を基に、レーザ発光源などからなる光源の出射出力を増加させ、チルトによる実行パワーの低下を補う。

図９は本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例３の正面構成と制御系とを示す正面図である。

Ｒａｄチルトセンサ１６は、ＰＵハウジング５上に固定されており、ＰＵハウジング５と光ディスク１とのＲａｄ方向の相対傾斜角を検出する。

Ｒａｄチルトセンサ１６としては、図４（ａ），（ｂ）に示した構成のものを採用することができる。図４（ａ），（ｂ）を参照して説明すれば、Ｒａｄチルトセンサ１６は光源４１と２分割受光素子４２とを内蔵している。２分割受光素子４２はＲａｄ方向と直交する線分により２分割されている。光源４１から出射された出射光は、レンズ４３により平行光に変換され光ディスク１を照射する。光ディスク１を照射した光は、反射して逆の光路を辿り、レンズ４３により２分割受光素子４２の分割線上に集光させられる。図４（ｂ）に示すように、光ディスク１がＲａｄ方向へ傾くと、光ディスク１での反射角が変わり、２分割受光素子４２上の集光点がＲａｄ方向へ移動する。２分割受光素子４２の各領域からの出力の差を求めることにより、光ディスク１とＲａｄチルトセンサ１６との相対角を検出できる。

図９において、Ｔｒエラー検出手段３２が出力するＴｒエラー信号にはＲａｄチルトによりオフセットが生じる。Ｔｒエラー信号補正手段３３は、Ｒａｄチルトセンサが出力したＲａｄチルト検出信号を基に、Ｔｒエラー信号からオフセット量を除去して補正Ｔｒエラー信号を生成する。Ｔｒ制御手段３４は、補正Ｔｒエラー信号を基に、Ｔｒコイル９をフィードバック制御して、オフセットの低減されたＴｒサーボを行う。

Ｒａｄコマ収差制御手段５５は、Ｒａｄチルトセンサ１６が出力したＲａｄチルト検出信号を基にＲａｄコマ収差変更手段をオープンループ制御する。このＲａｄコマ収差変更手段としては、図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２、あるいは図５（ａ）に示すようなＲａｄ傾斜アクチュエータを採用することができる。

図３（ａ）における液晶コマ収差補正素子２１，２２は、光ディスク１を照射する光ビームの光路中に配置させられており、図３（ｂ）における領域Ａおよびｂと領域Ｂおよびａとの間にチルトに応じた位相差を生じさせ、通過する光ビームにチルトによって生じる収差と逆の収差を付加する。これにより光ディスク１上の集光点では収差がキャンセルされ、良好な光スポットが得られる。液晶コマ収差補正素子２１，２２を、図３（ａ）の液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２のような方向に設置すればＲａｄコマ収差を調節することが可能であり、図３（ａ）の液晶Ｔａｎコマ収差補正素子２１のような方向に設置すれば、Ｔａｎコマ収差を調節することが可能である。

また、図５（ａ），（ｂ）に示す傾斜アクチュエータは、対物レンズ６を傾斜させて光ディスク１上の光スポットにコマ収差を付加するものである。対物レンズ６を光ディスク１と平行になるように傾斜させることにより、ディスク傾斜によって光スポットに生じるコマ収差と逆で同量のコマ収差を付加することができ、コマ収差をキャンセルさせることができる。傾斜アクチュエータを、図５（ａ）のようにＲａｄ方向へ傾斜可能に構成すればＲａｄコマ収差を調節することが可能であり、図５（ｂ）のようにＴａｎ方向へ傾斜可能に構成すればＴａｎコマ収差を調節することが可能である。

微分回路５６は、Ｒａｄチルトセンサが出力したＲａｄチルト検出信号をスピンドルモータ２が出力する回転信号を基に、回転角で微分してＴａｎチルト演算信号を生成する。

Ｔａｎコマ収差制御手段５７は、微分回路５６が出力したＴａｎチルト演算信号を基に、Ｔａｎコマ収差変更手段をオープンループ制御する。このＴａｎコマ収差変更手段としては、図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｔａｎコマ収差補正素子２１、あるいは図５（ｂ）に示すようなＴａｎ傾斜アクチュエータなどを採用することができる。

二乗平均演算回路５８は、Ｒａｄチルトセンサ１６が出力したＲａｄチルト検出信号と、微分回路５６が出力したＴａｎチルト演算信号とを二乗平均してチルトスカラー量演算信号を生成する。

光ディスク１にチルトが生じると、光ディスクの盤面における実行パワーが低下してしまう。このことは、特に記録時において障害が大きい。レーザ制御手段５９は、二乗平均演算回路５８が出力したチルトスカラー量演算信号を基に、レーザ光源などからなる光源の出射出力を増加させ、チルトによる実行パワーの低下を補う。

図１０は本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例４の正面構成と制御系とを示す正面図である。

実施例４が実施例３と異なる点は、実施例３で設けていたＲａｄチルトセンサ１６の代わりにＲａｄコマ収差検出手段６０を備えた構成である。

Ｒａｄコマ収差検出手段６０としては、図７，図８にて説明した構成のものと同様のものを使用することができる。既述したように、ホログラム素子４８の各領域の強度信号をＡ，ａ，Ｂ，ｂとしたとき、（Ａ＋ｂ）−（Ｂ＋ａ）の演算により検出方向のコマ収差量が検出できる。図８の検出方向矢印をＲａｄ方向へ設定すればＲａｄコマ収差が検出でき、Ｔａｎ方向へ設置すればＴａｎコマ収差が検出できる。

Ｒａｄコマ収差検出手段６０の出力は光ディスク１上の集光点のコマ収差量に応じて変化するので、図３（ａ），（ｂ）あるいは図５（ａ），（ｂ）のコマ収差変更手段のコマ収差操作量も反映されて検出される。

Ｒａｄコマ収差制御手段６１は、Ｒａｄコマ収差検出手段６０が出力したＲａｄコマ収差検出信号を基に、Ｒａｄコマ収差変更手段をフィードバック制御する。Ｒａｄコマ収差変更手段としては、実施例３と同様に図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２、あるいは図５（ａ）に示すようなＲａｄ傾斜アクチュエータなどを採用することができる。

微分回路６２は、Ｒａｄコマ収差制御手段６１が前記Ｒａｄコマ収差変更手段を制御しているＲａｄコマ収差駆動信号をスピンドルモータ２が出力する回転信号を基に、回転角で微分してＴａｎチルト演算信号を生成する。

Ｔｒエラー検出手段３２が出力するＴｒエラー信号にはＲａｄチルトによりオフセットが生じる。Ｔｒエラー信号補正手段３３は、Ｒａｄコマ収差制御手段６１が前記Ｒａｄコマ収差変更手段を制御しているＲａｄコマ収差駆動信号を基に、Ｔｒエラー信号からオフセット量を除去して補正Ｔｒエラー信号を生成する。Ｔｒ制御手段３４は、補正Ｔｒエラー信号を基にＴｒコイル９をフィードバック制御して、オフセットの低減されたＴｒサーボを行う。

Ｔａｎコマ収差制御手段６３は、微分回路６２が出力したＴａｎチルト演算信号を基に、Ｔａｎコマ収差変更手段をオープンループ制御する。このＴａｎコマ収差変更手段としては、図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｔａｎコマ収差補正素子２１、あるいは図５（ｂ）に示すようなＴａｎ傾斜アクチュエータなどを採用することができる。

二乗平均演算回路６４は、Ｒａｄコマ収差制御手段６１が前記Ｒａｄコマ収差変更手段を制御しているＲａｄコマ収差駆動信号と、微分回路６２が出力したＴａｎチルト演算信号とを二乗平均してチルトスカラー量演算信号を生成する。

光ディスク１にチルトが生じるとディスク盤面の実行パワーが低下してしまう。このことは、特に記録時において障害が大きい。レーザ制御手段６５は、二乗平均演算回路６４が出力したチルトスカラー量演算信号を基に、レーザ発光源などからなる光源の出射出力を増加させ、チルトによる実行パワーの低下を補う。

図１１は本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例５の正面構成と制御系とを示す正面図である。

実施例１〜４の構成では、スピンドルモータ２とシークシャフト１３とはベース１８に固定されており、相対姿勢を変更することができなかったが、実施例５ではスピンドルモータ２が固定ベース１９に固定され、シークシャフト１３が可動ベース２０に固定されるようにして、それぞれが独立したベース１９，２０に固定されて、シークシャフト１３を設けた可動ベース２０が回動支点２０ａを軸に相対姿勢を変更することを可能にしている。

可動ベース２０は固定ベース１９に回動支点２０ａを軸に回転可能に支持されており、固定ベース１９と可動ベース２０との間には回転カム２６が設けられている。回転カム２６は、固定ベース１９に設けられた傾斜用モータ２７により回転駆動させられる。可動ベース２０は、回転カム２６のカム面に沿って移動して、固定ベース１９に対して傾く。

Ｒａｄチルトセンサ１６はＰＵハウジング５上に固定されており、ＰＵハウジング５と光ディスク１とのＲａｄ方向の相対傾斜角を検出する。

ＡＣ，ＤＣ分離回路６５は、Ｒａｄチルトセンサ１６から出力されたＲａｄチルト検出信号をＡＣ成分とＤＣ成分とに分離する。Ｒａｄ傾斜制御手段６６は、ＡＣ，ＤＣ分離回路６５から出力されたＲａｄチルトＤＣ成分信号を基に、傾斜用モータ２７をフィードバック制御する。

ＡＣ，ＤＣ分離回路６５から出力されたＲａｄチルトＡＣ成分信号は、実施例３におけるＲａｄチルト検出信号と同様に用いられる。ＲａｄチルトをＡＣ成分とＤＣ成分とに分離して、ＡＣ成分のみＲａｄコマ収差変更手段で補正しているため、Ｒａｄコマ収差変更手段の補正量を縮小することができる。Ｒａｄコマ収差変更手段の一手段である、図３（ａ），（ｂ）に示す液晶Ｒａｄコマ収差補正素子２２は、補正幅が縮小できれば液晶層の厚みを縮小することができ、応答周波数を上げることができる。その結果、より高周波帯域までチルト変動を補正可能になる。

Ｒａｄコマ収差変更手段の一手段である、図５（ａ）に示すＲａｄ傾斜アクチュエータは、光ディスク１の傾斜に対して対物レンズ６を平行になるように傾斜させることにより、コマ収差を低減させることができるが、代わりに非点収差が発生してしまう。傾斜量を低減できれば非点収差の発生量を低減させることができる。

実施例５における他の構成は図９の実施例３と同様であるので、その構成および動作については説明を省略する。

本発明は、光学的記録情報媒体としての光ディスクの傾き（チルト）変化を検出する光ディスク傾き検出装置、および該光ディスク傾き検出装置を搭載して光ディスクに対して記録または再生を行う光ディスクドライブ装置に適用され、特にＲａｄチルト，Ｔａｎチルトの検出、およびそれに伴う諸制御手段，装置に用いて有効である。

本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例１の構成を説明するため平面図 実施例１の正面構成と制御系とを示す正面図 （ａ），（ｂ）は本実施例で用いるコマ収差変更手段の説明図 （ａ），（ｂ）は本実施例で用いるチルトセンサの説明図 （ａ），（ｂ）は本実施例で用いるコマ収差変更手段の説明図 本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例２の正面構成と制御系とを示す正面図 実施例２におけるＴａｎコマ収差検出手段の構成図 図７のＴａｎコマ収差検出手段における要部の説明図 本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例３の正面構成と制御系とを示す正面図 本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例４の正面構成と制御系とを示す正面図 本発明に係るチルト検出・演算装置を搭載した光ディスクドライブ装置の実施例５の正面構成と制御系とを示す正面図 一般的な光ディスクの歪みの状態の説明図 実際の光ディスクにおけるＲａｄチルト，Ｔａｎチルトの測定データを示す図

符号の説明

１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
５ ＰＵ（光ピックアップ）ハウジング
６ 対物レンズ
７ レンズホルダ
１１ 支持ワイヤ
１２ ステム
１３ シークシャフト
１４ リードスクリュー
１５ シークモータ
１６ Ｒａｄ（ラジアル）チルトセンサ
１７ Ｔａｎ（タンジェンシャル）チルトセンサ
１９ 固定ベース
２０ 可動ベース
２０ａ 回動支点
２１，２２ 液晶コマ収差補正手段
２６ 回転カム
２７ 傾斜用モータ
３０ Ｆｏ（フォーシング）エラー検出手段
３１ Ｆｏ制御手段
３２ Ｔｒ（トラッキング）エラー検出手段
３３ Ｔｒエラー信号補正手段
３４ Ｔｒ制御手段
３５，５１ 積分回路
３６，５５，６１ Ｒａｄコマ収差制御手段
３７，５０，５７，６３ Ｔａｎコマ収差制御手段
３８，５２，５８，６４ 二乗平均演算回路
３９，５９，６５ レーザ制御手段
４１，４４ 光源
４２ ２分割受光素子
４３ レンズ
４５ Ｔａｎコマ収差検出手段
４６ 光ピックアップ
４７ 光検出器
４８ ホログラム素子
５６，６２ 微分回路
６０ Ｒａｄコマ収差検出手段
６５ ＡＤ，ＤＣ分離回路
６６ Ｒａｄ傾斜制御手段

Claims (14)

1. 回転する光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに対して記録または再生を行う光ディスクドライブ装置に搭載される光ディスク傾き検出装置であって、
   光ディスクの半径方向または円周接線方向のいずれか一方の方向における傾き変化を、光ディスクの１回転内の変動を含めて検出する傾き検出手段と、該傾き検出手段の検出値変化を基に、他方の方向における傾き変化を算出する傾き演算手段とを備えたことを特徴とする光ディスク傾き検出装置。
2. 前記傾き検出手段は光ディスクの円周接線方向の傾き（以下、タンジェンシャルチルトという）変化を検出し、前記傾き演算手段は検出されたタンジェンシャルチルト変化を光ディスクの回転角で積分して、光ディスクの半径方向の傾き（以下、ラジアルチルトという）変化を算出することを特徴とする請求項１記載の光ディスク傾き検出装置。
3. 前記傾き検出手段は光ディスクのラジアルチルト変化を検出し、前記傾き演算手段は検出されたラジアルチルト変化を光ディスクの回転角で微分して、光ディスクのタンジェンシャルチルト変化を算出することを特徴とする請求項１記載の光ディスク傾き検出装置。
4. 回転する光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに対して記録または再生を行う記録／再生部と、光ディスクの傾き変化を検出する光ディスク傾き検出部とを備えた光ディスクドライブ装置において、
   前記光ディスク傾き検出部として、請求項１〜３いずれか１項に記載の傾き検出手段と傾き演算手段とを具備した光ディスク傾き検出装置を搭載したことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
5. 請求項１〜３いずれか１項に記載の光ディスク傾き検出装置における傾き検出手段の検出値と傾き演算手段の演算値との二乗平均を基に、光ディスクを照射する光ビームの光量を制御する出射光量制御手段を備えたことを特徴とする請求項４記載の光ディスクドライブ装置。
6. 光ディスクの法線と光ビームの光軸とのずれ、または該ずれに起因して光スポットに生じる収差を変更するチルト変更手段と、前記傾き演算手段の算出結果を基に前記チルト変更手段を制御するチルト制御手段とを備えたことを特徴とする請求項４記載の光ディスクドライブ装置。
7. ラジアルチルトに起因して生じる光ディスクの法線と光ビームの光軸とのずれ、または該ずれに起因して光スポットに生じる収差を変更するラジアルチルト変更手段と、タンジェンシャルチルトに起因して生じる光ディスクの法線と光ビームの光軸とのずれ、または該ずれに起因して光スポットに生じる収差を変更するタンジェンシャルチルト変更手段と、ラジアルチルト演算値を基に前記ラジアルチルト変更手段を制御するラジアルチルト制御手段と、タンジェンシャルチルト検出値を基に前記タンジェンシャルチルト変更手段を制御するタンジェンシャチルト制御手段とを備えたことを特徴とする請求項４記載の光ディスクドライブ装置。
8. 回転する光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに対して記録または再生を行う記録／再生部と、光ディスクの傾き変化を検出する光ディスク傾き検出部とを備えた光ディスクドライブ装置において、
   前記光ディスク傾き検出部として、請求項２に記載の光ディスク傾き検出装置を搭載し、かつ光ディスクに設けられた情報トラックと光ディスクを照射している光スポットとのずれを検出するトラックエラー検出手段と、請求項２に記載の傾き演算手段が求めたラジアルチルト変化を基に光ディスクのラジアルチルトに起因する前記トラックエラー検出手段の検出誤差を補正するトラックエラー信号補正手段とを備えたことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
9. 光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスクへ記録／再生のために光ビームを照射する光ピックアップとを備えた光ディスクドライブ装置において、
   光ディスクのラジアルチルトとタンジェンシャルチルトとのいずれか一方を選択したときに、一方のチルトによって光ディスクを照射する光スポットに生じるコマ収差と相殺可能な逆コマ収差を前記光ビームに付加するコマ収差付加手段と、一方のチルトによって前記光スポットに生じるコマ収差を検出するコマ収差検出手段と、該コマ収差検出手段の出力がコマ収差無しの値へ近づくように前記コマ収差付加手段を駆動制御するコマ収差制御手段と、該コマ収差制御手段の駆動量変化を基に他方のチルトによるコマ収差変化を算出するコマ収差演算手段とを備えたことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
10. 前記一方のチルトはタンジェンシャルチルトであり、前記コマ収差演算手段は前記コマ収差制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で積分してラジアルチルト変化によるコマ収差変化を算出することを特徴とする請求項９記載の光ディスクドライブ装置。
11. 前記一方のチルトはラジアルチルトであり、前記コマ収差演算手段は前記コマ収差制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で微分してタンジェンシャルチルト変化によるコマ収差変化を算出することを特徴とする請求項９記載の光ディスクドライブ装置。
12. 前記他方のチルトに係るチルト変更手段と、前記コマ収差演算手段の算出結果を基に前記チルト変更手段を駆動制御する第２のコマ収差制御手段とを備えたことを特徴とする請求項９，１０または１１記載の光ディスクドライブ装置。
13. 光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスク上に記録／再生のために光ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズを含み光ディスクに前記光ビームを照射する光ピックアップとを備えた光ディスクドライブにおいて、
    光ディスクにおける前記光ビームが照射されている領域近傍と前記対物レンズの光軸に垂直な面との相対角のうち光ディスクのタンジェンシャル方向成分を検出するタンジェンシャル相対チルト検出手段と、前記対物レンズを光ディスクのラジアル方向と平行な軸周りに傾斜する対物レンズタンジェンシャル方向傾斜手段と、前記タンジェンシャル相対チルト検出手段の出力がタンジェンシャル相対角無しの値に近づくように前記対物レンズタンジェンシャル方向傾斜手段を駆動制御するタンジェンシャル相対チルト制御手段と、該タンジェンシャル相対チルト制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で積分してラジアルチルト変化を算出するラジアルチルト演算手段とを備えたことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
14. 光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスク上に記録／再生のために光ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズを含み光ディスクに前記光ビームを照射する光ピックアップとを備えた光ディスクドライブにおいて、
    光ディスクにおける前記光ビームが照射されている領域近傍と前記対物レンズの光軸に垂直な面との相対角のうち光ディスクのラジアル方向成分を検出するラジアル相対チルト検出手段と、前記対物レンズを光ディスクのタンジェンシャル方向と平行な軸周りに傾斜する対物レンズラジアル方向傾斜手段と、前記ラジアル相対チルト検出手段の出力がラジアル相対角無しの値に近づくように前記対物レンズラジアル方向傾斜手段を駆動制御するラジアル相対チルト制御手段と、該ラジアル相対チルト制御手段の駆動量変化を光ディスクの回転角で微分してタンジェンシャルチルト変化を算出するタンジェンシャルチルト演算手段とを備えたことを特徴とする光ディスクドライブ装置。

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