JP2005050921A - Method for manufacturing ceramic electronic component - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、セラミック層と所定パターンの導体層とを組み合わせて構成されているコンデンサやインダクタ,フィルタ,回路基板等のセラミック電子部品の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、コンデンサやインダクタ,フィルタ,回路基板等の電子部品を形成するのにセラミック材料が用いられている。
【0003】
このような従来のセラミック電子部品として、例えば、所定の誘電率を有した複数個のセラミック層を、間に第1の内部電極と第2の内部電極とを交互に介在させて積層した積層体を形成するとともに、該積層体の側面や主面に前記第1,第2の内部電極にそれぞれ電気的に接続される一対の外部電極を設けてなる積層セラミックコンデンサ等が広く知られており、かかる積層セラミックコンデンサは、一対の外部電極を介して第1の内部電極と第2の内部電極との間に所定の電圧を印加し、第1の内部電極−第2の内部電極間に配されているセラミック層に所定の静電容量を形成することによってコンデンサとして機能するようになっている。
【0004】
また上述した積層セラミックコンデンサは、例えば、以下の工程を経て製作される(例えば、特許文献1参照。)。
【0005】
まず、所定のセラミック材料粉末に有機バインダ及び有機溶剤を添加・混合してスラリー状の無機組成物を作製し、これを従来周知のドクターブレード法等によって所定厚みのシートに成形加工してセラミックグリーンシートを形成する。
【0006】
次に、得られたセラミックグリーンシートの主面に従来周知のスクリーン印刷等によってニッケル等の金属を主成分とする導体ペーストを所定パターンに印刷・塗布し、これを複数枚、積み重ねることによってセラミックグリーンシートの積層体を形成する。
【0007】
続いて、前記積層体を高温で焼成することによって導体ペーストを内部電極に、セラミックグリーンシートをセラミック層に成し、最後に、前記積層体の端面等に従来周知のディッピング法等によって導体ペーストを塗布し、これを焼き付けて外部電極を形成することによって積層セラミックコンデンサが製作される。
【0008】
【特許文献1】
特開2000−243650号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、電子機器の小型化に伴い、セラミック電子部品の小型化が求められており、上述した積層セラミックコンデンサの場合、個々のセラミック層や内部電極を薄く形成するための種々の検討がなされている。
【0010】
例えば、上述した従来の積層セラミックコンデンサにおいて、内部電極の厚みを薄くするには、内部電極の形成に使用されている導体ペースト中に含まれる金属粉末の平均粒径を、例えば、0.3μm程度に極めて小さくすることが重要とされている。
【0011】
しかしながら、導体ペースト中に含まれている金属粉末の粒径を極めて小さくした場合、導体ペースト中で金属粉末同士が凝集することに起因して金属粉末の分散性が悪くなってしまうことから、スクリーン印刷等に適した特性を備えた導体ペーストを得ることが困難であるという欠点を有していた。
【0012】
また仮に、導体ペースト中に含まれている種々の成分を調整することによりスクリーン印刷等に適した特性をもった導体ペーストを得ることができたとしても、これをセラミックグリーンシート上に薄く塗布して焼成すると、焼成の際に導体ペースト中の金属粉末が移動することによって内部電極の連続性が著しく喪失される不都合があり、最悪の場合、内部電極が分断されてしまう欠点を有していた。
【0013】
そこで上記欠点を解消するために、内部電極となる金属メッキ膜をステンレス等から成る基材の表面に予め形成しておき、これをセラミックグリーンシートに転写することで厚み1μm以下といった極めて薄い内部電極を形成することが考えられる。
【0014】
しかしながら、予め形成しておいた金属メッキ膜をセラミックグリーンシートに転写して内部電極を形成する場合、金属メッキ膜の厚みを薄くするには、金属メッキ膜の析出領域を規制するマスクの厚みを薄くする必要がある。このようなマスクの材質としては、環化ゴム系のフォトレジスト材料等が使用可能と考えられるが、かかるフォトレジスト材料を従来周知のスクリーン印刷法やスピンコート法,カーテンコート法,ロールコータ法等によって基材の表面に塗布する場合、フォトレジスト膜の厚みを1μm以下に薄く形成することは極めて困難であり、高度の製造技術を要する上に、先に述べた環化ゴム系のフォトレジスト材料は、それ自体の強度が比較的低く、また基材を形成しているステンレス等との密着性も良好ではないことから、これを連続的に使用すると、マスクが比較的早期に基材より剥離してしまったり、或いは、マスクに破損を生じるといった欠点が誘発される。
【0015】
本発明は上記欠点に鑑み案出されたもので、その目的は、導体層の厚みを薄くして小型のセラミック電子部品を比較的簡単に得ることができるセラミック電子部品の製造方法を提供することにある。
【0016】
【発明が解決するための手段】
本発明のセラミック部品の製造方法は、ダイヤモンド・ライク・カーボン(DLC)もしくはグラファイト・ライク・カーボン(GLC)から成るマスク層を部分的に有した基体の表面で、前記マクス層の存在しない部位に金属メッキ膜を析出させる工程Aと、前記基体上の金属メッキ膜を被転写材に転写させるとともに、前記金属メッキ膜をセラミックグリーンシートと一体化する工程Bと、前記セラミックグリーンシートを焼成することによってセラミック層上に導体層が被着されたセラミック電子部品を得る工程Cと、を含むことを特徴とするものである。
【0017】
また本発明のセラミック電子部品の製造方法は、前記マスク層の側面と下面との間に形成される角部の角度が90度以下であることを特徴とするものである。
【0018】
更に本発明のセラミック電子部品の製造方法は、前記金属メッキ膜を析出させる基体の表面が、窒化チタンアルミニウム、窒化クロム、窒化チタン、窒化チタンクロム、炭窒化チタン、炭化チタン、導電性DLCの少なくとも一種から成るとともに、表面粗さが最大高さRyで0.5μm以下であり、且つ、前記基体表面の比抵抗が10−3Ωcm以下であることを特徴とするものである。
【0019】
また更に本発明のセラミック電子部品の製造方法は、前記工程Cにおけるセラミックグリーンシートの焼成温度が金属メッキ膜を形成している金属の再結晶温度よりも高く、かつ前記金属の融点よりも低いことを特徴とするものである。
【0020】
更にまた本発明のセラミック電子部品の製造方法は、前記基体が円筒状もしくは円柱状を成しており、前記工程Aにおいて、前記基体を軸周りに回転させながら、その一部をメッキ槽のメッキ液に浸漬するとともに、前記基体と前記メッキ槽との間のメッキ液に電界を印加することによって前記金属メッキ膜が析出・形成されることを特徴とするものである。
【0021】
また更に本発明のセラミック電子部品の製造方法は、前記基体表面の曲率半径が50mm〜2000mmであることを特徴とするものである。
【0022】
【作用】
本発明によれば、金属メッキ膜の析出領域を規制するマスク層をダイヤモンド・ライク・カーボン(DLC)もしくはグラファイト・ライク・カーボン(GLC)で形成しておくことにより、比較的厚みの薄いマスク層によって十分な電気絶縁性を得ることができる上に、金属メッキ膜を基体より剥離させる際の剥離性を良好となすことができ、しかもDLCやGLCは極めて硬質で、ステンレス等によって形成される基体への密着性も良好であるため、これを長期にわたって連続的に使用しても、マスク層を良好な状態のまま、基体に対して強固に被着させておくことができる。
【0023】
また、金属メッキ膜をセラミックグリーンシートに直接、転写する場合には、セラミックグリーンシートがマスク層表面に付着することは殆どないことから、安定した転写を繰り返し行うことができる利点もある。
【0024】
更に本発明によれば、前記マスク層の側面と下面との間に形成される角部の角度を90度以下になしておけば、基体と接する金属メッキ膜の下面の面積が上面の面積よりも小さくなることから、金属メッキ膜をセラミックグリーンシート等に転写する際に、金属メッキ膜の外周部がマクス層に引っ掛かることは殆どなく、金属メッキ膜の‘抜け’を良好となすことができる。
【0025】
また更に本発明によれば、金属メッキ膜が析出される基体の表面を窒化チタンアルミニウム、窒化クロム、窒化チタン、窒化チタンクロム、炭窒化チタン、炭化チタン、導電性DLCの少なくとも一種により形成するとともに、基体表面の表面粗さを最大高さRyで0.5μm以下に設定し、その比抵抗を10−3Ωcm以下に設定しておくことにより、基体の表面に金属メッキ膜を析出させる際、基体とメッキ槽との間の電流密度はより均一なものとなり、金属メッキ膜の厚みをより等しく揃えることができるようになる。しかもこの場合、基体表面の硬度は高く、表面状態は極めて平滑であることから、金属メッキ膜の剥離性も良好である。
【0026】
更にまた本発明によれば、上述した金属メッキ膜を、セラミックグリーンシートの焼成時、金属メッキ膜を形成する金属の再結晶温度よりも高く、かつ、融点より低い温度で熱処理することにより、焼成時の熱によって金属メッキ膜が熔けて金属メッキ膜を分断することはなく、連続性に優れた導体層を形成することができる。なお、ここで、金属メッキ膜が連続性に優れた導体層となるのは、セラミックグリーンシートの焼成時、金属メッキ膜を形成している金属の再結晶化が進むことで金属が適度に軟化し、セラミックグリーンシート中のセラミック粒子が金属メッキ膜の表面に入り込むからであり、これによって金属メッキ膜とセラミックグリーンシートの密着力が向上し、構造欠陥の少ないセラミック電子部品が得られる。
【0027】
また更に本発明によれば、金属メッキ膜が析出される基体を円筒状もしくは円柱状に成し、金属メッキ膜の析出工程において、前記基体を軸周りに回転させながら、その一部をメッキ槽のメッキ液に浸漬するとともに、前記基体と前記メッキ槽との間のメッキ液に電界を印加することによって金属メッキ膜を形成することにより、金属メッキ膜を連続的に形成して生産性の向上に供することができるとともに、基体とメッキ槽との間の電流密度を略均一になして、金属メッキ膜を略一定の厚みで形成することができるようになる。
【0028】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を添付図面に基づいて詳細に説明する。
【0029】
図1は本発明の一実施形態に係る製造方法によって製作したセラミック電子部品としての積層セラミックコンデンサを示す断面図であり、同図に示す積層セラミックコンデンサ1は、大略的に、絶縁層2と、導体層としての内部電極3と、セラミック層4と、外部電極5とで構成されている。
【0030】
積層セラミックコンデンサ1は、内部電極3と所定の誘電率を有したセラミック層4とを交互に積層して直方体形状の積層体を形成するとともに、該積層体の上下両面にセラミック層4と同一材料からなる絶縁層2を形成し、更に前記積層体の両端部に内部電極3と電気的に接続される外部電極5を被着・形成した構造を有している。
【0031】
また、積層セラミックコンデンサ1の外形は、例えば、巾1.2mm、長さ2mm、高さ1.2mmの寸法にて形成され、セラミック層4や内部電極3の積層数は30層〜600層に設定される。
【0032】
また、前記内部電極3の厚みは0.5μm〜2.0μm程度、またセラミック層4の厚みは1.0μm〜4.0μm程度に設定される。
【0033】
これらセラミック層4の材質や厚み,積層数,内部電極3の対向面積等は、所望する静電容量の大きさによって適宜、決定される。
【0034】
かかる積層セラミックコンデンサ1は、外部電極5を介して隣合う内部電極間3−3に所定の電圧を印加し、内部電極間3−3に配されているセラミック層4に所定の静電容量を形成することによってコンデンサとして機能する
次に、上述した積層セラミックコンデンサの製造方法について図2乃至図4を用いて説明する。
【0035】
図2は本発明の製造方法に用いられる製造装置を模式的に示す図、図3は図2の製造装置に用いられる基体11を図2のA方向から見た平面図、図4は図3の製造装置に用いられる基体表面の構造を示す拡大断面図である。
【0036】
<工程1>
まず、凸曲面を有した基体11の表面に断面が凸曲面状の金属メッキ膜9を形成する。
【0037】
前記基体11は、例えば、ステンレス、鉄、アルミニウム、銅、ニッケル、チタン、タンタル、モリブデン等の導電性を備えた金属材料によって曲率半径50mm〜2000mm、長さ50mm〜1000mmの円柱形状もしくは円筒状をなすように形成されており、その表面には導電性膜7が形成され、該導電性膜7上には更に、巾1.2μm×長さ2μmの矩形状領域が複数個、露出するように、厚み1μm程度のダイヤモンド・ライク・カーボン(DLC)もしくはグラファイト・ライク・カーボン(GLC)から成るマスク層8が部分的に形成される。
【0038】
前記導電性膜7は、窒化チタンアルミニウム、窒化クロム、窒化チタン、窒化チタンクロム、炭窒化チタン、炭化チタン、導電性DLCの少なくとも一種により形成されており、基体表面の表面粗さが最大高さRyで0.5μm以下、より好ましくはRyで0.2μm以下に設定され、比抵抗は電解メッキの際の電流密度の観点から10−3Ωcm以下に設定される。
【0039】
また、これらの材料の中でも、金属メッキ膜9の剥離性を考慮すると、窒化チタンアルミニウム、窒化クロム、窒化チタン、窒化チタンクロム、炭窒化チタンが特に好ましく、耐久性の観点からは、窒化チタンが好ましい。
【0040】
ここで、基体表面の表面粗さを小さくしておくのは、金属メッキ膜9の厚みが薄くなると、基体11の凸部が金属メッキ膜9に転写されて金属メッキ膜9にピンホールが形成され、これを熱処理した際に構造欠陥を生じてしまう恐れがあるからである。
【0041】
尚、前記導電性膜7は、従来周知の薄膜形成法、例えば、スパッタリング法、イオンプレーティング法、化学的気相成長法(CVD)等によって基体11の表面に形成される。
【0042】
一方、上述した導電性膜7上のマスク層8は、金属メッキ膜9の析出領域を規制するためのもので、金属メッキ膜が表面に析出されない程度の十分な電気絶縁性を備え、その比抵抗は、例えば、104Ωcm以上に設定され、ビッカース硬度Hvが1000以上、摩擦係数μが0.3以下の膜によって形成される。このような諸特性を満足する材料として上述したDLCとGLCとが挙げられる。
【0043】
このように、基体11の表面に金属メッキ膜9の析出領域を規制するマスク層8を形成しておくことにより、フォトエッチング等の煩雑な工程を経ることなく、基体11をメッキ液17に浸漬してメッキ槽16との間に電界を印加するだけで所望するパターンの金属メッキ膜9を容易に得ることができ、積層セラミックコンデンサの生産性を向上させることが可能となる。
【0044】
かかるマスク層8の厚みは、所望する金属メッキ膜9の厚みによって任意に設定され、金属メッキ膜9の厚みと同じか、或いは、金属メッキ膜9の厚みよりもやや厚く形成することが好ましい。これは、析出途中の金属メッキ膜9がマスク層8を乗り越えて広がるのを防止するためである。
【0045】
尚、DLCもしくはGLCから成るマスク層8は、炭素を従来周知のスパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法等の薄膜形成法によって所定の成膜条件のもと基体11の表面に所定厚みに被着・形成し、しかる後、従来周知のフォトエッチング法等を採用して、得られた膜を金属メッキ膜9の析出領域に対応する複数個の開口部を有した所定パターンに加工することによって形成される。
【0046】
このようなマスク層8は、電気抵抗が高いDLCやGLCから成っているため、マスク層8の表面にメッキが析出することがない上に、表面の剥離性が良好で、摩擦抵抗も小さいため、金属メッキ膜9を本実施形態における被転写体である樹脂フィルム21に対して転写する際、被転写体が損傷を受けることは少なく、基体11の耐久性が高められ、長期にわたって繰り返し使用しても高品質の金属メッキ膜9を形成することができる。
【0047】
またこの場合、マスク層8を形成するDLCやGLCは極めて硬質で、ステンレス等によって形成される基体11への密着性も良好であるため、これを長期にわたって連続的に使用しても、マスク層8を良好な状態のまま、基体11に対して強固に被着させておくことができる。
【0048】
このようなマスク層8の側面と下面(基体11の表面)とで形成される角部の角度αは、例えば、90度〜85度に設定される。
【0049】
そして、上述した基体11は、その下部領域が、メッキ槽16内で保持されているメッキ液17等に浸漬されるようにして、所定の回転速度で回転軸12の軸周りに回転するようになっており、基体11の電流密度が、例えば、2A/dm2〜15A/dm2となるようにメッキ槽16との間に所定の電位差を設け、前述した基体11の各矩形状領域に電解メッキを施すことにより基体11の凸曲面に沿って金属メッキ膜9が形成される。
【0050】
このように、円筒状もしくは円柱状の基体11をその軸周りに回転させながら、メッキ槽16のメッキ液17に浸漬するとともに、基体11とメッキ槽16との間のメッキ液17に電界を印加して金属メッキ膜9を形成することにより、金属メッキ膜9を連続的に形成することができ、これによって積層セラミックコンデンサの生産性を向上させることが可能となる。しかもこの場合、基体11とメッキ槽17との間の電流密度は略均一になることから、金属メッキ膜9を略一定の厚みで形成することもできるようになる。
【0051】
尚、前記基体11の回転軸12は、その両端部が図示しない軸受けによって支持されており、基体11が上下左右の移動しない構造となっている。このような回転軸12と原動機の主軸とを連結して、原動機の回転運動を伝達させることにより基体11が所定の速度で軸周りに回転するようになっている。
【0052】
また、基体11の回転軸12は回転ブラシを介して電源装置13と電気的に接続されており、これによって基体11を電解メッキにおける陰極として機能させるようになっている。
【0053】
一方、メッキ槽16は、その内部でメッキ液17を保持するとともに、電解メッキに際して陽極として機能するものであり、その内面は、例えば、基体11の外表面と略同心円上に配され、メッキ槽16との間にメッキ液17を充填するための所定の間隙、例えば、5〜30mmの間隙を形成している。
【0054】
また、メッキ液17としては、金属メッキ膜9としてニッケルメッキ膜を形成する場合、例えば、スルファミン酸ニッケルメッキ液が使用され、その場合、塩化ニッケル30g/リットル、スルファミン酸ニッケル300g/リットル、ほう酸30g/リットルの組成を有した水溶液等が用いられる。ここで、メッキ液17のpH値は、例えば、3.0〜4.2に設定され、金属メッキ膜9中の内部応力を小さく抑えるには、pH値を3.5〜4.0に設定しておくことが好ましい。またメッキ液17の温度は、例えば、25℃〜70℃に設定され、金属メッキ膜9中の内部応力を小さく抑えるには、45〜50℃に設定しておくことが好ましい。ここで、上述したメッキ液17には、必要に応じて、ホウ酸、ギ酸ニッケル、酢酸ニッケル等から成るpH緩衝剤やラウリル硫酸ナトリウム等から成るピット防止剤、ベンゼンやナフタレン等の芳香族炭化水素にスルフォン酸、スルフォン酸塩、スルフォンアミド、スルフォンイミド等を付与した化学物質等から成る応力減少剤、芳香族スルフォン酸やその誘導体から成る硬化剤、ブチンジオール、2ブチン1.4ジオール、エチレンシアンヒドリン、ホルムアルデヒド、クマリン、ピリミジン、ピラゾール、イミダゾール等から成る平滑剤等を適宜、添加して用いてもよいことは言うまでもない。尚、応力減少剤の具体的な材料としては、例えば、サッカリン、パラトルエンスルフォンアミド、ベンゼンスルフォンアミド、ベンゼンスルフォンイミド、ベンゼンジスルフォン酸ナトリウム、ベンゼントリスルフォン酸ナトリウム、ナフタレンジスルフォン酸ナトリウム、ナフタレントリスルフォン酸ナトリウム等が挙げられる。
【0055】
このようなメッキ槽16内のメッキ液17は、均質な金属メッキ膜9を得るために、電界メッキを行う際、循環装置14等によって常に所定の方向に流動させておくことが好ましく、また、純度の高いニッケル金属メッキ膜9を析出するには、メッキ槽18の内面を金属メッキ膜9と同質の金属材料によって形成しておくことが好ましい。
【0056】
そして、上述のような基体11の表面に形成された金属メッキ膜9は、基体11の回転によってメッキ液中より引き上げられた後、洗浄手段15によって水洗浄及び乾燥が行われる。
【0057】
<工程2>
次に、工程1により得た金属メッキ膜9を、一旦、樹脂フィルム20上に転写する。
【0058】
樹脂フィルム20としては、例えば、厚み20μm〜50μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(PETフィルム)等の主面に厚み0.05μm〜10μmの粘着層21を形成したものが用いられる。粘着層21は、例えば、アクリル系(溶剤系)、アクリルエマルジョン系(水系)、ブチラール系、フェノール系、シリコン系、エポキシ系等の粘着剤(溶剤系)をPETフィルム等の主面に塗布して乾燥することによって得られ、乾燥後の粘着力が例えば、0.1N/cmとなるように調整しておくことが好ましい。
【0059】
このような樹脂フィルム20は送り出し部22によって基体11側へ順次供給され、粘着層21が形成されている側を金属メッキ膜9が形成されている基体11の表面に対し加圧ローラ23によって、例えば、10Nの押圧力で加圧することによって樹脂フィルム20上に金属メッキ膜9が転写させる。その後、樹脂フィルム20は基体表面の周速度と同じ速度で巻き取り部24によって巻き取られる。
【0060】
このとき、マスク層8の側面と下面との間に形成される角部の角度αを90度以下になしておけば、基体11と接する金属メッキ膜9の下面の面積が上面の面積よりも小さくなることから、金属メッキ膜9を樹脂フィルム20等に転写する際、金属メッキ膜9の外周部がマクス層8に引っ掛かることは殆どなく、金属メッキ膜9の‘抜け’を良好となすことができる。
【0061】
尚、前記粘着層21としては、比較的低温で確実に熱分解される材料により形成され、具体的には、金属メッキ膜9に付着した場合であっても焼成に際して熱分解するアクリル系(溶剤系)、アクリルエマルジョン系(水系)、ブチラール系の粘着剤を用いるのが好ましく、これらの中でも剥離性の良好なアクリル系粘着剤を用いるのが特に好ましい。このような粘着層21の粘着力は、例えば、0.005N/cm〜1.0N/cm、また転写性の観点からは、0.01N/cm〜1.0N/cmのものを用いるのが特に好ましく、剥離性の観点からは、0.01N/cm〜0.2N/cmのものを用いるのが好ましい。
【0062】
また、加圧ロール23としては、樹脂フィルム20を基体11に対して均等に加圧することができるように、表面部分をウレタンゴムコート、ネオプレーンゴムコート、天然ゴムコート等の弾力材料によって形成したものを用いることが好ましい。
【0063】
<工程3>
次に、金属メッキ膜9が転写されている樹脂フィルム20上に、更にセラミックグリーンシート26を転写することにより金属メッキ膜9をセラミックグリーンシート26の主面に転写する。
【0064】
セラミックグリーンシート26は、例えば、厚み12μm〜100μmのPETフィルム等から成る樹脂フィルム25上に支持された状態で樹脂フィルム20との合流位置まで供給され、セラミックグリーンシート26が樹脂フィルム20上の金属メッキ膜9と接するようにして双方の樹脂フィルム20,25を重ね合わせ、この部分を加圧ローラ27に内設させておいたヒータによって約70℃の温度で加熱しつつ、樹脂フィルム25を加圧ローラ27によって約100Nの押圧力で樹脂フィルム20側へ加圧することによりセラミックグリーンシート26が金属メッキ膜9側に転写され、その後、セラミックグリーンシート26が剥ぎ取られた樹脂フィルム25は収納部29によって巻き取られる。
【0065】
この場合、金属メッキ膜9は凸曲面を有した基体11の表面に断面凸曲面状に形成されており、金属メッキ膜9の析出時、金属メッキ膜9中に内部応力(引張応力)が生じても、金属メッキ膜9を基体11より剥離させると凸曲面状の金属メッキ膜9は平坦化する方向に変形するようになっているため、これをセラミックグリーンシート26の主面に転写する際、セラミックグリ−ンシート26や金属メッキ膜9に変形やクラックが発生したり、焼成の際にデラミネーションやクラックを発生するといった不都合が有効に防止され、積層セラミックコンデンサ1の生産性を向上させることができる。
【0066】
またこのように、金属メッキ膜9を、一旦、樹脂フィルム20上に転写した後、セラミックグリーンシート26上に転写するようにすれば、セラミックグリーンシート26が硬質材料により形成されている基体表面のマスク層8に対して直接、接触することはないことから、セラミックグリーンシート26をマスク層8との接触により損傷させることなく金属メッキ膜9をセラミックグリーンシート26に対して良好に転写することができる。
【0067】
尚、樹脂フィルム25上に支持されたセラミックグリーンシート26は、例えば、1μm〜20μmの厚みに形成され、セラミック材料粉末に有機溶媒、有機バインダ等を添加・混合して得た所定のセラミックスラリーを、焼成後の厚さが2μm程度となるように従来周知のコーティング法または印刷法等によって樹脂フィルム25の主面に塗布した後、これを乾燥させることによって得られる。
【0068】
また、加圧ロール27としては、先に述べた加圧ローラ23と同様に、セラミックグリーンシート26を金属メッキ膜9に対して均等に加圧することができるように、表面部分をウレタンゴムコート、ネオプレーンゴムコート、天然ゴムコート等の弾力材料によって形成したものを用いることが好ましい。
【0069】
<工程4>
次に、前述の工程3で得た金属メッキ膜9付きのセラミックグリーンシート26を複数枚準備して、これらを相互に圧着・積層することにより積層体を形成する。
【0070】
このような積層体は、例えば、60℃の温度で加熱しながら0.9MPaの圧力で仮圧着され、その後、従来周知の静水圧プレス等によって70℃の温度、50MPaの圧力で、積層体を構成する金属メッキ膜9付きのセラミックグリーンシート26を相互に圧着させることによって形成される。
【0071】
<工程5>
そして最後に、工程4で得た積層体を所定形状に切断し、これらを高温で焼成することによってセラミックグリーンシート26を積層セラミックコンデンサのセラミック層4となし、金属メッキ膜9を内部電極3となす。
【0072】
ここで、積層体の焼成温度は、金属メッキ膜9を形成している金属の融点よりも低く、かつ該金属の再結晶温度よりも高い温度に設定する。
【0073】
例えば、金属メッキ膜9がニッケルから成る場合、ニッケルの再結晶温度は500〜550℃で、ニッケルの融点は1450℃であるため、積層体の焼成は、例えば、1300℃の温度で行われる。
【0074】
このように金属メッキ膜9を、該メッキ膜9を形成する金属の融点より低い温度で焼成することにより、焼成時に金属メッキ膜9が熔けて金属メッキ膜9が分断されるといった不都合が確実に防止され、連続性に優れた内部電極3を形成することができる。
【0075】
またこの場合、積層体の焼成温度は、金属メッキ膜9を形成している金属の再結晶温度よりも高く設定されているため、焼成時に金属メッキ膜9を形成している金属の再結晶化が進むことで金属が適度に軟化し、セラミックグリーンシート26中のセラミック粒子が金属メッキ膜9の表面に入り込むことによって金属メッキ膜9とセラミックグリーンシート26との密着力を向上せしめ、その結果、構造欠陥の少ない積層セラミックコンデンサが得られるようになる。
【0076】
<工程6>
そして最後に、積層体の両端部に外部電極用の導体ペーストを塗布して焼成し、更にメッキ処理を施すことによって外部電極5が形成され、これによって製品としての積層セラミックコンデンサ1が完成する。
【0077】
尚、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。
【0078】
例えば、上述した実施形態においては、金属メッキ膜9が転写された樹脂フィルム20上に更にセラミックグリーンシート26を転写させてセラミックグリーンシート26と金属メッキ膜9とを一体化するようにしたが、これに代えて、基体11上から樹脂フィルム20上に転写した金属メッキ膜9を、樹脂フィルム25上に保持されているセラミックグリーンシート26の表面に転写させることようにしたり(図5参照)、或いは、基体11上に析出させた金属メッキ膜9を、樹脂フィルム25上で保持されているセラミックグリーンシート26の主面に直接、転写する(図6参照)ようにしても良い。特に、図6に示す他の実施形態を採用する場合、基体11上でマスク層8を形成しているDLCやGLCの表面にセラミックグリーンシート26が付着することは殆どないため、安定した転写を繰り返し行うことができる利点もある。
【0079】
また上述した実施形態において、金属メッキ膜9が転写された樹脂フィルム20上にセラミックスラリーを塗布し、このセラミックスラリーを乾燥させて金属メッキ膜9が埋設されたセラミックグリーンシートを形成することによって、セラミックグリーンシートと金属メッキ膜9とを一体化するようにしても構わない。
【0080】
更に上述の実施形態においては、金属メッキ膜9としてニッケルメッキ膜を析出・形成する例について説明したが、ニッケル以外の金属材料から成る金属メッキ膜、例えば、銅、銀、金、プラチナ、パラジウム、クロムやこれら金属材料の合金からなる金属メッキ膜9を析出・形成するようにしても構わない。
【0081】
また更に上述の実施形態においては、積層セラミックコンデンサを製造する場合を例にとって説明したが、積層セラミックコンデンサ以外のセラミック電子部品、例えば、インダクタ,フィルタ,回路基板等の他のセラミック電子部品を製造する場合においても本発明が適用可能であることは言うまでもない。
【0082】
【発明の効果】
本発明によれば、金属メッキ膜の析出領域を規制するマスク層をダイヤモンド・ライク・カーボン(DLC)もしくはグラファイト・ライク・カーボン(GLC)で形成しておくことにより、比較的厚みの薄いマスク層によって十分な電気絶縁性を得ることができる上に、金属メッキ膜を基体より剥離させる際の剥離性を良好となすことができ、しかもDLCやGLCは極めて硬質で、ステンレス等によって形成される基体への密着性も良好であるため、これを長期にわたって連続的に使用しても、マスク層を良好な状態のまま、基体に対して強固に被着させておくことができる。
【0083】
また、金属メッキ膜をセラミックグリーンシートに直接、転写する場合には、セラミックグリーンシートがマスク層表面に付着することは殆どないことから、安定した転写を繰り返し行うことができる利点もある。
【0084】
更に本発明によれば、前記マスク層の側面と下面との間に形成される角部の角度を90度以下になしておけば、基体と接する金属メッキ膜の下面の面積が上面の面積よりも小さくなることから、金属メッキ膜をセラミックグリーンシート等に転写する際に、金属メッキ膜の外周部がマクス層に引っ掛かることは殆どなく、金属メッキ膜の‘抜け’を良好となすことができる。
【0085】
また更に本発明によれば、金属メッキ膜が析出される基体の表面を窒化チタンアルミニウム、窒化クロム、窒化チタン、窒化チタンクロム、炭窒化チタン、炭化チタン、導電性DLCの少なくとも一種により形成するとともに、基体表面の表面粗さを最大高さRyで0.5μm以下に設定し、その比抵抗を10−3Ωcm以下に設定しておくことにより、基体の表面に金属メッキ膜を析出させる際、基体とメッキ槽との間の電流密度はより均一なものとなり、金属メッキ膜の厚みをより等しく揃えることができるようになる。しかもこの場合、基体表面の硬度は高く、表面状態は極めて平滑であることから、金属メッキ膜の剥離性も良好である。
【0086】
更にまた本発明によれば、上述した金属メッキ膜を、セラミックグリーンシートの焼成時、金属メッキ膜を形成する金属の再結晶温度よりも高く、かつ、融点より低い温度で熱処理することにより、焼成時の熱によって金属メッキ膜が熔けて金属メッキ膜を分断することはなく、連続性に優れた導体層を形成することができる。なお、ここで、金属メッキ膜が連続性に優れた導体層となるのは、セラミックグリーンシートの焼成時、金属メッキ膜を形成している金属の再結晶化が進むことで金属が適度に軟化し、セラミックグリーンシート中のセラミック粒子が金属メッキ膜の表面に入り込むからであり、これによって金属メッキ膜とセラミックグリーンシートの密着力が向上し、構造欠陥の少ないセラミック電子部品が得られる。
【0087】
また更に本発明によれば、金属メッキ膜が析出される基体を円筒状もしくは円柱状に成し、金属メッキ膜の析出工程において、前記基体を軸周りに回転させながら、その一部をメッキ槽のメッキ液に浸漬するとともに、前記基体と前記メッキ槽との間のメッキ液に電界を印加することによって金属メッキ膜を形成することにより、金属メッキ膜を連続的に形成して生産性の向上に供することができるとともに、基体とメッキ槽との間の電流密度を略均一になして、金属メッキ膜を略一定の厚みで形成することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る製造方法によって製作したセラミック電子部品としての積層セラミックコンデンサを示す断面図である。
【図2】本発明の製造方法に用いられる製造装置の構成を模式的に示す図である。
【図3】図2の製造装置に用いられる基体11を図2のA方向から見た平面図である。
【図4】図3の製造装置に用いられる基体表面の構造を示す拡大断面図である。
【図5】本発明の他の実施形態に係る製造方法に用いられる製造装置の構成を模式的に示す図である。
【図6】本発明の他の実施形態に係る製造方法に用いられる製造装置の構成を模式的に示す図である。
【符号の説明】
1・・・積層セラミックコンデンサ(セラミック電子部品)
2・・・絶縁層
3・・・内部電極(導体層)
4・・・セラミック層
5・・・外部電極
7・・・導電性膜
8・・・マスク層
9・・・金属メッキ膜
11・・・基体
12・・・回転軸
13・・・電源装置
14・・・循環装置
15・・・乾燥部
16・・・メッキ槽(陽極)
17・・・メッキ液
20・・・樹脂フィルム
21・・・粘着層
22・・・送り出し部
23・・・加圧ローラ
24・・・巻き取り部
25・・・樹脂フィルム
26・・・セラミックグリーンシート
27・・・加圧ローラ
28・・・供給部
29・・・収納部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for manufacturing a ceramic electronic component such as a capacitor, an inductor, a filter, or a circuit board that is configured by combining a ceramic layer and a conductor layer having a predetermined pattern.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, ceramic materials have been used to form electronic components such as capacitors, inductors, filters, and circuit boards.
[0003]
As such a conventional ceramic electronic component, for example, a laminated body in which a plurality of ceramic layers having a predetermined dielectric constant are laminated with a first internal electrode and a second internal electrode alternately interposed therebetween. And a multilayer ceramic capacitor in which a pair of external electrodes electrically connected to the first and second internal electrodes are respectively provided on the side surface and the main surface of the multilayer body are widely known, Such a multilayer ceramic capacitor is arranged between a first internal electrode and a second internal electrode by applying a predetermined voltage between the first internal electrode and the second internal electrode via a pair of external electrodes. The ceramic layer functions as a capacitor by forming a predetermined capacitance.
[0004]
Moreover, the multilayer ceramic capacitor mentioned above is manufactured through the following processes, for example (for example, refer patent document 1).
[0005]
First, an organic binder and an organic solvent are added to and mixed with a predetermined ceramic material powder to prepare a slurry-like inorganic composition, which is formed into a sheet with a predetermined thickness by a conventionally known doctor blade method, etc. Form a sheet.
[0006]
Next, a conductive paste mainly composed of a metal such as nickel is printed and applied in a predetermined pattern on the main surface of the obtained ceramic green sheet by screen printing or the like known in the art, and a plurality of these are stacked to make the ceramic green A laminate of sheets is formed.
[0007]
Subsequently, the laminate is fired at a high temperature to form a conductor paste as an internal electrode and a ceramic green sheet as a ceramic layer. Finally, the conductor paste is applied to the end face of the laminate by a conventionally known dipping method or the like. A multilayer ceramic capacitor is manufactured by coating and baking to form external electrodes.
[0008]
[Patent Document 1]
JP 2000-243650 A
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in recent years, with the miniaturization of electronic devices, there has been a demand for miniaturization of ceramic electronic components, and in the case of the above-described multilayer ceramic capacitor, various studies for thinly forming individual ceramic layers and internal electrodes have been made. ing.
[0010]
For example, in the above-described conventional multilayer ceramic capacitor, in order to reduce the thickness of the internal electrode, the average particle size of the metal powder contained in the conductor paste used for forming the internal electrode is, for example, about 0.3 μm It is important to make it extremely small.
[0011]
However, when the particle size of the metal powder contained in the conductor paste is extremely small, the dispersibility of the metal powder is deteriorated due to the aggregation of the metal powders in the conductor paste. It has a drawback that it is difficult to obtain a conductor paste having characteristics suitable for printing and the like.
[0012]
Even if a conductor paste having characteristics suitable for screen printing can be obtained by adjusting various components contained in the conductor paste, it is applied thinly on a ceramic green sheet. When firing, there is a disadvantage that the continuity of the internal electrode is significantly lost due to movement of the metal powder in the conductor paste during firing, and in the worst case, the internal electrode is divided. .
[0013]
Therefore, in order to eliminate the above disadvantages, a metal plating film to be an internal electrode is formed in advance on the surface of a base material made of stainless steel or the like, and this is transferred to a ceramic green sheet so that a very thin internal electrode having a thickness of 1 μm or less Can be considered.
[0014]
However, when forming the internal electrode by transferring a previously formed metal plating film to a ceramic green sheet, the thickness of the mask that regulates the deposition area of the metal plating film can be reduced in order to reduce the thickness of the metal plating film. It needs to be thin. It is considered that a cyclized rubber-based photoresist material or the like can be used as a material for such a mask. Such a photoresist material can be applied to a conventionally known screen printing method, spin coating method, curtain coating method, roll coater method, etc. It is extremely difficult to form a photoresist film as thin as 1 μm or less when it is applied to the surface of a substrate by the above method, and it requires a high degree of manufacturing technology, and the cyclized rubber-based photoresist material described above. Since its strength is relatively low and its adhesion to stainless steel forming the base material is not good, the mask peels off from the base material relatively quickly when used continuously. Or a defect such as damage to the mask is induced.
[0015]
The present invention has been devised in view of the above drawbacks, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a ceramic electronic component that can relatively easily obtain a small ceramic electronic component by reducing the thickness of a conductor layer. It is in.
[0016]
[Means for Solving the Invention]
The method of manufacturing a ceramic component according to the present invention includes a surface of a substrate partially having a mask layer made of diamond-like carbon (DLC) or graphite-like carbon (GLC), at a portion where the max layer is not present. Depositing a metal plating film, transferring the metal plating film on the substrate to a transfer material, integrating the metal plating film with the ceramic green sheet, and firing the ceramic green sheet And C for obtaining a ceramic electronic component having a conductor layer deposited on the ceramic layer.
[0017]
The method for manufacturing a ceramic electronic component according to the present invention is characterized in that an angle of a corner formed between a side surface and a lower surface of the mask layer is 90 degrees or less.
[0018]
Furthermore, in the method for producing a ceramic electronic component according to the present invention, the surface of the substrate on which the metal plating film is deposited has at least titanium aluminum nitride, chromium nitride, titanium nitride, titanium nitride chromium, titanium carbonitride, titanium carbide, and conductive DLC. 1 type, the surface roughness is 0.5 μm or less at the maximum height Ry, and the specific resistance of the substrate surface is 10 -3 It is characterized by being Ωcm or less.
[0019]
Furthermore, in the method for producing a ceramic electronic component of the present invention, the firing temperature of the ceramic green sheet in the step C is higher than the recrystallization temperature of the metal forming the metal plating film and lower than the melting point of the metal. It is characterized by.
[0020]
Furthermore, in the method for manufacturing a ceramic electronic component according to the present invention, the base body has a cylindrical shape or a columnar shape, and in the step A, a part of the base plate is plated while rotating the base body about an axis. The metal plating film is deposited and formed by immersing in a liquid and applying an electric field to a plating liquid between the substrate and the plating tank.
[0021]
Furthermore, the method for manufacturing a ceramic electronic component according to the present invention is characterized in that a radius of curvature of the surface of the substrate is 50 mm to 2000 mm.
[0022]
[Action]
According to the present invention, a mask layer that regulates the deposition region of the metal plating film is formed of diamond-like carbon (DLC) or graphite-like carbon (GLC), so that a relatively thin mask layer is formed. In addition to being able to obtain sufficient electrical insulation, it is possible to improve the releasability when the metal plating film is peeled from the substrate, and DLC and GLC are extremely hard, and the substrate is formed of stainless steel or the like. Therefore, even if it is used continuously for a long period of time, the mask layer can be firmly attached to the substrate while maintaining a good state.
[0023]
In addition, when the metal plating film is directly transferred to the ceramic green sheet, the ceramic green sheet hardly adheres to the surface of the mask layer, so that there is an advantage that stable transfer can be repeatedly performed.
[0024]
Further, according to the present invention, if the angle of the corner formed between the side surface and the lower surface of the mask layer is 90 degrees or less, the area of the lower surface of the metal plating film in contact with the substrate is larger than the area of the upper surface. Therefore, when transferring the metal plating film to a ceramic green sheet or the like, the outer peripheral portion of the metal plating film is hardly caught by the max layer, and the metal plating film can be satisfactorily 'missed'. .
[0025]
Furthermore, according to the present invention, the surface of the substrate on which the metal plating film is deposited is formed of at least one of titanium aluminum nitride, chromium nitride, titanium nitride, titanium nitride chromium, titanium carbonitride, titanium carbide, and conductive DLC. The surface roughness of the substrate surface is set to 0.5 μm or less at the maximum height Ry, and the specific resistance is set to 10 -3 By setting it to Ωcm or less, when depositing a metal plating film on the surface of the substrate, the current density between the substrate and the plating tank becomes more uniform, and the thickness of the metal plating film can be made more uniform. become able to. In addition, in this case, the hardness of the substrate surface is high and the surface state is extremely smooth, so that the peelability of the metal plating film is also good.
[0026]
Furthermore, according to the present invention, the above-described metal plating film is fired by firing at a temperature higher than the recrystallization temperature of the metal forming the metal plating film and lower than the melting point when firing the ceramic green sheet. The metal plating film is not melted by the heat of time and the metal plating film is not divided, and a conductor layer having excellent continuity can be formed. Here, the metal plating film becomes a conductor layer with excellent continuity, because the metal forming the metal plating film is recrystallized when the ceramic green sheet is fired, so that the metal softens moderately. This is because the ceramic particles in the ceramic green sheet enter the surface of the metal plating film, whereby the adhesion between the metal plating film and the ceramic green sheet is improved, and a ceramic electronic component with few structural defects is obtained.
[0027]
Furthermore, according to the present invention, the substrate on which the metal plating film is deposited is formed into a cylindrical shape or a columnar shape, and in the metal plating film deposition process, a part of the substrate is rotated while rotating the substrate around the axis. The metal plating film is continuously formed by improving the productivity by immersing in the plating liquid and forming the metal plating film by applying an electric field to the plating liquid between the substrate and the plating tank. In addition, the current density between the substrate and the plating tank can be made substantially uniform, and the metal plating film can be formed with a substantially constant thickness.
[0028]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0029]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a multilayer ceramic capacitor as a ceramic electronic component manufactured by a manufacturing method according to an embodiment of the present invention. The multilayer ceramic capacitor 1 shown in FIG. It is composed of an
[0030]
The multilayer ceramic capacitor 1 is formed by alternately laminating
[0031]
The outer shape of the multilayer ceramic capacitor 1 is formed, for example, with a width of 1.2 mm, a length of 2 mm, and a height of 1.2 mm, and the number of stacked
[0032]
The thickness of the
[0033]
The material and thickness of the
[0034]
The multilayer ceramic capacitor 1 applies a predetermined voltage to the adjacent internal electrodes 3-3 via the
Next, a method for manufacturing the above-described multilayer ceramic capacitor will be described with reference to FIGS.
[0035]
2 schematically shows a manufacturing apparatus used in the manufacturing method of the present invention, FIG. 3 is a plan view of the
[0036]
<Step 1>
First, the
[0037]
The
[0038]
The
[0039]
Of these materials, titanium aluminum nitride, chromium nitride, titanium nitride, titanium nitride chromium, and titanium carbonitride are particularly preferable in consideration of the peelability of the
[0040]
Here, the surface roughness of the substrate surface is made small because when the thickness of the
[0041]
The
[0042]
On the other hand, the
[0043]
Thus, by forming the
[0044]
The thickness of the
[0045]
The
[0046]
Since such a
[0047]
In this case, the DLC and GLC forming the
[0048]
The angle α of the corner formed by the side surface and the lower surface (surface of the base body 11) of the
[0049]
The base 11 described above is rotated around the axis of the
[0050]
Thus, while rotating the cylindrical or
[0051]
The rotating
[0052]
The rotating
[0053]
On the other hand, the
[0054]
As the
[0055]
The
[0056]
The
[0057]
<
Next, the
[0058]
As the
[0059]
Such a
[0060]
At this time, if the angle α of the corner formed between the side surface and the lower surface of the
[0061]
The
[0062]
Further, as the
[0063]
<
Next, the
[0064]
The ceramic
[0065]
In this case, the
[0066]
Further, in this way, if the
[0067]
The ceramic
[0068]
Further, as the
[0069]
<
Next, a plurality of ceramic
[0070]
Such a laminate is, for example, temporarily pressure-bonded at a pressure of 0.9 MPa while being heated at a temperature of 60 ° C., and then the laminate is heated at a temperature of 70 ° C. and a pressure of 50 MPa by a conventionally known hydrostatic pressure press or the like. The ceramic
[0071]
<
Finally, the laminate obtained in
[0072]
Here, the firing temperature of the laminated body is set to a temperature lower than the melting point of the metal forming the
[0073]
For example, when the
[0074]
By firing the
[0075]
In this case, the firing temperature of the laminate is set higher than the recrystallization temperature of the metal forming the
[0076]
<Step 6>
Finally, a conductive paste for external electrodes is applied to both ends of the multilayer body, fired, and further subjected to plating to form
[0077]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and improvements can be made without departing from the scope of the present invention.
[0078]
For example, in the above-described embodiment, the ceramic
[0079]
In the above-described embodiment, by applying a ceramic slurry on the
[0080]
Furthermore, in the above-described embodiment, an example in which a nickel plating film is deposited and formed as the
[0081]
Further, in the above-described embodiment, the case where a multilayer ceramic capacitor is manufactured has been described as an example. However, ceramic electronic components other than the multilayer ceramic capacitor, for example, other ceramic electronic components such as an inductor, a filter, and a circuit board are manufactured. Needless to say, the present invention can be applied to cases.
[0082]
【The invention's effect】
According to the present invention, a mask layer that regulates the deposition region of the metal plating film is formed of diamond-like carbon (DLC) or graphite-like carbon (GLC), so that a relatively thin mask layer is formed. In addition to being able to obtain sufficient electrical insulation, it is possible to improve the releasability when the metal plating film is peeled from the substrate, and DLC and GLC are extremely hard, and the substrate is formed of stainless steel or the like. Therefore, even if it is used continuously for a long period of time, the mask layer can be firmly attached to the substrate while maintaining a good state.
[0083]
In addition, when the metal plating film is directly transferred to the ceramic green sheet, the ceramic green sheet hardly adheres to the surface of the mask layer, so that there is an advantage that stable transfer can be repeatedly performed.
[0084]
Further, according to the present invention, if the angle of the corner formed between the side surface and the lower surface of the mask layer is 90 degrees or less, the area of the lower surface of the metal plating film in contact with the substrate is larger than the area of the upper surface. Therefore, when transferring the metal plating film to a ceramic green sheet or the like, the outer peripheral portion of the metal plating film is hardly caught by the max layer, and the metal plating film can be satisfactorily 'missed'. .
[0085]
Furthermore, according to the present invention, the surface of the substrate on which the metal plating film is deposited is formed of at least one of titanium aluminum nitride, chromium nitride, titanium nitride, titanium nitride chromium, titanium carbonitride, titanium carbide, and conductive DLC. The surface roughness of the substrate surface is set to 0.5 μm or less at the maximum height Ry, and the specific resistance is set to 10 -3 By setting it to Ωcm or less, when depositing a metal plating film on the surface of the substrate, the current density between the substrate and the plating tank becomes more uniform, and the thickness of the metal plating film can be made more uniform. become able to. In addition, in this case, the hardness of the substrate surface is high and the surface state is extremely smooth, so that the peelability of the metal plating film is also good.
[0086]
Furthermore, according to the present invention, the above-described metal plating film is fired by firing at a temperature higher than the recrystallization temperature of the metal forming the metal plating film and lower than the melting point when firing the ceramic green sheet. The metal plating film is not melted by the heat of time and the metal plating film is not divided, and a conductor layer having excellent continuity can be formed. Here, the metal plating film becomes a conductor layer with excellent continuity, because the metal forming the metal plating film is recrystallized when the ceramic green sheet is fired, so that the metal softens moderately. This is because the ceramic particles in the ceramic green sheet enter the surface of the metal plating film, whereby the adhesion between the metal plating film and the ceramic green sheet is improved, and a ceramic electronic component with few structural defects is obtained.
[0087]
Furthermore, according to the present invention, the substrate on which the metal plating film is deposited is formed into a cylindrical shape or a columnar shape, and in the metal plating film deposition process, a part of the substrate is rotated while rotating the substrate around the axis. The metal plating film is continuously formed by improving the productivity by immersing in the plating liquid and forming the metal plating film by applying an electric field to the plating liquid between the substrate and the plating tank. In addition, the current density between the substrate and the plating tank can be made substantially uniform, and the metal plating film can be formed with a substantially constant thickness.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a multilayer ceramic capacitor as a ceramic electronic component manufactured by a manufacturing method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration of a manufacturing apparatus used in the manufacturing method of the present invention.
3 is a plan view of a
4 is an enlarged cross-sectional view showing a structure of a substrate surface used in the manufacturing apparatus of FIG. 3;
FIG. 5 is a diagram schematically showing a configuration of a manufacturing apparatus used in a manufacturing method according to another embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram schematically showing a configuration of a manufacturing apparatus used in a manufacturing method according to another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 ... Multilayer ceramic capacitor (ceramic electronic component)
2 ... Insulating layer
3 ... Internal electrode (conductor layer)
4 ... Ceramic layer
5 ... External electrode
7 ... conductive film
8 ... Mask layer
9 ... Metal plating film
11 ... Substrate
12 ... Rotating shaft
13 ... Power supply
14 ... Circulation device
15 ... Drying section
16 ... Plating tank (anode)
17 ... Plating solution
20 ... Resin film
21 ... Adhesive layer
22 ... Delivery section
23 ... Pressure roller
24 ... Winding part
25 ... Resin film
26 ... Ceramic green sheet
27 ... Pressure roller
28 ... Supply section
29 ... Storage part
Claims (6)
前記基体上の金属メッキ膜を被転写材に転写させるとともに、前記金属メッキ膜をセラミックグリーンシートと一体化する工程Bと、
前記セラミックグリーンシートを焼成することによってセラミック層上に導体層が被着されたセラミック電子部品を得る工程Cと、を含むセラミック電子部品の製造方法。A step A of depositing a metal plating film on the surface of the substrate partially having a mask layer made of diamond-like carbon (DLC) or graphite-like carbon (GLC) at a portion where the max layer does not exist;
Transferring the metal plating film on the substrate to a transfer material and integrating the metal plating film with a ceramic green sheet; and
And a step C of obtaining a ceramic electronic component having a conductor layer deposited on a ceramic layer by firing the ceramic green sheet.
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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