JP2005024642A - レーザ走査型共焦点顕微鏡装置 - Google Patents

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は、標本に光ビームを走査し、標本からの反射光や蛍光を光電変換し、三次元標本画像を生成するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置に関し、特に水平同期信号に同期して標本面を1ライン走査する毎に、標本の光軸方向への位置を連続的に変化させ、標本画像を取得するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置を提供するものである。
【解決手段】本発明は、光源1からレーザ光を走査機構2、対物レンズ3を通して標本に照射し、その反射光、又は蛍光をピンホール4を通して検出し、光電変換手段5により電気信号に変換して画像データを形成するレーザ走査型共焦点顕微鏡であり、走査条件取得手段8に設定した走査条件に基づいて標本のリファレンス画像を作成し、当該リファレンス画像から例えば輝度の高い部分をY−Z画像として表示し、注目部位の指定を行った後、Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成し、当該データに従って標本画像を高速、かつ位置精度よく取得する構成である。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、標本に光ビームを走査し、標本からの反射光や蛍光を光電変換し、三次元標本画像を生成するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザ走査型顕微鏡は、レーザー光をガルバノメータスキャナ等を用いて水平方向、及び垂直方向に偏光させ、標本に対して二次元走査を行い、標本からの反射光若しくは蛍光を対物レンズを含む光学系を通して光検出器により検出し、CRTディスプレイ等に標本の3次元画像を表示するものである。
【0003】
さらに、共焦型のレーザ走査型顕微鏡は、光検出器の手前にピンホールを設け、標本上の対物レンズの焦点と、ピンホールにおける受光側の焦点とが共焦点を形成するように光学系(共焦点光学系)が形成されている。このような構成によれば、標本上の対物レンズの焦点からの反射光、若しくは蛍光以外の光はピンホールにより排除し、標本の光軸方向への分解能を向上することができる。
【0004】
この特長を活かし、対物レンズと標本との光軸方向の相対位置を変化させながら標本に対して二次元走査を行い、各相対位置における標本の二次元画像を積み重ねることで、標本の三次元画像を作成することが可能である。そして、この処理を一定時間間隔で繰り返すことにより、例えば神経細胞等の成長過程を三次元画像で立体的に観察することができる。
【0005】
例えば、特許文献1には二次元スキャンユニットによって光源からの光を平面走査し、対物レンズ駆動部を駆動して光軸方向に対物レンズと試料の距離を制御して三次元画像を作成する発明が開示されている。
【0006】
【特許文献1】特開平10−161034号公報(段落番号0017〜0070、図1〜図6)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の方法では、三次元の標本画像の作成に多大な時間を要し、更に標本に対してレーザ照射が繰り返される為、標本のダメージも大きくなる。
【0008】
一方、水平方向に1ライン走査をする毎に、標本と対物レンズの光軸方向の相対位置を変化させレーザ照射を行う方法も提案されている。しかし、この方法では1ラインの走査毎に走査を停止し、ステージ若しくは対物レンズの移動を行う必要があり、ステージ若しくは対物レンズが安定するまで次のラインの走査を待機することになり、三次元画像の取得に時間を要する。
【0009】
そこで、本発明は標本に対する走査を行う際、標本の光軸方向への位置を連続的に変化させ、標本画像を取得することにより、光軸方向の注目部位の標本画像を高速に取得し、標本に与えるダメージを極力抑えることを可能にするレーザ走査型共焦点顕微鏡装置を提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題は請求項1記載の発明によれば、レーザ光源と、該レーザ光源から発した光ビームを標本に集光する対物レンズと、前記標本に対して前記光ビームを二次元走査するための走査機構と、前記標本からの反射光、蛍光、又は透過光を電気信号に変換する光電変換手段と、前記走査機構の水平同期信号を検出する水平同期信号検出手段と、前記走査機構の垂直同期信号を検出する垂直同期信号検出手段と、前記対物レンズと前記標本との光軸方向の相対位置を可変するZ位置制御機構と、前記標本に対して二次元走査を行い、前記標本の参照画像を取得する参照画像取得手段と、光軸方向に前記参照画像の輝度の高い注目部位を指定するZ位置指定手段と、前記Z位置指定手段により指定した前記注目部位のデータに基づいてZ位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成する作成手段と、該Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに基づいて前記Z位置制御機構を連続的に動作させ、標本画像を取得する標本画像取得手段とを有するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置を提供することによって達成できる。
【0011】
ここで、本発明の装置に使用する顕微鏡は、レーザ走査型共焦点顕微鏡であり、レーザ光源から発した光ビームを標本に集光し、光検出器の手前に設けられたピンホールによって標本の光軸方向への分解能を向上する構成である。また、標本に対する二次元走査の際、Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに従ってZ位置制御機構を駆動し、標本をZ方向に連続的に移動させる構成である。
【0012】
したがって、三次元の標本画像を作成する際、対物レンズと標本間を連続して相対移動させることができ、標本走査を短時間で行い、標本に与えるダメージを極力小さく抑えることができる。
また、Z位置指定手段による注目部位の指定は、例えばマウス等のポインティングデバイスを用いて行い、当該注目部位間を直線補間、スプライン補間等によって補間し、上記Z位置移動コースデータを作成し、更にZ位置移動速度データを作成するものである。
【0013】
請求項2の記載は、請求項1の記載において、前記Z位置指定手段は、例えば使用する対物レンズの開口数と倍率から求めたZ方向の光学分解能を基に、前記注目部位の入力可能範囲を明示的に表示する構成である。
このように構成することにより、マウス等を使用して注目部位の指定を行う際、指定可能範囲を視覚的に確認しながら行うことができ、光軸方向の光学分解能を考慮したZ位置移動コースデータの作成が可能となる。
【0014】
請求項3の記載は、請求項1の記載において、前記Z位置指定手段は、前記垂直同期信号検出手段により垂直同期信号が検出されると、前記Z位置移動コースデータを一定間隔で光軸方向に上下させ、前記Z位置移動速度データと前記Z位置移動コースデータを基に、前記Z位置制御機構を制御する構成である。
【0015】
このように構成することにより、自動的に光軸方向に一定の幅を持った標本画像の走査が可能となる。
上記課題は請求項4記載の発明によれば、レーザ光源と、該レーザ光源から発した光ビームを標本に集光する対物レンズと、前記標本に対して前記光ビームを二次元走査するための走査機構と、前記標本からの反射光、蛍光、又は透過光を電気信号に変換する光電変換手段と、前記走査機構の水平同期信号を検出する水平同期信号検出手段と、前記走査機構の垂直同期信号を検出する垂直同期信号検出手段と、前記対物レンズと前記標本との光軸方向の相対位置を可変するZ位置制御機構とを有するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置の制御方法であって、前記標本に対して二次元走査を行い、前記標本の参照画像を取得する参照画像取得処理と、光軸方向に前記参照画像の輝度の高い注目部位を指定するZ位置指定処理と、該Z位置指定処理により指定した前記注目部位のデータに基づいてZ位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成する処理と、前記Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに従って前記Z位置制御機構を連続的に動作させ、標本画像を取得する処理とを行うレーザ走査型共焦点顕微鏡装置の制御方法を提供することによって達成できる。
【0016】
本発明は方法の発明であり、このように構成することによっても対物レンズと標本間を連続して相対移動させることができ、標本走査を短時間で行うことができ、標本へのダメージも最小限に抑えることができる。
上記課題は請求項5記載の発明によれば、レーザ光源と、該レーザ光源から発した光ビームを標本に集光する対物レンズと、前記標本に対して前記光ビームを二次元走査するための走査機構と、前記標本からの反射光、蛍光、又は透過光を電気信号に変換する光電変換手段と、前記走査機構の水平同期信号を検出する水平同期信号検出手段と、前記走査機構の垂直同期信号を検出する垂直同期信号検出手段と、前記対物レンズと前記標本との光軸方向の相対位置を可変するZ位置制御機構とを有するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置に使用されるプログラムであって、前記標本に対して二次元走査を行い、前記標本の参照画像を取得する参照画像取得機能と、光軸方向に前記参照画像の輝度の高い注目部位を指定するZ位置指定機能と、該Z位置指定機能により指定した前記注目部位のデータに基づいてZ位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成する機能と、前記Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに従って前記Z位置制御機構を連続的に動作させ、標本画像を取得する機能とを備えたコンピュータが実行可能なプログラムを提供することによって達成できる。
【0017】
本発明はレーザ走査型共焦点顕微鏡装置に使用するプログラムの発明であり、このようにプログラムを使用し、レーザ走査型共焦点顕微鏡を制御することによって、対物レンズと標本間を連続して相対移動させることができ、標本走査を短時間で行うことができ、標本へのダメージも最小限に抑えることができる。
【0018】
【発明の実施形態】
<第1の実施形態>
以下、本発明の第1の実施形態について図を用いて説明する。
図1は本例で使用するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置のシステム構成図である。同図において、光源1から照射される光ビームは、ガルバノミラー等で構成される走査機構2を通して水平方向、垂直方向に偏光され、更に対物レンズ3を通り、ステージ14上の標本に照射される。
【0019】
標本面で反射した反射光、又は標本内に透過された光照射に基づいて標本からの蛍光は、再び対物レンズ3、走査機構2を通り、ピンホール4に到達する。ピンホール4は標本の焦点以外からの光を排除し、焦点からの反射光、又は蛍光のみを通過させる。さらに、ピンホール4を通過した光は光電変換手段5に入射し、電気信号に変換し、アナログ/デジタル変換器(A/D変換器)6によってデジタルデータに変換される。
【0020】
A/D変換器6でデジタルデータに変換されたデータは、パーソナルコンピュータ(PC)に入力し、標本画像の作成が行われる。ここで、パーソナルコンピュータ(PC)は、CPU7、走査条件取得手段8、記憶媒体9、Z位置(光軸位置)指定手段10で構成され、CPU7は上記記憶媒体9に登録された制御プログラムに従って処理を行う。尚、CPU7はCRTディスプレイ等の不図示の表示装置に接続され、上記デジタルデータに基づいて作成された標本画像等を表示する。
【0021】
Z位置指定手段10は、CPU7の制御に従って標本の注目部位を指定する際使用され、Z位置指定手段10によって指定された注目部位のデータは後述するZ位置移動コースデータの作成、及びZ位置移動速度データの作成に使用される。
【0022】
また、記憶媒体9には制御プログラムが登録され、上記走査条件取得手段8で取得した走査条件、Z位置指定手段10で指定した注目部位のデータ、及びZ位置移動コースデータやZ位置移動速度データ等を記憶する。
また、水平同期信号検出手段11、及び垂直同期信号検出手段12はCPU7に接続され、ガルバノミラーの駆動信号に基づいて水平同期信号、及び垂直同期信号を検出する。
【0023】
さらに、Z位置制御機構13はCPU7から出力される制御信号によって駆動し、ステージ14を上下に移動し、標本への光ビームの照射位置を制御する。尚、上記Z位置制御機構13は、顕微鏡に内蔵される準焦部駆動モータを使用する機構であってもよく、又圧電素子を用いた機構としてもよく、更に光学素子のみを動作させる機構としてもよい。
【0024】
次に、本例の処理動作について説明する。
先ず、本例の全体処理動作を図2に示すフローチャートを用いて説明する。先ず、標本の光軸方向の注目部位を指定するために必要となるリファレンス画像(参照画像)を取得する(ステップ(以下、Sで示す)1)。この処理は、標本に対してレーザ光を走査し、順次二次元画像を取得し、この二次元画像を積み重ねて三次元のリファレンス画像(参照画像)を得る処理である。
【0025】
次に、上記処理によって取得したリファレンス画像を基に、前述のZ位置指定手段10により標本の光軸方向の注目部位を指定し、Z位置制御機構13を制御するためのZ位置移動コースデータ、Z位置移動速度データを設定する(S2)。設定された各データは、記憶媒体9内の制御プログラムに登録される。
【0026】
次に、上記処理によって登録したZ位置移動コースデータ、及びZ位置移動速度データに従い、標本の光軸方向の位置を制御し、標本画像を取得する(S3)。
以下、上記各処理(S1〜S3)について、具体的に説明する。
【0027】
先ず、リファレンス画像取得処理(前述の処理(S1))について、図3に示すフローチャートに従って説明する。
この処理は、前述のようにリファレンス画像の取得処理であり、先ずリファレンス画像の取得条件を設定する(S11)。図4はリファレンス画像の取得条件を説明する図であり、標本を三次元画像(X、Y、Zの各軸が互いに直交する三次元画像)で示す。本例において、取得条件は同図に示す標本の光軸方向の画像取り込み開始位置(同図に示すa)、標本の光軸方向の画像取り込み終了位置(同図に示すb)、及び画像取り込み開始位置から画像取り込み終了位置までの相対距離をnステップに分割した時の1ステップ分の光軸方向の距離(インターバル)(同図に示すc)である。
【0028】
尚、上記取得条件は、不図示のマウスやキーボードを使用して行われ、例えば画像取り込み開始位置(a)が設定されると、リファレンス画像を取得する際のZ位置の初期値として登録される。そして、この登録によって、Z位置制御機構13はステージ14を光軸方向に移動し、標本を画像取り込み開始位置にセットする。
【0029】
次に、画像取り込み開始位置における標本の平面画像を取得する(S12)。この処理は、光源1からレーザ光の照射を行い、光電変換手段5で検出する光量データに従って図4に示すa1の平面画像を取得する。
次に、上記処理によって設定したインターバル分、光軸方向の位置を画像取り込み終了位置側へ移動する(S13)。そして、現在のZ位置と上記処理(S11)によって設定した画像取り込み終了位置とを比較し、現在のZ位置が画像取り込み終了位置より大きい場合(現在のZ位置>画像取り込み終了位置)、次の処理に移行する(S14)。しかし、最初の処理では、平面画像a1に対する画像取り込みを行った直後であり、最初のこの判断(S14)はNO(ノー)である。
【0030】
したがって、次の標本の平面画像の取り込み処理に戻り(S12)、以後光軸方向にインターバル分順次加算を行い、平面画像の取り込み処理を繰り返し(S12〜S14)、平面画像a2、a3、・・・を順次CPU7に取り込む。そして、取得した各Z位置における標本の平面画像を積み重ね、標本の光軸方向への三次元画像を構築する。
【0031】
その後、現在のZ位置が画像取り込み終了位置を越えると(S14がYES(イエス))、上記標本の三次元画像をリファレンス画像として登録し(S15)、リファレンス画像の取得処理を終了する。
次に、上記処理によって取得したリファレンス画像を使用して、Z位置移動コースの設定処理を説明する(図2のフローチャート(S2)の処理)。
【0032】
図5はこの処理を説明するフローチャートである。先ず、取得したリファレンス画像(図6(a)参照)を構成するn枚の標本像を基に、光軸方向の同一画素の輝度値を加算し、1枚の標本の平面画像を作成する(S21)。以下、この画像をX−Yエクステンド画像という。尚、図6(b)は、リファレンス画像から光軸方向の輝度値を加算し、輝度値の高い部分を示すX−Yエクステンド画像の例である。
【0033】
次に、水平方向をY軸、垂直方向をZ軸としたY−Z画像を作成する(S22)。この処理も上記と同様、リファレンス画像からX軸方向の輝度値を加算し、標本内の輝度の高い部分を抽出して、同図(c)に示すY−Z画像を取得する。次に、注目部位指定のための画面を表示装置に表示する(S23)。すなわち、この処理によって、例えば図7に示す表示を行う。尚、同図(a)は、前述のリファレンス画像を示し、n枚の標本像を積み重ねて作成した標本の三次元画像である。また、同図(b)は上記X−Yエクステンド画像を示し、同図(c)はY−Z画像を示す。尚、同図(d)については後述する。
【0034】
次に、上記表示状態において、マウス等の入力デバイスを操作し、Y−Z画像上に注目部位を指定する(S24)。すなわち、Y−Z画像上にZ位置指定インジケータ15を設定する。
次に、Z位置移動コースデータ、及びZ位置移動速度データを作成する(S25)。この処理は、図7に示す画面上のセットボタン16を押下することによって実行され、上記Z位置指定インジケータ15で指定された各ポイント間をスプライン補完、若しくは多項式近似補完し、Z位置移動コースを同図(d)に示す如く表示する。このZ位置移動コースは、標本像の垂直方向のライン数分の標本の光軸方向の座標配列である。
【0035】
例えば、図8に示す設定を行った場合、各Z位置指定インジケータ間をライン数分のポイントでスプライン補完、若しくは多項式近似補完したZ位置移動コースが生成される。尚、上記スプライン補完は各ポイント間をスプライン曲線で結ぶ補完方法であり、多項式近似補間は各ポイント間を多項式で近似する補完方法であり、上記以外にも複数のポイントを直線で結ぶ直線補間等を使用することができる。
【0036】
上記処理によって、以下のようなZ位置移動コースデータが生成される。例として、Y方向512画素の画像を取得した場合(Zposition[0]〜Zposition[511])を以下に示す。
Zposition[0]=1μm
Zposition[1]=2μm
Zposition[2]=2,2μm
Zposition[3]=3μm
・・・
Zposition[511]=560μm
尚、上記Z位置移動コースデータは、前述の制御プログラム(記憶媒体9)に登録される。
【0037】
次に、1ライン目の光軸方向の座標(Zposition[0])から2ライン目の光軸方向の座標(Zposition[1])へ前述のZ位置制御機構13が移動する際の速度を以下の式により算出する。但し、Tは1ライン走査完了時の水平同期信号から次のライン走査完了時の水平同期信号までの時間とする。
【0038】
Zspeed[0]=(Zposition[1]‐Zposition[0])÷T[μm/sec]
同様に、2ライン目の光軸方向の座標(Zposition[1])から3ライン目の光軸方向の座標(Zposition[2])へ前記Z位置制御機構が移動する際の速度を算出する。
Zspeed[1]=(Zposotion[2]‐Zposition[1])÷T
上記計算をすべての光軸方向の座標(Zposition[0]〜Zposition[511])に対して行うことで、各ライン間のZ位置制御機構13の移動速度を格納した配列(Zspeed[0]〜Zspeed[510])を作成し、前記Z位置移動速度データとして前述の制御プログラム(記憶媒体9)に登録する。
【0039】
次に、上記処理によって生成したZ位置移動コースデータ、及びZ位置移動速度データを使用して、実際の画像取り込み処理を行う(図2のフローチャート(S3)の処理)。
図9はこの処理を説明するフローチャートである。先ず、上記制御プログラムに登録されたZ位置移動コースデータの中から最初のデータを読み出し、この値を光軸方向の画像取り込み開始位置とする(S31)。したがって、Z位置制御機構13は前述のステージ14を光軸方向の取り込み開始位置に移動し、標本を画像取り込み開始位置にセットする(S32)。
【0040】
次に、標本面を水平方向へ1ライン走査し、画像データを取得する(S33)。そして、水平同期信号が検出されたか判断し(S34)、水平同期信号が検出されない場合(S34がNO)、エラー処理を行う(S35)。
一方、水平同期信号が検出されると(S34がYES)、制御プログラムに登録された全てのZ位置移動速度データを取得したか判断する(S36)。すなわち、この場合全ての画像取り込み処理が完了した場合であり、本例の最初の処理では画像取り込み処理を開始した時点であり(S36がNO)、制御プログラムに登録された次のZ位置移動コースデータ、及びZ位置移動速度データを読み出し、Z位置制御機構13を連続的に移動しつつ、画像取り込み処理を継続する(S37、S33〜S36)。
【0041】
その後、全ての画像取り込み処理が完了すると(S36がYES)、Z位置制御機構13の駆動を停止し(S38)、処理を終了する。すなわち、上記処理によって、CPU7は制御プログラムに登録されたZ位置移動コースデータとZ位置移動速度データを順次読み出し、Z位置制御機構13を連続的に移動しながら標本の走査を行う。
【0042】
したがって、本例によれば上記処理中、Z位置制御機構13の駆動が停止されることがなく、移動速度を変化させながら連続的に光軸方向の標本画像を取得することができ、標本の3次元画像の作成を短時間で行うことができる。
また、神経細胞等の標本を観察するため、繰り返しレーザ光を照射しても標本に与えるダメージを極めて少なく抑えることができる。
【0043】
さらに、観察者自らが指定した注目部位に対する標本画像を得ることができ、観察者が知りたい標本からの情報を的確に得ることができる。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
【0044】
上記第1の実施形態では、図7((図7(c))に示すY−Z画像に対して、観察者がZ位置の指定を行うため、例えばライン間における光軸方向の座標の相対距離が大きく変位する可能性がある。この場合、水平方向1ライン走査中、Z位置制御機構13の光軸方向の位置が大きく変化するため、1ラインの走査開始時の焦点位置と1ラインの走査終了時の焦点位置が大きくずれる。
【0045】
そこで、本例においては、注目部位を指定する際、現在使用している対物レンズの開口数、倍率、ピンホールの直径から標本の光軸方向の光学分解能(焦点深度)を算出し、指定可能な範囲を設定する。そして、観察者が、前述の第1の実施形態で記述した方法と同様、Y−Z画像上に表示されるZ位置指定インジケータ15をマウス等の入力デバイスにより操作し、標本に対する光軸方向の注目部位を指定する際、現在のZ指定位置から上方、及び下方へ設定可能な次のZ指定位置の設定範囲を示す。
【0046】
図10(図10(c))は、この状態を示す図である。観察者は同図に示す表示状態(Z指定位置の設定範囲15a、15b、15c、・・・)を確認し、Z位置指定インジケータ15の指定可能範囲を視覚的に確認しながら指定することができる。このように構成することにより、視覚的な指示に従い、観察者はZ位置を指定することができ、水平方向1ライン内における走査開始時の焦点位置と走査終了時の焦点位置の光学的な位置の差異を排除することができる。
【0047】
したがって、上記方法で作成したZ位置移動コースデータとZ位置移動速度データに従って走査を行えば、水平方向1ライン中の焦点位置を変化させずに標本の光軸方向の注目部位を中心とする三次元画像を高速に取得することができる。<第3の実施形態>
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
【0048】
本例は光軸方向に一定の幅をもたせ、三次元画像の取り込み処理を行うものである。以下、具体的に説明する。
前述の第1の実施形態において説明したように、先ずリファレンス画像の取得処理を行い(図2示す処理(S1))、取得したリファレンス画像に対してY−Z画像を抽出し注目部位の指定処理を行い、セットボタン16を押下し、Z位置指定インジケータ15で指定された各ポイント間をスプライン補完、若しくは多項式近似補完し、Z位置移動コースを表示する。
【0049】
図11は本例における表示画面の例であり、前述の図7に加えて取り込み範囲テキストボックス17、及びインターバルテキストボックス18、セットボタン19が表示される。この取り込み範囲テキストボックス17に、例えば、“5”をセットした場合、最大+5ステップ、最小−5ステップの設定が行われ、図11(d)に示すように上記Z位置移動コース20に対して光軸方向上下にオフセットしたZ位置移動コース20a、20bが表示される。
【0050】
尚、インターバルテキストボックス18に対しては、例えば“0,1”のセットが行われ、インターバルテキストボックス18には当該数値が表示されている。
上記のように、例えば取り込み範囲を±5ステップ、インターバルを0.1μmとした場合、制御プログラムに登録されるオフセット配列は以下のようになる。
Zoffset[0]=−5×0.1μm=−0.5μm
Zoffset[1]=−4×0.1μm=−0.4μm
Zoffset[2]=−3×0.1μm=−0.3μm
Zoffset[3]=−2×0.1μm=−0.2μm
Zoffset[4]=−1×0.1μm=−0.1μm
Zoffset[5]= 0×0.1μm=0.0μm
Zoffset[6]= 1×0.1μm = 0.1μm
Zoffset[7]= 2×0.1μm = 0.2μm
Zoffset[8]= 3×0.1μm = 0.3μm
Zoffset[9]= 4×0.1μm = 0.4μm
Zoffset[10]= 5×0.1μm = 0.5μm
この場合、同図(d)に表示されるZ位置移動コースは、基本となるZ位置移動コース20に対して光軸方向に−5ステップオフセットした値(Zoffset[0]=−0.5μm)が上方に表示され(同図に示す20a)、更に基本となる位置移動コース20に対して光軸方向に+5ステップオフセットした値(Zoffset[10]+0.5μm)が下方に表示される(同図に示す20b)。
【0051】
次に、図12に示すフローチャートに従って、本例の画像取り込み処理を説明する。先ず、前述の制御プログラムに登録された最初のオフセット値(Zoffset[0])を読み出す(ステップ(以下、STPで示す)31)。そして、上記Z位置移動コース設定処理において、制御プログラムに登録されたZ位置移動コースデータから最初のZ位置移動コースデータを読み出す(STP32)。そして、Z位置移動コースデータに読み出したオフセット値を加算し(STP33)、Z位置制御機構13を移動し(STP34)、標本面を1ライン走査し画像を取得する(STP35)。
【0052】
次に、水平同期信号検出手段11が水平同期信号を検出したか判断し(STP36)、前述と同様、水平同期信号が検出されなければ(STP36がNO)、前述と同様エラー処理を行う(STP37)。
一方、水平同期信号が検出されると(STP36がYES)、Z位置移動速度データを全て取得したか判断し(STP38)、最初の処理では全ての画像取り込み処理が完了しておらず(STP38がNO)、Z位置データに前述のオフセット値を加算し(STP39)、Z位置移動コースデータ、及びZ位置移動速度データを取得し(STP40)、標本面を1ライン走査し画像を取得する(STP35)。以下、上記処理を繰り返し、標本画像を抽出する(STP35〜STP40)。
【0053】
次に、前述の制御プログラムに登録されている全てのZ位置移動速度データを全て取得したと判断する時(STP38がYES)、次に垂直同時信号検出手段12により垂直同期信号が検出されたかどうかを判断する(STP41)。ここで、垂直同期信号が検出されなければ(STP41がNO)、エラー処理を行うが(STP37)、垂直同時信号が検出される場合(STP41がYES)、Z位置制御機構13の駆動を停止する(STP42)。そして、全てのオフセット値を取得したか判断し、全ての取得処理が終わっている場合、処理を終了する(STP43がYES)。
【0054】
しかしながら、本例では前述のように±5ステップのオフセット値が設定されており(STP43がNO)、オフセット配列から次のオフセット値、例えば(Zoffset[1])を読み出し(STP31)、同様の処理を繰り返す(STP31〜STP43)。
【0055】
以上の処理によって、垂直同期信号を検出すると、順次オフセット値を読み出し、前記Z位置移動コースデータを一定間隔で光軸方向に上下させ、Z位置制御機構13を制御し標本画像を取得することができる。したがって、本例によれば光軸方向に厚みを加えた標本の三次元画像を高速に取得することができる。
【0056】
尚、前述の第1乃至第3の実施形態の説明では、XY走査を一定速度で行い、Z方向への連続移動の移動速度を可変する構成としたが、Z方向への連続移動を一定速度で行い、XY走査の速度を可変とする制御を行う構成としてもよい。 また、上記実施形態の説明では、ピンホールに入射する光として、反射光、又は蛍光として説明したが、標本を透過した透過光であってもよい。
【0057】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、標本の光軸方向の相対位置を連続的に制御しながら、光軸方向の注目部位の標本画像を取得するため、標本へのレーザ照射によるダメージを抑えつつ、高速に標本画像を取得することができる。
【0058】
さらに、垂直同期信号に同期して、標本の光軸方向へオフセットすることにより、光軸方向に厚みを持った三次元画像を取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を説明するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置の構成図である。
【図2】基本的処理を説明するフローチャートである。
【図3】リファレンス画像取得処理を説明するフローチャートである。
【図4】リファレンス画像の取得条件を説明する図である。
【図5】リファレンス画像を使用したZ位置移動コース設定処理を説明するフローチャートである。
【図6】(a)は、リファレンス画像を示し、(b)はX−Yエクステンド画像を示し、(c)はY−Z画像を示す
【図7】(a)は、前述のリファレンス画像を示し、(b)はX−Yエクステンド画像を示し、(c)はY−Z画像を示し、(d)はZ位置移動コースを示す。
【図8】注目部位の設定例を説明する図である。
【図9】第1の実施形態の処理を説明するフローチャートである。
【図10】第2の実施形態を説明する図であり、(a)は、前述のリファレンス画像を示し、(b)はX−Yエクステンド画像を示し、(c)はY−Z画像を示し、(d)はZ位置移動コースを示す。
【図11】第2の実施形態を説明する図であり、(a)は、前述のリファレンス画像を示し、(b)はX−Yエクステンド画像を示し、(c)はY−Z画像を示し、(d)はZ位置移動コースを示す。
【図12】第3の実施形態を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
1 光源
2 走査機構
3 対物レンズ
4 ピンホール
5 光電変換手段
6 アナログ/デジタル変換器
7 CPU
8 走査条件取得手段
9 記録媒体
10 Z位置指定手段
11 水平同期信号検出手段
12 垂直同時信号検出手段
13 Z位置制御機構
14 ステージ
16 セットボタン
17 テキストボックス
18 インターバルテキストボックス
19 セットボタン
20 Z位置移動コース
20a、20b オフセット時のZ位置移動コース

Claims (5)

  1. レーザ光源と、
    該レーザ光源から発した光ビームを標本に集光する対物レンズと、
    前記標本に対して前記光ビームを二次元走査するための走査機構と、
    前記標本からの反射光、蛍光、又は透過光を電気信号に変換する光電変換手段と、
    前記走査機構の水平同期信号を検出する水平同期信号検出手段と、
    前記走査機構の垂直同期信号を検出する垂直同期信号検出手段と、
    前記対物レンズと前記標本との光軸方向の相対位置を可変するZ位置制御機構と、
    前記標本に対して二次元走査を行い、前記標本の参照画像を取得する参照画像取得手段と、
    光軸方向に前記参照画像の輝度の高い注目部位を指定するZ位置指定手段と、
    前記Z位置指定手段により指定した前記注目部位のデータに基づいてZ位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成する作成手段と、
    該Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに基づいて前記Z位置制御機構を連続的に動作させ、標本画像を取得する標本画像取得手段と、を有することを特徴とするレーザ走査型共焦点顕微鏡装置。
  2. 前記Z位置指定手段は、使用する対物レンズの開口数と倍率から求めたZ方向の光学分解能を基に、前記注目部位の入力可能範囲を明示的に表示することを特徴とする請求項1に記載のレーザ走査型共焦点顕微鏡装置。
  3. 前記Z位置指定手段は、前記垂直同期信号検出手段により垂直同期信号が検出されると、前記Z位置移動コースデータを一定間隔で光軸方向に上下させ、前記Z位置移動コースデータと前記Z位置移動速度データを基に、前記Z位置制御機構を制御することを特徴とする請求項1記載のレーザ走査型共焦点顕微鏡装置。
  4. レーザ光源と、該レーザ光源から発した光ビームを標本に集光する対物レンズと、前記標本に対して前記光ビームを二次元走査するための走査機構と、前記標本からの反射光、蛍光、又は透過光を電気信号に変換する光電変換手段と、前記走査機構の水平同期信号を検出する水平同期信号検出手段と、前記走査機構の垂直同期信号を検出する垂直同期信号検出手段と、前記対物レンズと前記標本との光軸方向の相対位置を可変するZ位置制御機構とを有するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置の制御方法であって、
    前記標本に対して二次元走査を行い、前記標本の参照画像を取得する参照画像取得処理と、
    光軸方向に前記参照画像の輝度の高い注目部位を指定するZ位置指定処理と、該Z位置指定処理により指定した前記注目部位のデータに基づいてZ位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成する処理と、
    前記Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに従って前記Z位置制御機構を連続的に動作させ、標本画像を取得する処理と、を行うことを特徴とするレーザ走査型共焦点顕微鏡装置の制御方法。
  5. レーザ光源と、該レーザ光源から発した光ビームを標本に集光する対物レンズと、前記標本に対して前記光ビームを二次元走査するための走査機構と、前記標本からの反射光、蛍光、又は透過光を電気信号に変換する光電変換手段と、前記走査機構の水平同期信号を検出する水平同期信号検出手段と、前記走査機構の垂直同期信号を検出する垂直同期信号検出手段と、前記対物レンズと前記標本との光軸方向の相対位置を可変するZ位置制御機構とを有するレーザ走査型共焦点顕微鏡装置に使用されるプログラムであって、
    前記標本に対して二次元走査を行い、前記標本の参照画像を取得する参照画像取得機能と、
    光軸方向に前記参照画像の輝度の高い注目部位を指定するZ位置指定機能と、該Z位置指定機能により指定した前記注目部位のデータに基づいてZ位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データを作成する機能と、
    前記Z位置移動コースデータ及びZ位置移動速度データに従って前記Z位置制御機構を連続的に動作させ、標本画像を取得する機能と、を備えたコンピュータが実行可能なプログラム。
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