JP2005005586A - Device and method of inspecting film carrier tape for mounting electronic part - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品実装用フィルムキャリアテープ(TAB(Tape Automated Bonding)テープ、T−BGA(Tape Ball Grid Array)テープ、CSP(Chip Size Package)テープ、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)テープ、COF(Chip On Film)テープ、2メタル(両面)テープ、多層配線用テープなど)(以下、単に「電子部品実装用フィルムキャリアテープ」という)の配線パターンの不良を検知するための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
エレクトロニクス産業の発達に伴い、IC(集積回路)、LSI(大規模集積回路)等の電子部品を実装するプリント配線板の需要が急激に増加しているが、電子機器の小型化、軽量化、高機能化が要望され、これら電子部品の実装方法として、最近ではTABテープ、T−BGAテープ、ASICテープ、COFテープ、2メタル(両面)テープ、および多層配線用テープ等を用いた実装方式が採用されている。特に、パーソナルコンピュータなどのように、高精細化、薄型化、液晶画面の額縁面積の狭小化が要望されている液晶表示素子(LCD)を使用する電子産業においてその重要性が高まっている。
【0003】
このようなテープの品質検査を実施する検査装置として、従来より、図9に示したような自動検査装置(Automated Optical Inspection装置)100(以下、検査装置100ともいう)が用いられている。
【0004】
この検査装置100には、リール114に巻装された電子部品実装用フィルムキャリアテープ116を送り出すための送り出し部118と、電子部品実装用フィルムキャリアテープ116を矢印方向に搬送する一対のスプロケット122,124と、テープ116の表面に形成されたパターンの欠陥を検査する検査部130と、テープ116を巻取る巻取り部144が一体的に構成されている。
【0005】
リール114から送出された電子部品実装用フィルムキャリアテープ116は、テープ116に形成された図示しないスプロケットホールにスプロケット122,124の歯が噛み合わさり、スプロケットの回転駆動により矢印方向に搬送される。
【0006】
スプロケット122から出たテープ116は、一対の押えローラ132,133によって位置Fから位置F’に押圧されることにより、反りや弛みが矯正され、支持部135,136に固定される。
【0007】
この一対の支持部135,136で固定されたテープ116を、その下部に配置された一対のCCDカメラ138,139を走査し、配線パターンを撮像(取り込む)することによって配線パターンの不良を自動的に検査している。
【0008】
このように、CCDカメラ138,139により配線パターンを撮像(取り込む)して、その配線パターン不良を検査するには、テープ116を反りや弛みが無いフラットな状態にすることが重要である。
【0009】
しかしながら、このような検査部130においては、テープ116は搬送方向の反りや弛みは矯正されるものの、幅方向におけるテープ116の反りや弛みについては依然として問題があった。
【0010】
このような問題を解決する検査部として、図10に示したような検査部(概略上面図)が開示されている(例えば、特許文献1参照。)。
【0011】
この検査部150は、一対の押えローラ152,152と、テープ154の両端側に分離された支持部156,158を有している。このローラ152と支持部156,158とは、テープ154を介して離間している。
【0012】
したがって、テープ116の幅方向において反りや弛みが生じているような場合には、図示しない駆動装置によって、支持部156,158を各々G方向、H方向に移動させ、テープ116を幅方向に引っ張ることにより幅方向に生じた反りや弛みを矯正することができる。つまり、このような検査部150においては、テープ154は幅方向における反りや弛みも矯正される。
【0013】
【特許文献1】
特開2002−217249号公報(請求項1、図1〜3)
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、電子部品実装用フィルムキャリアテープとして、最近では、絶縁フィルムにデバイスホールを形成せず、絶縁フィルムの実装面に電子部品の端子と接続する端子を設けたCOFなどに代表される薄膜の絶縁フィルムが用いられ、特にその厚さが75μm以下、特に50μm以下の薄物のフィルムキャリアテープなどが使用されている。
【0015】
COFフィルムキャリアテープは、デバイスホールを有していないために、形成される配線パターンの線幅を細くすることができ、電子機器の小型化、軽量化に特に適している。
【0016】
このような膜厚の薄いフィルムキャリアテープを、図9、10に示したような検査部を備える電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置で検査した場合、フィルムキャリアテープをローラで部分的に押圧しているため、その押圧されている部分にしわが発生したり、またローラ間でテープが盛り上がってしわが発生するという問題があった。
【0017】
さらに、膜厚の薄いフィルムキャリアテープにおいては、幅方向両端部(特に、スプロケットホール周辺部)が、わかめの周縁部のような凹凸を持った波打ち形状となりやすく、このような形状は従来の検査装置では解消されず問題となっていた。
【0018】
またさらに、電子部品実装用フィルムキャリアテープが、図8に示すようなテープT’とテープT”を接着テープUで接続されたスプライス部Vを有している場合、接着テープUの厚みは、通常約100〜200μmであるため、従来の検査装置では、ローラがスプライス部Vを通過する際に障害となり、ローラがテープに損傷を与えるという問題もあった。
【0019】
本発明は、このような現状を考慮して、COFなどの薄膜である電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた場合であっても、搬送方向および幅方向に反りや弛みが発生することがなく、さらに電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向両端部に波打ちが発生している場合であっても、テープを容易に平坦にすることができ、またさらに電子部品実装用フィルムキャリアテープが、テープとテープの継ぎ目であるスプライス部を有している場合であっても、テープの走行に障害とならず、テープに損傷を与えることがない電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明なされたものであって、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置は、電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線パターンの不良を検知するための検査装置であって、
搬送される電子部品実装用フィルムキャリアテープを支持案内するとともに、検査用の開口部が形成されたアパチャーゲート部を備え、
前記アパチャーゲート部が、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に対して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向にわたって当接して、電子部品実装用フィルムキャリアテープを当接方向に付勢する略板状のテープ矯正部材を備えることを特徴とする。
【0021】
一方、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法は、電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線パターンの不良を検知する検査方法であって、
検査用の開口部が形成されたアパチャーゲート部によって、搬送される電子部品実装用フィルムキャリアテープを支持案内するとともに、
前記アパチャーゲート部が備える略板状のテープ矯正部材が、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に対して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向にわたって当接して、電子部品実装用フィルムキャリアテープを当接方向に付勢して検査を行うことを特徴とする。
【0022】
このような検査装置(方法)によれば、略板状のテープ矯正部材が、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に当接し、当接方向に付勢するので、COFなどの薄膜である電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた場合であっても、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向や幅方向に反りや弛みが発生することがなく、さらに電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向両端部に波打ちが発生している場合であっても、テープを容易に平坦にすることができる。
【0023】
従って、テープの反りや弛みによる検査への影響がないため、迅速で正確な品質検査を実施することができる。
【0024】
前記テープ矯正部材が、弾性部材を介して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に付勢されていることが好ましい。
【0025】
そのため、電子部品実装用フィルムキャリアテープが、その継ぎ目にスプライス部を有している場合においても、テープ矯正部材がスプライス部の上面から、テープ表面に移動(落下)する際にテープに加わる力は弾性部材の弾性力であるため、テープ矯正部材がテープに損傷を与えることがなく、さらに、テープ矯正部材の姿勢を安定させることができる。
【0026】
従って、電子部品実装用フィルムキャリアテープがスプライス部を有している場合でもテープの走行に障害とならず、テープに損傷を与えることがないため、迅速で正確な品質検査を実施することができる。
【0027】
前記テープ矯正部材が、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に付勢する際に、ストッパ部材によって該テープ矯正部材の付勢面が位置決めされるように構成されていることも好ましい。
【0028】
そのため、電子部品実装用フィルムキャリアテープの膜厚に応じて、適宜、テープ矯正部材の位置を調整することができる。
【0029】
前記テープ矯正部材が、昇降部材によって上下動するように構成されていることが望ましい。
【0030】
前記昇降部材によってテープ矯正部材が当接方向に移動して、ストッパ部材によって位置決めされた後、さらに昇降部材が当接方向に移動することによって、昇降部材とテープ矯正部材とが接続されていない状態になるように構成されていることが好ましい。
【0031】
このようにテープ矯正部材が構成されていることにより、昇降部材の影響を受けることなく、テープ矯正部材の付勢面が位置決めされる。
【0032】
前記テープ矯正部材が、上下動自在に構成されたテープ矯正部材ホルダに装着されるとともに、
前記テープ矯正部材ホルダが、弾性部材を介して当接方向に付勢され、
前記テープ矯正部材ホルダとテープ矯正部材との間に弾性部材が介装されて、テープ矯正部材が当接方向に付勢されるように構成されていることが望ましい。
【0033】
このように、テープ矯正部材ホルダおよびテープ矯正部材を、弾性部材により当接方向に付勢することにより、テープ矯正部材の付勢面が確実に位置決めされる。
【0034】
前記テープ矯正部材の搬送方向隅角部が丸く形成されていることが好ましい。
【0035】
そのため、テープ矯正部材が、電子部品実装用フィルムキャリアテープを当接方向に付勢する際にも、テープ表面に損傷を与えることはない。
【0036】
前記テープ矯正部材が、光を透過可能な部材で形成されていることが好ましい。
【0037】
前記テープ矯正部材に対し、当接方向に光を照射する透過光照射装置が配置されていることが好ましい。
【0038】
そのため、テープ矯正部材を透過した透過光により、電子部品実装用フィルムキャリアテープのリードの配線パターン不良を検知することができる。
【0039】
前記テープ矯正部材と前記透過光照射装置との間に、光拡散部材が配置されていることが好ましい。
【0040】
そのため、透過光照射装置からの光が、電子部品実装用フィルムキャリアテープ表面に均一に拡散され、配線パターン不良を精度良く検査することができる。
【0041】
前記テープ矯正部材は、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線パターン表面で反射した反射光により、該配線パターンの不良検査が可能となるように構成されていることが好ましい。
【0042】
さらに、前記テープ矯正部材によって付勢された電子部品実装用フィルムキャリアテープに対し、光を直接照射する反射光照射装置が配置されていることも好ましい。
【0043】
そのため、反射光を用いても配線パターン不良を検査することができる。
【0044】
前記アパチャーゲート部には、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向略中央部を支持するテープ支持部材が設けられていることが好ましい。
【0045】
そのため、電子部品実装用フィルムキャリアテープが幅の広い形状(多条テープ)であってもテープ支持部材により支持されるので、テープに反りや弛みが発生することがない。
【0046】
また、前記テープ支持部材の搬送方向隅角部が丸く形成されていることが好ましい。
【0047】
そのため、電子部品実装用フィルムキャリアテープがテープ支持部材の搬送方向隅角部に接する場合であっても該テープに損傷を与えることがない。
【0048】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態(実施例)を図面に基づいてより詳細に説明する。
【0049】
図1は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。図1に示したように、10は全体で本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を示している。
【0050】
電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置10は、図1に示したように、送り出し装置20と、不良パターン検知装置30と、マーキング装置40と、巻き取り装置50とを備えている。
【0051】
送り出し装置20には、例えば、フィルムキャリアにデバイスホールが形成されておらず、かつ絶縁フィルム上に直接配線パターンが形成されているCOF(Chip On Film)のようなタイプの電子部品実装用フィルムキャリアテープであって、配線パターンが形成されている電子部品実装用フィルムキャリアテープT(以下、テープTともいう)が、スペーサSを介して巻装されたリールRが、送り出し駆動軸22に装着されている。
【0052】
そして、図示しない駆動モータの駆動により、送り出し駆動軸22が回転して、電子部品実装用フィルムキャリアテープTがリールRからスペーサSとともに繰り出されて、案内ローラ24を介して、不良パターン検知装置30へと供給されるようになっている。
【0053】
なお、送り出し装置20には、図1に示したように、上下方向に3個の位置センサー26が設けられており、下方の位置センサーによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープTの弛み部分の下端T1が検知された際には、送り出し装置20の駆動モータの駆動を停止して、電子部品実装用フィルムキャリアテープが弛みすぎて床に接触して損傷するのを防止するようになっている。また、上方の位置センサーによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープTの弛み部分の下端T1が検知された際には、送り出し装置20の駆動モータの駆動を開始して一定の電子部品実装用フィルムキャリアテープの弛みを維持するようになっている。
【0054】
電子部品実装用フィルムキャリアテープTは、案内ローラ31を介して不良パターン検知装置30に供給される。不良パターン検知装置30においては、バックテンションギア32とドライブギア34との間にアパチャゲート部60が設置され、テープTがアパチャゲート部60を通過する際に、テープTの下方に配置されたCCDカメラ38によりリードの配線パターンの不良が検知されるように構成されている。このアパチャゲート部60を、図を用いて説明する。
【0055】
図2はアパチャゲート部60の電子部品実装用フィルムキャリアテープ搬送方向から見た断面図、図3は図2におけるA−A線断面図、図4は図2におけるB−B線断面図、図5は図2におけるC−C線断面図、図6は図2に示すアパチャゲート部60におけるI部の拡大図であり、同図(1)は電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査時の状態、同図(2)は電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査前等の状態を示す。
【0056】
図2に示されるように、アパチャゲート部60には、テーブル62上に立設されたフランジ64,64間に横架シャフト77が略水平方向に設けられている。
【0057】
この横架シャフト77には、所定間隔離間して一対のスライド部76,76が摺動自在に嵌挿され、このスライド部76,76は、図示しない駆動手段によって互いに同じ距離を接離自在に移動するように構成されており、任意の幅のテープに対応できるようになっている。
【0058】
このスライド部76,76の対向する面には、図2に示すように、ガイド部78,78が下方向に取り付けられている。このガイド部78は、図2、図4(B−B線断面図)に示されるように、板状の構造を有し、その面はテープTの搬送方向と略平行となるように構成されている。さらに、ガイド部78は、下方において幅広の形状となっている。
【0059】
図4に示すように、このガイド部78の幅広の形状部分の略中央部には、略矩形状の空洞部79が形成されている。さらに、ガイド部78は、図2に示すように、テーブル62の下方で下端部が内方向にL字状に曲げられており、電子部品実装用フィルムキャリアテープTの両側端部および下面両側部を案内することによりテープTを搬送方向に導くことができるように構成されている。
【0060】
一方、図2に示すように、ガイド部78の外部下方向で、かつテーブル62の下方にテープ矯正部材用ホルダ82が設けられている。図3に示すように、テーブル62の下面から支柱88,88が下方向に設けられ、この支柱88,88はテープ矯正部材用ホルダ82の両端部を挿通している。
【0061】
このテープ矯正部材用ホルダ82と支柱88とが接する部分には、図3に示すように、ボールガイド部83が設けられ、テープ矯正部材用ホルダ82は支柱88,88対して摺動可能となっている。
【0062】
さらに、図3に示すように、支柱88,88の間に、テーブル62の下面から下方向に2つの第2スプリング86,86が設けられ、この第2スプリング86によって、テープ矯正部材用ホルダ82は、下方に付勢した状態に介装されている。
【0063】
したがって、テープ矯正部材用ホルダ82は、支柱88とボールガイド部83との抵抗などの影響は問題とされることなく、第2スプリング86の復元力およびテープ矯正部材用ホルダ82の自重などによって下方に押し下げられている。
【0064】
また、テープ矯正部材用ホルダ82を貫通した支柱88,88は、図2,3に示すように、その下端部において下板96に接続している。したがって、下板96は、その四隅が支柱88に支持され、略水平方向に配置される。
【0065】
また、図3に示すように、テープ矯正部材用ホルダ82は下向き略コ字形状であり、さらに支柱88,88の間の下面において、図示しない固着手段によって調整ブロック92が固着されている。これにより、テープ矯正部材用ホルダ82の下部に凸形状の空洞部85が形成される。この調整ブロック92は、図6に示すように、テープ矯正部材用ホルダ82の下面に固着され、凸形状の空洞部85において、調整ブロック92の上面でテープ矯正部材90を支持している。
【0066】
このテープ矯正部材用ホルダ82の内方向に一定距離離間して設けられた一対の上記ガイド部78は、上述したように下方に略矩形状の空洞部79が形成されており、図4に示すように、この2つの空洞部79,85を通過してテープ矯正部材90がテープ矯正部材用ホルダ82,82の間に差し渡されている。
【0067】
このテープ矯正部材90は、図3に示すように、テープ矯正部材用ホルダ82の凸状空洞部の上端部から下方向に設けられた第1スプリング84により、下方に付勢した状態に介装されている。したがって、テープ矯正部材90に加わる衝撃を吸収することができる。
【0068】
また、図3に示すように、このテープ矯正部材90の下面は、テープTの搬送方向に対向する端部90a、90bの底辺が丸みを帯びている。したがって、テープ矯正部材90を当接方向に押し下げ、電子部品実装用フィルムキャリアテープTの上面とテープ矯正部材90の下面が接した状態でテープTが搬送されても、テープ矯正部材90の底辺がテープT表面に傷つけることがない。
【0069】
本発明において当接方向とは、テープTの表面に対しテープ矯正部材90が当接する方向を意味する。
【0070】
また、フィルムキャリアテープT上面に接するテープ矯正部材90の下面の表面粗さは、10点平均の表面粗さRzにおいて0.5〜5μm、好ましくは1〜3μmであることが望ましい。テープ矯正部材90の下面の表面粗さがこのような範囲にあることにより、該下面の摩擦抵抗が小さくなるため、テープTはテープ矯正部材90と密着することなく、アパチャゲート部60を容易に通過することができ、さらにテープT上面に傷が付くことがない。
【0071】
このようなテープ矯正部材90を用いることにより、COFなどの膜厚の薄いフィルムキャリアテープであっても、搬送方向や幅方向に反りや弛みが発生することがない。さらにスプロケットホールの周辺部においてもテープの反りや弛みが発生することがない。またさらに、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向両端部に波打ちが発生している場合であっても、テープを容易に平坦にすることができる。
【0072】
このようなテープ矯正部材90は、光を透過可能な部材で形成されている。なお、本発明において、「光を透過可能」とは、光を半透過する場合を含むものである。そのような光を透過可能な部材としては、ガラス、アクリル樹脂などの樹脂等で形成された光を透過する部材、あるいは半透過の部材が挙げられる。
【0073】
また、図2,図5に示すように、ガイド部78とテープ矯正部材用ホルダ82との間には、一定距離離間して一対の板状の昇降アーム74,74が設けられ、この昇降アーム74,74は、図示しない駆動装置に上方で連結しており、上下動可能に構成されている。
【0074】
図2および図6(1)に示すように、昇降アーム74,74は、テープ矯正部材用ホルダ82のテープT側の側面に形成されたガイドピン89,89の下方で、その下端部がL字状に外方向に曲げられL字状部74’が形成されている。昇降アーム74は、図示しない駆動装置を駆動することにより上方に移動し、図6(2)に示すように、ガイドピン89,89と昇降アーム74のL字状部74’の上面とが当接し、テープ矯正部材用ホルダ82、テープ矯正部材90、調整ブロック92が上昇するように構成されている。
【0075】
また、図3,6に示すように、下板96の幅方向端部の上面には各々2つのストッパ部材93が突設して設けられており、ストッパ部材93,93の上部に調整ブロック92の下面が当接するまで、テープ矯正部材用ホルダ82が下降できるように構成されている。
【0076】
このテープ矯正部材用ホルダ82の下面に固着された調整ブロック92は、交換可能に構成されており、図示しない固着手段を外して、高さの異なる調整ブロックに交換することにより、テープ矯正部材用ホルダ82およびテープ矯正部材90の位置を調整することができる。このように構成することにより、電子部品実装用フィルムキャリアテープの膜厚に応じて、適宜、テープ矯正部材90の位置を調整することができる。
【0077】
また、調整ブロック92を用いることなく、テープ矯正部材90と調整ブロック92とが一体になった形状、すなわちテープ矯正部材の端部が厚くなったテープ矯正部材を用いてもよい。
【0078】
また、調整ブロック92を用いることなく、全体の厚みを大きくしたテープ矯正部材を用いてもよい。このような端部や全体の厚みを種々変化させたテープ矯正部材90を準備し、検査するテープTに応じて、適宜交換することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープの膜厚に応じて、テープ矯正部材90の位置を調整することもできる。
【0079】
また、下板96は、図7(A)にその下面図を示したように、その中央部に略矩形状に開口部95が設けられている。開口部95が設けられていることにより、テープ矯正部材90の上方から透過光が照射されても、テープ矯正部材90およびテープTを透過した光が、図1に示されるCCDカメラ38によって受光され、テープTの配線パターンの不良を検知することができる。
【0080】
さらに、図7(A)に下板96の下面図および図7(B)にその側面図を示したように、下板96の上面の略中央部にはテープサポート部94がテープTの搬送方向に略平行となるように設けられている。
【0081】
このテープサポート部94は搬送される電子部品実装用フィルムキャリアテープTの下面に接触するように設けられている。
【0082】
このようなテープサポート部94を用い、配線パターンの形成されていない領域を通過させることにより、テープTが幅の広い形状(多条用テープ)であっても、多条用テープを下から支持することができるため、多条用テープに反りや弛みが発生することがない。
【0083】
また、このテープサポート部94は、鏡面仕上げされ、搬送方向隅角部が丸く形成されている。そのため、電子部品実装用フィルムキャリアテープがテープ支持部材の搬送方向隅角部に接する場合であっても該テープに損傷を与えることがない。
【0084】
本実施例においてはテープサポート部94を有する場合を例にとって説明するが、本発明においては特に限定されるものではなく、テープサポート部94は設けられていなくてもよい。本発明においては、テープサポート部94は1つ以上設けられていることが好ましい。
【0085】
また、図2に示すように、テープ矯正部材90の上方には一定距離離間して拡散板75が設けられている。拡散板75は、その端部が昇降アーム74に接続され、テープ矯正部材90と略平行となるようにテープTの幅方向に配置されている。さらに、拡散板75の上方には一定距離離間して透過光照射部91が設置されている。
【0086】
拡散板75が配置されていることにより、透過光照射部91からの光が均一にテープ矯正部材90の上面に照射され、さらに光が透過可能な部材で形成されているテープ矯正部材90、さらにテープTを透過して、その透過光をCCDカメラ38で受像することによりテープTの配線パターンの不良を検査することができる。
【0087】
この拡散板75は、光を透過し拡散することができれば特に限定されず、乳白色のアクリル樹脂などから形成される。なお、テープ矯正部材90が透明でない場合、例えばテープ矯正部材90が乳白色のアクリル樹脂である場合には、この拡散板75は省略してもよい。
【0088】
本実施例においては、透過光を用いた例により説明するが、透過光ではなく反射光を用いても良い。
【0089】
反射光を用いる場合には、下板96の下方に配置されたCCDカメラ38の近傍に反射光照射部(図示せず)を設ける。この場合、テープ矯正部材90をアルミニウム、SUSなどの金属部材やアクリル樹脂などの樹脂部材等で形成したり、または、ガラスなどの光を透過する部材で形成されたテープ矯正部材90の上面に金属板を設置してもよい。このような反射光を用いる場合には、テープ矯正部材90や金属板の表面色はつや消しの黒色とすることが好ましい。なお、反射光を用いる場合には、拡散板75を設ける必要がない。
【0090】
次に、このような構成のアパチャゲート部60における、電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法について説明する。
【0091】
まず、アパチャゲート部60における、検査前等と検査時での、テープ矯正部材用ホルダ82、テープ矯正部材90、調整ブロック92の配置を、図3、図6を参照しながら説明する。
【0092】
図6は、図2に示すアパチャゲート部60におけるI部の拡大図である。
【0093】
同図(1)は「テープの検査時」の状態を示し、同図(2)は「電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査前」、「電子部品実装用フィルムキャリアテープを逆送する時」、「テープをセットする時」、「テープの検査完了時」等の状態を示す。
【0094】
図6(2)に示すように、検査前においては、第1スプリング84の作用等により、テープ矯正部材90の端部は、テープ矯正部材用ホルダ82の下面に固着された調整ブロック92の上面に当接している。
【0095】
次いで、図6(2)に示される矢印方向に、昇降アーム74を下降させると、第2スプリング86の作用等により、図3、図6(1)に示すように、この調整ブロック92の下面が下板96に設けられたストッパ部材93に当接し、調整ブロック92が所定の位置に位置決めされる。
【0096】
このように調整ブロック92が位置決めされると、テープ矯正部材90は調整ブロック92に当接しているため、テープ矯正部材90も所定の位置に位置決めされる。つまり、テープ矯正部材90の下面の位置は、調整ブロック92の高さによって調節されている。
【0097】
このようなアパチャゲート部60における、電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法は、具体的には、まず、図2に示す一対のスライド部76を、図示しない移動手段によって横架シャフト77上を互いに内方向に摺動させ、ガイド部78,78相互の幅をテープTの幅と略同一となるように移動させる。
【0098】
次いで、図示しない駆動装置を駆動させ、図6(2)に示すように、昇降アーム74,74を下方に移動させる。
【0099】
昇降アーム74が下方向に移動すると、第2スプリング86の復元力、およびテープ矯正部材用ホルダ82と、テープ矯正部材90と、調整ブロック92等との重量によって、テープ矯正部材用ホルダ82はボールガイド部83を介して支柱88を下方向に摺動する。
【0100】
この昇降アーム74は、調整ブロック92の下面が下板96に設けられたストッパ部材93に当接した後もさらに下降を続け、図6(1)に示すように昇降アーム74のL字状部74’とガイドピン89とが所定距離離間するまで下降させる。このように所定距離離間させることにより、昇降アーム74の影響を受けずにテープ矯正部材用ホルダ82およびテープ矯正部材90の下面が位置決めされる。
【0101】
ストッパ部材93および調整ブロック92により設定された位置までテープ矯正部材90を下降させると、図4に示すように、テープ矯正部材90の下面はテープTの上面に当接し、テープTを所定距離押し下げる。
【0102】
本実施例においては、テープ矯正部材90によりテープTを所定距離押し下げる場合を例にとって説明するが、特に限定されるものではなく、テープTの検査面に反りや弛みが発生せずフラットな状態となるのであれば、テープTの表面に接触していればよい。
【0103】
このように、テープ矯正部材90は、テープTの表面と面で当接し、テープTに加わる力が分散されるため、COFなどの薄膜である電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた場合であっても、搬送方向および幅方向に反りや弛みが発生することがない。さらにスプロケットホールの周辺部においてもテープの反りや弛みが発生することがない。またさらに、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向両端部に波打ちが発生している場合であっても、テープを容易に平坦にすることができる。
【0104】
また、このテープ矯正部材90は、図3に示すように、テープ矯正部材用ホルダ82の凸状空洞部85の上端部から下方向に設けられた第1スプリング84により、下方に付勢した状態に介装されているため、テープ矯正部材90の下面両端部は調整ブロック92の上面に確実に押し付けられている。
【0105】
したがって、図8に示すように、テープTの継ぎ目にスプライス部Vを有している場合においても、テープ矯正部材90がスプライス部Vで引っかかることが無く、さらにテープ矯正部材90がスプライス部Vの上面から、テープT表面に移動(落下)する際にテープTに加わる力は第1スプリング84の弾性力であるため、テープ矯正部材90がテープTに損傷を与えることがなく、さらに、テープ矯正部材90の姿勢を安定させることもできる。
【0106】
このような構成であるアパチャゲート部60に、テープTが順次供給され、透過光照射部91から、拡散板75を介してテープ矯正部材90に照射される。そして、テープ矯正部材90と電子部品実装用フィルムキャリアテープTとを透過した透過光が、不良パターン検知装置30内の電子部品実装用フィルムキャリアテープTの下方に配置されたラインセンサーと呼ばれるCCDカメラ38によって受光されるようになっている。
【0107】
本実施例においては、テープ矯正部材90によりテープTを下方に付勢するように構成されたアパチャゲート部60を例にとって説明したが、この逆に、テープ矯正部材によりテープTを上方に付勢するようにアパチャゲート部を構成することも可能である。このような場合、電子部品実装用フィルムキャリアテープTの下方に透過光照射装置を配置し、テープ矯正部材90の上方にCCDカメラ38を配置して、テープ矯正部材90によりテープTを上方に付勢して、テープTの配線パターンの不良を検査する。さらに、電子部品実装用フィルムキャリアテープTの送給方向を、表裏が逆になるように送給すればよい。
【0108】
また、本実施例においては、透過光照射装置を用いる例により説明したが、反射光照射装置を用いることもできる。この場合、CCDカメラがテープの下方に配置されている場合には、反射光照射装置は電子部品実装用フィルムキャリアテープTの下方に配置される。
【0109】
このように透過光または反射光を撮像することによって、CCDカメラ38によって認識されたリードの配線パターンが、制御装置39に入力され、制御装置39内のRAMなどの記憶部に予め入力された正常な配線パターン(マスターパターン)と比較され、不良と判断した場合には、不良部分の位置、すなわち、不良部分のテープの長手方向の位置、幅方向の位置が、別途インキング、パンチングなどによって電子部品実装用フィルムキャリアテープに不良マークを施すマーキング装置40の制御装置へ出力されるようになっている。
【0110】
なお、このCCDカメラ38によって撮像した(取り込んだ)配線パターンの情報は、例えば、特開平6−27312号公報、特開平7−110863号公報のようにA/D変換器でデジタル情報化するとともに、濃淡画像情報に変換してエッジデータを得、これと予め記憶された良品のマスターパターンのエッジデータ(二値化情報)と比較することなどによって、配線パターンの不良を検査するようになっている。
【0111】
しかしながら、本発明では、このような処理に何ら限定されるものではなく、例えば、取り込んだ配線パターンの情報を、各種計測法やパターン相関マッチングによって、マスターパターンと比較するなど種々の処理が適用可能である。
【0112】
また、透過光としては、特に限定されるものではなく、ハロゲンランプなどが使用可能である。さらに、透過光照射装置91と電子部品実装用フィルムキャリアテープTの間の距離としては、透過光でのパターンと電子部品実装用フィルムキャリアテープTの輝度のS/N(Signal/Noise)がとれる距離であればよく、特に限定されるものではない。
【0113】
また、このような透過光による認識による品質検査を行うためには、電子部品実装用フィルムキャリアテープの絶縁フィルムの厚さが、12.5μm〜75μm、好ましくは、25μm〜40μmであるのが望ましい。
【0114】
このような厚さの電子部品実装用フィルムキャリアテープであれば、電子部品実装用フィルムキャリアテープを透過する透過光の輝度がCCDカメラで電圧変換処理できる範囲内なので、迅速で正確な品質検査を実施することができるからである。
【0115】
また、電子部品実装用フィルムキャリアテープが、フィルムキャリアにデバイスホールが形成されておらず、かつ絶縁フィルム上に直接配線パターンが形成されているCOF(Chip On Film)であるのが望ましい。
【0116】
このようなCOFであれば、デバイスホールが無いので、製品全面の透過率が同一となり透過光による品質検査を迅速に製品全面を正確に行うことができるために好適である。
【0117】
このような本発明で用いるCOF(Chip On Film)としては、フィルムキャリアにデバイスホールが形成されておらず、絶縁フィルムの少なくとも一方の表面に配線パターンが形成された電子部品実装用フィルムキャリアテープから構成することができる。
【0118】
このように、不良パターン検知装置40によって、配線パターンの不良が検査されたテープTは、続いて、案内ローラ35,42を介して、マーキング装置40に供給されるようになっている。
【0119】
そして、マーキング装置40に供給されたテープTは、図1に示したように、案内ローラ42から案内ローラ44を通過する間に、不良パターン検知装置30で検知された不良箇所の検知情報に基づいて、不良箇所にインキ、パンチングなどによるマーキングが施されるようになっている。このように、マーキング装置40によって、テープTの表面または裏面の不良箇所の所定位置に、マーキングが施された後、テープTは、案内ローラ44を通過して、次の巻き取り装置50に供給される。
【0120】
図1に示したように、巻き取り装置50に供給されたテープTは、巻き取り駆動軸52に装着されたリールRに、案内ローラ54を介して、図示しない駆動モータの駆動により巻き取り軸52が回転することにより、テープTが巻き取られる。この際、送り出し装置20のリールRから繰り出されたスペーサSが、案内ローラ57、58及びダンサーローラ59を介して、巻き取り装置50のリールRに供給されテープTの間に介装され、テープT同士が接触して損傷しないように保護するようになっている。
【0121】
なお、巻き取り装置50には、図1に示したように、送り出し装置20と同様に、上下方向に3個の位置センサー56が設けられており、下方の位置センサーによって、テープTの弛み部分の下端T1が検知された際には、巻き取り装置50の駆動モータの駆動を停止して、テープTが弛みすぎて床に接触して損傷するのを防止するようになっている。また、上方の位置センサーによって、テープTの弛み部分の下端T1が検知された際には、巻き取り装置50の駆動モータの駆動を開始して一定のテープの弛みを維持するようになっている。
【0122】
上記実施例では、検査装置10を、図1に示したように、送り出し装置20と、不良パターン検知装置30と、マーキング装置40と、巻き取り装置50とから構成したが、例えば、マーキング装置40を省略して、送り出し装置20と、不良パターン検知装置30と、巻き取り装置50とから、別体でまたは一体にして検査装置のみとして、この検査装置で検査した情報を、別途別に構成したマーキング装置に入力することも可能である。
【0123】
以上、本発明の好ましい実施例を説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、例えば、上記の説明は、絶縁フィルムにデバイスホールを有しておらず、絶縁フィルムに接着剤層を介することなく導電性金属を直接配置した2層ベースフィルムから形成されるフィルムキャリアテープ(COF)を中心にした説明であるが、デバイスホールを有するフィルムキャリアテープを製造する場合についても、また絶縁フィルム上に接着剤層を介して導電性金属箔を貼着した3層構成のベースフィルムを用いてフィルムキャリアテープを製造する場合についても適用することができるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【0124】
【発明の効果】
本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および検査方法によれば、略板状のテープ矯正部材が、その下面全体で電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に当接し、当接方向に付勢するので、COFなどの薄膜である電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた場合であっても、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向や幅方向に反りや弛みが発生することがなく、さらに電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向両端部に波打ちが発生している場合であっても、テープを容易に平坦にすることができる。従って、テープの反りや弛みによる検査への影響がないため、迅速で正確な品質検査を実施することができる。
【0125】
また、本発明によれば、前記テープ矯正部材が、弾性部材を介して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に付勢されているため、電子部品実装用フィルムキャリアテープの継ぎ目にスプライス部を有している場合においても、テープ矯正部材がスプライス部の上面から、テープ表面に移動(落下)する際にテープに加わる力は弾性部材の弾性力であるため、テープ矯正部材がテープに損傷を与えることがなく、さらに、テープ矯正部材の姿勢を安定させることができる。従って、テープがスプライス部を有している場合でも、テープの走行に障害とならず、さらに電子部品実装用フィルムキャリアテープに損傷を与えることがないため、迅速で正確な品質検査を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
【図2】図2は、アパチャゲート部60を電子部品実装用フィルムキャリアテープ搬送方向から見た断面図である。
【図3】図3は、図2におけるA−A線断面図である。
【図4】図4は、図2におけるB−B線断面図である。
【図5】図5は、図2におけるC−C線断面図である。
【図6】図6(1)は電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査時の図2におけるI部の拡大図であり、図6(2)は電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査前等の図2におけるI部の拡大図である。
【図7】図7(A)は下板96の下面図、図7(B)はその側面図である。
【図8】図8は、電子部品実装用フィルムキャリアテープのスプライス部を表わす図である。
【図9】図9は、従来の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を説明する概略図である。
【図10】図10は、従来の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を説明する概略図である。
【符号の説明】
10,100 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置
20 送り出し装置
22 送り出し駆動軸
24,31,35,42,44,54,57,58 案内ローラ
26,56 位置センサー
30 不良パターン検知装置
32 バックテンションギア
34 ドライブギア
38,138,139 CCDカメラ
39 制御装置
40 マーキング装置
50 巻き取り装置
52 巻き取り駆動軸
59 ダンサーローラ
60 アパチャゲート部
62 テーブル
64 フランジ
74 昇降アーム
74’ L字状部
76 スライド部
77 横架シャフト
78 ガイド部
79 空洞部
82 テープ矯正部材用ホルダ
84 第1スプリング
85 凸形状の空洞部
86 第2スプリング
88 支柱
89 ガイドピン
90 テープ矯正部材
90a,90b テープ矯正部材の端部
92 調整ブロック
93 ストッパ部材
94 テープサポート部
95 開口部
96 下板
114 リール
116,154,T 電子部品実装用フィルムキャリアテープ
118 送り出し部
122,124 スプロケット
130,150 検査部
132,133 押えローラ
135,136,156,158 支持部
144 巻取り部
152 ローラ
R リール
S スペーサ
U 接着テープ
V スプライス部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a film carrier tape (TAB (Tape Automated Bonding) tape, T-BGA (Tape Ball Grid Array) tape, CSP (Chip Size Package) Tape, ASIC (Application Specific Criteria Integrated Tape) for mounting electronic components. Electronic component mounting film carrier for detecting defects in the wiring pattern of a chip on film) tape, a two-metal (double-sided) tape, a multilayer wiring tape, etc. (hereinafter simply referred to as “film carrier tape for mounting electronic components”). The present invention relates to a tape inspection apparatus and inspection method.
[0002]
[Prior art]
With the development of the electronics industry, the demand for printed wiring boards for mounting electronic components such as ICs (integrated circuits) and LSIs (large scale integrated circuits) has increased rapidly. There is a demand for higher functionality, and as mounting methods for these electronic components, recently, mounting methods using TAB tape, T-BGA tape, ASIC tape, COF tape, two metal (double-sided) tape, multilayer wiring tape, etc. It has been adopted. In particular, the importance is increasing in the electronic industry using a liquid crystal display element (LCD) such as a personal computer, for which high definition, thinning, and narrowing of the frame area of a liquid crystal screen are desired.
[0003]
Conventionally, an automatic inspection apparatus (Automated Optical Inspection apparatus) 100 (hereinafter also referred to as an inspection apparatus 100) as shown in FIG. 9 has been used as an inspection apparatus that performs such a quality inspection of a tape.
[0004]
The
[0005]
The
[0006]
The
[0007]
The
[0008]
As described above, in order to inspect (take in) the wiring pattern by the
[0009]
However, in such an
[0010]
As an inspection unit that solves such a problem, an inspection unit (schematic top view) as shown in FIG. 10 is disclosed (for example, see Patent Document 1).
[0011]
The
[0012]
Therefore, when warping or slackening occurs in the width direction of the
[0013]
[Patent Document 1]
JP 2002-217249 A (
[0014]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, as a film carrier tape for mounting electronic components, recently, insulation of a thin film represented by COF or the like in which a device hole is not formed in an insulating film but a terminal connected to the terminal of the electronic component is provided on the mounting surface of the insulating film. A film is used, and in particular, a thin film carrier tape having a thickness of 75 μm or less, particularly 50 μm or less is used.
[0015]
Since the COF film carrier tape does not have a device hole, the line width of the formed wiring pattern can be reduced, and is particularly suitable for downsizing and weight reduction of electronic devices.
[0016]
When such a thin film carrier tape is inspected by an electronic component mounting film carrier tape inspection apparatus having an inspection portion as shown in FIGS. 9 and 10, the film carrier tape is partially pressed by a roller. Therefore, there is a problem that wrinkles are generated in the pressed portion, and wrinkles are generated due to the tape rising between the rollers.
[0017]
Furthermore, in the case of a thin film carrier tape, both ends in the width direction (especially the periphery of the sprocket hole) are likely to have a corrugated shape like the peripheral edge of the seaweed, and such a shape is a conventional inspection. The problem was not solved by the device.
[0018]
Furthermore, when the film carrier tape for electronic component mounting has a splice portion V in which the tape T ′ and the tape T ″ as shown in FIG. 8 are connected by the adhesive tape U, the thickness of the adhesive tape U is Since it is usually about 100 to 200 μm, the conventional inspection apparatus has a problem that the roller becomes an obstacle when passing through the splice portion V, and the roller damages the tape.
[0019]
In consideration of such a current situation, the present invention does not cause warping or slack in the transport direction and the width direction even when a film carrier tape for mounting electronic components that is a thin film such as COF is used. In addition, even if the waviness occurs at both ends in the width direction of the film carrier tape for mounting electronic components, the tape can be easily flattened. An inspection device and inspection method for a film carrier tape for mounting electronic components that does not obstruct the tape running and does not damage the tape even when the tape has a splice portion that is a seam of the tape. The purpose is to provide.
[0020]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has been made in order to achieve the above-described problems and objects in the prior art, and the electronic component mounting film carrier tape inspection apparatus of the present invention is an electronic component mounting film carrier tape. An inspection device for detecting a defect in a wiring pattern,
In addition to supporting and guiding the film carrier tape for mounting electronic components to be transported, it has an aperture gate portion in which an opening for inspection is formed,
The aperture gate portion is in contact with the surface of the electronic component mounting film carrier tape across the width direction of the electronic component mounting film carrier tape, and biases the electronic component mounting film carrier tape in the contact direction. A plate-shaped tape correction member is provided.
[0021]
On the other hand, the inspection method of the film carrier tape for electronic component mounting of the present invention is an inspection method for detecting a defect in the wiring pattern of the film carrier tape for electronic component mounting,
While supporting and guiding the film carrier tape for mounting electronic components to be transported by the aperture gate portion in which the opening for inspection is formed,
The substantially plate-like tape correction member provided in the aperture gate portion is in contact with the surface of the electronic component mounting film carrier tape across the width direction of the electronic component mounting film carrier tape, and the electronic component mounting film carrier tape It is characterized in that the inspection is performed with the urging in the contact direction.
[0022]
According to such an inspection apparatus (method), the substantially plate-like tape correction member abuts on the surface of the electronic component mounting film carrier tape and is urged in the abutting direction. Even when a film carrier tape for mounting components is used, there is no warping or slack in the transport direction or width direction of the film carrier tape for mounting electronic components, and the width direction of the film carrier tape for mounting electronic components. Even if undulations occur at both ends, the tape can be easily flattened.
[0023]
Therefore, since there is no influence on the inspection due to the warp or slack of the tape, a quick and accurate quality inspection can be performed.
[0024]
It is preferable that the tape correction member is biased to the surface of the electronic component mounting film carrier tape via an elastic member.
[0025]
Therefore, even when the electronic component mounting film carrier tape has a splice at its joint, the force applied to the tape when the tape straightening member moves (drops) from the upper surface of the splice to the tape surface is Because of the elastic force of the elastic member, the tape correction member does not damage the tape, and the posture of the tape correction member can be stabilized.
[0026]
Therefore, even when the film carrier tape for mounting electronic parts has a splice portion, it does not hinder the running of the tape and does not damage the tape, so that a quick and accurate quality inspection can be performed. .
[0027]
It is also preferable that the biasing surface of the tape correction member is positioned by the stopper member when the tape correction member is biased to the surface of the electronic component mounting film carrier tape.
[0028]
Therefore, the position of the tape correction member can be appropriately adjusted according to the film thickness of the film carrier tape for mounting electronic components.
[0029]
It is desirable that the tape correction member is configured to move up and down by an elevating member.
[0030]
After the tape correction member is moved in the contact direction by the lifting member and positioned by the stopper member, the lift member and the tape correction member are not connected by further moving in the contact direction. It is preferable that it is comprised so that it may become.
[0031]
By configuring the tape correction member in this way, the biasing surface of the tape correction member is positioned without being affected by the elevating member.
[0032]
The tape correction member is mounted on a tape correction member holder configured to be movable up and down,
The tape correction member holder is biased in the contact direction via an elastic member,
It is desirable that an elastic member is interposed between the tape correction member holder and the tape correction member so that the tape correction member is biased in the contact direction.
[0033]
In this way, the biasing surface of the tape correction member is reliably positioned by biasing the tape correction member holder and the tape correction member in the contact direction by the elastic member.
[0034]
It is preferable that a corner portion in the conveyance direction of the tape correction member is rounded.
[0035]
Therefore, even when the tape correction member urges the electronic component mounting film carrier tape in the contact direction, the tape surface is not damaged.
[0036]
It is preferable that the tape correction member is formed of a member that can transmit light.
[0037]
It is preferable that a transmitted light irradiation device for irradiating light in the contact direction is disposed on the tape correction member.
[0038]
Therefore, the wiring pattern defect of the lead of the film carrier tape for electronic component mounting can be detected by the transmitted light transmitted through the tape correction member.
[0039]
It is preferable that a light diffusion member is disposed between the tape correction member and the transmitted light irradiation device.
[0040]
Therefore, the light from the transmitted light irradiating device is uniformly diffused on the surface of the electronic component mounting film carrier tape, and the wiring pattern defect can be inspected with high accuracy.
[0041]
It is preferable that the tape correction member is configured such that a defect inspection of the wiring pattern can be performed by reflected light reflected on the wiring pattern surface of the electronic component mounting film carrier tape.
[0042]
Furthermore, it is also preferable that a reflected light irradiation device for directly irradiating light is disposed on the electronic component mounting film carrier tape biased by the tape correction member.
[0043]
Therefore, a wiring pattern defect can be inspected even using reflected light.
[0044]
The aperture gate portion is preferably provided with a tape support member that supports a substantially central portion in the width direction of the electronic component mounting film carrier tape.
[0045]
Therefore, even if the film carrier tape for mounting electronic parts has a wide shape (multiple tape), it is supported by the tape support member, so that the tape is not warped or loosened.
[0046]
Moreover, it is preferable that the corner part of the conveyance direction of the said tape support member is formed roundly.
[0047]
Therefore, even if the electronic component mounting film carrier tape is in contact with the conveyance-direction corner of the tape support member, the tape is not damaged.
[0048]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments (examples) of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
[0049]
FIG. 1 is a front view of an inspection apparatus for a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention. As shown in FIG. 1,
[0050]
As shown in FIG. 1, the electronic component mounting film carrier
[0051]
In the
[0052]
Then, by driving a drive motor (not shown), the
[0053]
As shown in FIG. 1, the
[0054]
The electronic component mounting film carrier tape T is supplied to the defective
[0055]
2 is a cross-sectional view of the
[0056]
As shown in FIG. 2, the
[0057]
A pair of
[0058]
As shown in FIG. 2, guide
[0059]
As shown in FIG. 4, a substantially
[0060]
On the other hand, as shown in FIG. 2, a tape
[0061]
As shown in FIG. 3, a
[0062]
Further, as shown in FIG. 3, two
[0063]
Therefore, the tape straightening
[0064]
Moreover, the support |
[0065]
As shown in FIG. 3, the tape
[0066]
As described above, the pair of
[0067]
As shown in FIG. 3, the
[0068]
Also, as shown in FIG. 3, the bottom surface of the
[0069]
In the present invention, the contact direction means the direction in which the
[0070]
In addition, the surface roughness of the lower surface of the
[0071]
By using such a
[0072]
Such a
[0073]
As shown in FIGS. 2 and 5, a pair of plate-like elevating
[0074]
As shown in FIGS. 2 and 6 (1), the lifting
[0075]
As shown in FIGS. 3 and 6, two
[0076]
The
[0077]
Further, without using the adjusting
[0078]
Moreover, you may use the tape correction member which enlarged the whole thickness, without using the
[0079]
Further, as shown in the bottom view of FIG. 7A, the
[0080]
Further, as shown in the bottom view of the
[0081]
The
[0082]
By using such a
[0083]
Further, the
[0084]
In this embodiment, a case where the
[0085]
Further, as shown in FIG. 2, a
[0086]
Since the
[0087]
The
[0088]
In this embodiment, an example using transmitted light will be described, but reflected light may be used instead of transmitted light.
[0089]
In the case of using reflected light, a reflected light irradiation unit (not shown) is provided in the vicinity of the
[0090]
Next, a method for inspecting a film carrier tape for mounting electronic components in the
[0091]
First, the arrangement of the tape
[0092]
FIG. 6 is an enlarged view of a portion I in the
[0093]
Fig. 1 (1) shows the state of "when inspecting the tape", and Fig. 2 (2) shows "before inspection of the film carrier tape for mounting electronic components" and "when feeding back the film carrier tape for mounting electronic components". , “When the tape is set”, “when the tape inspection is completed”, and the like.
[0094]
As shown in FIG. 6B, before the inspection, the end of the
[0095]
Next, when the elevating
[0096]
When the
[0097]
Specifically, the inspection method of the electronic component mounting film carrier tape in such an
[0098]
Next, a drive device (not shown) is driven to move the lifting
[0099]
When the lifting
[0100]
The elevating
[0101]
When the
[0102]
In this embodiment, the case where the tape T is pushed down by a predetermined distance by the
[0103]
As described above, the
[0104]
Further, as shown in FIG. 3, the
[0105]
Therefore, as shown in FIG. 8, even when the splice portion V is provided at the joint of the tape T, the
[0106]
The tape T is sequentially supplied to the
[0107]
In this embodiment, the
[0108]
In this embodiment, the example using the transmitted light irradiation device has been described. However, a reflected light irradiation device can also be used. In this case, when the CCD camera is disposed below the tape, the reflected light irradiation device is disposed below the film carrier tape T for mounting electronic components.
[0109]
By imaging the transmitted light or reflected light in this way, the lead wiring pattern recognized by the
[0110]
The wiring pattern information imaged (captured) by the
[0111]
However, the present invention is not limited to such processing. For example, various types of processing such as comparing information of captured wiring patterns with a master pattern by various measurement methods and pattern correlation matching can be applied. It is.
[0112]
The transmitted light is not particularly limited, and a halogen lamp or the like can be used. Further, as the distance between the transmitted
[0113]
In addition, in order to perform quality inspection by recognition using such transmitted light, the thickness of the insulating film of the film carrier tape for mounting electronic components is desirably 12.5 μm to 75 μm, and preferably 25 μm to 40 μm. .
[0114]
With a film carrier tape for mounting electronic components of such a thickness, the brightness of the transmitted light that passes through the film carrier tape for mounting electronic components is within the range that can be converted by a CCD camera, so quick and accurate quality inspection is possible. It is because it can be implemented.
[0115]
The film carrier tape for mounting electronic components is preferably COF (Chip On Film) in which no device hole is formed in the film carrier and a wiring pattern is directly formed on the insulating film.
[0116]
Such a COF is suitable because there is no device hole, so that the transmittance of the entire product is the same, and quality inspection using transmitted light can be performed quickly and accurately.
[0117]
As such COF (Chip On Film) used in the present invention, a film carrier tape for electronic component mounting in which a device hole is not formed in a film carrier and a wiring pattern is formed on at least one surface of an insulating film is used. Can be configured.
[0118]
As described above, the tape T in which the defect of the wiring pattern is inspected by the defect
[0119]
As shown in FIG. 1, the tape T supplied to the marking
[0120]
As shown in FIG. 1, the tape T supplied to the take-up
[0121]
As shown in FIG. 1, the take-up
[0122]
In the above-described embodiment, the
[0123]
As mentioned above, although the preferable Example of this invention was described, this invention is not limited to this, For example, said description does not have a device hole in an insulating film, but is an adhesive layer in an insulating film. Although the description is centered on a film carrier tape (COF) formed from a two-layer base film in which a conductive metal is directly arranged without using an intervening material, the film carrier tape having a device hole is also insulated. In the range which does not deviate from the object of the present invention, it can be applied to the case of producing a film carrier tape using a base film having a three-layer structure in which a conductive metal foil is bonded on a film via an adhesive layer. Various changes are possible.
[0124]
【The invention's effect】
According to the inspection device and inspection method for the electronic component mounting film carrier tape of the present invention, the substantially plate-shaped tape correction member is in contact with the surface of the electronic component mounting film carrier tape over its entire lower surface, and in the contact direction. Because it is energized, even when a film carrier tape for mounting electronic components that is a thin film such as COF is used, there is no warping or slack in the transport direction or width direction of the film carrier tape for mounting electronic components. Furthermore, even when undulation is generated at both ends in the width direction of the film carrier tape for mounting electronic components, the tape can be easily flattened. Therefore, since there is no influence on the inspection due to the warp or slack of the tape, a quick and accurate quality inspection can be performed.
[0125]
Further, according to the present invention, since the tape correction member is biased to the surface of the electronic component mounting film carrier tape via the elastic member, the splice portion is formed at the joint of the electronic component mounting film carrier tape. Even when the tape straightening member is moved, the force applied to the tape when the tape straightening member moves (drops) from the upper surface of the splice portion to the tape surface is the elastic force of the elastic member. Further, the posture of the tape correction member can be stabilized without giving. Therefore, even if the tape has a splice part, it will not interfere with the running of the tape, and will not damage the film carrier tape for mounting electronic components. Can do.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view of a film carrier tape inspection apparatus for mounting electronic components according to the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.
4 is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. 2. FIG.
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG. 2;
6 (1) is an enlarged view of a portion I in FIG. 2 at the time of inspection of the electronic component mounting film carrier tape, and FIG. 6 (2) is a state before inspection of the electronic component mounting film carrier tape. It is an enlarged view of the I section in FIG.
7A is a bottom view of the
FIG. 8 is a diagram showing a splice portion of a film carrier tape for mounting electronic components.
FIG. 9 is a schematic view for explaining a conventional inspection device for film carrier tape for mounting electronic components.
FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a conventional inspection device for film carrier tape for mounting electronic components.
[Explanation of symbols]
10,100 Inspection device for film carrier tape for electronic component mounting
20 Delivery device
22 Feeding drive shaft
24, 31, 35, 42, 44, 54, 57, 58 Guide rollers
26,56 Position sensor
30 Defect pattern detection device
32 Back tension gear
34 Drive gear
38, 138, 139 CCD camera
39 Control device
40 Marking device
50 Winding device
52 Winding drive shaft
59 Dancer Laura
60 Aperture gate
62 tables
64 flange
74 Lifting arm
74 'L-shaped part
76 Slide part
77 Horizontal shaft
78 Guide section
79 Cavity
82 Tape Correction Member Holder
84 1st spring
85 Convex cavity
86 Second spring
88 props
89 Guide pin
90 Tape straightening members
90a, 90b End of tape straightening member
92 Adjustment block
93 Stopper member
94 Tape support
95 opening
96 Lower plate
114 reel
116,154, T Film carrier tape for mounting electronic components
118 Delivery section
122,124 Sprocket
130,150 Inspection Department
132, 133 Presser roller
135, 136, 156, 158 support
144 Winding part
152 Roller
R reel
S spacer
U adhesive tape
V splice part
Claims (28)
搬送される電子部品実装用フィルムキャリアテープを支持案内するとともに、検査用の開口部が形成されたアパチャーゲート部を備え、
前記アパチャーゲート部が、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に対して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向にわたって当接して、電子部品実装用フィルムキャリアテープを当接方向に付勢する略板状のテープ矯正部材を備えることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。An inspection device for an electronic component mounting film carrier tape for detecting a defect in a wiring pattern of the electronic component mounting film carrier tape,
In addition to supporting and guiding the film carrier tape for mounting electronic components to be transported, it has an aperture gate portion in which an opening for inspection is formed,
The aperture gate portion is in contact with the surface of the electronic component mounting film carrier tape across the width direction of the electronic component mounting film carrier tape, and biases the electronic component mounting film carrier tape in the contact direction. An inspection apparatus for a film carrier tape for mounting electronic parts, comprising a plate-like tape correction member.
前記テープ矯正部材ホルダが、弾性部材を介して当接方向に付勢され、
前記テープ矯正部材ホルダとテープ矯正部材との間に弾性部材が介装されて、テープ矯正部材が当接方向に付勢されるように構成されていることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。The tape correction member is mounted on a tape correction member holder configured to be movable up and down,
The tape correction member holder is biased in the contact direction via an elastic member,
The elastic member is interposed between the said tape correction member holder and the tape correction member, and it is comprised so that a tape correction member may be urged | biased by the contact direction. The inspection apparatus of the film carrier tape for electronic component mounting in any one.
検査用の開口部が形成されたアパチャーゲート部によって、搬送される電子部品実装用フィルムキャリアテープを支持案内するとともに、
前記アパチャーゲート部が備える略板状のテープ矯正部材が、電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面に対して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向にわたって当接して、電子部品実装用フィルムキャリアテープを当接方向に付勢して検査を行うことを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法。An inspection method for an electronic component mounting film carrier tape for detecting a defect in a wiring pattern of the electronic component mounting film carrier tape,
While supporting and guiding the film carrier tape for mounting electronic components to be transported by the aperture gate portion in which the opening for inspection is formed,
The substantially plate-like tape correction member provided in the aperture gate portion is in contact with the surface of the electronic component mounting film carrier tape across the width direction of the electronic component mounting film carrier tape, and the electronic component mounting film carrier tape An inspection method for a film carrier tape for mounting an electronic component, wherein the inspection is performed by biasing the contact portion in a contact direction.
前記テープ矯正部材ホルダが、弾性部材を介して当接方向に付勢され、
前記テープ矯正部材ホルダとテープ矯正部材との間に弾性部材が介装されて、テープ矯正部材が当接方向に付勢されるように構成されていることを特徴とする請求項15から19のいずれかに記載の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法。The tape correction member is mounted on a tape correction member holder configured to be movable up and down,
The tape correction member holder is biased in the contact direction via an elastic member,
The elastic member is interposed between the said tape correction member holder and the tape correction member, and it is comprised so that a tape correction member may be urged | biased by the contact direction. The inspection method of the film carrier tape for electronic component mounting in any one.
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