JP2004530237A - 信号の劣化を測定する方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

制御軌道（ＣＴ，２２）と問題軌道（ＴＯＩ，２１）が１つの軌道上に配置された構成を用いて磁気記録媒体の信号劣化を測定する装置及び方法が開示される。

Description

【０００１】
（関連出願及び刊行物）
本出願は２０００年１０月１０日に出願された“信号の劣化を測定する方法”という名称の米国予備出願６０／２３９，５５３に基づく優先権を主張するものであり、前記出願の全開示を参照として本願に組入れる。本願は、２００１年１月１１日に、第８回合同ＭＭＭインターマグ会議（Ｊｏｉｎｔ ＭＭＭ−Ｉｎｔｅｒｍａｇ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ）において提示された“矩形波記録の熱的劣化の直線密度依存の測定（Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ ｔｈｅ Ｌｉｎｅａｒ Ｄｅｎｓｉｔｙ Ｄｅｐｅｎｄｅｎｃｅ ｏｆ Ｔｈｅｒｍａｌ Ｄｅｃａｙ ｏｆ Ｓｑｕａｒｅ−ｗａｖｅ Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ”と題する刊行物、サン・アントニオにより２０００年１１月９日に出願された“記録媒体の磁気的性質を測定する装置及び方法”と題する米国出願０９／７０８，４９１及び２０００年１２月２６日に発行された米国特許６，１６６，５３６に関連する。上記各文献を参照として本願に組み込む。
【０００２】
（発明の分野）
本発明は磁気記録の信号劣化を測定する装置及び方法に関する。
【０００３】
（背景）
磁気ハードディスク記録において面積密度が増大するにつれて、熱的活性化処理（ｔｈｅｒｍａｌ ａｃｔｉｖａｔｉｏｎ ｐｒｏｃｅｓｓ） が達成できる最終的記録密度に限界を与えることが分かった。薄膜媒体は単一ドメインの大きさより充分小さい粒子の粒状組織をもっている。高い記録密度において適当な信号対雑音比、ＳＮＲを保持するには粒子のサイズを減少することが必要である、という一般的理解がある。非常に小さい粒子は超常磁性となる。ジャーナル・応用物理、１９５９，４ 月、Ｖｏｌ． ３０ 別冊、ｐｐ １２０８−１２９８ のシー・ピー・ビーン（Ｃ．Ｐ．Ｂｅａｎ）及びジェー・デー・リビングストン（Ｊ．Ｄ． Ｌｉｖｉｎｇｓｔｏｎ） による“超常磁性”を参照されたい。即ち、粒子は（内部的には）磁気的配列を維持しているがヒステリシスは消失する。超常磁性環境に置かれると、ヒステリシスは次第に消滅し、ネラ（Ｋｎｅｌｌｅｒ）及びルボルスキ（Ｌｕｂｏｒｓｋｙ）の報告の如く粒子大きさによる磁気保持力の低下を知るであろう。ジャーナル・応用物理、１９６３、３月、Ｖｏｌ． ３４， ｐｐ． ６５６−６５８ のイー・エフ・ネラとエフ・イー・ルボルスキによる“単一ドメイン粒子の磁気保持力及び残留磁気の粒子大きさ依存性”を参照されたい。磁気記録応用について、超常磁性の現象は２つの方法、（１）保持力が時間に依存する（２）記録された情報が時間と共に不安定になる、ことにより明らかになる。１９９９，９月、ＩＥＥＥ会報、磁気、Ｖｏｌ． ３５， ｐｐ． ２７９０−２７９５のエッチ・ジェ・リヒタ（Ｈ．Ｊ． Ｒｉｃｈｔｅｒ） による“１０乃至２０ギガビット／平方インチそれ以上における縦方向記録”を参照されたい。従って高密度記録媒体に対する粒子大きさの適当な選択が、記録された情報の安定性と達成できるＳＮＲとの間の兼ね合い（ｔｒａｄｅ−ｏｆｆ）に反映する。
【０００４】
記録は記録装置の寿命以上にわたって有意に劣化しないようにせねばならないので、安定性の現実的な評価には信号の劣化の極めて正確な測定が必要である。例えば、信号が時間的に大きさの１％のオーダの割合で劣化するならば、信号のただ１％の割合の変化を０．１から１０，０００秒にわたる測定の間に検出しなければならない。本発明において、“長期間”は１０年またはそれ以上を意味し、“短期間”は１０，０００秒またはそれ以下を意味する。熱的活性化の理論は温度上昇は信号の劣化を加速することを予想する。減磁界のような磁界もまた信号の劣化を加速する。
【０００５】
実際の使用にたいして、代表的に磁気的に格納される情報は数年の寿命をもつ。磁化または信号の劣化は多くの場合時間と共に対数的に変化する。１９４９年のプロック、ロイ、ソック（Ｐｒｏｃ．Ｒｏｙ．Ｓｏｃ．） Ａ６２，ｐｐ ５６２，のアール・ストリート（Ｒ． Ｓｔｒｅｅｔ 及びジェー・シー・ウーリ（Ｊ．Ｃ．Ｗｏｏｌｌｅｙ） の“磁気的粘性の研究”を参照されたい。記録された情報の信号の劣化が数年後にどうなるかを評価するためには、記録の後適宜な時間間隔で信号損失を測定し、その後補間しなければならない。記録から数年後に有意な大きさの信号の劣化を示す媒体は明らかに実際的に有用でない。一方、記録から数年後に殆ど信号の劣化を示さない“良い”媒体は記録後の適当な短い時間間隔においては殆ど無視できる程度の信号の劣化を示すのみであろう。従って本発明前においては、“良い”記録媒体を開発せんとする人の直面する問題は媒体の長期間性能を正確に予測するため、短時間の信号劣化を信頼できるように測定することであった。本発明の前には記録された信号の極めて小さな変化を信頼できる程度に測定することは、以下に述べる２つの実験的問題の為に不可能であった。
【０００６】
（１）熱変動：時間超過、環境の温度変化によりヘッドが書込まれる軌道を横切って移動する。
（２）変換器、すなわち記録ヘッドの感度変化：代表的感度変化は数％のオーダである。これらの感度変化が測定の雑音に付加され、そのため信号の僅かな変化を検出できない。
【０００７】
熱変動の影響を除去するため、制御軌道（ＣＴ）とも呼ばれる基準軌道の走査に用いるヘッドの位置を変更しなければならない。変換器感度の変化を補償するため、従来技術はＣＴはエージング（ａｇｉｎｇ）されるべきと教える。ジャーナル・応用物理、１９９９、４ 月、Ｖｏｌ． ８５， ｐｐ． ４９９４−４９９６ のピー・ダガト（Ｐ．Ｄｈａｇａｔ）， アール・エス・インデック（Ｒ．Ｓ．Ｉｎｄｅｃｋ）， エム・ダブル・ミュラ（Ｍ．Ｗ．Ｍｕｌｌｅｒ）による“磁気記録の時間及び温度依存性のスピン− スタンド（ｓｐｉｎ−ｓｔａｎｄ）測定”，ＩＥＥＥ会報、磁気、１９９８，９月，Ｖｏｌ． ３４， ｐｐ． ３７８６−３７９３のワイ・ザング（Ｙ．Ｚｈａｎｇ） とエッチ・エヌ・ベトラム（Ｈ．Ｎ．Ｂｅｔｒａｍ）による“高密度ディスク媒体における熱的劣化”を参照されたい。エージング処理（ａｇｉｎｇ ｐｒｏｃｅｓｓ） はエージングされた基準軌道の信号変化を無視できるようにし、安定した基準信号をもつことを保証する。
【０００８】
しかし従来技術はＣＴと問題軌道（ＴＯＩ）とも呼ばれる劣化した軌道とは別の軌道でなければならないとも教示する。従って、従来技術の方法によれば、ＣＴの信号の如何なる補正も軌道を交換し、ＴＯＩの軌道走査が停止された間にＣＴの軌道走査を行うことが必要である。ＴＯＩの軌道走査が停止されたときの時間間隔、代表的に数秒の間に、ヘッドの感度が変更し得る。この基準技術はデータの品質を改善するが、データは依然として雑音により正確でなく小さな磁化変化は検出されない。
【０００９】
本発明はスピン−スタンド・テスタ（ｓｐｉｎ−ｓｔａｎｄ ｔｅｓｔｅｒ）の記録信号の小さな変化を測定する方法及びその装置を開示する。特に本発明は従来方法で可能であるより更に高い感度による信号測定を可能にする技術を取り扱う。加えて、データは従来技術の方法を用いてなされたよりも１桁速く獲得することができる。
【００１０】
（発明の概要）
本発明は記録媒体の磁気的性質の劣化を測定する装置及び方法に向けられる。特に、本発明はディスク記録媒体の短期間の信号劣化を測定する装置及び方法に向けられる。
【００１１】
１つの実施例は、記録ヘッドを位置付けする手段、及び１つの軌道上に配置された制御軌道と問題軌道を含む記録軌道を含む信号の劣化を測定するシステムである。前記記録ヘッドを位置付けする手段は米国特許第６，１６６，５３６号に開示されているようなヘッド位置付け装置を含む。
【００１２】
他の実施例は、制御軌道から情報信号を読み取ること、問題軌道から情報信号を読み取ることを含み、前記制御軌道と問題軌道が記録軌道の１つの軌道上に位置するようにした、信号の劣化を測定する方法である。前記方法は更に、前記制御軌道にデータを書込むことを含むことができる。更に本発明は前記制御軌道の各側部に左案内音と右案内音を記録することを含むことができる。本発明は更に、前記左案内音が該左案内音の最大値の３０％に減少する位置を決めること、及び前記右案内音が該右案内音の最大値の３０％に増大する位置を決めることを含むことができる。上記方法は更に前記制御軌道にデータを書込んだ後に前記制御軌道をエージング（ａｇｉｎｇ）することを含むことができる。前記方法は更に、前記制御軌道をエージングしながら前記左案内音と右案内音を監視することを含むことができる。さらに前記方法は、記録ヘッドを前記制御軌道に関して整合することを含むことができる。更に、前記方法はデータを前記問題の軌道に書込むことを含むことができる。前記方法は更に規準化された信号Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）を計算することを含むことができる。本発明の方法において、制御軌道からの情報信号の読出し及び問題の軌道からの情報信号の読出しは２つの異なる記録軌道の間に記録ヘッドを交換することなしに実行される。前記方法は更に位置決め区間を含む軌道走査を用いて軌道中心を見つけることを含むことができる。
【００１３】
他の実施例は、記録軌道の１つの軌道上に配置された制御軌道及び問題の軌道を含む、信号の劣化を測定するシステムである。前記システムは更に、読出しゲート及び書込ゲートを含むことができる。前記システムは更に、案内音を発生する手段を含むことができる。前記システムは更に規準化された信号Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）を計算する装置を含むことができる。前記システムは更に前記記録軌道から情報信号を読出す記録ヘッドを含むことができる。前記システムは更に前記情報信号を解析するスペクトル検光子を含むことができる。前記システムは更に書込機と読取機を含み、前記書込機の幅を前記読取機の幅より大きくした読取−書込ヘッドを含むことができる。
【００１４】
良く理解されると思われるが、本発明は他の異なる実施例を含むことができ、その詳細は全て本発明から逸脱することなく、各種の自明な点における修正を含むことができる。従って、図面及び説明は基本的に例示的であり、限定的なものでないと考えるべきである。
本発明は添付の図面と共に詳細な説明を参照することにより良く理解できるであろう。
【００１５】
（実施例の詳細な説明）
１実施例において、図１の上面図に示されるようにディスク１２の上部表面上の読取−書込（ＲＷ）ヘッド１１により室温において劣化データが取出される。図１の側面図に示されるように、ディスク１２の下側に浮動する第２の読取−書込ヘッド１３はディスク温度を検知するのに使用される。図１の上面図と側面図に示されるように、好むならディスク１２はディスク１２に近接して設けられるハロゲンランプ１４を用いて加熱してもよい。
【００１６】
ヘッド１３の書込コイルの抵抗は温度に直線的に依存するので、ディスク温度を測定するのに好都合の手段を与える。従って温度測定は容易に市販の温度計に校正できる簡単な４−線抵抗測定に移行される。ディスク温度は目標温度、例えば室温の１°Ｃ以内にあると推定される。またディスクの上部表面の温度は下面の温度に近接していることもまた検出済みである。抵抗測定は市販の温度制御器に与えられ、温度制御器は温度を測定の間±０．１°Ｃ以内に一定に保持する。この構成により、９５°Ｃの高いディスク温度において劣化測定がなされた。
【００１７】
高い品質のデータを得るために、ヘッド１１のヘッド感度の避けられない変化は補正されねばならない。前述のように、エージングされた記録が規準として用いられる。しかし本発明においては、特異な試みが使用される。すなわち、ＣＴとＴＯＬは同一の軌道上で記録される。本発明の状況において、“上に記録される”は“上に位置する”に相似する。この構成により、ゼロスパンモード（ｚｅｒｏ ｓｐａｎ ｍｏｄｅ） においてスペクトル検光子を使用することにより、ＣＴとＴＯＩ区間のデータは充分に迅速に読取られて、ヘッドの感度の変化はもはや測定の品質の低下を起こすに至らない。
【００１８】
１実施例において、非常に狭い（２μｍ）読取器をもった非常に広い（〜８ μｍ）書込器が使用された。従って、ＣＴとＴＯＩの両者は最早物理的に隔離した軌道であり得ない。代わってそれらは図２に示されるように１つの完全な軌道の区間である。この特徴は幾つかの利点をもつ。データが実質的（ｖｉｒｔｕａｌｌｙ）に同時に取り込まれる。図２のＴＯＩ区間２１とＣＴ区間２２との間のヘッド交換がないので、ヘッド感度の変化は出来るだけ良好に把握される（ｃａｕｇｈｔ ａｓ ｂｅｓｔ ａｓ ｔｈｅｙ ｃａｎ） 。ＴＯＩ区間２１とＣＴ区間２２が下側軌道方向２０ａに沿った同じ下側軌道上に置かれて、別個の下側軌道でない、ことに注意すべきである。不細工な軌道交換手順は最早必要としない。従って、読取−書込ヘッド（図２に示されず）はＴＯＩとＣＴ区間を同時に、または無視できる程度の時間差でＴＯＩ区間とＣＴ区間を交互に読取ることができる。軌道交換は機械的に不正確を導入し、時間を消費する。
【００１９】
図２は書込まれた軌道、すなわち図２に示されるＣＴとＴＯＩの軌道２１、２２に書込むための書込器のそれより小さい幅をもった読取器２３を示す。広い書込器（図２に示されず）を用いて書込まれた軌道は、ある軌道幅、書込まれた軌道幅をもっている。１つの実施例において、読取器の幅は書込まれた軌道の幅よりも狭い。図２にはまた左と右の案内音区間２４、２５が示されている。案内音２４、２５の目的は本発明の実験的方法との関連において以下に説明する。
【００２０】
１つの実施例において、実験的手順は次の通りである。
（１）書込ゲートを開いて軌道を走査してＣＴに記録する。読取ゲートはＣＴのみが見られる（ｏｂｓｅｒｖｅｄ） ように切り換えられる（ＴＡＡ測定）。ＴＡＡは軌道の平均振幅（ｔｒａｃｋ ａｖｅｒａｇｅ ａｍｐｌｉｔｕｄｅ）である（フィルタされない信号を測定するスペクトル検光子とは反対に）。もし書込ゲートが充分に開いておれば、指標点から始めて最初から終わりまで（０から３６０°）軌道に記録できることに注意されたい。例えば、０．２５から０．７５まで記録して、ついで９０から２７０°まで記録できる。名称の示すように、書込ゲートは書込のためであり、読取ゲートは読取のためである。
【００２１】
（２）各側部に案内音（Ｐ１とＰ２）を記録。使用者は該案内軌道の位置を選択できる。
（３）再び軌道走査を行って、４つの信号（ＣＴ，ＴＯＩ，Ｐ１，Ｐ２）が記録される。これはそれに従って選択された読取ゲートをもったＴＡＡ測定により成される。
（４）左案内音がその最大値の３０％より小さい値に減少する位置と右案内音がその最大値の３０％より大きい値に増加する位置を格納する。
（５）読取器を軌道の中心に移動し、ＣＴがエージングされる。エージングの間に変動があるので、案内音は連続的に監視される。読取器が最大案内音信号の３０％のしきい値より大きい案内音を読み取ったときは常にヘッドは位置が変更される。
【００２２】
（６）エージング期間の後に、再び軌道走査を行う。案内信号の３０％点が見つかった現在位置と最初の位置との間の変位はＴＯＩの次の書込処理のためにヘッドを中心に移行するのに役立つ。ＣＴとＴＯＩが出来るだけ整合することが絶対的に必要である。特に、ヘッドは新しく決定された軌道中心より遠くに戻され、機械的ヒステリシスの影響を取り除くため再び右に移動される。この後、最終の機械的振動が落ちつくのを確認するためヘッドはその新しい位置に３秒保持される。次いでＴＯＩが書込まれる。
【００２３】
（７）ＴＯＩを書込んだ後に直ちにデータを記録する。検光子はゼロスパンに設定され、全ての軌跡（ｔｒａｃｅ）はコンピュタに送られる。このようにして、書込の後約１６０ｍｓで第１のデータを記録することができる。記録はコンピュタで区別されて、ＣＴ信号とＴＯＩ信号が計算される。規準化された信号（Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ））は各軌跡について次のように計算される。
【００２４】
先ず、ＣＴとＴＯＩの区間を時間の関数として示す図２を参照する。データ獲得作業の方法は次の通りである。スペクトル検光子は“指標”で測定を開始する。そのような指標信号は各スピン−スタンド（ｓｐｉｎ−ｓｔａｎｄ） において利用できる。それはスピンドルのマーカのようなもので、車の車輪のバルブに類似する。スペクトル検光子はゼロスパンである“受信モード”で信号を測定する。これは、信号を時間の関数として記録することを意味する。ＣＴとＴＯＩは同じ軌道上にあるので、それはある時間間隔例えばＣＴを測定し、ついでＣＴとＴＯＩ区間の間に配置された案内信号（または位置信号）を見るが、それは無視して、ついでＴＯＩを見る。厳密に言えば、それは先ずＣＴを測定し、ついでＴＯＩを測定するが、これら２つの測定の間に非常に短い時間間隔がある。スペクトル検光子は好ましくはディスクの１回転の時間より長い時間間隔信号を測定することはない。コンピュタにおいて、ＣＴとＴＯＩをそれぞれ測定する期間内の検光子からのデータ点は読取ゲートによりなされるように平均化される。平均化の後に、２つの数：Ｓ（ＴＯＩ）とＳ（ＣＴ）が得られる。各測定の間のデータ獲得の開始と終了において、コンピュタ時間が問い合わされる。このようにして、時間をＳ（ＴＯＩ）とＳ（ＣＴ）に割り当てる。次に、比Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）、すなわち“ｓ”を求める。上記操作は１つのデータを測定する毎に実行される。理想的な場合、エージングされた制御軌道のＳ（ＣＴ）を形成する磁化は絶対的に一定でなければならないが、感度の変動のためＳ（ＣＴ）は一定でない。感度の変動はＳ（ＴＯＩ）を読取る間にも存在するので、Ｓ（ＣＴ）とＳ（ＴＯＩ）における感度の変動は相殺される。本発明の他の実施例に応じて、セグメントＴＯＩ／ＰＯＳ／ＣＴの順序は変化する。
【００２５】
１つの実施例において、ゲート及びスペクトル検光子の読出しに使用される数字は下記の表１に示される。
【００２６】

【００２７】
スペクトル検光子は６０１の点をもつ。１つの場合、劣化測定は２７９の点に依存する。通常、この数字はある安全余裕を残すことが必要なため減少される。
図３は制御軌道と案内音を含む軌道走査の機構を示す。特に図３はＴＯＩと案内音の記録のパターンを示す。ここで報告される測定については、ＴＯＩ区間とＣＴ区間はインチ当たり３５０キロフラックスの変化（ｋｆｃｉ） で記録された。ヘッドとディスクの中心の間の距離Ｒは１．１インチでディスクは毎分３５００回転（ＲＰＭ）で回転された。案内音は各々１００ｋｆｃｉで記録された。案内音の高調波をＴＯＩとＣＴの周波数から隔離して保持することは良い実験慣習である。案内音は高い信号を発生するように選ばれるべきである。
【００２８】
本発明は請求項に記載された本発明の総合的範囲に含まれる特定の実施例を説明する以下の例を参照して更に良く理解されるであろう。
【００２９】
例１
上述の実験的手順を適用したこの例は室温における信号の劣化を試験するため実行された。ＣＲとＴＯＩは室温において３５０ ｋｆｃｉ で書込まれ読取られた。複数の案内音は各々１００ ｋｆｃｉ で記録された。スペクトル検光子により集められた点の数は６０１であった。ＣＴとＴＯＩの生の軌跡は図４ａに示される。
【００３０】
作業において正確な測定を非常に困難にする２つの機構があった。一つはヘッドが僅かに不安定であり、２つの磁気的状態の間で変動した。他方で各種の要因によると思われる連続的な信号の変位が見られた。両者の変動が読取り感度に約±１％影響した。Ｓ（ＣＴ）とＳ（ＴＯＩ）が実質的に同時に測定されたので、図４ｂで規準化された信号比Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）のプロットに見られるように、これらの変化は効果的に互いに打ち消された。
【００３１】
例２
この例においては、測定は読取幅より僅かに大きい（〜３０％）約１．２３μｍの書込軌道幅をもった標準のヘッドを用いて行われた。案内音を使用するのに代えて位置決め区間 （“ｐｏｓ”） が図５に示されるように記録軌道上のＣＴとＴＯＩ区間の位置を決めるのに使用された。この場合、劣化測定は全軌道上で実行されず、代わりにアーク（“測定アーク”）においてのみ実行された。アークはＣＴ，ＴＯＩ及びそれらの間の位置決め区間を含む。以下のステップがこの例を実行するのに取られた。
【００３２】
（１）制御軌道（ＣＴ）は上記説明した機構に従って記録された。制御軌道は上記に説明した測定アークの１区間である。軌道走査を使用して、ヘッドは再位置決めされ、それにより軌道走査は読取ゲートを測定アークの中心に設定して実行された。軌道走査は熱的変動が起こらないような充分に短い間隔（待ち時間間隔）で繰り返された。
（２）ＣＴがエージングされた。
（３）エージングの後ＴＯＩが記録された。
（４）記録の後直接に、ＣＴとＴＯＩ信号が本発明の例１で説明したと同じ方法で測定された。
（５）待ち時間間隔の後に、軌道走査が繰り返され、読取ヘッドは再位置決めされた。
図６は〜１μｍの軌道幅をもったヘッドを用いた良好な試験運転から得られた規準化された比Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）を示す。
【００３３】
例２の１つの変形において、この技術は多重直線密度測定（ｍｕｌｙｔｉｐｌｅ ｌｉｎｅａｒ ｄｅｎｓｉｔｙ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ） である。この場合、ディスクの回りに数個の測定アークが個々の直線密度に形成される。この場合、ＣＴは同時にエージングされて時間が節約される。或いは、各区分に同じ密度で記録して、ディスクの周辺の等質性を調べることができる。
【００３４】
上記説明はこの分野の通常の知識をもった者が本発明を使用することができるようになされたもので、特定の応用及びその要求に関連して提供されたものである。好ましい実施例について各種の変形は当業者にとって自明であり、ここに画定された一般原理は他の実施例や応用に本発明の精神と範囲から逸脱することなく適用されるものである。従って、本発明は例示された実施例に限定されるものでなく、ここに開示された原理と特徴に応じた最も広い範囲に対応するものである。
【００３５】
本出願は数字的範囲の限定を開示している。当業者は、開示された数字的範囲は例え正確な範囲限定が明細書に文字通りに記載されていなくとも、本発明は開示された数字的範囲を通して使用できるのであるから、開示された数字範囲内の任意の範囲を支持するものであることを認めるであろう。その反対の判断は、“本質を越えて判断をなす”ものであり、明細書の記載要求が、出願人が本願を広く開示したが審査の間にそれを狭くしたという理由のみで、審査の間に狭くされた請求項を骨抜きにすることを許すものとなるであろう。最後に、本願に引用される全ての特許及び刊行物の内容を参照として本明細書に組み込むものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】
本発明の方法において信号の劣化の測定に使用されるディスクの上面図と側面図を示す。
【図２】
制御軌道、問題軌道及び案内音の区間を含む単一軌道の断面を示す。
【図３】
制御軌道と案内音を含む軌道走査の機構を示す。
【図４ａ】
制御軌道と問題軌道から記録された信号の軌跡を示す。
【図４ｂ】
図４ａに示される信号の規準化された軌跡を示す。
【図５】
制御軌道区間、問題軌道区間及び位置決め区間を含む単一軌道の断面を示す。
【図６】
５０、１５０、２５０ ｋｆｉｃ で記録された制御軌道及び問題軌道からの信号の規準化された軌跡を示す。

Claims (19)

1. 記録ヘッドを位置付けする手段及び記録軌道の軌道上に配置された制御軌道と問題軌道を含む前記記録軌道を含む信号の劣化を測定するシステム。
2. 制御軌道から情報信号を読取ること、及び問題軌道から情報信号を読取ることを含み、前記制御軌道と問題軌道が記録軌道の軌道上に配置されている信号の劣化を測定する方法。
3. データを前記制御軌道の上に書込むことを更に含む、請求項２に記載の方法。
4. 前記制御軌道の各側部に左案内音と右案内音を記録することを更に含む、請求項３に記載の方法。
5. 前記左案内音が該左案内音の最大値の３０％に減少する位置を決めること、及び前記右案内音が該右案内音の最大値の３０％に増加する位置を決めることを更に含む、請求項４に記載の方法。
6. 前記データを前記制御軌道に書込んだ後に前記制御軌道をエージングすることを更に含む、請求項３に記載の方法。
7. 前記制御軌道をエージングしながら前記左案内音と右案内音を監視することを更に含む、請求項６に記載の方法。
8. 記録ヘッドを前記制御軌道に整合することを更に含む、請求項６に記載の方法。
9. データを前記問題軌道に書込むことを更に含む、請求項６に記載の方法。
10. 規準化された信号Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）を計算することを更に含む、請求項２に記載の方法。
11. 前記情報信号の制御軌道からの読出しと前記情報信号の問題軌道からの読出しが、記録ヘッドを２つの異なる記録軌道の間で交換することなく実行される、請求項２に記載の方法。
12. 位置決め区間を含む軌道走査を用いて軌道の中心を見つけることを更に含む、請求項２に記載の方法。
13. 記録軌道の軌道上に配置された制御軌道と問題軌道を含む、信号の劣化を測定するシステム。
14. 読取ゲート及び書込ゲートを更に含む、請求項１３に記載のシステム。
15. 案内音を発生する手段を更に含む、請求項１３に記載のシステム。
16. 規準化された信号Ｓ（ＴＯＩ）／Ｓ（ＣＴ）を計算する装置を更に含む、請求項１３に記載のシステム。
17. 前記記録軌道から情報信号を読取る記録ヘッドを更に含む、請求項１３に記載のシステム。
18. 前記情報信号を解析するスペクトル検光子を更に含む、請求項１７に記載のシステム。
19. 書込器及び読取器を更に含み、前記書込器の幅が前記読取器の幅より大きい、請求項１３に記載のシステム。

Images