JP2004351214A - 超音波式カテーテルキャリブレーションシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットを備えた試験取付け具及びコンピュータを含む装置。このコンピュータは、トランスデューサが超音波ターゲットと整合した状態で位置センサによって生成される位置信号を受け取り、試験取付け具の基準フレームにおけるプローブの向きを決定し、そのプローブの向きに応じてプローブのキャリブレーションデータを決定するように適合されている。
【選択図】 図1
Description
(1)前記キャリブレーションデータが、前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが前記整合を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(2)前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが前記整合を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(3)前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合及び前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが前記各整合を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(4)前記プローブが先端部を含み、前記キャリブレーションデータが、前記先端部に対する前記超音波トランスデューサの位置ずれの程度を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが前記位置ずれの程度を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(5)前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記試験取付け具に対する前記超音波ターゲットの前記既知の位置及び前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(7)前記プローブを操作する前記ステップが、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットと整合していることを前記出力信号が示すまで、前記超音波トランスデューサを作動させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作して、前記超音波ターゲットのイメージを生成するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(8)前記プローブを操作する前記ステップが前記プローブを手動で操作するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(9)前記プローブを操作する前記ステップが前記プローブを自動で操作するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(10)前記位置信号を測定する前記ステップが、前記試験取付け具内で少なくとも2つの磁界を生成するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(12)前記プローブを操作する前記ステップが、前記プローブをその長軸を中心に回動させるステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(13)前記位置信号を測定する前記ステップが前記プローブの温度を変更するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(14)前記プローブの温度を変更する前記ステップが前記プローブを加熱するステップを含むことを特徴とする実施態様(13)に記載の方法。
(15)前記プローブの温度を変更する前記ステップが、前記プローブを冷却するステップを含むことを特徴とする実施態様(13)に記載の方法。
(17)前記キャリブレーションデータを記録する前記ステップがキャリブレーションコードを暗号化するステップを含むことを特徴とする実施態様(16)に記載の方法。
(18)前記試験取付け具がクランプ組立体を含み、前記プローブを前記試験取付け具内に配置する前記ステップが、前記プローブを前記クランプ組立体内に配置するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(19)前記クランプ組立体が溝を画定するように形成されており、前記プローブを前記試験取付け具内に配置する前記ステップが前記プローブを前記溝に配置するステップを含むことを特徴とする実施態様(18)に記載の方法。
(20)前記試験取付け具が、既知の位置に固定された少なくとも2つの放射器コイルを含み、前記プローブを配置する前記ステップが、前記放射器コイルに対して既知の向きに前記プローブを整合させるステップを含み、前記位置信号を測定する前記ステップが、前記放射器コイルを駆動させて前記試験取付け具内で既知の磁界を生成するステップと、前記位置センサによって生成される位置センサキャリブレーション位置信号を測定して、前記プローブの軸に対する前記位置センサの位置センサの向きを決定するステップとを含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記位置センサの前記向きに応じて前記プローブの位置センサキャリブレーションデータを決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
(22)前記位置信号を測定する前記ステップが、前記位置信号を測定して前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの向きを決定するステップを含み、前記プローブのキャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの前記向き及び前記プローブの前記軸に対する前記位置センサの向きに応じて、前記プローブの前記軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を決定するステップを含むことを特徴とする実施態様(20)に記載の方法。
(23)前記位置センサが少なくとも2つのコイルを含み、前記位置センサキャリブレーション位置信号を測定する前記ステップが、前記各コイルのコイルキャリブレーション信号を測定するステップを含むことを特徴とする実施態様(20)に記載の方法。
(24)前記プローブの前記位置センサキャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記各コイルの利得をキャリブレーションするステップを含むことを特徴とする実施態様(23)に記載の方法。
(25)前記プローブの前記位置センサキャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記各コイルについて、前記プローブの前記軸との整合からの前記コイルのずれを決定するステップを含むことを特徴とする実施態様(23)に記載の方法。
(27)前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記コンピュータが前記整合を決定するように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(28)前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合及び前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記コンピュータが前記各整合を決定するように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(29)前記プローブが先端部を含み、前記キャリブレーションデータが、前記先端部に対する前記超音波トランスデューサの位置ずれの程度を含み、前記コンピュータが前記位置ずれの程度を決定するように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(30)前記コンピュータが、前記試験取付け具に対する前記超音波ターゲットの前記既知の位置及び前記プローブの前記向きに応じて前記プローブの前記キャリブレーションデータを決定するように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(32)前記位置センサが少なくとも2つのコイルを含み、前記コンピュータが前記コイルの電流に応答して前記位置信号を受け取るように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(33)前記試験取付け具が、前記プローブを加熱するように適合された加熱要素を含むことを特徴とする請求項5に記載の装置。
(34)前記超音波ターゲットが、前記試験取付け具内で移動できるように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(35)前記プローブがプログラム可能な超小型回路を含み、前記コンピュータが、前記超小型回路に前記キャリブレーションデータを記録するように適合されていることを特徴とする請求項5に記載の装置。
(37)前記試験取付け具が、前記プローブを保持するように適合されたクランプ組立体を含むことを特徴とする請求項5に記載の装置。
(38)前記クランプ組立体が、前記プローブの回転軸において前記プローブの向きを変えることができるように適合されており、前記プローブの前記回転軸が、前記プローブのロール、ヨー、及びピッチからなる群から選択されることを特徴とする実施態様(37)に記載の装置。
(39)前記クランプ組立体が、前記プローブを保持するように適合された溝を画定するように形成されていることを特徴とする実施態様(37)に記載の装置。
(40)前記クランプ組立体が、前記プローブを自動で操作できるように適合されていることを特徴とする実施態様(37)に記載の装置。
(42)前記試験取付け具が、互いに直交した3対の平行な放射器コイルを含むことを特徴とする実施態様(41)に記載の装置。
(43)前記放射器コイルが、前記試験取付け具内でそれぞれの磁界を生成するように適合されており、前記コンピュータが、前記磁界に応答して前記位置センサによって生成される前記位置信号を受け取るように適合されていることを特徴とする実施態様(41)に記載の装置。
(44)前記コンピュータが、前記プローブが前記放射器コイルに対して既知の位置に整合した状態で前記位置センサによって生成される位置センサキャリブレーション位置信号を受け取り、前記プローブの軸に対する前記位置センサの位置センサの向きを決定し、前記位置センサの前記向きに応じて前記プローブの位置センサキャリブレーションデータを決定するように適合されていることを特徴とする実施態様(41)に記載の装置。
(45)前記プローブが先端部を含み、前記位置センサキャリブレーションデータが、前記先端部に対する前記位置センサの位置ずれの程度を含み、前記コンピュータが、前記位置ずれの程度を決定するように適合されていることを特徴とする実施態様(44)に記載の装置。
(47)前記位置センサが少なくとも2つのコイルを含み、前記コンピュータが、前記各コイルのコイルキャリブレーション信号を測定するように適合されていることを特徴とする実施態様(44)に記載の装置。
(48)前記コンピュータが前記各コイルの利得をキャリブレーションするように適合されていることを特徴とする実施態様(47)に記載の装置。
(49)前記コンピュータが、前記各コイルについて、前記プローブの前記軸との整合からの前記コイルのずれを決定するように適合されていることを特徴とする実施態様(47)に記載の装置。
20 カテーテル
22 先端部分
24 機能部分
26 先端部
27 超音波ターゲット
28 位置検出装置
30 ハンドル
32 制御部
34 コンソール
36 コンピュータ
38 キーボード
40 単一処理回路
42 表示装置
44 コネクタ
50 トランスデューサ
52 トランスデューサの軸
60、62、64 コイル
66、68、70 コイルの軸
77 ジグ
79、81、83 放射器コイル
85 ベース
87 クランプ組立体
89 クランプベース
91 クランプカバー
93 蝶番
94 溝
100 自在継手
Claims (7)
- キャリブレーションのための方法であって、
位置センサ及び超音波トランスデューサを含むプローブを、内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットを含む試験取付け具内に配置するステップと、
前記トランスデューサの出力信号が、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合していることを示すまで、前記超音波トランスデューサを作動させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作するステップと、
前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合した状態で前記位置センサにより生成される位置信号を測定して、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定するステップと、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するステップとを含むことを特徴とする方法。 - キャリブレーションのための方法であって、
超音波トランスデューサを含むプローブを、内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットを含む試験取付け具内に配置するステップと、
前記トランスデューサの出力信号が、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合していることを示すまで、前記超音波トランスデューサを作動させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作するステップと、
前記トランスデューサが前記超音波ターゲットと整合した状態で、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを機械的に測定するステップと、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するステップとを含むことを特徴とする方法。 - キャリブレーションのための方法であって、
超音波トランスデューサを含むプローブを、内部に配置された超音波ターゲットを含む試験取付け具内に配置するステップと、
前記トランスデューサの出力信号が、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合していることを示すまで、前記超音波トランスデューサを動作させながら前記試験取付け具内で前記超音波ターゲットを移動させるステップと、
前記トランスデューサが前記超音波ターゲットと整合した状態で、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記超音波ターゲットの位置を測定して、前記試験取付け具の前記基準フレームにおける前記プローブの向きを決定するステップと、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するステップとを含むことを特徴とする方法。 - キャリブレーションのための方法であって、
位置センサ及びイメージング装置を含むプローブを、内部の既知の位置に配置されたイメージングターゲットを含む試験取付け具内に配置するステップと、
前記イメージング装置の出力信号が、前記イメージング装置が前記イメージングターゲットに整合していることを示すまで、前記イメージング装置を動作させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作するステップと、
前記イメージング装置が前記イメージングターゲットに整合した状態で、前記位置センサによって生成される位置信号を測定して、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定するステップと、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するステップとを含むことを特徴とする方法。 - 位置センサ及び超音波トランスデューサを有するプローブをキャリブレーションするための装置であって、
内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットを含む試験取付け具と、
コンピュータとを含み、前記コンピュータが、
前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合した状態で前記位置センサによって生成される位置信号を受け取り、
前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定し、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するように適合されていることを特徴とする装置。 - 超音波トランスデューサを有するプローブをキャリブレーションするための装置であって、試験取付け具及びコンピュータを含み、
前記試験取付け具が、その内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットと、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを機械的に測定し、その測定値に応じて向きの信号を生成するように適合された測定装置とを含み、
前記コンピュータが、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合した状態で、前記測定装置によって生成される前記向きの信号を受け取り、前記向きの信号に応答して前記プローブのキャリブレーションデータを決定するように適合されていることを特徴とする装置。 - 位置センサ及びイメージング装置を有するプローブをキャリブレーションするための装置であって、試験取付け具及びコンピュータを含み、
前記試験取付け具が、その内部の既知の位置に配置されたイメージングターゲットを含み、
前記コンピュータが、前記イメージング装置が前記イメージングターゲットに整合した状態で、前記位置センサによって生成される位置信号を受け取り、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定し、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定するように適合されていることを特徴とする装置。
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