JP2004327985A - 可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置 - Google Patents

可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004327985A
JP2004327985A JP2004118924A JP2004118924A JP2004327985A JP 2004327985 A JP2004327985 A JP 2004327985A JP 2004118924 A JP2004118924 A JP 2004118924A JP 2004118924 A JP2004118924 A JP 2004118924A JP 2004327985 A JP2004327985 A JP 2004327985A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat sink
heat source
heat
thermal interface
interface device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004118924A
Other languages
English (en)
Inventor
Andrew D Delano
ディー デラノ アンドリュー
Brandon A Rubenstein
エー ルーベンスタイン ブランドン
Eugene Miksch
ミクシュ ユーゲン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hewlett Packard Development Co LP
Original Assignee
Hewlett Packard Development Co LP
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Development Co LP filed Critical Hewlett Packard Development Co LP
Publication of JP2004327985A publication Critical patent/JP2004327985A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • H01L23/4338Pistons, e.g. spring-loaded members
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】平行で無い面の間とか熱源とヒートシンクの間隔が一様でない場合に、高い熱伝導率を与えるサーマル・インターフェース装置および方法を提供する。
【解決手段】第1の曲率半径を持つ球状凹面と、第1の曲率半径と同じ曲率半径を持つ球状凸面とを有し、かつそれらの凸面と凹面が摺動自在に接触している多軸回転式球面継手を備え、この装置は、さらに、回転式球面継手を通じて、ヒートシンクと回転自在に結合される近接端とこの近接端と反対の側に遠方端を持つブロックを有している。この装置は、さらに、第1の面と、第1の面と反対側の第2の面とを隔離しているほぼ一様な厚さのシムも備えて、第1の表面が、上記のブロックの遠方端と熱的に連通し、かつ、第2の表面が、熱源と熱的に連通するようにしている。
【選択図】図2

Description

本発明は、熱伝達装置に関し、詳細には、可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置(variable gap thermal−interface device)に関する。
関連出願の引用
本願は、2003年4月21日出願された「ファン・モジュール装着場所付きのヒートシンク押え付け装置(HEAT SINK HOLD−DOWN WITH FAN−MODULE ATTACH LOCATION)」と称する、本発明の譲受人に譲渡された米国特許出願第10/419,386号、および、2003年4月21日出願された「可変ウェッジ・サーマル・インターフェース装置(VARIABLE−WEDGE THERMAL−INTERFACE DEVICE)」と称する、本発明の譲受人に譲渡された米国特許出願第10/419,406号に関係がある。さらに、本願は、2002年2月12日出願された「熱伝達インターフェース・システムおよび方法(THERMAL TRANSFER INTERFACE SYSTEM AND METHODS)」と称する、本発明の譲受人に譲渡された同時係属中の米国特許出願第10/074,642号にも関係がある。
これまで、熱は、熱源とヒートシンク間が均一又は一様ではない幅のギャップの場合、「ギャップ・パッド」、すなわちシリコーン・ベースの弾性パッドの使用を通じて、伝達されてきた。例えば、ベルギストカンパニー(Bergquist Company、web page http://www.bergquistcompany.com/tm_gap_list.cfm、および関連webページを参照のこと)は、ゴム被覆されたガラスファイバのキャリヤ・フィルム(carrier film)上に、様々な厚さにした一連の低弾性係数充填シリコーン・エラストマ・パッドを提供している。これは、一方の側が作動中の電子デバイスと接触するサーマル・インターフェースとして利用されることもある。これらのパッドは、金属と比較して、熱伝導率が低い。さらに、これらのパッドを圧縮するには、一般に、大きな力が必要である。さらに、シリコーン・ベースのギャップ・パッドは、高温に耐えることもできない。
本発明は、平行で無い面の間とか熱源とヒートシンクの間隔が一様でない場合に、高温であっても、あまり高い圧縮加重を必要とすることなく、高い熱伝導率を与えるサーマル・インターフェース装置および方法を提供しょうとするものである。
本明細書に開示されている第1の実施形態は、熱源からヒートシンクへ熱を伝達する可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を提供する。この装置は、第1の曲率半径を持つ球状凹面と、第1の曲率半径と同じ曲率半径を持つ球状凸面とを有し、かつそれらの凸面と凹面が摺動自在に接触している多軸回転式球面継手を備えている。この装置は、さらに、回転式球面継手を通じて、ヒートシンクと回転自在に結合される近接端と、この近接端と反対の側に遠方端を持つブロックを有する。この装置は、さらに、第1の面と、第1の面と反対側の第2の面とを隔離する選択可能で、一様な厚さを持つシムも備えて、第1の表面が、上記のブロックの遠方端と熱的に連通し、かつ、第2の表面が、熱源と熱的に連通するようにしている。ここで、一様な厚さとは、ほぼ一様な厚さも含む。
他の実施形態では、可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を用いて、熱源からヒートシンクへ熱を伝達する方法が提供される。この方法は、多軸回転式球面継手を提供することと、その継手を、熱源とヒートシンクとの間の角度の狂いを補償する向きまで、回転させることを特徴とし、この方法は、さらに、熱源と多軸回転式球面継手とのギャップを埋めるのに充分な厚さのシムを提供することと、このシムを提供して、そのギャップを埋めることを特徴としている。
図1は、サーマル・スプレッダ172の個々の通路170の中で摺動する一そろいのばね押し金属ピストン162a〜162cを備えたサーマル・インターフェース装置120を示す略図である。一そろいのばね164でピストン162a〜162cに圧縮荷重を加えて、矢印166の方向に移動させ、平坦でない表面を持つ熱源168に熱接触させている。ばね164は、スプレッダ172とピストンヘッド173との間で押し縮められて、熱源168の平坦でない表面を保持する。いくつかの実施形態では、保持要素(retaining element)176は、スプレッダ172と結合し、また、ピストン162a〜162cは、ピストン162aの場合のように、伸びたときに保持要素176に当る段部178を持っている。保持要素176には、ピストン162a〜162cの段部上方の延長部分180を通せる穴が設けられている。よって、図1の保持状態を示す実施形態は、ピストン162a〜162cが、スプレッダ172から全く分離できないようにしている。ヒートシンク174は、スプレッダ172に任意ではあるが結合されて、熱源168の冷却を容易ならしめることもできる。サーマル・インターフェース装置120は、平坦でない表面と熱接触する問題は解決できるが、ピストン162a〜162c間の広い相対空隙エリアは、サーマル・インターフェース装置120の実効熱伝導率を低下させる。さらに、これらの空隙エリアにより、この実効熱伝導率は、異方性となり、特に一様でない熱源からの熱伝達を低下させかねない。さらに、サーマル・インターフェース装置120は、限られた範囲の運動しか行えない。さらに、このように複雑な構造の装置は、製造するのが比較的高くつく。もっと詳細については、2002年2月12日出願された「熱伝達インターフェース・システムおよび方法(THERMAL TRANSFER INTERFACE SYSTEM AND METHODS)」と称する、本発明の譲受人に譲渡された同時係属中の米国特許出願第10/074,642号を参照のこと。
図2は、本発明の実施形態による可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置20を表わす斜視図である。ヒートシンク延長部分21は、ヒートシンク基部23に対して、固定されているか、あるいは上端22への押付けにより固定されている高熱伝導率材料のブロックである。別な方法として、ヒートシンク延長部分21は、ヒートシンク基部23の一部分として作られることもある。ヒートシンク延長部分21の下端24は、曲率半径Rの一体球状凸面25を備えている。高熱伝導率材料のソケット・ブロック26は、その上端に、曲率半径Rが一致する一体球状凹面27を備え、かつ、この球状凹面は、球状凸面25と互いに接触した状態で動作して、多軸球面継手として運動を行うことができる。球状凸面25と球状凹面27の双方が曲率半径Rであるという条件で、曲率半径Rは、任意の都合のよい半径にできる。別な実施形態では、凸面25がブロック26と一体化し、また、凹面27がヒートシンク延長部分21と一体化するように、凸面25と凹面27を取り替えることもできる。更に他の実施形態では、球状凸面25と球状凹面27を含む多軸球面継手を、単軸円筒継手に代えるか、あるいは、多重カスケード式(multiply−cascaded)円筒継手に代えて、1つまたは複数の回転自由度を与えることもできる。
シム29は、ソケット・ブロック26の下端の平坦面28に接触する高熱伝導率材料のプレートである。ヒートシンク延長部分21、ソケット・ブロック26、シム29の高熱伝導率材料は、同種であるか、あるいは異種であることもある。これらの高熱伝導率材料は、通常、金属であるが、その代りに、特定の用途に適するものとして、絶縁物、複合材料、半導体、および/または、他の固体材料から選択されることもある。サーマル・インターフェース装置20の寸法は、可能性としてナノメートルからメートルまでの範囲にわたって、増減できる。インターフェース装置20は、ヒートシンク基部23からの圧縮力を受けて、熱源201に押し付けられている。通常、熱源201には、プロセッサのふた203で覆われると共に回路基板205上に実装された集積回路(プロセッサ)チップ204が入っている。熱源201は、ボルスタ・プレート206に取り付けられ、かつ、そのプレートで支えられている。シム29の厚さは、熱源201とソケット・ブロック26との間のギャップを充分に埋めるように選択され、ヒートシンク基部23と熱源201との間隔を補償する。球状凸面25と球状凹面27との間の接合面は回転式継手を形成し、ヒートシンク基部23の平面と熱源201の平面との間で生じる中心線の組合せがどのようになっても、角度の狂いを補償する。サーマル・インターフェース材料202は、任意ではあるが、球状凸面25、球状凹面27、シム29間の接合面での熱伝導および摺動運動を向上させるため、典型的な高熱伝導率のグリースを塗布される。
図3は、ウェッジ・ソケット(wedge−socket)型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置30を表わす斜視図である。図2の場合と同じく、サーマル・インターフェース装置30は、ヒートシンク基部23(図3には示されていない)に隣接している平坦な上端と、半径Rの球状凸面25を持つヒートシンク延長部分21を含む。ウェッジ・ソケット36は、球状凸面25と回転すべり接触している半径Rの上部球状凹面27を持っている。便宜上、x、y、zが、ウェッジ・ソケット36に対して固定され、かつ球状凸面25と球状凹面27の共通曲率中心の周りにθおよびφの角度座標だけ回転する直交軸であるように、座標軸が図3に示されている。ウェッジ・ソケット36は、その下部の平坦面が、xyzの回転座標系のx軸に対して、ウェッジ角度で傾斜している。
ウェッジ39は、その上面が、同一のウェッジ角度で傾斜しており、かつ、ウェッジ・ソケット36の下部の傾斜平坦面とすべり接触している。ウェッジ39の下部の平坦面は、xyz回転座標系に対して、任意の角度で傾斜することもあるが、便宜上、この平坦面は、回転xy平面に平行に向けられている。ウェッジ39は、熱源201に接触して、熱源201から、ウェッジ・ソケット36およびヒートシンク延長部分21の固体で高熱伝導率である材料を経て、ヒートシンク基部23(図3には示されてない)まで熱を伝達する。熱抵抗と摩擦を両方とも減らすために、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36との間の接合面に、サーマル・インターフェース材料、通常、サーマル・グリースまたはペーストを入れることがある。図3に示される熱源201は、通常、図2に示されるものと同じ層、すなわちプロセッサ・チップ204、プロセッサのふた203、回路基板205を有する。
図4は、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36が、ばねクリップ41によりx方向に押し付けられている、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置30を含むウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40を表わす斜視図である。一変形例では、ばねクリップ41は、変形した長方形枠に近い形にする。2つの対向する側42a、42bは、図4に示されるように、一直線で、かつ平行であってもよいが、必要というわけではない。残る2つの対向する側43a、43bは、互いに内向きに曲げられ、また、圧縮締付け力を互いに及ぼすように焼き入れされている。ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40では、第1の内向きに曲げられ側、例えば側43aが、ウェッジ39の最大面積の垂直面(x軸に直角である)に押し当るように、また、第2の内向きに曲げられ側、例えば側43bが、ウェッジ・ソケット36の最大面積の垂直面(これも、x軸に直角である)に押し当るように、ばねクリップ41を調節する。ばねクリップ41で圧縮力を加えると、ウェッジ39の傾斜面に沿って、せん断力の成分が発生して、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36との接触傾斜面を互いに摺動させ、それにより、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40のz軸方向の長さいっぱいに延びて、ヒートシンク延長部分21と熱源201との間の有効ギャップを埋める。これは、同時に、これらのウェッジ構成要素をx軸方向に互いにずらさせ、その傾斜接触面積を減らす。このギャップが埋められると、z軸方向の圧縮力は、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36との間のさらなるずれを防止する。ばねクリップ41は、同様に、熱伝達の用途や、熱伝達でない用途を含む他の用途において、摺動ウェッジ要素に、せん断力を加えるのにも使用できる。
ウェッジ・ソケット36のソケット端は、この例において曲率半径Rを持つ球状凹面形であって、この例において同一の曲率半径Rを持つ球状凸面形であるヒートシンク延長部分21の表面と接触する。これは、3軸について、角度の調整を行う。この場合も、熱抵抗とすべり摩擦を両方とも減らすために、ウェッジ・ソケット36とヒートシンク延長部分21との間の接合面、および、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36の接触傾斜面の間の接合面に、サーマル・インターフェース材料、通常、サーマル・グリースまたはペーストを入れることがある。ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置30および40は、可能性としてナノメートルからメートルまでの範囲の寸法にできる。
図5Aは、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40の一変形であるウェッジ・ボール型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置50の組立分解図である。図5Aの例では、ヒートシンク延長部分51は、その下部の曲率半径Rの球状凹面ソケットが、ウェッジ・ボール56の上面の曲率半径Rの球状凸面ボールと回転整合する。ウェッジ・ボール56は、その平坦な傾斜下面が、ウェッジ39の傾斜上面の全域で摺動するように構成されている。ばねクリップ41は、ウェッジ・ボール56およびウェッジ39に、ばねでせん断力を加えるように、配置されている。図5Aの例に示されるように、ばねクリップ41は、止めねじ55または他の伝統的な留め具を用いて、ウェッジ・ボール56に固定されることもある。前に述べられた例の場合と同様に、熱抵抗とすべり摩擦を両方とも減らすために、ウェッジ・ボール56とヒートシンク延長部分51との間の接合面、および、ウェッジ39とウェッジ・ボール56の接触傾斜面の間の接合面に、サーマル・インターフェース材料、通常、サーマル・グリースまたはペーストを入れることがある。
図5Bは、熱源203〜204とヒートシンク基部23が、平行でない平面内にある状況、および/または、熱源203〜204とヒートシンク基部23との間のz軸方向の距離が一様でない状況を補償するために、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40を使用して調整が実行できることを示した略図である。熱源203〜204は、ボルスタ・プレート206により支えられている。あらゆる調整は、ヒートシンク基部23とボルスタ・プレート206との間の圧縮荷重のもとで、行われる。ばねクリップ41は、せん断力を発生させ、それにより、ウェッジ・ソケット36およびウェッジ39のくさび形面が互いに摺動する。熱源203〜204とヒートシンク基部23とのなす傾斜角αを補償するために、ウェッジ・ソケット36を、ヒートシンク延長部分21の球状凸面に対して、回転角αだけ回転させる。図示されるように、これには、ヒートシンク延長部分21に対するウェッジ・ソケット36の対応するずれがともなう。簡単に図示するために、xz平面内に傾斜角αが示されているが、一般的な場合には、傾斜角αは、ヒートシンク延長部分21の球状凸面と、ウェッジ・ソケット36の球状凹面の共通の曲率中心がある任意の平面内にあることもある。
幅hのz軸方向のギャップを補償するために、ヒートシンク基部23とボルスタ・プレート206間のばねクリップ41による圧縮荷重で、せん断力の成分を発生させ、それが、ウェッジ39およびウェッジ・ソケット36のくさび形の構成要素間に、z軸に垂直なずれを生じさせる。ウェッジの形状のために、これは、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36とを合わせたz軸方向の長さいっぱいに延びる。z軸方向の延長が、増分長さhに達するときには、このギャップが埋められて、ウェッジ39およびウェッジ・ソケット36のくさび形の構成要素間の対応するずれは、δとなる。ここで、比率h/δは、まさに、ウェッジ39の傾斜勾配である。その場合、ヒートシンク基部23とボルスタ・プレート206間のz軸方向の圧縮荷重は、ウェッジ39とウェッジ・ソケット36とのさらなる摺動ずれを防止する。
図6は、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置(例えば、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40)と、図1に示されるものと同様な構成のものの測定熱伝達性能を比較したグラフ図である。この垂直軸は、この水平軸に沿って任意の正規化圧力単位で表わした圧縮荷重の関数として、単位面積当り正規化された相対単位で表わした比熱抵抗をプロットしている。圧力は、それぞれの熱伝達面の全域に、一様に加えられる。曲線61は、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40と同様な構成の性能を表わしており、曲線62は、ピストンがすべて銅製である図1のものと同様な装置の性能を表わしており、また、曲線63は、ピストンがすべてアルミニウム製である図1のものと同様な装置の性能を表わしている。図6にプロットされたデータを見ると、曲線61は、有利なことに、曲線62か、曲線63のいずれかに示されるものよりも低い使用圧力において達する比較的に低い熱抵抗を示している。
実際には、本明細書に開示されている実施形態のどれにおいても、ヒートシンク基部23とボルスタ・プレート206間の圧縮荷重は、様々なヒートシンク押え付け装置(heat sink hold−down device)で提供できる。このような押え付け装置の有利な構成は、同時出願され、本発明の譲受人に譲渡された米国特許出願第10/419386号に開示されている。図7は、この開示によるヒートシンク押え付け装置70を示した略図である。ボルスタ・プレート206が、熱源201を支えている。ヒートシンク73は、中央支柱74に取り付けられたヒートシンク基部23と、フィン付き構造物72を有する。ケージ75は、クリップを用いて、ボルスタ・プレート206に取り付けられ、逃げの溝(clearance slot)を通じて、梃子ばね(lever spring)76を支える。ねじ、または他の留め具78を用いてケージ75に固定されたキャップ77は、梃子ばね76の両端を下方に押し付け、それにより、曲げモーメントによる荷重が中央支柱74に伝達される。中央支柱74は、その荷重を、ヒートシンク基部23のエリア全域に対称的に配分するように、配置されている。
いくつかの実施形態では、ヒートシンク延長部分71は、その圧縮荷重を、ヒートシンク基部23と熱源201との間に伝える。別法として、これらの実施形態による可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置、例えば可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置20、またはウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置40は、熱的にも、機械力学的にもヒートシンク押え付け装置70に結合されて、ヒートシンク延長部分71の全体に取って代わるようにすることもできる。このような構成では、ヒートシンク押え付け装置70は、熱源201に対して圧縮荷重を加え、可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置20、40を保持する。
本明細書に開示されている実施形態は、熱源とヒートシンクが、平行でない平面内にある状況、および/または、熱源とヒートシンクとの間の距離が一様でない状況に対して、熱源とヒートシンクとの間の熱抵抗を最小限に抑えるという課題に対応している。これは、特に、2つ以上の熱源から、ただ1つのヒートシンクに熱を伝えようとするときに、発生する課題である。
サーマル・スプレッダの個々の通路の中で摺動する一そろいのばね押し金属ピストンを含むサーマル・インターフェース装置を表す略図である。 本明細書に開示されている実施形態による可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を表わす斜視図である。 ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を表わす斜視図である。 ウェッジとウェッジ・ソケットが、ばねクリップで、いっしょに固定されるウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を表わす斜視図である。 ウェッジ・ボール型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置の組立分解図である。 熱源とヒートシンク基部が、平行でない平面内にある状況、および/または、熱源とヒートシンク基部との間のz軸方向の距離が一様でない状況を補償するために、ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を使用した調節を表す略図である。 ウェッジ・ソケット型の可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置の測定熱伝達性能と、代替構成のものを比較したグラフ図である。 組み入れられた開示によるヒートシンク押え付け実施形態を示した略図である。
符号の説明
21、26 多軸回転式球面継手
23 ヒートシンク
25 球状凸面
26 ブロック
27 球状凹面
28 遠方端
29 シム
201 熱源
202 サーマル・インターフェース材料

Claims (10)

  1. 曲率半径Rを持つ球状凹面と、前記曲率半径Rを持つ球状凸面とを有し、かつ前記凹面と前記凸面が摺動自在に接触している多軸回転式球面継手と、
    前記回転式球面継手を通じて、前記ヒートシンクと回転自在に結合されている近接端と前記近接端の反対側に遠方端とを有するブロックと、
    前記ブロックの前記遠方端と熱的に連通する第1の面と、前記熱源と熱的に連通する、前記第1の面と反対側の第2の面とを隔離している一様な厚さで選択可能なシムと、
    を備える熱源からヒートシンクへ熱を伝達する可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置。
  2. 前記多軸回転式球面継手を回転させて、前記熱源と前記ヒートシンクとの間の角度の狂いを補償することを特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 前記シムの厚さは、前記ブロックの高さを調整するようになっていることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  4. 前記シムの前記厚さが、前記ブロックと前記熱源との間のギャップを充分埋めるように選択されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  5. 前記多軸回転式球面継手内の接合面および、前記シムの両面に隣接する接合面に塗布されるサーマル・インターフェース材料をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の装置。
  6. 前記熱源が、集積回路チップを備えることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  7. 多軸回転式球面継手を提供するステップと、
    前記熱源と前記ヒートシンクとの間の角度の狂いを補償する向きまで、前記多軸回転式球面継手を回転させるステップと、
    前記熱源と、前記多軸回転式球面継手との間のギャップを埋めるのに充分な厚さのシムを提供するステップと、
    前記シムを挿入して、前記ギャップを埋めるステップと、
    を有する可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置を用いて、熱源からヒートシンクへ熱を伝達する方法。
  8. サーマル・インターフェース材料を、前記多軸回転式球面継手内の接合面、および、前記シムの両面に隣接する接合面に塗布するステップをさらに有することを特徴とする請求項7に記載の方法。
  9. 前記熱源から、前記シムを経て、前記多軸回転式球面継手を通って、前記ヒートシンクまで熱を伝達するステップをさらに有することを特徴とする請求項7に記載の方法。
  10. 圧縮荷重を、前記ヒートシンクと前記熱源との間に加えるステップをさらに有すること
    を特徴とする請求項7に記載の方法。
JP2004118924A 2003-04-21 2004-04-14 可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置 Withdrawn JP2004327985A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/419,373 US7480143B2 (en) 2003-04-21 2003-04-21 Variable-gap thermal-interface device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004327985A true JP2004327985A (ja) 2004-11-18

Family

ID=33159294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004118924A Withdrawn JP2004327985A (ja) 2003-04-21 2004-04-14 可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7480143B2 (ja)
JP (1) JP2004327985A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008021843A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Seiko Epson Corp 配線基板の製造方法、多層配線基板の製造方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006222388A (ja) * 2005-02-14 2006-08-24 Toshiba Corp 電子機器の放熱装置及び放熱方法
US7849914B2 (en) * 2006-05-02 2010-12-14 Clockspeed, Inc. Cooling apparatus for microelectronic devices
CN102131371B (zh) * 2010-11-11 2014-03-26 华为技术有限公司 一种导热装置及其应用的电子装置
US8592970B2 (en) * 2011-06-27 2013-11-26 International Business Machines Corporation Multichip electronic packages and methods of manufacture
US8823164B2 (en) 2011-10-28 2014-09-02 International Business Machines Corporation Heatsink attachment module
US20160360639A1 (en) * 2015-06-08 2016-12-08 Advantech Co., Ltd. Dynamic heat conduction system
US10356948B2 (en) * 2015-12-31 2019-07-16 DISH Technologies L.L.C. Self-adjustable heat spreader system for set-top box assemblies
US10702137B2 (en) 2016-03-14 2020-07-07 Intuitive Surgical Operations, Inc.. Endoscopic instrument with compliant thermal interface
US10721840B2 (en) 2017-10-11 2020-07-21 DISH Technologies L.L.C. Heat spreader assembly
JP2020013935A (ja) * 2018-07-19 2020-01-23 富士通株式会社 伝送装置及びプラグインユニット
US11121053B2 (en) * 2020-01-17 2021-09-14 Asia Vital Components (China) Co., Ltd. Die heat dissipation structure
US11776876B2 (en) * 2021-01-25 2023-10-03 International Business Machines Corporation Distributing heatsink load across a processor module with separable input/output (I/O) connectors
US11800687B2 (en) 2021-08-26 2023-10-24 Dish Network L.L.C. Heat transfer assembly

Family Cites Families (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3573569A (en) * 1969-08-12 1971-04-06 Gen Motors Corp Controlled rectifier mounting assembly
CS179822B1 (en) * 1975-09-08 1977-11-30 Petr Novak Cooling and pressuring equipment esp. for power semiconductive elements
US4226281A (en) * 1979-06-11 1980-10-07 International Business Machines Corporation Thermal conduction module
US4246597A (en) * 1979-06-29 1981-01-20 International Business Machines Corporation Air cooled multi-chip module having a heat conductive piston spring loaded against the chips
US4235283A (en) * 1979-12-17 1980-11-25 International Business Machines Corporation Multi-stud thermal conduction module
US4462462A (en) * 1981-11-17 1984-07-31 International Business Machines Corporation Thermal conduction piston for semiconductor packages
US4561011A (en) * 1982-10-05 1985-12-24 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Dimensionally stable semiconductor device
US4769744A (en) * 1983-08-04 1988-09-06 General Electric Company Semiconductor chip packages having solder layers of enhanced durability
JPS6046056A (ja) * 1983-08-23 1985-03-12 Nec Corp 冷却構造
FR2629153B1 (fr) * 1988-03-22 1990-05-04 Bull Sa Dispositif de fixation a pression de deux pieces l'une a l'autre
JPH0612795B2 (ja) 1989-11-07 1994-02-16 株式会社日立製作所 マルチチップモジュールの冷却構造
US5161089A (en) * 1990-06-04 1992-11-03 International Business Machines Corporation Enhanced multichip module cooling with thermally optimized pistons and closely coupled convective cooling channels, and methods of manufacturing the same
US5162974A (en) * 1991-04-15 1992-11-10 Unisys Corporation Heat sink assembly for cooling electronic components
US5208731A (en) * 1992-01-17 1993-05-04 International Electronic Research Corporation Heat dissipating assembly
JP2629527B2 (ja) * 1992-07-22 1997-07-09 ブラザー工業株式会社 テープ印字装置
US5280409A (en) * 1992-10-09 1994-01-18 Sun Microsystems, Inc. Heat sink and cover for tab integrated circuits
DE69304304T2 (de) * 1993-04-05 1997-01-02 Sgs Thomson Microelectronics Kombination einer elektronischen Halbleiteranordnung und einer Wärmesenke
US5396402A (en) * 1993-05-24 1995-03-07 Burndy Corporation Appliance for attaching heat sink to pin grid array and socket
JPH0786471A (ja) * 1993-09-20 1995-03-31 Hitachi Ltd 半導体モジュ−ル
US5594624A (en) * 1994-04-05 1997-01-14 Thermalloy, Inc. Strap spring for heat sink clip assembly
US5615735A (en) * 1994-09-29 1997-04-01 Hewlett-Packard Co. Heat sink spring clamp
US5557501A (en) * 1994-11-18 1996-09-17 Tessera, Inc. Compliant thermal connectors and assemblies incorporating the same
US5570271A (en) * 1995-03-03 1996-10-29 Aavid Engineering, Inc. Heat sink assemblies
US5621615A (en) * 1995-03-31 1997-04-15 Hewlett-Packard Company Low cost, high thermal performance package for flip chips with low mechanical stress on chip
US5581441A (en) * 1995-06-07 1996-12-03 At&T Global Information Solutions Company Electrically-operated heat exchanger release mechanism
US5714738A (en) * 1995-07-10 1998-02-03 Watlow Electric Manufacturing Co. Apparatus and methods of making and using heater apparatus for heating an object having two-dimensional or three-dimensional curvature
US5850691A (en) * 1995-07-20 1998-12-22 Dell Usa, L. P. Method for securing an electronic component to a pin grid array socket
US5734556A (en) * 1996-06-26 1998-03-31 Sun Microsystems, Inc. Mechanical heat sink attachment having two pin headers and a spring clip
US6395991B1 (en) * 1996-07-29 2002-05-28 International Business Machines Corporation Column grid array substrate attachment with heat sink stress relief
US5932925A (en) * 1996-09-09 1999-08-03 Intricast, Inc. Adjustable-pressure mount heatsink system
US5920457A (en) * 1996-09-25 1999-07-06 International Business Machines Corporation Apparatus for cooling electronic devices using a flexible coolant conduit
EP0960554A1 (en) 1997-01-24 1999-12-01 Aavid Thermal Technologies, Inc. A spring clip for mounting a heat sink to an electronic component
US5990552A (en) * 1997-02-07 1999-11-23 Intel Corporation Apparatus for attaching a heat sink to the back side of a flip chip package
JP3241639B2 (ja) * 1997-06-30 2001-12-25 日本電気株式会社 マルチチップモジュールの冷却構造およびその製造方法
US6118659A (en) * 1998-03-09 2000-09-12 International Business Machines Corporation Heat sink clamping spring additionally holding a ZIF socket locked
JP2000059072A (ja) 1998-07-28 2000-02-25 Hewlett Packard Co <Hp> Emiシ―ルド
TW392869U (en) * 1998-09-04 2000-06-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Heat sink for chips
JP3548444B2 (ja) * 1998-12-17 2004-07-28 キヤノン株式会社 半導体集積回路
US6198630B1 (en) * 1999-01-20 2001-03-06 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for electrical and mechanical attachment, and electromagnetic interference and thermal management of high speed, high density VLSI modules
US6219239B1 (en) * 1999-05-26 2001-04-17 Hewlett-Packard Company EMI reduction device and assembly
US6390475B1 (en) * 1999-08-31 2002-05-21 Intel Corporation Electro-mechanical heat sink gasket for shock and vibration protection and EMI suppression on an exposed die
US6208517B1 (en) * 1999-09-10 2001-03-27 Legerity, Inc. Heat sink
US6462951B2 (en) * 2000-04-10 2002-10-08 Alcatal Canada Inc. Securing heat sinks to electronic components
US6299460B1 (en) * 2000-04-14 2001-10-09 Hewlett Packard Company Spring-loaded backing plate assembly for use with land grid array-type devices
US6496371B2 (en) * 2001-03-30 2002-12-17 Intel Corporation Heat sink mounting method and apparatus
US6691768B2 (en) * 2001-06-25 2004-02-17 Sun Microsystems, Inc. Heatsink design for uniform heat dissipation
US6518507B1 (en) * 2001-07-20 2003-02-11 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Readily attachable heat sink assembly
TW499151U (en) * 2001-07-20 2002-08-11 Foxconn Prec Components Co Ltd Buckling divide for heat sink

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008021843A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Seiko Epson Corp 配線基板の製造方法、多層配線基板の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20040207985A1 (en) 2004-10-21
US7480143B2 (en) 2009-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4080452B2 (ja) 可変ウェッジ・サーマル・インターフェース装置および方法
JP2004327985A (ja) 可変ギャップ・サーマル・インターフェース装置
US6625022B2 (en) Direct heatpipe attachment to die using center point loading
US11802908B2 (en) Alignment mechanism
TWI844748B (zh) 散熱系統及用於操作其之方法
US7749812B2 (en) Heat sink with thermally compliant beams
US11416045B2 (en) Thermal interface material structures for directing heat in a three-dimensional space
US7120023B2 (en) Method of assembly of a wedge thermal interface to allow expansion after assembly
JP6146248B2 (ja) 放熱装置
JP2004363432A (ja) 熱伝導性シートとこれを用いた放熱構造体
TWI274391B (en) Self-adaptive adjustment device and chip/wafer bonding apparatus utilizing the same
US6868899B1 (en) Variable height thermal interface
US20070097648A1 (en) Method and apparatus for establishing optimal thermal contact between opposing surfaces
JP5585959B2 (ja) マウント装置
Cui et al. A compliant microstructured thermal interface material for dry and pluggable interfaces
US20050248924A1 (en) Thermal interface for electronic equipment
IL295970A (en) Structures with a perforated thermal contact surface
JP2003298226A (ja) 基板接続装置
JP2008078462A (ja) 圧着装置、圧着方法及び圧着物の製造方法
JPH02304955A (ja) 冷却装置

Legal Events

Date Code Title Description
A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20070312