JP2004317519A - 光学マーク投射用のレーザ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】簡単かつ確実な手段により,良好に視認可能なスポットマーク及びラインマークを低コストで,しかも可能な限り調整不要として投射可能としたレーザ装置を提案する。
【解決手段】光学マーク(MP,ML)を投射するレーザ装置(1)において,投射光学系(P)はビーム(L2)が入射する筒型レンズ(Z)を具える。中心ビーム(L2Z)は筒型レンズ(Z)の筒型領域(ZA)を透過させ,少なくとも1本の周辺ビーム(L2R)は直接的に筒型領域(ZA)の外面を透過させる。中心ビーム(L2Z)により光学マーク(ML)を直線状に投射し,周辺ビーム(L2R)によりスポット状の光学マーク(MP)を投射する。
【選択図】図1

Description

本発明は,光学マークを投射するためのレーザ装置に関し,特に,一次ビームを発生するための光源手段と,一次ビームを入射させ,該一次ビームについてコリメート,平行化及び拡幅を行うことにより平行光束としての二次ビームに転移させて出射させるためのコリメータ光学系と,二次ビームの少なくとも一部を入射させ,該二次ビームを少なくとも1本の三次ビーム又はマーカビームに転移させ,少なくとも1個の光学マークとして投射するための投射光学系とを具えるレーザ装置に関するものである。
光学マークを発生・投射するためのレーザ装置は,各種の製造工程,構造設計又は建設作業において実用に供されている。このような光学マークは,対象となる物体,空間又は場所における絶対的又は相対的な位置又は指向性等を厳密に限定し,これを作業者に明示するのに使用されるものである。
従来のレーザ装置は,光源手段,コリメータ光学系及び投射光学系を具えている。光源手段は,一次ビームを発生する。コリメータ光学系は,一次ビームを入射させ,これについてコリメート、平行化及び拡幅させて二次ビームとして出射させるものである。投射光学系は,二次ビームの少なくとも一部を入射させ,二次ビームを少なくとも1本の三次ビーム又はマーカビームに転移させて少なくとも1個の光学マークとして投射するものである。
直線状の光学マークを投射するラインマーキングのみならず,スポット状の光学マークを投射するスポット状マーキングを行うためには相当のコストが掛かっている。通常,互いに独立させて作動及び調整可能とした複数の光学系を含む投射ユニットが必要となるからである。
本発明の課題は,簡単かつ確実な手段により,良好に視認可能なスポットマーク及びラインマークを低コストで,しかも可能な限り調整不要として投射可能としたレーザ装置を提案することにある。
この課題を解決するため,本発明に係るレーザ装置は,独立請求項の記載事項を特徴とするものである。また,本発明装置の好適な実施形態は,従属請求項に記載したとおりである。
すなわち,本発明は,一次ビームを発生するための光源手段と,一次ビームを入射させ,該一次ビームについてコリメート,平行化及び拡幅を行うことにより平行光束としての二次ビームに転移させて出射させるためのコリメータ光学系と,二次ビームの少なくとも一部を入射させ,該二次ビームを少なくとも1本の三次ビーム又はマーカビームに転移させ,少なくとも1個の光学マークとして投射するための投射光学系とを具えるレーザ装置において,投射光学系に二次ビームの少なくとも一部を入射させ,投射光学系における所定の領域に二次ビームの中心ビームを透過させ,二次ビームの中心ビームに隣接する少なくとも1本の周辺ビームを投射光学系における前記領域の縁部又は外面から出射させ,二次ビームの中心ビームを筒型レンズにより拡散させ,三次ビームの一部又は光学マーク用のラインマークビームとして直線状に投射し,二次ビームにおける少なくとも1本の周辺ビームを三次ビームの一部又は光学マーク用のスポットビームとしてスポット状に投射することを特徴とするものである。
本発明の好適な実施形態において,投射光学系に含まれる筒型レンズに二次ビームの少なくとも一部を入射させ,投射光学系の前記領域を構成する筒型レンズの筒型領域に,光学マーク用の二次ビームの中心ビームを直線状に透過させ,光学マーク用の二次ビームの中心ビームに隣接する少なくとも1本の周辺ビームをスポット状に前記筒型領域の縁部又は外面から出射させる。
本発明において,筒型レンズを含み,又は筒型レンズで構成した単一の投射光学系を具える単一の光源手段を使用する場合には,直線状の光学マークを投射するラインマーキングのみならず,1個又は2個のスポット状の光学マークを投射するスポットマーキングも同時に実行可能である。単一の筒型レンズを使用することで配置が固定されるため,ラインマーク及びスポットマーク又は複数のスポットマークは調整不要な所定の三次元的位置関係を有する。更に,本発明によれば,従来技術と対比して光学素子数を減少させることができ,この種のレーザ装置に係る保守費用を節減し,製造コスト及び維持費を低下させることも可能である。
本発明によれば,一次ビームについてコリメート,平行化及び拡幅を行って生成した二次ビームを投射光学系に含まれる筒型レンズに入射させ,二次ビームにおける中心ビームを筒型レンズに透過させる。二次ビームにおける少なくとも1本の周辺ビームは,筒型レンズの縁部又は外面を透過させて筒型領域の直近から出射させる。中心ビームは,透過した筒型領域における屈折により拡散する。したがって,筒型領域を通過した後,離間位置にある投射面上に線形の光学マーク又はラインマークが投射される。少なくとも1本の周辺ビームを,筒型レンズにおける筒型領域の外面で通過させて,離間位置にある投射面上にスポット状の光学マーク(スポットマーク)を投射する。適切に構成した実施形態により,光学的なスポットマーク及びラインマークは互いに所定の三次元的位置関係で配置されるため,例えば,ラインマーク上でスポットマークにより特定の三次元的基準点を確定させ,表示することが可能である。
上述した利点は,従来技術においては,各光学マークについて分離した複数の投射光学系を使用するコスト高の手段により初めて達成されるものである。
一次ビームのためにコヒーレント光及び/又はモノクローム光を発生する光源手段を使用する場合には,特に鮮明なマークを投射することが可能である。
その場合,作動中に筒型領域の対向する縁部領域を通過する2本の周辺ビームを使用し,光放射域の遠隔視野内に,近接視野で分離した2個のスポットマークによる単一の共通スポットマークに対する干渉が実現される。このことは,特にスポットマークの輝度及び視認性について有利となる。
コヒーレント光及び/又はモノクローム光を発生させるため,光源手段を種々の態様で実現することができる。
光源手段はレーザ光源で構成するのが有利である。この光源手段は,高度に集束したモノクロームのコヒーレント光を発生することができる。
基本的に任意の光源を使用することが可能であるが,1個のレーザダイオード又は複数のレーザダイオードアレイを光源手段とするのが有利である。レーザダイオードは特にコンパクトであり,エネルギ消費量が比較的僅かである。
投射光学系からの二次ビームの投射形態は,光学マークにおける輝度,コントラスト及び投射精度に質的な影響を及ぼす。そのため,本発明の別の実施形態において,二次ビームを生成するために,コリメータ光学系と投射光学系との間に絞り手段を配置するのが有利である。この絞り手段は,二次ビームに特定の対称形状と三次元的な拡がりを与える。絞り手段はコリメータ光学系の一部で構成することも可能である。
絞り手段は,特定の用途において,円形絞り又は楕円形の絞りとして形成することができ,角形絞りとすることも可能である。これらの形状を有する絞り事態で絞り手段を構成することが可能であるが,絞り手段として複数の絞り及び所要に応じてその他の光学素子を配置することもできる。
各絞り手段は円形絞り,角形絞り等として局限すべき二次ビームの断面に対して同軸的に配置するのが有利である。この場合,各絞り手段は,二次ビームの断面の幾何学的中心又は重心と略一致する幾何学的中心又は重心を有する。
投射光学係のための筒型レンズは,基本的に任意の筒型レンズで構成することが可能である。しかしながら,基本形状が簡潔であるために円筒レンズが特に有利である。したがって,本発明の特に好適な実施形態においては,筒型レンズを,基礎円に対応する円半径R及び対応する対称軸Xを有する円筒レンズで構成する。
本発明の原理を更に具現化するために,各光学素子,ぞれぞれのビーム及びその波長の数値関係を適切に設定する。
筒型レンズは光学的有効径Dを有する。円筒レンズで筒型レンズを構成する場合,有効径は,特に,二次ビームに関して基礎円の半径Rの略2倍である。
本発明の特に有利な実施形態において,光源手段,コリメータ光学系の種類及び/又は配置及び/又はそれらの相対的位置関係を適切に選択することにより,二次ビームを,長軸A及び短軸Bを有する略楕円断面形状とすることが可能である。
本発明の一実施形態において,二次ビームの断面における長軸Aは,筒型レンズの対称軸に対して略直交させる。
二次ビームの断面における長軸Aの長さは,筒型レンズの半径Rの約8倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約4倍とするのが有利である。付加的又は代替的な構成として,二次ビームの断面における短軸Bの長さGを,筒型レンズの半径Rの約2倍又は筒型レンズの有効径の1倍とする。
本発明に係るレーザ装置は,別の実施形態において円形絞りを具え,その半径RkBは筒型レンズの半径Rの約4倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約2倍とする。その代わりに角形絞りを配置する場合には,筒型レンズの対称軸Xに対して直交する第1縁部cの長さを筒型レンズの半径Rの約3倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約1.5倍とする。筒型レンズの対称軸Xに対して平行な第2縁部dの長さ,筒型レンズの半径Rの約5倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約2.5倍とする。
本発明の更に別の実施形態においては,二次ビームの断面における長軸Aを,筒型レンズの対称軸Xに対して略平行に配置する。
この実施形態において,二次ビームの断面における長軸Aの長さは,筒型レンズの半径Rの約12倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約6倍とするのが特に有利である。代替的又は付加的な構成として,二次ビームの断面における短軸Bの長さを,筒型レンズの半径Rの約4倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約2倍とする。
本発明の上記実施形態においても,円形絞り又は代替的な角形絞りが使用可能である。
円形絞りを使用する場合,その半径Rは筒型レンズの半径Rの約4倍又は約6倍,又は筒型レンズの光学的有効径Dの約3倍とするのが有利である。
角形絞りを使用する場合,筒型レンズの対称軸Xに対して直交する第1縁部cは,筒型レンズの半径Rの約3倍又は約6倍,又は筒型レンズの光学的有効径Dの約1.5倍又は約3倍とする。更に,角形絞りは筒型レンズの対称軸Xに対して平行な第2縁部dを有する。この第2縁部dの長さは,筒型レンズの半径Rの約4倍又は筒型レンズの光学的有効径Dの約2倍とする。
上述した実施形態は,基準点として1個又は2個のスポットマークを投射してラインマークを生成するのに適している。
本発明の特に好適な実施形態において,筒型レンズは,その対称軸Xに対して傾斜させた少なくとも1個の端面Aを有する傾斜円筒レンズで構成する。この傾斜端面Aを鏡面として形成する。配置を適切に設定すれば,鏡面の端面Aにおいて二次ビームの少なくとも一部を反射させ,装置自体及び三次ビームにより光学マークのために限定される平面の外側で,外部の別の光学マークを略スポット状に投射することが可能である。
この措置により,光学マークのための投射平面からは垂直方向だけでなく,スポットマークを上方又は下方へ投射可能となる。例えば,ラインマークは建物内スペースの壁面に投射されるのに対し,付加的又は別のスポットマークを天井又は床面に付加的に生成することが可能である。
本発明の特に有利な実施形態において,筒型レンズの両端面Aを傾斜させた鏡面として形成することにより,2個の外部光学マークを略スポット状に投射可能である。
以下,本発明を別の視点から説明する。
従来,ラインマークは一列の不連続スポット等として回析要素により生成可能である。このラインは連続的でない点で不利である。他の常用ラインマークは簡単な筒型レンズにより生成されるが,収束度が幅広いライン上に配分される点で不利であり,光学的状況如何によっては大きく離れたラインが良好に視認できなくなる。このライン上には,多くの場合に所望される基準点が認められない。例えば,ライン上に基準点を確定するために,ラインを鉛直に整列させる必要がある。
本発明の着想は,ラインの連続性を維持しつつ,遠く離れたラインマーク上に基準点を投射可能とする点にあり,本発明装置はこれを実現するものである。
コリメートされ,又は特定の距離で合焦されたレーザビームの直径は,筒型レンズの光学的有効径よりも大である。したがって,レーザビームの2縁部領域を更に前方に向けて拡散させることが可能である。近接領域では1本のラインと2個のスポットが中心の周りに形成される。筒型レンズの外径に依存する筒型レンズから離間した遠隔領域では,スポットにおける両周辺ビームが1個のスポットと干渉する。
ビーム直径及び絞りは,特定の形状とすることが可能であり,主レーザビームの周辺に形成されるために遠隔領域におけるスポットの生成に影響を及ぼすものである。
これらの絞りは円形又は角形とすることができる。
レーザビームの長軸Aは,筒型レンズ軸線Zに対して直交させることができる。
例えば,周辺ビームは円形絞りにより遮断可能であるため,周辺ビームの一側は屈折する。すなわち,周辺ビームは非対称性を呈する。それに対し,角形絞りによる周辺ビームは略左右対称となり,回析像は良好な対称性を有する。
絞りサイズの影響:
絞り直径が大きい程,又は矩形の幅が長くなる程,回析像は水平方向で狭まる。すなわち,水平方向の解像度が向上する。
二次ビームの断面における楕円の長軸は,筒型レンズの円筒軸線に対して平行に配置することが可能である。この実施形態は「ライン・ドット・レーザ」とも称される。この場合におけるレーザビームの幅は条件付で限定されるため,絞りの形状は絞りのサイズよりも大きな影響を回析像に及ぼす。幅を拡大すればエネルギ損失が増大し,ラインマークの視認性にも問題が生じる。
外部のスポットマークに対し,相反する方向に整列した2本のスポットビームを付加的に投射可能とし,2個の鏡面において反射させて筒型レンズ上で統合する。筒型レンズの両端部は,円筒軸線に対して45°の角度をなす鏡面を有する。これらの鏡面は互いに90°の角度をなす。この実施形態は「ライン・マルチビーム・レーザ」とも称される。
レーザビームの楕円の長軸Aは,2個の丸い絞りを結ぶ線に対して平行に配置することができる。両方の45°鏡面Aでは2本の部分ビームが90°で転向される。レーザビームの断面における短辺(又は幅)Bを筒型レンズの直径Dより大とすることにより,レーザビームの一部を筒型レンズの両側を通過させて更に拡散させることが可能である。これにより生成した2個のビームスポットは,線形レーザが投射される平面上で90°直角に位置する。
図17に示すように,本発明に係るレーザ装置には,ライン・ドット・レーザとしてのモジュールAと,ライン・マルチビーム・レーザとしてのモジュールBとを組み合わせて配置することができる。両モジュールを支持体上に固定配置して,モジュールA,Bの両ラインマークを互いに直交させ,2個のスポットマークを上方及び下方に投射可能とする。モジュールA、Bのスポットレーザは直交座標系を形成すると共に共通の原点を有する。全体構造は,安定なコード又はファイバ等の振り子により懸架する。重力作用により,全体構造は垂線方向に整列され,往復振動するものである。
ライン・ドット・レーザの整列:
ライン・ドット・レーザには三通りの配置が考えられる。
・ラインが水平に位置する。
・ラインが垂直に位置し,スポットマークは水平レベルに位置する。
・ラインが整列され,スポットマークはモジュールを通じて垂直に位置する。
実施に際しては3種類の光学ユニットを使用することにより,上記の3位置を組み合わせることが考えられる。
ライン・マルチビーム・レーザの整列:
ライン・マルチビーム・レーザには二通りの位置が可能である。すなわち,両スポットが垂直に整列するように投射し,又は両スポット及びスポットマークが水平レベルに位置するように投射する。
以下,本発明を図示の実施形態について更に具体的に説明する。
各実施形態において,機能的に対応する構成要素については同一の参照符号を付し,重複説明を省略する。
図1は,スポット状の光学マークを投射するための本発明によるレーザ装置1を示す。
レーザ装置1の主要構成要素は,光源手段Q,コリメータ光学系K及び投射光学系Pである。光源手段Qは一次ビームL1を発生する。コリメータ光学系Kは少なくとも一次ビームL1の一部を入射させ,コリメート,平行化及び所要に応じて拡幅を行って二次ビームL2を生成する。更に,コリメータ光学系Kから二次ビームL2を所定の方向性をもって出射させ,光路中に配置した投射光学系Pに少なくとも部分的に入射させる。図1に示す実施形態では,投射光学系Pが筒型レンズZで構成される。図1は,本発明に係るレーザ装置1の光学的配置を示しており,ここでは投射光学系Pの筒型レンズZが円筒レンズで構成されている。
筒型レンズZには二次ビームL2が入射する際,筒型レンズZの筒型領域ZAには二次ビームL2の中心ビームL2Rが略完全に入射する。同時に,二次ビームL2の隣接する周辺ビームL2Rが筒型レンズZの外面Mを直接透過し,三次ビームL3の周辺ビームL3Rに転移する。二次ビームL2の中心ビームL2Rは,投射光学系Pの筒型レンズZにより屈折する。それにより中心ビームL2Zが拡散するため,筒型レンズZから出射された中心ビームL3Zは所定の面内で広い空間中に隈なく拡散する。
図1に示す実施形態において,二次ビームL2又は三次ビームL3の2本の周辺ビームL2R,L3Rは,壁面W等の対象物に三次ビームL3が投射される際にスポット状のマークMPを生成する。図1に示した配置における近接領域では,両周辺ビームL2R,L3Rが分離されたスポットマークMPを生成する。同時に,壁面Wに対応するラインマークMLを,三次ビームL3の対応する中心ビームL3Zにより生成するものである。
三次ビームL3の周辺ビームL3Rはスポットマーク用のビームLMPを生成し,三次ビームL3の中心ビームL3Rはラインマーク用のビームLMLを生成する。
二次ビームL2及び対応する周辺ビームL2R又は中心ビームL2Zの配置に影響を及ぼすため,図1に示す実施形態では,コリメータ光学系Kと投射光学系Pとの間に絞りBを配置する。
図2は,図1に示した構成と類似する実施形態を示している。光源手段Qはレーザダイオード又はレーザダイオードアレイから構成される。更に,各種の光学レンズ系を含むコリメータ光学系Kには,図1に示した実施形態におけると同様の絞りも含まれている。
図3は,壁面Wに投射されたラインマークML及びスポットマークMPで構成される光学マークを示す写真であり,近接領域における放射視野,すなわち強度分布の近隣視野を示している。
これに対し,図4は光学マーク投射装置1から離隔した遠隔視野における強度分布を示す写真である。光学的配置及び使用した光の特性により,三次ビームL3の両周辺ビームL3Rが干渉するため,ラインマークMLの他に壁面Wには単一の重畳スポットマークMPだけが視認可能である。
図5〜図8は,使用した絞りBの二次ビームL2と投射光学系Pの筒型レンズZとの間の種々の位置関係を示している。
以下の図面においては,半径Rの基礎円で構成される円筒レンズで投射光学系Pの筒型レンズZを構成している。したがって,円筒レンズZは,半径Rの2倍の実効径又は光学的有効径Dを有する。以下,全ての記載事項は筒型レンズZにおける基礎円の半径Rを基準とした相対的な記述である。
二次ビームL2は,長軸A及び短軸Bを有する楕円断面とする。
図5に示す実施形態において,長軸Aは筒型レンズZの対称軸Xに対して直交し,その長さは筒型レンズZの半径の約8倍又は筒型レンズZの光学的有効径Dの1倍である。二次ビームL2の短軸Bは,筒型レンズZの対称軸Xに対して平行に配置し,その長さは筒型レンズZの半径Rの約2倍又は筒型レンズZの光学的有効径Dとする。図5に示した実施形態では,絞り径がRkBの円形絞りBを使用する。この絞り径は,筒型レンズZの光学的有効径Dの2倍又は筒型レンズZの半径の4倍である。絞りB及び二次ビームL2は互いに同軸的に配置する。二次ビームL2の周辺ビームL2Rは,筒型レンズZの外面Mを透過させる。二次ビームL2の中心ビームL2Z視認可能であり,これは投射光学系Pの筒型レンズZの筒型領域ZAを略完全に透過する。
図5とは異なり,図6では角形絞りBが使用されている。この絞りの長手方向縁部又は長辺c=5R=2.5Dは,筒型レンズZの対称軸Xに対して直交させる。短辺d=3R=1.5Dは,筒型レンズZの対称軸Xに対して平行に配置する。この配置においても,二次ビームL2の断面は角形絞りと同軸的に配置する。
図7〜図10に示す実施形態において,二次ビームL2の断面における長軸Aは,筒型レンズZの対称軸Xに対して平行に配置され,その長さは筒型レンズZの半径Rの12倍又は筒型レンズZの光学的有効径Dの6倍である。二次ビームL2の断面における短軸Bは,筒型レンズZの対称軸Xに対して直角に配置され,その長さは筒型レンズZの半径Rの4倍又は筒型レンズZの光学的有効径Dの2倍である。
図7及び図8に示す実施形態は,二次ビームL2の断面に対して同軸に配置され,半径RkB=4R=2D又はRkB=6R=3Dとした円形絞りBを具えるものである。
図9及び図10に示す角形絞りBは,筒型レンズZの対称軸Xに対して平行又は直角に延在する長縁部cを具える。長縁部cの長さは,筒型レンズの半径Rの4倍(光学的有効径Dの2倍)又は筒型レンズZの半径の6倍(光学的有効径Dの3倍)である。図9及び図10に示す角形絞りBの短辺dの長さは,d=3R=1.5D又はd=4R=2Dである。
図11〜図14は,本発明に係るレーザ装置1に係る実施形態を示している。投射光学系Pの筒型レンズZは傾斜円筒レンズで構成され,その対称軸Xに対して45°だけ傾斜した端面Aは鏡面として形成されている。したがって,二次ビームL2の一部が反射され,ラインマークMLのための投射面に対して直角に外部の別のスポットマーク(MPe)が投射可能となる。これらの付加的な外部のスポットマークMPeは,図11に示すように,筒型レンズZの鏡面Aにおいて反射したビームLMMeにより投射されるものである。
図12は,図11に示した状態に地王する側面図である。ここでも別の寸法表記がなされている。筒型レンズZの直径はRである。ラインマークを投射するための筒型領域ZAは,筒型レンズZの半径Rの1.8倍に相当する高さを有する。
図13は,二次ビームL2及び絞りBに係る詳細を示している。これらは,図11及び図12に示した光学マークを投射するためのレーザ装置1の特別な実施形態について適用可能である。
図13に示す実施形態においても,長軸Aは筒型レンズZの対称軸Xに対して平行に延在すると共に,その長さは筒型レンズZの半径Rの9倍又は筒型レンズZの光学的有効径Dの4.5倍に相当する。二次ビームL2の断面における短軸Bは,筒型レンズZの対称軸Xに対して直角に延在すると共に,その長さは筒型レンズZの半径Rの約3倍又は筒型レンズZの光学的有効径Dの1.5倍に相当する。絞りBは,3個の凹所B1,B2,B3を有するディスクで構成する。第1凹所B1は,本来のラインマークML及び本来のスポットマークMPを生成するために,周辺ビームL2R及び中心ビームL2Zを発生させる角形形状を有する。長辺c=3.5R=1.75Dは,筒型レンズZの対称軸Xに対して直角に延在するのに対し,短辺d=1.6R=0.8Dは筒型レンズZの対称軸Xに対して平行に配置される。絞り手段Bの凹所B2,B3は略同様の円形であり,半径RkB=1.7R=0.85Dである。これらの円形凹所B2,B3は鏡面Aに関して同軸的に配置する。
図14は,図11〜図13に示した配置の使用状態を示す斜視図である。図14の配置には,入射する二次ビームL2が示されていない。傾斜円筒レンズで構成する投射光学系Pの筒型レンズZは,上下の端面Aを鏡面として形成する。筒型レンズZの端面では,図示しない二次ビームL2の成分が直角上方又は下方に向けて反射される。すなわち,生成すべき外部のスポットマーキングMPe用のビームLMMeとなる。ここに「直角方向」とは,三次ビームL3Z又はラインマークLMLにより形成される平面に関するものである。ここでも,三次ビームL3の周辺ビームとしてスポットマークビームLMPが生成されるものである。
図15及び図16は,本発明によるモジュールA,Bを含むレーザ装置1を示す。モジュールAは図11〜図14に示した実施形態に略同一であり,モジュールBは図1〜図10に示した構成と略同一である。
図17は,位置決め装置10の領域におけるモジュールA,Bの配置を示している。この位置決め装置10は,ハウジング等よりなるモジュール支持体Gを具える。モジュール支持体G上には,モジュールA,B及び所要に応じて別のモジュールを固定配置する。モジュールA,Bは,三次ビームL3により限定される平面が互いに略直交すると共に,各スポットマークビームLMPにより設定した直線も同様に互いに直交するように配置する。ハウジング又はモジュール支持体Gを振り子ファイバFに固定することにより,振り子ファイバF及びモジュール担体Gにより形成した振り子を直角に整列させると,重力場の下でモジュールAにより設定された平面上で振り子ファイバFが直立すると共に,モジュールBにより設定された平面に対して平行に延在する。
図18〜図20に示した配置は,図1〜図10に示した実施形態又は図11〜図14に示した実施形態で考え得る相対的位置関係決め及び指向性を示している。図18に従い,図1〜図10による配置は3種類の基本的な位置関係を規定する。それに対し,図11〜図14の実施形態においては,基本的に2種類だけの位置関係を二次元空間内で規定する。
本発明に係るレーザ装置の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の実施形態を示す説明図である。 本発明装置による近接視野における光学マークを示す写真である。 本発明装置による遠隔視野における光学マークを示す写真である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置の他の実施形態を示す説明図である。 本発明装置を含むモジュールの一例を示す説明図である。 本発明装置を含むモジュールの他の例を示す説明図である。 図15又は図16のモジュールに係る応用例を示す説明図である。 図15又は図16のモジュールに係る他の応用例を示す説明図である。 図15又は図16のモジュールに係る他の応用例を示す説明図である。 図15又は図16のモジュールに係る他の応用例を示す説明図である。
符号の説明
A 二次ビームL2の長軸
A 端面
B 二次ビームL2の短軸
B 絞り手段
c,d 角形絞りの縁部
D 光学的有効径
L1 一次ビーム
L2 二次ビーム
L2R 周辺ビーム
L2Z 中心ビーム
L3 三次ビーム
L3R スポットマーク用のビーム
L3Z ラインマーク用のビーム
LM マーカビーム
LML ラインマーク用のビーム
LMP スポットマーク用のビーム
M 外面
ML ラインマーク
MP スポットマーク
MPe 外部の別のスポットマーク
P 投射光学系
Q 光源手段
R 筒型レンズZの半径
RkB 円形絞り
W 壁面
X 筒型レンズZの対称軸
Z 筒型レンズ
ZA 筒型レンズの円筒部分

Claims (18)

  1. 光学マークを投射するためのレーザ装置であって,
    一次ビーム(L1)を発生するための光源手段(Q)と,
    一次ビーム(L1)を入射させ,該一次ビームについてコリメート,平行化及び拡幅を行うことにより平行光束としての二次ビーム(L2)に転移させて出射させるためのコリメータ光学系(K)と,
    二次ビーム(L2)の少なくとも一部(L2Z)を入射させ,該二次ビーム(L2)を少なくとも1本の三次ビーム(L3)又はマーカビーム(LM)に転移させ,少なくとも1個の光学マーク(ML,MP)として投射するための投射光学系(P)とを具え,
    投射光学系(P)に二次ビーム(L2)の少なくとも一部(L2Z)を入射させ,
    投射光学系(P)における所定の領域(ZA)に二次ビーム(L2)の中心ビーム(L2Z)を透過させ,
    二次ビーム(L2)の中心ビーム(L2Z)に隣接する少なくとも1本の周辺ビーム(L2R)を投射光学系(P)における前記領域(ZA)の縁部又は外面から出射させ,
    二次ビーム(L2)の中心ビーム(L2Z)を筒型レンズ(Z)により拡散させ,三次ビーム(L3)の一部(L3Z)又は光学マーク(ML)用のラインマークビーム(LML)として直線状に投射し,
    二次ビーム(L2)における少なくとも1本の周辺ビーム(L2R)を三次ビーム(L3)の一部(L3R)又は光学マーク(MP)用のスポットビーム(LPM)としてスポット状に投射することを特徴とするレーザ装置。
  2. 請求項1記載の装置において,
    投射光学系(P)に含まれる筒型レンズ(Z)に二次ビーム(L2)の少なくとも一部(L2Z)を入射させ,
    投射光学系(P)の前記領域(ZA)を構成する筒型レンズ(Z)の筒型領域(ZA)に,光学マーク(ML)用の二次ビーム(L2)の中心ビーム(L2Z)を直線状に透過させ,
    光学マーク(MP)用の二次ビーム(L2)の中心ビーム(L2Z)に隣接する少なくとも1本の周辺ビーム(L2R)をスポット状に前記筒型領域(ZA)の縁部又は外面から出射させることを特徴とするレーザ装置。
  3. 請求項1〜2の何れか一項に記載の装置において,一次ビーム(L1)を発生するための光源手段(Q)を,コヒーレント光及び/又はモノクローム光の光源で構成したことを特徴とするレーザ装置。
  4. 請求項1〜3の何れか一項に記載の装置において,前記光源手段(Q)をレーザ光源で構成したことを特徴とするレーザ装置。
  5. 請求項1〜4の何れか一項に記載の装置において,前記光源手段(Q)を少なくとも1個のレーザダイオードで構成したことを特徴とするレーザ装置。
  6. 請求項1〜5の何れか一項に記載の装置において,二次ビーム(L2)を形成するために,コリメータ光学系(K)と投射光学系(P)との間に絞り手段(B)を配置したことを特徴とするレーザ装置。
  7. 請求項6記載の装置において,前記絞り手段(B)を二次ビーム(L2)の断面に対して略同軸的に配置される円形絞り又は角形絞りで構成したことを特徴とするレーザ装置。
  8. 請求項1〜7の何れか一項に記載の装置において,筒型レンズ(Z)を,基礎円に対する所定の半径(R)及び対称軸(X)を有する円筒レンズで構成したことを特徴とするレーザ装置。
  9. 請求項1〜8の何れか一項に記載の装置において,筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)を,基礎円の半径(R)の約2倍としたことを特徴とするレーザ装置。
  10. 請求項1〜9の何れか一項に記載の装置において,光源手段(Q),コリメータ光学系(K)及び/又はそれらの相対的な位置関係を,二次ビーム(L2)が長軸(A)及び短軸(B)を有する楕円断面となるように設定したことを特徴とするレーザ装置。
  11. 請求項10記載の装置において,二次ビーム(L2)の断面における長軸(A)を,筒型レンズ(Z)の対称軸(X)に対して略直角に配置したことを特徴とするレーザ装置。
  12. 請求項11記載の装置において,二次ビーム(L2)の断面における長軸(A)の長さを,筒型レンズ(Z)の半径(R)の約8倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約4倍とし,及び/又は,二次ビーム(L2)の断面における短軸(B)の長さを,筒型レンズ(Z)の半径(R)の約2倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の1倍としたことを特徴とするレーザ装置。
  13. 請求項11又は12に記載の装置において,円形絞り(B)を具える場合に,その半径(RkB)を筒型レンズ(Z)の半径(R)の約4倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約2倍とし,角形絞り(B)を具える場合に,筒型レンズ(Z)の対称軸(X)に対して直交する第1縁部(c)の長さを筒型レンズ(Z)の半径(R)の約3倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約1.5倍とし,及び,筒型レンズ(Z)の対称軸(X)に対して平行な第2縁部(d)の長さを筒型レンズ(Z)の半径(R)の約5倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約2.5倍としたことを特徴とするレーザ装置。
  14. 請求項10記載の装置において,二次ビーム(L2)の断面における長軸(A)を,筒型レンズ(Z)の対称軸(X)に対して平行に配置したことを特徴とするレーザ装置。
  15. 請求項14記載の装置において,二次ビーム(L2)の断面における長軸(A)の長さを,筒型レンズ(Z)の半径(R)の約12倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約6倍とし,及び/又は,二次ビーム(L2)の断面における短軸(B)の長さを,筒型レンズ(Z)の半径(R)の約4倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の2倍としたことを特徴とするレーザ装置。
  16. 請求項14又は15に記載の装置において,円形絞り(B)を具える場合に,その半径(RkB)を筒型レンズ(Z)の半径(R)の約4倍又は約6倍,又は,筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約2倍又は約3倍とし,角形絞り(B)を具える場合に,筒型レンズ(Z)の対称軸(X)に対して直交する第1縁部(c)の長さを筒型レンズ(Z)の半径(R)の約3倍又は約6倍,又は,筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約1.5倍又は約3倍とし,筒型レンズ(Z)の対称軸(X)に対して平行な第2縁部(D)の長さを筒型レンズ(Z)の半径(R)の約4倍又は筒型レンズ(Z)の光学的有効径(D)の約2倍としたことを特徴とするレーザ装置。
  17. 請求項1〜16の何れか一項に記載の装置において,筒型レンズ(Z)をその対称軸(X)に対して傾斜した少なくとも1個の端面(A)を有する傾斜円筒レンズで構成し,該端面(A)を鏡面とすると共に該端面(A)において二次ビーム(L2)の少なくとも一部を反射させ,レーザ装置(1)と光学マーク用の三次ビーム(L3Z,LML)とで限定される平面の外側で,別の外部光学マーク(Me)を略スポット状に投射することを特徴とするレーザ装置。
  18. 請求項17記載の装置において,筒型レンズ(Z)の両端面(A)を傾斜鏡面で構成して,2個の外部光学マーク(Me)を略スポット状に投射することを特徴とするレーザ装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008139204A (ja) * 2006-12-04 2008-06-19 Toyo Techno Kk レーザー墨出し器用レーザーヘッド
JP2009288237A (ja) * 2008-05-28 2009-12-10 Muratec-Kds Corp 点および線を同期して表示する装置
JP2013152224A (ja) * 2011-12-23 2013-08-08 Hilti Ag 光学システム

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10344472A1 (de) * 2003-09-25 2005-05-04 Hilti Ag Optischer Strahlteiler
DE202006009807U1 (de) * 2006-06-21 2007-08-02 Horn, Paul Tragbare Nivelliereinrichtung mit einer Projektionseinheit zur Erzeugung zumindest einer Projektionslinie
JP2008171960A (ja) * 2007-01-10 2008-07-24 Canon Inc 位置検出装置及び露光装置
US7992310B2 (en) * 2008-08-13 2011-08-09 Trimble Navigation Limited Reference beam generator and method
DE102009001882A1 (de) * 2009-03-26 2010-09-30 Robert Bosch Gmbh Selbstnivellierendes Linien-Lasergerät
DE102009001878A1 (de) 2009-03-26 2010-09-30 Robert Bosch Gmbh Selbstnivellierendes Mehr-Linien-Lasergerät
CN101957198B (zh) * 2010-08-11 2012-10-03 陆建红 适于点、线激光输出切换的激光放样装置
DE102010063938A1 (de) 2010-12-22 2012-06-28 Hilti Aktiengesellschaft Optisches System zur Strahlformung eines Laserstrahls sowie Lasersystem mit einem solchen optischen System
US9303990B2 (en) 2014-04-11 2016-04-05 Black & Decker Inc. Laser line generating device
WO2017054769A1 (zh) * 2015-09-30 2017-04-06 西安华科光电有限公司 一种辅助图像定位的光学系统
EP3425334B1 (en) 2017-07-07 2022-09-07 Leica Geosystems AG Laser level
JP6987347B2 (ja) * 2018-03-29 2021-12-22 マクセル株式会社 プロジェクタ

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE9307359U1 (ja) * 1993-05-14 1993-07-22 Lap Gmbh Laser Applikationen, 2120 Lueneburg, De
DE4339710C2 (de) * 1993-11-22 1997-02-13 Univ Schiller Jena Optoelektronische Abstandsmeßeinrichtung
DE19533586A1 (de) * 1995-09-01 1997-03-06 Berliner Inst Fuer Optik Gmbh System zur optischen Markierung von Strahlung
US5838431A (en) * 1996-01-16 1998-11-17 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Laser marking device
EP1063684B1 (en) * 1999-01-06 2009-05-13 Nikon Corporation Method for producing a projection optical system
DE10116563B4 (de) * 2001-04-04 2009-05-28 Hilti Aktiengesellschaft Mehrachslaserstrahler mit optischem Strahlteiler

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008139204A (ja) * 2006-12-04 2008-06-19 Toyo Techno Kk レーザー墨出し器用レーザーヘッド
JP2009288237A (ja) * 2008-05-28 2009-12-10 Muratec-Kds Corp 点および線を同期して表示する装置
JP2013152224A (ja) * 2011-12-23 2013-08-08 Hilti Ag 光学システム

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