JP2004266749A

JP2004266749A - 符号誤り率測定器

Info

Publication number: JP2004266749A
Application number: JP2003057371A
Authority: JP
Inventors: Keijiro Koseki; 恵二郎小関
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2003-03-04
Filing date: 2003-03-04
Publication date: 2004-09-24

Abstract

【課題】被測定装置に入力するクロック周波数、パルスマスクをその被測定装置の性能に合わせて柔軟に可変制御できるようにする。
【解決手段】符号データ送信部１１で生成されるランダム符号、固定パターン信号のクロック周波数、掃引時間及び掃引幅をシンセサイザ１２及び周波数掃引部１６を通じて設定処理部１７で設定された任意の値に可変制御する。これにより、被測定装置Ｍの仕様に応じて適切に被測定データ信号の周波数に関する諸元を設定することができる。また、非直線等化特性のアンダーシュート量をパルスマスク制御部１４を通じて設定処理部１７で設定された任意の値に可変制御する。これにより、パルスマスクの規格上限または下限での被測定装置Ｍの性能を確認することができ、評価漏れを防止することができる。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、データ信号等化器、データ通信機器の性能マージン等を評価するための符号誤り率測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、符号誤り率測定器にあっては、被測定装置に入力するクロック信号の周波数が固定となっており、製品の評価を行う際に、そのまま固定クロック周波数で測定したり、外部に接続した信号発生器によりクロック周波数を可変するようにしている。また、パルスマスクについては、公知規格ＣＣＩＴＴ１．４３１で規定する範囲で予め設定した任意の固定パルスマスクのみ扱えるようにしている。
【０００３】
このように、従来の符号誤り測定器では、クロック周波数及びパルスマスクが固定であるため、製品性能評価における性能確認等に多大な時間がかかっており、パルスマスクの上限または下限での被測定装置の性能確認の評価漏れが発生するといった問題も生じている。
【０００４】
尚、符号誤り率測定器に関する先行技術として、特許文献１に、変復調装置の基準搬送波の位相変移確率の測定をベースバンド帯で行うことができる符号誤り率測定器に関する発明が開示され、特許文献２に、主電源が断になったときの処理を主電源の断が発生したときからできるだけ速やかに行う符号誤り率測定装置の発明が開示されている。前者の発明では、被測定装置への符号データ信号の極性に変化を与えることを特徴としているが、本願発明における符号データ信号の周波数、パルスマスクの可変制御に関する技術については触れられていない。また、後者の発明では、測定中に主電源の断が発生したときの退避処理に関する技術であり、本願発明における符号データ信号の周波数、パルスマスクの可変制御に関する技術については触れられていない。
【０００５】
【特許文献１】
特公平６−１８３８４号公報
【０００６】
【特許文献２】
特開平４−３０２５５７号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、被測定装置に入力するクロック周波数、パルスマスクをその被測定装置の性能に合わせて柔軟に可変制御することができ、これによって測定時間の短縮、性能確認の適切な評価を行うことのできる符号誤り測定器を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために本発明に係る符号誤り測定器は、クロック信号から被測定装置に入力する符号データ信号を生成出力する符号データ送信手段と、前記クロック信号を発生しその周波数を設定により可変するクロック発生手段と、前記クロック発生手段の発生クロック周波数を設定する諸元設定手段とを具備して構成される。
【０００９】
この構成により、符号データ送信手段で生成される符号データ信号の基となるクロック信号の周波数を、設定された任意の値に可変制御することができるので、被測定装置の仕様に応じて適切に測定データ信号の周波数に関する諸元を設定することができ、これによって測定効率の向上を図ることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００１１】
図１は本発明に係る符号誤り率測定器の構成を示すブロック図である。図１において、符号データ送信部１１は、シンセサイザ（またはオシレータ）１２で発生されるクロックに基づいて符号データ信号を生成出力する。この符号データ信号としては、ランダム符号、固定パターン信号がある。この送信部１１から出力される符号データ信号は非直線等化生成部１３に供給される。
【００１２】
この非直線等化生成部１３は、パルスマスク制御部１４からの制御に従ってパルス波形のアンダーシュートの深さを調整することで任意の非直線等化特性を与えるもので、この生成部１３から出力される符号データ信号は被測定装置Ｍに入力される。一方、符号データ受信部１５は、被測定装置Ｍで変化を受けた符号データ信号を受信し、その信号波形及び符号誤り率を測定する。この測定結果は、被測定装置Ｍの性能マージン、性能評価の指標として使用される。
【００１３】
さらに、上記シンセサイザ１２は周波数掃引部１６からの指示によって掃引時間、掃引幅の調整が行われる。また、上記シンセサイザ１２のクロック周波数、周波数掃引部１６の掃引時間及び掃引幅、パルスマスク制御部１４のアンダーシュート量は、設定処理部１７によって任意に設定可能とする。
【００１４】
上記非直線等化生成部１３は、具体的には図２（ａ）に示すように伝送路中に並列に可変抵抗素子ＶＲ及び可変誘導素子ＶＬによる直列回路を介在させ、パルスマスク制御部１４で可変抵抗素子ＶＲのインピーダンス及び可変誘導素子ＶＬのインダクタンスを制御することにより、図２（ｂ）に示すように任意のアンダーシュート量が得られる。
【００１５】
上記構成によれば、符号データ送信部１１で生成されるランダム符号、固定パターン信号のクロック周波数、掃引時間及び掃引幅をシンセサイザ１２及び周波数掃引部１６を通じて設定処理部１７で設定された任意の値に可変制御することができるので、被測定装置Ｍの仕様に応じて適切に被測定データ信号の周波数に関する諸元を設定することができる。
【００１６】
また、非直線等化特性のアンダーシュート量をパルスマスク制御部１４を通じて設定処理部１７で設定された任意の値に可変制御することができるので、パルスマスクの規格上限または下限での被測定装置Ｍの性能を確認することができ、評価漏れを防止することができる。
【００１７】
したがって、本測定器を用いることにより、被測定装置Ｍの性能マージンの確保、性能評価再現性の確保、及び評価効率の大幅な向上を図ることができる。
【００１８】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、被測定装置に入力するクロック周波数、パルスマスクをその被測定装置の性能に合わせて柔軟に可変制御することができ、これによって測定時間の短縮、性能確認の適切な評価を行うことのできる符号誤り測定器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る符号誤り測定器の一実施形態の構成を示すブロック図。
【図２】上記実施形態の非直線等化生成部の具体的な構成とそのアンダーシュート制御特性を示す図。
【符号の説明】
Ｍ…被測定装置、１１…符号データ送信部、１２…シンセサイザ（またはオシレータ）、１３…非直線等化生成部、１４…パルスマスク制御部、１５…符号データ受信部、１６…周波数掃引部、１７…設定処理部、ＶＲ…可変抵抗素子、ＶＬ…可変誘導素子。

Claims

クロック信号から被測定装置に入力する符号データ信号を生成出力する符号データ送信手段と、
前記クロック信号を発生しその周波数を設定により可変するクロック発生手段と、
前記クロック発生手段の発生クロック周波数を設定する諸元設定手段とを具備する符号誤り率測定器。
さらに、前記クロック発生手段で発生するクロック信号の掃引時間及び掃引幅の少なくともいずれかを制御する掃引制御手段を備え、
前記諸元設定手段は、さらに前記掃引制御手段の掃引時間及び掃引幅の少なくともいずれかを設定することを特徴とする請求項１記載の符号誤り測定器。
さらに、前記符号データ送信手段が出力される符号データ信号のパルス波形にパルスマスクによる非直線等化特性を与える非直線等化手段と、
前記パルスマスクによる非直線等化特性のアンダーシュート量を制御するパルスマスク制御手段とを備え、
前記諸元設定手段は、さらに前記パルスマスク制御手段のアンダーシュート量を任意に設定することを特徴とする請求項１記載の符号誤り測定器。