JP2004253123A - (n/2)ステージを有するアドレスバッファ - Google Patents

(n/2)ステージを有するアドレスバッファ Download PDF

Info

Publication number
JP2004253123A
JP2004253123A JP2004040317A JP2004040317A JP2004253123A JP 2004253123 A JP2004253123 A JP 2004253123A JP 2004040317 A JP2004040317 A JP 2004040317A JP 2004040317 A JP2004040317 A JP 2004040317A JP 2004253123 A JP2004253123 A JP 2004253123A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
signal
address buffer
gate
flip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004040317A
Other languages
English (en)
Inventor
Joon-Wan Chai
準 完 蔡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2004253123A publication Critical patent/JP2004253123A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

【課題】 (N/2)ステージを有するアドレスバッファを提供する。
【解決手段】 N(Nは自然数)個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファは、直列に接続される(N/2)個のフリップフロップと、クロック信号及び命令信号に応答してアドレスイネーブル信号を発生するアドレス制御回路とを備え、前記(N/2)個のフリップフロップの各々は前記アドレスイネーブル信号にクロックされて外部アドレスを順次にラッチする。本発明によるN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファは、(N/2)のステージだけを有してNステージアドレスバッファと同じ機能となる。
【選択図】 図3

Description

本発明は半導体装置に使われるアドレスバッファに係り、より詳細には(N/2)ステージだけをもってN個のアディティブレイテンシを処理するアドレスバッファに関する。
帯域幅を広くするために高速半導体メモリ装置は、データ書込み動作時またはデータ読出し動作時にデータを人為的に遅延させる手法を使用する。このような手法をアディティブレイテンシという。
図1は、アディティブレイテンシの概念を説明するためのタイミング図を示す。
図2は、従来のN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファの回路図を示す。図2を参照すれば、アドレスバッファ200は、N個のフリップフロップ210_1,210_2,...,210_nが相互に直列に接続され、各フリップフロップ210_1,210_2,...,210_nは、クロック信号CLKに応答して外部アドレスADDを順次にラッチする。
図1及び図2を参照すれば、PCR(Posted CAS<Column Address Strobe> Read)命令が入力される場合、アディティブレイテンシを使用する高速半導体メモリ装置で実際のデータの読出しはアディティブレイテンシ(AL=2)及びCASレイテンシ(CL=3)の経過後に行われる。この場合、アドレスは総レイテンシ(RL=5)だけ遅延されて出力される。
したがって、半導体メモリ装置にN個のアディティブレイテンシが存在する場合、図2に示されたようなNステージフリップフロップよりなるアドレスバッファが必要である。各フリップフロップ210_1,210_2,...,210_nは、連続的に入力されるPCR命令のアドレスを保存する。
しかし、一般的な設計明細書のPCR命令とPCR命令との間隔DALは2クロックサイクル(2CK)以上であるので、アドレスバッファ200の全てのステージにアドレスが保存される場合はない。すなわち、アドレスバッファ200に最大限にアドレスが保存される場合、(N/2)ステージだけ必要であるので、N/2のステージは不要である。
しかし、図2に示したアドレスバッファ200のステージを(N/2)に減らした場合は、N個のアディティブレイテンシを確保できないので、回路が正常に動作しない場合が発生する。
本発明が解決しようとする技術的な課題は、(N/2)のステージだけを有してNステージアドレスバッファと同じ機能となるアドレスバッファを提供することにある。
前記課題を達成するためのN(Nは自然数)個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファは、直列に接続される(N/2)個のフリップフロップと、クロック信号及び命令信号に応答してアドレスイネーブル信号を発生するアドレス制御回路とを備え、前記(N/2)個のフリップフロップの各々は前記アドレスイネーブル信号にクロックされて外部アドレスを順次にラッチする。
前記アドレス制御回路は、前記クロック信号に応答するNビットカウンタと、前記Nビットカウンタの出力信号を受信して論理積する論理積ゲートと、前記命令信号及び前記論理積ゲートの出力信号を受信して論理和し、その結果として前記アドレスイネーブル信号を出力する論理和ゲートとを備える。
前記課題を達成するためのN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファは、クロック信号に応答するNビットカウンタと、前記Nビットカウンタの出力信号を受信して論理積する論理積ゲートと、命令信号及び前記論理積ゲートの出力信号を受信して論理和する論理和ゲートと、直列に接続される(N/2)個のフリップフロップとを備え、前記(N/2)個のフリップフロップの各々は前記論理和ゲートの出力信号にクロックされて外部アドレスをラッチして出力する。
前記Nビットカウンタは、前記命令信号に応答してリセットされ、前記命令信号は書込み命令または読出し命令に応答して活性化される。
本発明によるN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファは、(N/2)のステージだけを有してNステージアドレスバッファと同じ機能となる利点がある。すなわち、Nステージバッファを(N/2)ステージバッファに減らす効果がある。
以下、添付した図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。
図3は、本発明の実施形態によるN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファのブロック図を示す。図3を参照すれば、N個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファ300は、アドレス制御回路310及びシフティング回路320を備える。
アドレス制御回路310は、Nビットカウンタ311、論理積ゲート313及び論理和ゲート315を備える。Nビットカウンタ311は、クロック信号CLKにクロックされてNビットのカウント値CNT1,CNT2,...,CNTnを論理積ゲート313に出力する。
Nビットカウンタ311は、命令信号CM_ENの下降エッジに応答してリセットされる。ここで、命令信号CM_ENは、書込み命令または読出し命令が入力された時に活性化される。
論理積ゲート313は、Nビットカウンタ311の出力信号CNT1,CNT2,...,CNTnを受信して論理積(AND)し、その結果を論理和ゲート315に出力する。
論理和ゲート315は、命令信号CM_EN及び論理積ゲート313の出力信号を受信して論理和(OR)し、その結果ADD_ENをアドレスイネーブル信号としてシフティング回路320に出力する。
シフティング回路320は、直列に接続される多数のフリップフロップ321,323,...,325を備える。第一ステージのフリップフロップ321は、アドレスイネーブル信号ADD_ENに応答してアドレスADDをラッチし、第二ステージのフリップフロップ323はアドレスイネーブル信号ADD_ENに応答してフリップフロップ321の出力信号をラッチする。
そして、(N/2)ステージのフリップフロップ325は、アドレスイネーブル信号ADD_ENに応答して((N/2)−1)ステージのフリップフロップ(図示せず)の出力信号をバッファされたアドレス信号BF_ADDとして出力する。
すなわち、直列に接続される(N/2)個のフリップフロップ321,323,...,325の各々は外部から入力されるアドレスADDをアドレスイネーブル信号ADD_ENが活性化される度に順次にシフティングさせる。ここで、各フリップフロップをステージとも言う。
図4は、図3に示されたアドレス制御回路310の動作タイミングを示す。図4は、アディティブレイテンシが2である場合を示す。しかし、本発明によるアドレスバッファはアディティブレイテンシが2である場合に限定されない。
図3及び図4を参照すれば、CMD&ADDでWR_Aは書込み命令WR及びアドレスAを示し、WR_Bは書込み命令WR及びアドレスBを示し、WR_Cは書込み命令WR及びアドレスCを示す。
Nビットカウンタ311が2ビットカウンタであり、3つの書込み命令WR_A,WR_B,WR_Cが連続的に入力される場合を説明すれば、次の通りである。
2ビットカウンタ311は、WR_Aに応答してリセットされて動作するので、2ビットカウンタ311の出力信号が11である場合、論理和ゲート315の出力信号ADD_ENは活性化される。したがって、第一ステージのフリップフロップ321は、活性化されたアドレスイネーブル信号ADD_ENに応答して外部アドレスADDをラッチする。
命令信号CM_ENが非活性化(例えば、論理ロー)され、2ビットカウンタ311の出力信号が10である場合、論理積ゲート313の出力信号は非活性化される。したがって、論理和ゲート315の出力信号ADD_ENは、非活性化される。
WR_Bが入力される場合の動作は、WR_Aが入力される場合の動作と実質的に同じであるので、これについての詳細な説明は省略する。
WR_Cが入力される場合、2ビットカウンタ311はクロック信号CLKの上昇エッジに応答してカウント値CNT1,CNT2を出力する。論理和ゲート315は、命令信号CM_ENと論理積ゲート313の出力信号の組み合わせによるアドレスイネーブル信号ADD_ENを各フリップフロップ321,323,...,325に出力する。
すなわち、論理積ゲート313及び論理和ゲート315は、カウンタ311の出力信号CNT1,CNT2,...,CNTnを受信し、デコーディングして有効アドレスが入力される時点にアドレスイネーブル信号ADD_ENを活性化させる。
したがって、アドレスイネーブル信号ADD_ENは、有効アドレスが入力される時点でだけ活性化されるので、シフティング回路320に使われるフリップフロップの数を減少させうる。したがって、アドレスバッファのレイアウト面積は狭くなる。
以上、本発明の一実施形態を説明したが、これは例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これから多様な変形及び均等な他の実施形態が可能であることが分かる。したがって、本発明の真の技術的な保護範囲は特許請求の範囲の技術的思想によって決まらなければならない。
本発明のアドレスバッファは、N個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使用されうる。
アディティブレイテンシの概念を説明するためのタイミング図である。 従来のN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファの回路図である。 本発明の実施形態によるN個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファのブロック図である。 図3に示されたアドレス制御回路の動作タイミング図である。
符号の説明
300 アドレスバッファ
310 アドレス制御回路
311 Nビットカウンタ
313 論理積ゲート
315 論理和ゲート
320 シフティング回路
321,323,325 フリップフロップ
CM_EN 命令信号
CLK クロック信号
CNT1,CNT2,...,CNTn Nビットカウント値
ADD_EN アドレスイネーブル信号
ADD アドレス
BF_ADD バッファされたアドレス信号

Claims (7)

  1. N(Nは自然数)個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファにおいて、
    直列に接続される(N/2)個のフリップフロップと、
    クロック信号及び命令信号に応答してアドレスイネーブル信号を発生するアドレス制御回路とを備え、
    前記(N/2)個のフリップフロップの各々は前記アドレスイネーブル信号にクロックされて外部アドレスを順次にラッチすることを特徴とするアドレスバッファ。
  2. 前記アドレス制御回路は、
    前記クロック信号に応答するNビットカウンタと、
    前記Nビットカウンタの出力信号を受信して論理積する論理積ゲートと、
    前記命令信号及び前記論理積ゲートの出力信号を受信して論理和し、その結果として前記アドレスイネーブル信号を出力する論理和ゲートと
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のアドレスバッファ。
  3. 前記Nビットカウンタは、前記命令信号に応答してリセットされることを特徴とする請求項2に記載のアドレスバッファ。
  4. 前記命令信号は、データ書込み命令またはデータ読出し命令に応答して活性化されることを特徴とする請求項1に記載のアドレスバッファ。
  5. N個のアディティブレイテンシを有する半導体装置に使われるアドレスバッファにおいて、
    クロック信号に応答するNビットカウンタと、
    前記Nビットカウンタの出力信号を受信して論理積する論理積ゲートと、
    命令信号及び前記論理積ゲートの出力信号を受信して論理和する論理和ゲートと、
    直列に接続される(N/2)個のフリップフロップとを備え、
    前記(N/2)個のフリップフロップの各々は前記論理和ゲートの出力信号にクロックされて外部アドレスをラッチして出力することを特徴とするアドレスバッファ。
  6. 前記Nビットカウンタは、前記命令信号に応答してリセットされることを特徴とする請求項5に記載のアドレスバッファ。
  7. 前記命令信号は、書込み命令または読出し命令に応答して活性化されることを特徴とする請求項5に記載のアドレスバッファ。
JP2004040317A 2003-02-17 2004-02-17 (n/2)ステージを有するアドレスバッファ Pending JP2004253123A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2003-0009808A KR100532421B1 (ko) 2003-02-17 2003-02-17 (n/2)스테이지를 갖는 어드레스 버퍼

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004253123A true JP2004253123A (ja) 2004-09-09

Family

ID=32822705

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004040317A Pending JP2004253123A (ja) 2003-02-17 2004-02-17 (n/2)ステージを有するアドレスバッファ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6914850B2 (ja)
JP (1) JP2004253123A (ja)
KR (1) KR100532421B1 (ja)
DE (1) DE102004005275A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7061823B2 (en) * 2004-08-24 2006-06-13 Promos Technologies Inc. Limited output address register technique providing selectively variable write latency in DDR2 (double data rate two) integrated circuit memory devices
JP2007095257A (ja) * 2005-09-28 2007-04-12 Hynix Semiconductor Inc 半導体メモリ素子の内部アドレス生成装置
JP2007141439A (ja) * 2005-11-19 2007-06-07 Samsung Electronics Co Ltd レイテンシー制御回路及びその方法、そして、自動プリチャージ制御回路及びその方法
US7280430B2 (en) 2005-04-30 2007-10-09 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device
US7283421B2 (en) 2005-04-30 2007-10-16 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100671747B1 (ko) * 2006-01-04 2007-01-19 삼성전자주식회사 개선된 애디티브 레이턴시를 가진 메모리 시스템 및제어방법
KR100807236B1 (ko) 2006-03-08 2008-02-28 삼성전자주식회사 입력 레이턴시 제어회로를 포함하는 반도체 메모리 장치 및입력 레이턴시 제어방법
KR100746229B1 (ko) 2006-07-07 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03180933A (ja) * 1989-12-08 1991-08-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd スタックメモリ
JP2003223783A (ja) * 2002-01-28 2003-08-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7061823B2 (en) * 2004-08-24 2006-06-13 Promos Technologies Inc. Limited output address register technique providing selectively variable write latency in DDR2 (double data rate two) integrated circuit memory devices
US7280430B2 (en) 2005-04-30 2007-10-09 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device
US7283421B2 (en) 2005-04-30 2007-10-16 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device
JP2007095257A (ja) * 2005-09-28 2007-04-12 Hynix Semiconductor Inc 半導体メモリ素子の内部アドレス生成装置
JP2007141439A (ja) * 2005-11-19 2007-06-07 Samsung Electronics Co Ltd レイテンシー制御回路及びその方法、そして、自動プリチャージ制御回路及びその方法
US7609584B2 (en) 2005-11-19 2009-10-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Latency control circuit and method thereof and an auto-precharge control circuit and method thereof
US7911862B2 (en) 2005-11-19 2011-03-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Latency control circuit and method thereof and an auto-precharge control circuit and method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR20040074283A (ko) 2004-08-25
KR100532421B1 (ko) 2005-11-30
US6914850B2 (en) 2005-07-05
US20040160843A1 (en) 2004-08-19
DE102004005275A1 (de) 2004-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11150686B2 (en) Apparatuses for reducing clock path power consumption in low power dynamic random access memory
US6327175B1 (en) Method and apparatus for controlling a memory array with a programmable register
US20060104150A1 (en) Semiconductor memory device
US7227812B2 (en) Write address synchronization useful for a DDR prefetch SDRAM
US7379376B2 (en) Internal address generator
US11625196B2 (en) Semiconductor memory device and operating method thereof
US8483005B2 (en) Internal signal generator for use in semiconductor memory device
US8230140B2 (en) Latency control circuit and method using queuing design method
JP2004253123A (ja) (n/2)ステージを有するアドレスバッファ
US6166970A (en) Priority determining apparatus using the least significant bit and CAS latency signal in DDR SDRAM device
US8929172B2 (en) Pipe register circuit and semiconductor memory apparatus having the same
KR20000045402A (ko) 라이트 명령어 레이턴시회로 및 그 제어방법
US7251172B2 (en) Efficient register for additive latency in DDR2 mode of operation
JP4757582B2 (ja) データ転送動作終了検知回路及びこれを備える半導体記憶装置
US7577057B2 (en) Circuit and method for generating write data mask signal in synchronous semiconductor memory device
US7813217B2 (en) Semiconductor memory device and method for operating the same
KR20030039179A (ko) 싱글 엔디드 스트로브 모드와 디퍼렌셜 스트로브 모드상호간의 모드 변환이 가능한 동기식 반도체 메모리 장치
KR100593442B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 라이트 및 리드방법
US8059483B2 (en) Address receiving circuit for a semiconductor apparatus
US20210303215A1 (en) Memory controller, memory, and related memory system
KR100976406B1 (ko) 플립플롭 및 그를 포함하는 반도체 메모리 장치
TWI771785B (zh) 資料先進先出(fifo)電路
KR100967105B1 (ko) 모드레지스터를 구비하는 반도체 메모리 소자 및 그 설정방법
JP2008117461A (ja) 半導体集積回路装置
JP2010003341A (ja) 半導体メモリ、システムおよび半導体メモリの動作方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051207

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080819

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081126

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090609