JP2004219813A - 感光性樹脂組成物 - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、解像度の高いパターンを形成可能な感光性樹脂組成物、および前記感光性樹脂組成物を用い、パターンを形成することを特徴とするマイクロデバイスの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体デバイスの高集積化が求められ、微細加工技術の開発が進められている。形成しようとするパターンが微細になるとともに、パターンエッジのがたつき(以下ラインエッジラフネス;LER)が製造する半導体デバイスの性能に影響を及ぼすようになってきている。このような観点から業界の標準的な指標としてInternational Technology Roadmap for Semiconductor(以下ITRS)が発行している微細パターンにおけるLERの目標値として2003年に4nm、2005年には3nmが掲げられている。
【0003】
90nm以下の微細パターン形成を実現するためには、これまで用いられている紫外線を使用した露光法では光の回折の限界に達していることから、X線あるいは電子線等を用いた露光方法が有利であるとされている。しかしながらX線、電子線露光では、これらがレジスト中に照射されて原子と衝突することにより2次電子が発生し、これが多方向に散乱されることが知られている。この散乱電子によって像のぼけが生ずることになり、本来の光学像コントラストが悪化する。これによりLERが増大する。
【0004】
レジストが2次電子の散乱を抑制することができればX線あるいは電子線が本来有している高い光学像コントラストを生かして、小さなLERを有した微細パターンを形成することが可能となる。
【0005】
X線照射によりハロゲン化水素を発生するビニルフェノール樹脂、例えば芳香環に臭素を含有するビニルフェノール樹脂と酸硬化性架橋剤からなる感光性樹脂組成物が知られている(例えば、特許文献1参照)。
【0006】
これらの感光性樹脂組成物はハロゲン原子、特に臭素をレジスト中に含有させることによりX線の吸収を増大させてレジスト感度を向上させようとする目的でなされたものであるが、微細パターン形成の際に問題となるLERの低減についてはなんら知見がなく、この課題に対しては解決には至っていない。
【0007】
一般的に、樹脂中に臭素を含有させると、樹脂の比重が増加することが知られている。ここで課題としている二次電子の散乱距離は樹脂の比重に反比例して小さくなることも知られていることから、樹脂中に臭素を含有させることは二次電子の散乱距離を抑制する有効な手段である。
【0008】
しかしながら、臭素を樹脂中に導入する方法としては、例えばベンゼン環上の水素と置換や、アルキル炭素の水素原子1つあるいは2つを臭素原子に置換する方法が考えられるが、このような方法ではこれらの臭素原子と炭素原子の結合強度が弱いために、X線あるいは電子線の照射によってこれらの結合は容易に解離するため、パターン形成の際に重要な樹脂の溶解速度が低下してしまうことになり、LERを低減することはできない。
【0009】
【特許文献1】
特開平7−325401号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、解像度の高いパターンを形成可能な感光性樹脂組成物、および前記感光性樹脂組成物を用い、パターンを形成することを特徴とするマイクロデバイスの製造方法を提供する。
【0011】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明は、一般式(1):
【0012】
【化2】
【0013】
(R1〜R3は、同じかまたは異なり、炭素数1または2の臭素置換アルキル基、アルキル基、水素原子である。ただし、少なくともR1〜R3のうちいずれか一つは、炭素数1または2の臭素置換アルキル基である。)
で示される樹脂、酸により活性化されて一般式(1)で示される樹脂を架橋する酸硬化性架橋剤、およびX線あるいは電子線の照射により酸を発生する光酸発生剤からなる感光性樹脂組成物に関する。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明は、一般式(1):
【0015】
【化3】
【0016】
(R1〜R3は、同じかまたは異なり、炭素数1または2の臭素置換アルキル基、アルキル基、水素原子である。ただし、少なくともR1〜R3のうちいずれか一つは、炭素数1または2の臭素置換アルキル基である。)
で示される樹脂、酸により活性化されて一般式(1)で示される樹脂を架橋する酸硬化性架橋剤、およびX線あるいは電子線の照射により酸を発生する光酸発生剤からなる感光性樹脂組成物である。
【0017】
つまり、本発明の感光性樹脂組成物においては、一般式(1):
【0018】
【化4】
【0019】
(R1〜R3は、同じかまたは異なり、炭素数1または2の臭素置換アルキル基、アルキル基、水素原子である。ただし、少なくともR1〜R3のうちいずれか一つは、炭素数1または2の臭素置換アルキル基である。)
で示されるように臭素置換アルキル基を有することにより樹脂中に高い濃度で臭素を含有させることができるために、感光性樹脂組成物からなる膜の比重が増加し、二次電子の散乱を抑制させる効果がある。
【0020】
炭素数1または2の臭素置換アルキル基としては、トリブロモメチル基、トリブロモエチル基、ペンタブロモエチル基などがあげられる。その中でも、現像液への溶解性に優れているという点からトリブロモメチル基が好ましい。
【0021】
本発明の感光性樹脂組成物において、臭素置換アルキル基を含有させる方法としては、ノボラック樹脂中の置換基として含有させる方法が最も効果的である。
【0022】
本発明で用いられる臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂は、フェノール類と臭素置換アルキル基を含有するケトン系化合物と縮合反応により得ることができる。
【0023】
臭素置換アルキル基を含有するケトン系化合物としては、ブロマール、1,1,1−トリブロモアセトン、または1,1,1,2,2,2−へキサブロモアセトンなどがあげられる。これらの中でも、合成された樹脂の現像液への溶解性の点で、ブロマール、1,1,1,2,2,2−ヘキサブロモアセトンが好ましい。
【0024】
また、本発明で用いられる臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂は、臭素置換アルキル基を有するフェノール化合物とホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセトンなどを縮合させることによっても得ることができる。
【0025】
上記臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂の重量平均分子量は、1000〜10000が好ましく、1500〜5000がより好ましい。1000未満では均一な塗膜が得られにくい傾向にあり、10000を超えると現像時に露光部の溶解性が低下する傾向にある。
【0026】
上記臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂の臭素原子含有率は、10〜70重量%であることが好ましく、35〜50重量%であることがより好ましい。10重量%未満であると2次電子の飛程が長くなることで、解像性が劣化する傾向にあり、70重量%をこえると現像液への溶解性が低下して解像力が低下する傾向にある。
【0027】
本発明の酸硬化性架橋剤は、酸により活性化されて一般式(1)を架橋する。
具体的には、メトキシメチル化エチレン尿素、エトキシメチル化エチレン尿素、プロポキシメチル化エチレン尿素、ブトキシメチル化エチレン尿素、メトキシメチル化グリコールウリル、エトキシメチル化グリコールウリル、プロポキシメチル化グリコールウリル、ブトキシメチル化グリコールウリル、メトキシメチル化メラミン、エトキシメチル化メラミン、プロポキシメチル化メラミン、ブトキシメチル化メラミンなどがあげられ、これらは単独または2種以上を混合して用いることができる。
【0028】
酸硬化性架橋剤の添加量は、臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂100重量部当たり、3〜60重量部好ましく、5〜30重量部がより好ましい。3重量部未満では、架橋反応を充分進行させることが困難となり、レジストとして、残膜率が低下したり、レジストパターンの膨潤や蛇行を起こしやすくなる傾向があり、60重量部を超えると、レジストとしての解像度が低下する傾向がある。
【0029】
本発明の光酸発生剤は、感光性樹脂組成物に吸収されたX線および電子線により活性化されて酸を発生するものである。
【0030】
具体的には、α−フェニルスルホニルアセトフェノン、α−(p−トルエンスルホニル)アセトフェノン、トリブロモメチルフェニルスルホン、トリブロモメチル(p−メチルフェニル)スルホン、2,2−ビス(ブロモメチル)−1,3−プロパンジオール、2−(4−メトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(2−メトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(4−ペンチルオキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(4−ブチルオキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(3−クロロ−4−メトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(2,5−ジメトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(3,4−ジメトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、トリス(2,3−ジブロモプロピル)イソシアヌレート、α,α,α−トリブロモメチルフェニルスルホン、トリブロモペンチルアルコール、2,2−ビス(ブロモメチル)−1,3−プロパンジオール、ペンタエリスリトールテトラブロマイド、2−ブロモメチル−2−ヒドロキシメチル−1,3−プロパンジオール、ヘキサブロモヘキサン、ヘキサブロモヘプタン、ヘキサブロモシクロドデカン、テトラブロモ−o−クレゾール、テトラブロモビスフェノールA−ビスヒドロキシエチルエーテル、2,4−ジブロモ−2,4−ジメチル−3−ペンタノン、ペンタエリスリトールテトラクロリド、フェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、メトキシフェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、ナフチル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、1,1−ビス(4−クロロフェニル)−2,2,2−トリクロロエタン、ヘキサヨードヘキサン、p−ジヨードベンゼン、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタン、4−トリスフェナシルスルホン、ベンゾイントシレート、ピロガロールのトリストリフレート、ニトロベンジル−9,10−ジエトキシアントラセン−2−スルホネート、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)マレイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)フタルイミド、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタン、4−トリスフェナシルスルホン、ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、ジフェニルヨードニウムピレンスルホネート、ジフェニルヨードニウムドデシルベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウムトリフレート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムナフタレンスルホネート、(ヒドロキシフェニル)ベンジルメチルスルホニウムトルエンスルホネートなどがあげられ、これらは単独または2種以上を混合して用いることができる。
【0031】
光酸発生剤の添加量は、臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂100重量部当たり、0.01〜20重量部が好ましく、2〜10重量部がより好ましい。この範囲を外れると、パターン形状が劣化する傾向がある。
【0032】
なお、本発明の感光性樹脂組成物は、解像度を向上するために、酸の拡散を抑制する塩基性化合物を含むことが好ましい。
【0033】
塩基性化合物としては、n−ヘキシルアミン、n−ヘプチルアミン、n−オクチルアミン、n−ノニルアミン、n−デシルアミン、ジ−n−ブチルアミン、ジ−n−ペンチルアミン、ジ−n−ヘキシルアミン、ジ−n−ヘプチルアミン、ジ−n−オクチルアミン、ジ−n−ノニルアミン、ジ−n−デシルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン、トリ−n−ヘプチルアミン、トリ−n−オクチルアミン、トリ−n−ノニルアミン、トリ−n−デシルアミン、N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、2−メチルアニリン、3−メチルアニリン、4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、ナフチルアミン、ジフェニルアミン、トリフェニルアミン、エチレンジアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルエチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノジフェニルアミン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2−(3−アミノフェニル)−2−(4−アミノフェニル)プロパン、2−(4−アミノフェニル)−2−(3−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(4−アミノフェニル)−2−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、1,4−ビス〔1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル〕ベンゼン、1,3−ビス〔1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル〕ベンゼン、イミダゾール、ベンズイミダゾール、4−メチルイミダゾール、4−メチル−2−フェニルイミダゾールなどのイミダゾール類;ピリジン、2−メチルピリジン、4−メチルピリジン、2−エチルピリジン、4−エチルピリジン、2−フェニルピリジン、4−フェニルピリジン、N−メチル−4−フェニルピリジン、ニコチン、ニコチン酸、ニコチン酸アミド、キノリン、8−オキシキノリン、アクリジン、ピラジン、ピラゾール、ピリダジン、キノザリン、プリン、ピロリジン、ピペリジン、モルホリン、4−メチルモルホリン、ピペラジン、1,4−ジメチルピペラジンまたは1,4−ジアザビシクロ[2,2,2]オクタンなどがあげられ、これらは単独または2種以上を混合して使用することができる。
【0034】
酸の拡散を抑制する塩基性化合物は、臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂100重量部当たり、0.01〜10重量部が好ましく、0.05〜5重量部がより好ましい。0.01重量部未満では、プロセス条件によっては、レジストとしてのパターン形状や寸法均一性が低下するおそれがあり、10重量部を超えると、レジストとしての感度や現像性が低下する傾向がある。
【0035】
本発明のマイクロデバイスの製造方法を説明する。
【0036】
上記感光性樹脂組成物をレジスト材料として用いるために、上記感光性樹脂組成物を5〜30重量%になるように、溶剤に溶解する。
【0037】
上記溶剤としては特に限定はないが、上記樹脂を均一に溶解されるものを用いる。
【0038】
具体的にはエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジプロピルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジプロピルエーテル、プロピレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノブチルエーテルアセテートなどのプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸プロピル、乳酸ブチル、乳酸アミル、ぎ酸メチル、ぎ酸エチル、ぎ酸プロピル、ぎ酸ブチル、ぎ酸アミル、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、酢酸ヘキシル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロピル、プロピオン酸ブチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチル酪酸メチル、メトキシ酢酸エチル、エトキシ酢酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシ−2−メチルプロピオン酸メチル、3−メトキシブチルアセテート、3−メチル−3−メトキシブチルアセテート、3−メトキシ−3−メチルプロピオン酸ブチル、3−メトキシ−3−メチル酪酸ブチル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、メチルプロピルケトン、メチルブチルケトン、2−ヘプタノン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、シクロヘキサノン、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、γ−ラクトン、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、しゅう酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、炭酸エチレンまたは炭酸プロピレンなどがあげられるが、これらの中でも、沸点が100〜220℃の範囲である溶媒が好ましい。
【0039】
沸点が100℃未満では塗布したときにムラができやすく、220℃より高いものでは溶媒の乾燥が容易ではない。
【0040】
半導体基板上に上記レジスト材料をスピンコート法、バーコート法、インクジェット法などにより塗布し、均一の膜を得、プリベイクを行い、感光性樹脂組成物の膜を形成する。
【0041】
この膜に、X線、電子線、イオンビームなどの放射線を照射した後、加熱し、放射線照射部を不溶化させ、現像処理により放射線未照射部を溶解させ、高解像度のパターン形成を行う。
【0042】
前記半導体基板としては、目的とするデバイスによるため特に限定はされないが、シリコンウェハ、GaAs、InPなどがあげられる。
【0043】
前記感光性樹脂組成物の膜厚は、20〜700nmが好ましく、より好ましくは、50〜500nmである。膜厚が20nm未満であると、膜にピンホールが発生しやすくなる傾向にあり、700nmをこえると形成されるパターンが倒壊しやすくなる傾向にある。
【0044】
前記放射線照射条件は、X線の場合、平均波長は、0.2〜1.5nmが好ましく、照射量としては、10〜500mJ/cm2が好ましく、電子線の場合、加速圧力1〜100kVが好ましく、照射量は、0.1〜50uC/cm2が好ましい。
【0045】
照射条件が、この範囲を外れると、解像力が低下する傾向がある。
【0046】
また、マスクと基板の距離は、2〜50μmであることが好ましい。
【0047】
上記加熱条件としては、70〜150℃で、30〜180秒間であることが好ましい。加熱条件が、この範囲を外れると、解像力が低下する傾向にある。
【0048】
前記高解像度とは、解像度150nm以下が好ましく、より好ましくは100nm以下である。
【0049】
レジストの現像液としては一般的なアルカリ水溶液を使用することができる。
【0050】
具体的には水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、珪酸ナトリウム、メタ珪酸ナトリウム、アンモニア水、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、テトラプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、コリン、ピロール、ピペリジン、1,8−ジアザビシクロ−[5,4,0]−7−ウンデセンまたは1,5−ジアザビシクロ−[4,3,0]−5−ノネンなどがあげられる。
【0051】
上記のパターン形成方法を用いて、例えばポリカーボネート製の基板上に、SiN等の下地誘電体層およびTbFeCo等の磁性材料を成膜したものを用いれば光磁気ディスクを製造することができ、アルミニウム基板上にNi−Pなどを成膜したものを用いればハードディスクを製造することができる。
【0052】
なお、本発明では、解像度90nm以下のLERの小さな微細パターンを用いることができるので、安定した特性の大容量デバイスの製造が可能である。
【0053】
本発明の感光性樹脂組成物からなるパターンのLERは、5nm以下であることが好ましく、より好ましくは4nm以下である。LERが5nmをこえると、デバイス特性にばらつきを生ずる傾向にある。
【0054】
【実施例】
以下、本発明の実施例を述べるが、本発明はこれにより限定されるものではない。
【0055】
(LER測定)
電子顕微鏡(日立製作所(株)製S−9200)の測長機能を用いてLERを測定した。
【0056】
実施例1
m−クレゾールとブロマールを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2500)100重量部、酸硬化性架橋剤であるジメトキシメチル化エチレン尿素を含む尿素樹脂(商品名:ニカラックMX−280、三和ケミカル(株)製)を10重量部、光酸発生剤であるトリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネートを3重量部、および酸の拡散を抑制する塩基性化合物であるトリエタノールアミンを0.2重量部混合して本発明の実施例の感光性樹脂組成物を得る。この感光性樹脂組成物を、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解し、シリコンウェハ上へスピンコート法により塗布して膜厚150nmのレジスト膜を得た。
【0057】
生成したレジスト膜に平均波長0.4nmのX線をメンブレン材料がダイヤモンドで吸収体がタングステンからなるマスクを介して40mJ/cm2照射した。このときウェハとマスク間の距離は10μmとなるように設定した。X線照射後、110℃で90秒間加熱した後、2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で現像して、90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0058】
実施例2
実施例1において使用した感光性樹脂組成物をX線の代わりに加速電圧50kVの電子線を15uC/cm2照射して実施例1と同じように90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0059】
実施例3
ノボラック樹脂として、フェノールとブロマール、ホルムアルデヒド(1:1)を縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2800)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0060】
生成した膜に、X線を50mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0061】
実施例4
ノボラック樹脂として、m−クレゾールと1,1,1−トリブロモアセトンを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量3100)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0062】
生成した膜に、X線を60mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0063】
実施例5
ノボラック樹脂として、m−トリブロモメチルフェノールとアセトアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量3200)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0064】
生成した膜に、実施例2と同様の電子線を18uC/cm2照射照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0065】
実施例6
ノボラック樹脂として、m−トリブロモメチルフェノールとブルマール、ホルムアルデヒド(1:1)を縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2900)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0066】
生成した膜に、X線を50mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0067】
比較例1
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−クレゾールとホルムアルデヒドから得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2600)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0068】
生成した膜に、X線を150mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0069】
比較例2
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−ブロモフェノールとホルムアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量3300)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0070】
生成した膜に、X線を80mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0071】
比較例3
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−クレゾールと2−ブロモアセトアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量4100)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0072】
生成した膜に、X線を70mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0073】
比較例4
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−クレゾールと2,2−ジブロモアセトアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量4000)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0074】
生成した膜に、X線を60mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0075】
【表1】
【0076】
表1より、臭素置換アルキル基を有するノボラック樹脂を用いることによりLERは低減することがわかる。
【0077】
【発明の効果】
本発明の感光性樹脂組成物は、一般式(1)で示される樹脂、酸により活性化されて一般式(1)で示される樹脂を架橋する酸硬化性架橋剤、X線あるいは電子線の照射により酸を発生する光酸発生剤からなるもので、LERの小さなパターンを形成でき、そのパターンを用いて加工したマイクロデバイスの特性は、安定であるという効果がある。
【発明の属する技術分野】
本発明は、解像度の高いパターンを形成可能な感光性樹脂組成物、および前記感光性樹脂組成物を用い、パターンを形成することを特徴とするマイクロデバイスの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体デバイスの高集積化が求められ、微細加工技術の開発が進められている。形成しようとするパターンが微細になるとともに、パターンエッジのがたつき(以下ラインエッジラフネス;LER)が製造する半導体デバイスの性能に影響を及ぼすようになってきている。このような観点から業界の標準的な指標としてInternational Technology Roadmap for Semiconductor(以下ITRS)が発行している微細パターンにおけるLERの目標値として2003年に4nm、2005年には3nmが掲げられている。
【0003】
90nm以下の微細パターン形成を実現するためには、これまで用いられている紫外線を使用した露光法では光の回折の限界に達していることから、X線あるいは電子線等を用いた露光方法が有利であるとされている。しかしながらX線、電子線露光では、これらがレジスト中に照射されて原子と衝突することにより2次電子が発生し、これが多方向に散乱されることが知られている。この散乱電子によって像のぼけが生ずることになり、本来の光学像コントラストが悪化する。これによりLERが増大する。
【0004】
レジストが2次電子の散乱を抑制することができればX線あるいは電子線が本来有している高い光学像コントラストを生かして、小さなLERを有した微細パターンを形成することが可能となる。
【0005】
X線照射によりハロゲン化水素を発生するビニルフェノール樹脂、例えば芳香環に臭素を含有するビニルフェノール樹脂と酸硬化性架橋剤からなる感光性樹脂組成物が知られている(例えば、特許文献1参照)。
【0006】
これらの感光性樹脂組成物はハロゲン原子、特に臭素をレジスト中に含有させることによりX線の吸収を増大させてレジスト感度を向上させようとする目的でなされたものであるが、微細パターン形成の際に問題となるLERの低減についてはなんら知見がなく、この課題に対しては解決には至っていない。
【0007】
一般的に、樹脂中に臭素を含有させると、樹脂の比重が増加することが知られている。ここで課題としている二次電子の散乱距離は樹脂の比重に反比例して小さくなることも知られていることから、樹脂中に臭素を含有させることは二次電子の散乱距離を抑制する有効な手段である。
【0008】
しかしながら、臭素を樹脂中に導入する方法としては、例えばベンゼン環上の水素と置換や、アルキル炭素の水素原子1つあるいは2つを臭素原子に置換する方法が考えられるが、このような方法ではこれらの臭素原子と炭素原子の結合強度が弱いために、X線あるいは電子線の照射によってこれらの結合は容易に解離するため、パターン形成の際に重要な樹脂の溶解速度が低下してしまうことになり、LERを低減することはできない。
【0009】
【特許文献1】
特開平7−325401号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、解像度の高いパターンを形成可能な感光性樹脂組成物、および前記感光性樹脂組成物を用い、パターンを形成することを特徴とするマイクロデバイスの製造方法を提供する。
【0011】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明は、一般式(1):
【0012】
【化2】
【0013】
(R1〜R3は、同じかまたは異なり、炭素数1または2の臭素置換アルキル基、アルキル基、水素原子である。ただし、少なくともR1〜R3のうちいずれか一つは、炭素数1または2の臭素置換アルキル基である。)
で示される樹脂、酸により活性化されて一般式(1)で示される樹脂を架橋する酸硬化性架橋剤、およびX線あるいは電子線の照射により酸を発生する光酸発生剤からなる感光性樹脂組成物に関する。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明は、一般式(1):
【0015】
【化3】
【0016】
(R1〜R3は、同じかまたは異なり、炭素数1または2の臭素置換アルキル基、アルキル基、水素原子である。ただし、少なくともR1〜R3のうちいずれか一つは、炭素数1または2の臭素置換アルキル基である。)
で示される樹脂、酸により活性化されて一般式(1)で示される樹脂を架橋する酸硬化性架橋剤、およびX線あるいは電子線の照射により酸を発生する光酸発生剤からなる感光性樹脂組成物である。
【0017】
つまり、本発明の感光性樹脂組成物においては、一般式(1):
【0018】
【化4】
【0019】
(R1〜R3は、同じかまたは異なり、炭素数1または2の臭素置換アルキル基、アルキル基、水素原子である。ただし、少なくともR1〜R3のうちいずれか一つは、炭素数1または2の臭素置換アルキル基である。)
で示されるように臭素置換アルキル基を有することにより樹脂中に高い濃度で臭素を含有させることができるために、感光性樹脂組成物からなる膜の比重が増加し、二次電子の散乱を抑制させる効果がある。
【0020】
炭素数1または2の臭素置換アルキル基としては、トリブロモメチル基、トリブロモエチル基、ペンタブロモエチル基などがあげられる。その中でも、現像液への溶解性に優れているという点からトリブロモメチル基が好ましい。
【0021】
本発明の感光性樹脂組成物において、臭素置換アルキル基を含有させる方法としては、ノボラック樹脂中の置換基として含有させる方法が最も効果的である。
【0022】
本発明で用いられる臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂は、フェノール類と臭素置換アルキル基を含有するケトン系化合物と縮合反応により得ることができる。
【0023】
臭素置換アルキル基を含有するケトン系化合物としては、ブロマール、1,1,1−トリブロモアセトン、または1,1,1,2,2,2−へキサブロモアセトンなどがあげられる。これらの中でも、合成された樹脂の現像液への溶解性の点で、ブロマール、1,1,1,2,2,2−ヘキサブロモアセトンが好ましい。
【0024】
また、本発明で用いられる臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂は、臭素置換アルキル基を有するフェノール化合物とホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセトンなどを縮合させることによっても得ることができる。
【0025】
上記臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂の重量平均分子量は、1000〜10000が好ましく、1500〜5000がより好ましい。1000未満では均一な塗膜が得られにくい傾向にあり、10000を超えると現像時に露光部の溶解性が低下する傾向にある。
【0026】
上記臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂の臭素原子含有率は、10〜70重量%であることが好ましく、35〜50重量%であることがより好ましい。10重量%未満であると2次電子の飛程が長くなることで、解像性が劣化する傾向にあり、70重量%をこえると現像液への溶解性が低下して解像力が低下する傾向にある。
【0027】
本発明の酸硬化性架橋剤は、酸により活性化されて一般式(1)を架橋する。
具体的には、メトキシメチル化エチレン尿素、エトキシメチル化エチレン尿素、プロポキシメチル化エチレン尿素、ブトキシメチル化エチレン尿素、メトキシメチル化グリコールウリル、エトキシメチル化グリコールウリル、プロポキシメチル化グリコールウリル、ブトキシメチル化グリコールウリル、メトキシメチル化メラミン、エトキシメチル化メラミン、プロポキシメチル化メラミン、ブトキシメチル化メラミンなどがあげられ、これらは単独または2種以上を混合して用いることができる。
【0028】
酸硬化性架橋剤の添加量は、臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂100重量部当たり、3〜60重量部好ましく、5〜30重量部がより好ましい。3重量部未満では、架橋反応を充分進行させることが困難となり、レジストとして、残膜率が低下したり、レジストパターンの膨潤や蛇行を起こしやすくなる傾向があり、60重量部を超えると、レジストとしての解像度が低下する傾向がある。
【0029】
本発明の光酸発生剤は、感光性樹脂組成物に吸収されたX線および電子線により活性化されて酸を発生するものである。
【0030】
具体的には、α−フェニルスルホニルアセトフェノン、α−(p−トルエンスルホニル)アセトフェノン、トリブロモメチルフェニルスルホン、トリブロモメチル(p−メチルフェニル)スルホン、2,2−ビス(ブロモメチル)−1,3−プロパンジオール、2−(4−メトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(2−メトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(4−ペンチルオキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(4−ブチルオキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(3−クロロ−4−メトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(2,5−ジメトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、2−(3,4−ジメトキシフェニル)エテニル−4,6−ビストリクロロメチルトリアジン、トリス(2,3−ジブロモプロピル)イソシアヌレート、α,α,α−トリブロモメチルフェニルスルホン、トリブロモペンチルアルコール、2,2−ビス(ブロモメチル)−1,3−プロパンジオール、ペンタエリスリトールテトラブロマイド、2−ブロモメチル−2−ヒドロキシメチル−1,3−プロパンジオール、ヘキサブロモヘキサン、ヘキサブロモヘプタン、ヘキサブロモシクロドデカン、テトラブロモ−o−クレゾール、テトラブロモビスフェノールA−ビスヒドロキシエチルエーテル、2,4−ジブロモ−2,4−ジメチル−3−ペンタノン、ペンタエリスリトールテトラクロリド、フェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、メトキシフェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、ナフチル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、1,1−ビス(4−クロロフェニル)−2,2,2−トリクロロエタン、ヘキサヨードヘキサン、p−ジヨードベンゼン、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタン、4−トリスフェナシルスルホン、ベンゾイントシレート、ピロガロールのトリストリフレート、ニトロベンジル−9,10−ジエトキシアントラセン−2−スルホネート、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)マレイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)フタルイミド、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタン、4−トリスフェナシルスルホン、ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、ジフェニルヨードニウムピレンスルホネート、ジフェニルヨードニウムドデシルベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウムトリフレート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムナフタレンスルホネート、(ヒドロキシフェニル)ベンジルメチルスルホニウムトルエンスルホネートなどがあげられ、これらは単独または2種以上を混合して用いることができる。
【0031】
光酸発生剤の添加量は、臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂100重量部当たり、0.01〜20重量部が好ましく、2〜10重量部がより好ましい。この範囲を外れると、パターン形状が劣化する傾向がある。
【0032】
なお、本発明の感光性樹脂組成物は、解像度を向上するために、酸の拡散を抑制する塩基性化合物を含むことが好ましい。
【0033】
塩基性化合物としては、n−ヘキシルアミン、n−ヘプチルアミン、n−オクチルアミン、n−ノニルアミン、n−デシルアミン、ジ−n−ブチルアミン、ジ−n−ペンチルアミン、ジ−n−ヘキシルアミン、ジ−n−ヘプチルアミン、ジ−n−オクチルアミン、ジ−n−ノニルアミン、ジ−n−デシルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン、トリ−n−ヘプチルアミン、トリ−n−オクチルアミン、トリ−n−ノニルアミン、トリ−n−デシルアミン、N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、2−メチルアニリン、3−メチルアニリン、4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、ナフチルアミン、ジフェニルアミン、トリフェニルアミン、エチレンジアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルエチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノジフェニルアミン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2−(3−アミノフェニル)−2−(4−アミノフェニル)プロパン、2−(4−アミノフェニル)−2−(3−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(4−アミノフェニル)−2−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、1,4−ビス〔1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル〕ベンゼン、1,3−ビス〔1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル〕ベンゼン、イミダゾール、ベンズイミダゾール、4−メチルイミダゾール、4−メチル−2−フェニルイミダゾールなどのイミダゾール類;ピリジン、2−メチルピリジン、4−メチルピリジン、2−エチルピリジン、4−エチルピリジン、2−フェニルピリジン、4−フェニルピリジン、N−メチル−4−フェニルピリジン、ニコチン、ニコチン酸、ニコチン酸アミド、キノリン、8−オキシキノリン、アクリジン、ピラジン、ピラゾール、ピリダジン、キノザリン、プリン、ピロリジン、ピペリジン、モルホリン、4−メチルモルホリン、ピペラジン、1,4−ジメチルピペラジンまたは1,4−ジアザビシクロ[2,2,2]オクタンなどがあげられ、これらは単独または2種以上を混合して使用することができる。
【0034】
酸の拡散を抑制する塩基性化合物は、臭素置換アルキル基を含有するノボラック樹脂100重量部当たり、0.01〜10重量部が好ましく、0.05〜5重量部がより好ましい。0.01重量部未満では、プロセス条件によっては、レジストとしてのパターン形状や寸法均一性が低下するおそれがあり、10重量部を超えると、レジストとしての感度や現像性が低下する傾向がある。
【0035】
本発明のマイクロデバイスの製造方法を説明する。
【0036】
上記感光性樹脂組成物をレジスト材料として用いるために、上記感光性樹脂組成物を5〜30重量%になるように、溶剤に溶解する。
【0037】
上記溶剤としては特に限定はないが、上記樹脂を均一に溶解されるものを用いる。
【0038】
具体的にはエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジプロピルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジプロピルエーテル、プロピレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノブチルエーテルアセテートなどのプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸プロピル、乳酸ブチル、乳酸アミル、ぎ酸メチル、ぎ酸エチル、ぎ酸プロピル、ぎ酸ブチル、ぎ酸アミル、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、酢酸ヘキシル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロピル、プロピオン酸ブチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチル酪酸メチル、メトキシ酢酸エチル、エトキシ酢酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシ−2−メチルプロピオン酸メチル、3−メトキシブチルアセテート、3−メチル−3−メトキシブチルアセテート、3−メトキシ−3−メチルプロピオン酸ブチル、3−メトキシ−3−メチル酪酸ブチル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、メチルプロピルケトン、メチルブチルケトン、2−ヘプタノン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、シクロヘキサノン、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、γ−ラクトン、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、しゅう酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、炭酸エチレンまたは炭酸プロピレンなどがあげられるが、これらの中でも、沸点が100〜220℃の範囲である溶媒が好ましい。
【0039】
沸点が100℃未満では塗布したときにムラができやすく、220℃より高いものでは溶媒の乾燥が容易ではない。
【0040】
半導体基板上に上記レジスト材料をスピンコート法、バーコート法、インクジェット法などにより塗布し、均一の膜を得、プリベイクを行い、感光性樹脂組成物の膜を形成する。
【0041】
この膜に、X線、電子線、イオンビームなどの放射線を照射した後、加熱し、放射線照射部を不溶化させ、現像処理により放射線未照射部を溶解させ、高解像度のパターン形成を行う。
【0042】
前記半導体基板としては、目的とするデバイスによるため特に限定はされないが、シリコンウェハ、GaAs、InPなどがあげられる。
【0043】
前記感光性樹脂組成物の膜厚は、20〜700nmが好ましく、より好ましくは、50〜500nmである。膜厚が20nm未満であると、膜にピンホールが発生しやすくなる傾向にあり、700nmをこえると形成されるパターンが倒壊しやすくなる傾向にある。
【0044】
前記放射線照射条件は、X線の場合、平均波長は、0.2〜1.5nmが好ましく、照射量としては、10〜500mJ/cm2が好ましく、電子線の場合、加速圧力1〜100kVが好ましく、照射量は、0.1〜50uC/cm2が好ましい。
【0045】
照射条件が、この範囲を外れると、解像力が低下する傾向がある。
【0046】
また、マスクと基板の距離は、2〜50μmであることが好ましい。
【0047】
上記加熱条件としては、70〜150℃で、30〜180秒間であることが好ましい。加熱条件が、この範囲を外れると、解像力が低下する傾向にある。
【0048】
前記高解像度とは、解像度150nm以下が好ましく、より好ましくは100nm以下である。
【0049】
レジストの現像液としては一般的なアルカリ水溶液を使用することができる。
【0050】
具体的には水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、珪酸ナトリウム、メタ珪酸ナトリウム、アンモニア水、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、テトラプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、コリン、ピロール、ピペリジン、1,8−ジアザビシクロ−[5,4,0]−7−ウンデセンまたは1,5−ジアザビシクロ−[4,3,0]−5−ノネンなどがあげられる。
【0051】
上記のパターン形成方法を用いて、例えばポリカーボネート製の基板上に、SiN等の下地誘電体層およびTbFeCo等の磁性材料を成膜したものを用いれば光磁気ディスクを製造することができ、アルミニウム基板上にNi−Pなどを成膜したものを用いればハードディスクを製造することができる。
【0052】
なお、本発明では、解像度90nm以下のLERの小さな微細パターンを用いることができるので、安定した特性の大容量デバイスの製造が可能である。
【0053】
本発明の感光性樹脂組成物からなるパターンのLERは、5nm以下であることが好ましく、より好ましくは4nm以下である。LERが5nmをこえると、デバイス特性にばらつきを生ずる傾向にある。
【0054】
【実施例】
以下、本発明の実施例を述べるが、本発明はこれにより限定されるものではない。
【0055】
(LER測定)
電子顕微鏡(日立製作所(株)製S−9200)の測長機能を用いてLERを測定した。
【0056】
実施例1
m−クレゾールとブロマールを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2500)100重量部、酸硬化性架橋剤であるジメトキシメチル化エチレン尿素を含む尿素樹脂(商品名:ニカラックMX−280、三和ケミカル(株)製)を10重量部、光酸発生剤であるトリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネートを3重量部、および酸の拡散を抑制する塩基性化合物であるトリエタノールアミンを0.2重量部混合して本発明の実施例の感光性樹脂組成物を得る。この感光性樹脂組成物を、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解し、シリコンウェハ上へスピンコート法により塗布して膜厚150nmのレジスト膜を得た。
【0057】
生成したレジスト膜に平均波長0.4nmのX線をメンブレン材料がダイヤモンドで吸収体がタングステンからなるマスクを介して40mJ/cm2照射した。このときウェハとマスク間の距離は10μmとなるように設定した。X線照射後、110℃で90秒間加熱した後、2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で現像して、90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0058】
実施例2
実施例1において使用した感光性樹脂組成物をX線の代わりに加速電圧50kVの電子線を15uC/cm2照射して実施例1と同じように90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0059】
実施例3
ノボラック樹脂として、フェノールとブロマール、ホルムアルデヒド(1:1)を縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2800)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0060】
生成した膜に、X線を50mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0061】
実施例4
ノボラック樹脂として、m−クレゾールと1,1,1−トリブロモアセトンを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量3100)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0062】
生成した膜に、X線を60mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0063】
実施例5
ノボラック樹脂として、m−トリブロモメチルフェノールとアセトアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量3200)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0064】
生成した膜に、実施例2と同様の電子線を18uC/cm2照射照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0065】
実施例6
ノボラック樹脂として、m−トリブロモメチルフェノールとブルマール、ホルムアルデヒド(1:1)を縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2900)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0066】
生成した膜に、X線を50mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0067】
比較例1
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−クレゾールとホルムアルデヒドから得られるノボラック樹脂(重量平均分子量2600)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0068】
生成した膜に、X線を150mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0069】
比較例2
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−ブロモフェノールとホルムアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量3300)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0070】
生成した膜に、X線を80mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0071】
比較例3
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−クレゾールと2−ブロモアセトアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量4100)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0072】
生成した膜に、X線を70mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0073】
比較例4
ノボラック樹脂として、トリブロモメチル基を含まないm−クレゾールと2,2−ジブロモアセトアルデヒドを縮合して得られるノボラック樹脂(重量平均分子量4000)を用いる他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を得、それを用いて実施例1と同様にして膜厚250nmのレジスト膜を形成した。
【0074】
生成した膜に、X線を60mJ/cm2照射し、実施例1と同様にして90nmのラインアンドスペースパターンを形成した。この膜のLERを測定した結果を表1に示す。
【0075】
【表1】
【0076】
表1より、臭素置換アルキル基を有するノボラック樹脂を用いることによりLERは低減することがわかる。
【0077】
【発明の効果】
本発明の感光性樹脂組成物は、一般式(1)で示される樹脂、酸により活性化されて一般式(1)で示される樹脂を架橋する酸硬化性架橋剤、X線あるいは電子線の照射により酸を発生する光酸発生剤からなるもので、LERの小さなパターンを形成でき、そのパターンを用いて加工したマイクロデバイスの特性は、安定であるという効果がある。
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