JP2004198442A - 超音波プローブの劣化補正方法および超音波検査方法 - Google Patents
超音波プローブの劣化補正方法および超音波検査方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】超音波プローブ13から試料TPに超音波を照射しその反射波を超音波プローブ13で受信する。試料TPの所定深さからの反射エコー信号を抽出しそのピーク値によって欠陥の有無を判定する。検査に先立って、校正用試料に超音波を照射して校正エコー信号を取込み、複数個の校正エコー信号の強度の低下の程度に基づいて超音波プローブ13の劣化に応じた補正係数を算出し、この補正係数をメモリに記憶しておく。上記ピーク値は、補正係数を乗じて補正する。
【選択図】図1
Description
(2)請求項2の発明は、請求項1の劣化補正方法において、強度比を、複数個の校正用エコー信号のうち超音波プローブが所定以上の性能を有するときに得られた校正用エコー信号と現時点で得られた校正用エコー信号との強度比としたものである。
(3)請求項3の発明は、超音波プローブから試料に超音波を照射し、試料からの反射波を超音波プローブで受信し、受信した反射波に基づいて試料の内部の状態を表わす検査信号を出力する超音波検査方法に適用される。そして、校正用試料に超音波プローブから超音波を照射したときに超音波プローブから出力される校正用エコー信号を記憶する工程と、記憶工程を時間をおいて複数回行って得られた校正用エコー信号の時系列データに基づいてその強度比を算出して検査信号を補正する工程とを備えることにより、上記目的を達成する。
(4)請求項4の発明は、請求項3の超音波検査方法において、強度比を、複数個の校正用エコー信号のうち超音波プローブが所定以上の性能を有するときに得られた校正用エコー信号と現時点で得られた校正用エコー信号との強度比としたものである。
12…モータ
13…超音波プローブ
15…ピーク検出回路
16…制御回路
17…モニタ
18A…電源スイッチ
18B…モード選択スイッチ
19…不揮発性メモリ
TP…試料
Claims (4)
- 試料に超音波を照射しその反射波を受信する超音波プローブの劣化補正方法において、
校正用試料に前記超音波プローブから超音波を照射したときに前記超音波プローブから出力される校正用エコー信号を記憶する工程と、
前記記憶工程を時間をおいて複数回行って得られた前記校正用エコー信号の時系列データに基づいてその強度比を算出して超音波プローブの出力信号を補正する工程とを備えることを特徴とする超音波プローブの劣化補正方法。 - 請求項2の劣化補正方法において、
前記強度比は、前記複数個の校正用エコー信号のうち前記超音波プローブが所定以上の性能を有するときに得られた校正用エコー信号と現時点で得られた校正用エコー信号との強度比であることを特徴とする超音波プローブの劣化補正方法。 - 超音波プローブから試料に超音波を照射し、前記試料からの反射波を超音波プローブで受信し、受信した反射波に基づいて前記試料の内部の状態を表わす検査信号を出力する超音波検査方法において、
校正用試料に前記超音波プローブから超音波を照射したときに前記超音波プローブから出力される校正用エコー信号を記憶する工程と、
前記記憶工程を時間をおいて複数回行って得られた前記校正用エコー信号の時系列データに基づいてその強度比を算出して前記検査信号を補正する工程とを備えることを特徴とする超音波検査方法。 - 請求項3の超音波検査方法において、
前記強度比は、前記複数個の校正用エコー信号のうち前記超音波プローブが所定以上の性能を有するときに得られた校正用エコー信号と現時点で得られた校正用エコー信号との強度比であることを特徴とする超音波検査方法。
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2004
- 2004-04-02 JP JP2004110023A patent/JP3981366B2/ja not_active Expired - Lifetime
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