JP2004191244A5 - - Google Patents
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- 補正用の光を発光する光源と、
入射される光を波長に応じて分散する分散手段と、
前記分散手段で分散した光を受光し、受光した各波長成分の光強度に応じた電気信号を出力する光電変換素子が配列されてなる受光手段と、
測定光が入射され前記分散手段を介して前記受光手段上に波長分散像を結像する第1入射開口と、
前記補正用の光が入射され前記分散手段を介して前記受光手段上に0次反射光による像を結像する第2入射開口と、
測定光の波長と該波長に対応する光電変換素子に割り当てられた画素番号との対応関係を示す波長画素番号対応情報を予め記憶する波長画素番号対応情報記憶手段と、
前記受光手段の出力に基づく前記補正用の光の強度分布である基準プロファイルを予め記憶する基準プロファイル記憶手段と、
補正量を求める場合には前記受光手段の出力に基づく前記補正用の光の強度分布である補正時プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することによって前記補正時プロファイルと前記基準プロファイルとにおける前記受光手段上の結像位置の差を前記補正量として求め前記補正量を補正量記憶手段に記憶すると共に、測定光の分光強度分布を求める場合には前記受光手段の出力と前記波長画素番号対応情報と前記補正量とに基づいて補正し前記測定光の分光強度分布を求める演算処理手段とを備えること
を特徴とする分光装置。 - 前記第1入射開口及び前記第2入射開口は、経時的に前記第1入射開口と前記第2入射開口との相対位置が略一定である材料の板に形成されることを特徴とする請求項1に記載の分光装置。
- 前記第1入射開口及び前記第2入射開口は、温度変化に対して前記第1入射開口と前記第2入射開口との相対位置が略一定である材料の板に形成されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光装置。
- 前記補正用の光が点灯されている間に測定光を遮光する遮光手段をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項に記載の分光装置。
- 前記基準プロファイル記憶手段は、前記基準プロファイルを所定の画素番号間隔でシフトしたシフト基準プロファイルを記憶し、
前記演算処理手段は、前記補正時プロファイルとシフト基準プロファイルとの相関を求めることによって前記補正量を求めることを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れか1項に記載の分光装置。 - 前記演算処理手段は、前記補正量を電源投入時に求めて補正量記憶手段に記憶することを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載の分光装置。
- 前記演算処理手段は、前記補正量をユーザの指示があった場合に求めて補正量記憶手段に記憶することを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載の分光装置。
- 補正用の光を発光する光源と、
入射される光を波長に応じて分散する分散手段と、
前記分散手段で分散した光を受光し、受光した各波長成分の光強度に応じた電気信号を出力する光電変換素子が配列されてなる受光手段と、
測定光が入射され前記分散手段を介して前記受光手段上に波長分散像を結像する第1入射開口と、
前記補正用の光が入射され前記分散手段を介して前記受光手段上に0次反射光による像を結像する第2入射開口と、
前記受光手段の出力に基づく前記補正用の光の強度分布である基準プロファイルを予め記憶する基準プロファイル記憶手段と、
警告を提示する警告手段と、
補正量の許容範囲の限界値である閾値を記憶する閾値記憶手段と、
前記受光手段の出力に基づく前記補正用の光の強度分布である補正時プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することによって前記補正時プロファイルと前記基準プロファイルとの前記受光手段上の結像位置の差を補正量として求めると共に、求めた前記補正量が前記閾値以上である場合には前記警告手段で警告を提示する演算処理手段とを備えること
を特徴とする分光装置。 - 補正用の光を発光する光源と、入射される光を波長に応じて分散する分散手段と、前記分散手段で分散した光を受光し受光した各波長成分の光強度に応じた電気信号を出力する光電変換素子が配列されてなる受光手段と、測定光が入射され前記分散手段を介して前記受光手段上に波長分散像を結像する第1入射開口と、前記補正用の光が入射され前記分散手段を介して前記受光手段上に0次反射光による像を結像する第2入射開口と、情報を記憶する記憶手段と、測定光の分光強度分布を求める演算処理手段とを備える分光装置の波長シフトを補正する補正方法において、
前記演算処理手段は、
前記受光手段の出力に基づく前記補正用の光の強度分布である基準プロファイルを予め前記記憶手段に記憶するステップと、
補正量を求める場合には前記受光手段の出力に基づく前記補正用の光の強度分布である補正時プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することによって前記補正時プロファイルと前記基準プロファイルとの前記受光手段上の結像位置の差を前記補正量として求めるステップと、
求めた前記補正量を前記記憶手段に記憶するステップと、
測定光の分光強度分布を求める場合には前記受光手段の出力を前記補正量で補正することによって前記測定光の分光強度分布を求めるステップとを実行すること
を特徴とする補正方法。
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CN102589691B (zh) * | 2012-03-28 | 2014-02-19 | 北京理工大学 | 自准直光栅光谱仪 |
CN103323113B (zh) * | 2013-05-30 | 2015-04-22 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于光场成像技术的多光谱成像仪 |
JP2015042959A (ja) * | 2013-08-26 | 2015-03-05 | 横河電機株式会社 | 光測定装置 |
CN103592029B (zh) * | 2013-10-24 | 2015-07-01 | 西安交通大学 | 快照式计算层析成像全偏振高光谱探测装置 |
CN103592025B (zh) * | 2013-10-30 | 2015-07-29 | 清华大学 | 光谱分析系统 |
CN103743480B (zh) * | 2014-01-03 | 2016-02-10 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 艾里光束加速曲线的测量方法 |
CN103954360B (zh) * | 2014-04-29 | 2016-04-27 | 西安交通大学 | 一种基于偏振阵列的光谱偏振装置及探测方法 |
EP3144650B1 (en) * | 2014-05-13 | 2021-10-06 | Konica Minolta, Inc. | Colorimeter and colorimetry method |
WO2015182571A1 (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-03 | コニカミノルタ株式会社 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 |
US9851256B2 (en) * | 2014-06-26 | 2017-12-26 | MP High Tech Solutions Pty Ltd | Apparatus and method for electromagnetic radiation sensing |
CN104316179B (zh) * | 2014-08-27 | 2016-06-01 | 北京空间机电研究所 | 一种光谱压缩的超光谱成像系统 |
CN104374473B (zh) * | 2014-10-24 | 2016-08-24 | 涿州迅利达创新科技发展有限公司 | 脉冲氙灯用于原子吸收背景校正的光学系统 |
CN104316188B (zh) * | 2014-11-15 | 2017-09-26 | 中国科学院光电研究院 | 一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置 |
CN104390705B (zh) * | 2014-11-24 | 2017-07-14 | 中国科学院光电研究院 | 一种推扫式编码孔径光谱成像方法及装置 |
CN104460240B (zh) * | 2014-12-08 | 2017-02-22 | 志圣科技(广州)有限公司 | 一种光刻机电气伺服对位控制系统及控制方法 |
KR102381129B1 (ko) * | 2015-12-28 | 2022-03-31 | (주) 솔 | 패키지된 광센서 어레이 모듈 보정방법 |
CN105823555B (zh) * | 2016-05-18 | 2017-11-17 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种连续太赫兹激光功率测试装置 |
CN105823556B (zh) * | 2016-05-26 | 2017-12-29 | 南京高恳特科技有限公司 | 具有偏角修正的内置扫描高光谱成像装置 |
CN106092318B (zh) * | 2016-06-02 | 2018-07-24 | 北京印刷学院 | 一种全反射式宽波段多光谱成像系统 |
CN106441563B (zh) * | 2016-09-09 | 2018-03-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | 用于紫外光强度检测的组合物、薄膜、制备方法和检测方法 |
CN106500837B (zh) * | 2016-09-26 | 2018-04-17 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 成像光谱仪 |
JP6350626B2 (ja) * | 2016-09-29 | 2018-07-04 | ソニー株式会社 | データ解析方法 |
CN106525236B (zh) * | 2016-10-14 | 2017-12-19 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种压缩编码光谱成像系统的模板标定方法 |
CN106500848A (zh) * | 2016-10-18 | 2017-03-15 | 成都市晶林科技有限公司 | 用于红外测温系统的发射率校准方法 |
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CN106441571B (zh) * | 2016-11-29 | 2018-07-31 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 一种光源模块及应用其的线扫描多光谱成像系统 |
CN106500836B (zh) | 2016-12-08 | 2018-01-02 | 苏州聚晟太阳能科技股份有限公司 | 一种适用于光伏跟踪的光传感器 |
CN106502060B (zh) * | 2017-01-03 | 2018-09-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示基板、显示面板及显示装置 |
CN106654811B (zh) * | 2017-03-14 | 2019-03-08 | 深圳市鹏星光电科技有限公司 | 一种可调谐窄线宽太赫兹光源及光谱仪、成像仪 |
CN107389192B (zh) * | 2017-07-28 | 2018-12-25 | 中南民族大学 | 稀疏光谱的压缩感知重构系统及其方法 |
CN107314813B (zh) | 2017-08-14 | 2018-12-21 | 京东方科技集团股份有限公司 | 光强检测单元、光强检测方法和显示装置 |
JP7047846B2 (ja) * | 2017-08-22 | 2022-04-05 | コニカミノルタ株式会社 | 波長シフト補正システムおよび波長シフト補正方法 |
WO2020112521A1 (en) * | 2018-11-29 | 2020-06-04 | Leica Microsystems Inc. | Compact diffraction limited near infrared (nir) spectrometers and related detectors |
CN110108359A (zh) * | 2019-04-23 | 2019-08-09 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 光谱标定装置及方法 |
DE102019134456A1 (de) * | 2019-12-16 | 2021-06-17 | Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh | Spektrometer und Verfahren zu dessen Prüfung |
CN111735538B (zh) * | 2020-06-04 | 2021-05-18 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种机载面阵凝视型高光谱影像光照校正方法 |
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