JP2004144647A - トータルエアロゾル分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】大気中のエアロゾルは巻取式エアロゾル捕集フィルタ1とエアロゾル吸引管2により捕集されてエアロゾル試料10を形成する。試料10は電子線源3の直下に移動し電子線に曝される。入射電子線の強度I0 と出射電子線の強度Iを電子線検出器6で測定して、β線吸収方式で試料10の重量xを求める。重量分析が終わった試料10はX線源7によって発生した励起X線がエアロゾル試料10に照射され、そのとき発生した特性X線をX線検出器9によって検出し、X線元素分析法を利用してエアロゾル試料10の成分分析を行う。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は大気浮遊微粒子(エアロゾル)の濃度・成分を測定するトータルエアロゾル分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
大気中の浮遊微粒子には、環境汚染物質あるいは花粉など人体に影響を及ぼすものが含まれており、大気中の微粒子を分析することは、近年特に重要になってきている。空中浮遊微粒子は数十ミクロンから1ミクロンの100分の1の大きさまでの粒子で、多種多様な物質を含んでいると考えられている。なかでも10ミクロンから10分の1ミクロン程度の大きさの空中浮遊微粒子が鼻や喉や呼吸器内に沈着することが知られている。
【0003】
これまでの疫学調査から2.5ミクロン以下の空中浮遊微粒子(PM2.5)が大きな健康影響を人にもたらすことが指摘されている。最近の米国からの報告では、2.5ミクロンの粒径の微粒子は肺に沈着するが、1ミクロン粒径の微粒子は肺の細胞に取り込まれ人体への影響が甚大であることも知られてきた。
【0004】
この呼吸器に入る空中浮遊微粒子のうち、金属微粒子や粒子の周りに有害な化学物質が付着している場合は、呼吸器疾患を主体とした健康影響が考えられる。例えば、ディーゼル排気は大量の粒子状物質を含み、肺がんやアレルギー性鼻炎、気管支ぜん息を引き起こす原因になることが明らかとなってきた。
【0005】
更に、ディーゼル排気の吸入は実験動物の精子数の減少を引き起こすことや心臓の心内膜に炎症を起こすことが認められた。このことから、空中浮遊微粒子が健康への悪影響をもたらすことが推測される。
【0006】
従って、2.5ミクロン以下の空中浮遊微粒子の濃度ならびに成分を分析することは大気観測でも重要な課題となっている。かかる分析装置として、大気雰囲気中に浮遊する微粒子を引き込み帯電させたものを、電気移動度に応じて粒径毎に分級し、粒径毎の成分及び量を高周波誘導結合プラズマ質量分析計とファラデーカップ電流計を計測するものが存在する(例えば、特許文献1参照。)。
【0007】
現在よく利用される装置として、慣性インパクター等により粒径を分級して得られた粒子にβ線を照射して、浮遊微粒子濃度に依存したβ線の吸収量を測定するβ線吸収方式が浮遊微粒子計測に用いられており、そのような製品も製造販売されている(例えば、紀本電子工業(株)のβ線式浮遊粉塵計SPM−612(10ミクロン以下の粒子用)、同SPM−612D(2.5ミクロン以下の粒子用)。
【0008】
【特許文献1】
特開平10−288601号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
従来の浮遊微粒子計測では、放射線源から放射されるβ線を照射源に用いている。大気汚染防止法による従来の測定対象は10ミクロン以下の粒子であったために、放射性物質に関する現在の法規制のもとで、開放系で使用できる線源でも質量測定可能な量の粒子が捕集できた。しかし、2.5ミクロン以下の粒子を対象とすると、捕集量が少ないためにそれを分析するに必要な線源強度が十分ではなく、精度に問題があることが知られている。
【0010】
そこで強いβ線源を使おうとすると、少なくとも日本では法律の規制に抵触してしまい実用的装置を作れないという問題が生じる。更には、重量のみの測定であり、浮遊微粒了の成分を分析することはできない問題点があった。
【0011】
そこで本発明は、上記に鑑み提案されたもので、放射性物質(例えば、プロメチウム147)の代わりに強度と照射エネルギーが制御可能な電子線源を用いて、捕集量の少ない、粒径の細かい微粒子計測を可能にし、並びにX線源を用いて成分分析も可能にするトータルエアロゾル分析装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、この発明の請求項1に係るトータルエアロゾル分析装置は、巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成した。
【0013】
これにより、エアロゾル分析装置を放射線源から放射されるβ線の照射源(放射性同位元素)を用いないで構成できるため、放射線同位元素の利用に関する制限がないので利用範囲が拡大でき、省エネルギー化を図ることができる。
【0014】
この発明の請求項2に係るトータルエアロゾル分析装置は、巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成し、これらを一体化して装置を構成した。
【0015】
これにより、エアロゾル分析装置を放射線源から放射されるβ線の照射源(放射性同位元素)を用いないで構成できるため、放射線同位元素の利用に関する制限がないので利用範囲が拡大できる。そして、これらの装置を一体化して分析装置の小型化と省エネルギー化を図ることができる。
【0016】
この発明の請求項3に係るトータルエアロゾル分析装置は、巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成し、又はこれらを一体化した装置において、前記電子線源は、電界放出方式によって電子を放出させるためのダイヤモンド電子エミッタと、電子線透過型のダイヤモンド薄膜から構成され、該質量測定装置と該成分分析装置を一体化した構成とした。
【0017】
これにより、電子線源を照射源として用いるので、50keV以下の電子線が使え、軽元素中心のエアロゾルに対して感度が大きくなり、1.0ミクロンの微小エアロゾルの分析が可能となる。また、ダイヤモンド薄膜により電子線源の内部を真空に保つこともできる。
【0018】
この発明の請求項4に係るトータルエアロゾル分析装置は、巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成し、又はこれらを一体化した装置において、前記X線源は、電界放出方式によって電子を放出させるダイヤモンド電子エミッタからなる電子線発生機構と、放出される電子線によってX線を発生させるためのタングステン等の金属ターゲットとから構成され、該質量測定装置と該成分分析装置を一体化した構成とした。
【0019】
これにより、成分分析の照射源としてX線源を用いるので、微粒子の成分をX線分析法に基づいて正確に計測できる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施形態を説明する。図1は本発明のトータルエアロゾル分析装置の構成図である。図において、1は巻取式エアロゾル捕集フィルタ、2はエアロゾル吸引管、3は電子線源、4はダイヤモンド電子エミッタ、5は電子線透過型のダイヤモンド薄膜、6は電子線検出器、7はX線源、8はダイヤモンド電子エミッタ、9はX線検出器、10はエアロゾル試料である。
【0021】
本発明のトータルエアロゾル分析装置は、巻取式エアロゾル捕集フィルタ1の上流から下流へとエアロゾル吸引管2、電子線源3、X線源7が順次に配置されている。該電子線源3には該巻取式エアロゾル捕集フィルタ1の反対側に電子線検出器6を対向配置して質量測定装置を構成する。また、該X線源7には該巻取式エアロゾル捕集フィルタ1と同じ側にX線検出器9を配置して成分分析装置を構成する。
【0022】
電子線源3は、電界放出方式によって電子を放出させるためのダイヤモンド電子エミッタ4と、高品質の電子線透過型のダイヤモンド薄膜5から構成されている。このダイヤモンド薄膜5は電子線源3の内部を真空に保つ役割も果たしている。
【0023】
X線源7には、電子線源3と同様の電子線発生機構を構成し、電界放出方式によって電子を放出させるダイヤモンド電子エミッタ8を有している。放出される電子線によってX線を発生させるために、タングステン等の金属ターゲットが設けられている。
【0024】
本発明のトータルエアロゾル分析装置は、夫々の装置を効率良く配置して構成しても良いし、また、これらの個々の装置を一体化して単体の装置として構成して、小型化と省エネルギー化を図ることができる。
【0025】
本発明の実施形態は、巻取式エアロゾル捕集フィルタとエアロゾル吸引管を装備した連続的にエアロゾルを収集できる構成であり、所定の時間間隔で大気中のエアロゾルを捕集する。
【0026】
大気中のエアロゾルは巻取式エアロゾル捕集フィルタ1に付着して移送され、エアロゾル吸引管2により捕集されてエアロゾル試料10を形成する。エアロゾル試料10は電子線源3の直下に移動し、電子線源3からの電子線に曝される。電子線は50keV以下の強度で十分であり、電子線の線量を最適化する。
【0027】
そして、入射電子線の強度I0 と、エアロゾル試料10を透過した出射電子線の強度Iを、巻取式エアロゾル捕集フィルタ1の反対側に対向して配置されている電子線検出器6で測定して、β線吸収方式で次式(1)によりエアロゾル試料10の重量x(μg/cm2 )を求める。
【0028】
【数1】
I=I0 ×exp(−μx) (1)
【0029】
この電子線源3においては、電界放出方式によってダイヤモンド電子エミッタ4から電子が放出される。適当な電圧で加速された電子は、高品質の電子線透過型のダイヤモンド薄膜5を透過して大気中に取り出される。ここで、捕集されたエアロゾル試料10の量や粒径によって、最も感度が良くなるように、電子のエネルギーを調整する。
【0030】
重量分析が終わったエアロゾル試料10はX線源7の下に移動する。X線源7によって発生した励起X線はエアロゾル試料10に照射され、そのとき発生した特性X線を巻取式エアロゾル捕集フィルタ1と同じ側にエアロゾル試料10を見込むように配置されているX線検出器9によって、蛍光X線元素分析法を利用してエアロゾル試料10の成分分析を行う。分析が終了したエアロゾル試料10は巻取式エアロゾル捕集フィルタ1の移送により廃棄される。そして、同様な計測プロセスを所定時間毎に連続して繰り返す。
【0031】
このように、本発明のトータルエアロゾル分析装置は、放射線源から放射されるβ線の照射源(放射性同位元素)を用いないでエアロゾル分析装置を実現できるので、放射線同位元素の利用に関する制限がないので利用範囲が拡大する。また、50keV以下の電子線が使えるので、軽元素中心のエアロゾルに対して感度が大きくなり、1.0ミクロンの微小エアロゾルの分析が可能となる。
【0032】
【発明の効果】
以上のように、本発明のトータルエアロゾル分析装置は、夫々の装置を効率良く配置して構成しても良いし、また、これらの個々の装置を一体化して単体の装置として構成して、小型化と省エネルギー化を図ることができる。また、放射線源から放射される照射源(放射性同位元素)を使用しないで、強度と照射エネルギーが制御可能な電子線源を用いて、補集量の少ない、粒径の細かい微粒子計測を可能としたので、軽元素中心のエアロゾルに対して感度が大きくなり、1.0ミクロンの微小エアロゾルの分析が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のトータルエアロゾル分析装置の構成図。
【符号の説明】
1 巻取式エアロゾル捕集フィルタ
2 エアロゾル吸引管
3 電子線源
4,8 ダイヤモンド電子エミッタ
5 電子線透過型のダイヤモンド薄膜
6 電子線検出器
7 X線源
9 X線検出器
10 エアロゾル試料
Claims (4)
- 巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成することを特徴とするトータルエアロゾル分析装置。
- 巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成し、これらを一体化してなることを特徴とするトータルエアロゾル分析装置。
- 前記電子線源は、電界放出方式によって電子を放出させるためのダイヤモンド電子エミッタと、電子線透過型のダイヤモンド薄膜から構成されることを特徴とする請求項1又は請求項2記載のトータルエアロゾル分析装置。
- 前記X線源は、電界放出方式によって電子を放出させるダイヤモンド電子エミッタからなる電子線発生機構と、放出される電子線によってX線を発生させるためのタングステン等の金属ターゲットとから構成されることを特徴とする請求項1又は請求項2記載のトータルエアロゾル分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002310958A JP4108441B2 (ja) | 2002-10-25 | 2002-10-25 | トータルエアロゾル分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002310958A JP4108441B2 (ja) | 2002-10-25 | 2002-10-25 | トータルエアロゾル分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004144647A true JP2004144647A (ja) | 2004-05-20 |
JP4108441B2 JP4108441B2 (ja) | 2008-06-25 |
Family
ID=32456327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002310958A Expired - Fee Related JP4108441B2 (ja) | 2002-10-25 | 2002-10-25 | トータルエアロゾル分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4108441B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007119715A1 (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Takasago Thermal Engineering Co., Ltd. | 軟x線発生装置および除電装置 |
JP2008261712A (ja) * | 2007-04-11 | 2008-10-30 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | 浮遊粒子状物質の測定装置 |
CN103091344A (zh) * | 2012-12-29 | 2013-05-08 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 颗粒物及元素的检测装置及方法 |
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JP2015219197A (ja) * | 2014-05-20 | 2015-12-07 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
CN110988962A (zh) * | 2019-11-06 | 2020-04-10 | 中国辐射防护研究院 | 一种气溶胶中钋-210的快速分析方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0642398U (ja) * | 1992-11-16 | 1994-06-03 | 株式会社北村製作所 | 貨物自動車の荷台傾動装置 |
CN103245682A (zh) * | 2012-02-06 | 2013-08-14 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | 一种在线检测气体中颗粒物的重金属含量的方法及装置 |
KR101523658B1 (ko) * | 2014-12-04 | 2015-05-29 | 국방과학연구소 | 형광 에어로졸을 이용한 필터류의 입자 투과 성능 평가 시험 방법 및 장치 |
-
2002
- 2002-10-25 JP JP2002310958A patent/JP4108441B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US7907700B2 (en) | 2006-04-11 | 2011-03-15 | Casio Computer Co., Ltd. | Soft X-ray generation apparatus and static elimination apparatus |
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CN110988962A (zh) * | 2019-11-06 | 2020-04-10 | 中国辐射防护研究院 | 一种气溶胶中钋-210的快速分析方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4108441B2 (ja) | 2008-06-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20021224 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20021224 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20031031 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070302 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070529 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070725 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050401 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070828 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071025 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20071025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071225 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080218 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080401 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080402 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110411 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110411 Year of fee payment: 3 |
|
R154 | Certificate of patent or utility model (reissue) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R154 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120411 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130411 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130411 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140411 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
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