JP2004133109A - Method for manufacturing substrate having thin film formed thereon, method for manufacturing electrooptical device, electrooptical device, and electronic appliance - Google Patents

Method for manufacturing substrate having thin film formed thereon, method for manufacturing electrooptical device, electrooptical device, and electronic appliance Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a substrate having a thin film which suppresses a display defect on a display surface of an electrooptical panel formed thereon, an electrooptical device and an electronic appliance. <P>SOLUTION: The method for manufacturing the substrate is provided with: a step to heat a substrate 101 (102) having a first surface 101a (102a) and a second surface 101b (102b) placed opposite to each other by maintaining a temperature difference between the first surface 101a (102a) and the second surface 101b (102b); and a step to deposit the thin film on the first surface 101a (102a) of the heated substrate 101 (102). <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、薄膜が形成された基板の製造方法、該薄膜が形成された基板を有する電気光学装置の製造方法、該製造方法によって製造された電気光学装置及び該電気光学装置を搭載した電子機器に関する。
【0002】
【従来の技術】
電気光学装置としての液晶装置は、第1の電極を有する第1の基板と、第2の電極を有する第2の基板と、対向配置されたこれら基板を貼り合わせるシール材と、第1の基板と第2の基板とシール材により囲まれた間隙に封入された電気光学物質としての液晶とから形成される。
【0003】
第1の電極及び第2の電極は、例えばITO(Indium Tin Oxide:インジウムスズ酸化物)の透明の導電材料から形成されるので、液晶パネルの表示面に対し、影響を与えずに形成することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、液晶パネルの基板は、電極としてスパッタしたITO薄膜が引張応力を有するため、ITO薄膜が形成された基板面側が凸状となり、水平状態を保つことができなくなる。このため、液晶表示面内で均一な表示を行うことができず、表示不良を起こすといった問題がある。
【0005】
本発明は、上記事情に鑑みなされたものであり、電気光学パネルの表示面の表示不良を抑制することができる薄膜が形成された基板の製造方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の薄膜が形成された基板の製造方法は、対向する第1面と第2面とを有する基板の前記第1面及び前記第2面に温度差をつけて加熱する工程と、前記加熱された基板の前記第1面に薄膜を成膜する工程とを具備することを特徴とする。
【0007】
このような構成によれば、基板の第1面と第2面に温度差をつけて加熱、例えば第2面の表面温度は第1面の表面温度よりも高くし、基板の第2面側が凸状となるようにを撓ませる。この撓ませた状態で第1面に引張応力を有する材料の薄膜を形成し、この薄膜の引張応力による基板の撓みを防止するので、表示面の表示不良を抑制することができる。一方、圧縮応力を有する材料の薄膜の場合においては、第1面の表面温度を第2面の表面温度よりも高くし、基板の第1面側が凸状となるように撓ませる。この状態で第1面に圧縮応力を有する薄膜を形成するので、同様に基板の撓みを防止し、表示面の表示不良を抑制することができる。
【0008】
本発明の一の形態によれば、前記基板は、ガラスを有することを特徴とする。
【0009】
このような構成によれば、ガラス基板に薄膜を形成するような場合にも、適用可能である。
【0010】
本発明の一の形態によれば、前記基板の厚さは、0.3mmから1.1mmであることを特徴とする。
【0011】
このような構成によれば、基板の厚さが0.3mmよりも薄いと温度の伝搬性がよく温度差をつけて加熱することが不可能であり、1.1mmよりも厚いと所望の撓みを形成するように加熱することが困難である。
【0012】
本発明の一の形態によれば、前記温度差は、50℃から100℃であることを特徴とする。
【0013】
このような構成によれば、温度差を50℃よりも小さくすると、所望の撓みを形成することが不可能であり、100℃よりも大きくすると、撓みすぎて膜の効力との釣り合いがとれなくなり、基板が平板にならないという問題が生じる。
【0014】
本発明の一の形態によれば、前記薄膜の厚さは、100nmから600nmあることを特徴とする。
【0015】
このような構成によれば、100nmより薄いと膜の応力が小さいため基板の撓みが問題とならなくなることが多く、600nmより厚いと膜の応力で剥離したり、パターン形成が困難になり実用化できなくなるといった問題がある。
【0016】
本発明の一の形態によれば、前記第1面は前記第2面よりも低い温度に加熱され、前記薄膜はインジウムとスズの酸化物を有することを特徴とする。
【0017】
このような構成によれば、第1面を第2面より低い温度で加熱させることによって、基板の第2面側を凸状に撓ませた状態とし、この状態で引張応力を有するインジウムとスズの酸化物の薄膜を第1面側に形成するので、成膜後の基板を水平状態に保つことがきる。
【0018】
本発明の一の形態によれば、前記第1面は前記第2面よりも高い温度に加熱され、前記薄膜はクロムを有することを特徴とする。
【0019】
このような構成によれば、第2面を第1面より低い温度で加熱させることによって、基板の第1面側を凸状に撓ませた状態とし、この状態で圧縮応力を有するクロムの薄膜を第1面側に形成するので、成膜後の基板を水平状態に保つことがきる。
【0020】
本発明の基板を有する電気光学装置の製造方法は、前記電気光学装置の対向する第1面と第2面とを有する前記基板の前記第1面及び前記第2面に温度差をつけて加熱する工程と、前記加熱された基板の前記第1面に薄膜を成膜する工程とを具備することを特徴とする。
【0021】
このような構成によれば、基板の第1面と第2面に温度差をつけて加熱、例えば第2面の表面温度は第1面の表面温度よりも高くし、基板の第2面側が凸状となるようにを撓ませる。この撓ませた状態で第1面に引張応力を有する材料の薄膜を形成し、この薄膜の引張応力による基板の撓みを防止するので、表示面の表示不良を抑制する電気光学装置を製造することができる。一方、圧縮応力を有する材料の薄膜の場合においては、第1面の表面温度を第2面の表面温度よりも高くし、基板の第1面側が凸状となるように撓ませる。この状態で第1面に圧縮応力を有する薄膜を形成するので、同様に基板の撓みを防止し、表示面の表示不良を抑制する電気光学装置を製造することができる。
【0022】
本発明の電気光学装置は、表裏に温度差をつけて加熱された状態で一方の面に薄膜が成膜された第1の基板と、表裏に温度差をつけて加熱された状態で一方の面に薄膜が成膜された第2の基板と、互いの前記薄膜が成膜された面が対向するように配置された前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせるシール材と、前記第1の基板と前記第2の基板と前記シール材とに囲まれた領域に封入された電気光学物質とを具備することを特徴とする。
【0023】
このような構成によれば、第1の基板上及び第2の基板上それぞれに成膜される薄膜の特性によって、成膜時の基板の表裏の温度差を調整することにより、第1の基板及び第2の基板ともに成膜後の基板を水平状態に保つことができる。例えば、基板の裏面の表面温度を表面の表面温度よりも高くし、基板の裏面側が凸状となるようにを撓ませ、この撓ませた状態で表面に引張応力を有する材料の薄膜を形成することによって、成膜後の基板を水平状態に保持することができる。一方、基板の表面の表面温度を裏面の表面温度よりも高くし、基板の表面側が凸状となるようにを撓ませ、この撓ませた状態で裏面に圧縮応力を有する材料の薄膜を形成することによって、成膜後の基板を水平状態に保持することができる。従って、このような水平状態の2枚の基板が用いられている電気光学装置では、表示面内での2枚の基板間の間隙を均一な厚みとすることができるので、表示むらがなく、表示品位が高い。
【0024】
本発明の電子機器は、上述に記載の電気光学装置を搭載することを特徴とする。
【0025】
このような構成によれば、このような電気光学装置を搭載するので、表示不良を抑制した電子機器となる。
【0026】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
【0027】
<第1の実施形態>
まず、本発明を電気光学装置として液晶装置に適用した第1実施形態について説明する。
【0028】
(液晶装置)
以下、図1及び図2を用いて、本発明による電気光学装置の一例としてCOG(Chip On Glass)方式を採用したパッシブマトリクス型液晶装置について説明する。
【0029】
図1は本実施形態の液晶装置の外観を模式的に示す斜視図である。図2は、この液晶装置を分解した様子を模式的に示す斜視図である。図3は、この液晶装置の一部を示した断面図である。
【0030】
図1、図2及び図3に示すように、液晶装置100では、ガラス等で形成された第2の基板102と、同様にガラス等で形成された第1の基板101とがシール材30を挟んで所定の間隙を隔てて接着固定されている。シール材30には、液晶を注入する際の液晶注入口30aとしての途切れ部分が形成され、この液晶注入口30aは紫外線硬化樹脂からなる封止材30bで封止されている。第2の基板102と第1の基板101には、互いに直交する方向に駆動用のセグメント電極112、コモン電極111が透明なITO膜などによってストライプ状に形成されている。
【0031】
また、第2の基板102及び第1の基板101の表面には配向膜104、103が形成され、電気光学物質の液晶109としてSTN(Super Twisted Nematic)型等の各種液晶を用いることができる。
【0032】
画素は、コモン電極111、セグメント電極112の交差部分において電圧を印加される液晶109によって構成されている。駆動用IC7からは、コモン電極111に対してアドレス信号、セグメント電極112に対して表示信号が出力される。更に、第1の基板101の外側表面には位相差板105と偏光板107が、第2の基板102の外側表面には位相差板106と偏光板108とが貼られている。
【0033】
本実施形態の液晶装置100において、第1の基板101は第2の基板102よりも大きいので、第1の基板101はその一部が第2の基板102の端縁から張り出している。この第1の基板101の張り出し部分110のうち、第1の基板101の端縁に沿ってフレキシブル配線基板接続領域80が形成され、このフレキシブル配線基板接続領域80より内側領域には、フレキシブル配線基板接続領域80と平行にIC実装領域70が形成されている。IC実装領域70は、駆動用IC7を実装するための領域であり、フレキシブル配線基板接続領域80は、外側から駆動用IC7に電源や表示データを供給するフレキシブル配線基板8を第1の基板101に接続するための領域である。駆動用IC7は、液晶装置の各画素を駆動するために、コモン電極111及びセグメント電極112それぞれに対してアドレス信号や表示信号といった駆動信号を出力するものであって、第1の基板101に対して、チップ状態で能動面を基板に対向させてCOG方式で実装されている。
【0034】
なお、第2の基板102に形成されているセグメント電極112は、第2の基板102と第1の基板101とをシール材30で接着したときに、第1の基板101においてIC実装領域70の両端から延びる配線94の端部に対して、シール材30に含まれる基板間導通材などを介して電気的に接続する。
【0035】
(成膜装置)
図4は、スパッタ室303を含む5つのチャンバ301〜305から形成されるスパッタ装置300の概略平面図である。
【0036】
このスパッタ装置300では、2枚の基板101、102をその表裏に温度差をつけて加熱して撓ませ、みこの撓ませた状態の基板101、102上にスパッタ室303a内で引張応力を有するITO等の膜材料をスパッタさせ、その後、基板101、102を冷却することにより水平状態へ戻す装置である。このスパッタ装置300の詳細な説明は後述する。
【0037】
(液晶装置の製造方法)
図5は本実施形態に係る液晶装置の製造方法についての製造工程図である。
【0038】
本実施形態に係る液晶装置の製造方法について図1〜図5に基づいて説明する。
【0039】
まず、第1の基板101の対向する第1面101aと第2面101bとを、第2の基板102の第1面102aと第2面102bとを、それぞれ温度差をつけて加熱する(ステップ501)。言い換えると、第1の基板101及び第2の基板102それぞれの基板を、表裏に温度差をつけて加熱する。以下、このステップ501について詳細に説明する。
【0040】
図4に示すように、2枚のガラス基板101、102は、真空扉311を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室301へ搬送される。真空加熱室301内の圧力は、0.01Pa〜大気圧である。2枚の基板101、102は、2枚の基板101、102の夫々透明電極としてのITOがスパッタされない面(以下、非スパッタ面と記す)である第2面101b、102bを加熱器301bによって200〜350℃となるように加熱する。また、2枚の基板101、102の透明電極としてのITOがスパッタされる面(以下、スパッタ面と記す)である第1面101a、102aを加熱器301a、301cにより加熱器301bよりも50〜100℃低い150℃〜300℃となるように加熱する。2枚の基板101、102は、室温から真空加熱室301に搬送され、室温から急激に温度上昇すると割れる可能性があるので100℃〜200℃が好ましい。ここでは、2枚の基板101、102の表面の水分を蒸発させるために加熱をする。
【0041】
次に、真空加熱室301内で加熱された2枚のガラス基板101、102は、真空扉312を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室302へ搬送される。真空加熱室302内の圧力は、0.0001Pa〜1Paである。2枚の基板101、102は、2枚の基板101、102のITOのスパッタ面である第2面101b、102bを加熱器302bによって200℃〜350℃となるように加熱する。また、2枚の基板101、102のITOのスパッタ面である第1面101a、102aを加熱器302a、302cにより加熱器302bよりも50℃〜100℃低い150℃〜300℃となるように加熱する。この真空加熱室302では、それぞれの基板の第1面及び第2面に温度差をつけることにより、夫々の基板101、102を夫々の第1面101a、102a側が凸状になるように撓ませる。この基板101、102は、厚さを0.3mm〜1.1mmとする。つまり、厚さが0.3mmよりも薄いと温度の伝搬性がよく温度差をつけて加熱することが不可能であり、1.1mmよりも厚いと所望の撓みを形成するように加熱することが困難だからである。また、真空加熱室302の加熱器302a、302cと加熱器302bとの温度差を50度よりも小さくなると、所望の撓みを形成することが不可能であり、100度よりも大きくすると、撓みすぎて膜の効力との釣り合いがとれなくなり、基板が平板にならないという問題が生じるので、温度差を50度から100度とすることが好ましい。
【0042】
次に、2枚の基板101、102それぞれに透明電極の材料であるITOをスパッタリング法により被着し、フォトリソグラフィ法によってパターニングして所定の幅を持ってストライプ状に形成する(ステップ502)。以下、このステップ502について詳細に説明する。
【0043】
ステップ101において撓んだ2枚の基板101、102は、真空扉313を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室302からスパッタ室303へ搬送される。スパッタ室303内の圧力は、0.0001Pa〜1Paである。
【0044】
撓んだ状態の2枚の基板101、102の各第1面101a、102a表面に、スパッタ室303によりITOの薄膜を100nm〜600nmの厚さとなるように形成する。ITOの薄膜は、100nmより薄いと膜の応力が小さいため基板の撓みが問題とならなくなることが多く、600nmより厚いと膜の応力で剥離したり、パターン形成が困難になり実用化できなくなるといった問題があるので、100nm〜600nmの厚みとした。
【0045】
次に、スパッタ室303において撓んだ状態でITOがスパッタされた2枚のガラス基板101、102は、真空扉314を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室304へ搬送される。真空加熱室304内の圧力は、0.0001Pa〜1Paである。2枚の基板101、102は、2枚の基板101、102の夫々ITOの非スパッタ面である第2面101b、102bを加熱器304bによって200℃〜350℃となるように加熱し、ITOのスパッタ面である第1面101a、102aを加熱器304a、304cによって150℃〜300℃となるように加熱する。
【0046】
更に、真空加熱室304から真空扉315を開閉し、図示しない搬送手段により真空加熱室305へ搬送される。真空加熱室305内の圧力は、0.0001Pa〜大気圧である。ここで、加熱器305aと加熱器305cを100℃〜150℃、加熱器305bを100℃〜150℃とし、基板を段階的に冷却し室温に戻して水平な状態となるように温度調整を行う。
【0047】
つまり、基板101、102は、真空加熱室301及び302において、基板の表裏に温度差をつけることで撓ませ、スパッタ室303で引張応力を有するITO膜をスパッタし、真空加熱室304及び305において基板を水平状態に戻す。
【0048】
その後、真空加熱室305から真空扉316を開閉し、図示しない搬送手段により図示しないフォトリソグラフィ法を行う装置(以下、フォトリソグラフィ装置と記す)へ搬送され、ITO膜のパターン形成を行う。
【0049】
このフォトリソグラフィ装置では、まずITO膜上にベタのレジスト膜が形成される。次に、このレジスト膜をマスクを介して露光、現像することによってレジスト膜がパターニングされる。その後、このレジスト膜をマスクとしてITO膜をエッチングしストライプ状にパターニングする。
【0050】
次に、この透明電極が夫々形成された2枚の基板101、102の夫々第1面101a、102a上にポリイミド膜を形成し、ラビング処理を施して配向膜103、104を形成し、2枚の基板101、102それぞれの製造が終了する(ST503)。これによって、配向膜103、104の液晶109側の面も平坦性が確保され、セルギャップのバラツキも解消でき、画面の高画質化が図られることとなる。
【0051】
次に、どちらか一方の基板の第1面上にギャップ材(図示せず)をドライ散布等により散布し、シール材30を介して上述の第1の基板101と第2の基板102とを貼り合わせる(ST504)。
【0052】
その後、シール材30の液晶注入口30aから液晶を注入し、シール材30の液晶注入口30aを紫外線硬化性樹脂等の封止材30bによって封止する(ST505)。
【0053】
更に、位相差板105、106及び偏光板107、108を第1の基板101及び第2の基板102の各外面上に貼着等の方法により取り付ける(ST506)。
【0054】
最後に必要な配線や照明装置及びケース体等を取り付けて、図1〜図3に示すような液晶装置100が完成する。
【0055】
以下に、従来の製造方法により製造した基板と、本発明の製造方法により製造した基板との違いについて説明する。
【0056】
図6は、従来の製造方法、すなわち表裏に温度差をつけずにITO等の引張応力を有する材料を基板に成膜した場合における基板のスパッタ前後の変化を示した図である。図7は、本発明の製造方法、すなわち表裏に温度差をつけてITO等の引張応力を有する材料を基板に成膜した場合における基板のスパッタ前後の変化を示した図である。
【0057】
図6(a)は、ITOのスパッタ面である第1面101´aを上に、非スパッタ面である第2面101´bを下にした状態を示した基板101´である。図6(b)は、基板101´の第1面101´aにITOの薄膜111´を形成した図である。ITOは、引張応力を有するので、図に示す矢印の方向に向って広がろうとする。このような結果、図6(c)に示すようにITOの薄膜111´が形成された基板101´は第1面101´a側が凸状となるように撓むといった問題が生じていた。ここでの撓みh1は、1mm〜10mmである。このような撓みh1が生じることにより、液晶装置として組み立てた時に表示面が水平とならず、表示不良を起こすという問題が生じている。
【0058】
図7(a)は、ITOのスパッタ面である第1面101aを上に、非スパッタ面である第2面101bを下にした状態を示した基板101である。図7(b)は、予めITOの薄膜111を形成する際に、従来の製造方法で製造された薄膜が形成された基板が撓む方向と逆の方向に撓みh2である撓ませる。ここでの撓みh2は、上述した第1面101aと第2面101bとを温度差をつけて加熱する方法で行う。ここでの撓みh2は、図6に示すように従来の撓みh1と略同様の1mm〜10mmである。図7(c)は、図7(b)によって撓んだ状態の基板101の第1面101aにITOの薄膜111を形成した図である。上述したように、ITOは、引張応力を有し、図に示す矢印の方向であり、ここでの撓みと逆方向に向って広がろうとする。これによって、図7(d)に示すようにITOの薄膜111が形成された基板101は水平となるので、液晶装置として組み立てた時に、表示不良を起こさなくなる。
【0059】
このように本実施形態に係る製造方法では、対向する第1面101a(102a)と第2面101b(102b)とを有する基板101(102)の前記第1面第1面101a(102a)及び前記第2面101b(102b)に温度差をつけて加熱する工程と、前記加熱された基板101(102)の前記第1面第1面101a(102a)に薄膜を成膜する工程とを具備することによって、基板101(102)の撓みを防止し、表示面の表示不良を抑制することができる。
【0060】
なお、上述した実施形態では、パッシブマトリクス方式を採用しているが、スイッチング素子を用いるアクティブマトリクス方式に適用することも可能である。
【0061】
<第2の実施形態>
本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態においては、液晶装置をカラー表示するために用いられるカラーフィルタ基板を例に用いて説明する。カラーフィルタ基板は、例えば、基板上にクロムからなる遮光膜と、遮光膜上に形成された着色層と、着色層上に形成されたオーバーコート層と、オーバーコート層上に形成された電極とを有する。遮光膜は、各画素を区画する格子状に形成され、更にこの格子を囲むように額縁状に形成され、着色層は、区画された領域内を埋めるように形成される。遮光膜材料であるクロムは、第1実施形態の引張応力を有するITOとは反対に圧縮応力を有する材料である。以下、薄膜が形成された基板としてのカラーフィルタ基板の製造方法、特に遮光膜の形成方法について主に説明する。
【0062】
図8は、スパッタ装置の概略平面図である。
【0063】
(カラーフィルタ基板の製造方法)
本実施形態に係るカラーフィルタ基板の製造方法について図8に基づいて説明する。
【0064】
まず、第1の基板201の対向する第1面201aと第2面201bとを温度差をつけて加熱する。言い換えると、第1の基板201を、表裏に温度差をつけて加熱する。以下、詳細に説明する。
【0065】
図8に示すように、第1の基板201は、真空扉311を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室301へ搬送される。第1の基板201は、第2の基板202の遮光膜が形成されない第2面201bを加熱器301bによって100℃〜200℃となるように加熱する。また、第1の基板201の遮光膜が形成される第1面201aを加熱器301aにより加熱器301bよりも50℃〜100℃高い150℃〜300℃となるように加熱する。第1の基板201は、室温から真空加熱室301に搬送され、室温から急激に温度上昇すると割れる可能性があるので100℃〜200℃が好ましい。
【0066】
次に、真空加熱室301内で加熱された第1の基板201は、真空扉312を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室302へ搬送される。真空加熱室302内の圧力は、0.0001Pa〜1Paである。第1の基板201は、第1の基板201のCrの非スパッタ面である第2面201bを加熱器302bによって100℃〜200℃となるように加熱する。また、第1の基板201のCrのスパッタ面である第1面201aを加熱器302aにより加熱器302bよりも50℃〜100℃高い150℃〜300℃となるように加熱する。この真空加熱室302では、基板の第1面201a及び第2面201bに温度差をつけることにより、第1の基板201の第1面201a側が凹状になるように撓ませる。
【0067】
次に、第1の基板201にCrをスパッタリング法により被着し、フォトリソグラフィ法によってパターニングして所定の幅を持ってストライプ状に形成する。以下、詳細に説明する。
【0068】
ステップ501において撓んだ第1の基板201は、真空扉313を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室302からスパッタ室303へ搬送される。
【0069】
撓んだ状態の第1の基板201の第1面201a表面に、スパッタ室303によりCrの薄膜を100nm〜600nmの厚さとなるように形成する。
【0070】
次に、スパッタ室303において撓んだ状態でCrがスパッタされた第1の基板201は、真空扉314を開閉して、図示しない搬送手段により真空加熱室304へ搬送される。第1の基板201は、第1の基板201のCrの非スパッタ面である第2面201bを加熱器304bによって100℃〜200℃となるように加熱し、Crのスパッタ面である第1面201aを加熱器304aによって150℃〜300℃となるように加熱する。
【0071】
更に、真空加熱室304から真空扉315を開閉し、図示しない搬送手段により真空加熱室305へ搬送される。ここで、加熱器305aを100℃〜150℃、加熱器305bを100〜150℃とし、基板を段階的に冷却して室温に戻することによって、基板を水平な状態にする。
【0072】
つまり、第1の基板201を、真空加熱室301及び302において、第1の基板201の表裏に温度差をつけることで撓ませ、この撓ませた状態でスパッタ室303で圧縮応力を有するCr膜を第1の基板201上にスパッタし、真空加熱室304及び305において第1の基板201を段階的に冷却し室温に戻して水平状態に戻す。
【0073】
その後、真空加熱室305から真空扉316を開閉し、図示しない搬送手段により図示しないフォトリソグラフィ装置へ搬送され、Cr膜のパターン形成を行う。
【0074】
このフォトリソグラフィ装置では、まずCr膜上にベタのレジスト膜が形成される。次に、このレジスト膜をマスクを介して露光、現像することによってレジスト膜がパターニングされる。その後、このレジスト膜をマスクとしてCr膜をエッチングして格子状及びこの格子状を囲む額縁状にパターニングして遮光膜を形成する。
【0075】
次にこの遮光膜が形成された第1の基板201上に、着色層、オーバーコート層、配向膜を形成して、カラーフィルタ基板が完成する。
【0076】
図9は、従来の製造方法、すなわち表裏に温度差をつけずにCr等の圧縮応力を有する材料を基板に成膜した場合における基板のスパッタ前後の変化を示した図である。図10は、本発明の製造方法、すなわち表裏に温度差をつけてCr等の圧縮応力を有する材料を基板に成膜した場合における基板のスパッタ前後の変化を示した図である。
【0077】
図9(a)は、Crのスパッタ面である第1面201´aを上に、非スパッタ面である第2面201´bを下にした状態を示した第1の基板201´である。図9(b)は、第1の基板201´の第1面201´aにCrの薄膜211´を形成した図である。Crは、圧縮応力を有するので、図に示す矢印の方向に向って広がろうとする。このような結果、図9(c)に示すようにITOの薄膜211´が形成された第1の基板201´は第1面201´a側が凸状となるように撓むといった問題が生じていた。ここでの撓みh21は、1mm〜10mmである。このような撓みh21が生じることにより、液晶装置として組み立てた時に表示面が水平とならず、表示不良を起こすという問題が生じている。
【0078】
図10(a)は、Crのスパッタ面である第1面201aを上に、非スパッタ面である第2面201bを下にした状態を示した第1の基板201である。図10(b)は、予めCrの薄膜211を形成する際に、従来の製造方法で製造された薄膜が形成された基板が撓む方向と逆の方向に撓みh22である撓ませる。ここでの撓みh22は、上述した第1面201aと第2面201bとを温度差をつけて加熱する方法で行う。ここでの撓みh2は、図9に示すように従来の撓みh1と略同様の1mm〜10mmである。図10(c)は、図10(b)によって撓んだ状態の第1の基板201の第1面201aにCrの薄膜211を形成した図である。上述したように、Crは、圧縮応力を有し、図に示す矢印の方向であり、ここでの撓みと逆方向に向って広がろうとする。これによって、図10(d)に示すようにCrの薄膜211が形成された第1の基板201は水平となるので、液晶装置100として組み立てた時に、表示不良を起こさなくなる。
【0079】
このように本実施形態に係る製造方法でも引張応力と圧縮応力との違いはあるが、第1実施形態と同様に表示面の表示不良を抑制することができる。
【0080】
<電子機器>
さらに、本発明の液晶装置100を電子機器に搭載した例を以下に記す。
【0081】
(携帯電話機)
図11は、本発明に係る電子機器の他の実施形態である携帯電話機911を示している。ここに示す携帯電話機911は、複数の操作ボタン911aの他、受話口911b、送話口911cを有する外枠に、液晶装置が組み込まれてなる。この液晶装置は、例えば上述した実施形態に示した液晶装置1を用いて構成できる。
【0082】
図12は、本実施形態の全体構成を示す概略構成図である。ここに示す電子機器は、上記と同様の液晶装置200と、これを制御する制御手段1200とを有する。ここでは、液晶装置200を、パネル構造体200Aと、駆動用IC等で構成される駆動回路200Bとに概念的に分けて描いてある。また、制御手段1200は、表示情報出力源1210と、表示情報処理回路1220と、電源回路1230と、タイミングジェネレータ1240とを有する。
【0083】
表示情報出力源1210は、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等からなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスク等からなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備え、タイミングジェネレータ1240によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号等の形で表示情報を表示情報処理回路1220に供給するように構成されている。
【0084】
表示情報処理回路1220は、シリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路等の周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号CLKと共に駆動回路200Bへ供給する。駆動回路200Bは、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路1230は、上述の各構成要素にそれぞれ所定の電圧を供給する。
【0085】
また、本発明に係る電子機器としては、上記の例の他に、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話機、POS端末機などがあげられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として本発明に係る液晶装置を用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る液晶装置の外観を模式的に示す斜視図である。
【図2】本発明の第1実施形態に係る液晶装置を分解した様子を模式的に示す斜視図である。
【図3】本発明の第1実施形態に係る液晶装置の製造方法によって完成された液晶パネルの概略断面図である。
【図4】本発明の第1実施形態に係るスパッタ装置の概略平面図である。
【図5】本発明の第1実施形態に係る液晶装置の製造方法についての製造工程図である。
【図6】従来の基板に引張応力を有する材料をスパッタした前後の変化を示した図である。
【図7】本発明の第1実施形態に係る引張応力を有する材料をスパッタした前後の変化を示した図である。
【図8】本発明の第2実施形態に係るスパッタ装置の概略平面図である。
【図9】従来の基板に圧縮応力を有する材料をスパッタした前後の変化を示した図である。
【図10】本発明の第2実施形態に係る圧縮応力を有する材料をスパッタした前後の変化を示した図である。
【図11】本発明に係る電子機器の一例として携帯電話機を示した図である。
【図12】本発明に係る電子機器の一例として携帯電話機の全体構成を示す概略構成図である。
【符号の説明】
30…シール材
100、200…液晶装置
101、201…第1の基板
102、202…第2の基板
101a、102a、201a、202a…第1面
101b、102b、201b、102b…第2面
109…液晶
111、211…薄膜
911…携帯電話機
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for manufacturing a substrate on which a thin film is formed, a method for manufacturing an electro-optical device having the substrate on which the thin film is formed, an electro-optical device manufactured by the manufacturing method, and an electronic apparatus equipped with the electro-optical device. About.
[0002]
[Prior art]
A liquid crystal device as an electro-optical device includes a first substrate having a first electrode, a second substrate having a second electrode, a sealant for bonding the substrates which are opposed to each other, and a first substrate. And a liquid crystal as an electro-optical material sealed in a gap surrounded by the second substrate and the sealing material.
[0003]
Since the first electrode and the second electrode are formed from a transparent conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide), they must be formed without affecting the display surface of the liquid crystal panel. Can be.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the ITO thin film sputtered as an electrode has a tensile stress on the substrate of the liquid crystal panel, the substrate surface side on which the ITO thin film is formed becomes convex, and the horizontal state cannot be maintained. For this reason, there is a problem that uniform display cannot be performed on the liquid crystal display surface, and display failure occurs.
[0005]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is directed to a method of manufacturing a substrate on which a thin film capable of suppressing display defects of a display surface of an electro-optical panel is formed, a method of manufacturing an electro-optical device, an electro-optical device, and The purpose is to provide electronic equipment.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The method of manufacturing a substrate on which a thin film is formed according to the present invention includes the steps of: heating the first surface and the second surface of the substrate having a first surface and a second surface that face each other with a temperature difference; Forming a thin film on the first surface of the formed substrate.
[0007]
According to such a configuration, heating is performed with a temperature difference between the first surface and the second surface of the substrate, for example, the surface temperature of the second surface is higher than the surface temperature of the first surface, and the second surface side of the substrate is heated. Deflected to be convex. In this bent state, a thin film of a material having a tensile stress is formed on the first surface, and bending of the substrate due to the tensile stress of the thin film is prevented, so that display defects on the display surface can be suppressed. On the other hand, in the case of a thin film of a material having a compressive stress, the surface temperature of the first surface is set higher than the surface temperature of the second surface, and the substrate is bent so that the first surface side of the substrate becomes convex. In this state, a thin film having a compressive stress is formed on the first surface, so that the substrate can be similarly prevented from bending, and display defects on the display surface can be suppressed.
[0008]
According to one embodiment of the present invention, the substrate includes glass.
[0009]
According to such a configuration, it is also applicable to a case where a thin film is formed on a glass substrate.
[0010]
According to one embodiment of the present invention, the thickness of the substrate is 0.3 mm to 1.1 mm.
[0011]
According to such a configuration, if the thickness of the substrate is smaller than 0.3 mm, the temperature can be sufficiently propagated and it is impossible to heat the substrate with a temperature difference. It is difficult to heat to form
[0012]
According to one aspect of the invention, the temperature difference is between 50 ° C and 100 ° C.
[0013]
According to such a configuration, if the temperature difference is smaller than 50 ° C., it is impossible to form a desired deflection, and if it is larger than 100 ° C., the temperature difference becomes too large to be balanced with the effect of the film. This causes a problem that the substrate does not become a flat plate.
[0014]
According to one embodiment of the present invention, the thickness of the thin film is 100 nm to 600 nm.
[0015]
According to such a configuration, if the thickness is less than 100 nm, the stress of the film is small, so that the deflection of the substrate does not often become a problem. If the thickness is more than 600 nm, the film is peeled off by the stress of the film, and it becomes difficult to form a pattern. There is a problem that can not be.
[0016]
According to one embodiment of the present invention, the first surface is heated to a lower temperature than the second surface, and the thin film includes an oxide of indium and tin.
[0017]
According to such a configuration, the first surface is heated at a lower temperature than the second surface, so that the second surface side of the substrate is bent in a convex shape, and in this state, indium and tin having tensile stress are applied. Since the oxide thin film is formed on the first surface side, the substrate after film formation can be kept horizontal.
[0018]
According to one aspect of the invention, the first surface is heated to a higher temperature than the second surface, and the thin film has chromium.
[0019]
According to such a configuration, the second surface is heated at a lower temperature than the first surface, so that the first surface side of the substrate is bent in a convex shape, and a chromium thin film having a compressive stress in this state. Is formed on the first surface side, the substrate after film formation can be kept in a horizontal state.
[0020]
In the method of manufacturing an electro-optical device having a substrate according to the present invention, the first and second surfaces of the substrate having the opposing first and second surfaces of the electro-optical device are heated by setting a temperature difference between the first and second surfaces. And forming a thin film on the first surface of the heated substrate.
[0021]
According to such a configuration, heating is performed with a temperature difference between the first surface and the second surface of the substrate, for example, the surface temperature of the second surface is higher than the surface temperature of the first surface, and the second surface side of the substrate is heated. Deflected to be convex. In this bent state, a thin film of a material having a tensile stress is formed on the first surface, and bending of the substrate due to the tensile stress of the thin film is prevented, so that an electro-optical device that suppresses display defects on the display surface is manufactured. Can be. On the other hand, in the case of a thin film of a material having a compressive stress, the surface temperature of the first surface is set higher than the surface temperature of the second surface, and the substrate is bent so that the first surface side of the substrate becomes convex. Since a thin film having a compressive stress is formed on the first surface in this state, it is possible to manufacture an electro-optical device in which the substrate is similarly prevented from bending and display defects on the display surface are suppressed.
[0022]
The electro-optical device of the present invention includes a first substrate on which a thin film is formed on one surface in a state of being heated with a temperature difference between the front and back, and one of the first substrates in a state of being heated with a temperature difference between the front and back. A second substrate on which a thin film is formed on a surface, a sealing material for bonding the first substrate and the second substrate arranged such that the surfaces on which the thin films are formed face each other; And an electro-optical material sealed in a region surrounded by the first substrate, the second substrate, and the sealant.
[0023]
According to such a configuration, the temperature difference between the front and back surfaces of the substrate during film formation is adjusted according to the characteristics of the thin films formed on the first substrate and the second substrate, respectively. In addition, the substrate after film formation can be kept horizontal for both the second substrate and the second substrate. For example, the surface temperature of the back surface of the substrate is made higher than the surface temperature of the front surface, the back surface of the substrate is bent so as to be convex, and a thin film of a material having a tensile stress is formed on the surface in the bent state. Thus, the substrate after film formation can be held in a horizontal state. On the other hand, the surface temperature of the front surface of the substrate is made higher than the surface temperature of the back surface, and the substrate is bent so that the front surface side becomes convex, and a thin film of a material having a compressive stress is formed on the back surface in the bent state. Thus, the substrate after film formation can be held in a horizontal state. Therefore, in such an electro-optical device in which two substrates in a horizontal state are used, the gap between the two substrates on the display surface can be made uniform in thickness, so that there is no display unevenness. High display quality.
[0024]
An electronic apparatus according to another aspect of the invention includes the electro-optical device described above.
[0025]
According to such a configuration, since such an electro-optical device is mounted, an electronic apparatus in which display defects are suppressed is provided.
[0026]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0027]
<First embodiment>
First, a first embodiment in which the present invention is applied to a liquid crystal device as an electro-optical device will be described.
[0028]
(Liquid crystal device)
Hereinafter, a passive matrix type liquid crystal device employing a COG (Chip On Glass) method will be described as an example of an electro-optical device according to the present invention with reference to FIGS.
[0029]
FIG. 1 is a perspective view schematically showing the appearance of the liquid crystal device of the present embodiment. FIG. 2 is a perspective view schematically showing an exploded state of the liquid crystal device. FIG. 3 is a sectional view showing a part of the liquid crystal device.
[0030]
As shown in FIGS. 1, 2, and 3, in the liquid crystal device 100, a second substrate 102 formed of glass or the like and a first substrate 101 similarly formed of glass or the like form a sealing material 30. It is adhesively fixed with a predetermined gap therebetween. The sealing material 30 has a cut-off portion as a liquid crystal injection port 30a when injecting liquid crystal, and the liquid crystal injection port 30a is sealed with a sealing material 30b made of an ultraviolet curable resin. On the second substrate 102 and the first substrate 101, a driving segment electrode 112 and a common electrode 111 are formed in a stripe shape by a transparent ITO film or the like in directions orthogonal to each other.
[0031]
In addition, alignment films 104 and 103 are formed on the surfaces of the second substrate 102 and the first substrate 101, and various liquid crystals such as STN (Super Twisted Nematic) can be used as the liquid crystal 109 of the electro-optical material.
[0032]
The pixel is constituted by a liquid crystal 109 to which a voltage is applied at the intersection of the common electrode 111 and the segment electrode 112. The driving IC 7 outputs an address signal to the common electrode 111 and a display signal to the segment electrode 112. Further, a retardation plate 105 and a polarizing plate 107 are attached to the outer surface of the first substrate 101, and a retardation plate 106 and a polarizing plate 108 are attached to the outer surface of the second substrate 102.
[0033]
In the liquid crystal device 100 of the present embodiment, since the first substrate 101 is larger than the second substrate 102, a part of the first substrate 101 projects from the edge of the second substrate 102. A flexible wiring board connection region 80 is formed along the edge of the first substrate 101 in the protruding portion 110 of the first substrate 101, and a flexible wiring board connection region is formed inside the flexible wiring board connection region 80. An IC mounting area 70 is formed in parallel with the connection area 80. The IC mounting area 70 is an area for mounting the driving IC 7, and the flexible wiring board connection area 80 is the area where the flexible wiring board 8 that supplies power and display data to the driving IC 7 from the outside is mounted on the first substrate 101. This is an area for connection. The driving IC 7 outputs a driving signal such as an address signal or a display signal to each of the common electrode 111 and the segment electrode 112 in order to drive each pixel of the liquid crystal device. In a chip state, the chip is mounted by a COG method with the active surface facing the substrate.
[0034]
Note that when the second substrate 102 and the first substrate 101 are bonded to each other with the sealant 30, the segment electrodes 112 formed on the second substrate 102 An end of the wiring 94 extending from both ends is electrically connected via an inter-substrate conductive material included in the sealant 30.
[0035]
(Deposition equipment)
FIG. 4 is a schematic plan view of a sputtering apparatus 300 formed from five chambers 301 to 305 including a sputtering chamber 303.
[0036]
In the sputtering apparatus 300, the two substrates 101 and 102 are heated and bent by applying a temperature difference between the front and back surfaces thereof, and have a tensile stress in the sputter chamber 303a on the bent substrates 101 and 102. This is a device that sputters a film material such as ITO and then returns the substrates 101 and 102 to a horizontal state by cooling. A detailed description of the sputtering apparatus 300 will be described later.
[0037]
(Method of manufacturing liquid crystal device)
FIG. 5 is a manufacturing process diagram for the method for manufacturing the liquid crystal device according to the present embodiment.
[0038]
A method for manufacturing a liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
[0039]
First, the first surface 101a and the second surface 101b of the first substrate 101 facing each other and the first surface 102a and the second surface 102b of the second substrate 102 are heated with a temperature difference between them (step). 501). In other words, the first substrate 101 and the second substrate 102 are heated with a temperature difference between the front and back. Hereinafter, step 501 will be described in detail.
[0040]
As shown in FIG. 4, the two glass substrates 101 and 102 open and close the vacuum door 311 and are transferred to the vacuum heating chamber 301 by a transfer unit (not shown). The pressure in the vacuum heating chamber 301 is 0.01 Pa to atmospheric pressure. The two substrates 101 and 102 are heated by a heater 301b to form second surfaces 101b and 102b of the two substrates 101 and 102, which are surfaces on which ITO as a transparent electrode is not sputtered (hereinafter, referred to as non-sputtered surfaces). Heat to ~ 350 ° C. Further, the first surfaces 101a and 102a, which are the surfaces on which the ITO as the transparent electrodes of the two substrates 101 and 102 are sputtered (hereinafter referred to as sputtered surfaces), are heated by the heaters 301a and 301c to 50 to 50 times more than the heater 301b. The heating is performed so as to be 100 ° C. lower to 150 ° C. to 300 ° C. The two substrates 101 and 102 are conveyed from room temperature to the vacuum heating chamber 301, and may be cracked when the temperature rises rapidly from room temperature. Here, heating is performed to evaporate moisture on the surfaces of the two substrates 101 and 102.
[0041]
Next, the two glass substrates 101 and 102 heated in the vacuum heating chamber 301 open and close the vacuum door 312 and are transported to the vacuum heating chamber 302 by transport means (not shown). The pressure in the vacuum heating chamber 302 is 0.0001 Pa to 1 Pa. The two substrates 101 and 102 heat the second surfaces 101b and 102b, which are the sputtering surfaces of the ITO of the two substrates 101 and 102, to a temperature of 200 to 350 ° C. by the heater 302b. The first surfaces 101a and 102a, which are the sputtering surfaces of the ITO of the two substrates 101 and 102, are heated by the heaters 302a and 302c to 150 to 300 ° C., which is 50 to 100 ° C. lower than the heater 302b. I do. In the vacuum heating chamber 302, the substrates 101 and 102 are bent such that the first surfaces 101a and 102a are convex by providing a temperature difference between the first surface and the second surface of each substrate. . These substrates 101 and 102 have a thickness of 0.3 mm to 1.1 mm. In other words, if the thickness is less than 0.3 mm, the temperature can be propagated so well that it is impossible to heat with a temperature difference, and if the thickness is more than 1.1 mm, heating is performed so as to form a desired deflection. Is difficult. When the temperature difference between the heaters 302a and 302c and the heater 302b in the vacuum heating chamber 302 is smaller than 50 degrees, it is impossible to form a desired bending. Therefore, it is difficult to balance with the effect of the film, and a problem that the substrate does not become a flat plate occurs. Therefore, it is preferable to set the temperature difference to 50 to 100 degrees.
[0042]
Next, ITO, which is a material of a transparent electrode, is applied to each of the two substrates 101 and 102 by a sputtering method, and patterned by photolithography to form a stripe with a predetermined width (step 502). Hereinafter, step 502 will be described in detail.
[0043]
The two substrates 101 and 102 bent in step 101 open and close the vacuum door 313, and are transferred from the vacuum heating chamber 302 to the sputtering chamber 303 by a transfer unit (not shown). The pressure in the sputtering chamber 303 is 0.0001 Pa to 1 Pa.
[0044]
A thin film of ITO is formed on the surfaces of the first surfaces 101a and 102a of the two substrates 101 and 102 in a bent state by a sputtering chamber 303 so as to have a thickness of 100 nm to 600 nm. When the thin film of ITO is thinner than 100 nm, the stress of the film is small, so that the bending of the substrate does not often become a problem. When it is thicker than 600 nm, the thin film is peeled off by the stress of the film, or it becomes difficult to form a pattern and cannot be put to practical use. Since there is a problem, the thickness is set to 100 nm to 600 nm.
[0045]
Next, the two glass substrates 101 and 102 on which ITO has been sputtered while being bent in the sputtering chamber 303 are opened and closed by the vacuum door 314 and transferred to the vacuum heating chamber 304 by a transfer unit (not shown). The pressure in the vacuum heating chamber 304 is 0.0001 Pa to 1 Pa. The two substrates 101 and 102 heat the non-sputtered second surfaces 101b and 102b of the two substrates 101 and 102 to 200 ° C. to 350 ° C. by the heater 304b. The first surfaces 101a and 102a, which are sputter surfaces, are heated by heaters 304a and 304c to a temperature of 150 to 300C.
[0046]
Further, the vacuum door 315 is opened and closed from the vacuum heating chamber 304, and is conveyed to the vacuum heating chamber 305 by conveyance means (not shown). The pressure in the vacuum heating chamber 305 is 0.0001 Pa to atmospheric pressure. Here, the temperature of the heater 305a and the heater 305c is set to 100 ° C. to 150 ° C., and the temperature of the heater 305b is set to 100 ° C. to 150 ° C., and the temperature is adjusted so that the substrate is gradually cooled and returned to room temperature to be in a horizontal state. .
[0047]
That is, the substrates 101 and 102 are bent in the vacuum heating chambers 301 and 302 by applying a temperature difference between the front and back surfaces of the substrates, and an ITO film having a tensile stress is sputtered in the sputtering chamber 303, and the vacuum heating chambers 304 and 305 Return the substrate to a horizontal state.
[0048]
After that, the vacuum door 316 is opened and closed from the vacuum heating chamber 305, and is conveyed to a device (hereinafter, referred to as a photolithography device) for performing a photolithography method (not illustrated) by a conveyance unit (not illustrated) to form an ITO film pattern.
[0049]
In this photolithography apparatus, first, a solid resist film is formed on an ITO film. Next, the resist film is patterned by exposing and developing the resist film via a mask. Thereafter, the ITO film is etched and patterned into a stripe shape using the resist film as a mask.
[0050]
Next, a polyimide film is formed on the first surfaces 101a and 102a of the two substrates 101 and 102 on which the transparent electrodes are respectively formed, and rubbing is performed to form alignment films 103 and 104. The manufacture of each of the substrates 101 and 102 is completed (ST503). As a result, the flatness of the surfaces of the alignment films 103 and 104 on the liquid crystal 109 side is ensured, the variation of the cell gap can be eliminated, and the image quality of the screen can be improved.
[0051]
Next, a gap material (not shown) is sprayed on the first surface of either one of the substrates by dry spraying or the like, and the first substrate 101 and the second substrate 102 are separated via the seal material 30. Pasting (ST504).
[0052]
Thereafter, liquid crystal is injected from the liquid crystal injection port 30a of the sealing material 30, and the liquid crystal injection port 30a of the sealing material 30 is sealed with a sealing material 30b such as an ultraviolet curable resin (ST505).
[0053]
Further, retardation plates 105 and 106 and polarizing plates 107 and 108 are attached to the outer surfaces of first substrate 101 and second substrate 102 by a method such as bonding (ST506).
[0054]
Finally, necessary wiring, a lighting device, a case body, and the like are attached to complete the liquid crystal device 100 as shown in FIGS.
[0055]
Hereinafter, the difference between the substrate manufactured by the conventional manufacturing method and the substrate manufactured by the manufacturing method of the present invention will be described.
[0056]
FIG. 6 is a diagram showing a change in a substrate before and after sputtering in a conventional manufacturing method, that is, when a material having a tensile stress such as ITO is formed on a substrate without a temperature difference between the front and back sides. FIG. 7 is a diagram showing a change before and after sputtering of a substrate in a case where a material having a tensile stress such as ITO is formed on a substrate with a temperature difference between the front and back sides, that is, the manufacturing method of the present invention.
[0057]
FIG. 6A shows a substrate 101 ′ in which a first surface 101 ′ a, which is a sputtered surface of ITO, is placed above and a second surface 101 ′ b, which is a non-sputtered surface, is placed below. FIG. 6B is a diagram in which a thin film 111 ′ of ITO is formed on the first surface 101′a of the substrate 101 ′. Since ITO has a tensile stress, it tends to spread in the direction of the arrow shown in the figure. As a result, as shown in FIG. 6C, there has been a problem that the substrate 101 'on which the ITO thin film 111' is formed is bent such that the first surface 101'a side becomes convex. The deflection h1 here is 1 mm to 10 mm. Due to the occurrence of such a deflection h1, the display surface does not become horizontal when assembled as a liquid crystal device, causing a problem that a display defect occurs.
[0058]
FIG. 7A shows a substrate 101 in which a first surface 101a, which is a sputtered surface of ITO, is on the top, and a second surface 101b, which is a non-sputtered surface, is on the bottom. FIG. 7B shows that, when the thin film 111 of ITO is formed in advance, the substrate on which the thin film manufactured by the conventional manufacturing method is formed is bent in a direction opposite to the bending direction, that is, the bending h2. The bending h2 here is performed by a method of heating the first surface 101a and the second surface 101b with a temperature difference. The bending h2 here is 1 mm to 10 mm, which is substantially the same as the conventional bending h1 as shown in FIG. FIG. 7C is a diagram in which a thin film 111 of ITO is formed on the first surface 101a of the substrate 101 that has been bent as shown in FIG. 7B. As described above, ITO has a tensile stress and tends to spread in the direction of the arrow shown in the figure, in the direction opposite to the bending here. As a result, as shown in FIG. 7D, the substrate 101 on which the ITO thin film 111 is formed becomes horizontal, so that display failure does not occur when assembled as a liquid crystal device.
[0059]
Thus, in the manufacturing method according to the present embodiment, the first surface 101a (102a) and the first surface 101a (102a) of the substrate 101 (102) having the opposing first surface 101a (102a) and second surface 101b (102b) are provided. A step of heating the second surface 101b (102b) with a temperature difference; and a step of forming a thin film on the first surface 101a (102a) of the heated substrate 101 (102). By doing so, bending of the substrate 101 (102) can be prevented, and display defects on the display surface can be suppressed.
[0060]
In the above-described embodiment, the passive matrix system is adopted, but the present invention can be applied to an active matrix system using switching elements.
[0061]
<Second embodiment>
A second embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, a color filter substrate used for displaying a liquid crystal device in color will be described as an example. The color filter substrate is, for example, a light-shielding film made of chromium on the substrate, a colored layer formed on the light-shielded film, an overcoat layer formed on the colored layer, and an electrode formed on the overcoat layer. Having. The light-shielding film is formed in a grid shape for partitioning each pixel, and is further formed in a frame shape so as to surround the grid, and the coloring layer is formed so as to fill the partitioned area. Chromium, which is a light shielding film material, is a material having a compressive stress as opposed to ITO having a tensile stress in the first embodiment. Hereinafter, a method of manufacturing a color filter substrate as a substrate on which a thin film is formed, particularly a method of forming a light-shielding film, will be mainly described.
[0062]
FIG. 8 is a schematic plan view of the sputtering apparatus.
[0063]
(Method of manufacturing color filter substrate)
A method for manufacturing a color filter substrate according to this embodiment will be described with reference to FIG.
[0064]
First, the opposing first surface 201a and second surface 201b of the first substrate 201 are heated with a temperature difference. In other words, the first substrate 201 is heated with a temperature difference between the front and back. The details will be described below.
[0065]
As shown in FIG. 8, the first substrate 201 is opened and closed by the vacuum door 311 and is transferred to the vacuum heating chamber 301 by a transfer unit (not shown). The first substrate 201 is heated by a heater 301b so that the second surface 201b of the second substrate 202 on which the light-shielding film is not formed is heated to 100 ° C. to 200 ° C. Further, the first surface 201a of the first substrate 201 on which the light-shielding film is formed is heated by the heater 301a to 150 to 300 ° C., which is 50 to 100 ° C. higher than the heater 301 b. The first substrate 201 is conveyed from the room temperature to the vacuum heating chamber 301, and may be cracked when the temperature rises sharply from the room temperature.
[0066]
Next, the first substrate 201 heated in the vacuum heating chamber 301 opens and closes the vacuum door 312 and is transported to the vacuum heating chamber 302 by a transport unit (not shown). The pressure in the vacuum heating chamber 302 is 0.0001 Pa to 1 Pa. The first substrate 201 is heated by a heater 302b so that the second surface 201b of the first substrate 201, which is a non-sputtered surface of Cr, is heated to 100 ° C. to 200 ° C. Further, the first surface 201a of the first substrate 201, which is a sputtering surface of Cr, is heated by the heater 302a to 150 to 300 ° C., which is higher by 50 to 100 ° C. than the heater 302b. In the vacuum heating chamber 302, the first surface 201a and the second surface 201b of the substrate are bent so that the first surface 201a side of the first substrate 201 becomes concave by providing a temperature difference between the first surface 201a and the second surface 201b.
[0067]
Next, Cr is deposited on the first substrate 201 by a sputtering method and patterned by a photolithography method to form a stripe with a predetermined width. The details will be described below.
[0068]
The first substrate 201 bent in step 501 is opened and closed by the vacuum door 313, and is transferred from the vacuum heating chamber 302 to the sputtering chamber 303 by a transfer unit (not shown).
[0069]
On the surface of the first surface 201a of the bent first substrate 201, a thin film of Cr is formed by a sputtering chamber 303 so as to have a thickness of 100 nm to 600 nm.
[0070]
Next, the first substrate 201, on which Cr has been sputtered in a bent state in the sputtering chamber 303, opens and closes the vacuum door 314, and is transferred to the vacuum heating chamber 304 by transfer means (not shown). The first substrate 201 heats the second surface 201b of the first substrate 201, which is the non-sputtered surface of Cr, to 100 ° C. to 200 ° C. by the heater 304b, and the first surface, which is the sputtered surface of Cr, The heater 201a is heated by the heater 304a so that the temperature of the heater 201a becomes 150 ° C. to 300 ° C.
[0071]
Further, the vacuum door 315 is opened and closed from the vacuum heating chamber 304, and is conveyed to the vacuum heating chamber 305 by conveyance means (not shown). Here, the temperature of the heater 305a is set to 100 ° C. to 150 ° C., and the temperature of the heater 305b is set to 100 ° C. to 150 ° C., and the substrate is cooled down gradually to room temperature, so that the substrate is in a horizontal state.
[0072]
That is, the first substrate 201 is bent in the vacuum heating chambers 301 and 302 by applying a temperature difference between the front and back of the first substrate 201, and a Cr film having a compressive stress in the sputter chamber 303 in the bent state. Is sputtered on the first substrate 201, and the first substrate 201 is gradually cooled in the vacuum heating chambers 304 and 305, returned to room temperature, and returned to a horizontal state.
[0073]
Thereafter, the vacuum door 316 is opened and closed from the vacuum heating chamber 305, and is conveyed to a photolithography apparatus (not shown) by a conveyance unit (not shown) to form a pattern of a Cr film.
[0074]
In this photolithography apparatus, first, a solid resist film is formed on a Cr film. Next, the resist film is patterned by exposing and developing the resist film via a mask. Thereafter, using the resist film as a mask, the Cr film is etched and patterned into a lattice shape and a frame shape surrounding the lattice shape to form a light shielding film.
[0075]
Next, a coloring layer, an overcoat layer, and an alignment film are formed on the first substrate 201 on which the light-shielding film is formed, and a color filter substrate is completed.
[0076]
FIG. 9 is a diagram showing changes before and after sputtering of a substrate in a conventional manufacturing method, that is, when a material having a compressive stress such as Cr is deposited on a substrate without a temperature difference between the front and back sides. FIG. 10 is a diagram showing a change before and after sputtering of a substrate in a case where a material having a compressive stress such as Cr is formed on a substrate by giving a temperature difference between the front and back sides, that is, the manufacturing method of the present invention.
[0077]
FIG. 9A shows a first substrate 201 ′ in which a first surface 201 ′ a, which is a sputtered surface of Cr, is placed above and a second surface 201 ′ b, which is a non-sputtered surface, is placed below. . FIG. 9B is a diagram in which a Cr thin film 211 ′ is formed on the first surface 201′a of the first substrate 201 ′. Since Cr has a compressive stress, it tends to spread in the direction of the arrow shown in the figure. As a result, as shown in FIG. 9C, the first substrate 201 'on which the ITO thin film 211' has been formed has a problem that the first surface 201'a is bent so as to be convex. Was. The deflection h21 here is 1 mm to 10 mm. Due to the occurrence of such a deflection h21, there is a problem that the display surface does not become horizontal when assembled as a liquid crystal device, and a display defect occurs.
[0078]
FIG. 10A shows a first substrate 201 in which a first surface 201a, which is a sputtering surface of Cr, is placed above and a second surface 201b, which is a non-sputtering surface, is placed below. In FIG. 10B, when the thin film 211 of Cr is formed in advance, the substrate on which the thin film manufactured by the conventional manufacturing method is formed is bent in a direction opposite to the bending direction h22. The bending h22 here is performed by a method of heating the first surface 201a and the second surface 201b with a temperature difference. The bending h2 here is 1 mm to 10 mm, which is substantially the same as the conventional bending h1 as shown in FIG. FIG. 10C is a diagram in which a Cr thin film 211 is formed on the first surface 201a of the first substrate 201 that has been bent according to FIG. 10B. As described above, Cr has a compressive stress and tends to spread in the direction of the arrow shown in the figure, in the direction opposite to the bending here. As a result, the first substrate 201 on which the Cr thin film 211 is formed is horizontal as shown in FIG. 10D, so that display failure does not occur when the liquid crystal device 100 is assembled.
[0079]
As described above, although there is a difference between the tensile stress and the compressive stress in the manufacturing method according to the present embodiment, display defects on the display surface can be suppressed as in the first embodiment.
[0080]
<Electronic equipment>
Further, an example in which the liquid crystal device 100 of the present invention is mounted on an electronic device will be described below.
[0081]
(Mobile phone)
FIG. 11 shows a mobile phone 911 as another embodiment of the electronic apparatus according to the invention. The mobile phone 911 shown here has a liquid crystal device incorporated in an outer frame having an earpiece 911b and a mouthpiece 911c in addition to a plurality of operation buttons 911a. This liquid crystal device can be configured using, for example, the liquid crystal device 1 shown in the above-described embodiment.
[0082]
FIG. 12 is a schematic configuration diagram illustrating the overall configuration of the present embodiment. The electronic apparatus shown here has a liquid crystal device 200 similar to the above, and control means 1200 for controlling the same. Here, the liquid crystal device 200 is conceptually divided into a panel structure 200A and a driving circuit 200B including a driving IC and the like. The control means 1200 includes a display information output source 1210, a display information processing circuit 1220, a power supply circuit 1230, and a timing generator 1240.
[0083]
The display information output source 1210 includes a memory such as a ROM (Read Only Memory) or a RAM (Random Access Memory), a storage unit such as a magnetic recording disk or an optical recording disk, and a tuning circuit for synchronizing and outputting a digital image signal. And is configured to supply display information to the display information processing circuit 1220 in the form of an image signal or the like in a predetermined format based on various clock signals generated by the timing generator 1240.
[0084]
The display information processing circuit 1220 includes various known circuits such as a serial-parallel conversion circuit, an amplification / inversion circuit, a rotation circuit, a gamma correction circuit, and a clamp circuit. Is supplied to the drive circuit 200B together with the clock signal CLK. The driving circuit 200B includes a scanning line driving circuit, a data line driving circuit, and an inspection circuit. The power supply circuit 1230 supplies a predetermined voltage to each of the above-described components.
[0085]
In addition to the above examples, the electronic apparatus according to the present invention includes a viewfinder type, a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic organizer, a word processor, a workstation, a videophone, and a POS terminal. And so on. Then, the liquid crystal device according to the present invention can be used as a display unit of these various electronic devices.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an appearance of a liquid crystal device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view schematically showing an exploded state of the liquid crystal device according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a liquid crystal panel completed by the method for manufacturing a liquid crystal device according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a schematic plan view of the sputtering apparatus according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a manufacturing process diagram for a method for manufacturing the liquid crystal device according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing changes before and after sputtering a material having a tensile stress on a conventional substrate.
FIG. 7 is a diagram showing changes before and after sputtering a material having a tensile stress according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a schematic plan view of a sputtering apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a diagram showing changes before and after sputtering a material having a compressive stress on a conventional substrate.
FIG. 10 is a diagram showing changes before and after sputtering a material having a compressive stress according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 11 is a diagram illustrating a mobile phone as an example of an electronic apparatus according to the invention.
FIG. 12 is a schematic configuration diagram illustrating an overall configuration of a mobile phone as an example of an electronic apparatus according to the invention.
[Explanation of symbols]
30 ... Seal material
100, 200: Liquid crystal device
101, 201: first substrate
102, 202: second substrate
101a, 102a, 201a, 202a ... first surface
101b, 102b, 201b, 102b ... second surface
109 ... LCD
111, 211 ... thin film
911… Mobile phone

Claims (10)

対向する第1面と第2面とを有する基板の前記第1面及び前記第2面に温度差をつけて加熱する工程と、
前記加熱された基板の前記第1面に薄膜を成膜する工程と
を具備することを特徴とする薄膜が形成された基板の製造方法。
Heating the first surface and the second surface of the substrate having a first surface and a second surface facing each other with a temperature difference;
Forming a thin film on the first surface of the heated substrate.
前記基板は、ガラスを有することを特徴とする請求項1に記載の薄膜が形成された基板の製造方法。The method of claim 1, wherein the substrate comprises glass. 前記基板の厚さは、0.3mmから1.1mmであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の薄膜が形成された基板の製造方法。3. The method according to claim 1, wherein the thickness of the substrate is 0.3 mm to 1.1 mm. 前記温度差は、50℃から100℃であることを特徴とする請求項1乃至請求項3いずれか一項に記載の薄膜が形成された基板の製造方法。4. The method according to claim 1, wherein the temperature difference is 50 ° C. to 100 ° C. 5. 前記薄膜の厚さは、100nmから600nmであることを特徴とする請求項1乃至請求項4に記載の薄膜が形成された基板の製造方法。The method according to claim 1, wherein a thickness of the thin film is 100 nm to 600 nm. 前記第1面は前記第2面よりも低い温度に加熱され、前記薄膜はインジウムとスズの酸化物を有することを特徴とする請求項1乃至請求項5いずれか一項に記載の薄膜が形成された基板の製造方法。The thin film according to any one of claims 1 to 5, wherein the first surface is heated to a lower temperature than the second surface, and the thin film includes an oxide of indium and tin. Manufacturing method of the substrate. 前記第1面は前記第2面よりも高い温度に加熱され、前記薄膜はクロムを有することを特徴とする請求項1乃至請求項5いずれか一項に記載の薄膜が形成された基板の製造方法。The method according to claim 1, wherein the first surface is heated to a temperature higher than that of the second surface, and the thin film includes chromium. Method. 基板を有する電気光学装置の製造方法において、
前記電気光学装置の対向する第1面と第2面とを有する前記基板の前記第1面及び前記第2面に温度差をつけて加熱する工程と、
前記加熱された基板の前記第1面に薄膜を成膜する工程と
を具備することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
In a method for manufacturing an electro-optical device having a substrate,
Heating the first surface and the second surface of the substrate having the opposing first surface and second surface of the electro-optical device with a temperature difference;
Forming a thin film on the first surface of the heated substrate.
表裏に温度差をつけて加熱された状態で一方の面に薄膜が成膜された第1の基板と、
表裏に温度差をつけて加熱された状態で一方の面に薄膜が成膜された第2の基板と、
互いの前記薄膜が成膜された面が対向するように配置された前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせるシール材と、
前記第1の基板と前記第2の基板と前記シール材とに囲まれた領域に封入された電気光学物質と
を具備することを特徴とする電気光学装置。
A first substrate having a thin film formed on one surface while being heated with a temperature difference between the front and back;
A second substrate having a thin film formed on one surface while being heated with a temperature difference between the front and back,
A sealing material for bonding the first substrate and the second substrate arranged such that surfaces on which the thin films are formed face each other;
An electro-optical device, comprising: an electro-optical material sealed in a region surrounded by the first substrate, the second substrate, and the sealant.
請求項9に記載の電気光学装置を搭載することを特徴とする電子機器。An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 9.
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