JP2004117821A - 検査装置、検査方法、電気光学装置の製造方法及び電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】検査用ピンが電子機器に用いられる電気光学装置等のモジュールの接続端子等を傷つけないで、簡単にモジュールの検査をすることができる検査装置、検査方法、その検査装置を用いて電気光学装置を製造する方法及びその電気光学装置を製造する方法により製造した電気光学装置を備えた電子機器を提供すること。
【解決手段】検査対象である例えば液晶装置のモジュール２１を載置台４に載置する際に、検査用ピン６を載置台４の検査用開口部７から出ないように検査装置１に出没手段を設けたので、検査用ピン６でモジュール２１の接続端子２９等を傷つけることがなく検査でき、液晶装置の更なる品質向上を図れる。
【選択図】　図８

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置等の電子機器である被検査対象が正常に動作するか否かを検査するための検査装置、検査方法及びその検査装置を用いて電気光学装置を製造する方法に関する。また、本発明は、その電気光学装置を製造する方法により製造された電気光学装置を備えた電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、例えば表示装置を備えた電子機器の点灯検査等においては有機多層基板上にＩＣチップやコンデンサ等の回路部品を搭載したデバイスである電子機器用モジュールを検査信号等を入出力する検査用ピン等が設けられた載置台に載せ、その検査用ピン等から検査信号等を電子機器用モジュールの接続端子に入出力させ、表示装置が適正に表示されるか等の検査が行われていた（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０−１８６３９４号公報（第３頁―第４頁、
【図１】）
【発明が解決しようとする課題】
しかし、載置台に電子機器用モジュールを載せ位置決めする際に検査用ピンが電子機器用モジュールの接続端子等を傷つけてしまうという問題があった。特に表示画面と反対側の裏面に接続端子が設けられている場合は、表示画面をオペレータの方向に向けなければならない都合上、目視で調節しながら検査用ピンを上から当接させることができず、どうしても位置決めする際に電子機器用モジュールの接続端子等を傷つけてしまうことが多くなってしまう。例えば、２つの位置決め用ピンの内まず一方の位置決め用ピンに電子機器用モジュールをセットし、その位置決め用ピンを中心として回転させるようにもう一方の位置決め用ピンをセットすることがあるが、このときに検査用ピンが載置台より電子機器用モジュール側に突出していると、その回転時に接続端子やその周りの基板等に検査用ピンで傷をつけてしまうことがある。
【０００４】
本発明は、上述の課題に鑑みてなされるもので、検査用ピンが電子機器に用いられる電気光学装置等のモジュールの接続端子等を傷つけないで、簡単にモジュールの検査をすることができる検査装置、検査方法及びその検査装置を用いて電気光学装置を製造する方法及びその電気光学装置を製造する方法により製造した電気光学装置を備えた電子機器を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明の検査装置は、検査対象に備えられた接続端子に接触させる検査用ピンと、前記検査対象を載置した際に前記検査用ピンが対応する部分に開口部を形成した載置台と、前記検査対象を前記載置台に押圧する押圧手段と、前記押圧された検査対象の接続端子に前記検査用ピンを当接させるために前記検査用ピンを前記開口部から出没させる出没手段とを具備することを特徴とする。
【０００６】
本発明のこのような構成によれば、検査対象の接続端子に検査用ピンを当接させるために検査用ピンを載置台の開口部から出没させる出没手段を設けることとしたので、検査対象を載置台に載置する際に検査用ピンで接続端子等を傷つけずに、簡単な作業で検査でき品質の向上を図ることができる。すなわち、従来においては最初から検査用ピンが載置台から突出しており、このため検査対象を載置台に載置する際に検査用ピンで接続端子等を傷つけてしまうという問題が生じていた。これに対し、本発明においては、検査対象の載置台への載置に合わせ検査用ピンを出没させる出没手段を設けることとしたので、簡単な操作で接続端子等に傷を付けずに検査できる。
【０００７】
本発明の一の形態によれば、前記出没手段は、前記押圧手段により載置台に検査対象が押圧され載置台が降下することによって前記開口部から前記検査用ピンが突出し、或いは前記押圧手段による押圧を解除することによって前記載置台が上昇し前記検査用ピンが前記開口部に没することを特徴とする。このような構成によれば、載置台が降下することによって検査用ピンがその開口部から突出することとなるので、検査対象を載置台に載置する際に接続端子等に検査用ピンで傷をつけずに検査できる。
【０００８】
本発明の一の形態によれば、前記載置台は、前記載置台の開口部から前記検査用ピンが出没する程度に伸縮自在な支柱により支えられていることを特徴とする。このような構成によれば、押圧手段により検査対象が載置台に押圧され固定されながらその押圧力により載置台自体も降下し、その載置台の開口部から検査用ピンが突出することとなり、例えば押さえ板をレバーで押し下げ検査対象を押圧するという一度の動作で、簡単に接続端子等に傷をつけずに検査用ピンを当接させることができる。
【０００９】
本発明の一の形態によれば、前記出没手段は、前記押圧手段により載置台に検査対象が押圧された後に前記検査用ピンを昇降させることにより前記開口部から前記検査用ピンを出没させることを特徴とする。このような構成によれば、検査対象を載置台に押圧して位置決めした後で載置台の開口部から検査用ピンを突出させるので、接続端子等に傷つけずに検査することができる。
【００１０】
本発明の一の形態によれば、前記検査用ピンは、前記接続端子に接触する端面部が半球状に形成されると共にその半球状の端面部に続く棒状部分が伸縮自在に形成されていることを特徴とする。このような構成によれば、検査用ピンが接続端子に当接する際に滑らかに当たりかつ、接続端子が多少傾斜等していても確実に接続できることとなる。
【００１１】
本発明の一の形態によれば、前記検査用ピンは、前記検査用ピンを限界まで縮めるときに比べ前記押圧された検査対象の接続端子に当接されたときは略３０％以上で６０％以下の範囲で縮まることを特徴とする。このような構成によれば、常に適切な圧力をかけて接続端子に検査用ピンが当接されるので、より確実に接続端子に検査用ピンを接続できる。
【００１２】
本発明の一の形態によれば、前記検査用ピンが複数形成されているときは、各検査用ピンの前記棒状部分が夫々独立して伸縮自在に形成されていることを特徴とする。このような構成によれば、複数有する接続端子の夫々の上下の位置に最も適切に対応して検査用ピンを当接できるので、夫々の検査用ピンから確実に検査信号等を入出力でき、確実な検査が可能となる。
【００１３】
本発明の電気光学装置の製造方法は、電気光学装置に用いられるモジュールを電気的に検査して電気光学装置を製造する方法において、前記検査は、前記モジュールに備えられた接続端子に接触させる検査用ピンの対応する部分に開口部を形成した載置台に前記モジュールを載置する工程と、前記モジュールを前記載置台に押圧する工程と、前記押圧されたモジュールの接続端子に前記検査用ピンを当接させるために前記検査用ピンを前記開口部から出没させる工程と、前記出没させる工程により前記接続端子に前記検査用ピンを当接させモジュールを検査する工程とを具備することを特徴とする。
【００１４】
本発明のこのような構成によれば、電気光学装置に用いられるモジュールの接続端子に検査用ピンを当接させるために検査用ピンを載置台の開口部から出没させて接続端子に検査用ピンを当接させモジュールを検査し、電気光学装置を製造することとしたので、モジュールを載置台に載置する際に検査用ピンで接続端子等を傷つけずに、簡単な作業で検査でき品質の向上を図ることができる。すなわち、従来においては最初から検査用ピンが載置台から突出しており、このためモジュールを載置台に載置する際に検査用ピンで接続端子等を傷つけてしまうという問題が生じていた。これに対し、本発明においては、モジュールの載置台への載置に合わせ検査用ピンを出没させモジュールを検査し、そのモジュールを用いて電気光学装置を製造することとしたので、簡単な操作で接続端子等に傷を付けずに電気光学装置を製造できる。ここで、モジュールとは例えば有機多層基板上にＩＣチップやコンデンサ等の回路部品を搭載したデバイスである。
【００１５】
本発明の電子機器は、請求項８に記載の電気光学装置の製造方法により製造された電気光学装置を備えていることを特徴とする。このような構成によれば、接続端子に傷がない状態の電気光学装置を電子機器に備えることができるので、電子機器の品質の更なる向上が図れる。
【００１６】
本発明の検査方法は、電気光学装置に用いられるモジュールを電気的に検査する方法において、前記モジュールに備えられた接続端子に接触させる検査用ピンの対応する部分に開口部を形成した載置台に前記モジュールを載置する工程と、前記モジュールを前記載置台に押圧する工程と、前記押圧されたモジュールの接続端子に前記検査用ピンを当接させるために前記検査用ピンを前記開口部から出没させる工程と、前記出没させる工程により前記接続端子に前記検査用ピンを当接させる工程とを具備することを特徴とする。
【００１７】
本発明のこのような構成によれば、電気光学装置に用いられるモジュールの接続端子に検査用ピンを当接させるために検査用ピンを載置台の開口部から出没させて接続端子に検査用ピンを当接させモジュールを検査することとしたので、モジュールを載置台に載置する際に検査用ピンで接続端子等を傷つけずに、簡単な作業で検査でき品質の向上を図ることができる。すなわち、従来においては最初から検査用ピンが載置台から突出しており、このためモジュールを載置台に載置する際に検査用ピンで接続端子等を傷つけてしまうという問題が生じていた。これに対し、本発明においては、モジュールの載置台への載置に合わせ検査用ピンを出没させモジュールを検査したので、簡単な操作で接続端子等に傷を付けずに電気光学装置のモジュールを検査できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。尚、以下に実施形態を説明するにあたっては、各種の電気光学装置のうちパッシブマトリクス方式の液晶装置を例に挙げて説明するが、この方式に限られることはなく能動素子としてＴＦＤ（Ｔｈｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｄｉｏｄｅ）を用いたアクティブマトリックス方式や能動素子としてＴＦＴ（Ｔｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）を用いたアクティブマトリックス方式の液晶装置であっても良い。また、上述の液晶装置を用いた電子機器についても説明する。
【００１９】
まず、本発明を反射型表示がされるパッシブマトリクス方式の液晶装置について検査用ピン自体は動かない検査装置である第１の実施形態について説明する。
【００２０】
図１は本発明の第１の実施形態に係る検査装置の概略斜視図、図２は図１の検査装置の概略側面図、図３は図１のＡＡ´方向及び図１３のＨＨ´方向、ＪＪ´方向の断面図、図４は図１のＢＢ´方向及び図１３のＩＩ´方向の断面図、図５は図２の検査装置の載置台にモジュールを載せ押圧手段により押圧の途中の概略側面図、図６は図５から更に押圧され検査装置本体まで降下した検査装置の概略側面図、図７はモジュールの接続端子に検査用ピンが当接した状態の説明図、図８はモジュールの接続端子に検査用ピンが当接した状態の検査装置の全体斜視図及び図９は液晶装置の製造方法のフローチャート図である。
【００２１】
（検査装置の構造）
図１に示すように、検査装置１は検査装置本体２、その検査装置本体２に設けられた例えば３本の支柱３、更にその支柱３により支えられた検査対象であるモジュールを載置する載置台４及びその検査対象であるモジュールを押圧する押圧部５を有する。
【００２２】
検査装置本体２には、図２に示すようにその上面に載置台を支える支柱３と検査用ピン６が備えられている。
【００２３】
ここで、検査用ピン６は図３に示すように載置台４の検査用開口部７に対応する位置に押圧しないときに検査用開口部７から検査用ピン６が出ないように設置されており、導電性材料で球状或いは半球状に形成されたピン端部８、ピン端部８に続く伸縮自在に形成された棒状伸縮部９、その棒状伸縮部９が挿入されたピン筒部１０、それらを支え検査装置本体２に固定する支持台１１、更にこれら検査用ピン６に検査用信号等を入出力する検査用信号等入出力部１２等で構成されている。尚図３では検査用ピンは１０本配置されているが本数はこれに限られるものではない。
【００２４】
また、棒状伸縮部９は例えば棒状内に形成されたスプリング等によりピン筒部１０に弾性的に挿入できるものであり、検査用ピン６一本一本が独立して伸縮するものである。勿論各検査用ピン６が一体となって伸縮するようにしても良い。図７にモジュールの接続端子に当接したときに棒状伸縮部９がピン筒部１０に一部入り込んで縮んだ状態を示す。
【００２５】
更に検査用ピン６は一本づつ必要に応じで支持台１１から取り外しができ、取替えが可能である。また、支持台１１ごと取替えることも可能である。これによって、検査対象のモジュールの規格に合わせた検査用ピン６を用いることができる。
【００２６】
次に、支柱３は図４に示すように検査装置本体２の上面板の貫通孔に挿入され固定されたエレベータガイド１３、そのエレベータガイド１３に挿入されたスプリング１４及び支柱可動部１５、支柱可動部１５を載置台４にその載置台４の上面に合わせて固定する止め具１６等から構成される。
【００２７】
ここで、支柱可動部１５は少なくとも押圧部５によりエレベータガイド１３に押し込められた時に検査用ピン６が検査用開口部７から突出する程度に伸縮することができるものである。
【００２８】
また、スプリング１４はエレベータガイド１３から飛び出さないように例えば図４に示すようにスプリング１４の下端をスプリング止め具１７が設けられている。
【００２９】
更に支柱３は図１及び図２では３本形成しているが、安定して支持できればこの本数に限れるものではなく例えば４本でも良い。
【００３０】
また、伸縮自在な支柱３はスプリング１４に限られるものでなく、例えばエアー等を利用して弾性的に伸縮自在にできるものであればなんでも良い。
【００３１】
次に、載置台４には図１に示すように略中央に検査用ピン６の出入り口である検査用開口部７、載置台の中央線（Ｙ方向）に対し左右対称に検査対象であるモジュールを指等で挟持するための挟持用開口部１８、その挟持用開口部１８に隣接して載置台の中央線（Ｙ方向）に対し左右対称にモジュールを外側からガイドするガイド板１９、更にそのガイド板１９の内側に左右対称に位置決めピン２０等が形成されている。
【００３２】
ここで、検査用開口部７は図１、図３及び図７に示すように例えばＸ方向に長辺を持つ略菱型形状で検査用ピン６に対応する位置に形成されている。従って載置台４が降下すると、検査用開口部７から検査用ピン６が突出することとなる。
【００３３】
また、挟持用開口部１８は載置台４にモジュールを載置したときにモジュールの外枠が挟持用開口部１８内にかかるような位置に形成する。これによって、確実にモジュールのみを挟持できる。
【００３４】
更にガイド板１９は図５及び図６に示すようにモジュールの液晶表示部の厚さより少し薄く形成されており、モジュールを押圧した際に直接にガイド板１９が押圧されないようになっている。
【００３５】
位置決めピン２０は、モジュールを載置台４に載置する際にモジュールの接続端子が丁度検査用ピン６の真上にくるように位置決めするためのピンであり、その２つの位置決めピン２０がモジュール側の位置決め用ピン孔（図示せず。）に嵌合することとなる。
【００３６】
次に、押圧部５は例えば図１、図２及び図８に示すようにモジュール２１の液晶表示面２２の左右外側を夫々押圧する２本の押さえ爪２３、その２本の押さえ爪２３に挟まれて液晶表示面２２の上部外側を押圧する押さえ板２４、更に押さえ爪２３及び押さえ板２４を図５、図６及び図８のＤ方向に降下させ或いは逆方向に上昇させる押圧機構２５、その押圧機構２５を操作する操作レバー２６等から構成される。
【００３７】
ここで、２本の押さえ爪２３と押さえ板２４とは押さえ板２４を２本の押さえ爪２３で左右から挟むように固定されており、モジュール２１を押圧した際にモジュール２１の液晶表示面２２を覆うことがないように形成されている。
【００３８】
また、図１のように押さえ爪２３等を支持し押圧機構２５につなげる押圧支持板２７を押さえ爪２３等にビス止め等し固定しておけば、モジュール２１の規格に合わせて押さえ爪２３等を取替えることができる。
【００３９】
更に押圧機構２５は側面に配置された操作レバー２６を図５、図６及び図８のＣ方向に動かすとその動きを操作レバー軸２８が回転運動に変え、この回転運動が押圧機構２５に伝えられ押圧機構２５の例えばクランク機構（図示せず。）が、図５、図６及び図８のＤ方向の動きに変換し押圧支持板２７等を降下させることとなる。
【００４０】
また、押圧機構２５は押圧動作によりモジュール２１ごと載置台４を降下させ、検査装置本体２の上面に載置台４の裏面が当たったところで押圧動作が押圧機構２５内のロック機構（図示せず。）によりロックされ、それ以上押圧支持板２７等が下降せずかつ、操作レバーから手を離しても押圧支持板２７等が上昇したりしないように構成されている。
【００４１】
更に押圧機構２５は、検査が終了し操作レバー２６を図５、図６及び図８のＣ方向の逆に動かすと、押圧機構２５内のロック機構がはずれ押圧機構２５内のスプリング等により手で動かさないでも自然に元の状態、すなわち押圧支持板２７等を上昇させ載置台４及びモジュール２１の押圧を解除した状態に戻すように構成されている。
【００４２】
（検査装置の動作）
次に上述の検査装置についてその動作を説明する。
【００４３】
まず、検査対象であるモジュール２１の液晶表示面２２がオペレータから見れるように上を向けて載置台４に載置する。この時、図１に示すように操作レバー２６及び押圧支持板２７等は検査準備状態にあり、押さえ爪２３及び押さえ板２４はいずれも載置台４からかなり離れた上方に位置しているので、容易にモジュール２１を載置台４に載置することができる。
【００４４】
また、その際載置台４上の２つのガイド板１９の間にモジュール２１を載せ、更にモジュール２１の液晶表示面２２の反対側である裏面の位置決め用ピン孔に、載置台４上の２つの位置決めピン２０を嵌合させることによって、載置台４の適正な位置にモジュール２１を載置することができる。
【００４５】
更に位置決めの段階ではまだ、検査用開口部７から検査用ピン６は出ていないので、接続端子２９やその周辺基板を傷つけてしまうこともない。
【００４６】
次に、モジュール２１の位置決めが終わったら操作レバー２６を図５に示すように、Ｃ方向に動かすとその動きが操作レバー軸２８により回転運動に変換され、その回転運動により押圧機構２５内のクランク機構により押圧支持板２７を降下させることとなる。
【００４７】
これによって、図５に示すように押圧支持板２７に固定されている押さえ爪２３及び押さえ板２４はＤ方向に降下し、載置台４に載置されているモジュール２１の液晶表示面２２の外側の枠に当接し押圧することとなる。
【００４８】
更に操作レバー２６を図６に示すように、Ｃ方向に動かすとそのまま押圧支持板２７が降下し続け、その押圧の力がモジュール２１を介して載置台４に働き、載置台４自体がＤ方向に降下し、やがて載置台４の裏面が検査装置本体２の上面に当接することとなり、押圧機構２５内のロック機構が働きその状態でロックされることとなる。
【００４９】
このロックがされた際、図７に示すように載置台４の検査用開口部７から検査用ピン６が突出するが、モジュール２１の接続端子２９に検査用ピン６のピン端部８が当接し、棒状伸縮部９がピン筒部１０に入り込む。この結果、検査用ピン６は、その検査用ピン６の縮みが最大のときの縮み量の略３０％以上で６０％以下の範囲で縮んだ状態となる。
【００５０】
これによってモジュール２１の各接続端子２９に正確に各検査用ピン６を接続できたので、検査用信号等入出力部１２を介して外部検査回路等から検査信号等を入出力し、液晶表示面２２の機能検査例えば表示のドット抜けが無いか、コントラストが決められた範囲に有るか、液晶表示エラーが無いか等の検査がされる。勿論映像だけではなく例えば音響試験等もすることが可能である。
【００５１】
次にモジュール２１の各種の検査が終了したときは、操作レバー２６を図８のＣ方向の逆に動かすと押圧機構２５内のロック機構がはずれ、押圧機構２５内のスプリング等により手で動かさないでも自然に押圧機構２５内のクランク機構が働き、押圧支持板２７等が上昇する。
【００５２】
すると、載置台４に働いていた押圧力が解除されるので載置台４が支柱３のスプリング１４によりモジュール２１を載置したまま上昇する。
【００５３】
この結果、載置台４の検査用開口部７から突出していた検査用ピン６が、検査用開口部７の中に没することとなるので、モジュール２１の接続端子２９に当接していた検査用ピン６はモジュール２１の接続端子２９から離れる。
【００５４】
更に押圧機構２５内のクランク機構が働き、押圧支持板２７等が上昇すると、載置台４は最上位まで上昇しその後その上昇は停止する。その後は、モジュール２１を離れて押さえ板２４及び押さえ爪２３は更に上昇し、元の位置まで戻り押圧機構２５内のクランク機構の動きは停止する。
【００５５】
最後に載置台４の挟持用開口部１８に指をいれモジュール２１を挟んで載置台４から取り外し、検査装置１の動作は終了することとなる。この際も、検査用ピン６は載置台４の検査用開口部７の中或いはその下に没しているので、検査用ピン６でモジュール２１を傷つけることは無い。
【００５６】
（液晶装置を製造する方法）
次に上述の検査装置１により検査して電気光学装置を製造する方法を液晶装置を例として説明する。
【００５７】
まず、図９に示すように、液晶用基板に反射部材や着色部材、透明電極等を形成し、もう一枚の液晶用基板に透明電極等を形成したものを貼り合わせ、その基板間に液晶等を封入し、位相差板や偏光板等を取り付ける液晶パネル作成工程（ＳＴ１０１）により液晶パネルを作成する。
【００５８】
次に、作成された液晶パネルに液晶パネルを駆動する電子回路やその他の必要な部品等を組み込むモジュール工程を行う（ＳＴ１０２）。ここで接続端子２９が液晶表示面２２と反対側の裏面に設けられることとなる。
【００５９】
更にモジュール工程によりモジュール２１が作成されるとそのモジュール２１の表示機能等の検査工程に入る。
【００６０】
図８に示すように、モジュール２１を載置台４に液晶表示面２２を表にして位置決めし、操作レバー２６をＣ方向に動かして押さえ爪２３等をＤ方向に降下させモジュール２１を押圧する。
【００６１】
また、載置台４が押圧により検査装置本体２の上面まで下降するとそれまで載置台４の検査用開口部７に没していた検査用ピン６が相対的に検査用開口部７から突出することとなり、モジュール２１の接続端子２９に当接し検査用信号等入出力部１２を介し、外部検査回路から検査信号等が入出力されモジュール２１の検査が行われる（ＳＴ１０３）。
【００６２】
以上でモジュール２１が検査装置１の載置台４から取り外され表示機能等の検査工程が終了すると液晶装置の製造は終了する（ＳＴ１０４）。
【００６３】
このように本実施形態によれば、検査対象である例えば液晶装置のモジュール２１を載置台４に載置する際に、検査用ピン６を載置台４の検査用開口部７から出ないように検査装置１に出没手段を設けたので、検査用ピン６でモジュール２１の接続端子２９等を傷つけることがなく検査でき、液晶装置の更なる品質向上を図れる。
【００６４】
また、操作レバー２６を図８のＣ方向に動かすというワンアクションだけで載置台４上のモジュール２１を押さえ爪２３等で押圧し、その押圧力により載置台４がＤ方向に降下して、それまで載置台４の検査用開口部７に没していた検査用ピン６が相対的に検査用開口部７から突出して、既に適正に位置決めされたモジュール２１の接続端子２９に当接するので、簡単な機構でかつ簡単な操作で接続端子２９等に傷をつけずにモジュール２１の検査をすることができることとなる。
【００６５】
更に載置台４を検査用開口部７から検査用ピン６が出没できる程度に伸縮自在な支柱３例えば図４に示すように、検査装置本体２の上面に固定されたエレベータガイド１３内のスプリング１４により支柱可動部１５を伸縮自在にしたので、押さえ爪２３等による押圧がモジュール２１を介して載置台４にかかると、その押圧力だけで載置台４は降下することとなる。これによって、載置台４を降下させる特別な駆動装置や制御装置等が不要となり、簡単な構造でコストの低減を図りながら確実にモジュール２１の接続端子２９等に傷を付けずに検査が可能となる。
【００６６】
また、検査用ピン６の先端であるピン端部８が例えば球形状に形成され、その下に続く棒状の棒状伸縮部９が内部に形成されているスプリング等により伸縮自在になっているので、モジュール２１の接続端子２９等を傷つけることを更に防止できる。
【００６７】
更に検査用ピン６がモジュール２１の接続端子２９に当接したときに、検査用ピン６の縮みが最大に縮められたときの縮み量の略３０％以上で６０％以下の範囲で縮まることとしたので、最も適切な圧力で検査用ピン６がモジュール２１の接続端子２９に当接し、安定かつ確実な接続を保持できる。
【００６８】
また、検査用ピン６が複数あるとき夫々独立して伸縮することができるので、モジュール２１の接続端子２９の夫々の微妙な位置に合わせて当接でき、全ての検査用ピン６が各接続端子２９に確実に接続できることとなる。
【００６９】
次に、本発明を反射型表示がされるパッシブマトリクス方式の液晶装置について検査用ピン自体も動く検査装置である第２の実施形態について説明する。
【００７０】
図１０は本発明の第２の実施形態に係る検査装置の概略斜視図、図１１は図１０のＦＦ´方向の断面図及び図１２はモジュールの接続端子に検査用ピンが当接した状態の説明図である。尚、図１、図３及び図７における構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付すものとし、その説明を省略する。
【００７１】
（検査装置の構成）
図１０に示すように、検査装置２０１は検査装置本体２０２、その検査装置本体２０２上面にねじ止め等により固定された検査対象であるモジュール２１を載置する載置台４及びその検査対象であるモジュール２１を押圧する押圧部５を有する。
【００７２】
検査装置本体２０２には、図１１に示すように載置台４の検査用開口部７に対応する位置に検査用ピン６が備えられている。
【００７３】
ここで、検査用ピン６のピン筒部１０等を支える支持台２１１は第１の実施形態では検査装置本体２に固定されていたが、ここでは図１１に示すように検査装置本体２０２に固定されておらず、検査用ピン６を昇降させる検査用ピン昇降機構２３０に取り付けられている。
【００７４】
また、検査用ピン昇降機構２３０は例えば押圧機構２２５のクランク機構及び支持台２１１に接続されており、モジュール２１を載置台４に載せ位置決めし、押さえ爪２３等によりモジュール２１を載置台４に押圧するまでは、その接続されたクランク機構の働きにより検査用ピン６を載置台４の検査用開口部７の中に没するように支持台２１１を下降させておくことができる。
【００７５】
更に検査用ピン昇降機構２３０は、押さえ爪２３等でモジュール２１を載置台４に押圧した後、接続された押圧機構２２５のクランク機構の働きにより、載置台４の検査用開口部７から検査用ピン６を突出させるように支持台２１１を上昇させ、モジュール２１の接続端子２９に当接させる。
【００７６】
次に、押圧部５は例えば図８及び図１０に示すようにモジュール２１の液晶表示面２２の左右外側を夫々押圧する２本の押さえ爪２３、その２本の押さえ爪２３に挟まれて液晶表示面２２の上部外側を押圧する押さえ板２４、更に押さえ爪２３及び押さえ板２４を図８のＤ方向に降下させ或いは逆方向に上昇させる押圧機構２２５、その押圧機構２２５を操作する操作レバー２６等から構成される。
【００７７】
ここで、押圧機構２２５は側面に配置された操作レバー２６を図６及び図８のＣ方向に動かすとその動きを操作レバー軸２８が回転運動に変え、この回転運動が押圧機構２２５に伝えられ押圧機構２２５の例えばクランク機構（図示せず。）が、図６及び図８のＤ方向の動きに変換し押圧支持板２７等を降下させることとなる。
【００７８】
また、押圧機構２２５はモジュール２１が押さえ爪２３等により検査装置本体２０２の上面に押圧されたところで、例えば図１２に示すようにクランク機構に接続された検査用ピン昇降機構２３０をクランク機構の働きによりＧ方向に上昇させ、モジュール２１の接続端子２９に検査用ピン６を当接させることができる。
【００７９】
次に、クランク機構の働きが押圧機構２２５内のロック機構（図示せず。）によりロックされ、それ以上押圧支持板２７等が下降せずかつ、操作レバーから手を離しても押圧支持板２７等が上昇したりしないように構成されている。同様に、支持台２１１もロックされ接続端子２９に検査用ピン６を当接させた状態が保持される。
【００８０】
また、押圧機構２２５は、検査が終了し操作レバー２６を図６及び図８のＣ方向の逆に動かすと押圧機構２２５内のロック機構がはずれ、押圧機構２２５内のスプリング等により手で動かさないでも自然に元の状態、すなわち支持台２１１が図１２のＧ方向と逆に降下して検査用ピン６を接続端子２９から離れさせ、押圧支持板２７等を上昇させモジュール２１の押圧を解除した状態に戻すように構成されている。
【００８１】
（検査装置の動作）
次に上述の検査装置についてその動作を説明する。ここで、検査対象であるモジュール２１の液晶表示面２２をオペレータから見れるように上を向けて載置台４に載置するところから、押さえ爪２３及び押さえ板２４が図８に示すようにＤ方向に降下し、載置台４に載置されているモジュール２１の液晶表示面２２の外側の枠に当接し押圧するところまでは、第１の実施形態と同様であるのでその説明を省略する。
【００８２】
更に操作レバー２６を図８に示すように、Ｃ方向に動かすと押圧支持板２７の降下は停止し押圧状態を保持する一方、その操作レバー２６の動きが押圧機構２２５のクランク機構に働き検査用ピン昇降機構２３０に伝えられ、支持台２１１を図１２に示すようにＧ方向に上昇させ、検査用ピン６が検査用開口部７から突出し接続端子２９に検査用ピン６が当接することとなる。
【００８３】
また、接続端子２９に検査用ピン６が当接すると押圧機構２２５は、押圧機構２２５内のロック機構が働きその状態でロックされることとなる。このロックがされる際、図１２に示すようにモジュール２１の接続端子２９に検査用ピン６のピン端部８が当接し、棒状伸縮部９がピン筒部１０に入り込む。この結果、検査用ピン６はその検査用ピン６の縮みが最大のときの縮み量の略３０％以上で６０％以下の範囲で縮んだ状態となる。
【００８４】
これによってモジュール２１の各接続端子２９に正確に各検査用ピン６を接続できたので、検査用信号等入出力部１２を介して外部検査回路等から検査信号等を入出力し、液晶表示面２２の機能検査例えば表示のドット抜けが無いか、コントラストが決められた範囲に有るか、液晶表示エラーが無いか等の検査がされる。勿論映像だけではなく例えば音響試験等もすることが可能である。
【００８５】
次にモジュール２１の各種の検査が終了したときは、操作レバー２６を図８のＣ方向の逆に動かすと押圧機構２２５内のロック機構がはずれ、押圧機構２２５内のスプリング等により手で動かさないでも自然に押圧機構２２５内のクランク機構が働き、支持台２１１が図１２のＧ方向と逆に降下して検査用ピン６を接続端子２９から離れさせる。
【００８６】
また、押圧支持板２７等が上昇しモジュール２１の押圧を解除した状態に戻り押圧機構２２５内のクランク機構の動きは停止する。
【００８７】
最後に載置台４の挟持用開口部１８に指をいれモジュール２１を挟んで載置台４から取り外し、検査装置２０１の動作は終了することとなる。この際も、検査用ピン６は載置台４の検査用開口部７の中に没しているので、検査用ピン６でモジュール２１を傷つけることは無い。
【００８８】
（液晶装置を製造する方法）
次に上述の検査装置２０１により検査して電気光学装置を製造する方法を液晶装置を例として図９を用いて説明する。ここで、図９に示すＳＴ１０１、ＳＴ１０２及びＳＴ１０４は、第１の実施形態と同様であるのでその説明を省略する。
【００８９】
モジュール工程（ＳＴ１０２）によりモジュール２１が作成されるとそのモジュール２１の表示機能等の検査工程に入る。
【００９０】
図８に示すように、モジュール２１を載置台４に液晶表示面２２を表にして位置決めし、操作レバー２６をＣ方向に動かして押さえ爪２３等をＤ方向に降下させモジュール２１を押圧する。
【００９１】
また、それまで載置台４の検査用開口部７に没していた検査用ピン６が、検査用ピン昇降機構２３０による支持台２１１の上昇により、検査用開口部７から突出することとなり、モジュール２１の接続端子２９に当接し検査用信号等入出力部１２を介し、外部検査回路等から検査信号等が入出力されモジュール２１の検査が行われる（ＳＴ１０３）。
【００９２】
このように本実施形態によれば、検査対象である例えば液晶装置のモジュール２１を載置台４に載置する際に、検査用ピン６を載置台４の検査用開口部７から出ないように検査装置２０１に出没手段を設けたので、検査用ピン６でモジュール２１の接続端子２９等を傷つけることがなく検査でき、液晶装置の更なる品質向上を図れる。
【００９３】
また、検査用ピン６の先端であるピン端部８が例えば球形状に形成され、その下に続く棒状の棒状伸縮部９が内部に形成されているスプリング等により伸縮自在になっているので、モジュール２１の接続端子２９等を傷つけることを更に防止できる。
【００９４】
更に検査用ピン６がモジュール２１の接続端子２９に当接したときに、検査用ピン６の縮みが最大に縮められたときの縮み量の３０％以上で６０％以下の範囲で縮まることとしたので、最も適切な圧力で検査用ピン６がモジュール２１の接続端子２９に当接し、安定かつ確実な接続を保持できる。
【００９５】
また、検査用ピン６が複数あるとき夫々独立して伸縮することができるので、モジュール２１の接続端子２９の夫々の微妙な位置に合わせて当接でき、全ての検査用ピン６が各接続端子２９に確実に接続できることとなる。
【００９６】
次に、本発明を透過型表示がされるパッシブマトリクス方式の液晶装置について検査用ピン自体は動かない検査装置である第３の実施形態について説明する。
【００９７】
図１３は本発明の第３の実施形態に係る検査装置の概略斜視図及び図１４は図１３の検査装置の概略側面図である。尚、図１、図２、図３、図７及び図８における構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付すものとし、その説明を省略する。
【００９８】
（検査装置の構成）
検査装置３０１は図１３に示すように、検査装置本体３０２、その検査装置本体３０２に設けられた例えば３本の支柱３、更にその支柱３により支えられた検査対象であるモジュール２１を載置する載置台３０４及びその検査対象であるモジュール２１を押圧する押圧部５を有する。尚、検査装置本体３０２及び載置台３０４以外は第１の実施形態の検査装置の構成と同様であるので説明を省略する。
【００９９】
検査装置本体３０２には、図１３及び図１４に示すようにその上面に載置台３０４を支える支柱３と検査用ピンａ３０６ａ、検査用ピンｂ３０６ｂが備えられている。
【０１００】
ここで、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂは第１の実施形態に係る検査用ピン６と同様なので説明を省略する。尚、検査用ピンａ３０６ａと検査用ピンｂ３０６ｂとの役割を分担することもできる。例えば検査用ピンａ３０６ａは検査対象であるモジュール２１の液晶表示面２２の機能検査用に用い、検査用ピンｂ３０６ｂは液晶表示用のバックライト用の電源を供給する端子として用いても良い。勿論、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂの両方とも液晶表示面２２の機能検査用に用いることもできる。
【０１０１】
また、支柱３も第１の実施形態に係る検査装置の支柱と同様であるのでその説明を省略する。
【０１０２】
次に、載置台３０４には図１３に示すように略中央に検査用ピンの出入り口である検査用開口部ａ３０７ａ、載置台の中央線（Ｙ方向）に対し左右対称に検査対象であるモジュール２１を指等で挟持するための挟持用開口部１８、その挟持用開口部１８に隣接して載置台３０４の中央線（Ｙ方向）に対し左右対称にモジュール２１を外側からガイドするガイド板１９、更にそのガイド板１９の内側に左右対称に位置決めピン２０又その内側に左右対称に検査用開口部ｂ３０７ｂ等が形成されている。ここで、検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂ以外は第１実施形態の検査装置の載置台４と同様であるので説明を省略する。
【０１０３】
検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂは図１３、図３及び図７に示すように例えばＸ方向又はＹ方向に長辺を持つ略菱型形状で検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂに対応する位置に形成されている。従って載置台３０４が降下すると、検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂから検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂが突出することとなる。
【０１０４】
（検査装置の動作）
次に上述の検査装置についてその動作を説明する。ここで、第１の実施形態における検査装置１の検査用ピン６が検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂに、検査用開口部７が検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂとなっているだけで検査装置３０１の動作は第１の実施形態の検査装置１の動作と一部を除き同様であるので異なる動作のみ説明する。
【０１０５】
すなわち、第１の実施形態の検査装置１の動作の説明では図７に示すようにモジュール２１の各接続端子２９に正確に各検査用ピン６を接続できたので、検査用信号等入出力部１２を介して外部検査回路等から検査信号等を入出力し、液晶表示面２２の機能検査例えば表示のドット抜けが無いか、コントラストが決められた範囲に有るか、液晶表示エラーが無いか等の検査がされる。勿論映像だけではなく例えば音響試験等もすることが可能であるとしたが、検査装置３０１ではこれ以外に例えば検査対象であるモジュール２１のバックライトの電源を供給する端子として検査用ピンｂ３０６ｂを用いることができる。その場合には外部電源から検査用ピンｂ３０６ｂを介してモジュール２１の接続端子２９にバックライト用の電源が供給されることとなる。
【０１０６】
（液晶装置を製造する方法）
次に上述の検査装置３０１により検査して電気光学装置を製造する方法を液晶装置を例として図８及び図９を用いて説明する。ここで、図９に示すＳＴ１０２及びＳＴ１０４は、第１の実施形態と同様であるのでその説明を省略する。
【０１０７】
まず、図９に示すように、液晶用基板に着色部材、透明電極等を形成し、もう一枚の液晶用基板に透明電極等を形成したものを貼り合わせ、その基板間に液晶等を封入し、位相差板や偏光板等を取り付ける液晶パネル作成工程（ＳＴ１０１）により液晶パネルを作成する。
【０１０８】
モジュール工程（ＳＴ１０２）によりモジュール２１が作成されるとそのモジュール２１の表示機能等の検査工程に入る。
【０１０９】
図８に示すように、モジュール２１を載置台３０４に液晶表示面２２を表にして位置決めし、操作レバー２６をＣ方向に動かして押さえ爪２３等をＤ方向に降下させモジュール２１を押圧する。
【０１１０】
また、載置台３０４が押圧により検査装置本体３０２の上面まで下降するとそれまで載置台３０４の検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂに没していた検査用ピンａ３０６ａが相対的に検査用開口部ａ３０７ａから、検査用ピンｂ３０６ｂが相対的に検査用開口部ｂ３０７ｂから突出することとなり、モジュール２１の接続端子２９に夫々当接し検査用信号等入出力部１２を介し、外部検査回路等から検査信号等が入出力されモジュール２１の検査が行われる（ＳＴ１０３）。この際モジュール２１のバックライト用電源を例えば検査用ピンｂ３０６ｂから供給することもできる。
【０１１１】
このように本実施形態によれば、検査対象である例えば液晶装置のモジュール２１を載置台３０４に載置する際に、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂを載置台３０４の検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂから出ないように検査装置３０１に出没手段を設けたので、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂでモジュール２１の接続端子２９等を傷つけることがなく検査でき、液晶装置の更なる品質向上を図れる。
【０１１２】
また、操作レバー２６を図８のＣ方向に動かすというワンアクションだけで載置台３０４上のモジュール２１を押さえ爪２３等で押圧し、その押圧力により載置台３０４がＤ方向に降下して、それまで載置台３０４の検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂに没していた検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂが、相対的に夫々検査用開口部ａ３０７ａ又は検査用開口部ｂ３０７ｂから突出して、既に適正に位置決めされたモジュール２１の接続端子２９に当接するので、簡単な機構でかつ簡単な操作で接続端子２９等に傷をつけずにモジュール２１の検査をすることができることとなる。
【０１１３】
更に載置台３０４を検査用開口部ａ３０７ａ及び検査用開口部ｂ３０７ｂから検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂが出没できる程度に伸縮自在な支柱３例えば図４に示すように、検査装置本体３０２の上面に固定されたエレベータガイド１３内のスプリング１４により支柱可動部１５を伸縮自在にしたので、押さえ爪２３等による押圧がモジュール２１を介して載置台３０４にかかると、その押圧力だけで載置台３０４は降下することとなる。これによって、載置台３０４を降下させる特別な駆動装置や制御装置等が不要となり、簡単な構造でコストの低減を図りながら確実にモジュール２１の接続端子２９等に傷を付けずに検査が可能となる。
【０１１４】
また、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂの先端であるピン端部８が例えば球形状に形成され、その下に続く棒状の棒状伸縮部９が内部に形成されているスプリング等により伸縮自在になっているので、モジュール２１の接続端子２９等を傷つけることを更に防止できる。
【０１１５】
更に検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂが、モジュール２１の接続端子２９に当接したときに、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂの縮みが、最大に縮められたときの縮み量の３０％以上で６０％以下の範囲で縮まることとしたので、最も適切な圧力で検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂがモジュール２１の接続端子２９に当接し、安定かつ確実な接続を保持できる。
【０１１６】
また、検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂが複数あるとき夫々独立して伸縮することができるので、モジュール２１の接続端子２９の夫々の微妙な位置に合わせて当接でき、全ての検査用ピンａ３０６ａ及び検査用ピンｂ３０６ｂが各接続端子２９に確実に接続できることとなる。
【０１１７】
（電子機器）
次に、上述した検査装置１、検査装置２０１及び検査装置３０１を用いて電気光学装置を製造する方法により製造された例えば液晶装置を電子機器の表示装置として用いる場合の本発明の第４の実施形態に係る電子機器について説明する。
【０１１８】
図１５は本発明の第４の実施形態に係る電子機器の例である携帯電話機の外観概略図、図１６は携帯電話機の概略構成図である。
【０１１９】
ここで、携帯電話機５００は、図１５に示すように複数の操作ボタン５００ａの他、受話口５００ｂ、送話口５００ｃを有する外枠に例えば、液晶装置５０１を備えている。
【０１２０】
また、図１６に示すように携帯電話機５００は、液晶パネル４００と、これを制御する制御手段１２００とを有する。ここでは、液晶パネル４００を、パネル構造体４００Ａと、半導体ＩＣ等で構成される駆動回路４００Ｂとに観念的に分けて描いてある。更に制御手段１２００は、表示情報出力源１２１０、表示情報処理回路１２２０、電源回路１２３０及びタイミングジェネレータ１２４０を有する。
【０１２１】
表示情報出力源１２１０は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）等からなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスク等からなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備え、タイミングジェネレータ１２４０によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号等の形で表示情報を表示情報処理回路１２２０に供給するように構成されている。
【０１２２】
表示情報処理回路１２２０は、シリアルーパラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路等の周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号ＣＬＫと共に駆動回路４００Ｂへ供給する。駆動回路４００Ｂは、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び走査回路を含む。また、電源回路１２３０は、上述の各構成要素に夫々所定の電圧を供給する。
【０１２３】
このように本実施形態によれば、検査対象である例えば液晶装置のモジュール２１を載置台４に載置する際に、検査用ピン６を載置台４の検査用開口部７から出ないように検査装置１に出没手段を設けたので、検査用ピン６でモジュール２１の接続端子２９等を傷つけることがなく検査でき、液晶装置の更なる品質向上を図れ、接続端子２９等に傷がない状態の液晶装置を電子機器に備えることができるので、電子機器の品質の更なる向上が図れる。
【０１２４】
特に携帯電話機５００のように携帯可能な電子機器は、より軽量でコンパクトなことが求められるが本発明によれば、より細かく軽量な接続端子２９にも正確に傷をつけずに検査が可能となり、電子機器全体の軽量、コンパクト化を更に図ることができる。
【０１２５】
なお、電子機器としては、他に電気光学装置例えば液晶装置が搭載されたパーソナルコンピュータ、デジタルスチルカメラ、腕時計、タッチパネル、プロジェクタ、液晶テレビやビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、例えば上述した検査装置１、検査装置２０１及び検査装置３０１を用いて電気光学装置を製造する方法により製造された液晶装置が適用可能なのは言うまでもない。
【０１２６】
また、上述した電子機器に用いられる電気光学装置の例である液晶装置としては反射型のパッシブマトリックス方式の液晶装置や透過型のパッシブマトリックス方式の液晶装置に限られるものではなく、検査装置１、検査装置２０１及び検査装置３０１を用いて電気光学装置を製造する方法により製造された液晶装置であれば、反射半透過型のパッシブマトリックス方式の液晶装置、更にスイッチング素子として二端子型スイッチング素子であるＴＦＤやスイッチング素子として三端子型スイッチング素子であるＴＦＴを用いた反射型、透過型及び反射半透過型の液晶装置であっても良い。
【０１２７】
更に、エレクトロルミネッセンス装置、特に、有機エレクトロルミネッセンス装置、無機エレクトロルミネッセンス装置等や、ＬＥＤ（発光ダイオード）表示装置、電気泳動表示装置、プラズマディスプレイ装置、ＦＥＤ（フィールドエミッションディスプレイ）装置、薄型のブラウン管、液晶シャッター等を用いた小型テレビ、デジタルマイクロミラーデバイス（ＤＭＤ）を用いた装置等にも上述した液晶装置等の電気光学装置が適用可能である。
【０１２８】
以上、好ましい実施形態を上げて本発明を説明したが、本発明は上述したいずれの実施形態にも限定されず、本発明の技術思想の範囲内で適宜変更して実施できる。
【０１２９】
例えば、上述の実施形態では操作レバー２６を人間の手によって動かし、その動きを押圧機構２５内のクランク機構により押さえ爪２３等の昇降の動きに変えているが、これに限られるものでなく操作レバー２６の動きを感知し制御部がエアーシリンダー等に空気を送り、押さえ爪２３等を昇降させても良い。これによって、軽いタッチで操作レバー２６を動かし、押さえ爪２３等の昇降により押圧できる。
【０１３０】
また、上述の実施形態では検査信号等は検査用信号等入出力部１２を介して外部の検査回路等から入出力したが、これに限られるものでなく検査装置本体２自体に検査信号等を入出力する検査回路等を設けても良い。更に液晶装置のバックライトの電源自体も検査装置本体２自体に設け、これから検査用ピンｂ３０６ｂを介してモジュール２１の接続端子２９に供給しても良い。これにより、検査装置１、検査装置２０１及び検査装置３０１を外部検査用回路等への配線等を気にせず、どこでもモジュール２１等の検査が可能となる。
【０１３１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、検査用ピンが電子機器に用いられる電気光学装置等のモジュールの接続端子等を傷つけないで、簡単にモジュールの検査をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明の第１の実施形態に係る検査装置の概略斜視図である。
【図２】図２は図１の検査装置の概略側面図である。
【図３】図３は図１のＡＡ´方向及び図１３のＨＨ´方向、ＪＪ´方向の断面図である。
【図４】図４は図１のＢＢ´方向及び図１３のＩＩ´方向の断面図である。
【図５】図５は図２の検査装置の載置台にモジュールを載せ押圧手段により押圧の途中の概略側面図である。
【図６】図６は図５から更に押圧され検査装置本体まで降下した検査装置の概略側面図である。
【図７】図７は本発明の第１の実施形態に係るモジュールの接続端子に検査用ピンが当接した状態の説明図である。
【図８】図８は本発明の第１の実施形態に係るモジュールの接続端子に検査用ピンが当接した状態の検査装置の全体斜視図である。
【図９】図９は本発明の第１の実施形態に係る液晶装置の製造方法のフローチャート図である。
【図１０】図１０は本発明の第２の実施形態に係る検査装置の概略斜視図である。
【図１１】図１１は図１０のＦＦ´方向の断面図である。
【図１２】図１２は本発明の第２の実施形態に係るモジュールの接続端子に検査用ピンが当接した状態の説明図である。
【図１３】図１３は本発明の第３の実施形態に係る検査装置の概略斜視図である。
【図１４】図１４は図１３の検査装置の概略側面図である。
【図１５】図１５は本発明の第４の実施形態に係る電子機器の例である携帯電話機の外観概略図である。
【図１６】図１６は本発明の第４の実施形態に係る電子機器の例である携帯電話機の概略構成図である。
【符号の説明】
１、２０１、３０１　検査装置
２、２０２、３０２　検査装置本体
３　支柱
４、３０４　載置台
５　押圧部
６　検査用ピン
７　検査用開口部
８　ピン端部
９　棒状伸縮部
２１　モジュール
２５、２２５　押圧機構
２９　接続端子
３０６ａ　検査用ピンａ
３０６ｂ　検査用ピンｂ
３０７ａ　検査用開口部ａ
３０７ｂ　検査用開口部ｂ
４００　液晶パネル
５００　携帯電話機
５０１　液晶装置
１２００　制御手段

Claims (10)

1. 検査対象に備えられた接続端子に接触させる検査用ピンと、
   前記検査対象を載置した際に前記検査用ピンが対応する部分に開口部を形成した載置台と、
   前記検査対象を前記載置台に押圧する押圧手段と、
   前記押圧された検査対象の接続端子に前記検査用ピンを当接させるために前記検査用ピンを前記開口部から出没させる出没手段と
   を具備することを特徴とする検査装置。
2. 前記出没手段は、前記押圧手段により載置台に検査対象が押圧され載置台が降下することによって前記開口部から前記検査用ピンが突出し、或いは前記押圧手段による押圧を解除することによって前記載置台が上昇し前記検査用ピンが前記開口部に没することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
3. 前記載置台は、前記載置台の開口部から前記検査用ピンが出没する程度に伸縮自在な支柱により支えられていることを特徴とする請求項２に記載の検査装置。
4. 前記出没手段は、前記押圧手段により載置台に検査対象が押圧された後に前記検査用ピンを昇降させることにより前記開口部から前記検査用ピンを出没させることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
5. 前記検査用ピンは、前記接続端子に接触する端面部が半球状に形成されると共にその半球状の端面部に続く棒状部分が伸縮自在に形成されていることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の検査装置。
6. 前記検査用ピンは、前記検査用ピンを限界まで縮めるときに比べ前記押圧された検査対象の接続端子に当接されたときは略３０％以上で６０％以下の範囲で縮まることを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
7. 前記検査用ピンが複数形成されているときは、各検査用ピンの前記棒状部分が夫々独立して伸縮自在に形成されていることを特徴とする請求項５又は請求項６に記載の検査装置。
8. 電気光学装置に用いられるモジュールを電気的に検査して電気光学装置を製造する方法において、
   前記検査は、前記モジュールに備えられた接続端子に接触させる検査用ピンの対応する部分に開口部を形成した載置台に前記モジュールを載置する工程と、
   前記モジュールを前記載置台に押圧する工程と、
   前記押圧されたモジュールの接続端子に前記検査用ピンを当接させるために前記検査用ピンを前記開口部から出没させる工程と、
   前記出没させる工程により前記接続端子に前記検査用ピンを当接させモジュールを検査する工程と
   を具備することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
9. 請求項８に記載の電気光学装置の製造方法により製造された電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。
10. 電気光学装置に用いられるモジュールを電気的に検査する方法において、
    前記モジュールに備えられた接続端子に接触させる検査用ピンの対応する部分に開口部を形成した載置台に前記モジュールを載置する工程と、
    前記モジュールを前記載置台に押圧する工程と、
    前記押圧されたモジュールの接続端子に前記検査用ピンを当接させるために前記検査用ピンを前記開口部から出没させる工程と、
    前記出没させる工程により前記接続端子に前記検査用ピンを当接させる工程とを具備することを特徴とする検査方法。

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