JP2004103268A - 有機el表示装置の製造方法 - Google Patents
有機el表示装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004103268A JP2004103268A JP2002259649A JP2002259649A JP2004103268A JP 2004103268 A JP2004103268 A JP 2004103268A JP 2002259649 A JP2002259649 A JP 2002259649A JP 2002259649 A JP2002259649 A JP 2002259649A JP 2004103268 A JP2004103268 A JP 2004103268A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- organic
- vapor deposition
- deposition beam
- shadow mask
- display device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 title abstract description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 39
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 21
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 17
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 abstract description 5
- 238000011176 pooling Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 45
- 239000010408 film Substances 0.000 description 15
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 12
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- WBEDMFHOODHFKR-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n'-bis(3-methylphenyl)-1-n,1-n',4-triphenylcyclohexa-2,4-diene-1,1-diamine Chemical group CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C2(C=CC(=CC2)C=2C=CC=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 WBEDMFHOODHFKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000846 In alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical class N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- JHYLKGDXMUDNEO-UHFFFAOYSA-N [Mg].[In] Chemical compound [Mg].[In] JHYLKGDXMUDNEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- DYFFAVRFJWYYQO-UHFFFAOYSA-N n-methyl-n-phenylaniline Chemical compound C=1C=CC=CC=1N(C)C1=CC=CC=C1 DYFFAVRFJWYYQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【課題】有機EL材料層の膜厚を均一化すること、及びそのパターン形成の精度を高める。
【解決手段】真空チャンバー内に、絶縁性基板100を配置し、この絶縁性基板100に近接して対向するように、シャドウマスク101を配置する。シャドウマスク101には、各有機EL材料層のパターンに対応して複数の開口部102が形成されている。シャドウマスク101に対向して、上述した蒸着ビーム発生源50を配置する。蒸着ビーム発生源50の貯留部51に収納され溶融状態の有機EL材料が蒸発し、蒸着ビーム通過用筒体52を通過して、指向性の高められた蒸着ビームとなってシャドウマスク101の方向へ放射される。
【選択図】 図4
【解決手段】真空チャンバー内に、絶縁性基板100を配置し、この絶縁性基板100に近接して対向するように、シャドウマスク101を配置する。シャドウマスク101には、各有機EL材料層のパターンに対応して複数の開口部102が形成されている。シャドウマスク101に対向して、上述した蒸着ビーム発生源50を配置する。蒸着ビーム発生源50の貯留部51に収納され溶融状態の有機EL材料が蒸発し、蒸着ビーム通過用筒体52を通過して、指向性の高められた蒸着ビームとなってシャドウマスク101の方向へ放射される。
【選択図】 図4
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、有機EL表示装置の製造方法に関し、特に有機EL材料の蒸着工程を含む有機EL表示装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、有機エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:以下、「有機EL」と称する。)素子を用いた有機EL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示装置として注目されており、例えば、その有機EL素子を駆動させるスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下「TFT」と称する。)を備えた有機EL表示装置の研究開発も進められている。
【0003】
図6に従来の有機EL表示装置の一表示画素の断面図を示す。この表示画素はゲート電極11を有するゲート信号線と、ドレイン信号線(不図示)との交点付近に有機EL素子駆動用のTFTを備えている。そのTFTのドレインはドレイン信号線に接続されており、またゲート電極11はゲート信号線(不図示)に接続されており、更にソース13sはEL素子の陽極61に接続されている。実際のEL表示装置では、この画素が多数個、マトリックス状に配置され表示領域を構成している。以下で、この有機EL表示装置の製造方法について説明する。
【0004】
表示画素は、ガラスや合成樹脂などから成る透明な絶縁性基板10上に、TFT及び有機EL素子を順に積層形成して成るものである。まず、絶縁性基板10上にクロム(Cr)等の高融点金属から成るゲート電極11を形成し、その上にゲート絶縁膜12、及びp−Si膜からなる能動層13を順に形成する。
【0005】
能動層13には、ゲート電極11上方のチャネル13cと、このチャネル13cの両側に、チャネル13c上のストッパ絶縁膜14をマスクにしてイオンドーピングし更にゲート電極11の両側をレジストにてカバーしてイオンドーピングしてゲート電極11の両側に低濃度領域とその外側に高濃度領域のソース13s及びドレイン13dが形成される。
【0006】
そして、ゲート絶縁膜12、能動層13及びストッパ絶縁膜14上の全面に、SiO2膜、SiN膜及びSiO2膜の順に積層された層間絶縁膜15を形成し、ドレイン13dに対応して設けたコンタクトホールにAl等の金属を充填してドレイン電極16を形成する。更に全面に例えば有機樹脂から成り表面を平坦にする平坦化絶縁膜17を形成する。
【0007】
そして、その平坦化絶縁膜17のソース13sに対応した位置にコンタクトホールを形成し、このコンタクトホールを介してソース13sとコンタクトしたITO(Indium Tin Oxide)から成るソース電極を兼ねた、陽極61を平坦化絶縁膜17上に形成する。陽極61はITO(Indium Tin Oxide)等の透明電極から成る。この陽極61の上に有機EL素子60を形成する。
【0008】
有機EL素子60は、一般的な構造であり、陽極61、MTDATA(4,4−bis(3−methylphenylphenylamino)biphenyl)から成る第1ホール輸送層、TPD(4,4,4−tris(3−methylphenylphenylamino)triphenylanine)からなる第2ホール輸送層から成るホール輸送層62、キナクリドン(Quinacridone)誘導体を含むBebq2(10−ベンゾ〔h〕キノリノール−ベリリウム錯体)から成る発光層63、及びBebq2から成る電子輸送層64、マグネシウム・インジウム合金もしくはアルミニウム、もしくはアルミニウム合金から成る陰極65が、この順番で積層形成された構造である。
【0009】
有機EL素子60は、上記の有機EL素子駆動用のTFTを介して供給される電流によって発光する。つまり、陽極61から注入されたホールと、陰極65から注入された電子とが発光層の内部で再結合し、発光層を形成する有機分子を励起して励起子が生じる。この励起子が放射失活する過程で発光層63から光が放たれ、この光が透明な陽極61から絶縁性基板10を介して外部へ放出されて発光する。
【0010】
上述した有機EL素子60のホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64に用いられる有機EL材料は、耐溶剤性が低く、水分にも弱いという特性があるため、半導体プロセスにおけるフォトリソグラフィ技術を利用することができない。そこで、いわゆるシャドウマスクを用いた蒸着法により有機EL素子60のホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65のパターン形成を行っていた。
【0011】
なお、関連する先行技術文献としては、以下の特許文献1がある。
【0012】
【特許文献1】
特開平11−283182号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
上述のシャドウマスクを用いた蒸着法により、有機EL素子60のパターン形成を行うに際して、図7(a)に示すように、シャドウマスク101は絶縁性基板100の表面に近接させて配置される。これはシャドウマスク101を絶縁性基板100に密着させると、その表面を損傷するおそれがあるためである。
【0014】
そして、蒸着ビーム発生源(不図示)からの、有機EL材料を含む蒸着ビーム103が、シャドウマスク101に設けられた開口部102を通して、絶縁性基板100に照射される。すると、図7(b)に示すように、絶縁性基板100の表面の開口部102に対応する領域に、有機EL材料が蒸着される。
【0015】
しかしながら、蒸着ビームの指向性が低いと、図7(a)に示すように、いわゆるシャドウ効果により、シャドウマスク101の開口部102のエッジから斜めに蒸着ビームが入射する成分を生じ、開口部102より広がった領域に蒸着されてしまう。また、開口部102の中央部からエッジに向かうにしたがい、蒸着ビームの密度の低下が起こる。その結果、蒸着された有機EL材料層201は、図7(b)に示すように、中央部では厚く、周辺部では薄くなり、不均一な層厚となってしまい、有機EL素子60の特性に悪影響を及ぼすおそれがあった。
【0016】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明は蒸着ビームの指向性を向上させることで、有機EL材料層の膜厚を均一化すること、及びそのパターン形成の精度を高めたものである。
【0017】
すなわち、本発明は、真空チャンバー内に配置された被蒸着基板の表面に近接して蒸着マスクを配置し、蒸着ビーム発生源から有機EL材料を含む蒸着ビームを発生させ、この蒸着ビームを前記蒸着マスクの開口部に通し、前記基板の表面の所定領域に有機EL材料を蒸着する工程を含み、前記蒸着ビームは前記蒸着ビーム発生源に設けられた複数の蒸着ビーム通過用筒体を通して放射されることを特徴とするものである。
【0018】
また、上記構成に加えて、前記蒸着ビーム通過用筒体の筒径と筒長の比を1:5以上とすることが好ましい。これにより、蒸着ビームの指向性を高め、有機EL材料層の膜厚をほぼ均一化することができる。
【0019】
また、上記構成に加えて、前記蒸着ビーム通過用筒体に隣接してヒーターを設け、このヒーターで前記蒸着ビーム通過用筒体を通過する蒸着ビームを加熱しながら蒸着を行うことが好ましい。これにより、蒸着ビームが蒸着ビーム通過用筒体を通過する際に冷却され、蒸着ビーム通過用筒体の内壁に有機EL材料が付着して蒸着ビーム通路が狭くなったり、詰まってしまうのが防止される。
【0020】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図1は蒸着ビーム発生源50の斜視図、図2は図1の断面図、図3は有機EL材料の蒸着工程を示す斜視図、図4は図3の断面図である。
【0021】
本発明の有機EL表示装置の製造方法は、絶縁性基板10を用意し、この絶縁性基板10上に、有機EL素子駆動用のTFTや有機EL素子60を順次、形成していくが、有機EL素子60の形成工程を除いては従来例で説明した工程と同様である。
【0022】
有機EL素子60を構成する、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65は、シャドウマスク101を用いた蒸着法によりパターニングされる。蒸着ビームは、蒸着ビーム発生源50に取り付けられた細長の蒸着ビーム通過用筒体52を通して、その指向性が高められる。
【0023】
蒸着ビーム発生源50は図1及び図2に示すように、所定形状の筐体の底部に有機EL材料の貯留部51が設けられている。図示しないが、貯留部51にはヒータが設けられ、貯留部51に収納された有機EL材料を加熱して溶融状態にするように構成されている。
【0024】
貯留部51の上方には、その貯留空間と連通された細長の蒸着ビーム通過用筒体52が複数本、筐体の長手方向に沿って一列に立設されている。この蒸着ビーム通過用筒体52のそれぞれに隣接して、蒸着ビーム通過用筒体52内を通過する蒸着ビームを加熱するためのヒーター54が取り付けられている。そして、筐体の上面と面一に複数の蒸着ビーム通過用筒体52の筒口部53が露出されている。
【0025】
ここで、本発明者の検討によれば、蒸着ビームの指向性を十分高め、蒸着された有機EL材料層、すなわち、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65の層厚の均一性と、パターン形成精度を確保するためには、それぞれの蒸着ビーム通過用筒体52の筒径dと筒長lとの比を少なくとも1:5以上にすることである。さらに、蒸着ビームのバラツキや再現性を考慮すると、その比を1:10以上に設定することが好ましい。
【0026】
また、蒸着ビーム通過用筒体52の形状は、指向性の高い蒸着ビームが円滑に放射されるためには円筒形状であることが好ましいが、これに限らず、角柱形状やその他の形状であってもよい。蒸着ビーム通過用筒体52の筒径dと筒長lとの比が1:5である場合、例えば、蒸着ビーム通過用筒体52の寸法は実用上、筒径dは0.5mm、筒長lは2.5mmであることが好ましい。
【0027】
そして、図3及び図4に示すように、真空チャンバー内に、有機EL駆動用TFT等が既に形成された絶縁性基板100を配置し、この絶縁性基板100に近接して対向するように、シャドウマスク101を配置する。
【0028】
シャドウマスク101には、各有機EL材料層のパターンに対応して複数の開口部102が形成されている。そして、シャドウマスク101に対向して、上述した蒸着ビーム発生源50を配置する。そして、蒸着ビーム発生源50の貯留部51に収納され溶融状態の有機EL材料が蒸発し、蒸着ビーム通過用筒体52を通過して、指向性の高められた蒸着ビームとなってシャドウマスク101の方向へ放射される。そして、蒸着ビーム発生源50をシャドウマスク101に対して平行に移動させることで、シャドウマスク101の全面に渡って、蒸着ビームが照射される。これにより、各有機EL材料層のパターンが形成される。
【0029】
図5に、蒸着ビーム104がシャドウマスク101を通して絶縁性基板100に照射されている様子を示す。図5(a)に示すように、すべての蒸着ビーム104の方向は、シャドウマスク101及び絶縁性基板100に対して、ほぼ垂直に揃えられているので、シャドウ効果が無くなり、開口部102より広がった領域に蒸着されることが防止される。また、蒸着後の有機EL材料201の厚さは全体に渡って均一となる。
【0030】
また、絶縁性基板100に近接して対向するように、シャドウマスク101を配置する際には、所定間隔(例えば数十ミクロン)の距離を離すために、絶縁性基板100とシャドウマスク101との間に複数のスペーサ105を設けると良い。これにより、絶縁性基板100にシャドウマスク101が接触して、絶縁性基板100の表面の膜や素子を損傷することが防止される。
【0031】
また、有機EL材料層には、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65というように、複数の層がある。そこで、例えば、1つの真空チャンバー内でホール輸送層62を蒸着した後に、ホール輸送層62が蒸着された絶縁性基板100は別の真空チャンバーに移送され、そこで同様な工程を繰り返すことによって、ホール輸送層62の上層の発光層63が形成される。こうして、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65が順次、積層形成され、有機EL素子60が形成される。
【0032】
なお、上記実施形態では、蒸着ビーム通過用筒体52が複数本、筐体の長手方向に沿って一列に立設されてリニアソースを構成しているが、これに限らず、蒸着ビーム通過用筒体52は行列状に配置しても良い。
【0033】
【発明の効果】
本発明によれば、蒸着法を用いて有機EL素子を形成するに際して、蒸着ビームを蒸着ビーム発生源に設けられた複数の蒸着ビーム通過用筒体を通して放射しているので、蒸着ビームの指向性が向上し、有機EL材料層の膜厚を均一化すること、及びそのパターン形成の精度を高めることが可能になり、有機EL素子を組み込んだ有機EL表示装置の特性向上、歩留まり向上に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る有機EL素子の製造方法に用いる蒸着ビーム発生源の斜視図である。
【図2】本発明の実施形態に係る有機EL素子の製造方法に用いる蒸着ビーム発生源の断面である。
【図3】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【図4】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【図5】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【図6】有機EL表示装置の一表示画素の断面図である。
【図7】従来例に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【符号の説明】
50 蒸着ビーム発生源 51 貯留部 52 蒸着ビーム通過用筒体
53 筒口部 100 絶縁性基板 101 シャドウマスク
102 開口部 104 蒸着ビーム 105 スペーサ
【発明の属する技術分野】
本発明は、有機EL表示装置の製造方法に関し、特に有機EL材料の蒸着工程を含む有機EL表示装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、有機エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:以下、「有機EL」と称する。)素子を用いた有機EL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示装置として注目されており、例えば、その有機EL素子を駆動させるスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下「TFT」と称する。)を備えた有機EL表示装置の研究開発も進められている。
【0003】
図6に従来の有機EL表示装置の一表示画素の断面図を示す。この表示画素はゲート電極11を有するゲート信号線と、ドレイン信号線(不図示)との交点付近に有機EL素子駆動用のTFTを備えている。そのTFTのドレインはドレイン信号線に接続されており、またゲート電極11はゲート信号線(不図示)に接続されており、更にソース13sはEL素子の陽極61に接続されている。実際のEL表示装置では、この画素が多数個、マトリックス状に配置され表示領域を構成している。以下で、この有機EL表示装置の製造方法について説明する。
【0004】
表示画素は、ガラスや合成樹脂などから成る透明な絶縁性基板10上に、TFT及び有機EL素子を順に積層形成して成るものである。まず、絶縁性基板10上にクロム(Cr)等の高融点金属から成るゲート電極11を形成し、その上にゲート絶縁膜12、及びp−Si膜からなる能動層13を順に形成する。
【0005】
能動層13には、ゲート電極11上方のチャネル13cと、このチャネル13cの両側に、チャネル13c上のストッパ絶縁膜14をマスクにしてイオンドーピングし更にゲート電極11の両側をレジストにてカバーしてイオンドーピングしてゲート電極11の両側に低濃度領域とその外側に高濃度領域のソース13s及びドレイン13dが形成される。
【0006】
そして、ゲート絶縁膜12、能動層13及びストッパ絶縁膜14上の全面に、SiO2膜、SiN膜及びSiO2膜の順に積層された層間絶縁膜15を形成し、ドレイン13dに対応して設けたコンタクトホールにAl等の金属を充填してドレイン電極16を形成する。更に全面に例えば有機樹脂から成り表面を平坦にする平坦化絶縁膜17を形成する。
【0007】
そして、その平坦化絶縁膜17のソース13sに対応した位置にコンタクトホールを形成し、このコンタクトホールを介してソース13sとコンタクトしたITO(Indium Tin Oxide)から成るソース電極を兼ねた、陽極61を平坦化絶縁膜17上に形成する。陽極61はITO(Indium Tin Oxide)等の透明電極から成る。この陽極61の上に有機EL素子60を形成する。
【0008】
有機EL素子60は、一般的な構造であり、陽極61、MTDATA(4,4−bis(3−methylphenylphenylamino)biphenyl)から成る第1ホール輸送層、TPD(4,4,4−tris(3−methylphenylphenylamino)triphenylanine)からなる第2ホール輸送層から成るホール輸送層62、キナクリドン(Quinacridone)誘導体を含むBebq2(10−ベンゾ〔h〕キノリノール−ベリリウム錯体)から成る発光層63、及びBebq2から成る電子輸送層64、マグネシウム・インジウム合金もしくはアルミニウム、もしくはアルミニウム合金から成る陰極65が、この順番で積層形成された構造である。
【0009】
有機EL素子60は、上記の有機EL素子駆動用のTFTを介して供給される電流によって発光する。つまり、陽極61から注入されたホールと、陰極65から注入された電子とが発光層の内部で再結合し、発光層を形成する有機分子を励起して励起子が生じる。この励起子が放射失活する過程で発光層63から光が放たれ、この光が透明な陽極61から絶縁性基板10を介して外部へ放出されて発光する。
【0010】
上述した有機EL素子60のホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64に用いられる有機EL材料は、耐溶剤性が低く、水分にも弱いという特性があるため、半導体プロセスにおけるフォトリソグラフィ技術を利用することができない。そこで、いわゆるシャドウマスクを用いた蒸着法により有機EL素子60のホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65のパターン形成を行っていた。
【0011】
なお、関連する先行技術文献としては、以下の特許文献1がある。
【0012】
【特許文献1】
特開平11−283182号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
上述のシャドウマスクを用いた蒸着法により、有機EL素子60のパターン形成を行うに際して、図7(a)に示すように、シャドウマスク101は絶縁性基板100の表面に近接させて配置される。これはシャドウマスク101を絶縁性基板100に密着させると、その表面を損傷するおそれがあるためである。
【0014】
そして、蒸着ビーム発生源(不図示)からの、有機EL材料を含む蒸着ビーム103が、シャドウマスク101に設けられた開口部102を通して、絶縁性基板100に照射される。すると、図7(b)に示すように、絶縁性基板100の表面の開口部102に対応する領域に、有機EL材料が蒸着される。
【0015】
しかしながら、蒸着ビームの指向性が低いと、図7(a)に示すように、いわゆるシャドウ効果により、シャドウマスク101の開口部102のエッジから斜めに蒸着ビームが入射する成分を生じ、開口部102より広がった領域に蒸着されてしまう。また、開口部102の中央部からエッジに向かうにしたがい、蒸着ビームの密度の低下が起こる。その結果、蒸着された有機EL材料層201は、図7(b)に示すように、中央部では厚く、周辺部では薄くなり、不均一な層厚となってしまい、有機EL素子60の特性に悪影響を及ぼすおそれがあった。
【0016】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明は蒸着ビームの指向性を向上させることで、有機EL材料層の膜厚を均一化すること、及びそのパターン形成の精度を高めたものである。
【0017】
すなわち、本発明は、真空チャンバー内に配置された被蒸着基板の表面に近接して蒸着マスクを配置し、蒸着ビーム発生源から有機EL材料を含む蒸着ビームを発生させ、この蒸着ビームを前記蒸着マスクの開口部に通し、前記基板の表面の所定領域に有機EL材料を蒸着する工程を含み、前記蒸着ビームは前記蒸着ビーム発生源に設けられた複数の蒸着ビーム通過用筒体を通して放射されることを特徴とするものである。
【0018】
また、上記構成に加えて、前記蒸着ビーム通過用筒体の筒径と筒長の比を1:5以上とすることが好ましい。これにより、蒸着ビームの指向性を高め、有機EL材料層の膜厚をほぼ均一化することができる。
【0019】
また、上記構成に加えて、前記蒸着ビーム通過用筒体に隣接してヒーターを設け、このヒーターで前記蒸着ビーム通過用筒体を通過する蒸着ビームを加熱しながら蒸着を行うことが好ましい。これにより、蒸着ビームが蒸着ビーム通過用筒体を通過する際に冷却され、蒸着ビーム通過用筒体の内壁に有機EL材料が付着して蒸着ビーム通路が狭くなったり、詰まってしまうのが防止される。
【0020】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図1は蒸着ビーム発生源50の斜視図、図2は図1の断面図、図3は有機EL材料の蒸着工程を示す斜視図、図4は図3の断面図である。
【0021】
本発明の有機EL表示装置の製造方法は、絶縁性基板10を用意し、この絶縁性基板10上に、有機EL素子駆動用のTFTや有機EL素子60を順次、形成していくが、有機EL素子60の形成工程を除いては従来例で説明した工程と同様である。
【0022】
有機EL素子60を構成する、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65は、シャドウマスク101を用いた蒸着法によりパターニングされる。蒸着ビームは、蒸着ビーム発生源50に取り付けられた細長の蒸着ビーム通過用筒体52を通して、その指向性が高められる。
【0023】
蒸着ビーム発生源50は図1及び図2に示すように、所定形状の筐体の底部に有機EL材料の貯留部51が設けられている。図示しないが、貯留部51にはヒータが設けられ、貯留部51に収納された有機EL材料を加熱して溶融状態にするように構成されている。
【0024】
貯留部51の上方には、その貯留空間と連通された細長の蒸着ビーム通過用筒体52が複数本、筐体の長手方向に沿って一列に立設されている。この蒸着ビーム通過用筒体52のそれぞれに隣接して、蒸着ビーム通過用筒体52内を通過する蒸着ビームを加熱するためのヒーター54が取り付けられている。そして、筐体の上面と面一に複数の蒸着ビーム通過用筒体52の筒口部53が露出されている。
【0025】
ここで、本発明者の検討によれば、蒸着ビームの指向性を十分高め、蒸着された有機EL材料層、すなわち、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65の層厚の均一性と、パターン形成精度を確保するためには、それぞれの蒸着ビーム通過用筒体52の筒径dと筒長lとの比を少なくとも1:5以上にすることである。さらに、蒸着ビームのバラツキや再現性を考慮すると、その比を1:10以上に設定することが好ましい。
【0026】
また、蒸着ビーム通過用筒体52の形状は、指向性の高い蒸着ビームが円滑に放射されるためには円筒形状であることが好ましいが、これに限らず、角柱形状やその他の形状であってもよい。蒸着ビーム通過用筒体52の筒径dと筒長lとの比が1:5である場合、例えば、蒸着ビーム通過用筒体52の寸法は実用上、筒径dは0.5mm、筒長lは2.5mmであることが好ましい。
【0027】
そして、図3及び図4に示すように、真空チャンバー内に、有機EL駆動用TFT等が既に形成された絶縁性基板100を配置し、この絶縁性基板100に近接して対向するように、シャドウマスク101を配置する。
【0028】
シャドウマスク101には、各有機EL材料層のパターンに対応して複数の開口部102が形成されている。そして、シャドウマスク101に対向して、上述した蒸着ビーム発生源50を配置する。そして、蒸着ビーム発生源50の貯留部51に収納され溶融状態の有機EL材料が蒸発し、蒸着ビーム通過用筒体52を通過して、指向性の高められた蒸着ビームとなってシャドウマスク101の方向へ放射される。そして、蒸着ビーム発生源50をシャドウマスク101に対して平行に移動させることで、シャドウマスク101の全面に渡って、蒸着ビームが照射される。これにより、各有機EL材料層のパターンが形成される。
【0029】
図5に、蒸着ビーム104がシャドウマスク101を通して絶縁性基板100に照射されている様子を示す。図5(a)に示すように、すべての蒸着ビーム104の方向は、シャドウマスク101及び絶縁性基板100に対して、ほぼ垂直に揃えられているので、シャドウ効果が無くなり、開口部102より広がった領域に蒸着されることが防止される。また、蒸着後の有機EL材料201の厚さは全体に渡って均一となる。
【0030】
また、絶縁性基板100に近接して対向するように、シャドウマスク101を配置する際には、所定間隔(例えば数十ミクロン)の距離を離すために、絶縁性基板100とシャドウマスク101との間に複数のスペーサ105を設けると良い。これにより、絶縁性基板100にシャドウマスク101が接触して、絶縁性基板100の表面の膜や素子を損傷することが防止される。
【0031】
また、有機EL材料層には、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65というように、複数の層がある。そこで、例えば、1つの真空チャンバー内でホール輸送層62を蒸着した後に、ホール輸送層62が蒸着された絶縁性基板100は別の真空チャンバーに移送され、そこで同様な工程を繰り返すことによって、ホール輸送層62の上層の発光層63が形成される。こうして、ホール輸送層62、発光層63、電子輸送層64及び陰極65が順次、積層形成され、有機EL素子60が形成される。
【0032】
なお、上記実施形態では、蒸着ビーム通過用筒体52が複数本、筐体の長手方向に沿って一列に立設されてリニアソースを構成しているが、これに限らず、蒸着ビーム通過用筒体52は行列状に配置しても良い。
【0033】
【発明の効果】
本発明によれば、蒸着法を用いて有機EL素子を形成するに際して、蒸着ビームを蒸着ビーム発生源に設けられた複数の蒸着ビーム通過用筒体を通して放射しているので、蒸着ビームの指向性が向上し、有機EL材料層の膜厚を均一化すること、及びそのパターン形成の精度を高めることが可能になり、有機EL素子を組み込んだ有機EL表示装置の特性向上、歩留まり向上に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る有機EL素子の製造方法に用いる蒸着ビーム発生源の斜視図である。
【図2】本発明の実施形態に係る有機EL素子の製造方法に用いる蒸着ビーム発生源の断面である。
【図3】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【図4】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【図5】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【図6】有機EL表示装置の一表示画素の断面図である。
【図7】従来例に係る有機EL表示装置の製造方法を説明する図である。
【符号の説明】
50 蒸着ビーム発生源 51 貯留部 52 蒸着ビーム通過用筒体
53 筒口部 100 絶縁性基板 101 シャドウマスク
102 開口部 104 蒸着ビーム 105 スペーサ
Claims (3)
- 真空チャンバー内に配置された被蒸着基板の表面に近接して蒸着マスクを配置し、蒸着ビーム発生源から有機EL材料を含む蒸着ビームを発生させ、この蒸着ビームを前記蒸着マスクの開口部に通し、前記基板の表面の所定領域に有機EL材料を蒸着する工程を含み、
前記蒸着ビームは前記蒸着ビーム発生源に設けられた複数の蒸着ビーム通過用筒体を通して放射されることを特徴とする有機EL表示装置の製造方法。 - 前記蒸着ビーム通過用筒体の筒径と筒長の比が、1:5以上であることを特徴とする請求項1記載の有機EL表示装置の製造方法。
- 前記蒸着ビーム通過用筒体に隣接してヒーターを設け、このヒーターで前記蒸着ビーム通過用筒体を通過する蒸着ビームを加熱しながら蒸着を行うことを特徴とする請求項1または2記載の有機EL表示装置の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002259649A JP2004103268A (ja) | 2002-09-05 | 2002-09-05 | 有機el表示装置の製造方法 |
TW092120183A TWI252706B (en) | 2002-09-05 | 2003-07-24 | Manufacturing method of organic electroluminescent display device |
US10/653,420 US20040115338A1 (en) | 2002-09-05 | 2003-09-03 | Manufacturing method of organic electroluminescent display device |
CNA03156349XA CN1489419A (zh) | 2002-09-05 | 2003-09-04 | 有机电致发光显示装置的制造方法 |
KR1020030061682A KR100545975B1 (ko) | 2002-09-05 | 2003-09-04 | 유기 el 표시 장치의 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002259649A JP2004103268A (ja) | 2002-09-05 | 2002-09-05 | 有機el表示装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004103268A true JP2004103268A (ja) | 2004-04-02 |
Family
ID=32260585
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002259649A Pending JP2004103268A (ja) | 2002-09-05 | 2002-09-05 | 有機el表示装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004103268A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005063952A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置の作製方法 |
JP2006249541A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Hitachi Zosen Corp | 蒸着装置 |
JP2008530372A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-08-07 | ワイ・エー・エス カンパニー リミテッド | 真空熱蒸着用のマルチノズル蒸着器 |
JP2012193391A (ja) * | 2011-03-14 | 2012-10-11 | Canon Tokki Corp | 蒸着装置並びに蒸着方法 |
CN112397674A (zh) * | 2019-08-19 | 2021-02-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板的制造方法和掩膜板组件 |
-
2002
- 2002-09-05 JP JP2002259649A patent/JP2004103268A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005063952A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置の作製方法 |
JP4522777B2 (ja) * | 2003-07-25 | 2010-08-11 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置の作製方法 |
JP2006249541A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Hitachi Zosen Corp | 蒸着装置 |
JP4535908B2 (ja) * | 2005-03-14 | 2010-09-01 | 日立造船株式会社 | 蒸着装置 |
JP2008530372A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-08-07 | ワイ・エー・エス カンパニー リミテッド | 真空熱蒸着用のマルチノズル蒸着器 |
JP4781433B2 (ja) * | 2006-07-03 | 2011-09-28 | ワイ・エー・エス カンパニー リミテッド | 真空熱蒸着用のマルチノズル蒸着器 |
JP2012193391A (ja) * | 2011-03-14 | 2012-10-11 | Canon Tokki Corp | 蒸着装置並びに蒸着方法 |
CN112397674A (zh) * | 2019-08-19 | 2021-02-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板的制造方法和掩膜板组件 |
WO2021032087A1 (zh) * | 2019-08-19 | 2021-02-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板和掩膜板组件 |
CN112397674B (zh) * | 2019-08-19 | 2022-04-12 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板的制造方法和掩膜板组件 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004103269A (ja) | 有機el表示装置の製造方法 | |
KR100545975B1 (ko) | 유기 el 표시 장치의 제조 방법 | |
JP4684378B2 (ja) | 有機elディスプレイパネルの製造方法 | |
KR100661439B1 (ko) | 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
KR100555262B1 (ko) | 증착 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
US9660191B2 (en) | Thin film deposition apparatus and method of manufacturing organic light-emitting display device by using the same | |
US7825584B2 (en) | Organic light emitting display device and method for fabricating the same | |
KR100564197B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
JP3641963B2 (ja) | 有機el素子とその製造方法 | |
KR100643404B1 (ko) | 디스플레이장치 및 그 제조방법 | |
US7626331B2 (en) | Active matrix organic light emitting device having organic thin film transistor disposed on organic light emitting diode structure | |
WO2018120365A1 (zh) | Oled背板及其制作方法 | |
JP2005327674A (ja) | 有機エレクトロルミネッセント表示素子、それを有する表示装置、及び、その製造方法 | |
US6781293B2 (en) | Organic EL device with high contrast ratio and method for manufacturing the same | |
WO2019041578A1 (zh) | Oled基板及其制作方法 | |
JP2845233B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法 | |
JP2002302759A (ja) | 薄膜パターンの形成方法および有機電界発光表示装置の製造方法 | |
JPH11224778A (ja) | エレクトロルミネッセンス光源 | |
JP2004103268A (ja) | 有機el表示装置の製造方法 | |
KR20070109613A (ko) | 섀도우 마스크 프레임 조립체 및 이를 이용한 유기전계발광소자의 제조방법 | |
JP2005251497A (ja) | 有機el素子およびその製造方法 | |
JP4346336B2 (ja) | 有機el表示装置の製造方法 | |
KR100612118B1 (ko) | 다층 구조의 격벽 구조물을 포함하는 유기 전계발광소자및 그의 제조 방법 | |
JP2007100132A (ja) | 蒸着方法及び表示装置の製造方法 | |
JP2006210156A (ja) | 有機el装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050902 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080123 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080125 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080324 |