JP2004101421A

JP2004101421A - 光学式測距装置

Info

Publication number: JP2004101421A
Application number: JP2002265599A
Authority: JP
Inventors: Takanori Kono; 河野　孝典
Original assignee: Nidec Copal Corp
Current assignee: Nidec Copal Corp
Priority date: 2002-09-11
Filing date: 2002-09-11
Publication date: 2004-04-02

Abstract

【課題】光学式測距装置において、効率的で正確な光軸位置調整を実現する。
【解決手段】光学式測距装置は、光軸方向にある対象物に対して光束を投光する投光部と、対象物から戻って来る光束を受光する受光部とを備え、対象物の光軸方向距離を測定する。投光部は、光軸方向に光束を集束するレンズ２１と、レンズ２１を保持する保持枠２２と、光束を放射する発光素子２３を搭載し且つレンズ２１に対向して保持枠２２に取り付けられる基板２６とからなる。互いに対向するレンズ２１と発光素子２３との間の溝２９に透明板を挿入可能とし、レンズ２１に対する発光素子２３の光軸方向位置を光学的に調整する。
【選択図】　　　図２

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光学式測距装置に関する。より詳しくは、カメラなどに組み込まれ、自動焦点合わせなどに使われる小型の光学式測距装置の実装構造に関する。更に詳しくは、投光用のレンズに対する発光素子の位置調整技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光学式測距装置は、光軸方向にある対象物に対して光束を投光する投光部と対象物から戻って来る光束を受光する受光部とを備え、対象物の光軸方向距離を測定するものである。係る光学式測距装置はカメラなどに組み込まれて自動焦点合わせなどに多用されている（例えば、特許文献１、特許文献２、特許文献３及び特許文献４参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−１３２７２２号公報
【特許文献２】
特開平１１−２８７９４６号公報
【特許文献３】
特開平１１−３０４４７２号公報
【特許文献４】
特開２０００−３３８３９１号公報
【０００４】
図６に示す様に、従来の光学式測距装置１は光軸方向にある対象物（図示省略）に向かって光束ＬＢを投光する投光部２と、対象物から戻って来る光束ＬＢを受光する受光部３とを用いて、対象物の光軸方向距離を三角測量の原理に基づいて測定するものである。投光部２は、光軸方向に光束ＬＢを集光するレンズ２１と、このレンズ２１を保持する保持枠２２と、この保持枠２２に取り付けられ、レンズ２１に向かって光束ＬＢを発する発光素子２３とから構成されている。発光素子２３は例えば赤外ＬＥＤチップからなり、金属のフレーム２４に取り付けられている。赤外ＬＥＤチップはフレーム２４に搭載されたままモールド２５でパッケージされている。フレーム２４は基板２６に半田付けされる。この様にして、発光素子２３は基板２６を介し保持枠２２に取り付けられる。一方受光部３は対象物から戻ってきた光束ＬＢを集束するレンズ３１と、このレンズ３１を保持する為の保持枠３２と、保持枠３２に取り付けられたＰＳＤなどの受光素子３３とからなる。尚、受光素子３３は基板３６に搭載された状態で、対応する保持枠３２に取り付けられる。
【０００５】
対象物の光軸方向位置に応じて、投光部２から発した光束ＬＢと対象物から反射して受光部３に向かう光束ＬＢとの成す角θが変化する。このθの値に応じ受光素子３３の受光位置が変化する。受光素子３３はこの受光位置を電気的に検出して、対応する検出信号をカメラの制御側に送る。カメラの制御部は検出信号を解析して対象物の光軸方向位置を測定する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
正確な測定結果を得る為には、光軸に対して発光素子を精密に位置決め調整する必要がある。第一に、レンズと発光素子との間の光軸間距離を調整する必要があり、以下本明細書では光軸距離調整と呼ぶ場合がある。この光軸距離調整は対象物に投光する光束のスポット像のボケを抑制することを主目的としており、その意味でボケ調整と呼ぶ場合がある。第二に、光軸に対して発光素子の傾きを調整する必要があり、本明細書ではパララックス調整と呼ぶ。パララックス調整はレンズの光軸と直交する方向に発光素子を移動して行なう。前述した様に、発光素子は基板に取り付けられている。従って、光軸距離調整やパララックス調整では、基板を保持枠に対して正確に位置決めする必要がある。しかしながら、光学式測距装置が小型化すると、基板や保持枠も微小になる為、正確な位置決め或いは位置出しが困難になっている。
【０００７】
以下、ボケ調整及びパララックス調整に分けて、課題を具体的に説明する。一般に、投光部は投光のスポット像（投光像）を被写体面に集光させる為、測距レンジの中間域に投光像が結像する様に光学系が設定されている。この場合、レンズと発光素子の光軸間距離が光学的に定まる。このレンズと発光素子との間の光軸距離（正確にはレンズと発光素子の発光面との間の光軸間距離）は、僅かな誤差でも結像点が大きく変動する。結像点のずれは被写体面上の投光像にボケを生じ、見掛け上像が拡大される。この為、距離によっては像欠けなどの現象が生じる。又、受光部側のＰＳＤでも受光像が拡大する為、測距誤差が生じ易くなる。
【０００８】
発光素子のモールドパッケージは外形誤差やチップ位置誤差を有しており、このばらつき幅による投光像のボケは許容限界を超えるものであり、調整が必要である。これとは別に、発光素子は投光パララックス調整を必要としている。しかしながら、パララックス調整に影響を及ぼすことなく、これとは独立して光軸距離調整を行なう適切な手段が求められており、解決すべき課題となっている。
【０００９】
発光素子を用いたアクティブ方式の測距装置は、投光像を被写体上に正確に当てる必要がある。この為、投光部には投光パララックス、投光像の大きさ、投光量などが適切に設定される。投光部構成において、各部品のばらつきや取り付け精度により投光パララックスはばらつきを生じ、所定の設計値（許容値）に収める為には、パララックス調整を必要としている。一般には、発光素子の取り付け位置を変化させてパララックス調整を行なっている。この場合、発光素子の位置出しは、光軸と直交する平面に沿った二次元位置調整となる。その為、発光素子を搭載した基板を保持枠に取り付ける部分に、調整しろとして取付ガタを設けていた。
【００１０】
パララックス調整は二次元位置調整（面位置調整）となる為、少なくとも二方向の移動を要し、別途保持枠にガイド壁などを設けることができない。仮に、ガイド壁を設けると、基板の移動方向が一次元に限定される。この為、従来は発光素子を搭載した基板を保持枠に対して直接手動で位置合わせしていた。この場合、満足できる調整精度は得られ難く、パララックス許容値も限定されていた。一般に、発光素子パッケージは、発光素子の位置とモールドにずれがあり、外形基準ではパララックスのずれが生じる。パララックスは、例えばカメラに応用する場合±１度以内が要求される。現実には、発光素子パッケージのばらつきにより、パララックスのずれが二倍程度になってしまう。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上述した従来の技術の課題に鑑み、本発明は効率的で正確な光軸位置調整を実現することを目的とする。この場合、発光素子は投光パララックス調整の為、光軸に対して垂直な面上に沿って調整可能にしておく必要がある。そこで、光軸距離調整とパララックス調整の両者を満足する簡便な手段を講じることを目的とする。係る目的を達成するために以下の手段を講じた。即ち、光軸方向にある対象物に対して光束を投光する投光部と、該対象物から戻って来る光束を受光する受光部とを備え、該対象物の光軸方向距離を測定する光学式測距装置であって、前記投光部は、光軸方向に光束を集束するレンズと、該レンズを保持する保持枠と、該光束を放射する発光素子を搭載し且つ該レンズに対向して該保持枠に取り付けられる基板とからなり、互いに対向する該レンズと該発光素子との間に透明板を挿入可能とし、該レンズに対する該発光素子の光軸方向位置を光学的に調整することを特徴とする。
【００１２】
好ましくは、該透明板の有無で該光軸方向位置を二段階に調整可能とする。或いは、厚み若しくは屈折率の異なる複数枚の透明板を選択的に挿入可能として、該光軸方向位置を多段的に調整しても良い。前記保持枠は、該光軸と直交する方向に溝が形成されており、該透明板は該発光素子のパララックスに影響を与えることなく該溝に挿入可能である。該受光部が受光する光束のスポット径に応じて透明板の挿入の有無を決定することができる。
【００１３】
好ましくは、該レンズの光軸と直交する方向に関し該発光素子を搭載した該基板の位置を調整するパララックス調整手段を含む。前記パララックス調整手段は、該基板に形成された貫通孔と、該保持枠の該貫通孔と対応する部位に形成された凹部とを含み、該貫通孔を通して該凹部に細棒を挿入し、その先端と該凹部の底面とが接する部分を支点とし該細棒をテコとして、該保持枠に対する該基板の位置を調整可能にする。前記凹部の底面は、該細棒の先端を支持する為に粗面加工されている。前記細棒の先端は尖っており、該凹部の底面に杭い込む様にすると良い。
【００１４】
本発明によれば、投光レンズと発光素子との間にガラス又はアクリル樹脂などからなる透明板を挿入可能としている。挿入された透明板の屈折率により、光路長差が生ずる。この光路長差を調整値として、投光像のボケ量調整機構を実現している。投光像のボケ量により、発光素子の光軸方向位置分布をあらかじめ把握しておく。この分布を二区分して、無調整段階では発光素子の位置を短い方の光路長に設定しておく。長い方の光路長差に相当する透明板を挿入可能とすることで、発光素子を上述の二区分（二ゾーン）で使用する様にする。これにより、投光パララックス調整とは無関係に投光像のボケ調整が可能になる。尚、透明板の厚みや屈折率などを変えて、光路長差の値を複数用意し、調整範囲を多ゾーン化することは可能である。
【００１５】
又、パララックス調整は、発光素子を搭載した基板に穴部もしくは切欠部を設け、保持枠の対向部位には凹部を設ける。基板の穴部もしくは切欠部に調整棒を挿入し、調整棒と保持枠凹部の底面との当接による押圧摩擦を利用して、調整棒と穴部もしくは切欠部との間に移動力を発生させる。この場合、調整棒は保持枠凹部の底面を支点とし、基板の穴部又は切欠部と調整棒との接触点を作用点として機械的な増幅作用が生じ、パララックスの微調が可能になる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は投光部の光学構成を示す模式図である。投光像はレンズと発光素子との間の光軸距離で結像位置Ｌが決まる。その関係はＬ＝ｆ^２／Δｌで表わされる。ここで、ｆはレンズの焦点距離を表わし、Δｌはレンズの後方焦点位置から測った発光素子の発光面までの長さである。又、結像面に現われた投光像のスポットサイズφＢは、φＢ＝φＡ（１＋Ｌ／ｆ）で表わされる。ここでφＡは発光面のサイズを表わしている。尚、発光素子パッケージにドームレンズ付のものを用いた場合、ｆ値は投光用のレンズとドームレンズの合成となり、ほぼドームレンズの倍率分ｆ値が短かくなる。上式においてΔｌの値が小さく、発光素子の位置の微小なずれが結像面上における大きな差となって現われる。この関係は、ドームレンズ付の発光素子パッケージを用いた場合には倍加されるものである。例えば、Ｌ＝３ｍでｆ＝１０ｍｍとした場合、Δｌは設計値で０．０３０ｍｍである。これに対し、ドームレンズ付の発光素子パッケージを用いた場合、ドームレンズの倍率を２．５とすると、Δｌは約０．０１３ｍｍとなり、高精度で光軸方向位置を合わせる必要がある。
【００１７】
図２は、本発明に係る光学式測距装置の要部となる投光部を示す模式図である。（Ａ）は投光部の断面構造を表わし、（Ｂ）は平面構造を表わしている。尚、本光学式測距装置の全体構成は、図６に示した通りである。図示する様に、投光部は基本的にレンズ２１と保持枠２２と基板２６とからなる。レンズ２１は光束を集束する。保持枠２２は鏡胴枠とも呼ばれ、その前面部に前述した投光用のレンズ２１を保持している。この保持枠２２は例えばモールド樹脂の成形品からなる。基板２６は光束を放射する発光素子２３を搭載している。本実施形態では、発光素子２３はフレーム２４に組み込まれた状態で全体的にモールド２５で固められたパッケージ構成となっている。尚、モールド２５にはドーム状のレンズも形成されており、投光用のレンズ２１と合わせて発光素子２３から放射される光束を対象物に向けて集束している。このパッケージが基板２６に半田付けなどで取り付けられている。基板２６はレンズ２１と対向して保持枠２２の後面側にネジ５１，５２で取り付けられている。
【００１８】
（Ｂ）に示す様に、基板２６は保持枠２２よりも一回り小さく矩形である。保持枠２２の中央部に開口２２ａが形成されており、ここに発光素子のモールド２５が基板２６に搭載された状態で組み込まれている。
【００１９】
（Ａ）に示す様に、本発明の特徴事項として、互いに対向するレンズ２１と発光素子２３との間に透明板を挿入可能とし、レンズ２１に対する発光素子２３の光軸方向位置Ｄを光学的に調整する。尚、図ではレンズ２１の後面とドームレンズの前面との間の間隔を、光軸方向位置Ｄで表わしている。具体的には、保持枠２２は光軸と直交する方向に溝２９が形成されており、透明板は発光素子２３のパララックスに影響を与えることなくこの溝２９に挿入可能である。尚、パララックス調整は、保持枠２２の後面に対する基板２６の取付位置を変えることで行なっている。これについては、後で詳細に説明する。本実施形態では、透明板の有無で二段階に光軸距離Ｄを調整可能としている。場合によっては、厚みもしくは屈折率の異なる複数枚の透明板を選択的に溝２９に挿入可能とすることで、多段的に光軸距離Ｄを調整することも可能である。二段階で光軸距離Ｄを調整する場合、受光部（図示せず）が受光する光束のスポット径に応じて透明板の挿入の有無を決定することができる。
【００２０】
図３は、投光像スポット径と調整対象となる光軸距離Ｄとの関係を示すグラフである。縦軸は被写体距離を３ｍとした場合の投光像スポット径を表わし、横軸は設計基準となる光軸位置Ｄからの誤差ΔＤを表わしている。理想的な場合、誤差ΔＤが０の時、スポット径φは１００ｍｍとなる様に投光部の光学系が設計されている。しかしながら現実にはレンズなどの収差がある為、点線で示す様に誤差ΔＤが０の場合でも、スポット径は１１０ｍｍ程度になる。この様に、スポット径は様々な要因により拡大方向にぼける訳であるが、例えばφ＝１２０ｍｍまでが許容範囲であるとする。一方、ΔＤは機械的なガタ要因や寸法誤差などから−０．２ｍｍから＋０．２ｍｍの間で変動する。ΔＤが−０．２になるとスポット径は１４０ｍｍに達し許容範囲を超える。同様に、ΔＤが＋０．２になるとスポット径は１４０ｍｍまで拡大し、許容範囲を超えてしまう。従って、現実にはボケを除く為光軸距離調整が必要であり、本発明に従って透明板が調整部材として用いられる。
【００２１】
（Ｂ）は透明板を用いた具体的な調整手法を模式的に表わしたグラフである。（Ａ）と同様に、縦軸にスポット径を取り、横軸にΔＤを取ってある。本実施形態は、透明板の挿入の有無で、二段階調整を行なっている。まず、透明板無しの状態では、あらかじめΔＤの分布の中央値から負側に−０．１だけずれた位置に、Ｄの設計値を設けている。従って、透明板が無い状態では、ΔＤとスポット径φとの関係はＶ字形の直線Ｖ１で表わされる。この場合、実際の製品でΔＤが−０．２から０の範囲にあればスポット径は１２０ｍｍ以下となり、ボケが許容範囲に収まる。しかしながら、ΔＤが正側にずれた場合、スポット径φは１２０ｍｍを超えて許容範囲外となる。そこで、この場合には透明板を挿入することでＤの値を−０．１から＋０．１に光学的に移動する。その結果、ΔＤとスポット径φとの関係はＶ字形の直線Ｖ２で表わされる。これによれば、ΔＤが０から＋０．２の間で正側に分布しても、スポット径φは１２０ｍｍ以下に抑えることができる。この様に、二段階調整を行なうことで、スポット径を許容範囲の１２０ｍｍ以下に抑えることが可能となる。
【００２２】
透明板として例えば厚みｔのアクリル板を使うと、Ｄ値の変化ΔＤ’はΔＤ’＝ｔ（１−１／１．４７）で表わされる。尚１．４７はアクリル板の屈折率を表わしている。この式から明らかな様に、透明板を挿入することで、光路長が約板厚ｔの１／３程度長くなることになる。（Ｂ）に示す様に、透明板を挿入した時、初期の分布Ｖ１を挿入後の分布Ｖ２に切り換える為、光路差を−０．１から＋０．１まで０．２だけ増加させる必要がある。アクリル板の厚みｔを０．６ｍｍとすることで、対応が可能である。
【００２３】
尚、透明板の挿入は光軸に対して垂直に行なわれる為、パララックスには基本的に関係せず、独立して投光像のスポット径を許容値に入れることができる。アクリル板の挿入の有無の選択は、実際の投光像のスポット径により判定する。本実施形態の場合、二ゾーンに設定している為アクリル板無しを基準としスポット径の大きい場合アクリル板挿入とすることで対応できる。尚、投光像のスポット径は投光パララックス調整時に確認すればよく、特にボケ調整を行なうことはない。尚、アクリル板厚の差や枚数の組み合わせにより、三ゾーン以上の多ゾーン設定も可能である。アクリル板挿入による光量減衰は約７％程度と見られ、実用上問題ないレベルである。
【００２４】
図４は、本発明に係る光学式測距装置の光学構成を示す模式図である。測距対象となる対象物０が光軸上にある場合で距離をＬで表わしてある。又、投光部２と受光部３との間の距離をＢで表わしている。対象物０上に投光される投光像のスポット径φＢは、φＢ＝φＡ（１＋Ｌ／ｆ）で表わされる。φＡは発光素子２３のサイズを表わし、ｆはレンズ２１の焦点距離を表わしている。尚、図示の様に発光素子２３のモールド２５にドームレンズが含まれる場合、上式のｆは投光レンズ２１とドームレンズの合成焦点距離ｆＡで置き換えることになる。
【００２５】
投光パララックスと投光像の大きさで対象物０上に投光された投光像の距離Ｌが決まる。投光パララックスのずれは投光像と対象物０の関係とともに、ＰＳＤなどからなる受光素子３３の受光位置の変動として現われる。この為投光パララックスのずれ量が大きいとＰＳＤの位置調整が必要となる。受光部３においては、ＰＳＤのチップ位置ばらつきは電気的にデータをシフトすることで、ある程度補正することが可能であるが、投光パララックスの量が大きくなると投光部２側で調整を必要とする。
【００２６】
図５は、パララックス調整手段を示す模式図である。（Ａ）はパララックス調整手段を組み込んだ投光部の断面図、（Ｂ）は同じく背面図、（Ｃ）はパララックス調整手段を示す要部拡大図である。尚、理解を容易にする為、図２に示した投光部と対応する部分には対応する参照番号を付してある。本パララックス調整手段は、レンズ２１の光軸と直交する方向に関して発光素子２３を搭載した基板２６の位置を調整する。（Ｂ）及び（Ｃ）によく表われている様に、このパララックス調整手段は基板２６に形成された貫通孔２８と、保持枠２２の貫通孔２８と対応する部位に形成された凹部２７とを含む。（Ｃ）に最もよく表われている様に、貫通孔２８を通して凹部２７に細棒７０を挿入し、その先端と凹部２７の底面とが接する部分を支点とし細棒７０をテコとして、保持枠２２に対する基板２６の位置を調整可能にする。凹部２７の底面は細棒７０の先端を支持する為に粗面加工されている。細棒７０の先端は尖っており、凹部２７の底面に食い込む様になっている。
【００２７】
図示する様に、基板２６に形成された調整用の貫通孔２８はその開口径が比較的小さい。これに対し、保持枠２２の対応する部分に形成された調整用の凹部２７はその開口寸法が比較的大きい。両者がおおよそ重なる様にまず粗調整を行なう。この後、貫通孔２８を通して凹部２７に細棒７０を挿入する。細棒７０の先端と凹部２７の底部とが接する部分を支点とし細棒７０の後端部をテコとして、保持枠２２に対する基板２６の位置を微調整可能である。
【００２８】
調整用凹部２７は例えば偏平円筒形状を有する。その開口径は基板２６に形成された貫通孔２８の開口径よりも大きい。従って、細棒７０は３６０度所望の方向に傾けて凹部２７に挿入することができる。凹部２７の底は好ましくは粗面となっており、細棒７０の先端と摩擦的に固定される。固定された先端を支点とし貫通孔２８と細棒７０の接する部分を作用点とし細棒７０の後端部に力を加えることで、テコの原理により基板２６を所望の方位に微小量移動可能である。その際、基板２６の移動量に比べ細棒７０の後端の移動量は拡大される為、微調整が容易になる。しかも、調整すべき方向にあらかじめ細棒７０を傾けて貫通孔２８及び凹部２７に挿入することで、３６０度全方位に亘って自在に基板２６の位置決めを行なうことが可能である。実際の調整は受光部の出力をモニタしながら、最適な結果が得られる様に手動操作で行なわれる。
【００２９】
基板２６は、光軸と直交する方向の位置を調整可能とする為、あらかじめ取付ガタを設けてある。図示の例はネジ５１，５２で基板２６を保持枠２２に固定する構造となっている。ネジ締めを行なう前に、上述したパララックス調整手段を用いて基板２６の位置決めを行なっている。すなわち、基板２６の一部に貫通孔を設け、保持枠２２との間で細棒７０により作用力を働かせ、所望の方向に調整できる様にしている。この場合、保持枠の表面を支点としたテコの原理により、作用点の微調が可能となる。ここで保持枠２２に凹部２７を設けることで基板２６との間に隙間が生じ、作用点の移動割合を適度に設定することができる。細棒７０の先端を尖らせたり保持枠２２の表面の粗さを増して、支点の滑りを防止することが有効である。基板２６に形成する貫通孔２８の形状は切欠きなどでもよく、場合により複数個設けてもよい。なお、実際の製品では図２の実施形態と図５の実施形態を組み合わせて、光軸距離調整とパララックス調整を両立させる。
【００３０】
【発明の効果】
以上説明した様に、本発明によれば、透明板を用いて光軸距離を調整することにより、発光素子の形状ばらつきなどに起因する投光像のボケ量を許容レベルに収めることが可能である。透明板を用いた光軸距離調整はパララックス調整とは独立的に行なうことができる。又、パララックス調整時に投光像のスポットをモニタする際、同時に透明板を用いた光軸距離調整が可能となり、調整工数の削減化に寄与する。又、テコの原理を利用したパララックス調整により微調が可能となり、調整精度が高くなり、作業時間も短縮できた。加えて、発光素子側のパララックス調整精度が高まることで、その分受光素子側に要求される位置精度も緩和され、無調整化も実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光学式測距装置の投光部を示す光学図である。
【図２】本発明に係る光学式測距装置の実施形態を示す断面図及び平面図である。
【図３】図２に示した光学式測距装置の動作説明に供するグラフである。
【図４】本発明に係る光学式測距装置の全体的な光学構成を示す模式図である。
【図５】本発明に係る光学式測距装置の実施形態を示す断面図、平面図及び要部拡大図である。
【図６】従来の光学式測距装置の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
１・・・測距装置、２・・・投光部、３・・・受光部、２１・・・レンズ、２２・・・保持枠、２３・・・発光素子、２４・・・フレーム、２５・・・モールド、２６・・・基板、２７・・・凹部、２８・・・貫通孔、２９・・・溝

Claims

光軸方向にある対象物に対して光束を投光する投光部と、該対象物から戻って来る光束を受光する受光部とを備え、該対象物の光軸方向距離を測定する光学式測距装置であって、
前記投光部は、光軸方向に光束を集束するレンズと、該レンズを保持する保持枠と、該光束を放射する発光素子を搭載し且つ該レンズに対向して該保持枠に取り付けられる基板とからなり、
互いに対向する該レンズと該発光素子との間に透明板を挿入可能とし、該レンズに対する該発光素子の光軸方向位置を光学的に調整することを特徴とする光学式測距装置。
該透明板の有無で該光軸方向位置を二段階に調整可能としたことを特徴とする請求項１記載の光学式測距装置。
厚み若しくは屈折率の異なる複数枚の透明板を選択的に挿入可能として、該光軸方向位置を多段的に調整することを特徴とする請求項１記載の光学式測距装置。
前記保持枠は、該光軸と直交する方向に溝が形成されており、該透明板は該発光素子のパララックスに影響を与えることなく該溝に挿入可能であることを特徴とする請求項１記載の光学式測距装置。
該受光部が受光する光束のスポット径に応じて透明板の挿入の有無を決定することを特徴とする請求項１記載の光学式測距装置。
該レンズの光軸と直交する方向に関し該発光素子を搭載した該基板の位置を調整するパララックス調整手段を含み、
前記パララックス調整手段は、該基板に形成された貫通孔と、該保持枠の該貫通孔と対応する部位に形成された凹部とを含み、
該貫通孔を通して該凹部に細棒を挿入し、その先端と該凹部の底面とが接する部分を支点とし該細棒をテコとして、該保持枠に対する該基板の位置を調整可能にしたことを特徴とする請求項１記載の光学式測距装置。
前記凹部の底面は、該細棒の先端を支持する為に粗面加工されていることを特徴とする請求項６記載の光学式測距装置。