JP2004095767A - Ceramic multilayer substrate and its manufacturing method - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、TCXOなどに用いられる、キャビティを有するセラミック多層基板およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
特開平6−85108号公報には、図9に示すようなセラミック多層基板が開示されている。図9に示すように、セラミック多層基板501は、平板部502とキャビティ503を有するキャビティ形成部504とからなる。平板部502は絶縁体層507と、高誘電体層508とから構成されている。キャビティ形成部は絶縁体層507から構成されている。
【0003】
セラミック多層基板501は、以下のようにして作製される。まず、高誘電体層成形体および絶縁体層成形体を作製する。次に、高誘電体層成形体の両主面に電極層ペーストをスクリーン印刷し、その電極層ペーストが塗布された高誘電体層成形体を、絶縁体層成形体の間に介装した後、焼成する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、セラミック多層基板501では、平板部502に高誘電体層508が設けられているため、焼成時における平板部502とキャビティ形成部504の収縮率のバランスが崩れるため、セラミック多層基板501全体に反りや歪みが生じるという問題があった。
【0005】
つまり、高誘電体層508と絶縁体層507とは焼結温度の異なる材料を含んでいる。したがって、セラミック多層基板501においては、平板部502に焼結温度の異なる絶縁体層507と高誘電体層508が形成されているため、焼結温度の低い層が焼結する際には、焼結の進まない焼結温度の高い層が収縮を抑制する。一方、焼結温度の低い層の焼結温度を超えると、焼結した焼結温度の低い層が焼結温度の高い層の収縮を抑制するため、平板部502については収縮が抑制される。しかし、キャビティ形成部504は絶縁体層507により形成されているため、キャビティ形成部504全体は収縮する。その結果、平板部502とキャビティ形成部504の収縮率が異なるため、セラミック多層基板501全体に、反りや歪みが生じるという問題である。
【0006】
本発明は、上記従来の状況に鑑みてなされたもので、焼成時の収縮を抑制し、反りや歪みのないキャビティを有するセラミック多層基板およびその製造方法を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明にかかるセラミック多層基板は、積層された複数のセラミック層からなる平板部上に、積層された複数のセラミック層からなり、厚み方向にキャビティ用の貫通孔が形成されたキャビティ部を積層し、前記平板部上面を底面とし、前記貫通孔を側面として形成されるキャビティを有するセラミック多層基板であって、前記平板部は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層と、前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層と、からなり、前記キャビティ部は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層と、前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層と、からなり、前記第1、第2のセラミック層が焼結状態にあることを特徴としている。
【0008】
請求項2の発明にかかるセラミック多層基板は、導体層が、前記平板部の前記第2のセラミック層を挟んで対向することにより、コンデンサ部が形成されていることを特徴としている。
【0009】
請求項3の発明にかかるセラミック多層基板は、導体層が、前記キャビティ部の前記第2のセラミック層を挟んで対向することにより、コンデンサ部が形成されていることを特徴としている。
【0010】
請求項4の発明にかかるセラミック多層基板の製造方法は、平板部と貫通孔を有するキャビティ部とからなる複合積層体を作製する工程と、前記複合積層体を焼成する工程と、を備え、前記複合積層体において、前記平板部は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミックグリーンシートと、前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミックグリーンシートとが積層されて形成され、前記キャビティ部は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミックグリーンシートと、前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミッグリーンシートとが積層されて形成され、前記平板部の上面を底面とし、前記キャビティ部の貫通孔を側壁とするキャビティを有し、前記複合積層体を焼成する工程は、前記第1、第2のセラミックグリーンシートが焼結する温度で焼成する工程、を備えることを特徴としている。
【0011】
【発明の実施の形態】
(実施形態1)
以下、本発明にかかるセラミック多層基板の一実施形態を説明する。
図1に示すように、セラミック多層基板101は、積層された複数のセラミック層からなる平板部102上に、積層された複数のセラミック層からなり、厚み方向にキャビティ103用の貫通孔が形成されたキャビティ部104が積層されたものである。前記セラミック多層基板101には、前記平板部102上面およびキャビティ103用の貫通孔によりキャビティ103が形成されている。セラミック多層基板101は、セラミック層間に導体層105を備え、セラミック層の厚み方向にビア導体106を備えている。
【0012】
キャビティ103の内部には、実装部品109がAu、はんだなどの金属からなるバンプ110により接続され、実装されている。
【0013】
平板部102は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層107と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層108とからなり、第1のセラミック層107の間に第2のセラミック層108が積層されている。
【0014】
また、キャビティ部104は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層107と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層108からなり、第1のセラミック層107の間に第2のセラミック層108が積層されている。
【0015】
セラミック多層基板1は、例えば、以下に示す方法で作製することができる。
【0016】
まず、焼成後、それぞれ第1、2のセラミック層となる、第1、2のセラミックグリーンシートを作製する。
【0017】
第1のセラミックグリーンシートは、例えば、セラミック粉末に、バインダ、可塑剤および溶剤などを加えて、ボールミルやアトラクターなどで混合してスラリーとし、そのスラリーをドクターブレード法などの方法によりシート状に形成して作製する。
【0018】
セラミック粉末としては、例えば、MgAl2O4粉末と、SiO2、B2O3、MgOからなるガラス粉末の混合粉末などを用いることができる。また、バインダとしては、例えば、ポリビニルブチラール、メタクリルポリマー、アクリルポリマーなどを用いることができる。可塑剤としては、例えば、フタル酸などの誘導体を用いることができる。溶剤としては、例えば、アルコール類、ケトン類、塩素系有機溶剤などを用いることができる。
【0019】
次に、第2のセラミックグリーンシートは、第1のセラミックグリーンシートと同様の製造方法により作製することができる。ただし、第2のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック材料としては、第1のセラミックグリーンシートを形成するセラミック材料とは焼結温度が異なるものを選択する。例えば、第2のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末としては、BaO−TiO2−ReO3/2系セラミック粉末(ReはY、希土類元素である)、およびSiO2、B2O3、MgO、Li2Oからなるガラス粉末の混合粉末などを用いることができる。
【0020】
次に、前記第1、2のセラミックグリーンシートに形成されたビアホールに、Ag、Cuなどの金属粉末を含む導体ペーストを充填してビア導体を形成し、前記第1、2のセラミックグリーンシートの所定の位置に前記導体ペーストをスクリーン印刷を行なって導体層を形成する。ここで、ビア導体は、導体ペーストを印刷する前に、第1、2のセラミックグリーンシートに形成してもよく、また導体ペーストを印刷する際に同時に形成してもよい。
【0021】
次に、平板部をなす第1のセラミック積層体とキャビティ部をなす第2のセラミック積層体を作製する。図2(A)に示すように、第1のセラミック積層体111は、第1のセラミックグリーンシート107a上に、第2のセラミックグリーンシート108a、さらにその上に第1のセラミックグリーンシート107aを順次積層、圧着して作製する。図2(B)に示すように、第2のセラミック積層体113は、第1のセラミックグリーンシート107a上に、第2のセラミックグリーンシート108a、さらにその上に第1のセラミックグリーンシート107aを順次積層、圧着し、得られた積層体を厚み方向に貫通する、貫通孔112を形成して作製する。
【0022】
なお、第1のセラミック積層体と第2のセラミック積層体を形成する第2のセラミックグリーンシート108aは、互いに異なる材料から作製してもよい。
【0023】
次に、図3に示すように、第1のセラミック積層体111上に第2のセラミック積層体113を積層、圧着し、複合積層体114を作製する。
【0024】
次に、複合積層体114を焼成する。複合積層体114を焼成する際は、第1、2のセラミック材料のうち、焼結温度の高いセラミック材料が焼結する温度以上の温度、例えば、800〜1000℃で焼成する。この温度で焼成することにより、焼結温度の低いセラミックグリーンシートが焼結する際には、焼結温度の高いセラミックグリーンシートが焼結温度の低いセラミックグリーンシートの収縮を抑制する。一方、焼結温度の低いのセラミックグリーンシートの焼結温度を超えると、焼結した焼結温度の低いセラミックグリーンシートが焼結温度の高いセラミックグリーンシートの収縮を抑制するため、複合積層体114の収縮が抑制される。
【0025】
なお、図4に示すように、焼成時の収縮抑制を目的とする収縮抑制用セラミック層115を設けることもできる。収縮抑制用セラミック層115を形成する収縮抑制用セラミックグリーンシートは、第1のセラミックグリーンシートと同様の製造方法により作製することができる。収縮抑制用セラミックグリーンシートを形成するセラミック材料の焼結温度は、第1、2のセラミックグリーンシートを形成するセラミック材料のうち焼結温度が高いものより高いものを選択する。例えば、収縮抑制用セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末としては、アルミナなどを用いることができる。
【0026】
収縮抑制用セラミック層115は複合積層体114の両主面に設けられる。その後、収縮抑制用セラミック層115を備えた複合積層体114を焼成する。複合積層体114を焼成するには、第1、2のセラミックグリーンシートを形成するセラミック材料のうち焼結温度が高いセラミック材料が焼結する温度以上で、かつ、収縮抑制用セラミックグリーンシートが焼結しない温度、例えば、800〜1000℃で焼成する。この温度で焼成することにより、第1、2のセラミックグリーンシートが焼結する際には、収縮抑制用セラミックグリーンシートが第1、2のセラミックグリーンシートの収縮を抑制するため、複合積層体114の収縮を抑制する。
【0027】
焼成後、収縮抑制用セラミック層115を除去し、セラミック多層基板を作製する。
【0028】
本実施形態においては、平板部だけではなく、キャビティ部にも焼成時の反りや歪みを抑制するように特定された箇所に、焼結温度の異なるセラミック層を設けたことにより、キャビティ部の収縮が抑制される。平板部およびキャビティ部の収縮がそれぞれ抑制されたことにより、セラミック多層基板全体の反りや歪みが抑制されるという効果がある。
【0029】
さらに、収縮抑制用セラミック層を設けたことにより、焼成時のセラミック多層基板の収縮を抑制することができ、その結果、セラミック多層基板の反りや歪みをより抑制することができる。
【0030】
また、第2のセラミック積層体内にも第2のセラミック層を設けたことにより、収縮抑制用セラミック層の厚みが薄くても第2のセラミック積層体自体の収縮を抑制することができる。この結果、収縮抑制用セラミック層の厚みを薄くすることができるため、焼成時間が短縮され、除去が容易となり、コストダウンが可能となる。
【0031】
(実施形態2)
以下、本発明にかかるセラミック多層基板の他の実施形態を説明する。
図5に示すように、セラミック多層基板201は、積層された複数のセラミック層からなる平板部202上に、積層された複数のセラミック層からなり、厚み方向にキャビティ203用の貫通孔が形成されたキャビティ部204が積層されたものである。前記セラミック多層基板201には、前記平板部202上面およびキャビティ203用の貫通孔によりキャビティ203が形成されている。セラミック多層基板201はセラミック層間に導体層205を備え、セラミック層の厚み方向にビア導体206を備えている。
【0032】
キャビティ203の内部には、実装部品209がAu、はんだなどの金属からなるバンプ210により接続され、実装されている。
【0033】
平板部202は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層207と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層208とからなり、第1のセラミック層207の間に第2のセラミック層208が積層されている。第2のセラミック層208には、導体層205が対向するように配置されることにより、コンデンサ部Cが形成されている。
【0034】
また、キャビティ部204は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層207と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層208からなり、第1のセラミック層207の間に第2のセラミック層208が積層されている。
【0035】
本実施形態においては、平板部だけではなく、キャビティ部にも焼成時の反りや歪みを抑制するように特定された箇所に、焼結温度の異なるセラミック層を設けたことにより、キャビティ部の収縮が抑制される。平板部およびキャビティ部の収縮がそれぞれ抑制されたことにより、セラミック多層基板全体の反りや歪みが抑制されるという効果がある。
【0036】
また、対向する導体層を第2のセラミック層を挟んで設けたことにより、コンデンサ部を形成することができ、第2のセラミック材料として誘電率が高いものを選択すれば、大きな容量を得ることができる。例えば、実施形態1で挙げた組み合わせとして、第1のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末として、MgAl2O4粉末、およびSiO2、B2O3、MgOからなるガラス粉末、第2のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末として、BaO−TiO2−ReO3/2系セラミック粉末、およびSiO2、B2O3、MgO、Li2O、からなるガラス粉末の組み合わせを用いた場合、第2のセラミックグリーンシートは誘電率が高いので、大きな容量を得ることができる。したがって、セラミック多層基板において多様な回路設計が可能となる。
【0037】
(実施形態3)
以下、本発明にかかるセラミック多層基板の一実施形態を説明する。
図6に示すように、セラミック多層基板301は、積層された複数のセラミック層からなる平板部302上に、積層された複数のセラミック層からなり、厚み方向にキャビティ303用の貫通孔が形成されたキャビティ部304が積層されたものである。前記セラミック多層基板301には、前記平板部302上面およびキャビティ303用の貫通孔によりキャビティ303が形成されている。セラミック多層基板301はセラミック層間に導体層305を備え、セラミック層の厚み方向にビア導体306を備えている。
【0038】
キャビティ303の内部には、実装部品309がAu、はんだなどの金属からなるバンプ310により接続され、実装されている。
【0039】
平板部302は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層307と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層308とからなり、第1のセラミック層307の間に第2のセラミック層308が積層されている。
【0040】
また、キャビティ部304は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層307と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層308からなり、第1のセラミック層307の間に第2のセラミック層308が積層されている。第2のセラミック層308には、導体層305が対向するように配置されることにより、コンデンサ部Cが形成されている。
【0041】
本実施形態においては、平板部だけではなく、キャビティ部にも焼成時の反りや歪みを抑制するように特定された箇所に、焼結温度の異なるセラミック層を設けたことにより、キャビティ部の収縮が抑制される。平板部およびキャビティ部の収縮がそれぞれ抑制されたことにより、セラミック多層基板全体の反りや歪みが抑制されるという効果がある。
【0042】
また、対向する導体層を第2のセラミック層を挟んで設けたことにより、コンデンサ部を形成することができ、第2のセラミック材料として誘電率が高いものを選択すれば、大きな容量を得ることができる。例えば、実施形態1で挙げた組み合わせとして、第1のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末として、MgAl2O4粉末、およびSiO2、B2O3、MgOからなるガラス粉末、第2のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末として、BaO−TiO2−ReO3/2系セラミック粉末、およびSiO2、B2O3、MgO、Li2Oからなるガラス粉末の組み合わせを用いた場合、第2のセラミックグリーンシートは誘電率が高いので、大きな容量を得ることができる。したがって、セラミック多層基板において多様な回路設計が可能となる。
【0043】
(実施形態4)
以下、本発明にかかるセラミック多層基板の一実施形態を説明する。
図7に示すように、セラミック多層基板401は、積層された複数のセラミック層からなる平板部402上に、積層された複数のセラミック層からなり、厚み方向にキャビティ403用の貫通孔が形成されたキャビティ部404が積層されたものである。前記セラミック多層基板401には、前記平板部402上面およびキャビティ403用の貫通孔によりキャビティ403が形成されている。セラミック多層基板401はセラミック層間に導体層405を備え、セラミック層の厚み方向にビア導体406を備えている。
【0044】
キャビティ403の内部には、実装部品409がAu、はんだなどの金属からなるバンプ410により接続され、実装されている。
【0045】
平板部402は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層407と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層408とからなり、第1のセラミック層407の間に第2のセラミック層408が積層されている。第2のセラミック層408には、導体層405が対向するように配置されることにより、コンデンサ部C1が形成されている。
【0046】
また、キャビティ部404は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層407と、第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層408からなり、第1のセラミック層407の間に第2のセラミック層408が積層されている。第2のセラミック層408には、導体層405が対向するように配置されることにより、コンデンサ部C2が形成されている。
【0047】
また、図8に示すように、セラミック多層基板401を、上下反転させて、キャビティ天面に形成した電極をI/O端子405aとし、キャビティ部404側をマザーボードにはんだ付けし、実装することもできる。平面部402側には実装部品409を実装することができる。
【0048】
本実施形態においては、平板部だけではなく、キャビティ部にも焼成時の反りや歪みを抑制するように特定された箇所に、焼結温度の異なるセラミック層を設けたことにより、キャビティ部の収縮が抑制される。平板部およびキャビティ部の収縮がそれぞれ抑制されたことにより、セラミック多層基板全体の反りや歪みが抑制されるという効果がある。また、平板部およびキャビティ部に、対向する導体層を第2のセラミック層を挟んで設けたことにより、キャビティ部を有効に利用することができるため、より多くのコンデンサ部を形成することができる。例えば、実施形態1で挙げた組み合わせとして、第1のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末として、MgAl2O4粉末、およびSiO2、B2O3、MgOからなるガラス粉末、第2のセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末として、BaO−TiO2−ReO3/2系セラミック粉末、およびSiO2、B2O3、MgO、Li2Oからなるガラス粉末の組み合わせを用いた場合、第2のセラミックグリーンシートは誘電率が高いので、大きな容量を得ることができる。したがって、セラミック多層基板において多様な回路設計が可能となる。この結果、セラミック多層基板を小型化、高密度化することができる。
【0049】
さらに、セラミック多層基板を上下反転させ、キャビティ部に形成したコンデンサ部に、セラミック多層基板を用いたモジュール部品のI/O用のフィルター回路として機能を持たせることができ、ノイズなどをカットすることができる。この結果、小型化、高密度化したセラミック多層基板を、さらに多機能化することができる。
【0050】
【実施例】
まず、MgAl2O4粉末、およびSiO2、B2O3、MgOからなるガラス粉末とを等重量比率で混合した混合粉末100重量部に、ポリビニルブチラールを15重量部、イソプロピルアルコールを40重量部、およびトルエンを20重量部を加え、ボールミルで24時間混合してなるスラリーとした。このスラリーをドクターブレード法により、厚さ200μmのセラミックグリーンシートを作製し、第1のセラミックグリーンシートを作製した。
【0051】
次に、BaO−TiO2−ReO3/2系セラミック粉末、およびSiO2、B2O3、MgO、Li2Oからなるガラス粉末とを等重量比で混合した混合粉末100重量部に、ポリビニルブチラールを15重量部、イソプロピルアルコールを40重量部、およびトルエンを20重量部を加え、ボールミルで24時間混合してなるスラリーとした。このスラリーをドクターブレード法により、厚さ200μmのセラミックグリーンシートを作製し、第2のセラミックグリーンシートを作製した。
【0052】
次に、第1、2のセラミックグリーンシートに形成されたビアホールにAgペーストを充填してビア導体を形成し、第1、2のセラミックグリーンシートの所定の位置にAgペーストをスクリーン印刷することにより導体層を形成した。
【0053】
次に、第1のセラミックグリーンシート1枚上に第2のセラミックグリーンシートを1枚、その上に第1のセラミックグリーンシートを2枚積層して積層体を作製した。その積層体を、平面寸法が100mm×100mmとなるようにカットし、第1のセラミック積層体を作製した。
【0054】
次に、第1のセラミックグリーンシート1枚上に第2のセラミックグリーンシートを2枚、その上に第1のセラミックグリーンシートを3枚積層して積層体を作製し、得られた積層体を厚み方向に貫通する複数の貫通孔を形成した積層体を作製した。その積層体を、平面寸法が100mm×100mmとなるようにカットし、第2のセラミック積層体を作製した。
【0055】
次に、第1のセラミック積層体上に第2のセラミック積層体を積層し、水中等方圧プレス法により100MPaの圧力をかけて圧着して複合積層体を作製した。
【0056】
次に、複合積層体を900℃で6時間焼成し、試料を作製した。
【0057】
次に、図9に示すように、得られた試料420を台板421に載置し、その反りを測定した。試料420と台板421接点をOとし、試料420の底面の端をEとする。試料の端Eと台板421との距離hは、200μmであった。
【0058】
(比較例)
まず、実施例と同様の方法により、第1、2のセラミックグリーンシートを作製した。
【0059】
次に、第1のセラミックグリーンシートを4枚積層して積層体を作製した。その積層体を、平面寸法が100mm×100mmとなるようにカットし、第1のセラミック積層体を作製した。
【0060】
次に、第1のセラミックグリーンシート1枚上に第2のセラミックグリーンシートを2枚、その上に第1のセラミックグリーンシートを3枚積層して積層体を作製し、得られた積層体を厚み方向に貫通する複数の貫通孔を形成した積層体を作製した。その積層体を、平面寸法が100mm×100mmとなるようにカットし、第2のセラミック積層体を作製した。
【0061】
次に、第1のセラミック積層体上に第2のセラミック積層体を積層し、水中等方圧プレス法により100MPaの圧力をかけて圧着して複合積層体を作製した。
【0062】
次に、複合積層体を900℃で6時間焼成し、比較試料を作製した。
【0063】
次に、図9に示したものと同様に、得られた比較試料を台板421に載置し、その反りを測定した。比較試料の台板421接点をOとし、比較試料の底面の端をEとする。比較試料の端Eと台板421との距離hは、750μmであった。
【0064】
以上のことから、平板部およびキャビティ部の特定箇所に焼結温度の異なるセラミック層を設けたことにより、セラミック多層基板全体の反りや歪みが抑制された。
【0065】
【発明の効果】
本発明にかかるセラミック多層基板は、平板部およびキャビティ部に焼結温度の異なるセラミック層を設けることにより、平板部、キャビティ部それぞれにおける焼成時の収縮を抑制することができ、その結果として、セラミック多層基板全体の反りや歪みを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態1にかかるセラミック多層基板を示す概略一部断面側面図である。
【図2】実施形態1にかかるセラミック多層基板の製造方法を示す概略工程図である。
【図3】実施形態1にかかるセラミック多層基板の製造方法を示す概略工程図である。
【図4】実施形態1にかかるセラミック多層基板の変形例を示す概略一部断面側面図である。
【図5】実施形態2にかかるセラミック多層基板を示す概略一部断面側面図である。
【図6】実施形態3にかかるセラミック多層基板を示す概略一部断面側面図である。
【図7】実施形態4にかかるセラミック多層基板を示す概略一部断面側面図である。
【図8】実施形態4にかかるセラミック多層基板の変形例を示す概略一部断面側面図である。
【図9】実施例の試料の測定方法を示す概略断面図である。
【図10】従来のセラミック多層基板を示す概略一部断面側面図である。
【符号の説明】
101 セラミック多層基板
102 平板部
103 キャビティ
104 キャビティ部
105 導体層
106 ビア導体
107 第1のセラミック層
108 第2のセラミック層
109 実装部品
110 バンプ
111 第1のセラミック積層体
112 貫通孔
113 第2のセラミック積層体
114 複合積層体
115 収縮抑制用セラミック層
C、C2、C3 コンデンサ部[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a ceramic multilayer substrate having a cavity and used for a TCXO or the like, and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
Japanese Patent Laying-Open No. 6-85108 discloses a ceramic multilayer substrate as shown in FIG. As shown in FIG. 9, the
[0003]
The
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the
[0005]
That is, the high
[0006]
The present invention has been made in view of the above-described conventional circumstances, and has as its object to provide a ceramic multilayer substrate having a cavity that suppresses shrinkage during firing and has no warpage or distortion, and a method for manufacturing the same.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
A ceramic multilayer substrate according to the invention of claim 1, wherein a cavity portion is formed of a plurality of laminated ceramic layers on a flat plate portion composed of a plurality of laminated ceramic layers, and a through hole for a cavity is formed in a thickness direction. A multilayer ceramic substrate having a cavity formed with the upper surface of the flat plate portion as the bottom surface and the through hole as a side surface, wherein the flat plate portion includes a first ceramic layer made of a first ceramic material; A second ceramic layer formed of a second ceramic material having a sintering temperature different from that of the first ceramic material, the second ceramic layer being laminated between the first ceramic layers, A first ceramic layer made of a ceramic material, and a second ceramic layer laminated between the first ceramic layer and having a different sintering temperature from the first ceramic material. A second ceramic layer comprising a click material consists, first, second ceramic layer is characterized in that the sintering conditions.
[0008]
The ceramic multilayer substrate according to claim 2 is characterized in that a capacitor portion is formed by opposing conductive layers with the second ceramic layer of the flat plate portion interposed therebetween.
[0009]
A ceramic multilayer substrate according to a third aspect of the invention is characterized in that a capacitor portion is formed by opposing conductor layers with the second ceramic layer of the cavity portion interposed therebetween.
[0010]
A method for manufacturing a ceramic multilayer substrate according to the invention of claim 4, comprising: a step of producing a composite laminate including a flat plate portion and a cavity having a through-hole; and a step of firing the composite laminate. In the composite laminate, the flat plate portion is laminated between a first ceramic green sheet made of a first ceramic material and the first ceramic layer, and has a sintering temperature different from that of the first ceramic material. A second ceramic green sheet made of a second ceramic material is laminated and formed, and the cavity portion is formed between a first ceramic green sheet made of a first ceramic material and the first ceramic layer. A second ceramic green sheet made of a second ceramic material having a sintering temperature different from that of the first ceramic material. The step of firing the composite laminate includes a cavity having an upper surface of the flat plate portion as a bottom surface and a through hole of the cavity portion as a side wall, wherein the first and second ceramic green sheets are sintered. Baking at a temperature.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
(Embodiment 1)
Hereinafter, an embodiment of a ceramic multilayer substrate according to the present invention will be described.
As shown in FIG. 1, a
[0012]
A
[0013]
The
[0014]
The
[0015]
The ceramic multilayer substrate 1 can be manufactured, for example, by the following method.
[0016]
First, after firing, first and second ceramic green sheets to be first and second ceramic layers, respectively, are produced.
[0017]
The first ceramic green sheet is formed, for example, by adding a binder, a plasticizer, a solvent, and the like to a ceramic powder, mixing the mixture with a ball mill or an attractor to form a slurry, and forming the slurry into a sheet by a method such as a doctor blade method. It is formed and manufactured.
[0018]
As the ceramic powder, for example, MgAl 2 O 4 Powder and SiO 2 , B 2 O 3 , A mixed powder of glass powder made of MgO, or the like. Further, as the binder, for example, polyvinyl butyral, methacrylic polymer, acrylic polymer, or the like can be used. As the plasticizer, for example, a derivative such as phthalic acid can be used. As the solvent, for example, alcohols, ketones, chlorinated organic solvents and the like can be used.
[0019]
Next, the second ceramic green sheet can be manufactured by the same manufacturing method as that of the first ceramic green sheet. However, as the ceramic material contained in the second ceramic green sheet, a material having a sintering temperature different from that of the ceramic material forming the first ceramic green sheet is selected. For example, as the ceramic powder contained in the second ceramic green sheet, BaO—TiO 2 -ReO 3/2 Based ceramic powder (Re is Y, a rare earth element), and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, Li 2 A mixed powder of glass powder of O or the like can be used.
[0020]
Next, the via holes formed in the first and second ceramic green sheets are filled with a conductive paste containing a metal powder such as Ag or Cu to form via conductors. The conductor paste is screen-printed at a predetermined position to form a conductor layer. Here, the via conductor may be formed on the first and second ceramic green sheets before printing the conductor paste, or may be formed simultaneously with printing the conductor paste.
[0021]
Next, a first ceramic laminate that forms a flat plate portion and a second ceramic laminate that forms a cavity portion are manufactured. As shown in FIG. 2A, the first
[0022]
Note that the second ceramic
[0023]
Next, as shown in FIG. 3, a second
[0024]
Next, the
[0025]
In addition, as shown in FIG. 4, a shrinkage suppressing
[0026]
Shrinkage suppressing
[0027]
After firing, the shrinkage suppressing
[0028]
In the present embodiment, not only the flat plate portion but also the cavity portion is provided with ceramic layers having different sintering temperatures at locations specified so as to suppress warpage and distortion during firing. Is suppressed. Since the contraction of the flat plate portion and the contraction of the cavity portion are respectively suppressed, there is an effect that warpage and distortion of the entire ceramic multilayer substrate are suppressed.
[0029]
Furthermore, by providing the shrinkage suppressing ceramic layer, shrinkage of the ceramic multilayer substrate during firing can be suppressed, and as a result, warpage and distortion of the ceramic multilayer substrate can be further suppressed.
[0030]
In addition, since the second ceramic layer is also provided in the second ceramic laminate, the contraction of the second ceramic laminate itself can be suppressed even if the thickness of the shrinkage suppressing ceramic layer is small. As a result, the thickness of the shrinkage suppressing ceramic layer can be reduced, so that the firing time is reduced, the removal is facilitated, and the cost can be reduced.
[0031]
(Embodiment 2)
Hereinafter, other embodiments of the ceramic multilayer substrate according to the present invention will be described.
As shown in FIG. 5, a
[0032]
A mounting
[0033]
The
[0034]
The
[0035]
In the present embodiment, not only the flat plate portion but also the cavity portion is provided with ceramic layers having different sintering temperatures at locations specified to suppress warpage and distortion during firing, so that the cavity portion shrinks. Is suppressed. By suppressing the contraction of the flat plate portion and the cavity portion, respectively, there is an effect that the warpage and distortion of the entire ceramic multilayer substrate are suppressed.
[0036]
In addition, since the opposing conductor layers are provided with the second ceramic layer interposed therebetween, a capacitor portion can be formed. If a material having a high dielectric constant is selected as the second ceramic material, a large capacitance can be obtained. Can be. For example, as a combination described in the first embodiment, as the ceramic powder contained in the first ceramic green sheet, MgAl 2 O 4 Powder, and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, glass powder, BaO-TiO2 as a ceramic powder contained in the second ceramic green sheet. 2 -ReO 3/2 Ceramic powder and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, Li 2 When a combination of glass powders composed of O, is used, the second ceramic green sheet has a high dielectric constant, so that a large capacity can be obtained. Therefore, various circuit designs are possible on the ceramic multilayer substrate.
[0037]
(Embodiment 3)
Hereinafter, an embodiment of a ceramic multilayer substrate according to the present invention will be described.
As shown in FIG. 6, a
[0038]
A mounting
[0039]
The
[0040]
The
[0041]
In the present embodiment, not only the flat plate portion but also the cavity portion is provided with ceramic layers having different sintering temperatures at locations specified to suppress warpage and distortion during firing, so that the cavity portion shrinks. Is suppressed. By suppressing the contraction of the flat plate portion and the cavity portion, respectively, there is an effect that the warpage and distortion of the entire ceramic multilayer substrate are suppressed.
[0042]
In addition, since the opposing conductor layers are provided with the second ceramic layer interposed therebetween, a capacitor portion can be formed. If a material having a high dielectric constant is selected as the second ceramic material, a large capacitance can be obtained. Can be. For example, as a combination described in the first embodiment, as the ceramic powder contained in the first ceramic green sheet, MgAl 2 O 4 Powder, and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, glass powder, BaO-TiO2 as a ceramic powder contained in the second ceramic green sheet. 2 -ReO 3/2 Ceramic powder and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, Li 2 When a combination of glass powders made of O is used, the second ceramic green sheet has a high dielectric constant, so that a large capacity can be obtained. Therefore, various circuit designs are possible on the ceramic multilayer substrate.
[0043]
(Embodiment 4)
Hereinafter, an embodiment of a ceramic multilayer substrate according to the present invention will be described.
As shown in FIG. 7, a
[0044]
A mounting
[0045]
The
[0046]
The
[0047]
As shown in FIG. 8, the
[0048]
In the present embodiment, not only the flat plate portion but also the cavity portion is provided with ceramic layers having different sintering temperatures at locations specified to suppress warpage and distortion during firing, so that the cavity portion shrinks. Is suppressed. By suppressing the contraction of the flat plate portion and the cavity portion, respectively, there is an effect that the warpage and distortion of the entire ceramic multilayer substrate are suppressed. In addition, since the opposing conductor layer is provided on the flat plate portion and the cavity portion with the second ceramic layer interposed therebetween, the cavity portion can be used effectively, so that more capacitor portions can be formed. . For example, as a combination described in the first embodiment, as the ceramic powder contained in the first ceramic green sheet, MgAl 2 O 4 Powder, and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, glass powder, BaO-TiO2 as a ceramic powder contained in the second ceramic green sheet. 2 -ReO 3/2 Ceramic powder and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, Li 2 When a combination of glass powders made of O is used, the second ceramic green sheet has a high dielectric constant, so that a large capacity can be obtained. Therefore, various circuit designs are possible on the ceramic multilayer substrate. As a result, the size and density of the ceramic multilayer substrate can be reduced.
[0049]
In addition, the ceramic multilayer substrate can be turned upside down, and the capacitor formed in the cavity can function as a filter circuit for I / O of module components using the ceramic multilayer substrate, thereby cutting noise and the like. Can be. As a result, a ceramic multilayer substrate having a reduced size and a higher density can be further multifunctional.
[0050]
【Example】
First, MgAl 2 O 4 Powder, and SiO 2 , B 2 O 3 , 100 parts by weight of a mixed powder obtained by mixing an equal weight ratio with a glass powder made of MgO, 15 parts by weight of polyvinyl butyral, 40 parts by weight of isopropyl alcohol, and 20 parts by weight of toluene were added, and the mixture was mixed with a ball mill for 24 hours. Slurry. A 200 μm-thick ceramic green sheet was prepared from this slurry by a doctor blade method to prepare a first ceramic green sheet.
[0051]
Next, BaO-TiO 2 -ReO 3/2 Ceramic powder and SiO 2 , B 2 O 3 , MgO, Li 2 15 parts by weight of polyvinyl butyral, 40 parts by weight of isopropyl alcohol, and 20 parts by weight of toluene were added to 100 parts by weight of a mixed powder obtained by mixing glass powder of O at an equal weight ratio, and the mixture was mixed with a ball mill for 24 hours. Slurry. A ceramic green sheet having a thickness of 200 μm was prepared from this slurry by a doctor blade method, and a second ceramic green sheet was prepared.
[0052]
Next, an Ag paste is filled into the via holes formed in the first and second ceramic green sheets to form via conductors, and the Ag paste is screen-printed at predetermined positions of the first and second ceramic green sheets. A conductor layer was formed.
[0053]
Next, one second ceramic green sheet was laminated on one first ceramic green sheet, and two first ceramic green sheets were laminated thereon, thereby producing a laminate. The laminate was cut so as to have a plane dimension of 100 mm × 100 mm, thereby producing a first ceramic laminate.
[0054]
Next, two second ceramic green sheets are stacked on one first ceramic green sheet, and three first ceramic green sheets are stacked thereon to form a laminate. A laminate having a plurality of through holes penetrating in the thickness direction was produced. The laminate was cut so as to have a plane dimension of 100 mm × 100 mm, thereby producing a second ceramic laminate.
[0055]
Next, the second ceramic laminated body was laminated on the first ceramic laminated body, and pressed under a pressure of 100 MPa by an underwater isostatic pressing method to produce a composite laminated body.
[0056]
Next, the composite laminate was fired at 900 ° C. for 6 hours to prepare a sample.
[0057]
Next, as shown in FIG. 9, the obtained
[0058]
(Comparative example)
First, first and second ceramic green sheets were produced in the same manner as in the example.
[0059]
Next, four first ceramic green sheets were laminated to produce a laminate. The laminate was cut so as to have a plane dimension of 100 mm × 100 mm, thereby producing a first ceramic laminate.
[0060]
Next, two second ceramic green sheets are stacked on one first ceramic green sheet, and three first ceramic green sheets are stacked thereon to form a laminate. A laminate having a plurality of through holes penetrating in the thickness direction was produced. The laminate was cut so as to have a plane dimension of 100 mm × 100 mm, thereby producing a second ceramic laminate.
[0061]
Next, the second ceramic laminated body was laminated on the first ceramic laminated body, and pressed under a pressure of 100 MPa by an underwater isostatic pressing method to produce a composite laminated body.
[0062]
Next, the composite laminate was fired at 900 ° C. for 6 hours to prepare a comparative sample.
[0063]
Next, as in the case shown in FIG. 9, the obtained comparative sample was placed on the
[0064]
From the above, by providing ceramic layers having different sintering temperatures at specific portions of the flat plate portion and the cavity portion, warpage and distortion of the entire ceramic multilayer substrate were suppressed.
[0065]
【The invention's effect】
The ceramic multilayer substrate according to the present invention, by providing ceramic layers having different sintering temperatures in the flat plate portion and the cavity portion, it is possible to suppress shrinkage during firing in each of the flat plate portion and the cavity portion. Warpage and distortion of the entire multilayer substrate can be suppressed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic partial cross-sectional side view showing a ceramic multilayer substrate according to a first embodiment.
FIG. 2 is a schematic process diagram illustrating a method for manufacturing the ceramic multilayer substrate according to the first embodiment.
FIG. 3 is a schematic process diagram illustrating a method for manufacturing the ceramic multilayer substrate according to the first embodiment.
FIG. 4 is a schematic partial cross-sectional side view showing a modification of the ceramic multilayer substrate according to the first embodiment.
FIG. 5 is a schematic partial cross-sectional side view showing a ceramic multilayer substrate according to a second embodiment.
FIG. 6 is a schematic partial cross-sectional side view showing a ceramic multilayer substrate according to a third embodiment.
FIG. 7 is a schematic partial cross-sectional side view showing a ceramic multilayer substrate according to a fourth embodiment.
FIG. 8 is a schematic partial cross-sectional side view showing a modification of the ceramic multilayer substrate according to the fourth embodiment.
FIG. 9 is a schematic cross-sectional view illustrating a sample measuring method according to an example.
FIG. 10 is a schematic partial cross-sectional side view showing a conventional ceramic multilayer substrate.
[Explanation of symbols]
101 ceramic multilayer substrate
102 flat part
103 cavity
104 cavity
105 conductor layer
106 Via conductor
107 first ceramic layer
108 second ceramic layer
109 mounted parts
110 bump
111 first ceramic laminate
112 Through hole
113 Second ceramic laminate
114 Composite laminate
115 Shrinkage control ceramic layer
C, C2, C3 Capacitor section
Claims (4)
前記平板部は、
第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層と、
前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層と、
からなり、
前記キャビティ部は、
第1のセラミック材料からなる第1のセラミック層と、
前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミック層と、
からなり、
前記第1、第2のセラミック層が焼結状態にあることを特徴とするセラミック多層基板。On a flat plate portion composed of a plurality of laminated ceramic layers, a cavity portion formed of a plurality of laminated ceramic layers and having a through hole for a cavity formed in a thickness direction is laminated, and the upper surface of the flat plate portion is a bottom surface, A ceramic multilayer substrate having a cavity formed with the through hole as a side surface,
The flat plate portion,
A first ceramic layer made of a first ceramic material;
A second ceramic layer laminated between the first ceramic layers and made of a second ceramic material having a different sintering temperature from the first ceramic material;
Consisting of
The cavity portion,
A first ceramic layer made of a first ceramic material;
A second ceramic layer laminated between the first ceramic layers and made of a second ceramic material having a different sintering temperature from the first ceramic material;
Consisting of
A ceramic multilayer substrate, wherein the first and second ceramic layers are in a sintered state.
前記複合積層体を焼成する工程と、
を備え、
前記複合積層体において、
前記平板部は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミックグリーンシートと、前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミックグリーンシートとが積層されて形成され、
前記キャビティ部は、第1のセラミック材料からなる第1のセラミックグリーンシートと、前記第1のセラミック層の間に積層され、前記第1のセラミック材料とは焼結温度の異なる第2のセラミック材料からなる第2のセラミッグリーンシートとが積層されて形成され、
前記平板部の上面を底面とし、前記キャビティ部の貫通孔を側壁とするキャビティを有し、
前記複合積層体を焼成する工程は、
前記第1、第2のセラミックグリーンシートが焼結する温度で焼成する工程、
を備えることを特徴とする、多層セラミック基板の製造方法。A step of producing a composite laminate comprising a flat plate portion and a cavity portion having a through hole,
Firing the composite laminate,
With
In the composite laminate,
The flat plate portion is laminated between a first ceramic green sheet made of a first ceramic material and the first ceramic layer, and a second ceramic material having a sintering temperature different from that of the first ceramic material. And a second ceramic green sheet made of
The cavity portion is laminated between a first ceramic green sheet made of a first ceramic material and the first ceramic layer, and a second ceramic material having a sintering temperature different from that of the first ceramic material. And a second ceramic green sheet consisting of
A cavity having a top surface of the flat plate portion as a bottom surface and a through hole of the cavity portion as a side wall,
The step of firing the composite laminate,
Firing at a temperature at which the first and second ceramic green sheets are sintered;
A method for manufacturing a multilayer ceramic substrate, comprising:
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JP (1) | JP2004095767A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006090999A (en) * | 2004-08-26 | 2006-04-06 | Kyocera Corp | Wiring board and its manufacturing method |
WO2006120826A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-16 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Ceramic multilayer board |
JP2007335653A (en) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Alps Electric Co Ltd | Circuit board, method of manufacturing the same, and circuit module using the same |
JPWO2007049417A1 (en) * | 2005-10-24 | 2009-04-30 | 株式会社村田製作所 | Circuit module manufacturing method and circuit module |
WO2009139272A1 (en) * | 2008-05-15 | 2009-11-19 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic substrate and method for producing the same |
JP2017135250A (en) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 日本特殊陶業株式会社 | Aluminum nitride substrate, part for semiconductor manufacturing, cvd heater, and method for manufacturing aluminum nitride substrate |
-
2002
- 2002-08-30 JP JP2002253596A patent/JP2004095767A/en active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006090999A (en) * | 2004-08-26 | 2006-04-06 | Kyocera Corp | Wiring board and its manufacturing method |
JP4574369B2 (en) * | 2004-08-26 | 2010-11-04 | 京セラ株式会社 | Wiring board and manufacturing method thereof |
US7745734B2 (en) | 2005-05-12 | 2010-06-29 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Ceramic multilayer substrate |
JPWO2006120826A1 (en) * | 2005-05-12 | 2008-12-18 | 株式会社村田製作所 | Ceramic multilayer substrate |
WO2006120826A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-16 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Ceramic multilayer board |
JPWO2007049417A1 (en) * | 2005-10-24 | 2009-04-30 | 株式会社村田製作所 | Circuit module manufacturing method and circuit module |
JP4702370B2 (en) * | 2005-10-24 | 2011-06-15 | 株式会社村田製作所 | Circuit module manufacturing method |
JP2007335653A (en) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Alps Electric Co Ltd | Circuit board, method of manufacturing the same, and circuit module using the same |
WO2009139272A1 (en) * | 2008-05-15 | 2009-11-19 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic substrate and method for producing the same |
JP5182367B2 (en) * | 2008-05-15 | 2013-04-17 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic substrate and manufacturing method thereof |
US8993105B2 (en) | 2008-05-15 | 2015-03-31 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic substrate and method for producing the same |
CN104589738A (en) * | 2008-05-15 | 2015-05-06 | 株式会社村田制作所 | Multilayer ceramic substrate and method for producing the same |
JP2017135250A (en) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 日本特殊陶業株式会社 | Aluminum nitride substrate, part for semiconductor manufacturing, cvd heater, and method for manufacturing aluminum nitride substrate |
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