JP2004087154A - 漏電遮断器のテスト回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】零相変流器や漏電検出ＩＣ等が故障した状態でテストスイッチを押し続けた場合でもテスト抵抗を破裂させたり焼損させたりすることがなく、漏電遮断器の破裂や焼損を防止する漏電遮断器のテスト回路を提供する。
【解決手段】テスト回路７はテスト抵抗８とテストスイッチ９とを直列接続して構成し、テスト回路７の一方端をトリップコイル３の２次側に接続し、他方端を主回路のＬ２に接続して電源を確保する。零相変流器２や漏電検出ＩＣ４が故障した状態でテストスイッチ９を押し続けると、テスト抵抗８がショートしてテスト回路７とトリップコイル３に大電流が流れ、トリップコイル３が励磁して引き外し装置６を駆動し、主回路Ｌ１，Ｌ２の主接点５を遮断させる。
【選択図】 図１
【解決手段】テスト回路７はテスト抵抗８とテストスイッチ９とを直列接続して構成し、テスト回路７の一方端をトリップコイル３の２次側に接続し、他方端を主回路のＬ２に接続して電源を確保する。零相変流器２や漏電検出ＩＣ４が故障した状態でテストスイッチ９を押し続けると、テスト抵抗８がショートしてテスト回路７とトリップコイル３に大電流が流れ、トリップコイル３が励磁して引き外し装置６を駆動し、主回路Ｌ１，Ｌ２の主接点５を遮断させる。
【選択図】 図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、漏電を擬似的に発生させて漏電遮断器が正常に動作するかどうかを確認するためのテスト回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、図２に示すように漏電遮断器１１は主回路Ｌ１，Ｌ２を貫通させた零相変流器１２によって主回路Ｌ１，Ｌ２の漏電を検出すると漏電検出ＩＣ１４からの出力によってトリップコイル１３を励磁し、このトリップコイル１３の励磁によって引き外し装置１６を動作させて主接点１５を遮断するようになっている。この漏電遮断器１１が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられるテスト回路１７は、直列接続したテスト抵抗１８とテストスイッチ１９とで構成され、零相変流器１２に貫通させて、一方端を主回路のＬ１に接続し、他方端を主回路のＬ２に接続して電源を確保していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
テスト回路に使用されるテスト抵抗は、漏電遮断器が短時間に遮断動作することを前提にしているので小さな定格電力のものが使用されている。そして、テスト抵抗として一般によく使用されるのは炭素皮膜抵抗で、この炭素皮膜抵抗は定格オーバーで故障するとショートするようになっており、燃え上がったり、破裂したりする。そのため、漏電遮断器が零相変流器の断線や漏電検出ＩＣの故障等で漏電を検知できなくなった場合に、テストスイッチを押し続けてしまうと、漏電遮断器が遮断せずテスト抵抗が定格オーバーになって破裂し、漏電遮断器内の配置によってはテスト抵抗の破裂によって発生した爆風や破片が線間短絡を誘発し、漏電遮断器の内圧を上昇させて漏電遮断器自体が破裂する虞があるため、危険であった。
【０００４】
そこで上記問題点に鑑み、本発明の目的は、零相変流器や漏電検出ＩＣ等が故障した状態でテストスイッチを押し続けた場合でもテスト抵抗を破裂させたり焼損させたりすることがなく、漏電遮断器の破裂や焼損を防止する漏電遮断器のテスト回路を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、主回路を貫通させた零相変流器によって主回路の漏電を検出すると漏電検出ＩＣからの出力によってトリップコイルを励磁し、トリップコイルの励磁によって引き外し装置を動作させて主接点を遮断する漏電遮断器が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられ、直列接続したテスト抵抗とテストスイッチとで構成されるテスト回路において、テスト回路の一方端をトリップコイルの２次側に接続したことを特徴とする。
【０００６】
【発明の実施の形態】
漏電遮断器のテスト回路はテスト抵抗とテストスイッチとを直列接続して構成し、テスト回路の一方端をトリップコイルの２次側に接続し、他方端を主回路に接続して電源を確保する。零相変流器や漏電検出ＩＣが故障した状態でテストスイッチを押し続けると、テスト抵抗がショートしてテスト回路とトリップコイルに大電流が流れ、トリップコイルが励磁して引き外し装置を駆動し、主回路の主接点を遮断させる。
【０００７】
【実施例】
本発明に係る漏電遮断器のテスト回路の実施例を図１の添付図面に基づいて説明する。
【０００８】
漏電遮断器１は、主回路Ｌ１，Ｌ２に流れる漏洩電流を検出するために主回路Ｌ１，Ｌ２を貫通させた零相変流器２と、漏電検出時に零相変流器２からの出力を受けてトリップコイル３を励磁させる漏電検出ＩＣ４と、トリップコイル３の励磁により駆動されて主回路Ｌ１，Ｌ２に設けられた主接点５を遮断させる引き外し装置６と、漏電遮断器１が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するためのテスト回路７とを備えている。
【０００９】
テスト回路７は、直列接続したテスト抵抗８とテストスイッチ９とで構成され、零相変流器２に貫通させて、一方端をトリップコイル３の２次側（主回路に直接接続されていない側）に接続し、他方端を主回路のＬ２に接続して電源を確保している。尚、トリップコイル３の１次側は主回路Ｌ１の主接点５の２次側に接続されている。
【００１０】
ここで、零相変流器２が断線したり、漏電検出ＩＣ４が故障した状態でテストスイッチ９を押し続けた場合、テスト抵抗８に従来例と同じ炭素皮膜抵抗を使用していると、テスト抵抗８がショートしてテスト回路７に大電流が流れる。そうすると、この大電流はトリップコイル３にも流れるため、トリップコイル３を励磁して引き外し装置６を駆動し、主接点５を遮断させることができる。これにより、テストスイッチ９を押し続けてもテスト抵抗８への通電が遮断するため、テスト抵抗８が破裂したり、焼損することがなく、漏電遮断器１の破裂や焼損を防止することができる。
【００１１】
【発明の効果】
以上説明したように主回路を貫通させた零相変流器によって主回路の漏電を検出すると漏電検出ＩＣからの出力によってトリップコイルを励磁し、トリップコイルの励磁によって引き外し装置を動作させて主接点を遮断する漏電遮断器が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられ、直列接続したテスト抵抗とテストスイッチとで構成されるテスト回路において、テスト回路の一方端をトリップコイルの２次側に接続したことにより、零相変流器や漏電検出ＩＣ等が故障した状態でテストスイッチを押し続けた場合でも主接点を遮断させるのでテスト抵抗を破裂させたり焼損させたりすることがなく、漏電遮断器の破裂や焼損を防止するという効果がある。また、部品点数を増加させず、コストが上がらないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る漏電遮断器の回路図である。
【図２】従来の漏電遮断器の回路図である。
【符号の説明】
１…漏電遮断器
２…零相変流器
３…トリップコイル
４…漏電検出ＩＣ
５…主接点
６…引き外し装置
７…テスト回路
８…テスト抵抗
９…テストスイッチ
Ｌ１，Ｌ２…主回路
【発明の属する技術分野】
本発明は、漏電を擬似的に発生させて漏電遮断器が正常に動作するかどうかを確認するためのテスト回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、図２に示すように漏電遮断器１１は主回路Ｌ１，Ｌ２を貫通させた零相変流器１２によって主回路Ｌ１，Ｌ２の漏電を検出すると漏電検出ＩＣ１４からの出力によってトリップコイル１３を励磁し、このトリップコイル１３の励磁によって引き外し装置１６を動作させて主接点１５を遮断するようになっている。この漏電遮断器１１が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられるテスト回路１７は、直列接続したテスト抵抗１８とテストスイッチ１９とで構成され、零相変流器１２に貫通させて、一方端を主回路のＬ１に接続し、他方端を主回路のＬ２に接続して電源を確保していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
テスト回路に使用されるテスト抵抗は、漏電遮断器が短時間に遮断動作することを前提にしているので小さな定格電力のものが使用されている。そして、テスト抵抗として一般によく使用されるのは炭素皮膜抵抗で、この炭素皮膜抵抗は定格オーバーで故障するとショートするようになっており、燃え上がったり、破裂したりする。そのため、漏電遮断器が零相変流器の断線や漏電検出ＩＣの故障等で漏電を検知できなくなった場合に、テストスイッチを押し続けてしまうと、漏電遮断器が遮断せずテスト抵抗が定格オーバーになって破裂し、漏電遮断器内の配置によってはテスト抵抗の破裂によって発生した爆風や破片が線間短絡を誘発し、漏電遮断器の内圧を上昇させて漏電遮断器自体が破裂する虞があるため、危険であった。
【０００４】
そこで上記問題点に鑑み、本発明の目的は、零相変流器や漏電検出ＩＣ等が故障した状態でテストスイッチを押し続けた場合でもテスト抵抗を破裂させたり焼損させたりすることがなく、漏電遮断器の破裂や焼損を防止する漏電遮断器のテスト回路を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、主回路を貫通させた零相変流器によって主回路の漏電を検出すると漏電検出ＩＣからの出力によってトリップコイルを励磁し、トリップコイルの励磁によって引き外し装置を動作させて主接点を遮断する漏電遮断器が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられ、直列接続したテスト抵抗とテストスイッチとで構成されるテスト回路において、テスト回路の一方端をトリップコイルの２次側に接続したことを特徴とする。
【０００６】
【発明の実施の形態】
漏電遮断器のテスト回路はテスト抵抗とテストスイッチとを直列接続して構成し、テスト回路の一方端をトリップコイルの２次側に接続し、他方端を主回路に接続して電源を確保する。零相変流器や漏電検出ＩＣが故障した状態でテストスイッチを押し続けると、テスト抵抗がショートしてテスト回路とトリップコイルに大電流が流れ、トリップコイルが励磁して引き外し装置を駆動し、主回路の主接点を遮断させる。
【０００７】
【実施例】
本発明に係る漏電遮断器のテスト回路の実施例を図１の添付図面に基づいて説明する。
【０００８】
漏電遮断器１は、主回路Ｌ１，Ｌ２に流れる漏洩電流を検出するために主回路Ｌ１，Ｌ２を貫通させた零相変流器２と、漏電検出時に零相変流器２からの出力を受けてトリップコイル３を励磁させる漏電検出ＩＣ４と、トリップコイル３の励磁により駆動されて主回路Ｌ１，Ｌ２に設けられた主接点５を遮断させる引き外し装置６と、漏電遮断器１が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するためのテスト回路７とを備えている。
【０００９】
テスト回路７は、直列接続したテスト抵抗８とテストスイッチ９とで構成され、零相変流器２に貫通させて、一方端をトリップコイル３の２次側（主回路に直接接続されていない側）に接続し、他方端を主回路のＬ２に接続して電源を確保している。尚、トリップコイル３の１次側は主回路Ｌ１の主接点５の２次側に接続されている。
【００１０】
ここで、零相変流器２が断線したり、漏電検出ＩＣ４が故障した状態でテストスイッチ９を押し続けた場合、テスト抵抗８に従来例と同じ炭素皮膜抵抗を使用していると、テスト抵抗８がショートしてテスト回路７に大電流が流れる。そうすると、この大電流はトリップコイル３にも流れるため、トリップコイル３を励磁して引き外し装置６を駆動し、主接点５を遮断させることができる。これにより、テストスイッチ９を押し続けてもテスト抵抗８への通電が遮断するため、テスト抵抗８が破裂したり、焼損することがなく、漏電遮断器１の破裂や焼損を防止することができる。
【００１１】
【発明の効果】
以上説明したように主回路を貫通させた零相変流器によって主回路の漏電を検出すると漏電検出ＩＣからの出力によってトリップコイルを励磁し、トリップコイルの励磁によって引き外し装置を動作させて主接点を遮断する漏電遮断器が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられ、直列接続したテスト抵抗とテストスイッチとで構成されるテスト回路において、テスト回路の一方端をトリップコイルの２次側に接続したことにより、零相変流器や漏電検出ＩＣ等が故障した状態でテストスイッチを押し続けた場合でも主接点を遮断させるのでテスト抵抗を破裂させたり焼損させたりすることがなく、漏電遮断器の破裂や焼損を防止するという効果がある。また、部品点数を増加させず、コストが上がらないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る漏電遮断器の回路図である。
【図２】従来の漏電遮断器の回路図である。
【符号の説明】
１…漏電遮断器
２…零相変流器
３…トリップコイル
４…漏電検出ＩＣ
５…主接点
６…引き外し装置
７…テスト回路
８…テスト抵抗
９…テストスイッチ
Ｌ１，Ｌ２…主回路
Claims (1)
- 主回路を貫通させた零相変流器によって前記主回路の漏電を検出すると漏電検出ＩＣからの出力によってトリップコイルを励磁し、該トリップコイルの励磁によって引き外し装置を動作させて主接点を遮断する漏電遮断器が漏電発生時に正常に動作するかどうかを確認するために備えられ、直列接続したテスト抵抗とテストスイッチとで構成されるテスト回路において、該テスト回路の一方端を前記トリップコイルの２次側に接続したことを特徴とする漏電遮断器のテスト回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002242862A JP2004087154A (ja) | 2002-08-23 | 2002-08-23 | 漏電遮断器のテスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002242862A JP2004087154A (ja) | 2002-08-23 | 2002-08-23 | 漏電遮断器のテスト回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004087154A true JP2004087154A (ja) | 2004-03-18 |
Family
ID=32051780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002242862A Pending JP2004087154A (ja) | 2002-08-23 | 2002-08-23 | 漏電遮断器のテスト回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2004087154A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102099979A (zh) * | 2008-07-15 | 2011-06-15 | 西门子公司 | 通过故障电流保护设备执行自测试的方法以及故障电流保护设备 |
-
2002
- 2002-08-23 JP JP2002242862A patent/JP2004087154A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102099979A (zh) * | 2008-07-15 | 2011-06-15 | 西门子公司 | 通过故障电流保护设备执行自测试的方法以及故障电流保护设备 |
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