JP2004055751A - Clamping device - Google Patents

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JP2004055751A
JP2004055751A JP2002209908A JP2002209908A JP2004055751A JP 2004055751 A JP2004055751 A JP 2004055751A JP 2002209908 A JP2002209908 A JP 2002209908A JP 2002209908 A JP2002209908 A JP 2002209908A JP 2004055751 A JP2004055751 A JP 2004055751A
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printed circuit
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clamp
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JP2002209908A
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Japanese (ja)
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Tomohiko Kamimura
上村 友彦
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Yamaha Motor Electronics Co Ltd
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Moric Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clamping device for testing a substrate, which improves the flexibility of a pattern layout by reducing a dead space on a printing substrate as much as possible and which is capable of contriving the miniaturization of the printing substrate by permitting high-density mounting. <P>SOLUTION: The clamping device is provided with a plurality of support pins (the terminal parts 40 of the test pins 23) for supporting a sheet-type work (printing substrate 9) on a support board 22 (test pin board 22) from the lower side of the work, a plurality of pressure bars 33 for pushing the work 9 against the support pins 40 from the upper side of the work, operating means (a clamp lever 26, a clamp rod 27 and a push plate 28) for making the push rod 33 operate vertically between the clamping position and the clamp-releasing position of the work 9, and a plurality of positioning pins 32, provided on the supporting board 22 and engaged with the work 9, while being projected toward the upper surface side of the work 9. In such a clamping device, the pressure bars 33 are provided at the upper side of the pins 32 so as to be aligned with them, and holes 34 for fitting in the upper ends of the positioning pins 32 projected from the upper side of the work 9 are formed at the pushing surface side of the pressure bars 33. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント基板の試験装置等で用いられるクランプ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
自動車エンジン用コントローラその他各種制御装置を構成するプリント基板は回路形成後に回路の導通試験や機能試験が行なわれる。この試験装置は、針状のプローブや頭部に微小リング状の接触子を有するピン等のテストピンの上端に基板を載せ、クランプ装置でこの基板を上からテストピン側に押し付けてテストを行う。
【0003】
図5は従来のプリント基板試験装置に用いられたクランプ装置の構成説明図であり、(A)はクランプ解除状態、(B)はクランプ状態を示す。
【0004】
また、図6はプリント基板形状及びそのクランプ状態のクランプ部材の配置を示す説明図である。
【0005】
基板試験装置を構成するクランプ装置1は、支持台となるテストピンボード2の上面に突出する複数(図では2本)のテストピン3を有する。テストピン3は上端に端子部10を有し、筒内の不図示のスプリングにより、弾力的に上下動作する。これらのテストピン3の上端の端子部10上に試験すべきワーク(プリント基板9)が搭載され、テストピン3上に弾性的に支持される。各テストピン3は、予め分っている検査すべきプリント基板9の下面側の端子や回路パターンの位置に配設されるようにプリント基板9が位置決めされる。11はプリント基板9の上面及び下面に実装された電子部品を示す。
【0006】
テストピンボード2の上側に支柱4を介して天板5が設けられる。天板5にはクランプレバー6及びこのクランプレバー6の回転操作により上下動作するトグル構造のクランプロッド7が備わる。クランプロッド7の下端部に押えプレート8が固定される。押えプレート8の下面側に複数の押え棒13が突出して設けられる。各押え棒13は、予め分っているプリント基板9の上面で回路パターンや部品の搭載位置を避けた位置に当接するように押えプレート8に設けられる。
【0007】
テストピンボード2上に突出してプリント基板9の位置決めピン12が設けられる。この位置決めピン12は、図6(A)に示すように、プリント基板9に設けたガイド孔12aを挿通してプリント基板9を位置決めするものである。
【0008】
テストを行う場合、図5(A)に示すように、クランプ解除した状態でプリント基板9を位置決めピン12でガイドしてテストピン3上に載せる。その後、同(B)に示すように、クランプレバー6を回動操作してクランプロッド7を押し下げ、押えプレート8とともに押え棒13を下降させプリント基板9を押圧してテストピン3上にクランプする。クランプした状態でテストを行う。テストが終了したら、図5(A)に示すように、再びクランプを解除してプリント基板9をテストピン3から取外す。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のクランプ装置では、プリント基板9上に図6(B)に示すように、位置決めピン12及び押え棒13が占めるスペースがデッドスペースとして形成される。このデッドスペースには回路パターンや部品を設けることができずパターンレイアウトの制約となり、また高密度実装の妨げになるとともにプリント基板の小型化が図れなくなる。
【0010】
本発明は上記従来技術を考慮したものであって、プリント基板上のデッドスペースを極力小さくして基板面のパターン形成領域を広げパターンレイアウトの自由度を高めるとともに高密度実装を可能としプリント基板の小型化を図ることができる基板テスト用のクランプ装置の提供を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため、本発明では、支持台上で板状のワークを下側から支持する複数の支持ピンと、該支持ピンに対し前記ワークを上側から押圧する複数の押え棒と、該押え棒を前記ワークのクランプ位置及びクランプ解除位置間で上下動作させる操作手段と、前記支持台上に設けられ、前記ワークに係合して該ワークの上面側に突出する複数の位置決めピンとを備えたクランプ装置において、前記位置決めピンに整合してその上側の位置に前記押え棒を設けるとともに、該押え棒の押圧面側に、前記ワークの上面に突出する前記位置決めピンの上端部が嵌入する穴を形成したことを特徴とするクランプ装置を提供する。
【0012】
この構成によれば、押え棒による押圧位置と位置決めピンの位置決め位置が整合して重なるため、ワーク上のデッドスペースが共通化してデッドスペースが減少し、ワーク面を有効に使用することができる。
【0013】
好ましい構成例では、前記ワークはプリント基板であり、前記支持ピンは前記支持台の上面に突出して前記基板を弾性的に支持する複数の基板試験用のテストピンであり、前記押え棒は前記操作手段に連結された押えプレートの下面に突出して設けられたことを特徴としている。
【0014】
この構成によれば、プリント基板試験装置におけるクランプ構造に対し本発明を適用した場合に、テストピン上のプリント基板を押え棒で押圧したときに、押え棒による押圧位置と位置決めピンの位置決め位置が整合して重なるため、プリント基板上のデッドスペースが共通化してデッドスペースが減少し、プリント基板面の有効な回路形成領域が広がり、パターンレイアウトの自由度が大きくなるとともに高密度実装及び基板の小型化が可能になる。
【0015】
本発明では、好ましい構成例として、前記位置決めピンが係合する複数の切欠きを外縁に形成したことを特徴とするプリント基板を提供する。
【0016】
この構成によれば、プリント基板の輪郭となる外縁を切欠いて位置決めガイドを形成し、この切欠きに位置決めピンを係合させることにより、この位置決めピンに上から被さる押え棒の押圧面全体がプリント基板上に接触することなく、一部が基板の外側にはみ出して基板上のデッドスペースが小さくなる。
【0017】
好ましい構成例では、前記切欠きは、矩形のプリント基板の角部に形成された1/4円の形状であることを特徴としている。
【0018】
この構成によれば、矩形プリント基板の例えば4隅の角部に1/4円の切り欠きを形成してこれに円柱形状の位置決めピンを係合させることにより、プリント基板上のデッドスペースを効率よく小さくできる。
【0019】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施形態に係るプリント基板試験装置に適用されたクランプ装置の構成説明図であり、(A)はクランプ解除状態、(B)はクランプ状態を示す。図2はプリント基板の形状及びクランプ状態のデッドスペースを示す形状説明図である。
【0020】
基板試験装置を構成するクランプ装置21は、支持台となるテストピンボード22の上面に突出する複数(図では2本)のテストピン23を有する。テストピン23は上端に端子部40を有し、筒内の不図示のスプリングにより、弾力的に上下動作する。これらのテストピン23の上端の端子部40上に試験すべきワーク(プリント基板9)が搭載され、テストピン23上に弾性的に支持される。各テストピン23は、予め分っている検査すべきプリント基板9の下面側の端子や回路パターンの位置に配設されるようにプリント基板9が位置決めされる。11はプリント基板9の上面及び下面に実装された電子部品を示す。
【0021】
テストピンボード22の上側に支柱24を介して天板25が設けられる。天板25にはクランプレバー26及びこのクランプレバー26の回転操作により上下動作するトグル構造のクランプロッド27が備わる。クランプロッド27の下端部に押えプレート28が固定される。押えプレート28の下面側に複数の押え棒33が突出して設けられる。各押え棒33は、予め分っているプリント基板9の上面で回路パターンや部品の搭載位置を避けた位置に当接するように押えプレート28に設けられる。
【0022】
テストピンボード22上に突出してプリント基板9の位置決めピン32が設けられる。この位置決めピン32は、図2(A)に示すように、プリント基板9に設けたガイド孔32aを挿通してプリント基板9を位置決めするものである。なお、この位置決めピン32の位置(ガイド孔32aの位置)は、この例では対角線上の2ヵ所に設けたが、基板上の回路パターン(不図示)を避けた不使用領域の別の位置であってもよく、またその数も2つに限らず、4隅のうち又は別の位置で3ヵ所又は4ヵ所であってもよい。
【0023】
本実施形態では、位置決めピン32に整合してその上側の位置に押え棒33が設けられる。この押え棒33の押圧面(下面)側に位置決めピン32が嵌入する穴34が形成される。この例では、図2(B)に示すように、プリント基板9の4隅のうち対角線上の対向する一対の2ヵ所の位置決めピン32の位置にそれぞれ押え棒33が設けられ、さらに他の一対の対向する2ヵ所(位置決めピンがない位置)にも押え棒35が設けられる。押え棒35には位置決めピン32を嵌入させる穴34は形成されない。なお、図1では穴34が形成された押え棒33のみを図示してある。
【0024】
テストを行う場合、図1(A)に示すように、クランプ解除した状態でプリント基板9を位置決めピン32でガイドしてテストピン23の端子部40上に載せる。このとき、位置決めピン32はプリント基板9のガイド孔32a(図2(A))を挿通して基板表面に突出する。
【0025】
その後、同(B)に示すように、クランプレバー26を回動操作してクランプロッド27を押し下げ、押えプレート28とともに押え棒33および押え棒35(図2)を下降させプリント基板9を押圧してテストピン23の端子部40上にクランプする。このとき、押え棒33は、プリント基板9上に突出する位置決めピン32と重なる位置でプリント基板9を押圧するが、基板上に突出する位置決めピン32の上端部は押え棒33の穴34内に挿入されるため、支障なくプリント基板9を押圧できる。
【0026】
このように、プリント基板9をクランプした状態でテストを行う。テストが終了したら、クランプレバー26をクランプ時と逆方向に回動操作してクランプロッド27を上昇させ、押えプレート28とともに押え棒33,35を引上げてクランプを解除する。図1(A)に示すように、再びクランプが解除された状態でプリント基板9をテストピン23から取外す。
【0027】
本実施形態では、図2(B)に示すように、プリント基板9上でデッドスペースとなる位置決めピン32の占有スペースと押え棒33の占有スペースが重なって共通化するため、デッドスペースが減少する。
【0028】
図3は、本発明の別の実施形態に係るプリント基板試験装置に適用されたクランプ装置の構成説明図であり、(A)はクランプ解除状態、(B)はクランプ状態を示す。図4はプリント基板の形状及びクランプ状態のデッドスペースを示す形状説明図である。
【0029】
この実施形態では、図4(A)に示すように、プリント基板9の4隅の角部に1/4円の切欠きを形成して位置決めピン用のガイド36を構成する。各ガイド36に対応して位置決めピン32が4本設けられる。4本の各位置決めピン32に整合してその上側の位置に押え棒33が設けられる。各押え棒33には、前記実施形態と同様に、位置決めピン32が嵌入する穴34が設けられる。テスト動作は前記実施形態と同様である。
【0030】
この実施形態では、プリント基板9に形成される位置決め用のガイド36が1/4円の切欠きであるため、ガイドに要するスペースが減少してプリント基板9自体における回路パターン不使用領域の面積が減少する。また、これとともに、プリント基板9に対する各押え棒33が位置決めピン32に被せられるため、前述の実施形態と同様に、デッドスペースの共通化によりデッドスペースの減少が図られる。さらに本実施形態では、各押え棒33によるデッドスペースとなる押圧面積が押圧面(押え棒の下面)の1/4になるため、デッドスペースがさらに減少する。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、押え棒による押圧位置と位置決めピンの位置決め位置が整合して重なるため、ワーク上のデッドスペースが共通化してデッドスペースが減少し、ワーク面を有効に使用することができる。特に、プリント基板試験装置におけるクランプ構造に対し本発明を適用した場合に、テストピン上のプリント基板を押え棒で押圧したときに、押え棒による押圧位置と位置決めピンの位置決め位置が整合して重なるため、プリント基板上のデッドスペースが共通化してデッドスペースが減少し、プリント基板面の有効な回路形成領域が広がり、パターンレイアウトの自由度が大きくなるとともに高密度実装及び基板の小型化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るプリント基板試験装置に適用されたクランプ装置の構成説明図。
【図2】図1のプリント基板及びそのデッドスペースの形状説明図。
【図3】本発明の別の実施形態に係るプリント基板試験装置に適用されたクランプ装置の構成説明図。
【図4】図3のプリント基板及びそのデッドスペースの形状説明図。
【図5】従来のプリント基板試験装置におけるクランプ装置の構成説明図。
【図6】図5のプリント基板及びそのデッドスペースの形状説明図。
【符号の説明】
1:クランプ装置、2:テストピンボード、3:テストピン、4:支柱、
5:天板、6:クランプレバー、7:クランプロッド、8:押えプレート、
9:プリント基板、10:端子部、11:電子部品、12:位置決めピン、
12a:ガイド孔、21:クランプ装置、
22:テストピンボード、23:テストピン、24:支柱、25:天板、
26:クランプレバー、27:クランプロッド、28:押えプレート、
32:位置決めピン、32a;ガイド孔、33:押え棒、34:穴、
35:押え棒、36:ガイド、40:端子部。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a clamp device used in a printed circuit board test device or the like.
[0002]
[Prior art]
A printed circuit board forming a controller for an automobile engine and other various control devices is subjected to a circuit continuity test and a functional test after the circuit is formed. In this test device, a substrate is placed on the upper end of a test pin such as a needle-like probe or a pin having a small ring-shaped contact on the head, and the test is performed by pressing the substrate against the test pin from above with a clamp device. .
[0003]
FIGS. 5A and 5B are explanatory diagrams of a configuration of a clamp device used in a conventional printed circuit board test apparatus, wherein FIG. 5A shows a clamp released state, and FIG. 5B shows a clamp state.
[0004]
FIG. 6 is an explanatory view showing the shape of the printed circuit board and the arrangement of the clamp members in the clamped state.
[0005]
The clamp device 1 constituting the substrate testing device has a plurality (two in the figure) of test pins 3 projecting from the upper surface of a test pin board 2 serving as a support base. The test pin 3 has a terminal portion 10 at an upper end, and is vertically moved elastically by a spring (not shown) in the cylinder. A work (printed circuit board 9) to be tested is mounted on the terminal portion 10 at the upper end of the test pin 3, and is elastically supported on the test pin 3. The printed circuit board 9 is positioned so that each test pin 3 is disposed at a position of a terminal or a circuit pattern on a lower surface side of the printed circuit board 9 to be inspected, which is known in advance. Reference numeral 11 denotes an electronic component mounted on the upper and lower surfaces of the printed circuit board 9.
[0006]
A top plate 5 is provided on the upper side of the test pin board 2 via a support 4. The top plate 5 is provided with a clamp lever 6 and a clamp rod 7 having a toggle structure that moves up and down by rotating the clamp lever 6. The holding plate 8 is fixed to the lower end of the clamp rod 7. A plurality of holding rods 13 are provided to protrude from the lower surface of the holding plate 8. Each presser bar 13 is provided on the presser plate 8 so as to come into contact with a position on the upper surface of the printed circuit board 9 which is known in advance, excluding a mounting position of a circuit pattern or a component.
[0007]
Positioning pins 12 of the printed circuit board 9 are provided to protrude above the test pin board 2. As shown in FIG. 6A, the positioning pins 12 position the printed circuit board 9 by passing through guide holes 12a provided in the printed circuit board 9.
[0008]
When performing the test, as shown in FIG. 5A, the printed circuit board 9 is guided by the positioning pins 12 and placed on the test pins 3 in a state where the clamp is released. Thereafter, as shown in FIG. 3B, the clamp lever 6 is rotated to push down the clamp rod 7, the holding rod 13 is lowered together with the holding plate 8, and the printed circuit board 9 is pressed to be clamped on the test pin 3. . Test with clamped. When the test is completed, the clamp is released again and the printed circuit board 9 is removed from the test pins 3 as shown in FIG.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described conventional clamping device, the space occupied by the positioning pins 12 and the pressing rods 13 is formed as a dead space on the printed circuit board 9 as shown in FIG. In this dead space, circuit patterns and components cannot be provided, which restricts the pattern layout, hinders high-density mounting, and makes it impossible to reduce the size of the printed circuit board.
[0010]
The present invention has been made in consideration of the above-described conventional technology, and reduces the dead space on a printed circuit board as much as possible to increase the pattern forming area on the board surface, increase the degree of freedom in pattern layout, and enable high-density mounting, and It is an object of the present invention to provide a substrate testing clamp device that can be downsized.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, according to the present invention, a plurality of support pins for supporting a plate-shaped work from below on a support table, a plurality of pressing bars for pressing the work against the support pin from above, Operating means for moving the rod up and down between a clamp position and a clamp release position of the work, and a plurality of positioning pins provided on the support table and engaging with the work and projecting to the upper surface side of the work. In the clamp device, the presser bar is provided at a position above and in alignment with the positioning pin, and a press-fitting side of the presser bar is provided with a hole into which an upper end of the positioning pin protruding from the upper surface of the work fits. A clamp device characterized by being formed.
[0012]
According to this configuration, since the pressing position of the presser bar and the positioning position of the positioning pin are aligned and overlap, the dead space on the work is shared, the dead space is reduced, and the work surface can be used effectively.
[0013]
In a preferred configuration example, the work is a printed circuit board, the support pins are test pins for testing a plurality of boards that elastically support the board by protruding from an upper surface of the support base, and the holding bar is configured to perform the operation. It is characterized in that it is provided so as to protrude from the lower surface of the holding plate connected to the means.
[0014]
According to this configuration, when the present invention is applied to the clamp structure in the printed board testing apparatus, when the printed board on the test pin is pressed by the holding rod, the pressing position of the holding rod and the positioning position of the positioning pin are different. Since they are aligned and overlap, the dead space on the printed circuit board is shared and the dead space is reduced, the effective circuit formation area on the printed circuit board surface is widened, the degree of freedom in pattern layout is increased, and high-density mounting and board size reduction are achieved. Becomes possible.
[0015]
According to the present invention, as a preferred configuration example, there is provided a printed circuit board characterized in that a plurality of notches with which the positioning pins are engaged are formed on an outer edge.
[0016]
According to this configuration, a positioning guide is formed by notching an outer edge serving as an outline of the printed circuit board, and a positioning pin is engaged with the notch, so that the entire pressing surface of the presser bar that covers the positioning pin from above is printed. Part of the substrate protrudes outside the substrate without contacting the substrate, and the dead space on the substrate is reduced.
[0017]
In a preferred configuration example, the notch has a shape of a quarter circle formed at a corner of a rectangular printed circuit board.
[0018]
According to this configuration, a dead space on the printed circuit board can be efficiently reduced by forming a notch of 1/4 circle at, for example, four corners of the rectangular printed circuit board and engaging the cylindrical positioning pins with the cutouts. Can be made smaller.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIGS. 1A and 1B are explanatory diagrams of a configuration of a clamp device applied to a printed board test apparatus according to an embodiment of the present invention, wherein FIG. 1A shows a clamp released state, and FIG. 1B shows a clamp state. FIG. 2 is an explanatory diagram of the shape of the printed circuit board and the dead space in the clamped state.
[0020]
The clamp device 21 constituting the substrate test device has a plurality (two in the figure) of test pins 23 projecting from the upper surface of a test pin board 22 serving as a support base. The test pin 23 has a terminal portion 40 at the upper end, and moves up and down elastically by a spring (not shown) in the cylinder. The work (printed circuit board 9) to be tested is mounted on the terminal portion 40 at the upper end of the test pins 23, and is elastically supported on the test pins 23. The printed circuit board 9 is positioned so that each test pin 23 is disposed at a position of a terminal or a circuit pattern on the lower surface side of the printed circuit board 9 to be inspected, which is known in advance. Reference numeral 11 denotes an electronic component mounted on the upper and lower surfaces of the printed circuit board 9.
[0021]
A top plate 25 is provided above the test pin board 22 via a support post 24. The top plate 25 is provided with a clamp lever 26 and a clamp rod 27 having a toggle structure that moves up and down by rotating the clamp lever 26. A holding plate 28 is fixed to the lower end of the clamp rod 27. A plurality of holding rods 33 are provided to protrude from the lower surface of the holding plate 28. Each presser bar 33 is provided on the presser plate 28 so as to come into contact with a position on the upper surface of the printed circuit board 9 which is known in advance and where the circuit pattern and components are not mounted.
[0022]
Positioning pins 32 of the printed circuit board 9 are provided to protrude above the test pin board 22. As shown in FIG. 2A, the positioning pins 32 position the printed circuit board 9 by passing through guide holes 32a provided in the printed circuit board 9. Although the position of the positioning pin 32 (the position of the guide hole 32a) is provided at two diagonal lines in this example, the position of the positioning pin 32 is set at another position in an unused area avoiding a circuit pattern (not shown) on the substrate. The number may be three or four at four corners or at another position.
[0023]
In the present embodiment, a presser bar 33 is provided at a position above and aligned with the positioning pin 32. A hole 34 into which the positioning pin 32 is fitted is formed on the pressing surface (lower surface) side of the pressing rod 33. In this example, as shown in FIG. 2 (B), pressing rods 33 are respectively provided at two diagonally opposed positions of a pair of positioning pins 32 among the four corners of the printed circuit board 9, and further another pair of The pressing rod 35 is also provided at two opposing positions (positions where there is no positioning pin). The holding rod 35 is not provided with the hole 34 into which the positioning pin 32 is fitted. FIG. 1 shows only the presser bar 33 in which the hole 34 is formed.
[0024]
When performing the test, as shown in FIG. 1A, the printed circuit board 9 is guided by the positioning pins 32 and placed on the terminal portions 40 of the test pins 23 in a state where the clamp is released. At this time, the positioning pins 32 penetrate through the guide holes 32a (FIG. 2A) of the printed board 9 and protrude from the board surface.
[0025]
Thereafter, as shown in FIG. 2B, the clamp lever 26 is rotated to push down the clamp rod 27, and the holding rod 33 and the holding rod 35 (FIG. 2) are lowered together with the holding plate 28 to press the printed circuit board 9. To clamp on the terminal portion 40 of the test pin 23. At this time, the pressing rod 33 presses the printed circuit board 9 at a position overlapping with the positioning pin 32 protruding above the printed circuit board 9, but the upper end of the positioning pin 32 protruding above the substrate is inserted into the hole 34 of the pressing rod 33. Since it is inserted, the printed circuit board 9 can be pressed without any trouble.
[0026]
Thus, the test is performed with the printed circuit board 9 clamped. When the test is completed, the clamp lever 26 is rotated in the direction opposite to the clamp direction to raise the clamp rod 27, and the press bars 33 and 35 are pulled up together with the press plate 28 to release the clamp. As shown in FIG. 1A, the printed circuit board 9 is removed from the test pins 23 in a state where the clamp is released again.
[0027]
In this embodiment, as shown in FIG. 2B, the space occupied by the positioning pins 32 and the space occupied by the presser rods 33, which are dead spaces on the printed circuit board 9, overlap and are shared, so that the dead space is reduced. .
[0028]
3A and 3B are explanatory diagrams of a configuration of a clamp device applied to a printed circuit board test device according to another embodiment of the present invention, wherein FIG. 3A shows a clamp released state, and FIG. 3B shows a clamp state. FIG. 4 is a shape explanatory view showing the shape of the printed circuit board and the dead space in the clamped state.
[0029]
In this embodiment, as shown in FIG. 4A, a notch of 1/4 circle is formed at the four corners of the printed circuit board 9 to form the guide 36 for the positioning pin. Four positioning pins 32 are provided corresponding to each guide 36. A presser bar 33 is provided at a position above and aligned with each of the four positioning pins 32. Each presser bar 33 is provided with a hole 34 into which the positioning pin 32 is fitted, as in the above embodiment. The test operation is the same as in the above embodiment.
[0030]
In this embodiment, since the positioning guide 36 formed on the printed circuit board 9 has a notch of 1/4 circle, the space required for the guide is reduced, and the area of the circuit pattern non-use area on the printed circuit board 9 itself is reduced. Decrease. At the same time, since each presser bar 33 for the printed circuit board 9 is placed on the positioning pin 32, the dead space is reduced by common use of the dead space as in the above-described embodiment. Further, in the present embodiment, since the pressing area serving as a dead space by each presser bar 33 is 1/4 of the pressing surface (the lower surface of the presser bar), the dead space is further reduced.
[0031]
【The invention's effect】
As described above, in the present invention, since the pressing position of the presser bar and the positioning position of the positioning pin are aligned and overlap, the dead space on the work is shared, the dead space is reduced, and the work surface is used effectively. be able to. In particular, when the present invention is applied to a clamp structure in a printed circuit board test apparatus, when the printed board on the test pin is pressed by the pressing rod, the pressing position of the pressing rod and the positioning position of the positioning pin are aligned and overlap. As a result, the dead space on the printed circuit board is shared and the dead space is reduced, the effective circuit formation area on the printed circuit board surface is expanded, the degree of freedom in pattern layout is increased, and high-density mounting and miniaturization of the board are possible. Become.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration explanatory view of a clamp device applied to a printed board test device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory view of the shape of the printed circuit board of FIG. 1 and its dead space.
FIG. 3 is a configuration explanatory view of a clamp device applied to a printed circuit board test device according to another embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory view of the shape of the printed circuit board of FIG. 3 and its dead space.
FIG. 5 is a configuration explanatory view of a clamp device in a conventional printed circuit board test device.
FIG. 6 is an explanatory view of the shape of the printed circuit board of FIG. 5 and its dead space.
[Explanation of symbols]
1: Clamping device, 2: Test pin board, 3: Test pin, 4: Post,
5: top plate, 6: clamp lever, 7: clamp rod, 8: holding plate,
9: printed circuit board, 10: terminal, 11: electronic component, 12: positioning pin,
12a: guide hole, 21: clamp device,
22: test pin board, 23: test pin, 24: support, 25: top plate,
26: clamp lever, 27: clamp rod, 28: holding plate,
32: positioning pin, 32a; guide hole, 33: holding rod, 34: hole,
35: presser bar, 36: guide, 40: terminal.

Claims (4)

支持台上で板状のワークを下側から支持する複数の支持ピンと、
該支持ピンに対し前記ワークを上側から押圧する複数の押え棒と、
該押え棒を前記ワークのクランプ位置及びクランプ解除位置間で上下動作させる操作手段と、
前記支持台上に設けられ、前記ワークに係合して該ワークの上面側に突出する複数の位置決めピンとを備えたクランプ装置において、
前記位置決めピンに整合してその上側の位置に前記押え棒を設けるとともに、該押え棒の押圧面側に、前記ワークの上面に突出する前記位置決めピンの上端部が嵌入する穴を形成したことを特徴とするクランプ装置。
A plurality of support pins for supporting the plate-shaped work from below on the support base,
A plurality of pressing rods for pressing the work against the support pin from above,
Operating means for vertically moving the presser bar between a clamp position and a clamp release position of the work;
A plurality of positioning pins provided on the support table and engaging with the work and protruding toward the upper surface of the work;
The pressing rod is provided at a position above and aligned with the positioning pin, and a hole is formed on the pressing surface side of the pressing rod, into which an upper end of the positioning pin protruding from the upper surface of the work fits. Characteristic clamping device.
前記ワークはプリント基板であり、
前記支持ピンは前記支持台の上面に突出して前記基板を弾性的に支持する複数の基板試験用のテストピンであり、
前記押え棒は前記操作手段に連結された押えプレートの下面に突出して設けられたことを特徴とする請求項1に記載のクランプ装置。
The work is a printed circuit board,
The support pins are test pins for testing a plurality of substrates that project from the upper surface of the support base and elastically support the substrate,
The clamping device according to claim 1, wherein the holding bar is provided to protrude from a lower surface of a holding plate connected to the operating means.
前記位置決めピンが係合する複数の切欠きを外縁に形成したことを特徴とする請求項2に記載のクランプ装置でテストされるプリント基板。The printed circuit board to be tested by the clamp device according to claim 2, wherein a plurality of notches with which the positioning pins engage are formed in an outer edge. 前記切欠きは、矩形プリント基板の角部に形成された1/4円の形状であることを特徴とする請求項3に記載のプリント基板。The printed circuit board according to claim 3, wherein the notch has a shape of a quarter circle formed at a corner of the rectangular printed circuit board.
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