JP2004030201A - 汎用検査システム - Google Patents

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JP2004030201A JP2002185159A JP2002185159A JP2004030201A JP 2004030201 A JP2004030201 A JP 2004030201A JP 2002185159 A JP2002185159 A JP 2002185159A JP 2002185159 A JP2002185159 A JP 2002185159A JP 2004030201 A JP2004030201 A JP 2004030201A
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Kyoko So
宋 京行
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

【課題】検査時間の短縮と検査効率の向上を図ることが可能な汎用検査システムを提供する。
【解決手段】検査区側端末1とサーバ2とデータベース3がネットワーク接続された汎用検査システムにおいて、検査区側端末1は、被検査物の検査に基づくエラー情報をデータベース3に登録する機能を有し、サーバ2は、各検査項目別にエラーの発生率を計算し、ある検査項目が予め定められた発生率以上になるとその検査項目をエラー解析モードに移して、検査手順を自動変更する機能を有する。
【選択図】    図2

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査区側端末とサーバとデータベースがネットワーク接続された汎用検査システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
回路基板などの被検査物を検査するシステム、装置の従来技術として、特開2000−305811号公報「検査項目自動生成装置、その方法および記録媒体」、特開平06−074877号公報「部品の自動品質検査装置」、特開平06−265598号公報「テスト仕様生成方式」が存在する。
【0003】
また本出願人は以下の、汎用検査装置を既に提案している。これは、被検査機(検査対象機種)へのテスト回路をPLDの集合で実現する検査回路部と、少なくとも入力部、表示部、記憶部を有し、その検査回路部及び対象被検査機とのI/Fを有する、コンピュータシステム装置(ホストPC)、及びそのホストPCに実装してあるこれら検査回路、対象被検査機を制御する制御ソフトウェアで構成され、ユーザの要求に応じて外部からのアプローチ(設定・手段)により、ソフトウェアのコードを変更することなく所望の目的の検査を行うことができる汎用検査装置である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来の技術では複数の検査者が検査を行うとしたら、どの項目からどの位のエラーが発生しているか分からず、決められた手順で繰り返して検査を行う傾向が非常に高かった。明らかに設計上問題があるような、エラーの発生率が高いテスト項目が入っている検査手順で、検査をやりつづけて無駄な時間が発生していた。
【0005】
本発明は、検査時間の短縮と検査効率の向上を図ることが可能な汎用検査システムを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1記載の発明は、検査区側端末とサーバとデータベースがネットワーク接続された汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、被検査物の検査に基づくエラー情報をデータベースに登録する機能を有し、サーバは、各検査項目別にエラーの発生率を計算し、ある検査項目が予め定められた発生率以上になるとその検査項目をエラー解析モードに移して、検査手順を自動変更する機能を有する汎用検査システムを最も主要な特徴とする。
【0007】
請求項2記載の発明は、請求項1記載の汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、変更された検査手順及びエラー発生率が高い検査項目を表示する機能を有する汎用検査システムを主要な特徴とする。
【0008】
請求項3記載の発明は、請求項1記載の汎用検査システムにおいて、検査実施中発生した不安定な検査項目のみを以後検査する汎用検査システムを主要な特徴とする。
【0009】
請求項4記載の発明は、請求項1記載の汎用検査システムにおいて、エラー発生時、そのエラーを解析できる検査シナリオをデータベースから持ってきて、既存の検査手順にエラー解析シナリオを自動的に追加、削除できる機能を有する汎用検査システムを主要な特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態に係る汎用検査システムの構成図である。検査区側端末1とサーバ2とデータベース3がネットワーク4で接続されている。検査区側端末1とサーバ2は外部記憶装置5をれ接続した公知のコンピュータシステム6を有する。なお、コンピュータシステム6そのものは本発明と直接関係がないので説明は省略する。
【0011】
図2は本発明の実施の形態に係る汎用検査システムにおいてサーバの構成を示す図である。サーバ2は、検査手順作成部21、データ登録部22、データ検査部23、データ処理部24、記憶装置25を備える。
【0012】
(第1実施例)
本汎用検査システムによりある回路基盤などの検査を行い、あるエラーが発生したら、検査区側(検査区側端末1)ではそのエラーの情報をネットワーク4経由でデータベース3に登録する。エラーの情報は、サーバ2のデータ登録部22から各検査項目、機能別に記録装置25に登録する。登録された情報はデータ処理部24で、各検査項目または機能別のエラーの発生率を計算して、その結果を検査手順作成部21に渡す。検査手順作成部21では、渡されたエラーの発生率に基づき、予め定めた発生率を超えた検査項目は、エラー解析モードに移して検査手順を変更する。
【0013】
(第2実施例)
第1実施例のように変更された検査手順と各項目はデータベース3に記録される。変更・登録された検査手順は、変更される度にネットワーク4経由で検査区側(検査区側端末1)の表示部にその情報が表示される。また、検査区以外でも、ネットワーク4に接続されていれば、検査区と同じく現在の検査手順・変更履歴及びエラーの発生率が照会できる。
【0014】
(第3実施例)
図3は本発明の制御例のフローチャートである。汎用検査システムによりある回路基盤の検査を行い、あるエラーが発生したら、検査区側(検査区側端末1)ではそのエラーの情報をネットワーク4経由でデータベース3に登録する。エラーの情報はサーバ2のデータ登録部22から各検査項目、機能別に記録装置25に登録する。登録された情報はデータ処理部24で、各検査項目または機能別のエラーの発生率を計算して、その結果を検査手順作成部21に渡す。検査手順作成部21では、渡されたエラーの発生率と検査回数から各項目の安定・不安定を判別する。それで、完全だと判断された項目は、次回の検査からは検査者または設計者の要求があるまでは検査しないように検査手順を変更する。変更された検査手順は、まだ、不安定な検査項目のみ残される。
【0015】
以上、検査区(検査区側端末1)ではS1、S2の処理が実行され、サーバ2ではS11〜S17の処理が実行される。
【0016】
(第4実施例)
図4は本発明の他の制御例のフローチャートである。検査区(検査区側端末1)で検査開始の通知をすると、サーバ2では検査状況監視を開始すると共に、検査手順作成部21で生成させた検査手順で検査を行うように指示する。検査区では検査手順指示通りに検査を行い、エラーが発生するとそのエラーの情報をサーバ2へ送る。サーバ2では規定の発生率を超えたエラーに対しては、そのエラーの解析シナリオを検査手順に加える。そして、新しく作成された検査手順で検査が行われるように検査区に改めて検査手順の指示をする。
【0017】
以上、検査区(検査区側端末1)ではS1、S2の処理が実行され、サーバ2ではS11〜S17の処理が実行される。
【0018】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1によれば、問題があると判断された検査項目は解析モードに移すことで、検査時間の短縮と検査効率の向上が期待される。
【0019】
請求項2によれば、設計者やテスターは最新の検査手順の状況をリアルタイムで求めることができるし、その検査で生じたエラーに対した対応が早くなる。
【0020】
請求項3によれば、エラーが発生した不安定な機能を各機能別の検査手順により検査することで、元の検査ラインでの検査時間の短縮と不具合対策に効果的となる。
【0021】
請求項4によれば、エラー発生時、エラー解析シナリオを検査手順に一緒に組み組むことで、エラーの解析に必要なデータの収集が容易になると共に解析効率が上がる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る汎用検査システムの構成図である。
【図2】本発明の実施の形態に係る汎用検査システムにおいてサーバの構成を示す図である。
【図3】本発明の制御例のフローチャートである。
【図4】本発明の他の制御例のフローチャートである。
【符号の説明】
1 検査区側端末
2 サーバ
3 データベース
4 ネットワーク

Claims (4)

  1. 検査区側端末とサーバとデータベースがネットワーク接続された汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、被検査物の検査に基づくエラー情報をデータベースに登録する機能を有し、サーバは、各検査項目別にエラーの発生率を計算し、ある検査項目が予め定められた発生率以上になるとその検査項目をエラー解析モードに移して、検査手順を自動変更する機能を有することを特徴とする汎用検査システム。
  2. 請求項1記載の汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、変更された検査手順及びエラー発生率が高い検査項目を表示する機能を有することを特徴とする汎用検査システム。
  3. 請求項1記載の汎用検査システムにおいて、検査実施中発生した不安定な検査項目のみを以後検査することを特徴とする検査システム。
  4. 請求項1記載の汎用検査システムにおいて、エラー発生時、そのエラーを解析できる検査シナリオをデータベースから持ってきて、既存の検査手順にエラー解析シナリオを自動的に追加、削除できる機能を有することを特徴とする汎用検査システム。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010102433A (ja) * 2008-10-22 2010-05-06 Fuji Xerox Co Ltd 情報処理装置及びプログラム
JP2015007996A (ja) * 2010-02-15 2015-01-15 アクセンチュア グローバル サービスィズ リミテッド 構成可能な実行可能アプリケーションを用いて遠隔技術サポートを提供する方法、および装置
JP2018179748A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 日置電機株式会社 検査手順データ生成装置、基板検査装置および基板検査方法
CN113589050A (zh) * 2021-08-02 2021-11-02 西安兵标检测有限责任公司 电容器测试系统及测试方法

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