JP2003517722A - 高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給するプラズマ処理システム、装置、及び方法 - Google Patents

高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給するプラズマ処理システム、装置、及び方法

Info

Publication number
JP2003517722A
JP2003517722A JP2001506572A JP2001506572A JP2003517722A JP 2003517722 A JP2003517722 A JP 2003517722A JP 2001506572 A JP2001506572 A JP 2001506572A JP 2001506572 A JP2001506572 A JP 2001506572A JP 2003517722 A JP2003517722 A JP 2003517722A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
high frequency
match network
cable
plasma
plasma processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001506572A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4695799B2 (ja
Inventor
フィッシャー・アンドレアス
カドホダイヤン・ババク
クチ・アンドラス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lam Research Corp
Original Assignee
Lam Research Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lam Research Corp filed Critical Lam Research Corp
Publication of JP2003517722A publication Critical patent/JP2003517722A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4695799B2 publication Critical patent/JP4695799B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/26Plasma torches
    • H05H1/30Plasma torches using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/32174Circuits specially adapted for controlling the RF discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32532Electrodes
    • H01J37/32577Electrical connecting means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 本発明は高周波電力をプラズマ処理チャンバに提供するプラズマ処理装置、システム、及び方法を提供する。このプラズマ処理システム(300)は、高周波発生器(310)と、プラズマチャンバ(310)と、マッチネットワークボックス(308)と、第一のケーブル(314)と、第二のケーブル(316)と、マッチネットワークボックスを電気的に分離する手段(312)とを含む。この高周波発生器は、プラズマチャンバに伝送する高周波電力を生成する。このプラズマチャンバは、ウェハ(302)を処理するために高周波電力を受領し、プラズマ処理中の内部インピーダンスにより特徴付けられる。このプラズマチャンバは高周波電流を戻す一つ以上の壁(344)を有する。このマッチネットワークボックスは高周波電流を受領することが可能であり、プラズマチャンバの内部インピーダンスを高周波電源のインピーダンスに一致させるインピーダンスを生成する。この第一のケーブルは、高周波電源とマッチネットワークボックスとの間で高周波電力を伝送するために、高周波電源とマッチネットワークボックスとの間に結合させる。この第二のケーブルは、マッチネットワークとプラズマチャンバとの間で高周波電力を伝送するために、マッチネットワークボックスとプラズマチャンバとの間に結合させる。この第二のケーブルは、プラズマチャンバからマッチネットワークボックスへの高周波リターン電流のリターン経路を提供する。この電気的に分離する手段は、第二のケーブルのみがプラズマチャンバからマッチネットワークボックスへの高周波リターン電流のリターン経路を提供するように、マッチネットワークボックスをプラズマチャンバとの電気的接触から電気的に分離する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の背景】 【発明の分野】
本発明は半導体デバイスの製造に関する。特に、本発明はプラズマ処理チャン
バに高周波電力を送給するプラズマ処理システムに関する。
【0002】
【関連技術の説明】
半導体処理システムは集積回路の製造のための半導体ウェハ処理のために使用
される。特に、プラズマベースの半導体プロセスは、エッチング、酸化、化学蒸
着(CVD)、その他において広く使用される。プラズマベースの半導体プロセ
スは通常、プラズマ処理システムを使って実施され、一般に、制御された環境を
提供するプラズマ処理チャンバを含む。
【0003】 図1は、半導体ウェハ102の処理に使用される従来のプラズマ処理システム
100の例のブロック図を示している。このプラズマ処理システム100は、プ
ラズマ処理チャンバ104と、シールドボックス106と、ネットワークマッチ
ボックス108と、高周波発生器110とを含む。高周波発生器110は、同軸
ケーブル112により、マッチネットワークボックス108に結合される。シー
ルドボックス106は、マッチネットワークボックス108をプラズマ処理チャ
ンバ104に結合させる同軸ケーブル114を収容又は保護するように配置され
る。ヘリウムボックス124は、シールドボックス106の最上部に取り付けら
れ、プラズマ処理チャンバ104にヘリウムを供給するのに使用される。
【0004】 プラズマ処理チャンバ104は、シャワーヘッド116と、静電チャック11
8とを含む。シャワーヘッド116は、ウェハ102上でプラズマを生成するた
めに、チャンバ内にソースガスを放出するのに適合する。ESC118は、電極
122の上に配置された一つ以上の誘電層120を含む。静電チャック118は
、ウェハ102を処理に適した位置で保持する働きをする。ヘリウムボックス1
24からのヘリウムは、ウェハ102の温度を制御するためにポート140を通
じて提供される。プラズマ処理システム100は更に、ESCに電力を供給する
ESC電源(図示せず)を含む。
【0005】 静電チャックは、公知技術であり、例えば、共有されている、フランソワ・ギ
ーヨによる米国特許第5,789,904号「高出力静電チャック接触」、ジョ
ーンズらによる米国特許出願第08/624,988号「ダイナミックフィード
バック静電ウェハチャック」、カストロらによる米国特許出願第08/550,
510号、クブリらによる米国特許第5,793,192号「ウェハ処理システ
ムにおいて半導体ウェハをクランプ及びクランプ解除する方法及び装置」とにお
いて十分に説明されている。これらを引用することによりその開示内容全体を本
願明細書の一部とする。
【0006】 ウェハの処理に関して、高周波発生器110はプラズマ処理チャンバ104に
高周波電力を提供する。具体的には、高周波発生器110は高周波電力を発生し
、この電力は同軸ケーブル112を通じてネットワークマッチボックス108に
伝送される。ネットワークマッチボックス108はマッチングネットワーク回路
126を収容しており、この回路はウェハ処理中、プラズマ処理チャンバ104
と高周波電源110との間のインピーダンスマッチを生じさせる。ネットワーク
マッチボックス108は、同軸ケーブル114を通じて、高周波電力をプラズマ
処理チャンバ104に伝送する。マッチングネットワーク回路は、プラズマ処理
チャンバ104からの高周波電力の反射を最小化するために、高周波電源106
とプラズマ処理チャンバ104との間に設けられる。マッチングネットワーク回
路は通常、二つ以上の可変インピーダンス素子(コンデンサ、インダクタ等)を
含む。高周波マッチネットワーク回路は、従来技術で公知であり、例えば、コリ
ンズによる米国特許出願第5,187,454号と、アーサー・M・ハワードに
よる1998年12月22日提出の米国特許出願第09/218,542号とに
おいて説明されている。これらを引用することによりその開示内容全体を本願明
細書の一部とする。
【0007】 高および中密度プラズマエッチングにおいて、半導体製造業者は、プラズマ処
理をリアルタイムでモニタするために、DCバイアス電圧およびバイアスピーク
・トゥ・ピーク電圧といった電気的なプラズマパラメータを使用してきた。例え
ば、DC電圧は通常ウェハ102上で発生し、ピーク・トゥ・ピーク電圧はプラ
ズマ処理システム100の動作中に電極122から測定することができる。こう
した電気的パラメータは診断に使用されることが多く、必要な場合には、プラズ
マ処理を中断して望ましいプラズマ処理を達成するために使用される。こうした
電気的パラメータは通常、プラズマチャンバ104内部のプラズマ密度及びプラ
ズマ分布に敏感なだけでなく、プラズマ外部、つまりプラズマチャンバ104の
壁、高周波送給システム、及び高周波マッチングネットワークのシャーシを通じ
た、高周波リターン電流の空間的分布に対しても敏感である。
【0008】 例えば、図1のプラズマ処理システム100は、矢印128により示すように
、前方への高周波電力を電極122へ、同軸ケーブル114を介して送給する。
この高周波電力は電極122に電圧を加え、この電極はプラズマ処理のためにプ
ラズマをウェハ102の方向に引き寄せる。プラズマ処理チャンバ104の壁1
30は、マッチネットワークボックス108及び最終的には高周波発生器110
へ戻る高周波電流に「リターン」経路を提供し、これにより閉回路を形成する。
【0009】 従来のウェハ処理システムは通常、プラズマ処理チャンバ104からマッチネ
ットワークボックス108への高周波電流リターン経路を最大にするために、で
きるだけ多くの金属対金属の表面接触を提供する。例えば、プラズマチャンバ1
04、シールドボックス106、及びマッチネットワークボックス108は通常
、電気を伝導するために金属(アルミニウム等)で形成される。そのため、高周
波電流はプラズマチャンバ104の壁130から、矢印132により示すように
、マッチネットワークボックス108につながる任意の金属対金属接触経路を通
る。できるだけ多くの金属対金属接触を提供することは、業界の標準的な経験則
に従ったものである。例えば、プラズマ処理システムの設計者は通常、高周波リ
ターン電流に関して最低のインピーダンスを達成しようと試みる。最低のインピ
ーダンスは普通、プラズマ処理システムにできるだけ多くの金属対金属接触を提
供することで達成される。
【0010】 主要な高周波電流のリターン経路の一つは、矢印134により示すように、壁
130から始まり、同軸ケーブル114に沿って、マッチネットワークボックス
108に達する。この場合、高周波リターン電流は同軸ケーブル114の外部伝
導体の表面に沿って移動する。加えて、高周波電流は更に、プロセッシングチャ
ンバ104、シールドボックス、及びマッチネットワークボックス108の金属
対金属表面上の他のリターン経路に沿って移動する。このように、プラズマ処理
システム100は、迷走電流を可能な限り多く捕らえ、マッチネットワーク12
6へ戻す状態を確保するために、高周波電流のリターン経路を可能な限り多く提
供するように設計される。
【0011】 高いウェハ歩留まりのためには、プラズマ処理システム100内において、不
変で均一な高周波リターン電流を維持することが望ましい。しかしながら、残念
なことに、高周波リターン経路を最大にする金属対金属接触を提供することで、
ウェハ処理は経時的に悪化する。例えば、マッチネットワークボックス108は
、ボックス108及び106の間に配置される金属板(アルミニウム板等)を通
じて、複数のボルト、ネジ、その他を使用して、シールドボックス106に固定
状態で取り付けられる。プラズマ処理システム100の寿命の間に、マッチネッ
トワークボックス108は、所定の保守又は修正のためにシールドボックス10
6から取り外されることが多い。保守の後、マッチネットワークボックスは、ア
ルミニウム板、金属ボルト、ネジ、その他により、シールドボックスに固定状態
で再び取り付けられる。
【0012】 しかしながら、マッチネットワークボックス108の再取り付けは一般に、取
り外す前に存在していた金属対金属接触を正確に再現していない。例えば、ボル
ト又はネジは、取り外す前とまったく同じ状態でねじ込まれていない可能性があ
る。したがって、変化した金属対金属接触により、高周波電流リターン経路の特
性が変化する可能性があり、これは次に、高周波リターン電流の全体的な大きさ
と、ウェハ処理の電気的特性との変化につながる。加えて、プラズマチャンバ壁
103とボックス106及び108とにアルミニウムを使用することは、経時的
な金属表面の酸化につながる。つまり、酸化層が金属表面に形成される可能性が
あり、これにより高周波電流リターン経路の特性は変化する。
【0013】 以上の観点から、ウェハ処理結果の精度及び均一性を向上させるためにプラズ
マ処理システムにおいて不変で均一な高周波リターン電流を提供する装置及び方
法が必要とされている。
【0014】
【発明の概要】
大まかに言って、本発明は、プラズマ処理チャンバに高周波電力を送給するシ
ステム、装置、及び方法を提供することで、これらの要求を満たす。本発明は、
プロセス、装置、システム、デバイス、方法、又はコンピュータ可読媒体を含む
、多岐にわたる形で実施可能であることを理解するべきである。本発明のいくつ
かの実施形態については下で説明する。
【0015】 一実施形態によれば、本発明は高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給する
プラズマ処理システムを提供する。このプラズマ処理システムは、高周波発生器
と、プラズマチャンバと、マッチネットワークボックスと、第一のケーブルと、
第二のケーブルと、マッチネットワークボックスを電気的に分離する手段とを含
む。この高周波発生器は、プラズマチャンバに伝送する高周波電力を発生するよ
うに構成される。このプラズマチャンバは、ウェハを処理するための高周波電力
を受け取るように構成され、プラズマ処理中の内部インピーダンスにより特徴付
けられる。このプラズマチャンバは、高周波電流を戻す一つ以上の壁を有する。
このマッチネットワークボックスは、高周波電流を受け取ることが可能で、プラ
ズマチャンバの内部インピーダンスを高周波発生器のインピーダンスに一致させ
るインピーダンスを生成するように構成される。この第一のケーブルは、高周波
発生器とマッチネットワークボックスとの間で高周波電力を伝送するために、高
周波発生器とマッチネットワークボックスとの間に結合させる。この第二のケー
ブルは、マッチネットワークとプラズマチャンバとの間で高周波電力を伝送する
ために、マッチネットワークボックスとプラズマチャンバとの間に結合させる。
この第二のケーブルは、プラズマチャンバからマッチネットワークボックスへの
高周波電流のリターン経路を提供する。この電気的に分離する手段は、第二のケ
ーブルのみがプラズマチャンバからマッチネットワークボックスへの高周波電流
のリターン経路を提供するように、マッチネットワークボックスをプラズマチャ
ンバとの電気的接触から電気的に分離する。
【0016】 別の実施形態において、本発明は、高周波電力をプラズマ処理チャンバに供給
する装置を提供する。この装置は、高周波発生器と、プラズマチャンバと、マッ
チネットワーク回路を収容する手段と、高周波電力を伝送する第一及び第二の手
段と、マッチネットワークボックスを電気的に分離する手段と、高周波電力を伝
送する第二の手段をシールドする手段とを含む。この高周波発生器は、伝送する
高周波電力を発生し、インピーダンスにより特徴付けられる。このプラズマチャ
ンバは、ウェハを処理するための高周波電力を受け取るように構成され、プラズ
マ処理中の内部インピーダンスにより特徴付けられる。このプラズマチャンバは
、高周波電流を戻す一つ以上の壁を有する。このマッチネットワーク収容手段は
、プラズマチャンバの内部インピーダンスを高周波発生器のインピーダンスに一
致させるインピーダンスを生成するように構成されたマッチネットワーク回路を
収容する。このマッチネットワーク回路は、高周波電流を受け取ることができる
。この第一の手段は、高周波発生器とマッチネットワーク収容手段との間で高周
波電力を伝送するために、高周波発生器とマッチネットワーク収容手段との間に
結合させる。この第二の手段は、マッチネットワーク回路とプラズマチャンバと
の間で高周波電力を伝送するために、マッチネットワーク収容手段とプラズマチ
ャンバとの間に結合させる。この第二の同軸ケーブルは更に、プラズマチャンバ
からマッチネットワーク収容手段への高周波電流のリターン経路を提供する。こ
の分離する手段は、第二の手段のみがプラズマチャンバからマッチネットワーク
収容手段への高周波電流のリターン経路を提供するように、マッチネットワーク
収容手段をプラズマチャンバとの電気的接触から電気的に分離する。このシール
ドする手段は、高周波電力を伝送する第二の手段をシールドするために、プラズ
マチャンバとマッチネットワークボックスとの間に結合させる。この分離する手
段は、シールドする手段からマッチネットワーク収容手段への高周波電流のあら
ゆるリターン経路を遮断する。
【0017】 更に別の実施形態において、プラズマ処理チャンバに高周波電力を送給する方
法が提供される。この方法は、(a)ウェハ処理中の内部インピーダンスにより
特徴付けられるプラズマ処理チャンバを提供することと、(b)高周波発生器に
より、プラズマ処理チャンバ内で使用する高周波電力を発生させることと、(c
)この高周波電力を第一のケーブルを通じて受領すること、及びプラズマチャン
バの内部インピーダンスを高周波発生器のインピーダンスに一致させるインピー
ダンスを生成することと、(d)高周波電流を伝送するように構成されたプラズ
マ処理チャンバに、ウェハを処理するために高周波電力を第二のケーブルを通じ
て伝送することと、(e)単一の高周波リターン電流のみをプラズマ処理チャン
バから第二のケーブルを通じて伝送できるようにすることとを含む。
【0018】 有利なことに、本発明は、高周波マッチングネットワークの本体を高周波シー
ルドボックスのシャーシから電気的に分離することで、主高周波電流リターン経
路を除き、あらゆる高周波電流リターン経路を排除する。好適な実施形態におい
ては、高周波マッチングネットワークボックスを電気的に分離するために、マッ
チングネットワークボックスと高周波シールドボックスとの間に不導体プレート
が設けられる。この不導体プレートは、ほぼすべての迷走リターン高周波電流を
遮断すると同時に、主高周波電流リターン経路を通じて高周波電流が戻ることを
可能にする。このように単一の高周波電流リターン経路を提供することで、本発
明はウェハ処理結果の精度及び均一性を向上させる。本発明の前記その他の利点
は、以下の詳細な説明を読み、図面の様々な図を調べることで明らかになる。
【0019】 本発明は、同様の参照符号が同様の構成要素を示す添付図面と併せて、以下の
詳細な説明から容易に理解されよう。
【0020】
【好適な実施形態の詳細な説明】
本明細書において、本発明は、高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給する
システム、装置、及び方法について説明される。以下の説明においては、本発明
の完全な理解を提供するために、多数の特定の詳細について述べる。しかしなが
ら、当業者にとって、こうした特定の詳細の一部又は全部がなくとも、本発明を
実施し得ることは自明である。また、本発明を不必要に曖昧にしないために、公
知の処理工程については説明していない。
【0021】 本発明は、高周波マッチングネットワークの本体を高周波シールドボックスの
シャーシから電気的に分離することで、主高周波電流リターン経路を除いたあら
ゆる高周波電流リターン経路を排除する。プラズマ処理システムにおいて単一の
電流リターン経路のみを提供することは、可能な限り多くのリターン経路を提供
するという従来の教示内容とは完全に相反する。好適な実施形態においては、高
周波マッチングネットワークボックスを電気的に分離するために、マッチングネ
ットワークと高周波シールドボックスとの間に不導体プレートが設けられる。こ
れにより、ほぼすべての迷走リターン高周波電流が排除されると同時に、同軸ケ
ーブルを通じて、マッチングネットワークへの単一の高周波電流リターン経路が
提供される。このように単一の高周波電流リターン経路を提供することで、本発
明はウェハ処理結果の精度及び均一性を向上させる。
【0022】 図2は、本発明の一実施形態による、高周波電力をプラズマ処理チャンバに送
給する方法の例のフローチャートを示している。この方法では、操作202にお
いて、ウェハをプラズマ処理チャンバ内に提供する。このプラズマ処理チャンバ
は、ウェハ処理中の内部インピーダンスにより特徴付けられる。次に操作204
において、プラズマ処理チャンバ内で使用するために高周波電力が発生される。
次に、マッチネットワークが、操作206において、この高周波電力を受け取り
、インピーダンスを生み出し、このインピーダンスはプラズマ処理チャンバの内
部インピーダンスを高周波電源のインピーダンスと一致させる。その後、マッチ
ネットワークは操作208において、高周波電力をプラズマ処理チャンバに伝送
する。プラズマ処理チャンバの壁は、マッチネットワークへ戻る高周波電流のリ
ターン経路として機能する。次に操作210において、他の高周波リターン電流
のあらゆるリターン経路を遮断することで、唯一の高周波リターン電流のみを単
一の高周波電流リターン経路を通じて伝送させることが可能となる。好ましくは
、この単一の高周波電流リターン経路は、マッチネットワークをプラズマ処理チ
ャンバに結合させる同軸ケーブル上を通る。この方法は次に操作212において
終了する。
【0023】 図3は、本発明の一実施形態による、高周波電力を使用することで半導体ウェ
ハ302を処理するプラズマ処理システム300の例を示している。このプラズ
マ処理システム300は、プラズマ処理チャンバ304と、シールドボックス3
06と、ネットワークマッチボックス308と、高周波発生器310とを含む。
高周波発生器310は、ケーブル314により、マッチネットワークボックス3
08に結合される。シールドボックス306は、ケーブル316をシールドし、
このケーブルは好ましくは硬質ケーブルである。ケーブル314及び316は好
ましくは、高周波電流を伝えるために、それぞれ内部伝導体330及び334と
、それぞれ外部伝導体332及び336とを有する同軸ケーブルである。ケーブ
ル316は好ましくは硬質ケーブルで、高周波電力を送給し、高周波リターン電
流を戻すために、マッチネットワークボックス308をプラズマ処理チャンバ3
04に結合させる。ヘリウムボックス324は、ヘリウムポート354を介して
、プラズマ処理チャンバ304にヘリウムを供給するために、シールドボックス
306の上に配置される。本明細書で使用する「ボックス」という用語は、内部
の要素を収容する任意の適切な手段を指すものであり、ハウジング、コンテナ、
クレイト、チェスト、カートン、レセプタクル、又はその他のような用語と相互
に交換して使用することができる。
【0024】 プラズマ処理チャンバ304は、シャワーヘッド318と静電チャック320
とを含む。シャワーヘッド318は、ウェハ302上でプラズマを生成するため
に、チャンバ304内にソースガスを放出するように構成される。ESC320
は、電極326の上に配置された一つ以上の誘電層322を含む。静電チャック
320は、ウェハ302を処理に適した位置でクランプするように構成される。
ヘリウムボックス324からのヘリウムは、ウェハ処理中にウェハ302の温度
を制御するために使用される。
【0025】 プラズマ処理システム300は更に、シールドボックス306又はプラズマチ
ャンバ304との金属対金属表面接触を排除し、マッチネットワークボックス3
08を電気的に分離するためにシールドボックス306とマッチネットワークボ
ックス308との間に不導体プレート312を提供する。不導体プレート312
は好ましくは、マッチネットワークボックス用の取り付け板であり、Delrin(商
標)、ポリマ、プラスチック、ナイロン、又はその他といった不導体又は絶縁材
料により作られる。
【0026】 この仕組みにおいて、高周波発生器310は、前方への高周波電力及び電流を
生成し、矢印338により示すように、ケーブル314の内部伝導体330を通
じてネットワークマッチボックス308へ伝送する。ネットワークマッチボック
ス308は、プラズマ処理チャンバ304の内部インピーダンスを高周波電源の
インピーダンスに一致させるインピーダンスを生成するマッチングネットワーク
回路328を収容する。マッチングネットワーク回路328は、プラズマ処理チ
ャンバ304からの高周波電力の反射を最小化するために、高周波発生器306
とプラズマ処理チャンバ304との間に設けられる。この回路は通常、二つ以上
の可変インピーダンス素子(コンデンサ、インダクタ等)を含む。
【0027】 ネットワークマッチボックス308は、前方への高周波電力及び電流を、矢印
340により示すように、同軸ケーブル316の内部伝導体334を通じてプラ
ズマ処理チャンバ304へ伝送する。具体的には、この高周波電力及び電流は、
矢印340により示すように、同軸ケーブル316と電極326及び内部伝導体
334の間に結合させたストラップ342とを介して、ESC320の電極32
6に送給される。これを受けて、電極326はプラズマ処理のためにプラズマイ
オンをウェハ302の方向に引き寄せ、このプラズマ処理はエッチング、酸化、
化学蒸着(CVD)、又はその他を含むことができる。理解すべき点として、本
明細書では、本発明の利点の理解を容易にするために、プラズマ処理システム3
00について詳細に説明している。しかしながら、本発明自体は、任意の特定の
タイプのウェハ処理装置又はシステムにより制限されず、任意の適切なウェハ処
理システムでの使用に適合させることが可能であり、こうしたウェハ処理システ
ムには、その一部として、堆積、酸化、エッチング(ドライエッチング、プラズ
マエッチング、反応性イオンエッチング(RIE)、磁気強化反応性イオンエッ
チング(MERIE)、電子サイクロトロン共鳴(ECR)を含む)、又はその
他に適合したものが含まれる。
【0028】 プラズマ処理チャンバ304は、マッチネットワークボックス308に戻る高
周波電流の「リターン」経路を提供する壁344を有し、これにより閉回路を形
成する。具体的には、高周波電流は、矢印346により示すように、壁344か
ら、金属棒348の表面を介して、クランプ350へ移動する。金属棒348は
、ESC320と同軸ケーブル316の一部とを収容する働きをするESCハウ
ジング352上に固定状態で取り付けられる。ESCハウジングは、プラズマ処
理チャンバ304の内壁344に固定状態で取り付けられる。したがって、プラ
ズマ処理チャンバ304の壁344は、ESCハウジング352と金属対金属接
触の状態にある。
【0029】 ESCハウジング352内では、クランプ350が、同軸ケーブル316の一
方の端部を金属棒348に結びつける。棒348及びクランプ350は両方とも
、好ましくは、高周波電流を伝導する銀被覆真鍮(つまりAg被覆)等の金属で
作られる。金属棒348はクランプ350及びESCハウジング352と閉路接
点を成す状態にあり、高周波リターン電流の伝送を可能にする。したがって、壁
344からの高周波電流は、金属棒348及びクランプ350を介して、ケーブ
ル316の外部伝導体336を通じてマッチネットワークボックス308に戻さ
れる。この電流リターン経路は、好ましくは、プラズマ処理チャンバ304から
マッチネットワーク回路328と最終的には高周波発生器310とに高周波リタ
ーン電流を伝送することが可能な唯一の電流経路である。
【0030】 一方、不導体プレート312は、シールドボックス306の表面からの他のほ
ぼすべての迷走高周波電流を遮断するために、マッチネットワークボックス30
8を電気的に分離する。この迷走電流の排除により、同軸ケーブル316の外部
伝導体に沿った不変で予測可能な高周波リターン電流が可能になる。この不変で
予測可能な高周波リターン電流により、次に、高い度合いの精度及び再現性を有
するウェハのプラズマ処理が可能になる。
【0031】 例えば、他の迷走リターン電流を排除しながら単一の高周波リターン電流経路
を提供することで、バイアスピーク・トゥ・ピーク電圧変化を1.5Vでおよそ
150mVから1.5Vで±30mVに、DCバイアス電圧変化を350Vで8
0V超から350Vで±20Vに減少させることができる。こうした変化の減少
により、プラズマ処理チャンバにおけるウェハのリアルタイムのプラズマ処理を
モニタすることにおいて高い度合いの精度を提供することで、ウェハの高い歩留
まりが可能になる。
【0032】 図4は、シールドボックス306から切り離されたネットワークマッチボック
ス308及びプレート312を有するプラズマ処理システム300の例の斜視図
を示している。プラズマ処理システム300は、プラズマ処理チャンバ304の
壁344に取り付けられたESCハウジング352を含むように表示されている
。シールドボックス306は、プラズマ処理チャンバ304の壁344の反対側
に取り付けられている。高周波発生器310は、ケーブル314を介して、マッ
チネットワークボックス310に結合される。
【0033】 表示のように、プレート312は開口部402を有し、高周波電力を伝送する
ためにケーブル316を通過させることが可能である。ネットワークマッチボッ
クス308も開口部404を含み、これにより、内部に配置されるマッチネット
ワーク回路328にケーブル316を結合させることができる。プレート312
は、シールドボックス306とマッチネットワークボックス308との間に設け
られる時、シールドボックス306を介したあらゆる高周波電流リターン経路を
遮断するように構成される。したがって、高周波リターン電流は、ケーブル31
6の外部伝導体のみを通じて伝送させることが可能になる。
【0034】 以上、本発明、即ち高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給するシステム、
装置、及び方法について説明した。本発明をいくつかの好適な実施形態により説
明してきたが、本発明の範囲に入る変形、置換、及び等価物が存在する。また、
本発明の方法及び装置を実施する多くの代替的方法が存在することにも留意すべ
きである。従って、前記特許請求の範囲は、本発明の本来の趣旨及び範囲に入る
こうしたすべての変形、置換、及び等価物を含むものとして解釈されるべきであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 半導体ウェハを処理するために使用される従来のプラズマ処理システムの例を
示すブロック図である。
【図2】 本発明の一実施形態による、高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給する方
法の例を示すフローチャートである。
【図3】 本発明の一実施形態による、高周波電力を使用することで半導体ウェハを処理
するプラズマ処理システムの例を示す図である。
【図4】 シールドボックスから切り離されたネットワークマッチボックス及びプレート
を有するプラズマ処理システムの例を示す斜視図である。
【手続補正書】
【提出日】平成14年7月24日(2002.7.24)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項21
【補正方法】変更
【補正の内容】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG ,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD, RU,TJ,TM),AE,AL,AM,AT,AU, AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,C N,CR,CU,CZ,DE,DK,DM,EE,ES ,FI,GB,GD,GE,GH,GM,HR,HU, ID,IL,IN,IS,JP,KE,KG,KP,K R,KZ,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV ,MA,MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO, NZ,PL,PT,RO,RU,SD,SE,SG,S I,SK,SL,TJ,TM,TR,TT,TZ,UA ,UG,UZ,VN,YU,ZA,ZW (72)発明者 カドホダイヤン・ババク アメリカ合衆国 カリフォルニア州94611 オークランド,アパートメント 7,ハ ウ・ストリート,4328 (72)発明者 クチ・アンドラス アメリカ合衆国 カリフォルニア州91320 サウザンド・オークス,パメラ・ウッ ド・ストリート,717 Fターム(参考) 5F004 AA01 BA04 BB11 BB20 BC08 5F045 AA08 AA10 BB01 DQ10 EH14 EH17 【要約の続き】 結合させる。この第二のケーブルは、マッチネットワー クとプラズマチャンバとの間で高周波電力を伝送するた めに、マッチネットワークボックスとプラズマチャンバ との間に結合させる。この第二のケーブルは、プラズマ チャンバからマッチネットワークボックスへの高周波リ ターン電流のリターン経路を提供する。この電気的に分 離する手段は、第二のケーブルのみがプラズマチャンバ からマッチネットワークボックスへの高周波リターン電 流のリターン経路を提供するように、マッチネットワー クボックスをプラズマチャンバとの電気的接触から電気 的に分離する。

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェハを処理するために高周波電力をプラズマ処理チャンバ
    に送給するプラズマ処理システムであって、 高周波電力を発生する高周波発生器と、 ウェハを処理するための高周波電力を入力するように構成され、プラズマ処理
    中の内部インピーダンスにより特徴付けられると共に、高周波電流を戻す一つ以
    上の壁を有するプラズマチャンバと、 前記プラズマチャンバの内部インピーダンスを前記高周波発生器のインピーダ
    ンスに一致させるインピーダンスを生成し、前記高周波電流を入力可能なマッチ
    ネットワークボックスと、 前記高周波発生器と前記マッチネットワークボックスとの間で高周波電力を伝
    送させるために高周波電源とマッチネットワークボックスとの間に結合される第
    一のケーブルと、 前記マッチネットワークと前記プラズマチャンバとの間で高周波電力を伝送さ
    せるためにマッチネットワークボックスとプラズマチャンバとの間に結合され、
    前記プラズマチャンバから前記マッチネットワークボックスへの前記高周波リタ
    ーン電流のリターン経路を提供する第二のケーブルと、 前記第二のケーブルのみが前記プラズマチャンバから前記マッチネットワーク
    ボックスへの前記高周波リターン電流の前記リターン経路を提供するように、前
    記マッチネットワークボックスを前記プラズマチャンバとの電気的接触から電気
    的に分離させる手段と を備えるプラズマ処理システム。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のシステムはさらに、 前記第二のケーブルをシールドするために前記プラズマチャンバと前記マッチ
    ネットワークボックスとの間に結合されるシールドボックスを含み、 前記分離させる手段は、前記シールドボックスから前記マッチネットワークボ
    ックスへの高周波リターン電流の他のリターン経路を遮断するシステム。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のシステムにおいて、 前記第一及び第二のケーブルは同軸ケーブルであり、各ケーブルが内部伝導体
    と外部伝導体とを有するシステム。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のシステムにおいて、 前記第一及び第二のケーブルの内部伝導体は高周波フォワード電流及びフォワ
    ード電力を伝送し、前記第一及び第二のケーブルの外部伝導体は高周波リターン
    電流を伝送するシステム。
  5. 【請求項5】 請求項3記載のシステムにおいて、 前記第二のケーブルが硬質同軸ケーブルであるシステム。
  6. 【請求項6】 請求項2記載のシステムにおいて、 前記絶縁手段は、前記マッチネットワークボックスと前記シールドボックスと
    の間に配置されるプレートであって、高周波フォワード電流、高周波フォワード
    電力および高周波リターン電流を前記プラズマチャンバと前記マッチネットワー
    クボックスとの間で前記第二のケーブルに伝送させる開口部を有するプレートで
    あるシステム。
  7. 【請求項7】 請求項6記載のシステムにおいて、前記プレートが一つ以上
    の不導体材料で形成されるシステム。
  8. 【請求項8】 請求項6記載のシステムにおいて、前記プレートがポリマで
    形成されるシステム。
  9. 【請求項9】 請求項1記載のシステムにおいて、 前記プラズマチャンバは、ウェハをクランプする静電チャックを含み、前記高
    周波電力は処理のためにイオンをウェハに引き寄せるために使用されるシステム
  10. 【請求項10】 高周波電力をプラズマ処理チャンバに供給する装置であっ
    て、 高周波電力を発生する高周波発生器と、 ウェハを処理するための高周波電力を入力するように構成され、プラズマ処理
    中の内部インピーダンスにより特徴付けられると共に、高周波電流を戻す一つ以
    上の壁を有するこのプラズマチャンバと、 前記プラズマチャンバの内部インピーダンスを前記高周波発生器のインピーダ
    ンスに一致させるインピーダンスを生成するように構成されたマッチネットワー
    ク回路を収容し、前記高周波電流を入力可能な手段と、 前記高周波発生器と前記マッチネットワーク収容手段との間で高周波電力を伝
    送させるために前記高周波発生器と前記マッチネットワーク収容手段との間に結
    合される第一の手段と、 前記マッチネットワーク回路と前記プラズマチャンバとの間で高周波電力を伝
    送させるために前記マッチネットワーク収容手段と前記プラズマチャンバとの間
    に結合され、前記プラズマチャンバから前記マッチネットワーク収容手段への高
    周波リターン電流のリターン経路を提供する第二の手段と、 前記第二の手段のみが前記プラズマチャンバから前記マッチネットワーク収容
    手段への高周波電流のリターン経路を提供するように、前記マッチネットワーク
    収容手段を前記プラズマチャンバとの電気的接触から電気的に分離させる手段と
    、 前記高周波電力を伝送させる前記第二の手段をシールドするために前記プラズ
    マチャンバと前記マッチネットワーク収容手段との間に結合される手段と、 を備え、 前記分離させる手段は、シールドする手段からマッチネットワーク収容手段へ
    の高周波リターン電流のあらゆるリターン経路を遮断する装置。
  11. 【請求項11】 請求項10記載の装置において、 前記第一及び第二の手段はそれぞれ第一及び第二の同軸ケーブルであり、各ケ
    ーブルは内部伝導体と外部伝導体とを有し、前記内部伝導体は高周波フォワード
    電流及びフォワード電力を伝送し、前記外部伝導体はリターン電流を伝送する装
    置。
  12. 【請求項12】 請求項11記載の装置において、 前記第二のケーブルは硬質同軸ケーブルである装置。
  13. 【請求項13】 請求項11記載の装置において、 前記分離させる手段は、前記マッチネットワーク収容手段と前記シールドする
    手段との間に配置されるプレートであって、前記高周波電力および高周波リター
    ン電流とを前記プラズマチャンバおよびマッチネットワーク収容手段との間で第
    二のケーブルに伝送させる開口部を有するプレートである装置。
  14. 【請求項14】 請求項13記載の装置において、 前記プレートは一つ以上の不導体材料で形成される装置。
  15. 【請求項15】 請求項13記載の装置において、 前記プレートはポリマで形成される装置。
  16. 【請求項16】 高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給する方法であっ
    て、 ウェハ処理時の内部インピーダンスにより特徴付けられるプラズマ処理チャン
    バを提供し、 高周波発生器により、プラズマ処理チャンバ内で使用する高周波電力を発生し
    、 前記高周波電力を第一のケーブルを介して入力し、前記プラズマチャンバの内
    部インピーダンスを前記高周波発生器のインピーダンスに一致させるインピーダ
    ンスを生成し、 高周波電流を伝送するように構成された前記プラズマ処理チャンバに、ウェハ
    を処理するための高周波電力を第二のケーブルを介して伝送し、 単一の高周波リターン電流のみを前記プラズマ処理チャンバから前記第二のケ
    ーブルを介して伝送させる方法。
  17. 【請求項17】 前記プラズマ処理チャンバからの他の全ての高周波リター
    ン電流のリターン経路を遮断することにより、一つの高周波リターン電流を前記
    第二のケーブルを介して伝送させる請求項16記載の方法。
  18. 【請求項18】 請求項17記載の方法において、 前記一つの高周波リターン電流は、前記プラズマ処理チャンバから前記第二の
    ケーブルを介してマッチネットワークボックスに伝送される方法。
  19. 【請求項19】 請求項18記載の方法において、 前記一つの高周波リターン電流は、前記マッチネットワークボックスおよびプ
    ラズマ処理チャンバとの間に高周波フォワード電流、高周波フォワード電力およ
    び高周波リターン電流を前記第二のケーブルに前記プラズマチャンバと前記マッ
    チネットワークボックスとの間で伝送させる開口部を有するプレートを設けるこ
    とにより、第二のケーブルを介して伝送され得る方法。
  20. 【請求項20】 請求項19記載の方法において、 前記プレートは、前記マッチネットワークを前記プラズマ処理チャンバから電
    気的に分離するために、一つ以上の絶縁材料から形成される方法。
  21. 【請求項21】 請求項20記載の装置において、 前記プレートはポリマで形成される装置。
JP2001506572A 1999-06-29 2000-06-15 高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給するプラズマ処理システム、及び方法 Expired - Fee Related JP4695799B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/342,969 US6242360B1 (en) 1999-06-29 1999-06-29 Plasma processing system apparatus, and method for delivering RF power to a plasma processing
US09/342,969 1999-06-29
PCT/US2000/016701 WO2001001441A1 (en) 1999-06-29 2000-06-15 Plasma processing system, apparatus, and method for delivering rf power to a plasma processing chamber

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003517722A true JP2003517722A (ja) 2003-05-27
JP4695799B2 JP4695799B2 (ja) 2011-06-08

Family

ID=23344095

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001506572A Expired - Fee Related JP4695799B2 (ja) 1999-06-29 2000-06-15 高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給するプラズマ処理システム、及び方法

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6242360B1 (ja)
EP (1) EP1190437B1 (ja)
JP (1) JP4695799B2 (ja)
KR (1) KR100742141B1 (ja)
CN (1) CN1244134C (ja)
AT (1) ATE371261T1 (ja)
AU (1) AU6199200A (ja)
DE (1) DE60036107T2 (ja)
TW (1) TW454430B (ja)
WO (1) WO2001001441A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140114816A (ko) * 2011-12-27 2014-09-29 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라즈마 처리 장치

Families Citing this family (83)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6899787B2 (en) 2001-06-29 2005-05-31 Alps Electric Co., Ltd. Plasma processing apparatus and plasma processing system with reduced feeding loss, and method for stabilizing the apparatus and system
AU2002355030A1 (en) * 2001-11-27 2003-06-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Plasma processing system
US6962644B2 (en) * 2002-03-18 2005-11-08 Applied Materials, Inc. Tandem etch chamber plasma processing system
US20040031699A1 (en) * 2002-08-19 2004-02-19 Applied Materials, Inc. Method for performing real time arcing detection
US7026174B2 (en) * 2002-09-30 2006-04-11 Lam Research Corporation Method for reducing wafer arcing
JP4388287B2 (ja) * 2003-02-12 2009-12-24 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置及び高周波電力供給装置
KR100716177B1 (ko) * 2005-12-08 2007-05-10 주식회사 래디언테크 정합기 체결 구조 및 플라즈마 처리 장치
KR100799175B1 (ko) * 2006-04-21 2008-02-01 주식회사 뉴파워 프라즈마 플라즈마 프로세싱 시스템 및 그 제어 방법
US7722778B2 (en) * 2006-06-28 2010-05-25 Lam Research Corporation Methods and apparatus for sensing unconfinement in a plasma processing chamber
JP5420562B2 (ja) * 2007-12-13 2014-02-19 ラム リサーチ コーポレーション プラズマ非閉じ込め事象を検出するための検出装置及びその方法
WO2009099661A2 (en) * 2008-02-08 2009-08-13 Lam Research Corporation A protective coating for a plasma processing chamber part and a method of use
US10586686B2 (en) 2011-11-22 2020-03-10 Law Research Corporation Peripheral RF feed and symmetric RF return for symmetric RF delivery
JP5534366B2 (ja) * 2012-06-18 2014-06-25 株式会社京三製作所 高周波電力供給装置、及びイグニッション電圧選定方法
US9132436B2 (en) 2012-09-21 2015-09-15 Applied Materials, Inc. Chemical control features in wafer process equipment
US9337000B2 (en) * 2013-10-01 2016-05-10 Lam Research Corporation Control of impedance of RF return path
US9401264B2 (en) * 2013-10-01 2016-07-26 Lam Research Corporation Control of impedance of RF delivery path
US10256079B2 (en) 2013-02-08 2019-04-09 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing systems having multiple plasma configurations
US9362130B2 (en) 2013-03-01 2016-06-07 Applied Materials, Inc. Enhanced etching processes using remote plasma sources
TWI483283B (zh) * 2013-03-08 2015-05-01 Archers Inc 電力導入裝置及其相關電漿系統
US20150243483A1 (en) * 2014-02-21 2015-08-27 Lam Research Corporation Tunable rf feed structure for plasma processing
US9309598B2 (en) 2014-05-28 2016-04-12 Applied Materials, Inc. Oxide and metal removal
KR101539059B1 (ko) * 2014-09-02 2015-07-24 비아이 이엠티 주식회사 이동형 플라즈마 장치
US9355922B2 (en) 2014-10-14 2016-05-31 Applied Materials, Inc. Systems and methods for internal surface conditioning in plasma processing equipment
US9966240B2 (en) 2014-10-14 2018-05-08 Applied Materials, Inc. Systems and methods for internal surface conditioning assessment in plasma processing equipment
US11637002B2 (en) 2014-11-26 2023-04-25 Applied Materials, Inc. Methods and systems to enhance process uniformity
US10573496B2 (en) 2014-12-09 2020-02-25 Applied Materials, Inc. Direct outlet toroidal plasma source
US20160225652A1 (en) * 2015-02-03 2016-08-04 Applied Materials, Inc. Low temperature chuck for plasma processing systems
US9728437B2 (en) 2015-02-03 2017-08-08 Applied Materials, Inc. High temperature chuck for plasma processing systems
DE102015004414A1 (de) * 2015-04-02 2016-10-06 Centrotherm Photovoltaics Ag Plasma-Behandlungsvorrichtung für Wafer
CN105123259A (zh) * 2015-07-21 2015-12-09 石文刚 一种羊肚菌的仿野生栽培方法
US9741593B2 (en) 2015-08-06 2017-08-22 Applied Materials, Inc. Thermal management systems and methods for wafer processing systems
US9691645B2 (en) 2015-08-06 2017-06-27 Applied Materials, Inc. Bolted wafer chuck thermal management systems and methods for wafer processing systems
US9349605B1 (en) 2015-08-07 2016-05-24 Applied Materials, Inc. Oxide etch selectivity systems and methods
US10504700B2 (en) 2015-08-27 2019-12-10 Applied Materials, Inc. Plasma etching systems and methods with secondary plasma injection
US9805963B2 (en) * 2015-10-05 2017-10-31 Lam Research Corporation Electrostatic chuck with thermal choke
US10522371B2 (en) 2016-05-19 2019-12-31 Applied Materials, Inc. Systems and methods for improved semiconductor etching and component protection
US10504754B2 (en) 2016-05-19 2019-12-10 Applied Materials, Inc. Systems and methods for improved semiconductor etching and component protection
US9865484B1 (en) 2016-06-29 2018-01-09 Applied Materials, Inc. Selective etch using material modification and RF pulsing
US10629473B2 (en) 2016-09-09 2020-04-21 Applied Materials, Inc. Footing removal for nitride spacer
US9934942B1 (en) 2016-10-04 2018-04-03 Applied Materials, Inc. Chamber with flow-through source
US10546729B2 (en) 2016-10-04 2020-01-28 Applied Materials, Inc. Dual-channel showerhead with improved profile
US10163696B2 (en) 2016-11-11 2018-12-25 Applied Materials, Inc. Selective cobalt removal for bottom up gapfill
US10026621B2 (en) 2016-11-14 2018-07-17 Applied Materials, Inc. SiN spacer profile patterning
US10566206B2 (en) 2016-12-27 2020-02-18 Applied Materials, Inc. Systems and methods for anisotropic material breakthrough
US10431429B2 (en) 2017-02-03 2019-10-01 Applied Materials, Inc. Systems and methods for radial and azimuthal control of plasma uniformity
US10319739B2 (en) 2017-02-08 2019-06-11 Applied Materials, Inc. Accommodating imperfectly aligned memory holes
US10943834B2 (en) 2017-03-13 2021-03-09 Applied Materials, Inc. Replacement contact process
US11276559B2 (en) 2017-05-17 2022-03-15 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing chamber for multiple precursor flow
US11276590B2 (en) 2017-05-17 2022-03-15 Applied Materials, Inc. Multi-zone semiconductor substrate supports
US10497579B2 (en) 2017-05-31 2019-12-03 Applied Materials, Inc. Water-free etching methods
US10920320B2 (en) 2017-06-16 2021-02-16 Applied Materials, Inc. Plasma health determination in semiconductor substrate processing reactors
US10541246B2 (en) 2017-06-26 2020-01-21 Applied Materials, Inc. 3D flash memory cells which discourage cross-cell electrical tunneling
US10727080B2 (en) 2017-07-07 2020-07-28 Applied Materials, Inc. Tantalum-containing material removal
US10541184B2 (en) 2017-07-11 2020-01-21 Applied Materials, Inc. Optical emission spectroscopic techniques for monitoring etching
US10043674B1 (en) 2017-08-04 2018-08-07 Applied Materials, Inc. Germanium etching systems and methods
US10297458B2 (en) 2017-08-07 2019-05-21 Applied Materials, Inc. Process window widening using coated parts in plasma etch processes
US10903054B2 (en) 2017-12-19 2021-01-26 Applied Materials, Inc. Multi-zone gas distribution systems and methods
US11328909B2 (en) 2017-12-22 2022-05-10 Applied Materials, Inc. Chamber conditioning and removal processes
US10854426B2 (en) 2018-01-08 2020-12-01 Applied Materials, Inc. Metal recess for semiconductor structures
US10964512B2 (en) 2018-02-15 2021-03-30 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing chamber multistage mixing apparatus and methods
US10679870B2 (en) 2018-02-15 2020-06-09 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing chamber multistage mixing apparatus
TWI766433B (zh) 2018-02-28 2022-06-01 美商應用材料股份有限公司 形成氣隙的系統及方法
US10593560B2 (en) 2018-03-01 2020-03-17 Applied Materials, Inc. Magnetic induction plasma source for semiconductor processes and equipment
US10319600B1 (en) 2018-03-12 2019-06-11 Applied Materials, Inc. Thermal silicon etch
US10497573B2 (en) 2018-03-13 2019-12-03 Applied Materials, Inc. Selective atomic layer etching of semiconductor materials
US10573527B2 (en) 2018-04-06 2020-02-25 Applied Materials, Inc. Gas-phase selective etching systems and methods
US10490406B2 (en) 2018-04-10 2019-11-26 Appled Materials, Inc. Systems and methods for material breakthrough
US10699879B2 (en) 2018-04-17 2020-06-30 Applied Materials, Inc. Two piece electrode assembly with gap for plasma control
US10886137B2 (en) 2018-04-30 2021-01-05 Applied Materials, Inc. Selective nitride removal
US10872778B2 (en) 2018-07-06 2020-12-22 Applied Materials, Inc. Systems and methods utilizing solid-phase etchants
US10755941B2 (en) 2018-07-06 2020-08-25 Applied Materials, Inc. Self-limiting selective etching systems and methods
US10672642B2 (en) 2018-07-24 2020-06-02 Applied Materials, Inc. Systems and methods for pedestal configuration
US11049755B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Applied Materials, Inc. Semiconductor substrate supports with embedded RF shield
US10892198B2 (en) 2018-09-14 2021-01-12 Applied Materials, Inc. Systems and methods for improved performance in semiconductor processing
US11062887B2 (en) 2018-09-17 2021-07-13 Applied Materials, Inc. High temperature RF heater pedestals
US11417534B2 (en) 2018-09-21 2022-08-16 Applied Materials, Inc. Selective material removal
US11682560B2 (en) 2018-10-11 2023-06-20 Applied Materials, Inc. Systems and methods for hafnium-containing film removal
US11121002B2 (en) 2018-10-24 2021-09-14 Applied Materials, Inc. Systems and methods for etching metals and metal derivatives
US11437242B2 (en) 2018-11-27 2022-09-06 Applied Materials, Inc. Selective removal of silicon-containing materials
WO2020117594A1 (en) 2018-12-04 2020-06-11 Applied Materials, Inc. Substrate supports including metal-ceramic interfaces
US11721527B2 (en) 2019-01-07 2023-08-08 Applied Materials, Inc. Processing chamber mixing systems
US10920319B2 (en) 2019-01-11 2021-02-16 Applied Materials, Inc. Ceramic showerheads with conductive electrodes
CN112259429B (zh) * 2020-09-30 2024-06-21 北京北方华创微电子装备有限公司 一种半导体工艺设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04343222A (ja) * 1991-05-21 1992-11-30 Mitsubishi Electric Corp プラズマ処理装置
JPH0555171A (ja) * 1991-08-29 1993-03-05 Mitsubishi Electric Corp プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置
JPH06252101A (ja) * 1993-02-24 1994-09-09 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JPH08330286A (ja) * 1995-06-01 1996-12-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd プラズマ処理装置
WO2000030148A1 (en) * 1998-11-12 2000-05-25 Lam Research Corporation Integrated power modules for plasma processing systems

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3941966A (en) 1974-05-22 1976-03-02 Applied Materials, Inc. RF Power transmission line
US5187454A (en) 1992-01-23 1993-02-16 Applied Materials, Inc. Electronically tuned matching network using predictor-corrector control system
US5478429A (en) 1993-01-20 1995-12-26 Tokyo Electron Limited Plasma process apparatus
US5463526A (en) 1994-01-21 1995-10-31 Lam Research Corporation Hybrid electrostatic chuck
US5688358A (en) 1995-03-08 1997-11-18 Applied Materials, Inc. R.F. plasma reactor with larger-than-wafer pedestal conductor
US5671116A (en) 1995-03-10 1997-09-23 Lam Research Corporation Multilayered electrostatic chuck and method of manufacture thereof
US5670066A (en) 1995-03-17 1997-09-23 Lam Research Corporation Vacuum plasma processing wherein workpiece position is detected prior to chuck being activated
US5609720A (en) 1995-09-29 1997-03-11 Lam Research Corporation Thermal control of semiconductor wafer during reactive ion etching
US5793162A (en) 1995-12-29 1998-08-11 Lam Research Corporation Apparatus for controlling matching network of a vacuum plasma processor and memory for same
US5708250A (en) 1996-03-29 1998-01-13 Lam Resarch Corporation Voltage controller for electrostatic chuck of vacuum plasma processors
US5689215A (en) 1996-05-23 1997-11-18 Lam Research Corporation Method of and apparatus for controlling reactive impedances of a matching network connected between an RF source and an RF plasma processor
US5737175A (en) 1996-06-19 1998-04-07 Lam Research Corporation Bias-tracking D.C. power circuit for an electrostatic chuck
US5793192A (en) 1996-06-28 1998-08-11 Lam Research Corporation Methods and apparatuses for clamping and declamping a semiconductor wafer in a wafer processing system
US5798904A (en) 1996-06-28 1998-08-25 Lam Research Corporation High power electrostatic chuck contact
TW434735B (en) * 1998-02-20 2001-05-16 United Microelectronics Corp Tungsten etcher installed with a bottom electrode bias power supply
US6221221B1 (en) 1998-11-16 2001-04-24 Applied Materials, Inc. Apparatus for providing RF return current path control in a semiconductor wafer processing system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04343222A (ja) * 1991-05-21 1992-11-30 Mitsubishi Electric Corp プラズマ処理装置
JPH0555171A (ja) * 1991-08-29 1993-03-05 Mitsubishi Electric Corp プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置
JPH06252101A (ja) * 1993-02-24 1994-09-09 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JPH08330286A (ja) * 1995-06-01 1996-12-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd プラズマ処理装置
WO2000030148A1 (en) * 1998-11-12 2000-05-25 Lam Research Corporation Integrated power modules for plasma processing systems

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140114816A (ko) * 2011-12-27 2014-09-29 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라즈마 처리 장치
KR102038642B1 (ko) * 2011-12-27 2019-10-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라즈마 처리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
EP1190437A1 (en) 2002-03-27
ATE371261T1 (de) 2007-09-15
CN1244134C (zh) 2006-03-01
KR100742141B1 (ko) 2007-07-24
AU6199200A (en) 2001-01-31
CN1358324A (zh) 2002-07-10
EP1190437B1 (en) 2007-08-22
JP4695799B2 (ja) 2011-06-08
US6242360B1 (en) 2001-06-05
WO2001001441A1 (en) 2001-01-04
KR20020019927A (ko) 2002-03-13
DE60036107T2 (de) 2008-05-21
TW454430B (en) 2001-09-11
DE60036107D1 (de) 2007-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003517722A (ja) 高周波電力をプラズマ処理チャンバに送給するプラズマ処理システム、装置、及び方法
US8062473B2 (en) Plasma processing apparatus and method
US8241457B2 (en) Plasma processing system, plasma measurement system, plasma measurement method, and plasma control system
US20050001555A1 (en) Method and device for removing harmonics in semiconductor plasma processing systems
TW200302683A (en) Plasma processing apparatus and method
JPH10241898A (ja) Hdp−cvdチャンバ用のプラズマソース
US6531030B1 (en) Inductively coupled plasma etching apparatus
TWI279169B (en) Plasma processing apparatus capable of performing uniform plasma treatment by preventing drift in plasma discharge current
US6954033B2 (en) Plasma processing apparatus
JP2003109946A (ja) プラズマ処理装置
US6879870B2 (en) Method and apparatus for routing harmonics in a plasma to ground within a plasma enhanced semiconductor wafer processing chamber
CN107564792B (zh) 一种用于等离子体处理设备的rf讯号传递装置
JP3923323B2 (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP4488662B2 (ja) プラズマ処理装置、マッチングボックス
JP4127488B2 (ja) プラズマ処理装置
KR102192299B1 (ko) 기판 처리 장치
JPH10302996A (ja) プラズマ処理方法及び装置
JP2001267296A (ja) プラズマ処理装置
US20030111442A1 (en) Method for controlling chamber inner wall surface of an inductively coupled plasma etching apparatus
JPH02294483A (ja) プラズマ処理装置
JP2003217900A (ja) プラズマ処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070605

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100615

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100622

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100921

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100929

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110215

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110228

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140304

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4695799

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees