JP2003346165A - ワーク境界の検出方法 - Google Patents
ワーク境界の検出方法Info
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- JP2003346165A JP2003346165A JP2002150028A JP2002150028A JP2003346165A JP 2003346165 A JP2003346165 A JP 2003346165A JP 2002150028 A JP2002150028 A JP 2002150028A JP 2002150028 A JP2002150028 A JP 2002150028A JP 2003346165 A JP2003346165 A JP 2003346165A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 目標物（例えば鏡面体等）を含む領域を撮影
した原画像より、検査対象となる上記目標物のエッジ成
分を検出して原画像から検査領域を抽出する方法につい
て、演算の高速化が図れ、また撮影画像の背景ノイズの
影響を受けないエッジ検出方法を得る。 【解決手段】 カメラからの画像信から得られる原画像
について、注目画素列の輝度の最大値を代表値とする射
影演算と、その射影演算の結果において注目点の周囲の
点の最小値を注目点の値に置き換えるノイズ除去、およ
び目標物の輪郭線に沿った射影演算により原画像から目
標物のエッジ成分を検出する。これにより、背景ノイズ
が多い場合でも、正確、かつ高速にエッジ成分を検出す
ることができる。
した原画像より、検査対象となる上記目標物のエッジ成
分を検出して原画像から検査領域を抽出する方法につい
て、演算の高速化が図れ、また撮影画像の背景ノイズの
影響を受けないエッジ検出方法を得る。 【解決手段】 カメラからの画像信から得られる原画像
について、注目画素列の輝度の最大値を代表値とする射
影演算と、その射影演算の結果において注目点の周囲の
点の最小値を注目点の値に置き換えるノイズ除去、およ
び目標物の輪郭線に沿った射影演算により原画像から目
標物のエッジ成分を検出する。これにより、背景ノイズ
が多い場合でも、正確、かつ高速にエッジ成分を検出す
ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば鏡面体など
の外観検査装置において、検査対象となる目標物（例え
ば鏡面体等）を含む領域を撮影した原画像より、検査対
象となる上記目標物を抽出するために必要となるエッジ
検出方法に関する。
の外観検査装置において、検査対象となる目標物（例え
ば鏡面体等）を含む領域を撮影した原画像より、検査対
象となる上記目標物を抽出するために必要となるエッジ
検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像処理装置において、入力画像からワ
ーク領域の境界を抽出するなどの目的で画像のエッジ成
分を検出する手法として、ラプラシアンフィルタ等のエ
ッジ検出用フィルタが用いられていた。これに対し、処
理の高速化を図るために特開平７−２４９１２８号公報
に記載されているように撮影画像を水平、または垂直方
向にシフトし、シフト前後の画像を比較して、当該画素
の輝度差が最大の位置をエッジとして検出する方法が提
案されている。
ーク領域の境界を抽出するなどの目的で画像のエッジ成
分を検出する手法として、ラプラシアンフィルタ等のエ
ッジ検出用フィルタが用いられていた。これに対し、処
理の高速化を図るために特開平７−２４９１２８号公報
に記載されているように撮影画像を水平、または垂直方
向にシフトし、シフト前後の画像を比較して、当該画素
の輝度差が最大の位置をエッジとして検出する方法が提
案されている。
【０００３】また、直線を円弧の組み合わせからなるワ
ークの境界の検出に対しては特開平０９−２５１５４４
号公報に記載されているように、撮影画像から得られる
エッジの点列を直線、あるいは円弧の方程式で近似する
ことでエッジを検出する手法が提案されている。
ークの境界の検出に対しては特開平０９−２５１５４４
号公報に記載されているように、撮影画像から得られる
エッジの点列を直線、あるいは円弧の方程式で近似する
ことでエッジを検出する手法が提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のエ
ッジ検出方法では、撮影画像をシフトし、シフト前後の
画像を比較して、当該画素の輝度差を利用する方法で
は、最大輝度差を生ずる位置がワークのエッジではなく
ノイズ成分である場合がある。
ッジ検出方法では、撮影画像をシフトし、シフト前後の
画像を比較して、当該画素の輝度差を利用する方法で
は、最大輝度差を生ずる位置がワークのエッジではなく
ノイズ成分である場合がある。
【０００５】また撮影画像から得られるエッジの点列を
直線、あるいは円弧の方程式で近似することでエッジを
検出する手法では、たとえば図８に示すポリゴンミラー
のようにワークの境界に放物線が含まれる場合、放物線
を円弧で近似するために正しくワークの境界を検出でき
ない場合がある。
直線、あるいは円弧の方程式で近似することでエッジを
検出する手法では、たとえば図８に示すポリゴンミラー
のようにワークの境界に放物線が含まれる場合、放物線
を円弧で近似するために正しくワークの境界を検出でき
ない場合がある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために、カメラから得られる濃淡画像データに
ついて、請求項１においては、撮影された濃淡画像デー
タより、注目画素列の輝度の最大値を代表値とする射影
演算と、その射影演算の結果において注目点の周囲の点
の最小値を注目点の値に置き換えるノイズ除去によって
エッジを検出することを特徴とする。
達成するために、カメラから得られる濃淡画像データに
ついて、請求項１においては、撮影された濃淡画像デー
タより、注目画素列の輝度の最大値を代表値とする射影
演算と、その射影演算の結果において注目点の周囲の点
の最小値を注目点の値に置き換えるノイズ除去によって
エッジを検出することを特徴とする。
【０００７】請求項２においては、撮影された濃淡画像
データより、抽出すべき目標物の輪郭に沿った射影演算
を施すことによってエッジ位置を検出することを特徴と
する。
データより、抽出すべき目標物の輪郭に沿った射影演算
を施すことによってエッジ位置を検出することを特徴と
する。
【０００８】請求項３においては、上記手段においてあ
らかじめ定義されたテンプレートによって直線、あるい
は任意の曲線の輪郭のエッジ検出することを特徴とす
る。
らかじめ定義されたテンプレートによって直線、あるい
は任意の曲線の輪郭のエッジ検出することを特徴とす
る。
【０００９】（作用）本発明の請求項１によるワーク境
界検出方法では、背景ノイズの影響を受けることなく、
エッジ位置を安定して検出することができる。
界検出方法では、背景ノイズの影響を受けることなく、
エッジ位置を安定して検出することができる。
【００１０】本発明の請求項２によるワーク境界検出方
法では、例えば輪郭が放物線のような非直線の輪郭を持
つ目標物に対しても背景ノイズの影響を受けることな
く、エッジ位置を安定して検出することができる。
法では、例えば輪郭が放物線のような非直線の輪郭を持
つ目標物に対しても背景ノイズの影響を受けることな
く、エッジ位置を安定して検出することができる。
【００１１】本発明の請求項３によるワーク境界検出方
法では、任意の曲線の輪郭を持つ目標物に対してもエッ
ジ位置を安定して検出することができる。
法では、任意の曲線の輪郭を持つ目標物に対してもエッ
ジ位置を安定して検出することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。
する。
【００１３】図１は本発明による撮影画像のエッジ検出
方法の処理手順を示すフローチャートである。この撮像
画像のエッジ検出方法は、たとえば鏡面体を検査する外
観検査装置において、目標物（例えば鏡面体）を含む領
域を撮影した原画像より、縦輪郭線のエッジ検出（ルー
チンＲ１）と横輪郭線のエッジ検出（ルーチンＲ２）を
行うことにより、原画像から目標物が撮影されている範
囲を抽出するものである。
方法の処理手順を示すフローチャートである。この撮像
画像のエッジ検出方法は、たとえば鏡面体を検査する外
観検査装置において、目標物（例えば鏡面体）を含む領
域を撮影した原画像より、縦輪郭線のエッジ検出（ルー
チンＲ１）と横輪郭線のエッジ検出（ルーチンＲ２）を
行うことにより、原画像から目標物が撮影されている範
囲を抽出するものである。
【００１４】図２にエッジ検出を実施するための装置の
ブロック図を示す。この装置は、鏡面体などの撮影手段
としての撮像カメラ２１と画像メモリ２２、およびエッ
ジ検出を行うためのＣＰＵ２３により構成されている。
次に、このような装置を使用して実施する撮影画像のエ
ッジ検出方法の処理手順各処理の詳細を図１から図７に
従って説明する。
ブロック図を示す。この装置は、鏡面体などの撮影手段
としての撮像カメラ２１と画像メモリ２２、およびエッ
ジ検出を行うためのＣＰＵ２３により構成されている。
次に、このような装置を使用して実施する撮影画像のエ
ッジ検出方法の処理手順各処理の詳細を図１から図７に
従って説明する。
【００１５】まず、撮像カメラ２１で例えば鏡面体等の
検査する目標物を含む領域を撮影し、図３のように撮影
された濃淡の原画像Ｉ０は画像メモリ２２に格納されて
いるものとする。この図３において、原画像Ｉ０は検査
する目標物Ａとノイズ成分Ｂからなっている。
検査する目標物を含む領域を撮影し、図３のように撮影
された濃淡の原画像Ｉ０は画像メモリ２２に格納されて
いるものとする。この図３において、原画像Ｉ０は検査
する目標物Ａとノイズ成分Ｂからなっている。
【００１６】まずはじめに、原画像Ｉ０より、検査する
目標物の縦輪郭線のエッジを検出する処理を図４にした
がって説明する（ルーチンＲ１）。
目標物の縦輪郭線のエッジを検出する処理を図４にした
がって説明する（ルーチンＲ１）。
【００１７】ルーチンＲ１では、まず画像メモリ２３か
ら読み出した原画像Ｉ０について、注目画素列の最大値
をとる射影演算（ステップＳ１）を施す。ステップＳ１
では、原画像Ｉ０で水平方向の座標軸ｉにおけるある位
置ｋにおいて、位置ｋでの原画像Ｉ０の垂直方向の画素
列に注目する。注目した画素列より、位置ｋにおける垂
直方向の座標軸ｊに対する輝度値が図４（ｄ）に示す輝
度波形Ｇ４として得られ、輝度波形Ｇ４の最大値Ｆを位
置ｋにおける代表値ａ（ｋ）とする。ステップＳ１によ
って図４（ｂ）に示す横軸を位置ｉ、縦軸を代表値ａ
（ｉ）とした、検出すべきエッジＣ、およびノイズ成分
Ｄからなる縦輪郭線波形Ｇ１が得られる。
ら読み出した原画像Ｉ０について、注目画素列の最大値
をとる射影演算（ステップＳ１）を施す。ステップＳ１
では、原画像Ｉ０で水平方向の座標軸ｉにおけるある位
置ｋにおいて、位置ｋでの原画像Ｉ０の垂直方向の画素
列に注目する。注目した画素列より、位置ｋにおける垂
直方向の座標軸ｊに対する輝度値が図４（ｄ）に示す輝
度波形Ｇ４として得られ、輝度波形Ｇ４の最大値Ｆを位
置ｋにおける代表値ａ（ｋ）とする。ステップＳ１によ
って図４（ｂ）に示す横軸を位置ｉ、縦軸を代表値ａ
（ｉ）とした、検出すべきエッジＣ、およびノイズ成分
Ｄからなる縦輪郭線波形Ｇ１が得られる。
【００１８】次に、縦輪郭線射影波形Ｇ１についてノイ
ズ除去を行う（ステップＳ２）。ステップＳ２では、例
えば縦輪郭線射影波形の位置ｉに注目し、位置ｉを含む
前後の複数の点（例えば２点ずつ）の最小値を、位置ｉ
でのノイズ除去の結果の値ｃ（ｉ）とする。ステップＳ
２によって、横軸を位置ｉ、縦軸をｃ（ｉ）として、射
影波形Ｇ１よりノイズ成分Ｄが除かたエッジ成分Ｅのみ
からなるノイズ除去波形Ｇ２が得られる。
ズ除去を行う（ステップＳ２）。ステップＳ２では、例
えば縦輪郭線射影波形の位置ｉに注目し、位置ｉを含む
前後の複数の点（例えば２点ずつ）の最小値を、位置ｉ
でのノイズ除去の結果の値ｃ（ｉ）とする。ステップＳ
２によって、横軸を位置ｉ、縦軸をｃ（ｉ）として、射
影波形Ｇ１よりノイズ成分Ｄが除かたエッジ成分Ｅのみ
からなるノイズ除去波形Ｇ２が得られる。
【００１９】このノイズ除去波形Ｇ２から、あらかじめ
設定されたしきい値ｔＸにしたがって原画Ｉ０での縦輪
郭線のエッジの位置Ｘを検出する（ステップＳ３）。
設定されたしきい値ｔＸにしたがって原画Ｉ０での縦輪
郭線のエッジの位置Ｘを検出する（ステップＳ３）。
【００２０】次に横輪郭線のエッジを検出して、検出し
た横輪郭線のエッジと上記の方法で求めた縦輪郭線のエ
ッジの位置Ｘとを利用して原画像Ｉ０検査領域を抽出す
る処理を図５にしたがって説明する（ルーチンＲ２）。
た横輪郭線のエッジと上記の方法で求めた縦輪郭線のエ
ッジの位置Ｘとを利用して原画像Ｉ０検査領域を抽出す
る処理を図５にしたがって説明する（ルーチンＲ２）。
【００２１】ルーチンＲ２ではまず、例えば放物線に沿
った射影演算を原画像Ｉ０に対して行う（ステップＳ
４）。ステップＳ４では、輪郭線テンプレートＴに基準
線Ｌを定義し、基準線Ｌに沿った射影演算を原画像Ｉ０
に施す。図５（ａ）に輪郭線テンプレートＴに定義した
基準線Ｌを示す。この輪郭線テンプレートＴに定義する
基準線Ｌは、検出する横線の形状に合わせて、直線、あ
るいは円弧、放物線など任意の曲線を設定することがで
きる。ステップＳ４によって原画像Ｉ０から、横軸を基
準線Ｌからのオフセット値、縦軸を射影値とした横輪郭
線射影波形Ｇ４が得られる。
った射影演算を原画像Ｉ０に対して行う（ステップＳ
４）。ステップＳ４では、輪郭線テンプレートＴに基準
線Ｌを定義し、基準線Ｌに沿った射影演算を原画像Ｉ０
に施す。図５（ａ）に輪郭線テンプレートＴに定義した
基準線Ｌを示す。この輪郭線テンプレートＴに定義する
基準線Ｌは、検出する横線の形状に合わせて、直線、あ
るいは円弧、放物線など任意の曲線を設定することがで
きる。ステップＳ４によって原画像Ｉ０から、横軸を基
準線Ｌからのオフセット値、縦軸を射影値とした横輪郭
線射影波形Ｇ４が得られる。
【００２２】この横輪郭線射影波形Ｇ４において、波形
のピーク値Ｆに対応するオフセット値を、基準線Ｌから
のオフセット量ｏｆｆｓとする（ステップＳ５）。
のピーク値Ｆに対応するオフセット値を、基準線Ｌから
のオフセット量ｏｆｆｓとする（ステップＳ５）。
【００２３】そして、ルーチンＲ１から得られた縦輪郭
線のエッジの位置Ｘ、原画像Ｉ０における縦輪郭線のエ
ッジの位置Ｘでの基準線の位置Ｙ０、ステップＳ５から
得られた基準線Ｌからのオフセット量ｏｆｆｓｅｔか
ら、 Ｙｔｏｐ＝Ｙ０＋ｏｆｆｓｅｔ より横輪郭線のエッジＹｔｏｐを求める。
線のエッジの位置Ｘ、原画像Ｉ０における縦輪郭線のエ
ッジの位置Ｘでの基準線の位置Ｙ０、ステップＳ５から
得られた基準線Ｌからのオフセット量ｏｆｆｓｅｔか
ら、 Ｙｔｏｐ＝Ｙ０＋ｏｆｆｓｅｔ より横輪郭線のエッジＹｔｏｐを求める。
【００２４】ここでは原画像Ｉ０に対して目標物の上端
のエッジを検出したが、目標物の下端についても、目標
物の下端の輪郭線テンプレートＴを別途定義し、この輪
郭線テンプレートＴを利用してステップＳ４，Ｓ５を繰
り返すことで下端のエッジＹｂｏｔｔｏｍも同様に求め
られる。これまで求められた、縦輪郭線エッジＸ、横輪
郭線エッジＹｔｏｐ、およびＹｂｏｔｔｏｍより、図６
のように、原画像Ｉ０より検査範囲Ｉ１が抽出される
（ステップＳ６）。
のエッジを検出したが、目標物の下端についても、目標
物の下端の輪郭線テンプレートＴを別途定義し、この輪
郭線テンプレートＴを利用してステップＳ４，Ｓ５を繰
り返すことで下端のエッジＹｂｏｔｔｏｍも同様に求め
られる。これまで求められた、縦輪郭線エッジＸ、横輪
郭線エッジＹｔｏｐ、およびＹｂｏｔｔｏｍより、図６
のように、原画像Ｉ０より検査範囲Ｉ１が抽出される
（ステップＳ６）。
【００２５】なお以上の説明では、撮像された原画像全
体に対して目標物のエッジ検出を行ったが、これに限ら
ず図７のように原画像Ｉ０からエッジが含まれる原画像
Ｉ０よりも小さい領域の画像Ｉ２をあらかじめ抽出した
上で、抽出した画像Ｉ２に対してエッジ検出をおこなっ
てもよい。
体に対して目標物のエッジ検出を行ったが、これに限ら
ず図７のように原画像Ｉ０からエッジが含まれる原画像
Ｉ０よりも小さい領域の画像Ｉ２をあらかじめ抽出した
上で、抽出した画像Ｉ２に対してエッジ検出をおこなっ
てもよい。
【００２６】また、以上の実施例ではルーチンＲ１によ
って縦輪郭線のエッジ、ルーチンＲ２によって横輪郭線
のエッジを検出したが、逆に横輪郭線をルーチンＲ１、
縦輪郭線をルーチンＲ２によって検出してもよい。
って縦輪郭線のエッジ、ルーチンＲ２によって横輪郭線
のエッジを検出したが、逆に横輪郭線をルーチンＲ１、
縦輪郭線をルーチンＲ２によって検出してもよい。
【００２７】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によって、
請求項１によるエッジ検出方法によって濃淡画像データ
において、注目画素列の輝度の最大値をとる射影演算と
その射影演算の結果において、注目点の周囲の点の最小
値をとるノイズ除去によって、背景ノイズの影響を受け
ることなく、エッジを正しく検出することが可能とな
る。
請求項１によるエッジ検出方法によって濃淡画像データ
において、注目画素列の輝度の最大値をとる射影演算と
その射影演算の結果において、注目点の周囲の点の最小
値をとるノイズ除去によって、背景ノイズの影響を受け
ることなく、エッジを正しく検出することが可能とな
る。
【００２８】請求項２によるエッジ検出方法によって濃
淡画像データにおいて、被検出物体の輪郭線に沿った射
影演算を施すことで、背景ノイズの影響を受けることな
く、エッジを正しく検出することが可能となる。
淡画像データにおいて、被検出物体の輪郭線に沿った射
影演算を施すことで、背景ノイズの影響を受けることな
く、エッジを正しく検出することが可能となる。
【００２９】また請求項３によるエッジ検出方法によっ
てあらかじめ定義された輪郭線テンプレートによって直
線、あるいは任意の曲線の輪郭のエッジを検出すること
が可能となる
てあらかじめ定義された輪郭線テンプレートによって直
線、あるいは任意の曲線の輪郭のエッジを検出すること
が可能となる
【図１】 本発明の実施例におけるエッジ検出方法のフ
ローチャートである
ローチャートである
【図２】 本発明の実施例における画像処理装置のブロ
ック図である
ック図である
【図３】 本発明の実施例において、カメラから撮影さ
れた原画像をあらわす図である
れた原画像をあらわす図である
【図４】 本発明の実施例においてカメラから撮影され
た原画像から、縦輪郭線のエッジを検出する説明図であ
る
た原画像から、縦輪郭線のエッジを検出する説明図であ
る
【図５】 本発明の実施例においてカメラから撮影され
た原画像から、横輪郭線のエッジを検出する説明図であ
る
た原画像から、横輪郭線のエッジを検出する説明図であ
る
【図６】 本発明の実施例において検出されたエッジを
利用して、原画像から検査領域領域を抽出する説明図で
ある
利用して、原画像から検査領域領域を抽出する説明図で
ある
【図７】 本発明に実施例において、原画像からエッジ
が含まれる小さい領域を抽出する説明図である
が含まれる小さい領域を抽出する説明図である
【図８】 直線と放物線からなる目標物（ポリゴンミラ
ー）を表す説明図である
ー）を表す説明図である
２１ カメラ
２２ 画像メモリ
２３ ＣＰＵ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 2F065 AA12 AA51 BB05 CC21 DD04
DD06 EE00 FF04 FF61 JJ03
QQ03 QQ24 QQ28 QQ34 QQ45
5B057 AA01 BA02 BA30 CA02 CA08
CA12 CA16 CE02 DA01 DA07
DA08 DB02 DB05 DB09 DC05
DC16 DC19
5L096 BA03 CA02 FA06 FA38
Claims (3)
- 【請求項１】撮影された濃淡画像データより、注目画素
列の輝度の最大値を射影値とする射影演算と、その射影
演算の結果において注目点の周囲の点の最小値を注目点
の値に置き換えるノイズ除去によってエッジを検出する
ことを特徴とするエッジ検出方法。 - 【請求項２】撮影された濃淡画像データより、抽出すべ
き目標物の輪郭に沿った射影演算を施すことを特徴とす
るエッジ検出方法。 - 【請求項３】上記請求項２について、あらかじめ定義さ
れたテンプレートによって射影演算の経路を定義するこ
とを特徴とするエッジ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002150028A JP2003346165A (ja) | 2002-05-24 | 2002-05-24 | ワーク境界の検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002150028A JP2003346165A (ja) | 2002-05-24 | 2002-05-24 | ワーク境界の検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003346165A true JP2003346165A (ja) | 2003-12-05 |
Family
ID=29767981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002150028A Withdrawn JP2003346165A (ja) | 2002-05-24 | 2002-05-24 | ワーク境界の検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003346165A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7593571B2 (en) | 2004-07-30 | 2009-09-22 | Fujitsu Limited | Component edge detecting method, computer-readable recording medium and component inspection apparatus |
| JP2011002421A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Nec Corp | 探知距離計算システム、探知距離計算方法、探知距離計算プログラム |
| CN108062821A (zh) * | 2017-12-12 | 2018-05-22 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 边缘检测方法及验钞设备 |
| CN112313019A (zh) * | 2018-06-28 | 2021-02-02 | 杰富意钢铁株式会社 | 钢材非压下部宽度检测装置及其检测方法 |
-
2002
- 2002-05-24 JP JP2002150028A patent/JP2003346165A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7593571B2 (en) | 2004-07-30 | 2009-09-22 | Fujitsu Limited | Component edge detecting method, computer-readable recording medium and component inspection apparatus |
| JP2011002421A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Nec Corp | 探知距離計算システム、探知距離計算方法、探知距離計算プログラム |
| CN108062821A (zh) * | 2017-12-12 | 2018-05-22 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 边缘检测方法及验钞设备 |
| CN108062821B (zh) * | 2017-12-12 | 2020-04-28 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 边缘检测方法及验钞设备 |
| CN112313019A (zh) * | 2018-06-28 | 2021-02-02 | 杰富意钢铁株式会社 | 钢材非压下部宽度检测装置及其检测方法 |
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