JP2003344465A - 位相差検出方法、インピーダンス検出方法、測定装置および同軸型インピーダンス整合装置 - Google Patents

位相差検出方法、インピーダンス検出方法、測定装置および同軸型インピーダンス整合装置

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JP2003344465A JP2002158721A JP2002158721A JP2003344465A JP 2003344465 A JP2003344465 A JP 2003344465A JP 2002158721 A JP2002158721 A JP 2002158721A JP 2002158721 A JP2002158721 A JP 2002158721A JP 2003344465 A JP2003344465 A JP 2003344465A
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河西  繁
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 例えば、進行波と反射波との間の位相差を高
速に検出する。 【解決手段】 進行波Sfに基づいて同一周波数でかつ
第1基準位相差分だけ異なる生成信号Sf1,Sf2を生成
し反射波Srに基づいて同一周波数でかつ同一位相の生
成信号Sr1,Sr2を生成する信号生成ステップを実行
し、生成信号Sf1,Sr1を混合して相対位相差Dθ1を
検出すると共に生成信号Sf2,Sr2を混合して相対位相
差Dθ2を検出する検出ステップを実行し、真の位相差
が既知の進行波Sfおよび反射波Srに対して信号生成
ステップおよび検出ステップを実行したときに検出され
る相対位相差Dθ1,Dθ2を各真の位相差に対応させ
て予め規定した相対位相差の各々と検出ステップで検出
した相対位相差Dθ1,Dθ2とを比較して一致する相
対位相差Dθ1,Dθ2に対応する真の位相差を両波S
f,Srの位相差とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、互いに周波数が同
一で位相が異なる第1入力信号および第2入力信号の位
相差を検出する位相差検出方法、その位相差検出方法を
用いて接続対象体の入力インピーダンスを検出するイン
ピーダンス検出方法、互いに周波数が同一で位相が異な
る第1入力信号および第2入力信号の位相差を少なくと
も検出する測定装置、およびその測定装置を備えた同軸
型インピーダンス整合装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種のインピーダンス整合装置は、一
例として、高周波やマイクロ波電力に基づいて発生させ
たプラズマ放電を用いて薄膜形成やドライエッチングな
どの処理を行うプラズマ装置において、安定した処理を
行うためにプラズマを安定させる目的で使用されてい
る。このインピーダンス整合装置を用いたプラズマ装置
について図6を参照して説明する。同図に示すプラズマ
装置51は、高周波信号Sを生成する高周波発生部2、
方向性結合器3、複数の整合要素(スラグやスラブ等の
誘電体)を有して高周波発生部2と処理室5との間のイ
ンピーダンスを整合する整合器本体54、高周波信号S
に基づいてプラズマを発生させて薄膜形成等の処理を行
う処理室5、整合器本体54における各整合要素の位置
を変更する機能を有して整合器本体54と共にインピー
ダンス整合装置を構成する移動機構56、および各構成
要素に対する制御を実施する演算制御部57を備えてい
る。この場合、方向性結合器3は、整合器本体54の入
力端における高周波信号Sの進行波Sfと反射波Srと
を検出して出力する。
【0003】次いで、このプラズマ装置51の動作につ
いて説明すると、高周波発生部2が高周波信号Sを生成
し、生成された高周波信号Sは、方向性結合器3および
整合器本体54を介して処理室5に供給される。演算制
御部57は、方向性結合器3によって検出された高周波
信号Sの進行波Sfと反射波Srとに基づいて進行波S
fに対する反射波Srの割合(反射率)を繰り返し算出
する。また、演算制御部57は、算出した反射率が予め
設定された基準値以下になるように移動機構56を制御
して整合器本体54の各整合要素の位置を変更し、高周
波発生部2と処理室5との間のインピーダンスを整合す
る。インピーダンスの整合が進むと、それに伴い反射波
Srが次第に減少して反射率も低下する。このため、演
算制御部57は、この反射率が基準値以下になるように
整合器本体54の整合要素の位置を変更することによ
り、高周波発生部2と処理室5との間のインピーダンス
を最適な状態に整合させる。これにより、処理室5内で
発生するプラズマを安定させることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、プラズマ装
置51におけるインピーダンス整合動作には、以下の問
題点がある。すなわち、このプラズマ装置51では、整
合器本体54内の整合要素の位置を変えることによって
インピーダンスが整合される。しかしながら、プラズマ
装置51では、高周波信号Sの反射率という一つのパラ
メータに基づいて整合器本体54の2以上の整合要素の
各位置をそれぞれ制御する必要がある。このため、この
プラズマ装置51では、整合状態となる各整合要素の各
整合位置を一義的に決定することができない結果、フィ
ードバック制御を繰り返しながら各整合要素の位置をそ
れぞれ制御しつつ反射率を基準値に近づけることによっ
て、各整合要素を整合位置に移動させなければならな
い。したがって、この従来のプラズマ装置51には、イ
ンピーダンスを整合させるまでに長時間を要するという
問題がある。また、反射率が基準値に達した時点でイン
ピーダンス整合動作を終了しているため、より一層完全
な整合位置が各整合要素に存在するにも拘わらず、その
完全な整合位置に各整合要素を移動させることが困難で
あるという問題点も存在する。
【0005】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、位相差、例えばインピーダンス整合装置に
おける各整合要素の整合位置の決定に必要な進行波と反
射波との間の位相差を高速に検出し得る位相差検出方法
および測定装置を提供することを主目的とする。また、
インピーダンス、例えば方向性結合器に接続されたイン
ピーダンス整合装置における整合位置の決定に必要なイ
ンピーダンス整合装置の入力インピーダンスを高速に検
出し得るインピーダンス検出方法および測定装置を提供
することを他の目的とする。また、整合対象体に対する
インピーダンス整合の高速化およびより完全なインピー
ダンス整合を図り得る同軸型インピーダンス整合装置を
提供することを他の目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明に係る位相差検出方法は、互いに周波数が同一で位
相が異なる第1入力信号および第2入力信号を入力し、
前記第1入力信号に基づいて当該第1入力信号と同一周
波数でかつ第1基準位相差分だけ互いに異なる第1生成
信号および第2生成信号を生成すると共に前記第2入力
信号に基づいて当該第2入力信号と同一周波数でかつ第
2基準位相差分だけ互いに異なるかまたは同一位相の第
3生成信号および第4生成信号を生成する信号生成ステ
ップを実行し、前記第1生成信号と前記第3生成信号と
を混合して当該第1および第3生成信号の相対位相差を
第1相対位相差として検出すると共に前記第2生成信号
と前記第4生成信号とを混合して当該第2および第4生
成信号の相対位相差を第2相対位相差として検出する相
対位相差検出ステップを実行し、真の位相差が既知の前
記両入力信号に対して前記信号生成ステップおよび前記
相対位相差検出ステップを実行したときに検出される前
記両相対位相差を当該各真の位相差にそれぞれ対応させ
て予め規定した当該両相対位相差の各々と前記相対位相
差検出ステップで検出した前記両相対位相差とを比較し
て一致またはほぼ一致する当該両相対位相差に対応する
前記真の位相差を前記入力した両入力信号の位相差とし
て検出する。
【0007】この場合、前記信号生成ステップにおい
て、前記第1基準位相差を90゜とし、かつ各位相を同
一にして前記第3生成信号および前記第4生成信号を生
成するのが好ましい。
【0008】また、上記目的を達成すべく本発明に係る
インピーダンス検出方法は、接続対象体に接続された方
向性結合器によって出力された進行波および反射波をそ
れぞれ前記第1入力信号および前記第2入力信号として
上記の位相差検出方法に従って前記真の位相差を検出
し、前記第1生成信号と前記第3生成信号とを混合して
当該両生成信号の振幅比を検出するステップ、または前
記第2生成信号と前記第4生成信号とを混合して当該両
生成信号の振幅比を検出するステップのいずれか一方を
振幅比検出ステップとして実行し、前記位相差検出方法
によって検出された前記真の位相差と前記振幅比検出ス
テップによって検出した前記振幅比とに基づいて前記接
続対象体の入力インピーダンスを検出する。
【0009】また、上記目的を達成すべく本発明に係る
測定装置は、入力した第1入力信号に基づいて当該第1
入力信号と同一周波数でかつ第1基準位相差分だけ互い
に異なる第1生成信号および第2生成信号を生成して分
配する第1信号分配器と、前記第1入力信号と周波数が
同一で位相が異なる第2入力信号を入力して当該第2入
力信号に基づいて当該第2入力信号と同一周波数でかつ
第2基準位相差分だけ互いに異なるかまたは同一位相の
第3生成信号および第4生成信号を生成して分配する第
2信号分配器と、前記第1生成信号と前記第3生成信号
とを混合して当該両生成信号の相対位相差を第1相対位
相差として検出する第1混合器と、前記第2生成信号と
前記第4生成信号とを混合して当該両生成信号の相対位
相差を第2相対位相差として検出する第2混合器と、前
記両混合器によって検出された前記両相対位相差、前記
第1基準位相差、および前記第3生成信号と前記第4生
成信号との位相差に基づいて前記両入力信号の真の位相
差を検出する検出部とを備えている。
【0010】この場合、前記第1信号分配器が、前記第
1基準位相差を90゜として前記両生成信号を生成して
分配し、前記第2信号分配器が、各位相を同一にして前
記第3生成信号および前記第4生成信号を生成して分配
するのが好ましい。
【0011】また、接続対象体に接続された方向性結合
器によって出力された進行波および反射波をそれぞれ前
記第1入力信号および前記第2入力信号として入力可能
に前記各信号分配器を構成し、入力した前記両生成信号
を混合して当該両生成信号の振幅比を検出可能に前記第
1混合器および前記第2混合器のいずれか一方を構成
し、前記検出部によって検出された前記真の位相差と前
記検出された振幅比とに基づいて前記接続対象体の入力
インピーダンスを演算する演算部を備えるのが好まし
い。
【0012】さらに、上記目的を達成すべく本発明に係
る同軸型インピーダンス整合装置は、管状の外部導体、
当該外部導体内に配設された内部導体、および前記外部
導体の内面と前記内部導体の外面との間の隙間内に移動
可能に配設された複数の誘電体を有すると共に方向性結
合器と整合対象体との間に配設された整合器本体を備
え、その固有インピーダンスが前記外部導体内における
前記各誘電体の位置に応じた値に制御される同軸型イン
ピーダンス整合装置であって、前記各誘電体を移動させ
る移動機構と、前記整合器本体の固有インピーダンスと
前記各誘電体の各位置とを対応させたデータテーブルを
記憶する記憶部と、請求項6記載の測定装置と、前記移
動機構を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記
整合器本体における前記各誘電体の前記各位置および前
記データテーブルから求まる整合動作開始時における当
該整合器本体の固有インピーダンスと、その状態におい
て前記測定装置の前記演算部によって演算された前記接
続対象体としての当該整合器本体の前記入力インピーダ
ンスとに基づいて前記整合対象体の入力インピーダンス
を算出して、当該算出した整合対象体の入力インピーダ
ンスに対する共役インピーダンスと前記固有インピーダ
ンスとが一致する前記各誘電体の前記各位置を前記デー
タテーブルを参照して目標位置として算出し、当該目標
位置に前記各誘電体がそれぞれ位置するように前記移動
機構を制御する。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る同軸型インピーダンス整合装置の好適な実施の
形態について説明する。なお、一例として同軸型インピ
ーダンス整合装置をプラズマ装置1に適用した例を挙げ
て説明する。また、プラズマ装置51と同一の構成要素
については同一の符号を付して、重複する説明を省略す
る。
【0014】図1に示すプラズマ装置1は、高周波発生
部2、方向性結合器3、整合器本体11を備えた同軸型
インピーダンス整合装置(以下、「整合装置」ともい
う)4、および処理室(本発明における整合対象体)5
を備え、高周波発生部2によって生成された高周波信号
(例えばマイクロ波)Sを方向性結合器3、整合器本体
11を介して処理室5に供給することによって処理室5
内にプラズマを発生させて、処理室5内の被処理物に対
する所定の処理を実行可能に構成されている。
【0015】高周波発生部2は、高周波信号(一例とし
て、2.45GHz程度のマイクロ波)Sを生成し、生
成した高周波信号Sを処理室5に供給する。方向性結合
器3は、高周波信号Sの進行波Sfと反射波Srとを出
力する。この場合、進行波Sfと反射波Srとは、互い
の周波数が同一で、かつ位相が異なる関係となる。
【0016】整合装置4は、図1に示すように、整合器
本体11、移動機構21および制御装置31を備えてい
る。この場合、整合器本体11は、図2に示すように、
管状(円筒状)の外部導体12、外部導体12内に互い
の軸線同士が一致するように配設された円柱状の内部導
体13、および外部導体12の内面と内部導体13の外
面との間の隙間内に配設された2組の誘電体(スラグ)
14,15を備えたいわゆるスラグチューナとして構成
され、方向性結合器3と処理室5との間に配設されてい
る。また、整合器本体11の入力端11aおよび出力端
11bには、整合器本体11を方向性結合器3および処
理室5にそれぞれ接続するためのコネクタ(図示せず)
が取り付けられている。外部導体12には、その長手方
向に沿ってスリットSLが1つ形成されている。
【0017】入力端側のスラグ14は、図2,3に示す
ように、誘電体材料で形成されたスラグ14a,14b
と、スラグ14a,14bを連結すると共に移動機構2
1によって移動される移動用ブラケット14cとを備え
ている。この場合、スラグ14a,14bは、各厚みL
1がλ/4(λは、整合器本体11内における高周波信
号Sの管内波長)と等しい(またはほぼ等しい)円筒状
に構成されている。また、スラグ14a,14bは、互
いの対向面間の距離L2がN×λ/4(Nは奇数)と等
しく(またはほぼ等しく)なるように予め設定されてい
る。この構成より、スラグ14a,14bで構成される
スラグ14全体として入力端2a側に反射する反射量
は、スラグ14a,14bの内の一方しか存在しない構
成と比較して十分大きくなる。移動用ブラケット14c
は、スリットSLに挿入されてその端部(同図中の上
端)がスリットSLから外部導体12の外部に突出して
いる。出力端側のスラグ15は、スラグ14と同一に構
成され、図2,3に示すように、誘電体材料で形成され
たスラグ15a,15bと、スラグ15a,15bを連
結すると共に移動機構21によって移動される移動用ブ
ラケット15cとを備えている。なお、本発明の実施の
形態では、一例として、スラグ14a,14b間の距離
L2、およびスラグ15a,15b間の距離L2をλ/
4に規定したものとする。
【0018】この整合装置4を用いたインピーダンスの
整合に際しては、スラグ14,15をスライド(移動)
させる。この際に、スラグ14,15間の中心位置O
(図3参照)と、整合器本体11における出力端(信号
出力側端部)11bとの距離L3を調整することによ
り、両スラグ14,15によってそれぞれ反射される各
反射信号の位相が調整される。この場合、両スラグ1
4,15間の中心位置Oと、整合器本体11における入
力端(信号入力側端部)11aとの距離を調整すること
によっても、両スラグ14,15によってそれぞれ反射
される各反射信号の位相を同様にして調整することがで
きる。また、スラグ14におけるスラグ14bの出力端
11bの端面と、スラグ15におけるスラグ15aの入
力端11a側の端面との間の距離L4(本発明における
対向面間の距離)を調整することにより、スラグ15に
よって入力端11a側に反射される反射信号の振幅が調
整される。したがって、スラグ14a,14b(スラグ
14)およびスラグ15a,15b(スラグ15)の整
合器本体11内における位置(つまり、外部導体内にお
ける各誘電体14,15の各位置)を適宜調整すること
により、スラグ14によって入力端11a側に反射され
る信号の位相と、スラグ15によって入力端11a側に
反射される信号の位相とを互いに反転させ、かつスラグ
14によって入力端11a側に反射される信号の振幅
と、スラグ15によって入力端11a側に反射される信
号の振幅とを互いに等しくさせることで、入力端11a
に接続される接続対象体(この例では高周波発生部2)
および出力端11bに接続される接続対象体(この例で
は処理室5)間のインピーダンスを完全に整合させるこ
とができる。
【0019】移動機構21は、図2に示すように、スラ
グ14を移動させる移動機構21aとスラグ15を移動
させる移動機構21bとで構成されている。移動機構2
1aは、整合器本体11における入力端11aと出力端
11bの各近傍に配置された一対のプーリー23a,2
4a間に掛け渡されたワイヤーロープ22aと、ワイヤ
ーロープ22aを回転駆動するモータ25aとを備えて
構成され、ワイヤーロープ22aにスラグ14の移動用
ブラケット14cが連結されている。この構成により、
モータ25aによってワイヤーロープ22aが回転駆動
された際には、移動用ブラケット14cと共にスラグ1
4が外部導体12内をスライドする。一方、移動機構2
1bは、整合器本体11における入力端11aと出力端
11bの各近傍に配置された一対のプーリー23b,2
4b間に掛け渡されたワイヤーロープ22bと、ワイヤ
ーロープ22bを回転駆動するモータ25bとを備えて
構成され、ワイヤーロープ22bにスラグ15の移動用
ブラケット15cが連結されている。この構成により、
モータ25bによってワイヤーロープ22bが回転駆動
された際には、移動用ブラケット15cと共にスラグ1
5が外部導体12内をスライドする。
【0020】制御装置31は、図1に示すように、第1
バンドパスフィルタ32a、第2バンドパスフィルタ3
2b、第1移相分配器(第1信号分配器)33a、第2
移相分配器(第2信号分配器)33b、第1混合器34
a、第2混合器34b、メモリ(本発明における記憶
部)35および演算制御部(本発明おける演算部および
制御部)36を備えている。この場合、各バンドパスフ
ィルタ32a,32bは、入力した進行波Sfおよび反
射波Srに含まれるノイズ成分をそれぞれ除去する。
【0021】第1移相分配器33aは、いわゆるハイブ
リッド回路であって、入力した第1入力信号としての進
行波Sfに基づいて進行波Sfと同一周波数でかつ第1
基準位相差分だけ互いに位相が異なる第1生成信号Sf1
および第2生成信号Sf2を生成して分配する。第2移相
分配器33bは、入力した第2入力信号としての反射波
Srに基づいて反射波Srと同一周波数でかつ第2基準
位相差分だけ互いに位相が異なるかまたは同一位相の第
3生成信号Sr1および第4生成信号Sr2を生成して分配
する。なお、この制御装置31では、一例として、第1
移相分配器33aは、第1生成信号Sf1の位相を進行波
Sfの位相と同一にし、かつ第1基準位相差分として9
0゜だけ第2生成信号Sf2の位相を第1生成信号Sf1の
位相に対して遅らせて生成する。一方、第2移相分配器
33bは、同じくハイブリッド回路であって、第3生成
信号Sr1の位相を反射波Srの位相と同一にし、かつ第
3生成信号Sr1と第4生成信号Sr2とを同一の位相(第
2基準位相差が0゜と等価)で生成する。つまり、本発
明の実施の形態では、第2移相分配器33bは、同相分
配器として機能する。
【0022】第1混合器34aは、第1生成信号Sf1と
第3生成信号Sr1とを混合して両生成信号Sf1,Sr1の
相対位相差(両信号Sf1,Sr1の位相差の絶対値)を第
1相対位相差Dθ1として検出すると共に、両生成信号
Sf1,Sr1の振幅比(Sr/Sf)Dr/f を検出する。
第2混合器34bは、第2生成信号Sf2と第4生成信号
Sr2とを混合して両生成信号Sf2,Sr2の相対位相差
(両信号Sf2,Sr2の位相差の絶対値)を第2相対位相
差Dθ2として検出する。なお、第2混合器34bにお
いて両生成信号Sf2,Sr2の振幅比(Sr/Sf)を検
出し、この振幅比を上記Dr/f として出力させる構成を
採用することもできる。
【0023】メモリ35には、進行波Sfと反射波Sr
との間の位相差(真の位相差)θを−180゜から+1
80°まで変化させたときに第1混合器34aと第2混
合器34bとによってそれぞれ検出される第1相対位相
差Dθ1および第2相対位相差Dθ2の各値が、各位相
差θに対応させてデータテーブルDT1(図4参照)と
して予め記憶されている。また、メモリ35には、整合
器本体11における各スラグ14,15の各位置(図3
中の距離L3,L4)に対応する整合器本体11の各固
有インピーダンスがデータテーブルDT2として予め記
憶されている。
【0024】演算制御部36は、第1混合器34aおよ
び第2混合器34bによって検出された第1相対位相差
Dθ1および第2相対位相差Dθ2に基づいてデータテ
ーブルDT1を参照することにより、進行波Sfと反射
波Srとの間の位相差θを算出する。例えば、演算制御
部36は、検出された第1相対位相差Dθ1が150゜
の場合、図4に示すように、第1相対位相差Dθ1に基
づいて決定される位相差θとして−120゜と−60゜
の2つが考えられる。一方、第2相対位相差Dθ2が1
20゜として検出された場合、第2相対位相差Dθ2に
基づいて決定される位相差θが−120゜と120゜と
なる。このため、共通する−120゜を進行波Sfと反
射波Srとの間の位相差θとして算出する(この例で
は、反射波Srが進行波Sfよりも120゜遅れること
を意味する)。これにより、演算制御部36は本発明に
おける検出部として機能し、さらに第1バンドパスフィ
ルタ32a、第2バンドパスフィルタ32b、第1移相
分配器33a、第2移相分配器33b、第1混合器34
aおよび第2混合器34bと共に本発明における測定装
置を構成する。
【0025】また、演算制御部36は、算出した位相差
θと、第1混合器34aによって検出された振幅比Dr/
f とに基づいて整合器本体11の入力端11aでのイン
ピーダンスZ1(=R1+jX1)を算出する。この場
合、u=Dr/f ×cosθ、v=Dr/f ×sinθを求
め、これらのu,vと、下記(1)式および(2)式に
基づいて、R1とX1とを算出する。 (u−R1/(R1+1))+v=1/(R1+1) ・・・(1)式 (u−1)+(v−1/X1)=1/X1 ・・・・・・・・(2)式
【0026】また、演算制御部36は、移動機構21に
対する制御量Ssに基づいて整合器本体11内での各ス
ラグ14,15の位置(図3中の距離L3,L4)を算
出し、データテーブルDT2を参照することによって、
現在の整合器本体11の固有インピーダンスを算出する
機能を備えている。また、演算制御部36は、整合器本
体11の入力端11aでのインピーダンスZ1と、算出
した現在の整合器本体11の固有インピーダンスとに基
づいて、整合器本体11の出力端11bから見た処理室
5の入力インピーダンスZ3(=R3+jX3)を算出
する機能を備え、本発明における演算部(上記測定装置
の一部を構成する)として機能する。また、演算制御部
36は、算出したインピーダンスZ3に基づいて、イン
ピーダンスZ3に対する共役インピーダンス(R3−j
X3)を算出し、整合器本体11の出力インピーダンス
Z2(=R2+jX2)が共役インピーダンス(R3−
jX3)に一致する各スラグ14,15の目標距離(整
合位置)をデータテーブルDT2を参照して算出すると
共に、移動機構21に対する制御量Ssを制御して各ス
ラグ14,15を整合位置に移動させ、方向性結合器3
と処理室5との間のインピーダンスを整合させる機能を
備えている。
【0027】次に、本発明に係る位相差検出方法および
インピーダンス検出方法を、整合装置4のインピーダン
ス整合動作と併せて図5を参照して説明する。
【0028】高周波発生部2によって高周波信号Sの生
成が開始されると、整合装置4では、方向性結合器3が
進行波Sfおよび反射波Srを検出して出力する(ステ
ップ100)。この場合、進行波Sfと反射波Srと
は、互いの周波数が同一で、かつ互いの位相がθだけ異
なる関係になる。次いで、第1移相分配器33aが、こ
の進行波Sfを入力して第1生成信号Sf1および第2生
成信号Sf2を生成し、第2移相分配器33bが、反射波
Srを入力して第3生成信号Sr1および第4生成信号S
r2を生成する(ステップ101:信号生成ステップ)。
【0029】次いで、第1混合器34aが、両生成信号
Sf1,Sr1をミキシングして、そのミキシングした信号
に含まれている第1相対位相差Dθ1および振幅比Dr/
f に相当するアナログ量を検出してディジタルデータま
たはアナログ信号(この例ではディジタルデータとす
る)として出力し、第2混合器34bが、生成信号Sf
2,Sr2をミキシングして、そのミキシングした信号に
含まれている第2相対位相差Dθ2に相当するアナログ
量を検出してディジタルデータまたはアナログ信号(こ
の例ではディジタルデータとする)として出力する(ス
テップ102:相対位相差検出ステップ、振幅比検出ス
テップ)。次に、演算制御部36が、第1相対位相差D
θ1および第2相対位相差Dθ2に基づいて、進行波S
fと反射波Srとの間の真の位相差θをデータテーブル
DT1を参照して算出する(ステップ103)。
【0030】次いで、演算制御部36は、処理室5の入
力インピーダンスZ3を算出する(ステップ104)。
具体的には、演算制御部36は、算出した位相差θと振
幅比Dr/f とに基づいて、整合器本体11の入力端11
aでのインピーダンスZ1を算出する。また、演算制御
部36は、移動機構21に対する現在の制御量Ssに基
づいて整合器本体11内での各スラグ14,15の現在
(整合動作開始時)の位置(図3中の距離L3,L4)
を算出すると共に、データテーブルDT2を参照するこ
とによって、整合動作開始時の整合器本体11の固有イ
ンピーダンスを算出する。さらに、演算制御部36は、
算出した整合器本体11の入力端11aでのインピーダ
ンスZ1および整合器本体11の固有インピーダンスに
基づいて、処理室(整合対象体)5の入力インピーダン
スZ3を算出する。
【0031】次に、演算制御部36は、算出したインピ
ーダンスZ3に基づいて、高周波発生部2と処理室5と
の間のインピーダンスを整合させるための各スラグ1
4,15の整合位置を算出する(ステップ105)。具
体的には、演算制御部36は、算出したインピーダンス
Z3に対する共役インピーダンス(R3−jX3)を算
出し、整合器本体11の出力インピーダンスZ2が共役
インピーダンス(R3−jX3)に一致する各スラグ1
4,15の整合位置をデータテーブルDT2を参照して
算出する。
【0032】最後に、演算制御部36は、移動機構21
に対する制御量Ssを制御して各スラグ14,15を整
合位置に移動させる(ステップ106)。これにより、
高周波発生部2と処理室5との間のインピーダンス整合
が完了し、高周波発生部2によって生成された高周波信
号Sが効率よく処理室5に供給される。
【0033】このように、この整合装置4によれば、進
行波Sfおよび反射波Srに基づいて、高周波発生部2
と処理室5との間のインピーダンスを整合させるための
各スラグ14,15の整合器本体11内での整合位置
(目標距離)をそれぞれ算出し、算出したこれらの整合
位置に各スラグ14,15を直接移動させることによ
り、フィードバック制御を繰り返しながら整合要素とし
ての各スラグ14,15の整合位置を決定する従来技術
とは異なり、フィードバック制御が不要となる結果、イ
ンピーダンス整合を極めて高速に行うことができる。ま
た、インピーダンス整合が完全となる位置にスラグ1
4,15が位置するように移動制御することで、極めて
完全な整合状態となるようにインピーダンス整合を行う
ことができる。
【0034】なお、本発明は、上記した実施の形態に示
した構成に限定されない。例えば、本発明の実施の形態
では、第1移相分配器33aの出力信号としての第1生
成信号Sf1,Sf2間の位相差(第1基準位相差)を90
゜とし、かつ第2移相分配器33bの出力信号としての
両生成信号Sr1,Sr2の各位相を同一にする構成を採用
したが、第1基準位相差は既知であれば任意の角度に規
定することができ、また、第2移相分配器33bにおい
ても両生成信号Sr1,Sr2の位相を既知の角度だけ異な
るようにして生成させる構成を採用することもできる。
また、本発明の実施の形態では、2つの入力信号間の位
相差を検出する測定装置を同軸型インピーダンス整合装
置4に適用した例を挙げて説明したが、これに限定され
るものではない。また、一例として方向性結合器3によ
って検出された2つの進行波Sf,Sr間の位相差θを
検出する例を挙げて説明したが、同軸ケーブル等の伝送
線路における位相差や、さらには導波管における信号の
位相差の検出にも適用することができる。また、導波管
に使用されるスタブチューナに本発明に係る測定装置を
適用することもできる。
【0035】また、上記発明の実施の形態では、本発明
における検出部としての演算制御部36が、両混合器3
4a,34bによって検出された両相対位相差Dθ1,
Dθ2、第1基準位相差(90゜)、および第3生成信
号Sr1と第4生成信号Sr2との位相差(0゜)に基づい
て進行波Sfおよび反射波Srの真の位相差を検出する
一例として、検出された第1相対位相差Dθ1および第
2相対位相差Dθ2に基づいて、真の位相差θを変えた
ときに検出される両相対位相差Dθ1,Dθ2を各真の
位相差θにそれぞれ対応させて予め作成したデータテー
ブルDT1を参照することにより、進行波Sfと反射波
Srとの間の真の位相差θを算出する例について説明し
たが、これに限らない。例えば、演算制御部36が、検
出された両相対位相差Dθ1,Dθ2を入力した都度、
その両相対位相差Dθ1,Dθ2、第1基準位相差(こ
の例では90゜)、および第3生成信号Sr1と第4生成
信号Sr2との位相差(この例では0゜)に基づいて演算
によって進行波Sfおよび反射波Srの真の位相差θを
検出する構成を採用することもできる。
【0036】また、本発明における移動機構は、ワイヤ
ーロープ22a,22bに代えて、タイミングベルト、
スチールベルト、Vベルト、平ベルトおよびギヤ(ラッ
クとピニオン)などを使用して構成することもできる。
また、ベルト類を使用することなくボールねじを使用し
て移動機構を構成することもできる。加えて、本発明の
実施の形態では、同軸型インピーダンス整合装置をプラ
ズマ装置1に適用した例を挙げて説明したが、送信機に
おけるアンプとアンテナとの間のインピーダンス整合
等、各種装置間のインピーダンス整合に利用することが
できる。
【0037】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る位相差検出
方法および測定装置によれば、互いに周波数が同一で位
相が異なる第1入力信号および第2入力信号のうちの第
1入力信号に基づいて第1入力信号と同一周波数でかつ
第1基準位相差分だけ互いに異なる第1生成信号および
第2生成信号を生成すると共に第2入力信号に基づいて
第2入力信号と同一周波数でかつ第2基準位相差分だけ
互いに異なるかまたは同一位相の第3生成信号および第
4生成信号を生成し、第1生成信号と第3生成信号とを
混合して第1および第3生成信号間の第1相対位相差を
検出すると共に第2生成信号と第4生成信号とを混合し
て第2および第4生成信号間の第2相対位相差を検出
し、この第1相対位相差および第2相対位相差の2つの
パラメータに基づいて第1入力信号および第2入力信号
間の位相差を検出することにより、一方の入力信号に対
する他方の入力信号の進みまたは遅れ情報を含む両入力
信号の位相差(真の位相差)を正確に検出することがで
きる。
【0038】また、本発明に係る位相差検出方法および
測定装置によれば、信号生成ステップにおいて、第1基
準位相差を90゜とし、かつ各位相を同一にして第3生
成信号および第4生成信号を生成することで、両入力信
号間の真の位相差を最も簡易に検出することができる。
【0039】また、本発明に係るインピーダンス検出方
法および測定装置によれば、接続対象体に接続された方
向性結合器によって出力された進行波および反射波をそ
れぞれ第1入力信号および第2入力信号として上記の位
相差検出方法に従って真の位相差を検出し、第1生成信
号と第3生成信号とを混合して両生成信号の振幅比を検
出するステップ、または第2生成信号と第4生成信号と
を混合して両生成信号の振幅比を検出するステップのい
ずれか一方を振幅比検出ステップとして実行し、位相差
検出方法によって検出された真の位相差と振幅比とに基
づいて接続対象体の入力インピーダンスを検出すること
により、接続対象体の入力インピーダンスを確実かつ正
確に検出することができる。
【0040】また、本発明に係る同軸型インピーダンス
整合装置によれば、制御部が、整合器本体における各誘
電体の各位置およびデータテーブルから求まる整合動作
開始時における整合器本体の固有インピーダンスと、そ
の状態において測定装置の演算部によって演算された接
続対象体としての整合器本体の入力インピーダンスとに
基づいて整合対象体の入力インピーダンスを算出して、
算出した整合対象体の入力インピーダンスに対する共役
インピーダンスと固有インピーダンスとが一致する各誘
電体の各位置をデータテーブルを参照して目標位置とし
て算出し、目標位置に各誘電体がそれぞれ位置するよう
に移動機構を制御することにより、フィードバック制御
を繰り返しながら整合要素の整合位置を決定する従来技
術とは異なり、フィードバック制御が不要となる結果、
インピーダンス整合を極めて高速に行うことができる。
また、インピーダンス整合が完全となる位置に誘電体が
位置するように移動制御することで、極めて完全な整合
状態となるようにインピーダンス整合を行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る同軸型インピーダン
ス整合装置4を用いたプラズマ装置1の構成図である。
【図2】整合器本体11の側面断面図および移動機構2
1の側面図である。
【図3】整合器本体11の概念図である。
【図4】メモリ35に記憶されたデータテーブルDT1
の内容を説明するための説明図である。
【図5】整合装置4によるインピーダンス整合動作を説
明するためのフローチャートである。
【図6】従来のスラグチューナ51の構成図である。
【符号の説明】
1 プラズマ装置 2 高周波発生部 3 方向性結合器 4 整合装置(同軸型インピーダンス整合装置) 5 処理室 11 整合器本体 12 外部導体 13 内部導体 14,15 スラグ 21 移動機構 32a,32b バンドパスフィルタ 33a,33b 移相分配器 34a,34b 混合器 35 メモリ 36 演算制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河西 繁 東京都港区赤坂五丁目3番6号 TBS放 送センター 東京エレクトロン株式会社内 (72)発明者 荻野 貴史 東京都港区赤坂五丁目3番6号 TBS放 送センター 東京エレクトロン株式会社内 (72)発明者 長田 勇輝 東京都港区赤坂五丁目3番6号 TBS放 送センター 東京エレクトロン株式会社内 Fターム(参考) 2G028 AA01 AA02 BB05 BE01 CG08 CG15 CG17 CG18 DH05 DH09 DH15 GL02 2G030 AA01 AB03 AB05 AC08 AD08 AF01 AG06

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに周波数が同一で位相が異なる第1
    入力信号および第2入力信号を入力し、 前記第1入力信号に基づいて当該第1入力信号と同一周
    波数でかつ第1基準位相差分だけ互いに異なる第1生成
    信号および第2生成信号を生成すると共に前記第2入力
    信号に基づいて当該第2入力信号と同一周波数でかつ第
    2基準位相差分だけ互いに異なるかまたは同一位相の第
    3生成信号および第4生成信号を生成する信号生成ステ
    ップを実行し、 前記第1生成信号と前記第3生成信号とを混合して当該
    第1および第3生成信号の相対位相差を第1相対位相差
    として検出すると共に前記第2生成信号と前記第4生成
    信号とを混合して当該第2および第4生成信号の相対位
    相差を第2相対位相差として検出する相対位相差検出ス
    テップを実行し、 真の位相差が既知の前記両入力信号に対して前記信号生
    成ステップおよび前記相対位相差検出ステップを実行し
    たときに検出される前記両相対位相差を当該各真の位相
    差にそれぞれ対応させて予め規定した当該両相対位相差
    の各々と前記相対位相差検出ステップで検出した前記両
    相対位相差とを比較して一致またはほぼ一致する当該両
    相対位相差に対応する前記真の位相差を前記入力した両
    入力信号の位相差として検出する位相差検出方法。
  2. 【請求項2】 前記信号生成ステップにおいて、前記第
    1基準位相差を90゜とし、かつ各位相を同一にして前
    記第3生成信号および前記第4生成信号を生成する請求
    項1記載の位相差検出方法。
  3. 【請求項3】 接続対象体に接続された方向性結合器に
    よって出力された進行波および反射波をそれぞれ前記第
    1入力信号および前記第2入力信号として請求項1また
    は2記載の位相差検出方法に従って前記真の位相差を検
    出し、 前記第1生成信号と前記第3生成信号とを混合して当該
    両生成信号の振幅比を検出するステップ、または前記第
    2生成信号と前記第4生成信号とを混合して当該両生成
    信号の振幅比を検出するステップのいずれか一方を振幅
    比検出ステップとして実行し、 前記位相差検出方法によって検出された前記真の位相差
    と前記振幅比検出ステップによって検出した前記振幅比
    とに基づいて前記接続対象体の入力インピーダンスを検
    出するインピーダンス検出方法。
  4. 【請求項4】 入力した第1入力信号に基づいて当該第
    1入力信号と同一周波数でかつ第1基準位相差分だけ互
    いに異なる第1生成信号および第2生成信号を生成して
    分配する第1信号分配器と、 前記第1入力信号と周波数が同一で位相が異なる第2入
    力信号を入力して当該第2入力信号に基づいて当該第2
    入力信号と同一周波数でかつ第2基準位相差分だけ互い
    に異なるかまたは同一位相の第3生成信号および第4生
    成信号を生成して分配する第2信号分配器と、 前記第1生成信号と前記第3生成信号とを混合して当該
    両生成信号の相対位相差を第1相対位相差として検出す
    る第1混合器と、 前記第2生成信号と前記第4生成信号とを混合して当該
    両生成信号の相対位相差を第2相対位相差として検出す
    る第2混合器と、 前記両混合器によって検出された前記両相対位相差、前
    記第1基準位相差、および前記第3生成信号と前記第4
    生成信号との位相差に基づいて前記両入力信号の真の位
    相差を検出する検出部とを備えている測定装置。
  5. 【請求項5】 前記第1信号分配器は、前記第1基準位
    相差を90゜として前記両生成信号を生成して分配し、
    前記第2信号分配器は、各位相を同一にして前記第3生
    成信号および前記第4生成信号を生成して分配する請求
    項4記載の測定装置。
  6. 【請求項6】 前記各信号分配器は、接続対象体に接続
    された方向性結合器によって出力された進行波および反
    射波をそれぞれ前記第1入力信号および前記第2入力信
    号として入力可能に構成され、 前記第1混合器および前記第2混合器のいずれか一方
    は、入力した前記両生成信号を混合して当該両生成信号
    の振幅比を検出可能に構成され、 前記検出部によって検出された前記真の位相差と前記検
    出された振幅比とに基づいて前記接続対象体の入力イン
    ピーダンスを演算する演算部を備えている請求項4また
    は5記載の測定装置。
  7. 【請求項7】 管状の外部導体、当該外部導体内に配設
    された内部導体、および前記外部導体の内面と前記内部
    導体の外面との間の隙間内に移動可能に配設された複数
    の誘電体を有すると共に方向性結合器と整合対象体との
    間に配設された整合器本体を備え、その固有インピーダ
    ンスが前記外部導体内における前記各誘電体の位置に応
    じた値に制御される同軸型インピーダンス整合装置であ
    って、 前記各誘電体を移動させる移動機構と、前記整合器本体
    の固有インピーダンスと前記各誘電体の各位置とを対応
    させたデータテーブルを記憶する記憶部と、請求項6記
    載の測定装置と、前記移動機構を制御する制御部とを備
    え、 前記制御部は、前記整合器本体における前記各誘電体の
    前記各位置および前記データテーブルから求まる整合動
    作開始時における当該整合器本体の固有インピーダンス
    と、その状態において前記測定装置の前記演算部によっ
    て演算された前記接続対象体としての当該整合器本体の
    前記入力インピーダンスとに基づいて前記整合対象体の
    入力インピーダンスを算出して、当該算出した整合対象
    体の入力インピーダンスに対する共役インピーダンスと
    前記固有インピーダンスとが一致する前記各誘電体の前
    記各位置を前記データテーブルを参照して目標位置とし
    て算出し、当該目標位置に前記各誘電体がそれぞれ位置
    するように前記移動機構を制御する同軸型インピーダン
    ス整合装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007109457A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Nagano Japan Radio Co プラズマ処理装置用自動整合器の制御方法
JP2008210599A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Nagano Japan Radio Co プラズマ処理装置
JP2008210598A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Nagano Japan Radio Co プラズマ処理装置用整合器、プラズマ処理装置、および整合方法
JP5502070B2 (ja) * 2009-03-27 2014-05-28 東京エレクトロン株式会社 チューナおよびマイクロ波プラズマ源
CN103943449A (zh) * 2013-06-28 2014-07-23 厦门天马微电子有限公司 一种射频串扰的测量方法、设备和系统
JP2020167166A (ja) * 2017-08-14 2020-10-08 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、プラズマ生成装置、半導体装置の製造方法およびプログラム

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007109457A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Nagano Japan Radio Co プラズマ処理装置用自動整合器の制御方法
JP2008210599A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Nagano Japan Radio Co プラズマ処理装置
JP2008210598A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Nagano Japan Radio Co プラズマ処理装置用整合器、プラズマ処理装置、および整合方法
JP5502070B2 (ja) * 2009-03-27 2014-05-28 東京エレクトロン株式会社 チューナおよびマイクロ波プラズマ源
CN103943449A (zh) * 2013-06-28 2014-07-23 厦门天马微电子有限公司 一种射频串扰的测量方法、设备和系统
JP2020167166A (ja) * 2017-08-14 2020-10-08 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、プラズマ生成装置、半導体装置の製造方法およびプログラム
JP7030157B2 (ja) 2017-08-14 2022-03-04 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、プラズマ生成装置、半導体装置の製造方法およびプログラム
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