JP2003332365A - オーブン内で基板を移送する装置 - Google Patents

オーブン内で基板を移送する装置

Info

Publication number
JP2003332365A
JP2003332365A JP2003090231A JP2003090231A JP2003332365A JP 2003332365 A JP2003332365 A JP 2003332365A JP 2003090231 A JP2003090231 A JP 2003090231A JP 2003090231 A JP2003090231 A JP 2003090231A JP 2003332365 A JP2003332365 A JP 2003332365A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
rail
oven
passage
lead frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003090231A
Other languages
English (en)
Inventor
Reto Schmid
レト シュミット
Guido Suter
グイド スーター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Besi Switzerland AG
Original Assignee
Esec Trading AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Esec Trading AG filed Critical Esec Trading AG
Publication of JP2003332365A publication Critical patent/JP2003332365A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67706Mechanical details, e.g. roller, belt
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/6776Continuous loading and unloading into and out of a processing chamber, e.g. transporting belts within processing chambers

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の目的は、小ロットでも、
かなりの程度まで自動に処理できるように種々の基板の
処理の場合に用意に設定できる位相装置を開発すること
にある。 【解決手段】 オーブン(3)内で基板(2)
を移送する装置(4)において、オーブン(3)は、床
(10)と2つの側面(11、12)から形成される通
路(9)を有し、基板(2)は、移送方向(x’)に通
路(9)内で移送され、通路(9)の床(10)は、レ
ール(14)を受容し、かつ移送方向(x’)に案内す
る、1つの側面(11)に沿って設けられる窪み(1
3)を有し、レール(14)は、少なくとも1つの基板
(2)を受容するように設定される装置(4)であっ
て、レール(14)を移送方向(x’)に動かす駆動機
構をさらに備える装置(4)である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、オーブン内で基板
を移送する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体チップの取付けの場合、作業中に
ハンダ接続部を経て半導体チップから生じる熱損失の有
効な放散を保証するために、半導体チップ、主に電力半
導体を軟質ハンダの手段により基板へ接続するのが通常
である。基板への半導体チップの取付けは、ハンダが溶
融する比較的高い温度で実施される。したがって移送装
置へは、高度の要求がなされる。
【0003】金属基板、所謂リードフレームは、順次
に、または随意に、隣接して配置されるチップアイラン
ド上に半導体チップをハンダ付けする場合、主に基板と
して使用される。リードフレームは、段階的に、ハンダ
が付けられるハンダ付け作業端末へ供給され、ついで接
着作業端末へ送られ、そこにおいて半導体チップが、ピ
ックアンドプレースシステムにより液体ハンダ上に載置
される。リードフレームは、その縦方向縁部に沿って配
置される孔を有し、リードフレームを移送するときに、
その孔にピンが係合する。このプロセスに好適なダイボ
ンダーが、2007 SSIの名称で出願者により市販
されている。
【0004】しかしながら、単一位置基板、所謂単一基
板も、基板として使用される。そのような単一位置基板
は、例えば、両側が金属層で覆われる1つのセラミック
ディスクから構成される。半導体チップの取付けは手動
で実施され、まずハンダ予備成形物と呼ばれる予備成形
されたハンダ部分が、単一位置基板上に載置され、つい
で半導体チップがハンダ部分上に載置される。その後に
複合物全体が、オーブン内でハンダ付けされる。半自動
組立プロセスも知られており、それにより、ハンダ予備
成形物の代わりに、ペースト状態のハンダが、単一位置
基板へ機械的に付けられる。その後に単一位置基板に
は、半導体チップが手動で取付けられ、ついでオーブン
内で再びハンダ付けされる。
【0005】さらに、両側が金属層で覆われるセラミッ
クディスクもまた基板として使用され、その基板には、
同種または異種の多くの半導体チップが取付けられる。
これらの基板の処理は、小ロット生産の場合に手動で実
施される。自動処理は、既知の移送装置を、それぞれの
基板について個別に設計しなければならないので、大量
生産の場合にのみ経済的である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、小ロ
ットでも、かなりの程度まで自動的に処理できるよう
に、種々の基板の処理の場合に容易に設定できる移送装
置を開発することにある。加えて移送装置は、実験室に
おける個別の試行にも適切でなければならない。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、請求項1で示
される特徴から成る。好都合な構造は、従属請求項から
得られえる。
【0008】
【発明の実施の形態】半導体チップの基板上へのハンダ
付けの手段による取付けの場合、オーブン内で、基板
は、ハンダが付けられるハンダ付け作業端末へ移送さ
れ、ついで接着作業端末へ送られ、そこにおいて半導体
チップが、溶融されたハンダ上に配設される。そのよう
に実施する際に基板は、床と2つの側壁から形成される
通路内で移送方向に移送される。本発明によれば、通路
の床は、レールを受容し、かつ移送方向にレールを案内
するために、側壁の1つに沿って設けられる窪みを有す
る。そのレールは、少なくとも1つの基板を受容するよ
うに設定される。駆動機構が、レールを移送方向に動か
す。基板がリードフレームである場合、リードフレーム
を、レールへネジ止めできるか、またはクランプ止めに
より固定できる。セラミック基板を移送する場合、セラ
ミック基板を受容するために移送方向に直角に設けられ
る伸張アームを、レール上に取付けできる。
【0009】
【実施例】以下において、縮尺に従うことなく描かれた
概略図に基づいて、本発明の実施例が詳細に説明され
る。
【0010】図1は、半導体チップ1を基板2上にハン
ダ付けするダイボンダーの平面図を概略で示す。ダイボ
ンダーは、基板2を移送方向x’に前送りする移送装置
4を有し、2つの水平方向xとyに移動自在のオーブン
3と、ハンダ付け作業端末5と、および接着作業端末6
とから構成される。移送方向x’は、方向xと平行であ
る。ハンダ付け作業端末5は、ハンダ付け作業端末にお
いて設定される基板位置へハンダ部分7を付けるように
機能し、また接着作業端末6は、接着作業端末6におい
て設定される基板位置上に半導体チップ1を載置するよ
うに機能する。図面においてハンダ部分7は、純粋に説
明用の理由のために円形で示され、一方、半導体チップ
1は方形で示される。基板2は、順次に手動または自動
的に供給され、ついでオーブン3を通して移送方向x’
に移送装置4により段階的に移送される。それぞれの段
階の場合に基板2は、ピッチと呼ばれる所定の間隔Pだ
けさらに移送される。所定の温度プロフィールが、図示
されない手段によりオーブン3内に生成される。ハンダ
付け作業端末5の処理箇所と接着作業端末6の処理箇所
との間隔は、ハンダ部分7をハンダ付け作業端末5にお
いて付けると同時に、半導体チップ1を接着作業端末6
において配設できるように、間隔Pの整数倍になる。
【0011】一方では、間隔Pだけの前送り毎に1つの
半導体チップ1だけが取付けられる基板2がある。他方
では、間隔Pだけの前送り毎に幾つかの半導体チップ1
が取付けられる基板2がある。これらの基板の場合にオ
ーブン3は、ハンダ付け作業端末5と接着作業端末6に
関して基板2を正確に位置決めするために、移送装置4
と共にx方向および/またはy方向に動かされる。
【0012】図2は、本発明の理解に適切なオーブン3
および移送装置4の詳細を示す。図2は、図1の線I−
Iについての断面図である。オーブン3は、その中で基
板2が前方へ移送される平床10および2つの側壁11
と12により形成されるような通路9が設けられるとこ
ろのオーブン本体8を有する。通路9は、第1の側壁1
1に沿って設けられる窪み13を床10に有する。窪み
13は、例えばL形レール14を案内する案内スロット
として機能する。レール14は、1つの基板2または幾
つかの基板2を受容する。移送装置4には、間隔Pの整
数倍で配置される幾つかの指状部16を有する駆動機構
15が備えられ、上昇および下降が可能で、下降状態に
おいてレール14を移送方向x’に段階的に移送するの
で、レール14が窪み13内で案内される。通路9は、
カバープレート17により覆われる。カバープレート1
7は、レール14に実際には接触しないが、レール14
が場合によっては窪み13から飛び出すのを防止する。
カバープレート17は、指状部16用の開口部を有す
る。
【0013】一般に不活性ガス体が、通路9内で大部分
を占める。不活性ガスは、従来技術では普通であるよう
に、例えば、通路9の床10に設けられるドリル孔を通
して供給できる。
【0014】図3は、レール14の側面図である。レー
ル14は、間隔Pで配置される窪み18を有する。レー
ル14の前送りの場合、移送装置4の指状部16(図
2)は、指状部それぞれが、レール14の窪み18のそ
れぞれと係合するように、下げられる。
【0015】図2の例において基板2は、金属リードフ
レームである。一般にそのようなリードフレームは、銅
から成る。レール14は、リードフレームと同一の熱膨
張係数を有するクロム鋼から製造される。リードフレー
ムは、種々の仕方で、例えば単一のネジ19の手段によ
りレール14へ固定できる。オーブン3内で加熱および
冷却すると、レール14とリードフレームの長さは、種
々の速度で変化する。単一のネジ19の手段による装着
は、加熱および冷却の際に、リードフレームが機械的応
力を受けないままであることを保証する。
【0016】図4は、リードフレーム20がクランプ止
めによりレール14へ固定される解決手段の平面図を示
す。リードフレーム20の内部構造部材は示されない。
レール14は、例えば、その前端部21において2本の
ボルト22と23を有する。それらの間隔は、ボルト2
2と23がリードフレーム20の孔24内で係合すると
きにリードフレーム20がクランプ止めにより保持され
るように、寸法が決められる。リードフレーム20は、
一般的に長さが約20cmである。したがって、リード
フレーム20における別の、好ましくは縦方向孔27に
おいて係合する更なるボルト26をレール14が、その
後端部25において有するときは、好都合である。ボル
ト26は、リードフレーム20をクランプ止めするよう
に機能しないが、その縦方向縁部がレール14上に載置
されるようにリードフレーム20を案内するだけであ
る。
【0017】リードフレームのピッチが移送装置のピッ
チと一致しない場合は、リードフレームを、より小さい
個別の部材に分離できる。ついで、そのような個別の部
材を1つのレール14へ固定できる。
【0018】レール14の外形は、リードフレームへ容
易に適応させることができる。一方では、完全に平坦な
リードフレームがあり、他方では、その縦方向縁部が中
間に関して高いか、または低いリードフレームがある。
【0019】図5は、セラミック基板28に好適なレー
ル14の実施例を示す。レール14には、その縦方向軸
29に対して直角で設けられる伸張アーム30が備えら
れ、それらのアームは、間隔Pまたは間隔Pの整数倍で
配置される。伸張アーム30を、異なる多くの方法で形
成できる。そのアームの機能は、レール14と共に、規
定された位置においてセラミック基板28を受容し、か
つその基板を移送方向x’に移送することにある。図5
に示される例の場合、伸張アーム30は、縁部に沿って
設けられる窪み31を有する。窪み31の長さLは、
セラミック基板28を、上から内部に挿入でき、かつレ
ール14の側壁32上に載置できるように寸法が決めら
れる。移送中にセラミック基板28は、伸張アーム30
上に、および随意には、レール14上に載置される。窪
み31と共に、伸張アーム30の形態は、セラミック基
板28が摺動離脱するのを防止する。伸張アーム30の
幅は、セラミック基板28の幅および間隔Pへ適応され
る。伸張アームは、例えば、ネジ19でレール14へ固
定される。この例において2つの伸張アーム30間の間
隔は、ピッチ間隔Pの2倍に相当する。
【0020】図6は、2つの伸張アーム30間に挿入さ
れたセラミック基板28の図5の線II−IIについて
の断面図を示す。セラミック基板28は、両側面上が金
属層34と35で覆われる、セラミックから成る本体3
3を有する。金属層34と35は、本体33の一方の縁
部を覆わないままにしている。窪み31および伸張アー
ム30間の間隔は、セラミック基板28の覆われない縁
部だけが伸張アーム30上に載置されるように、寸法が
決められる。加えて、窪み31における伸張アーム30
の厚さは、セラミック基板28がオーブン3の床10
(図2)上に載置されるように、金属層34の厚さと同
一であるように選択される。
【0021】図7は、図6と類似の例の断面図を示し、
そこにおいて、セラミック基板28を側面から押込むこ
とができるように、伸張アーム30は溝36を有する。
伸張アーム30の長さは、その縁部がセラミック基板2
8の縁部と揃うように、寸法が決められる。セラミック
基板28の縁部とオーブン本体8の側壁12(図2)と
の間の予想される間隙は、セラミック基板28がy方向
(図1)に摺動離脱できないように、プレートの手段に
より充填される。
【0022】
【発明の効果】本発明により、オーブン3の通路9の幅
未満の幅を有する基板の自動処理ができる。加えて、本
発明により、金属基板やセラミック基板のような種々の
種類の基板の処理ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、移送装置を設けたオーブンを有するダ
イボンダーの平面図を示す。
【図2】図2は、図1の線I−Iについてのオーブンと
移送装置の断面図を示す。
【図3】図3は、レールの側面図を示す。
【図4】図4は、レールとリードフレームの平面図を示
す。
【図5】図5は、セラミック基板を移送する、伸張アー
ムを有するレールを示す。
【図6】図6は、図5の線II−IIについての伸張ア
ームとセラミック基板の断面図を示す。
【図7】図7は、伸張アームのセラミック基板との相互
作用の別の例を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 スーター グイド スイス国 CH−6312 シュタインハウゼ ン ホークヴァクトシュトラーセ 38 Fターム(参考) 5E319 AA03 AC01 BB05 CC33 CD35 GG15 5F047 FA51

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オーブン(3)内で基板(2)を移送す
    る装置(4)において、オーブン(3)は、床(10)
    と2つの側面(11、12)から形成される通路(9)
    を有し、基板(2)は、移送方向(x’)に通路(9)
    内で移送され、通路(9)の床(10)は、レール(1
    4)を受容し、かつ移送方向(x’)に案内する、1つ
    の側面(11)に沿って設けられる窪み(13)を有
    し、レール(14)は、少なくとも1つの基板(2)を
    受容するように設定される装置(4)であって、レール
    (14)を移送方向(x’)に動かす駆動機構をさらに
    備える装置(4)。
  2. 【請求項2】 レール(14)は、少なくとも1つの基
    板(2)をネジ(19)の手段によりレール(14)へ
    固定するためのドリル孔を有する、請求項1による装置
    (4)。
  3. 【請求項3】 レール(14)は、少なくとも1つの基
    板(2)における孔(24)において係合し、かつ基板
    (2)を固定クランプ止めする少なくとも1本のボルト
    (22;23)を有する、請求項1による装置(4)。
  4. 【請求項4】 レール(14)は、少なくとも1つの基
    板(2)を受容する伸張アーム(30)を有する、請求
    項1による装置(4)。
  5. 【請求項5】 レール(14)は、移送段階において駆
    動機構(15)の指状部(16)が中で係合する窪み
    (18)を有する、請求項1から4のいずれかによる装
    置(4)。
JP2003090231A 2002-04-03 2003-03-28 オーブン内で基板を移送する装置 Pending JP2003332365A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP02007561.0 2002-04-03
EP02007561A EP1351279A1 (de) 2002-04-03 2002-04-03 Vorrichtung zum Transportieren von Substraten in einem Ofen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003332365A true JP2003332365A (ja) 2003-11-21

Family

ID=27838059

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003090231A Pending JP2003332365A (ja) 2002-04-03 2003-03-28 オーブン内で基板を移送する装置

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP1351279A1 (ja)
JP (1) JP2003332365A (ja)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4624358A (en) * 1983-03-07 1986-11-25 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Device for transferring lead frame
JP3125423B2 (ja) * 1992-04-01 2001-01-15 松下電器産業株式会社 リードフレーム搬送装置
US6030857A (en) * 1996-03-11 2000-02-29 Micron Technology, Inc. Method for application of spray adhesive to a leadframe for chip bonding
JP3567737B2 (ja) * 1998-06-05 2004-09-22 松下電器産業株式会社 リードフレームの搬送装置
EP1109206B1 (de) * 1999-12-16 2007-08-29 Infineon Technologies AG Prozessanlage und Prozessverfahren zur Montage von Leadframes

Also Published As

Publication number Publication date
EP1351279A1 (de) 2003-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1958730B1 (en) Machining apparatus and machining method
WO2011111989A2 (ko) 금속접합 세라믹기판
US6722412B2 (en) Die bonder
WO2004052068A1 (ja) 基板搬送装置、部品実装装置、及び部品実装における基板搬送方法
CN101304064A (zh) 采用激光在热沉背部加热的led芯片与热沉键合方法
JP2004006649A (ja) 電子デバイス製造装置、電子デバイスの製造方法および電子デバイスの製造プログラム
JP2003332365A (ja) オーブン内で基板を移送する装置
JP2005294621A (ja) ワイヤボンディング装置及びワイヤボンディング方法
US20030190574A1 (en) Apparatus for transporting substrates in an oven
JP7121763B2 (ja) 樹脂モールド装置及び樹脂モールド方法
JPH05347321A (ja) リードフレームの予備半田付け方法
US6736307B2 (en) Method for mounting leadframes
JPH11121921A (ja) 電子部品のはんだ付け方法および装置
JPH10178268A (ja) 電子部品のはんだ付け方法および装置
US6820793B2 (en) Apparatus for the transport and equipping of substrates with semiconductor chips
KR101297372B1 (ko) 반도체 칩 부착 장치
CN217444349U (zh) 输送托盘及半导体装置的制造装置
JP3252737B2 (ja) リフロー式はんだ付方法及びワーク搬送治具
JPH11224889A (ja) 電子部品共晶ボンディング用ヒートブロック
JP3214319B2 (ja) 導電性ボールの搭載方法
JP2003059954A (ja) 基板の搬送および基板への半導体チップ搭載装置
EP1170788A2 (en) Method and apparatus for mounting semiconductor chips onto a flexible substrate
JP3263349B2 (ja) 部品の熱処理装置及びそれを適用したチップボンダ
US20050126696A1 (en) Snap cure device for semiconductor chip attachment
TW201528408A (zh) 安裝裝置及安裝方法