JP2003322670A - プリント基板検査装置 - Google Patents

プリント基板検査装置

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JP2003322670A
JP2003322670A JP2002128340A JP2002128340A JP2003322670A JP 2003322670 A JP2003322670 A JP 2003322670A JP 2002128340 A JP2002128340 A JP 2002128340A JP 2002128340 A JP2002128340 A JP 2002128340A JP 2003322670 A JP2003322670 A JP 2003322670A
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lever
elevating
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Seiya Mochizuki
誠也 望月
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Kyoritsu Electric Corp
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Kyoritsu Electric Corp
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、例えば、プリント基板若しくはプ
リント実装基板の電気的導通や実装部品の性能等を検査
するプリント基板検査装置に関し、プリント基板のソリ
を防止して能率的な作業のできる治具を得ることが課題
である。 【解決手段】 プリント基板21を該基板平面の略直交
方向に昇降自在な押さえ棒2で保持するとともに、前記
基板平面の略直交方向に昇降自在なプローブピンを介し
て前記プリント基板を検査するプリント基板検査装置で
あって、前記押さえ棒を昇降させる押さえ棒昇降手段1
0と、前記押さえ棒2で前記プリント基板21を保持し
ている状態において前記プローブピンを昇降させるピン
昇降手段11とを有してなるプリント基板検査装置1と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、プリント
基板若しくはプリント実装基板の電気的導通や実装部品
の性能等を検査するプリント基板検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、検査治具であるプリント基板検査
装置としては、図9に示すように、例えば、両面実装用
のプリント基板21に、ベース板上下22a,22bを
プレスして、バネ付き押さえ棒23で前記プリント基板
21を挟持すると共に、プローブ24のピン24aをプ
リント基板21の所定の箇所に当接させて、回路の断線
等を検査するものが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記バ
ネ付き押さえ棒23でプリント基板21を挟持しながら
プレスしていく途中で、プリント基板21にソリが生じ
て、実装部品とプリント基板との間にストレスが生じる
ことになる。本発明に係るプリント基板検査装置は、こ
のような課題を解消するために提案されたものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプリント基
板検査装置の上記課題を解決するための要旨は、プリン
ト基板を該基板平面の略直交方向に昇降自在な押さえ棒
で保持するとともに、前記基板平面の略直交方向に昇降
自在なプローブピンを介して前記プリント基板を検査す
るプリント基板検査装置であって、前記押さえ棒を昇降
させる押さえ棒昇降手段と、前記押さえ棒で前記プリン
ト基板を保持している状態において前記プローブピンを
昇降させるピン昇降手段とを有してなることである。
【0005】前記押さえ棒昇降手段は、回転軸を中心に
駆動源によって揺動されるレバーであり、押さえ棒を植
設してなる押さえ板には、前記レバーの先端部に係合し
てプリント基板平面の略直交方向に昇降される昇降受け
面と、該昇降受け面に連続して、且つ、前記レバーの揺
動軌跡に沿った曲面に形成され前記押さえ板の昇降移動
に寄与しない移動停止面と、を有する昇降規制部材が設
けられていること、;また、前記ピン昇降手段は、プロ
ーブピンが植設されてなるピンボードに係合してプリン
ト基板平面の略直交方向に当該ピンボードを昇降させ、
且つ、押さえ棒昇降手段によってプリント基板が保持さ
れている状態において当該押さえ棒昇降手段の揺動によ
って揺動されるレバーであること、;更に、ピン昇降手
段には、押さえ棒昇降手段が押さえ棒を介してプリント
基板を保持している状態の時に、当該押さえ棒昇降手段
の一部が係合するU字型溝が設けられていること、;そ
して、前記ピン昇降手段には、プリント基板を間におい
て対向配置にされた両ピンボードに係合するとともに、
該ピン昇降手段におけるレバーの回転軸を中心にして対
称配置にされた昇降係合部材が配設されており、前記レ
バーの回転軸を中心にピン昇降手段が揺動されること
で、前記両ピンボードが前記プリント基板を狭装するよ
うに昇降し、該プリント基板の両面に前記ピンボードの
プローブピンが当接して検査が行われることを含むもの
である。
【0006】本発明に係るプリント基板検査装置によれ
ば、検査対象のプリント基板が、押さえ板に植設された
押さえ棒により保持され固定された後に、プローブピン
が昇降されてプリント基板の所定の箇所に当接し検査さ
れるようになる。よって、プリント基板がしっかりと固
定された後にプローブピンが該プリント基板に当接し
て、当該プローブピンの圧力によってプリント基板が反
ったり傾いたりすることがない。
【0007】前記押さえ棒を植設してなる押さえ板は、
昇降規制部材が設けられていて、該昇降規制部材に係合
する押さえ棒昇降手段の揺動によって、当該押さえ板に
よってプリント基板への固定作用が完了(第1段階)し
た後に、プリント基板平面の略直交方向に移動しないよ
うに保持される。そして、前記押さえ棒昇降手段が引き
続いて揺動することで、ピン昇降手段を揺動させてピン
ボードを昇降させる(第2段階)。こうして、前記押さ
え棒昇降手段の一連の揺動により、前記押さえ板とピン
ボードとが、2段階に分けて且つ連続的に移動される。
【0008】前記ピン昇降手段には、昇降係合部材が該
ピン昇降手段におけるレバーの回転軸を中心にして対称
配置にされているので、プリント基板の上下に配置され
たピンボードを同時に該プリント基板に向けて各々昇降
させることができる。よって、プリント基板の平面の片
側に配設された前記押さえ棒昇降手段を揺動させること
で、前記プリント基板の平面の両側に配設されたピンボ
ードを昇降させることができるようになる。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係るプリント基板
検査装置1について図面を参照して説明する。なお、発
明の理解を容易にするため、従来例に対応する部分に
は、従来例と同一符号を付けて説明する。
【0010】前記プリント基板検査装置1は、図1に示
すように、検査対象のプリント基板21を載置させて支
持する押さえ棒2を多数所定の位置に植設した下側の押
さえ板3と、ガイド棒4(基台5から4箇所に立設され
ている)に沿って昇降される上側の押さえ板6と、前記
押さえ板3,6との間に設けられガイド棒7(前記押さ
え板3から4箇所に立設されている)に沿って昇降され
る上側のピンボード8と下側のピンボード9と、前記上
側の押さえ板6をプリント基板21平面の略直交方向に
昇降させる押さえ棒昇降手段である一対のレバー10
と、該レバー10を回転軸10aを中心にして回転させ
る駆動レバー10bと、前記上下のピンボード8,9を
プリント基板21平面の略直交方向に昇降させるピン昇
降手段である一対のピンレバー11と、から概ね構成さ
れている。
【0011】前記上側の押さえ板6は、四角形状で例え
ば鋼製の平板体であり、その中央において大きく開口さ
れた開口部に透明アクリル板が取り付けられており、該
アクリル板の所定の位置に合成樹脂製の押さえ棒2が垂
設されている。
【0012】更に、前記押さえ板6の左右方向における
端部には、図1乃至図2に示すように、前後方向に沿っ
て昇降規制部材6aが設けられている。該昇降規制部材
6aは、図3(A)に示すように、前記レバー10の先
端部に設けられた回転自在なローラー10cに係合して
プリント基板21平面の略直交方向に昇降される昇降受
け面6bと、該昇降受け面6bに連続して、且つ、前記
レバー10の揺動軌跡に沿った曲面に形成され前記押さ
え板6の昇降移動に寄与しない移動停止面6cとを有す
る。
【0013】前記昇降規制部材6aが備えられているこ
とで、図3(B)に示すように、駆動レバー10bを人
力等で回転させてレバー10を上部初期位置からθ1回
転させると、レバー先端部のローラー10cによって下
方向に昇降受け面6bが押される。この昇降規制部材6
aは、S0(初期位置)からS1まで降下される。
【0014】更に、前記レバー10がθ2まで回転され
るが、この範囲では、前記ローラー10cが移動停止面
6cと当接するので、昇降規制部材6aが上下方向に移
動することがない。
【0015】よって、前記昇降規制部材6aを備えた前
記押さえ板6は、前記レバー10の符号θ1で示す範囲
で上下方向に昇降し、該レバー10の符号θ2で示す範
囲では上下方向に移動しないものである。
【0016】なお、前記レバー10は、図1に示すよう
に、左右に平行して一対設けられており、これを連結す
る回転軸10aと駆動レバー10bによって一体化さ
れ、同方向へ同時に回転するようにされている。
【0017】前記ピンレバー11は、図1に示すよう
に、基台5の側方の両方に立設された側板5a,5b
に、揺動自在に支持されている。このピンレバー11に
は、図4(A)に示すように、回転軸11aを対称にし
て、昇降係合部材である回転自在な狭装ローラー11
b,11cが紙面裏側に配設されている。
【0018】更に、ピンレバー11の上部には、U字型
溝11dが設けられている。このU字型溝11dには、
前記押さえ棒昇降手段のレバー10が押さえ棒2を介し
てプリント基板21を保持している状態の時に、即ち、
図3(B)に示すように、レバー10が符号θ2で示す
回転範囲において、当該レバー10の先端部側面に設け
られた係合ローラー10d(図4(B)参照)が係合す
るものである。
【0019】前記係合ローラー10dが前記U字型溝1
1dに係合することで、レバー10が、図4(B)に示
すように、略鉛直方向にまで揺動されると、ピンレバー
11が、図示した状態から略符号θ3で示す範囲で揺動
する。
【0020】前記ピンレバー11が揺動することで、図
5に示すように、プリント基板21を間において対向配
置にされた両ピンボード8,9に係合して、当該両ピン
ボード8,9が前記プリント基板21を狭装するように
昇降される。
【0021】即ち、ピンボード8,9の片側の側壁面に
は、図5(A),(B)に示すように、ピンボードの板
厚を利用した傾斜面(登り面)8a,9aが設けられて
いる。この傾斜面9a,9bに、前記ピンレバー11の
狭装ローラー11b,11cが、回転軸11aを中心に
して回転(傾いた状態から略鉛直状態へ回転)すると当
接するように配設されている。
【0022】前記ピンボード8は、初期状態から図5
(c)において示す位置に存在するのではなく、前記押
さえ板6がレバー10によって下方向に降下されたとき
に、介在物4a(ガイドブッシュの下部)が該押さえ板
6とピンボード8との間に介在して、このピンボード8
が降下し、前記図5(c)において示す位置に移動する
ものである。また、ピンボード9は、初期状態において
図5(c)において示す位置に存在している。
【0023】前記ピンレバー11が、図5(c)に示す
ように、傾斜状態から略鉛直方向に揺動されると、狭装
ローラー11b,11cが移動して前記傾斜面8a,9
aに当接し、更に、強制的に分力によりピンボード8を
下に移動させ、ピンボード9を上に移動させる。この狭
装ローラー11b,11cが略鉛直状態になったところ
でピンレバー11が揺動停止され、ピンボード8,9
は、それぞれストロークS2,S3昇降する。この昇降移
動により、ピンボード8,9に植設されているプローブ
ピン24のピン24aが、プリント基板21の所定の検
査位置に当接するものである。
【0024】以上のようにして構成されたプリント基板
検査装置1の使用方法について説明する。図1と図2と
に示す状態が、この装置1の初期状態である。かかる状
態では、押さえ板6とピンボード8とが上位置にエアー
ダンパー,引張りコイルバネ等で支持されている。下側
の押さえ板3に植設された押さえ棒2によりプリント基
板21が略水平に載置されている。下側のピンボード9
は、それに植設したプローブピン24が前記プリント基
板21の下面に当接しない位置で下押え棒で支持されて
いる。
【0025】ピンレバー11は、傾斜状態で、側板5
a,5bの上部に設けられた位置決め部材5cにより、
それ以上傾斜しないように規制されている。
【0026】次に、作業者の手で駆動レバー10bを下
に向けて回転させる。同時に、回転軸10aにより一対
のレバー10が回転し、ローラー10cが昇降規制部材
6aの昇降受け面6bを押し下げる。ガイド棒4に沿っ
て押さえ板6が降下する。また、介在物4aに押されガ
イド棒7に沿ってピンボード8も同時に降下する。
【0027】そして、レバー10がθ1まで回転する
と、図6に示す状態となる。前記押さえ板6は、図7に
示すように、降下が完了し、ピンボード8は、前記押さ
え板6によって同時に降下せしめられて、図6に示す状
態では、傾斜面8aがピンレバー11の狭装ローラー1
1bに当接可能位置に到達する。
【0028】前記プリント基板検査装置1の図6に示す
状態から、更に、前記駆動レバー10bを連続して駆動
・回転させると、前記ローラー10cが移動停止面6c
に当接するので、押さえ板6は上下方向に移動する事が
ない。また、レバー10の係合ローラー10d(図4
(B)参照)が、ピンレバー11のU字型溝11dにそ
の先端開口部から若干の遊嵌状態で入り込み、該ピンレ
バー11に係合する。
【0029】そして、図8に示すように、レバー10を
略鉛直方向にまでθ2回転させると、前記押さえ板6
は、図7に示すように、移動停止したままであり、一
方、ピンレバー11が鉛直方向に揺動され、図5に示す
ように、狭装ローラー11b,11cによってピンボー
ド8,9がプリント基板21面に向かって同時に昇降す
る。図8に示す状態では、レバー10とピンレバー11
とは略鉛直方向で一直線上に配置され、機構的な死点位
置となり、揺動しない。
【0030】これによって、プローブピン24のピン2
4aがプリント基板21の所定の位置に当接して、回路
の断線や実装部品の導通・性能等に関する、種々の検査
が開始される。この後、駆動レバー10bを上方向に戻
すことで、ピンボード8,9がプリント基板21から離
隔され、続いて押さえ板6及びピンボード8が、エアー
シリンダーにより上方向に移動される。その後、図1に
示す初期状態に戻る。
【0031】このようにして、駆動レバー10aによっ
て、レバー10が略90゜程度回転する間に、押さえ板
6が降下してプリント基板21が押さえ棒24によって
固定され、該押さえ板6が降下停止すると続いてピンレ
バー11が揺動し、ピンボード8,9が同時に鉛直方向
に昇降してプリント基板21をプローブピン24で狭装
する。従って、プリント基板21の固定、プローブピン
24によるプリント基板21の当接・検査、と分離され
た2段階操作が、レバー10による一連の連続した操作
で行われるものである。
【0032】なお、本発明のプリント基板検査装置1に
おいては、両面のプリント基板21に対して検査するよ
うに説明したが、下側のピンボード9を省略して、片面
のプリント基板の検査にも応用できるのはもちろんであ
る。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るプリ
ント基板検査装置は、プリント基板を該基板平面の略直
交方向に昇降自在な押さえ棒で保持するとともに、前記
基板平面の略直交方向に昇降自在なプローブピンを介し
て前記プリント基板を検査するプリント基板検査装置で
あって、前記押さえ棒を昇降させる押さえ棒昇降手段
と、前記押さえ棒で前記プリント基板を保持している状
態において前記プローブピンを昇降させるピン昇降手段
とを有してなるので、検査対象のプリント基板を固定し
た後に、プローブピンを当該プリント基板に当接させる
ようになり、プリント基板のソリがなく、安定した検査
を行うことができると言う優れた効果を奏するものであ
る。
【0034】前記押さえ棒昇降手段は、回転軸を中心に
駆動源によって揺動されるレバーであり、押さえ棒を植
設してなる押さえ板には、前記レバーの先端部に係合し
てプリント基板平面の略直交方向に昇降される昇降受け
面と、該昇降受け面に連続して、且つ、前記レバーの揺
動軌跡に沿った曲面に形成され前記押さえ板の昇降移動
に寄与しない移動停止面と、を有する昇降規制部材が設
けられているので、押さえ板によってプリント基板をし
っかりと固定した後は、この押さえ板が移動しないよう
にすることができて、2段階操作が可能となる。
【0035】前記ピン昇降手段は、プローブピンが植設
されてなるピンボードに係合してプリント基板平面の略
直交方向に当該ピンボードを昇降させ、且つ、押さえ棒
昇降手段によってプリント基板が保持されている状態に
おいて当該押さえ棒昇降手段の揺動によって揺動される
レバーであるので、プリント基板を固定した後に、プロ
ーブピンをプリント基板に当接させることができる。
【0036】前記ピン昇降手段には、押さえ棒昇降手段
が押さえ棒を介してプリント基板を保持している状態の
時に、当該押さえ棒昇降手段の一部が係合するU字型溝
が設けられているので、押さえ棒昇降手段である一つの
レバーにより、2段階操作を遂行させることができる。
【0037】前記ピン昇降手段には、プリント基板を間
において対向配置にされた両ピンボードに係合するとと
もに、該ピン昇降手段におけるレバーの回転軸を中心に
して対称配置にされた昇降係合部材が配設されており、
前記レバーの回転軸を中心にピン昇降手段が揺動される
ことで、前記両ピンボードが前記プリント基板を狭装す
るように昇降し、該プリント基板の両面に前記ピンボー
ドのプローブピンが当接して検査が行われるので、両面
のプリント基板に対して、前記押さえ棒昇降手段である
レバーによる連続した回転操作で、前記2段階操作を遂
行させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るプリント基板検査装置1の斜視図
である。
【図2】同本発明に係るプリント基板検査装置1の初期
状態を示す側面図である。
【図3】同本発明に係るプリント基板検査装置1におけ
る、昇降規制部材6aの斜視図(A)と、レバー10に
よる昇降規制部材6aの昇降状態を説明する説明図
(B)である。
【図4】同本発明に係るプリント基板検査装置1におけ
る、ピンレバー11の取付状態の側面図(A)と、この
ピンレバー11とレバー10との係合関係を示す機構的
リンク関係図(B)である。
【図5】同本発明に係るプリント基板検査装置1におけ
る、ピンボード8の一部斜視図(A)と、ピンボード9
の一部斜視図(B)と、ピンレバー11とピンボード
8,9との係合関係を説明する説明図(C)である。
【図6】同本発明に係るプリント基板検査装置1におけ
る、駆動レバー10bを回転させた途中の側面図であ
る。
【図7】同本発明に係るプリント基板検査装置1におけ
る、レバー10の回転角度θと、押さえ板6における鉛
直方向のストロークSとの関係を示す曲線図である。
【図8】同本発明に係るプリント基板検査装置1におけ
る、駆動レバー10bを回転させて略鉛直方向にして停
止させた状態の側面図である。
【図9】従来例におけるプリント基板検査装置の概略構
成を示す正面図である。
【符号の説明】
1 プリント基板検査装置、 2
押さえ棒、3 押さえ板、
4 ガイド棒、4a 介在
物、 5 基台、5a
側板、 5b
側板、5c 位置決め部材、
6 押さえ板、6a 昇降規制部材、
6b 昇降受け面、6c
移動停止面、 7 ガ
イド棒、8,9 ピンボード、
8a,9a 傾斜面、10 レバー、
10a 回転軸、10b 駆
動レバー、 10c ローラ
ー、10d 係合ローラー、 11
ピンレバー、11a 回転軸、
11b,11c狭装ローラー、11d
U字型溝、 21 プ
リント基板、24 プローブピン、
24a ピン。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プリント基板を該基板平面の略直交方向に
    昇降自在な押さえ棒で保持するとともに、前記基板平面
    の略直交方向に昇降自在なプローブピンを介して前記プ
    リント基板を検査するプリント基板検査装置であって、 前記押さえ棒を昇降させる押さえ棒昇降手段と、 前記押さえ棒で前記プリント基板を保持している状態に
    おいて前記プローブピンを昇降させるピン昇降手段とを
    有してなること、 を特徴とするプリント基板検査装置。
  2. 【請求項2】押さえ棒昇降手段は、回転軸を中心に駆動
    源によって揺動されるレバーであり、 押さえ棒を植設してなる押さえ板には、 前記レバーの一部に係合してプリント基板平面の略直交
    方向に昇降される昇降受け面と、 該昇降受け面に連続して、且つ、前記レバーの揺動軌跡
    に沿った曲面に形成され前記押さえ板の昇降移動に寄与
    しない移動停止面と、 を有する昇降規制部材が設けられていること、 を特徴とする請求項1に記載のプリント基板検査装置。
  3. 【請求項3】ピン昇降手段は、 プローブピンが植設されてなるピンボードに係合してプ
    リント基板平面の略直交方向に当該ピンボードを昇降さ
    せ、且つ、 押さえ棒昇降手段によってプリント基板が保持されてい
    る状態において当該押さえ棒昇降手段の揺動によって揺
    動されるレバーであること、 を特徴とする請求項1または2に記載のプリント基板検
    査装置。
  4. 【請求項4】ピン昇降手段には、押さえ棒昇降手段が押
    さえ棒を介してプリント基板を保持している状態の時
    に、当該押さえ棒昇降手段の一部が係合するU字型溝が
    設けられていること、 を特徴とする請求項2又は3に記載のプリント基板検査
    装置。
  5. 【請求項5】ピン昇降手段には、プリント基板を間にお
    いて対向配置にされた両ピンボードに係合するととも
    に、該ピン昇降手段におけるレバーの回転軸を中心にし
    て対称配置にされた昇降係合部材が配設されており、 前記レバーの回転軸を中心にピン昇降手段が揺動される
    ことで、前記両ピンボードが前記プリント基板を狭装す
    るように昇降し、該プリント基板の両面に前記ピンボー
    ドのプローブピンが当接して検査が行われること、 を特徴とする請求項1乃至4に記載のプリント基板検査
    装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006343197A (ja) * 2005-06-08 2006-12-21 Nhk Spring Co Ltd 検査装置
JP2008057986A (ja) * 2006-08-29 2008-03-13 Kyoritsu Denki Kk 基板検査装置
JP2016121963A (ja) * 2014-12-25 2016-07-07 株式会社日本マイクロシステム プレス装置及びインサーキットテスタ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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