JP2003316602A - Romエミュレータ - Google Patents

Romエミュレータ

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JP2003316602A
JP2003316602A JP2002123023A JP2002123023A JP2003316602A JP 2003316602 A JP2003316602 A JP 2003316602A JP 2002123023 A JP2002123023 A JP 2002123023A JP 2002123023 A JP2002123023 A JP 2002123023A JP 2003316602 A JP2003316602 A JP 2003316602A
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JP
Japan
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rom
emulator
logic analyzer
control unit
integrated circuit
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Pending
Application number
JP2002123023A
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English (en)
Inventor
Toshimitsu Omura
俊光 大村
Keiji Hoya
慶次 保谷
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MIDORIYA DENKI KK
MIDORIYA ELECTRIC
Cats Co Ltd
Original Assignee
MIDORIYA DENKI KK
MIDORIYA ELECTRIC
Cats Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ROMエミュレート中に、ROMの全信号の
安定した測定を行うこと。 【解決手段】 設計対象である集積回路に搭載されるR
OM301に接続して、ROMの動作をエミュレートす
るエミュレーション制御部220を備えたROMエミュ
レータ100に、ROM301からエミュレーション制
御部220に対して送出されるROM出力信号を取得
し、取得したROM出力信号を分析するロジックアナラ
イザ制御部210を内蔵した。このロジックアナライザ
制御部210は、エミュレーション制御部220ととも
に、FPGA101に組み込まれており、FPGA10
1の外部には、ROM出力信号を外部クロックに同期し
て書き込み動作を行うロジックアナライザ用PBSRA
M103を設けている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、設計対象である
集積回路基板に搭載されるROMに接続して、ROMの
動作をエミュレートするROMエミュレータに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、データ処理装置のソフトウェア
開発を行うために、開発時のデバッグ作業段階で、一時
的に、エミュレータを設計対象である集積回路基板上の
ROM(Read Only Memory)に接続し
て、ROMの動作のエミュレーションを行うROMエミ
ュレータが一般的に知られている。また、ROMの信号
を観測するためには、ロジックアナライザを、設計対象
である集積回路基板上のROMに、ROMエミュレータ
とは別個に接続して、ROMの出力信号をメモリに記憶
して信号波形を測定することが行われている。
【0003】図4は、従来のROMエミュレータ400
およびロジックアナライザ410と設計対象の集積回路
基板420上のROM421との接続状態を示す説明図
である。図4に示すように、設計対象の集積回路基板4
20のROMソケットに、ROMエミュレータ400の
ROMプローブ431を差し込み、集積回路基板420
上のROM421をROMエミュレータ400のRAM
(Random Access Memory)に置き
換えて、集積回路基板420のROM421の動作をエ
ミュレートしている。また、ロジックアナライザ410
のプローブ430をROMコネクタの端子に接続して、
ROM421からの出力信号をロジックアナライザ41
0によって取得し、ロジックアナライザ410のメモリ
に出力信号を記録している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ROMから
出力される信号は、一般的にアドレス信号として約20
本、データ信号として8〜32本、制御信号として3〜
5本の合計30〜60本となる。このため、従来のRO
Mエミュレータ400およびロジックアナライザ410
を使用してROM421のエミュレート中に信号の観測
を行うためには、図4に示すように、ROM421にR
OMエミュレータ400のROMプローブ431とロジ
ックアナライザ410のプローブ430とを別個に接続
しなければならないため、合計60〜120本のプロー
ブを接続しなければならない。
【0005】しかしながら、近年、集積回路は集積度や
サイズが極小化する方向となってきていることから、R
OMにすべてのプローブを接続するスペースを確保する
ことができず、ROMのエミュレート中にROMの全信
号の安定した測定を行うことができないという問題があ
る。
【0006】この発明は上記に鑑みてなされたもので、
ROMエミュレート中に、ROMの全信号の安定した測
定を行え、ROMの詳細な検証を行うことができるRO
Mエミュレータを得ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1にかかる発明は、設計対象である集積回路
基板に搭載されるROMに接続して、前記ROMの動作
をエミュレートするエミュレータ部を備えたROMエミ
ュレータであって、前記ROMから前記エミュレータ部
に対して送出されるROM出力信号を取得し、取得した
ROM出力信号を分析する論理回路分析部を備えたこと
を特徴とする。
【0008】この請求項1にかかる発明によれば、ロジ
ックアナライザの機能を有する論理回路分析部をROM
エミュレータに内蔵し、この論理回路分析部によって、
ROMからエミュレータ部に対して送出されるROM出
力信号を取得し、取得したROM出力信号を分析するこ
とで、ROMへの接続はROMエミュレータの接続だけ
で、ロジックアナライザの機能を実現できるので、RO
Mエミュレート中に、ROMの全信号の安定した測定を
行うことができる。
【0009】また、請求項2にかかる発明は、請求項1
に記載のROMエミュレータにおいて、前記論理回路分
析部と前記エミュレータ部は、再構成可能な集積回路に
搭載されることを特徴とする。
【0010】この請求項2にかかる発明によれば、論理
回路分析部とエミュレータ部は、再構成可能な集積回路
に搭載されることで、ROMエミュレータの機能とロジ
ックアナライザの機能とを一チップで実現することがで
きる。本発明における再構成可能な集積回路とは、FP
GA(Field Programmable Gat
e Array)、PLD(Programmable
Logic Device)などが含まれる。
【0011】また、請求項3にかかる発明は、請求項2
に記載のROMエミュレータにおいて、前記再構成可能
な集積回路の外部に設けられ、前記論理回路分析部によ
って取得したROM出力信号を記憶し、外部クロックに
同期して書き込み動作を行う記憶部をさらに備えたこと
を特徴とする。
【0012】この請求項3にかかる発明によれば、再構
成可能な集積回路の外部に設けられ、前記論理回路分析
部によって取得したROM出力信号を記憶し、外部クロ
ックに同期して書き込み動作を行う記憶部をさらに備え
たことで、ROM出力信号の記憶部への書き込みを高速
に行うことができ、信号分析のタイミングの遅延を防止
することができる。
【0013】また、請求項4にかかる発明は、請求項1
〜3のいずれか一つに記載のROMエミュレータにおい
て、前記論理回路分析部は、ROMプローブに接続され
る接続インタフェースを備えたことを特徴とする。
【0014】この請求項4にかかる発明によれば、論理
回路分析部は、ROMプローブに接続される接続インタ
フェースを備えたことで、接続インタフェースからプロ
ーブを介して集積回路基板上のROMに接続することも
でき、従来の接続方法との互換性を維持することができ
る。
【0015】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明にかかるROMエミュレータの好適な実施の形態を
詳細に説明する。図1は、本実施形態にかかるROMエ
ミュレータの内部構成を示す説明図である。図3は、本
実施形態にかかるROMエミュレータと設計対象の集積
回路基板上のROMの接続状態を示す説明図である。
【0016】本実施形態のROMエミュレータ100に
は、図1に示すように、CPU104と、RS232C
ドライバ105、フラッシュROM106、コントロー
ラ107、EPROM110、FPGA(Field
ProgrammableGate Array)11
1,101,113、拡張コネクタ115が設けられて
おり、それぞれCPU104とバスで接続された構造と
なっている。また、コントローラ107には、DRAM
108、イーサネット(R)コントローラ109がバス
で接続されている。
【0017】端子117には、図3に示すように、RO
Mプローブ306が接続され、このROMプローブ30
6が設計対象の集積回路基板300上のROM301の
ROMコネクタに接続される。従って、ROMの出力信
号は、端子117からFPGA101に入力される。
【0018】イーサネット(R)コントローラ109
は、図3に示すように、イーサネット(R)ケーブル3
05を介してPC(Personal Compute
r)304が接続されている。このPC304のディス
プレイ画面には、ROM301の出力信号のロジックア
ナライザコントロール画面やロジックアナライザによる
ROM出力信号の波形データの表示が行われる。
【0019】FPGA101は、本実施形態の再構成可
能な集積回路を構成するものであり、設計対象である集
積回路基板300上のROM301の動作をエミュレー
トするエミュレーション制御部と、ROMから出力され
る信号の分析を行うロジックアナライザ制御部とが論理
回路として組み込まれている。
【0020】そして、FPGA101には、エミュレー
ション用SRAM102と、ロジックアナライザ用PB
SRAM(Pipelined Burst SRA
M)103が接続されている。ここで、ロジックアナラ
イザ用PBSRAM103は、ロジックアナライザ制御
部によって取得したROM出力信号を、外部クロックに
同期して書き込んで格納するものである。ロジックアナ
ライザ用PBSRAM103は、本発明における記憶部
を構成する。
【0021】次に、FPGA101内部に組み込まれた
エミュレーション制御部とロジックアナライザ制御部に
ついて説明する。図2は、FPGA101の内部構造を
示す説明図である。
【0022】エミュレーション制御部220は、本発明
におけるエミュレータ部を構成し、集積回路基板300
のROM301をエミュレートする。エミュレーション
制御部220は、CPU制御部221と、ROMアドレ
ス制御部222と、ROMデータ制御部223が組み込
まれている。
【0023】ROMアドレス制御部222は、ROM3
01からアドレスバス241を介してアドレス信号を入
力し、エミュレーション用SRAM102に出力する。
また、ROMデータ制御部223は、ROM301から
データバス242を介してデータ信号を入力し、エミュ
レーション用SRAM102に出力する。CPU制御部
221は、CPU104とのインタフェースとなるもの
であり、CPU104のデータ信号、アドレス信号など
を入力してROMアドレス制御部222、ROMデータ
制御部223に出力し、集積回路基板300上のROM
301をエミュレーション用SRAM102に置き換え
ることによって、ROM301をエミュレートする。
【0024】ロジックアナライザ制御部210は、本発
明の論理回路分析部を構成し、ROM301の出力信号
を入力し、ロジックアナライザ用PBSRAM103に
出力して、信号の分析を行う。ロジックアナライザ制御
部210には、ロジアナデータ入力制御部211と、ロ
ジアナデータ外部入力制御部212と、PBSRAM制
御部213と、IOレジスタ214が組み込まれてい
る。
【0025】ロジアナデータ入力制御部211には、同
期クロック制御部230からの内部クロック信号の入力
と同期して、ROM301からのアドレス信号、Out
put Enable信号がアドレスバス251から入
力される。また、ロジアナデータ入力制御部211に
は、同期クロック制御部230からの内部クロック信号
の入力と同期して、ROM301からのデータ信号、C
hip Enable信号およびWrite Enab
le信号がデータバス252から入力される。
【0026】ここで、アドレスバス251は、ROMポ
ートからエミュレーション制御部220に接続されたア
ドレスバス241から分岐して、ロジアナデータ入力制
御部211に接続されており、またデータバス252
は、ROMポートからエミュレーション制御部220に
接続されたデータバス242から分岐して、ロジアナデ
ータ入力制御部211に接続されている。このため、R
OM301からのアドレス信号、データ信号などの出力
信号は、エミュレーション制御部220に入力されると
同時にロジックアナライザ制御部210にも入力される
ことになる。
【0027】ロジックアナライザ用外部プローブにRO
M301以外のROMなどが接続されている場合、ロジ
アナデータ入力制御部211には、同期クロック制御部
230からの内部クロック信号の入力と同期して、バス
251、252からの入力とは別個に、ロジックアナラ
イザ用外部プローブ用の端子118から出力信号が入力
される。これは、ROMエミュレータ100とは別個に
ロジックアナライザを任意のパッケージピンや信号線と
接続した場合の信号入力であり、このような構造とする
ことにより、従来の接続方法でロジックアナライザとR
OMとを接続できるようにしたり、ROMプローブの信
号線だけでは不足した場合に備え、任意の信号をROM
の信号線と同時に観測できるようにしている。
【0028】PBSRAM制御部213は、ロジアナデ
ータ入力制御部211に入力されたROMの出力信号お
よびロジアナデータ外部入力制御部212に入力された
任意のパッケージピンや信号線の出力信号をロジックア
ナライザ用PBSRAM103に書き込むものである。
具体的には、ROM301のデータ信号その他制御信号
は、IOレジスタ214からのクロック信号に同期し
て、PBSRAM制御部213によってロジックアナラ
イザ用PBSRAM103に書き込まれる。
【0029】ロジックアナライザ用PBSRAM103
に書き込まれたデータ信号などは、イーサネット(R)
ケーブル305で接続されたPC304で信号波形とし
て出力される。
【0030】このように、本実施形態にかかるROMエ
ミュレータ100では、ロジックアナライザの機能を有
するロジックアナライザ制御部210をROMエミュレ
ータ100に内蔵し、このロジックアナライザ制御部2
10によって、ROM301からエミュレーション制御
部220に対して出力されるアドレス信号およびデータ
信号などを入力し、入力された信号を分析しているの
で、ROM301への接続は図3に示すように、ROM
エミュレータ100のプローブ306による接続だけ、
ロジックアナライザの機能を実現できるので、ROMエ
ミュレート中に、ROM301の全信号の安定した測定
を行うことができる。
【0031】なお、本実施形態では、エミュレーション
制御部220とロジックアナライザ制御部210をFP
GA101に組み込んだ構成としているが、再構成可能
な集積回路、例えば、PLDに組み込んだ構成としても
良い。また、エミュレーション制御部220とロジック
アナライザ制御部210を再構成不可能な集積回路に組
み込んでも良く、例えばASIC(Applicati
on Specific Integrated Ci
rcuit)などに組み込む構成としても良い。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1にかかる
発明によれば、ロジックアナライザのプローブを多数R
OMに接続する必要がなくなり、一台のROMエミュレ
ータによって、ROMエミュレート中にROMの全信号
の安定した測定を行うことができるという効果を奏す
る。すなわち、ROMのエミュレート中に異常等が生じ
た場合、アドレスバスやデータバスの値の時間的変化を
確認することができるだけでなく、ROMの信号の詳細
なタイミングを検証したり、処理時間も測定することが
でき、ROMの詳細な検証を行えるという効果を奏す
る。
【0033】また、請求項2にかかる発明によれば、R
OMエミュレータの機能とロジックアナライザの機能と
を一チップで実現することができるという効果を奏す
る。
【0034】また、請求項3にかかる発明によれば、R
OM出力信号の記憶部への書き込みを高速に行うことが
でき、信号分析のタイミングの遅延を防止することがで
きるという効果を奏する。
【0035】また、請求項4にかかる発明によれば、接
続インタフェースからプローブを介して集積回路基板上
のROMに接続することもでき、従来の接続方法との互
換性を維持することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態にかかるROMエミュレータの内部
構成を示す説明図である。
【図2】本実施形態にかかるROMエミュレータ内のF
PGAの内部構造を示す説明図である。
【図3】本実施形態にかかるROMエミュレータと設計
対象の集積回路基板上のROMの接続状態を示す説明図
である。
【図4】従来のROMエミュレータおよびロジックアナ
ライザと設計対象の集積回路基板上のROMとの接続状
態を示す説明図である。
【符号の説明】
100,400 ROMエミュレータ 101,111,113 FPGA 102 エミュレーション用SRAM 103 ロジックアナライザ用PBSRAM 104 CPU 105 RS232Cドライバ 106 フラッシュROM 107 コントローラ 108 DRAM 109 イーサネット(R)コントローラ 110 EPROM 114 DSUメモリ 115 拡張コネクタ 117 ROMプローブ用端子 118 ロジックアナライザ用外部プローブ用端子 210 ロジックアナライザ制御部 211 ロジアナデータ入力制御部 212 ロジアナデータ外部入力制御部 213 PBSRAM制御部 214 IOレジスタ 220 エミュレーション制御部 221 CPU制御部 222 ROMアドレス制御部 223 ROMデータ制御部 230 同期クロック制御部 231 PLL 241,251,261 アドレスバス 242,252,262 データバス 300,420 集積回路基板 301,421 ROM 302,423 RAM 303,422 CPU 304,434 PC 305,435 イーサネット(R)ケーブル 306,431 ROMプローブ 324,424 バス 410 ロジックアナライザ 430 プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 保谷 慶次 東京都中央区京橋2丁目7番19号 緑屋電 気株式会社内 Fターム(参考) 5B048 AA19 BB04 DD08 DD17

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 設計対象である集積回路基板に搭載され
    るROMに接続して、前記ROMの動作をエミュレート
    するエミュレータ部を備えたROMエミュレータであっ
    て、 前記ROMから前記エミュレータ部に対して送出される
    ROM出力信号を取得し、取得したROM出力信号を分
    析する論理回路分析部を備えたことを特徴とするROM
    エミュレータ。
  2. 【請求項2】 前記論理回路分析部と前記エミュレータ
    部は、再構成可能な集積回路に搭載されることを特徴と
    する請求項1に記載のROMエミュレータ。
  3. 【請求項3】 前記再構成可能な集積回路の外部に設け
    られ、前記論理回路分析部によって取得したROM出力
    信号を記憶し、外部クロックに同期して書き込み動作を
    行う記憶部をさらに備えたことを特徴とする請求項2に
    記載のROMエミュレータ。
  4. 【請求項4】 前記論理回路分析部は、ROMプローブ
    に接続される接続インタフェースを備えたことを特徴と
    する請求項1〜3のいずれか一つに記載のROMエミュ
    レータ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008020513A1 (fr) * 2006-08-14 2008-02-21 Nec Corporation débogueur et procédé de débogage

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