JP2003303657A - Ic socket, socket board, connection electrode, and manufacturing method of connection electrode - Google Patents

Ic socket, socket board, connection electrode, and manufacturing method of connection electrode

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JP2003303657A
JP2003303657A JP2002107972A JP2002107972A JP2003303657A JP 2003303657 A JP2003303657 A JP 2003303657A JP 2002107972 A JP2002107972 A JP 2002107972A JP 2002107972 A JP2002107972 A JP 2002107972A JP 2003303657 A JP2003303657 A JP 2003303657A
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Japan
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electrode
substrate
connection
socket
housing
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Application number
JP2002107972A
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Japanese (ja)
Inventor
Shin Sakiyama
伸 崎山
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC socket with excellent reliability of contact. <P>SOLUTION: The IC socket electrically connected to an IC comprises a connection electrode connected to the IC, and a housing movement capably holding the connection electrode. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ICソケット、ソ
ケットボード、接続電極、及び接続電極製造方法に関す
る。特に本発明は、ICに電気的に接続されるICソケ
ットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC socket, a socket board, a connection electrode, and a connection electrode manufacturing method. In particular, the present invention relates to an IC socket electrically connected to an IC.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、IC動作の高速化及び端子の狭ピ
ッチ化に伴い、ICの動作テスト等において使用される
ICソケットの、低インダクタンス化、狭ピッチ化の要
求が高まっている。従来のICソケットは、例えばプロ
ーブピンとコイルバネとを備えたポゴピンタイプのIC
ソケットや、絶縁性の低弾性エラストマが棒状の独立し
たコンタクトを保持するエラストマタイプのICソケッ
ト等が知られている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the speeding up of IC operations and the narrowing of pitches of terminals, there is an increasing demand for low inductance and narrow pitches of IC sockets used in IC operation tests and the like. A conventional IC socket is, for example, a pogo pin type IC including a probe pin and a coil spring.
Sockets and elastomer type IC sockets in which an insulating low-elasticity elastomer holds individual rod-shaped contacts are known.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ポゴピ
ンタイプのICソケットは、構造が複雑なため、狭ピッ
チ化やコストダウンが困難であるという課題も有してい
た。また、エラストマタイプのICソケットは、接触信
頼性及び耐久性が十分でないという課題を有していた。
そのため、従来、低コストかつ接触信頼性に優れたIC
ソケットの提供は困難であった。
However, since the pogo pin type IC socket has a complicated structure, it has a problem that it is difficult to narrow the pitch and reduce the cost. Further, the elastomer type IC socket has a problem that contact reliability and durability are not sufficient.
Therefore, conventionally, ICs with low cost and excellent contact reliability
Providing a socket was difficult.

【0004】そこで本発明は、上記の課題を解決するこ
とのできるICソケット、ソケットボード、接続電極、
及び接続電極製造方法を提供することを目的とする。こ
の目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の
組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更
なる有利な具体例を規定する。
Therefore, the present invention provides an IC socket, a socket board, a connection electrode, which can solve the above problems.
Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a connection electrode. This object is achieved by a combination of features described in independent claims of the invention. The dependent claims define further advantageous specific examples of the present invention.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】即ち、本発明の第1の形
態によると、ICに電気的に接続されるICソケットで
あって、ICに電気的に接続される接続電極と、接続電
極を移動可能に保持するハウジングとを備えることを特
徴とするICソケットを提供する。ICソケットは、複
数の接続電極を備え、ハウジングは、複数の接続電極
を、それぞれ独立に移動可能に保持するのが好ましい。
That is, according to a first aspect of the present invention, there is provided an IC socket electrically connected to an IC, comprising a connection electrode electrically connected to the IC and a connection electrode. Provided is an IC socket, which is provided with a movably holding housing. It is preferable that the IC socket includes a plurality of connecting electrodes, and the housing holds the plurality of connecting electrodes independently of each other.

【0006】ハウジングは、ICと接続電極とが接触す
る方向である接続方向と略直交する方向に、接続電極を
移動可能に保持してよい。ハウジングは、接続電極を収
容する収容部を有し、収容部は、ハウジングのICと対
向する表面にデバイス側ハウジング開口部を含み、接続
電極は、デバイス側ハウジング開口部を介してICに接
続されてよい。デバイス側ハウジング開口部の径は、接
続電極を接続方向に投影した図形の径より小さいのが好
ましい。デバイス側ハウジング開口部の径は、接続方向
に直交する平面による収容部の断面の径より小さくてよ
い。また、接続電極は、接続方向においてデバイス側ハ
ウジング開口部から突出してよい。ハウジングは、接続
電極を接続方向において係止する係止部を更に有するの
が好ましい。
The housing may movably hold the connection electrode in a direction substantially orthogonal to the connection direction in which the IC and the connection electrode are in contact with each other. The housing has a housing for housing the connection electrode, and the housing includes a device-side housing opening on a surface of the housing facing the IC, and the connection electrode is connected to the IC through the device-side housing opening. You may The diameter of the device-side housing opening is preferably smaller than the diameter of the figure in which the connection electrode is projected in the connection direction. The diameter of the device-side housing opening may be smaller than the diameter of the cross section of the accommodating portion formed by the plane orthogonal to the connection direction. Moreover, the connection electrode may protrude from the device-side housing opening in the connection direction. It is preferable that the housing further includes a locking portion that locks the connection electrode in the connection direction.

【0007】また、ICソケットは、ICと基板とを電
気的に接続し、収容部は、ハウジングの基板と対向する
表面に基板側ハウジング開口部を更に含み、接続電極
は、接続方向において基板側ハウジング開口部から突出
し、基板が有する基板電極に電気的に接続されてよい。
ハウジングは、接続方向に、分割されてよい。また、ハ
ウジングは、接続方向に、接続電極を移動可能に保持す
るのが好ましい。ハウジングは、接続電極を、接続方向
を軸とする回転可能に保持してよい。
Further, the IC socket electrically connects the IC and the substrate, the accommodating portion further includes a substrate side housing opening on a surface of the housing facing the substrate, and the connection electrode has the substrate side in the connection direction. It may protrude from the housing opening and may be electrically connected to a substrate electrode of the substrate.
The housing may be split in the connecting direction. Further, it is preferable that the housing movably holds the connection electrode in the connection direction. The housing may hold the connection electrode rotatably about the connection direction.

【0008】接続電極は、ICが有するIC電極に接続
方向に押圧されることにより、接続方向と略直交する方
向に移動し、IC電極と係合するのが好ましい。接続電
極は、略円筒形のデバイス側電極を有し、当該デバイス
側電極の開口部の縁においてIC電極に電気的に接続さ
れてよい。また、IC電極はBGA型ICの電極であっ
て、デバイス側電極は、IC電極の先端部をデバイス側
電極の開口部に収容し、当該先端部の周辺部と接触する
ことにより、IC電極に電気的に接続されるのが好まし
い。ICソケットは、ICと基板とを電気的に接続し、
接続電極は、略円筒形の基板側電極とデバイス側電極及
び基板側電極を保持する弾性体である電極保持部とを更
に有し、基板側電極の開口部の縁において基板が有する
基板電極に電気的に接続されてよい。
It is preferable that the connection electrode moves in a direction substantially orthogonal to the connection direction by being pressed by the IC electrode of the IC in the connection direction and engages with the IC electrode. The connection electrode may have a substantially cylindrical device-side electrode, and may be electrically connected to the IC electrode at the edge of the opening of the device-side electrode. Further, the IC electrode is a BGA type IC electrode, and the device-side electrode accommodates the tip portion of the IC electrode in the opening of the device-side electrode and contacts the peripheral portion of the tip portion to form an IC electrode. It is preferably electrically connected. The IC socket electrically connects the IC and the board,
The connection electrode further has a substantially cylindrical substrate-side electrode and an electrode holding portion that is an elastic body that holds the device-side electrode and the substrate-side electrode. It may be electrically connected.

【0009】更に、ハウジングは、電極保持部を接続方
向において係止する係止部を有してよい。また、基板側
電極の中心軸は、デバイス側電極の中心軸と略同一な直
線上にあってよい。電極保持部は、デバイス側電極と基
板側電極とを電気的に接続してよい。電極保持部の一端
はデバイス側電極の側面と接合され、電極保持部の他端
は基板側電極の側面と接合されてよい。
Further, the housing may have a locking portion for locking the electrode holding portion in the connecting direction. Further, the central axis of the substrate-side electrode may be substantially on the same straight line as the central axis of the device-side electrode. The electrode holder may electrically connect the device-side electrode and the substrate-side electrode. One end of the electrode holder may be joined to the side surface of the device-side electrode, and the other end of the electrode holder may be joined to the side surface of the substrate-side electrode.

【0010】接続電極が、IC電極又は基板電極によ
り、押圧された場合、電極保持部は、デバイス側電極と
基板側電極とを互いに近づけるべく変形してよい。基板
電極は、IC電極と、接続電極を挟んで対向するのが好
ましい。デバイス側電極、基板側電極、及び電極保持部
は一体に形成されるのが好ましい。デバイス側電極は、
導電板を巻くことにより略円筒形に形成されてよい。こ
の場合、導電板は、略円筒形の側面の1/2周以上の部
分を形成するのが好ましい。また、ICソケットは、I
Cと基板とを電気的に接続し、接続電極は、基板が有す
る基板電極に電気的に接続される基板側電極を更に有
し、デバイス側電極は、第1端及び第2端を有する略コ
の字型形状を有する導電板の、第1端を含む部分を巻く
ことにより略円筒形に形成され、基板側電極は、当該略
コの字型形状を有する導電板の第2端を含む部分を巻く
ことにより、略円筒形に形成されてよい。デバイス側電
極は、導電板を渦状に巻くことにより形成されてもよ
い。この場合、渦状に巻かれた導電板は、外周が内周よ
り接続方向において突出するのが好ましい。また、デバ
イス側電極は、略円筒形の母線と略平行な切り込みを有
してよい。
When the connection electrode is pressed by the IC electrode or the substrate electrode, the electrode holding portion may be deformed so as to bring the device-side electrode and the substrate-side electrode closer to each other. The substrate electrode preferably faces the IC electrode with the connection electrode interposed therebetween. The device-side electrode, the substrate-side electrode, and the electrode holding portion are preferably formed integrally. The device side electrode is
It may be formed into a substantially cylindrical shape by winding a conductive plate. In this case, it is preferable that the conductive plate form a portion of the side surface of the substantially cylindrical shape that is equal to or more than 1/2 circumference. The IC socket is I
C is electrically connected to the substrate, the connection electrode further has a substrate-side electrode electrically connected to the substrate electrode of the substrate, and the device-side electrode has a first end and a second end. The conductive plate having a U-shape has a substantially cylindrical shape by winding a portion including the first end, and the substrate-side electrode includes a second end of the conductive plate having the substantially U-shape. By winding the portion, it may be formed into a substantially cylindrical shape. The device-side electrode may be formed by spirally winding a conductive plate. In this case, it is preferable that the outer periphery of the spirally wound conductive plate protrudes from the inner periphery in the connecting direction. Further, the device-side electrode may have a notch that is substantially parallel to the substantially cylindrical generatrix.

【0011】また、ICソケットは、ICと基板とを電
気的に接続し、接続電極は、基板が有する基板電極に、
基板と接続電極とを結ぶ方向に押圧されることにより、
基板と接続電極とを結ぶ方向と略直交する方向に移動
し、基板電極と係合するのが好ましい。
The IC socket electrically connects the IC and the substrate, and the connection electrode is connected to the substrate electrode of the substrate.
By being pressed in the direction connecting the substrate and the connection electrode,
It is preferable to move in a direction substantially orthogonal to the direction connecting the substrate and the connection electrode and engage with the substrate electrode.

【0012】本発明の第2の形態によると、ICが有す
るIC電極に電気的に接続されるソケットボードであっ
て、基板電極を有する基板と、IC電極と基板電極とを
電気的に接続するICソケットとを備え、ICソケット
は、ICに電気的に接続される接続電極と、接続電極を
移動可能に保持するハウジングとを有することを特徴と
するソケットボードを提供する。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a socket board electrically connected to an IC electrode of an IC, the board having a substrate electrode, and the IC electrode and the substrate electrode being electrically connected. An IC socket is provided, and the IC socket provides a socket board having a connection electrode electrically connected to the IC and a housing movably holding the connection electrode.

【0013】本発明の第3の形態によると、ICが有す
るIC電極に電気的に接続される接続電極であって、略
円筒形のデバイス側電極を備え、当該デバイス側電極の
開口部の縁においてIC電極に電気的に接続されること
を特徴とする接続電極を提供する。
According to the third aspect of the present invention, the connection electrode is electrically connected to the IC electrode of the IC, and includes a substantially cylindrical device-side electrode, and the edge of the opening of the device-side electrode. And a connection electrode electrically connected to the IC electrode.

【0014】本発明の第4の形態によると、BGA型I
Cが有するIC電極に電気的に接続される接続電極であ
って、IC電極の先端部をデバイス側電極の開口部に収
容し、当該先端部の周辺部と接触することにより、IC
電極に電気的に接続されるデバイス側電極を備えること
を特徴とする接続電極を提供する。
According to a fourth aspect of the present invention, a BGA type I
A connection electrode electrically connected to the IC electrode of C, the tip of the IC electrode being housed in the opening of the device-side electrode, and contacting with the peripheral portion of the tip, the IC
Provided is a connection electrode comprising a device-side electrode electrically connected to the electrode.

【0015】本発明の第5の形態によると、ICに電気
的に接続される接続電極を製造する接続電極製造方法で
あって、導電板を用意する準備工程と、当該導電板を巻
くことで、ICが有するIC電極に電気的に接続される
デバイス側電極を形成する形成工程とを備えることを特
徴とする接続電極製造方法を提供する。準備工程は、略
長方形形状を有する第1領域と、当該略長方形の一の辺
と略平行な第1領域を通過しない直線について、第1領
域と略対称な形状を有する第2領域と、第1領域と第2
領域とを接続する接続領域とを有する形状の導電板を準
備してよい。接続電極は、ICと基板とを電気的に接続
し、形成工程は、第1領域を巻くことで、デバイス側電
極を形成するデバイス側電極形成工程と、第2領域を巻
くことで、基板が有する基板電極に電気的に接続される
基板側電極を形成する基板側電極形成工程とを有してよ
い。また、デバイス側電極形成工程は、略円筒形のデバ
イス側電極を形成し、基板側電極形成工程は、デバイス
側電極と略同一の中心軸を有する略円筒形の基板側電極
を形成してよい。準備工程は、略コの字型の導電板を準
備してよい。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a connection electrode manufacturing method for manufacturing a connection electrode electrically connected to an IC, which comprises a preparation step of preparing a conductive plate and winding the conductive plate. And a forming step of forming a device-side electrode electrically connected to the IC electrode of the IC. The preparing step includes a first region having a substantially rectangular shape, a second region having a shape substantially symmetrical to the first region with respect to a straight line that does not pass through the first region substantially parallel to one side of the substantially rectangular shape, 1 area and 2nd
A conductive plate having a shape having a connection area connecting with the area may be prepared. The connection electrode electrically connects the IC and the substrate, and in the forming step, the device-side electrode forming step of forming the device-side electrode is performed by winding the first area, and the substrate is formed by winding the second area. And a substrate-side electrode forming step of forming a substrate-side electrode electrically connected to the substrate electrode. Further, the device-side electrode forming step may form a substantially cylindrical device-side electrode, and the substrate-side electrode forming step may form a substantially cylindrical substrate-side electrode having a substantially same central axis as the device-side electrode. . In the preparing step, a substantially U-shaped conductive plate may be prepared.

【0016】なお上記の発明の概要は、本発明の必要な
特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群の
サブコンビネーションも又発明となりうる。
The above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention, and a sub-combination of these feature groups can also be the invention.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態を通じて
本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかか
る発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明
されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に
必須であるとは限らない。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the claimed invention, and the features described in the embodiments Not all combinations are essential to the solution of the invention.

【0018】図1は、本発明の一実施形態に係るソケッ
トボード500の分解斜視図を示す。本実施形態におい
て、ソケットボード500は、IC200が有するIC
電極に電気的に接続される。ソケットボード500は、
基板206、ICソケット100、ソケットガイド20
4、インサート212、及び加圧ヘッド210を備え
る。
FIG. 1 is an exploded perspective view of a socket board 500 according to an embodiment of the present invention. In the present embodiment, the socket board 500 is an IC included in the IC 200.
It is electrically connected to the electrodes. Socket board 500
Board 206, IC socket 100, socket guide 20
4, insert 212, and pressure head 210.

【0019】基板206は、基板電極を有する。ICソ
ケット100は、IC200と基板206とを電気的に
接続する。ICソケット100は、IC電極と基板電極
とを電気的に接続する。IC200を試験する試験装置
と、IC200とは、基板206及びICソケット10
0を経由して電気的に接続される。ICソケット100
は、IC200の端子配列に基づいて配置された複数の
接続電極10と、複数の接続電極10を保持する絶縁性
のハウジング90とを備える。ソケットガイド204
は、ICソケット100を位置決めする。ソケットガイ
ド204及びICソケット100は、基板206に固定
される。
The substrate 206 has a substrate electrode. The IC socket 100 electrically connects the IC 200 and the board 206. The IC socket 100 electrically connects the IC electrode and the substrate electrode. The test device for testing the IC 200 and the IC 200 are the substrate 206 and the IC socket 10.
It is electrically connected via 0. IC socket 100
Includes a plurality of connection electrodes 10 arranged based on the terminal arrangement of the IC 200, and an insulating housing 90 holding the plurality of connection electrodes 10. Socket guide 204
Positions the IC socket 100. The socket guide 204 and the IC socket 100 are fixed to the board 206.

【0020】また、インサート212はIC200を位
置決めし、保持する。そして、IC200を保持したイ
ンサート212は、ソケットガイド204にガイドされ
ながら嵌合する。最後に加圧ヘッド210は、インサー
ト212を基板206に対して垂直に加圧することによ
って、IC200をICソケット100に均一に押さえ
つける。IC200がICソケット100に押さえつけ
られることによって、ICソケット100が備える複数
の接続電極10のそれぞれは、IC200が備える複数
の端子のそれぞれと、基板206が備える複数の基板電
極208のそれぞれとを電気的に接続する。
The insert 212 also positions and holds the IC 200. Then, the insert 212 holding the IC 200 is fitted while being guided by the socket guide 204. Finally, the pressure head 210 presses the insert 212 perpendicularly to the substrate 206 to uniformly press the IC 200 against the IC socket 100. When the IC 200 is pressed against the IC socket 100, each of the plurality of connection electrodes 10 of the IC socket 100 electrically connects each of the plurality of terminals of the IC 200 and each of the plurality of substrate electrodes 208 of the substrate 206. Connect to.

【0021】図2は、本実施形態に係るIC200の外
形の一例を示す。本例におけるIC200は、パッケー
ジ裏面において、グリッド状に配置された端子のそれぞ
れに半田バンプ状のIC電極202が設けられた、BG
A(Ball Grid Array)型のICであ
る。
FIG. 2 shows an example of the outer shape of the IC 200 according to this embodiment. The IC 200 in this example is a BG in which solder bump-shaped IC electrodes 202 are provided on each of the terminals arranged in a grid on the back surface of the package.
It is an A (Ball Grid Array) type IC.

【0022】図3は、本実施形態に係るICソケット1
00の一例を示す。ICソケット100は、図1に関連
して説明したIC200に電気的に接続される。ICソ
ケット100は、接続電極10及びハウジング90を有
する。本実施形態において、ICソケット100は、複
数の接続電極(10−1〜10−4)を備える。接続電
極10は、IC200に電気的に接続される。
FIG. 3 shows an IC socket 1 according to this embodiment.
An example of 00 is shown. The IC socket 100 is electrically connected to the IC 200 described with reference to FIG. The IC socket 100 has the connection electrode 10 and the housing 90. In this embodiment, the IC socket 100 includes a plurality of connection electrodes (10-1 to 10-4). The connection electrode 10 is electrically connected to the IC 200.

【0023】ハウジング90は、接続電極10を移動可
能に保持する。ハウジング90は、IC200と接続電
極10とが接触する方向である接続方向と略直交する方
向に、接続電極10を移動可能に保持する。ハウジング
90は、接続方向に、接続電極10を移動可能に保持す
るのが好ましい。ハウジング90は、接続電極10を、
接続方向を軸とする回転可能に保持してよい。尚、接続
方向は、IC200から基板206へ向かう方向であっ
てよい。本実施形態において、ハウジング90は、複数
の接続電極(10−1〜10−4)を、それぞれ独立に
移動可能に保持する。
The housing 90 movably holds the connection electrode 10. The housing 90 movably holds the connection electrode 10 in a direction substantially orthogonal to the connection direction in which the IC 200 and the connection electrode 10 are in contact with each other. The housing 90 preferably holds the connection electrode 10 movably in the connection direction. The housing 90 connects the connection electrode 10 to
It may be held rotatably about the connecting direction. The connection direction may be the direction from the IC 200 to the substrate 206. In the present embodiment, the housing 90 holds the plurality of connection electrodes (10-1 to 10-4) independently and movably.

【0024】また、ハウジング90は、収容部50及び
係止部を含む。収容部50は、接続電極10を収容す
る。本実施形態において、収容部50は、ハウジング9
0のIC200と対向する表面にデバイス側ハウジング
開口部52を有する。収容部50は、ハウジング90の
基板206と対向する表面に基板側ハウジング開口部5
4を更に有する。
The housing 90 also includes a housing portion 50 and a locking portion. The housing portion 50 houses the connection electrode 10. In the present embodiment, the housing portion 50 includes the housing 9
0 has a device-side housing opening 52 on the surface facing the IC 200. The housing portion 50 is provided on the surface of the housing 90 facing the substrate 206 on the substrate-side housing opening 5
4 is further included.

【0025】接続電極10は、デバイス側ハウジング開
口部52を介してICに接続される。接続電極10は、
接続方向においてデバイス側ハウジング開口部52から
突出するのが好ましい。また、接続電極10は、接続方
向において基板側ハウジング開口部54から突出し、基
板206が有する基板電極に電気的に接続される。
The connection electrode 10 is connected to the IC through the device-side housing opening 52. The connection electrode 10 is
It preferably projects from the device-side housing opening 52 in the connection direction. Further, the connection electrode 10 projects from the board-side housing opening 54 in the connection direction and is electrically connected to the board electrode of the board 206.

【0026】本実施形態において、デバイス側ハウジン
グ開口部52の径は、接続電極10を接続方向に投影し
た図形の径より小さい。デバイス側ハウジング開口部5
2の径は、接続方向に直交する平面による収容部50の
断面の径より小さい。
In the present embodiment, the diameter of the device-side housing opening 52 is smaller than the diameter of the figure in which the connection electrode 10 is projected in the connection direction. Device side housing opening 5
The diameter of 2 is smaller than the diameter of the cross section of the accommodating part 50 by the plane orthogonal to the connection direction.

【0027】係止部は、接続電極10を接続方向におい
て係止する。本実施形態において、係止部は、デバイス
側係止部46及び基板側係止部48を含む。デバイス側
係止部46は、デバイス側ハウジング開口部52の縁か
らハウジング90の表面に平行に延伸する。デバイス側
係止部46は、接続電極10を、接続電極10からIC
200に向かう方向において係止する。また、基板側係
止部48は、基板側ハウジング開口部54の縁からハウ
ジング90の表面に平行に延伸する。基板側係止部44
は、接続電極10を、接続電極10から基板206に向
かう方向において係止する。
The locking portion locks the connection electrode 10 in the connection direction. In this embodiment, the locking portion includes a device-side locking portion 46 and a board-side locking portion 48. The device-side locking portion 46 extends parallel to the surface of the housing 90 from the edge of the device-side housing opening 52. The device-side locking portion 46 connects the connection electrode 10 from the connection electrode 10 to the IC.
Lock in the direction toward 200. The board-side locking portion 48 extends parallel to the surface of the housing 90 from the edge of the board-side housing opening 54. Board side locking part 44
Locks the connection electrode 10 in the direction from the connection electrode 10 toward the substrate 206.

【0028】尚、本実施形態において、ハウジング90
は、デバイス側ハウジング42と基板側ハウジング44
とに分割される。ハウジング90は、接続方向に、分割
されるのが好ましい。デバイス側ハウジング42と基板
側ハウジング44とは、接続電極10を挟んで対向す
る。基板側ハウジング44は、デバイス側ハウジング4
2と略同じ形状を有してよい。本実施形態において、I
Cソケット100は、デバイス側ハウジング42と基板
側ハウジング44とを、接続電極10を挟んで接合する
ことにより製造される。
In the present embodiment, the housing 90
Is a device-side housing 42 and a board-side housing 44.
Is divided into and The housing 90 is preferably divided in the connecting direction. The device-side housing 42 and the board-side housing 44 face each other with the connection electrode 10 interposed therebetween. The board-side housing 44 is the device-side housing 4
It may have substantially the same shape as 2. In this embodiment, I
The C socket 100 is manufactured by joining the device-side housing 42 and the board-side housing 44 with the connection electrode 10 interposed therebetween.

【0029】図4は、本実施形態に係る接続電極10の
一例を示す。図4(a)は、接続電極10の斜視図を示
す。接続電極10は、ICが有するIC電極に電気的に
接続される。本実施形態において、接続電極10は、B
GA型ICの電極であるIC電極に電気的に接続され
る。また、接続電極10は、図1に関連して説明した基
板206が有する基板電極に電気的に接続される。接続
電極10は、IC電極と、接続電極10を挟んで対向す
る基板電極に電気的に接続される。接続電極10は、デ
バイス側電極22、基板側電極24、及び電極保持部3
0を有する。
FIG. 4 shows an example of the connection electrode 10 according to this embodiment. FIG. 4A shows a perspective view of the connection electrode 10. The connection electrode 10 is electrically connected to the IC electrode included in the IC. In the present embodiment, the connection electrode 10 is B
It is electrically connected to an IC electrode which is an electrode of a GA type IC. The connection electrode 10 is electrically connected to the substrate electrode included in the substrate 206 described with reference to FIG. The connection electrode 10 is electrically connected to the IC electrode and the substrate electrode that faces the IC electrode with the connection electrode 10 interposed therebetween. The connection electrode 10 includes the device-side electrode 22, the substrate-side electrode 24, and the electrode holder 3.
Has 0.

【0030】本実施形態において、接続電極10は、略
円筒形のデバイス側電極22を有し、デバイス側電極2
2の開口部の縁においてIC電極に電気的に接続され
る。接続電極10は、IC電極の先端部を当該開口部に
収容し、当該先端部の周辺部と接触することにより、I
C電極に電気的に接続される。また、接続電極10は、
略円筒形の基板側電極24を有し、基板側電極24の開
口部の縁において基板電極に電気的に接続される。
In this embodiment, the connection electrode 10 has a device-side electrode 22 having a substantially cylindrical shape.
It is electrically connected to the IC electrode at the edge of the second opening. The connection electrode 10 accommodates the tip of the IC electrode in the opening and makes contact with the peripheral portion of the tip, so that the I
It is electrically connected to the C electrode. Further, the connection electrode 10 is
It has a substantially cylindrical substrate-side electrode 24, and is electrically connected to the substrate electrode at the edge of the opening of the substrate-side electrode 24.

【0031】本実施形態において、接続電極10は、一
体に形成されたデバイス側電極22、基板側電極24、
及び電極保持部30を有する。デバイス側電極22は、
第1端及び第2端を有する略コの字型形状を有する導電
板の、第1端を含む部分を巻くことにより略円筒形に形
成される。基板側電極24は、当該導電板の第2端を含
む部分を巻くことにより、略円筒形に形成される。尚、
当該導電板は、金属板であってよい。当該導電板は、例
えば、BeAu、BeCu、又は黄銅板であってよい。
当該導電板は、表面に導電層を有する絶縁性板であって
もよい。当該絶縁性板は例えばプラスチック板であって
よい。
In the present embodiment, the connection electrode 10 includes the device-side electrode 22, the substrate-side electrode 24, which are integrally formed,
And an electrode holder 30. The device-side electrode 22 is
The conductive plate having a substantially U-shape having a first end and a second end is formed into a substantially cylindrical shape by winding a portion including the first end. The substrate-side electrode 24 is formed into a substantially cylindrical shape by winding a portion including the second end of the conductive plate. still,
The conductive plate may be a metal plate. The conductive plate may be, for example, BeAu, BeCu, or a brass plate.
The conductive plate may be an insulating plate having a conductive layer on its surface. The insulating plate may be, for example, a plastic plate.

【0032】また、接続電極10は、第1領域、第2領
域、及び接続領域を有する導電板を巻くことにより形成
される。第1領域は、略長方形形状を有する。第2領域
は、当該略長方形の一の辺と略平行な第1領域を通過し
ない直線について、第1領域と略対称な形状を有する。
接続領域は、第1領域と第2領域とを接続する領域であ
る。基板側電極24は、第1領域を巻くことにより形成
される。基板側開口部28は、第2領域を巻くことによ
り形成される。また、電極保持部30は、接続領域から
形成される。
The connection electrode 10 is formed by winding a conductive plate having a first area, a second area, and a connection area. The first region has a substantially rectangular shape. The second region has a shape that is substantially symmetrical to the first region with respect to a straight line that does not pass through the first region that is substantially parallel to one side of the substantially rectangular shape.
The connection area is an area that connects the first area and the second area. The substrate side electrode 24 is formed by winding the first region. The board-side opening 28 is formed by winding the second region. Further, the electrode holding portion 30 is formed from the connection region.

【0033】デバイス側電極22は、IC電極と電気的
に接続される。本実施形態において、デバイス側電極2
2は、略円筒形であり、略円形のデバイス側開口部26
を含む。デバイス側電極22は、デバイス側開口部26
の縁においてIC電極に電気的に接続される。デバイス
側電極22は、IC電極の先端部をデバイス側開口部2
6に収容し、当該先端部の周辺部と接触することによ
り、IC電極に電気的に接続される。本実施形態におい
て、デバイス側電極22は、導電板を巻くことにより略
円筒形に形成される。デバイス側電極22は、略円筒形
の母線と略平行な切り込みを有する。デバイス側電極2
2は、略円筒形の側面に、接続方向と平行な切り込みを
有する。また、当該導電板は、略円筒形の側面の1/2
周以上の部分を形成するのが好ましい。
The device side electrode 22 is electrically connected to the IC electrode. In this embodiment, the device-side electrode 2
2 is a substantially cylindrical shape, and a substantially circular device-side opening 26
including. The device-side electrode 22 has a device-side opening 26.
Is electrically connected to the IC electrode at the edge of. The device-side electrode 22 includes a device-side opening 2 at the tip of the IC electrode.
6 and is brought into contact with the peripheral portion of the tip portion to be electrically connected to the IC electrode. In the present embodiment, the device-side electrode 22 is formed into a substantially cylindrical shape by winding a conductive plate. The device-side electrode 22 has a notch that is substantially parallel to the generally cylindrical generatrix. Device side electrode 2
2 has a notch parallel to the connecting direction on the substantially cylindrical side surface. In addition, the conductive plate is half of the side surface of the substantially cylindrical shape.
It is preferable to form a portion of the circumference or more.

【0034】基板側電極24は、基板電極に電気的に接
続される。本実施形態において、基板側電極24は、略
円筒形であり、略円形の基板側開口部28を含む。基板
側電極24は、基板側開口部28の縁において基板電極
に電気的に接続される。基板側電極24は、デバイス側
電極22と略同一の形状を有する。基板側電極24の中
心軸は、デバイス側電極22の中心軸と略同一な直線上
にあるのが好ましい。
The substrate side electrode 24 is electrically connected to the substrate electrode. In the present embodiment, the substrate-side electrode 24 has a substantially cylindrical shape and includes a substantially circular substrate-side opening 28. The substrate side electrode 24 is electrically connected to the substrate electrode at the edge of the substrate side opening 28. The substrate side electrode 24 has substantially the same shape as the device side electrode 22. The central axis of the substrate-side electrode 24 is preferably substantially on the same straight line as the central axis of the device-side electrode 22.

【0035】電極保持部30は、デバイス側電極22及
び基板側電極24を保持する弾性体である。電極保持部
30は、デバイス側電極22及び基板側電極24を弾性
的に保持する。電極保持部30は、板状の形状を有して
よい。本実施形態において、電極保持部30の一端はデ
バイス側電極22の側面と接合され、電極保持部30の
他端は基板側電極24の側面と接合される。電極保持部
30は、デバイス側電極22から接続方向と略直交する
方向に延伸するデバイス側延伸部と、デバイス側延伸部
から接続方向と略平行に延伸する中間延伸部と、中間延
伸部から基板側電極24に延伸する基板側延伸部とを含
んでよい。また、本実施形態において、電極保持部30
は、デバイス側電極22と基板側電極24とを電気的に
接続する。別の実施例においては、接続電極10は、デ
バイス側電極22と、基板側電極24とを電気的に接続
する配線を更に有してもよい。
The electrode holder 30 is an elastic body that holds the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24. The electrode holder 30 elastically holds the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24. The electrode holding part 30 may have a plate shape. In the present embodiment, one end of the electrode holding portion 30 is joined to the side surface of the device side electrode 22, and the other end of the electrode holding portion 30 is joined to the side surface of the substrate side electrode 24. The electrode holding portion 30 includes a device-side extending portion extending from the device-side electrode 22 in a direction substantially orthogonal to the connecting direction, an intermediate extending portion extending from the device-side extending portion substantially parallel to the connecting direction, and an intermediate extending portion to the substrate. A substrate-side extending portion extending to the side electrode 24 may be included. In addition, in the present embodiment, the electrode holding portion 30
Electrically connects the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24. In another example, the connection electrode 10 may further include a wiring that electrically connects the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24.

【0036】尚、本実施形態において、図3に関連して
説明した係止部は、電極保持部30を接続方向において
係止する。図3に関連して説明したデバイス側係止部4
6は、デバイス側延伸部を接続方向において係止する。
基板側係止部48は、基板側延伸部を接続方向において
係止する。
In this embodiment, the locking portion described with reference to FIG. 3 locks the electrode holding portion 30 in the connecting direction. Device-side locking portion 4 described with reference to FIG.
6 locks the device side extending portion in the connecting direction.
The board-side locking portion 48 locks the board-side extending portion in the connecting direction.

【0037】図4(b)は、接続電極10の上面図を示
す。本実施形態において、板状の電極保持部30の表面
は、デバイス側電極22の側面と略直交する。別の実施
例において、電極保持部30は、デバイス側電極22の
側面と略接してもよい。
FIG. 4B shows a top view of the connection electrode 10. In the present embodiment, the surface of the plate-shaped electrode holding portion 30 is substantially orthogonal to the side surface of the device-side electrode 22. In another embodiment, the electrode holding part 30 may be substantially in contact with the side surface of the device-side electrode 22.

【0038】図5は、本実施形態に係る接続電極10の
動作の一例を示す。図5は、接続電極10が、IC電極
202又は基板電極208により、押圧された場合の、
接続電極10の動作の例を示す。図5は、デバイス側電
極22及び基板側電極24に対して電極保持部30が奥
側となる方向から接続電極10を見た場合の接続電極1
0を示す図である。本実施形態において、接続電極10
は、BGA型ICの電極であるIC電極202に電気的
に接続される。また、接続電極10は、基板206が有
する半田バンプ状の基板電極208に電気的に接続され
る。
FIG. 5 shows an example of the operation of the connection electrode 10 according to this embodiment. FIG. 5 shows the case where the connection electrode 10 is pressed by the IC electrode 202 or the substrate electrode 208.
An example of the operation of the connection electrode 10 will be shown. FIG. 5 shows the connection electrode 1 when the connection electrode 10 is viewed from the direction in which the electrode holding portion 30 is on the back side of the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24.
It is a figure which shows 0. In the present embodiment, the connection electrode 10
Is electrically connected to the IC electrode 202 which is the electrode of the BGA type IC. The connection electrode 10 is electrically connected to a solder bump-shaped substrate electrode 208 included in the substrate 206.

【0039】本実施形態において、IC電極202は、
デバイス側電極22を基板側電極24の方向に押圧す
る。基板電極208は、基板側電極24をデバイス側電
極22の方向に押圧する。電極保持部30は、デバイス
側電極22又は基板側電極24が、IC電極202又は
基板電極208に押圧されることにより変形する。本実
施形態において、電極保持部30は、当該押圧されるこ
とにより屈曲する。これにより、電極保持部30は、デ
バイス側電極22又は基板側電極24を、デバイス側電
極22と基板側電極24とを互いに近づける方向に移動
させる。電極保持部30は、デバイス側電極22又は基
板側電極24を当該方向に平行移動させてよい。電極保
持部30は、デバイス側電極22と基板側電極24とを
互いに近づけるべく変形してよい。
In this embodiment, the IC electrode 202 is
The device-side electrode 22 is pressed toward the substrate-side electrode 24. The substrate electrode 208 presses the substrate-side electrode 24 toward the device-side electrode 22. The electrode holding part 30 is deformed when the device-side electrode 22 or the substrate-side electrode 24 is pressed against the IC electrode 202 or the substrate electrode 208. In the present embodiment, the electrode holding portion 30 bends when pressed. Thereby, the electrode holding unit 30 moves the device-side electrode 22 or the substrate-side electrode 24 in a direction in which the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24 are brought closer to each other. The electrode holder 30 may move the device-side electrode 22 or the substrate-side electrode 24 in parallel in the direction. The electrode holder 30 may be deformed so that the device-side electrode 22 and the substrate-side electrode 24 are brought closer to each other.

【0040】図6は、本実施形態に係る複数の接続電極
(10−1、10−2)の動作の一例を示す。本実施形
態において、IC200は、複数のIC電極(202−
1、202−2)を有する。基板206は、複数の基板
電極(208−1、208−2)を有する。接続電極1
0−1は、IC電極202−1と基板電極208−1と
を電気的に接続する。接続電極10−2は、IC電極2
02−2と基板電極208−2とを電気的に接続する。
また、接続電極10−1が有する電極保持部30−1は、
デバイス側電極22−1と基板側電極24−1とを互い
に近づけるべく変形する。接続電極10−2が有する電
極保持部30−2は、デバイス側電極22−2と基板側
電極24−2とを互いに近づけるべく変形する。
FIG. 6 shows an example of the operation of the plurality of connection electrodes (10-1, 10-2) according to this embodiment. In the present embodiment, the IC 200 includes a plurality of IC electrodes (202-
1, 202-2). The substrate 206 has a plurality of substrate electrodes (208-1, 208-2). Connection electrode 1
0-1 electrically connects the IC electrode 202-1 and the substrate electrode 208-1. The connection electrode 10-2 is the IC electrode 2
02-2 and the substrate electrode 208-2 are electrically connected.
Further, the electrode holding portion 30-1 included in the connection electrode 10-1 is
The device side electrode 22-1 and the substrate side electrode 24-1 are deformed so as to be close to each other. The electrode holding portion 30-2 included in the connection electrode 10-2 is deformed to bring the device-side electrode 22-2 and the substrate-side electrode 24-2 closer to each other.

【0041】本実施形態において、IC電極202−2
の高さは、IC電極202−1の高さより大である。I
C電極202−2は、IC電極202−1より接続方向
に大であってよい。また、基板電極208−1は、基板
電極208−2と略同じ高さを有する。すなわち、本実
施形態において、IC電極202−2と基板電極208
−2との距離は、IC電極202−1と基板電極208
−1との距離より小である。この場合、電極保持部30
−2は、電極保持部30−1より多く変形することによ
り、デバイス側電極22−2と基板側電極24−2との
距離を、デバイス側電極22−1と基板側電極24−1
との距離より小さく保つ。すなわち、本実施形態におい
て、電極保持部30は、IC電極202と基板電極20
8との距離に応じて変形する。これにより、IC200
が有する複数のIC電極202の大きさ、又は基板20
6が有する複数の基板電極208の大きさにばらつきが
ある場合にも、IC200と基板206とを適切に接続
することができる。
In this embodiment, the IC electrode 202-2
Is higher than the height of the IC electrode 202-1. I
The C electrode 202-2 may be larger than the IC electrode 202-1 in the connection direction. The substrate electrode 208-1 has substantially the same height as the substrate electrode 208-2. That is, in the present embodiment, the IC electrode 202-2 and the substrate electrode 208
-2 is the distance between the IC electrode 202-1 and the substrate electrode 208.
It is smaller than the distance from -1. In this case, the electrode holder 30
-2 is deformed more than the electrode holding portion 30-1, so that the distance between the device-side electrode 22-2 and the substrate-side electrode 24-2 becomes larger than the device-side electrode 22-1
Keep smaller than distance. That is, in the present embodiment, the electrode holder 30 includes the IC electrode 202 and the substrate electrode 20.
It deforms according to the distance from 8. This allows the IC200
Of the plurality of IC electrodes 202 included in the substrate or the substrate 20
Even when the sizes of the plurality of substrate electrodes 208 included in 6 vary, the IC 200 and the substrate 206 can be properly connected.

【0042】図7は、本実施形態に係る接続電極10の
動作の他の例を示す。図7は、IC電極202又は基板
電極208の中心軸と、接続電極10の中心軸とがずれ
ている場合の、接続電極10の動作の例を示す。
FIG. 7 shows another example of the operation of the connection electrode 10 according to this embodiment. FIG. 7 shows an example of the operation of the connection electrode 10 when the central axis of the IC electrode 202 or the substrate electrode 208 is deviated from the central axis of the connection electrode 10.

【0043】IC電極202は、中心軸が接続電極10
の中心軸とずれた状態で、デバイス側電極22を押圧す
る。本実施形態において、IC電極202は、デバイス
側電極22を、接続方向に押圧する。
The central axis of the IC electrode 202 is the connection electrode 10
The device-side electrode 22 is pressed in a state of being displaced from the central axis of the device. In the present embodiment, the IC electrode 202 presses the device-side electrode 22 in the connection direction.

【0044】この時、IC電極202は、接続電極10
と、デバイス側開口部26の縁の一部において接触す
る。IC電極202は、接続電極10と、デバイス側開
口部26の内周の一部である接触点において接触し、接
続電極10は、デバイス側開口部26にIC電極202
の先端部を収納する。
At this time, the IC electrode 202 is the connection electrode 10
And a part of the edge of the device-side opening 26. The IC electrode 202 contacts the connection electrode 10 at a contact point that is a part of the inner circumference of the device-side opening 26, and the connection electrode 10 contacts the device-side opening 26 with the IC electrode 202.
Store the tip of the.

【0045】この場合、IC電極202は、接続電極1
0における当該接触点をデバイス側開口部26の外側に
向かう方向に押圧する。よって、IC電極202が接続
電極10を更に押圧した場合、接続電極10は、接続方
向と略直交する水平移動方向に平行移動し、IC電極2
02を更に深く収納する。すなわち、接続電極10は、
IC電極202に接続方向に押圧されることにより、接
続方向と略直交する方向に移動し、IC電極202と係
合する。
In this case, the IC electrode 202 is the connection electrode 1
The contact point at 0 is pressed in the direction toward the outside of the device-side opening 26. Therefore, when the IC electrode 202 further presses the connection electrode 10, the connection electrode 10 moves in parallel in the horizontal movement direction substantially orthogonal to the connection direction, and the IC electrode 2
02 is stored deeper. That is, the connection electrode 10 is
When pressed by the IC electrode 202 in the connection direction, the IC electrode 202 moves in a direction substantially orthogonal to the connection direction and engages with the IC electrode 202.

【0046】同様に、基板電極208の中心軸が接続電
極10の中心軸とずれた状態である場合、接続電極10
は、基板電極208に、基板206と接続電極10とを
結ぶ方向に押圧されることにより、基板206と接続電
極10とを結ぶ方向と略直交する方向に移動し、基板電
極208と係合する。
Similarly, when the central axis of the substrate electrode 208 is displaced from the central axis of the connection electrode 10, the connection electrode 10
Is pressed by the substrate electrode 208 in the direction connecting the substrate 206 and the connection electrode 10, so that the substrate electrode 208 moves in a direction substantially orthogonal to the direction connecting the substrate 206 and the connection electrode 10 and engages with the substrate electrode 208. .

【0047】図8は、接続電極10を製造する接続電極
製造方法を示す。図8(a)は、準備工程を説明する図
である。当該接続電極製造方法は、準備工程及び形成工
程を備える。準備工程は、導電板を用意する。本実施形
態において、準備工程は、導電板として金属板を準備す
る。準備工程は、第1領域62、第2領域64、及び接
続領域68を有する導電板を準備する。第1領域62
は、略長方形形状を有する。第2領域64は、当該略長
方形の一の辺と略平行な第1領域62を通過しない直線
について、第1領域62と略対称な形状を有する。接続
領域68は、第1領域62と第2領域64とを接続す
る。準備工程は、略コの字型の導電板を準備してよい。
FIG. 8 shows a connection electrode manufacturing method for manufacturing the connection electrode 10. FIG. 8A is a diagram illustrating the preparation process. The connection electrode manufacturing method includes a preparation step and a formation step. In the preparation step, a conductive plate is prepared. In the present embodiment, the preparation step prepares a metal plate as the conductive plate. In the preparation step, a conductive plate having a first area 62, a second area 64, and a connection area 68 is prepared. First area 62
Has a substantially rectangular shape. The second region 64 has a shape that is substantially symmetrical to the first region 62 with respect to a straight line that does not pass through the first region 62 that is substantially parallel to one side of the substantially rectangular shape. The connection area 68 connects the first area 62 and the second area 64. In the preparing step, a substantially U-shaped conductive plate may be prepared.

【0048】図8(b)は、形成工程を説明する図であ
る。形成工程は、導電板を巻くことで、図4に関連して
説明したデバイス側電極22を形成する。本実施形態に
おいて、形成工程は、デバイス側電極形成工程及び基板
側電極形成工程を有する。デバイス側電極形成工程は、
第1領域62を巻くことで、デバイス側電極22を形成
する。デバイス側電極形成工程は、略円筒形のデバイス
側電極22を形成するのが好ましい。また、基板側電極
形成工程は、第2領域64を巻くことで、図4に関連し
て説明した基板側電極24を形成する。基板側電極形成
工程は、デバイス側電極22と略同一の中心軸を有する
略円筒形の基板側電極24を形成するのが好ましい。
FIG. 8B is a diagram for explaining the forming process. In the forming step, the device-side electrode 22 described with reference to FIG. 4 is formed by winding a conductive plate. In the present embodiment, the forming process includes a device-side electrode forming process and a substrate-side electrode forming process. The device side electrode formation process is
The device-side electrode 22 is formed by winding the first region 62. In the device-side electrode forming step, it is preferable to form the substantially cylindrical device-side electrode 22. In the substrate-side electrode forming step, the substrate-side electrode 24 described with reference to FIG. 4 is formed by winding the second region 64. In the substrate side electrode forming step, it is preferable to form a substantially cylindrical substrate side electrode 24 having a central axis substantially the same as that of the device side electrode 22.

【0049】本実施形態において、接続電極は、金属板
を巻くことにより形成される。また、接続電極が有する
電極保持部は、IC電極と基板電極との距離に応じて変
形し、ICと基板とを適切に接続する。よって、本実施
形態によれば、低コストかつ接触信頼性に優れたICソ
ケットを提供することができる。
In the present embodiment, the connection electrode is formed by winding a metal plate. In addition, the electrode holding portion of the connection electrode is deformed according to the distance between the IC electrode and the substrate electrode to properly connect the IC and the substrate. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to provide an IC socket that is low in cost and excellent in contact reliability.

【0050】また、別の実施例において、図3に関連し
て説明したハウジング90は一体に形成されてもよい。
この場合、ハウジング90は、図3に関連して説明した
デバイス側ハウジング開口部52の縁からハウジング9
0の表面に平行に延伸する挿入口を更に含むのが好まし
い。この場合、当該挿入口は、図4に関連して説明した
電極保持部30を通過させる。ハウジング90は、デバ
イス側ハウジング開口部52と当該挿入口とを含む挿入
開口部を表面に有してよい。ICソケット100は、挿
入開口部から接続電極10をハウジング90に挿入する
ことにより製造される。
In another embodiment, the housing 90 described with reference to FIG. 3 may be integrally formed.
In this case, the housing 90 starts from the edge of the device-side housing opening 52 described with reference to FIG.
It is preferable to further include an insertion port extending parallel to the 0 surface. In this case, the insertion port allows the electrode holder 30 described with reference to FIG. 4 to pass through. The housing 90 may have an insertion opening including the device-side housing opening 52 and the insertion opening on the surface. The IC socket 100 is manufactured by inserting the connection electrode 10 into the housing 90 from the insertion opening.

【0051】図9は、本実施形態に係る接続電極10の
別の例を示す。図9(a)は、本例の接続電極10の斜
視図を示す。本例において、デバイス側電極22は、導
電板を渦状に巻くことにより形成される。この場合、当
該渦状に巻かれた導電板は、外周が内周より接続方向に
おいて突出するのが好ましい。
FIG. 9 shows another example of the connection electrode 10 according to this embodiment. FIG. 9A shows a perspective view of the connection electrode 10 of this example. In this example, the device-side electrode 22 is formed by spirally winding a conductive plate. In this case, it is preferable that the outer periphery of the spirally wound conductive plate protrudes from the inner periphery in the connecting direction.

【0052】図9(b)は、本例の接続電極10の上面
図を示す。本例において、デバイス側電極22は、略2
周の渦巻き状の形状を有する。別の実施例において、デ
バイス側電極22は更に多くの巻数を有してもよい。
FIG. 9B shows a top view of the connection electrode 10 of this example. In this example, the device-side electrode 22 is approximately 2
It has a spiral shape around the circumference. In another example, the device-side electrode 22 may have more turns.

【0053】図9(c)は、本例の接続電極10を製造
する接続電極製造方法を説明する図である。本例におい
て、接続電極10は、第1領域62、第2領域64、及
び接続領域68を有する導電板から形成される。本例に
おいて、第1領域62及び第2領域64は、それぞれ略
台形の形状を有し、接続領域68と当該略台形の下底に
おいて接続する。本例においても、低コストかつ接触信
頼性に優れたICソケットを提供することができる。
FIG. 9C is a diagram for explaining the method of manufacturing the connection electrode for manufacturing the connection electrode 10 of this example. In this example, the connection electrode 10 is formed of a conductive plate having a first region 62, a second region 64, and a connection region 68. In this example, the first region 62 and the second region 64 each have a substantially trapezoidal shape, and are connected to the connection region 68 at the lower bottom of the substantially trapezoidal shape. Also in this example, it is possible to provide an IC socket that is low in cost and excellent in contact reliability.

【0054】図10は、本実施形態に係る接続電極10
の別の例を示す。図10(a)は、ワイヤにより形成さ
れた接続電極10の例を示す。接続電極10は、デバイ
ス側電極22、基板側電極24、及び電極保持部30を
有する。本例において、デバイス側電極22、基板側電
極24、及び電極保持部30はチューブ状のワイヤによ
り一体に形成される。デバイス側電極22は、当該チュ
ーブの断面を端部に有する。デバイス側電極22は、当
該チューブの中空部分に対応するデバイス側開口部26
を有する。また、基板側電極24は、当該チューブの断
面を端部に有する。基板側電極24は、当該チューブの
中空部分に対応する基板側開口部28を有する。この場
合も、低コストかつ接触信頼性に優れたICソケットを
提供することができる。
FIG. 10 shows a connection electrode 10 according to this embodiment.
Another example of FIG. 10A shows an example of the connection electrode 10 formed of a wire. The connection electrode 10 includes a device-side electrode 22, a substrate-side electrode 24, and an electrode holding portion 30. In this example, the device-side electrode 22, the substrate-side electrode 24, and the electrode holding portion 30 are integrally formed by a tubular wire. The device-side electrode 22 has the cross section of the tube at the end. The device-side electrode 22 has a device-side opening 26 corresponding to the hollow portion of the tube.
Have. The substrate-side electrode 24 has the cross section of the tube at the end. The substrate-side electrode 24 has a substrate-side opening 28 corresponding to the hollow portion of the tube. Also in this case, it is possible to provide an IC socket that is low in cost and excellent in contact reliability.

【0055】図10(b)は、複数の導電板により形成
された接続電極10の例を示す。接続電極10は、デバ
イス側電極22、基板側電極24、及び電極保持部30
を有する。本例において、デバイス側電極22、基板側
電極24、及び電極保持部30のそれぞれは、複数の導
電板により形成される。デバイス側電極22を形成する
複数の導電板は、それぞれ鋸歯状の先端部を有し、当該
先端部においてIC電極に接続される。また、デバイス
側電極24を形成する複数の導電板は、それぞれ鋸歯状
の先端部を有し、当該先端部において基板電極に接続さ
れる。この場合も、低コストかつ接触信頼性に優れたI
Cソケットを提供することができる。
FIG. 10B shows an example of the connection electrode 10 formed of a plurality of conductive plates. The connection electrode 10 includes a device-side electrode 22, a substrate-side electrode 24, and an electrode holder 30.
Have. In this example, each of the device-side electrode 22, the substrate-side electrode 24, and the electrode holder 30 is formed of a plurality of conductive plates. Each of the plurality of conductive plates forming the device-side electrode 22 has a saw-toothed tip, and the tip is connected to the IC electrode. The plurality of conductive plates forming the device-side electrode 24 each have a saw-toothed tip portion, and the tip portion is connected to the substrate electrode. Also in this case, I which has low cost and excellent contact reliability
A C socket can be provided.

【0056】また、本発明の別の実施形態は、例えば、
ICを試験する試験装置に電気的に接続されるパフォー
マンスボードであってもよい。パフォーマンスボード
は、接続部及びICソケットを備える。接続部は、試験
装置と電気的に接続される。接続部は、試験装置とIC
ソケットとを電気的に接続する。ICソケットは、図2
に関連して説明したICソケット100と同一又は同様
の機能を有してよい。別の実施例において、パフォーマ
ンスボードは、図1に関連して説明したソケットボード
500を備えてもよい。本実施形態によれば、低コスト
かつ接触信頼性に優れたICソケットを備えるパフォー
マンスボードを提供することができる。
Further, another embodiment of the present invention is, for example,
It may be a performance board electrically connected to a test device for testing the IC. The performance board has a connecting portion and an IC socket. The connection part is electrically connected to the test apparatus. The connection part is the test equipment and IC
Make an electrical connection with the socket. Figure 2 shows the IC socket.
It may have the same or similar function as the IC socket 100 described in relation to. In another example, the performance board may comprise the socket board 500 described in connection with FIG. According to this embodiment, it is possible to provide a performance board including an IC socket that is low in cost and excellent in contact reliability.

【0057】また、本発明の別の実施形態は、例えば、
ICを試験する試験装置であってもよい。試験装置は、
パターン発生部、信号入出力部、及び判定部を備える。
パターン発生部は、ICに入力されるべき入力パターン
信号を生成する。信号入出力部は、入力パターン信号を
ICに供給し、入力パターン信号に応じてICが出力す
る出力パターン信号を受け取る。本実施形態において、
信号入出力部は、ICソケットを有する。ICソケット
は、図2に関連して説明したICソケット100と同一
又は同様の機能を有してよい。信号入出力部は、例え
ば、テストヘッドに設けられてよい。判定部は、出力パ
ターン信号に応じてICの良否を判定する。別の実施例
において、信号入出力部は、図1に関連して説明したソ
ケットボード500を備えてもよい。本実施形態によれ
ば、低コストかつ接触信頼性に優れたICソケットを備
える試験装置を提供することができる。
Further, another embodiment of the present invention is, for example,
It may be a test device for testing an IC. The test equipment is
A pattern generation unit, a signal input / output unit, and a determination unit are provided.
The pattern generator generates an input pattern signal to be input to the IC. The signal input / output unit supplies an input pattern signal to the IC and receives an output pattern signal output from the IC according to the input pattern signal. In this embodiment,
The signal input / output unit has an IC socket. The IC socket may have the same or similar function as the IC socket 100 described with reference to FIG. The signal input / output unit may be provided in the test head, for example. The determination unit determines the quality of the IC according to the output pattern signal. In another embodiment, the signal input / output unit may include the socket board 500 described with reference to FIG. 1. According to this embodiment, it is possible to provide a test apparatus including an IC socket that is low in cost and has excellent contact reliability.

【0058】以上、本発明を実施形態を用いて説明した
が、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲に
は限定されない。上記実施形態に、多様な変更または改
良を加えることができる。そのような変更または改良を
加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、
特許請求の範囲の記載から明らかである。
Although the present invention has been described with reference to the embodiments, the technical scope of the present invention is not limited to the scope described in the above embodiments. Various changes or improvements can be added to the above-described embodiment. It is also possible to include such modifications or improvements in the technical scope of the present invention.
It is clear from the description of the claims.

【0059】[0059]

【発明の効果】上記説明から明らかなように、本発明に
よれば、低コストかつ接触信頼性に優れたICソケット
を提供することができる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, it is possible to provide an IC socket which is low in cost and excellent in contact reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施形態に係るソケットボード5
00の分解斜視図を示す。
FIG. 1 is a socket board 5 according to an embodiment of the present invention.
00 is an exploded perspective view of FIG.

【図2】 本実施形態に係るIC200の外形の一例を
示す。
FIG. 2 shows an example of an outer shape of an IC 200 according to this embodiment.

【図3】 本実施形態に係るICソケット100の一例
を示す。
FIG. 3 shows an example of an IC socket 100 according to this embodiment.

【図4】 本実施形態に係る接続電極10の一例を示
す。図4(a)は、接続電極10の斜視図を示す。図4
(b)は、接続電極10の上面図を示す。
FIG. 4 shows an example of a connection electrode 10 according to this embodiment. FIG. 4A shows a perspective view of the connection electrode 10. Figure 4
(B) shows a top view of the connection electrode 10.

【図5】 本実施形態に係る接続電極10の動作の一例
を示す。
FIG. 5 shows an example of the operation of the connection electrode 10 according to the present embodiment.

【図6】 本実施形態に係る複数の接続電極(10−
1、10−2)の動作の一例を示す。
FIG. 6 shows a plurality of connection electrodes (10-
An example of the operation of 1, 10-2) will be shown.

【図7】 本実施形態に係る接続電極10の動作の他の
例を示す。
FIG. 7 shows another example of the operation of the connection electrode 10 according to the present embodiment.

【図8】 接続電極10を製造する接続電極製造方法を
示す。図8(a)は、準備工程を説明する図である。図
8(b)は、形成工程を説明する図である。
FIG. 8 shows a connection electrode manufacturing method for manufacturing the connection electrode 10. FIG. 8A is a diagram illustrating the preparation process. FIG. 8B is a diagram illustrating the forming process.

【図9】 本実施形態に係る接続電極10の別の例を示
す。図9(a)は、本例の接続電極10の斜視図を示
す。図9(b)は、本例の接続電極10の上面図を示
す。図9(c)は、本例の接続電極10を製造する接続
電極製造方法を説明する図である。
FIG. 9 shows another example of the connection electrode 10 according to the present embodiment. FIG. 9A shows a perspective view of the connection electrode 10 of this example. FIG. 9B shows a top view of the connection electrode 10 of this example. FIG. 9C is a diagram illustrating a connection electrode manufacturing method for manufacturing the connection electrode 10 of this example.

【図10】 本実施形態に係る接続電極10の別の例を
示す。図10(a)は、ワイヤにより形成された接続電
極10の例を示す。図10(b)は、複数の導電板によ
り形成された接続電極10の例を示す。
FIG. 10 shows another example of the connection electrode 10 according to the present embodiment. FIG. 10A shows an example of the connection electrode 10 formed of a wire. FIG. 10B shows an example of the connection electrode 10 formed of a plurality of conductive plates.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・接続電極10、22・・・デバイス側電極2
2、24・・・基板側電極24、26・・・デバイス側
開口部26、28・・・基板側開口部28、30・・・
電極保持部30、42・・・デバイス側ハウジング4
2、44・・・基板側ハウジング44、62・・・第1
領域62、64・・・第2領域64、68・・・接続領
域68、90・・・ハウジング90、100・・・IC
ソケット100、200・・・IC200、202・・
・IC電極202、204・・・ソケットガイド20
4、206・・・基板206、208・・・ランド20
8、208・・・基板電極208、210・・・加圧ヘ
ッド210、212・・・インサート212、500・
・・ソケットボード500、
10 ... Connection electrodes 10, 22 ... Device-side electrode 2
2, 24 ... Substrate side electrodes 24, 26 ... Device side openings 26, 28 ... Substrate side openings 28, 30 ...
Electrode holder 30, 42 ... Device-side housing 4
2, 44 ... Board side housing 44, 62 ... First
Areas 62, 64 ... Second areas 64, 68 ... Connection areas 68, 90 ... Housing 90, 100 ... IC
Sockets 100, 200 ... IC 200, 202 ...
・ IC electrodes 202, 204 ... Socket guide 20
4, 206 ... Substrate 206, 208 ... Land 20
8, 208 ... Substrate electrodes 208, 210 ... Pressure heads 210, 212 ... Inserts 212, 500 ...
..Socket board 500,

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G003 AA07 AD09 AG01 AG08 AG10 AG12 AH05 2G011 AA07 AA16 AB01 AB06 AB07 AC14 AE22 AF02 5E024 CA18 CB05 5E063 GA02 GA05    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2G003 AA07 AD09 AG01 AG08 AG10                       AG12 AH05                 2G011 AA07 AA16 AB01 AB06 AB07                       AC14 AE22 AF02                 5E024 CA18 CB05                 5E063 GA02 GA05

Claims (38)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ICに電気的に接続されるICソケット
であって、 前記ICに電気的に接続される接続電極と、 前記接続電極を移動可能に保持するハウジングとを備え
ることを特徴とするICソケット。
1. An IC socket electrically connected to an IC, comprising: a connection electrode electrically connected to the IC; and a housing for movably holding the connection electrode. IC socket.
【請求項2】 複数の前記接続電極を備え、 前記ハウジングは、前記複数の接続電極を、それぞれ独
立に移動可能に保持することを特徴とする請求項1に記
載のICソケット。
2. The IC socket according to claim 1, further comprising a plurality of the connection electrodes, wherein the housing holds the plurality of the connection electrodes independently of each other.
【請求項3】 前記ハウジングは、前記ICと前記接続
電極とが接触する方向である接続方向と略直交する方向
に、前記接続電極を移動可能に保持することを特徴とす
る請求項1に記載のICソケット。
3. The housing according to claim 1, wherein the housing movably holds the connection electrode in a direction substantially orthogonal to a connection direction in which the IC and the connection electrode are in contact with each other. IC socket.
【請求項4】 前記ハウジングは、前記接続電極を収容
する収容部を有し、 前記収容部は、前記ハウジングの前記ICと対向する表
面にデバイス側ハウジング開口部を含み、 前記接続電極は、前記デバイス側ハウジング開口部を介
して前記ICに接続されることを特徴とする請求項3に
記載のICソケット。
4. The housing has a housing for housing the connection electrode, the housing includes a device-side housing opening on a surface of the housing facing the IC, and the connection electrode includes: The IC socket according to claim 3, wherein the IC socket is connected to the IC through a device-side housing opening.
【請求項5】 前記デバイス側ハウジング開口部の径
は、前記接続電極を前記接続方向に投影した図形の径よ
り小さいことを特徴とする請求項4に記載のICソケッ
ト。
5. The IC socket according to claim 4, wherein a diameter of the device-side housing opening is smaller than a diameter of a figure in which the connection electrode is projected in the connection direction.
【請求項6】 前記デバイス側ハウジング開口部の径
は、前記接続方向に直交する平面による前記収容部の断
面の径より小さいことを特徴とする請求項4に記載のI
Cソケット。
6. The I according to claim 4, wherein a diameter of the device-side housing opening is smaller than a diameter of a cross section of the accommodating portion formed by a plane orthogonal to the connection direction.
C socket.
【請求項7】 前記接続電極は、前記接続方向において
前記デバイス側ハウジング開口部から突出することを特
徴とする請求項4に記載のICソケット。
7. The IC socket according to claim 4, wherein the connection electrode projects from the device-side housing opening in the connection direction.
【請求項8】 前記ハウジングは、前記接続電極を前記
接続方向において係止する係止部を更に有することを特
徴とする請求項4に記載のICソケット。
8. The IC socket according to claim 4, wherein the housing further has a locking portion that locks the connection electrode in the connection direction.
【請求項9】 前記ICソケットは、前記ICと基板と
を電気的に接続し、前記収容部は、前記ハウジングの前
記基板と対向する表面に基板側ハウジング開口部を更に
含み、 前記接続電極は、前記接続方向において前記基板側ハウ
ジング開口部から突出し、前記基板が有する基板電極に
電気的に接続されることを特徴とする請求項4に記載の
ICソケット。
9. The IC socket electrically connects the IC and a substrate, the housing portion further includes a substrate-side housing opening on a surface of the housing facing the substrate, and the connection electrode is The IC socket according to claim 4, wherein the IC socket protrudes from the board-side housing opening in the connection direction and is electrically connected to a board electrode included in the board.
【請求項10】 前記ハウジングは、前記接続方向に、
分割されたことを特徴とする請求項3に記載にICソケ
ット。
10. The housing comprises:
The IC socket according to claim 3, wherein the IC socket is divided.
【請求項11】 前記ハウジングは、前記接続方向に、
前記接続電極を移動可能に保持することを特徴とする請
求項3に記載のICソケット。
11. The housing comprises:
The IC socket according to claim 3, wherein the connection electrode is movably held.
【請求項12】 前記ハウジングは、前記接続電極を、
前記接続方向を軸とする回転可能に保持することを特徴
とする請求項3に記載のICソケット。
12. The housing includes the connection electrode,
The IC socket according to claim 3, wherein the IC socket is held rotatably around the connection direction.
【請求項13】 前記接続電極は、前記ICが有するI
C電極に前記接続方向に押圧されることにより、前記接
続方向と略直交する方向に移動し、前記IC電極と係合
することを特徴とする請求項3に記載のICソケット。
13. The connection electrode has an I included in the IC.
The IC socket according to claim 3, wherein when the C electrode is pressed in the connecting direction, the C electrode moves in a direction substantially orthogonal to the connecting direction and engages with the IC electrode.
【請求項14】 前記接続電極は、略円筒形のデバイス
側電極を有し、当該デバイス側電極の開口部の縁におい
て前記IC電極に電気的に接続されることを特徴とする
請求項13に記載のICソケット。
14. The connection electrode has a substantially cylindrical device-side electrode, and is electrically connected to the IC electrode at an edge of an opening of the device-side electrode. The described IC socket.
【請求項15】 前記IC電極はBGA型ICの電極で
あって、 前記デバイス側電極は、前記IC電極の先端部を前記デ
バイス側電極の開口部に収容し、当該先端部の周辺部と
接触することにより、前記IC電極に電気的に接続され
ることを特徴とする請求項14に記載のICソケット。
15. The IC electrode is a BGA type IC electrode, and the device-side electrode accommodates a tip portion of the IC electrode in an opening of the device-side electrode and contacts a peripheral portion of the tip portion. 15. The IC socket according to claim 14, wherein the IC socket is electrically connected to the IC electrode.
【請求項16】 前記ICソケットは、前記ICと基板
とを電気的に接続し、 前記接続電極は、 略円筒形の基板側電極と、 前記デバイス側電極及び前記基板側電極を保持する弾性
体である電極保持部とを更に有し、 前記基板側電極の開口部の縁において前記基板が有する
基板電極に電気的に接続されることを特徴とする請求項
14に記載のICソケット。
16. The IC socket electrically connects the IC to a substrate, and the connection electrode has a substantially cylindrical substrate-side electrode, and an elastic body that holds the device-side electrode and the substrate-side electrode. 15. The IC socket according to claim 14, further comprising: an electrode holder, which is electrically connected to a substrate electrode of the substrate at an edge of the opening of the substrate-side electrode.
【請求項17】 前記ハウジングは、前記電極保持部を
前記接続方向において係止する係止部を更に有すること
を特徴とする請求項16に記載のICソケット。
17. The IC socket according to claim 16, wherein the housing further includes a locking portion that locks the electrode holding portion in the connection direction.
【請求項18】 前記基板側電極の中心軸は、前記デバ
イス側電極の中心軸と略同一な直線上にあることを特徴
とする請求項16に記載のICソケット。
18. The IC socket according to claim 16, wherein the central axis of the substrate-side electrode is substantially on the same straight line as the central axis of the device-side electrode.
【請求項19】 前記電極保持部は、前記デバイス側電
極と前記基板側電極とを電気的に接続することを特徴と
する請求項16に記載のICソケット。
19. The IC socket according to claim 16, wherein the electrode holding part electrically connects the device-side electrode and the substrate-side electrode.
【請求項20】 前記電極保持部の一端は前記デバイス
側電極の側面と接合され、 前記電極保持部の他端は前記基板側電極の側面と接合さ
れることを特徴とする請求項16に記載のICソケッ
ト。
20. The one end of the electrode holding portion is joined to a side surface of the device side electrode, and the other end of the electrode holding portion is joined to a side surface of the substrate side electrode. IC socket.
【請求項21】 前記接続電極が、前記IC電極又は前
記基板電極により、押圧された場合、 前記電極保持部は、前記デバイス側電極と前記基板側電
極とを互いに近づけるべく変形することを特徴とする請
求項16に記載のICソケット。
21. When the connection electrode is pressed by the IC electrode or the substrate electrode, the electrode holding portion is deformed to bring the device-side electrode and the substrate-side electrode closer to each other. The IC socket according to claim 16.
【請求項22】 前記基板電極は、前記IC電極と、前
記接続電極を挟んで対向することを特徴とする請求項1
6に記載のICソケット。
22. The substrate electrode faces the IC electrode with the connection electrode interposed therebetween.
6. The IC socket according to 6.
【請求項23】 前記デバイス側電極、前記基板側電
極、及び前記電極保持部は一体に形成されたことを特徴
とする請求項16に記載のICソケット。
23. The IC socket according to claim 16, wherein the device-side electrode, the substrate-side electrode, and the electrode holding portion are integrally formed.
【請求項24】 前記デバイス側電極は、導電板を巻く
ことにより前記略円筒形に形成されたことを特徴とする
請求項14に記載のICソケット。
24. The IC socket according to claim 14, wherein the device-side electrode is formed into a substantially cylindrical shape by winding a conductive plate.
【請求項25】 前記導電板は、前記略円筒形の側面の
1/2周以上の部分を形成することを特徴とする請求項
24に記載のICソケット。
25. The IC socket according to claim 24, wherein the conductive plate forms a part of the side surface of the substantially cylindrical shape that is ½ circumference or more.
【請求項26】 前記ICソケットは、前記ICと基板
とを電気的に接続し、 前記接続電極は、前記基板が有する基板電極に電気的に
接続される基板側電極を更に有し、 前記デバイス側電極は、第1端及び第2端を有する略コ
の字型形状を有する導電板の、前記第1端を含む部分を
巻くことにより前記略円筒形に形成され、 前記基板側電極は、前記略コの字型形状を有する導電板
の前記第2端を含む部分を巻くことにより、略円筒形に
形成されたことを特徴とする請求項14に記載のICソ
ケット。
26. The IC socket electrically connects the IC to a substrate, and the connection electrode further has a substrate-side electrode electrically connected to a substrate electrode of the substrate, The side electrode is formed in the substantially cylindrical shape by winding a portion including the first end of a conductive plate having a substantially U-shape having a first end and a second end, and the substrate side electrode is The IC socket according to claim 14, wherein the IC socket is formed into a substantially cylindrical shape by winding a portion including the second end of the conductive plate having the substantially U-shape.
【請求項27】 前記デバイス側電極は、導電板を渦状
に巻くことにより形成されたことを特徴とする請求項1
4に記載のICソケット。
27. The device-side electrode is formed by spirally winding a conductive plate.
The IC socket according to 4.
【請求項28】 前記渦状に巻かれた前記導電板は、外
周が内周より前記接続方向において突出したことを特徴
とする請求項27に記載のICソケット。
28. The IC socket according to claim 27, wherein an outer circumference of the spirally wound conductive plate protrudes from an inner circumference in the connection direction.
【請求項29】 前記デバイス側電極は、前記略円筒形
の母線と略平行な切り込みを有することを特徴とする請
求項14に記載のICソケット。
29. The IC socket according to claim 14, wherein the device-side electrode has a notch that is substantially parallel to the generally cylindrical generatrix.
【請求項30】 前記ICソケットは、前記ICと基板
とを電気的に接続し、 前記接続電極は、前記基板が有する基板電極に、前記基
板と前記接続電極とを結ぶ方向に押圧されることによ
り、前記基板と前記接続電極とを結ぶ方向と略直交する
方向に移動し、前記基板電極と係合することを特徴とす
る請求項1に記載のICソケット。
30. The IC socket electrically connects the IC and a substrate, and the connection electrode is pressed by a substrate electrode of the substrate in a direction connecting the substrate and the connection electrode. The IC socket according to claim 1, wherein the IC socket moves in a direction substantially orthogonal to a direction connecting the substrate and the connection electrode, and engages with the substrate electrode.
【請求項31】 ICが有するIC電極に電気的に接続
されるソケットボードであって、 基板電極を有する基板と、 前記IC電極と前記基板電極とを電気的に接続するIC
ソケットとを備え、 前記ICソケットは、 前記ICに電気的に接続される接続電極と、 前記接続電極を移動可能に保持するハウジングとを有す
ることを特徴とするソケットボード。
31. A socket board electrically connected to an IC electrode of an IC, comprising: a substrate having a substrate electrode; and an IC electrically connecting the IC electrode and the substrate electrode.
A socket board, comprising: a socket, wherein the IC socket includes a connection electrode electrically connected to the IC, and a housing that movably holds the connection electrode.
【請求項32】 ICが有するIC電極に電気的に接続
される接続電極であって、略円筒形のデバイス側電極を
備え、当該デバイス側電極の開口部の縁において前記I
C電極に電気的に接続されることを特徴とする接続電
極。
32. A connection electrode electrically connected to an IC electrode of an IC, comprising a device-side electrode having a substantially cylindrical shape, and the I-shaped electrode at the edge of the opening of the device-side electrode.
A connection electrode, which is electrically connected to a C electrode.
【請求項33】 BGA型ICが有するIC電極に電気
的に接続される接続電極であって、 前記IC電極の先端部を前記デバイス側電極の開口部に
収容し、当該先端部の周辺部と接触することにより、前
記IC電極に電気的に接続されるデバイス側電極を備え
ることを特徴とする接続電極。
33. A connection electrode electrically connected to an IC electrode of a BGA type IC, wherein the tip of the IC electrode is housed in an opening of the device-side electrode, and a peripheral portion of the tip is provided. A connection electrode comprising a device-side electrode that is electrically connected to the IC electrode by contacting.
【請求項34】 ICに電気的に接続される接続電極を
製造する接続電極製造方法であって、 導電板を用意する準備工程と、 前記導電板を巻くことで、前記ICが有するIC電極に
電気的に接続されるデバイス側電極を形成する形成工程
とを備えることを特徴とする接続電極製造方法。
34. A connection electrode manufacturing method for manufacturing a connection electrode electrically connected to an IC, comprising: preparing a conductive plate; and winding the conductive plate to form an IC electrode included in the IC. And a forming step of forming a device-side electrode to be electrically connected.
【請求項35】 前記準備工程は、 略長方形形状を有する第1領域と、 前記略長方形の一の辺と略平行な前記第1領域を通過し
ない直線について、前記第1領域と略対称な形状を有す
る第2領域と、 前記第1領域と前記第2領域とを接続する接続領域とを
有する形状の前記導電板を準備することを特徴とする請
求項34に記載の接続電極製造方法。
35. In the preparing step, a first region having a substantially rectangular shape, and a straight line that does not pass through the first region that is substantially parallel to one side of the substantially rectangular shape and is substantially symmetrical to the first region. 35. The method of manufacturing a connection electrode according to claim 34, wherein the conductive plate having a shape having a second region having a region and a connection region connecting the first region and the second region is prepared.
【請求項36】 前記接続電極は、前記ICと基板とを
電気的に接続し、 前記形成工程は、 前記第1領域を巻くことで、前記デバイス側電極を形成
するデバイス側電極形成工程と、 前記第2領域を巻くことで、前記基板が有する基板電極
に電気的に接続される基板側電極を形成する基板側電極
形成工程とを有することを特徴とする請求項35に記載
の接続電極製造方法。
36. The connection electrode electrically connects the IC and the substrate, and the forming step includes a device-side electrode forming step of forming the device-side electrode by winding the first region, 36. The connection electrode manufacturing method according to claim 35, further comprising: a substrate-side electrode forming step of forming a substrate-side electrode electrically connected to a substrate electrode of the substrate by winding the second region. Method.
【請求項37】 デバイス側電極形成工程は、略円筒形
の前記デバイス側電極を形成し、 前記基板側電極形成工程は、前記デバイス側電極と略同
一の中心軸を有する略円筒形の前記基板側電極を形成す
ることを特徴とする請求項36に記載の接続電極製造方
法。
37. The device-side electrode forming step forms the device-side electrode having a substantially cylindrical shape, and the substrate-side electrode forming step has a substantially cylindrical substrate having a central axis substantially the same as that of the device-side electrode. The method of manufacturing a connection electrode according to claim 36, wherein a side electrode is formed.
【請求項38】 前記準備工程は、略コの字型の前記導
電板を準備することを特徴とする請求項34に記載の接
続電極製造方法。
38. The method of manufacturing a connection electrode according to claim 34, wherein the preparing step prepares the substantially U-shaped conductive plate.
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