JP2003280549A - Active matrix type display device, and its producing method - Google Patents

Active matrix type display device, and its producing method

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JP2003280549A
JP2003280549A JP2002087501A JP2002087501A JP2003280549A JP 2003280549 A JP2003280549 A JP 2003280549A JP 2002087501 A JP2002087501 A JP 2002087501A JP 2002087501 A JP2002087501 A JP 2002087501A JP 2003280549 A JP2003280549 A JP 2003280549A
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layer
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雄二郎 原
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豊 小野塚
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毅 日置
Masahiko Akiyama
政彦 秋山
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an active matrix type display device which is formed by sticking a thin glass layer obtained by forming active elements as a film onto a light resin substrate so as not to break it, and also to provide its producing method. <P>SOLUTION: The matrix type display device includes: the resin substrate comprising recessions and a wall enclosing each recession on one front surface, and comprising each notch which is arranged at least one place on each wall; the thin glass layer bonded onto the recession of the resin substrate via an adhesive layer; the active elements arrayed on the thin glass layer; a display part which is arranged on the thin glass layer, is driven by the active elements, and performs display at each pixel; and an opposing substrate disposed on the display part. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、アクティブマトリ
クス型表示装置およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix type display device and its manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】各画素に、薄膜トランジスタ(TFT)
等のアクティブ素子を配置したアクティブマトリクス型
表示装置は、高画質な平面型の表示装置を実現すること
ができる。このアクティブマトリクス型表示装置の表示
部としては、光のシャッタとなる液晶や自発光する有機
EL、マイクロカプセルによって封じられた電気泳動素
子等を用いることが出来る。また、これらのアクティブ
マトリクス型表示装置は、薄型、軽量に出来ることか
ら、ノートパソコンやPDAなどの持ち歩くことの出来
る情報機器に最適である。
2. Description of the Related Art A thin film transistor (TFT) is provided in each pixel.
The active matrix type display device in which the active elements such as are arranged can realize a high quality flat type display device. As the display unit of this active matrix type display device, a liquid crystal serving as a light shutter, a self-luminous organic EL, an electrophoretic element encapsulated by a microcapsule, or the like can be used. Further, since these active matrix type display devices can be made thin and lightweight, they are suitable for portable information devices such as notebook computers and PDAs.

【0003】アクティブ素子として用いられるTFTと
しては、活性層にアモルファスシリコン、多結晶シリコ
ン等からなる半導体膜が用いられている。これらのTF
Tを作製する際に、良好な半導体膜やゲート絶縁膜等の
膜質を得る為には、アモルファスシリコンで250〜3
50℃程度、多結晶シリコン等の結晶性の良いシリコン
では400〜650℃程度のプロセス温度を必要とす
る。そのため基板の材料が限定され、従来から無アルカ
リガラス等のガラス基板が用いられてきた。
In a TFT used as an active element, a semiconductor film made of amorphous silicon, polycrystalline silicon or the like is used as an active layer. These TF
In order to obtain good film quality such as a semiconductor film and a gate insulating film when T is manufactured, amorphous silicon is used in an amount of 250 to 3
A process temperature of about 50 to about 650 ° C. is required for silicon having good crystallinity such as polycrystalline silicon. Therefore, the material of the substrate is limited, and glass substrates such as alkali-free glass have been used conventionally.

【0004】携帯できる情報機器は、今後無線ネットワ
ークの整備と共に広く用いられていくものと考えられる
為、表示装置としては、より一層の薄型化、軽量化が求
められる。この要求に対して、基板として、ガラス基板
でなく、樹脂基板を用いるアクティブマトリクス型表示
装置が提案されている。
Since portable information equipment is expected to be widely used with the development of wireless networks in the future, further thinning and lightening of the display device are required. To meet this demand, an active matrix type display device using a resin substrate instead of a glass substrate has been proposed as a substrate.

【0005】樹脂基板を用いたアクティブマトリクス型
表示装置の一例として、樹脂基板の耐熱性を上げ、プロ
セス温度を出来るだけ低温としたTFTを形成する報告
がなされている。この方法では、樹脂基板がガラス基板
に比べて比重が1/2以下であることから軽量に出来る
と共に、プラスチックがフレキシブルであるために、曲
げることができ、耐衝撃性に強いなどの特性も得ること
が出来る。
As an example of an active matrix type display device using a resin substrate, it has been reported that the heat resistance of the resin substrate is increased and a TFT having a process temperature as low as possible is formed. In this method, since the resin substrate has a specific gravity of 1/2 or less as compared with the glass substrate, the resin substrate can be made lighter, and since the plastic is flexible, it can be bent, and it has characteristics such as strong impact resistance. You can

【0006】しかしながら、樹脂基板は単に耐熱性が1
00〜200℃程度と低いだけでなく、吸湿することに
よる変形があり、また線膨張係数がガラス基板より一桁
程度大きい。特に表示装置で必要とされる透明な樹脂基
板ではこのような傾向が顕著である。これらから、樹脂
基板上にアクティブ素子等を形成した際には、剥離や断
線等が生じてしまう。従って、樹脂基板を用いた場合に
は、ガラス基板上にアクティブ素子等を形成するときの
ようには、高精度なパターンを形成することが出来ず、
またTFTを用いた画素部の画素スイッチや駆動回路等
の性能が低くなってしまう問題があった。さらに、樹脂
基板を用いる際には、脆い金属や絶縁材料を用いるとク
ラックが入りやすいなど、使用できる材料系に制限が多
くかかってしまっていた。
However, the resin substrate simply has a heat resistance of 1
Not only is it as low as about 00 to 200 ° C., but it is also deformed by absorbing moisture, and its coefficient of linear expansion is about one digit higher than that of the glass substrate. This tendency is remarkable especially in the transparent resin substrate required for the display device. From these, peeling, disconnection, etc. occur when an active element or the like is formed on a resin substrate. Therefore, when a resin substrate is used, it is not possible to form a highly precise pattern like when forming an active element or the like on a glass substrate,
Further, there is a problem that the performance of the pixel switch and the driving circuit in the pixel section using the TFT is deteriorated. Furthermore, when a resin substrate is used, if a brittle metal or an insulating material is used, cracks are likely to occur, which limits the usable material system.

【0007】これに対して、樹脂基板を用いたアクティ
ブマトリクス型表示装置の別の例として、ガラス基板や
シリコン基板の上に形成したTFTを樹脂基板に転写す
る方法が、特開2001−7340号公報などで提案さ
れている。この従来の転写方法を図15(a)〜(e)
を用いて説明する。
On the other hand, as another example of an active matrix type display device using a resin substrate, a method of transferring a TFT formed on a glass substrate or a silicon substrate to the resin substrate is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-7340. It is proposed in the bulletin. This conventional transfer method is shown in FIGS.
Will be explained.

【0008】まず図15(a)に示すように、ガラス等
からなる素子形成基板1501上にエッチングストッパ
ーとなる絶縁膜等からなる分離層1502を形成し、そ
の上に通常のプロセスを用いて、TFTや電極等の素子
1503を形成する。
First, as shown in FIG. 15A, a separation layer 1502 made of an insulating film or the like serving as an etching stopper is formed on an element formation substrate 1501 made of glass or the like, and a normal process is applied thereon. An element 1503 such as a TFT or an electrode is formed.

【0009】次に図15(b)に示すように、中間基板
1505上に接着性を有する接着・剥離層1504を形
成し、素子形成基板1501上に形成された素子150
3を、接着・剥離層1504を介して中間基板1505
に接着する。
Next, as shown in FIG. 15B, an adhesive / peeling layer 1504 having adhesiveness is formed on the intermediate substrate 1505, and the element 150 formed on the element forming substrate 1501.
3 through the adhesive / peel layer 1504
Glue to.

【0010】次に図15(c)に示すように、素子形成
基板1501を、エッチングなどにより分離層1502
が残るように除去する。
Next, as shown in FIG. 15C, the element formation substrate 1501 is separated by a separation layer 1502 by etching or the like.
Remove so that it remains.

【0011】次に図15(d)に示すように、プラスチ
ックからなる転写先基板1507に接着性を有する接着
層1506を形成する。そして、分離層1502を接着
層1506に接着する。
Next, as shown in FIG. 15D, an adhesive layer 1506 having adhesiveness is formed on a transfer destination substrate 1507 made of plastic. Then, the separation layer 1502 is attached to the adhesive layer 1506.

【0012】次に図15(e)に示すように、接着・剥
離層1504を溶剤で溶かす等して、素子1503を中
間基板1505から転写先基板1507に転写する。
Next, as shown in FIG. 15E, the element 1503 is transferred from the intermediate substrate 1505 to the transfer destination substrate 1507 by dissolving the adhesive / peelable layer 1504 with a solvent.

【0013】図15に示されるような転写方法では、素
子形成基板1501の材料として耐熱性の良いガラス等
を用いることが出来るため、高精度に性能の高いTFT
を形成できると考えられる。
In the transfer method as shown in FIG. 15, since it is possible to use glass or the like having good heat resistance as the material of the element forming substrate 1501, it is possible to perform the TFT with high precision and high performance.
Is thought to be formed.

【0014】しかしながら、この方法では、素子形成基
板1501を完全に除去する為、残った分離層1502
に穴があったり、分離層1502に薄すぎる領域があり
素子形成基板1501と一緒にエッチングされてしまう
場合などに、素子1503がダメージを受ける。特に大
画面のアクティブマトリクス型表示装置では、そのよう
なダメージを受ける可能性が高いことから、歩留まりが
低下する等の問題があった。
However, in this method, since the element forming substrate 1501 is completely removed, the remaining separation layer 1502 is removed.
The element 1503 is damaged in the case where the element formation substrate 1501 is etched together with a hole or a region where the separation layer 1502 is too thin. Particularly in a large-screen active matrix display device, there is a high possibility of receiving such damage, and there is a problem such as a decrease in yield.

【0015】また、表示部として用いられる液晶や有機
EL等にとって、転写先基板1507として用いられる
プラスチックは水分や酸素を透過させやすい為、劣化が
著しくなってしまう。従って、樹脂基板上に無機のガス
バリア層等を形成して、水分や酸素を出来るだけ遮断す
る必要があった。
Further, for the liquid crystal or the organic EL used as the display unit, the plastic used as the transfer destination substrate 1507 easily permeates moisture and oxygen, so that the deterioration becomes remarkable. Therefore, it is necessary to form an inorganic gas barrier layer or the like on the resin substrate to block moisture and oxygen as much as possible.

【0016】上述したように、従来は、軽量な樹脂基板
を用いて歩留まり良く形成可能なアクティブマトリクス
型表示装置を得ることが困難であった。
As described above, conventionally, it has been difficult to obtain an active matrix type display device which can be formed with a high yield by using a lightweight resin substrate.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、アクティブ
素子を形成して薄膜化した薄ガラス層を、軽量な樹脂基
板に割れを生じないよう貼り付けて形成することの可能
な、アクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is an active matrix type in which a thin glass layer in which an active element is formed and thinned is attached to a lightweight resin substrate so as not to cause cracks. An object is to provide a display device and a manufacturing method thereof.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】そこで本発明は、一方の
表面に窪みとこの窪みを囲む壁とを有し、この壁の少な
くとも一箇所に設けられる切欠きを有する樹脂基板と、
樹脂基板の窪み上に接着層を介して接着された薄ガラス
層と、薄ガラス層上にアレイ状に設けられたアクティブ
素子と、薄ガラス層上に設けられアクティブ素子によっ
て駆動され画素毎に表示可能な表示部と、表示部上に設
けられる対向基板とを具備することを特徴とするアクテ
ィブマトリクス型表示装置を提供する。
Therefore, according to the present invention, there is provided a resin substrate having a recess on one surface and a wall surrounding the recess, and a notch provided at least at one position of the wall,
A thin glass layer adhered to the depressions of the resin substrate via an adhesive layer, active elements provided in an array on the thin glass layer, and active elements provided on the thin glass layer and driven by the active elements to display each pixel There is provided an active matrix type display device comprising a display unit capable of performing the display and a counter substrate provided on the display unit.

【0019】また本発明は、一方の表面の外周の三辺に
コの字形の凸部を有し、その内側に凹部を有する樹脂基
板と、樹脂基板の凹部上に接着層を介して接着された薄
ガラス層と、薄ガラス層上にアレイ状に設けられたアク
ティブ素子と、薄ガラス層上に設けられアクティブ素子
によって駆動され画素毎に表示可能な表示部と、表示部
上に設けられる対向基板とを具備することを特徴とする
アクティブマトリクス型表示装置を提供する。
Further, according to the present invention, a resin substrate having a U-shaped convex portion on three sides of the outer periphery of one surface and a concave portion inside thereof is bonded to the concave portion of the resin substrate via an adhesive layer. Thin glass layer, active elements provided in an array on the thin glass layer, a display unit provided on the thin glass layer and driven by the active element for each pixel, and a counter provided on the display unit Provided is an active matrix type display device comprising a substrate.

【0020】また本発明は、樹脂基板と、樹脂基板上に
接着層を介して接着された薄ガラス層と、樹脂基板上の
薄ガラス層の周囲に接着層を介して接着される保護部材
と、薄ガラス層上にアレイ状に設けられたアクティブ素
子と、薄ガラス層上に設けられアクティブ素子によって
駆動され画素毎に表示可能な表示部と、表示部上に設け
られる対向基板とを具備し、保護部材には少なくとも一
箇所に切欠きが設けられることを特徴とするアクティブ
マトリクス型表示装置を提供する。
The present invention also includes a resin substrate, a thin glass layer adhered on the resin substrate via an adhesive layer, and a protective member adhered around the thin glass layer on the resin substrate via the adhesive layer. An array of active elements provided on the thin glass layer in an array, a display section provided on the thin glass layer and driven by the active elements and capable of displaying each pixel, and a counter substrate provided on the display section. Provided is an active matrix type display device characterized in that a protective member is provided with a notch at least at one location.

【0021】また本発明は、樹脂基板と、樹脂基板上に
接着層を介して接着された薄ガラス層と、樹脂基板上の
薄ガラス層の周囲の三辺に接着層を介して接着される保
護部材と、薄ガラス層上にアレイ状に設けられたアクテ
ィブ素子と、薄ガラス層上に設けられアクティブ素子に
よって駆動され画素毎に表示可能な表示部と、表示部上
に設けられる対向基板とを具備することを特徴とするア
クティブマトリクス型表示装置を提供する。
According to the present invention, the resin substrate, the thin glass layer adhered on the resin substrate via the adhesive layer, and the three sides around the thin glass layer on the resin substrate are adhered via the adhesive layer. A protective member, active elements provided in an array on the thin glass layer, a display section provided on the thin glass layer and driven by the active elements and capable of displaying each pixel, and a counter substrate provided on the display section An active matrix type display device characterized by comprising:

【0022】また本発明は、ガラス基板上にアレイ状に
アクティブ素子を形成する工程と、アクティブ素子を形
成したガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程
と、樹脂基板の一方の表面に窪みと、この窪みを囲む壁
と、この壁の少なくとも一箇所に設けられる切欠きとを
形成する工程と、薄ガラス層を、接着層を介して樹脂基
板の窪みに接着する工程と、薄ガラス層と対向基板とを
対向させて、アクティブ素子によって駆動され画素毎に
表示可能な表示部を形成する工程とを具備することを特
徴とするアクティブマトリクス型表示装置の製造方法を
提供する。
Further, according to the present invention, a step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a depression on one surface of the resin substrate. A step of forming a wall surrounding the recess and a notch provided in at least one location of the wall, a step of bonding the thin glass layer to the recess of the resin substrate via an adhesive layer, and a thin glass layer And a counter substrate are opposed to each other to form a display portion driven by an active element and capable of displaying each pixel, and a method of manufacturing an active matrix type display device.

【0023】また本発明は、ガラス基板上にアレイ状に
アクティブ素子を形成する工程と、アクティブ素子を形
成したガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程
と、樹脂基板の一方の表面の外周の三辺にコの字形の凸
部と、その内側の凹部とを形成する工程と、薄ガラス層
を、接着層を介して樹脂基板の凹部に接着する工程と、
薄ガラス層と対向基板とを対向させて、アクティブ素子
によって駆動され画素毎に表示可能な表示部を形成する
工程とを具備することを特徴とするアクティブマトリク
ス型表示装置の製造方法を提供する。
Further, according to the present invention, a step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and an outer periphery of one surface of the resin substrate. A step of forming a U-shaped convex portion on three sides and a concave portion inside thereof, and a step of adhering the thin glass layer to the concave portion of the resin substrate via an adhesive layer,
And a thin glass layer and a counter substrate are opposed to each other to form a display portion driven by active elements and capable of displaying for each pixel, thereby providing a method for manufacturing an active matrix type display device.

【0024】また本発明は、ガラス基板上にアレイ状に
アクティブ素子を形成する工程と、アクティブ素子を形
成したガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程
と、樹脂基板上に薄ガラス層を接着層を介して接着する
工程と、樹脂基板上の薄ガラス層の周囲に保護部材を接
着層を介して接着する工程と、薄ガラス層と対向基板と
を対向させて、アクティブ素子によって駆動され画素毎
に表示可能な表示部を形成する工程とを具備し、保護部
材には少なくとも一箇所に切欠きが設けられることを特
徴とするアクティブマトリクス型表示装置の製造方法を
提供する。
Further, according to the present invention, a step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a thin glass layer on the resin substrate. The step of adhering through the adhesive layer, the step of adhering the protective member around the thin glass layer on the resin substrate through the adhesive layer, and the thin glass layer and the counter substrate are opposed to each other and driven by the active element. And a step of forming a display portion capable of displaying for each pixel, wherein the protective member is provided with a notch at least at one location, and a method for manufacturing an active matrix type display device is provided.

【0025】また本発明は、ガラス基板上にアレイ状に
アクティブ素子を形成する工程と、アクティブ素子を形
成したガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程
と、樹脂基板上に薄ガラス層を接着層を介して接着する
工程と、樹脂基板上の薄ガラス層の周囲の三辺に保護部
材を接着層を介して接着する工程と、薄ガラス層と対向
基板とを対向させて、アクティブ素子によって駆動され
画素毎に表示可能な表示部を形成する工程とを具備する
ことを特徴とするアクティブマトリクス型表示装置の製
造方法を提供する。
Further, according to the present invention, a step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a thin glass layer on a resin substrate. The step of adhering through the adhesive layer, the step of adhering the protective member to the three sides of the thin glass layer on the resin substrate through the adhesive layer, the thin glass layer and the counter substrate are opposed to each other, and the active element And a step of forming a display unit capable of displaying for each pixel driven by the above method, and a method for manufacturing an active matrix type display device.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態を図面
を参照しつつ詳細に説明するが、本発明はこれらの実施
形態に限定されるものではない。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings, but the present invention is not limited to these embodiments.

【0027】(第1の実施形態)まず、本発明の第1の
実施形態について説明する。図1は本実施形態のアクテ
ィブマトリクス型表示装置を示す図であり、(a)は平
面図、(b)はA−A’間の断面図、(c)はB−B’
間の断面図である。図2〜図6は本実施形態のアクティ
ブマトリクス型表示装置の工程を示す断面図である。図
7は本実施形態のアクティブマトリクス型表示装置の素
子構成を示す断面図である。
(First Embodiment) First, a first embodiment of the present invention will be described. 1A and 1B are views showing an active matrix display device of the present embodiment. FIG. 1A is a plan view, FIG. 1B is a sectional view taken along line AA ′, and FIG. 1C is BB ′.
FIG. 2 to 6 are cross-sectional views showing steps of the active matrix type display device of this embodiment. FIG. 7 is a cross-sectional view showing the element structure of the active matrix display device of this embodiment.

【0028】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、図1に示すように、一方の表面に窪み109と
この窪み109を囲む壁とを有し、この壁に設けられる
4つの切欠き108を有する樹脂基板107と、樹脂基
板107の窪み109上に接着層106を介して接着さ
れた薄ガラス層105と、この薄ガラス層105上にア
レイ状に設けられたアクティブ素子を有するアクティブ
素子回路領域102とを有する。
As shown in FIG. 1, the active matrix display device of the present embodiment has a recess 109 on one surface and a wall surrounding the recess 109, and four notches 108 provided in this wall. An active element circuit region having a resin substrate 107, a thin glass layer 105 adhered to the depressions 109 of the resin substrate 107 via an adhesive layer 106, and active elements arranged in an array on the thin glass layer 105. And 102.

【0029】本実施形態では、樹脂基板107の一方の
表面が窪み109とその周囲の壁とを有してその窪み1
09の中にアクティブ素子回路領域102を形成した薄
ガラス層105が設けられており、薄ガラス層105の
周囲に設けられる壁に切欠き108がある。この構成に
より、薄ガラス層105の周囲で割れ等が生じないよう
保護しつつ、薄ガラス層105に大きな応力をかけるこ
となく接着層106を介して樹脂基板107と接着する
ことができる。また、接着時に薄ガラス層105と樹脂
基板107との間に気泡などが入った場合に、切欠き1
08から気泡が逃げやすくなる。
In this embodiment, one surface of the resin substrate 107 has the recess 109 and the surrounding wall, and the recess 1
There is a thin glass layer 105 in which the active element circuit region 102 is formed, and a notch 108 is formed in a wall provided around the thin glass layer 105. With this configuration, the thin glass layer 105 can be bonded to the resin substrate 107 via the adhesive layer 106 without applying a large stress to the thin glass layer 105 while protecting the thin glass layer 105 from being cracked or the like. Further, when air bubbles or the like enter between the thin glass layer 105 and the resin substrate 107 at the time of bonding, the notch 1
Air bubbles can easily escape from 08.

【0030】次に、本実施形態のアクティブマトリクス
型表示装置の製造方法を、図2〜図6を用いて説明す
る。
Next, a method of manufacturing the active matrix type display device of this embodiment will be described with reference to FIGS.

【0031】図2に示すように、厚さ約0.7mmの無
アルカリガラスからなるガラス基板101上に、低温ポ
リシリコンを活性層として用いたTFTアレイ及び周辺
ドライバー回路を有するアクティブ素子回路領域102
を形成する。
As shown in FIG. 2, an active element circuit region 102 having a TFT array using a low temperature polysilicon as an active layer and a peripheral driver circuit is formed on a glass substrate 101 made of alkali-free glass having a thickness of about 0.7 mm.
To form.

【0032】図3に示すように、ガラス基板101のア
クティブ素子回路領域102を形成した側を、ガラスや
樹脂等からなる中間基板103に接着・剥離層104を
介して接着する。接着・剥離層104としては、水溶性
の光硬化接着剤や、加熱や冷却などによりやわらかくな
るワックスやホットメルト接着剤等を用いることが出来
る。
As shown in FIG. 3, the side of the glass substrate 101 on which the active element circuit region 102 is formed is adhered to the intermediate substrate 103 made of glass, resin or the like via the adhesion / peel layer 104. As the adhesion / peel-off layer 104, a water-soluble photo-curable adhesive, a wax or a hot-melt adhesive that becomes soft by heating or cooling, or the like can be used.

【0033】図4に示すように、ガラス基板101を機
械研磨、化学研磨、機械的化学的研磨等の方法で研磨し
て、薄ガラス層105とする。薄ガラス層105の膜厚
は約150μm以下とすることが好ましい。薄ガラス層
105の膜厚が約150μmよりも大きくなると、アク
ティブマトリクス型表示装置が完成した後に曲げ等によ
り応力が加わった際に割れやすくなる。さらに薄ガラス
層105の膜厚は約100μm以下とすることが好まし
い。薄ガラス層105を水分や酸素のバリア層として用
いることを可能とするために、薄ガラス層105の膜厚
は、約1μm以上であることが好ましい。
As shown in FIG. 4, the glass substrate 101 is polished by a method such as mechanical polishing, chemical polishing, or mechanical chemical polishing to form a thin glass layer 105. The thickness of the thin glass layer 105 is preferably about 150 μm or less. When the thickness of the thin glass layer 105 is larger than about 150 μm, the thin glass layer 105 is likely to be broken when stress is applied by bending or the like after the active matrix type display device is completed. Further, the thickness of the thin glass layer 105 is preferably about 100 μm or less. In order to enable the thin glass layer 105 to be used as a moisture or oxygen barrier layer, the thin glass layer 105 preferably has a thickness of about 1 μm or more.

【0034】図5に示すように、窪み109とこの窪み
109を囲む壁とを形成した樹脂基板107上に、接着
層106を介して中間基板103に接着した薄ガラス層
105を接着する。窪み109の大きさは薄ガラス層1
05の大きさに対応するように設け、窪み109の周囲
の壁には図1(c)に示すように切欠き108を少なく
とも一つ設ける。切欠き108を複数設けることにより
薄ガラス層105と樹脂基板107との間の接着層10
6に気泡が入った場合に逃げやすいことから、本実施形
態では、切欠き108を各辺の中央付近に一つずつ設け
ている。窪み109の大きさと薄ガラス層105の大き
さとは一致せず、窪み109の周囲の壁と薄ガラス層1
05との間に少し隙間を設けても良く、その場合は壁の
側面にも接着剤が入り込み樹脂基板107と薄ガラス層
105とが良好に接着する。窪み109の深さと薄ガラ
ス層105の厚みの関係は、同程度であるか、窪み10
9の深さを大きめにすることが好ましい。同程度もしく
は窪み109の深さを大きめとすることにより、薄ガラ
ス層105が窪み109に埋め込まれる為に、薄ガラス
層105を十分保護することが出来る。薄ガラス層10
5の厚みよりも窪み109の深さを大き過ぎるものとす
ると、信号線駆動回路や走査線駆動回路から基板外に配
線を取り出すのが難しくなるので好ましくない。また、
窪み109の周囲にある壁の幅は、約1mm以上5mm
以下であることが好ましい。これは、約1mmより小さ
いと、薄ガラス層105の保護をするのに十分でない可
能性があり、約5mmより大きいと、樹脂基板107の
大きさに対して素子回路領域102の大きさが小さくな
ってしまうからである。
As shown in FIG. 5, the thin glass layer 105 adhered to the intermediate substrate 103 is adhered to the intermediate substrate 103 via the adhesive layer 106 on the resin substrate 107 having the recess 109 and the wall surrounding the recess 109. The size of the recess 109 is the thin glass layer 1
It is provided so as to correspond to the size of 05, and at least one notch 108 is provided on the wall around the recess 109 as shown in FIG. By providing a plurality of notches 108, the adhesive layer 10 between the thin glass layer 105 and the resin substrate 107 is formed.
In the present embodiment, one notch 108 is provided near the center of each side because bubbles easily escape when 6 enters. The size of the recess 109 and the size of the thin glass layer 105 do not match, and the wall around the recess 109 and the thin glass layer 1
A slight gap may be provided between the resin substrate 107 and the thin glass layer 105 so that the resin substrate 107 and the thin glass layer 105 adhere well to each other. The depth of the recess 109 and the thickness of the thin glass layer 105 are about the same, or the recess 10
It is preferable to increase the depth of 9. The thin glass layer 105 can be sufficiently protected because the thin glass layer 105 is embedded in the recess 109 by making the depth approximately the same or making the depth of the recess 109 large. Thin glass layer 10
If the depth of the recess 109 is set to be larger than the thickness of 5, it becomes difficult to take out the wiring from the signal line driving circuit or the scanning line driving circuit to the outside of the substrate, which is not preferable. Also,
The width of the wall around the recess 109 is about 1 mm or more and 5 mm
The following is preferable. If it is smaller than about 1 mm, it may not be enough to protect the thin glass layer 105, and if it is larger than about 5 mm, the size of the element circuit region 102 is smaller than the size of the resin substrate 107. Because it will be.

【0035】樹脂基板107としては、ポリエーテルス
ルフォン(PES)、ポリアリルエーテルニトリル(P
EN)、ポリエチレンテレフタレート(PET)等を用
いることができるが、これらに限定されるものではな
い。これらの中では特に、PES等は、窪み109の形
成等の加工が容易である為好ましい。また、接着層10
6としては、粘性が低いものの方が、薄ガラス層105
と樹脂基板107との間に気泡が入り難い為に好まし
い。
As the resin substrate 107, polyether sulfone (PES), polyallyl ether nitrile (PES)
EN), polyethylene terephthalate (PET) and the like can be used, but not limited thereto. Of these, PES and the like are particularly preferable because they can be easily processed such as forming the recess 109. Also, the adhesive layer 10
As for 6, the one having lower viscosity is the thin glass layer 105.
It is preferable that air bubbles do not easily enter between the resin substrate 107 and the resin substrate 107.

【0036】樹脂基板107に、窪み109と、その周
囲の壁と、この壁に設けられる切欠きとを形成する方法
は、射出成形する方法や、均一な厚みを持つ基板を加熱
してプレス機でプレスする方法や、作成したい形状の金
型を形成してこれに基板の材料を流し込む方法等を用い
ることが出来る。
As the method of forming the recess 109, the peripheral wall thereof, and the notch provided in the wall in the resin substrate 107, the injection molding method or the method of heating a substrate having a uniform thickness to press the machine is used. It is possible to use a method of pressing with, a method of forming a die having a desired shape and pouring the material of the substrate into the die.

【0037】図6に示すように、中間基板103側から
紫外線を照射したり加熱する等して、接着・剥離層10
4の接着性を低下してから剥離する。そして、窪み10
9とその周囲の壁とを有し、この壁に切欠き108を有
する樹脂基板107上に、接着層106を介して、アク
ティブ素子回路領域102が形成された薄ガラス層10
5が接着された構成とする。
As shown in FIG. 6, the adhesive / peeling layer 10 is irradiated with ultraviolet rays from the side of the intermediate substrate 103 or by heating.
The adhesive property of No. 4 is reduced and then peeled. And the depression 10
The thin glass layer 10 in which the active element circuit region 102 is formed on the resin substrate 107 having the notch 108 on the wall and the wall 9 around the active element circuit region 9 via the adhesive layer 106.
5 is bonded.

【0038】次に、本実施形態のアクティブマトリクス
型表示装置で用いることが出来る素子構成の例を図7を
用いて説明する。図7では、2つの画素のみを有する表
示装置としているが、実際は、表示面から見て多数の画
素が縦横に設けられたマトリクス状とする。
Next, an example of an element structure that can be used in the active matrix type display device of this embodiment will be described with reference to FIG. In FIG. 7, the display device has only two pixels, but in actuality, it has a matrix shape in which a large number of pixels are provided vertically and horizontally when viewed from the display surface.

【0039】図7の構成について、図1とは異なる、薄
ガラス層105より上を説明する。
With respect to the structure of FIG. 7, different from FIG. 1 above the thin glass layer 105 will be described.

【0040】図7に示すように、薄ガラス層105上に
は、第1のアンダーコート絶縁膜1001及び第2のア
ンダーコート絶縁膜1002が積層され、活性層100
4及びソース・ドレイン領域1005からなるポリシリ
コン膜1003が画素毎に設けられる。その上にはゲー
ト絶縁膜1006が全面に設けられ、ゲート絶縁膜10
06上の活性層1004に対応する領域にはゲート電極
1007が設けられる。ゲート電極1007上には層間
絶縁膜1008が全面に設けられ、その上に、コンタク
トホールを介してソース・ドレイン領域1005と接続
するソース電極1009及びドレイン電極1010が設
けられる。ソース電極1009及びドレイン電極101
0と同層に走査線・信号線1012等の配線が設けられ
る。その上には、パッシベーション膜1011が全面に
設けられ、パッシベーション膜1011上には、コンタ
クトホールを介してドレイン電極1010と接続する画
素電極1013が設けられる。その上には液晶層101
6を介して対向電極1014を形成した対向基板101
7が設けられる。また、対向基板1017と樹脂基板1
07との間は、シール1015で封止されている。
As shown in FIG. 7, a first undercoat insulating film 1001 and a second undercoat insulating film 1002 are laminated on the thin glass layer 105 to form an active layer 100.
4 and the source / drain regions 1005 are provided with a polysilicon film 1003 for each pixel. A gate insulating film 1006 is provided on the entire surface of the gate insulating film 1006.
A gate electrode 1007 is provided on the region corresponding to the active layer 1004 on 06. An interlayer insulating film 1008 is provided on the entire surface of the gate electrode 1007, and a source electrode 1009 and a drain electrode 1010 connected to the source / drain region 1005 through contact holes are provided thereon. Source electrode 1009 and drain electrode 101
Wirings such as scanning lines and signal lines 1012 are provided in the same layer as 0. A passivation film 1011 is provided on the entire surface thereof, and a pixel electrode 1013 connected to the drain electrode 1010 via a contact hole is provided on the passivation film 1011. Liquid crystal layer 101
Counter substrate 101 having counter electrode 1014 formed via 6
7 is provided. In addition, the counter substrate 1017 and the resin substrate 1
A seal 1015 seals the gap between 07 and 07.

【0041】このような構成の素子の製造方法を説明す
る。
A method of manufacturing an element having such a structure will be described.

【0042】まず、ガラス基板101上に、第1のアン
ダーコート絶縁膜1001及び第2のアンダーコート絶
縁膜1002を形成する。第1のアンダーコート絶縁膜
1001はシリコン窒化膜を用いて膜厚を約500nm
とし、第2のアンダーコート絶縁膜1002はシリコン
酸化膜を用いて膜厚を約100nmとする。これらのア
ンダーコート絶縁膜は単層としても良く、別の材料を用
いても良い。膜厚は約100〜500nmとすることが
好ましい。
First, a first undercoat insulating film 1001 and a second undercoat insulating film 1002 are formed on the glass substrate 101. The first undercoat insulating film 1001 is made of a silicon nitride film and has a thickness of about 500 nm.
The second undercoat insulating film 1002 is made of a silicon oxide film and has a thickness of about 100 nm. These undercoat insulating films may be a single layer or may use another material. The film thickness is preferably about 100 to 500 nm.

【0043】第2のアンダーコート絶縁膜1002の上
には、後に活性層1004及びソース・ドレイン領域1
005となるアモルファスシリコンを約50nmの膜厚
となるよう成膜し、エキシマレーザーアニールによって
結晶化させポリシリコン層1003としてからパターニ
ングする。結晶化の方法としては、単純なレーザー照射
の他、レーザー照射強度分布を形成して面内に結晶成長
させて大粒径化する技術や、レーザーを使わずに昇温で
結晶化する方法でもよい。昇温結晶化ではNiなどの金
属を用いて結晶化させる方法を用いることも出来る。結
晶粒径は約0.1μmから10μm以上などの比較的小
さいものから単結晶に近い大きいものでもよく、結晶粒
界で格子が連続的に繋がっているものなどでもよい。ソ
ース・ドレイン領域1005の形成は、イオンドーピン
グ、質量分離したイオン注入などでn型及びp型の不純
物を導入して形成する。後述するゲート電極を形成した
後に、ゲート電極をマスクとしたセルフアライン構造を
適用しても良く、また、高濃度不純物のソース・ドレイ
ン領域1005と活性層1004との間に低濃度のドー
ピング領域を挟んだLDD構造を適用しても良い。
An active layer 1004 and a source / drain region 1 are formed on the second undercoat insulating film 1002 later.
Amorphous silicon to be 005 is formed to have a film thickness of about 50 nm, crystallized by excimer laser annealing to form a polysilicon layer 1003, and then patterned. As a crystallization method, in addition to simple laser irradiation, there is also a technique of forming a laser irradiation intensity distribution to grow crystals in a plane to increase the grain size, or a method of crystallization at elevated temperature without using a laser. Good. In the temperature-rising crystallization, a method of crystallizing using a metal such as Ni can be used. The crystal grain size may be from a relatively small grain size of about 0.1 μm to 10 μm or more to a large grain size close to a single crystal, or may be one in which lattices are continuously connected at grain boundaries. The source / drain regions 1005 are formed by introducing n-type and p-type impurities by ion doping, ion implantation with mass separation, or the like. After forming a gate electrode described later, a self-aligned structure using the gate electrode as a mask may be applied, and a low-concentration doping region may be formed between the high-concentration source / drain region 1005 and the active layer 1004. A sandwiched LDD structure may be applied.

【0044】次に、ゲート絶縁膜1006を全面に、シ
リコン酸化膜を約100nmの膜厚となるようプラズマ
CVD法等により成膜する。
Next, a silicon oxide film is formed over the entire surface of the gate insulating film 1006 by a plasma CVD method or the like so as to have a film thickness of about 100 nm.

【0045】次に、活性層1004に対応した領域に、
ゲート電極1007をMo、MoW、MoTa、Alや
Al−Cu等の金属や合金、または高濃度ドープしたシ
リコン等を用いて、約250nmの膜厚となるよう形成
する。
Next, in the region corresponding to the active layer 1004,
The gate electrode 1007 is formed using a metal or alloy such as Mo, MoW, MoTa, Al, or Al—Cu, or highly doped silicon to have a thickness of about 250 nm.

【0046】ゲート電極1007上には、全面にシリコ
ン酸化膜やシリコン酸化膜とシリコン窒化膜との積層膜
等を用いて400nm程度の膜厚の層間絶縁膜1008
を形成する。
An interlayer insulating film 1008 having a thickness of about 400 nm is formed on the entire surface of the gate electrode 1007 by using a silicon oxide film or a laminated film of a silicon oxide film and a silicon nitride film.
To form.

【0047】層間絶縁膜1008の上には、ゲート絶縁
膜1006及び層間絶縁膜1008にスルーホールを設
けソース・ドレイン領域1005と夫々接続する、ソー
ス電極1009及びドレイン電極1010を、 Mo、
MoW、MoTa、AlやAl−Cu等の金属や合金、
または高濃度ドープしたシリコン等を用いて形成する。
A source electrode 1009 and a drain electrode 1010, which are provided with through holes in the gate insulating film 1006 and the interlayer insulating film 1008 and are connected to the source / drain regions 1005, respectively, are formed on the interlayer insulating film 1008 by Mo,
Metals and alloys such as MoW, MoTa, Al and Al-Cu,
Alternatively, it is formed using highly-doped silicon or the like.

【0048】また、ソース電極1009、ドレイン電極
1010と同層には、走査線・信号線1012等の配線
を、上述したのと同様な導体材料を用いて形成する。
Wirings such as scanning lines and signal lines 1012 are formed in the same layer as the source electrode 1009 and the drain electrode 1010, using the same conductive material as described above.

【0049】これらの電極や配線を形成した上に、パッ
シベーション膜1011を、シリコン窒化膜等を用いて
プラズマCVD法などにより、約500nmの膜厚とな
るよう形成する。
After forming these electrodes and wirings, a passivation film 1011 is formed to a thickness of about 500 nm by a plasma CVD method using a silicon nitride film or the like.

【0050】パッシベーション膜1011上には、パッ
シベーション膜1011に形成されるスルーホールを介
してドレイン電極1010と接続する、画素電極101
3が設けられる。画素電極1013は、 Color filter
on array (COA)構造を取る場合や透過型とする場
合は、ITO等の透明導電膜を用いればよい。また、反
射型とする場合には、AlやAgなどの高反射率の金属
を用いることが出来る。
The pixel electrode 101, which is connected to the drain electrode 1010 through the through hole formed in the passivation film 1011 on the passivation film 1011.
3 is provided. The pixel electrode 1013 is a color filter.
In the case of adopting an on array (COA) structure or a transmissive type, a transparent conductive film such as ITO may be used. Further, when the reflection type is used, a metal having a high reflectance such as Al or Ag can be used.

【0051】樹脂等からなる対向基板1017に、IT
O等の透明導電膜を用いて対向電極1014を形成す
る。対向基板1017の対向電極1014を形成した側
の面と、樹脂基板107の上述の素子回路領域を形成し
た薄ガラス層105を貼り付けた側の面とを対向させ
て、シール1015で封止する。これらの基板間に、表
示部として液晶を注入して液晶層1016とし、本実施
形態のアクティブマトリクス型表示装置を完成する。
On the counter substrate 1017 made of resin or the like, IT
The counter electrode 1014 is formed using a transparent conductive film such as O. The surface of the counter substrate 1017 on which the counter electrode 1014 is formed and the surface of the resin substrate 107 on which the thin glass layer 105 on which the element circuit region is formed are attached are opposed to each other and sealed with a seal 1015. . Liquid crystal is injected as a display unit between these substrates to form a liquid crystal layer 1016, and the active matrix display device of this embodiment is completed.

【0052】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置では、無アルカリガラス基板等の熱に強い基板に素
子回路領域を形成してから、基板を薄膜化し、軽量な樹
脂基板に接着している。そして、樹脂基板107には、
窪み109とその周囲に設けられる壁とを形成し、この
壁には少なくとも一つの切欠きを設け、接着層106を
介してその窪み109に薄ガラス層105を接着させ
る。すると、ガラス基板を薄膜化して薄ガラス層105
とした場合は特に端部から割れが生じやすくなるが、本
実施形態においては薄ガラス層105は窪み109に嵌
っているため、薄ガラス層105の端部の周囲に更に樹
脂基板107があることから、薄ガラス層105は保護
される。従って、軽量な樹脂基板107を用いたアクテ
ィブマトリクス型表示装置を得ることができる。樹脂基
板107の直上にアクティブ素子が形成された場合は、
水分や酸素等を透過する可能性があるが、樹脂基板10
7上には接着層106を介して薄ガラス層105がある
為に、薄ガラス層105が水分やガスのバリア層とな
る。
In the active matrix type display device of the present embodiment, the element circuit region is formed on a heat-resistant substrate such as a non-alkali glass substrate, and then the substrate is thinned and bonded to a lightweight resin substrate. Then, on the resin substrate 107,
A recess 109 and a wall provided around the recess 109 are formed, and at least one notch is provided in the wall, and the thin glass layer 105 is bonded to the recess 109 via the adhesive layer 106. Then, the glass substrate is thinned to form the thin glass layer 105.
However, in this embodiment, the thin glass layer 105 is fitted in the recess 109, so that the resin substrate 107 is further provided around the end of the thin glass layer 105. Therefore, the thin glass layer 105 is protected. Therefore, an active matrix type display device using the lightweight resin substrate 107 can be obtained. When the active element is formed directly on the resin substrate 107,
Although there is a possibility that water, oxygen, etc. may pass through, the resin substrate 10
Since the thin glass layer 105 is provided on the adhesive layer 106 via the adhesive layer 106, the thin glass layer 105 serves as a moisture or gas barrier layer.

【0053】また、樹脂基板107の窪み109に接着
層106を介して薄ガラス層105を接着する際に気泡
が入ってしまうと、薄ガラス層105の側面には窪み1
09の周囲の壁があり、また接着層106が樹脂基板1
07の壁と薄ガラス層105との間にも入り込むため、
この気泡が逃げ難くなる。気泡が入ったままアクティブ
マトリクス型表示装置を完成すると、気泡が入った領域
とそうでない領域とで光の屈折率が異なる。すると、透
過型の表示装置を形成することが出来なくなり、また、
その気泡が入った領域を起点として割れが生じる可能性
もある。しかしながら本実施形態においては、切欠き1
08を設けている為に、薄ガラス層105を保護するた
めに窪み109の周囲に樹脂基板107の壁があって
も、切欠き108から気泡が逃げやすくなり、好まし
い。本実施形態では、切欠き108の数を4つとしてい
るが、これに限られるものではなく、少なくとも1つ、
気泡が抜けるようであれば良い。また、切欠き108の
位置も、各辺の中心である必要はない。透過型表示装置
として用いる可能性もあることから、気泡の逃げの経路
を基板面内に、基板面に垂直な方向に作ることは好まし
くない。
Further, if air bubbles enter when the thin glass layer 105 is bonded to the recess 109 of the resin substrate 107 via the adhesive layer 106, the recess 1 is formed on the side surface of the thin glass layer 105.
09 has a peripheral wall, and the adhesive layer 106 is the resin substrate 1
Since it also enters between the wall of 07 and the thin glass layer 105,
It becomes difficult for these bubbles to escape. When an active matrix display device is completed with bubbles, the refractive index of light differs between the region containing bubbles and the region not containing bubbles. Then, it becomes impossible to form a transmissive display device.
There is a possibility that cracks may occur starting from the area containing the bubbles. However, in the present embodiment, the notch 1
Since 08 is provided, even if there is a wall of the resin substrate 107 around the recess 109 to protect the thin glass layer 105, bubbles easily escape from the notch 108, which is preferable. In the present embodiment, the number of notches 108 is four, but the number is not limited to this, and at least one,
It is sufficient if bubbles can escape. Further, the position of the notch 108 need not be the center of each side. Since it may be used as a transmissive display device, it is not preferable to make a path for escape of bubbles in the substrate surface in a direction perpendicular to the substrate surface.

【0054】本実施形態においては、薄ガラス層105
と樹脂基板107とを接着層106を介して接着してお
り、薄膜化した薄ガラス層105の強度が低いことか
ら、大きな力をかけてこれらを接着することは出来な
い。従って、これらの間に気泡が入っても、気泡を逃が
すために強く押し付けて逃がすことが出来ないが、切欠
き108を設けることで、気泡を逃がすことができる。
In the present embodiment, the thin glass layer 105
The resin substrate 107 and the resin substrate 107 are adhered to each other via the adhesive layer 106. Since the thin glass layer 105 that has been thinned has low strength, it is not possible to adhere them by applying a large force. Therefore, even if bubbles enter between them, they cannot be escaped by strongly pressing them in order to escape, but the provision of the notch 108 allows the bubbles to escape.

【0055】本実施形態では、ガラス基板101を薄膜
化して薄ガラス層105とする工程を、接着・剥離層1
04を介して中間基板103に接着してから行ったが、
これに限定されるものではない。例えば、ガラス基板1
01を対向基板1017と貼りあわせて固定した後に、
ガラス基板101を薄膜化して、薄ガラス層105とし
ても良い。
In this embodiment, the step of thinning the glass substrate 101 to form the thin glass layer 105 is performed by the adhesion / peel layer 1
It was performed after being bonded to the intermediate substrate 103 via 04,
It is not limited to this. For example, the glass substrate 1
01 is bonded and fixed to the counter substrate 1017,
The thin glass layer 105 may be formed by thinning the glass substrate 101.

【0056】また本実施形態では、1画素が1つのスイ
ッチングトランジスタと画素電極、補助容量などで構成
されるアクティブマトリクス型表示装置を示したが、こ
れ以外にも、画素ごとにメモリ回路(フリップフロッ
プ;SRAM型、蓄積容量とドライバトランジスタ:DRAM
型)を設けて低消費電力化を図ったものでもよい。ま
た、制御回路として走査線、信号線のドライバー回路の
他に制御回路やCPU、メモリなどを一体形成してもよ
い。これらの回路および表示用電極等を含めてアクティ
ブ素子回路領域102と考えても良い。これらの回路で
は微細加工が必須となるが、無アルカリガラス基板上に
形成しているので基板の変形が少なく、加工精度が高く
高性能で高集積度の回路でも適用できる。
In this embodiment, an active matrix type display device in which one pixel is composed of one switching transistor, a pixel electrode, an auxiliary capacitor and the like is shown. However, in addition to this, a memory circuit (flip-flop) is provided for each pixel. ; SRAM type, storage capacity and driver transistor: DRAM
Type) may be provided to reduce power consumption. Further, as the control circuit, a control circuit, a CPU, a memory, and the like may be integrally formed in addition to the driver circuit for the scan line and the signal line. It may be considered that the active element circuit region 102 includes these circuits and display electrodes. Microfabrication is essential in these circuits, but since they are formed on a non-alkali glass substrate, the substrate is less likely to be deformed, and processing precision is high, and high performance and highly integrated circuits can also be applied.

【0057】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、図7のように、アクティブマトリクス基板の素
子回路領域を形成した側を、対向電極を設けた対向基板
と組み合わせて、周囲をシールにより固定してセルを形
成し、これに液晶を注入して液晶表示装置としたが、こ
れに限定されるものではない。例えば、液晶表示装置と
する場合でも、液晶としてTN液晶などを用いる場合に
は配向膜を形成してもよく、また両基板間には、スペー
サなどを設けてギャップを保つようにしてもよい。ま
た、アクティブ素子回路領域を、電流駆動型の周辺ドラ
イバー回路や、画素内に2〜6トランジスタによる選択
用スイッチと電流供給用駆動トランジスタおよびトラン
ジスタ特性ばらつき補正回路などを用いた構成等とし
て、表示部として有機EL素子を用いた有機EL表示装
置を形成しても良い。本実施形態は、他にも、表示部と
して電気泳動素子を用いたものや、液晶を用いた場合で
も、対向電極をなくして素子回路領域側に櫛型の一対の
画素電極を設け表示面方向に電界を印加して液晶を駆動
する方法に適用しても良い。
In the active matrix type display device of this embodiment, as shown in FIG. 7, the side on which the element circuit region of the active matrix substrate is formed is combined with a counter substrate provided with a counter electrode, and the periphery is fixed by a seal. A cell is formed by the above method, and liquid crystal is injected into the cell to form a liquid crystal display device, but the present invention is not limited to this. For example, even in the case of a liquid crystal display device, when TN liquid crystal or the like is used as the liquid crystal, an alignment film may be formed, and a spacer or the like may be provided between both substrates to keep a gap. In addition, the active element circuit region is configured as a current drive type peripheral driver circuit, a configuration using a selection switch with 2 to 6 transistors, a current supply drive transistor, a transistor characteristic variation correction circuit, and the like in the display unit, and the like. Alternatively, an organic EL display device using an organic EL element may be formed. In addition to this, in the present embodiment, a pair of comb-shaped pixel electrodes are provided on the element circuit region side without the counter electrode even in the case where an electrophoretic element is used as a display section or when liquid crystal is used, in the display surface direction. It may be applied to a method of driving a liquid crystal by applying an electric field to the.

【0058】(第2の実施形態)次に、第2の実施形態
について図8を用いて説明する。図8は第2の実施形態
に係るアクティブマトリクス型表示装置の平面図であ
る。本実施形態については、第1の実施形態と異なる点
のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a plan view of the active matrix type display device according to the second embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0059】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、切欠き201の位置が、樹脂基板107の四辺
の交点、つまり頂点に設けられたものである。
In the active matrix display device of this embodiment, the notch 201 is provided at the intersection of the four sides of the resin substrate 107, that is, at the apex.

【0060】薄ガラス層105と樹脂基板107とを接
着層106を介して接着する際、気泡が入った後、その
気泡は薄ガラス層105の頂点に収束しやすい。また、
この頂点部分に気泡があると薄ガラス層105と樹脂基
板107との剥離が起こりやすくなる。しかしながら本
実施形態においては、第1の実施形態と同様な効果を得
ることができるだけでなく、頂点に切欠き201を設け
ている為に、気泡が逃げやすく、剥離が起こり難くなる
という効果もある。
When the thin glass layer 105 and the resin substrate 107 are bonded to each other via the adhesive layer 106, after bubbles have entered, the bubbles are likely to converge on the apex of the thin glass layer 105. Also,
If air bubbles are present at this apex, peeling between the thin glass layer 105 and the resin substrate 107 is likely to occur. However, in this embodiment, not only the same effect as in the first embodiment can be obtained, but also because the notch 201 is provided at the apex, bubbles easily escape and peeling hardly occurs. .

【0061】(第3の実施形態)次に、第3の実施形態
について図9を用いて説明する。図9は第3の実施形態
に係るアクティブマトリクス型表示装置の平面図であ
る。本実施形態については、第1の実施形態と異なる点
のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a plan view of the active matrix type display device according to the third embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0062】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、樹脂基板107の窪みに薄ガラス層105を嵌
め込む点に関しては第1の実施形態と同様であるが、樹
脂基板107の窪みは四辺でなく、三辺をコの字型の凸
部に覆われる点が第1の実施形態と異なる。つまり、樹
脂基板107は、コの字形の凸部302と、その内側の
凹部301とを有し、薄ガラス層105は、凹部301
上に接着層106を介して接着されるものである。
The active matrix type display device of the present embodiment is similar to the first embodiment in that the thin glass layer 105 is fitted into the recess of the resin substrate 107, but the recess of the resin substrate 107 is not four sides. The third embodiment is different from the first embodiment in that the three sides are covered with a U-shaped convex portion. That is, the resin substrate 107 has the U-shaped convex portion 302 and the concave portion 301 inside thereof, and the thin glass layer 105 has the concave portion 301.
It is adhered on the upper surface via the adhesive layer 106.

【0063】本実施形態においても、薄ガラス層105
はコの字型の三辺の凸部302で囲まれるために強度が
増し、一辺から気泡を逃がすことが出来る。なお、本実
施形態においても、凸部302に、さらに切欠きを設け
ても良い。
Also in this embodiment, the thin glass layer 105 is used.
Since is surrounded by the U-shaped three-sided convex portions 302, the strength is increased, and bubbles can escape from one side. Note that, also in this embodiment, the protrusion 302 may be further provided with a notch.

【0064】(第4の実施形態)次に、第4の実施形態
について図10を用いて説明する。図10は第4の実施
形態に係るアクティブマトリクス型表示装置の断面図で
ある。本実施形態については、第1の実施形態と異なる
点のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Fourth Embodiment) Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 10 is a sectional view of the active matrix type display device according to the fourth embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0065】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、樹脂基板に窪みを設けるのではなく、樹脂基板
107の一方の面上の外周に保護部材401が枠状に設
けられ、保護部材401が壁となりその内側が窪みとな
るものである。そしてこの保護部材401には、少なく
とも1つの切欠きを有するものである。
In the active matrix type display device of the present embodiment, the protection member 401 is provided in the shape of a frame on the outer periphery on one surface of the resin substrate 107, and the protection member 401 is not formed on the resin substrate 107. The inner side becomes a hollow. The protective member 401 has at least one notch.

【0066】本実施形態では、樹脂基板107に窪みを
形成せずに、樹脂基板107上の外周に、PENやPE
S、PET、ポリカーボネート(PC)等からなる保護
部材401を、アクリル系やエポキシ系、アリール系樹
脂等からなる紫外線硬化型や熱硬化型等の接着剤(図示
せず)を用いて接着する点のみが、第1の実施形態のア
クティブマトリクス型表示装置の製造方法と異なる。接
着剤は、薄ガラス層105と樹脂基板107とを接着す
る接着層106と同じものを用いても良い。また、第1
の実施形態と同様に、保護部材401の樹脂基板107
との接着面の幅、つまり壁の幅は1mm〜5mm程度で
あり、保護部材401の側面と樹脂基板107面とで形
成する窪みの深さは、薄ガラス層105の厚さと同程度
かそれより少し深い程度であることが好ましい。
In this embodiment, PEN or PE is formed on the outer periphery of the resin substrate 107 without forming a depression in the resin substrate 107.
A point where the protective member 401 made of S, PET, polycarbonate (PC) or the like is adhered using an adhesive (not shown) such as an ultraviolet curable type or a thermosetting type made of an acrylic resin, an epoxy resin, an aryl resin or the like. Only the manufacturing method of the active matrix type display device of the first embodiment is different. As the adhesive, the same adhesive as the adhesive layer 106 for adhering the thin glass layer 105 and the resin substrate 107 may be used. Also, the first
Similar to the embodiment of FIG.
The width of the adhesive surface to be adhered to, that is, the width of the wall is about 1 mm to 5 mm, and the depth of the recess formed by the side surface of the protective member 401 and the surface of the resin substrate 107 is the same as or smaller than the thickness of the thin glass layer 105. It is preferably a little deeper.

【0067】本実施形態においても、第1の実施形態と
同様の効果を得ることができる。また、樹脂基板104
の基板面に窪みを設ける際には、均一な窪みの深さを設
けることが難しいが、本実施形態においては、樹脂基板
104の基板面の加工が必要ないために、より歩留まり
の良いアクティブマトリクス型表示装置を形成可能とな
る。
Also in this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained. In addition, the resin substrate 104
It is difficult to provide a uniform depth of depressions when forming the depressions on the substrate surface, but in the present embodiment, since the processing of the substrate surface of the resin substrate 104 is not necessary, the active matrix with a higher yield can be obtained. A mold display device can be formed.

【0068】(第5の実施形態)次に、第5の実施形態
について図11を用いて説明する。図11は第5の実施
形態に係るアクティブマトリクス型表示装置の断面図で
ある。本実施形態については、第1の実施形態と異なる
点のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Fifth Embodiment) Next, a fifth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 11 is a cross-sectional view of the active matrix type display device according to the fifth embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0069】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、樹脂基板に窪みを設けるのではなく、樹脂基板
107の側面に保護部材501を設け、保護部材501
で壁を形成し、この壁と樹脂基板107面とで窪みを形
成する。そして、保護部材501に少なくとも1つの切
欠きを有するものである。
In the active matrix type display device of this embodiment, the protection member 501 is provided on the side surface of the resin substrate 107 instead of providing the depression on the resin substrate.
To form a wall, and the wall and the surface of the resin substrate 107 form a depression. The protective member 501 has at least one notch.

【0070】本実施形態では、樹脂基板107の側面お
よびその上部に、第4の実施形態と同様の接着剤や保護
部材の材料を用い、保護部材501と樹脂基板107の
側面とを接着する。本実施形態においても、第1の実施
形態および第4の実施形態と同様の効果を得ることがで
きる。
In the present embodiment, the protective member 501 and the side surface of the resin substrate 107 are adhered to the side surface of the resin substrate 107 and the upper portion thereof using the same adhesive and protective material as those in the fourth embodiment. Also in this embodiment, the same effect as that of the first and fourth embodiments can be obtained.

【0071】(第6の実施形態)次に、第6の実施形態
について図12を用いて説明する。図12は第6の実施
形態に係るアクティブマトリクス型表示装置の断面図で
ある。本実施形態については、第1の実施形態と異なる
点のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Sixth Embodiment) Next, a sixth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a sectional view of the active matrix type display device according to the sixth embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0072】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、樹脂基板に窪みを設けるのではなく、樹脂基板
107の側面を囲むように、保護部材601を設けるも
のである。そして、この保護部材601は、一方の基板
面では樹脂基板107と連続して平面を形成し、他方の
基板面では樹脂基板107と連続した平面とこの平面を
窪みとするような壁を外周に形成して、樹脂基板107
を囲むよう設ける。そして、保護部材601の壁となる
部分には少なくとも一つの切欠きを有するものである。
In the active matrix type display device of the present embodiment, the protection member 601 is provided so as to surround the side surface of the resin substrate 107, instead of providing the resin substrate with a depression. The protective member 601 has a flat surface that is continuous with the resin substrate 107 on one substrate surface and a flat surface that is continuous with the resin substrate 107 on the other substrate surface and a wall that makes the flat surface a dent on the outer periphery. Form the resin substrate 107
It is provided so as to surround. Further, at least one notch is provided in the portion which becomes the wall of the protection member 601.

【0073】本実施形態では、樹脂基板107の側面
に、第4の実施形態と同様の接着剤や保護部材の材料を
用いて、保護部材501と樹脂基板107の側面とを接
着する。本実施形態においても、第1の実施形態および
第4の実施形態と同様の効果を得ることができる。
In this embodiment, the protective member 501 and the side surface of the resin substrate 107 are adhered to the side surface of the resin substrate 107 by using the same adhesive or the same material as the protective member as in the fourth embodiment. Also in this embodiment, the same effect as that of the first and fourth embodiments can be obtained.

【0074】(第7の実施形態)次に、第7の実施形態
について図13を用いて説明する。図13は第7の実施
形態に係るアクティブマトリクス型表示装置の断面図で
ある。本実施形態については、第1の実施形態と異なる
点のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Seventh Embodiment) Next, a seventh embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 13 is a cross-sectional view of the active matrix type display device according to the seventh embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0075】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、樹脂基板に窪みを設けるのではなく、樹脂基板
107の一方の面上の外周に保護部材701が枠状に設
けられ、保護部材701が壁となりその内側が窪みとな
るものである。そしてこの保護部材701には、少なく
とも1つの切欠きを有するものである。また、第1の保
護部材701の内側に接着層106を介して接着された
薄ガラス層105の上に、第1の保護部材701の最外
周から薄ガラス層105の外周の上面を覆うように枠状
に設けられる第2の保護部材702を有する。
In the active matrix display device of the present embodiment, the resin substrate is not provided with the depression, but the protective member 701 is provided in a frame shape on the outer periphery on one surface of the resin substrate 107, and the protective member 701 is provided on the wall. The inner side becomes a hollow. The protective member 701 has at least one notch. In addition, on the thin glass layer 105 adhered to the inside of the first protective member 701 via the adhesive layer 106, the upper surface of the outer periphery of the thin glass layer 105 is covered from the outermost periphery of the first protective member 701. It has a second protective member 702 provided in a frame shape.

【0076】本実施形態においても、第1の実施形態と
同様の効果が得られる。また、第1の保護部材701と
薄ガラス層105の外周の上に第2の保護部材702が
設けられることから、薄ガラス層105の上面の保護を
行うことが可能になる。
Also in this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained. Further, since the second protective member 702 is provided on the outer circumferences of the first protective member 701 and the thin glass layer 105, the upper surface of the thin glass layer 105 can be protected.

【0077】(第8の実施形態)次に、第8の実施形態
について図14を用いて説明する。図14は第8の実施
形態に係るアクティブマトリクス型表示装置の断面図で
ある。本実施形態については、第1の実施形態と異なる
点のみ説明し、同様の部分は省略する。
(Eighth Embodiment) Next, an eighth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 14 is a sectional view of the active matrix type display device according to the eighth embodiment. Regarding the present embodiment, only the points different from the first embodiment will be described, and the similar portions will be omitted.

【0078】本実施形態のアクティブマトリクス型表示
装置は、樹脂基板107に窪み801とこれを囲む壁と
を有し、この壁に少なくとも1つの切欠きを有する点は
第1の実施形態と同様であるが、窪み801に接着層1
06を介して薄ガラス層105を接着した上に、樹脂基
板107の最外周から薄ガラス層105の外周の上面を
覆うように、枠状に設けられる保護部材802を有する
点が第1の実施形態と異なる。
The active-matrix display device of this embodiment has a recess 801 in the resin substrate 107 and a wall surrounding the recess 801, and at least one notch is formed in this wall as in the first embodiment. There is an adhesive layer 1 in the depression 801.
The first embodiment is that the thin glass layer 105 is adhered via 06, and the protective member 802 is provided in a frame shape so as to cover the outermost surface of the resin substrate 107 and the upper surface of the outer surface of the thin glass layer 105. Different from the form.

【0079】本実施形態においては、第1の実施形態と
第7の実施形態の双方の効果を得ることが可能である。
In this embodiment, the effects of both the first and seventh embodiments can be obtained.

【0080】第4の実施形態から第8の実施形態におい
ては、断面図のみを用いて説明したが、これらの実施形
態では、それぞれ第1の実施形態から第3の実施形態ま
でに示したような切欠き等を有するものとして、どれを
組み合わせても良い。つまり、第4の実施形態から第8
の実施形態では、第1の実施形態及び第2の実施形態の
ように、窪みの周囲の壁のどこかに少なくとも1つの切
欠きを設けるか、第3の実施形態のように、三辺をコの
字形に覆われた壁の内側に窪みがあるものとして、その
窪みに薄ガラス層を嵌め込んだ構成とすればよい。
The fourth to eighth embodiments have been described using only the sectional views, but in these embodiments, as shown in the first to third embodiments, respectively. Any combination may be used as those having various notches. That is, the fourth to eighth embodiments
In the embodiment of the present invention, at least one notch is provided somewhere in the wall around the recess as in the first and second embodiments, or as in the third embodiment, three sides are provided. Assuming that the wall covered with the U-shape has a recess inside, a thin glass layer may be fitted into the recess.

【0081】また、第1の実施形態以外では、アクティ
ブ素子を形成した薄ガラス層を樹脂基板に貼り付けただ
けの構成が示してあり、その上の表示部と、表示部上に
設けられ対向電極を形成した対向基板とは省略してい
る。
In addition to the first embodiment, a structure is shown in which a thin glass layer on which an active element is formed is simply attached to a resin substrate, and a display portion on the thin glass layer is opposed to a display portion provided on the display portion. The counter substrate on which the electrodes are formed is omitted.

【0082】なお、上述の各実施形態で切欠きを設けた
例を示したが、気泡が入った場合に気泡が逃げる経路が
形成されれば上述した形状である必要はなく、壁を貫通
する貫通孔や、壁を貫通しない切欠きを設けても同様な
効果を得ることが出来る。
Although the notch is provided in each of the above-described embodiments, the shape does not have to be the one described above as long as a path through which bubbles escape can be formed when bubbles enter the wall. The same effect can be obtained by providing a through hole or a notch that does not penetrate the wall.

【0083】[0083]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
アクティブ素子を形成して薄膜化した薄ガラス層を、軽
量な樹脂基板に割れを生じないよう貼り付けて形成する
ことの可能な、アクティブマトリクス型表示装置及びそ
の製造方法を提供することができる。
As described in detail above, according to the present invention,
It is possible to provide an active matrix type display device capable of forming a thin glass layer in which an active element is formed and thinning it on a lightweight resin substrate without causing a crack, and a manufacturing method thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 (a)は本発明の第1の実施形態に係るアク
ティブマトリクス型表示装置を示す平面図であり、
(b)はA−A’間の断面図、(c)はB−B’間の断
面図である。
FIG. 1A is a plan view showing an active matrix display device according to a first embodiment of the present invention,
(B) is sectional drawing between AA ', (c) is sectional drawing between BB'.

【図2】 本発明の第1の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置の製造工程を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the active matrix display device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の第1の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置の製造工程を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the active matrix display device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の第1の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置の製造工程を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the active matrix display device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】 本発明の第1の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置の製造工程を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the manufacturing process of the active matrix display device according to the first embodiment of the invention.

【図6】 本発明の第1の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置の製造工程を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing the manufacturing process of the active matrix display device according to the first embodiment of the invention.

【図7】 本発明の第1の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置の素子構成を示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing an element configuration of the active matrix display device according to the first embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の第2の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置を示す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing an active matrix display device according to a second embodiment of the present invention.

【図9】 本発明の第3の実施形態に係るアクティブマ
トリクス型表示装置を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing an active matrix type display device according to a third embodiment of the present invention.

【図10】 本発明の第4の実施形態に係るアクティブ
マトリクス型表示装置を示す断面図である。
FIG. 10 is a sectional view showing an active matrix display device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図11】 本発明の第5の実施形態に係るアクティブ
マトリクス型表示装置を示す断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view showing an active matrix display device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】 本発明の第6の実施形態に係るアクティブ
マトリクス型表示装置を示す断面図である。
FIG. 12 is a sectional view showing an active matrix type display device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図13】 本発明の第7の実施形態に係るアクティブ
マトリクス型表示装置を示す断面図である。
FIG. 13 is a sectional view showing an active matrix display device according to a seventh embodiment of the present invention.

【図14】 本発明の第8の実施形態に係るアクティブ
マトリクス型表示装置を示す断面図である。
FIG. 14 is a sectional view showing an active matrix display device according to an eighth embodiment of the present invention.

【図15】 (a)、(b)、(c)、(d)、(e)
とも、従来のアクティブマトリクス型表示装置の製造工
程を示す断面図である。
15 (a), (b), (c), (d), (e)
8A and 8B are cross-sectional views showing a manufacturing process of a conventional active matrix display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101…ガラス基板 102…素子回路領域 103、1505…中間基板 104、1504…接着・剥離層 105…薄ガラス層 106、1506…接着層 107…樹脂基板 108、201…切欠き 109、801…窪み 301…凹部 302…凸部 401、501、601、802…保護部材 701…第1の保護部材 702…第2の保護部材 1001…第1のアンダーコート絶縁膜 1002…第2のアンダーコート絶縁膜 1003…ポリシリコン層 1004…活性層 1005…ソース・ドレイン領域 1006…ゲート絶縁膜 1007…ゲート電極 1008…層間絶縁膜 1009…ソース電極 1010…ドレイン電極 1011…パッシベーション膜 1012…走査線・信号線 1013…画素電極 1014…対向電極 1015…シール 1016…液晶層 1017…対向基板 1501…素子形成基板 1502…分離層 1503…素子 1507…転写先基板 101 ... Glass substrate 102 ... Element circuit area 103, 1505 ... Intermediate substrate 104, 1504 ... Adhesion / peeling layer 105 ... Thin glass layer 106, 1506 ... Adhesive layer 107 ... Resin substrate 108, 201 ... Notches 109, 801 ... hollow 301 ... Recess 302 ... convex portion 401, 501, 601, 802 ... Protective member 701 ... First protective member 702 ... Second protective member 1001 ... First undercoat insulating film 1002 ... second undercoat insulating film 1003 ... Polysilicon layer 1004 ... Active layer 1005 ... Source / drain region 1006 ... Gate insulating film 1007 ... Gate electrode 1008 ... Interlayer insulating film 1009 ... Source electrode 1010 ... Drain electrode 1011 ... passivation film 1012 ... Scanning line / signal line 1013 ... Pixel electrode 1014 ... Counter electrode 1015 ... Seal 1016 ... Liquid crystal layer 1017 ... Counter substrate 1501 ... Element formation substrate 1502 ... Separation layer 1503 ... element 1507 ... Transfer destination substrate

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // H05B 33/14 H05B 33/14 A (72)発明者 小野塚 豊 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 日置 毅 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 秋山 政彦 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 Fターム(参考) 2H089 HA40 JA10 KA11 QA11 QA12 TA01 TA06 TA09 2H092 JA25 JA34 JA37 JA41 JB22 JB31 KA18 NA29 PA01 3K007 BB01 CA01 CA05 DB03 FA00 FA02 GA00 5C094 AA15 AA43 AA47 AA48 BA03 CA19 CA24 DA12 DA13 EA04 EB01 FA01 FA02 FB01 FB02 FB15 GB10 5G435 AA17 AA18 BB05 BB12 CC09 EE37 HH14 HH20 KK05 LL07Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI theme code (reference) // H05B 33/14 H05B 33/14 A (72) Inventor Yutaka Onozuka 1 Komukai Toshiba-cho, Kawasaki-shi, Kanagawa Incorporated company Toshiba Research & Development Center (72) Inventor Takeshi Hioki 1 Komukai Toshiba Town, Komu-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Incorporated Toshiba Research & Development Center (72) Inventor Masahiko Akiyama Komukai, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Toshiba Town No. 1 F-term in the Research and Development Center of Toshiba Corporation (reference) 2H089 HA40 JA10 KA11 QA11 QA12 TA01 TA06 TA09 2H092 JA25 JA34 JA37 JA41 JB22 JB31 KA18 NA29 PA01 3K007 BB01 CA01 CA05 DB03 FA00 FA02 GA00 5C09 4 A47AA15A43 CA19 CA24 DA12 DA13 EA04 EB01 FA01 FA02 FB01 FB02 FB15 GB10 5G435 AA17 AA18 BB05 BB12 CC09 EE37 HH14 HH20 KK05 LL07

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一方の表面に窪みとこの窪みを囲む壁と
を有し、この壁の少なくとも一箇所に設けられる切欠き
を有する樹脂基板と、前記樹脂基板の前記窪み上に接着
層を介して接着された薄ガラス層と、前記薄ガラス層上
にアレイ状に設けられたアクティブ素子と、前記薄ガラ
ス層上に設けられ前記アクティブ素子によって駆動され
画素毎に表示可能な表示部と、前記表示部上に設けられ
る対向基板とを具備することを特徴とするアクティブマ
トリクス型表示装置。
1. A resin substrate having a recess on one surface and a wall surrounding the recess, and a notch provided in at least one location of the wall, and an adhesive layer interposed on the recess of the resin substrate. A thin glass layer adhered together, an active element provided in an array on the thin glass layer, a display unit provided on the thin glass layer and driven by the active element and capable of displaying for each pixel, An active matrix display device comprising: a counter substrate provided on a display portion.
【請求項2】 一方の表面の外周の三辺にコの字形の凸
部を有し、その内側に凹部を有する樹脂基板と、前記樹
脂基板の前記凹部上に接着層を介して接着された薄ガラ
ス層と、前記薄ガラス層上にアレイ状に設けられたアク
ティブ素子と、前記薄ガラス層上に設けられ前記アクテ
ィブ素子によって駆動され画素毎に表示可能な表示部
と、前記表示部上に設けられる対向基板とを具備するこ
とを特徴とするアクティブマトリクス型表示装置。
2. A resin substrate having a U-shaped convex portion on three sides of the outer periphery of one surface and a concave portion inside the convex portion, and the resin substrate is adhered to the concave portion of the resin substrate through an adhesive layer. A thin glass layer, active elements provided in an array on the thin glass layer, a display unit provided on the thin glass layer and driven by the active element and capable of displaying for each pixel, and on the display unit An active matrix display device comprising: a counter substrate provided.
【請求項3】 樹脂基板と、前記樹脂基板上に接着層を
介して接着された薄ガラス層と、前記樹脂基板上の前記
薄ガラス層の周囲に接着層を介して接着される保護部材
と、前記薄ガラス層上にアレイ状に設けられたアクティ
ブ素子と、前記薄ガラス層上に設けられ前記アクティブ
素子によって駆動され画素毎に表示可能な表示部と、前
記表示部上に設けられる対向基板とを具備し、前記保護
部材には少なくとも一箇所に切欠きが設けられることを
特徴とするアクティブマトリクス型表示装置。
3. A resin substrate, a thin glass layer bonded to the resin substrate via an adhesive layer, and a protective member bonded to the periphery of the thin glass layer on the resin substrate via the adhesive layer. An active element provided in an array on the thin glass layer, a display section provided on the thin glass layer and driven by the active element and capable of displaying for each pixel, and a counter substrate provided on the display section And a cutout is provided at least at one place in the protection member.
【請求項4】 樹脂基板と、前記樹脂基板上に接着層を
介して接着された薄ガラス層と、前記樹脂基板上の前記
薄ガラス層の周囲の三辺に接着層を介して接着される保
護部材と、前記薄ガラス層上にアレイ状に設けられたア
クティブ素子と、前記薄ガラス層上に設けられ前記アク
ティブ素子によって駆動され画素毎に表示可能な表示部
と、前記表示部上に設けられる対向基板とを具備するこ
とを特徴とするアクティブマトリクス型表示装置。
4. A resin substrate, a thin glass layer bonded onto the resin substrate via an adhesive layer, and three peripheral sides of the thin glass layer on the resin substrate bonded via an adhesive layer. A protective member, active elements provided in an array on the thin glass layer, a display section provided on the thin glass layer and driven by the active element for each pixel, and provided on the display section An active matrix type display device.
【請求項5】 ガラス基板上にアレイ状にアクティブ素
子を形成する工程と、前記アクティブ素子を形成した前
記ガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程と、樹
脂基板の一方の表面に窪みと、この窪みを囲む壁と、こ
の壁の少なくとも一箇所に設けられる切欠きとを形成す
る工程と、前記薄ガラス層を、接着層を介して前記樹脂
基板の前記窪みに接着する工程と、前記薄ガラス層と対
向基板とを対向させて、前記アクティブ素子によって駆
動され画素毎に表示可能な表示部を形成する工程とを具
備することを特徴とするアクティブマトリクス型表示装
置の製造方法。
5. A step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a depression on one surface of a resin substrate. A step of forming a wall surrounding the recess and a notch provided in at least one location of the wall, a step of adhering the thin glass layer to the recess of the resin substrate via an adhesive layer, A thin glass layer and a counter substrate are opposed to each other to form a display unit driven by the active element and capable of displaying for each pixel, and a method for manufacturing an active matrix type display device.
【請求項6】 ガラス基板上にアレイ状にアクティブ素
子を形成する工程と、前記アクティブ素子を形成した前
記ガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程と、樹
脂基板の一方の表面の外周の三辺にコの字形の凸部と、
その内側の凹部とを形成する工程と、前記薄ガラス層
を、接着層を介して前記樹脂基板の前記凹部に接着する
工程と、前記薄ガラス層と対向基板とを対向させて、前
記アクティブ素子によって駆動され画素毎に表示可能な
表示部を形成する工程とを具備することを特徴とするア
クティブマトリクス型表示装置の製造方法。
6. A step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a step of forming an outer periphery of one surface of a resin substrate. U-shaped protrusions on three sides,
A step of forming a concave part inside thereof, a step of adhering the thin glass layer to the concave part of the resin substrate via an adhesive layer, and a step of adhering the thin glass layer and a counter substrate to each other to form the active element. And a step of forming a display unit capable of displaying each pixel by driving the active matrix type display device.
【請求項7】 ガラス基板上にアレイ状にアクティブ素
子を形成する工程と、前記アクティブ素子を形成した前
記ガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程と、樹
脂基板上に前記薄ガラス層を接着層を介して接着する工
程と、前記樹脂基板上の前記薄ガラス層の周囲に保護部
材を接着層を介して接着する工程と、前記薄ガラス層と
対向基板とを対向させて、前記アクティブ素子によって
駆動され画素毎に表示可能な表示部を形成する工程とを
具備し、前記保護部材には少なくとも一箇所に切欠きが
設けられることを特徴とするアクティブマトリクス型表
示装置の製造方法。
7. A step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a step of forming the thin glass layer on a resin substrate. The step of adhering through the adhesive layer, the step of adhering the protective member around the thin glass layer on the resin substrate through the adhesive layer, the thin glass layer and the counter substrate are opposed to each other, and the active And a step of forming a display portion that is driven by an element and is capable of displaying for each pixel, wherein the protective member is provided with a notch at least at one location.
【請求項8】 ガラス基板上にアレイ状にアクティブ素
子を形成する工程と、前記アクティブ素子を形成した前
記ガラス基板を薄膜化して薄ガラス層とする工程と、樹
脂基板上に前記薄ガラス層を接着層を介して接着する工
程と、前記樹脂基板上の前記薄ガラス層の周囲の三辺に
保護部材を接着層を介して接着する工程と、前記薄ガラ
ス層と対向基板とを対向させて、前記アクティブ素子に
よって駆動され画素毎に表示可能な表示部を形成する工
程とを具備することを特徴とするアクティブマトリクス
型表示装置の製造方法。
8. A step of forming active elements in an array on a glass substrate, a step of thinning the glass substrate on which the active elements are formed into a thin glass layer, and a step of forming the thin glass layer on a resin substrate. Bonding via an adhesive layer, bonding the protective member to the three sides of the thin glass layer on the resin substrate via the adhesive layer, and facing the thin glass layer and the counter substrate. And a step of forming a display unit which is driven by the active element and can display each pixel, the method of manufacturing an active matrix type display device.
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