JP2003279546A - 重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置 - Google Patents
重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置Info
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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Abstract
(57)【要約】
【課題】スポット溶接部の検査を溶接ライン内で行なう
ことができる重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置を提供
する。 【解決手段】重ね抵抗溶接部の一方の面に近接して置い
た電磁超音波探触子１によって溶接物内に超音波を励起
し、同一の電磁超音波探触子１によって重ね抵抗溶接部
から反射された超音波を受信し、受信した超音波によっ
て重ね抵抗溶接部の評価を行なうようにした。重ね抵抗
溶接部の両方の面に電磁超音波探触子１及び４を近接し
て置いてもよい。
ことができる重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置を提供
する。 【解決手段】重ね抵抗溶接部の一方の面に近接して置い
た電磁超音波探触子１によって溶接物内に超音波を励起
し、同一の電磁超音波探触子１によって重ね抵抗溶接部
から反射された超音波を受信し、受信した超音波によっ
て重ね抵抗溶接部の評価を行なうようにした。重ね抵抗
溶接部の両方の面に電磁超音波探触子１及び４を近接し
て置いてもよい。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、重ね抵抗溶接部を
非破壊検査する重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置に関
し、特に重ね抵抗溶接部の検査を溶接ライン内で行なう
ことができる重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置に関す
るものである。
非破壊検査する重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置に関
し、特に重ね抵抗溶接部の検査を溶接ライン内で行なう
ことができる重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、スポット溶接、プロジェクション
溶接、シーム溶接等の重ね抵抗溶接部の検査方法として
は、タガネを打ち込んではがす試験や引っ張り試験、ね
じり試験等の抜き取りによる破壊試験が一般的であり、
全数試験をすることは困難であった。製造物責任法が施
行され、溶接部の欠陥が重大な事故を招来する場合もあ
り、溶接部の全数非破壊試験を行なうことがさらに強く
求められるようになっている。溶接品質を確保するため
の迅速な対応を可能にするためには、溶接部の非破壊試
験を溶接ライン内で行なうことが望まれるが、従来溶接
部の非破壊試験の方法として知られるエックス線や超音
波を応用したものは、何れも溶接ライン内での使用に適
さないものであった。
溶接、シーム溶接等の重ね抵抗溶接部の検査方法として
は、タガネを打ち込んではがす試験や引っ張り試験、ね
じり試験等の抜き取りによる破壊試験が一般的であり、
全数試験をすることは困難であった。製造物責任法が施
行され、溶接部の欠陥が重大な事故を招来する場合もあ
り、溶接部の全数非破壊試験を行なうことがさらに強く
求められるようになっている。溶接品質を確保するため
の迅速な対応を可能にするためには、溶接部の非破壊試
験を溶接ライン内で行なうことが望まれるが、従来溶接
部の非破壊試験の方法として知られるエックス線や超音
波を応用したものは、何れも溶接ライン内での使用に適
さないものであった。
【０００３】すなわち、エックス線を応用したものを溶
接ライン内で使用する場合には、装置が高価であり、作
業者に対して放射線障害を与える恐れがあると言う問題
があった。また、超音波を応用したものを溶接ライン内
で使用する場合には、被検体の被測定箇所に探触子を接
触させたうえ被検体と探触子との間に音響結合材を充填
する必要があって音響結合材の扱いが面倒であり、さら
に重ね抵抗溶接では溶接部の表面に窪みが生ずるために
前処理をする必要があるため、これらのための手段をラ
イン内に置かなければならず、大きなスペースとメンテ
ナンスのための工数を要するという問題があった。
接ライン内で使用する場合には、装置が高価であり、作
業者に対して放射線障害を与える恐れがあると言う問題
があった。また、超音波を応用したものを溶接ライン内
で使用する場合には、被検体の被測定箇所に探触子を接
触させたうえ被検体と探触子との間に音響結合材を充填
する必要があって音響結合材の扱いが面倒であり、さら
に重ね抵抗溶接では溶接部の表面に窪みが生ずるために
前処理をする必要があるため、これらのための手段をラ
イン内に置かなければならず、大きなスペースとメンテ
ナンスのための工数を要するという問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の問題点
を解決し、多くの付帯設備を要することなく重ね抵抗溶
接部の検査を溶接ライン内で行なうことができる重ね抵
抗溶接部の検査方法及び装置を提供するためになされた
ものである。
を解決し、多くの付帯設備を要することなく重ね抵抗溶
接部の検査を溶接ライン内で行なうことができる重ね抵
抗溶接部の検査方法及び装置を提供するためになされた
ものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
めになされた請求項１の発明の重ね抵抗溶接部の検査方
法は、重ね抵抗溶接部の一方の面に近接して置いた電磁
超音波探触子によって溶接物内に超音波を励起し、同一
の電磁超音波探触子によって重ね抵抗溶接部から反射さ
れた超音波を受信し、受信した超音波によって重ね抵抗
溶接部の評価を行なうことを特徴とするものである。請
求項２の発明の重ね抵抗溶接部の検査方法は、重ね抵抗
溶接部の両方の面に電磁超音波探触子を近接して置くこ
とを特徴とするものである。
めになされた請求項１の発明の重ね抵抗溶接部の検査方
法は、重ね抵抗溶接部の一方の面に近接して置いた電磁
超音波探触子によって溶接物内に超音波を励起し、同一
の電磁超音波探触子によって重ね抵抗溶接部から反射さ
れた超音波を受信し、受信した超音波によって重ね抵抗
溶接部の評価を行なうことを特徴とするものである。請
求項２の発明の重ね抵抗溶接部の検査方法は、重ね抵抗
溶接部の両方の面に電磁超音波探触子を近接して置くこ
とを特徴とするものである。
【０００６】また同一の問題を解決するためになされた
請求項３の発明の重ね抵抗溶接部の検査方法は、重ね抵
抗溶接部の一方の面に近接して置いた電磁超音波探触子
によって溶接物内に超音波を励起し、重ね抵抗溶接部の
他方の面に近接して置いた電磁超音波探触子によって重
ね抵抗溶接部を透過した超音波を受信し、受信した超音
波によって重ね抵抗溶接部の評価を行なうことを特徴と
するものである。請求項１乃至３の発明においては、電
磁超音波探触子の中心を軸として電磁超音波探触子の方
向を変化させることが好ましい。
請求項３の発明の重ね抵抗溶接部の検査方法は、重ね抵
抗溶接部の一方の面に近接して置いた電磁超音波探触子
によって溶接物内に超音波を励起し、重ね抵抗溶接部の
他方の面に近接して置いた電磁超音波探触子によって重
ね抵抗溶接部を透過した超音波を受信し、受信した超音
波によって重ね抵抗溶接部の評価を行なうことを特徴と
するものである。請求項１乃至３の発明においては、電
磁超音波探触子の中心を軸として電磁超音波探触子の方
向を変化させることが好ましい。
【０００７】さらに同一の問題を解決するためになされ
た請求項４の発明の重ね抵抗溶接部の検査方法は、複数
の溶接点を一度に検査する重ね抵抗溶接部の検査方法で
あって、重ね抵抗溶接部の一方の面に検査の対象とする
溶接点の列を挟んで２個の電磁超音波探触子を近接して
置き、一方の電磁超音波探触子によって溶接物内に超音
波を励起し、他方の電磁超音波探触子によって溶接点の
列を透過した超音波を受信し、受信した超音波によって
重ね抵抗溶接部の評価を行なうことを特徴とするもので
ある。
た請求項４の発明の重ね抵抗溶接部の検査方法は、複数
の溶接点を一度に検査する重ね抵抗溶接部の検査方法で
あって、重ね抵抗溶接部の一方の面に検査の対象とする
溶接点の列を挟んで２個の電磁超音波探触子を近接して
置き、一方の電磁超音波探触子によって溶接物内に超音
波を励起し、他方の電磁超音波探触子によって溶接点の
列を透過した超音波を受信し、受信した超音波によって
重ね抵抗溶接部の評価を行なうことを特徴とするもので
ある。
【０００８】さらにまた同一の問題を解決するためにな
された請求項５の発明の重ね抵抗溶接部の検査装置は、
マニピュレータの先端に開閉機構を装着し、開閉される
開閉機構の開口の一方もしくは両方に電磁超音波探触子
を取り付け、マニピュレータに電磁超音波探触子を順次
溶接点に近接させるティーチングを施したことを特徴と
するものである。
された請求項５の発明の重ね抵抗溶接部の検査装置は、
マニピュレータの先端に開閉機構を装着し、開閉される
開閉機構の開口の一方もしくは両方に電磁超音波探触子
を取り付け、マニピュレータに電磁超音波探触子を順次
溶接点に近接させるティーチングを施したことを特徴と
するものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を、図を
参照しながら具体的に説明する。図１は請求項１の発明
を実施する場合の電磁超音波探触子１と溶接物２の配置
を示すものであって、溶接物２の一方の面に電磁超音波
探触子１が近接して置いてある。電磁超音波探触子はＥ
ＭＡＴと呼ばれ、その基本的な構成は図７に示すような
ものであって、磁極が被検体表面と垂直になるように磁
石が置かれ、該磁石の被検体側に被検体表面と平行に導
体が置かれている。
参照しながら具体的に説明する。図１は請求項１の発明
を実施する場合の電磁超音波探触子１と溶接物２の配置
を示すものであって、溶接物２の一方の面に電磁超音波
探触子１が近接して置いてある。電磁超音波探触子はＥ
ＭＡＴと呼ばれ、その基本的な構成は図７に示すような
ものであって、磁極が被検体表面と垂直になるように磁
石が置かれ、該磁石の被検体側に被検体表面と平行に導
体が置かれている。
【００１０】被検体内部には磁石によって被検体表面と
垂直方向の静磁界Ｂが形成され、この状態で導体に交流
電流Ｉを流すと被検体内部の表面近傍に交流電流Ｉと逆
方向の渦電流Ｊが流れる。渦電流Ｊと静磁界Ｂとの相互
作用により渦電流Ｊ及び静磁界Ｂと直交する方向のロー
レンツ力Ｆが発生するが、磁極の向きが図７に示す向き
で電流Ｉの方向が矢印方向のときはローレンツ力Ｆは紙
面奥に向かう方向となり、電流の方向が逆になるとロー
レンツ力Ｆの方向も逆になる。交流電流Ｉの周波数をｆ
とすれば、紙面に垂直方向で周波数ｆの振動波が発生す
ることになる。この電磁超音波探触子では、磁界を形成
するための磁石の形状、構成と渦電流を発生するための
コイルの形状とを選ぶことにより、縦波、横波、レイリ
ー波、ラム波、斜角波等の種々のモードの超音波を発生
させることができる。
垂直方向の静磁界Ｂが形成され、この状態で導体に交流
電流Ｉを流すと被検体内部の表面近傍に交流電流Ｉと逆
方向の渦電流Ｊが流れる。渦電流Ｊと静磁界Ｂとの相互
作用により渦電流Ｊ及び静磁界Ｂと直交する方向のロー
レンツ力Ｆが発生するが、磁極の向きが図７に示す向き
で電流Ｉの方向が矢印方向のときはローレンツ力Ｆは紙
面奥に向かう方向となり、電流の方向が逆になるとロー
レンツ力Ｆの方向も逆になる。交流電流Ｉの周波数をｆ
とすれば、紙面に垂直方向で周波数ｆの振動波が発生す
ることになる。この電磁超音波探触子では、磁界を形成
するための磁石の形状、構成と渦電流を発生するための
コイルの形状とを選ぶことにより、縦波、横波、レイリ
ー波、ラム波、斜角波等の種々のモードの超音波を発生
させることができる。
【００１１】この図１の配置において、電磁超音波探触
子１に短時間交流電流を流すと電磁超音波探触子１によ
って溶接物２内に超音波が励起される。溶接物２内に励
起された超音波はもう一方の面に向かって進み、ナゲッ
ト３と溶接物２のもう一方の面で反射して戻り、電磁超
音波探触子１によって受信される。超音波を励起するた
めに電磁超音波探触子に交流電流を流す時間は、超音波
が反射して戻るまでの時間より短くしておく。受信した
超音波によって重ね抵抗溶接部の評価を行なう方法は、
基本的には従来の超音波による検査方法と同様である。
子１に短時間交流電流を流すと電磁超音波探触子１によ
って溶接物２内に超音波が励起される。溶接物２内に励
起された超音波はもう一方の面に向かって進み、ナゲッ
ト３と溶接物２のもう一方の面で反射して戻り、電磁超
音波探触子１によって受信される。超音波を励起するた
めに電磁超音波探触子に交流電流を流す時間は、超音波
が反射して戻るまでの時間より短くしておく。受信した
超音波によって重ね抵抗溶接部の評価を行なう方法は、
基本的には従来の超音波による検査方法と同様である。
【００１２】図１の配置の場合には縦波もしくは横波を
使用するのであって、電磁超音波探触子１には縦波もし
くは横波を発生ならびに受信するものを使用する。横波
を使用した場合には、電磁超音波探触子１に同一周波数
の交流電流を流したときに被溶接物２内に励起される超
音波の波長が縦波に比べて短くなるので、空間分解能を
向上させることができる利点がある。また、キッシング
ボンド型不完全接合面があった場合、縦波反射法では接
触していれば波が透過するが、横波では接触していても
横ずれに対する抵抗がなければ反射が発生するのでこれ
を検出することができる利点もある。
使用するのであって、電磁超音波探触子１には縦波もし
くは横波を発生ならびに受信するものを使用する。横波
を使用した場合には、電磁超音波探触子１に同一周波数
の交流電流を流したときに被溶接物２内に励起される超
音波の波長が縦波に比べて短くなるので、空間分解能を
向上させることができる利点がある。また、キッシング
ボンド型不完全接合面があった場合、縦波反射法では接
触していれば波が透過するが、横波では接触していても
横ずれに対する抵抗がなければ反射が発生するのでこれ
を検出することができる利点もある。
【００１３】図２は請求項２の発明を実施する場合の電
磁超音波探触子１と溶接物２の配置を示すものであっ
て、溶接物２の一方の面に電磁超音波探触子１が近接し
て置いてあり、さらに溶接物２の他方の面に電磁超音波
探触子４が近接して置いてある。この図２の配置の場合
には溶接物の一方の面では縦波、他方の面では横波を使
用するものとしてあり、電磁超音波探触子１及び４の一
方には縦波を発生ならびに受信するものを、他方には横
波を発生ならびに受信するものをそれぞれ使用する。
磁超音波探触子１と溶接物２の配置を示すものであっ
て、溶接物２の一方の面に電磁超音波探触子１が近接し
て置いてあり、さらに溶接物２の他方の面に電磁超音波
探触子４が近接して置いてある。この図２の配置の場合
には溶接物の一方の面では縦波、他方の面では横波を使
用するものとしてあり、電磁超音波探触子１及び４の一
方には縦波を発生ならびに受信するものを、他方には横
波を発生ならびに受信するものをそれぞれ使用する。
【００１４】電磁超音波探触子１又は４に短時間交流電
流を流すと電磁超音波探触子１又は４によって溶接物２
内に超音波が励起される。溶接物２内に励起された超音
波はもう一方の面に向かって進み、ナゲット３と溶接物
２のもう一方の面で反射して戻り、電磁超音波探触子１
又は４によって受信される。このようにして、電磁超音
波探触子１又は４により図１に示す配置の場合と同様に
重ね抵抗溶接部の評価が行なわれる。この方法では、縦
波と横波の両方を使用して検査するので評価の精度を高
くすることができる。なお、干渉を避けるため、電磁超
音波探触子１及び４には同時に交流電流を流さないこと
が好ましい。
流を流すと電磁超音波探触子１又は４によって溶接物２
内に超音波が励起される。溶接物２内に励起された超音
波はもう一方の面に向かって進み、ナゲット３と溶接物
２のもう一方の面で反射して戻り、電磁超音波探触子１
又は４によって受信される。このようにして、電磁超音
波探触子１又は４により図１に示す配置の場合と同様に
重ね抵抗溶接部の評価が行なわれる。この方法では、縦
波と横波の両方を使用して検査するので評価の精度を高
くすることができる。なお、干渉を避けるため、電磁超
音波探触子１及び４には同時に交流電流を流さないこと
が好ましい。
【００１５】図３は請求項３の発明を実施する場合の電
磁超音波探触子１、４と溶接物２の配置を示すものであ
って、溶接物２の一方の面に電磁超音波探触子１が、他
方の面に電磁超音波探触子４がそれぞれ近接して置いて
ある。この図３の配置の場合には縦波もしくは横波を使
用するのであって、電磁超音波探触子１には縦波もしく
は横波を発生するもの、電磁超音波探触子１には縦波も
しくは横波を受信するものをそれぞれ使用する。
磁超音波探触子１、４と溶接物２の配置を示すものであ
って、溶接物２の一方の面に電磁超音波探触子１が、他
方の面に電磁超音波探触子４がそれぞれ近接して置いて
ある。この図３の配置の場合には縦波もしくは横波を使
用するのであって、電磁超音波探触子１には縦波もしく
は横波を発生するもの、電磁超音波探触子１には縦波も
しくは横波を受信するものをそれぞれ使用する。
【００１６】電磁超音波探触子１に交流電流を流すと電
磁超音波探触子１によって溶接物２内に超音波が励起さ
れ、励起された超音波は途中ナゲット３を通ってもう一
方の面に進み、電磁超音波探触子４によって受信され
る。ナゲット３の形成状態により超音波が分散され、超
音波の透過度が変化するので、受信された超音波から重
ね抵抗溶接部の評価を行なうことができる。電磁超音波
探触子１及び４はそれぞれ発信及び受信専用とすること
によりそれぞれの機能に最適な特性のものとすることが
できる。これにより強力な超音波を励起することがで
き、その超音波を高い感度で受信することができるので
精度の良い検査をすることができる。
磁超音波探触子１によって溶接物２内に超音波が励起さ
れ、励起された超音波は途中ナゲット３を通ってもう一
方の面に進み、電磁超音波探触子４によって受信され
る。ナゲット３の形成状態により超音波が分散され、超
音波の透過度が変化するので、受信された超音波から重
ね抵抗溶接部の評価を行なうことができる。電磁超音波
探触子１及び４はそれぞれ発信及び受信専用とすること
によりそれぞれの機能に最適な特性のものとすることが
できる。これにより強力な超音波を励起することがで
き、その超音波を高い感度で受信することができるので
精度の良い検査をすることができる。
【００１７】図１乃至図３の配置においては、電磁超音
波探触子１又は電磁超音波探触子１及び４の中心を軸と
して電磁超音波探触子１又は電磁超音波探触子１及び４
の方向を変化可能とすることができる。電磁超音波探触
子１又は電磁超音波探触子１及び４を旋回させることに
より、音速異方性を検出することができ、内部組織の変
動を把握することができる。また、溶接点の検査精度が
低下する金属結晶粒の方向を避けることができる。
波探触子１又は電磁超音波探触子１及び４の中心を軸と
して電磁超音波探触子１又は電磁超音波探触子１及び４
の方向を変化可能とすることができる。電磁超音波探触
子１又は電磁超音波探触子１及び４を旋回させることに
より、音速異方性を検出することができ、内部組織の変
動を把握することができる。また、溶接点の検査精度が
低下する金属結晶粒の方向を避けることができる。
【００１８】図４は請求項５の発明を実施する場合の電
磁超音波探触子１、５と溶接物２の配置を示すものであ
って、溶接物２の一方の面に溶接点３、３の列を挟んで
２個の電磁超音波探触子１、５がそれぞれ近接して置い
てある。この図４の配置の場合にはレイリー波を使用す
るのであって、電磁超音波探触子１にはレイリー波の発
生ができるもの、電磁超音波探触子５にはレイリー波の
受信ができるものを使用する。レイリー波は薄板を伝播
する場合にはラム波となることは従来知られているとお
りである。電磁超音波探触子１に交流電流を流すと電磁
超音波探触子１によって溶接物２内に超音波が励起さ
れ、励起された超音波はラム波として途中ナゲット３の
列を通って進み、電磁超音波探触子５によって受信され
る。
磁超音波探触子１、５と溶接物２の配置を示すものであ
って、溶接物２の一方の面に溶接点３、３の列を挟んで
２個の電磁超音波探触子１、５がそれぞれ近接して置い
てある。この図４の配置の場合にはレイリー波を使用す
るのであって、電磁超音波探触子１にはレイリー波の発
生ができるもの、電磁超音波探触子５にはレイリー波の
受信ができるものを使用する。レイリー波は薄板を伝播
する場合にはラム波となることは従来知られているとお
りである。電磁超音波探触子１に交流電流を流すと電磁
超音波探触子１によって溶接物２内に超音波が励起さ
れ、励起された超音波はラム波として途中ナゲット３の
列を通って進み、電磁超音波探触子５によって受信され
る。
【００１９】溶接物２の内部の音速は残留応力により変
化し、受信された超音波にはその変化が現れる。したが
って、予め正常なナゲットが形成されている場合の音速
を求めておき、受信された超音波による測定結果と対比
することによって全てのナゲットが正常に形成されてい
るか否かが判る。このように複数のナゲットを一度に検
査することができ、正常に形成されていないナゲットが
ある場合には再度個別に検査することにより不良ナゲッ
トの特定をすることができる。
化し、受信された超音波にはその変化が現れる。したが
って、予め正常なナゲットが形成されている場合の音速
を求めておき、受信された超音波による測定結果と対比
することによって全てのナゲットが正常に形成されてい
るか否かが判る。このように複数のナゲットを一度に検
査することができ、正常に形成されていないナゲットが
ある場合には再度個別に検査することにより不良ナゲッ
トの特定をすることができる。
【００２０】図５は請求項６の発明の実施の形態を示す
要部の構成図であって、図６に示すようなアーム６の先
端にスポット溶接ガン７を装着したマニピュレータ８を
使用する溶接装置に隣接して設けられる。マニピュレー
タ８と同様の自由度を有するマニピュレータのアーム９
の先端に開閉機構１０を装着し、開閉される開閉機構１
０の開口の上側又は下側あるいはその両方に電磁超音波
探触子１、４を取り付けてある。マニピュレータには電
磁超音波探触子１、４を順次溶接点に近接させるティー
チングが施してある。このティーチングは溶接装置のマ
ニピュレータ８のティーチングと同様に行なうことがで
き、溶接装置により溶接された溶接物は図示しない移送
装置によって検査用のマニピュレータ側の定位置まで移
送することができる。
要部の構成図であって、図６に示すようなアーム６の先
端にスポット溶接ガン７を装着したマニピュレータ８を
使用する溶接装置に隣接して設けられる。マニピュレー
タ８と同様の自由度を有するマニピュレータのアーム９
の先端に開閉機構１０を装着し、開閉される開閉機構１
０の開口の上側又は下側あるいはその両方に電磁超音波
探触子１、４を取り付けてある。マニピュレータには電
磁超音波探触子１、４を順次溶接点に近接させるティー
チングが施してある。このティーチングは溶接装置のマ
ニピュレータ８のティーチングと同様に行なうことがで
き、溶接装置により溶接された溶接物は図示しない移送
装置によって検査用のマニピュレータ側の定位置まで移
送することができる。
【００２１】この検査装置で請求項１の発明を実施する
場合には電磁超音波探触子１を上側あるいは下側に取り
付け、請求項２又は３の発明を実施する場合には電磁超
音波探触子１又は４の一方を上側に、他方を下側に取り
付ける。図５では請求項２又は３の発明を実施する場合
が示してある。さらに、アーム先端の開閉機構１０の取
り付け部分には旋回機構１１が設けてあり、一点鎖線で
示す電磁超音波探触子１又は４の中心を軸として旋回自
在として請求項４の発明が実施できるようにしてある。
場合には電磁超音波探触子１を上側あるいは下側に取り
付け、請求項２又は３の発明を実施する場合には電磁超
音波探触子１又は４の一方を上側に、他方を下側に取り
付ける。図５では請求項２又は３の発明を実施する場合
が示してある。さらに、アーム先端の開閉機構１０の取
り付け部分には旋回機構１１が設けてあり、一点鎖線で
示す電磁超音波探触子１又は４の中心を軸として旋回自
在として請求項４の発明が実施できるようにしてある。
【００２２】マニピュレータを運転すると、予めティー
チングされていた動作をするので電磁超音波探触子１又
は４は各溶接点に順次対向し、開閉機構１０が作動して
電磁超音波探触子１又は電磁超音波探触子１及び４が溶
接点に近接させられ、前記の説明のように溶接部が検査
される。溶接物の圧延方向によっては、金属結晶粒の方
向の影響で検査の精度が低下することがあるが、旋回機
構１１を作動させて電磁超音波探触子１又は電磁超音波
探触子１及び４を旋回させることにより、検査精度が低
下する金属結晶粒の方向を避けることができ、また、内
部組織の変動を把握することができる。
チングされていた動作をするので電磁超音波探触子１又
は４は各溶接点に順次対向し、開閉機構１０が作動して
電磁超音波探触子１又は電磁超音波探触子１及び４が溶
接点に近接させられ、前記の説明のように溶接部が検査
される。溶接物の圧延方向によっては、金属結晶粒の方
向の影響で検査の精度が低下することがあるが、旋回機
構１１を作動させて電磁超音波探触子１又は電磁超音波
探触子１及び４を旋回させることにより、検査精度が低
下する金属結晶粒の方向を避けることができ、また、内
部組織の変動を把握することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明した本発明の重ね抵抗溶接部の
検査方法によれば、電磁超音波探触子を使用することに
より音響結合材を使用することなく溶接部の検査をする
ことができるのでライン内での検査が可能となり、検査
の形態に合わせて最適なモードの超音波を使用するので
検査精度を高めることができる。さらに、複数の溶接点
を一度に検査することも可能である。また、本発明の重
ね抵抗溶接部の検査装置によれば、マニピュレータを使
用したいわゆるロボット式溶接装置に併設して自動的に
各溶接点の検査を自動的に行なうことができる。したが
って、従来の問題を全て解決した重ね抵抗溶接部の検査
方法及び装置を提供するものとして業界に寄与するとこ
ろ極めて大である。
検査方法によれば、電磁超音波探触子を使用することに
より音響結合材を使用することなく溶接部の検査をする
ことができるのでライン内での検査が可能となり、検査
の形態に合わせて最適なモードの超音波を使用するので
検査精度を高めることができる。さらに、複数の溶接点
を一度に検査することも可能である。また、本発明の重
ね抵抗溶接部の検査装置によれば、マニピュレータを使
用したいわゆるロボット式溶接装置に併設して自動的に
各溶接点の検査を自動的に行なうことができる。したが
って、従来の問題を全て解決した重ね抵抗溶接部の検査
方法及び装置を提供するものとして業界に寄与するとこ
ろ極めて大である。
【図１】請求項１の発明を実施する場合の電磁超音波探
触子と溶接物の配置を示す図である。
触子と溶接物の配置を示す図である。
【図２】請求項１の発明を実施する場合の電磁超音波探
触子と溶接物の別の配置を示す図である。
触子と溶接物の別の配置を示す図である。
【図３】請求項３の発明を実施する場合の電磁超音波探
触子と溶接物の配置を示す図である。
触子と溶接物の配置を示す図である。
【図４】請求項５の発明を実施する場合の電磁超音波探
触子と溶接物の配置を示す図である。
触子と溶接物の配置を示す図である。
【図５】請求項６の発明の実施の形態を示す要部の構成
図である。
図である。
【図６】マニピュレータを使用した溶接装置の例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図７】電磁超音波探触子の原理を示す模式図である。
１ 電磁超音波探触子
２ 溶接物
３ ナゲット
４、５ 電磁超音波探触子
６ アーム
７ スポット溶接ガン
８ マニピュレータ
９ アーム
１０ 開閉機構
１１ 旋回機構
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 米永 裕司
愛知県名古屋市名東区八前２丁目1203番
(72)発明者 松田 正文
愛知県名古屋市中村区東宿町２丁目144番
地
Ｆターム(参考） 2G047 AA07 AB07 BA01 BA03 BC10
CA02 CB01 CB02 CB03 CB04
DB03 EA14 GA04 GA14 GC01
GC04
Claims (6)
- 【請求項１】重ね抵抗溶接部の一方の面に近接して置い
た電磁超音波探触子によって溶接物内に超音波を励起
し、同一の電磁超音波探触子によって重ね抵抗溶接部か
ら反射された超音波を受信し、受信した超音波によって
重ね抵抗溶接部の評価を行なうことを特徴とする重ね抵
抗溶接部の検査方法。 - 【請求項２】重ね抵抗溶接部の両方の面に電磁超音波探
触子を近接して置いたことを特徴とする請求項１に記載
の重ね抵抗溶接部の検査方法。 - 【請求項３】重ね抵抗溶接部の一方の面に近接して置い
た電磁超音波探触子によって溶接物内に超音波を励起
し、重ね抵抗溶接部の他方の面に近接して置いた電磁超
音波探触子によって重ね抵抗溶接部を透過した超音波を
受信し、受信した超音波によって重ね抵抗溶接部の評価
を行なうことを特徴とする重ね抵抗溶接部の検査方法。 - 【請求項４】電磁超音波探触子の中心を軸として電磁超
音波探触子の方向を変化させることを特徴とする請求項
１乃至３の何れかに記載の重ね抵抗溶接部の検査方法。 - 【請求項５】複数の溶接点を一度に検査する重ね抵抗溶
接部の検査方法であって、重ね抵抗溶接部の一方の面に
検査の対象とする溶接点の列を挟んで２個の電磁超音波
探触子を近接して置き、一方の電磁超音波探触子によっ
て溶接物内に超音波を励起し、他方の電磁超音波探触子
によって溶接点の列を透過した超音波を受信し、受信し
た超音波によって重ね抵抗溶接部の評価を行なうことを
特徴とする重ね抵抗溶接部の検査方法。 - 【請求項６】マニピュレータの先端に開閉機構を装着
し、開閉される開閉機構の開口の一方もしくは両方に電
磁超音波探触子を取り付け、マニピュレータに電磁超音
波探触子を順次溶接点に近接させるティーチングを施し
たことを特徴とする重ね抵抗溶接部の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002085900A JP2003279546A (ja) | 2002-03-26 | 2002-03-26 | 重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002085900A JP2003279546A (ja) | 2002-03-26 | 2002-03-26 | 重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003279546A true JP2003279546A (ja) | 2003-10-02 |
Family
ID=29232689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002085900A Withdrawn JP2003279546A (ja) | 2002-03-26 | 2002-03-26 | 重ね抵抗溶接部の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003279546A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2009043469A (ja) * | 2007-08-07 | 2009-02-26 | Panasonic Ev Energy Co Ltd | 電池の製造方法および電池の検査方法 |
| JP2010038669A (ja) * | 2008-08-04 | 2010-02-18 | Honda Motor Co Ltd | 溶融部界面位置検出方法及びその装置 |
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-
2002
- 2002-03-26 JP JP2002085900A patent/JP2003279546A/ja not_active Withdrawn
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|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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