JP2003273504A - はんだ付け方法 - Google Patents

はんだ付け方法

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JP2003273504A JP2003003381A JP2003003381A JP2003273504A JP 2003273504 A JP2003273504 A JP 2003273504A JP 2003003381 A JP2003003381 A JP 2003003381A JP 2003003381 A JP2003003381 A JP 2003003381A JP 2003273504 A JP2003273504 A JP 2003273504A
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Haruo Suzuki
春夫 鈴木
Hirofumi Nogami
弘文 野上
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憲久 江口
Osamu Munakata
修 宗形
Minoru Uejima
稔 上島
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 酸化抑制元素濃度の高い母合金を使用しな
い、はんだ浴に酸化抑制元素を追加供給する簡便な方法
を提供する。 【解決手段】 使用中のはんだ浴の酸化抑制元素の減少
速度を測定し、該減少速度より求めた減少量以上の量の
酸化抑制元素を含むはんだ合金をはんだ浴の減少に応じ
て適宜追加供給する。はんだ合金の組成は常に可及的に
一定に保持される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、はんだ付け方法、
特にはんだ浴内の酸化物抑制元素の濃度を管理しながら
行うはんだ付け方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器類においてプリント配線基板に
電子部品を実装する際には、はんだ合金が用いられてお
り、電子部品やプリント配線基板( 以下、単にプリント
基板とも云う) に対する熱影響、作業性及び接合後の信
頼性等を考慮して、種々の組成のはんだ合金が使用され
ている。
【0003】従来から多く使用されてきたはんだ合金
は、融点が低く、しかもはんだ付け性の良好なSn-Pb 共
晶近傍の組成(Sn63-Pb)をもったはんだ合金である。こ
の共晶はんだは溶融温度域が存在せず、瞬時に凝固する
ため、はんだ付け後の凝固にかかる時間が短い。従っ
て、Sn-Pb 共晶はんだを用いたフローはんだ付け法によ
るはんだ付けでは、コンベア搬送時の振動の影響も非常
に少ないという、信頼性の高いはんだ付けが行える。
【0004】しかしながら、このように実用上優れたSn
-Pb はんだ合金は、公害問題の点から鉛フリーはんだ、
すなわち鉛を含まないはんだ合金に取って代われるよう
になってきている。埋め立て処分される電子機器のはん
だ付け部に酸性雨が接触すると、はんだ合金中のPbが溶
出し、それが地下水を汚染して飲料用にしたときに人体
に鉛中毒を起こさせる可能性を考えたためである。
【0005】ここに、鉛フリーはんだは、Sn-Pb はんだ
に比べて機械的強度に優れており、上述のような鉛公害
の問題も考えて、近時、大いに使用されるようになって
きている。
【0006】これらのはんだ合金を用いたはんだ付け方
法としては、溶融はんだ浴を使ったフローはんだ付け
法、はんだペーストやフォームソルダーを用いたリフロ
ー法、脂入り線はんだを鏝ではんだ付けする鏝付け法等
がある。
【0007】フローはんだ付け法は、電子部品を搭載し
たプリント基板の片面全域にフラックスを塗布した後、
予備加熱を行ってから溶融しているはんだ浴にプリント
基板の片面を接触させてはんだ付けを行う方法である。
この方法において、近年ではノズルを用い溶融はんだを
噴流して、安定した溶融はんだウェーブを発生させ、こ
の頂上に基板が当たるように通過させるというウェーブ
はんだ付け方法が、プリント基板への実装方法として、
コスト重視の大量生産には一般的である。
【0008】ところで、はんだ付け作業の際には、いく
つかのはんだ付け欠陥、即ち、未はんだ、ブリッジ、ボ
イド等が生じてしまう。特にフローはんだ付け法では、
常時はんだが噴流しているため、噴流ノズルから流出し
たはんだがノズル近傍の槽内静止部へ落下する。この落
下部分において乱流が生じて酸素巻き込みによる酸化
物、所謂ドロスが発生する。ドロスがノズル近傍に堆積
すると溶融はんだウェーブの安定性を妨げたり、はんだ
ウェーブに巻き込まれたドロスの一部がプリント基板に
付着したりして、はんだ付け欠陥を招く恐れがあり、は
んだ浴表面に堆積したドロスを定期的に除去する必要が
ある。
【0009】同様なドロス発生の問題は、静止はんだ浴
を使った場合にあっても、ウレタン被覆銅線のはんだ付
けを行うときのように、酸化雰囲気下で高温のはんだ付
けが行われるときに見られる。
【0010】このようなドロス発生量が多いと前述のド
ロス除去に費やす手間や廃棄はんだ量が増し、ランニン
グコストが上昇する。したがって、はんだ槽のメンテナ
ンスやコスト面で、このドロスの低減が望まれる。
【0011】鉛フリーはんだは、材料自体が高コストで
あるため、尚一層、ドロスの低減が強く求められてい
る。このドロス低減のために、はんだ合金側からの解決
手段として、酸化抑制に効果を有する元素を添加した脱
酸用合金が用いられていた。その酸化抑制元素の代表例
は、Pである。Pは積極的に酸素と反応することによっ
て、はんだ合金の主要構成成分であるSnあるいはPbの酸
化を抑制する効果を有する。
【0012】Pの酸化抑制効果は、所謂犠牲酸化であ
り、結果的にドロス抑制につながる。Pは選択的に消費
されてドロス中に濃化し、ドロスと共にはんだ槽外へ排
出される。従って、はんだ合金中のP、つまり酸化抑制
元素は減少し、やがては消失してしまう。
【0013】はんだ合金中の酸化抑制元素が消失してし
まうとドロス抑制効果が無くなるため、ドロス発生量が
増加して、廃棄はんだ量が増すばかりではなく、ドロス
起因のはんだ付け欠陥が発生し、フローはんだ付けに伴
う総不良率が増加し、ランニングコストの上昇を招く恐
れがある。
【0014】従来の酸化抑制元素をはんだ浴に添加する
方法は、はんだ浴中の所定のP濃度よりも極端にP濃度
の高いはんだ合金(P:0.05 〜3 %) を脱酸用として少量
用いるものであった。(参照:特開昭54−84817 号公
報) つまり、従来は、はんだ浴中のP濃度が減少した頃を見
計らってP濃度の高いはんだ合金を少量投入することに
より、はんだ浴中のP濃度だけを回復させるものであっ
た。
【0015】一方、大量のプリント基板のはんだ付けを
行う場合、はんだ浴内のはんだ合金がプリント基板に付
着して消費されるため絶えず減少していく。従来このは
んだ槽内のはんだが減少した分の供給は、Pが含有され
ていないはんだ合金で行っていた。つまり、はんだ浴中
のPの減少に対してはP濃度の高いはんだ合金を少量投
入し、はんだ浴内のはんだ合金の減少に対してはPが全
く含有されていないはんだ合金を供給していたのであ
る。はんだ浴のP濃度とはんだ合金量とは別々に管理さ
れていたのである。
【0016】また、はんだ浴内のはんだ合金の減少に対
してP含有はんだを供給していた場合でも、予めはんだ
槽内に充填されたはんだ合金と同濃度のP量のはんだ合
金で行っていた。フローはんだ付け法の場合、特にウエ
ーブはんだ付け法では、はんだ浴のP消費量が大きいた
め、はんだ浴と同濃度のP量のはんだ合金の供給ではP
消費分に相当するP量を補充できなかった。
【0017】従って、前述と同様、はんだ浴中のPの減
少に対してはP濃度の高いはんだ合金を少量投入し、は
んだ浴中のP濃度を回復させていた。
【0018】
【特許文献1】 特開昭54−84817 号公報請求項、第2
頁上右欄1〜6行
【特許文献2】 特開平11−333589号公報請求項3、4
【0019】
【発明が解決しようとする課題】確かに、従来にあって
も、はんだ浴内の酸化抑制元素が消失した場合、前述の
ように酸化抑制元素が消費された分に相当する量を供給
することによって、対処する方法が採られている。例え
ば、毎日あるいは月2〜4回など、定期的に酸化抑制元
素を高濃度に調整した脱酸用合金をはんだ浴内へ供給
し、浴内の酸化抑制元素濃度を調整するという作業であ
る。
【0020】しかしながら、この調整作業はその都度、
脱酸用合金の調合量の秤量、槽内への投入と一定時間の
攪拌、調整後の槽内濃度の確認等、面倒な作業を要する
ものであった。
【0021】本発明の課題は、例えば、フローはんだ付
け法におけるように、はんだ浴内のはんだ合金の酸化が
問題になる場合に、はんだ浴内のはんだ合金の酸化を抑
制するはんだ付け方法を提供することにある。
【0022】
【課題を解決するための手段】ところで、フローはんだ
付け法では、はんだ付けに伴いプリント基板に付着する
分と、噴流により発生するドロス部がはんだ槽外へ排出
される分とがあり、これらの合計量である排出量に相当
するはんだがはんだ浴内に供給される。
【0023】この供給手段としては、粒状、棒状はんだ
あるいは線状はんだが用いられ、はんだ槽内の液面制御
と共に断続的に供給される。したがって、従来にあって
は、当初組成と同じ組成のはんだ合金を供給する場合に
は、はんだの排出量、つまり供給量に対応して当初組成
と同じ割合で酸化抑制元素を供給していたのである。
【0024】ここに、本発明者らは、前述のPの犠牲酸
化を考慮したところ、はんだ浴の減少割合に比較して、
Pのような酸化抑制元素の減少割合は大きいこと、Pの
変動が大きいと接合はんだの機械的特性に大きく影響す
ること、そしてはんだ付けの作業条件が一定のときには
酸化抑制元素の酸化量、つまり減少量が比較的一定にな
ることに着目して、さらに検討を行った結果、本発明を
完成した。
【0025】また、従来のように酸化抑制元素を適宜時
期にP含有脱酸合金の形態で供給すると、はんだ浴組成
が変動し、それに伴って酸化抑制元素の減少量も大きく
変動することになる。したがって、本発明にあっては、
酸化抑制元素および必要により銅を除いて、はんだ合金
の当初組成と同じ組成のはんだ合金を供給用はんだ合金
として使用することで、追加投入時期をはんだ合金の減
少量によって決めても、はんだ浴組成の変動を可及的少
とすることができるのである。
【0026】ここに、本発明は、次の通りである。 (1)酸化抑制元素が添加されたはんだ浴を使って行うは
んだ付け方法であって、前記酸化抑制元素以外は、はん
だ浴の合金組成と同一の合金組成であって該酸化抑制元
素を含むはんだ合金を供給用はんだ合金として用いるこ
と;はんだ付け作業中のはんだ浴内の前記酸化抑制元素
の減少速度を求めること;そして前記減少速度で消費さ
れる酸化抑制元素の減少量と同等もしくはそれより多い
量の該酸化抑制元素を供給するはんだ合金を、前記供給
用はんだ合金としてはんだ付け作業の進行に伴って、前
記はんだ浴に供給すること;から成る、はんだ浴中の前
記酸化抑制元素の濃度を所定範囲内に管理しながらはん
だ付けを行うことを特徴とするはんだ付け方法。
【0027】(2)酸化抑制元素が添加されたはんだ浴を
使って行うはんだ付け方法であって、はんだ浴を構成す
るはんだ合金が、合金成分として銅を含有する鉛フリー
のはんだ合金であること;前記酸化抑制元素および銅以
外は、はんだ浴の合金組成と同一の合金組成であって該
酸化抑制元素を含むはんだ合金を供給用はんだ合金とし
て用いること;はんだ付け作業中のはんだ浴内の前記酸
化抑制元素の減少速度を求めること;そして前記減少速
度で消費される酸化抑制元素の減少量と同等もしくはそ
れより多い量の該酸化抑制元素を供給し、かつ銅を含み
または含まない供給用はんだ合金を、前記供給用はんだ
合金としてはんだ付け作業の進行に伴って、前記はんだ
浴に供給すること;から成る、はんだ浴中の前記酸化抑
制元素の濃度を所定範囲内に管理しながらはんだ付けを
行うことを特徴とするはんだ付け方法。
【0028】(3)前記供給用はんだ合金における酸化抑
制元素が、はんだ浴中の酸化抑制元素の目標とする濃度
の2ないし6倍の濃度で含有されることを特徴とする、
上記(1) または(2) に記載のはんだ付け方法。
【0029】(4)前記酸化抑制元素が、P、Ge、Ga、Ce
から選ばれた1種以上の元素であることを特徴とする上
記(1) ないし(3) のいずれかに記載のはんだ付け方法。
本発明において、はんだ槽内に供給される供給用はんだ
合金は、粒状、棒状あるいは線状はんだ合金の形態で槽
内に供給してもよい。
【0030】本発明により、上述の供給用はんだ合金を
はんだ浴の減少に伴って追加投入するだけで、従来定期
的に酸化抑制元素を高濃度に調整した脱酸用合金をはん
だ槽内へ供給し、槽内濃度を調整するという面倒な作業
を省くことができ、毎日の通常作業内で、自動的に槽内
の酸化抑制元素が一定に保持され、メンテナンスフリー
にて酸化抑制元素の恒久的な管理が達成できるものであ
る。この方法により、はんだ槽内の酸化抑制元素の消失
を回避し、ドロス抑制効果を恒久的に維持できるため、
フローはんだ付けにおけるはんだ付け品質の安定確保が
可能となる。
【0031】
【発明の実施の形態】本発明において供給用はんだ合金
に用いられる酸化抑制元素とは、積極的に酸素と反応す
ることによりはんだ合金の主要構成成分の酸化を抑制す
る効果を有する元素である。この酸化抑制元素として
は、例えばP、Ga、Ge、Ce等の元素である。
【0032】本発明は、はんだ浴を用いたフローはんだ
付け方法において、はんだ浴にはんだを供給しながらは
んだ浴内の酸化抑制元素の含有量を可及的一定に保つ方
法である。すなわち、本発明は、その最も広い意味で
は、酸化抑制元素を含有するはんだ浴を使ってはんだ付
けを行う方法であって、供給用はんだ合金を前記はんだ
浴に供給することにより、はんだ付けの進行に伴って減
少するはんだ浴を補充するともに、前記酸化抑制元素の
消費量を補償することから成り、前記供給用はんだ合金
の合金組成は、前記酸化抑制元素を除いて同じ合金組成
を有するものとし、さらに、該供給用はんだ合金は、前
記酸化抑制元素を前記消費量と同等またはそれ以上の量
だけはんだ浴に供給することを特徴とするはんだ付け方
法である。
【0033】従って、はんだ浴内のはんだの元素とはん
だ浴に供給するはんだ合金の元素は基本的には同一にす
るが、はんだ付け中に元素の含有量が増加するような場
合は、増加する元素を全く含有しないか、或は所定の含
有量よりも少ない含有量のはんだを供給してもよい。例
えば、はんだ槽内のはんだ浴を構成するはんだ合金がSn
-Ag-Cu-Pである場合、このはんだで多数のプリント基板
をはんだ付けすると、プリント基板のランドからCuが少
しずつはんだ浴中に溶け出して、該はんだ浴のCu含有量
が所定の含有量よりも多くなる。その結果、はんだ浴中
に針状のCuSn金属間化合物が析出してはんだ付け部間を
短絡させたり、液相線温度を上昇させてはんだ付け性を
悪くしたりする。
【0034】このように、はんだ付け時にはんだ浴中に
Cuが増加するような場合、はんだ浴に供給するはんだ合
金は、Cuを全く含まないか、或は所定のCu含有量よりも
少ないはんだ合金を用いる。この場合も、酸化抑制元素
は、減少速度に追従して所定濃度を保つことができるよ
うな高濃度のはんだ合金にする。
【0035】本発明が適応できるはんだ合金としては、
はんだ槽に充填されてはんだ浴を構成し、フローはんだ
付けができるものであれば如何なるはんだ合金でもよ
い。例えば従来から使用されてきたSn-Pb はんだ合金の
他、Snを主成分とした鉛フリーはんだ合金(Sn-Ag、Sn-A
g-Cu、Sn-Cu 、Sn-Bi 、Sn-Zn)である。これらのはんだ
合金には、強度改善元素としてNi、Co、Fe、Cr、Mo等を
1種以上添加したり、さらに融点低下元素としてBi、I
n、Zn等を1種以上添加したりすることもできる。
【0036】本発明における各実施態様における操作手
順は以下のとおりである。すなわち、本発明によれば、
酸化抑制元素を除いて同一合金組成のはんだ合金を使っ
て、酸化抑制元素の消費量に見合った量を下記態様では
んだ浴に供給する。
【0037】予め酸化抑制元素を所定濃度に配合した
はんだ合金をはんだ槽内に溶解充填してはんだ浴を形成
する。 1〜2週間程度のはんだ付け作業を伴うはんだ槽の稼
働を行い、はんだ浴における酸化抑制元素の減少速度を
把握する。
【0038】投入時までの酸化抑制元素の減少量を把
握し、それに相当する供給量を算出する。 はんだ浴におけるはんだ合金の減少量を把握し、それ
を補償する量のはんだ合金の供給量を決定し、それに対
する前記酸化抑制元素の濃度を求め、当該濃度と同等も
しくはそれ以上の酸化抑制元素を含み、他ははんだ合金
の当初の組成に同一である供給用はんだ合金を用意す
る。
【0039】はんだ槽稼働中、はんだ浴のはんだ合金
が減少したときで用意した供給用はんだ合金をはんだ
浴に供給し、槽内の酸化抑制元素濃度を所定濃度範囲に
調整する(で設定した濃度に回復させる)。
【0040】本発明の変更例としては、次のような態様
がある。この態様は、はんだ合金が銅を含有する場合に
関するものであり、酸化抑制元素および銅を除いて同一
合金組成のはんだ合金を使って、酸化抑制元素の消費量
に見合った量を下記態様ではんだ浴に供給する。
【0041】予め酸化抑制元素を所定濃度に配合した
Cu含有はんだ合金をはんだ槽内に溶解充填してはんだ浴
を形成する。 1〜2週間程度のはんだ付け作業を伴うはんだ槽の稼
働を行い、酸化抑制元素の減少速度とはんだ浴の減少速
度とを把握する。
【0042】所定期間当たりのはんだ浴および酸化抑
制元素の減少量を把握し、当該所定期間当たりのはんだ
浴および酸化抑制元素の供給量をそれそれ算出する。供
給用はんだ合金における酸化抑制元素の濃度を求めて、
当該濃度と同等もしくはそれ以上の濃度の酸化抑制元素
を含み、当該酸化抑制元素およびCuを除いて他は当初の
はんだ合金の組成に同一の組成を有するはんだ合金を用
意する。もちろん、プリント基板のランド等からのCuの
溶出量が少ない場合には、前記供給用はんだ合金として
はんだ浴からのCuの減少量に相当する量のCuを含有する
はんだ合金を用意してもよい。
【0043】はんだ槽稼働中、で作製したはんだを
上記所定期間経過後に継続供給し、浴内の酸化抑制元素
濃度の一定濃度以下への低下を防止する。本発明の更な
る変更例としては、次のような態様もある。
【0044】この態様によれば、酸化抑制元素の供給に
当たって、次の回の供給までの減少量を考慮してその供
給量を決定するものである。 予め酸化抑制元素を所定濃度に配合したはんだ合金を
はんだ槽内に溶解充填してはんだ浴を形成する。
【0045】1〜2週間程度のはんだ付け作業を伴う
はんだ槽の稼働を行い、酸化抑制元素の減少速度、そし
てはんだ浴の減少量を把握する。 所定期間当たりの酸化抑制元素の減少量、そしてはん
だ浴の減少量を把握し、今回から次回の供給時までの期
間におけるそれぞれの供給量を算出する。供給用はんだ
合金における酸化抑制元素の濃度を決定して、供給用は
んだ合金を用意する。
【0046】はんだ槽稼働中、で用意したはんだを
継続供給し、浴内の酸化抑制元素濃度を一定範囲内に保
つ(で設定した濃度の可及的近傍に常に保持され
る)。本発明は、その簡便法として、供給用はんだ合金
の酸化抑制元素濃度を目標とする濃度のほぼ2ないし6
倍の濃度を含むはんだ合金を用意しておき、それを適宜
量供給してもよい。
【0047】本発明によれば、以上の説明からも明らか
なように、はんだ浴内の酸化抑制元素を安定して管理で
きる。そのような効果については主としてフローはんだ
付けを例にとり説明を行ってきたが、300 ℃を超える高
温環境下にて静止はんだ浴を用いてはんだ付けを行う方
法、例えば、ウレタン被覆銅線のはんだ付け方法等で
も、溶融はんだが高温となるため酸化抑制元素の消費は
著しく大きいものとなることから、本発明は、そのよう
なはんだ付け方法に適用しても、その効果は顕著であ
る。
【0048】
【実施例】(実施例1)本例は、酸化抑制元素としてのP
を同時に合金化して供給する場合である。
【0049】実施の具体的手順は下記の通りである。 はんだの酸化抑制に適したP含有の鉛フリーはんだ合
金であるSn-3.0Ag-0.5Cu-0.003Pはんだをはんだ槽内に
溶解充填してはんだ浴 (質量:330kg) を形成する。
【0050】稼動日数12日間のはんだ槽におけるはん
だ浴の減少量、つまりはんだ合金の供給量とP濃度の減
少速度を求める。 Sn-3.0Ag-0.5Cu-0.003P はんだ合金のはんだ浴への合計
供給量:220kg 12日間稼働後のはんだ浴のPの濃度:0% 12日間を平均化した1日当たりの酸化抑制元素の減少
量を把握し、これらに相当するそれぞれの供給量を算出
し、供給用はんだ合金におけるP の濃度を設定し、その
はんだ合金を作製する。
【0051】はんだ供給量:20kg/日 P減少量:2g/日 供給用はんだ合金のP濃度:100ppm 供給用はんだ合金:Sn-3.0Ag-0.5Cu-0.01P 当初の組成のはんだ浴を収容するはんだ槽を用いて12
日間、プリント基板のはんだ付けを行い、はんだ浴内の
はんだ合金が減少したときに随時はんだ浴にはんだ合
金:Sn-3.0Ag-0.5Cu-0.01P を供給した。12日目にはんだ
浴内のはんだ合金のP濃度を測定した結果、P濃度は0.
003P%であった。
【0052】(実施例2)本例では、供給はんだ合金とし
て、Cuを含まないはんだ合金を供給する場合を示す。
【0053】はんだ合金の酸化抑制に適したP含有の
鉛フリーはんだ合金であるSn-3.0Ag-0.5Cu-0.003Pはん
だをはんだ槽内に溶解充填しはんだ浴 (質量330Kg)を形
成する。
【0054】稼動日数9日間のはんだ槽におけるはん
だ浴の減少量、つまりはんだ合金の供給量とP濃度の減
少速度を求める。本例では供給はんだ合金の組成は、Sn
-3.0Agであった。
【0055】Sn-3.0Ag-0.003P はんだ合金のはんだ浴へ
の合計供給量:90kg 9日間稼働後のはんだ浴のPの濃度:0% 9日間を平均化した1日当たりのはんだ浴の減少量と
酸化抑制元素の減少量を把握し、これらに相当するそれ
ぞれの供給量を算出し、供給用はんだ合金におけるPの
濃度を設定し、そのはんだを作製する。
【0056】はんだ供給量:10kg/日 P減少量:1.4g/日 供給用はんだ合金のP濃度:170ppm 供給用はんだ合金:Sn-3.0Ag-0.017P 当初の組成のはんだ浴を収容するはんだ槽を用いて9
日間、プリント基板のはんだ付けを行い、はんだ浴内の
はんだ合金が減少したときに随時に供給用はんだ合金:S
n-3.0Ag-0.017Pをはんだ浴内に供給した。9日目にはん
だ浴内のはんだ合金のP濃度を測定した結果、P濃度は
0.003P%であった。
【0057】(実施例3)本例では、供給はんだ合金とし
て、Pb含有はんだ合金を供給する場合を示す。 はんだの酸化抑制に適したP含有のはんだ合金である
Pb-63Sn-0.003Pはんだをはんだ槽内に溶解充填しはんだ
浴 (質量330Kg)を形成する。
【0058】稼動日数14日間のはんだ槽におけるはん
だ浴の減少量、つまりはんだ合金の供給量とP濃度の減
少速度を求める。本例では供給はんだ合金の組成は、Pb
-63Sn であった。
【0059】 Pb-63Sn はんだ合金のはんだ浴への合計供給量:200kg 14日間稼働後のはんだ浴のPの濃度:0.001 % 14日間を平均化した1日当たりのはんだ浴の減少量と
酸化抑制元素の減少量を把握し、これらに相当するそれ
ぞれの供給量を算出し、供給用はんだ合金におけるPの
濃度を設定し、そのはんだ合金を作製する。
【0060】はんだ合金供給量:20kg/日 P減少量:0.9g/日 供給用はんだ合金のP濃度:75ppm 供給用はんだ合金:Pb-63Sn-0.0075P 当初組成のはんだ浴を用いて14日間、プリント基板の
はんだ付けを行い、はんだ浴のはんだ合金が減少したと
きに随時に供給用はんだ合金:Pb-63Sn-0.0075Pをはんだ
浴に供給した。14日目にはんだ槽内のはんだ合金のP濃
度を測定した結果、P濃度は0.003P%であった。
【0061】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にしたがっ
て、はんだ浴の酸化抑制元素を安定して管理することに
より、毎日の通常作業内で、自動的にはんだ浴内の酸化
抑制元素が一定に保持され、メンテナンスフリーにて酸
化抑制元素の恒久的な管理が可能である。本発明によれ
ば、はんだ浴の酸化抑制元素の消失を回避し、ドロス抑
制効果を恒久的に維持するため、例えば、フローはんだ
付け方法におけるはんだ付け品質が安定確保されるとい
う従来にない優れた効果を奏するものである。また、本
発明は、フローはんだ付け方法のみならず、静止はんだ
付け方法等においても適用され、同様の優れた作用効果
が発揮される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 春夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 野上 弘文 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 江口 憲久 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 宗形 修 東京都足立区千住橋戸町23番地 千住金属 工業株式会社内 (72)発明者 上島 稔 東京都足立区千住橋戸町23番地 千住金属 工業株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AA01 AC01 BB01 CC23 CD28 CD51 GG03

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 酸化抑制元素が添加されたはんだ浴を使
    って行うはんだ付け方法であって、 前記酸化抑制元素以外は、はんだ浴の合金組成と同一の
    合金組成であって該酸化抑制元素を含むはんだ合金を供
    給用はんだ合金として用いること;はんだ付け作業中の
    はんだ浴内の前記酸化抑制元素の減少速度を求めるこ
    と;そして前記減少速度で消費される酸化抑制元素の減
    少量と同等もしくはそれより多い量の該酸化抑制元素を
    供給するはんだ合金を、前記供給用はんだ合金としては
    んだ付け作業の進行に伴って、前記はんだ浴に供給する
    こと;から成る、はんだ浴中の前記酸化抑制元素の濃度
    を所定範囲内に管理しながらはんだ付けを行うことを特
    徴とするはんだ付け方法。
  2. 【請求項2】 酸化抑制元素が添加されたはんだ浴を使
    って行うはんだ付け方法であって、 はんだ浴を構成するはんだ合金が、合金成分として銅を
    含有する鉛フリーのはんだ合金であること;前記酸化抑
    制元素および銅以外は、はんだ浴の合金組成と同一の合
    金組成であって該酸化抑制元素を含むはんだ合金を供給
    用はんだ合金として用いること;はんだ付け作業中のは
    んだ浴内の前記酸化抑制元素の減少速度を求めること;
    そして前記減少速度で消費される酸化抑制元素の減少量
    と同等もしくはそれより多い量の該酸化抑制元素を供給
    し、かつ銅を含みまたは含まない供給用はんだ合金を、
    前記供給用はんだ合金としてはんだ付け作業の進行に伴
    って、前記はんだ浴に供給すること;から成る、はんだ
    浴中の前記酸化抑制元素の濃度を所定範囲内に管理しな
    がらはんだ付けを行うことを特徴とするはんだ付け方
    法。
  3. 【請求項3】 前記供給用はんだ合金における酸化抑制
    元素が、はんだ浴中の酸化抑制元素の目標とする濃度の
    2ないし6倍の濃度で含有されることを特徴とする、請
    求項1または2に記載のはんだ付け方法。
  4. 【請求項4】 前記酸化抑制元素が、P、Ge、Ga、Ceか
    ら選ばれた1種または2種以上の元素であることを特徴
    とする請求項1ないし3のいずれかに記載のはんだ付け
    方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007080891A (ja) * 2005-09-12 2007-03-29 Fuji Electric Holdings Co Ltd はんだ槽中はんだの銅濃度の経時変化の推定方法
JP2012509992A (ja) * 2008-11-28 2012-04-26 ▲広▼州▲瀚▼源▲電▼子科技有限公司 無鉛はんだドロス低減方法

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