JP2003265433A - Ｒｆパルスチューニング方法および装置 - Google Patents
Ｒｆパルスチューニング方法および装置Info
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/483—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy
- G01R33/4833—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy using spatially selective excitation of the volume of interest, e.g. selecting non-orthogonal or inclined slices
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＲＦ送信装置の能力を有効利用できるように
ＲＦパルスチューニングを行う方法および装置を実現す
る。 【解決手段】 スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングするに
際し、スピンのフリップアングルが目標値に一致するま
でＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次増
加させる（９０２〜９１２）。また、ＲＦパルスの振幅
を調節可能な最大値にしてもフリップアングルが前記目
標値に達しないときは、目標未達の程度に応じて次のパ
ルス幅の増加量を定める、
ＲＦパルスチューニングを行う方法および装置を実現す
る。 【解決手段】 スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングするに
際し、スピンのフリップアングルが目標値に一致するま
でＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次増
加させる（９０２〜９１２）。また、ＲＦパルスの振幅
を調節可能な最大値にしてもフリップアングルが前記目
標値に達しないときは、目標未達の程度に応じて次のパ
ルス幅の増加量を定める、
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＲＦパルスチュー
ニング（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｐｕｌｓｅ
ｔｕｎｉｎｇ）方法および装置に関し、とくに、スピ
ン（ｓｐｉｎ）のフリップアングル（ｆｌｉｐ ａｎｇ
ｌｅ）が目標値に一致するように、励起用のＲＦパルス
を調節する方法および装置に関する。
ニング（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｐｕｌｓｅ
ｔｕｎｉｎｇ）方法および装置に関し、とくに、スピ
ン（ｓｐｉｎ）のフリップアングル（ｆｌｉｐ ａｎｇ
ｌｅ）が目標値に一致するように、励起用のＲＦパルス
を調節する方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気共鳴撮影（ＭＲＩ：Ｍａｇｎｅｔｉ
ｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ Ｉｍａｇｉｎｇ）装置では、
マグネットシステム（ｍａｇｎｅｔ ｓｙｓｔｅｍ）の
内部空間、すなわち、静磁場を形成した撮影空間に撮影
の対象を搬入し、勾配磁場および高周波磁場を印加して
対象内のスピンを励起して磁気共鳴信号を発生させ、そ
の受信信号に基づいて画像を再構成する。
ｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ Ｉｍａｇｉｎｇ）装置では、
マグネットシステム（ｍａｇｎｅｔ ｓｙｓｔｅｍ）の
内部空間、すなわち、静磁場を形成した撮影空間に撮影
の対象を搬入し、勾配磁場および高周波磁場を印加して
対象内のスピンを励起して磁気共鳴信号を発生させ、そ
の受信信号に基づいて画像を再構成する。
【０００３】高周波磁場の印加はＲＦパルスの送信とい
う形で行われる。スピンの励起を適切に行うために、撮
影に先だってＲＦパルスの調節が行われる。ＲＦパルス
の調節はＲＦパルスチューニングとも呼ばれる。
う形で行われる。スピンの励起を適切に行うために、撮
影に先だってＲＦパルスの調節が行われる。ＲＦパルス
の調節はＲＦパルスチューニングとも呼ばれる。
【０００４】ＲＦパルスチューニングにおいては、ＲＦ
送信装置の送信ゲイン（ｇａｉｎ）すなわちＲＦパルス
の振幅を逐次変えながらＲＦパルスの送信を試行する。
そして、そのつど得られる磁気共鳴信号に基づきスピン
のフリップアングルの到達度を調べて、最適な送信ゲイ
ンを求める。
送信装置の送信ゲイン（ｇａｉｎ）すなわちＲＦパルス
の振幅を逐次変えながらＲＦパルスの送信を試行する。
そして、そのつど得られる磁気共鳴信号に基づきスピン
のフリップアングルの到達度を調べて、最適な送信ゲイ
ンを求める。
【０００５】最適な送信ゲインとは、フリップアングル
を目標値に一致させることができる送信ゲインのことあ
る。最適な送信ゲインは撮影の対象ごとに異なるので、
ＲＦパルスチューニングは対象ごとに行われる。以下、
ＲＦパルスチューニングを単にチューニングともいう。
を目標値に一致させることができる送信ゲインのことあ
る。最適な送信ゲインは撮影の対象ごとに異なるので、
ＲＦパルスチューニングは対象ごとに行われる。以下、
ＲＦパルスチューニングを単にチューニングともいう。
【０００６】体格の大きい対象についてのチューニング
が適正に行えるようにするために、ＲＦパルスはパルス
幅を大きな値に切り替えることができるようになってい
る。パルス幅の切り替えは、対象の体重に応じて行われ
る。体重データ（ｄａｔａ）は磁気共鳴撮影装置の使用
者によって予め入力される。
が適正に行えるようにするために、ＲＦパルスはパルス
幅を大きな値に切り替えることができるようになってい
る。パルス幅の切り替えは、対象の体重に応じて行われ
る。体重データ（ｄａｔａ）は磁気共鳴撮影装置の使用
者によって予め入力される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】大きい方のパルス幅
は、体格の大きい対象について必ずチューニングできる
ように、かなり大きく設定されている。言い換えれば、
そのような出力が可能なようにＲＦ送信装置が構成され
ている。
は、体格の大きい対象について必ずチューニングできる
ように、かなり大きく設定されている。言い換えれば、
そのような出力が可能なようにＲＦ送信装置が構成され
ている。
【０００８】そのようなＲＦ送信装置は、現実の撮影に
おいて本当に必要な出力から見て、能力にかなり余裕が
あるものとなる。このため、パルス幅を大きくした場合
は、最大ゲインをかなり下まわるゲインでＲＦパルスが
送信されることが多い。このことは、ＲＦ送信装置の能
力が有効に利用されていないことを意味する。
おいて本当に必要な出力から見て、能力にかなり余裕が
あるものとなる。このため、パルス幅を大きくした場合
は、最大ゲインをかなり下まわるゲインでＲＦパルスが
送信されることが多い。このことは、ＲＦ送信装置の能
力が有効に利用されていないことを意味する。
【０００９】そこで、本発明の課題は、ＲＦ送信装置の
能力を有効利用できるようにＲＦパルスチューニングを
行う方法および装置を実現することである。
能力を有効利用できるようにＲＦパルスチューニングを
行う方法および装置を実現することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】（１）上記の課題を解決
するためのひとつの観点での発明は、スピンのフリップ
アングルが目標値に一致するように励起用のＲＦパルス
をチューニングする方法であって、スピンのフリップア
ングルが目標値に一致するまでＲＦパルスのパルス幅を
予め定めた初期値から逐次増加させる、ことを特徴とす
るＲＦパルスチューニング方法である。
するためのひとつの観点での発明は、スピンのフリップ
アングルが目標値に一致するように励起用のＲＦパルス
をチューニングする方法であって、スピンのフリップア
ングルが目標値に一致するまでＲＦパルスのパルス幅を
予め定めた初期値から逐次増加させる、ことを特徴とす
るＲＦパルスチューニング方法である。
【００１１】（２）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする装
置であって、スピンのフリップアングルが目標値に一致
するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から
逐次増加させるパルス幅調節手段、を具備することを特
徴とするＲＦパルスチューニング装置である。
点での発明は、スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする装
置であって、スピンのフリップアングルが目標値に一致
するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から
逐次増加させるパルス幅調節手段、を具備することを特
徴とするＲＦパルスチューニング装置である。
【００１２】（１）および（２）に記載の各観点での発
明では、スピンのフリップアングルが目標値に一致する
までＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次
増加させるので、パルス幅を最小限にしパルス振幅を最
大限にするようにＲＦパルスのチューニングが行われ
る。このようなＲＦパルスをスピンの励起に用いること
により、ＲＦ送信装置の能力を有効に利用することが可
能となる。
明では、スピンのフリップアングルが目標値に一致する
までＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次
増加させるので、パルス幅を最小限にしパルス振幅を最
大限にするようにＲＦパルスのチューニングが行われ
る。このようなＲＦパルスをスピンの励起に用いること
により、ＲＦ送信装置の能力を有効に利用することが可
能となる。
【００１３】（３）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする方
法であって、スピンのフリップアングルが中間的目標値
に一致するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期
値から逐次増加させ、スピンのフリップアングルを前記
中間的目標値より小さい最終的目標値に一致させるＲＦ
パルスの条件を、スピンのフリップアングルを前記中間
的目標値に一致させるＲＦパルスの条件から計算する、
ことを特徴とするＲＦパルスチューニング方法である。
点での発明は、スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする方
法であって、スピンのフリップアングルが中間的目標値
に一致するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期
値から逐次増加させ、スピンのフリップアングルを前記
中間的目標値より小さい最終的目標値に一致させるＲＦ
パルスの条件を、スピンのフリップアングルを前記中間
的目標値に一致させるＲＦパルスの条件から計算する、
ことを特徴とするＲＦパルスチューニング方法である。
【００１４】（４）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする装
置であって、スピンのフリップアングルが中間的目標値
に一致するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期
値から逐次増加させるパルス幅調節手段と、スピンのフ
リップアングルを前記中間的目標値より小さい最終的目
標値に一致させるＲＦパルスの条件を、スピンのフリッ
プアングルを前記中間的目標値に一致させるＲＦパルス
の条件から計算する計算手段と、を具備することを特徴
とするＲＦパルスチューニング装置である。
点での発明は、スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする装
置であって、スピンのフリップアングルが中間的目標値
に一致するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期
値から逐次増加させるパルス幅調節手段と、スピンのフ
リップアングルを前記中間的目標値より小さい最終的目
標値に一致させるＲＦパルスの条件を、スピンのフリッ
プアングルを前記中間的目標値に一致させるＲＦパルス
の条件から計算する計算手段と、を具備することを特徴
とするＲＦパルスチューニング装置である。
【００１５】（３）および（４）に記載の各観点での発
明では、スピンのフリップアングルが中間的目標値に一
致するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値か
ら逐次増加させので、パルス幅を最小限にしパルス振幅
を最大限にするようにＲＦパルスの中間的チューニング
が行われる。
明では、スピンのフリップアングルが中間的目標値に一
致するまでＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値か
ら逐次増加させので、パルス幅を最小限にしパルス振幅
を最大限にするようにＲＦパルスの中間的チューニング
が行われる。
【００１６】そして、スピンのフリップアングルを前記
中間的目標値より小さい最終的目標値に一致させるＲＦ
パルスの条件を、中間的チューニング結果から計算する
ので、パルス幅を最小限にしパルス振幅を最大限にする
ような最終的チューニングパルスが得られる。このよう
なＲＦパルスをスピンの励起に用いることにより、ＲＦ
送信装置の能力を有効に利用することが可能となる。
中間的目標値より小さい最終的目標値に一致させるＲＦ
パルスの条件を、中間的チューニング結果から計算する
ので、パルス幅を最小限にしパルス振幅を最大限にする
ような最終的チューニングパルスが得られる。このよう
なＲＦパルスをスピンの励起に用いることにより、ＲＦ
送信装置の能力を有効に利用することが可能となる。
【００１７】前記計算はＲＦパルスの振幅を調節可能な
最大値としたときのパルス幅を求めることが、ＲＦパル
スのパルス幅を最小とする点で好ましい。ＲＦパルスの
振幅を調節可能な最大値にしてもフリップアングルが前
記目標値に達しないときは目標未達の程度に応じて次の
パルス幅の増加量を定めることが、チューニング時間を
短縮する点で好ましい。
最大値としたときのパルス幅を求めることが、ＲＦパル
スのパルス幅を最小とする点で好ましい。ＲＦパルスの
振幅を調節可能な最大値にしてもフリップアングルが前
記目標値に達しないときは目標未達の程度に応じて次の
パルス幅の増加量を定めることが、チューニング時間を
短縮する点で好ましい。
【００１８】前記目標値は９０°であることが、９０°
パルスのチューニングを行う点で好ましい。前記目標値
は１８０°であることが、１８０°パルスのチューニン
グを行う点で好ましい。
パルスのチューニングを行う点で好ましい。前記目標値
は１８０°であることが、１８０°パルスのチューニン
グを行う点で好ましい。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図１に磁気共鳴撮影装置の
ブロック（ｂｌｏｃｋ）図を示す。ＲＦパルスチューニ
ングは本装置において行われる。本装置は本発明の実施
の形態の一例である。本装置の構成によって、本発明の
装置に関する実施の形態の一例が示される。本装置の動
作によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例が
示される。
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図１に磁気共鳴撮影装置の
ブロック（ｂｌｏｃｋ）図を示す。ＲＦパルスチューニ
ングは本装置において行われる。本装置は本発明の実施
の形態の一例である。本装置の構成によって、本発明の
装置に関する実施の形態の一例が示される。本装置の動
作によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例が
示される。
【００２０】同図に示すように、本装置はマグネットシ
ステム１００を有する。マグネットシステム１００はス
キャンルーム内に設置されている。マグネットシステム
１００は主磁場コイル（ｃｏｉｌ）部１０２、勾配コイ
ル部１０６およびＲＦコイル部１０８を有する。これら
各コイル部は概ね円筒状の形状を有し、互いに同軸的に
配置されている。マグネットシステム１００の概ね円柱
状の内部空間（ボア：ｂｏｒｅ）に、撮影の対象１がク
レードル（ｃｒａｄｌｅ）５００に搭載されて図示しな
い搬送手段により搬入および搬出される。
ステム１００を有する。マグネットシステム１００はス
キャンルーム内に設置されている。マグネットシステム
１００は主磁場コイル（ｃｏｉｌ）部１０２、勾配コイ
ル部１０６およびＲＦコイル部１０８を有する。これら
各コイル部は概ね円筒状の形状を有し、互いに同軸的に
配置されている。マグネットシステム１００の概ね円柱
状の内部空間（ボア：ｂｏｒｅ）に、撮影の対象１がク
レードル（ｃｒａｄｌｅ）５００に搭載されて図示しな
い搬送手段により搬入および搬出される。
【００２１】主磁場コイル部１０２はマグネットシステ
ム１００の内部空間に静磁場を形成する。静磁場の方向
は概ね対象１の体軸の方向に平行である。すなわちいわ
ゆる水平磁場を形成する。主磁場コイル部１０２は例え
ば超伝導コイルを用いて構成される。なお、超伝導コイ
ルに限らず常伝導コイル等を用いて構成してもよいのは
もちろんである。
ム１００の内部空間に静磁場を形成する。静磁場の方向
は概ね対象１の体軸の方向に平行である。すなわちいわ
ゆる水平磁場を形成する。主磁場コイル部１０２は例え
ば超伝導コイルを用いて構成される。なお、超伝導コイ
ルに限らず常伝導コイル等を用いて構成してもよいのは
もちろんである。
【００２２】勾配コイル部１０６は、互いに垂直な３軸
すなわちスライス（ｓｌｉｃｅ）軸、位相軸および周波
数軸の方向において、それぞれ静磁場強度に勾配を持た
せるための３つの勾配磁場を生じる。
すなわちスライス（ｓｌｉｃｅ）軸、位相軸および周波
数軸の方向において、それぞれ静磁場強度に勾配を持た
せるための３つの勾配磁場を生じる。
【００２３】静磁場空間における互いに垂直な座標軸を
ｘ，ｙ，ｚとしたとき、いずれの軸もスライス軸とする
ことができる。その場合、残り２軸のうちの一方を位相
軸とし、他方を周波数軸とする。また、スライス軸、位
相軸および周波数軸は、相互間の垂直性を保ったまま
ｘ，ｙ，ｚ軸に関して任意の傾きを持たせることも可能
である。本装置では対象１の体軸の方向をｚ軸方向とす
る。
ｘ，ｙ，ｚとしたとき、いずれの軸もスライス軸とする
ことができる。その場合、残り２軸のうちの一方を位相
軸とし、他方を周波数軸とする。また、スライス軸、位
相軸および周波数軸は、相互間の垂直性を保ったまま
ｘ，ｙ，ｚ軸に関して任意の傾きを持たせることも可能
である。本装置では対象１の体軸の方向をｚ軸方向とす
る。
【００２４】スライス軸方向の勾配磁場をスライス勾配
磁場ともいう。位相軸方向の勾配磁場を位相エンコード
（ｅｎｃｏｄｅ）勾配磁場またはフェーズエンコード
（ｐｈａｓｅ ｅｎｃｏｄｅ）勾配磁場ともいう。周波
数軸方向の勾配磁場をリードアウト（ｒｅａｄ ｏｕ
ｔ）勾配磁場ともいう。このような勾配磁場の発生を可
能にするために、勾配コイル部１０６は図示しない３系
統の勾配コイルを有する。以下、勾配磁場を単に勾配と
もいう。
磁場ともいう。位相軸方向の勾配磁場を位相エンコード
（ｅｎｃｏｄｅ）勾配磁場またはフェーズエンコード
（ｐｈａｓｅ ｅｎｃｏｄｅ）勾配磁場ともいう。周波
数軸方向の勾配磁場をリードアウト（ｒｅａｄ ｏｕ
ｔ）勾配磁場ともいう。このような勾配磁場の発生を可
能にするために、勾配コイル部１０６は図示しない３系
統の勾配コイルを有する。以下、勾配磁場を単に勾配と
もいう。
【００２５】ＲＦコイル部１０８は静磁場空間に対象１
の体内のスピン（ｓｐｉｎ）を励起するための高周波磁
場を形成する。以下、高周波磁場を形成することをＲＦ
励起信号の送信ともいう。また、ＲＦ励起信号をＲＦパ
ルスともいう。ＲＦコイル部１０８は、また、励起され
たスピンが生じる電磁波すなわち磁気共鳴信号を受信す
る。
の体内のスピン（ｓｐｉｎ）を励起するための高周波磁
場を形成する。以下、高周波磁場を形成することをＲＦ
励起信号の送信ともいう。また、ＲＦ励起信号をＲＦパ
ルスともいう。ＲＦコイル部１０８は、また、励起され
たスピンが生じる電磁波すなわち磁気共鳴信号を受信す
る。
【００２６】ＲＦコイル部１０８は図示しない送信用の
コイルおよび受信用のコイルを有する。送信用のコイル
および受信用のコイルは、同じコイルを兼用するかある
いはそれぞれ専用のコイルを用いる。
コイルおよび受信用のコイルを有する。送信用のコイル
および受信用のコイルは、同じコイルを兼用するかある
いはそれぞれ専用のコイルを用いる。
【００２７】勾配コイル部１０６には勾配駆動部１３０
が接続されている。勾配駆動部１３０は勾配コイル部１
０６に駆動信号を与えて勾配磁場を発生させる。勾配駆
動部１３０は、勾配コイル部１０６における３系統の勾
配コイルに対応して、図示しない３系統の駆動回路を有
する。
が接続されている。勾配駆動部１３０は勾配コイル部１
０６に駆動信号を与えて勾配磁場を発生させる。勾配駆
動部１３０は、勾配コイル部１０６における３系統の勾
配コイルに対応して、図示しない３系統の駆動回路を有
する。
【００２８】ＲＦコイル部１０８にはＲＦ駆動部１４０
が接続されている。ＲＦ駆動部１４０はＲＦコイル部１
０８に駆動信号を与えてＲＦパルスを送信し、対象１の
体内のスピンを励起する。
が接続されている。ＲＦ駆動部１４０はＲＦコイル部１
０８に駆動信号を与えてＲＦパルスを送信し、対象１の
体内のスピンを励起する。
【００２９】ＲＦコイル部１０８にはデータ収集部１５
０が接続されている。データ収集部１５０は、ＲＦコイ
ル部１０８が受信した受信信号をサンプリング（ｓａｍ
ｐｌｉｎｇ）によって取り込み、それをディジタルデー
タ（ｄｉｇｉｔａｌ ｄａｔａ）として収集する。
０が接続されている。データ収集部１５０は、ＲＦコイ
ル部１０８が受信した受信信号をサンプリング（ｓａｍ
ｐｌｉｎｇ）によって取り込み、それをディジタルデー
タ（ｄｉｇｉｔａｌ ｄａｔａ）として収集する。
【００３０】勾配駆動部１３０、ＲＦ駆動部１４０およ
びデータ収集部１５０には制御部１６０が接続されてい
る。制御部１６０は、勾配駆動部１３０ないしデータ収
集部１５０をそれぞれ制御して磁気共鳴信号の収集を遂
行する。
びデータ収集部１５０には制御部１６０が接続されてい
る。制御部１６０は、勾配駆動部１３０ないしデータ収
集部１５０をそれぞれ制御して磁気共鳴信号の収集を遂
行する。
【００３１】制御部１６０は、例えばコンピュータ（ｃ
ｏｍｐｕｔｅｒ）等を用いて構成される。制御部１６０
は図示しないメモリ（ｍｅｍｏｒｙ）を有する。メモリ
は制御部１６０用のプログラムおよび各種のデータを記
憶している。制御部１６０の機能は、コンピュータがメ
モリに記憶されたプログラムを実行することにより実現
される。
ｏｍｐｕｔｅｒ）等を用いて構成される。制御部１６０
は図示しないメモリ（ｍｅｍｏｒｙ）を有する。メモリ
は制御部１６０用のプログラムおよび各種のデータを記
憶している。制御部１６０の機能は、コンピュータがメ
モリに記憶されたプログラムを実行することにより実現
される。
【００３２】データ収集部１５０の出力側はデータ処理
部１７０に接続されている。データ収集部１５０が収集
したデータがデータ処理部１７０に入力される。データ
処理部１７０は、例えばコンピュータ等を用いて構成さ
れる。データ処理部１７０は図示しないメモリを有す
る。メモリはデータ処理部１７０用のプログラムおよび
各種のデータを記憶している。
部１７０に接続されている。データ収集部１５０が収集
したデータがデータ処理部１７０に入力される。データ
処理部１７０は、例えばコンピュータ等を用いて構成さ
れる。データ処理部１７０は図示しないメモリを有す
る。メモリはデータ処理部１７０用のプログラムおよび
各種のデータを記憶している。
【００３３】データ処理部１７０は制御部１６０に接続
されている。データ処理部１７０は制御部１６０の上位
にあってそれを統括する。本装置の機能は、データ処理
部１７０がメモリに記憶されたプログラムを実行するこ
とによりを実現される。
されている。データ処理部１７０は制御部１６０の上位
にあってそれを統括する。本装置の機能は、データ処理
部１７０がメモリに記憶されたプログラムを実行するこ
とによりを実現される。
【００３４】データ処理部１７０は、データ収集部１５
０が収集したデータをメモリに記憶する。メモリ内には
データ空間が形成される。このデータ空間は２次元フー
リエ（Ｆｏｕｒｉｅｒ）空間を構成する。以下、２次元
フーリエ空間をｋスペース（ｋ−ｓｐａｃｅ）ともい
う。データ処理部１７０は、ｋスペースのデータを２次
元逆フ−リエ変換することにより対象１の画像を再構成
する。
０が収集したデータをメモリに記憶する。メモリ内には
データ空間が形成される。このデータ空間は２次元フー
リエ（Ｆｏｕｒｉｅｒ）空間を構成する。以下、２次元
フーリエ空間をｋスペース（ｋ−ｓｐａｃｅ）ともい
う。データ処理部１７０は、ｋスペースのデータを２次
元逆フ−リエ変換することにより対象１の画像を再構成
する。
【００３５】データ処理部１７０には表示部１８０およ
び操作部１９０が接続されている。表示部１８０は、グ
ラフィックディスプレー（ｇｒａｐｈｉｃ ｄｉｓｐｌ
ａｙ）等で構成される。操作部１９０はポインティング
デバイス（ｐｏｉｎｔｉｎｇｄｅｖｉｃｅ）を備えたキ
ーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）等で構成される。
び操作部１９０が接続されている。表示部１８０は、グ
ラフィックディスプレー（ｇｒａｐｈｉｃ ｄｉｓｐｌ
ａｙ）等で構成される。操作部１９０はポインティング
デバイス（ｐｏｉｎｔｉｎｇｄｅｖｉｃｅ）を備えたキ
ーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）等で構成される。
【００３６】表示部１８０は、データ処理部１７０から
出力される再構成画像および各種の情報を表示する。操
作部１９０は、使用者によって操作され、各種の指令や
情報等をデータ処理部１７０に入力する。使用者は表示
部１８０および操作部１９０を通じてインタラクティブ
（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）に本装置を操作する。
出力される再構成画像および各種の情報を表示する。操
作部１９０は、使用者によって操作され、各種の指令や
情報等をデータ処理部１７０に入力する。使用者は表示
部１８０および操作部１９０を通じてインタラクティブ
（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）に本装置を操作する。
【００３７】図２に、他の方式の磁気共鳴撮影装置のブ
ロック図を示す。ＲＦパルスチューニングはこの装置に
おいても行われる。同図に示す磁気共鳴撮影装置は、本
発明の実施の形態の一例である。本装置の構成によっ
て、本発明の装置に関する実施の形態の一例が示され
る。本装置の動作によって、本発明の方法に関する実施
の形態の一例が示される。
ロック図を示す。ＲＦパルスチューニングはこの装置に
おいても行われる。同図に示す磁気共鳴撮影装置は、本
発明の実施の形態の一例である。本装置の構成によっ
て、本発明の装置に関する実施の形態の一例が示され
る。本装置の動作によって、本発明の方法に関する実施
の形態の一例が示される。
【００３８】本装置は、図１に示した装置とは方式を異
にするマグネットシステム１００’を有する。マグネッ
トシステム１００’はスキャンルーム内に設置されてい
る。マグネットシステム１００’以外は図１に示した装
置と同様な構成になっており、同様な部分に同一の符号
を付して説明を省略する。
にするマグネットシステム１００’を有する。マグネッ
トシステム１００’はスキャンルーム内に設置されてい
る。マグネットシステム１００’以外は図１に示した装
置と同様な構成になっており、同様な部分に同一の符号
を付して説明を省略する。
【００３９】マグネットシステム１００’は主磁場マグ
ネット部１０２’、勾配コイル部１０６’およびＲＦコ
イル部１０８’を有する。これら主磁場マグネット部１
０２’および各コイル部は、いずれも空間を挟んで互い
に対向する１対のものからなる。また、いずれも概ね円
盤状の形状を有し中心軸を共有して配置されている。マ
グネットシステム１００’の内部空間（ボア）に、対象
１がクレードル５００に搭載されて図示しない搬送手段
により搬入および搬出される。
ネット部１０２’、勾配コイル部１０６’およびＲＦコ
イル部１０８’を有する。これら主磁場マグネット部１
０２’および各コイル部は、いずれも空間を挟んで互い
に対向する１対のものからなる。また、いずれも概ね円
盤状の形状を有し中心軸を共有して配置されている。マ
グネットシステム１００’の内部空間（ボア）に、対象
１がクレードル５００に搭載されて図示しない搬送手段
により搬入および搬出される。
【００４０】主磁場マグネット部１０２’はマグネット
システム１００’の内部空間に静磁場を形成する。静磁
場の方向は概ね対象１の体軸方向と直交する。すなわち
いわゆる垂直磁場を形成する。主磁場マグネット部１０
２’は例えば永久磁石等を用いて構成される。なお、永
久磁石に限らず超伝導電磁石あるいは常伝導電磁石等を
用いて構成してもよいのはもちろんである。
システム１００’の内部空間に静磁場を形成する。静磁
場の方向は概ね対象１の体軸方向と直交する。すなわち
いわゆる垂直磁場を形成する。主磁場マグネット部１０
２’は例えば永久磁石等を用いて構成される。なお、永
久磁石に限らず超伝導電磁石あるいは常伝導電磁石等を
用いて構成してもよいのはもちろんである。
【００４１】勾配コイル部１０６’は、互いに垂直な３
軸すなわちスライス軸、位相軸および周波数軸の方向に
おいて、それぞれ静磁場強度に勾配を持たせるための３
つの勾配磁場を生じる。
軸すなわちスライス軸、位相軸および周波数軸の方向に
おいて、それぞれ静磁場強度に勾配を持たせるための３
つの勾配磁場を生じる。
【００４２】静磁場空間における互いに垂直な座標軸を
ｘ，ｙ，ｚとしたとき、いずれの軸もスライス軸とする
ことができる。その場合、残り２軸のうちの一方を位相
軸とし、他方を周波数軸とする。また、スライス軸、位
相軸および周波数軸は、相互間の垂直性を保ったまま
ｘ，ｙ，ｚ軸に関して任意の傾きを持たせることも可能
である。本装置でも対象１の体軸の方向をｚ軸方向とす
る。
ｘ，ｙ，ｚとしたとき、いずれの軸もスライス軸とする
ことができる。その場合、残り２軸のうちの一方を位相
軸とし、他方を周波数軸とする。また、スライス軸、位
相軸および周波数軸は、相互間の垂直性を保ったまま
ｘ，ｙ，ｚ軸に関して任意の傾きを持たせることも可能
である。本装置でも対象１の体軸の方向をｚ軸方向とす
る。
【００４３】スライス軸方向の勾配磁場をスライス勾配
磁場ともいう。位相軸方向の勾配磁場を位相エンコード
勾配磁場ないしフェーズエンコード勾配磁場ともいう。
周波数軸方向の勾配磁場をリードアウト勾配磁場ともい
う。このような勾配磁場の発生を可能にするために、勾
配コイル部１０６’は図示しない３系統の勾配コイルを
有する。
磁場ともいう。位相軸方向の勾配磁場を位相エンコード
勾配磁場ないしフェーズエンコード勾配磁場ともいう。
周波数軸方向の勾配磁場をリードアウト勾配磁場ともい
う。このような勾配磁場の発生を可能にするために、勾
配コイル部１０６’は図示しない３系統の勾配コイルを
有する。
【００４４】ＲＦコイル部１０８’は静磁場空間に対象
１の体内のスピンを励起するためのＲＦパルスを送信す
る。ＲＦコイル部１０８’は、また、励起されたスピン
が生じる磁気共鳴信号を受信する。
１の体内のスピンを励起するためのＲＦパルスを送信す
る。ＲＦコイル部１０８’は、また、励起されたスピン
が生じる磁気共鳴信号を受信する。
【００４５】ＲＦコイル部１０８’は図示しない送信用
のコイルおよび受信用のコイルを有する。送信用のコイ
ルおよび受信用のコイルは、同じコイルを兼用するかあ
るいはそれぞれ専用のコイルを用いる。
のコイルおよび受信用のコイルを有する。送信用のコイ
ルおよび受信用のコイルは、同じコイルを兼用するかあ
るいはそれぞれ専用のコイルを用いる。
【００４６】図３に、磁気共鳴撮影に用いるパルスシー
ケンス（ｐｕｌｓｅ ｓｅｑｕｅｎｃｅ）の一例を示
す。このパルスシーケンスは、スピンエコー（ＳＥ：Ｓ
ｐｉｎＥｃｈｏ）法のパルスシーケンスである。
ケンス（ｐｕｌｓｅ ｓｅｑｕｅｎｃｅ）の一例を示
す。このパルスシーケンスは、スピンエコー（ＳＥ：Ｓ
ｐｉｎＥｃｈｏ）法のパルスシーケンスである。
【００４７】すなわち、（１）はＳＥ法におけるＲＦ励
起用の９０°パルスおよび１８０°パルスのシーケンス
であり、（２）、（３）、（４）および（５）は、同じ
くそれぞれ、スライス勾配Ｇｓ、リードアウト勾配Ｇ
ｒ、フェーズエンコード勾配ＧｐおよびスピンエコーＭ
Ｒのシーケンスである。なお、９０°パルスおよび１８
０°パルスはそれぞれ中心信号で代表する。パルスシー
ケンスは時間軸ｔに沿って左から右に進行する。
起用の９０°パルスおよび１８０°パルスのシーケンス
であり、（２）、（３）、（４）および（５）は、同じ
くそれぞれ、スライス勾配Ｇｓ、リードアウト勾配Ｇ
ｒ、フェーズエンコード勾配ＧｐおよびスピンエコーＭ
Ｒのシーケンスである。なお、９０°パルスおよび１８
０°パルスはそれぞれ中心信号で代表する。パルスシー
ケンスは時間軸ｔに沿って左から右に進行する。
【００４８】同図に示すように、９０°パルスによりス
ピンの９０°励起が行われる。このときスライス勾配Ｇ
ｓが印加され所定のスライスについての選択励起が行わ
れる。９０°励起から所定の時間後に、１８０°パルス
による１８０°励起すなわちスピン反転が行われる。こ
のときもスライス勾配Ｇｓが印加され、同じスライスに
ついての選択的反転が行われる。
ピンの９０°励起が行われる。このときスライス勾配Ｇ
ｓが印加され所定のスライスについての選択励起が行わ
れる。９０°励起から所定の時間後に、１８０°パルス
による１８０°励起すなわちスピン反転が行われる。こ
のときもスライス勾配Ｇｓが印加され、同じスライスに
ついての選択的反転が行われる。
【００４９】９０°励起とスピン反転の間の期間に、リ
ードアウト勾配Ｇｒおよびフェーズエンコード勾配Ｇｐ
が印加される。リードアウト勾配Ｇｒによりスピンのデ
ィフェーズ（ｄｅｐｈａｓｅ）が行われる。フェーズエ
ンコード勾配Ｇｐによりスピンのフェーズエンコードが
行われる。
ードアウト勾配Ｇｒおよびフェーズエンコード勾配Ｇｐ
が印加される。リードアウト勾配Ｇｒによりスピンのデ
ィフェーズ（ｄｅｐｈａｓｅ）が行われる。フェーズエ
ンコード勾配Ｇｐによりスピンのフェーズエンコードが
行われる。
【００５０】スピン反転後、リードアウト勾配Ｇｒでス
ピンをリフェーズ（ｒｅｐｈａｓｅ）してスピンエコー
ＭＲを発生させる。スピンエコーＭＲは、本発明におけ
る磁気共鳴信号の実施の形態の一例である。スピンエコ
ーＭＲは、エコー中心に関して対称的な波形を持つＲＦ
信号となる。中心エコーは９０°励起からＴＥ（ｅｃｈ
ｏ ｔｉｍｅ）後に生じる。ＴＥはエコータイム（ｅｃ
ｈｏ ｔｉｍｅ）とも呼ばれる。スピンエコーＭＲはデ
ータ収集部１５０によりビューデータ（ｖｉｅｗ ｄａ
ｔａ）として収集される。
ピンをリフェーズ（ｒｅｐｈａｓｅ）してスピンエコー
ＭＲを発生させる。スピンエコーＭＲは、本発明におけ
る磁気共鳴信号の実施の形態の一例である。スピンエコ
ーＭＲは、エコー中心に関して対称的な波形を持つＲＦ
信号となる。中心エコーは９０°励起からＴＥ（ｅｃｈ
ｏ ｔｉｍｅ）後に生じる。ＴＥはエコータイム（ｅｃ
ｈｏ ｔｉｍｅ）とも呼ばれる。スピンエコーＭＲはデ
ータ収集部１５０によりビューデータ（ｖｉｅｗ ｄａ
ｔａ）として収集される。
【００５１】このようなパルスシーケンスが周期ＴＲ
（ｒｅｐｅｔｉｔｉｏｎ ｔｉｍｅ）で６４〜５１２回
繰り返される。繰り返しのたびにフェーズエンコード勾
配Ｇｐを変更し、毎回異なるフェーズエンコードを行
う。これによって、位相エンコード量を異にする６４〜
５１２ビューのビューデータが得られる。
（ｒｅｐｅｔｉｔｉｏｎ ｔｉｍｅ）で６４〜５１２回
繰り返される。繰り返しのたびにフェーズエンコード勾
配Ｇｐを変更し、毎回異なるフェーズエンコードを行
う。これによって、位相エンコード量を異にする６４〜
５１２ビューのビューデータが得られる。
【００５２】磁気共鳴撮影用パルスシーケンスの他の例
を図４に示す。このパルスシーケンスは、グラディエン
トエコー（ＧＲＥ：Ｇｒａｄｉｅｎｔ Ｅｃｈｏ）法の
パルスシーケンスである。
を図４に示す。このパルスシーケンスは、グラディエン
トエコー（ＧＲＥ：Ｇｒａｄｉｅｎｔ Ｅｃｈｏ）法の
パルスシーケンスである。
【００５３】すなわち、（１）はＧＲＥ法におけるＲＦ
励起用のα°パルスのシーケンスであり、（２）、
（３）、（４）および（５）は、同じくそれぞれ、スラ
イス勾配Ｇｓ、リードアウト勾配Ｇｒ、フェーズエンコ
ード勾配ＧｐおよびスピンエコーＭＲのシーケンスであ
る。なお、α°パルスは中心信号で代表する。パルスシ
ーケンスは時間軸ｔに沿って左から右に進行する。
励起用のα°パルスのシーケンスであり、（２）、
（３）、（４）および（５）は、同じくそれぞれ、スラ
イス勾配Ｇｓ、リードアウト勾配Ｇｒ、フェーズエンコ
ード勾配ＧｐおよびスピンエコーＭＲのシーケンスであ
る。なお、α°パルスは中心信号で代表する。パルスシ
ーケンスは時間軸ｔに沿って左から右に進行する。
【００５４】同図に示すように、α°パルスによりスピ
ンのα°励起が行われる。αは９０以下である。このと
きスライス勾配Ｇｓが印加され所定のスライスについて
の選択励起が行われる。
ンのα°励起が行われる。αは９０以下である。このと
きスライス勾配Ｇｓが印加され所定のスライスについて
の選択励起が行われる。
【００５５】α°励起後、フェーズエンコード勾配Ｇｐ
によりスピンのフェーズエンコードが行われる。次に、
リードアウト勾配Ｇｒにより先ずスピンをディフェーズ
し、次いでスピンをリフェーズして、グラディエントエ
コーＭＲを発生させる。グラディエントエコーＭＲは、
本発明における磁気共鳴信号の実施の形態の一例であ
る。グラディエントエコーＭＲは、エコー中心に関して
対称的な波形を持つＲＦ信号となる。中心エコーはα°
励起からＴＥ後に生じる。グラディエントエコーＭＲは
データ収集部１５０によりビューデータとして収集され
る。
によりスピンのフェーズエンコードが行われる。次に、
リードアウト勾配Ｇｒにより先ずスピンをディフェーズ
し、次いでスピンをリフェーズして、グラディエントエ
コーＭＲを発生させる。グラディエントエコーＭＲは、
本発明における磁気共鳴信号の実施の形態の一例であ
る。グラディエントエコーＭＲは、エコー中心に関して
対称的な波形を持つＲＦ信号となる。中心エコーはα°
励起からＴＥ後に生じる。グラディエントエコーＭＲは
データ収集部１５０によりビューデータとして収集され
る。
【００５６】このようなパルスシーケンスが周期ＴＲで
６４〜５１２回繰り返される。繰り返しのたびにフェー
ズエンコード勾配Ｇｐを変更し、毎回異なるフェーズエ
ンコードを行う。これによって、位相エンコード量を異
にする６４〜５１２ビューのビューデータが得られる。
６４〜５１２回繰り返される。繰り返しのたびにフェー
ズエンコード勾配Ｇｐを変更し、毎回異なるフェーズエ
ンコードを行う。これによって、位相エンコード量を異
にする６４〜５１２ビューのビューデータが得られる。
【００５７】図３または図４のパルスシーケンスによっ
て得られたビューデータが、データ処理部１７０のメモ
リに収集される。なお、パルスシーケンスはＳＥ法また
はＧＲＥ法に限るものではなく、例えばファーストスピ
ンエコー（ＦＳＥ：ＦａｓｔＳｐｉｎ Ｅｃｈｏ）法や
エコープラナーイメージング（ＥＰＩ：ＥｃｈｏＰｌａ
ｎａｒ Ｉｍａｇｉｎｇ）等、他の適宜の技法のもので
あってよいのはいうまでもない。
て得られたビューデータが、データ処理部１７０のメモ
リに収集される。なお、パルスシーケンスはＳＥ法また
はＧＲＥ法に限るものではなく、例えばファーストスピ
ンエコー（ＦＳＥ：ＦａｓｔＳｐｉｎ Ｅｃｈｏ）法や
エコープラナーイメージング（ＥＰＩ：ＥｃｈｏＰｌａ
ｎａｒ Ｉｍａｇｉｎｇ）等、他の適宜の技法のもので
あってよいのはいうまでもない。
【００５８】図５に、ｋスペースの概念図を示す。ｋス
ペースにおいて横軸ｋｘは周波数軸であり、縦軸ｋｙは
位相軸である。同図において複数の横長の長方形がそれ
ぞれビューデータを表す。以下、ビューデータをＭＲデ
ータともいう。長方形内に記入された数字は位相エンコ
ード量を表す。位相エンコード量はπ／Ｎで正規化して
ある。Ｎは６４〜５１２である。位相エンコード量は位
相軸ｋｙの中心で０である。中心から両端にかけて位相
エンコード量が次第に増加する。増加の極性は互いに逆
である。データ処理部１７０は、このようなビューデー
タを２次元逆フーリエ変換して対象１の断層像を再構成
する。再構成した画像はメモリに記憶する。
ペースにおいて横軸ｋｘは周波数軸であり、縦軸ｋｙは
位相軸である。同図において複数の横長の長方形がそれ
ぞれビューデータを表す。以下、ビューデータをＭＲデ
ータともいう。長方形内に記入された数字は位相エンコ
ード量を表す。位相エンコード量はπ／Ｎで正規化して
ある。Ｎは６４〜５１２である。位相エンコード量は位
相軸ｋｙの中心で０である。中心から両端にかけて位相
エンコード量が次第に増加する。増加の極性は互いに逆
である。データ処理部１７０は、このようなビューデー
タを２次元逆フーリエ変換して対象１の断層像を再構成
する。再構成した画像はメモリに記憶する。
【００５９】図６に、本装置の撮影動作のフロー（ｆｌ
ｏｗ）図を示す。同図に示すように、ステップ（ｓｔｅ
ｐ）６０２で、撮影条件設定が行われる。撮影条件設定
は、使用者により操作部１９０を通じて行われる。これ
によって、スキャンパラメータ（ｓｃａｎ ｐａｒａｍ
ｅｔｅｒ）をはじめとする所望の撮影条件が設定され
る。撮影条件設定の一環としてＲＦパルスチューニング
が行われる。ＲＦパルスチューニングについては後述す
る。
ｏｗ）図を示す。同図に示すように、ステップ（ｓｔｅ
ｐ）６０２で、撮影条件設定が行われる。撮影条件設定
は、使用者により操作部１９０を通じて行われる。これ
によって、スキャンパラメータ（ｓｃａｎ ｐａｒａｍ
ｅｔｅｒ）をはじめとする所望の撮影条件が設定され
る。撮影条件設定の一環としてＲＦパルスチューニング
が行われる。ＲＦパルスチューニングについては後述す
る。
【００６０】ステップ６０４で、スキャンが行われる。
スキャンは、制御部１６０による制御の下で、前述のパ
ルスシーケンスを実行することにより行われ、ＭＲデー
タがビューごとに逐次獲得される。
スキャンは、制御部１６０による制御の下で、前述のパ
ルスシーケンスを実行することにより行われ、ＭＲデー
タがビューごとに逐次獲得される。
【００６１】全ビューのＭＲデータ獲得後に、ステップ
６０６で、データ処理部１７０により画像再構成が行わ
れる。再構成画像がステップ６０８で表示部１８０に表
示され、また、メモリに記憶される。
６０６で、データ処理部１７０により画像再構成が行わ
れる。再構成画像がステップ６０８で表示部１８０に表
示され、また、メモリに記憶される。
【００６２】図７に、ＲＦパルスチューニングに着目し
た本装置の機能ブロック図を示す。この機能ブロック図
は、ＲＦパルスチューニング装置の構成を示すものとな
る。同図に示すように、本装置はパルス発生部７０２お
よび送信部７０４を有する。パルス発生部７０２が発生
したＲＦパルスが送信部７０４を通じてＲＦコイル部１
０８に供給され、対象１内のスピンを励起する。
た本装置の機能ブロック図を示す。この機能ブロック図
は、ＲＦパルスチューニング装置の構成を示すものとな
る。同図に示すように、本装置はパルス発生部７０２お
よび送信部７０４を有する。パルス発生部７０２が発生
したＲＦパルスが送信部７０４を通じてＲＦコイル部１
０８に供給され、対象１内のスピンを励起する。
【００６３】ＲＦコイル部１０８に供給されるＲＦパル
スは、例えば図８に示すような波形を持つ。ＲＦパルス
の振幅はａ、パルス幅はτである。送信部７０４は出力
のゲインが可変になっている。ゲインに応じてＲＦパル
スの振幅ａが変わる。ゲインはゲイン制御部７０６によ
って制御される。したがって、ＲＦパルスの振幅ａはゲ
イン制御部７０６によって制御される。
スは、例えば図８に示すような波形を持つ。ＲＦパルス
の振幅はａ、パルス幅はτである。送信部７０４は出力
のゲインが可変になっている。ゲインに応じてＲＦパル
スの振幅ａが変わる。ゲインはゲイン制御部７０６によ
って制御される。したがって、ＲＦパルスの振幅ａはゲ
イン制御部７０６によって制御される。
【００６４】パルス発生部７０２、送信部７０４および
ゲイン制御部７０６からなる部分の機能は、図１または
図２に示した装置におけるＲＦ駆動部１４０および制御
部１６０からなる部分の機能に相当する。
ゲイン制御部７０６からなる部分の機能は、図１または
図２に示した装置におけるＲＦ駆動部１４０および制御
部１６０からなる部分の機能に相当する。
【００６５】対象１内の励起されたスピンは磁気共鳴信
号を生じる。磁気共鳴信号は例えばＦＩＤ（ｆｒｅｅ
ｉｎｄｕｃｔｉｏｎ ｄｅｃａｙ）等である。磁気共鳴
信号は、ＲＦコイル部１０８を通じて受信部７０８によ
って受信される。受信部７０８の機能は、データ収集部
１５０の機能に相当する。
号を生じる。磁気共鳴信号は例えばＦＩＤ（ｆｒｅｅ
ｉｎｄｕｃｔｉｏｎ ｄｅｃａｙ）等である。磁気共鳴
信号は、ＲＦコイル部１０８を通じて受信部７０８によ
って受信される。受信部７０８の機能は、データ収集部
１５０の機能に相当する。
【００６６】磁気共鳴信号の受信信号はフリップアング
ル判定部７１０に入力される。フリップアングル判定部
７１０は、受信信号に基づいてスピンのフリップアング
ルが目標値に一致しているか否かを判定する。フリップ
アングル判定部７１０によるフリップアングルの判定に
ついては後述する。
ル判定部７１０に入力される。フリップアングル判定部
７１０は、受信信号に基づいてスピンのフリップアング
ルが目標値に一致しているか否かを判定する。フリップ
アングル判定部７１０によるフリップアングルの判定に
ついては後述する。
【００６７】フリップアングル判定部７１０の判定信号
は、パルス幅調節部７１２に入力される。パルス幅調節
部７１２は、判定信号に基づいてパルス幅調節信号を発
生する。パルス幅調節信号はパルス発生部７０２に入力
され、パルス発生部７０２が発生するＲＦパルスのパル
ス幅を調節する。
は、パルス幅調節部７１２に入力される。パルス幅調節
部７１２は、判定信号に基づいてパルス幅調節信号を発
生する。パルス幅調節信号はパルス発生部７０２に入力
され、パルス発生部７０２が発生するＲＦパルスのパル
ス幅を調節する。
【００６８】フリップアングル判定部７１０およびパル
ス幅調節部７１２からなる部分の機能は、データ処理部
１７０の機能に相当する。フリップアングル判定部７１
０およびパルス幅調節部７１２からなる部分は、本発明
におけるパルス幅調節手段の実施の形態の一例である。
ス幅調節部７１２からなる部分の機能は、データ処理部
１７０の機能に相当する。フリップアングル判定部７１
０およびパルス幅調節部７１２からなる部分は、本発明
におけるパルス幅調節手段の実施の形態の一例である。
【００６９】図９に、本装置の動作のフロー図を示す。
同図に示すように、ステップ（ｓｔｅｐ）９０２で、パ
ルス幅設定が行われる。パルス幅設定はパルス幅調節部
７１２によって行われる。これによってパルス幅τ０が
設定される。
同図に示すように、ステップ（ｓｔｅｐ）９０２で、パ
ルス幅設定が行われる。パルス幅設定はパルス幅調節部
７１２によって行われる。これによってパルス幅τ０が
設定される。
【００７０】次に、ステップ９０４で、最適パルス振幅
探索が行われる。最適パルス振幅探索は、ＲＦパルスの
振幅の最適値を探索する動作である。ＲＦパルスの振幅
の最適値とは、フリップアングルが目標値に一致するよ
うにスピンを励起することが可能な振幅である。
探索が行われる。最適パルス振幅探索は、ＲＦパルスの
振幅の最適値を探索する動作である。ＲＦパルスの振幅
の最適値とは、フリップアングルが目標値に一致するよ
うにスピンを励起することが可能な振幅である。
【００７１】フリップアングルはＲＦパルスの振幅に比
例する。したがって、ＲＦパルスの振幅を逐次変えなが
らＲＦパルスの送信を試行し、そのつど得られる磁気共
鳴信号（ＦＩＤ）を調べることにより、フリップアング
ルが目標値に一致したか否かを知ることができる。フリ
ップアングルの目標値としては９０°または１８０°が
選ばれる。
例する。したがって、ＲＦパルスの振幅を逐次変えなが
らＲＦパルスの送信を試行し、そのつど得られる磁気共
鳴信号（ＦＩＤ）を調べることにより、フリップアング
ルが目標値に一致したか否かを知ることができる。フリ
ップアングルの目標値としては９０°または１８０°が
選ばれる。
【００７２】フリップアングルとＦＩＤの信号強度の関
係は図１０に示すようになる。すなわち、ＦＩＤの信号
強度はフリップアングルが９０°のとき最大となり、フ
リップアングルが０°および１８０°のとき最小とな
る。このような関係を利用して、フリップアングルが９
０°または１８０°となるようにスピンを励起するため
のＲＦパルスの振幅をそれぞれ求めることができる。
係は図１０に示すようになる。すなわち、ＦＩＤの信号
強度はフリップアングルが９０°のとき最大となり、フ
リップアングルが０°および１８０°のとき最小とな
る。このような関係を利用して、フリップアングルが９
０°または１８０°となるようにスピンを励起するため
のＲＦパルスの振幅をそれぞれ求めることができる。
【００７３】ＲＦパルスの逐次送信はパルス発生部７０
２および送信部７０４の動作によって行われる。各送信
のたびに、ゲイン制御部７０６によってＲＦパルスの振
幅の逐次増加が行われる。ＦＩＤに基づくフリップアン
グルの目標到達度の判定は、フリップアングル判定部７
１０によって行われる。判定は、フリップアングルとＦ
ＩＤの図１９０に示したような関係に基づいて行われ
る。
２および送信部７０４の動作によって行われる。各送信
のたびに、ゲイン制御部７０６によってＲＦパルスの振
幅の逐次増加が行われる。ＦＩＤに基づくフリップアン
グルの目標到達度の判定は、フリップアングル判定部７
１０によって行われる。判定は、フリップアングルとＦ
ＩＤの図１９０に示したような関係に基づいて行われ
る。
【００７４】フリップアングルを目標に一致させるパル
ス振幅が得られたときは、探索成功である。その場合
は、ステップ９０６での判定に基づいてＲＦパルスチュ
ーニングは終了となる。
ス振幅が得られたときは、探索成功である。その場合
は、ステップ９０６での判定に基づいてＲＦパルスチュ
ーニングは終了となる。
【００７５】ＲＦパルスの振幅を最大にしても目標が達
せられないときは、探索不成功である。そのときは、ス
テップ９０６での判定に基づき、ステップ９１０で、パ
ルス幅がτ＋Δτとされる。すなわち、パルス幅はΔτ
だけ増やされる。パルス幅の増加はパルス幅調節部７１
２によって行われる。これによって、パルス発生部７０
２が発生するＲＦパルスのパルス幅が更新される。
せられないときは、探索不成功である。そのときは、ス
テップ９０６での判定に基づき、ステップ９１０で、パ
ルス幅がτ＋Δτとされる。すなわち、パルス幅はΔτ
だけ増やされる。パルス幅の増加はパルス幅調節部７１
２によって行われる。これによって、パルス発生部７０
２が発生するＲＦパルスのパルス幅が更新される。
【００７６】次に、ステップ９１２でτ＞Ｔであるか否
かが判定される。ＴはＲＦパルスのパルス幅の正常値の
上限である。上限Ｔは送信部７０４の性能等を考慮して
適宜に定められる。τ＞Ｔとなったときはエラー（ｅｒ
ｒｏｒ）として処理するが、そうでないときはステップ
９０４に戻る。そして、新たなパルス幅のもとで、上記
に準じて最適パルス振幅探査を行う。
かが判定される。ＴはＲＦパルスのパルス幅の正常値の
上限である。上限Ｔは送信部７０４の性能等を考慮して
適宜に定められる。τ＞Ｔとなったときはエラー（ｅｒ
ｒｏｒ）として処理するが、そうでないときはステップ
９０４に戻る。そして、新たなパルス幅のもとで、上記
に準じて最適パルス振幅探査を行う。
【００７７】フリップアングルはＲＦパルスのパルス幅
にも比例するので、パルス幅を増やしたことにより、パ
ルス振幅が同一でもフリップアングルは増加する。した
がって、前回の探索で最適パルス振幅が得られなくて
も、今度は得られる可能性がある。以下、この要領で、
最適パルス振幅探索が不成功の場合は、ステップ９１０
でパルス幅をΔτずつ増やしながら探索を繰り返す。
にも比例するので、パルス幅を増やしたことにより、パ
ルス振幅が同一でもフリップアングルは増加する。した
がって、前回の探索で最適パルス振幅が得られなくて
も、今度は得られる可能性がある。以下、この要領で、
最適パルス振幅探索が不成功の場合は、ステップ９１０
でパルス幅をΔτずつ増やしながら探索を繰り返す。
【００７８】パルス幅の初期値τ０および増加分Δτを
比較的小さな値とすることにより、フリップアングルを
目標値に一致させるＲＦパルスの振幅を、送信部７０４
が出力可能な最大値またはその近傍の値とすることがで
きる。そのようなパルス振幅は送信部７０４の能力を１
００％またはほぼ１００％使用して出力される。したが
って、送信部７０４の能力を有効に利用することが可能
なパルス振幅を得ることができる。
比較的小さな値とすることにより、フリップアングルを
目標値に一致させるＲＦパルスの振幅を、送信部７０４
が出力可能な最大値またはその近傍の値とすることがで
きる。そのようなパルス振幅は送信部７０４の能力を１
００％またはほぼ１００％使用して出力される。したが
って、送信部７０４の能力を有効に利用することが可能
なパルス振幅を得ることができる。
【００７９】また、パルス振幅がそのような値であるこ
とにより、パルス幅は必要最小限の値となる。パルス幅
が小さいことによりパルスシーケンスの時間を短縮する
ことが可能になり、それによって撮影時間を短縮し、ま
たは、画質を向上することが可能となる。
とにより、パルス幅は必要最小限の値となる。パルス幅
が小さいことによりパルスシーケンスの時間を短縮する
ことが可能になり、それによって撮影時間を短縮し、ま
たは、画質を向上することが可能となる。
【００８０】パルス幅の増加分Δτは、上記のような固
定値とする代わりに、計算によって動的に変更するよう
にしてもよい。その場合は、図１１に示すように、ステ
ップ９０８で、パルス幅増加量Δτの計算を行う。Δτ
の計算は、パルス幅調節部７１２によって行われる。Δ
τの計算は次のようにして行われる。
定値とする代わりに、計算によって動的に変更するよう
にしてもよい。その場合は、図１１に示すように、ステ
ップ９０８で、パルス幅増加量Δτの計算を行う。Δτ
の計算は、パルス幅調節部７１２によって行われる。Δ
τの計算は次のようにして行われる。
【００８１】最適パルス振幅の探索が不成功であったと
いうことは、パルス振幅を送信部７０４が出力可能な最
大値にしてもまだフリップアングルが目標に達しないこ
とを意味している。その場合の目標未達の程度は、励起
の不足分を示している。したがって、この励起不足を補
うようにパルス幅を増加させれば、フリップアングルを
目標値の一致させることができる。
いうことは、パルス振幅を送信部７０４が出力可能な最
大値にしてもまだフリップアングルが目標に達しないこ
とを意味している。その場合の目標未達の程度は、励起
の不足分を示している。したがって、この励起不足を補
うようにパルス幅を増加させれば、フリップアングルを
目標値の一致させることができる。
【００８２】例えば、目標値１８０°に対して送信部７
０４の最大出力で励起されたスピンのフリップアングル
が１７０°であったとすると、ＲＦパルスによる励起量
を１８０°／１７０°倍すれば目標達成が可能である。
そのようにするためには、パルス幅τを１８０°／１７
０°倍すればよい。したがって、パルス幅の増加分Δτ
は次式によって計算される。
０４の最大出力で励起されたスピンのフリップアングル
が１７０°であったとすると、ＲＦパルスによる励起量
を１８０°／１７０°倍すれば目標達成が可能である。
そのようにするためには、パルス幅τを１８０°／１７
０°倍すればよい。したがって、パルス幅の増加分Δτ
は次式によって計算される。
【００８３】
【数１】
【００８４】これを一般化すれば、Δτの計算式は次式
で与えられる。このようなΔτを用いることにより、チ
ューニング時間を短縮することが可能となる。
で与えられる。このようなΔτを用いることにより、チ
ューニング時間を短縮することが可能となる。
【００８５】
【数２】
【００８６】ここで、
θT ：目標フリップアングル
θ max：到達フリップアングル
フリップアングルの目標値が例えば２０°等のように、
９０°より小さい場合は、上記のようにして求められた
最適パルス振幅およびパルス幅に基づいて、目標値に適
合した最終的な最適パルス振幅およびパルス幅を計算す
る。
９０°より小さい場合は、上記のようにして求められた
最適パルス振幅およびパルス幅に基づいて、目標値に適
合した最終的な最適パルス振幅およびパルス幅を計算す
る。
【００８７】図１２に、そのようなＲＦパルスチューニ
ングを行う場合の本装置の機能ブロック図を示す。同図
において、図７に示したものと同様のものは同一の符号
を付して説明を省略する。
ングを行う場合の本装置の機能ブロック図を示す。同図
において、図７に示したものと同様のものは同一の符号
を付して説明を省略する。
【００８８】同図に示すように、本装置はパルス幅計算
部７１４を有する。パルス幅計算部７１４の機能は、デ
ータ処理部１７０の機能に相当する。パルス幅計算部７
１４は、フリップアングル判定部７１０およびパルス幅
調節部７１２からの入力信号を用いて計算を行う。フリ
ップアングル判定部７１０からの入力信号は最適パルス
振幅である。パルス幅調節部７１２からの入力信号はパ
ルス幅設定値である。パルス幅計算部７１４は、本発明
における計算手段の実施の形態の一例である。
部７１４を有する。パルス幅計算部７１４の機能は、デ
ータ処理部１７０の機能に相当する。パルス幅計算部７
１４は、フリップアングル判定部７１０およびパルス幅
調節部７１２からの入力信号を用いて計算を行う。フリ
ップアングル判定部７１０からの入力信号は最適パルス
振幅である。パルス幅調節部７１２からの入力信号はパ
ルス幅設定値である。パルス幅計算部７１４は、本発明
における計算手段の実施の形態の一例である。
【００８９】図１３および図１４に、本装置の動作のフ
ロー図を示す。これらのフロー図は、それぞれ、図９お
よび図１１に示したフロー図にステップ９１４を追加し
たものとなっている。ステップ９１４では、フリップア
ングルに応じたパルス幅計算が行われる。この計算はパ
ルス幅計算部７１４によって行われる。パルス幅計算部
７１４は、次式によってパルス幅τを計算する。
ロー図を示す。これらのフロー図は、それぞれ、図９お
よび図１１に示したフロー図にステップ９１４を追加し
たものとなっている。ステップ９１４では、フリップア
ングルに応じたパルス幅計算が行われる。この計算はパ
ルス幅計算部７１４によって行われる。パルス幅計算部
７１４は、次式によってパルス幅τを計算する。
【００９０】
【数３】
【００９１】ここで、
θT1：中間目標フリップアングル
θT2：最終目標フリップアングル
ａT1：最適パルス振幅
ａmax：送信部７０４が出力可能なＲＦパルスの最大振
幅 τT1：パルス幅設定値 中間目標フリップアングルθT1は、例えば９０°または
１８０°である。最終目標フリップアングルθT2は例え
ば３０°である。最適パルス振幅ａT1はフリップアング
ル判定部７１０からの入力信号である。これは、フリッ
プアングルを中間目標値に一致させる最適パルス振幅で
ある。パルス幅設定値τT1はパルス幅調節部７１２から
の入力信号である。これは、フリップアングルを中間目
標値に一致させるパルス幅設定値である。
幅 τT1：パルス幅設定値 中間目標フリップアングルθT1は、例えば９０°または
１８０°である。最終目標フリップアングルθT2は例え
ば３０°である。最適パルス振幅ａT1はフリップアング
ル判定部７１０からの入力信号である。これは、フリッ
プアングルを中間目標値に一致させる最適パルス振幅で
ある。パルス幅設定値τT1はパルス幅調節部７１２から
の入力信号である。これは、フリップアングルを中間目
標値に一致させるパルス幅設定値である。
【００９２】（３）式は、パルス振幅を送信部７０４が
出力可能なＲＦパルスの最大振幅ａmaxにしたときにフ
リップアングルを最終目標値θT2に一致させるパルス幅
を求める式となっている。パルス振幅を最大振幅ａmax
としたので、パルス幅は９０°や１８０°のときよりも
さらに小さな値となる。これによって撮影時間をさらに
短縮することが可能となる。
出力可能なＲＦパルスの最大振幅ａmaxにしたときにフ
リップアングルを最終目標値θT2に一致させるパルス幅
を求める式となっている。パルス振幅を最大振幅ａmax
としたので、パルス幅は９０°や１８０°のときよりも
さらに小さな値となる。これによって撮影時間をさらに
短縮することが可能となる。
【００９３】以上、好ましい実施の形態の例に基づいて
本発明を説明したが、本発明が属する技術の分野におけ
る通常の知識を有する者は、上記の実施の形態の例につ
いて、本発明の技術的範囲を逸脱することなく種々の変
更や置換等をなし得る。したがって、本発明の技術的範
囲には、上記の実施の形態の例ばかりでなく、特許請求
の範囲に属するすべての実施の形態が含まれる。
本発明を説明したが、本発明が属する技術の分野におけ
る通常の知識を有する者は、上記の実施の形態の例につ
いて、本発明の技術的範囲を逸脱することなく種々の変
更や置換等をなし得る。したがって、本発明の技術的範
囲には、上記の実施の形態の例ばかりでなく、特許請求
の範囲に属するすべての実施の形態が含まれる。
【００９４】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、ＲＦ送信装置の能力を有効利用できるようにＲＦ
パルスチューニングを行う方法および装置を実現するこ
とができる。
れば、ＲＦ送信装置の能力を有効利用できるようにＲＦ
パルスチューニングを行う方法および装置を実現するこ
とができる。
【図１】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。
である。
【図２】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。
である。
【図３】本発明の実施の形態の一例の装置が実行するパ
ルスシーケンスの一例を示す図である。
ルスシーケンスの一例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態の一例の装置が実行するパ
ルスシーケンスの一例を示す図である。
ルスシーケンスの一例を示す図である。
【図５】ｋスペースの概念図である。
【図６】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロ
ー図である。
ー図である。
【図７】本発明の実施の形態の一例の装置の機能ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図８】ＲＦパルスの波形図である。
【図９】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロ
ー図である。
ー図である。
【図１０】フリップアングルとＦＩＤ信号強度の関係を
示すグラフ図である。
示すグラフ図である。
【図１１】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフ
ロー図である。
ロー図である。
【図１２】本発明の実施の形態の一例の装置の機能ブロ
ック図である。
ック図である。
【図１３】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフ
ロー図である。
ロー図である。
【図１４】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフ
ロー図である。
ロー図である。
１ 対象
１００，１００’ マグネットシステム
１０２ 主磁場コイル部
１０２’ 主磁場マグネット部
１０６，１０６’ 勾配コイル部
１０８，１０８’ ＲＦコイル部
１３０ 勾配駆動部
１４０ ＲＦ駆動部
１５０ データ収集部
１６０ 制御部
１７０ データ処理部
１８０ 表示部
１９０ 操作部
５００ クレードル
７０２ パルス発生部
７０４ 送信部
７０６ ゲイン制御部
７０８ 受信部
７１０ フリップアングル判定部
７１２ パルス幅設定部
７１４ パルス幅計算部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 星野 和哉
東京都日野市旭が丘四丁目７番地の127
ジーイー横河メディカルシステム株式会社
内
Ｆターム(参考） 4C096 AA20 AB34 AD02 AD10 AD23
BA01 BB03 CC19 CC26
Claims (18)
- 【請求項１】 スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする方
法であって、 スピンのフリップアングルが目標値に一致するまでＲＦ
パルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次増加させ
る、ことを特徴とするＲＦパルスチューニング方法。 - 【請求項２】 ＲＦパルスの振幅を調節可能な最大値に
してもフリップアングルが前記目標値に達しないときは
目標未達の程度に応じて次のパルス幅の増加量を定め
る、ことを特徴とする請求項１に記載のＲＦパルスチュ
ーニング方法。 - 【請求項３】 前記目標値は９０°である、ことを特徴
とする請求項１または請求項２に記載のＲＦパルスチュ
ーニング方法。 - 【請求項４】 前記目標値は１８０°である、ことを特
徴とする請求項１または請求項２に記載のＲＦパルスチ
ューニング方法。 - 【請求項５】 スピンのフリップアングルが目標値に一
致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする方
法であって、 スピンのフリップアングルが中間的目標値に一致するま
でＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次増
加させ、 スピンのフリップアングルを前記中間的目標値より小さ
い最終的目標値に一致させるＲＦパルスの条件を、スピ
ンのフリップアングルを前記中間的目標値に一致させる
ＲＦパルスの条件から計算する、ことを特徴とするＲＦ
パルスチューニング方法。 - 【請求項６】 前記計算はＲＦパルスの振幅を調節可能
な最大値としたときのパルス幅を求める、ことを特徴と
する請求項５に記載のＲＦパルスチューニング方法。 - 【請求項７】 ＲＦパルスの振幅を調節可能な最大値に
してもフリップアングルが前記中間的目標値に達しない
ときは目標未達の程度に応じて次のパルス幅の増加量を
定める、ことを特徴とする請求項５または請求項６に記
載のＲＦパルスチューニング方法。 - 【請求項８】 前記中間的目標値は９０°である、こと
を特徴とする請求項５ないし請求項７のうちのいずれか
１つに記載のＲＦパルスチューニング方法。 - 【請求項９】 前記中間的目標値は１８０°である、こ
とを特徴とする請求項５ないし請求項７のうちのいずれ
か１つに記載のＲＦパルスチューニング方法。 - 【請求項１０】 スピンのフリップアングルが目標値に
一致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする
装置であって、 スピンのフリップアングルが目標値に一致するまでＲＦ
パルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次増加させ
るパルス幅調節手段、を具備することを特徴とするＲＦ
パルスチューニング装置。 - 【請求項１１】 前記パルス幅調節手段は、ＲＦパルス
の振幅を調節可能な最大値にしてもフリップアングルが
前記目標値に達しないときは目標未達の程度に応じて次
のパルス幅の増加量を定める、ことを特徴とする請求項
１０に記載のＲＦパルスチューニング装置。 - 【請求項１２】 前記目標値は９０°である、ことを特
徴とする請求項１０または請求項１１に記載のＲＦパル
スチューニング装置。 - 【請求項１３】 前記目標値は１８０°である、ことを
特徴とする請求項１０または請求項１１に記載のＲＦパ
ルスチューニング装置。 - 【請求項１４】 スピンのフリップアングルが目標値に
一致するように励起用のＲＦパルスをチューニングする
装置であって、 スピンのフリップアングルが中間的目標値に一致するま
でＲＦパルスのパルス幅を予め定めた初期値から逐次増
加させるパルス幅調節手段と、 スピンのフリップアングルを前記中間的目標値より小さ
い最終的目標値に一致させるＲＦパルスの条件を、スピ
ンのフリップアングルを前記中間的目標値に一致させる
ＲＦパルスの条件から計算する計算手段と、を具備する
ことを特徴とするＲＦパルスチューニング装置。 - 【請求項１５】 前記計算手段は、ＲＦパルスの振幅を
調節可能な最大値としたときのパルス幅を求める、こと
を特徴とする請求項１４に記載のＲＦパルスチューニン
グ装置。 - 【請求項１６】 前記パルス幅調節手段は、ＲＦパルス
の振幅を調節可能な最大値にしてもフリップアングルが
前記中間的目標値に達しないときは目標未達の程度に応
じて次のパルス幅の増加量を定める、ことを特徴とする
請求項１４または請求項１５に記載のＲＦパルスチュー
ニング装置。 - 【請求項１７】 前記中間的目標値は９０°である、こ
とを特徴とする請求項１４ないし請求項１６のうちのい
ずれか１つに記載のＲＦパルスチューニング装置。 - 【請求項１８】 前記中間的目標値は１８０°である、
ことを特徴とする請求項１４ないし請求項１６のうちの
いずれか１つに記載のＲＦパルスチューニング装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002066854A JP3753668B2 (ja) | 2002-03-12 | 2002-03-12 | Ｒｆパルスチューニング装置 |
| KR1020030015048A KR100718402B1 (ko) | 2002-03-12 | 2003-03-11 | Ｒｆ 펄스 튜닝 방법 및 장치 |
| US10/386,274 US6812699B2 (en) | 2002-03-12 | 2003-03-11 | Systems and methods for tuning an RF pulse by changing a pulse width of the RF pulse |
| CNB031199453A CN1278648C (zh) | 2002-03-12 | 2003-03-12 | 射频脉冲调谐的方法和装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002066854A JP3753668B2 (ja) | 2002-03-12 | 2002-03-12 | Ｒｆパルスチューニング装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005306617A Division JP4008467B2 (ja) | 2005-10-21 | 2005-10-21 | Ｒｆパルスチューニング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003265433A true JP2003265433A (ja) | 2003-09-24 |
| JP3753668B2 JP3753668B2 (ja) | 2006-03-08 |
Family
ID=28034917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002066854A Expired - Fee Related JP3753668B2 (ja) | 2002-03-12 | 2002-03-12 | Ｒｆパルスチューニング装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6812699B2 (ja) |
| JP (1) | JP3753668B2 (ja) |
| KR (1) | KR100718402B1 (ja) |
| CN (1) | CN1278648C (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20040017026A (ko) * | 2002-08-20 | 2004-02-26 | 주식회사 아이솔테크놀로지 | 고속스핀에코기법의 자기공명영상화방법 |
| JP2006087778A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｍｒスキャン方法およびｍｒｉ装置 |
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|---|---|---|---|---|
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| DE102008061455B4 (de) * | 2008-12-10 | 2011-03-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer vorbestimmten Signalamplitude bei MR-Messungen |
| CN101917339A (zh) * | 2010-08-17 | 2010-12-15 | 建汉科技股份有限公司 | 网络设备的网络频宽上限统计及调整方法 |
| CN105395200B (zh) * | 2015-12-02 | 2018-08-03 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 磁共振成像系统扫描方法、射频功率校准方法及装置 |
| CN107561113A (zh) * | 2017-09-27 | 2018-01-09 | 中国科学院电工研究所无锡分所 | 核磁共振岩心分析仪自动搜索90度射频脉冲宽度的方法 |
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| JPS61191949A (ja) * | 1985-02-19 | 1986-08-26 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメ−ジング装置 |
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| JPH05154132A (ja) * | 1991-11-30 | 1993-06-22 | Shimadzu Corp | Ｍｒ撮像法 |
| KR960004972B1 (ko) * | 1992-10-07 | 1996-04-18 | 금성의료기주식회사 | 자기공명 영상장치의 알에프(rf)코일 |
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