JP2003259381A - 欠陥画素補正装置 - Google Patents
欠陥画素補正装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 固体撮像素子の画素の配列や波長などに依存
することなく、高精度で欠陥画素を補正できるようにし
た欠陥画素補正装置を提供する。 【解決手段】 ベイヤー配列のカラーフィルタを受光面
上に有するＣＣＤエリアセンサ１と、該ＣＣＤエリアセ
ンサにおける欠陥画素の位置情報を記憶するメモリ４
と、該メモリに記憶された位置情報に基づき、該位置に
対応する画素から出力される信号を補正する欠陥補正回
路５とを備え、該欠陥補正回路は、欠陥画素の補正信号
を、補正対象の注目欠陥画素から２画素離れた該注目欠
陥画素と同色の８画素の出力信号の平均で生成するよう
にして、欠陥画素補正装置を構成する。
することなく、高精度で欠陥画素を補正できるようにし
た欠陥画素補正装置を提供する。 【解決手段】 ベイヤー配列のカラーフィルタを受光面
上に有するＣＣＤエリアセンサ１と、該ＣＣＤエリアセ
ンサにおける欠陥画素の位置情報を記憶するメモリ４
と、該メモリに記憶された位置情報に基づき、該位置に
対応する画素から出力される信号を補正する欠陥補正回
路５とを備え、該欠陥補正回路は、欠陥画素の補正信号
を、補正対象の注目欠陥画素から２画素離れた該注目欠
陥画素と同色の８画素の出力信号の平均で生成するよう
にして、欠陥画素補正装置を構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、固体撮像素子の
欠陥画素を補正する欠陥画素補正装置に関する。
欠陥画素を補正する欠陥画素補正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、多画素を有するＣＣＤ撮像素子
を用いたデジタルカメラのような撮像装置においては、
均一な入射光レベルにも関わらず周辺のＣＣＤ画素とは
特異なレベルの信号を出力する、いわゆる欠陥画素の発
生頻度が高くなり、画質が劣化するという問題をかかえ
ている。
を用いたデジタルカメラのような撮像装置においては、
均一な入射光レベルにも関わらず周辺のＣＣＤ画素とは
特異なレベルの信号を出力する、いわゆる欠陥画素の発
生頻度が高くなり、画質が劣化するという問題をかかえ
ている。
【０００３】従来、この欠陥画素からの出力信号の補正
については、ユーザーに撮像装置を出荷する前に欠陥画
素の位置情報をメモリ等に記憶しておき、欠陥画素位置
の映像信号を、補正回路によって周辺画素の出力信号を
用いて生成した補正信号に置換して補正する手法が採用
されている。また、本件出願人は、特願２００１−３０
７３６７において、所定サイズの周囲画素から所定方向
のエッジ強度に関する指標値を求め、方向算出部でその
指標値に基づいて相関が最大に成る方向を求め、その方
向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値を算出す
るようにして、複雑なエッジ構造や連続した欠陥画素が
ある場合においても、正確な補正を可能にした欠陥画素
補正装置を提案している。
については、ユーザーに撮像装置を出荷する前に欠陥画
素の位置情報をメモリ等に記憶しておき、欠陥画素位置
の映像信号を、補正回路によって周辺画素の出力信号を
用いて生成した補正信号に置換して補正する手法が採用
されている。また、本件出願人は、特願２００１−３０
７３６７において、所定サイズの周囲画素から所定方向
のエッジ強度に関する指標値を求め、方向算出部でその
指標値に基づいて相関が最大に成る方向を求め、その方
向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値を算出す
るようにして、複雑なエッジ構造や連続した欠陥画素が
ある場合においても、正確な補正を可能にした欠陥画素
補正装置を提案している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】所定の色配列のカラー
フィルタを備えたＣＣＤ撮像素子などの固体撮像素子で
は、均一な入射光にも関わらず、周辺の画素配列や波長
等により、注目画素の色と同色の注目画素に隣接する画
素の出力レベルが、注目画素の出力レベルと異なること
がある。すなわち、配列された画素の出力において、隣
接する画素とクロストークが発生する。このクロストー
クは、長波長側で強く発生し、また配列においても縦方
向と横方向とで差が生じるため、上記出力レベル差が発
生する。したがって、注目画素が欠陥画素であり、周辺
画素を用いて欠陥画素である注目画素の出力信号を補正
しようとする場合に、同色の隣接する画素を用いて補正
しようとすると、所望のレベルとは異なった補正出力に
なる虞がある。
フィルタを備えたＣＣＤ撮像素子などの固体撮像素子で
は、均一な入射光にも関わらず、周辺の画素配列や波長
等により、注目画素の色と同色の注目画素に隣接する画
素の出力レベルが、注目画素の出力レベルと異なること
がある。すなわち、配列された画素の出力において、隣
接する画素とクロストークが発生する。このクロストー
クは、長波長側で強く発生し、また配列においても縦方
向と横方向とで差が生じるため、上記出力レベル差が発
生する。したがって、注目画素が欠陥画素であり、周辺
画素を用いて欠陥画素である注目画素の出力信号を補正
しようとする場合に、同色の隣接する画素を用いて補正
しようとすると、所望のレベルとは異なった補正出力に
なる虞がある。
【０００５】一方、上記のような均一入射光の場合にお
いて、注目画素に対して、同色の隣接画素の外側に位置
し、その隣接画素に更に隣接する、注目画素とは２画素
離れた同色画素が、注目画素とほぼ同一な出力レベルと
なることがある。すなわち、例えばベイヤー配列のカラ
ーフィルタを用いている場合、注目画素から２画素離れ
ている同色画素は、注目画素と同じ隣接画素配列となる
ため、クロストークの影響が同じになり同一出力とな
る。本発明は、この点に注目してなされたものであり、
固体撮像素子の画素の配列や波長などにも依存すること
なく、高精度で欠陥画素の補正をすることができる欠陥
画素補正装置を提供することを目的とする。
いて、注目画素に対して、同色の隣接画素の外側に位置
し、その隣接画素に更に隣接する、注目画素とは２画素
離れた同色画素が、注目画素とほぼ同一な出力レベルと
なることがある。すなわち、例えばベイヤー配列のカラ
ーフィルタを用いている場合、注目画素から２画素離れ
ている同色画素は、注目画素と同じ隣接画素配列となる
ため、クロストークの影響が同じになり同一出力とな
る。本発明は、この点に注目してなされたものであり、
固体撮像素子の画素の配列や波長などにも依存すること
なく、高精度で欠陥画素の補正をすることができる欠陥
画素補正装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解消するた
めに、請求項１に係る発明は、所定の色配列のカラーフ
ィルタを受光面上に有する固体撮像素子から成る撮像手
段と、前記固体撮像素子上における欠陥画素の位置情報
を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された欠陥画
素の位置情報に基づき、該欠陥画素の位置に対応する固
体撮像素子の画素から出力される信号を補正する補正手
段とを具備し、前記補正手段は、補正の対象となる注目
欠陥画素から出力される信号を補正する補正信号を、補
正対象の注目欠陥画素から２画素以上離れた該注目欠陥
画素と同色の複数の画素の出力信号を用いて生成するよ
うに構成されていることを特徴とするものである。
めに、請求項１に係る発明は、所定の色配列のカラーフ
ィルタを受光面上に有する固体撮像素子から成る撮像手
段と、前記固体撮像素子上における欠陥画素の位置情報
を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された欠陥画
素の位置情報に基づき、該欠陥画素の位置に対応する固
体撮像素子の画素から出力される信号を補正する補正手
段とを具備し、前記補正手段は、補正の対象となる注目
欠陥画素から出力される信号を補正する補正信号を、補
正対象の注目欠陥画素から２画素以上離れた該注目欠陥
画素と同色の複数の画素の出力信号を用いて生成するよ
うに構成されていることを特徴とするものである。
【０００７】このように構成した欠陥画素補正装置にお
いては、欠陥画素補正信号を補正対象の注目欠陥画素か
ら２画素以上離れた該注目欠陥画素と同色の複数の画素
の出力信号を用いて生成するようにしているので、画素
の配列や波長などにより、欠陥画素に隣接する画素のレ
ベルが本来の画素のレベルとは異なって出力していて
も、所望の精度のよい補正が可能となる。
いては、欠陥画素補正信号を補正対象の注目欠陥画素か
ら２画素以上離れた該注目欠陥画素と同色の複数の画素
の出力信号を用いて生成するようにしているので、画素
の配列や波長などにより、欠陥画素に隣接する画素のレ
ベルが本来の画素のレベルとは異なって出力していて
も、所望の精度のよい補正が可能となる。
【０００８】請求項２に係る発明は、請求項１に係る欠
陥画素補正装置において、前記補正対象の注目欠陥画素
から２画素以上離れた前記複数の同色画素中に欠陥画素
が含まれている場合は、該欠陥画素を除いた同色画素の
出力信号を用いて補正信号を生成するように構成されて
いることを特徴とするものである。
陥画素補正装置において、前記補正対象の注目欠陥画素
から２画素以上離れた前記複数の同色画素中に欠陥画素
が含まれている場合は、該欠陥画素を除いた同色画素の
出力信号を用いて補正信号を生成するように構成されて
いることを特徴とするものである。
【０００９】このように構成した欠陥画素補正装置にお
いては、補正信号生成用の画素信号に欠陥画素信号が含
まれる場合、それを排除して補正信号を生成するように
しているので、一層高精度の欠陥画素補正を行うことが
可能となる。
いては、補正信号生成用の画素信号に欠陥画素信号が含
まれる場合、それを排除して補正信号を生成するように
しているので、一層高精度の欠陥画素補正を行うことが
可能となる。
【００１０】請求項３に係る発明は、所定の色配列のカ
ラーフィルタを受光面上に有する固体撮像素子から成る
撮像手段と、前記固体撮像素子上における欠陥画素の位
置情報を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された
欠陥画素の位置情報に基づき、該欠陥画素の位置に対応
する固体撮像素子の画素から出力される信号を補正する
補正手段とを具備し、前記補正手段は、補正対象の注目
欠陥画素を含む所定領域における該注目欠陥画素と同色
の画素について該注目画素との相関が最大となる方向を
算出し、該方向における注目欠陥画素と同色の複数の補
正利用画素の出力信号を用いて補正信号を生成するよう
にした欠陥画素補正装置において、前記補正手段は、前
記補正利用画素として前記注目画素に隣接する画素が存
在する場合、前記注目欠陥画素と前記隣接補正利用画素
との信号レベル差と、前記注目欠陥画素と前記隣接補正
利用画素以外の補正利用画素との信号レベル差とに基づ
いて、前記隣接補正利用画素又は該隣接補正利用画素以
外の補正利用画素の出力信号を選択的に用いて補正信号
を生成することを特徴とするものである。
ラーフィルタを受光面上に有する固体撮像素子から成る
撮像手段と、前記固体撮像素子上における欠陥画素の位
置情報を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された
欠陥画素の位置情報に基づき、該欠陥画素の位置に対応
する固体撮像素子の画素から出力される信号を補正する
補正手段とを具備し、前記補正手段は、補正対象の注目
欠陥画素を含む所定領域における該注目欠陥画素と同色
の画素について該注目画素との相関が最大となる方向を
算出し、該方向における注目欠陥画素と同色の複数の補
正利用画素の出力信号を用いて補正信号を生成するよう
にした欠陥画素補正装置において、前記補正手段は、前
記補正利用画素として前記注目画素に隣接する画素が存
在する場合、前記注目欠陥画素と前記隣接補正利用画素
との信号レベル差と、前記注目欠陥画素と前記隣接補正
利用画素以外の補正利用画素との信号レベル差とに基づ
いて、前記隣接補正利用画素又は該隣接補正利用画素以
外の補正利用画素の出力信号を選択的に用いて補正信号
を生成することを特徴とするものである。
【００１１】このように構成した欠陥画素補正装置にお
いては、注目欠陥画素と隣接補正利用画素との信号レベ
ル差と、注目欠陥画素と隣接補正利用画素以外の補正利
用画素との信号レベル差とに基づいて、隣接補正利用画
素又は隣接補正利用画素以外の補正利用画素を選択的に
用いて補正信号を生成するようにしているので、撮影シ
ーンに適応した、すなわちクロストークによるレベル差
の有無に適応した高精度の補正を行うことが可能とな
る。
いては、注目欠陥画素と隣接補正利用画素との信号レベ
ル差と、注目欠陥画素と隣接補正利用画素以外の補正利
用画素との信号レベル差とに基づいて、隣接補正利用画
素又は隣接補正利用画素以外の補正利用画素を選択的に
用いて補正信号を生成するようにしているので、撮影シ
ーンに適応した、すなわちクロストークによるレベル差
の有無に適応した高精度の補正を行うことが可能とな
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】次に、実施の形態について説明す
る。図１は、本発明に係る欠陥補正装置の第１の実施の
形態を示すブロック構成図である。この実施の形態は、
請求項１，２に係る発明に対応するもので、次のように
構成されている。すなわち、図１において、１は周辺回
路を含むＣＣＤエリアセンサ、２はアナログ回路で構成
されるプリプロセス回路、３はＡ／Ｄ変換回路、４はＣ
ＣＤエリアセンサ１上の欠陥画素の位置情報を格納する
メモリ、５はメモリ４に格納されている欠陥画素の位置
情報に従ってＣＣＤエリアセンサ１から出力される映像
信号を補正する欠陥補正回路で、上記メモリ４と欠陥補
正回路５とで欠陥補正部６を構成している。７は映像信
号処理回路である。
る。図１は、本発明に係る欠陥補正装置の第１の実施の
形態を示すブロック構成図である。この実施の形態は、
請求項１，２に係る発明に対応するもので、次のように
構成されている。すなわち、図１において、１は周辺回
路を含むＣＣＤエリアセンサ、２はアナログ回路で構成
されるプリプロセス回路、３はＡ／Ｄ変換回路、４はＣ
ＣＤエリアセンサ１上の欠陥画素の位置情報を格納する
メモリ、５はメモリ４に格納されている欠陥画素の位置
情報に従ってＣＣＤエリアセンサ１から出力される映像
信号を補正する欠陥補正回路で、上記メモリ４と欠陥補
正回路５とで欠陥補正部６を構成している。７は映像信
号処理回路である。
【００１３】そして、欠陥補正回路５には、メモリ４か
ら欠陥画素の位置情報が常時入力されており、欠陥補正
回路５は、この欠陥画素の位置と映像信号を出力したＣ
ＣＤエリアセンサ１の画素の位置が一致した場合に、そ
の画素から出力された映像信号を補正するようになって
いる。なお、欠陥補正回路５には、図示しない空間フィ
ルタを備えており、また本実施の形態では、ＣＣＤエリ
アセンサ１の受光面には、カラーフィルタとして、ＲＧ
Ｂフィルタをベイヤー方式で配列したカラーフィルタが
貼付されているものとする。
ら欠陥画素の位置情報が常時入力されており、欠陥補正
回路５は、この欠陥画素の位置と映像信号を出力したＣ
ＣＤエリアセンサ１の画素の位置が一致した場合に、そ
の画素から出力された映像信号を補正するようになって
いる。なお、欠陥補正回路５には、図示しない空間フィ
ルタを備えており、また本実施の形態では、ＣＣＤエリ
アセンサ１の受光面には、カラーフィルタとして、ＲＧ
Ｂフィルタをベイヤー方式で配列したカラーフィルタが
貼付されているものとする。
【００１４】次に、この実施の形態の動作について説明
する。ＣＣＤエリアセンサ１から出力された映像信号
は、プリプロセス回路２，Ａ／Ｄ変換回路３を介して欠
陥補正部６に入力される。ここで、映像信号を出力した
ＣＣＤエリアセンサ１の画素が正常な画素である場合に
は、メモリ４から入力されている欠陥画素の位置情報と
一致することはないため、映像信号は、欠陥補正部６に
て補正を施されることなく、そのまま何の処理もされず
に、欠陥画素補正回路５から映像信号処理回路７へ出力
される。
する。ＣＣＤエリアセンサ１から出力された映像信号
は、プリプロセス回路２，Ａ／Ｄ変換回路３を介して欠
陥補正部６に入力される。ここで、映像信号を出力した
ＣＣＤエリアセンサ１の画素が正常な画素である場合に
は、メモリ４から入力されている欠陥画素の位置情報と
一致することはないため、映像信号は、欠陥補正部６に
て補正を施されることなく、そのまま何の処理もされず
に、欠陥画素補正回路５から映像信号処理回路７へ出力
される。
【００１５】一方、映像信号を出力したＣＣＤエリアセ
ンサ１の画素が欠陥画素である場合には、メモリ４から
入力されている欠陥画素の位置情報と一致するため、映
像信号は、欠陥補正部回路５にて補正が施される。
ンサ１の画素が欠陥画素である場合には、メモリ４から
入力されている欠陥画素の位置情報と一致するため、映
像信号は、欠陥補正部回路５にて補正が施される。
【００１６】図２は、カラーフィルタのＧreen／Ｂlue
行のＧreenフィルタ（以下Ｇb と略記する）に対応する
中央の画素を注目画素とした場合の、注目画素を含む５
×５画素分の範囲のカラーフィルタの配列を示したもの
である。図２に示したカラーフィルタにおいて、ＢはＢ
lue フィルタ、Ｇr はＧreen／Ｒed行のＧreenフィル
タ、ＲはＲedフィルタをそれぞれ表している。なお、こ
こで示したカラーフィルタの５×５画素分の範囲は、同
時に、中心位置にある注目画素Ｇb が欠陥画素である場
合に、その出力を補正するための信号を生成するのに用
いられる空間フィルタの範囲をも示している。以下、注
目画素Ｇb が欠陥画素という前提で説明する。
行のＧreenフィルタ（以下Ｇb と略記する）に対応する
中央の画素を注目画素とした場合の、注目画素を含む５
×５画素分の範囲のカラーフィルタの配列を示したもの
である。図２に示したカラーフィルタにおいて、ＢはＢ
lue フィルタ、Ｇr はＧreen／Ｒed行のＧreenフィル
タ、ＲはＲedフィルタをそれぞれ表している。なお、こ
こで示したカラーフィルタの５×５画素分の範囲は、同
時に、中心位置にある注目画素Ｇb が欠陥画素である場
合に、その出力を補正するための信号を生成するのに用
いられる空間フィルタの範囲をも示している。以下、注
目画素Ｇb が欠陥画素という前提で説明する。
【００１７】通常の欠陥補正においては、補正の対象と
なっている欠陥画素と同色のフィルタを用いた画素から
の信号を用いて欠陥画素のを補正信号が生成される。図
３に示した例では、欠陥画素Ｇb に、同色画素として隣
接する４つのＧr 画素の平均で補正が行われる。しか
し、欠陥画素に隣接する同色画素を用いて補正しようと
すると、前述のように、周辺の画素配列や波長等により
所望のレベルとは異なった出力になることがある。
なっている欠陥画素と同色のフィルタを用いた画素から
の信号を用いて欠陥画素のを補正信号が生成される。図
３に示した例では、欠陥画素Ｇb に、同色画素として隣
接する４つのＧr 画素の平均で補正が行われる。しか
し、欠陥画素に隣接する同色画素を用いて補正しようと
すると、前述のように、周辺の画素配列や波長等により
所望のレベルとは異なった出力になることがある。
【００１８】そこで、本実施の形態においては、図４に
示すように、隣接同色画素Ｇr の代わりに、隣接同色画
素Ｇr の更に外側に位置し、隣接同色画素Ｇr に隣接す
る、欠陥画素Ｇb とは２画素離れた同色のフィルタＧb
を用いた８つのＧb 画素の出力信号の平均で補正が行な
われるようにする。これにより、同じＧreenフィルタを
用いているにも関わらず、レベル差が発生する虞のある
隣接Ｇr 画素を用いることなく補正することができる。
以上の説明では、欠陥画素の周辺画素の平均で補正を行
うようにしたものを示したが、補正に利用する周辺画素
のうち、画素値が最も小さいものと最も大きいものを除
いたものを用いる手法であるメディアン等、周辺の画素
を選択して補正を行っても構わない。
示すように、隣接同色画素Ｇr の代わりに、隣接同色画
素Ｇr の更に外側に位置し、隣接同色画素Ｇr に隣接す
る、欠陥画素Ｇb とは２画素離れた同色のフィルタＧb
を用いた８つのＧb 画素の出力信号の平均で補正が行な
われるようにする。これにより、同じＧreenフィルタを
用いているにも関わらず、レベル差が発生する虞のある
隣接Ｇr 画素を用いることなく補正することができる。
以上の説明では、欠陥画素の周辺画素の平均で補正を行
うようにしたものを示したが、補正に利用する周辺画素
のうち、画素値が最も小さいものと最も大きいものを除
いたものを用いる手法であるメディアン等、周辺の画素
を選択して補正を行っても構わない。
【００１９】なお、図５に示すように、欠陥画素が縦方
向（画素列Ｇb ／Ｒ）に連続している場合は、注目画素
の上下方向に配列されている同色欠陥画素を補正には用
いず、隣接画素Ｇr の更に外側に位置し、隣接画素Ｇr
に隣接する、注目欠陥画素Ｇb とは２画素離れた同色フ
ィルタＧb を用いた８つのＧb 画素のうち、上記上下方
向の２つのＧb 画素を除いた６画素を用いて補正用信号
を生成する。
向（画素列Ｇb ／Ｒ）に連続している場合は、注目画素
の上下方向に配列されている同色欠陥画素を補正には用
いず、隣接画素Ｇr の更に外側に位置し、隣接画素Ｇr
に隣接する、注目欠陥画素Ｇb とは２画素離れた同色フ
ィルタＧb を用いた８つのＧb 画素のうち、上記上下方
向の２つのＧb 画素を除いた６画素を用いて補正用信号
を生成する。
【００２０】上記実施の形態では、カラーフィルタとし
てベイヤー配列のカラーフィルタを用いたものを示した
が、他の構成のカラーフィルタを用いたものにも適用す
ることができる。また、上記実施の形態では、補正対象
の注目欠陥画素から２画素離れた同色画素の信号を用い
て補正信号を生成するようにしたものを示したが、３画
素以上離れた同色画素を用いて補正信号を生成すること
も可能である。
てベイヤー配列のカラーフィルタを用いたものを示した
が、他の構成のカラーフィルタを用いたものにも適用す
ることができる。また、上記実施の形態では、補正対象
の注目欠陥画素から２画素離れた同色画素の信号を用い
て補正信号を生成するようにしたものを示したが、３画
素以上離れた同色画素を用いて補正信号を生成すること
も可能である。
【００２１】次に、本発明の第２の実施の形態について
説明する。この実施の形態は、請求項３に係る発明に対
応するものである。この実施の形態のブロック構成は、
図１に示した第１の実施の形態と同じである。本実施の
形態は、欠陥補正回路５において、先に説明した欠陥補
正回路５に備えた空間フィルタ内に含まれる同色の画素
について求められた相関方向に基づき、欠陥補正に用い
る画素を選択するようにした点に特徴があるものであ
る。
説明する。この実施の形態は、請求項３に係る発明に対
応するものである。この実施の形態のブロック構成は、
図１に示した第１の実施の形態と同じである。本実施の
形態は、欠陥補正回路５において、先に説明した欠陥補
正回路５に備えた空間フィルタ内に含まれる同色の画素
について求められた相関方向に基づき、欠陥補正に用い
る画素を選択するようにした点に特徴があるものであ
る。
【００２２】次に、本実施の形態の動作について説明す
る。まず、図６に示す空間フィルタにおいて、中心位置
にある注目画素Ｇb5が欠陥画素の場合、例えば、前述の
特願２００１−３０７３６７の開示の手法に従って、注
目欠陥画素と同色の画素について相関が最大になる方向
が求められる。そして、その方向に属する同色の周囲画
素を用いて欠陥画素の補正値が、欠陥補正回路５におい
て算出される。ここで、図６において縦方向の相関が最
大の場合は、画素Ｇb2及びＧb8を用いて補正値が算出さ
れる。また、横方向の相関が最大の場合は、画素Ｇb4及
びＧb6を用いて補正値が算出される。
る。まず、図６に示す空間フィルタにおいて、中心位置
にある注目画素Ｇb5が欠陥画素の場合、例えば、前述の
特願２００１−３０７３６７の開示の手法に従って、注
目欠陥画素と同色の画素について相関が最大になる方向
が求められる。そして、その方向に属する同色の周囲画
素を用いて欠陥画素の補正値が、欠陥補正回路５におい
て算出される。ここで、図６において縦方向の相関が最
大の場合は、画素Ｇb2及びＧb8を用いて補正値が算出さ
れる。また、横方向の相関が最大の場合は、画素Ｇb4及
びＧb6を用いて補正値が算出される。
【００２３】以上、空間フィルタ上で縦及び横の相関が
最大の場合は、隣接する同色画素が注目画素から２画素
離れており、前述のような隣接且つ同色画素において生
じるおそれのあるレベル差の問題はない。一方、斜め方
向の相関が最大の場合は、先に指摘したように、隣接且
つ同色画素間ではレベル差が発生する可能性がある。そ
こで、注目画素と隣接画素Ｇr あるいは２画素離れた隣
接画素Ｇb との間の信号レベル段差の大小関係が以下の
ようにして検査され、その結果に基づいて使用する周囲
画素が選択される。
最大の場合は、隣接する同色画素が注目画素から２画素
離れており、前述のような隣接且つ同色画素において生
じるおそれのあるレベル差の問題はない。一方、斜め方
向の相関が最大の場合は、先に指摘したように、隣接且
つ同色画素間ではレベル差が発生する可能性がある。そ
こで、注目画素と隣接画素Ｇr あるいは２画素離れた隣
接画素Ｇb との間の信号レベル段差の大小関係が以下の
ようにして検査され、その結果に基づいて使用する周囲
画素が選択される。
【００２４】まず、＋45度方向の相関が最大の場合、以
下の条件式及びを満足する場合には、注目画素Ｇb5
の補正用に同色画素Ｇb3及びＧb7が選択され、それを用
いて補正値が算出される。それ以外の場合は前記信号レ
ベル段差が小さいものと判断して、同色画素Ｇr2及びＧ
r3が選択され、それを用いて補正値が算出される。 ｜Ｇb3−Ｇb5｜＜｜Ｇr2−Ｇb5｜ ・・・・・・・ ｜Ｇb7−Ｇb5｜＜｜Ｇr3−Ｇb5｜ ・・・・・・・
下の条件式及びを満足する場合には、注目画素Ｇb5
の補正用に同色画素Ｇb3及びＧb7が選択され、それを用
いて補正値が算出される。それ以外の場合は前記信号レ
ベル段差が小さいものと判断して、同色画素Ｇr2及びＧ
r3が選択され、それを用いて補正値が算出される。 ｜Ｇb3−Ｇb5｜＜｜Ｇr2−Ｇb5｜ ・・・・・・・ ｜Ｇb7−Ｇb5｜＜｜Ｇr3−Ｇb5｜ ・・・・・・・
【００２５】一方、−45度方向の相関が最大の場合も、
考え方は基本的に先の＋45度のときと同じである。ここ
では、以下の条件式及びを満足する場合には、注目
画素Ｇb5の補正用に同色画素Ｇb1及びＧb9が選択され、
それを用いて補正値が算出される。それ以外の場合は前
記信号レベル段差が小さいものと判断され、同色画素Ｇ
r1及びＧr4が選択され、それを用いて補正値が算出され
る。 ｜Ｇb1−Ｇb5｜＜｜Ｇr1−Ｇb5｜ ・・・・・・・ ｜Ｇb9−Ｇb5｜＜｜Ｇr4−Ｇb5｜ ・・・・・・・
考え方は基本的に先の＋45度のときと同じである。ここ
では、以下の条件式及びを満足する場合には、注目
画素Ｇb5の補正用に同色画素Ｇb1及びＧb9が選択され、
それを用いて補正値が算出される。それ以外の場合は前
記信号レベル段差が小さいものと判断され、同色画素Ｇ
r1及びＧr4が選択され、それを用いて補正値が算出され
る。 ｜Ｇb1−Ｇb5｜＜｜Ｇr1−Ｇb5｜ ・・・・・・・ ｜Ｇb9−Ｇb5｜＜｜Ｇr4−Ｇb5｜ ・・・・・・・
【００２６】以上のようにして、相関の最大方向に基づ
き、注目画素と隣接画素あるいは２画素離れた隣接画素
との間のレベル差の大小関係が検査され、その検査結果
に基づいて欠陥画素の補正信号に用いる画素が選択され
るので、撮像シーンに応じて最適な欠陥補正方法が選択
される。また、撮像シーンでのレベル差が小さい場合に
は、注目する欠陥画素に対して、第１の実施の形態に比
べ、注目画素に対してより近傍の画素を用いて補正でき
るメリットがある。
き、注目画素と隣接画素あるいは２画素離れた隣接画素
との間のレベル差の大小関係が検査され、その検査結果
に基づいて欠陥画素の補正信号に用いる画素が選択され
るので、撮像シーンに応じて最適な欠陥補正方法が選択
される。また、撮像シーンでのレベル差が小さい場合に
は、注目する欠陥画素に対して、第１の実施の形態に比
べ、注目画素に対してより近傍の画素を用いて補正でき
るメリットがある。
【００２７】
【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、請求項１，２に係る発明によれば、欠陥画素の隣接
同色画素において周辺の画素配列や波長等に起因する出
力レベルの差異の発生による補正信号の精度の低下の問
題を回避でき、高品質な欠陥補正が可能となる。また、
請求項３に係る発明によれば、撮像シーンに応じて最適
な欠陥補正を実現することができる。
に、請求項１，２に係る発明によれば、欠陥画素の隣接
同色画素において周辺の画素配列や波長等に起因する出
力レベルの差異の発生による補正信号の精度の低下の問
題を回避でき、高品質な欠陥補正が可能となる。また、
請求項３に係る発明によれば、撮像シーンに応じて最適
な欠陥補正を実現することができる。
【図１】本発明に係る欠陥画素補正装置の第１の実施の
形態を示すブロック構成図である。
形態を示すブロック構成図である。
【図２】注目画素を含む５×５画素分の範囲のカラーフ
ィルタの配列を示す図である。
ィルタの配列を示す図である。
【図３】欠陥画素に隣接する同色の４つの画素の平均で
補正信号を生成する態様を示す説明図である。
補正信号を生成する態様を示す説明図である。
【図４】第１の実施の形態において欠陥画素とは２画素
離れた同色の８画素を用いて補正信号を生成する態様を
示す説明図である。
離れた同色の８画素を用いて補正信号を生成する態様を
示す説明図である。
【図５】縦方向に連続して欠陥画素が存在する場合にお
ける補正信号の生成態様を示す説明図である。
ける補正信号の生成態様を示す説明図である。
【図６】第２の実施の形態における補正信号の生成態様
を示す説明図である。
を示す説明図である。
１ ＣＣＤエリアセンサ
２ プリプロセス回路
３ Ａ／Ｄ変換回路
４ メモリ
５ 欠陥補正回路
６ 欠陥補正部
７ 信号処理回路
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｈ０４Ｎ 1/40 Ｈ０１Ｌ 27/14 Ｄ ５Ｃ０７７
5/335 Ｂ
Ｚ
Ｆターム(参考） 4M118 AA07 AB01 BA10 FA06 GC08
GC14
5B047 BA03 BB04 BC07 CB22 DA06
DB01 DC09
5B057 AA20 BA02 CA01 CA08 CA12
CA16 CB01 CB08 CB12 CB16
CC01 CE02
5C024 CX21 CX23 CX26 EX52 HX21
HX50 HX55
5C065 BB23 DD01 EE03 GG13 GG18
GG22 GG26
5C077 LL02 MM03 MP08 PP10 PQ12
PQ18 RR19 TT09
Claims (3)
- 【請求項１】 所定の色配列のカラーフィルタを受光面
上に有する固体撮像素子から成る撮像手段と、前記固体
撮像素子上における欠陥画素の位置情報を記憶する記憶
手段と、該記憶手段に記憶された欠陥画素の位置情報に
基づき、該欠陥画素の位置に対応する固体撮像素子の画
素から出力される信号を補正する補正手段とを具備し、
前記補正手段は、補正の対象となる注目欠陥画素から出
力される信号を補正する補正信号を、補正対象の注目欠
陥画素から２画素以上離れた該注目欠陥画素と同色の複
数の画素の出力信号を用いて生成するように構成されて
いることを特徴とする欠陥画素補正装置。 - 【請求項２】 前記補正対象の注目欠陥画素から２画素
以上離れた前記複数の同色画素中に欠陥画素が含まれて
いる場合は、該欠陥画素を除いた同色画素の出力信号を
用いて補正信号を生成するように構成されていることを
特徴とする請求項１記載の欠陥画素補正装置。 - 【請求項３】 所定の色配列のカラーフィルタを受光面
上に有する固体撮像素子から成る撮像手段と、前記固体
撮像素子上における欠陥画素の位置情報を記憶する記憶
手段と、該記憶手段に記憶された欠陥画素の位置情報に
基づき、該欠陥画素の位置に対応する固体撮像素子の画
素から出力される信号を補正する補正手段とを具備し、
前記補正手段は、補正対象の注目欠陥画素を含む所定領
域における該注目欠陥画素と同色の画素について該注目
画素との相関が最大となる方向を算出し、該方向におけ
る注目欠陥画素と同色の複数の補正利用画素の出力信号
を用いて補正信号を生成するようにした欠陥画素補正装
置において、前記補正手段は、前記補正利用画素として
前記注目画素に隣接する画素が存在する場合、前記注目
欠陥画素と前記隣接補正利用画素との信号レベル差と、
前記注目欠陥画素と前記隣接補正利用画素以外の補正利
用画素との信号レベル差とに基づいて、前記隣接補正利
用画素又は該隣接補正利用画素以外の補正利用画素の出
力信号を選択的に用いて補正信号を生成することを特徴
とする欠陥画素補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002059719A JP2003259381A (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | 欠陥画素補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002059719A JP2003259381A (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | 欠陥画素補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003259381A true JP2003259381A (ja) | 2003-09-12 |
Family
ID=28669297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002059719A Pending JP2003259381A (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | 欠陥画素補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003259381A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005275900A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Noritsu Koki Co Ltd | 粒子状ノイズ抑制のための画像処理方法及びプログラム及びこの方法を実施する画像処理装置 |
| JP2006148415A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | 撮像装置 |
| JP2006180099A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Eastman Kodak Co | 画素欠陥補正装置 |
| JP2006186472A (ja) * | 2004-12-27 | 2006-07-13 | Canon Inc | 画像処理装置および画像処理方法 |
| KR100915970B1 (ko) | 2007-09-10 | 2009-09-10 | 연세대학교 산학협력단 | 이미지 센서에 의해 획득된 영상의 컬러를 보정하는 방법및 장치 |
| JP2010258620A (ja) * | 2009-04-22 | 2010-11-11 | Sony Corp | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
| JP2010273282A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Nikon Corp | 画像処理装置、撮像装置及び画像処理プログラム |
| WO2018070585A1 (ko) * | 2016-10-14 | 2018-04-19 | 한화테크윈 주식회사 | 결함화소 정보 기록장치, 결함화소 보정장치 및 방법 |
-
2002
- 2002-03-06 JP JP2002059719A patent/JP2003259381A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP4695871B2 (ja) * | 2004-12-27 | 2011-06-08 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法 |
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| US10621706B2 (en) | 2016-10-14 | 2020-04-14 | Hanwha Techwin Co., Ltd. | Device for recording information about defective pixels, and defective pixel value correction device and method |
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