JP2003248320A - Photosensitive element, method for producing resist pattern using the same, method for producing printed circuit board and method for producing lead frame - Google Patents

Photosensitive element, method for producing resist pattern using the same, method for producing printed circuit board and method for producing lead frame

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JP2003248320A
JP2003248320A JP2003016995A JP2003016995A JP2003248320A JP 2003248320 A JP2003248320 A JP 2003248320A JP 2003016995 A JP2003016995 A JP 2003016995A JP 2003016995 A JP2003016995 A JP 2003016995A JP 2003248320 A JP2003248320 A JP 2003248320A
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photosensitive element
resin composition
photosensitive resin
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仁子 木村
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive element which can be laminated in a good yield and is very excellent in peeling characteristics, laminating property, shelf stability and working property and to provide a method for producing a resist pattern and a method for producing a printed circuit board or a lead frame with the resist pattern. <P>SOLUTION: In the photosensitive element consisting of a supporting film (a), a photosensitive resin composition layer (b) and a protective film (c), the layer (b) contains (A) a binder polymer having a weight average molecular weight of 20,000-200,000, (B) a photopolymerizable compound in which the concentration of polymerizable ethylenically unsaturated groups is 0.12-0.26 mol per 100 g, in total, of the components (A) and (B), and (C) a photopolymerization initiator, and the number of fish eyes of ≥80 μm diameter contained in the protective film (c) is ≤5 per 1 m<SP>2</SP>. The element is laminated on a substrate for forming a circuit in such a way that the layer (b) adheres to the substrate and exposure is carried out. The exposed part is photoset and the unexposed part is removed by development. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、感光性エレメン
ト、これを用いたレジストパターンの製造法、プリント
配線板の製造法及びリードフレームの製造法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosensitive element, a resist pattern manufacturing method using the same, a printed wiring board manufacturing method and a lead frame manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体素子の軽薄短小化、少量多
品種化傾向に伴い、ICチップをプリント基板上に搭載
するために用いられるリードフレームの多ピン化、狭小
化が急速に進んでいる。リードフレームの製造方法とし
ては、スタンピング法及び、エッチング法があるが、ス
タンピング法では小型化に伴う狭小品の製造が困難であ
り、少量多品種化に伴い金型代が高価となるため、少量
多品種化には狭小品の製造が可能で金型の不要なエッチ
ング法が有利である。エッチング法で用いられる感光性
樹脂組成物には、水溶性液状感光性樹脂組成物、溶剤含
有型液状感光性樹脂組成物、感光性エレメント等があ
る。感光性樹脂組成物に液状感光性樹脂を用いる場合、
塗工装置に莫大な投資が必要であり、塗工にかなり手間
がかかるとともに、感光性樹脂組成物及び感光性樹脂組
成物を塗工した後の使用可能期間が短く、感度が低いと
いった共通の欠点がある。さらに、水溶性感光性樹脂組
成物は、有害なクロム酸塩を含有するため、廃液処理工
程が複雑となるという問題がある。また、溶剤含有型液
状感光性樹脂組成物は、塗工中に有機溶剤を排出するた
め、人体及び環境に悪影響を与えるという問題がある。
2. Description of the Related Art In recent years, with the trend toward lighter, thinner, shorter, smaller semiconductor devices and a smaller number of products, the number of lead frames used for mounting IC chips on a printed circuit board is rapidly increasing. . There are stamping method and etching method as the lead frame manufacturing method, but it is difficult to manufacture narrow products due to miniaturization with the stamping method, and the die cost becomes expensive due to the small quantity and variety of products. An etching method that can manufacture small products and does not require a mold is advantageous for multi-product production. The photosensitive resin composition used in the etching method includes a water-soluble liquid photosensitive resin composition, a solvent-containing liquid photosensitive resin composition, a photosensitive element and the like. When using a liquid photosensitive resin in the photosensitive resin composition,
A huge investment is required for the coating device, it takes a lot of time to coat, and the photosensitive resin composition and the common usable period after coating the photosensitive resin composition are short and low in sensitivity. There are drawbacks. Further, since the water-soluble photosensitive resin composition contains a harmful chromate, there is a problem that the waste liquid treatment process becomes complicated. Further, the solvent-containing liquid photosensitive resin composition has a problem that it adversely affects the human body and the environment because it discharges the organic solvent during coating.

【0003】一方、感光性エレメントは、透明な支持フ
ィルム上に感光性樹脂組成物を塗布、乾燥し保護フィル
ムを貼り合わせたサンドイッチ構造であり、金属基板上
への感光性樹脂組成物層の形成は、保護フィルムを除去
しながら、感光性樹脂組成物層を加熱圧着することによ
り完了するため、液状感光性樹脂組成物に比較し、設備
投資が少なく、感度が高い、使用期間が長い等の特徴が
あり、金属精密加工性に優れている。また、リードフレ
ームの多ピン化、狭小化傾向に伴いリードフレームのI
Cチップ実装部位に放熱効果を向上するディンプルを形
成した製品が増加している。この製品に対し、感光性樹
脂組成物層に要求される特性は、メタルエッチング後の
剥離性が重要となる。ディンプル径の変化により、ディ
ンプル内にレジストが入り込み剥離残りとなり不良とな
る。
On the other hand, the photosensitive element has a sandwich structure in which a photosensitive resin composition is applied on a transparent support film, dried, and a protective film is attached thereto, and a photosensitive resin composition layer is formed on a metal substrate. Is completed by heating and pressure-bonding the photosensitive resin composition layer while removing the protective film, so that compared to the liquid photosensitive resin composition, less capital investment, high sensitivity, long life etc. It has features and excels in precision metal workability. In addition, the lead frame I
An increasing number of products have dimples formed on the C chip mounting portion to improve the heat dissipation effect. For this product, the releasability after metal etching is important for the characteristics required for the photosensitive resin composition layer. Due to the change in the dimple diameter, the resist enters the dimples and remains unpeeled, resulting in a defect.

【0004】一方、感光性エレメントの支持フィルムと
してはポリエチレンテレフタレートフィルム等のポリエ
ステルフィルムが用いられ、保護フィルムとしてはポリ
エチレンフィルムなどのポリオレフィンフィルムが用い
られている。また通常保護フィルムとして用いられるポ
リオレフィンフィルムは、原材料を熱溶融し、混練、押
し出し、2軸延伸、キャスティングまたはインフレーシ
ョン法によって製造される。一般的にポリオレフィンフ
ィルム等の保護フィルム中には図1に示すようなフィシ
ュアイ4と呼ばれる異物、未溶解物及び熱劣化物を含
む。フィッシュアイの大きさは一般的に直径が10μm
〜1mmで、フィルム表面から1〜50μmの高さで突き
出ている。このフィッシュアイの凸部が感光性樹脂組成
物層に凹みを生じ、ラミネート後の基板上にエアーボイ
ド6を生じる。すなわち、支持フィルム1と感光性樹脂
組成物層2とフィッシュアイ4を有する保護フィルム3
からなる感光性エレメントを、保護フィルム3を剥がし
て基板5にラミネートすると、エアーボイド6が生じ
る。このエアーボイド6は感光性樹脂組成物層2の膜厚
と相関し、感光性樹脂組成物層2の膜厚が薄いほど発生
し易く、次工程である露光、現像のレジスト像形成にお
いて、パターン欠け及び断線が発生する。この現象は、
エッチング法の場合回路パターンの欠け及び断線の原因
となり、めっき法の場合はショートの原因となる。従っ
てラミネート時にフィッシュアイ4によって凹んだ感光
性樹脂組成物層部にエアー巻き込みを防ぐために、感光
性樹脂組成物層は熱及び圧力によって流動しなければな
らない。
On the other hand, a polyester film such as a polyethylene terephthalate film is used as the supporting film of the photosensitive element, and a polyolefin film such as a polyethylene film is used as the protective film. A polyolefin film usually used as a protective film is produced by melting raw materials by heat, kneading, extruding, biaxially stretching, casting or inflation method. Generally, a protective film such as a polyolefin film contains a foreign substance called a fisheye 4, an undissolved substance and a thermally deteriorated substance as shown in FIG. The size of fish eyes is generally 10 μm in diameter.
It is ~ 1 mm and protrudes from the film surface at a height of 1-50 µm. The convex portion of the fish eye causes a depression in the photosensitive resin composition layer, and an air void 6 is generated on the substrate after lamination. That is, the protective film 3 having the support film 1, the photosensitive resin composition layer 2, and the fish eyes 4.
When the photosensitive element made of is peeled off the protective film 3 and laminated on the substrate 5, an air void 6 is generated. The air voids 6 correlate with the film thickness of the photosensitive resin composition layer 2, and are more likely to occur as the film thickness of the photosensitive resin composition layer 2 becomes thinner. In the next step of forming a resist image for exposure and development, a pattern is formed. Chips and disconnections occur. This phenomenon is
In the case of the etching method, the circuit pattern may be chipped or broken, and in the case of the plating method, it may cause a short circuit. Therefore, in order to prevent air entrapment in the photosensitive resin composition layer portion recessed by the fish eyes 4 during lamination, the photosensitive resin composition layer must flow by heat and pressure.

【0005】前記エアーボイドの対策として、保護フィ
ルムに離形性を有する表面平滑フィルムを用いることが
特公平3−12402号公報に開示されている。また、
特公昭53−31670号公報、特開昭51−6370
2号公報、特開平1−314144号公報等では、エア
ーボイド対策として、真空下でラミネートする方法が開
示されているが、この方法は、常圧ラミネート法に比較
し、装置が大きい、ラミネートするチャンバー内を真空
とするため、金属基材投入部、搬出部等の微小隙間より
異物が入り込み環境クリーン度を低下させる等の問題が
ある。
As a countermeasure against the air voids, Japanese Patent Publication No. 3-12402 discloses that a surface smoothing film having releasability is used as a protective film. Also,
JP-B-53-31670, JP-A-51-6370
No. 2, JP-A-1-314144 and the like disclose a method of laminating under a vacuum as a measure against air voids, but this method is larger in apparatus than the atmospheric pressure laminating method, and laminating is performed. Since the inside of the chamber is evacuated, there is a problem that foreign matter enters through minute gaps such as the metal base material input part and the unloading part, which lowers the environmental cleanliness.

【0006】[0006]

【特許文献1】特公平3−12402号公報[Patent Document 1] Japanese Patent Publication No. 3-12402

【0007】[0007]

【特許文献2】特公昭53−31670号公報[Patent Document 2] Japanese Patent Publication No. 53-31670

【0008】[0008]

【特許文献3】特開昭51−63702号公報[Patent Document 3] JP-A-51-63702

【0009】[0009]

【特許文献4】特開平1−314144号公報[Patent Document 4] Japanese Patent Laid-Open No. 1-314144

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、エアーボイ
ドの発生数が低減するため歩留り良く積層することがで
き、かつ剥離特性、ラミネート性、保存安定性及び作業
性が極めて優れる感光性エレメントを提供するものであ
る。別の本発明は、リードフレームやBGAの多ピン
化、狭小化及びこれらの半導体パッケージを搭載するプ
リント配線の高密度化に極めて有用な、エアーボイドの
発生数が低減するため歩留り良く積層することができ、
かつ剥離特性、ラミネート性、保存安定性及び作業性が
優れたレジストパターンの製造法を提供するものであ
る。さらに別の本発明は、リードフレームやBGAの多
ピン化、狭小化及びこれらの半導体パッケージを搭載す
るプリント配線の高密度化に極めて有用な、エアーボイ
ドの発生数が低減するため歩留り良く積層することがで
き、かつ剥離特性、ラミネート性、保存安定性及び作業
性が優れたレジストパターンを有するプリント配線板又
はリードフレームの製造法を提供するものである。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention provides a photosensitive element which can be laminated with high yield because the number of air voids is reduced and which is extremely excellent in peeling property, laminating property, storage stability and workability. It is provided. Another aspect of the present invention is that the number of air voids is reduced, which is extremely useful for increasing the number of pins in a lead frame or BGA, making them narrower, and increasing the density of printed wiring on which these semiconductor packages are mounted. Can
The present invention also provides a method for producing a resist pattern having excellent peeling properties, laminating properties, storage stability and workability. Still another embodiment of the present invention is extremely useful for increasing the number of pins in a lead frame or BGA, narrowing the size, and increasing the density of printed wiring on which these semiconductor packages are mounted. Since the number of air voids generated is reduced, they are stacked with high yield. It is intended to provide a method for producing a printed wiring board or a lead frame having a resist pattern which is capable of achieving excellent release characteristics, laminating properties, storage stability and workability.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、支持フィルム
(a)、感光性樹脂組成物層(b)及び保護フィルム
(c)から成る感光性エレメントにおいて、感光性樹脂
組成物層(b)が、(A)バインダーポリマー、(B)
重合可能なエチレン性不飽和基の濃度が、(A)成分及
び(B)成分の総量100gに対して、0.12〜0.
26モルである光重合性化合物並びに(C)光重合開始
剤を含有してなり、かつ、保護フィルム(c)中に含ま
れる直径80μm以上のフィッシュアイの個数が、5個
/m2以下である感光性エレメントに関する。別の本発
明は、上記本発明に係る感光性エレメントを、回路形成
用基板上に感光性樹脂組成物層が密着するようにして積
層し、活性光線を画像状に照射し、露光部を光硬化さ
せ、未露光部を現像により除去することを特徴とするレ
ジストパターンの製造法に関する。さらに別の本発明
は、上記本発明に係るレジストパターンの製造法により
レジストパターンの製造された回路形成用基板をエッチ
ング若しくはめっきすることを特徴とするプリント配線
板又はリードフレームの製造法に関する。
The present invention provides a photosensitive element comprising a support film (a), a photosensitive resin composition layer (b) and a protective film (c), which is a photosensitive resin composition layer (b). , (A) binder polymer, (B)
The concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group is 0.12 to 0. 0, based on 100 g of the total amount of the components (A) and (B).
When the number of fish eyes having a diameter of 80 μm or more contained in the protective film (c) is 5 / m 2 or less, the number of fish eyes is 26 mol, and the photopolymerizable compound (C) is contained in the protective film (c). One photosensitive element. Another aspect of the present invention is to laminate the photosensitive element according to the present invention on a circuit-forming substrate so that the photosensitive resin composition layer is in intimate contact, irradiate actinic rays imagewise, and expose the exposed portion to light. The present invention relates to a method for producing a resist pattern, which comprises curing and removing an unexposed portion by development. Still another aspect of the present invention relates to a method for producing a printed wiring board or a lead frame, which comprises etching or plating a circuit forming substrate having a resist pattern produced by the method for producing a resist pattern according to the present invention.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明における支持フィルム
(a)としては、例えば、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリエステル等の
耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムが挙げら
れ、透明性の見地からは、ポリエチレンテレフタレート
フィルムを用いることが好ましい。また、入手可能なも
のとしては、例えば、帝人(株)製テトロンフィルムGS
シリーズ、デュポン社製マイラーフィルムDシリーズ等
のポリエステルフィルム等が挙げられる。支持フィルム
の膜厚は、1〜100μmであることが好ましく、12
〜25μmであることがより好ましい。この膜厚が1μ
m未満では機械的強度が低下するため、塗工時の支持フ
ィルムが破れるなどの問題が発生する傾向があり、10
0μmを超えると解像度の低下及び価格が高くなる傾向
がある。これらの支持フィルムは、後に感光性樹脂組成
物層から除去可能でなくてはならないため、除去が不可
能となるような表面処理が施されたものであったり、材
質であったりしてはならない。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The supporting film (a) in the present invention includes, for example, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyethylene terephthalate, polypropylene, polyethylene, polyester, etc., and from the viewpoint of transparency. It is preferable to use a polyethylene terephthalate film. Moreover, what is available is, for example, Tetron film GS manufactured by Teijin Ltd.
Examples thereof include polyester films such as the series and Mylar film D series manufactured by DuPont. The thickness of the support film is preferably 1 to 100 μm, and 12
More preferably, it is -25 μm. This film thickness is 1μ
If it is less than m, the mechanical strength tends to be low, so that problems such as tearing of the supporting film during coating tend to occur, and 10
If it exceeds 0 μm, the resolution tends to decrease and the cost tends to increase. Since these support films must be removable from the photosensitive resin composition layer later, they must not be surface-treated or made of a material that makes them impossible to remove. .

【0013】本発明における感光性樹脂組成物層(b)
の感光性樹脂組成物は、(A)バインダーポリマー、
(B)重合可能なエチレン性不飽和基の濃度が、(A)
成分及び(B)成分の総量100gに対して、0.12
〜0.26モルである光重合性化合物並びに(C)光重
合開始剤を含有してなる。
Photosensitive resin composition layer (b) in the present invention
The photosensitive resin composition of (A) is a binder polymer,
(B) The concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group is (A)
0.12 per 100 g of the total amount of the component and the component (B)
To 0.26 mol of the photopolymerizable compound and (C) the photopolymerization initiator.

【0014】上記(A)バインダーポリマーとしては、
例えば、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、エポキシ系
樹脂、アミド系樹脂、アミドエポキシ系樹脂、アルキド
系樹脂、フェノール系樹脂等が挙げられる。アルカリ現
像性の見地からは、アクリル系樹脂が好ましい。これら
は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができ
る。
As the above-mentioned (A) binder polymer,
Examples thereof include acrylic resin, styrene resin, epoxy resin, amide resin, amide epoxy resin, alkyd resin, and phenol resin. From the viewpoint of alkali developability, acrylic resins are preferred. These may be used alone or in combination of two or more.

【0015】また、上記(A)バインダーポリマーは、
例えば、重合性単量体をラジカル重合させることにより
製造することができる。上記重合性単量体としては、例
えば、スチレン、ビニルトルエン、α−メチルスチレン
等のα−位若しくは芳香族環において置換されている重
合可能なスチレン誘導体、ジアセトンアクリルアミド等
のアクリルアミド、アクリロニトリル、ビニル−n−ブ
チルエーテル等のビニルアルコールのエステル類、アク
リル酸アルキルエステル、メタクリル酸アルキルエステ
ル、アクリル酸テトラヒドロフルフリルエステル、メタ
クリル酸テトラヒドロフルフリルエステル、アクリル酸
ジメチルアミノエチルエステル、メタクリル酸ジメチル
アミノエチルエステル、アクリル酸ジエチルアミノエチ
ルエステル、メタクリル酸ジエチルアミノエチルエステ
ル、アクリル酸グリシジルエステル、メタクリル酸グリ
シジルエステル、2,2,2−トリフルオロエチルアク
リレート、2,2,2−トリフルオロエチルメタクリレ
ート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピルアクリ
レート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピルメタ
クリレート、アクリル酸、メタクリル酸、α−ブロモア
クリル酸、α−クロルアクリル酸、β−フリルアクリル
酸、β−スチリルアクリル酸、マレイン酸、マレイン酸
無水物、マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチ
ル、マレイン酸モノイソプロピル等のマレイン酸モノエ
ステル、フマール酸、ケイ皮酸、α−シアノケイ皮酸、
イタコン酸、クロトン酸、プロピオール酸などが挙げら
れる。
The (A) binder polymer is
For example, it can be produced by radically polymerizing a polymerizable monomer. Examples of the polymerizable monomer include styrene, vinyltoluene, a polymerizable styrene derivative substituted at the α-position or an aromatic ring such as α-methylstyrene, acrylamide such as diacetone acrylamide, acrylonitrile, and vinyl. -N-butyl ether and other vinyl alcohol esters, acrylic acid alkyl esters, methacrylic acid alkyl esters, acrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, methacrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, acrylic acid dimethylaminoethyl ester, methacrylic acid dimethylaminoethyl ester, Acrylic acid diethylaminoethyl ester, methacrylic acid diethylaminoethyl ester, acrylic acid glycidyl ester, methacrylic acid glycidyl ester, 2,2,2-trifluoro Ethyl acrylate, 2,2,2-trifluoroethyl methacrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl methacrylate, acrylic acid, methacrylic acid, α-bromoacryl Acid, α-chloroacrylic acid, β-furylacrylic acid, β-styrylacrylic acid, maleic acid, maleic anhydride, monomethyl maleate, monoethyl maleate, maleic acid monoesters such as monoisopropyl maleate, fumaric acid, Cinnamic acid, α-cyanocinnamic acid,
Examples thereof include itaconic acid, crotonic acid, and propiolic acid.

【0016】上記アクリル酸アルキルエステル又はメタ
クリル酸アルキルエステルとしては、例えば、一般式
(I)
The above-mentioned acrylic acid alkyl ester or methacrylic acid alkyl ester is, for example, one represented by the general formula (I)

【化1】 (式中、R1は水素原子又はメチル基を示し、R2は炭素
数1〜12のアルキル基を示す)で表される化合物、こ
れらの化合物のアルキル基に水酸基、エポキシ基、ハロ
ゲン基等が置換した化合物などが挙げられる。上記一般
式(I)中のR2で示される炭素数1〜12のアルキル
基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル
基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、
オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデ
シル基及びこれらの構造異性体が挙げられる。
[Chemical 1] (In the formula, R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 2 represents an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms), the alkyl group of these compounds has a hydroxyl group, an epoxy group, a halogen group, etc. And the like. Examples of the alkyl group having 1 to 12 carbon atoms represented by R 2 in the general formula (I) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group,
Examples include octyl group, nonyl group, decyl group, undecyl group, dodecyl group and structural isomers thereof.

【0017】上記一般式(I)で表される単量体として
は、例えば、アクリル酸メチルエステル、アクリル酸エ
チルエステル、アクリル酸プロピルエステル、アクリル
酸ブチルエステル、アクリル酸ペンチルエステル、アク
リル酸ヘキシルエステル、アクリル酸ヘプチルエステ
ル、アクリル酸オクチルエステル、アクリル酸2−エチ
ルヘキシルエステル、アクリル酸ノニルエステル、アク
リル酸デシルエステル、アクリル酸ウンデシルエステ
ル、アクリル酸ドデシルエステル、メタクリル酸メチル
エステル、メタクリル酸エチルエステル、メタクリル酸
プロピルエステル、メタクリル酸ブチルエステル、メタ
クリル酸ペンチルエステル、メタクリル酸ヘキシルエス
テル、メタクリル酸ヘプチルエステル、メタクリル酸オ
クチルエステル、メタクリル酸2−エチルヘキシルエス
テル、メタクリル酸ノニルエステル、メタクリル酸デシ
ルエステル、メタクリル酸ウンデシルエステル、メタク
リル酸ドデシルエステル等が挙げられる。これらは単独
で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
Examples of the monomer represented by the above general formula (I) include acrylic acid methyl ester, acrylic acid ethyl ester, acrylic acid propyl ester, acrylic acid butyl ester, acrylic acid pentyl ester, and acrylic acid hexyl ester. , Acrylic acid heptyl ester, acrylic acid octyl ester, acrylic acid 2-ethylhexyl ester, acrylic acid nonyl ester, acrylic acid decyl ester, acrylic acid undecyl ester, acrylic acid dodecyl ester, methacrylic acid methyl ester, methacrylic acid ethyl ester, methacrylic acid Acid propyl ester, methacrylic acid butyl ester, methacrylic acid pentyl ester, methacrylic acid hexyl ester, methacrylic acid heptyl ester, methacrylic acid octyl ester, meta Acrylic acid 2-ethylhexyl ester, methacrylic acid nonyl ester, decyl methacrylate esters, methacrylic acid undecyl ester, and methacrylic acid dodecyl ester. These may be used alone or in combination of two or more.

【0018】また、前記(A)バインダーポリマーは、
アルカリ現像性の見地から、カルボキシル基を含有させ
ることが好ましく、例えば、カルボキシル基を有する重
合性単量体とその他の重合性単量体をラジカル重合させ
ることにより製造することができる。前記(A)バイン
ダーポリマーにカルボキシル基を含有させる場合、アル
カリ現像性及びアルカリ耐性の見地から、アクリル酸又
はメタクリル酸を12〜40重量%含有させることが好
ましく、15〜25重量%含有させることがより好まし
い。この含有量が12重量%未満ではアルカリ現像性が
劣る傾向があり、40重量%を超えるとアルカリ耐性が
劣る傾向がある。また、前記(A)バインダーポリマー
は、可とう性の見地からスチレン又はスチレン誘導体を
重合性単量体として含有させることが好ましい。これら
のバインダーポリマーは、単独で又は2種類以上を組み
合わせて使用される。
Further, the (A) binder polymer is
From the viewpoint of alkali developability, it is preferable to contain a carboxyl group, and for example, it can be produced by radical polymerization of a polymerizable monomer having a carboxyl group and another polymerizable monomer. When the binder polymer (A) contains a carboxyl group, acrylic acid or methacrylic acid is preferably contained in an amount of 12 to 40% by weight, and preferably 15 to 25% by weight, from the viewpoint of alkali developability and alkali resistance. More preferable. If the content is less than 12% by weight, the alkali developability tends to be poor, and if it exceeds 40% by weight, the alkali resistance tends to be poor. In addition, it is preferable that the binder polymer (A) contains styrene or a styrene derivative as a polymerizable monomer from the viewpoint of flexibility. These binder polymers are used alone or in combination of two or more.

【0019】また、本発明における(A)成分のポリマ
ーは、重量平均分子量が20,000〜200,000
であることが好ましく、40,000〜120,000
であることがより好ましい。この重量平均分子量が2
0,000未満では、耐現像液性及び膜強度が低下する
傾向があり、200,000を超えると解像度が低下す
る傾向がある。なお、重量平均分子量は、ゲルパーミエ
ーションクロマトグラフィー法により測定され、標準ポ
リスチレンを用いて作成した検量線により換算されたも
のである。また、前記(A)バインダポリマーの酸価
は、80〜300mgKOH/gであることが好ましく、10
0〜200mgKOH/gであることがより好ましい。この酸
価が80未満では現像性が悪化する傾向があり、300
を超えると耐薬品性が悪化する傾向がある。
The polymer of the component (A) in the present invention has a weight average molecular weight of 20,000 to 200,000.
Is preferred and 40,000 to 120,000
Is more preferable. This weight average molecular weight is 2
If it is less than 10,000, the developing solution resistance and film strength tend to decrease, and if it exceeds 200,000, the resolution tends to decrease. The weight average molecular weight is measured by a gel permeation chromatography method and converted by a calibration curve prepared using standard polystyrene. The acid value of the (A) binder polymer is preferably 80 to 300 mgKOH / g.
More preferably, it is 0 to 200 mgKOH / g. If the acid value is less than 80, the developability tends to deteriorate, and
If it exceeds, the chemical resistance tends to deteriorate.

【0020】前記(B)光重合性化合物の重合可能なエ
チレン性不飽和基の濃度は、(A)成分及び(B)成分
の総量100gに対して、0.12〜0.26モルであ
ることが必要であり、0.14〜0.25モルであるこ
とがより好ましく、0.18〜0.23モルであること
が特に好ましい。この濃度が0.12モル未満では、メ
タルエッチング時に微小径(直径50〜300μm)の
貫通穴又は、ハーフエッチング部の作成を必要とする製
品に対し、除去することが容易でない剥離残りが発生
し、0.26モルを超えると、剥離時間が長くなり剥離
残り又は剥離不可となり、製造時間及び製造装置に多大
な影響を及ぼす。なお、重合可能なエチレン性不飽和基
の濃度は、下記の関係式(1)から算出できる。
The concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group in the photopolymerizable compound (B) is 0.12 to 0.26 mol based on 100 g of the total amount of the components (A) and (B). It is necessary that it is 0.14 to 0.25 mol, more preferably 0.18 to 0.23 mol. If this concentration is less than 0.12 mol, a peeling residue that is not easy to remove occurs in a product that requires creation of a through hole having a small diameter (diameter of 50 to 300 μm) or a half-etched portion during metal etching. When it exceeds 0.26 mol, the peeling time becomes long and the peeling remains or becomes impossible to peel, which has a great influence on the manufacturing time and the manufacturing apparatus. The concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group can be calculated from the following relational expression (1).

【0021】[0021]

【数1】 [Equation 1]

【0022】前記(B)光重合性化合物としては、例え
ば、多価アルコール、多価アルコールにα,β−不飽和
カルボン酸を反応させて得られる化合物、2,2−ビス
(4−(アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(4−(メタクリロキシポリエトキ
シ)フェニル)プロパン、グリシジル基含有化合物に
α、β−不飽和カルボン酸を反応させで得られる化合
物、ウレタンモノマー、ノニルフェニルジオキシレンア
クリレート、ノニルフェニルジオキシレンメタクリレー
ト、γ−クロロ−β−ヒドロキシプロピル−β′−アク
リロイルオキシエチル−o−フタレート、γ−クロロ−
β−ヒドロキシプロピル−β′−メタクリロイルオキシ
エチル−o−フタレート、β−ヒドロキシエチル−β′
−アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒ
ドロキシエチル−β′−メタクリロイルオキシエチル−
o−フタレート、β−ヒドロキシプロピル−β′−アク
リロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒドロキ
シプロピル−β′−メタクリロイルオキシエチル−o−
フタレート、アクリル酸アルキルエステル、メタクリル
酸アルキルエステル等が挙げられる。
Examples of the photopolymerizable compound (B) include polyhydric alcohols, compounds obtained by reacting polyhydric alcohols with α, β-unsaturated carboxylic acids, and 2,2-bis (4- (acryl). Roxypolyethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- (methacryloxypolyethoxy) phenyl) propane, a compound obtained by reacting a glycidyl group-containing compound with an α, β-unsaturated carboxylic acid, a urethane monomer, Nonylphenyl dioxylene acrylate, nonyl phenyl dioxylene methacrylate, γ-chloro-β-hydroxypropyl-β′-acryloyloxyethyl-o-phthalate, γ-chloro-
β-hydroxypropyl-β′-methacryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyethyl-β ′
-Acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyethyl-β'-methacryloyloxyethyl-
o-phthalate, β-hydroxypropyl-β′-acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxypropyl-β′-methacryloyloxyethyl-o-
Examples thereof include phthalate, acrylic acid alkyl ester, and methacrylic acid alkyl ester.

【0023】上記多価アルコールにα,β−不飽和カル
ボン酸を反応させて得られる化合物としては、例えば、
エチレン基の数が2〜14であるポリエチレングリコー
ルジアクリレート、エチレン基の数が2〜14であるポ
リエチレングリコールジメタクリレート、プロピレン基
の数が2〜14であるポリプロピレングリコールジアク
リレート、プロピレン基の数が2〜14であるポリプロ
ピレングリコールジメタクリレート、トリメチロールプ
ロパンジアクリレート、トリメチロールプロパンジメタ
クリレート、トリメチロールプロパントリアクリレー
ト、トリメチロールプロパントリメタクリレート、トリ
メチロールプロパンエトキシトリアクリレート、トリメ
チロールプロパンエトキシトリメタクリレート、トリメ
チロールプロパンジエトキシトリアクリレート、トリメ
チロールプロパンジエトキシトリメタクリレート、トリ
メチロールプロパントリエトキシトリアクリレート、ト
リメチロールプロパントリエトキシトリメタクリレー
ト、トリメチロールプロパンテトラエトキシトリアクリ
レート、トリメチロールプロパンテトラエトキシトリメ
タクリレート、トリメチロールプロパンペンタエトキシ
トリアクリレート、トリメチロールプロパンペンタエト
キシトリメタクリレート、テトラメチロールメタントリ
アクリレート、テトラメチロールメタントリメタクリレ
ート、テトラメチロールメタンテトラアクリレート、テ
トラメチロールメタンテトラメタクリレート、プロピレ
ン基の数が2〜14であるポリプロピレングリコールジ
アクリレート、プロピレン基の数が2〜14であるポリ
プロピレングリコールジメタクリレート、ジペンタエリ
スリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトー
ルペンタメタクリレート、ジペンタエリスリトールヘキ
サアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサメタク
リレート等が挙げられる。
Examples of the compound obtained by reacting the above polyhydric alcohol with α, β-unsaturated carboxylic acid include:
Polyethylene glycol diacrylate having 2 to 14 ethylene groups, polyethylene glycol dimethacrylate having 2 to 14 ethylene groups, polypropylene glycol diacrylate having 2 to 14 propylene groups, and propylene groups 2 to 14 polypropylene glycol dimethacrylate, trimethylolpropane diacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, trimethylolpropane triacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, trimethylolpropane ethoxytriacrylate, trimethylolpropane ethoxytrimethacrylate, trimethylol Propane diethoxy triacrylate, trimethylol propane diethoxy trimethacrylate, trimethylol propane Reethoxytriacrylate, trimethylolpropane triethoxytrimethacrylate, trimethylolpropane tetraethoxytriacrylate, trimethylolpropane tetraethoxytrimethacrylate, trimethylolpropane pentaethoxytriacrylate, trimethylolpropane pentaethoxytrimethacrylate, tetramethylolmethanetriacrylate , Tetramethylol methane trimethacrylate, tetramethylol methane tetraacrylate, tetramethylol methane tetramethacrylate, polypropylene glycol diacrylate having 2 to 14 propylene groups, polypropylene glycol dimethacrylate having 2 to 14 propylene groups, di Pentaerythritol pentaacrylate, dipen Dipentaerythritol dimethacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, dipentaerythritol hexa methacrylate.

【0024】上記α,β−不飽和カルボン酸としては、
例えば、アクリル酸及びメタクリル酸が拳げられる。上
記2,2−ビス(4−(アクリロキシポリエトキシ)フ
ェニル)プロパンとしては、例えば、2,2−ビス(4
−(アクリロキシジエトキシ)フェニル)プロパン、
2,2−ビス(4−(アクリロキシトリエトキシ)フェ
ニル)プロパン、2,2−ビス(4−(アクリロキシペ
ンタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4
−(アクリロキシデカエトキシ)フェニル)等が挙げら
れる。上記2,2−ビス(4−(メタクリロキシポリエ
トキシ)フェニル)プロパンとしては、例えば、2,2
−ビス(4−(メタクリロキシジエトキシ)フェニル)
プロパン、2,2−ビス(4−(メタクリロキシトリエ
トキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(メ
タクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパン、
2,2−ビス(4−(メタクリロキシデカエトキシ)フ
ェニル)プロパン等が挙げられ、2,2−ビス(4−
(メタクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパン
は、BPE−500(新中村化学工業(株)製、製品名)
として商業的に入手可能である。
As the above α, β-unsaturated carboxylic acid,
For example, acrylic acid and methacrylic acid can be used. Examples of 2,2-bis (4- (acryloxypolyethoxy) phenyl) propane include 2,2-bis (4
-(Acryloxydiethoxy) phenyl) propane,
2,2-bis (4- (acryloxytriethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- (acryloxypentaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4
-(Acryloxydecaethoxy) phenyl) and the like. Examples of the 2,2-bis (4- (methacryloxypolyethoxy) phenyl) propane include 2,2
-Bis (4- (methacryloxydiethoxy) phenyl)
Propane, 2,2-bis (4- (methacryloxytriethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane,
2,2-bis (4- (methacryloxydecaethoxy) phenyl) propane and the like, and 2,2-bis (4-
(Methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane is BPE-500 (product name, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.)
Is commercially available as.

【0025】上記グリシジル基含有化合物としては、例
えば、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル
トリアクリレート、トリメチロールプロパントリグリシ
ジルエーテルトリメタクリレート、2,2−ビス(4−
アクリロキシ−2−ヒドロキシ−プロピルオキシ)フェ
ニル、2,2−ビス(4−メタクリロキシ−2−ヒドロ
キシ−プロピルオキシ)フェニル等が拳げられる。上記
ウレタンモノマーとしては、例えば、β位にOH基を有
するアクリルモノマー又はそれに対応するメタクリルモ
ノマーとイソホロンジイソシアネート、2,6−トルエ
ンジイソシアネート、2,4−トルエンジイソシアネー
ト、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネート等との付
加反応物、トリス(メタクリロキシテトラエチレングリ
コールイソシアネート)ヘキサメチレンイソシアヌレー
ト、EO変性ウレタンジメタクリレート、EO,PO変
性ウレタンジメタクリレート等が挙げられる。なお、E
Oはエチレンオキサイドを示し、EO変性された化合物
はエチレンオキサイド基のブロック構造を有する。ま
た、POはプロピレンオキサイドを示し、PO変性され
た化合物はプロピレンオキサイド基のブロック構造を有
する。
Examples of the glycidyl group-containing compound include trimethylolpropane triglycidyl ether triacrylate, trimethylolpropane triglycidyl ether trimethacrylate, and 2,2-bis (4-).
Acryloxy-2-hydroxy-propyloxy) phenyl, 2,2-bis (4-methacryloxy-2-hydroxy-propyloxy) phenyl and the like can be used. Examples of the urethane monomer include an acrylic monomer having an OH group at the β-position or a corresponding methacrylic monomer and isophorone diisocyanate, 2,6-toluene diisocyanate, 2,4-toluene diisocyanate, and 1,6-hexamethylene diisocyanate. Addition reaction product, tris (methacryloxytetraethylene glycol isocyanate) hexamethylene isocyanurate, EO-modified urethane dimethacrylate, EO, PO-modified urethane dimethacrylate, and the like. In addition, E
O represents ethylene oxide, and the EO-modified compound has an ethylene oxide group block structure. Further, PO represents propylene oxide, and the PO-modified compound has a block structure of propylene oxide group.

【0026】上記アクリル酸アルキルエステルとして
は、例えば、アクリル酸メチルエステル、アクリル酸エ
チルエステル、アクリル酸ブチルエステル、アクリル酸
2−エチルヘキシルエステル等が挙げられる。上記メタ
クリル酸アルキルエステルとしては、例えば、メタクリ
ル酸メチルエステル、メタクリル酸エチルエステル、メ
タクリル酸ブチルエステル、メタクリル酸2−エチルヘ
キシルエステル等が挙げられる。これらは単独で又は2
種類以上を組み合わせて使用される。
Examples of the acrylic acid alkyl ester include acrylic acid methyl ester, acrylic acid ethyl ester, acrylic acid butyl ester, acrylic acid 2-ethylhexyl ester and the like. Examples of the methacrylic acid alkyl ester include methacrylic acid methyl ester, methacrylic acid ethyl ester, methacrylic acid butyl ester, and methacrylic acid 2-ethylhexyl ester. These alone or 2
Used in combination with more than one type.

【0027】前記(C)光重合開始剤としては、例え
ば、ベンゾフェノン、N,N′−テトラメチル−4,
4′−ジアミノベンゾフェノン(ミヒラーケトン)、
N,N′−テトラエチル−4,4′−ジアミノベンゾフ
ェノン、4−メトキシ−4′−ジメチルアミノベンゾフ
ェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4
−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、2−メチル−
1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリ
ノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン、2−エチルアン
トラキノン、フェナントレンキノン、2−tert−ブ
チルアントラキノン、オクタメチルアントラキノン、
1,2−ベンズアントラキノン、2,3−ベンズアント
ラキノン、2−フェニルアントラキノン、2,3−ジフ
ェニルアントラキノン、1−クロロアントラキノン、2
−メチルアントラキノン、1,4−ナフトキノン、9,
10−フェナンタラキノン、2−メチル1,4−ナフト
キノン、2,3−ジメチルアントラキノン等のキノン
類、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエー
テル、ベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエー
テル化合物、ベンゾイン、メチルベンゾイン、エチルベ
ンゾイン等のベンゾイン化合物、ベンジルジメチルケタ
ール等のベンジル誘導体、2−(o−クロロフェニル)
−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−
クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イ
ミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−
4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メ
トキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二
量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェ
ニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリール
イミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミ
ダゾール二量体、9−フェニルアクリジン、1,7−ビ
ス(9,9′−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン
誘導体、N−フェニルグリシン、クマリン系化合物など
が挙げられる。
Examples of the photopolymerization initiator (C) include benzophenone, N, N'-tetramethyl-4,
4'-diaminobenzophenone (Michler's ketone),
N, N'-tetraethyl-4,4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4
-Morpholinophenyl) -butanone-1,2-methyl-
Aromatic ketones such as 1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propanone-1, 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone, 2-tert-butylanthraquinone, octamethylanthraquinone,
1,2-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone, 2,3-diphenylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2
-Methylanthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,
Quinones such as 10-phenantharaquinone, 2-methyl 1,4-naphthoquinone and 2,3-dimethylanthraquinone, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin phenyl ether and other benzoin ether compounds, benzoin, methylbenzoin, ethylbenzoin Benzoin compounds such as benzyl dimethyl ketal, benzyl derivatives such as 2- (o-chlorophenyl)
-4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-
Chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl)-
2,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, etc. 2,4,5-triarylimidazole dimers such as 4,4,5-triarylimidazole dimers, acridine derivatives such as 9-phenylacridine and 1,7-bis (9,9′-acridinyl) heptane, Examples include N-phenylglycine and coumarin compounds.

【0028】また、ジエチルチオキサントンとジメチル
アミノ安息香酸の組み合わせのように、チオキサントン
系化合物と3級アミン化合物とを組み合わせてもよい。
また、密着性及び感度の見地からは、2,4,5−トリ
アリールイミダゾール二量体がより好ましい。これら
は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。
Also, a thioxanthone compound and a tertiary amine compound may be combined, such as a combination of diethylthioxanthone and dimethylaminobenzoic acid.
From the viewpoint of adhesion and sensitivity, 2,4,5-triarylimidazole dimer is more preferable. These are used alone or in combination of two or more.

【0029】前記(A)成分の配合量は、(A)成分及
び(B)成分の総量100重量部に対して、40〜80
重量部とすることが好ましく、50〜70重量部である
ことがより好ましい。この配合量が40重量部未満で
は、光硬化物が脆くなり易く、塗膜性に劣る傾向があ
り、80重量部を超えると、感度が不十分となる傾向が
ある。
The blending amount of the component (A) is 40-80 with respect to 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B).
The amount is preferably 50 parts by weight, and more preferably 50 to 70 parts by weight. If the amount is less than 40 parts by weight, the photocured product tends to be brittle and the coating property tends to be poor, and if it exceeds 80 parts by weight, the sensitivity tends to be insufficient.

【0030】前記(B)成分の配合量は、(A)成分及
び(B)成分の総量100重量部に対して、20〜60
重量部とすることが好ましく、30〜50重量部とする
ことがより好ましい。この配合量が20重量部未満で
は、感度が不十分となる傾向があり、60重量部を超え
ると、光硬化物が脆くなる傾向がある。
The blending amount of the component (B) is 20 to 60 based on 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B).
It is preferable to set it as a weight part, and it is more preferable to set it as 30 to 50 weight parts. If this amount is less than 20 parts by weight, the sensitivity tends to be insufficient, and if it exceeds 60 parts by weight, the photocured product tends to become brittle.

【0031】前記(C)成分の配合量は、(A)成分及
び(B)成分の総量100重量部に対して、0.1〜2
0重量部とすることが好ましく、0.2〜10重量部と
することがより好ましい。この配合量が0.1重量部未
満では、感度が不十分となる傾向があり、20重量部を
超えると、露光の際に組成物の表面での吸収が増大して
内部の光硬化が不十分となる傾向がある。
The blending amount of the component (C) is 0.1 to 2 with respect to 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B).
The amount is preferably 0 part by weight, more preferably 0.2 to 10 parts by weight. If the blending amount is less than 0.1 parts by weight, the sensitivity tends to be insufficient, and if it exceeds 20 parts by weight, the absorption on the surface of the composition is increased during the exposure and the internal photocuring is unsuccessful. Tends to be enough.

【0032】また、本発明における感光性樹脂組成物に
は、必要に応じて、マラカイトグリーン等の染料、トリ
ブロモフェニルスルホン、ロイコクリスタルバイオレッ
ト等の光発色剤、熱発色防止剤、p−トルエンスルホン
アミド等の可塑剤、顔料、充填剤、消泡剤、難燃剤、安
定剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化
防止剤、香料、イメージング剤、熱架橋剤などを(A)
成分及び(C)成分の総量100重量部に対して各々
0.01〜20重量部程度含有することができる。これ
らは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用され
る。
In the photosensitive resin composition of the present invention, if necessary, a dye such as malachite green, a photocoloring agent such as tribromophenyl sulfone or leuco crystal violet, a thermal color-preventing agent, and p-toluene sulfone. (A) plasticizers such as amides, pigments, fillers, defoamers, flame retardants, stabilizers, adhesion promoters, leveling agents, peeling accelerators, antioxidants, fragrances, imaging agents, thermal crosslinking agents, etc.
Each of the component and the component (C) may be contained in an amount of about 0.01 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight. These are used alone or in combination of two or more.

【0033】本発明における感光性樹脂組成物は、必要
に応じて、メタノール、エタノール、アセトン、メチル
エチルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、
トルエン、N,N−ジメチルホルムアミド等の溶剤又は
これらの混合溶剤に溶解して固形分30〜60重量%程
度の溶液として塗布することができる。
The photosensitive resin composition of the present invention contains, if necessary, methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve,
It can be dissolved in a solvent such as toluene or N, N-dimethylformamide or a mixed solvent thereof to be applied as a solution having a solid content of about 30 to 60% by weight.

【0034】本発明の感光性樹脂組成物は、特に制限は
ないが、金属面、例えば、銅、銅系合金、ニッケル、ク
ロム、鉄、ステンレス等の鉄系合金、好ましくは銅、銅
系合金、鉄系合金の表面上に、液状レジストとして塗布
して乾燥後、必要に応じて保護フィルムを被覆して用い
るか、感光性エレメントの形態で用いられることが好ま
しい。
The photosensitive resin composition of the present invention is not particularly limited, but metal surfaces such as copper, copper-based alloys, iron-based alloys such as nickel, chromium, iron and stainless steel, preferably copper and copper-based alloys. It is preferable that the composition is applied as a liquid resist on the surface of the iron-based alloy, dried, and then coated with a protective film if necessary, or used in the form of a photosensitive element.

【0035】感光性樹脂組成物層(b)の厚みは、1〜
50μmであることが好ましく、5〜30μmであるこ
とがより好ましく、10〜25μmであることがより好
ましい。この厚みが1μm未満では追従性が低下し、欠
け、断線が発生する傾向があり、50μmを超えると解
像度が悪化する傾向がある。
The thickness of the photosensitive resin composition layer (b) is from 1 to
The thickness is preferably 50 μm, more preferably 5 to 30 μm, and even more preferably 10 to 25 μm. If the thickness is less than 1 μm, the follow-up property tends to deteriorate, chipping and disconnection tend to occur, and if it exceeds 50 μm, the resolution tends to deteriorate.

【0036】感光性樹脂組成物層(b)の30℃におけ
る粘度は15〜50Mpa・sであることが好ましく、25
〜40Mpa・sであることがより好ましい。粘度が15Mp
a・s未満ではエッジフュージョンと呼ばれる樹脂が感光
性エレメント端部から染み出し易い傾向があり、50Mp
a・sを超えると樹脂流動が低くなり、エアーボイドが発
生しやすくなる傾向がある。なお、本発明における粘度
の測定は、ニュートン流体に対する下記の関係式(2)
を用い、1/Z4に対してtをプロットし、その傾きか
ら求めることが可能である。これらの測定はTMA装置
を用いて測定可能である。
The viscosity of the photosensitive resin composition layer (b) at 30 ° C. is preferably 15 to 50 Mpa · s, and 25
More preferably, it is -40 Mpa · s. Viscosity is 15Mp
If it is less than a · s, the resin called edge fusion tends to exude from the edges of the photosensitive element, and
If it exceeds a · s, the resin flow becomes low, and air voids tend to occur. The measurement of the viscosity in the present invention is carried out by the following relational expression (2) with respect to Newtonian fluid.
Can be obtained by plotting t against 1 / Z 4 and using its slope. These measurements can be measured using a TMA device.

【0037】[0037]

【数2】 [Equation 2]

【0038】本発明における保護フィルム(c)は、保
護フィルム(c)中に含まれる直径80μm以上のフィ
ッシュアイの個数は5個/m2以下でああることが必要
である。また、保護フィルム(c)の表面粗さとして
は、中心線平均粗さRaが0.005〜0.05μmで
あることが好ましく、0.01〜0.03μmであるこ
とがより好ましい。なお、フィシュアイとは、材料を熱
溶融、混練し、押し出し延伸又はキャスティング法によ
りフィルムを製造する際に、材料の異物、未溶解物、酸
化劣化物等がフィルム中に取り込まれたものである。な
お、本発明における表面粗さは、JIS B0601に
おける表面粗さを表す。また、本発明におけるRaは中
心線平均粗さを表し、Rmaxは最大高さを表す。
In the protective film (c) of the present invention, the number of fish eyes having a diameter of 80 μm or more contained in the protective film (c) needs to be 5 / m 2 or less. Further, as the surface roughness of the protective film (c), the center line average roughness Ra is preferably 0.005 to 0.05 μm, and more preferably 0.01 to 0.03 μm. The fisheye is a material in which foreign materials, undissolved materials, oxidative degradation materials, etc. are incorporated into the film when the material is heat-melted, kneaded, and extruded or stretched or a film is produced by a casting method. . The surface roughness in the present invention represents the surface roughness according to JIS B0601. Further, Ra in the present invention represents the center line average roughness, and Rmax represents the maximum height.

【0039】このようにフィッシュアイレベルの良好な
フィルムは、材料の選定、混練方法の適正化、材料溶融
後の瀘過等を行うことにより製造可能である。またフィ
ッシュアイの直径の大きさは材料によっても異なるが約
10μm〜1mmであり、フィルム表面からの高さは約1
μm〜50μmである。ここでフィッシュアイの大きさ
の測定方法は、例えば、光学顕微鏡、接触型表面粗さ
計、レーザー光を用いた非接触型表面測定機、走査型電
子顕微鏡等を使用し測定可能である。なお、本発明にお
けるフィッシュアイの直径とは、フィッシュアイの最大
径を意味する。
As described above, a film having a good fish eye level can be produced by selecting materials, optimizing the kneading method, and filtering after melting the materials. The size of the fisheye diameter is about 10 μm to 1 mm, depending on the material, and the height from the film surface is about 1 μm.
μm to 50 μm. Here, the fish eye size can be measured using, for example, an optical microscope, a contact surface roughness meter, a non-contact surface measuring instrument using a laser beam, a scanning electron microscope, or the like. The diameter of the fish eye in the present invention means the maximum diameter of the fish eye.

【0040】保護フィルム(c)の厚みは1〜100μ
mであることが好ましく、5〜50μmであることがよ
り好ましく、15〜50μmであることが特に好まし
い。この厚みが1μm未満では保護フィルムの強度が不
十分なため、感光性樹脂組成物層に保護フィルムを張り
合わせる際に、破断しやすい傾向があり、100μmを
超えると価格が高くなり、保護フィルムをラミネートす
る際にシワが発生しやすい傾向がある。
The thickness of the protective film (c) is 1 to 100 μm.
m is preferable, 5 to 50 μm is more preferable, and 15 to 50 μm is particularly preferable. When the thickness is less than 1 μm, the strength of the protective film is insufficient, and therefore, when the protective film is attached to the photosensitive resin composition layer, the protective film tends to be easily broken. Wrinkles tend to occur when laminating.

【0041】このような保護フィルムは市販のものとし
て、例えば、王子製紙(株)製アルファンMA−410、
E−200C、信越フィルム社製等のポリプロピレンフ
ィルム、帝人(株)製PS−25等のPSシリーズなどの
ポリエチレンテレフタレートフィルム等が挙げられるが
これに限られたものではない。また、市販のフィルムを
サンドブラスト加工することにより、簡単に製造するこ
とが可能である。
Such a protective film is commercially available, for example, Alfan MA-410 manufactured by Oji Paper Co., Ltd.,
Examples thereof include, but are not limited to, E-200C, polypropylene film manufactured by Shin-Etsu Film Co., Ltd., and polyethylene terephthalate film such as PS series manufactured by Teijin Limited PS-25. In addition, it is possible to easily manufacture a commercially available film by sandblasting.

【0042】また、感光性樹脂組成物層(b)と支持フ
ィルム(a)との接着強度が、感光性樹脂組成物層
(b)と保護フィルム(c)との接着強度よりも大きい
ことが好ましい。感光性樹脂組成物層(b)と支持フィ
ルム(a)との接着強度が、感光性樹脂組成物層(b)
と保護フィルム(c)との接着強度よりも小さいと、ラ
ミネート時に保護フィルムを除去する際、感光性樹脂組
成物層が保護フィルム側に転写する傾向がある。
The adhesive strength between the photosensitive resin composition layer (b) and the support film (a) may be greater than the adhesive strength between the photosensitive resin composition layer (b) and the protective film (c). preferable. The adhesive strength between the photosensitive resin composition layer (b) and the supporting film (a) is determined by the photosensitive resin composition layer (b).
When the adhesive strength between the protective film and the protective film (c) is smaller than the adhesive strength, the photosensitive resin composition layer tends to be transferred to the protective film side when the protective film is removed during lamination.

【0043】本発明の感光性エレメントは、例えば、支
持フィルム上に前記感光性樹脂組成物を塗布、乾燥し、
保護フィルムを積層することにより得られる。
In the photosensitive element of the present invention, for example, the above-mentioned photosensitive resin composition is applied on a support film, dried,
It is obtained by laminating a protective film.

【0044】本発明の感光性エレメントを用いてレジス
トパターンを製造するに際しては、例えば、保護フィル
ムを除去後、感光性樹脂組成物層を加熱しながら回路形
成用基板に圧着することにより積層する方法などが挙げ
られる。積層される表面は、通常金属面であるが、特に
制限はない。感光性樹脂組成物層の加熱温度は90〜1
30℃とすることが好ましく、圧着圧力は、0.1〜
1.0MPa(1〜10kg/cm2)とすることが好ましい
が、これらの条件には特に制限はない。また、感光性樹
脂組成物層を前記のように90〜130℃に加熱すれ
ば、予め回路形成用基板を予熱処理することは必要では
ないが、積層性をさらに向上させるために、回路形成用
基板の予熱処理を行うこともできる。
When a resist pattern is produced using the photosensitive element of the present invention, for example, after removing the protective film, the photosensitive resin composition layer is laminated by heating and pressing the photosensitive resin composition layer onto the circuit-forming substrate. And so on. The surface to be laminated is usually a metal surface, but there is no particular limitation. The heating temperature of the photosensitive resin composition layer is 90 to 1
The temperature is preferably 30 ° C., and the pressure bonding is 0.1 to
The pressure is preferably 1.0 MPa (1 to 10 kg / cm 2 ), but these conditions are not particularly limited. Further, if the photosensitive resin composition layer is heated to 90 to 130 ° C. as described above, it is not necessary to preheat the circuit forming substrate in advance, but in order to further improve the laminate property, It is also possible to preheat the substrate.

【0045】このようにして積層が完了した感光性樹脂
組成物層は、アートワークと呼ばれるネガ又はポジマス
クパターンを通して活性光線が画像状に照射される。こ
の際、感光性樹脂組成物層上に存在する重合体フィルム
が透明の場合には、そのまま、活性光線を照射してもよ
く、また、不透明の場合には、当然除去する必要があ
る。感光性樹脂組成物層の保護という点からは、重合体
フィルムは透明で、この重合体フィルムを残存させたま
ま、それを通して、活性光線を照射することが好まし
い。活性光線の光源としては、公知の光源、例えば、カ
ーボンアーク灯、水銀蒸気アーク灯、超高圧水銀灯、高
圧水銀灯、キセノンランプ等の紫外線を有効に放射する
ものが用いられる。また、写真用フラッド電球、太陽ラ
ンプ等の可視光を有効に放射するものも用いられる。
The photosensitive resin composition layer thus laminated is irradiated with actinic rays imagewise through a negative or positive mask pattern called an artwork. At this time, when the polymer film present on the photosensitive resin composition layer is transparent, it may be irradiated with actinic rays as it is, and when it is opaque, it is of course necessary to remove it. From the viewpoint of protecting the photosensitive resin composition layer, it is preferable that the polymer film is transparent and the actinic ray is irradiated through the polymer film while the polymer film remains. As the light source of the actinic ray, a known light source such as a carbon arc lamp, a mercury vapor arc lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, or a xenon lamp that effectively emits ultraviolet rays is used. In addition, a flood light bulb for photography, a solar lamp or the like that effectively radiates visible light is also used.

【0046】次いで、露光後、感光性樹脂組成物層上に
支持体が存在している場合には、支持体を除去した後、
アルカリ水溶液等の現像液を用いて、例えば、スプレ
ー、揺動浸漬、ブラッシング、スクラッピング等の公知
の方法により未露光部を除去して現像し、レジストパタ
ーンを製造する。現像液としては、アルカリ性水溶液等
の安全かつ安定であり、操作性が良好なものが用いられ
る。上記アルカリ性水溶液の塩基としては、例えば、リ
チウム、ナトリウム又はカリウムの水酸化物等の水酸化
アルカリ、リチウム、ナトリウム、カリウム若しくはア
ンモニウムの炭酸塩又は重炭酸塩等の炭酸アルカリ、リ
ン酸カリウム、リン酸ナトリウム等のアルカリ金属リン
酸塩、ピロリン酸ナトリウム、ピロリン酸カリウム等の
アルカリ金属ピロリン酸塩などが用いられる。
Then, after the exposure, if the support is present on the photosensitive resin composition layer, after removing the support,
A resist pattern is manufactured by using a developer such as an alkaline aqueous solution to remove the unexposed portion and develop it by a known method such as spraying, rocking dipping, brushing, scraping or the like. As the developer, a safe and stable developer having good operability such as an alkaline aqueous solution is used. Examples of the base of the alkaline aqueous solution include alkali hydroxides such as lithium, sodium or potassium hydroxides, alkali carbonates such as lithium, sodium, potassium or ammonium carbonates or bicarbonates, potassium phosphate, phosphoric acid. Alkali metal phosphates such as sodium, sodium pyrophosphate, alkali metal pyrophosphates such as potassium pyrophosphate, and the like are used.

【0047】また、現像に用いるアルカリ性水溶液とし
ては、0.1〜5重量%炭酸ナトリウムの希薄溶液、
0.1〜5重量%炭酸カリウムの希薄溶液、0.1〜5
重量%水酸化ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5重量%
四ホウ酸ナトリウムの希薄溶液等が好ましい。また、現
像に用いるアルカリ性水溶液のpHは9〜11の範囲とす
ることが好ましく、その温度は、感光性樹脂組成物層の
現像性に合わせて調節される。また、アルカリ性水溶液
中には、表面活性剤、消泡剤、現像を促進させるための
少量の有機溶剤等を混入させてもよい。現像の方式に
は、ディップ方式、スプレー方式等があり、高圧スプレ
ー方式が解像度向上のためには最も適している。
The alkaline aqueous solution used for development is a dilute solution of 0.1 to 5% by weight sodium carbonate,
0.1-5 wt% dilute potassium carbonate solution, 0.1-5
Dilute solution of sodium hydroxide by weight, 0.1-5% by weight
A dilute solution of sodium tetraborate is preferred. The pH of the alkaline aqueous solution used for development is preferably in the range of 9 to 11, and the temperature is adjusted according to the developability of the photosensitive resin composition layer. Further, a surface active agent, a defoaming agent, a small amount of an organic solvent for accelerating development may be mixed in the alkaline aqueous solution. Development methods include a dip method and a spray method, and the high pressure spray method is most suitable for improving the resolution.

【0048】現像後の処理として、必要に応じて80〜
250℃程度の加熱又は0.2〜5mJ/cm2程度の露光を
行うことによりレジストパターンをさらに硬化して用い
てもよい。
As the processing after the development, if necessary, 80 to
The resist pattern may be further cured and used by heating at about 250 ° C. or exposure at about 0.2 to 5 mJ / cm 2 .

【0049】現像後に行われる金属面のエッチングには
塩化第二銅溶液、塩化第二鉄溶液、アルカリエッチング
溶液、過酸化水素系エッチング液を用いることができる
が、エッチファクタが良好な点から塩化第二鉄溶液を用
いることが望ましい。
A cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkaline etching solution, or a hydrogen peroxide-based etching solution can be used for etching the metal surface after the development, but it is preferable to use a chloride solution because of its good etching factor. It is desirable to use a ferric solution.

【0050】本発明の感光性エレメントを用いてプリン
ト配線板又はリードフレームを製造する場合、現像され
たレジストパターンをマスクとして、回路形成用基板の
表面を、エッチング、めっき等の公知方法で処理する。
上記めっき法としては、例えば、硫酸銅めっき、ピロリ
ン酸銅めっき等の銅めっき、ハイスローはんだめっき等
のはんだめっき、ワット浴(硫酸ニッケル−塩化ニッケ
ル)めっき、スルファミン酸ニッケルめっき等のニッケ
ルめっき、ハード金めっき、ソフト金めっき等の金めっ
きなどがある。次いで、レジストパターンは、通常、現
像に用いたアルカリ水溶液よりさらに強アルカリ性の水
溶液で剥離される。この強アルカリ性の水溶液として
は、例えば、1〜5重量%水酸化ナトリウム水溶液、1
〜5重量%水酸化カリウム水溶液等が用いられる。ま
た、レジストパターンが形成されたプリント配線板は、
多層プリント配線板でもよい。
When a printed wiring board or lead frame is manufactured using the photosensitive element of the present invention, the surface of the circuit-forming board is treated by a known method such as etching or plating using the developed resist pattern as a mask. .
Examples of the plating method include copper sulfate plating, copper plating such as copper pyrophosphate, solder plating such as high-throw solder plating, Watts bath (nickel sulfate-nickel chloride) plating, nickel plating such as nickel sulfamate plating, and hard plating. There are gold plating such as gold plating and soft gold plating. Then, the resist pattern is usually stripped with an aqueous solution having a stronger alkaline property than the alkaline solution used for the development. Examples of the strongly alkaline aqueous solution include 1 to 5 wt% sodium hydroxide aqueous solution, 1
A ~ 5 wt% potassium hydroxide aqueous solution or the like is used. Also, the printed wiring board on which the resist pattern is formed is
It may be a multilayer printed wiring board.

【0051】また、本発明の感光性エレメントは、リー
ドフレームやメタルマスクなどを製造するのに用いられ
るメタルエッチング加工用感光性エレメントとして好適
である。
Further, the photosensitive element of the present invention is suitable as a photosensitive element for metal etching processing used for manufacturing lead frames, metal masks and the like.

【0052】[0052]

【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明
する。 実施例1〜3及び比較例1〜2 表1に示す(A)成分、(B)成分、(C)成分及びそ
の他の成分を混合し、感光性樹脂組成物の溶液を調製し
た。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below based on examples. Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 2 Components (A), (B), (C) and other components shown in Table 1 were mixed to prepare a solution of a photosensitive resin composition.

【0053】[0053]

【表1】 [Table 1]

【0054】次いでこの感光性樹脂組成物の溶液を16
μm厚のポリエチレンテレフタレートフィルム上に均一
に塗布し、100℃の熱風対流乾燥機で約5分間乾燥
し、表2に示す各保護フィルムをラミネートし感光性エ
レメントを得た。感光性樹脂組成物層の乾燥後の膜厚は
17μmであった。上記で作製した感光性エレメントの
(B)光重合性化合物の重合可能なエチレン性不飽和基
の濃度を前記関係式(1)から算出した結果を表2に示
す。
Next, 16 parts of this photosensitive resin composition solution was added.
It was evenly coated on a polyethylene terephthalate film having a thickness of μm and dried by a hot air convection dryer at 100 ° C. for about 5 minutes, and each protective film shown in Table 2 was laminated to obtain a photosensitive element. The film thickness of the photosensitive resin composition layer after drying was 17 μm. Table 2 shows the results of calculating the concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group of the photopolymerizable compound (B) of the photosensitive element produced above from the above relational expression (1).

【0055】次いで、厚さ0.15mm厚、20×20cm
角の銅合金(ヤマハオーリンメタル社製:MP−702
5)を、3重量%水酸化ナトリウム水溶液、50℃に1
分間浸漬し、次いで1体積%塩酸水溶液、25℃に1分
間浸漬し、その後水洗、乾燥し、得られた基板上に前記
感光性エレメントの保護フィルムを除去しながら、ロー
ル温度:110℃、圧力:0.4MPa、速度:2m/分
でラミネートした。次いで、このようにして得られた基
板を、3kWの超高圧水銀灯((株)オーク製作所製、HM
W−201GX)で50mJ/cm2の露光を行い、1重量%
の無水炭酸ナトリウム水溶液で30秒間スプレー現像
し、水洗、乾燥した。
Next, the thickness is 0.15 mm and the thickness is 20 × 20 cm.
Corner Copper Alloy (Yamaha Orin Metal Co., Ltd .: MP-702)
5) in a 3% by weight aqueous sodium hydroxide solution at 50 ° C.
Immersion for 1 minute, then 1 minute by volume of hydrochloric acid aqueous solution at 25 ° C for 1 minute, followed by washing with water and drying, while removing the protective film of the photosensitive element on the obtained substrate, roll temperature: 110 ° C, pressure : 0.4 MPa, speed: 2 m / min. Then, the substrate thus obtained was used for a 3 kW ultra-high pressure mercury lamp (manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd., HM
W-201GX) and exposed at 50 mJ / cm 2 and 1 wt%
Was spray-developed for 30 seconds with an anhydrous sodium carbonate aqueous solution, washed with water and dried.

【0056】露光後の基板を40mm×50mm角にし、そ
の基板を2重量%水酸化ナトリウム水溶液、50℃に浸
漬し、感光性樹脂組成物層が基板から剥離する時間を測
定し、その結果を表2に示す。
The exposed substrate was made 40 mm × 50 mm square, and the substrate was dipped in a 2 wt% sodium hydroxide aqueous solution at 50 ° C., and the time taken for the photosensitive resin composition layer to peel from the substrate was measured. It shows in Table 2.

【0057】また、露光時に基板を50mm×100mm角
にし、そこにハーフエッチング用ネガを使用し上記露光
条件で露光し、上記現像条件で現像する。次いで、塩化
第二鉄(45Be、遊離塩酸濃度0.3%、ORP値6
20mV)、50℃で300秒間エッチングをし、微小
径(100〜300μm)、深さ60〜100μmのハ
ーフエッチング部を作製する。次いで、2重量%水酸化
ナトリウム水溶液でハーフエッチング部を作製した基板
から感光性樹脂組成物層を剥離し、1重量%の硫酸でス
プレー処理し、水洗、乾燥した。その基板のハーフエッ
チング部に残留した感光性樹脂組成物(以後、剥離残り
と称する)を実体顕微鏡100倍にて計測する。その結
果を表2に示す。
During exposure, the substrate is made into a 50 mm × 100 mm square, and a half-etching negative is used to expose it under the above exposure conditions and develop under the above development conditions. Next, ferric chloride (45Be, free hydrochloric acid concentration 0.3%, ORP value 6
Etching is performed at 20 mV) and 50 ° C. for 300 seconds to form a half-etched portion having a minute diameter (100 to 300 μm) and a depth of 60 to 100 μm. Then, the photosensitive resin composition layer was peeled from the substrate having the half-etched portion prepared with a 2 wt% sodium hydroxide aqueous solution, spray-treated with 1 wt% sulfuric acid, washed with water and dried. The photosensitive resin composition remaining in the half-etched portion of the substrate (hereinafter, referred to as residual peeling) is measured with a stereoscopic microscope of 100 times. The results are shown in Table 2.

【0058】[0058]

【表2】 [Table 2]

【0059】一方、厚さ0.15mm厚、20×20cm角
の銅合金(ヤマハオーリンメタル社製:MP−702
5)を、3重量%水酸化ナトリウム水溶液、50℃に1
分間浸漬し、次いで1体積%塩酸水溶液、25℃に1分
間浸漬し、その後水洗、乾燥し、得られた基板上に前記
感光性エレメントの保護フィルムを除去しながら、ロー
ル温度:110℃、圧力:0.4MPa、速度:2m/分
でラミネートした。次いで、このようにして得られた基
板を、3kWの超高圧水銀灯((株)オーク製作所製、HM
W−201GX)で50mJ/cm2の露光を行った。
On the other hand, a copper alloy having a thickness of 0.15 mm and a size of 20 × 20 cm (Yamaha Ohrin Metal Co., Ltd .: MP-702).
5) in a 3% by weight aqueous sodium hydroxide solution at 50 ° C.
Immersion for 1 minute, then 1 minute by volume of hydrochloric acid aqueous solution at 25 ° C for 1 minute, followed by washing with water and drying, while removing the protective film of the photosensitive element on the obtained substrate, roll temperature: 110 ° C, pressure : 0.4 MPa, speed: 2 m / min. Then, the substrate thus obtained was used for a 3 kW ultra-high pressure mercury lamp (manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd., HM
W-201GX) was used for exposure at 50 mJ / cm 2 .

【0060】露光後の基板上のエアーボイド数を100
倍の顕微鏡を用いて測定した。また、各保護フィルムの
フィッシュアイの大きさ及び数を100倍の顕微鏡を用
いて測定した。結果を表3にまとめて示す。
The number of air voids on the substrate after exposure is 100
The measurement was performed using a double microscope. In addition, the size and number of fish eyes of each protective film were measured using a 100 × microscope. The results are summarized in Table 3.

【0061】[0061]

【表3】 [Table 3]

【0062】表3から明らかなように、保護フィルム
(c)として、直径80μm以上のフィッシュアイ個数
が5個/m2以下のフィルムを使用することにより、断
線、欠けの原因となるエアーボイドの発生数が減少する
ことが分かる。
As is clear from Table 3, when a film having a diameter of 80 μm or more and a number of fish eyes of 5 pieces / m 2 or less is used as the protective film (c), air voids causing disconnection or chipping can be prevented. It can be seen that the number of occurrences decreases.

【0063】[0063]

【発明の効果】本発明に係る感光性エレメントは、エア
ーボイドの発生数が低減するため歩留り良く積層するこ
とができ、かつ剥離特性、ラミネート性、保存安定性及
び作業性が極めて優れる。本発明に係るレジストパター
ンの製造法は、リードフレームやBGAの多ピン化、狭
小化及びこれらの半導体パッケージを搭載するプリント
配線の高密度化に極めて有用な、エアーボイドの発生数
が低減するため歩留り良く積層することができ、かつ剥
離特性、ラミネート性、保存安定性及び作業性が優れ
る。本発明に係るプリント配線板又はリードフレームの
製造法は、リードフレームやBGAの多ピン化、狭小化
及びこれらの半導体パッケージを搭載するプリント配線
の高密度化に極めて有用な、エアーボイドの発生数が低
減するため歩留り良く積層することができ、かつ剥離特
性、ラミネート性、保存安定性及び作業性が優れる。
EFFECT OF THE INVENTION The photosensitive element according to the present invention can be laminated with a good yield because the number of air voids is reduced, and is extremely excellent in peeling property, laminating property, storage stability and workability. The method of manufacturing a resist pattern according to the present invention is extremely useful for increasing the number of pins in a lead frame or BGA, making them narrower, and increasing the density of printed wiring on which these semiconductor packages are mounted. It can be laminated with high yield, and is excellent in peeling property, laminating property, storage stability and workability. The method of manufacturing a printed wiring board or a lead frame according to the present invention is extremely useful for increasing the number of pins in a lead frame or BGA, narrowing the density, and increasing the density of printed wiring on which these semiconductor packages are mounted. Is reduced, so that the product can be laminated with high yield, and the peeling property, laminating property, storage stability and workability are excellent.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】エアーボイドの発生を説明する説明図。FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating the generation of air voids.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 支持フィルム 2 感光性樹脂組成物層 3 保護フィルム 4 フィッシュアイ 5 基板 6 エアーボイド 1 Support film 2 Photosensitive resin composition layer 3 protective film 4 fish eyes 5 substrates 6 air voids

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高野 真次 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎事業所内 (72)発明者 深谷 雄大 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎事業所内 Fターム(参考) 2H025 AA01 AA02 AB11 AB15 AC01 AD01 BC13 BC42 BC65 BC81 BC83 CB55 DA02 FA43 5E339 BC02 BD06 BD08 BD11 BE13 CC01 CC02 CD01 CE11 CE14 CF16 CF17 CG04 DD04 GG01 GG10 5E343 BB23 BB24 BB44 CC63 DD32 DD63 EE17 ER16 ER18 GG03   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Shinji Takano             Hitachi, Ichiba, Ibaraki Prefecture             Seikou Co., Ltd. Yamazaki Office (72) Inventor Yudai Fukaya             Hitachi, Ichiba, Ibaraki Prefecture             Seikou Co., Ltd. Yamazaki Office F term (reference) 2H025 AA01 AA02 AB11 AB15 AC01                       AD01 BC13 BC42 BC65 BC81                       BC83 CB55 DA02 FA43                 5E339 BC02 BD06 BD08 BD11 BE13                       CC01 CC02 CD01 CE11 CE14                       CF16 CF17 CG04 DD04 GG01                       GG10                 5E343 BB23 BB24 BB44 CC63 DD32                       DD63 EE17 ER16 ER18 GG03

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 支持フィルム(a)、感光性樹脂組成物
層(b)及び保護フィルム(c)から成る感光性エレメ
ントにおいて、感光性樹脂組成物層(b)が、(A)重
量平均分子量が20,000〜200,000であるバ
インダーポリマー、(B)重合可能なエチレン性不飽和
基の濃度が、(A)成分及び(B)成分の総量100g
に対して、0.12〜0.26モルである光重合性化合
物並びに(C)光重合開始剤を含有してなり、かつ、保
護フィルム(c)中に含まれる直径80μm以上のフィ
ッシュアイの個数が、5個/m2以下である感光性エレ
メント。
1. A photosensitive element comprising a support film (a), a photosensitive resin composition layer (b) and a protective film (c), wherein the photosensitive resin composition layer (b) is (A) weight average molecular weight. Of the binder polymer having 20,000 to 200,000, the concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group (B) is 100 g of the total amount of the components (A) and (B).
Of the fish eyes having a diameter of 80 μm or more, which comprises 0.12 to 0.26 mol of a photopolymerizable compound and (C) a photopolymerization initiator, and is contained in the protective film (c). A photosensitive element having a number of 5 / m 2 or less.
【請求項2】 前記保護フィルム(c)がポリプロピレ
ンフィルム又はポリエチレンテレフタレートフィルムで
ある請求項1記載の感光性エレメント。
2. The photosensitive element according to claim 1, wherein the protective film (c) is a polypropylene film or a polyethylene terephthalate film.
【請求項3】 前記(B)光重合性化合物の前記重合可
能なエチレン性不飽和基の濃度が0.14〜0.25モ
ルである請求項1又は2記載の感光性エレメント。
3. The photosensitive element according to claim 1, wherein the concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group in the photopolymerizable compound (B) is 0.14 to 0.25 mol.
【請求項4】 前記(B)光重合性化合物の前記重合可
能なエチレン性不飽和基の濃度が0.18〜0.23モ
ルである請求項1又は2記載の感光性エレメント。
4. The photosensitive element according to claim 1, wherein the concentration of the polymerizable ethylenically unsaturated group in the photopolymerizable compound (B) is 0.18 to 0.23 mol.
【請求項5】 前記(B)光重合性化合物が2種類以上
の化合物を含有し、少なくとも1種類が2,2−ビス
(4−(アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパ
ン又は2,2−ビス(4−(メタクリロキシポリエトキ
シ)フェニル)プロパンである請求項1〜4のいずれか
1項記載の感光性エレメント。
5. The (B) photopolymerizable compound contains two or more compounds, at least one of which is 2,2-bis (4- (acryloxypolyethoxy) phenyl) propane or 2,2-bis. The photosensitive element according to claim 1, which is (4- (methacryloxypolyethoxy) phenyl) propane.
【請求項6】 前記保護フィルム(c)が回路形成用基
板積層時に除去される請求項1〜5のいずれか1項記載
の感光性エレメント。
6. The photosensitive element according to claim 1, wherein the protective film (c) is removed when a circuit-forming substrate is laminated.
【請求項7】 前記感光性樹脂組成物層(b)の厚みが
1〜50μmである請求項1〜6のいずれか1項記載の
感光性エレメント。
7. The photosensitive element according to claim 1, wherein the thickness of the photosensitive resin composition layer (b) is 1 to 50 μm.
【請求項8】 前記感光性樹脂組成物層(b)の厚みが
5〜30μmである請求項1〜6のいずれか1項記載の
感光性エレメント。
8. The photosensitive element according to claim 1, wherein the thickness of the photosensitive resin composition layer (b) is 5 to 30 μm.
【請求項9】 請求項1〜8のいずれか1項記載の感光
性エレメントを、回路形成用基板上に感光性樹脂組成物
層が密着するようにして積層し、活性光線を画像状に照
射し、露光部を光硬化させ、未露光部を現像により除去
することを特徴とするレジストパターンの製造法。
9. The photosensitive element according to claim 1 is laminated on a circuit-forming substrate so that the photosensitive resin composition layer is in intimate contact with the substrate, and the active ray is imagewise irradiated. Then, the exposed part is photo-cured, and the unexposed part is removed by development to produce a resist pattern.
【請求項10】 請求項9記載のレジストパターンの製
造法によりレジストパターンの製造された回路形成用基
板をエッチング若しくはめっきすることを特徴とするプ
リント配線板又はリードフレームの製造法。
10. A method of manufacturing a printed wiring board or a lead frame, which comprises etching or plating a circuit-forming substrate having a resist pattern manufactured by the method of manufacturing a resist pattern according to claim 9.
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US7662540B2 (en) 2004-09-06 2010-02-16 Fujifilm Corporation Pattern forming material, pattern forming apparatus and pattern forming process
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7662540B2 (en) 2004-09-06 2010-02-16 Fujifilm Corporation Pattern forming material, pattern forming apparatus and pattern forming process
JP2009116078A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Fujifilm Corp Photosensitive transfer material and method for producing the same, color filter and method for producing the same, and display device
JPWO2009123096A1 (en) * 2008-04-02 2011-07-28 日立化成工業株式会社 Photosensitive film laminating method, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
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