JP2003241107A - ステージ、及び該ステージを備えた顕微鏡 - Google Patents

ステージ、及び該ステージを備えた顕微鏡

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JP2003241107A
JP2003241107A JP2002046502A JP2002046502A JP2003241107A JP 2003241107 A JP2003241107 A JP 2003241107A JP 2002046502 A JP2002046502 A JP 2002046502A JP 2002046502 A JP2002046502 A JP 2002046502A JP 2003241107 A JP2003241107 A JP 2003241107A
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stage
stroke
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plate
pins
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Hitoshi Sakano
均 坂野
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Abstract

(57)【要約】 【課題】観察対象物に応じて、XY方向へ水平移動する
距離の範囲(ストローク)を変更することができるステ
ージ、及び該ステージを備えた顕微鏡を提供する。 【解決手段】重ねて配置された複数の板状部材1,2,
3を有し、複数の板状部材2,3が相対的に水平移動す
るステージにおいて、板状部材2,3の水平移動する距
離を制限するための複数のストローク制限手段7a,7
b,7cを有し、複数のストローク制限手段7a,7
b,7cによって、板状部材2,3の水平移動する距離
の制限を変更する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はステージに関し、特
にXY方向へ水平移動可能なステージに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば顕微鏡に用いられるステー
ジとして、X方向(顕微鏡の前後方向)及びY方向(顕
微鏡の左右方向)への水平移動が可能である構成のもの
が提案されている。半導体ウエハや液晶パネル等のよう
に大きさの異なる観察対象物を顕微鏡等によって観察す
る場合、ステージに必要とされるストロークは観察対象
物の大きさによって異なる。ここで「ストローク」と
は、ステージがXY方向へ水平移動することができる距
離の範囲をいう。しかしながら従来のステージは、観察
対象物に応じてストロークを変更することはできず、大
きな観測対象物を小さなストロークのステージで観察す
ることができないという問題がある。このため、従来観
察対象物に応じたストロークを有するステージが供給さ
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、観察対象物に
応じたストロークを有するステージを製造する場合、製
造する製品(ステージ)の種類が多くなり、また製品の
種類毎の製造数量も少ない。このため、製造の効率が悪
化し、製造コストの増大を招いてしまうという問題があ
る。
【0004】そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされ
たものであり、観察対象物に応じて、XY方向へ水平移
動する距離の範囲(ストローク)を変更することができ
るステージ、及び該ステージを備えた顕微鏡を提供する
ことを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1に記載の発明は、重ねて配置された複数の板
状部材を有し、前記複数の板状部材が相対的に水平移動
するステージにおいて、前記板状部材の水平移動する距
離を制限するための複数のストローク制限手段を有し、
当該複数のストローク制限手段によって、前記板状部材
の水平移動する距離の制限を変更することを特徴とする
ステージを提供する。
【0006】また、請求項2に記載のステージは、前記
複数の板状部材のうちのいずれか1つの板状部材は、前
記ストローク制限手段を着脱可能な複数の制限手段取付
部を有し、前記ストローク制限手段を前記制限手段取付
部に着脱することによって、前記板状部材の水平移動す
る距離の制限を変更することを特徴とする。
【0007】また、請求項3に記載のステージは、前記
ストローク制限手段は、大きさの異なるストローク制限
手段と交換可能であり、前記ストローク制御手段の大き
さの差異により、前記板状部材の水平移動する距離の制
限を変更することを特徴とする。
【0008】また、請求項4に記載の顕微鏡は、請求項
1乃至3のいずれか一項に記載のステージを備えたこと
を特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて本発明
の実施の形態について詳細に説明する。 (第1実施形態)図1(a)は、本発明の第1実施形態
に係るステージを下方から見た図(一部断面図)であ
る。また図1(b)は、図1(a)におけるA−A断面
図である。図1において、本発明の第1実施形態に係る
ステージは、顕微鏡等のステージ設置面に設置される下
板1と、中板2と、観察対象物等を載置するための上板
3とが重ねて配置されている。また本実施形態に係るス
テージは、下板1に対して前後方向(図1中のY方向)
へ中板2を水平移動させるためのレースガイド4a,4
bと、Y方向に対して垂直な方向である左右方向(図1
中のX方向)へ上板3を水平移動させるためのレースガ
イド5a,5bとを有する。
【0010】図1に示すように2本のレースガイド4
a,4bは、中板2の下面に下板1を挟み込むように取
り付けられている。そして、レースガイド4a,4bに
設けられたレース溝と下板1に設けられたレース溝との
間には、複数の鋼球(不図示)が転動可能に配置されて
いる。このため、下板1に対して中板2をY方向へ水平
移動(スライド)させる際に、レース内の鋼球が転動す
る。斯かるレース構造によって中板2のY方向への滑ら
かな水平移動を行うことができる。また、図1に示すよ
うに2本のレースガイド5a,5bは、上板3の下面に
中板2を挟み込むように取り付けられている。そして、
レースガイド5a,5bに設けられたレース溝と中板2
に設けられたレース溝との間には、複数の鋼球6が転動
可能に配置されている。このため、中板2に対して上板
3をX方向へ水平移動させる際に、レース内の鋼球6が
転動する。斯かるレース構造によって上板3のX方向へ
の滑らかな水平移動を行うことができる。
【0011】次に、本実施形態に係るステージのXY方
向へのストロークについて説明する。まず、ステージの
Y方向へのストロークについて説明する。中板2には、
その下面に溝(ストローク溝)2aが設けられている。
また下板1には、その中央部に3つのねじ穴1d,1
e,1fが設けられている。そしてこれらのねじ穴1
d,1e,1fには、3つのピン(突起部)7a,7
b,7cが中板2の溝2aに入り込むように配置されて
いる。またこれらのピン7a,7b,7cは、ねじ穴1
d,1e,1fに着脱(取り外し)可能であり、中板2
及び上板3にはそれぞれ、任意にピン7a,7b,7c
の取り外しを行うための工具穴2c及び工具穴3cが設
けられている。
【0012】中板2がY方向へ水平移動する際に、溝2
aのピン当接面2bが3つのピン7a,7b,7cのう
ちのいずれかひとつに当接する。これによって、中板2
のY方向への移動が制限されることとなる。従って、こ
のようにピン7a,7b,7cによって制限される範
囲、即ち中板2がY方向へ移動することができる範囲
が、ステージ(中板2)のY方向のストロークとなる。
以上の構成の下、ねじ穴1d,1e,1fに取り付ける
ピンの取り付け位置を変えることによって、ステージの
Y方向のストロークを変更することができる。
【0013】次に、ステージのX方向へのストロークに
ついて説明する。ステージのX方向へのストロークは、
基本的に上述のY方向へのストロークの構成と同様であ
る。上板3には、その下面に溝3aが設けられている。
また中板2には、その中央部に3つのねじ穴2d,2
e,2f(2e,2fは不図示)が設けられている。そ
してこれらのねじ穴2d,2e,2fには、3つのピン
8a,8b,8c(8b,8cは不図示)が上板3の溝
3aに入り込むように配置されている。また、これらの
ピン8a,8b,8cは、ねじ穴2d,2e,2fに着
脱可能であり、上述のように上板3には、任意にピン8
a,8b,8cの取り外しを行うための工具穴3cが設
けられている。
【0014】上板3がX方向へ水平移動する際に、溝3
aのピン当接面3b(不図示)が3つのピン8a,8
b,8cのうちのいずれかひとつに当接する。これによ
って、上板3のX方向への移動が制限されることとな
る。従って、このようにピン8a,8b,8cによって
制限される範囲、即ち上板3がX方向へ移動することが
できる範囲が、ステージ(上板3)のX方向のストロー
クとなる。以上の構成の下、ねじ穴2d,2e,2fに
取り付けるピンの取り付け位置を変えることによって、
ステージのX方向のストロークを変更することができ
る。
【0015】図2(a),(b)は、本実施形態に係る
ステージのY方向のストローク(ピン3本配置時)を示
す図である。図2(a)において、ピン7cはピン当接
面2bに当接することによって中板2の移動を制限して
いる。また図2(b)において、ピン7aはピン当接面
2bに当接することによって中板2の移動を制限してい
る。ここで、ピン7aとピン7bとの距離(ピン7aを
含む)をP1、ピン7bとピン7c(ピン7cを含む)
との距離をP2、ストロークをS1とする。
【0016】図3(a)は、本実施形態に係るステージ
において、ピン7cを取り外す様子を示す図である。
尚、ピン7a,7b,7cの着脱は、着脱したいピンの
位置に工具穴2c,3cの位置が合うように中板2と上
板3とを移動させた後に行う。図3(b),(c)は、
本実施形態に係るステージにおいて、ピン7a,7cを
取り外し、ピン7bのみを取り付けた場合のY方向のス
トロークを示す図である。図3(b),(c)におい
て、ピン7bはピン当接面2bに当接することによって
中板2の移動を制限している。ここで、ストロークをS
2として上述のS1と比較する場合、S2はP1とP2
とを合わせた長さ分だけS1よりも長くなる。
【0017】以上より本実施形態に係るステージは、顕
微鏡等に当該ステージを用いる場合に、ねじ穴に取り付
けるピンの数を変えることによって、観察対象物に応じ
てストロークを変更することができる。従って、ステー
ジに異なるストロークを要求する複数の観察対象物に対
して、1つのステージによって対応することが可能とな
る。このため、観察対象物に応じたストローク毎にステ
ージを製造する必要がなくなり、1種類のステージの製
造数量が増える。よって、製造の効率が向上、及び製造
コストの低下を達成することができる。
【0018】(第2実施形態)図4(a)は、本発明の
第2実施形態に係るステージを下方から見た図(一部断
面図)である。また図4(b)は、図4(a)における
A−A断面図である。以下、図4において、本発明の第
2実施形態に係るステージについて上記第1実施形態と
同様の構成である部分には同じ符号を付して重複する説
明を省略し、特徴的な部分について詳細に説明する。上
述のように第1実施形態に係るステージは、ねじ穴に着
脱するピンの取り付け位置を変えることによってストロ
ークの変更を行う構成のものである。これに対して本実
施形態に係るステージは、取り付けるピンの数よりもね
じ穴の数を多く有し、ピンの数を変えずにピンを取り付
けるねじ穴を変えることによってストロークの変更を行
う構成のものである。
【0019】まず、ステージのY方向へのストロークに
ついて説明する。中板2には、その下面に溝2aが設け
られている。また下板1には、その中央部に4つのねじ
穴1d,1e,1f,1gが設けられている。そしてね
じ穴1e,1fには、2つのピン7a,7bが中板2の
溝2aに入り込むように配置されている。また、これら
のピン7a,7bは、ねじ穴1d,1e,1f,1gに
着脱可能であり、中板2及び上板3にはそれぞれ、任意
にピン7a,7bの取り外しを行うための工具穴2c及
び工具穴3cが設けられている。
【0020】中板2がY方向へ水平移動する際に、溝2
aのピン当接面2bが2つのピン7a,7bのいずれか
に当接する。これによって、中板2のY方向への移動が
制限されることとなる。従って、このようにピン7a,
7bによって制限される範囲、即ち中板2がY方向へ移
動することができる範囲が、ステージ(中板2)のY方
向のストロークとなる。以上の構成の下、ピンの数は変
えずに、ピンを取り付けるねじ穴を変えることによっ
て、ステージのY方向のストロークを変更することがで
きる。
【0021】次に、ステージのX方向へのストロークに
ついて説明する。ステージのX方向へのストロークは、
基本的に上述のY方向へのストロークの構成と同様であ
る。上板3には、その下面に溝3aが設けられている。
また中板2には、その中央部に4つのねじ穴2d,2
e,2f,2g(2e,2f,2gは不図示)が設けら
れている。そしてねじ穴2e,2fには、上板3の溝3
aに入り込むように2つのピン8a,8b(8bは不図
示)が配置されている。また、これらのピン8a,8b
は、ねじ穴2d,2e,2f,2gに着脱可能であり、
上板3には、任意にピン8a,8bの取り外しを行うた
めの工具穴3cが設けられている。
【0022】上板3がX方向へ水平移動する際に、溝3
aのピン当接面3b(不図示)が2つのピン8a,8b
のいずれかに当接する。これによって、上板3のX方向
への移動が制限されることとなる。従って、このように
ピン8a,8bによって制限される範囲、即ち上板3が
X方向へ移動することができる範囲が、ステージ(上板
3)のX方向のストロークとなる。以上の構成の下、ピ
ンの数は変えずに、ピンを取り付けるねじ穴を変えるこ
とによって、ステージのX方向のストロークを変更する
ことができる。
【0023】図4(b)は、上述のように図4(a)の
A−A断面図であり、本実施形態に係るステージにおい
てピン7a,7bをそれぞれねじ穴1e,1fへ配置し
た状態を示す図である。図4(c)は、図4(a)のA
−A断面図であり、本実施形態に係るステージにおいて
ピン7a,7bをそれぞれねじ穴1d,1gへ付け替え
た状態を示す図である。尚、第1実施形態と同様、ピン
7a,7bの着脱は、着脱したいピンの位置に工具穴2
c,3cの位置が合うように中板2と上板3とを移動さ
せた後に行う。ここで、図4(b)のストロークと図4
(c)のストロークとを比較する場合、図4(c)のス
トロークは、ピン7a,7bを付け替えることにより該
ピン同士の距離を変えた分だけ図4(b)のストローク
よりも短くなる。
【0024】以上より本実施形態に係るステージは、顕
微鏡等に当該ステージを用いる場合に、ピンの数は変え
ずにピンを取り付けるねじ穴を変えることによって、観
察対象物に応じてストロークを変更することができる。
従って本実施形態に係るステージは、上記第1実施形態
に係るステージが奏する効果と同様の効果を奏すること
ができる。
【0025】(第3実施形態)図5(a)は、本発明の
第3実施形態に係るステージを下方から見た図(一部断
面図)である。また図5(b)は、図5(a)における
A−A断面図である。以下、図5において、本発明の第
3実施形態に係るステージについて上記第1実施形態と
同様の構成である部分には同じ符号を付して重複する説
明を省略し、特徴的な部分について詳細に説明する。本
実施形態に係るステージは、ねじ穴に取り付けているピ
ンを、該ピンと形状の異なる別なピンに付け替えること
によってストロークの変更を行う構成のものである。
【0026】まず、ステージのY方向へのストロークに
ついて説明する。中板2には、その下面に溝2aが設け
られている。また下板1には、その中央部に2つのねじ
穴1d,1eが設けられている。そしてねじ穴1d,1
eには、ピン9の雄ねじ9a,9bがそれぞれねじ込ま
れており、ピン9の先端部分9cが中板2の溝2aに入
り込むようになっている。またピン9の先端部分9c
は、溝2aの長手方向に沿った長さがL1の部材であ
る。また、ピン9の雄ねじ9a,9bは、ねじ穴1d,
1eに着脱可能である。さらにピン9は、該ピン9の先
端部分9cと大きさの異なる部材を先端部分として有す
る他のピンと付け替えることが可能である。本実施形態
においてピン9は、溝2aの長手方向に沿った長さがL
2である部材を先端部分10cとして有するピン10
(図中、点線にて示す。)と付け替えることができる構
成としている。さらに、中板2及び上板3にはそれぞ
れ、任意にピン9,10の取り外しを行うための工具穴
2c及び工具穴3cが設けられている。
【0027】中板2がY方向へ水平移動する際に、溝2
aのピン当接面2bがピン9の先端部分9cに当接す
る。これによって、中板2のY方向への移動が制限され
ることとなる。従って、このようにピン9の先端部分9
cによって制限される範囲、即ち中板2がY方向へ移動
することができる範囲が、ステージ(中板2)のY方向
のストロークとなる。以上の構成の下、ねじ穴に取り付
けているピンを、該ピンの先端部分と大きさの異なる先
端部分を有する他のピンと付け替えることによって、ス
テージのY方向のストロークを変更することができる。
【0028】次に、ステージのX方向へのストロークに
ついて説明する。基本的に上述のY方向へのストローク
の構成と同様である。上板3には、その下面に溝3aが
設けられている。また中板2には、その中央部に2つの
ねじ穴2d,2e(2eは不図示)が設けられている。
そしてねじ穴2d,2eには、ピン11の雄ねじ11
a,11b(11bは不図示)がそれぞれねじ込まれて
おり、ピン11の先端部分11cが上板3の溝3aに入
り込むようになっている。またピン11の先端部分11
cは、ピン9の先端部分9cと同じ形状である。また、
ピン11の雄ねじ11a,11bは、ねじ穴2d,2e
に着脱可能である。さらにピン11は、該ピン11の先
端部分11cと大きさの異なる部材を先端部分として有
する他のピンと付け替えることが可能である。本実施形
態においてピン11は、ピン10の先端部分10cと同
じ形状の部材を先端部分12cとして有するピン12
(不図示)と付け替えることができる構成としている。
さらに、上述のように上板3には、任意にピン11の取
り外しを行うための工具穴3cが設けられている。
【0029】上板3がX方向へ水平移動する際に、溝3
aのピン当接面3b(不図示)がピン11の先端部分1
1cに当接する。これによって、下板3のX方向への移
動が制限されることとなる。従って、このようにピン1
1の先端部分11cによって制限される範囲、即ち下板
3がX方向へ移動することができる範囲が、ステージ
(下板3)のX方向のストロークとなる。以上の構成の
下、ねじ穴に取り付けているピンを、該ピンの先端部分
と大きさの異なる先端部分を有する他のピンと付け替え
ることによって、ステージのX方向のストロークを変更
することができる。
【0030】図5(b)は、上述のように図5(a)に
おけるA−A断面図であり、本実施形態に係るステージ
において、ピン9をねじ穴へ配置した状態と、ピン9に
替えてピン10をねじ穴へ配置した状態とを示す図であ
る。尚、第1実施形態と同様、ピン9,10の着脱は、
ピンの位置に工具穴2c,3cの位置が合うように中板
2と上板3とを移動させた後に行う。ここで、ピン9を
ねじ穴へ配置したときのストロークと、ピン9に替えて
ピン10をねじ穴へ配置したときのストロークとを比較
する場合、ピン9に替えてピン10をねじ穴へ配置した
ときのストロークは、先端部分の長さが大きい分だけピ
ン9をねじ穴へ配置したときのストロークよりも短くな
る。
【0031】以上より本実施形態に係るステージは、顕
微鏡等に当該ステージを用いる場合に、ねじ穴に取り付
けているピンを該ピンの先端部分と大きさの異なる先端
部分を有する他のピンと付け替えることによって、観察
対象物に応じてストロークを変更することができる。従
って本実施形態に係るステージは、上記各実施形態に係
るステージが奏する効果と同様の効果を奏することがで
きる。
【0032】尚、上記各実施形態に係るステージは、共
通してピンをねじ穴に着脱する構成である。しかし本発
明はこれに限られず、溝2a(3a)へ繰り出し可能なピ
ンを下板1(中板2)内部に有し、該ピンを出し入れす
ることによってストロークを変更する構成とすることも
できる。またこのピンの出し入れは、所望のストローク
に応じて使用者が直接行う構成や、ピンの出し入れのた
めの駆動部を備えて該駆動部によって自動で行う構成と
することができる。
【0033】(第4実施形態)図6は、本発明の第4実
施形態に係る顕微鏡の一例を示す概略構成図である。本
実施形態に係る顕微鏡20は、上記第1実施形態に係る
ステージと同様の構成のステージ21をステージ設置面
20aに備えた顕微鏡である。図6において顕微鏡20
は、透過照明部22と接眼観察部23とを有する。顕微
鏡20のステージ21上に配置された不図示の観察対象
物(標本)は、透過照明部22からの照明光にて照明さ
れる。そして照明された標本からの光が、対物レンズ2
4と不図示の光学系を介して接眼観察部23または撮像
部26に導かれる。このようにして観察者は標本を肉眼
観察することができる。尚、ステージ21については後
述する。図6において顕微鏡20は、落射照明部25と
撮像部26とを有する。顕微鏡20のステージ21上に
配置された不図示の標本は、例えば蛍光観察の場合、落
射照明部25からの励起光にて照明される。これによっ
て標本から発生した蛍光は、不図示の光学系を介して撮
像部26または接眼観察部23に導かれる。このように
して観察者は標本を蛍光観察することができる。
【0034】次に、本実施形態に係る顕微鏡のステージ
21について説明する。本実施形態に係る顕微鏡20の
ステージ設置面20aには、上記第1実施形態に係るス
テージと同様の構成のステージ21が設置されている。
ステージ21は、上述のようにねじ穴に取り付けるピン
の取り付け位置を変えることによって、XY方向のスト
ロークを変更することができる。
【0035】本実施形態に係る顕微鏡20において、ス
テージ21は上記第1実施形態に係るステージが奏する
効果と同様の効果を奏する。以上より本実施形態に係る
顕微鏡は、観察対象物がステージに要求するストローク
に応じて、ステージのXY方向のストロークを変更する
ことができる。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、観察対象物に応じて、
XY方向へ水平移動する距離の範囲(ストローク)を変
更することができるステージ、及び該ステージを備えた
顕微鏡を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係るステージを示す図
である。
【図2】本発明の第1実施形態に係るステージのY方向
のストローク(ピン3本配置時)を示す図である。
【図3】図3(a)は本実施形態に係るステージにおい
てピン7cを取り外す様子を示す図であり、図3
(b),(c)は本発明の第1実施形態に係るステージ
のY方向のストローク(ピン1本配置時)を示す図であ
る。
【図4】本発明の第2実施形態に係るステージを示す図
である。
【図5】本発明の第3実施形態に係るステージを示す図
である。
【図6】本発明の第4実施形態に係る顕微鏡の一例を示
す概略構成図である。
【符号の説明】
1 下板 2 中板 3 上板 4a,4b,5a,5b レースガイド 7a,7b,7c,9,10 ピン 1d,1e,1f,1g ねじ穴 2a,3a ストローク溝 2c,3c 工具穴

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】重ねて配置された複数の板状部材を有し、 前記複数の板状部材が相対的に水平移動するステージに
    おいて、 前記板状部材の水平移動する距離を制限するための複数
    のストローク制限手段を有し、 当該複数のストローク制限手段によって、前記板状部材
    の水平移動する距離の制限を変更することを特徴とする
    ステージ。
  2. 【請求項2】前記複数の板状部材のうちのいずれか1つ
    の板状部材は、 前記ストローク制限手段を着脱可能な複数の制限手段取
    付部を有し、 前記ストローク制限手段を前記制限手段取付部に着脱す
    ることによって、前記板状部材の水平移動する距離の制
    限を変更することを特徴とする請求項1に記載のステー
    ジ。
  3. 【請求項3】前記ストローク制限手段は、大きさの異な
    るストローク制限手段と交換可能であり、前記ストロー
    ク制御手段の大きさの差異により、前記板状部材の水平
    移動する距離の制限を変更することを特徴とする請求項
    1に記載のステージ。
  4. 【請求項4】請求項1乃至3のいずれか一項に記載のス
    テージを備えたことを特徴とする顕微鏡。
JP2002046502A 2002-02-22 2002-02-22 ステージ、及び該ステージを備えた顕微鏡 Withdrawn JP2003241107A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012128418A (ja) * 2010-12-10 2012-07-05 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法
JP2013213855A (ja) * 2012-03-30 2013-10-17 Olympus Corp ステージ構造体および倒立型顕微鏡

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012128418A (ja) * 2010-12-10 2012-07-05 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法
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