JP2003234431A - Semiconductor chip mounting circuit board, its manufacturing method and multilayered circuit board - Google Patents

Semiconductor chip mounting circuit board, its manufacturing method and multilayered circuit board

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JP2003234431A
JP2003234431A JP2002032710A JP2002032710A JP2003234431A JP 2003234431 A JP2003234431 A JP 2003234431A JP 2002032710 A JP2002032710 A JP 2002032710A JP 2002032710 A JP2002032710 A JP 2002032710A JP 2003234431 A JP2003234431 A JP 2003234431A
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semiconductor chip
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insulating resin
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Seiji Shirai
誠二 白井
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the distance between semiconductor chips by burying the chips between adjacent circuit boards to eliminate troubles due to the resistance or the inductance of a wiring, thus transferring electric signals at high speeds, without delay. <P>SOLUTION: The semiconductor chip mounting circuit board comprises a conductor circuit on one surface of an insulating resin base. The conductor circuit has a semiconductor chip mounted on an approximately central surface portion through first conductor bumps and extends from the first bumps to a peripheral part of the insulating resin base having via holes extending to the conductor circuit on the other surface of the resin base. Second conductive bumps to be electrically connected to another circuit board are formed just on the via holes A manufacturing method of the invented circuit board and a multilayer circuit board with the invented board laminated with another one-side circuit board are provided. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁性樹脂基材上
に設けた導体回路にICチップ等の半導体チップを実装
するのに好適な回路基板とその実装回路基板の製造方法
ならびに半導体チップを実装した回路基板を積層してな
る多層化回路基板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board suitable for mounting a semiconductor chip such as an IC chip on a conductor circuit provided on an insulating resin substrate, a method for manufacturing the mounted circuit board, and a semiconductor chip. The present invention relates to a multilayer circuit board formed by stacking mounted circuit boards.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、プリント配線板の高密度化や高機
能化の要求に応えるべく基板内に半導体チップを埋め込
む技術が提案されている。例えば、特開平10−256
429号には、セラミック基板内に半導体チップを埋め
込んだパッケージが開示されている。そのようなパッケ
ージは、セラミック基板に形成された凹部内に半導体チ
ップを埋設し、その半導体チップをフリップチップ実装
によって基板上に設けた導体回路と接続したBGA構造
を有しており、それによって、半導体チップからの放熱
性の向上を図り、さらに狭ピッチ配線への対応等を図る
ことができる旨が記載されている。
2. Description of the Related Art Recently, a technique for embedding a semiconductor chip in a substrate has been proposed in order to meet the demand for higher density and higher functionality of a printed wiring board. For example, Japanese Patent Laid-Open No. 10-256
No. 429 discloses a package in which a semiconductor chip is embedded in a ceramic substrate. Such a package has a BGA structure in which a semiconductor chip is embedded in a recess formed in a ceramic substrate and the semiconductor chip is connected to a conductor circuit provided on the substrate by flip-chip mounting. It is described that it is possible to improve the heat dissipation from the semiconductor chip, and further to cope with narrow pitch wiring.

【0003】しかしながら、上記従来技術によるパッケ
ージ基板においては、半導体チップから外部への電気的
接続を行う配線の引き出しが基板だけで行うものである
ため、そのような基板を積層させることは困難である。
仮に、積層させるとしても、半導体チップが埋設された
基板と、それに積層させる基板の構造が基本的に異なる
ために、半導体チップから引き出された配線と積層させ
る基板との接続が極めて困難である。
However, in the above-mentioned package substrate according to the prior art, since the wiring for electrically connecting the semiconductor chip to the outside is drawn only by the substrate, it is difficult to stack such substrates. .
Even if they are laminated, it is extremely difficult to connect the wirings drawn from the semiconductor chips to the substrate to be laminated because the structure of the substrate in which the semiconductor chips are embedded and the substrate to be laminated thereon are basically different.

【0004】そもそも、上記従来技術による半導体チッ
プが埋設されたセラミック基板は、パッケージ基板とし
て使用され、微細ピッチで形成された半導体チップ側の
端子からプリント基板への接続を行うためのものであ
る。引き出された配線は、半田ボール(BGA)やピン
(PGA)を経て、外部基板への電気的接続が行われる
ものであり、それ故に、そのような基板を積層させるこ
との認識がなく、さらに基板を積層して半導体チップの
積層を可能とする構造ではない。したがって、仮に、積
層したとしても、基板と基板の接続において剥離などを
引き起こし、電気的接続性や信頼性が低下してしまうと
いう問題があった。
In the first place, the above-mentioned ceramic substrate in which the semiconductor chip according to the prior art is embedded is used as a package substrate, and is for connecting the terminals on the semiconductor chip side formed at a fine pitch to the printed board. The drawn wiring is to be electrically connected to an external substrate via a solder ball (BGA) or a pin (PGA), and therefore, there is no recognition of stacking such substrates, and further, The structure is not such that the semiconductor chips can be stacked by stacking the substrates. Therefore, even if they are stacked, there is a problem that they cause peeling in the connection between the substrates and the electrical connectivity and reliability are deteriorated.

【0005】本発明は、従来技術が抱える上記問題点に
鑑みてなされたものであり、その主たる目的は、半導体
チップとの電気的接続を確実に行うことができるととも
に、半導体チップから引き出された配線をさらに積層化
することができるような構造を有する半導体チップ実装
用の回路基板を提供することにある。本発明の他の目的
は、半導体チップ実装用の回路基板の製造方法を提案す
ることにある。本発明のさらに他の目的は、半導体チッ
プが実装された回路基板を積層し、加熱プレスにより多
層化されてなる多層化回路基板を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems of the prior art, and its main purpose is to ensure reliable electrical connection with a semiconductor chip and to pull out from the semiconductor chip. It is an object of the present invention to provide a circuit board for mounting a semiconductor chip having a structure in which wiring can be further laminated. Another object of the present invention is to propose a method of manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip. Still another object of the present invention is to provide a multi-layer circuit board in which circuit boards on which semiconductor chips are mounted are stacked and multilayered by hot pressing.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明者らは、
上掲の目的を実現するために鋭意研究した結果、絶縁性
樹脂基材の一面に導体回路を有し、この絶縁性樹脂基材
の他面から導体回路に達するバイアホールが形成され、
そのバイアホールの直上に導電性バンプが形成されてな
る回路基板の複数枚を接着剤を介して積層し、その積層
された複数枚の回路基板を加熱プレスにより多層化して
なる多層化回路基板において、回路基板のうちのいくつ
かには、その導体回路上に半導体チップを実装し、その
半導体チップを実装した回路基板と隣接する他の回路基
板との間に半導体チップを埋設することによって、半導
体チップ間の距離の短縮化を図り、配線の抵抗やインダ
クタンスに起因する不具合を低減することができ、その
結果、高速で遅延なく電気信号を伝達することができる
ので、配線基板の高密度化および高機能化を図ることが
できることを知見し、以下の内容を要旨構成とする本発
明に想到した。すなわち、
Therefore, the present inventors have
As a result of earnest research to realize the above-mentioned purpose, a conductive circuit is provided on one surface of the insulating resin base material, and a via hole reaching the conductive circuit from the other surface of the insulating resin base material is formed.
In a multi-layer circuit board formed by laminating a plurality of circuit boards having conductive bumps formed directly on the via holes via an adhesive, and laminating the plurality of laminated circuit boards by heating press In some of the circuit boards, a semiconductor chip is mounted on the conductor circuit, and the semiconductor chip is embedded between the circuit board on which the semiconductor chip is mounted and another circuit board adjacent to the semiconductor circuit. The distance between chips can be shortened, and the defects caused by the resistance and inductance of wiring can be reduced. As a result, electrical signals can be transmitted at high speed without delay, so that the density of wiring boards can be increased and The present invention has been conceived of as having the following contents as a gist configuration, since it has been found that high functionality can be achieved. That is,

【0007】本発明の半導体チップ実装用の回路基板
は、絶縁性樹脂基材の一面側には、そのほぼ中央部に半
導体チップを実装する領域を有し、その実装領域内に第
1の導電性バンプが形成されるとともに、その第1の導
電性バンプから絶縁性樹脂基材の周辺部に向けて導体回
路が延設され、前記絶縁性樹脂基材の他面側には、前記
導体回路に達する開口内に導電性物質を充填してなるバ
イアホールが設けられるとともに、そのバイアホールの
真上に他の回路基板に電気的に接続される第2の導電性
バンプが設けられていることを特徴とする回路基板であ
り、
The circuit board for mounting a semiconductor chip of the present invention has a region for mounting a semiconductor chip in the substantially central portion on one surface side of the insulating resin base material, and the first conductive layer is provided in the mounting region. Conductive bumps are formed, and a conductor circuit is extended from the first conductive bump toward the peripheral portion of the insulating resin base material, and the conductor circuit is provided on the other surface side of the insulating resin base material. A via hole formed by filling a conductive material into the opening reaching to, and a second conductive bump electrically connected to another circuit board directly above the via hole. Is a circuit board characterized by

【0008】また、本発明の半導体チップ実装回路基板
は、絶縁性樹脂基材の一面側には、そのほぼ中央部に半
導体チップを第1の導電性バンプを介して実装する導体
回路を含み、その導体回路は、前記第1の導電性バンプ
から絶縁性樹脂基材の周辺部に向けて延設され、前記絶
縁性樹脂基材の他面側には、前記導体回路に達する開口
内に導電性物質を充填してなるバイアホールが設けら
れ、そのバイアホールの真上に他の回路基板に電気的に
接続される第2の導電性バンプが形成されてなる回路基
板である。
Further, the semiconductor chip mounted circuit board of the present invention includes a conductor circuit for mounting the semiconductor chip on the one surface side of the insulating resin base material in a substantially central portion thereof through the first conductive bumps. The conductor circuit extends from the first conductive bump toward the peripheral portion of the insulating resin base material, and the conductive circuit is provided in the opening reaching the conductor circuit on the other surface side of the insulating resin base material. And a second conductive bump electrically connected to another circuit board is formed directly above the via hole.

【0009】上記(1)および(2)のような構成によ
れば、回路基板の一面に形成された導体回路上に第1の
導電性バンプを介して半導体チップを直接実装させるこ
とができるとともに、回路基板の他面に設けた第2の導
電性バンプを介して、あるいは導体回路のバイアホール
との接続部近傍において、他の回路基板に接続させるこ
とができるので、配線基板の高密度化を図ることが可能
となり、さらに半導体チップ間の距離の短縮化を図り、
配線の抵抗やインダクタンスに起因する不具合を低減す
ることができるので、電気信号を遅延なく高速で伝達す
ることができる。
According to the above-mentioned configurations (1) and (2), the semiconductor chip can be directly mounted on the conductor circuit formed on one surface of the circuit board via the first conductive bump. Since it can be connected to another circuit board through the second conductive bumps provided on the other surface of the circuit board or in the vicinity of the connection portion with the via hole of the conductor circuit, the wiring board can be made high in density. It is possible to reduce the distance between the semiconductor chips,
Since it is possible to reduce defects caused by wiring resistance and inductance, it is possible to transmit an electric signal at high speed without delay.

【0010】上記(1)および(2)に記載の回路基板
において、導電性バンプは、Sn、Pb、Ag、Au、
Cu、Zn、In、Bi、半田またはスズ合金から選ば
れる少なくとも1種の金属から形成されることが望まし
い。このような金属は、耐蝕性に優れた点で有利であ
り、溶融温度が樹脂基板よりも低い金属から形成した場
合には、反りや変形が生じない点で有利である。
In the circuit boards described in (1) and (2) above, the conductive bumps are made of Sn, Pb, Ag, Au,
It is desirable to be formed of at least one metal selected from Cu, Zn, In, Bi, solder or tin alloy. Such a metal is advantageous in that it is excellent in corrosion resistance, and when formed from a metal having a melting temperature lower than that of the resin substrate, it is advantageous in that it does not warp or deform.

【0011】また、上記導電性バンプは、電解めっきま
たは無電解めっきによって形成されることが望ましく、
特に、電解めっきが好ましく、その中でも電解すずめっ
きがより好ましい。
The conductive bumps are preferably formed by electrolytic plating or electroless plating,
In particular, electrolytic plating is preferable, and electrolytic tin plating is more preferable among them.

【0012】上記(1)および(2)に記載の回路基板
において、導電性物質は、電解銅めっきから形成される
とともに、導電性バンプは、電解すずめっきから形成さ
れることが望ましい。このような構成によれば、導体と
導体とを接着する役目を果して電気的接続を確実に行う
ことができ、接続性や信頼性という点で有利である。
In the circuit boards described in (1) and (2) above, it is desirable that the conductive material is formed by electrolytic copper plating and the conductive bumps are formed by electrolytic tin plating. According to such a configuration, the function of adhering the conductors to each other can be fulfilled, and the electrical connection can be surely made, which is advantageous in terms of connectivity and reliability.

【0013】また上記(1)および(2)に記載の回路
基板において、導体回路の表面には、粗化層が形成され
ることが望ましく、絶縁樹脂層と導体層との間の密着性
が向上する点で有利である。
Further, in the circuit boards described in (1) and (2) above, it is desirable that a roughening layer is formed on the surface of the conductor circuit, and the adhesion between the insulating resin layer and the conductor layer is improved. It is advantageous in terms of improvement.

【0014】本発明による半導体チップ実装用の回路基
板の製造方法は、絶縁性樹脂基材の一面に形成された導
体回路上に、前記基材のほぼ中央部に配置される半導体
チップを実装するための第1の導電性バンプが形成さ
れ、前記絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回路に達す
る開口内に導電性物質を充填してなるバイアホールが設
けられ、そのバイアホール上には他の回路基板に接続さ
れるべき第2の導電性バンプが設けられている回路基板
を製造するに当たって、その製造工程中に、少なくとも
以下の〜の工程、すなわち、 一面に銅箔が貼付けられた絶縁性樹脂基材の他面側
に、前記銅箔に達する開口を形成するとともに、その開
口内に導電性物質を充填して充填バイアホールを形成す
る工程、 前記充填バイアホールの真上に位置して電解めっき
膜あるいは導電性ペーストによって第2の導電性バンプ
を形成する工程、 前記絶縁性樹脂基材の前記他面に保護フィルムを貼
付し、前記絶縁性樹脂基材の一面のほぼ中央部に実装半
導体チップの端子位置に対応する開口を有するめっきレ
ジスト層を形成する工程、 前記の工程で得られた絶縁性樹脂基材に対して電
解めっき処理を行って、前記開口内に電解めっき膜を充
填して実装半導体チップの端子位置に対応した第1の導
電性バンプを形成する工程、 前記めっきレジスト層を除去した後、前記第1の導
電性バンプから前記絶縁性樹脂基材の周辺部に向かって
延在する所定の回路パターンに対応するエッチングレジ
スト層を形成し、そのエッチングレジスト層が形成され
ていない銅箔部分をエッチング処理によって除去するこ
とによって、前記所定の回路パターンを形成する工程、
とを含んでなる半導体チップ実装用の回路基板の製造方
法であり、
In the method of manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip according to the present invention, a semiconductor chip arranged in substantially the center of the base material is mounted on a conductor circuit formed on one surface of an insulating resin base material. A first conductive bump is formed, and a via hole formed by filling a conductive substance in the opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating resin base is provided, and on the via hole. In manufacturing a circuit board having a second conductive bump to be connected to another circuit board, at least the following steps (1) to (2), ie, a copper foil was attached to one surface, during the manufacturing process. A step of forming an opening reaching the copper foil on the other surface side of the insulating resin base material, and filling a conductive substance in the opening to form a filled via hole, located directly above the filled via hole do it A step of forming a second conductive bump with a deplating film or a conductive paste; attaching a protective film to the other surface of the insulating resin base material, and mounting the protective film on substantially the center of one surface of the insulating resin base material Step of forming a plating resist layer having an opening corresponding to the terminal position of the semiconductor chip, electrolytic plating treatment is performed on the insulating resin base material obtained in the above step, and an electrolytic plating film is filled in the opening. And forming a first conductive bump corresponding to the terminal position of the mounted semiconductor chip, removing the plating resist layer, and then moving from the first conductive bump to the peripheral portion of the insulating resin base material. To form an etching resist layer corresponding to a predetermined circuit pattern that extends over the entire area, and to remove the copper foil part where the etching resist layer is not formed by etching. Therefore, the step of forming the predetermined circuit pattern,
A method of manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip, comprising:

【0015】(4) また、本発明の半導体チップ実装
用の回路基板の製造方法は、絶縁性樹脂基材の一面に形
成された導体回路上に、前記基材のほぼ中央部に配置さ
れる半導体チップを実装するための第1の導電性バンプ
が形成され、前記絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回
路に達する開口内に導電性物質を充填してなるバイアホ
ールが設けられ、そのバイアホール上には他の回路基板
に接続されるべき第2の導電性バンプが設けられている
回路基板を製造するに当たって、その製造工程中に、少
なくとも以下の〜の工程、すなわち、 一面に銅箔が貼付けられた絶縁性樹脂基材の他の面
に光透過性樹脂フィルムを貼付し、その樹脂フィルムの
上方から絶縁性樹脂基材の他の面に対してレーザ照射を
行って、前記銅箔に達する開口を形成するとともに、そ
の開口内に残った残滓をクリーニングする工程、 前記絶縁性樹脂基材の一面を保護フィルムで覆った
状態で、電解銅めっき処理を行って、前記開口内に電解
銅めっき膜を充填して充填バイアホールを形成する工
程、 前の工程で得られた絶縁性樹脂基材に対して電解
すずめっき処理を行って、前記充填バイアホールの真上
に電解すずめっき膜からなる第2の導電性バンプを形成
する工程、 前記保護フィルムおよび樹脂フィルムをそれぞれ絶
縁性樹脂基材から剥離させた後、前記絶縁性樹脂基材の
前記他の面に保護フィルムを貼付し、前記絶縁性樹脂基
材の一面のほぼ中央部に実装半導体チップの端子位置に
対応する開口を有するめっきレジスト層を形成する工
程、 前記の工程で得られた絶縁性樹脂基材に対して電
解すずめっき処理を行って、前記開口内に電解すずめっ
き膜を充填して実装半導体チップの端子位置に対応した
第1の導電性バンプを形成する工程、 前記めっきレジスト層を除去した後、前記第1の導
電性バンプから前記絶縁性樹脂基材の周辺部に向かって
延在する所定の回路パターンに対応するエッチングレジ
スト層を形成し、そのエッチングレジスト層が形成され
ていない銅箔部分をエッチング処理によって除去するこ
とによって、前記所定の回路パターンを形成する工程、
とを含んでなる半導体チップ実装用回路基板の製造方法
である。
(4) Further, in the method for manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip according to the present invention, the conductor circuit is formed on one surface of the insulating resin base material, and the circuit board is arranged substantially in the center of the base material. A first conductive bump for mounting a semiconductor chip is formed, and a via hole formed by filling a conductive substance is provided in an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating resin base material. In manufacturing a circuit board in which a second conductive bump to be connected to another circuit board is provided on the via hole, at least the following steps (1) to (2), that is, copper on one surface, is performed during the manufacturing process. A light-transmissive resin film is attached to the other surface of the insulating resin base material to which the foil is attached, and laser irradiation is performed from above the resin film to the other surface of the insulating resin base material, and the copper Form an opening that reaches the foil Together with the step of cleaning the residue left in the opening, in a state in which one surface of the insulating resin substrate is covered with a protective film, electrolytic copper plating treatment is performed to fill the opening with an electrolytic copper plating film. Forming a filled via hole by performing electrolytic tin plating treatment on the insulating resin base material obtained in the previous step, and forming a second conductive layer made of an electrolytic tin plating film directly above the filled via hole. A step of forming a conductive bump, after peeling off the protective film and the resin film from the insulating resin base material, respectively, affixing a protective film on the other surface of the insulating resin base material, the insulating resin base material Process of forming a plating resist layer having an opening corresponding to the terminal position of the mounted semiconductor chip on the substantially central part of one surface, electrolytic tin plating on the insulating resin substrate obtained in the above process To form a first conductive bump corresponding to the terminal position of the mounted semiconductor chip by filling the opening with an electrolytic tin-plated film, and after removing the plating resist layer, the first An etching resist layer corresponding to a predetermined circuit pattern extending from the conductive bump toward the peripheral portion of the insulating resin base material is formed, and the copper foil portion where the etching resist layer is not formed is removed by etching treatment. A step of forming the predetermined circuit pattern by
A method of manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip, comprising:

【0016】(5) 本発明の多層化回路基板は、絶縁
性樹脂基材の一面に導体回路を有し、この絶縁性樹脂基
材の他面から前記導体回路に達するバイアホールが形成
され、そのバイアホールの直上に導電性バンプが形成さ
れてなる回路基板の複数枚を接着剤を介して積層し、そ
の積層された複数枚の回路基板を加熱プレスにより一体
化してなる多層化回路基板において、前記回路基板のう
ちのいくつかには、その導体回路上に半導体チップが実
装され、それらの実装半導体チップは、前記回路基板と
隣接する他の回路基板との間に埋設されていることを特
徴とする多層化回路基板であり、
(5) The multilayer circuit board of the present invention has a conductor circuit on one surface of the insulating resin base material, and a via hole is formed from the other surface of the insulating resin base material to reach the conductor circuit. In a multilayer circuit board in which a plurality of circuit boards having conductive bumps formed directly above the via holes are laminated with an adhesive, and the laminated circuit boards are integrated by a heat press. In some of the circuit boards, semiconductor chips are mounted on the conductor circuits, and the mounted semiconductor chips are embedded between the circuit board and another adjacent circuit board. It is a characteristic multilayer circuit board,

【0017】(6) また、本発明の多層化回路基板
は、絶縁性樹脂基材の一面に導体回路を有し、この絶縁
性樹脂基材の他面から前記導体回路に達するバイアホー
ルが形成され、そのバイアホールの直上に導電性バンプ
が形成されてなる回路基板の複数枚を接着剤を介して積
層し、その積層された複数枚の回路基板を加熱プレスに
より一体化してなる多層化回路基板において、前記回路
基板のうちのいくつかは、そのほぼ中央部において、前
記導体回路上に半導体チップが実装されるとともに、そ
の導体回路は、実装半導体チップの端子位置から前記回
路基板の周辺部に向けて延設され、かつその周辺部にお
いて前記バイアホールに接続されるように構成されるこ
とを特徴とする多層化回路基であり、
(6) In addition, the multilayer circuit board of the present invention has a conductor circuit on one surface of the insulating resin base material, and a via hole reaching from the other surface of the insulating resin base material to the conductor circuit is formed. A multilayer circuit in which a plurality of circuit boards having conductive bumps formed directly on the via holes are laminated with an adhesive and the laminated circuit boards are integrated by a heat press. In the board, some of the circuit boards have a semiconductor chip mounted on the conductor circuit in a substantially central portion thereof, and the conductor circuit has a peripheral portion of the circuit board from a terminal position of the mounted semiconductor chip. And a multilayer circuit board characterized in that it is configured to be connected to the via hole in its peripheral portion,

【0018】(7) 本発明の多層化回路基板は、絶縁
性樹脂基材の一面に導体回路を有し、この絶縁性樹脂基
材の他面から前記導体回路に達するバイアホールが形成
され、そのバイアホールの直上に導電性バンプが形成さ
れてなる回路基板の複数枚を接着剤を介して積層し、そ
の積層された複数枚の回路基板を加熱プレスにより一体
化してなる多層化回路基板において、前記回路基板のう
ちのいくつかは、そのほぼ中央部において、前記導体回
路上に半導体チップが実装され、その導体回路は、実装
半導体チップの端子位置から前記回路基板の周辺部に向
けて延設され、かつその周辺部において前記バイアホー
ルに接続されるように構成され、一方、前記半導体チッ
プが実装された回路基板に隣接する他の回路基板には、
前記実装半導体チップが通過できるような開口が形成さ
れていることを特徴とする多層化回路基板である。
(7) The multilayer circuit board of the present invention has a conductor circuit on one surface of the insulating resin base material, and a via hole is formed from the other surface of the insulating resin base material to reach the conductor circuit. In a multilayer circuit board in which a plurality of circuit boards having conductive bumps formed directly above the via holes are laminated with an adhesive, and the laminated circuit boards are integrated by a heat press. In some of the circuit boards, a semiconductor chip is mounted on the conductor circuit in a substantially central portion thereof, and the conductor circuit extends from the terminal position of the mounted semiconductor chip toward the peripheral portion of the circuit board. Is provided, and is configured to be connected to the via hole in the peripheral portion thereof, while the other circuit board adjacent to the circuit board on which the semiconductor chip is mounted,
In the multilayer circuit board, an opening is formed so that the mounted semiconductor chip can pass therethrough.

【0019】上記(5)〜(7)に記載の多層化回路基
板において、導電性バンプは、Sn、Pb、Ag、A
u、Cu、Zn、In、Bi、半田またはスズ合金から
選ばれる少なくとも1種の金属から形成されることが望
ましい。このような金属は、耐蝕性に優れた点で有利で
あり、溶融温度が樹脂基板よりも低い金属から形成した
場合には、反りや変形が生じない点で有利である。
In the multilayered circuit board described in (5) to (7) above, the conductive bumps are Sn, Pb, Ag, A.
It is desirable to be formed of at least one metal selected from u, Cu, Zn, In, Bi, solder or tin alloy. Such a metal is advantageous in that it is excellent in corrosion resistance, and when formed from a metal having a melting temperature lower than that of the resin substrate, it is advantageous in that it does not warp or deform.

【0020】上記導電性バンプは、電解めっきまたは無
電解めっきによって形成されることが望ましく、特に、
電解めっきが好ましく、その中でも電解すずめっきがよ
り好ましい。また、上記バイアホールは、電解銅めっき
から形成されるとともに、導電性バンプは、電解すずめ
っきから形成されることが最も好ましい実施の形態であ
る。
The conductive bumps are preferably formed by electrolytic plating or electroless plating, and in particular,
Electrolytic plating is preferred, of which electrolytic tin plating is more preferred. In the most preferred embodiment, the via holes are formed by electrolytic copper plating, and the conductive bumps are formed by electrolytic tin plating.

【0021】上記(5)〜(7)に記載の多層化回路基
板において、導体回路の表面には、粗化層が形成される
ことが望ましい。
In the multilayer circuit board described in (5) to (7) above, it is desirable that a roughening layer is formed on the surface of the conductor circuit.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】本発明にかかる半導体チップ実装
用回路基板の特徴は、ICチップ等の半導体チップを実装
した状態で、ほぼ同じ構造を有する他の積層用回路基板
と共に積層されて、半導体チップ間の信号伝達を速やか
に行うことができる多層化回路基板の製造に好適に用い
られる点にある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A semiconductor chip mounting circuit board according to the present invention is characterized in that a semiconductor chip such as an IC chip is mounted and stacked with another stacking circuit board having almost the same structure to form a semiconductor chip. It is suitable for use in the manufacture of a multilayer circuit board capable of promptly transmitting signals between chips.

【0023】すなわち、本発明にかかる半導体チップ実
装用回路基板は、絶縁性樹脂基板の一方の表面のほぼ中
央部に半導体チップを実装する領域を有し、その実装領
域を取り囲んで多数の実装用の導電性バンプ(以下、
「第1の導電性バンプ」という)が形成されるととも
に、それらの第1の導電性バンプに電気的接続され、か
つ実装領域から基板周辺部に向かって導体回路が延設さ
れている。一方、絶縁性基板の他方の表面から導体回路
に達する開口が設けられ、その開口内に導電性物質が充
填されてなる充填バイアホールが、基板周辺部に位置し
て形成されると共に、そのバイアホールの真上には、他
の回路基板に電気的に接続される接続用の導電性バンプ
(以下、「第2の導電性バンプ」という)が形成されて
いる。
That is, the circuit board for mounting a semiconductor chip according to the present invention has a region for mounting a semiconductor chip in substantially the center of one surface of an insulating resin substrate, and surrounds the mounting region to mount a large number of mounting substrates. Conductive bumps (below,
"First conductive bumps") are formed, and electrically connected to the first conductive bumps, and a conductor circuit is extended from the mounting region toward the peripheral portion of the substrate. On the other hand, an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating substrate is provided, and a filling via hole formed by filling the opening with a conductive substance is formed at the peripheral portion of the substrate and the via hole is formed. Directly above the hole is formed a conductive bump for connection (hereinafter, referred to as “second conductive bump”) that is electrically connected to another circuit board.

【0024】このような半導体チップが実装された回路
基板は、回路形成されたほぼ同じ構造を有する他の回路
基板や、別の半導体チップが実装された実装回路基板と
共に積層され、加熱プレスによって一体化されて、高密
度化および高機能化が図れた多層化回路基板が形成され
る。
The circuit board on which such a semiconductor chip is mounted is laminated together with another circuit board on which a circuit is formed and having substantially the same structure, or a mounted circuit board on which another semiconductor chip is mounted, and is integrated by a heat press. As a result, a multi-layer circuit board having high density and high functionality is formed.

【0025】上記多層化に際しては、例えば、その表層
側には、演算機能を主として有する半導体チップを実装
した回路基板を配置させ、内層側には、メモリー機能を
主として有する半導体チップを実装した回路基板を配置
させ、それらの半導体チップ実装回路基板間には、絶縁
性基材のほぼ中央部に半導体チップ実装領域に対応した
開口が設けられ、かつその一面に導体回路を有し、絶縁
性基材の他面にはその導体回路に達する開口内に導電性
物質を充填してなる充填バイアホールを形成すると共
に、そのバイアホールの直上に導電性バンプを形成して
なる積層用回路基板を配置させた状態で、それらの回路
基板を積層し加熱プレスによって一体化が行われる。
In the above multi-layering, for example, a circuit board on which a semiconductor chip mainly having an arithmetic function is mounted is arranged on the surface side thereof, and a circuit board on which a semiconductor chip mainly having a memory function is mounted is disposed on the inner layer side. Between the semiconductor chip mounting circuit boards, an opening corresponding to the semiconductor chip mounting area is provided in substantially the center of the insulating base material, and a conductor circuit is provided on one surface of the insulating base material. On the other surface, a filling via hole formed by filling a conductive material into the opening reaching the conductor circuit is formed, and a laminating circuit board formed by forming a conductive bump immediately above the via hole is arranged. In this state, the circuit boards are laminated and integrated by hot pressing.

【0026】そのようにして得られた多層化回路基板に
おいて、回路基板上に実装された半導体チップは、隣接
する積層用回路基板の中央開口内に臨んで樹脂封止され
た状態で、第1の導電性バンプを介して基板外周部に向
かって延設された導体回路に接続され、さらにバイアホ
ールおよび第2の導電性バンプを介して内層側の実装回
路基板上の半導体チップに接続されているので、半導体
チップ間の距離が短縮され、配線抵抗やインダクタンス
に起因する不具合が低減されるので、その結果、電気信
号の伝達を遅延なく高速で行うことができる。
In the multi-layered circuit board thus obtained, the semiconductor chip mounted on the circuit board faces the inside of the central opening of the adjacent laminating circuit board and is resin-sealed in the first state. Connected to the conductor circuit extending toward the outer peripheral portion of the substrate through the conductive bumps of, and further connected to the semiconductor chip on the mounting circuit board on the inner layer side through the via hole and the second conductive bump. Since the distance between the semiconductor chips is shortened and the defects caused by the wiring resistance and the inductance are reduced, as a result, the electric signals can be transmitted at high speed without delay.

【0027】本発明の回路基板に使用する絶縁性樹脂基
材は、有機系絶縁性基材であれば使用でき、具体的に
は、アラミド不織布−エポキシ樹脂基材、ガラス布エポ
キシ樹脂基材、アラミド不織布−ポリイミド基材、ビス
マレイミドトリアジン樹脂基材、FR−4、FR−5か
ら選ばれるリジッド(硬質)の積層基材、あるいは、ポ
リフェニレンエーテル(PPE)フィルム、ポリイミド
(PI)などのフィルムからなるフレキシブル基材から
選ばれる1種であることが望ましい。
The insulating resin base material used in the circuit board of the present invention may be any organic insulating base material, specifically, aramid nonwoven fabric-epoxy resin base material, glass cloth epoxy resin base material, From aramid non-woven fabric-polyimide base material, bismaleimide triazine resin base material, rigid (hard) laminated base material selected from FR-4 and FR-5, or films such as polyphenylene ether (PPE) film and polyimide (PI) It is desirable to be one kind selected from the following flexible base materials.

【0028】特に、硬質の絶縁性樹脂基材は、従来のよ
うな半硬化状態のプリプレグではなく、完全に硬化した
樹脂材料から形成されるので、このような材料を用いる
ことによって、絶縁性基材上へ銅箔を加熱プレスによっ
て圧着させる際に、プレス圧による絶縁性基材の最終的
な厚みの変動がなくなるので、ビアホールの位置ずれを
最小限度に抑えて、ビアランド径を小さくできる。した
がって配線ピッチを小さくして配線密度を向上させるこ
とができる。また、基材の厚みを実質的に一定に保つこ
とができるので、後述する充填ビアホール形成用の開口
をレーザ加工によって形成する場合には、そのレーザ照
射条件の設定が容易となる。
In particular, since the hard insulating resin base material is formed of a completely cured resin material, not a conventional prepreg in a semi-cured state, it is possible to use an insulating base material by using such a material. When the copper foil is pressure-bonded onto the material by hot pressing, the final thickness of the insulating base material does not change due to the pressing pressure, so that the displacement of the via hole can be minimized and the via land diameter can be reduced. Therefore, the wiring pitch can be reduced to improve the wiring density. Further, since the thickness of the base material can be kept substantially constant, when forming an opening for forming a filled via hole, which will be described later, by laser processing, it is easy to set the laser irradiation condition.

【0029】上記絶縁性樹脂基材の一方の表面には、適
切な樹脂接着剤を介して銅箔が貼り付けられ、後述する
エッチング処理によって導体回路が形成される。このよ
うな絶縁性基材上への銅箔の貼付に代えて、絶縁性基材
上に予め銅箔を貼付した片面銅張積層板を用いることも
でき、その銅箔は密着性改善のためにマット処理されて
いてもよい。片面銅張積層板を使用することが最も好ま
しい実施の形態である。
A copper foil is attached to one surface of the insulating resin base material with an appropriate resin adhesive, and a conductor circuit is formed by an etching treatment described later. Instead of sticking a copper foil on such an insulating base material, it is also possible to use a single-sided copper-clad laminate in which a copper foil is stuck on the insulating base material in advance. May be mat-treated. The use of a single sided copper clad laminate is the most preferred embodiment.

【0030】上記片面銅張積層板は、エポキシ樹脂基
材、フェノール樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂
などの熱硬化性樹脂をガラスクロスに含浸させてBステ
ージとしたプリプレグと銅箔を積層して加熱加圧プレス
することにより得られる基板である。この片面銅張積層
板は、リジッドな基板であり、扱いやすくコスト的にも
最も有利である。また、絶縁性樹脂基材の表面に、金属
を蒸着した後、電解めっきを用いて、金属層を形成する
こともできる。
The above single-sided copper-clad laminate is prepared by impregnating a glass cloth with a thermosetting resin such as an epoxy resin base material, a phenol resin or a bismaleimide-triazine resin, and laminating a B stage prepreg and a copper foil, followed by heating. It is a substrate obtained by pressing under pressure. This single-sided copper-clad laminate is a rigid substrate, easy to handle, and most advantageous in terms of cost. Alternatively, the metal layer may be formed on the surface of the insulating resin substrate by vapor deposition of metal and then electrolytic plating.

【0031】上記絶縁性樹脂基材の厚さは、10〜20
0μm、好ましくは15〜100μmであり、20〜8
0μmが最適である。これらの範囲より薄くなると強度
が低下して取扱が難しくなり、逆に厚すぎると微細なバ
イアホールの形成および導電性材料による充填が難しく
なるからである。
The insulating resin base material has a thickness of 10 to 20.
0 μm, preferably 15 to 100 μm, 20 to 8
0 μm is optimal. If the thickness is less than these ranges, the strength is lowered and handling becomes difficult, and conversely, if it is too thick, it becomes difficult to form fine via holes and fill with a conductive material.

【0032】一方、導体回路を形成する銅箔の厚さは、
5〜36μm、好ましくは8〜30μmであり、12〜
25μmがより好適である。その理由は、後述するよう
にバイアホール形成用の開口をレーザ加工によって設け
る際に、薄すぎると貫通してしまうからであり、逆に厚
すぎるとエッチングにより、ファインパターンを形成し
難いからである。
On the other hand, the thickness of the copper foil forming the conductor circuit is
5 to 36 μm, preferably 8 to 30 μm, 12 to
25 μm is more preferable. The reason for this is that when an opening for forming a via hole is provided by laser processing, as will be described later, it penetrates if it is too thin, and conversely, if it is too thick, it is difficult to form a fine pattern by etching. .

【0033】バイアホール形成用の開口は、絶縁性樹脂
基材の銅箔貼付面と反対側の表面に、半硬化状態の樹脂
接着剤層を介して予め光透過性の樹脂フィルムを粘着さ
せ、その樹脂フィルム上からレーザ照射を行って形成さ
れる。
The opening for forming the via hole is formed by adhering a light-transmissive resin film to the surface of the insulating resin base material opposite to the surface on which the copper foil is adhered via a semi-cured resin adhesive layer in advance, It is formed by performing laser irradiation on the resin film.

【0034】上記レーザ照射によって開口が設けられた
樹脂フィルムは、絶縁性基材の表面から銅箔に達する開
口内に導電性物質を充填してバイアホールを形成する際
には印刷用マスクとして機能し、また開口内に導電性物
質を充填した後、バイアホール表面の直上に導電性バン
プを形成する際には、そのバンプの突出高さを調整する
機能を果たすものであり、所定の工程を経た後に、接着
剤層から剥離されるような粘着剤層を有する。
The resin film provided with the openings by the laser irradiation functions as a printing mask when the openings reaching the copper foil from the surface of the insulating base material are filled with a conductive substance to form via holes. In addition, when a conductive bump is formed directly on the surface of the via hole after the conductive material is filled in the opening, it serves to adjust the protruding height of the bump. It has a pressure-sensitive adhesive layer that is peeled off from the adhesive layer after the passage.

【0035】上記樹脂フィルムは、たとえば、粘着剤層
の厚みが1〜20μmであり、フィルム自体の厚みが1
0〜50μmであるポリエチレンテレフタレート樹脂フ
ィルム(以下、「PETフィルム」と言う)から形成さ
れるのが好ましい。その理由は、PETフィルムの厚さ
に依存して、導電性バンプの絶縁性基材表面からの突出
量が決まるので、10μm未満の厚さでは突出量が小さ
すぎて接続不良になりやすく、逆に50μmを超えた厚
さでは、溶融した導電性バンプが接続界面において拡が
りすぎるので、ファインパターンの形成ができないから
である。
In the above resin film, for example, the adhesive layer has a thickness of 1 to 20 μm, and the film itself has a thickness of 1
It is preferably formed from a polyethylene terephthalate resin film having a thickness of 0 to 50 μm (hereinafter referred to as “PET film”). The reason is that the amount of protrusion of the conductive bump from the surface of the insulating substrate is determined depending on the thickness of the PET film. Therefore, if the thickness is less than 10 μm, the amount of protrusion is too small and connection failure tends to occur. When the thickness is more than 50 μm, the fused conductive bumps spread too much at the connection interface, so that a fine pattern cannot be formed.

【0036】上記レーザ加工機としては、炭酸ガスレー
ザ加工機や、UVレーザ加工機、エキシマレーザ加工機
等を使用できる。特に、炭酸ガスレーザ加工機は、加工
速度が速く、安価に加工できるため工業的に用いるには
最も適しており、本発明に最も望ましいレーザ加工機で
ある。
As the laser processing machine, a carbon dioxide laser processing machine, a UV laser processing machine, an excimer laser processing machine or the like can be used. In particular, the carbon dioxide laser processing machine is the most suitable laser processing machine for the present invention because it has a high processing speed and can be processed at low cost, and is therefore most suitable for industrial use.

【0037】このような炭酸ガスレーザによって、上記
範囲の厚さを有する絶縁性樹脂基材に形成される開口の
口径は、50〜200μmの範囲であることが望まし
く、その際のレーザ照射条件は、パルスエネルギーが
0.5〜100mJ、パルス幅が1〜100μs、パル
ス間隔が0.5ms以上、ショット数が3〜50である
ことが望ましい。
The diameter of the opening formed in the insulating resin base material having the thickness in the above range by such a carbon dioxide laser is preferably in the range of 50 to 200 μm, and the laser irradiation conditions at that time are as follows: It is desirable that the pulse energy is 0.5 to 100 mJ, the pulse width is 1 to 100 μs, the pulse interval is 0.5 ms or more, and the number of shots is 3 to 50.

【0038】開口の口径に制限を設けた理由は、50μ
m未満では開口内に導電性ペーストを充填し難くなると
共に、接続信頼性が低くなるからであり、200μmを
超えると、高密度化が困難になるからである。
The reason for limiting the aperture diameter is 50 μm.
This is because if the thickness is less than m, it becomes difficult to fill the conductive paste in the opening and the connection reliability becomes low, and if it exceeds 200 μm, it becomes difficult to increase the density.

【0039】開口に導電性物質を充填してバイアホール
を形成する前に、開口の内壁面に残留する樹脂残滓を取
り除くためのデスミア処理、例えば、酸や過マンガン
酸、クロム酸などの酸化剤などに浸漬する化学的除去方
法、あるいは、プラズマ放電やコロナ放電などを用いた
物理的除去方法によって処理することが接続信頼性確保
の点から望ましい。
Before filling the opening with a conductive substance to form a via hole, a desmear treatment for removing resin residue remaining on the inner wall surface of the opening, for example, an oxidizing agent such as an acid, permanganic acid, or chromic acid. From the viewpoint of securing the connection reliability, it is preferable to perform the treatment by a chemical removal method of immersing in, or a physical removal method using plasma discharge or corona discharge.

【0040】特に、絶縁性基材上に接着剤層や保護フィ
ルムが貼付けられた状態で行う場合には、たとえば、プ
ラズマ放電やコロナ放電等を用いたドライデスミア処理
によることが望ましい。ドライデスミア処理のうち、プ
ラズマクリーニング装置を使用したプラズマクリーニン
グがとくに好ましい。この実施態様では、バイアホール
形成用の開口をレーザ加工で形成したが、ドリル加工、
パンチング加工等の機械的方法で穴開けすることも可能
である。
In particular, when the adhesive layer or the protective film is attached to the insulating base material, it is desirable to perform dry desmear treatment using plasma discharge or corona discharge. Among the dry desmear processing, plasma cleaning using a plasma cleaning device is particularly preferable. In this embodiment, the opening for forming the via hole was formed by laser processing, but drilling,
It is also possible to make holes by a mechanical method such as punching.

【0041】上記デスミア処理を行った開口内に導電性
物質を充填してバイアホールを形成する方法には、めっ
き処理によるめっき充填方法や導電性ペーストの充填に
よる方法がある。特に、めっき充填による場合には、絶
縁性基材上の銅箔にめっきが析出しないように、予め保
護フィルムを貼付してめっき液との接触を阻止する措置
を取り、その上で開口内にめっきを充填してバイアホー
ルとする。
As a method of forming a via hole by filling a conductive material into the opening subjected to the desmear treatment, there are a plating filling method by a plating treatment and a filling method by a conductive paste. In particular, when filling with plating, take measures to prevent contact with the plating solution by pasting a protective film in advance so that plating does not deposit on the copper foil on the insulating base material, and then place it in the opening. Fill the plating to form a via hole.

【0042】上記バイアホール形成用開口内へのめっき
充填は、電解めっき処理または無電解めっき処理のいず
れによっても行うことができるが、電解めっき処理が望
ましい。
The filling of the via hole forming opening with the plating can be performed by either electrolytic plating or electroless plating, but electrolytic plating is preferable.

【0043】電解めっきとしては、例えば、Sn、P
b、Ag、Au、Cu、Zn、In、Bi、半田または
スズ合金等を使用できるが、特に、電解銅めっきが最適
である。電解めっき処理により充填する場合は、絶縁性
基材に形成された銅箔をめっきリードとして電解めっき
を行う。この銅箔(金属層)は、絶縁性基材の一方の表
面の全域に亘って形成されているため、電流密度が均一
となり、開口を電解めっきにて均一な高さで充填するこ
とができる。ここで、電解めっき処理の前に、開口内の
金属層の表面を酸などで活性化処理しておくとよい。
As the electrolytic plating, for example, Sn, P
Although b, Ag, Au, Cu, Zn, In, Bi, solder, tin alloy, or the like can be used, electrolytic copper plating is particularly suitable. In the case of filling by electrolytic plating treatment, electrolytic plating is performed using the copper foil formed on the insulating base material as a plating lead. Since this copper foil (metal layer) is formed over the entire area of one surface of the insulating base material, the current density becomes uniform, and the openings can be filled by electrolytic plating at a uniform height. . Here, the surface of the metal layer in the opening may be activated with an acid or the like before the electrolytic plating treatment.

【0044】また、電解めっきした後、孔から盛り上が
った電解めっき(金属)を研磨などで除去して、平坦化
することもできる。研磨は、ベルトサンダーやバフ研磨
等を使用できる。なお、電解めっきを絶縁基板よりも若
干高くなるように残しておくこともできる。
After electrolytic plating, the electrolytic plating (metal) rising from the holes may be removed by polishing or the like to flatten the surface. For polishing, a belt sander or buffing can be used. The electrolytic plating may be left slightly higher than that of the insulating substrate.

【0045】また、めっき処理による導電性物質充填の
代わりに、導電性ペーストを充填する方法、あるいは電
解めっき処理又は無電解めっき処理によって開口の一部
を充填し、残存部分に導電ペーストを充填して行うこと
もできる。
Further, instead of the filling of the conductive material by the plating treatment, a method of filling the conductive paste, or a portion of the opening is filled by the electrolytic plating treatment or the electroless plating treatment, and the remaining portion is filled with the conductive paste. You can also do it.

【0046】上記導電性ペーストとしては、銀、銅、
金、ニッケル、各種はんだから選ばれる1種または2種以
上の金属粒子からなる導電性ペーストを使用できる。
As the conductive paste, silver, copper,
A conductive paste made of one or more kinds of metal particles selected from gold, nickel and various solders can be used.

【0047】また、上記金属粒子としては、金属粒子の
表面に異種金属をコーティングしたものも使用できる。
具体的には銅粒子の表面に金または銀のような貴金属を
被覆した金属粒子を使用することができる。なお、導電
性ペーストとしては、金属粒子に、エポキシ樹脂などの
熱硬化性樹脂や、ポリフェニレンスルフィド(PPS)
樹脂を加えた有機系導電性ペーストが望ましい。
As the above-mentioned metal particles, those obtained by coating the surface of the metal particles with a different metal can be used.
Specifically, metal particles in which the surface of copper particles is coated with a noble metal such as gold or silver can be used. In addition, as the conductive paste, thermosetting resin such as epoxy resin or polyphenylene sulfide (PPS) is used for the metal particles.
An organic conductive paste containing a resin is desirable.

【0048】一方、この実施形態においては、レーザ加
工によって形成された開口は、その孔径が50〜200
μmの微細孔としたため、導電ペーストを充填する場合
には、気泡が残り易いので、電解めっきによる充填が実
用的である。
On the other hand, in this embodiment, the opening formed by laser processing has a hole diameter of 50 to 200.
Since the pores have a size of μm, bubbles tend to remain when the conductive paste is filled, so that the filling by electrolytic plating is practical.

【0049】絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面(金属層)と
反対側のバイアホールの露出表面上に他の回路基板との
電気的接続を確保する目的で形成される第2の導電性バ
ンプは、めっき処理または導電性ペーストを印刷するこ
とによって形成されることが望ましく、レーザ照射によ
って保護フィルムに形成された開口内に、保護フィルム
の厚さに関連する高さを有するめっきを充填することに
よって形成されることがより望ましい。
A second conductive layer formed on the exposed surface of the via hole on the side opposite to the copper foil sticking surface (metal layer) of the insulating resin base material for the purpose of ensuring electrical connection with another circuit board. The bumps are preferably formed by a plating process or by printing a conductive paste, and the openings formed in the protective film by laser irradiation are filled with plating having a height related to the thickness of the protective film. More preferably, it is formed by

【0050】上記めっき充填は、電解めっき処理または
無電解めっき処理のいずれによっても行うことができる
が、電解めっき処理がより望ましい。
The plating filling can be performed by either electrolytic plating treatment or electroless plating treatment, but electrolytic plating treatment is more preferable.

【0051】電解めっきとしては、例えば、Sn、P
b、Ag、Au、Cu、Zn、In、Bi、半田または
スズ合金等を使用できるが、この実施形態においては、
電解すずめっきが最適である。
As electrolytic plating, for example, Sn, P
Although b, Ag, Au, Cu, Zn, In, Bi, solder or tin alloy can be used, in this embodiment,
Electrolytic tin plating is most suitable.

【0052】上記第2の導電性バンプの高さとしては、
3〜60μmの範囲が望ましい。その理由は、3μm未
満では、バンプの変形により、バンプの高さのばらつき
を許容することができず、また、60μmを越えると抵
抗値が高くなる上、バンプを形成した際に横方向に拡が
ってショートの原因となるからである。
The height of the second conductive bump is as follows.
The range of 3 to 60 μm is desirable. The reason is that if the thickness is less than 3 μm, variations in bump height cannot be tolerated due to deformation of the bump, and if it exceeds 60 μm, the resistance value becomes high and the bumps spread laterally when formed. This can cause a short circuit.

【0053】また、第2の導電性バンプは、めっき処理
の代わりに、レーザ照射によって保護フィルムに形成さ
れた開口内に、導電性ペーストを充填することによって
形成することもできる。この場合には、電解めっきの高
さのばらつきは、充填される導電性ペースト量を調整す
ることにより是正され、多数の導電性バンプの高さをそ
ろえることができる。
The second conductive bumps can also be formed by filling a conductive paste into the openings formed in the protective film by laser irradiation instead of plating. In this case, the height variation of the electrolytic plating can be corrected by adjusting the amount of the conductive paste to be filled, and the height of many conductive bumps can be made uniform.

【0054】この導電性ペーストからなるバンプは、半
硬化状態であることが望ましい。導電性ペーストは、半
硬化状態でも硬く、熱プレス時に軟化した有機接着剤層
を貫通させることができるからである。また、熱プレス
時に変形して接触面積が増大し、導通抵抗を低くするこ
とができるだけでなく、バンプの高さのばらつきを是正
することができるからである。
The bumps made of this conductive paste are preferably in a semi-cured state. This is because the conductive paste is hard even in a semi-cured state and can penetrate the softened organic adhesive layer during hot pressing. Further, it is because the contact area is increased due to deformation during hot pressing, which can reduce the conduction resistance and can correct the variation in the bump height.

【0055】この他に、例えば、導電性ペーストを、所
定位置に開口の設けられたメタルマスクを用いてスクリ
ーン印刷する方法、低融点金属であるはんだペーストを
印刷する方法の他、はんだめっきを行う方法、あるいは
はんだ溶融液に浸漬する方法によって導電性バンプを形
成することができる。上記低融点金属としては、Pb−
Sn系はんだ、Ag−Sn系はんだ、インジウムはんだ
等を使用することができる。
In addition to this, for example, in addition to a method of screen-printing a conductive paste using a metal mask having openings at predetermined positions, a method of printing a solder paste which is a low melting point metal, and solder plating. The conductive bumps can be formed by a method or a method of dipping in a solder melt. As the low melting point metal, Pb-
Sn-based solder, Ag-Sn-based solder, indium solder or the like can be used.

【0056】一方、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面(金属
層)に形成される、ICチップ等の半導体チップを実装す
るための第1の導電性バンプは、めっき処理や、導電性
ペーストの印刷によって行うことが望ましい。特に、絶
縁性樹脂基材の銅箔貼付面に、まず感光性ドライフィル
ムを貼付するか、あるいは液状感光性レジストを塗布し
た後、マスク露光、現像処理によって半導体チップとの
電気的接続を行うバンプを形成するための開口部を有す
るめっきレジスト層を形成し、その開口部内にめっき処
理によってバンプを形成させることが最も好ましい実施
形態である。
On the other hand, the first conductive bumps for mounting a semiconductor chip such as an IC chip, which are formed on the copper foil sticking surface (metal layer) of the insulating resin base material, are plated with a conductive paste. It is desirable to print by. In particular, bumps for electrically connecting to a semiconductor chip by mask exposure and development processing after first sticking a photosensitive dry film or applying a liquid photosensitive resist on the copper foil sticking surface of the insulating resin base material. It is the most preferable embodiment to form a plating resist layer having an opening for forming a hole and form a bump in the opening by a plating process.

【0057】上記めっきによるバンプ形成は、電解めっ
き処理または無電解めっき処理のいずれによっても行う
ことができるが、電解めっき処理によるバンプ形成がよ
り望ましい。電解めっきとしては、例えば、Sn、P
b、Ag、Au、Cu、Zn、In、Bi、半田または
スズ合金等を使用できるが、電解すずめっきが最も好ま
しい実施形態である。
The bump formation by the above plating can be performed by either electrolytic plating treatment or electroless plating treatment, but the bump formation by electrolytic plating treatment is more preferable. As electrolytic plating, for example, Sn, P
Although b, Ag, Au, Cu, Zn, In, Bi, solder or tin alloy can be used, electrolytic tin plating is the most preferred embodiment.

【0058】上記第1の導電性バンプの形状としては、
円柱、楕円柱、直方体、または立方体を採用することが
でき、その高さとしては、1〜30μmの範囲が望まし
い。その理由は、1μm未満では、導電性バンプを均一
に形成することができないからであり、また、30μm
を越えるとマイグレーションやウイスカーの発生が増加
するからである。特に、5μmの高さとすることが最も
好ましい。
The shape of the first conductive bump is as follows.
A cylinder, an elliptic cylinder, a rectangular parallelepiped, or a cube can be adopted, and its height is preferably in the range of 1 to 30 μm. The reason is that if the thickness is less than 1 μm, the conductive bumps cannot be uniformly formed.
This is because the occurrence of migration and whiskers will increase if the value exceeds. In particular, it is most preferable that the height is 5 μm.

【0059】上記第1の導電性バンプを円柱形または楕
円柱とした場合には、その口径は、50〜200μmの
範囲であることが望ましく、80μmであることが最も
好ましい。
When the first conductive bump is cylindrical or elliptic, the diameter is preferably in the range of 50 to 200 μm, and most preferably 80 μm.

【0060】第1の導電性バンプを形成した後、NaO
HやKOH等のアルカリ、硫酸、硝酸、酢酸等の酸、ア
ルコール等の溶剤等を用いてめっきレジスト層を完全に
除去する。
After forming the first conductive bump, NaO
The plating resist layer is completely removed using an alkali such as H or KOH, an acid such as sulfuric acid, nitric acid, acetic acid, or a solvent such as alcohol.

【0061】絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面に形成される
導体回路は、銅箔面に感光性ドライフィルムを貼付する
か、液状感光性レジストを塗布した後、所定の配線パタ
ーンを有するマスクを載置し、露光・現像処理すること
によってめっきレジスト層を形成した後、エッチングレ
ジスト非形成部分の銅箔をエッチング処理することによ
って形成される。
The conductor circuit formed on the copper foil sticking surface of the insulating resin substrate is a mask having a predetermined wiring pattern after sticking a photosensitive dry film on the copper foil surface or applying a liquid photosensitive resist. Is formed, a plating resist layer is formed by exposure and development, and then a copper foil in a portion where an etching resist is not formed is etched.

【0062】上記導体回路の配線パターンは、基板のほ
ぼ中央部に実装される半導体チップの端子に対応して形
成された多数のランド(パッド)と、そこから基板の外
周部に向かって延設された微細な線幅のアウターリード
と、そのアウターリードの終端近くにバイアホール位置
に対応して形成された多数のランド(パッド)とを有し
ており、前者のランド上に半導体チップ実装用の導電性
バンプが形成され、後者のランドには、後述するよう
に、積層される他の回路基板の導電性バンプが接続され
るようになっている。
The wiring pattern of the conductor circuit is provided with a large number of lands (pads) formed corresponding to the terminals of the semiconductor chip mounted in the substantially central portion of the substrate and extending from there to the outer peripheral portion of the substrate. It has an outer lead with a fine line width and a large number of lands (pads) formed near the end of the outer lead corresponding to the via hole position. For mounting the semiconductor chip on the former land. The conductive bumps of the other circuit board to be stacked are connected to the latter lands as described later.

【0063】上記配線パターンは、その厚みが5〜30
μmであることが望ましく、12μmであることが好ま
しい。また、線幅と線間距離との比(L/D)は、50
μm/50μm〜100μm/100μmであることが
望ましい。さらに、配線パターン上に形成されるランド
は、その口径が150〜500μmであることが望まし
く、特に、350μmであることが好ましい。
The wiring pattern has a thickness of 5 to 30.
The thickness is preferably μm, and more preferably 12 μm. The ratio (L / D) of the line width to the line distance is 50
It is desirable that the thickness is μm / 50 μm to 100 μm / 100 μm. Further, the diameter of the land formed on the wiring pattern is preferably 150 to 500 μm, and particularly preferably 350 μm.

【0064】上記パターン形成のためのエッチングは、
硫酸−過酸化水素、過硫酸塩、塩化第二銅、塩化第二鉄
の水溶液から選ばれる少なくとも1種により行われる。
上記導体回路の配線パターン表面に形成される粗化層
は、回路基板相互を接合する接着剤層との密着性を改善
し、剥離(デラミネーション)の発生を防止するためで
ある。
The etching for forming the pattern is
It is performed with at least one selected from an aqueous solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide, persulfate, cupric chloride, and ferric chloride.
The roughening layer formed on the surface of the wiring pattern of the conductor circuit improves the adhesion with the adhesive layer that bonds the circuit boards to each other and prevents the occurrence of delamination.

【0065】粗化処理は、例えばソフトエッチング処理
や、黒化(酸化)−還元処理、銅−ニッケル−リンから
なる針状合金めっき(荏原ユージライト製 商品名イン
タープレート)の形成、メック社製の商品名「メック
エッチボンド」なるエッチング液による表面粗化が望ま
しい。
The roughening treatment includes, for example, soft etching treatment, blackening (oxidation) -reduction treatment, formation of needle-like alloy plating made of copper-nickel-phosphorus (trade name Interplate manufactured by EBARA Eugelite), manufactured by MEC. Product name of "Mech
Surface roughening with an etchant called "etch bond" is desirable.

【0066】また、必要に応じて、粗化層が形成された
配線パターン上にさらに金属層を被覆してもよい。形成
される金属としては、チタン、アルミニウム、亜鉛、
鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、ス
ズ、鉛、ビスマスの中から選ばれるいずれかの金属で被
覆してもよい。
If necessary, a metal layer may be further coated on the wiring pattern on which the roughening layer is formed. The metals formed include titanium, aluminum, zinc,
It may be coated with any metal selected from iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead and bismuth.

【0067】その被覆金属層の厚みは、0.01〜3μ
mの範囲が望ましい。その理由は、0.01μm未満で
は、粗化層を完全に被覆できないことがあり、3μmを
越えると、形成した粗化層の凹部に被覆金属が充填され
てしまい、粗化層を相殺してしまうことがあるからであ
る。特に望ましい範囲は、0.03〜1μmの間であ
る。その一例として、ホウフッ化スズとチオ尿素からな
るスズ置換液を用いて、粗化層を被覆してもよい。
The thickness of the coating metal layer is 0.01 to 3 μm.
A range of m is desirable. The reason is that if it is less than 0.01 μm, the roughening layer cannot be completely covered, and if it exceeds 3 μm, the coating metal fills the concave portion of the formed roughening layer, and the roughening layer is offset. This is because it can happen. A particularly desirable range is between 0.03 and 1 μm. As an example, a tin substitution liquid containing tin borofluoride and thiourea may be used to coat the roughening layer.

【0068】絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面と反対側の面
に形成される接着剤層は、基板表面に樹脂を塗布し、乾
燥させて、未硬化状態としたものであることが望まし
い。この実施形態では、接着剤層に導通のための孔開け
の必要がないからである。
The adhesive layer formed on the surface of the insulating resin base material opposite to the surface on which the copper foil is adhered is preferably an uncured state obtained by applying a resin to the surface of the substrate and drying it. . This is because, in this embodiment, it is not necessary to make a hole for conduction in the adhesive layer.

【0069】上記接着剤層は、有機系接着剤から形成す
ることが望ましく、その有機系接着剤としては、エポキ
シ樹脂、ポリイミド樹脂、熱硬化型ポリフェニレンエー
テル(PPE:Polyphenylen ethe
r)、エポキシ樹脂と熱可塑性樹脂との複合樹脂、エポ
キシ樹脂とシリコン樹脂との複合樹脂、BTレジンから
選ばれる少なくとも1種の樹脂であることが望ましい。
ここで、有機系接着剤の溶剤としては、NMP、DM
F、アセトン、エタノールを用いることができる。
It is desirable that the adhesive layer is formed of an organic adhesive, and as the organic adhesive, an epoxy resin, a polyimide resin, a thermosetting polyphenylene ether (PPE: Polyphenylene ether) is used.
r), at least one resin selected from a composite resin of an epoxy resin and a thermoplastic resin, a composite resin of an epoxy resin and a silicone resin, and a BT resin.
Here, as the solvent of the organic adhesive, NMP, DM
F, acetone, ethanol can be used.

【0070】上記有機系接着剤である未硬化樹脂の塗布
方法は、カーテンコータ、スピンコータ、ロールコー
タ、スプレーコータ、スクリーン印刷などを使用でき
る。また、樹脂の塗布後、減圧・脱泡を行って、粗化層
と樹脂との界面の気泡を完全に除去することも可能であ
る。なお、接着剤層の形成は、接着剤シートをラミネー
トすることによって行うこともできる。上記接着剤層の
厚さは、5〜50μmが望ましい。接着剤層は、取扱が
容易になるため、予備硬化(プレキュア)しておくこと
が好ましい。
A curtain coater, a spin coater, a roll coater, a spray coater, screen printing or the like can be used as a method for applying the uncured resin as the organic adhesive. It is also possible to completely remove the bubbles at the interface between the roughening layer and the resin by applying pressure reduction and defoaming after applying the resin. The formation of the adhesive layer can also be performed by laminating an adhesive sheet. The thickness of the adhesive layer is preferably 5 to 50 μm. The adhesive layer is preferably pre-cured because it is easy to handle.

【0071】回路基板に実装される半導体チップは、第
1の導電性バンプを介して導体回路上に表面実装され
る。バンプとチップとの接続方法としては、半導体チッ
プと回路基板との位置合わせをした状態でリフローする
方法や、予めバンプを加熱、溶解させておいた状態でチ
ップと回路基板とを接合させる方法などがある。
The semiconductor chip mounted on the circuit board is surface-mounted on the conductor circuit via the first conductive bump. As a method of connecting the bump and the chip, a method of reflowing in a state where the semiconductor chip and the circuit board are aligned, a method of joining the chip and the circuit board in a state where the bump is heated and melted in advance, and the like There is.

【0072】その際に加える温度は、60〜220℃の
範囲が望ましい。60℃未満では導電性金属が溶融しな
いし、220℃を越えると、バンプをなす導電性金属が
隣り合うバンプとの間で短絡を引き起こしたりするから
である。
The temperature applied at that time is preferably in the range of 60 to 220 ° C. If the temperature is lower than 60 ° C., the conductive metal does not melt, and if the temperature exceeds 220 ° C., the conductive metal forming the bump causes a short circuit between the adjacent bumps.

【0073】特に、導電性金属にスズを用いた実施形態
では、80〜200℃の範囲の温度がより好ましい。そ
の温度内であれば、バンプの形状保持性が保たれつつ
も、溶解して接続を行えるからである。
Particularly in the embodiment in which tin is used as the conductive metal, the temperature in the range of 80 to 200 ° C. is more preferable. This is because if the temperature is within that temperature, the bumps can be maintained in shape-retaining property while being melted for connection.

【0074】半導体チップと回路基板との隙間に充填さ
れる封止樹脂は、チップと樹脂基板の熱膨張率のミスマ
ッチを防止するものであり、熱硬化性樹脂や、熱可塑性
樹脂、紫外硬化樹脂、感光性樹脂等を用いることができ
る。
The sealing resin filled in the gap between the semiconductor chip and the circuit board prevents a mismatch in the coefficient of thermal expansion between the chip and the resin substrate, and is a thermosetting resin, a thermoplastic resin, or an ultraviolet curing resin. Alternatively, a photosensitive resin or the like can be used.

【0075】具体的には、エポキシ樹脂、シリコン樹
脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、フッ素樹脂等を
含んだ液状の樹脂や、それらの樹脂をシート状に形成し
た非導電性樹脂フィルム(例えば、NCF)等を用いる
ことができる。
Specifically, a liquid resin containing an epoxy resin, a silicone resin, a polyimide resin, a phenol resin, a fluororesin, or the like, or a non-conductive resin film (for example, NCF) formed by sheet-forming those resins. Etc. can be used.

【0076】上記半導体チップが実装された回路基板
は、ほぼ類似の基板構造を有する他の回路基板や、別の
半導体チップが実装された回路基板と共に積層されて、
多層化回路基板が形成される。
The circuit board on which the semiconductor chip is mounted is stacked with another circuit board having a substantially similar board structure or a circuit board on which another semiconductor chip is mounted,
A multilayered circuit board is formed.

【0077】上記積層用回路基板は、最外層に積層され
る回路基板を除いて、基板中央部に実装半導体チップよ
りわずかにサイズが大きな開口が形成され、積層時に半
導体チップがその開口内に配置されるように構成され
る。
In the stacking circuit board, except for the circuit board to be stacked as the outermost layer, an opening having a size slightly larger than that of the mounted semiconductor chip is formed in the central portion of the board, and the semiconductor chip is arranged in the opening during stacking. Is configured to be.

【0078】すなわち、積層用回路基板は、絶縁性樹脂
基材のほぼ中央部に実装半導体チップを収容できるよう
な開口が形成され、その一面側には導体回路が形成さ
れ、他面側には導体回路に達するバイアホールが形成さ
れ、そのバイアホールの直上には隣接する回路基板に電
気的接続される導電性バンプが形成される。
That is, in the laminated circuit board, an opening for accommodating a mounted semiconductor chip is formed in the substantially central portion of the insulating resin base material, a conductor circuit is formed on one surface side thereof, and an opening is formed on the other surface side thereof. A via hole reaching the conductor circuit is formed, and a conductive bump electrically connected to an adjacent circuit board is formed immediately above the via hole.

【0079】上記半導体チップ実装回路基板と積層用回
路基板とを積層する際には、複数の半導体チップ実装回
路基板と積層用回路基板とを交互に配置して、たとえ
ば、最下層には半導体チップ実装回路基板が、最上層に
は積層用回路基板が位置するように配置する。
When laminating the semiconductor chip mounting circuit board and the laminating circuit board, a plurality of semiconductor chip mounting circuit boards and the laminating circuit board are alternately arranged, and, for example, the semiconductor chip is disposed at the bottom layer. The mounting circuit board is arranged such that the stacking circuit board is located on the uppermost layer.

【0080】このような配置を採用した場合には、最上
層の積層用回路基板の中央開口部から半導体チップが露
出するので、積層時には、その最上層の回路基板に隣接
した外側には、中央開口部を有していない他の積層用回
路基板を配置させ、また最下層の半導体チップ実装回路
基板に隣接した外側には、銅箔を配置させた状態で加熱
プレスして一体化する。
When such an arrangement is adopted, since the semiconductor chip is exposed from the central opening of the uppermost layer circuit board, the central portion is provided outside the circuit board of the uppermost layer at the time of lamination. Another stacking circuit board having no opening is arranged, and a copper foil is arranged on the outer side adjacent to the semiconductor chip mounting circuit board in the lowermost layer, and is heat-pressed to be integrated.

【0081】このような回路基板の重ね合わせは、各基
板に予め設けた位置決め用孔をCCDカメラ等で光学的
に検出し、その位置合わせを行いながら進める。
The superposition of such circuit boards is carried out while optically detecting the positioning holes previously provided on the respective boards with a CCD camera or the like and performing the positioning.

【0082】上記積層体は、50〜250℃の温度で加
熱されながら、0.5〜5MPaの圧力でプレスされ
て、すべての回路基板が、1度のプレス成形により一体
化される。加熱温度の範囲としては、160〜200℃
が好ましい。
The above laminated body is pressed at a pressure of 0.5 to 5 MPa while being heated at a temperature of 50 to 250 ° C., and all the circuit boards are integrated by one-time press molding. The heating temperature range is 160 to 200 ° C.
Is preferred.

【0083】一体化された後、最上層の積層用回路基板
の表面に保護フィルムを貼付した状態で、最下層の半導
体チップ実装回路基板の銅箔面がエッチング処理され
て、最下層の外側に所定の配線パターンを有する導体回
路が形成される。
After being integrated, the copper foil surface of the semiconductor chip mounting circuit board of the lowermost layer is subjected to etching treatment in a state where the protective film is attached to the surface of the uppermost layer of the circuit board for lamination, and the copper foil surface of the lowermost layer is provided outside A conductor circuit having a predetermined wiring pattern is formed.

【0084】そして、最上層の導体回路のバイアホール
ランド上には、たとえば、ニッケル−金層を形成し、そ
の金−ニッケル層上にはんだバンプを設け、さらにその
はんだバンプ上に半導体チップ以外の他の電子部品を搭
載するように構成し、同様に、最下層の導体回路のバイ
アホールバンド上にも、たとえば、ニッケル−金層を形
成し、その金−ニッケル層上にはんだボールまたはTピ
ンを接合して、マザーボードへの接続端子とすることが
できる。
Then, for example, a nickel-gold layer is formed on the via hole land of the uppermost conductor circuit, a solder bump is provided on the gold-nickel layer, and a solder bump other than the semiconductor chip is provided on the solder bump. It is configured to mount other electronic components, and similarly, for example, a nickel-gold layer is formed also on the via hole band of the lowermost conductor circuit, and a solder ball or a T pin is formed on the gold-nickel layer. Can be joined to form a connection terminal to the motherboard.

【0085】以下、本発明にかかる半導体チップ実装用
の回路基板および多層化回路基板の製造方法の一例につ
いて、添付図面を参照にして具体的に説明する。
Hereinafter, an example of a method of manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip and a multilayer circuit board according to the present invention will be specifically described with reference to the accompanying drawings.

【0086】本発明にかかる半導体チップ実装用回路
板を製造するに当たって、絶縁性樹脂基材10の片面に
銅箔12が貼付けられたものを出発材料として用いる
(図1(a)参照)。この絶縁性樹脂基材10は、たとえ
ば、ガラス布エポキシ樹脂基材、ガラス布ビスマレイミ
ドトリアジン樹脂基材、ガラス布ポリフェニレンエーテ
ル樹脂基材、アラミド不織布−エポキシ樹脂基材、アラ
ミド不織布−ポリイミド樹脂基材から選ばれるリジッド
な(硬質)積層基材が使用され得るが、ガラス布エポキ
シ樹脂基材が最も好ましい。
In manufacturing the circuit board for mounting a semiconductor chip according to the present invention, the one having the copper foil 12 attached to one surface of the insulating resin base material 10 is used as a starting material (see FIG. 1 (a)). This insulating resin base material 10 is, for example, a glass cloth epoxy resin base material, a glass cloth bismaleimide triazine resin base material, a glass cloth polyphenylene ether resin base material, an aramid nonwoven fabric-epoxy resin base material, an aramid nonwoven fabric-polyimide resin base material. Rigid (hard) laminated substrates selected from can be used, but glass cloth epoxy resin substrates are most preferred.

【0087】上記絶縁性樹脂基材10の厚さは、10〜
200μmが望ましい。その理由は、10μm未満の厚
さでは、強度が低下して取扱が難しくなるとともに、電
気的絶縁性に対する信頼性が低くなり、200μmを超
える厚さでは微細なビアホールの形成および導電性ペー
ストの充填が難しくなるとともに、基板そのものが厚く
なるためである。
The insulating resin base material 10 has a thickness of 10 to 10.
200 μm is desirable. The reason for this is that if the thickness is less than 10 μm, the strength is reduced and handling becomes difficult, and the reliability of electrical insulation is reduced, and if the thickness exceeds 200 μm, formation of fine via holes and filling of conductive paste are performed. It becomes difficult and the substrate itself becomes thick.

【0088】また銅箔12の厚さは、5〜36μmが望
ましい。その理由は、後述するようなレーザ加工を用い
て、絶縁性基材にビアホール形成用の開口を形成する際
に、薄すぎると貫通してしまうからであり、逆に厚すぎ
るとエッチングにより、ファインパターンを形成し難い
からである。
The thickness of the copper foil 12 is preferably 5 to 36 μm. The reason is that, when forming an opening for forming a via hole in an insulating base material by using laser processing as described below, it penetrates if it is too thin, and conversely if it is too thick, it is fine by etching. This is because it is difficult to form a pattern.

【0089】上記絶縁性基材10および銅箔12として
は、特に、エポキシ樹脂をガラスクロスに含浸させてB
ステージとしたプリプレグと銅箔とを積層して加熱プレ
スすることにより得られる片面銅張積層板を用いること
が好ましい。その理由は、銅箔12が後述するようにエ
ッチングされた後の取扱中に、配線パターンやビアホー
ルの位置がずれることがなく、位置精度に優れるからで
ある。
As the insulating base material 10 and the copper foil 12, in particular, a glass cloth is impregnated with an epoxy resin to form B.
It is preferable to use a single-sided copper-clad laminate obtained by laminating a prepreg used as a stage and a copper foil and hot pressing. The reason is that the positions of the wiring patterns and the via holes do not shift during handling after the copper foil 12 is etched as described later, and the positional accuracy is excellent.

【0090】このような絶縁性基材10の銅箔12が
貼付けられた表面と反対側の表面に、保護フィルム14
を貼付する。この保護フィルム16は、後述する導電性
バンプの高さ調整用に使用され、たとえば、表面に粘着
層を設けたポリエチレンテレフタレート(PET)フィ
ルムが使用され得る。
A protective film 14 is formed on the surface of the insulating substrate 10 opposite to the surface on which the copper foil 12 is attached.
Affix. The protective film 16 is used for adjusting the height of the conductive bump described later, and for example, a polyethylene terephthalate (PET) film having an adhesive layer on the surface can be used.

【0091】前記PETフィルム14は、粘着剤層の厚
みが1〜20μm、フィルム自体の厚みが10〜50μ
mであるようなものが使用される。
In the PET film 14, the pressure-sensitive adhesive layer has a thickness of 1 to 20 μm, and the film itself has a thickness of 10 to 50 μm.
Those that are m are used.

【0092】ついで、絶縁性基材10上に貼付けられ
たPETフィルム14の上方からレーザ照射を行って、
PETフィルム14を貫通して、絶縁性基材10の表面
から銅箔12に達する開口16を形成する(図1(b)参
照)。
Then, laser irradiation is performed from above the PET film 14 attached on the insulating base material 10,
An opening 16 is formed through the PET film 14 to reach the copper foil 12 from the surface of the insulating base material 10 (see FIG. 1 (b)).

【0093】このレーザ加工は、パルス発振型炭酸ガス
レーザ加工装置によって行われ、そのレーザ照射条件
は、パルスエネルギーが0.5〜100mJ、パルス幅
が1〜100μs、パルス間隔が0.5ms以上、ショ
ット数が3〜50の範囲内であることが望ましい。この
ような加工条件のもとで形成され得る開口16の口径
は、50〜200μmであることが望ましい。
This laser processing is carried out by a pulse oscillation type carbon dioxide laser processing apparatus. The laser irradiation conditions are pulse energy of 0.5 to 100 mJ, pulse width of 1 to 100 μs, pulse interval of 0.5 ms or more, and shot. It is desirable that the number is within the range of 3 to 50. The diameter of the opening 16 that can be formed under such processing conditions is preferably 50 to 200 μm.

【0094】前記の工程で形成された開口16の内
壁面に残留する樹脂残滓を取り除くために、デスミア処
理を行う。このデスミア処理としては、プラズマ放電、
コロナ放電等を用いたドライデスミア処理が、接続信頼
性の確保の点から望ましい。
In order to remove the resin residue remaining on the inner wall surface of the opening 16 formed in the above process, desmear treatment is performed. This desmear treatment includes plasma discharge,
Dry desmear treatment using corona discharge or the like is desirable from the viewpoint of ensuring connection reliability.

【0095】次に、絶縁性樹脂基材10の銅箔12が
貼付けられた表面に、保護フィルム18を貼付けた後、
電解銅めっき処理を施して、デスミア処理された開口1
6内に、電解銅めっき膜を充填してバイアホール20を
形成する(図1(c)参照)。
Next, after the protective film 18 is attached to the surface of the insulating resin base material 10 to which the copper foil 12 is attached,
Desmeared opening 1 by electrolytic copper plating
A via hole 20 is formed by filling an electrolytic copper-plated film in 6 (see FIG. 1 (c)).

【0096】その後、電解すずめっき処理を施して、
レーザ照射によってPETフィルム14に形成された開口
内に、電解すずめっき膜を充填し、バイアホール20の
真上に位置して、他の回路基板との接続用の第2の導電
性バンプ22を形成する。
After that, electrolytic tin plating treatment is applied,
An electrolytic tin-plated film is filled in the opening formed in the PET film 14 by laser irradiation, and the second conductive bump 22 for connection to another circuit board is located directly above the via hole 20. Form.

【0097】ついで、絶縁性樹脂基材10の両面に貼
付けられたPETフィルム14および保護フィルム18を
剥離させた後、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面と反対側の
表面に保護膜26を貼付し、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付
面に感光性ドライフィルムを貼付し、マスク露光、現像
処理によって半導体チップとの電気的接続を行うバンプ
を形成するための開口部を有するめっきレジスト層24
を形成し(図1(e)参照)、その開口部28内に電解す
ずめっき処理によって、電解すずめっき膜30を充填し
て、銅箔12上に半導体チップ実装用の第1の導電性バ
ンプ32を形成する(図1(f)参照)。
Then, the PET film 14 and the protective film 18 attached to both surfaces of the insulating resin base material 10 are peeled off, and the protective film 26 is applied to the surface of the insulating resin base material opposite to the copper foil sticking surface. Plating resist layer having openings for forming bumps for electrical connection with semiconductor chips by affixing a photosensitive dry film on the copper foil affixing surface of the insulating resin base material and by mask exposure and development processing. 24
(See FIG. 1 (e)), the opening 28 is filled with an electrolytic tin plating film 30 by electrolytic tin plating, and the first conductive bumps for mounting a semiconductor chip on the copper foil 12 are formed. 32 is formed (see FIG. 1 (f)).

【0098】次に、銅箔12の不要な部分をエッチン
グ処理によって除去して、導体回路を形成する。この処
理工程においては、先ず、半導体チップ実装用の第1の
導電性バンプ32および銅箔12を覆って感光性ドライ
フィルムレジスト34を貼付した(図2(b)参照)後、所
定の回路パターンに沿って露光、現像処理してエッチン
グレジスト層38を形成し(図2(c)参照)、エッチング
レジスト非形成部分の銅箔をエッチングして、所定の配
線パターンを有する導体回路パターン40を形成する
(図2(d)参照)。
Next, an unnecessary portion of the copper foil 12 is removed by etching to form a conductor circuit. In this processing step, first, a photosensitive dry film resist 34 is applied so as to cover the first conductive bumps 32 for mounting semiconductor chips and the copper foil 12 (see FIG. 2 (b)), and then a predetermined circuit pattern is formed. 2) is exposed and developed to form an etching resist layer 38 (see FIG. 2 (c)), and the copper foil in the portion where the etching resist is not formed is etched to form a conductor circuit pattern 40 having a predetermined wiring pattern. (See Fig. 2 (d)).

【0099】エッチング液としては、硫酸一過酸化水
素、過硫酸塩、塩化第二銅、塩化第二鉄の水溶液から選
ばれる少なくとも1種の水溶液が望ましい。導体回路の
一部としてのランドは、その内径がバイアホール口径と
ほぼ同様であるが、その外径は、150〜500μmの
範囲に形成されることが好ましい。
The etching solution is preferably at least one aqueous solution selected from aqueous solutions of sulfuric acid monohydrogen peroxide, persulfate, cupric chloride and ferric chloride. The land as a part of the conductor circuit has an inner diameter substantially similar to the via hole diameter, but the outer diameter is preferably formed in the range of 150 to 500 μm.

【0100】次に、前記の工程で形成した導体回路
40の表面を粗化処理して粗化層41を形成し(図2(e)
参照)、その後、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面と反対側
の表面から保護膜26を剥離させ、その表面に接着剤層
43を形成する。この粗化処理は、多層化する際に、接
着剤層との密着性を改善し、剥離(デラミネーション)
を防止するためである。
Next, the surface of the conductor circuit 40 formed in the above step is roughened to form a roughened layer 41 (FIG. 2 (e)).
After that, the protective film 26 is peeled off from the surface of the insulating resin base material opposite to the copper foil sticking surface, and the adhesive layer 43 is formed on the surface. This roughening treatment improves the adhesiveness with the adhesive layer when it is made into multiple layers, and peels (delamination).
This is to prevent

【0101】粗化処理方法としては、例えば、ソフトエ
ッチング処理や、黒化(酸化)−還元処理、銅−ニッケ
ルーリンからなる針状合金めっき(荏原ユージライト
製:商品名インタープレート)の形成、メック社製の商
品名「メック エッチボンド」なるエッチング液による
表面粗化がある。
As the roughening treatment method, for example, soft etching treatment, blackening (oxidation) -reduction treatment, formation of needle-like alloy plating made of copper-nickel-phosphorus (manufactured by EBARA Eugelite: trade name Interplate), There is surface roughening with an etching solution under the product name "Mech Etch Bond" manufactured by Mech.

【0102】この実施形態においては、上記粗化層の形
成は、エッチング液を用いて形成されるのが好ましく、
たとえば、導体回路の表面を第二銅錯体と有機酸の混合
水溶液からエッチング液を用いてエッチング処理するこ
とによって形成することができる。かかるエッチング液
は、スプレーやバブリングなどの酸素共存条件下で、銅
導体回路を溶解させることができ、反応は、次のように
進行するものと推定される。
In this embodiment, the roughening layer is preferably formed using an etching solution,
For example, it can be formed by etching the surface of the conductor circuit from a mixed aqueous solution of a cupric complex and an organic acid using an etching solution. Such an etching solution can dissolve the copper conductor circuit under oxygen coexisting conditions such as spraying and bubbling, and the reaction is presumed to proceed as follows.

【0103】 Cu+Cu(II)An →2Cu(I)An/2 2Cu(I)An/2 +n/4O +nAH (エアレーション) →2Cu(II)An +n/2HO 式中、Aは錯化剤(キレート剤として作用)、nは配位
数を示す。
Cu + Cu (II) An → 2Cu (I) An / 2 2Cu (I) An / 2 + n / 4O 2 + nAH (aeration) → 2Cu (II) An + n / 2H 2 O In the formula, A is a complexing agent. (Acts as a chelating agent), n represents a coordination number.

【0104】この式に示されるように、発生した第一銅
錯体は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体
となって、再び銅の酸化に寄与する。本発明で用いられ
る第二銅錯体は、アゾール類の第二銅錯体がよい。この
有機酸−第二銅錯体からなるエッチング液は、アゾール
類の第二銅錯体および有機酸(必要に応じてハロゲンイ
オン)を、水に溶解して調製することができる。
As shown in this formula, the generated cuprous complex is dissolved by the action of acid and is combined with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to the oxidation of copper. The cupric complex used in the present invention is preferably a cupric complex of azoles. The etching solution containing the organic acid-cupric acid complex can be prepared by dissolving the cupric complex of an azole and the organic acid (halogen ion as necessary) in water.

【0105】上記エッチング液は、たとえば、イミダゾ
ール銅(II)錯体 10重量部、グリコール酸 7重量
部、塩化カリウム 5重量部を混合した水溶液から形成
される。
The etching solution is formed from, for example, an aqueous solution obtained by mixing 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride.

【0106】本発明にかかる半導体チップ実装用の回路
基板は、上記〜の工程にしたがって製造され、さら
に、図3に示すように、回路基板の第1の導電性バンプ
32と半導体チップ42との間に、シート状の封止用樹
脂46を介在させ、例えば、加熱雰囲気下で半導体チッ
プ42の端子44を第1の導電性バンプ32に接合させ
ることによって、端子−バンプ間の電気的接続がなされ
るとともに、半導体チップと回路基板との隙間が樹脂封
止されて、半導体チップの表面実装が行われ、半導体チ
ップ実装回路基板Aが製造される。
The circuit board for mounting a semiconductor chip according to the present invention is manufactured in accordance with the above-mentioned steps (1) to (3) and further, as shown in FIG. 3, the first conductive bumps 32 of the circuit board and the semiconductor chip 42 are formed. By interposing a sheet-shaped sealing resin 46 between them and, for example, joining the terminal 44 of the semiconductor chip 42 to the first conductive bump 32 in a heating atmosphere, electrical connection between the terminal and the bump can be achieved. At the same time, the gap between the semiconductor chip and the circuit board is sealed with resin, the semiconductor chip is surface-mounted, and the semiconductor chip-mounted circuit board A is manufactured.

【0107】次に、このような半導体チップ実装回路基
板Aに積層される片面回路基板Bの製造方法について、
図4を参照にして説明する。
Next, a method of manufacturing the single-sided circuit board B laminated on the semiconductor chip mounting circuit board A will be described.
This will be described with reference to FIG.

【0108】(1) 半導体チップ実装用回路基板の処理
工程〜と同様な工程によって、絶縁性樹脂基材50
に開口56を形成し、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面に保
護フィルム58を貼付させた状態で、開口56内に電解
銅めっき膜を充填してバイアホール60を形成し、さら
に、バイアホール60上に電解すずめっき膜からなる導
電性バンプ62を形成する(図4(a)〜(d)参照)。
(1) The insulating resin base material 50 is processed by the same steps as the processing steps (1) to (3) for processing the circuit board for mounting semiconductor chips.
In the state where the opening 56 is formed in the opening 56 and the protective film 58 is attached to the copper foil attachment surface of the insulating resin base material, an electrolytic copper plating film is filled in the opening 56 to form a via hole 60. A conductive bump 62 made of an electrolytic tin-plated film is formed on the hole 60 (see FIGS. 4A to 4D).

【0109】(2) 次いで、保護フィルム58を剥離さ
せ、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面と反対側の表面にエッ
チング保護フィルム64を貼付させた状態で、銅箔52
の表面に感光性ドライフィルムレジストを貼付した後、
所定の回路パターンに沿って露光、現像処理してエッチ
ングレジスト層68を形成し、エッチングレジスト非形
成部分の銅箔52をエッチングして、バイアホール60
のランドを含んだ導体回路パターン70を形成する。
(2) Next, the protective film 58 is peeled off, and an etching protective film 64 is attached to the surface of the insulating resin base material opposite to the copper foil attaching surface.
After sticking the photosensitive dry film resist on the surface of
The etching resist layer 68 is formed by exposing and developing along a predetermined circuit pattern, and the copper foil 52 in the portion where the etching resist is not formed is etched to form the via hole 60.
Forming the conductor circuit pattern 70 including the land.

【0110】上記エッチング液としては、硫酸一過酸化
水素、過硫酸塩、塩化第二銅、塩化第二鉄の水溶液から
選ばれる少なくとも1種の水溶液が望ましい。上記銅箔
52をエッチングして導体回路70を形成する前処理と
して、ファインパターンを形成しやすくするため、あら
かじめ、銅箔の表面全面をエッチングして厚さを1〜1
0μm、より好ましくは2〜8μm程度まで薄くするこ
とができる。
The etching solution is preferably at least one aqueous solution selected from aqueous solutions of sulfuric acid monohydrogen peroxide, persulfate, cupric chloride and ferric chloride. As a pretreatment for forming the conductor circuit 70 by etching the copper foil 52, the entire surface of the copper foil is previously etched to have a thickness of 1 to 1 in order to easily form a fine pattern.
The thickness can be reduced to 0 μm, more preferably 2 to 8 μm.

【0111】(3) 絶縁性樹脂基材50の片面に導体回
路70を形成した後、半導体チップ実装用回路基板の処
理工程と同様な工程によって、その導体回路70の表
面に粗化処理を施して、粗化層72を形成し、その後、
絶縁性樹脂基材50の表面からPETフィルム54および
保護フィルム64を剥離させ、さらに絶縁性樹脂基材5
0のほぼ中央部に半導体チップの外形とほぼ同じサイズ
の開口74を形成し、最後に、導電性バンプ62が形成
された絶縁性樹脂基材50の表面に接着剤層76を形成
する(図4(e)〜(f)参照)。
(3) After the conductor circuit 70 is formed on one surface of the insulating resin base material 50, the surface of the conductor circuit 70 is roughened by the same process as the process for the semiconductor chip mounting circuit board. To form a roughened layer 72, and then
The PET film 54 and the protective film 64 are separated from the surface of the insulating resin base material 50, and the insulating resin base material 5 is further removed.
An opening 74 having substantially the same size as the outer shape of the semiconductor chip is formed at the substantially central portion of 0, and finally, an adhesive layer 76 is formed on the surface of the insulating resin base material 50 on which the conductive bumps 62 are formed (FIG. 4 (e) to (f)).

【0112】(4) このように、上記(1)〜(3)の工程に
よって製造される積層用回路基板Bは、絶縁性樹脂基材
50の一方の表面に導体回路70を有し、他方の表面に
は導電性バンプ62を有しており、半導体チップ実装回
路基板と交互に積層されて多層化される。
(4) As described above, the laminated circuit board B manufactured by the steps (1) to (3) has the conductor circuit 70 on one surface of the insulating resin base material 50 and the other. Has a conductive bump 62 on the surface thereof and is alternately laminated with the semiconductor chip mounting circuit board to form a multilayer structure.

【0113】上記各回路基板の重ね合わせは、各基板に
予め設けた位置決め用孔をCCDカメラ等で光学的に検
出し、その位置合わせを行いながら進める。このような
積層体は、50〜250℃の温度で加熱されながら、
0.5〜5MPaの圧力でプレスされて、すべての回路
基板が、1度のプレス成形により一体化される。加熱温
度の範囲としては、160〜200℃が好ましい。
The superposition of the above-mentioned circuit boards is carried out while optically detecting a positioning hole previously provided in each board with a CCD camera or the like and performing the positioning. Such a laminate is heated at a temperature of 50 to 250 ° C.,
Pressed with a pressure of 0.5-5 MPa, all circuit boards are integrated by one-time press molding. The heating temperature range is preferably 160 to 200 ° C.

【0114】たとえば、図5は、4枚の半導体チップ実
装回路基板A1〜A4を、4枚の積層用回路基板B1〜
B4と交互に積層し、最上層の積層用回路基板B4のさ
らに外側には、中央開口部を有しない他の積層用回路基
板B5を配置し、さら最下層の半導体チップ実装回路基
板A1の外側には、接着剤層を介して銅箔52を配置し
たものを積層する。このような積層に際して、実装半導
体チップを取り囲む基板間の隙間には、封止樹脂が充填
される。
For example, in FIG. 5, four semiconductor chip mounting circuit boards A1 to A4 are connected to four stacking circuit boards B1 to B1.
Another stacking circuit board B5, which is stacked alternately with B4 and has no central opening, is arranged further outside the stacking circuit board B4 of the uppermost layer, and further outside of the semiconductor chip mounting circuit board A1 of the lowermost layer. Is laminated with the copper foil 52 arranged via an adhesive layer. At the time of such stacking, a gap between the substrates surrounding the mounted semiconductor chip is filled with a sealing resin.

【0115】図6は、このように9層に積層された積層
体を示し、1度の加熱プレス成形により一体化される。
加圧と同時に加熱することで、各回路基板に設けた接着
剤層が硬化して、半導体チップ実装回路基板A1〜A4
と積層用回路基板B1〜B5との間で強固な接着が行わ
れる。なお、熱プレスとしては、真空熱プレスを用いる
ことが好適である。
FIG. 6 shows a laminated body thus laminated in 9 layers, which are integrated by one-time hot press molding.
By heating at the same time as applying pressure, the adhesive layer provided on each circuit board is cured, and the semiconductor chip mounting circuit boards A1 to A4
And strong adhesion is performed between the laminated circuit boards B1 to B5. It is preferable to use a vacuum hot press as the hot press.

【0116】(5) そして、最上層の積層用回路基板B
5の表面に半導体チップ実装回路基板A1に貼り付けた
銅箔上には、エッチングレジスト層80を形成した後、
エッチング処理によって所定の配線パターンを有する導
体回路82を形成する。
(5) Then, the uppermost laminated circuit board B
After forming the etching resist layer 80 on the copper foil attached to the semiconductor chip mounting circuit board A1 on the surface of 5,
A conductor circuit 82 having a predetermined wiring pattern is formed by etching.

【0117】(6) 次いで、エッチング保護フィルム7
8を剥離させた後、積層用回路基板B5の導体回路70
および半導体チップ実装回路基板A1の導体回路82の
バイアホールランド上に、ニッケル−金層(図示を省略
する)をそれぞれ形成し、さらに、導体回路70のニッ
ケル−金層には電子部品を実装搭載するための半田バン
プ84が、一方、導体回路82のニッケル−金層には、
マザーボード側の端子に接続される半田ボール86また
はT形ピンが配設される。
(6) Next, the etching protection film 7
After peeling off 8, the conductor circuit 70 of the laminating circuit board B5
And a nickel-gold layer (not shown) is formed on each via hole land of the conductor circuit 82 of the semiconductor chip mounting circuit board A1, and an electronic component is mounted and mounted on the nickel-gold layer of the conductor circuit 70. On the other hand, the solder bumps 84 are formed on the nickel-gold layer of the conductor circuit 82.
Solder balls 86 or T-shaped pins connected to the terminals on the motherboard side are provided.

【0118】なお、絶縁性樹脂基材の表面に予め形成さ
れた接着剤層38に代えて、各片面回路基板が製造され
て後、多層化する段階において、絶縁性樹脂基材の第2
の導電性バンプ側の表面全体に接着剤を塗布し、乾燥化
した状態の未硬化樹脂からなる接着剤層として形成する
こともできる。この接着剤層は、取扱が容易になるた
め、プレキュアしておくことが好ましく、その厚さは、
5〜50μmの範囲が望ましい。
In place of the adhesive layer 38 previously formed on the surface of the insulating resin base material, after the single-sided circuit board is manufactured, the second layer of the insulating resin base material is formed at the stage of multilayering.
It is also possible to apply an adhesive to the entire surface of the conductive bump side to form an adhesive layer made of an uncured resin in a dried state. Since this adhesive layer is easy to handle, it is preferably pre-cured, and its thickness is
The range of 5 to 50 μm is desirable.

【0119】上述した実施形態では、4枚の半導体チッ
プ実装回路基板と5枚の積層用回路基板とを用いて9層
に多層化したが、それに限定されるものではなく、実装
する半導体チップのサイズや数量、絶縁性樹脂基材の種
類、厚さ等に応じて、9層以下あるいは10層以上の多
層化回路基板の製造にも適用できることは勿論のことで
ある。
In the above-described embodiment, four semiconductor chip mounting circuit boards and five stacking circuit boards are used to form a multi-layered structure of nine layers. However, the present invention is not limited to this, and the semiconductor chip to be mounted is not limited to this. Needless to say, it can be applied to the manufacture of a multilayer circuit board having 9 layers or less or 10 layers or more, depending on the size and quantity, the type of insulating resin base material, the thickness, and the like.

【0120】[0120]

【実施例】(実施例1) (1)エポキシ樹脂をガラスクロスに含浸させてBステ
ージとしたプリプレグと、銅箔とを積層して加熱プレス
することにより得られる片面銅張積層板を基板として用
いる。絶縁性樹脂基材10の厚さは50μm、銅箔12
の厚さは、18μmとした。
EXAMPLES (Example 1) (1) A single-sided copper-clad laminate obtained by laminating a prepreg which is a B stage by impregnating a glass cloth with an epoxy resin and a copper foil and heat-pressing the substrate is used as a substrate. To use. The insulating resin substrate 10 has a thickness of 50 μm and a copper foil 12
Had a thickness of 18 μm.

【0121】(2)このような絶縁性基材10の銅箔1
2が貼付けられた表面と反対側の表面に、厚さ22μm
のPETフィルム14を貼付ける。このPETフィルム
14は、厚みが10μmの粘着剤層と、厚みが12μm
のPETフィルムベースとからなる。
(2) Copper foil 1 of such an insulating substrate 10
22 μm thick on the surface opposite to the surface on which 2 is pasted
Attach the PET film 14 of. This PET film 14 has an adhesive layer having a thickness of 10 μm and a thickness of 12 μm.
PET film base.

【0122】(3)次いで、PETフィルム14の上方
から、以下のようなレーザ加工条件でパルス発振型炭酸
ガスレーザを照射して、ビアホール形成用の開口16を
形成した後、開口16の開口内壁に残留する樹脂を取り
除くために、プラズマクリーニング処理を施した。 〔レーザ加工条件〕 パルスエネルギー 0.5〜100mJ パルス幅 1〜100μs パルス間隔 0.5ms以上 ショット数 3〜50
(3) Next, a pulsed carbon dioxide laser is irradiated from above the PET film 14 under the following laser processing conditions to form the opening 16 for forming a via hole, and then the inner wall of the opening 16 is formed. A plasma cleaning process was performed to remove the residual resin. [Laser processing conditions] Pulse energy 0.5 to 100 mJ Pulse width 1 to 100 μs Pulse interval 0.5 ms or more Number of shots 3 to 50

【0123】(4)次いで、絶縁性樹脂基材10の銅箔
12が貼付けられた表面に、保護フィルム18を貼付け
た後、下記組成の電解めっき水溶液で下記めっき条件に
て電解銅めっき処理を施して、開口16の内部に電解銅
めっきを充填して、口径150μm、バイアホール間距
離500μmのバイアホール20を形成した。
(4) Next, after attaching the protective film 18 to the surface of the insulating resin base material 10 on which the copper foil 12 is attached, electrolytic copper plating treatment is performed with an electrolytic plating aqueous solution having the following composition under the following plating conditions. Then, the inside of the opening 16 was filled with electrolytic copper plating to form a via hole 20 having a diameter of 150 μm and a distance between via holes of 500 μm.

【0124】〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180g/l 硫酸銅 80g/l 添加剤 1ml/l (アトテックジャパン製、商品名:カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 2A/dm 時間 30分 温度 25℃[Electrolytic plating aqueous solution] Sulfuric acid 180g / l Copper sulfate 80g / l Additive 1ml / l (Made by Atotech Japan, product name: Kaparaside GL) [Electrolytic plating conditions] Current density 2A / dmTwo 30 minutes Temperature 25 ℃

【0125】(5)次に、下記組成の電解めっき水溶液
で下記めっき条件にて電解すずめっき処理を施して、PE
Tフィルム14に形成された開口内に、電解すずめっき
膜を充填し、バイアホール20上に、直径150μm、
高さ5μm、バンプ間距離500μmの第2の導電性バ
ンプ22を形成した。
(5) Next, electrolytic tin plating treatment was performed under the following plating conditions with an electrolytic plating aqueous solution having the following composition, and PE was added.
An electrolytic tin-plated film is filled in the opening formed in the T film 14, and the diameter is 150 μm on the via hole 20.
A second conductive bump 22 having a height of 5 μm and a distance between bumps of 500 μm was formed.

【0126】〔電解めっき水溶液〕 硫酸 105ml/l 硫酸すず(SnSO4) 30g/l 添加剤 40ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 2A/dm 時間 20分 温度 25℃[Electrolytic plating aqueous solution] Sulfuric acid 105 ml / l Tin sulfate (SnSO4) 30g / l Additive 40ml / l [Electrolytic plating conditions] Current density 2A / dmTwo 20 minutes Temperature 25 ℃

【0127】(6) PETフィルム14および保護フィ
ルム18を剥離させた後、絶縁性樹脂基材の銅箔貼付面
と反対側の表面に保護膜26を貼付し、絶縁性樹脂基材
の銅箔貼付面にめっきレジスト層24を形成し、下記組
成の電解めっき水溶液で下記めっき条件にて電解すずめ
っき処理を施して、開口部28内に電解すずめっき膜3
0を充填して、銅箔12上に、直径(バンプ径)が80
μm、高さが20μm、バンプ間距離(ピッチ)が14
0μmの第1の導電性バンプ32を形成した。
(6) After the PET film 14 and the protective film 18 are peeled off, the protective film 26 is attached to the surface of the insulating resin base material opposite to the copper foil attachment surface, and the copper foil of the insulating resin base material is attached. A plating resist layer 24 is formed on the attachment surface, electrolytic tin plating treatment is performed under the following plating conditions with an electrolytic plating aqueous solution having the following composition, and the electrolytic tin plating film 3 is provided in the opening 28.
Filled with 0, and the diameter (bump diameter) is 80 on the copper foil 12.
μm, height 20 μm, distance between bumps (pitch) 14
The 0-micrometer 1st conductive bump 32 was formed.

【0128】〔電解めっき水溶液〕 硫酸 105ml/l 硫酸すず(SnSO4) 30g/l 添加剤 40ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 4A/dm 時間 50分 温度 25℃[Electrolytic plating aqueous solution] Sulfuric acid 105 ml / l Tin sulfate (SnSO4) 30g / l Additive 40ml / l [Electrolytic plating conditions] Current density 4A / dmTwo 50 minutes Temperature 25 ℃

【0129】(7)その後、エッチングレジスト層38
を形成し、エッチングレジスト非形成部分の銅箔をエッ
チングして、第1の導電性バンプ32下に直径85μm
のインナーランドを、バイアホール20対応位置に直径
350μmのアウターランドを有する、L/S(μm)
が50/50であるような導体回路パターン40を形成
した。
(7) After that, the etching resist layer 38
Is formed, and the copper foil in the portion where the etching resist is not formed is etched to have a diameter of 85 μm under the first conductive bump 32.
L / S (μm) with inner lands of 350 μm and outer lands of 350 μm in diameter at the positions corresponding to the via holes 20.
A conductor circuit pattern 40 having a thickness of 50/50 was formed.

【0130】(8)次いで、導体回路40の表面をエッ
チング液で粗化して粗化層41を形成し、その後、銅箔
貼付面と反対側の表面から保護膜26を剥離させ、その
表面に接着剤層43を形成して、半導体チップ実装用の
片面回路基板を製造した。
(8) Next, the surface of the conductor circuit 40 is roughened with an etching solution to form a roughened layer 41. After that, the protective film 26 is peeled from the surface opposite to the copper foil sticking surface, and the roughened layer 41 is formed on the surface. The adhesive layer 43 was formed to manufacture a single-sided circuit board for mounting a semiconductor chip.

【0131】(9)前記(8)で得た片面回路基板と半
導体チップ42との間にシート状の封止用樹脂46を介
在させた状態で、ポッティングのような方法で、第1の
導電性バンプ32に対して半導体チップ42を表面実装
して、半導体チップ実装回路基板Aを作製した。
(9) With the sheet-shaped sealing resin 46 interposed between the one-sided circuit board obtained in (8) and the semiconductor chip 42, the first conductive material is formed by a method such as potting. The semiconductor chip 42 was surface-mounted on the conductive bumps 32 to produce a semiconductor chip mounting circuit board A.

【0132】(10)次に、半導体チップ実装用回路基
板の処理工程〜と同様な工程によって、絶縁性樹脂
基材50にバイアホール60を形成し、さらに、バイア
ホール60上に導電性バンプ62を形成する。
(10) Next, via holes 60 are formed in the insulating resin base material 50 by the same steps as the processing steps for the semiconductor chip mounting circuit board, and the conductive bumps 62 are formed on the via holes 60. To form.

【0133】(11)その後、絶縁性樹脂基材の銅箔貼
付面と反対側の表面にエッチング保護膜64を貼付させ
た状態で、銅箔52の表面にエッチングレジスト層68
を形成し、エッチングレジスト非形成部分の銅箔52を
エッチングして、バイアホール60のランドを含んだ導
体回路パターン70を形成する。
(11) Then, with the etching protection film 64 attached to the surface of the insulating resin base material opposite to the copper foil application surface, the etching resist layer 68 is applied to the surface of the copper foil 52.
Then, the copper foil 52 in the portion where the etching resist is not formed is etched to form the conductor circuit pattern 70 including the land of the via hole 60.

【0134】(12)導体回路70の表面にエッチング
処理によって粗化層72を形成し、その後、絶縁性樹脂
基材50のほぼ中央部に開口74を形成し、最後に、導
電性バンプ62が形成された絶縁性樹脂基材50の表面
に接着剤層76を形成して積層用回路基板Bを作製し
た。
(12) A roughening layer 72 is formed on the surface of the conductor circuit 70 by an etching process, and then an opening 74 is formed at substantially the center of the insulating resin substrate 50. Finally, the conductive bump 62 is formed. An adhesive layer 76 was formed on the surface of the formed insulating resin base material 50 to produce a circuit board B for lamination.

【0135】(13)4枚の半導体チップ実装回路基板
A1〜A4を、4枚の積層用回路基板B1〜B4と交互
に積層し、さらに最上層の積層用回路基板B4の外側
に、中央開口部が形成されていない他の積層用回路基板
B5を配置し、一方、半導体チップ実装回路基板A1の
外側に銅箔を配置した状態で、各基板間の隙間に充填樹
脂を注入しながら、温度180℃で加熱するとともに、
圧力2MPaでプレスして、すべての回路基板を1度の
プレス成形により一体化した。
(13) The four semiconductor chip mounting circuit boards A1 to A4 are alternately laminated with the four lamination circuit boards B1 to B4, and the central opening is provided outside the uppermost lamination circuit board B4. While arranging another laminating circuit board B5 in which parts are not formed, and arranging a copper foil on the outside of the semiconductor chip mounting circuit board A1 while injecting a filling resin into the gaps between the boards, While heating at 180 ℃,
All the circuit boards were integrated by one-time press molding by pressing at a pressure of 2 MPa.

【0136】(14)前記(13)で得た積層体の最上
層にある積層用回路基板B5の表面にエッチング保護フ
ィルム78を貼付け、最下層にある半導体チップ実装回
路基板A1の銅箔表面に、所定の配線パターンに対応し
たエッチングレジスト層80を形成した後、エッチング
処理によって導体回路82を形成する。
(14) An etching protection film 78 is attached to the surface of the laminate circuit board B5, which is the uppermost layer of the laminate obtained in (13) above, and the copper foil surface of the semiconductor chip-mounted circuit board A1 is the lowest layer. After forming an etching resist layer 80 corresponding to a predetermined wiring pattern, a conductor circuit 82 is formed by etching.

【0137】(15)次に、最上層にある積層用回路基
板B5の表面および最下層にある半導体チップ実装回路
基板A1の表面にそれぞれめっきレジスト層を形成した
後、めっき処理を施して、導体回路70および導体回路
82のそれぞれのバイアホールランド上に、ニッケル−
金層(図示を省略する)を形成し、さらに、導体回路7
0のニッケル−金層上には他の電子部品を実装するため
の半田バンプ84を、一方、導体回路82のニッケル−
金層上にはマザーボードの端子に接続する半田ボール8
6を配設して、BGA構造を有する多層化回路基板を作
製した。
(15) Next, a plating resist layer is formed on each of the surface of the uppermost laminated circuit board B5 and the lowermost surface of the semiconductor chip mounted circuit board A1. On each via hole land of circuit 70 and conductor circuit 82, nickel-
A gold layer (not shown) is formed, and a conductor circuit 7 is formed.
On the nickel-gold layer of No. 0, solder bumps 84 for mounting other electronic components are provided, while on the other hand, nickel-gold of the conductor circuit 82 is provided.
Solder balls 8 connected to the terminals of the motherboard on the gold layer
6 was arranged to manufacture a multilayer circuit board having a BGA structure.

【0138】(実施例2)低融点金属であるスズ−銀系
はんだからなる導電性ペーストを用いて、印刷によっ
て、直径(バンプ径)が80μm、高さが20μm、バ
ンプ間距離(ピッチ)が140μmの第1の導電性バン
プ32を形成するとともに、直径150μm、高さ5μ
m、バンプ間距離500μmの第2の導電性バンプ22
を形成した以外は、実施例1と同様に処理して半導体チ
ップ実装用回路基板および多層化回路基板を作製した。
(Example 2) Using a conductive paste made of tin-silver based solder which is a low melting point metal, the diameter (bump diameter) was 80 μm, the height was 20 μm, and the distance between bumps (pitch) was determined by printing. The first conductive bump 32 of 140 μm is formed, and the diameter is 150 μm and the height is 5 μm.
m, the second conductive bump 22 having a distance between bumps of 500 μm
A circuit board for mounting a semiconductor chip and a multi-layer circuit board were manufactured in the same manner as in Example 1 except that the above was formed.

【0139】上記実施例1および2によって製造された
多層化回路基板について、目視検査および導通検査を行
い、物理的および電気的接続性を調べた。その結果、実
施例1および2は、接続性や密着性という点では問題が
なく、ヒートサイクル条件下においても、1000サイ
クルまでチップおよび導体接続部分では剥離やクラック
などは確認されず、抵抗値の上昇も確認されなかった。
The multilayer circuit boards manufactured in Examples 1 and 2 were subjected to a visual inspection and a continuity inspection to check the physical and electrical connectivity. As a result, in Examples 1 and 2, there was no problem in terms of connectivity and adhesiveness, and even under heat cycle conditions, peeling and cracks were not confirmed in the chip and the conductor connection portion up to 1000 cycles, and the resistance value No rise was confirmed.

【0140】[0140]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体チップ間の距離の短縮化を図り、配線の抵抗やイ
ンダクタンスに起因する不具合を低減することができ、
その結果、高速で遅延なく電気信号を伝達することがで
きるので、配線基板の高密度化および高機能化を図るこ
とができる。
As described above, according to the present invention,
By shortening the distance between semiconductor chips, it is possible to reduce defects caused by wiring resistance and inductance,
As a result, an electric signal can be transmitted at high speed without delay, so that it is possible to achieve high density and high functionality of the wiring board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)〜(f)は、本発明の半導体チップ実装用回路
基板の製造工程の一部を示す図である。
1A to 1F are views showing a part of a manufacturing process of a circuit board for mounting a semiconductor chip of the present invention.

【図2】(a)〜(e)は、本発明の半導体チップ実装用回路
基板の製造工程の一部を示す図である。
2A to 2E are views showing a part of a manufacturing process of a semiconductor chip mounting circuit board of the present invention.

【図3】本発明の半導体チップ実装回路基板の製造工程
の一部を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a part of the manufacturing process of the semiconductor chip mounted circuit board according to the present invention.

【図4】(a)〜(f)は、本発明による半導体チップ実装回
路基板とともに積層される片面回路基板の製造工程の一
部を示す図である。
4 (a) to 4 (f) are views showing a part of a manufacturing process of a single-sided circuit board to be laminated with a semiconductor chip mounting circuit board according to the present invention.

【図5】本発明による半導体チップ実装回路基板と積層
用回路基板とを積層した多層化回路基板の製造工程の一
部を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a part of the manufacturing process of the multilayer circuit board in which the semiconductor chip mounting circuit board and the stacking circuit board according to the present invention are stacked.

【図6】本発明による半導体チップ実装回路基板と積層
用回路基板とを積層した多層化回路基板の製造工程の一
部を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a part of the manufacturing process of the multilayer circuit board in which the semiconductor chip mounting circuit board and the stacking circuit board according to the present invention are stacked.

【図7】本発明による半導体チップ実装回路基板と積層
用回路基板とを積層した多層化回路基板の製造工程の一
部を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a part of the manufacturing process of the multilayer circuit board in which the semiconductor chip mounting circuit board and the stacking circuit board according to the present invention are stacked.

【図8】 本発明による多層化回路基板の全体を示す図
である。
FIG. 8 is a diagram showing an entire multilayer circuit board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 絶縁性樹脂基材 12 銅箔 14 光透過性フィルム 16 開口 18 保護フィルム 20 充填バイアホール 22 第2の導電性バンプ 24 めっきレジスト層 26 保護フィルム 30 電解すずめっき 32 第1の導電性バンプ 34 ドライフィルム 38 めっきレジスト層 40 導体回路 41 粗化層 42 半導体チップ 43 接着剤層 46 封止用樹脂シート 70、82 導体回路 84 半田バンプ 86 半田ボール A1〜A4 半導体チップ実装回路基板 B1〜B5 積層用片面回路基板 10 Insulating resin base material 12 Copper foil 14 Light-transmissive film 16 openings 18 Protective film 20 Filled via holes 22 Second conductive bump 24 Plating resist layer 26 Protective film 30 Electrolytic tin plating 32 First conductive bump 34 Dry film 38 Plating resist layer 40 conductor circuit 41 Roughened layer 42 semiconductor chips 43 Adhesive layer 46 Sealing resin sheet 70, 82 Conductor circuit 84 Solder bump 86 solder balls A1-A4 Semiconductor chip mounting circuit board B1-B5 Single-sided circuit board for lamination

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性樹脂基材の一面側には、そのほぼ
中央部に半導体チップを実装する領域を有し、その実装
領域内に第1の導電性バンプが形成されるとともに、そ
の第1の導電性バンプから絶縁性樹脂基材の周辺部に向
けて導体回路が延設され、前記絶縁性樹脂基材の他面側
には、前記導体回路に達する開口内に導電性物質を充填
してなるバイアホールが設けられるとともに、そのバイ
アホールの真上に他の回路基板に電気的に接続される第
2の導電性バンプが設けられていることを特徴とする半
導体チップ実装用の回路基板。
1. An insulating resin base material has, on one surface side thereof, a region for mounting a semiconductor chip in a substantially central portion thereof, and a first conductive bump is formed in the mounting region and the first conductive bump is formed. A conductive circuit is extended from the conductive bump 1 toward the peripheral portion of the insulating resin base material, and a conductive substance is filled in the opening reaching the conductive circuit on the other surface side of the insulating resin base material. Circuit for mounting a semiconductor chip, characterized in that a via hole is formed and a second conductive bump electrically connected to another circuit board is provided directly above the via hole. substrate.
【請求項2】 絶縁性樹脂基材の一面側には、そのほぼ
中央部に半導体チップを第1の導電性バンプを介して実
装する導体回路を含み、その導体回路は、前記第1の導
電性バンプから絶縁性樹脂基材の周辺部に向けて延設さ
れ、前記絶縁性樹脂基材の他面側には、前記導体回路に
達する開口内に導電性物質を充填してなるバイアホール
が設けられ、そのバイアホールの真上に他の回路基板に
電気的に接続される第2の導電性バンプが形成されてな
る半導体チップ実装回路基板。
2. The insulating resin base material includes, on one surface side thereof, a conductor circuit for mounting a semiconductor chip at a substantially central portion thereof via a first conductive bump, and the conductor circuit comprises the first conductive material. From the conductive bump toward the peripheral portion of the insulating resin base material, and on the other surface side of the insulating resin base material, a via hole formed by filling a conductive material into the opening reaching the conductor circuit. A semiconductor chip-mounted circuit board provided with a second conductive bump formed directly above the via hole and electrically connected to another circuit board.
【請求項3】 上記導電性バンプは、Sn、Pb、A
g、Au、Cu、Zn、In、Bi、半田またはスズ合
金から選ばれる少なくとも1種の金属から形成されるこ
とを特徴とする請求項1または2に記載の回路基板。
3. The conductive bumps are made of Sn, Pb, A.
The circuit board according to claim 1 or 2, wherein the circuit board is formed of at least one metal selected from g, Au, Cu, Zn, In, Bi, solder, and tin alloy.
【請求項4】 上記導電性バンプは、電解めっきまたは
無電解めっきから形成されていることを特徴とする請求
項3に記載の回路基板。
4. The circuit board according to claim 3, wherein the conductive bumps are formed by electrolytic plating or electroless plating.
【請求項5】 上記導電性物質は、電解銅めっき膜から
形成されるとともに、上記導電性バンプは、電解すずめ
っき膜から形成されることを特徴とする請求項1または
2に記載の回路基板。
5. The circuit board according to claim 1, wherein the conductive material is formed of an electrolytic copper plated film, and the conductive bumps are formed of an electrolytic tin plated film. .
【請求項6】 前記導体回路の表面には粗化層が形成さ
れていることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記
載の回路基板。
6. The circuit board according to claim 1, wherein a roughening layer is formed on a surface of the conductor circuit.
【請求項7】 絶縁性樹脂基材の一面に形成された導体
回路上に、前記基材のほぼ中央部に配置される半導体チ
ップを実装するための第1の導電性バンプが形成され、
前記絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回路に達する開
口内に導電性物質を充填してなるバイアホールが設けら
れ、そのバイアホール上には他の回路基板に接続される
べき第2の導電性バンプが設けられている半導体チップ
実装用の回路基板を製造するに当たって、その製造工程
中に、少なくとも以下の〜の工程、すなわち、 一面に銅箔が貼付けられた絶縁性樹脂基材の他面側
に、前記銅箔に達する開口を形成するとともに、その開
口内に導電性物質を充填して充填バイアホールを形成す
る工程、 前記充填バイアホールの真上に位置して電解めっき
膜あるいは導電性ペーストによって第2の導電性バンプ
を形成する工程、 前記絶縁性樹脂基材の前記他面に保護フィルムを貼
付し、前記絶縁性樹脂基材の一面のほぼ中央部に実装半
導体チップの端子位置に対応する開口を有するめっきレ
ジスト層を形成する工程、 前記の工程で得られた絶縁性樹脂基材に対して電
解めっき処理を行って、前記開口内に電解めっき膜を充
填して実装半導体チップの端子位置に対応した第1の導
電性バンプを形成する工程、 前記めっきレジスト層を除去した後、前記第1の導
電性バンプから前記絶縁性樹脂基材の周辺部に向かって
延在する所定の回路パターンに対応するエッチングレジ
スト層を形成し、そのエッチングレジスト層が形成され
ていない銅箔部分をエッチング処理によって除去するこ
とによって、前記所定の回路パターンを形成する工程、 とを含んでなる半導体チップ実装用の回路基板の製造方
法。
7. A first conductive bump for mounting a semiconductor chip arranged substantially in the center of the base material is formed on a conductor circuit formed on one surface of the insulating resin base material,
A via hole formed by filling a conductive material is provided in an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating resin base material, and a second via to be connected to another circuit board is provided on the via hole. In manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip on which conductive bumps are provided, at least the following steps (1) to (2), that is, other than the insulating resin base material with a copper foil attached to one surface, during the manufacturing process. On the surface side, a step of forming an opening reaching the copper foil, and filling a conductive substance in the opening to form a filled via hole, an electrolytic plating film or a conductive layer located immediately above the filled via hole. Forming a second conductive bump with a conductive paste, a protective film is attached to the other surface of the insulating resin base material, and the semiconductor chip is mounted on substantially the center of one surface of the insulating resin base material. A step of forming a plating resist layer having openings corresponding to terminal positions, electrolytic plating treatment is performed on the insulating resin base material obtained in the above step, and an electrolytic plating film is filled into the openings for mounting. A step of forming a first conductive bump corresponding to a terminal position of a semiconductor chip; extending from the first conductive bump toward a peripheral portion of the insulating resin base material after removing the plating resist layer; Forming an etching resist layer corresponding to a predetermined circuit pattern, and removing the copper foil portion where the etching resist layer is not formed by an etching process to form the predetermined circuit pattern. Method for manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip.
【請求項8】 絶縁性樹脂基材の一面に形成された導体
回路上に、前記基材のほぼ中央部に配置される半導体チ
ップを実装するための第1の導電性バンプが形成され、
前記絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回路に達する開
口内に導電性物質を充填してなるバイアホールが設けら
れ、そのバイアホール上には他の回路基板に接続される
べき第2の導電性バンプが設けられている半導体チップ
実装用の回路基板を製造するに当たって、その製造工程
中に、少なくとも以下の〜の工程、すなわち、 一面に銅箔が貼付けられた絶縁性樹脂基材の他の面
に光透過性樹脂フィルムを貼付し、その樹脂フィルムの
上方から絶縁性樹脂基材の他の面に対してレーザ照射を
行って、前記銅箔に達する開口を形成するとともに、そ
の開口内に残った残滓をクリーニングする工程、 前記絶縁性樹脂基材の一面を保護フィルムで覆った
状態で、電解銅めっき処理を行って、前記開口内に電解
銅めっき膜を充填して充填バイアホールを形成する工
程、 前記の工程で得られた絶縁性樹脂基材に対して電
解すずめっき処理を行って、前記充填バイアホールの真
上に電解すずめっき膜からなる第2の導電性バンプを形
成する工程、 前記保護フィルムおよび樹脂フィルムをそれぞれ絶
縁性樹脂基材から剥離させた後、前記絶縁性樹脂基材の
前記他の面に保護フィルムを貼付し、前記絶縁性樹脂基
材の一面のほぼ中央部に実装半導体チップの端子位置に
対応する開口を有するめっきレジスト層を形成する工
程、 前記の工程で得られた絶縁性樹脂基材に対して電
解すずめっき処理を行って、前記開口内に電解すずめっ
き膜を充填して実装半導体チップの端子位置に対応した
第1の導電性バンプを形成する工程、 前記めっきレジスト層を除去した後、前記第1の導
電性バンプから前記絶縁性樹脂基材の周辺部に向かって
延在する所定の回路パターンに対応するエッチングレジ
スト層を形成し、そのエッチングレジスト層が形成され
ていない銅箔部分をエッチング処理によって除去して、
前記所定の回路パターンを形成する工程、 とを含んでなる半導体チップ実装用の回路基板の製造方
法。
8. A first conductive bump for mounting a semiconductor chip arranged substantially in the center of the base material is formed on a conductor circuit formed on one surface of the insulating resin base material,
A via hole formed by filling a conductive material is provided in an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating resin base material, and a second via to be connected to another circuit board is provided on the via hole. In manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip on which conductive bumps are provided, at least the following steps (1) to (2), that is, other than the insulating resin base material with a copper foil attached to one surface, during the manufacturing process. A transparent resin film is attached to the surface of the resin film, and laser irradiation is performed from above the resin film to the other surface of the insulating resin base material to form an opening reaching the copper foil, and within the opening. A step of cleaning the remaining residue on the surface of the insulating resin base material covered with a protective film, electrolytic copper plating treatment is performed, and an electrolytic copper plating film is filled in the opening to fill a via hole. Forming step, electrolytic tin plating treatment is performed on the insulating resin base material obtained in the above step to form a second conductive bump made of an electrolytic tin plating film directly above the filled via hole. Step, after peeling the protective film and the resin film from the insulating resin substrate, respectively, affix a protective film to the other surface of the insulating resin substrate, approximately the center of one surface of the insulating resin substrate A step of forming a plating resist layer having an opening corresponding to the terminal position of the mounted semiconductor chip in a portion, electrolytic tin plating treatment is performed on the insulating resin base material obtained in the above step, and an electrolytic tin is formed in the opening. A step of filling a tin-plated film to form a first conductive bump corresponding to a terminal position of a mounted semiconductor chip; removing the plating resist layer, and then removing the first conductive bump from the first conductive bump. RESIN substrate towards the peripheral portion to form an etching resist layer corresponding to a predetermined circuit pattern extending, the copper foil portion that is not the etching resist layer is formed is removed by etching,
A method of manufacturing a circuit board for mounting a semiconductor chip, comprising: forming the predetermined circuit pattern.
【請求項9】 絶縁性樹脂基材の一面に導体回路を有
し、この絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回路に達す
るバイアホールが形成され、そのバイアホールの直上に
導電性バンプが形成されてなる回路基板の複数枚を接着
剤を介して積層し、その積層された複数枚の回路基板を
加熱プレスすることによって製造される多層化回路基板
において、 前記回路基板のうちのいくつかには、その導体回路上に
半導体チップが実装され、それらの実装半導体チップ
は、前記回路基板と隣接する他の回路基板との間に埋設
されていることを特徴とする多層化回路基板。
9. A conductive circuit is provided on one surface of an insulating resin base material, a via hole reaching the conductive circuit from the other surface of the insulating resin base material is formed, and a conductive bump is provided immediately above the via hole. In a multilayer circuit board manufactured by stacking a plurality of formed circuit boards via an adhesive and heating and pressing the stacked circuit boards, some of the circuit boards A semiconductor chip is mounted on the conductor circuit of the semiconductor chip, and the mounted semiconductor chips are embedded between the circuit board and another adjacent circuit board.
【請求項10】 絶縁性樹脂基材の一面に導体回路を有
し、この絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回路に達す
るバイアホールが形成され、そのバイアホールの直上に
導電性バンプが形成されてなる回路基板の複数枚を接着
剤を介して積層し、その積層された複数枚の回路基板を
加熱プレスすることによって製造される多層化回路基板
において、 前記回路基板のうちのいくつかは、そのほぼ中央部にお
いて、前記導体回路上に半導体チップが実装されるとと
もに、その導体回路は、実装半導体チップの端子位置か
ら前記回路基板の周辺部に向けて延設され、かつその周
辺部において前記バイアホールに接続されるように構成
された多層化回路基板。
10. A conductive circuit is provided on one surface of an insulating resin base material, a via hole reaching the conductive circuit from the other surface of the insulating resin base material is formed, and a conductive bump is formed immediately above the via hole. In a multilayer circuit board manufactured by stacking a plurality of formed circuit boards via an adhesive and heating and pressing the stacked circuit boards, some of the circuit boards The semiconductor chip is mounted on the conductor circuit in the substantially central portion thereof, and the conductor circuit extends from the terminal position of the mounted semiconductor chip toward the peripheral portion of the circuit board, and the peripheral portion thereof. A multilayer circuit board configured to be connected to the via hole.
【請求項11】 絶縁性樹脂基材の一面に導体回路を有
し、この絶縁性樹脂基材の他面から前記導体回路に達す
るバイアホールが形成され、そのバイアホールの直上に
導電性バンプが形成されてなる回路基板の複数枚を接着
剤を介して積層し、その積層された複数枚の回路基板を
加熱プレスすることによって製造される多層化回路基板
において、 前記回路基板のうちのいくつかは、そのほぼ中央部にお
いて、前記導体回路上に半導体チップが実装され、その
導体回路は、実装半導体チップの端子位置から前記回路
基板の周辺部に向けて延設され、かつその周辺部におい
て前記バイアホールに接続されるように構成され、一
方、前記半導体チップが実装された回路基板に隣接する
他の回路基板には、前記実装半導体チップが通過できる
ような開口が形成されていることを特徴とする多層化回
路基板。
11. A conductive circuit is provided on one surface of an insulating resin base material, a via hole reaching the conductive circuit is formed from the other surface of the insulating resin base material, and a conductive bump is provided immediately above the via hole. In a multilayer circuit board manufactured by stacking a plurality of formed circuit boards via an adhesive and heating and pressing the stacked circuit boards, some of the circuit boards The semiconductor chip is mounted on the conductor circuit in the substantially central portion thereof, and the conductor circuit is extended from the terminal position of the mounted semiconductor chip toward the peripheral portion of the circuit board, and in the peripheral portion thereof. On the other hand, another circuit board adjacent to the circuit board on which the semiconductor chip is mounted is configured to be connected to the via hole, and an opening through which the mounted semiconductor chip can pass is formed. Multilayer circuit board, characterized in that There are formed.
【請求項12】 上記導電性バンプは、Sn、Pb、A
g、Au、Cu、Zn、In、Bi、半田またはスズ合
金から選ばれる少なくとも1種の金属から形成されるこ
とを特徴とする請求項9〜11のいずれかに記載の多層
化回路基板。
12. The conductive bump is made of Sn, Pb, A.
The multilayer circuit board according to any one of claims 9 to 11, which is formed from at least one metal selected from g, Au, Cu, Zn, In, Bi, solder, and tin alloy.
【請求項13】 上記導電性バンプは、電解めっきまた
は無電解めっきから形成されることを特徴とする請求項
12に記載の多層化回路基板。
13. The multilayered circuit board according to claim 12, wherein the conductive bumps are formed by electrolytic plating or electroless plating.
【請求項14】 上記バイアホールは、電解銅めっきか
ら形成されるとともに、上記導電性バンプは、電解すず
めっきから形成されることを特徴とする請求項9〜11
のいずれかに記載の多層化回路基板。
14. The via hole is formed by electrolytic copper plating, and the conductive bump is formed by electrolytic tin plating.
The multilayer circuit board according to any one of 1.
【請求項15】 前記導体回路の表面には粗化層が形成
されていることを特徴とする請求項9〜14いずれかに
記載の多層化回路基板。
15. The multilayered circuit board according to claim 9, wherein a roughening layer is formed on the surface of the conductor circuit.
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