JP2003232746A - フィルムの傷および塵の検出方法及び検出装置 - Google Patents
フィルムの傷および塵の検出方法及び検出装置Info
- Publication number
- JP2003232746A JP2003232746A JP2002035385A JP2002035385A JP2003232746A JP 2003232746 A JP2003232746 A JP 2003232746A JP 2002035385 A JP2002035385 A JP 2002035385A JP 2002035385 A JP2002035385 A JP 2002035385A JP 2003232746 A JP2003232746 A JP 2003232746A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- light
- image data
- dust
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】フィルムの傷および塵を簡単な構成の装置によ
り自動的に検出する。 【解決手段】光源１からの光は、レンズ３で集光され、
拡散板４が挿入位置にあればそれにより拡散され、なけ
れば拡散されずにフィルム６に照射され、結像レンズ７
によってイメージセンサ８上に、フィルム画像が形成さ
れる。光源が集光の場合、塵や傷による光の拡散によっ
てその透過率は下がる。一方、光源が集拡散光の場合、
塵や傷によって光は拡散され、その透過率は上がる。そ
こで、これらの光の透過率を比較することで、塵や傷を
検出できる。
り自動的に検出する。 【解決手段】光源１からの光は、レンズ３で集光され、
拡散板４が挿入位置にあればそれにより拡散され、なけ
れば拡散されずにフィルム６に照射され、結像レンズ７
によってイメージセンサ８上に、フィルム画像が形成さ
れる。光源が集光の場合、塵や傷による光の拡散によっ
てその透過率は下がる。一方、光源が集拡散光の場合、
塵や傷によって光は拡散され、その透過率は上がる。そ
こで、これらの光の透過率を比較することで、塵や傷を
検出できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フィルムスキャナ
等、ネガもしくはポジフィルムなどの透過原稿を、ライ
ンもしくは面状の受光センサでスキャニングして画像デ
ータを電子的に読み取る装置に関するものであり、特
に、フィルムについた傷またはフィルムに付着した塵を
検出する方法および装置に関する。
等、ネガもしくはポジフィルムなどの透過原稿を、ライ
ンもしくは面状の受光センサでスキャニングして画像デ
ータを電子的に読み取る装置に関するものであり、特
に、フィルムについた傷またはフィルムに付着した塵を
検出する方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】フィルムスキャナは、ネガもしくはポジ
フィルムを、ラインもしくは面状のイメージセンサでス
キャニングすることで、フィルム上に形成された画像を
電子的な画像データとして取り込む装置であり、解像度
は低いものでも2400dpi程度、高級機種では5000dpi程度
にまで及ぶ。このように非常に高い解像度でフィルム上
の画像を取り込むため、フィルムに傷または塵がついて
いると、ポジフィルムの場合、取り込まれた画像データ
においては、それらの傷や塵は黒く細い直線や綿埃状の
線となり、非常に見苦しく画像の質を低下させる。従
来、これらの傷や塵を画像データから取り除く作業は、
手作業によって行われるなど、大変時間と経費のかかる
作業であった。
フィルムを、ラインもしくは面状のイメージセンサでス
キャニングすることで、フィルム上に形成された画像を
電子的な画像データとして取り込む装置であり、解像度
は低いものでも2400dpi程度、高級機種では5000dpi程度
にまで及ぶ。このように非常に高い解像度でフィルム上
の画像を取り込むため、フィルムに傷または塵がついて
いると、ポジフィルムの場合、取り込まれた画像データ
においては、それらの傷や塵は黒く細い直線や綿埃状の
線となり、非常に見苦しく画像の質を低下させる。従
来、これらの傷や塵を画像データから取り除く作業は、
手作業によって行われるなど、大変時間と経費のかかる
作業であった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】そのために、フィルム
についた傷またはフィルムに付着した塵を自動で検出す
る方法として、フィルムに赤外光をあててフィルムに形
成された画像以外の傷・塵データを取り出す方法があ
る。しかしこの赤外光を用いた方法では、その赤外光の
光源および受光系を、画像をスキャンするためのものと
は別に用意しなければならず、装置の構成が複雑化して
高価なものとなる。
についた傷またはフィルムに付着した塵を自動で検出す
る方法として、フィルムに赤外光をあててフィルムに形
成された画像以外の傷・塵データを取り出す方法があ
る。しかしこの赤外光を用いた方法では、その赤外光の
光源および受光系を、画像をスキャンするためのものと
は別に用意しなければならず、装置の構成が複雑化して
高価なものとなる。
【０００４】また、フィルムに対し斜め横方向からスキ
ャニング用の光源とは別の光源によって光をあて、フィ
ルム上に形成された画像以外の傷・塵データを取り出す
方法も提案されているが、赤外光を用いる場合と同様に
別光源を用意しなければならず、装置の構成が複雑化
し、高価なものとなる。
ャニング用の光源とは別の光源によって光をあて、フィ
ルム上に形成された画像以外の傷・塵データを取り出す
方法も提案されているが、赤外光を用いる場合と同様に
別光源を用意しなければならず、装置の構成が複雑化
し、高価なものとなる。
【０００５】このように、従来は、フィルムの傷や塵
は、画像データを記録した後で手作業で行うか、あるい
は、自動で行う場合には、複雑高価な装置を用いなけれ
ばならなかった。
は、画像データを記録した後で手作業で行うか、あるい
は、自動で行う場合には、複雑高価な装置を用いなけれ
ばならなかった。
【０００６】本発明は上記従来例に鑑みて成されたもの
で、簡単な光学系によりフィルムの傷および塵を自動で
検出し、手作業による傷および塵の除去のための労力を
軽減するとともに、傷および塵の検出の自動化を安価に
提供することのできるフィルムの傷および塵の検出方法
及び検出装置を提供することを目的とする。
で、簡単な光学系によりフィルムの傷および塵を自動で
検出し、手作業による傷および塵の除去のための労力を
軽減するとともに、傷および塵の検出の自動化を安価に
提供することのできるフィルムの傷および塵の検出方法
及び検出装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るフィルムの傷および塵を検出する方法
は次のような構成から成る。
に、本発明に係るフィルムの傷および塵を検出する方法
は次のような構成から成る。
【０００８】光路上に置いた、画像を記録したフィルム
に集光を照射し、前記フィルムを透過した光を測光して
得た第１の画像データと、前記フィルムに集拡散光を照
射し、前記フィルムを透過した光を測光して得た第２の
画像データとから、前記フィルムの傷または塵を検出す
る。
に集光を照射し、前記フィルムを透過した光を測光して
得た第１の画像データと、前記フィルムに集拡散光を照
射し、前記フィルムを透過した光を測光して得た第２の
画像データとから、前記フィルムの傷または塵を検出す
る。
【０００９】また好ましくは、光路上に前記フィルムを
置かない状態で、前記集光を照射して得た第３の画像デ
ータと、前記集拡散光を照射して得た第４の画像データ
と、前記第１の画像データおよび前記第２の画像データ
とにおいて、前記第１の画像データと前記第３の画像デ
ータとから求めた前記フィルムの集光透過率と、前記第
２の画像データと前記第４の画像データとから求めた前
記フィルムの集拡散光透過率とから、傷または塵を検出
する。
置かない状態で、前記集光を照射して得た第３の画像デ
ータと、前記集拡散光を照射して得た第４の画像データ
と、前記第１の画像データおよび前記第２の画像データ
とにおいて、前記第１の画像データと前記第３の画像デ
ータとから求めた前記フィルムの集光透過率と、前記第
２の画像データと前記第４の画像データとから求めた前
記フィルムの集拡散光透過率とから、傷または塵を検出
する。
【００１０】また好ましくは、前記集光透過率と前記集
拡散光透過率との差の絶対値が、所定のしきい値以上と
なる画像領域について、傷または塵であると判定するこ
とで、傷または塵を検出する。
拡散光透過率との差の絶対値が、所定のしきい値以上と
なる画像領域について、傷または塵であると判定するこ
とで、傷または塵を検出する。
【００１１】あるいは、本発明にかかるフィルムの傷お
よび塵を検出する装置は次のような構成から成る。
よび塵を検出する装置は次のような構成から成る。
【００１２】光路上に置いた、画像を記録したフィルム
に光を照射する光源と、前記光源からの光を前記フィル
ム面に対しほぼ垂直な集光として照射する集光手段と、
前記フィルムを透過した光を結像する結像手段と、前記
結像手段の焦点位置に配置された測光手段と、前記集光
手段と前記フィルムの間の光路上に挿抜可能であって、
挿入した状態においては前記集光を拡散して前記フィル
ムに集拡散光を照射する拡散板と、前記拡散板を挿入し
ない状態で前記測光手段により得た第１の画像データ
と、前記拡散板を挿入した状態で前記測光手段により得
た第２の画像データとから前記フィルムの傷および塵を
検出する検出手段とを備える。
に光を照射する光源と、前記光源からの光を前記フィル
ム面に対しほぼ垂直な集光として照射する集光手段と、
前記フィルムを透過した光を結像する結像手段と、前記
結像手段の焦点位置に配置された測光手段と、前記集光
手段と前記フィルムの間の光路上に挿抜可能であって、
挿入した状態においては前記集光を拡散して前記フィル
ムに集拡散光を照射する拡散板と、前記拡散板を挿入し
ない状態で前記測光手段により得た第１の画像データ
と、前記拡散板を挿入した状態で前記測光手段により得
た第２の画像データとから前記フィルムの傷および塵を
検出する検出手段とを備える。
【００１３】また好ましくは、光路上に前記フィルムが
無い時に、前記拡散板を挿入しない状態で前記測光手段
により得た第３の画像データと、前記拡散板を挿入した
状態で前記測光手段により得た第４の画像データとを求
め、前記第１の画像データと前記第３の画像データとか
ら求めた前記フィルムの集光透過率と、前記第２の画像
データと前記第４の画像データとから求めた前記フィル
ムの集拡散光透過率とから、前記フィルムの傷および塵
を検出する検出手段を備える。
無い時に、前記拡散板を挿入しない状態で前記測光手段
により得た第３の画像データと、前記拡散板を挿入した
状態で前記測光手段により得た第４の画像データとを求
め、前記第１の画像データと前記第３の画像データとか
ら求めた前記フィルムの集光透過率と、前記第２の画像
データと前記第４の画像データとから求めた前記フィル
ムの集拡散光透過率とから、前記フィルムの傷および塵
を検出する検出手段を備える。
【００１４】また好ましくは、前記集光透過率と、前記
集拡散光透過率との差の絶対値が、所定のしきい値以上
となる画像領域について傷または塵であると判定するこ
とにより、前記フィルムの傷または塵を検出する検出手
段を備える。
集拡散光透過率との差の絶対値が、所定のしきい値以上
となる画像領域について傷または塵であると判定するこ
とにより、前記フィルムの傷または塵を検出する検出手
段を備える。
【００１５】あるいは、本発明にかかるフィルムスキャ
ナは、上述のフィルムの傷および塵を検出する装置によ
り検出された傷および塵を、前記画像データ上において
修正する修正手段をさらに備える。
ナは、上述のフィルムの傷および塵を検出する装置によ
り検出された傷および塵を、前記画像データ上において
修正する修正手段をさらに備える。
【００１６】この構成により、検出した傷や塵を画像デ
ータ上において修正できる。
ータ上において修正できる。
【００１７】
【発明の実施の形態】＜フィルムスキャナの構成＞図１
に、フィルムの傷および塵を検出できるフィルムスキャ
ナ装置の光学系の構成を示す。図１の光学系において、
光源１は、通常のフィルムスキャナに使用される光源で
あり、例えば冷陰極蛍光ランプやハロゲンランプなどで
ある。反射板２は、光源１の出射光を反射してその光路
を集光光学系の光軸に一致するよう変える。反射板２は
本実施形態の装置に不可欠な構成要素ではないが、装置
を小型化するために貢献している。
に、フィルムの傷および塵を検出できるフィルムスキャ
ナ装置の光学系の構成を示す。図１の光学系において、
光源１は、通常のフィルムスキャナに使用される光源で
あり、例えば冷陰極蛍光ランプやハロゲンランプなどで
ある。反射板２は、光源１の出射光を反射してその光路
を集光光学系の光軸に一致するよう変える。反射板２は
本実施形態の装置に不可欠な構成要素ではないが、装置
を小型化するために貢献している。
【００１８】集光光学系は、集光レンズ３および結像レ
ンズ７により構成される。集光レンズ３を通過する光源
光はフィルム面に対しほぼ垂直な光即ち、集光となり、
所定のケースに収められてフィルム載置台におかれたフ
ィルムの１こまを通過して結像レンズ７を通過し、その
焦点に配置されたイメージセンサ８に投影される。イメ
ージセンサはＣＣＤ等により構成され、画素ごとに、画
像の光量に応じた電圧が出力される。その出力は、図２
に示すＡ／Ｄ変換器１０により、デジタル画像データに
変換されて画像メモリ１２に格納される。フィルム載置
台におかれたフィルムは１こまスキャンするごとに移動
される。
ンズ７により構成される。集光レンズ３を通過する光源
光はフィルム面に対しほぼ垂直な光即ち、集光となり、
所定のケースに収められてフィルム載置台におかれたフ
ィルムの１こまを通過して結像レンズ７を通過し、その
焦点に配置されたイメージセンサ８に投影される。イメ
ージセンサはＣＣＤ等により構成され、画素ごとに、画
像の光量に応じた電圧が出力される。その出力は、図２
に示すＡ／Ｄ変換器１０により、デジタル画像データに
変換されて画像メモリ１２に格納される。フィルム載置
台におかれたフィルムは１こまスキャンするごとに移動
される。
【００１９】ここで、拡散板４は、その駆動回路により
集光レンズとフィルムの間の光路上に挿抜可能な構造と
なっている。図では、拡散板が光路上に挿入された位置
を符号４で示し、引き出されて外れた待避位置を符号５
で示す。拡散板４は入射光を拡散する機能を有する板体
であり、例えば、内部の粒子によって光を拡散する乳白
色ガラスや、表面の凹凸により光を拡散する磨りガラス
などで構成される。拡散板４が挿入位置にある場合、光
源から出た光はいったん集光レンズ３を通って集光とな
った後、拡散板４によって拡散され集拡散光となる。な
お、拡散板４の駆動を実現するための機構は図示されて
いないが、例えばモータ等を動力とし、クランク機構な
どを用いて挿入位置と待避位置との間で往復移動可能な
構成とすることで実現できる。
集光レンズとフィルムの間の光路上に挿抜可能な構造と
なっている。図では、拡散板が光路上に挿入された位置
を符号４で示し、引き出されて外れた待避位置を符号５
で示す。拡散板４は入射光を拡散する機能を有する板体
であり、例えば、内部の粒子によって光を拡散する乳白
色ガラスや、表面の凹凸により光を拡散する磨りガラス
などで構成される。拡散板４が挿入位置にある場合、光
源から出た光はいったん集光レンズ３を通って集光とな
った後、拡散板４によって拡散され集拡散光となる。な
お、拡散板４の駆動を実現するための機構は図示されて
いないが、例えばモータ等を動力とし、クランク機構な
どを用いて挿入位置と待避位置との間で往復移動可能な
構成とすることで実現できる。
【００２０】図２は、図１のフィルムスキャナ装置を制
御するための画像処理部を中心としたブロック図であ
る。
御するための画像処理部を中心としたブロック図であ
る。
【００２１】ＣＣＤイメージセンサ８は、ＣＣＤ駆動回
路９によりタイミングを取り画像データを出力する。こ
の出力は、Ａ／Ｄ変換機１０でデジタル信号に変換さ
れ、信号レベルをフィルムの特性に合わせるレベル調整
回路１１を通して画像メモリ１２に格納される。この動
作は、システム制御回路１４により、光源制御およびフ
ィルム駆動回路１３を通し、光源の調整、拡散板の挿
抜、フィルムの動きに合わせ行われる。さらにシステム
制御回路１４は、取り込まれた画像データの画像処理機
能を持ち、図４（Ｃ）に示したように拡散板有りと無し
の画像データより傷および塵を検出する処理を行い、そ
の後フィルムの傷および塵の除去の処理等を行う。ま
た、その処理結果の画像データは外部Ｉ／Ｆ回路１５に
より外部画像表示装置等に出力される。
路９によりタイミングを取り画像データを出力する。こ
の出力は、Ａ／Ｄ変換機１０でデジタル信号に変換さ
れ、信号レベルをフィルムの特性に合わせるレベル調整
回路１１を通して画像メモリ１２に格納される。この動
作は、システム制御回路１４により、光源制御およびフ
ィルム駆動回路１３を通し、光源の調整、拡散板の挿
抜、フィルムの動きに合わせ行われる。さらにシステム
制御回路１４は、取り込まれた画像データの画像処理機
能を持ち、図４（Ｃ）に示したように拡散板有りと無し
の画像データより傷および塵を検出する処理を行い、そ
の後フィルムの傷および塵の除去の処理等を行う。ま
た、その処理結果の画像データは外部Ｉ／Ｆ回路１５に
より外部画像表示装置等に出力される。
【００２２】＜本発明にかかる傷および塵の検出原理＞
次に本発明で使用する集光と集拡散光をフィルムの傷ま
たは塵のあるフィルムに照射した時の効果につき述べ
る。なお集光とは、集光レンズ３によって集光した光を
指し、拡散板５が待避位置にある場合、集光によってフ
ィルムはスキャンされる。一方、集拡散光とは、集光レ
ンズ３によって集光した光を、さらに拡散板４によって
拡散した光を指し、拡散板４が挿入位置にある場合、集
拡散光によってフィルムはスキャンされる。
次に本発明で使用する集光と集拡散光をフィルムの傷ま
たは塵のあるフィルムに照射した時の効果につき述べ
る。なお集光とは、集光レンズ３によって集光した光を
指し、拡散板５が待避位置にある場合、集光によってフ
ィルムはスキャンされる。一方、集拡散光とは、集光レ
ンズ３によって集光した光を、さらに拡散板４によって
拡散した光を指し、拡散板４が挿入位置にある場合、集
拡散光によってフィルムはスキャンされる。
【００２３】図３（Ａ）は、傷のあるフィルム６ａに集
光をあてた場合である。図においては、フィルム６ａの
表面に傷６１が刻まれている。並行光である入射光はフ
ィルムに対して一定の方向、ここではほぼ垂直にあた
り、傷６１の無い部分ではそのまま直進して結像レンズ
７の視野範囲７ａに入る。ところが傷６１のある部分で
は入射光は散乱されて結像レンズ７の視野範囲７ａに入
らない部分６２が生じる。このため傷６１の部分を通過
する光の一部はイメージセンサ８に結像しないため、傷
６１の画像データは光量が減り透過率が下がる。
光をあてた場合である。図においては、フィルム６ａの
表面に傷６１が刻まれている。並行光である入射光はフ
ィルムに対して一定の方向、ここではほぼ垂直にあた
り、傷６１の無い部分ではそのまま直進して結像レンズ
７の視野範囲７ａに入る。ところが傷６１のある部分で
は入射光は散乱されて結像レンズ７の視野範囲７ａに入
らない部分６２が生じる。このため傷６１の部分を通過
する光の一部はイメージセンサ８に結像しないため、傷
６１の画像データは光量が減り透過率が下がる。
【００２４】図３（Ｂ）は、傷のあるフィルム６ａに集
拡散光をあてた場合である。集拡散光である入射光は、
フィルムに対して様々な方向からあたり、傷６１のある
部分では、傷が無ければ結像レンズの視野範囲７ａに入
らない入射光が散乱されて結像レンズ７の視野範囲７ａ
に入る部分６３が生じ、そのため傷６１の画像データは
光量が増え透過率が上がる。
拡散光をあてた場合である。集拡散光である入射光は、
フィルムに対して様々な方向からあたり、傷６１のある
部分では、傷が無ければ結像レンズの視野範囲７ａに入
らない入射光が散乱されて結像レンズ７の視野範囲７ａ
に入る部分６３が生じ、そのため傷６１の画像データは
光量が増え透過率が上がる。
【００２５】図３（Ｃ）は、塵のあるフィルム６ｂに集
光をあてた場合である。入射光はほぼフィルム６ｂに対
して垂直にあたり、結像レンズ７の視野範囲７ａに入
る。ところが塵６４のある部分では入射光は散乱されて
結像レンズ７の視野範囲７ａに入らない部分６５が生じ
る。このため塵６４の部分を通過する光の一部はイメー
ジセンサ８に結像しないためその画像データは光量が減
り透過率が下がる。
光をあてた場合である。入射光はほぼフィルム６ｂに対
して垂直にあたり、結像レンズ７の視野範囲７ａに入
る。ところが塵６４のある部分では入射光は散乱されて
結像レンズ７の視野範囲７ａに入らない部分６５が生じ
る。このため塵６４の部分を通過する光の一部はイメー
ジセンサ８に結像しないためその画像データは光量が減
り透過率が下がる。
【００２６】図３（Ｄ）は、塵のあるフィルム６ｂに集
拡散光をあてた場合である。入射光はフィルム６ｂに対
して様々な方向からあたり、塵６４のある部分では、塵
が無ければ結像レンズの視野範囲７ａに入らない入射光
が散乱されて結像レンズ７の視野範囲７ａに入る部分６
６が生じる。このため塵６４の画像データは光量が増え
透過率が上がる。
拡散光をあてた場合である。入射光はフィルム６ｂに対
して様々な方向からあたり、塵６４のある部分では、塵
が無ければ結像レンズの視野範囲７ａに入らない入射光
が散乱されて結像レンズ７の視野範囲７ａに入る部分６
６が生じる。このため塵６４の画像データは光量が増え
透過率が上がる。
【００２７】一方、フィルムに形成される画像は、感光
・定着の工程を経てフィルムに定着した色素により形成
されている。
・定着の工程を経てフィルムに定着した色素により形成
されている。
【００２８】色素に対して照射された光は、その散乱の
度合が塵による散乱の度合よりも弱く、また、塵の場合
のように繰り返し散乱されることも少ない。したがっ
て、図３（Ｃ）のように集光をあてた場合には、塵に対
して集光をあてた場合に対して、結像レンズ７の視野範
囲７ａ外に飛び出すように散乱される光量は少ない。ま
た、図３（Ｄ）のように集拡散光を色素に対してあてた
場合には、塵に対して集拡散光をあてた場合に対して、
結像レンズ７の視野範囲７ａ内に納まるように散乱され
る光量は少ない。このため、色素の透過率は、集光に対
しても、集拡散光に対しても、その色素の部分を透過す
る光量に応じたほぼ同じ値の透過率となる。
度合が塵による散乱の度合よりも弱く、また、塵の場合
のように繰り返し散乱されることも少ない。したがっ
て、図３（Ｃ）のように集光をあてた場合には、塵に対
して集光をあてた場合に対して、結像レンズ７の視野範
囲７ａ外に飛び出すように散乱される光量は少ない。ま
た、図３（Ｄ）のように集拡散光を色素に対してあてた
場合には、塵に対して集拡散光をあてた場合に対して、
結像レンズ７の視野範囲７ａ内に納まるように散乱され
る光量は少ない。このため、色素の透過率は、集光に対
しても、集拡散光に対しても、その色素の部分を透過す
る光量に応じたほぼ同じ値の透過率となる。
【００２９】具体的に模式的な一例を図４に示す。塵４
１の付着したフィルムに対して、集光と、これに拡散板
４を通した集拡散光とをそれぞれ照射した場合に得られ
る画像の照射光の透過率を、塵４１を含む破線ＡＢの部
分について示したグラフを図４（Ａ）に示す。上述した
理由から、塵の部分については、集光の透過率４２と集
拡散光の透過率４３とが異なるのに対して、塵の付着し
ていない色素のみの部分では、透過率に殆んど差はな
い。
１の付着したフィルムに対して、集光と、これに拡散板
４を通した集拡散光とをそれぞれ照射した場合に得られ
る画像の照射光の透過率を、塵４１を含む破線ＡＢの部
分について示したグラフを図４（Ａ）に示す。上述した
理由から、塵の部分については、集光の透過率４２と集
拡散光の透過率４３とが異なるのに対して、塵の付着し
ていない色素のみの部分では、透過率に殆んど差はな
い。
【００３０】図４（Ｂ）は、この値４２と値４３との差
の絶対値を取ったグラフをレンジを拡大して示す。図４
（Ｂ）において、塵の部分は値が大きくなる。このデー
タは、高周波成分を含むので、図４（Ｃ）に示したよう
に、この図４（Ｂ）のデータにローパスフィルタをか
け、ローパスフィルタを通したデータを、或る決められ
たしきい値Ｔｈと比較して、しきい値Ｔｈよりも値が大
きい部分を塵（あるいは傷）と判定することで、塵およ
び傷の検出が可能である。
の絶対値を取ったグラフをレンジを拡大して示す。図４
（Ｂ）において、塵の部分は値が大きくなる。このデー
タは、高周波成分を含むので、図４（Ｃ）に示したよう
に、この図４（Ｂ）のデータにローパスフィルタをか
け、ローパスフィルタを通したデータを、或る決められ
たしきい値Ｔｈと比較して、しきい値Ｔｈよりも値が大
きい部分を塵（あるいは傷）と判定することで、塵およ
び傷の検出が可能である。
【００３１】図５に、図１および図２のフィルムスキャ
ナによってフィルムの傷および塵を検出するための手順
を示す。
ナによってフィルムの傷および塵を検出するための手順
を示す。
【００３２】図５において、ステップＳ５０１〜ステッ
プＳ５０４までの処理は、フィルムが挿入されていない
透過率１００％の状態で行う。まず、ステップＳ５０１
では集光を照射するために、拡散板４を光路外の位置５
へ移動させる。ステップＳ５０２においては、光源１を
発光させ、イメージセンサ８から出力される画像データ
をＡ／Ｄ変換して、フィルムが無いときの集光照射時の
画像データＶ100nを全画像について画像メモリ１２に記
録する。ステップＳ５０３では、集拡散光を照射するた
めに、拡散板を光路内の位置へ移動させ、ステップＳ５
０４において、同様にして、フィルムが無いときの集拡
散光照射時の画像データＶ'100nを全画像について画像
メモリ１２に記録する。
プＳ５０４までの処理は、フィルムが挿入されていない
透過率１００％の状態で行う。まず、ステップＳ５０１
では集光を照射するために、拡散板４を光路外の位置５
へ移動させる。ステップＳ５０２においては、光源１を
発光させ、イメージセンサ８から出力される画像データ
をＡ／Ｄ変換して、フィルムが無いときの集光照射時の
画像データＶ100nを全画像について画像メモリ１２に記
録する。ステップＳ５０３では、集拡散光を照射するた
めに、拡散板を光路内の位置へ移動させ、ステップＳ５
０４において、同様にして、フィルムが無いときの集拡
散光照射時の画像データＶ'100nを全画像について画像
メモリ１２に記録する。
【００３３】次に、ステップＳ５０５において、フィル
ムを挿入し、ステップＳ５０６において、光源１を発光
させ、イメージセンサ８から出力される画像データをＡ
／Ｄ変換して、集拡散光照射時の画像データＶ'n を全
画像について画像メモリ１２に記録する。ステップＳ５
０７では集光を照射するために、拡散板を光路外の位置
５へ移動させ、ステップＳ５０８において、同様にし
て、集光照射時の画像データＶｎを全画像について画像
メモリ１２に記録する。
ムを挿入し、ステップＳ５０６において、光源１を発光
させ、イメージセンサ８から出力される画像データをＡ
／Ｄ変換して、集拡散光照射時の画像データＶ'n を全
画像について画像メモリ１２に記録する。ステップＳ５
０７では集光を照射するために、拡散板を光路外の位置
５へ移動させ、ステップＳ５０８において、同様にし
て、集光照射時の画像データＶｎを全画像について画像
メモリ１２に記録する。
【００３４】続いて、ステップＳ５０９において、画像
メモリ１２に記録した値を読み出して集光透過率Ｔn
（＝Ｖn／Ｖ100n）を算出し、ステップＳ５１０におい
て、同様に集拡散光透過率Ｔ'n（＝Ｖ'n／Ｖ'100n）を
算出する。ステップＳ５１１において、集光透過率Ｔn
と集拡散光透過率Ｔ'nの差の絶対値｜Ｔn−Ｔ'n｜を求
め、ステップＳ５１２において、差の絶対値｜Ｔn−Ｔ'
n｜としきい値Ｔthとを比較して、ステップＳ５１３で
は、｜Ｔn−Ｔ'n｜がしきい値Ｔth以上であった場合、
その位置ｎを画像メモリ１２に記録する。ステップＳ５
１４において、全画像データについて比較が終了してい
なければステップＳ５０９に戻って全画像について透過
率の比較を行う。
メモリ１２に記録した値を読み出して集光透過率Ｔn
（＝Ｖn／Ｖ100n）を算出し、ステップＳ５１０におい
て、同様に集拡散光透過率Ｔ'n（＝Ｖ'n／Ｖ'100n）を
算出する。ステップＳ５１１において、集光透過率Ｔn
と集拡散光透過率Ｔ'nの差の絶対値｜Ｔn−Ｔ'n｜を求
め、ステップＳ５１２において、差の絶対値｜Ｔn−Ｔ'
n｜としきい値Ｔthとを比較して、ステップＳ５１３で
は、｜Ｔn−Ｔ'n｜がしきい値Ｔth以上であった場合、
その位置ｎを画像メモリ１２に記録する。ステップＳ５
１４において、全画像データについて比較が終了してい
なければステップＳ５０９に戻って全画像について透過
率の比較を行う。
【００３５】以上の手順により、図１および図２の構成
のフィルムスキャナは、フィルムについた傷や塵を検出
することができる。このフィルムスキャナは、従来技術
の欄において説明したような、塵の検出のための特別な
光源を必要とせず、簡易かつ安価に構成することができ
る。
のフィルムスキャナは、フィルムについた傷や塵を検出
することができる。このフィルムスキャナは、従来技術
の欄において説明したような、塵の検出のための特別な
光源を必要とせず、簡易かつ安価に構成することができ
る。
【００３６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
簡単な光学系によりフィルムの傷および塵を自動で検出
し、手作業による傷および塵の除去のための労力を軽減
するとともに、傷および塵の検出の自動化を安価に提供
することができるという効果を奏する。
簡単な光学系によりフィルムの傷および塵を自動で検出
し、手作業による傷および塵の除去のための労力を軽減
するとともに、傷および塵の検出の自動化を安価に提供
することができるという効果を奏する。
【図１】本発明にかかるフィルムスキャナの構成を示す
模式図である。
模式図である。
【図２】本発明にかかるフィルムスキャナのブロック構
成図である。
成図である。
【図３】本発明にかかる傷および塵の検出原理を説明す
るための図である。
るための図である。
【図４】本発明にかかる塵の検出原理を説明するための
図である。
図である。
【図５】本発明にかかるフィルムスキャナによる傷およ
び塵の検出動作手順を示すフローチャートである。
び塵の検出動作手順を示すフローチャートである。
１ 光源
２ 反射板
３ 集光レンズ
４ 拡散板（挿入位置）
５ 拡散板（待避位置）
６ フィルム
６ａ 傷のあるフィルム
６１ 傷
６ｂ 塵のあるフィルム
６４ 塵
７ 結像レンズ
８ イメージセンサ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｈ０４Ｎ 1/19 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０３Ｅ
Ｆターム(参考） 2G051 AA41 AB01 AB02 AB07 CA04
CB02 DA06 EA11 EA12 EA14
EA16 EB01 ED21
5B047 AA05 AB02 BB01 BC05 BC09
BC11 BC14 CA17 CB22 DC06
5B057 AA01 BA02 CA12 CA16 DA03
DB02 DC22 DC36
5C072 AA01 BA02 CA02 DA02 DA04
DA16 DA21 DA23 EA05 UA06
UA11 UA20 VA03
Claims (7)
- 【請求項１】 光路上に置いた、画像を記録したフィル
ムに集光を照射し、前記フィルムを透過した光を測光し
て得た第１の画像データと、前記フィルムに集拡散光を
照射し、前記フィルムを透過した光を測光して得た第２
の画像データとから、前記フィルムの傷または塵を検出
する方法。 - 【請求項２】 光路上に前記フィルムを置かない状態
で、前記集光を照射して得た第３の画像データと、前記
集拡散光を照射して得た第４の画像データと、前記第１
の画像データおよび前記第２の画像データとにおいて、 前記第１の画像データと前記第３の画像データとから求
めた前記フィルムの集光透過率と、前記第２の画像デー
タと前記第４の画像データとから求めた前記フィルムの
集拡散光透過率とから、傷または塵を検出することを特
徴とする請求項１に記載のフィルムの傷または塵を検出
する方法。 - 【請求項３】 前記集光透過率と前記集拡散光透過率と
の差の絶対値が、所定のしきい値以上となる画像領域に
ついて、傷または塵であると判定することで、傷または
塵を検出することを特徴とする請求項２に記載のフィル
ムの傷または塵を検出する方法。 - 【請求項４】 光路上に置いた、画像を記録したフィル
ムに光を照射する光源と、 前記光源からの光を前記フィルム面に対しほぼ垂直な集
光として照射する集光手段と、 前記フィルムを透過した光を結像する結像手段と、 前記結像手段の焦点位置に配置された測光手段と、 前記集光手段と前記フィルムの間の光路上に挿抜可能で
あって、挿入した状態においては前記集光を拡散して前
記フィルムに集拡散光を照射する拡散板と、 前記拡散板を挿入しない状態で前記測光手段により得た
第１の画像データと、前記拡散板を挿入した状態で前記
測光手段により得た第２の画像データとから前記フィル
ムの傷および塵を検出する検出手段とを備えることを特
徴とするフィルムの傷および塵の検出装置。 - 【請求項５】 光路上に前記フィルムが無い時に、前記
拡散板を挿入しない状態で前記測光手段により得た第３
の画像データと、前記拡散板を挿入した状態で前記測光
手段により得た第４の画像データとを求め、前記第１の
画像データと前記第３の画像データとから求めた前記フ
ィルムの集光透過率と、前記第２の画像データと前記第
４の画像データとから求めた前記フィルムの集拡散光透
過率とから、前記フィルムの傷および塵を検出する検出
手段を備えることを特徴とする請求項４に記載のフィル
ムの傷および塵の検出装置。 - 【請求項６】 前記集光透過率と、前記集拡散光透過率
との差の絶対値が、所定のしきい値以上となる画像領域
について傷または塵であると判定することにより、前記
フィルムの傷または塵を検出する検出手段を備えること
を特徴とする請求項５に記載のフィルムの傷または塵の
検出装置。 - 【請求項７】 請求項４乃至６に記載の装置により検出
された傷および塵を、前記画像データ上において修正す
る修正手段をさらに備えることを特徴とするフィルムス
キャナ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002035385A JP2003232746A (ja) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | フィルムの傷および塵の検出方法及び検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002035385A JP2003232746A (ja) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | フィルムの傷および塵の検出方法及び検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003232746A true JP2003232746A (ja) | 2003-08-22 |
Family
ID=27777587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002035385A Pending JP2003232746A (ja) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | フィルムの傷および塵の検出方法及び検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003232746A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100814062B1 (ko) | 2006-05-08 | 2008-03-14 | 한국유리공업주식회사 | 연속적으로 이동되는 투과 가능한 판재의 자동 결함 검사시스템 및 자동 결함 검사방법 |
| US9367013B2 (en) | 2014-07-02 | 2016-06-14 | Ricoh Company, Ltd. | Imaging device, image forming apparatus, and contamination inspection method |
| JP2018186002A (ja) * | 2017-04-26 | 2018-11-22 | 大日本印刷株式会社 | 照明装置 |
| CN113989279A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-01-28 | 武汉华康龙兴工贸有限公司 | 基于人工智能及图像处理的塑料薄膜质量检测方法 |
| CN117783158A (zh) * | 2024-02-28 | 2024-03-29 | 天津美腾科技股份有限公司 | 一种具有破损检测的x光灰分仪 |
-
2002
- 2002-02-13 JP JP2002035385A patent/JP2003232746A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100814062B1 (ko) | 2006-05-08 | 2008-03-14 | 한국유리공업주식회사 | 연속적으로 이동되는 투과 가능한 판재의 자동 결함 검사시스템 및 자동 결함 검사방법 |
| US9367013B2 (en) | 2014-07-02 | 2016-06-14 | Ricoh Company, Ltd. | Imaging device, image forming apparatus, and contamination inspection method |
| JP2018186002A (ja) * | 2017-04-26 | 2018-11-22 | 大日本印刷株式会社 | 照明装置 |
| CN113989279A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-01-28 | 武汉华康龙兴工贸有限公司 | 基于人工智能及图像处理的塑料薄膜质量检测方法 |
| CN117783158A (zh) * | 2024-02-28 | 2024-03-29 | 天津美腾科技股份有限公司 | 一种具有破损检测的x光灰分仪 |
| CN117783158B (zh) * | 2024-02-28 | 2024-05-28 | 天津美腾科技股份有限公司 | 一种具有破损检测的x光灰分仪 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4949117A (en) | Camera | |
| JP2004037248A (ja) | 検査装置および貫通孔の検査方法 | |
| JP2005065276A (ja) | 環境光に起因する照明ノイズを自動的に補正するシステムおよび方法 | |
| JPH095058A (ja) | 規則的パターンの欠陥検査装置 | |
| JP2003232746A (ja) | フィルムの傷および塵の検出方法及び検出装置 | |
| JPH0996513A (ja) | 画像取得装置 | |
| JP4375596B2 (ja) | 表面検査装置及び方法 | |
| TW200527405A (en) | Appearance inspector | |
| JP4573308B2 (ja) | 表面検査装置及び方法 | |
| JP2007198761A (ja) | 欠陥検出方法および装置 | |
| JP2005241586A (ja) | 光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法 | |
| TW404114B (en) | Image scanner with image correction function | |
| JP2002359776A (ja) | 画像読取装置 | |
| JP2007003332A (ja) | 板状体側面の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
| JP2008032401A (ja) | 赤外カットフィルタの検査方法及び装置 | |
| JP3563975B2 (ja) | 画像読取装置及び画像読取方法及び記憶媒体 | |
| JP2004212353A (ja) | 光学的検査装置 | |
| JP2001128056A (ja) | カメラ | |
| JP2005065992A (ja) | 画像欠陥分類方法および装置並びにプログラム | |
| JP3342143B2 (ja) | プリズム異物検出方法 | |
| JPH036444A (ja) | 蛍光検査装置 | |
| JP3492548B2 (ja) | 画像入力装置及び画像入力方法 | |
| JP2002374445A (ja) | 電子カメラ | |
| JPH063279A (ja) | ハードディスク又はウエハーの検査方法及び検査装置 | |
| JPH0735703A (ja) | 画像処理方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050125 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070702 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070706 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071214 |