JP2003215210A - Device for testing printed circuit board - Google Patents
Device for testing printed circuit boardInfo
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- JP2003215210A JP2003215210A JP2002017952A JP2002017952A JP2003215210A JP 2003215210 A JP2003215210 A JP 2003215210A JP 2002017952 A JP2002017952 A JP 2002017952A JP 2002017952 A JP2002017952 A JP 2002017952A JP 2003215210 A JP2003215210 A JP 2003215210A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を実装し
たプリント回路板の製品検査に使用し、そのプリント回
路板上の検査箇所にプローブピンを押し当てて回路の導
通検査を行うプリント回路板の検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used in a product inspection of a printed circuit board on which electronic parts are mounted, and a probe pin is pressed against an inspection point on the printed circuit board to conduct a circuit continuity test. Inspection equipment.
【0002】[0002]
【従来の技術】頭記したプリント回路板の検査装置とし
て、プリント回路板における部品接続位置を規定する標
準格子(basic grid) に対応するピッチで配列したプロ
ーブピンをピンホルダ(フィックスチャー)に植設し、
このプローブピンをプリント回路板上の検査箇所(回路
部品のはんだ付けパッド,スルーホールなど)に押し当
てて電気的な導通検査を行うようにしたものが特開平6
−18558号公報などで公知である。2. Description of the Related Art As the above-mentioned printed circuit board inspection device, probe pins arranged at a pitch corresponding to a standard grid (basic grid) that defines the component connection position on the printed circuit board are implanted in a pin holder (fixture). Then
Japanese Unexamined Patent Application Publication No. Hei 6 (1999) -6,6, in which the probe pin is pressed against an inspection location (a soldering pad of a circuit component, a through hole, etc.) on a printed circuit board to perform an electrical continuity inspection.
It is known from, for example, Japanese Patent Publication No. -18558.
【0003】また、回路パターンの仕様が異なる各種製
品のプリント回路板への適用が可能な汎用検査装置とし
て、プリント回路板上の格子ピッチに対応して配列した
複数本のプローブピンをピンホルダの板面に進退可能に
嵌挿して案内支持するとともに、各プローブピンごとに
ワイヤを介してアクチュエータを連繋し、該アクチュエ
ータの駆動操作によりプリント回路板の検査箇所に合わ
せて選択したプローブピンを後退位置から検査位置に突
き出してプリント回路板に押し当て、この状態で検査を
行うようにした検査装置が本発明と同一出願人より特願
2001−90200号として先に提案されており、次
にその構成を図4,図5に示す。Further, as a general-purpose inspection device which can be applied to printed circuit boards of various products having different circuit pattern specifications, a plurality of probe pins arranged corresponding to the grid pitch on the printed circuit board are used as a pin holder plate. The probe pin is inserted into the surface so that it can be advanced and retracted, and the probe pin is connected to each probe pin via a wire, and the probe pin selected according to the inspection position of the printed circuit board is driven by the actuator from the retracted position. An inspection apparatus that protrudes to an inspection position and presses against a printed circuit board to perform an inspection in this state has been previously proposed by the same applicant as the present invention as Japanese Patent Application No. 2001-90200. This is shown in FIGS.
【0004】まず、図5において、1は被検査のプリン
ト回路板、2は検査装置であり、検査装置2には、標準
格子の寸法2.54mmに合わせたピッチに配列してピン
ホルダ(フィックスチャー)3に嵌挿して進退可能に保
持したプローブピン4、各プローブピン4と個々に対応
してピンホルダ3の上方側に配したアクチュエータ5を
装備しており、アクチュエータ5とプローブピン4との
間をワイヤ(ピアノ線)6で連繋し、アクチュエータ5
の駆動操作によりワイヤ6を介してプローブピン4をピ
ンホルダ3から下方に突き出してプリント回路板1の検
査箇所に押し当て、この状態でプローブピン4を後記の
ように検査測定回路に接続してプリント回路板1の導通
検査を行うようにしている。なお、7はアクチュエータ
5の支持板、8はフレーム、9はワイヤ6に被せたガイ
ドチューブ(樹脂製)である。First, in FIG. 5, 1 is a printed circuit board to be inspected, 2 is an inspection device, and the inspection device 2 has pin holders (fixtures) arranged at a pitch corresponding to a standard grid size of 2.54 mm. ) 3 is equipped with a probe pin 4 that is inserted into and held so as to be able to move forward and backward, and an actuator 5 that is arranged above the pin holder 3 so as to correspond to each probe pin 4 individually, and between the actuator 5 and the probe pin 4. Is connected by a wire (piano wire) 6, and the actuator 5
The probe pin 4 is projected downward from the pin holder 3 through the wire 6 by the driving operation of and is pressed against the inspection location of the printed circuit board 1. In this state, the probe pin 4 is connected to the inspection measurement circuit and printed. The circuit board 1 is tested for continuity. Reference numeral 7 is a support plate for the actuator 5, 8 is a frame, and 9 is a guide tube (made of resin) covering the wire 6.
【0005】ここで、図4で示すように前記のピンホル
ダ3には、プローブピン4の配列ピッチに合わせて信号
端子を兼ねたピンソケット10を設けており、このピン
ソケット10にプローブピン4を1本ずつ嵌挿して垂直
方向へ進退可能に案内するとともに、各プローブピン4
ごとにそのピンソケット10に半田付けして引出した信
号線11を検査測定部12との間に配線している。Here, as shown in FIG. 4, the pin holder 3 is provided with a pin socket 10 which also serves as a signal terminal according to the arrangement pitch of the probe pins 4, and the probe pins 4 are attached to the pin socket 10. Insert one by one and guide it so that it can move back and forth in the vertical direction.
A signal line 11 that is soldered to each pin socket 10 and drawn out is provided between the inspection and measurement unit 12.
【0006】一方、アクチュエータ5は、非磁性材(例
えば銅)の外筒5aと、外筒5aの周面に巻装した励磁
コイル5bと、外筒5aの中に挿入した可動鉄心(プラ
ンジャ)5cからなるプランジャ形電磁石であり、プロ
ーブピン4との間を連繋するワイヤ6の上端が可動鉄心
5bの下端側に設けた固定部5dにねじ止めして結合さ
れている。On the other hand, the actuator 5 includes an outer cylinder 5a made of a non-magnetic material (eg, copper), an exciting coil 5b wound around the outer cylinder 5a, and a movable iron core (plunger) inserted in the outer cylinder 5a. 5c is a plunger type electromagnet, and an upper end of a wire 6 that connects the probe pin 4 to the probe pin 4 is screwed to a fixed portion 5d provided on the lower end side of the movable iron core 5b.
【0007】かかる構成で、常時はアクチュエータ5の
可動鉄心5cが外筒5aの上端側に備えた永久磁石(図
示せず)に吸着保持されていてプローブピン4は上昇位
置に後退している。この状態からプリント回路板1(図
5参照)の検査箇所に合わせて選択したプローブピン4
に対応するアクチュエータ5の励磁コイル5bに通電す
ると、その電磁力により可動鉄心5cが下方に移動し、
ワイヤ6を介してプローブピン4が後退位置から検査位
置に向け下方に突き出してプローブピンの先端をプリン
ト回路板1の測定箇所に押し付ける。そして、この状態
で信号線11を通じてプローブピン4に測定電圧を印加
して回路の導通チェックを行う。なお、検査後にプロー
ブピン4を後退させるには、アクチュエータ5の励磁コ
イル5bの通電電流を逆方向に切換えて可動鉄心5cを
上方に移動させる。With such a structure, the movable iron core 5c of the actuator 5 is always adsorbed and held by the permanent magnet (not shown) provided on the upper end side of the outer cylinder 5a, and the probe pin 4 is retracted to the raised position. From this state, the probe pin 4 selected according to the inspection location of the printed circuit board 1 (see FIG. 5)
When the exciting coil 5b of the actuator 5 corresponding to is energized, the movable iron core 5c is moved downward by the electromagnetic force,
The probe pin 4 projects downward from the retracted position toward the inspection position via the wire 6 and presses the tip of the probe pin against the measurement location on the printed circuit board 1. Then, in this state, a measurement voltage is applied to the probe pin 4 through the signal line 11 to check the continuity of the circuit. In order to retract the probe pin 4 after the inspection, the energizing current of the exciting coil 5b of the actuator 5 is switched in the opposite direction to move the movable iron core 5c upward.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記した従
来構成の検査装置は、機能面で次記のような問題点があ
る。すなわち、(1) 近年になりICなどの半導体デバイ
スは高集積化に伴ってリードピッチがますます狭小とな
る傾向にあることから、この半導体デバイスを実装した
プリント回路板を前記の検査装置を使って検査するに
は、プローブピンの配列ピッチを標準格子(2.54m
m)よりも狭める必要がある。By the way, the above-described conventional inspection apparatus has the following problems in terms of function. That is, (1) In recent years, semiconductor devices such as ICs have a tendency to have a narrower lead pitch with higher integration. Therefore, a printed circuit board on which this semiconductor device is mounted is used with the above-mentioned inspection device. In order to inspect using a standard grid (2.54 m
needs to be narrower than m).
【0009】かかる点、従来構成の検査装置では、図4
で述べたようにピンホルダ3にピンソケット10を設
け、このピンソケット10にプローブピン4を嵌挿して
進退可能に案内支持するようにしている。このために、
ピンソケット10の占有スペースが邪魔になって、プロ
ーブピン4の配列ピッチを1mm以下に縮小することが実
際上殆ど不可能であり、このままではリードピッチが1
mm以下(例えば0.5mm)の電子部品(半導体デバイ
ス)を実装したプリント回路板の検査には対応できな
い。With respect to this point, in the conventional inspection apparatus, FIG.
As described above, the pin socket 3 is provided with the pin holder 3, and the probe pin 4 is fitted into the pin socket 10 to guide and support the probe socket 4 so as to be movable back and forth. For this,
It is practically impossible to reduce the arrangement pitch of the probe pins 4 to 1 mm or less because the occupied space of the pin socket 10 becomes an obstacle, and the lead pitch is 1 as it is.
It cannot be used for inspection of printed circuit boards on which electronic parts (semiconductor devices) with a size of 0.5 mm or less (for example, 0.5 mm) are mounted.
【0010】そこで、従来では検査装置のプローブピン
配列ピッチに合わせるように、プリント回路板の基板に
形成した導体パターンの検査パッドを必要以上に広げる
など、検査装置のプローブピン配列ピッチに合わせてプ
リント回路板を設計することで対処しているが、このた
めにプリント回路板が大形化する問題がある。また、従
来構成の検査装置では、個々のプローブピン4に対する
信号線11を前記のピンソケット10に半田付けするな
どしてピンホルダ3から引き出すようにしており、その
ためにピンホルダ3の上に引き回す信号線11の本数が
非常に多くなってその配線の処理が複雑化する。Therefore, conventionally, the inspection pad of the conductor pattern formed on the substrate of the printed circuit board is unnecessarily widened so as to match the probe pin arrangement pitch of the inspection device, and the pattern is printed according to the probe pin arrangement pitch of the inspection device. Although it is dealt with by designing the circuit board, there is a problem that the printed circuit board becomes large in size due to this. Further, in the inspection device of the conventional configuration, the signal line 11 for each probe pin 4 is pulled out from the pin holder 3 by soldering it to the pin socket 10 or the like. The number of 11 becomes very large and the processing of the wiring becomes complicated.
【0011】(2) また、プローブピン4とアクチュエー
タ5との間を繋いでいるワイヤ6を交換する場合に、従
来構成ではワイヤ6を可動鉄心5cの下端部に固定して
いるために、アクチュエータ5の上端側を開いて外筒5
aから可動鉄心5cを上方に抜き出して新しいワイヤ6
に付け替える必要があり、作業に手間がかかかる。本発
明は上記の点に鑑みなされたものであり、その目的は前
記課題を解決し、簡易な構造でプローブピンの間隔を縮
小して1mm以下の狭小ピッチにも対応できるように改良
した高いプリント回路板の検査装置を提供することにあ
る。(2) When the wire 6 connecting the probe pin 4 and the actuator 5 is replaced, the wire 6 is fixed to the lower end portion of the movable iron core 5c in the conventional structure. Open the upper end side of 5
Pull out the movable iron core 5c from a, and remove the new wire 6
It is necessary to replace it with a new one, which takes time and effort. The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to solve the above-mentioned problems and to improve the high printability by reducing the interval between the probe pins with a simple structure to cope with a narrow pitch of 1 mm or less. It is to provide an inspection device for a circuit board.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によれば、電子部品を実装したプリント回路
板にプローブピンを押し当てて回路の電気的な検査を行
う検査装置であって、プリント回路板の格子ピッチ対応
して配列したプローブピンをピンホルダに嵌挿して進退
可能に支持するとともに、個々のプローブピンにワイヤ
を介してアクチュエータを連繋し、該アクチュエータの
駆動操作によりプリント回路板の検査箇所に合わせて選
択したプローブピンを検査位置に突き出して検査を行う
ようにしたものにおいて、第1の発明では、前記のピン
ホルダとして、プローブピンの配列に合わせてメッキ付
きスルーホールを形成したプリント基板を用い、該プリ
ント基板のスルーホールにプローブピンを直接嵌挿して
進退可能に案内支持するものとする。To achieve the above object, according to the present invention, there is provided an inspection device for electrically inspecting a circuit by pressing a probe pin against a printed circuit board on which electronic components are mounted. The probe pins arranged in correspondence with the grid pitch of the printed circuit board are inserted into the pin holders to support them so that they can move forward and backward, and the actuators are connected to the individual probe pins via wires. The probe pin selected according to the inspection location of the plate is projected to the inspection position to perform the inspection. In the first invention, as the pin holder, a plated through hole is formed in accordance with the arrangement of the probe pins. Using a printed circuit board, a probe pin is inserted directly into the through hole of the printed circuit board and the guide is supported so that it can move forward and backward. It shall be.
【0013】上記構成によれば、従来構成のピンホルダ
に付設した端子兼用のピンソケットが必要なく、検査装
置のプローブピンの配列ピッチを、リードピッチが1mm
以下の電子部品を実装したプリント回路板の検査に対応
できるように共晶化できる。しかも、プリント基板のス
ルーホールに施したメッキ層がプローブピンの信号取出
し電極の役目を果たし、また各スルーホールに連ねてプ
リント基板に形成した導体パターンを介して信号を取り
出すことができので、これにより従来構成のようにピン
ホルダ上に多数本の信号線を引回し配線する必要がなく
て構造を大幅に簡略化できる。According to the above construction, the pin socket also serving as a terminal attached to the conventional pin holder is not required, and the arrangement pitch of the probe pins of the inspection device is 1 mm in lead pitch.
It can be eutectic so that it can be used for inspection of printed circuit boards on which the following electronic components are mounted. Moreover, the plating layer applied to the through holes of the printed circuit board serves as the signal extraction electrode of the probe pin, and the signal can be taken out through the conductor pattern formed on the printed circuit board in connection with each through hole. As a result, unlike the conventional configuration, it is not necessary to draw and wire a large number of signal lines on the pin holder, and the structure can be greatly simplified.
【0014】また、第2の発明では、プローブピンを独
立部品とせずに、後端をアクチュエータに連結しスプリ
ングワイヤを利用してそのワイヤの先端にプローブピン
部を形成し、このプローブピン部をピンホルダに嵌挿支
持してフィックスチャーを構成するものとし、ここでプ
ローブピン部の先端をニードル形状に加工した上で、該
部の表面に良導電性の金属メッキを施す。これにより、
従来構成よりも部品点数が削減する。また、アクチュエ
ータの駆動力に対し、スプリングワイヤの撓み性を利用
してプローブピン部の先端をプリント回路板の検査箇所
に適正なコンタクト圧で押しつけることができる。According to the second aspect of the invention, the probe pin is not an independent component, but the rear end is connected to the actuator and a spring wire is used to form a probe pin portion at the tip of the wire. The fixture is inserted into and supported by a pin holder to form a fixture. Here, the tip of the probe pin portion is processed into a needle shape, and then the surface of the portion is plated with a metal having good conductivity. This allows
The number of parts is reduced compared to the conventional configuration. Further, with respect to the driving force of the actuator, the flexibility of the spring wire can be used to press the tip of the probe pin portion against the inspection location on the printed circuit board with appropriate contact pressure.
【0015】さらに、第3の発明では、前記アクチュエ
ータをプランジャ形電磁石としてプローブピンの上方に
配置するとともに、アクチュエータとプローブピンとの
間を連繋するワイヤ一の上端を前記電磁石の可動鉄心を
貫通してその上端部に固定するものとする。これによ
り、アクチュエータであるプランジャ形電磁石の可動子
を外筒から抜き出さずにワイヤの交換,付け替え作業を
行うことができてメンテナンス性が向上する。Further, in the third invention, the actuator is arranged as a plunger type electromagnet above the probe pin, and the upper end of the wire connecting the actuator and the probe pin is passed through the movable iron core of the electromagnet. It shall be fixed to its upper end. As a result, it is possible to perform the wire replacement and replacement work without pulling out the mover of the plunger type electromagnet, which is the actuator, from the outer cylinder, and the maintainability is improved.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1
ないし図3に示す実施例に基づいて説明する。なお、各
実施例の図中で図4に対応する部材には同じ符号を付し
てその詳細な説明は省略する。
〔実施例1〕図1は本発明の請求項1に対応する実施例
を示すものである。この実施例においては、プローブピ
ン4を保持するピンホルダとして、プローブピン4の配
列ピッチに合わせてスルーホールを形成したプリント基
板13を採用し、そのスルーホールにプローブピン4を
1本ずつ直接嵌挿して進退可能に案内支持するようにし
ている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIG.
Through the embodiment shown in FIG. 3 to FIG. In the drawings of each embodiment, members corresponding to those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. [Embodiment 1] FIG. 1 shows an embodiment corresponding to claim 1 of the present invention. In this embodiment, as the pin holder for holding the probe pins 4, a printed circuit board 13 having through holes formed in accordance with the arrangement pitch of the probe pins 4 is adopted, and the probe pins 4 are directly inserted into the through holes. The guide is supported so that it can move forward and backward.
【0017】また、前記のプリント基板13は、その絶
縁基板13aにプローブピン4の配列ピッチに合わせ穿
孔したスルーホール13bの内面にメッキ層13bを施
すとともに、基板上面には各スルーホールのメッキ層1
3bと個々に連ねて絶縁基板13aの端部に引出した導
体パターン13cを形成しており、この導体パターン1
3cを各プローブピン4の信号線として検査測定部12
(図4参照)に接続するようにしている。The printed circuit board 13 is provided with a plated layer 13b on the inner surface of through holes 13b formed in the insulating substrate 13a according to the arrangement pitch of the probe pins 4 and a plated layer of each through hole on the upper surface of the substrate. 1
The conductor pattern 13c is formed on the end portion of the insulating substrate 13a so as to be individually connected to the conductor pattern 3b.
3 c as a signal line of each probe pin 4
(See FIG. 4).
【0018】ここで、プリント基板13は、一例として
絶縁基板13aの板厚を1.6mm、スルーホールの孔径
を0.5mmφ、スルーホールの配列ピッチを1mm以下
(例えば0.5mm)とし、各スルーホールにはクリアラ
ンスを設定して0.3mmφのプローブピン4をスライド
可能に挿入する。なお、プリント基板13に嵌挿したプ
ローブピン4の保持姿勢を安定にするために、複数枚の
プリント基板13を上下に重ねて使用することもでき
る。The printed circuit board 13 has an insulating substrate 13a having a thickness of 1.6 mm, through holes having a hole diameter of 0.5 mmφ, and through holes arranged at a pitch of 1 mm or less (for example, 0.5 mm). A clearance is set in the through hole and a probe pin 4 of 0.3 mmφ is slidably inserted. In addition, in order to stabilize the holding posture of the probe pin 4 inserted into the printed circuit board 13, a plurality of printed circuit boards 13 can be used in a vertically stacked manner.
【0019】この構成によれば、図4に示した従来のピ
ンホルダ3の信号端子を兼ねたピンソケット10および
信号線11が必要なく、これによりプローブピン4を1
mm以下の狭小ピッチに配列してリードピッチが狭小な電
子部品を実装したプリント回路板でも支障なく検査が行
える。しかも、プリント基板13のスルーホールメッキ
層13bがプローブピン4の信号取出し電極の役目を果
たし、また各スルーホールメッキ層13bに連ねて基板
上面に形成した導体パターン13cを介して信号を取り
出すことができ、これにより従来構成のようにピンホル
ダ上に多数本の信号線を引回し配線する必要がなくて構
造を大幅に簡略化できる。According to this structure, the pin socket 10 and the signal line 11 which also serve as the signal terminal of the conventional pin holder 3 shown in FIG.
It can be inspected without trouble even on a printed circuit board on which electronic components with a narrow lead pitch are mounted by arranging them in a narrow pitch of mm or less. Moreover, the through-hole plating layer 13b of the printed circuit board 13 serves as a signal extracting electrode of the probe pin 4, and a signal can be taken out through the conductor pattern 13c formed on the upper surface of the board in connection with each through-hole plating layer 13b. As a result, unlike the conventional configuration, it is not necessary to draw and wire many signal lines on the pin holder, and the structure can be greatly simplified.
【0020】〔実施例2〕図2は本発明の請求項2,3
に対応する実施例を示すものである。この実施例におい
ては、弾力性のあるスプリングワイヤ14(材質SKH
(高速度鋼),線径0.3mmφ,長さ115mm)を使用
し、その先端側をプローブピン部14aとしてピンホル
ダであるプリント基板13(図1参照)のスルーホール
に嵌挿した上で、スプリングワイヤ14の後端をアクチ
ュエータ5に結合している。また、プローブピン部14
aの先端は先細なノズル形状に加工した上で、その表面
に良導電性の金メッキ14bを施して被検査のプリント
回路板との間で良好なコンタクトと導通を確保するよう
にしている。なお、15はスプリングワイヤ14の上部
側領域に被覆した絶縁膜である。[Embodiment 2] FIG. 2 shows claims 2 and 3 of the present invention.
It shows an embodiment corresponding to. In this embodiment, the elastic spring wire 14 (material SKH) is used.
(High-speed steel), wire diameter 0.3 mmφ, length 115 mm) is used, and the tip side thereof is inserted into the through hole of the printed board 13 (see FIG. 1) which is the pin holder as the probe pin portion 14a. The rear end of the spring wire 14 is connected to the actuator 5. In addition, the probe pin portion 14
The tip of a is processed into a tapered nozzle shape, and then gold plating 14b having good conductivity is applied to the surface thereof to ensure good contact and conduction with the printed circuit board to be inspected. Reference numeral 15 is an insulating film covering the upper side region of the spring wire 14.
【0021】この構成によれば、図4に示した従来構成
のプローブピン4とワイヤ6を、1本のスプリングワイ
ヤ14に代えて構成することができるので部品点数が少
なくて済む。また、検査時にはスプリングワイヤ14の
撓み性を利用してそのプローブピン部14aの先端をプ
リント回路板の検査箇所に過大な力を加えずに押し当て
て良好な導通コンタクトを確保できる。According to this structure, the probe pin 4 and the wire 6 of the conventional structure shown in FIG. 4 can be replaced by a single spring wire 14, so that the number of parts can be reduced. Further, at the time of inspection, the tip end of the probe pin portion 14a can be pressed against the inspection portion of the printed circuit board by using the flexibility of the spring wire 14 without applying an excessive force, and a good conduction contact can be secured.
【0022】〔実施例3〕図3は本発明の請求項4に対
応する実施例を示すものである。この実施例において
は、検査装置の基本構造は実施例1と同じであるが、プ
ローブピン4とアクチュエータ(プランジャ形電磁石)
5との間を繋ぐワイヤ6の上端を、可動鉄心5cの上端
部に結合している。このために、可動鉄心5cの中心に
は上下方向に貫通穴5c-1を穿孔しておき、この貫通穴
に通したワイヤ6を可動鉄心5cの上端部に設けてワイ
ヤ固定部5dにねじ止めする。[Embodiment 3] FIG. 3 shows an embodiment corresponding to claim 4 of the present invention. In this embodiment, the basic structure of the inspection device is the same as that of the first embodiment, but the probe pin 4 and the actuator (plunger type electromagnet) are used.
The upper end of the wire 6 connecting between the movable core 5 and the wire 5 is connected to the upper end of the movable iron core 5c. For this purpose, a through hole 5c-1 is vertically formed at the center of the movable iron core 5c, and the wire 6 passed through the through hole is provided at the upper end of the movable iron core 5c and screwed to the wire fixing portion 5d. To do.
【0023】これにより、断線したワイヤ6を交換する
場合でも、電磁石(アクチュエータ)の可動鉄心5cを
外筒5aから外部に抜き出さずに、組立状態のまま上方
側からワイヤ6を貫通穴5c-1に通してワイヤを固定す
ることができてワイヤの交換作業が簡単に行える。ま
た、この実施例ではアクチュエータ5のプランジャ形電
磁石を細形設計(外筒5aの直径11mmφ)として、ピ
ンホルダに配列保持したプローブピン4の配列に合わせ
てその直上位置に配置し検査装置の小形化を図るように
している。As a result, even when the broken wire 6 is replaced, the movable iron core 5c of the electromagnet (actuator) is not pulled out from the outer cylinder 5a to the outside, and the wire 6 is passed through the through hole 5c-from the upper side in the assembled state. The wire can be fixed through 1 and the wire replacement work can be done easily. Further, in this embodiment, the plunger type electromagnet of the actuator 5 is designed to be thin (the diameter of the outer cylinder 5a is 11 mmφ) and is arranged immediately above the probe pin 4 arranged and held in the pin holder to downsize the inspection device. I am trying to.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば次記の
効果を奏する。
(1) 請求項1の構成によれば、プローブピンのピンホル
ダとして、プローブピンの配列ピッチに合わせてメッキ
付きスルーホールを形成したプリント基板を用い、該プ
リント基板のスルーホールにプローブピンを直接嵌挿し
て進退可能に案内支持したことにより、従来構成でピン
ホルダに付設した端子兼用のピンソケットを省略してプ
ローブピンの配列ピッチを1mm以下に縮小することがで
き、これによりリードピッチが1mm以下の狭小な電子部
品を実装したプリント回路板の検査にも対応可能な汎用
性の高い検査装置のフィックスチャーが提供できる。し
かも、プリント基板のスルーホールに施したメッキ層が
プローブピンの信号取出し電極の役目を果たし、また各
スルーホールに連ねてプリント基板に形成した導体パタ
ーンを介して信号を取り出すことができ、これにより従
来構成のようにピンホルダ上に多数本の信号線を引回し
配線する必要がなくて構造が簡単となる。As described above, the present invention has the following effects. (1) According to the structure of claim 1, as the pin holder of the probe pin, a printed circuit board having plated through holes formed in accordance with the arrangement pitch of the probe pins is used, and the probe pins are directly fitted into the through holes of the printed circuit board. By inserting and supporting the guide so that it can be moved back and forth, the pin socket that also serves as a terminal and attached to the pin holder in the conventional configuration can be omitted, and the array pitch of the probe pins can be reduced to 1 mm or less, which leads to a lead pitch of 1 mm or less. It is possible to provide a fixture of a highly versatile inspection device capable of inspecting a printed circuit board on which small electronic components are mounted. Moreover, the plating layer applied to the through holes of the printed circuit board serves as a signal extraction electrode of the probe pin, and signals can be taken out through the conductor pattern formed on the printed circuit board in connection with each through hole. Unlike the conventional configuration, it is not necessary to draw and wire a large number of signal lines on the pin holder, which simplifies the structure.
【0025】(2) また、請求項2,3の構成によれば、
後端をアクチュエータに連結して引出したスプリングワ
イヤの先端側にプローブピン部を形成し、該プローブピ
ン部をピンホルダに嵌挿支持したことにより、従来構成
と比べて部品点数の削減化が図れるとともに、スプリン
グワイヤの撓み性を利用してプローブピン部の先端をプ
リント回路板の検査箇所に適正なコンタクト圧で押しつ
けることができる。(2) According to the second and third aspects,
By forming the probe pin portion on the front end side of the spring wire that is connected to the actuator and pulled out, and by inserting and supporting the probe pin portion in the pin holder, the number of parts can be reduced compared to the conventional configuration. By utilizing the flexibility of the spring wire, the tip of the probe pin portion can be pressed against the inspection location on the printed circuit board with appropriate contact pressure.
【0026】(3) さらに、請求項4の構成によれば、プ
ローブピンを検査位置に駆動するアクチュエータを、プ
ランジャ形電磁石としてプローブピンの上方に配置する
とともに、アクチュエータとプローブピンとの間を連繋
するワイヤ一の上端を前記電磁石の可動鉄心を貫通して
その上端部に固定したことにより、アクチュエータであ
るプランジャ形電磁石の可動子を外筒から抜き出さず
に、組立状態のままワイヤの付け替え作業を行うことが
できてメンテナンス性が向上する。(3) Further, according to the structure of claim 4, the actuator for driving the probe pin to the inspection position is arranged above the probe pin as the plunger type electromagnet, and the actuator and the probe pin are connected to each other. By fixing the upper end of the wire 1 through the movable iron core of the electromagnet and fixing it to the upper end, the mover of the plunger-type electromagnet, which is the actuator, can be replaced in the assembled state without pulling it out. It can be performed and the maintainability is improved.
【図1】本発明の実施例1に対応する検査装置の主要部
の略示構成図FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a main part of an inspection apparatus corresponding to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施例2に対応する検査装置の主要部
の略示構成図FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a main part of an inspection device corresponding to a second embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施例3に対応する検査装置の主要部
の略示構成図FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a main part of an inspection device corresponding to a third embodiment of the present invention.
【図4】従来の検査装置における主要部の略示構成図FIG. 4 is a schematic configuration diagram of main parts in a conventional inspection device.
【図5】図4に対応する検査装置全体の組立図5 is an assembly diagram of the entire inspection device corresponding to FIG.
1 プリント回路板 2 検査装置 3 ピンホルダ 4 プローブピン 5 アクチュエータ(プランジャ形電磁石) 5a 外筒 5b 励磁コイル 5c 可動鉄心 5c-1 貫通穴 5d ワイヤ固定部 6 ワイヤ 13 プリント基板(ピンホルダ) 13a 絶縁基板 13b スルーホールメッキ層 13c 導体パターン 14 スプリングワイヤ 14a プローブピン部 14b 金メッキ 1 printed circuit board 2 inspection equipment 3 pin holder 4 probe pins 5 Actuator (plunger type electromagnet) 5a Outer cylinder 5b Excitation coil 5c movable iron core 5c-1 through hole 5d wire fixing part 6 wires 13 Printed circuit board (pin holder) 13a insulating substrate 13b Through hole plating layer 13c conductor pattern 14 Spring wire 14a Probe pin section 14b gold plating
Claims (4)
ーブピンを押し当てて回路の電気的な検査を行う検査装
置であり、プリント回路板の格子ピッチに対応して配列
したプローブピンをピンホルダに嵌挿して進退可能に支
持するとともに、個々のプローブピンにアクチュエータ
を連繋し、該アクチュエータの駆動操作によりプリント
回路板の検査箇所に合わせて選択したプローブピンを検
査位置に突き出して検査を行うようにしたものにおい
て、 前記のピンホルダとして、プローブピンの配列ピッチに
合わせてメッキ付きスルーホールを形成したプリント基
板を用い、該プリント基板のスルーホールにプローブピ
ンを直接嵌挿して進退可能に案内支持したことを特徴と
するプリント回路板の検査装置。1. An inspection apparatus for electrically inspecting a circuit by pressing probe pins against a printed circuit board on which electronic components are mounted, wherein the probe pins arranged in correspondence with the grid pitch of the printed circuit board are used as pin holders. It is inserted and supported so that it can move forward and backward, and each probe pin is linked to an actuator, and the probe pin selected according to the inspection position of the printed circuit board is ejected to the inspection position by the drive operation of the actuator so that the inspection can be performed. In the above-mentioned one, a printed circuit board having plated through holes formed in accordance with the arrangement pitch of the probe pins is used as the pin holder, and the probe pins are directly inserted into the through holes of the printed circuit board to be guided and supported so as to be movable back and forth. An inspection device for printed circuit boards characterized by.
ーブピンを押し当てて回路の電気的な検査を行う検査装
置であって、プリント回路板の格子ピッチに対応して配
列したプローブピンをピンホルダに嵌挿して進退可能に
支持するとともに、個々のプローブピンにアクチュエー
タを連繋し、該アクチュエータの駆動操作によりプリン
ト回路板の検査箇所に合わせて選択したプローブピンを
検査位置に突き出して検査を行うようにしたものにおい
て、 後端をアクチュエータに連結してピンホルダ側に引出し
たスプリングワイヤの先端にプローブピン部を形成し、
該プローブピン部をピンホルダに嵌挿して進退可能に案
内支持したことを特徴とするプリント回路板の検査装
置。2. An inspection device for electrically inspecting a circuit by pressing probe pins against a printed circuit board on which electronic components are mounted, wherein the probe pins arranged corresponding to the grid pitch of the printed circuit board are pin holders. In order to perform inspection by inserting the probe into the probe and supporting it so that it can move back and forth, and connecting the actuator to each probe pin, and driving the actuator to project the selected probe pin according to the inspection location of the printed circuit board to the inspection location. The probe pin is formed on the tip of the spring wire that is connected to the actuator and pulled out to the pin holder side.
An inspection device for a printed circuit board, characterized in that the probe pin portion is fitted into a pin holder and is guided and supported so as to be movable back and forth.
ブピン部の先端をニードル形状に加工した上で、その表
面に良導電性の金属メッキを施したことを特徴とするプ
リント回路板の検査装置。3. An inspection apparatus according to claim 2, wherein the tip of the probe pin portion is processed into a needle shape, and the surface thereof is plated with a metal having good conductivity. apparatus.
ーブピンを押し当てて回路の電気的な検査を行う検査装
置であって、プリント回路板の格子ピッチに対応して配
列したプローブピンをピンホルダに嵌挿して進退可能に
支持するとともに、個々のプローブピンに連結ワイヤを
介してアクチュエータを連繋し、該アクチュエータの駆
動操作によりプリント回路板の検査箇所に合わせて選択
したプローブピンを検査位置に突き出して検査を行うよ
うにしたものにおいて、 前記アクチュエータをプランジャ形電磁石としてプロー
ブピンの上方に配置するとともに、アクチュエータとプ
ローブピンとの間を連繋するワイヤの上端を前記電磁石
の可動鉄心を貫通してその上端部に固定したことを特徴
とするプリント回路板の検査装置。4. An inspection device for electrically inspecting a circuit by pressing a probe pin against a printed circuit board on which electronic parts are mounted, wherein the probe pins arranged corresponding to the grid pitch of the printed circuit board are pin holders. The probe pins are inserted into the connector and supported so that they can move back and forth, and the actuators are connected to the individual probe pins through connecting wires, and the probe pins selected according to the inspection location of the printed circuit board are projected to the inspection position by the drive operation of the actuators. In the one in which the actuator is arranged above the probe pin as a plunger type electromagnet, the upper end of the wire connecting between the actuator and the probe pin penetrates through the movable iron core of the electromagnet, and the upper end of the wire is connected. An inspection device for a printed circuit board, which is fixed to a section.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002017952A JP2003215210A (en) | 2002-01-28 | 2002-01-28 | Device for testing printed circuit board |
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2002
- 2002-01-28 JP JP2002017952A patent/JP2003215210A/en active Pending
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