JP2003215021A - 大気中の浮遊粒子状物質の測定方法 - Google Patents
大気中の浮遊粒子状物質の測定方法Info
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 大気中の浮遊粒子状物質を背景の影響を受け
ることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮
遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊
粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することの
できる方法を提供する。 【解決手段】 大気中の浮遊粒子状物質Ｐを、放電電極
３で発生させた単極イオンで帯電させ、連続的な表面を
持つ固体からなる集塵電極４上に放電電極３との電位差
を用いて帯電させた浮遊粒子状物質Ｐを捕集することに
より、浮遊粒子状物質Ｐを平面上に単体で捕集すること
を可能とし、顕微鏡による観察時における背景の影響を
なくし、捕集前後の重量測定時における水分の吸収によ
る誤差をなくし、更には粒子Ｐ単体への電磁波の作用等
を可能として、上記の目的を達成する。
ることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮
遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊
粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することの
できる方法を提供する。 【解決手段】 大気中の浮遊粒子状物質Ｐを、放電電極
３で発生させた単極イオンで帯電させ、連続的な表面を
持つ固体からなる集塵電極４上に放電電極３との電位差
を用いて帯電させた浮遊粒子状物質Ｐを捕集することに
より、浮遊粒子状物質Ｐを平面上に単体で捕集すること
を可能とし、顕微鏡による観察時における背景の影響を
なくし、捕集前後の重量測定時における水分の吸収によ
る誤差をなくし、更には粒子Ｐ単体への電磁波の作用等
を可能として、上記の目的を達成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、大気中に存在する
浮遊粒子状物質の量や形状、成分などを測定する方法に
関する。
浮遊粒子状物質の量や形状、成分などを測定する方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】大気中に浮遊している粉じんのうち、粒
径が１０μｍ以下のものは浮遊粒子状物質（ＳＰＭ）と
称される。この浮遊粒子状物質は、巻き上げられた土な
ども含まれるが、ディーゼル車が排出する黒煙や未燃焼
燃料、硫黄化合物などが多くを占め（関東では３５％が
ディーゼル車からのもの）、これらは有害性もより高い
と言われている。このディーゼル車からの排気ガスが原
因の粒子状物質は、特にＤＥＰと称される。また、より
粒径の小さい２．５μｍ以下のものは微小粒子状物質
（ＰＭ２．５）と称され、欧米では調査・研究が盛んに
なってきている。このＰＭ２．５の場合、その排出原因
はディーゼル車の排ガスである割合がより高くなると言
われている。
径が１０μｍ以下のものは浮遊粒子状物質（ＳＰＭ）と
称される。この浮遊粒子状物質は、巻き上げられた土な
ども含まれるが、ディーゼル車が排出する黒煙や未燃焼
燃料、硫黄化合物などが多くを占め（関東では３５％が
ディーゼル車からのもの）、これらは有害性もより高い
と言われている。このディーゼル車からの排気ガスが原
因の粒子状物質は、特にＤＥＰと称される。また、より
粒径の小さい２．５μｍ以下のものは微小粒子状物質
（ＰＭ２．５）と称され、欧米では調査・研究が盛んに
なってきている。このＰＭ２．５の場合、その排出原因
はディーゼル車の排ガスである割合がより高くなると言
われている。
【０００３】このような浮遊粒子状物質を測定する方法
として、大気を吸引してフィルタを通過させることによ
り、浮遊粒子状物質をフィルタに捕集して顕微鏡で観察
し、その形状や個数を測定したり、あるいは一定体積の
大気中の浮遊粒子状物質を同様の方法でフィルタに捕集
し、その捕集前後のフィルタの重量を測定して粒子の量
を求めたり、更には同様にしてフィルタに捕集した浮遊
粒子状物質に適当な前処理を施してガスクロマトグラフ
質量分析計や液体クロマトグラフ質量分析計、分光分析
計などを用いて浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を同
定する方法などが知られている。
として、大気を吸引してフィルタを通過させることによ
り、浮遊粒子状物質をフィルタに捕集して顕微鏡で観察
し、その形状や個数を測定したり、あるいは一定体積の
大気中の浮遊粒子状物質を同様の方法でフィルタに捕集
し、その捕集前後のフィルタの重量を測定して粒子の量
を求めたり、更には同様にしてフィルタに捕集した浮遊
粒子状物質に適当な前処理を施してガスクロマトグラフ
質量分析計や液体クロマトグラフ質量分析計、分光分析
計などを用いて浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を同
定する方法などが知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、浮遊粒子状
物質をフィルタに捕集して各種測定に供する従来の測定
方法によると、例えば顕微鏡で粒子を観察するに当たっ
ては、背景のフィルタ像の影響により粒子の像が不鮮明
になり、観察しにくいという問題がある。
物質をフィルタに捕集して各種測定に供する従来の測定
方法によると、例えば顕微鏡で粒子を観察するに当たっ
ては、背景のフィルタ像の影響により粒子の像が不鮮明
になり、観察しにくいという問題がある。
【０００５】また、浮遊粒子状物質の捕集前後のフィル
タの重量を測定して粒子の量を測定するに当たっては、
フィルタは一般に水分を吸収しやすく、浮遊粒子状物質
の捕集前後における水分吸収量の差に起因する誤差が生
じやすいという問題がある。
タの重量を測定して粒子の量を測定するに当たっては、
フィルタは一般に水分を吸収しやすく、浮遊粒子状物質
の捕集前後における水分吸収量の差に起因する誤差が生
じやすいという問題がある。
【０００６】更に、フィルタに捕集された浮遊粒子状物
質は単独で存在しにくく、電磁波を単独の粒子に作用さ
せることが困難であるため、分光分析などに供しにくい
とともに、フィルタから浮遊粒子状物質を抽出すること
も困難であり、ガスクロマトグラフ質量分析計などの分
析にも供しにくいという問題がある。
質は単独で存在しにくく、電磁波を単独の粒子に作用さ
せることが困難であるため、分光分析などに供しにくい
とともに、フィルタから浮遊粒子状物質を抽出すること
も困難であり、ガスクロマトグラフ質量分析計などの分
析にも供しにくいという問題がある。
【０００７】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、その第１の目的は、大気中の浮遊粒子状物質を
背景の影響を受けることなく顕微鏡により鮮明に観察す
ることのできる大気中の浮遊粒子状物質の測定方法を提
供することにある。
もので、その第１の目的は、大気中の浮遊粒子状物質を
背景の影響を受けることなく顕微鏡により鮮明に観察す
ることのできる大気中の浮遊粒子状物質の測定方法を提
供することにある。
【０００８】また、本発明の第２の目的は、大気中の浮
遊粒子状物質の量を正確に測定することのできる方法を
提供することにある。
遊粒子状物質の量を正確に測定することのできる方法を
提供することにある。
【０００９】更に、本発明の第３の目的は、ガスクロマ
トグラフ質量分析計や分光光度計等を用いた分析に当た
って、浮遊粒子状物質に含有している化学物質を正確に
同定することのできる方法を提供することにある。
トグラフ質量分析計や分光光度計等を用いた分析に当た
って、浮遊粒子状物質に含有している化学物質を正確に
同定することのできる方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記した第１の目的を達
成するため、本発明の大気中の浮遊粒子状物質の測定方
法は、大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させ
た単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表
面を持つ固体からなる集塵電極に上記放電電極との電位
差を用いて捕集し、その捕集した浮遊粒子状物質を顕微
鏡で観察することによってその粒子形状および／または
個数を測定することによって特徴づけられる（請求項
１）。
成するため、本発明の大気中の浮遊粒子状物質の測定方
法は、大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させ
た単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表
面を持つ固体からなる集塵電極に上記放電電極との電位
差を用いて捕集し、その捕集した浮遊粒子状物質を顕微
鏡で観察することによってその粒子形状および／または
個数を測定することによって特徴づけられる（請求項
１）。
【００１１】また、上記第２の目的を達成するため、本
発明の大気中の浮遊粒子状物質の測定方法は、大気中の
浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させた単極イオンで
帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表面を持つ固体か
らなる集塵電極に上記放電電極との電位差を用いて捕集
し、その捕集前後に測定した集塵電極の重量差から浮遊
粒子状物質の量を測定することによって特徴づけられる
（請求項２）。
発明の大気中の浮遊粒子状物質の測定方法は、大気中の
浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させた単極イオンで
帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表面を持つ固体か
らなる集塵電極に上記放電電極との電位差を用いて捕集
し、その捕集前後に測定した集塵電極の重量差から浮遊
粒子状物質の量を測定することによって特徴づけられる
（請求項２）。
【００１２】更に、上記第３の目的を達成するため、本
発明の大気中の浮遊粒子状物質の測定方法は、大気中の
浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させた単極イオンで
帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表面を持つ固体か
らなる集塵電極に上記放電電極との電位差を用いて捕集
し、液体クロマトグラフ質量分析計、ガスクロマトグラ
フ質量分析計、高周波誘導結合プラズマ質量分析計、分
光光度計、および蛍光Ｘ線分析装置のうち、いずれか単
体もしくは組み合わせて用いて、上記捕集した浮遊粒子
状物質に含まれる化学物質を同定することによって特徴
づけられる（請求項３）。
発明の大気中の浮遊粒子状物質の測定方法は、大気中の
浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させた単極イオンで
帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表面を持つ固体か
らなる集塵電極に上記放電電極との電位差を用いて捕集
し、液体クロマトグラフ質量分析計、ガスクロマトグラ
フ質量分析計、高周波誘導結合プラズマ質量分析計、分
光光度計、および蛍光Ｘ線分析装置のうち、いずれか単
体もしくは組み合わせて用いて、上記捕集した浮遊粒子
状物質に含まれる化学物質を同定することによって特徴
づけられる（請求項３）。
【００１３】本発明は、大気中の浮遊粒子状物質をフィ
ルタに捕集して各種測定に供するのではなく、粒子状物
質を放電電極からの単極イオンにより帯電させ、連続的
な平面を有する集塵電極、例えば導電性材料をコーティ
ングしたガラス板や金属板など、の表面に捕集すること
によって、各目的を達成しようとするものである。
ルタに捕集して各種測定に供するのではなく、粒子状物
質を放電電極からの単極イオンにより帯電させ、連続的
な平面を有する集塵電極、例えば導電性材料をコーティ
ングしたガラス板や金属板など、の表面に捕集すること
によって、各目的を達成しようとするものである。
【００１４】すなわち、大気中の浮遊粒子状物質を帯電
させ、連続的な平面を持つ集塵電極上に電気的に捕集す
ると、浮遊粒子状物質は集塵電極の平面上に個々に離散
的に捕集される。従って、請求項１に係る発明のよう
に、顕微鏡で観察する場合においては背景像の影響を受
けず、かつ、粒子単独の鮮明な粒子像を容易に観察する
ことができ、正確な形状や個数を測定することができ
る。
させ、連続的な平面を持つ集塵電極上に電気的に捕集す
ると、浮遊粒子状物質は集塵電極の平面上に個々に離散
的に捕集される。従って、請求項１に係る発明のよう
に、顕微鏡で観察する場合においては背景像の影響を受
けず、かつ、粒子単独の鮮明な粒子像を容易に観察する
ことができ、正確な形状や個数を測定することができ
る。
【００１５】また、ガラス板や金属板などの連続的な平
面を持つ集塵電極は吸水性を有さないので、請求項２に
係る発明のように、大気中の浮遊粒子状物質を帯電させ
て捕集する前後の集塵電極の重量を測定することによっ
て、捕集した浮遊粒子状物質の量を容易かつ正確に知る
ことができる。
面を持つ集塵電極は吸水性を有さないので、請求項２に
係る発明のように、大気中の浮遊粒子状物質を帯電させ
て捕集する前後の集塵電極の重量を測定することによっ
て、捕集した浮遊粒子状物質の量を容易かつ正確に知る
ことができる。
【００１６】更に、浮遊粒子状物質を帯電させて連続的
な平面を持つ集塵電極上に捕集すれば、前記したように
浮遊粒子状物質は集塵電極上に個々に離散的に捕集され
るために、単独の粒子に対して電磁波を作用させること
が容易であるとともに、捕集した浮遊粒子状物質を極め
て簡単に抽出できるので、請求項３に係る発明のよう
に、液体クロマトグラフ質量分析計、ガスクロマトグラ
フ質量分析計、高周波誘導結合プラズマ質量分析計、分
光光度計、および蛍光Ｘ線分析装置のうち、いずれか単
体もしくは組み合わせて用いることにより、その浮遊粒
子状物質に含まれる化学物質を簡単かつ正確に同定する
ことが可能となる。
な平面を持つ集塵電極上に捕集すれば、前記したように
浮遊粒子状物質は集塵電極上に個々に離散的に捕集され
るために、単独の粒子に対して電磁波を作用させること
が容易であるとともに、捕集した浮遊粒子状物質を極め
て簡単に抽出できるので、請求項３に係る発明のよう
に、液体クロマトグラフ質量分析計、ガスクロマトグラ
フ質量分析計、高周波誘導結合プラズマ質量分析計、分
光光度計、および蛍光Ｘ線分析装置のうち、いずれか単
体もしくは組み合わせて用いることにより、その浮遊粒
子状物質に含まれる化学物質を簡単かつ正確に同定する
ことが可能となる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図１は本発明の形態にお
ける浮遊粒子状物質の捕集工程に用いられる装置の構成
図である。
実施の形態について説明する。図１は本発明の形態にお
ける浮遊粒子状物質の捕集工程に用いられる装置の構成
図である。
【００１８】開閉自在の蓋１ａを備えた捕集容器１に
は、大気の流入口１ｂと、ポンプ（捕集用圧縮機）２の
吸引口への連通口１ｃが形成されており、蓋１ａを閉じ
た状態でポンプ２を駆動することにより、流入口１ｂを
介して捕集容器１内に大気が吸引される。この捕集容器
１内には、その上部に放電電極３が配置されているとと
もに、その放電電極３に対向してその下部には集塵電極
４が配置されている。
は、大気の流入口１ｂと、ポンプ（捕集用圧縮機）２の
吸引口への連通口１ｃが形成されており、蓋１ａを閉じ
た状態でポンプ２を駆動することにより、流入口１ｂを
介して捕集容器１内に大気が吸引される。この捕集容器
１内には、その上部に放電電極３が配置されているとと
もに、その放電電極３に対向してその下部には集塵電極
４が配置されている。
【００１９】放電電極３には、高圧電源５からの高電圧
が印加され、これによって放電電極３の近傍の空気が電
離し、単極イオンが発生する。
が印加され、これによって放電電極３の近傍の空気が電
離し、単極イオンが発生する。
【００２０】一方、集塵電極４は表面が平滑な平板状の
電極であって、例えば金属板、あるいはガラス板の表面
が透明電極によってコーティングされたものであって、
この集塵電極４は接地電位６に接続されている。
電極であって、例えば金属板、あるいはガラス板の表面
が透明電極によってコーティングされたものであって、
この集塵電極４は接地電位６に接続されている。
【００２１】以上の構成において、ポンプ２を駆動しつ
つ放電電極３に高電圧を印加することにより、放電電極
３の近傍の空気の電離により発生した単極イオンが、集
塵電極４との電位差により集塵電極４側に移動し、その
過程で捕集容器１内の大気中に含まれている浮遊粒子状
物質Ｐと接触してこれを帯電させる。そして、帯電した
浮遊粒子状物質Ｐは、同じく放電電極３と集塵電極４と
の電位差によって集塵電極４に向けて移動し、集塵電極
４の表面上に捕集される。
つ放電電極３に高電圧を印加することにより、放電電極
３の近傍の空気の電離により発生した単極イオンが、集
塵電極４との電位差により集塵電極４側に移動し、その
過程で捕集容器１内の大気中に含まれている浮遊粒子状
物質Ｐと接触してこれを帯電させる。そして、帯電した
浮遊粒子状物質Ｐは、同じく放電電極３と集塵電極４と
の電位差によって集塵電極４に向けて移動し、集塵電極
４の表面上に捕集される。
【００２２】集塵電極４の表面は平滑であるので、その
表面に捕集された浮遊粒子状物質Ｐは、集塵電極４の上
面に単純に載った状態で個別に存在しているので、顕微
鏡で観察する場合、特に集塵電極４としてガラス板の表
面に透明電極をコーティングしたものを用いることによ
り、図２にその観察工程を模式的に示すように、浮遊粒
子状物質Ｐを表面に捕集した集塵電極４をそのまま顕微
鏡７で観察することができ、極めて簡単に浮遊粒子状物
質Ｐの形状や個数を測定することができる。
表面に捕集された浮遊粒子状物質Ｐは、集塵電極４の上
面に単純に載った状態で個別に存在しているので、顕微
鏡で観察する場合、特に集塵電極４としてガラス板の表
面に透明電極をコーティングしたものを用いることによ
り、図２にその観察工程を模式的に示すように、浮遊粒
子状物質Ｐを表面に捕集した集塵電極４をそのまま顕微
鏡７で観察することができ、極めて簡単に浮遊粒子状物
質Ｐの形状や個数を測定することができる。
【００２３】次に、単位体積当たりの大気中の浮遊粒子
の量を測定する場合について述べる。この場合、図１に
示したものと同等の装置を用いて大気中の浮遊粒子状物
質Ｐを捕集するのであるが、捕集に先立ち、清浄な状態
での集塵電極４の重量を電子天びん等によって測定して
おく。その後、浮遊粒子状物質Ｐの捕集に際しては、放
電電極３に高電圧を印加しつつ、ポンプ２を一定の流量
のもとに駆動し、集塵電極４上に浮遊粒子状物質Ｐを捕
集する。ポンプ２の流量とその駆動時間から、捕集容器
１内に送り込んだ大気の総量を把握することができるの
で、その総量が所要量に達した時点でポンプ２を停止
し、浮遊粒子状物質Ｐを捕集した状態の集塵電極４の重
量を電子天びん等によって測定する。捕集前後の集塵電
極４の重量差は、捕集容器１内に送り込んだ大気中に存
在する浮遊粒子状物質Ｐの重量を表す。
の量を測定する場合について述べる。この場合、図１に
示したものと同等の装置を用いて大気中の浮遊粒子状物
質Ｐを捕集するのであるが、捕集に先立ち、清浄な状態
での集塵電極４の重量を電子天びん等によって測定して
おく。その後、浮遊粒子状物質Ｐの捕集に際しては、放
電電極３に高電圧を印加しつつ、ポンプ２を一定の流量
のもとに駆動し、集塵電極４上に浮遊粒子状物質Ｐを捕
集する。ポンプ２の流量とその駆動時間から、捕集容器
１内に送り込んだ大気の総量を把握することができるの
で、その総量が所要量に達した時点でポンプ２を停止
し、浮遊粒子状物質Ｐを捕集した状態の集塵電極４の重
量を電子天びん等によって測定する。捕集前後の集塵電
極４の重量差は、捕集容器１内に送り込んだ大気中に存
在する浮遊粒子状物質Ｐの重量を表す。
【００２４】ここで、集塵電極４は、ガラス板の表面に
透明電極をコーティングするか、あるいは金属板からな
っているので、浮遊粒子状物質Ｐの捕集前後において水
分を吸収することがないため、以上のようにして測定し
た浮遊粒子状物質Ｐの量は誤差のない正確なのものとな
る。
透明電極をコーティングするか、あるいは金属板からな
っているので、浮遊粒子状物質Ｐの捕集前後において水
分を吸収することがないため、以上のようにして測定し
た浮遊粒子状物質Ｐの量は誤差のない正確なのものとな
る。
【００２５】次に、大気中の浮遊粒子状物質Ｐに含まれ
る化学物質を同定する場合について述べる。この場合に
おいても、浮遊粒子状物質Ｐの捕集のための装置は図１
に示すものと同等のものを用い、ポンプ２で大気を吸引
しつつ、放電電極３に高電圧を印加することにより、集
塵電極４上に適宜量の浮遊粒子状物質Ｐを捕集する。こ
のようにして集塵電極４上に捕集した浮遊粒子状物質Ｐ
は、平滑な平面上に分散状態で位置しているので、集塵
電極４上からまとめて抽出すること、および、個々の粒
子を単独で抽出することは、いずれも容易である。
る化学物質を同定する場合について述べる。この場合に
おいても、浮遊粒子状物質Ｐの捕集のための装置は図１
に示すものと同等のものを用い、ポンプ２で大気を吸引
しつつ、放電電極３に高電圧を印加することにより、集
塵電極４上に適宜量の浮遊粒子状物質Ｐを捕集する。こ
のようにして集塵電極４上に捕集した浮遊粒子状物質Ｐ
は、平滑な平面上に分散状態で位置しているので、集塵
電極４上からまとめて抽出すること、および、個々の粒
子を単独で抽出することは、いずれも容易である。
【００２６】従って、化学物質を同定することのできる
装置、すなわち液体クロマトグラフ質量分析計、ガスク
ロマトグラフ質量分析計、高周波誘導結合プラズマ質量
分析計、分光光度計、および蛍光Ｘ線分析装置のうち、
いずれか単体もしくは組み合わせて用いて、上記の工程
で捕集した浮遊粒子状物質Ｐを、各装置に応じた適当な
前処理を施したうえで分析することにより、浮遊粒子状
物質Ｐに含まれる化学物質を正確に同定することができ
る。
装置、すなわち液体クロマトグラフ質量分析計、ガスク
ロマトグラフ質量分析計、高周波誘導結合プラズマ質量
分析計、分光光度計、および蛍光Ｘ線分析装置のうち、
いずれか単体もしくは組み合わせて用いて、上記の工程
で捕集した浮遊粒子状物質Ｐを、各装置に応じた適当な
前処理を施したうえで分析することにより、浮遊粒子状
物質Ｐに含まれる化学物質を正確に同定することができ
る。
【００２７】
【発明の効果】以上のように、請求項１に係る発明によ
れば、大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させ
た単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表
面を持つ固体からなる集塵電極上に放電電極との電位差
を用いて捕集し、その捕集した浮遊粒子状物質を顕微鏡
で観察するので、従来のようにフィルタで捕集する場合
に比して、背景の影響を受けることなく、鮮明な浮遊粒
子状像を観察することが可能となる。特に、集塵電極と
してガラス板の表面に透明電極をコーティングしたもの
を用いると、集塵電極に捕集した状態のままで浮遊粒子
状物質を顕微鏡観察することが可能となり、その作業は
著しく容易化される。
れば、大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で発生させ
た単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連続的な表
面を持つ固体からなる集塵電極上に放電電極との電位差
を用いて捕集し、その捕集した浮遊粒子状物質を顕微鏡
で観察するので、従来のようにフィルタで捕集する場合
に比して、背景の影響を受けることなく、鮮明な浮遊粒
子状像を観察することが可能となる。特に、集塵電極と
してガラス板の表面に透明電極をコーティングしたもの
を用いると、集塵電極に捕集した状態のままで浮遊粒子
状物質を顕微鏡観察することが可能となり、その作業は
著しく容易化される。
【００２８】また、請求項２に係る発明によると、上記
と同様に帯電させた浮遊粒子状物質を連続した平面を持
つ集塵電極上に捕集し、その捕集前後の集塵電極の重量
を測定し、その重量差から大気中の浮遊粒子状物質の量
を測定するので、従来のフィルタにより浮遊粒子状物質
を捕集してその捕集前後の重量差から大気中の浮遊粒子
状物質の量を測定する場合に比して、水分を吸収しない
が故に、簡単な作業のもとに正確な浮遊粒子状物質の量
を測定することが可能となる。
と同様に帯電させた浮遊粒子状物質を連続した平面を持
つ集塵電極上に捕集し、その捕集前後の集塵電極の重量
を測定し、その重量差から大気中の浮遊粒子状物質の量
を測定するので、従来のフィルタにより浮遊粒子状物質
を捕集してその捕集前後の重量差から大気中の浮遊粒子
状物質の量を測定する場合に比して、水分を吸収しない
が故に、簡単な作業のもとに正確な浮遊粒子状物質の量
を測定することが可能となる。
【００２９】更に、請求項３に係る発明によると、上記
と同様に帯電させた浮遊粒子状物質を連続した平面を持
つ集塵電極上に捕集し、液体クロマトグラフ質量分析
計、ガスクロマトグラフ質量分析計、高周波誘導結合プ
ラズマ質量分析計、分光光度計、および蛍光Ｘ線分析装
置のうち、いずれか単体もしくは組み合わせて用いて、
捕集した浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を同定する
ので、捕集した浮遊粒子状物質を極めて容易に単独で抽
出することが可能となり、従来のフィルタにより浮遊粒
子状物質を捕集する場合には実質的に不可能であった分
析手法を用いて浮遊粒子状物質に含まれる化学物質の同
定を行うことができ、その分析精度を大幅に向上させる
ことができる。
と同様に帯電させた浮遊粒子状物質を連続した平面を持
つ集塵電極上に捕集し、液体クロマトグラフ質量分析
計、ガスクロマトグラフ質量分析計、高周波誘導結合プ
ラズマ質量分析計、分光光度計、および蛍光Ｘ線分析装
置のうち、いずれか単体もしくは組み合わせて用いて、
捕集した浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を同定する
ので、捕集した浮遊粒子状物質を極めて容易に単独で抽
出することが可能となり、従来のフィルタにより浮遊粒
子状物質を捕集する場合には実質的に不可能であった分
析手法を用いて浮遊粒子状物質に含まれる化学物質の同
定を行うことができ、その分析精度を大幅に向上させる
ことができる。
【図１】本発明の実施の形態における浮遊粒子状物質の
捕集工程に用いる装置の構成例を示す模式図である。
捕集工程に用いる装置の構成例を示す模式図である。
【図２】本発明の実施の形態において、図１の捕集電極
４上に捕集した浮遊粒子状物質Ｐを顕微鏡で観察する工
程の説明図である。
４上に捕集した浮遊粒子状物質Ｐを顕微鏡で観察する工
程の説明図である。
１ 捕集容器
２ ポンプ
３ 放電電極
４ 集塵電極
５ 高圧電源
６ 接地電位
７ 顕微鏡
Ｐ 浮遊粒子状物質
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０１Ｎ 23/223 Ｇ０１Ｎ 23/223
27/62 27/62 Ｃ
Ｘ
Ｆターム(参考） 2G001 AA01 BA04 CA01 KA01 MA04
QA02 QA10 RA10 RA20
2G043 AA04 BA11 CA01 DA01 EA08
LA05
2G052 AA01 AA02 AA40 AB00 AC02
AD02 AD24 AD52 BA05 BA24
GA09 GA11 GA15 GA18 GA27
2G059 AA05 BB02 CC06 DD01 EE12
KK07
Claims (3)
- 【請求項１】 大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で
発生させた単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連
続的な表面を持つ固体からなる集塵電極に上記放電電極
との電位差を用いて捕集し、その捕集した浮遊粒子状物
質を顕微鏡で観察することによってその粒子形状および
／または個数を測定することを特徴とする大気中の浮遊
粒子状物質の測定方法。 - 【請求項２】 大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で
発生させた単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連
続的な表面を持つ固体からなる集塵電極に上記放電電極
との電位差を用いて捕集し、その捕集前後に測定した集
塵電極の重量差から浮遊粒子状物質の量を測定すること
を特徴とする大気中の浮遊粒子状物質の測定方法。 - 【請求項３】 大気中の浮遊粒子状物質を、放電電極で
発生させた単極イオンで帯電させ、その帯電粒子を、連
続的な表面を持つ固体からなる集塵電極に上記放電電極
との電位差を用いて捕集し、液体クロマトグラフ質量分
析計、ガスクロマトグラフ質量分析計、高周波誘導結合
プラズマ質量分析計、分光光度計、および蛍光Ｘ線分析
装置のうち、いずれか単体もしくは組み合わせて用い
て、上記捕集した浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を
同定することを特徴とする大気中の浮遊粒子状物質の測
定方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002011261A JP2003215021A (ja) | 2002-01-21 | 2002-01-21 | 大気中の浮遊粒子状物質の測定方法 |
| US10/322,677 US6807874B2 (en) | 2002-01-21 | 2002-12-19 | Collecting apparatus of floating dusts in atmosphere |
| US10/882,621 US6923848B2 (en) | 2002-01-21 | 2004-07-02 | Collecting apparatus of floating dusts in atmosphere |
| US11/048,895 US7041153B2 (en) | 2002-01-21 | 2005-02-03 | Method of measuring floating dusts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002011261A JP2003215021A (ja) | 2002-01-21 | 2002-01-21 | 大気中の浮遊粒子状物質の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003215021A true JP2003215021A (ja) | 2003-07-30 |
Family
ID=27648777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002011261A Pending JP2003215021A (ja) | 2002-01-21 | 2002-01-21 | 大気中の浮遊粒子状物質の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003215021A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7208030B2 (en) * | 2004-10-15 | 2007-04-24 | Shimadzu Corporation | Suspended particulate analyzer |
| JP2007107970A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Shimadzu Corp | アスベストの測定方法 |
| KR100843664B1 (ko) * | 2006-10-16 | 2008-07-04 | 삼성전자주식회사 | 대전방식을 이용한 미생물 또는 미세입자 실시간 검출 장치및 그 방법 |
| JP2012518186A (ja) * | 2009-02-18 | 2012-08-09 | バッテル メモリアル インスティチュート | 小領域静電エアロゾルコレクタ |
| KR101729844B1 (ko) | 2015-06-29 | 2017-04-26 | 한국기계연구원 | 폭발성 배기가스 입자의 정전 제거 장치 |
-
2002
- 2002-01-21 JP JP2002011261A patent/JP2003215021A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7208030B2 (en) * | 2004-10-15 | 2007-04-24 | Shimadzu Corporation | Suspended particulate analyzer |
| JP2007107970A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Shimadzu Corp | アスベストの測定方法 |
| KR100843664B1 (ko) * | 2006-10-16 | 2008-07-04 | 삼성전자주식회사 | 대전방식을 이용한 미생물 또는 미세입자 실시간 검출 장치및 그 방법 |
| JP2012518186A (ja) * | 2009-02-18 | 2012-08-09 | バッテル メモリアル インスティチュート | 小領域静電エアロゾルコレクタ |
| KR101729844B1 (ko) | 2015-06-29 | 2017-04-26 | 한국기계연구원 | 폭발성 배기가스 입자의 정전 제거 장치 |
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